JP2770750B2 - インダクタンス素子 - Google Patents
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Description
トランスや平滑用のチョークコイルなどに利用されるイ
ンダクタンス素子に関する。
て、例えば特開昭64−30463号公報には、導電性
の金属線を絶縁性ボビンに巻回し、この一体化されたコ
イル部にEE型またはEI型磁芯の主脚を挿入して突き
合わせたトランスが開示されている。しかし、こうした
構造のトランスは、ボビンに金属線を均一に巻回す作業
が必要なため、工数の削減や自動生産を図ることが困難
であり、しかも、ボビンにより薄形化を図ることが難し
い。
ば、実公平6−24985号公報あるいは特開平5−1
59933号公報には、渦巻状の導電パターンを形成し
た絶縁薄層基板を複数積層し、この積層された薄層基板
からなるコイル部にEE型またはEI型磁芯を突き合わ
せた薄形トランスが開示されている。
た従来の構造では、次のような問題点が有る。少なく
とも2以上のインダクタンス素子を装置に組み込む場
合、従来のような構造のインダクタンス素子を個別に配
置すると、各インダクタンス毎にコアや薄層基板が必要
になり、部品点数が著しく増加して、コスト上昇を招く
結果となる。
トランスの一次巻線と二次巻線のいずれかに、補助巻線
を設けたりする場合。)を設ける手段として、特開平4
−294508号公報には、各系統毎に異なる回路パタ
ーン態様の薄層基板を、順次重ね合わせた積層体が開示
されている。しかし、このような構造では、補助巻線の
巻数が多くなると、これに伴って薄層基板全体が厚くな
る欠点が有る。
る電流容量に拘らず、導電パターンの厚さが同一に形成
される。この場合、本来大きな電流を流さない導電パタ
ーンも、不必要な厚さの導電パターンで形成されるた
め、薄層基板全体を各導電パターンの電流容量に応じた
最適な厚さに形成できなくなる。
最外面に形成された導電パターンと磁芯との接触を避け
るために、導電パターンと磁芯との間に絶縁体を介在す
る必要がある。しかし、このような構造では、途中で絶
縁体が剥離して、導電パターンと磁芯が接触する危険性
が有る。また、介在する絶縁体の厚さ分だけ、全体が厚
くなる。
されたものであり、その目的は、素子の個数が増えて
も、部品点数およびコストの削減を達成できるインダク
タンス素子を提供することにある。
タンス素子は、第1のコイル部に対応して設けられた第
1の磁芯と、第2のコイル部に対応して設けられた第2
の磁芯とを備え、前記第1のコイル部および第2のコイ
ル部は、共通する薄層基板に第1の導電パターンと第2
の導電パターンとを各々形成し、前記薄層基板を複数積
層して前記第1の導電パターンおよび第2の導電パター
ンを巻線状に配置して構成されるとともに、前記第1の
導電パターンおよび第2の導電パターンが同一の前記薄
層基板の内部でパターン接続されるものである。
は、前記請求項1の構成において、前記第1の導電パタ
ーンは、第1のトランスの一次回路パターンおよび二次
回路パターンを構成する一方、前記第2の導電パターン
は、第2のトランスの一次回路パターンおよび二次回路
パターンを構成して、前記第1および第2のトランスの
各一次回路パターンを共通の前記薄層基板に形成した一
次回路基板と、前記第1および第2のトランスの各二次
回路パターンを共通の前記薄層基板に形成した二次回路
基板とを積層し、この積層された前記薄層基板の層間
に、シールド層を形成したシールド基板を配設したもの
である。
は、前記請求項2の構成において、前記シールド基板の
一側に前記一次回路基板を積層し、前記シールド基板の
他側に二次回路基板を積層したものである。
は、前記請求項2の構成において、前記積層基板の両面
に前記第1の導電パターンおよび第2の導電パターンを
形成したものである。
および第2の導電パターンを各々形成し、この薄層基板
を複数積層するだけで、2個のコイル部を同時に得るこ
とができる。また、第1および第2の導電パターンを、
同一の薄層基板でパターン接続することにより、素子間
の接触抵抗の影響を受けることなく、第1および第2の
コイル部を直列接続あるいは並列接続することができ
る。
板と二次回路基板間に存在する浮遊容量を減らすことが
できる。
板と二次回路基板間全体の浮遊容量を、単一のシールド
基板によって効果的に減らすことが可能となる。
片面のみ第1および第2の導電パターンを形成した場合
に比べて、薄層基板の層数を減らすことが可能となる。
て説明する。図1乃至図7は本発明の第1実施例を示
し、同図において、1は同一形状の薄層基板2を複数積
層してなるコイル本体であり、各薄層基板2には、中央
貫通孔3の左右方向に一対の主脚貫通孔4,4aが設け
られる。この薄層基板2に共通して、一方の主脚貫通孔
4の前方には、導電性の接続部たるめっきスルーホール
5,6,7,8が複数設けられ、これに対応して、他方
の主脚貫通孔4aの前方に、導電性の接続部たるめっき
スルーホール5a,6a,7a,8aが複数設けられ
る。さらに、各主脚貫通孔4,4aの後方にも、各々接
続部たるめっきスルーホール9,9aが複数設けられる
とともに、中央貫通孔3の後方にも接続部たるめっきス
ルーホール10が設けられる。これらの各めっきスルーホ
ール5〜10,5a〜10aにより、外部および薄層基板2
間の電気的な接続が図られる。
第2のコイル部11aとにより構成される。すなわち、中
央貫通孔3の中央から見て、一方の主脚貫通孔4側に第
1のコイル部11が設けられ、他方の主脚貫通孔4a側に
第2のコイル部11aが設けられる。これらの第1および
第2のコイル部11,11aは、第1の導電パターン12と第
2の導電パターン12aとを、共通の薄層基板2に各々形
成して構成される。薄層基板2は、ガラスエポキシ系あ
るいはポリイミド系などの樹脂絶縁材料からなり、この
薄層基板2の表面に各層共厚さ105μmの銅箔をエッ
チング処理して、第1および第2の導電パターン12,12
aを得るようにしている。
1のトランス13の一次巻線となる一次回路パターン14
と、第1のトランス13の二次巻線となる二次回路パター
ン15との2系統からなり、これらは各々異なる薄層基板
2に形成される。また、第2の導電パターン12aも、第
2のトランス13aの一次巻線となる一次回路パターン14
aと、第2のトランス13aの二次巻線となる二次回路パ
ターン15aとの2系統からなり、これらも各々異なる薄
層基板2に形成される。一次回路パターン14,14aは互
いに共通の薄層基板2に形成されるとともに、二次回路
パターン15,15aも互いに共通の薄層基板2に形成さ
れ、この一次回路パターン14,14aを形成した一次回路
基板16と、二次回路パターン15,15aを形成した二次回
路基板17が交互に積層される。本実施例では、図6に示
す二次回路基板17が第1層(最上層),第3層,第5
層,第7層,第9層(最下層)として設けられ、この間
に、図2乃至図5に示す各一次回路基板16が、第2層,
第4層,第6層,第8層として順次設けられる。なお、
一次回路基板16および二次回路基板17の外面には図示し
ない絶縁層が形成され、各薄層基板2の間にエポキシ樹
脂などの接着剤を介在させることで、図1に示す積層状
のコイル本体1が得られる。
図5に基づきさらに詳述する。先ず、第1の導電パター
ン12に着目すると、主脚貫通孔4の外周を囲むロ字状の
周回部21は、一次回路基板16の各層に共通して同一形状
で形成されるが、この周回部21の両端から前方に延びる
始端部22および終端部23の形成位置は、各層毎に異なっ
ている。すなわち、図2に示す第2層の一次回路基板16
では、最も外方のめっきスルーホール5に始端部22が接
続され、隣りのめっきスルーホール6に終端部23が接続
される。また、図3に示す第4層の一次回路基板16で
は、めっきスルーホール6に始端部22が接続され、めっ
きスルーホール7に終端部23が接続される。以下、図4
に示す第6層の一次回路基板16では、めっきスルーホー
ル7に始端部22が接続され、めっきスルーホール8に終
端部23が接続されるとともに、図5に示す第8層の一次
回路基板16では、めっきスルーホール8に始端部22が接
続され、終端部23はめっきスルーホール8よりもさらに
内方に形成される。
と、第2層の一次回路基板16の終端部23と、第4層の一
次回路基板16の始端部22が、めっきスルーホール6によ
り接続され、以下同様に、第4層の一次回路基板16の終
端部23と、第6層の一次回路基板16の始端部22が、めっ
きスルーホール7により接続されるとともに、第6層の
一次回路基板16の終端部23と、第8層の一次回路基板16
の始端部22が、めっきスルーホール8により接続され
る。このとき、第1の導電パターン12により形成される
一次回路パターン14は、積層状態で巻線状すなわち螺旋
状に配置され、第2層の一次回路基板16の始端部22か
ら、第8層の一次回路基板16の終端部23に至る経路が、
第1のトランス13の一次巻線として形成される。
と、これは、中央貫通孔3を中心として、前記一方の導
電パターン12と左右対称に形成される。すなわち、第2
の導電パターン12aは、共通するロ字状の周回部21aの
両端に、始端部22aおよび終端部23aを形成しており、
これらの始端部22aおよび終端部23aの形成位置は、一
次回路基板16の各層毎に異なっている。始端部22aは、
第2層の一次回路基板16ではめっきスルーホール5aに
接続され、以下、第4層の一次回路基板16ではめっきス
ルーホール6a、第6層の一次回路基板16ではめっきス
ルーホール7a、第8層の一次回路基板16ではめっきス
ルーホール8aに接続される。また、終端部23aは、第
2層の一次回路基板16ではめっきスルーホール6aに接
続され、以下、第4層の一次回路基板16ではめっきスル
ーホール7a、第6層の一次回路基板16ではめっきスル
ーホール8aに接続され、第8層の一次回路基板16で
は、めっきスルーホール8aよりもさらに内方に形成さ
れる。
と、めっきスルーホール5a,6a,7a,8aによっ
て、第2の導電パターン12aにより形成される一次回路
パターン14aも、積層状態で巻線状すなわち螺旋状に配
置され、第2層の一次回路基板16の始端部22aから、第
8層の一次回路基板16の終端部23aに至る経路が、第2
のトランス13aの一次巻線として形成される。
路基板16において、第1の導電パターン12の終端部23
と、第2の導電パターン12aの終端部23aが、中央貫通
孔3の前方で接続している。これにより、双方のトラン
ス13,13aの一次側が内部で直列接続される。
詳述すると、この二次回路基板17は第1層,第3層,第
5層,第7層および第9層に共通して用いられる。第1
の導電パターン12は、主脚貫通孔4の外周を囲むロ字状
の周回部31が形成されるとともに、この周回部31の両端
から後方に延びるようにして、めっきスルーホール9に
接続する始端部32と、めっきスルーホール10に接続する
終端部33が各々形成される。また、第2の導電パターン
12aも、主脚貫通孔4aの外周を囲むロ字状の周回部31
aが形成され、この周回部31aの両端から後方に延びる
ようにして、めっきスルーホール9aに接続する始端部
32aと、めっきスルーホール10に接続する終端部33aが
各々形成される。
と、第1の導電パターン12の各始端部32が、めっきスル
ーホール9を介して相互に接続されるとともに、第2の
導電パターン12aの始端部32aも、めっきスルーホール
9aを介して相互に接続される。また、第1の導電パタ
ーン12の終端部33と、第2の導電パターン12aの終端部
33aも、共通するめっきスルーホール10を介して相互に
接続される。この場合、めっきスルーホール9,10を共
通の接続点として、各二次回路基板17の二次回路パター
ン15を並列接続した第1のトランス13の二次巻線が形成
され、また、めっきスルーホール9a,10aを共通の接
続点として、各二次回路基板17の二次回路パターン15a
を並列接続した第2のトランス13aの二次巻線が形成さ
れる。しかも、第1の導電パターン12の終端部33と、第
2の導電パターン12aの終端部33aが、中央貫通孔3の
後方で接続しており、これにより、双方のトランス13,
13aの二次側が内部で直列接続される。
着される磁芯41の構成を説明する。磁芯41は、第1のコ
イル部11に対応して設けられた第1の磁芯42と、第2の
コイル部11aに対応して設けられた第2の磁芯42aとか
らなる。第1の磁芯42は、側部がいずれもE字型をなす
一組の上部磁芯43と下部磁芯44とを突き合わせて構成さ
れ、また、第2の磁芯42aも、側部がいずれもE字型を
なす一組の上部磁芯43aと下部磁芯44aとを突き合わせ
て構成される。上部磁芯43および下部磁芯44には、いず
れも主脚貫通孔4に挿入される主脚45と、この主脚45の
両側に位置する側脚46,47が設けられる。同様に、上部
磁芯43aおよび下部磁芯44aにも、主脚貫通孔4aに挿
入される主脚45aと、この主脚45aの両側に位置する側
脚46a,47aが形成される。上部磁芯43,43aは、各々
一方の側脚46,46aを連結することにより、上部磁性部
材48として一体形成される。また、下部磁芯44,44a
も、各々一方の側脚46,46aを連結することにより、下
部磁性部材49として一体形成される。この一体化された
第1および第2の磁芯42,42aの側脚46,46aが、中央
貫通孔3に挿入され、磁芯41をコイル本体1に装着した
状態で、各めっきスルーホール5〜10,5a〜10aが、
外部および薄層基板2間の電気的な接続のために磁芯41
より露出する。第1および第2のトランス13,13aにお
いて、側脚46,46aの磁束の発生する方向が同一になる
ように、第1および第2の導電パターン12,12aを形成
すれば、第1および第2の磁芯42,42aを一体形成した
場合の磁気的な影響はなくなる。
および第2の導電パターン12,12aを形成し、この薄層
基板2を積層して得られた第1および第2のコイル部1
1,11aに、一組の磁芯41を装着することで、一次側と
二次側が各々直列接続された2個の第1および第2のト
ランス13,13aが製造される。この場合の回路図は図7
のようになり、これは特に、2トランス方式の部分共振
型コンバータのインバータトランスに好適なものとな
る。すなわち、一次回路パターン14,14aを流れる電流
によって第1および第2の磁芯42,42aに磁束が発生
し、この磁束によって、二次回路パターン15,15aに電
圧が誘起される。そして、この二次回路パターン15,15
aに誘起された電圧が、めっきスルーホール9,10間、
およびめっきスルーホール9a,10間に各々発生するこ
とになる。
て構成される第1および第2の磁芯42,42aとを一体化
し、上部磁性部材48および下部磁性部材49とからなる一
組の磁芯41により、2個のコイル11,11aに対する磁気
回路を形成することで、従来に比べて、必要な磁性部材
の個数を半減させることができ、コストの低減を図るこ
とができる。この場合、第1および第2の磁芯42,42a
は、EE型以外のものであってもよい。但し、本実施例
のように上下対称なEE型の第1および第2の磁芯42,
42aにすると、上部磁性部材48および下部磁性部材49を
共通化できるという更なる利点がある。このように、第
1のコイル部11に対応して設けられた第1の磁芯42と、
第2のコイル部11aに対応して設けられた第2の磁芯42
aとを一組の磁芯41で一体形成することにより、本発明
の主目的である部品点数およびコストの削減を達成でき
る。
を製造する場合、独立した薄層基板2にそれぞれ各素子
に対応した導電パターンを形成し、これを別々に積層し
て第1および第2のコイル部11,11aを得るようにして
いたが、本実施例の場合、同一の薄層基板2に第1およ
び第2の導電パターン12,12aを各々形成した後、各薄
層基板2を複数積層するだけで、トランス13,13aを構
成する2個のコイル部11,11aを同時に得ることがで
き、磁芯41のみならず第1および第2のコイル部11,11
aを構成する薄層基板2も部品の共通化を図ることが可
能となる。すなわち、本実施例のインダクタンス素子
は、共通する絶縁薄層基板2に第1および第2の導電パ
ターン12,12aとを各々形成し、この薄層基板2を複数
積層して第1および第2の導電パターン12,12aを巻線
状に配置して、前記磁芯41に対し磁気的に結合する第1
および第2のコイル部11,11aを構成することで、部品
点数およびコストの一層の削減を達成できる。
ける上記以外の作用,効果を列記する。従来は、2個の
インダクタンス素子を直列接続あるいは並列接続する場
合、各素子の端子をプリント基板などのランドに一旦半
田付けし、プリント基板の導電パターンを介してインダ
クタンス素子相互の接続を図っていたが、この場合に
は、各素子とプリント基板間の半田付け部における接触
抵抗が大きくなって、素子の特性に悪影響を及ぼす。し
かし本実施例では、例えば、第8層の一次回路基板16を
示す図5からも明らかなように、第8層の第1および第
2の導電パターン12,12aの各終端部23,23aを相互に
パターン接続することにより、外部で半田付け接続を行
なうことなく、インダクタンス素子たる第1および第2
のトランス13,13aの一次側を直列接続することがで
き、これら素子間の接触抵抗を零にすることができる。
つまり、第1および第2の導電パターン12,12aを、同
一の薄層基板2の内部でパターン接続することにより、
素子間の接触抵抗の影響を受けることなく、第1および
第2のコイル部11,11aを直列接続あるいは並列接続す
ることができる。これに対して、第8層の第1および第
2の導電パターン12,12aの各終端部23,23aをパター
ン接続しなければ、回路的に独立したインダクタンス素
子が同一の薄層基板2から得られることになる。
に着目すると、本実施例では、各薄層基板2に形成され
た第1の導電パターン12の始端部32および終端部33を、
共通するスルーホール9,10により相互に接続すること
によって、第1の導電パターン12を並列接続した巻数が
1回の二次巻線を得るようにしており、並列接続された
第1の導電パターン12によって、第1のトランス13の二
次側の電流容量を増加させている。この点に関し、従来
の薄形積層トランスでは、電流容量を増加させる手段と
して、第1の導電パターン12の幅を拡げたりする方法が
考えられていたが、薄層基板2の形状が大型化するばか
りでなく、パターン全体の再設計が必要となるという問
題点があった。しかし、本実施例では、各薄層基板2に
形成される第1あるいは第2の導電パターン12,12aの
両端を、接続部たるめっきスルーホール9,10により相
互に接続することで、薄層基板2の形状を変えることな
く、薄層基板2の積層数を変えるだけで、電流容量に応
じたインダクタンス素子を簡単に得ることができる。ま
た、図2乃至図5に示す各一次回路基板16のように、上
層の薄層基板2に形成される第1の導電パターン12の終
端部23を、次層の薄層基板2に形成される第1の導電パ
ターン12の始端部22に接続し、第1の導電パターン12を
全体として直列接続すれば、薄層基板2の積層数に応じ
て、第1のコイル部11の巻数を簡単に変えることができ
る。これらの作用,効果は、第2の導電パターン12aに
も選択的に適用できる。
11,11aを構成する第1および第2の導電パターン12,
12aを、各薄層基板2毎に同一形状で左右対称に形成し
ている。これは、同一特性を有する第1および第2のト
ランス13,13aを得るためである。しかし、特性の異な
るインダクタンス素子を得るために、第1および第2の
導電パターン12,12aを各々異なる形状で形成してもよ
い。また、第1および第2の導電パターン12,12aを、
薄層基板2の両面に形成してもよい。なお、この場合に
は、各薄層基板2間にガラスエポキシ系あるいはポリイ
ミド系などの樹脂絶縁材料を使用して、複数積層するこ
とができる。
を第1の一次回路パターン14および二次回路パターン15
に分割するとともに、第2の導電パターン12aを第2の
一次回路パターン14aおよび二次回路パターン15aに分
割し、各一次回路パターン14,14aを薄層基板2に形成
した一次回路基板16と、各二次回路パターン15,15aを
薄層基板2に形成した二次回路基板17とを積層すること
により、2個の第1および第2のトランス13,13aを同
一の薄層基板2で一体的に得ることができる。この場
合、二次回路基板17を取り除くと、一次回路基板16と磁
芯41とによる二次回路のない2個のチョークコイルが得
られる。また、一方の導電パターンを二次回路パターン
15のみにして薄層基板2を形成した場合には、第1のト
ランス13とチョークコイルを組み合わせた素子を一体的
に得ることができ、これにより、例えばスイッチング電
源装置のインバータトランスと平滑用チョークコイルと
を、一部品で構成することが可能となる。こうした構成
は、二次回路パターン15,15aの一方あるいは両方を、
選択的に薄層基板2に形成しないようにすることで簡単
に達成できる。
第1および第2のコイル部11,11aの特性に応じて、各
々形状を異なるように構成してもよい。この場合、一方
がトランス用,他方がチョークコイル用の磁芯41とし
て、一体化することができる。さらに、第1および第2
の磁芯42,42aの一方あるいは両方の主脚45,45aに、
エネルギー蓄積手段としてのセンターギャップ(空隙)
を設けることも可能である。
と二次回路基板17とを交互に複数配設すると、第1およ
び第2のトランス13,13aの一次側と二次側との磁気的
な結合を高めることができる。特に、最上層と最下層に
二次回路基板17を配設し、この間の中間層に一次回路基
板16と二次回路基板17とを交互に配設して、二次回路基
板17の層数を可及的に増やすと、トランス13,13aの一
次側と二次側との磁気的な結合を最も高めることが可能
となる。
12aの厚さは、70μm以上であることが好ましい。特
に、実施例における第1および第2のトランス13,13a
をスイッチング電源装置のインバータトランスとして用
いた場合、厚さが70μm以上であると、第1および第
2の導電パターン12,12aを流れる電流の許容量を満足
することができる。
ような方形状に限らず円形であってもよい。この場合、
第1の導電パターン12の周回部21,31、および第2の導
電パターン12aの周回部21a,31aも、これに伴って略
円環状に形成してもよい。
第2実施例を説明する。なお、前記第1実施例と同一部
分には同一符号を付し、その共通する部分の詳細な説明
は省略する。本実施例は図8に示すように、11層の薄
層基板2を積層して構成され、4層の各一次回路基板16
および二次回路基板17に、最上層(n=1)に配置され
る上部回路基板51と、最下層(n=11)に配置される
下部回路基板52と、中間の第6層(n=6)に配置され
るシールド基板53が設けられる。この上部回路基板51お
よび下部回路基板52に形成される第1および第2の導電
パターン12,12a、およびシールド基板53に形成される
同じく導電性のシールド層54の厚さd1は、いずれも1
8μmであり、他の一次回路基板16および二次回路基板
17に形成される第1および第2の導電パターン12,12a
の厚さd2=105μmとは異なっている点が注目され
る。また、最上層の第1および第2の導電パターン12,
12aのみ、上部回路基板51の下面に形成され、これによ
り、積層された薄層基板2の最上面部55および最下面部
56には、第1および第2の導電パターン12,12aを形成
しない構造となっている。
構成を図9および図10にて説明すると、60は同一の薄
層基板2に二次回路パターン31とは別に独立して形成さ
れた補助回路パターンである。この補助回路パターン60
は、最終的にはスイッチング電源装置の補助電源回路を
構成するトランス13の補助巻線となるものであり、第1
の導電パターン12は、補助回路パターン60と二次回路パ
ターン15とからなる2系統の回路パターンを有すること
になる。補助回路パターン60は、上部回路基板51および
下部回路基板52に共通して、主脚貫通孔4を囲む周回部
61と、この周回部61の両端に形成される始端部62および
終端部63とを有し、そのパターン幅は二次回路パターン
31のパターン幅よりも狭く形成される。また、この補助
回路パターン60の接続部として、各薄層基板2に共通し
て、めっきスルーホール64,65が設けられる。
ーン60の始端部62は、二次回路パターン15の始端部62に
接続され、終端部63はめっきスルーホール64に接続され
る。また、下部回路基板52に形成される補助回路パター
ン60の始端部62は、めっきスルーホール64に接続され、
終端部63はめっきスルーホール65に接続される。したが
って、各薄層基板2の積層時には、めっきスルーホール
64が相互に接続され、補助回路パターン60は巻線状に配
置される。この場合、上部回路基板51と下部回路基板52
との積層構造により、巻数が2回の補助巻線が得られ
る。
と、第1および第2の導電パターンと同一部材のシール
ド層54は、薄層基板2の上面全体に亘って形成される。
このシールド層54は、一次回路基板16と二次回路基板17
間の浮遊容量を減らすために設けられるものであり、本
実施例では、めっきスルーホール5にパターン接続し
て、トランス13の一次側の始端部22と等電位を保ってい
る。
なり、トランス13の二次巻線の一端に補助巻線の一端を
接続した2個のトランス13,13aが得られる。
下部回路基板52は、同一の薄層基板2に、二次回路パタ
ーン31と補助回路パターン60からなる2系統の回路パタ
ーンで第1の導電パターン12を形成することにより、第
1のトランス13に二次巻線とは別の補助巻線を得ること
ができる。この補助回路パターン60は、他方の二次回路
パターン31a側に独立して設けてもよく、また、前記図
2乃至図5に示す一次回路パターン14,14a側に設けて
もよい。この場合、2以上の補助回路パターン60と、一
次回路パターン14,14aあるいは二次回路パターン15,
15aとにより、第1あるいは第2の導電パターン12,12
aを形成してもよい。これによって、インダクタンス素
子には、同一の薄層基板2に少なくとも2以上の巻線回
路を有することになる。
の巻線回路を備えているため、各巻線回路毎に異なるパ
ターン態様の薄層基板2を積層する従来構造のものに比
べて、積層化された薄層基板2の全体形状を著しく薄形
化できるという利点がある。つまり、同一の薄層基板2
に少なくとも2系統以上の回路パターンを有する第1あ
るいは前記第2の導電パターン12,12aを形成すること
により、別系統の巻線回路となる回路パターンを設けて
も、薄層基板2全体が厚くならないようなインダクタン
ス素子を得ることが可能となる。
回路パターン31が、電流容量の小さい補助回路パターン
60に比べて、そのパターン幅を広く形成してある。つま
り、電流容量に応じて二次回路パターン31と補助回路パ
ターン60のパターン幅を適宜変えることにより、限られ
た薄層基板2のスペース内で、複数の回路パターンを効
率良く形成することが可能となる。
ターン12,12aを流れる電流容量に拘らず、その厚さを
一定に形成していたが、本実施例では、第1および第2
の導電パターン12,12aおよびシールド層54の厚さを、
流れる電流容量に応じて変えることで、大きな電流を流
す必要のない部分のパターン厚を極力薄く形成して、薄
層基板2全体の薄形化を図っている。すなわち、シール
ド層54を含む第1および第2の導電パターン12,12aの
厚さを各薄層基板2に応じて異なるように形成すれば、
薄層基板2全体を第1および第2の導電パターン12,12
aおよびシールド層54の電流容量に応じた最適な厚さに
形成することができる。
2の最上面部55および最下面部56、すなわち磁芯41に接
触する薄層基板2の最外面に、第1および第2の導電パ
ターン12,12aを形成しない構造となっている。したが
って、薄層基板2と磁芯41との間に介在するボビンや絶
縁シートなどの絶縁体は不要となり、絶縁体がなくて
も、磁芯41が第1および第2の導電パターン12,12aに
接触する危険性はなくなる。すなわち、積層された薄層
基板2の最外面には、第1および第2の導電パターン1
2,12aを形成しないように構成したことにより、絶縁
体を介在させることなく、第1および第2の導電パター
ン12,12aと磁芯41との接触を回避することができる。
構造のコイル本体1は、各薄層基板2に形成される一次
回路パターン14,14aと二次回路パターン15,15aの面
積が大きく、しかも、一次回路パターン14,14aと二次
回路パターン15,15a間の距離が短い。したがって、一
次回路基板16と二次回路基板17間の浮遊容量が無視でき
ないほど大きくなり、これがトランス13,13aの特性に
悪影響を及ぼすことになる。この点に関し、本実施例で
は中間の第6層にシールド基板53が設けられているた
め、これにより一次回路基板16と二次回路基板17間に存
在する浮遊容量を減らすことができる。このシールド基
板53は1層のみに限らず、トランス本体13,13aの特性
などを考慮して、薄層基板2の各層間に選択的にかつ複
数層配設してもよい。
のシールド層54を、トランス13の一次側の始端部22と等
電位のめっきスルーホール5にパターン接続している。
このように、シールド基板53に設けられた任意のめっき
スルーホール5〜10,5a〜9aにシールド層54を接続
することにより、シールド基板53の外部でいちいち接続
を行なわなくても、シールド層54の電位をトランス13,
13aの端部のいずれか一点に固定することができる。一
方、シールド層54をどのめっきスルーホール5〜10,5
a〜9aにも接続させずに、電気的に浮かせる場合もあ
る。これらの手法は、トランス13,13aの特性などを考
慮して、適宜選択すればよい。
例を説明する。なお、前記第1および第2実施例と同一
部分には同一符号を付し、その共通する部分の詳細な説
明は省略する。図13は、任意の層の一次回路基板16を
示すものであり、第1および第2の導電パターン12,12
aの各周回部21,21aが、同一の薄層基板2上で渦巻状
に形成される点が注目される。なお、66は補助回路パタ
ーン60の接続部として設けられるめっきスルーホールで
ある。
1および第2の導電パターン12,12aを共に渦巻状に形
成すると、2個のインダクタンス素子すなわち第1およ
び第2のトランス13,13aを有する構造でありながら、
積層された薄層基板2の厚さ方向を、上記第1および第
2実施例よりも更に薄くすることができる。次に、本発
明の第4実施例を図14および図15に基づき説明す
る。なお、上記各実施例と共通する部分には同一符号を
付し、その共通する部分の詳細な説明は省略する。図1
4に示すように、本実施例のコイル本体1は、7層の薄
層基板2を順次積層して構成され、第1層の上部回路基
板51と第4層のシールド基板53との間に、2層の一次回
路基板16が設けられるとともに、第4層のシールド基板
53と第7層の下部回路基板52との間に、2層の二次回路
基板17が設けられている。また、上部回路基板51を構成
する薄層基板2の最上面部55、および下部回路基板52を
構成する薄層基板2の最下面部56は、磁芯41との電気的
な接触を避けるために、導電パターンがエッチング処理
により予め除去されている。図15は上部回路基板51の
最上面部55側の構成を示しているが、外部との電気的な
接続を図るために、めっきスルーホールに接続されたラ
ンド5,9,10,65,9a,10aのみが形成され、下部
回路基板52の最下面部56も、同様に導電パターンを形成
しない構成となっている。また、一次回路基板16および
二次回路基板17には、薄層基板2の両面に第1および第
2の導電パターン12,12aが形成される。
部に一次回路基板16を積層し、シールド基板53の他側下
部に二次回路基板17を積層しているので、このシールド
基板53によって一次回路基板16と二次回路基板17間全体
の浮遊容量を、単一のシールド基板53によって効果的に
減らすことが可能となる。また、第1および第2の導電
パターン12,12aを薄層基板2の両面に形成しているた
め、薄層基板2の片面のみ第1および第2の導電パター
ン12,12aを形成した場合に比べて、薄層基板2の層数
を減らすことが可能となる。したがって、2個の第1お
よび第2のトランス13,13aを有する構造でありなが
ら、積層された薄層基板2の厚さ方向を上記各実施例以
上に更に薄くすることができる。
発明の要旨の範囲内で適宜変形が可能である。
第1のコイル部に対応して設けられた第1の磁芯と、第
2のコイル部に対応して設けられた第2の磁芯とを備
え、前記第1のコイル部および第2のコイル部は、共通
する薄層基板に第1の導電パターンと第2の導電パター
ンとを各々形成し、前記薄層基板を複数積層して前記第
1の導電パターンおよび第2の導電パターンを巻線状に
配置して構成されるとともに、前記第1の導電パターン
および第2の導電パターンが同一の前記薄層基板の内部
でパターン接続されるものであり、第1および第2のコ
イル部の部品の共通化を図ることが可能となるととも
に、素子間の接触抵抗の影響を受けることなく、第1お
よび第2のコイル部を直列接続あるいは並列接続するこ
とができる。
は、前記請求項1の構成において、前記第1の導電パタ
ーンは、第1のトランスの一次回路パターンおよび二次
回路パターンを構成する一方、前記第2の導電パターン
は、第2のトランスの一次回路パターンおよび二次回路
パターンを構成して、前記第1および第2のトランスの
各一次回路パターンを共通の前記薄層基板に形成した一
次回路基板と、前記第 1および第2のトランスの各二次
回路パターンを共通の前記薄層基板に形成した二次回路
基板とを積層し、この積層された前記薄層基板の層間
に、シールド層を形成したシールド基板を配設したもの
であり、一次回路基板と二次回路基板間に存在する浮遊
容量を減らすことができる。
は、前記請求項2の構成において、前記シールド基板の
一側に前記一次回路基板を積層し、前記シールド基板の
他側に二次回路基板を積層したものであり、一次回路基
板と二次回路基板間全体の浮遊容量を、単一のシールド
基板によって効果的に減らすことが可能となる。
は、前記請求項2の構成において、前記積層基板の両面
に前記第1の導電パターンおよび第2の導電パターンを
形成したものであり、2個の第1および第2のトランス
を有する構造でありながら、積層された薄層基板の厚さ
方向をに更に薄くすることができる。
ある。
る。
る。
る。
る。
明図である。
面図である。
説明図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 第1のコイル部に対応して設けられた第
1の磁芯と、第2のコイル部に対応して設けられた第2
の磁芯とを備え、前記第1のコイル部および第2のコイ
ル部は、共通する薄層基板に第1の導電パターンと第2
の導電パターンとを各々形成し、前記薄層基板を複数積
層して前記第1の導電パターンおよび第2の導電パター
ンを巻線状に配置して構成されるとともに、前記第1の
導電パターンおよび第2の導電パターンが同一の前記薄
層基板の内部でパターン接続されるものであることを特
徴とするインダクタンス素子。 - 【請求項2】 前記第1の導電パターンは、第1のトラ
ンスの一次回路パターンおよび二次回路パターンを構成
する一方、前記第2の導電パターンは、第2のトランス
の一次回路パターンおよび二次回路パターンを構成し
て、前記第1および第2のトランスの各一次回路パター
ンを共通の前記薄層基板に形成した一次回路基板と、前
記第1および第2のトランスの各二次回路パターンを共
通の前記薄層基板に形成した二次回路基板とを積層し、
この積層された前記薄層基板の層間に、シールド層を形
成したシールド基板を配設したことを特徴とする請求項
1記載のインダクタンス素子。 - 【請求項3】 前記シールド基板の一側に前記一次回路
基板を積層し、前記シールド基板の他側に二次回路基板
を積層したことを特徴とする請求項2記載のインダクタ
ンス素子。 - 【請求項4】 前記積層基板の両面に前記第1の導電パ
ターンおよび第2の導電パターンを形成したことを特徴
とする請求項2記載のインダクタンス素子。
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