JP2023128334A

JP2023128334A - 情報処理装置、光コヒーレンストモグラフィ装置、情報処理方法、及びプログラム

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Publication number: JP2023128334A
Application number: JP2022032616A
Authority: JP
Inventors: 大典加藤; Daisuke Kato
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 2022-03-03
Filing date: 2022-03-03
Publication date: 2023-09-14

Abstract

【課題】フルレンジＯＣＴにおいて取得されるスキャンデータを最適化するための新たな技術を提供する。【解決手段】情報処理装置は、特定部と、リサイズ処理部とを含む。特定部は、光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向の冗長度を特定する。リサイズ処理部は、特定部により特定された冗長度に基づいてＢスキャンデータのデータサイズを変更する。【選択図】図１６

Description

この発明は、情報処理装置、光コヒーレンストモグラフィ装置、情報処理方法、及びプログラムに関する。

近年、レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光コヒーレンストモグラフィ（ＯｐｔｉｃａｌＣｏｈｅｒｅｎｃｅＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（ＣｏｍｐｕｔｅｄＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成したり、眼軸長等の眼内距離を計測したりするＯＣＴ装置が実用化されている。

このようなＯＣＴにより取得された被測定物の画像（断層画像、ＯＣＴ画像）には、様々なアーチファクトが描出されることが知られている。特に、スペクトラルドメインＯＣＴ（ＳｐｅｃｔｒａｌＤｏｍａｉｎＯＣＴ：ＳＤ－ＯＣＴ）、スウェプトソースＯＣＴ（ＳｗｅｐｔＳｏｕｒｃｅＯＣＴ：ＳＳ－ＯＣＴ）等のフーリエドメイン（ＦｏｕｒｉｅｒＤｏｍａｉｎＯＣＴ：ＦＤ－ＯＣＴ）を用いて取得された画像には、複素共役アーチファクト（ゴーストイメージ、ミラーイメージ）が描出される。複素共役アーチファクトは、被測定物に照射された測定光の光路長が参照光の光路長と等しいゼロディレイ位置に対して実像の反対側に現れる虚像である。複素共役アーチファクトにより、観察可能な深さ方向のレンジが制限される。複素共役アーチファクトを除去することで、被測定物の深部の観察や広角の観察が可能になる。

このような複素共役アーチファクトを除去する方法の１つに、位相シフト法を用いて複素干渉スペクトルを復元するフルレンジＯＣＴがある。このような位相シフト法を用いたフルレンジＯＣＴを実現する手法が、例えば、非特許文献１、非特許文献２、及び非特許文献３に開示されている。

Ｙ．Ｙａｓｕｎｏｅｔａｌ．， "ＳｉｍｕｌｔａｎｅｏｕｓＢ－Ｍ－ｍｏｄｅｓｃａｎｎｉｎｇｍｅｔｈｏｄｆｏｒｒｅａｌ－ｔｉｍｅｆｕｌｌ－ｒａｎｇｅＦｏｕｒｉｅｒｄｏｍａｉｎｏｐｔｉｃａｌｃｏｈｅｒｅｎｃｅｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ"，ＡＰＰＬＩＥＤＯＰＴＩＣＳ，２００６年３月１０日，Ｖｏｌ．４５，Ｎｏ．８，ｐｐ．１８６１－１８６５Ｂ．Ｂａｕｍａｎｎｅｔａｌ．， "Ｆｕｌｌｒａｎｇｅｃｏｍｐｌｅｘｓｐｅｃｔｒａｌｄｏｍａｉｎｏｐｔｉｃａｌｃｏｈｅｒｅｎｃｅｔｏｍｏｇｒａｐｈｙｗｉｔｈｏｕｔａｄｄｉｔｉｏｎａｌｐｈａｓｅｓｈｉｆｔｅｒｓ"，ＯＰＴＩＣＳＥＸＰＲＥＳＳ，２００７年１０月１日，Ｖｏｌ．１５，Ｎｏ．２０，ｐｐ．１３３７５－１３３８７Ｓ．Ｍａｋｉｔａｅｔａｌ．， "Ｆｕｌｌ－ｒａｎｇｅ，ｈｉｇｈ－ｓｐｅｅｄ，ｈｉｇｈ－ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ，１－μｍｓｐｅｃｔｒａｌ－ｄｏｍａｉｎｏｐｔｉｃａｌｃｏｈｅｒｅｎｃｅｔｏｍｏｇｒａｐｈｙｕｓｉｎｇＢＭ－ｓｃａｎｆｏｒｖｏｌｕｍｅｔｒｉｃｉｍａｇｉｎｇｏｆｔｈｅｈｕｍａｎｐｏｓｔｅｒｉｏｒｅｙｅ"，ＯＰＴＩＣＳＥＸＰＲＥＳＳ，２００８年６月９日，Ｖｏｌ．１６，Ｎｏ．１２，ｐｐ．８４０６－８４２０

非特許文献１～非特許文献３に開示されている位相シフト法を用いたフルレンジＯＣＴを実現する場合、被測定物に照射する撮影光（測定光）の横分解能より細かい間隔でラテラル方向にＡスキャンを実行する必要がある。

しかしながら、上記のスキャンにより取得されるスキャンデータが観察又は解析に必要と考えられるデータに対してラテラル方向の冗長度が高いことが本発明者の解析によって明らかになった。情報量を落とすことなく冗長度を低減するようにスキャンデータを最適化することができれば、フルレンジＯＣＴによる深さ方向に長いレンジでの観察を実現しつつ、処理時間の短縮及びリソースの節約等の副次的効果が得られる。

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、フルレンジＯＣＴにおいて取得されるスキャンデータを最適化するための新たな技術を提供することにある。

実施形態の１つの態様は、光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向の冗長度を特定する特定部と、前記特定部により特定された前記冗長度に基づいて前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更するリサイズ処理部と、を含む、情報処理装置である。
実施形態の別の態様は、光スキャナと、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記光スキャナにより偏向された前記測定光を前記被測定物に照射し、前記被測定物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記光スキャナを制御すると共に、前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更するように前記干渉光学系を制御する制御部と、前記干渉光の検出結果に基づいて前記Ｂスキャンデータを生成するスキャンデータ生成部と、上記の情報処理装置と、を含む、光コヒーレンストモグラフィ装置である。
実施形態の更に別の態様は、光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向の冗長度を特定する特定ステップと、前記特定ステップにおいて特定された前記冗長度に基づいて前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更するリサイズ処理ステップと、を含む、情報処理方法である。
実施形態の更に別の態様は、コンピュータに、上記の情報処理方法の各ステップを実行させるプログラムである。

本発明によれば、フルレンジＯＣＴにおいて取得されるスキャンデータを最適化するための新たな技術を提供することができるようになる。

実施形態に係るＯＣＴ装置の構成例の概要を表す概略図である。実施形態に係るＯＣＴ装置の動作の概要を表す概略図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る情報処理方法の動作説明図である。実施形態に係る眼科装置の光学系の構成の一例を示す概略図である。実施形態に係る眼科装置の光学系の構成の一例を示す概略図である。実施形態に係る眼科装置の処理系の構成の一例を示す概略図である。実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。実施形態に係る眼科装置の処理系の構成の一例を示す概略図である。実施形態に係る眼科装置の処理系の構成の一例を示す概略図である。実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。実施形態の第１変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。実施形態の第２変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。実施形態の第２変形例に係る眼科装置の処理系の構成の一例を表す概略図である。実施形態の第３変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。実施形態の第４変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。実施形態の第５変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。実施形態の第６変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。実施形態又は実施形態の第１変形例～第５変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。実施形態の第６変形例に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。

この発明に係る情報処理装置、光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ）装置、情報処理方法、及びプログラムの実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る情報処理装置は、ＯＣＴ（ＳＤ－ＯＣＴ又はＳＳ－ＯＣＴ）を用いて被測定物に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向（Ｂスキャン方向）の冗長度を特定し、特定された冗長度に基づいてＢスキャンデータのデータサイズを変更する。Ｂスキャンデータは、Ｂスキャンを実行することにより得られた干渉信号、又はＢスキャン画像の画像データであってよい。情報処理装置は、冗長度に基づいてＢスキャンデータをラテラル方向に縮小することで、データサイズをリサイズする。情報処理装置は、データサイズが変更されたＢスキャンデータに基づいて被測定物の画像（ＯＣＴ画像、断層画像）を表示手段に表示させることが可能である。

ラテラル方向のデータサイズの縮小処理の例として、ラテラル方向に隣接する２以上のＡスキャンデータの平均化処理、ラテラル方向に配列するＡスキャンデータの間引き処理などがある。被測定物の例として、眼内の組織、皮膚の内部組織、歯、口内の組織、臓器の組織などの生体組織、非破壊検査の検査対象物などがある。

実施形態に係るＯＣＴ装置は、実施形態に係る情報処理装置を含み、光スキャナを用いてＯＣＴスキャンを実行することによりＢスキャンデータを取得する。ＯＣＴ装置は、取得されたＢスキャンデータからラテラル方向の冗長度を特定し、特定された冗長度に基づいてＢスキャンデータのデータサイズを変更することが可能である。

実施形態に係る情報処理方法は、上記の情報処理装置の機能を実現する１以上のステップを含む。実施形態に係るプログラムは、実施形態に係る情報処理方法の各ステップをコンピュータ（プロセッサ）に実行させる。実施形態に係る記録媒体は、実施形態に係るプログラムが記録されたコンピュータより取り可能な非一時的な記録媒体（記憶媒体）である。

本明細書において、プロセッサは、例えば、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＧＰＵ（ＧｒａｐｈｉｃｓＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（ＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎＳｐｅｃｉｆｉｃＩｎｔｅｇｒａｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（ＳｉｍｐｌｅＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＬｏｇｉｃＤｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（ＣｏｍｐｌｅｘＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＬｏｇｉｃＤｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（ＦｉｅｌｄＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＧａｔｅＡｒｒａｙ））等の回路を含む。プロセッサは、例えば、記憶回路又は記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。記憶回路又は記憶装置がプロセッサに含まれていてよい。また、記憶回路又は記憶装置がプロセッサの外部に設けられていてよい。

いくつかの実施形態では、データサイズが変更されるＢスキャンデータは、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調されたスキャンデータである。このようなスキャンデータの例として、非特許文献１～非特許文献３に開示されたＢＭスキャンにより取得されたＢスキャンデータがある。

以下の実施形態では、被測定物に対してＢＭスキャンを実行することにより取得されたＢスキャンデータのデータサイズを縮小する場合について説明する。しかしながら、実施形態に係る構成はＢＭスキャンにより取得されたＢスキャンデータをリサイズする構成に限定されるものではない。

まず、実施形態に係るＢＭスキャンについて説明する。以下では、光学系（干渉光学系）の光軸方向に直交する方向（左右方向、水平方向）をｘ方向とし、当該光軸方向に直交する方向（上下方向、垂直方向）をｙ方向とし、当該光軸方向をｚ方向とする。

＜ＢＭスキャン＞
ＢＭスキャンは、干渉光学系を用いてフルレンジＯＣＴを実現するスキャンの１つである。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被測定物に照射し、被測定物からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。このとき、測定光を光スキャナで偏向することで、被測定物における測定光の入射位置（Ａスキャン位置）をラテラル方向に移動する。ＢＭスキャンは、被測定物に対してＢスキャンを実行する間に、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に位相変調（周波数変調）を行う。

以下、説明の便宜上、ラテラル方向をｘ方向とするが、特に、言及しない限り、ラテラル方向はｙ方向であってもよい。ここで、スキャン位置ｘ、波数ｋにおける測定光から出力される電界をＥ_Ｓ（ｘ，ｋ）とし、波数ｋにおける参照光から出力される電界をＥ_Ｒ（ｋ）とする。Ａスキャンのスキャン位置ｘに応じた干渉光の位相シフト量を、記号ψ（ｐｓｉ）を用いてψ（ｘ）とすると、干渉光を検出する検出器の出力Ｉ（ｘ，ｋ）は、式（１）のように表される。

式（１）において、Ｅ_Ｓ ^＊（ｘ，ｋ）はＥ_Ｓ（ｘ，ｋ）の複素共役を表し、Ｅ_Ｒ ^＊（ｋ）はＥ_Ｒ（ｋ）の複素共役を表す。ｅｘｐ（ｉψ（ｘ））は、スキャン位置ｘにおける位相シフトの影響を表す。式（１）の右辺の第１項は、測定光の信号成分を表し、第２項は、参照光の信号成分を表す。第３項及び第４項の一方は、観察対象の干渉光の信号成分（干渉信号成分）を表し、他方はゴーストイメージの信号成分を表す。第３項と第４項とを比較すると、観察対象の干渉信号成分とゴーストイメージの信号成分は、互いに異なる向きに位相シフトされた成分であることがわかる。ＢＭスキャンは、Ａスキャン毎に位相をシフトさせながら上記のような干渉信号成分を取得するＯＣＴスキャンである。

ＢＭスキャンを実行することによって取得された式（１）に示す検出器の出力Ｉ（ｘ，ｋ）をラテラル方向（空間方向、ｘ方向）に沿ってフーリエ変換すると、式（２）のように表される。

式（２）において、ＦＴ_ｘ｛｝は、ｘ方向（ラテラル方向）に沿ったフーリエ変換を表す。スキャン位置ｘは、時間ｔの経過と共に変化する時間ｔを変数とする関数であるため、ｘ方向はｔ方向であってもよい。

以下、説明の便宜上、ＢＭスキャンの位相シフト量ψ（ｘ）がスキャン位置ｘに応じて一定の割合で増加する場合について説明する。この場合、干渉信号の位相変化量Φを用いて、位相シフト量ψ（ｘ）＝Φｘと表すことができる。このとき、式（２）の右辺の第３項は、式（３）のように変形することができる。

式（３）において、演算子「＊」は、ｕ方向（時間周波数方向、空間周波数方向）に沿った畳み込み積分演算を表し、δはデルタ関数を表す。測定光と参照光との相互相関の項Ｅ_Ｓ（ｘ，ｋ）Ｅ_Ｒ ^＊（ｋ）をｘ方向にフーリエ変換した項ＦＴ_ｘ｛Ｅ_Ｓ（ｘ，ｋ）Ｅ_Ｒ ^＊（ｋ）｝をＢ（ｕ，ｋ）と置くと、式（３）は、式（４）のように表される。

すなわち、式（２）の右辺の第３項を示す式（３）は、Ｂ（ｕ，ｋ）をｕ方向に沿って位相変化量（変調量）Φだけ平行移動した成分である。

同様に、式（２）の右辺の第４項は、式（５）のように表すことができる。

式（５）において、Ｂ^＊（ｕ，ｋ）は、Ｂ（ｕ，ｋ）の複素共役を表す。

式（４）と式（５）とを用いて、式（２）は、式（６）のように表すことができる。

すなわち、位相変化量Φを付与しつつ干渉信号を取得することで、観察対象のＯＣＴの干渉信号成分Ｂと、ゴーストイメージの信号成分Ｂ^＊とを空間周波数領域（時間周波数領域）において互いに異なる向きにシフトさせることできる。

ここで、信号成分Ｂ（又は信号成分Ｂ^＊）のみを抽出するように窓関数でスペクトルに重み付けしてｕ方向に逆フーリエ変換すると、式（７）のように表される。窓関数の例として、ヘヴィサイドステップ関数（Ｈｅａｖｉｓｉｄｅｓｔｅｐｆｕｎｃｔｉｏｎ）、ガウス窓関数、ハン窓関数、ハミング窓関数、レイズドコサインフィルタなどがある。式（７）では、窓関数として、ヘヴィサイドステップ関数が用いられている。

式（７）は、観察対象のＯＣＴの干渉信号だけを有する複素数値の干渉信号Ｉ′（ｘ，ｋ）を表す。この干渉信号Ｉ′（ｘ，ｋ）に対して、公知のフーリエドメインＯＣＴと同様に、波数ｋの方向に沿ってフーリエ変換することで、ゴーストイメージが除去されたフルレンジのＯＣＴ画像を再構築することができる。

ここで、測定光と参照光との相互相関の空間スペクトル（広がり）は、上記のＢ（ｕ，ｋ）により表される。Ｅ_Ｒ（ｋ）とＥ_Ｓ（ｘ，ｋ）に位相シフトの影響がなく、被測定物の散乱空間スペクトル（分布）Ｓ（ｘ，ｋ）に対して測定光の広がりｈ（ｘ）が被測定物の深さ方向に依存しないものと仮定すると、Ｅ_Ｓ（ｘ，ｋ）は、被測定物の散乱空間スペクトルＳ（ｘ，ｋ）と測定光の広がりｈ（ｘ）との畳み込み積分として式（８）のように表される。

式（８）に示すＥ_Ｓ（ｘ，ｋ）をｘ方向にフーリエ変換すると、式（９）のように表される。

式（９）において、Ｈ（ｕ）は、測定光の空間スペクトル分布を表す。測定光の広がりｈ（ｘ）の空間スペクトルＨ（ｕ）は、ＯＣＴ光学系（撮影系）の光学的なパラメータに基づいて求めることが可能である。

Ｂ（ｕ，ｋ）はＦＴ_ｘ｛Ｅ_Ｓ（ｘ，ｋ）Ｅ_Ｒ ^＊（ｋ）｝として定義され、参照光路で発生する電場Ｅ_Ｒ ^＊（ｋ）がスキャン位置ｘに依存しない。従って、Ｂ（ｕ，ｋ）のｕ方向の空間スペクトルの分布は、測定光の広がりｈ（ｘ）の空間スペクトルＨ（ｕ）と被測定物の散乱空間スペクトルＳ（ｘ，ｋ）とに依存する。

空間スペクトルＨ（ｕ）は、例えば、測定光の光束（断面）の直径によって定められる。測定光の広がり（強度の空間分布）ｈ（ｘ）がガウス分布に従うと仮定すると、強度がピーク強度の（１／ｅ^２）倍になる位置での測定光の光束の直径がｄのとき、空間スペクトルＨ（ｕ）の強度がピーク強度の（１／ｅ^２）倍になる位置でのバンド幅をｆ_ｄは、式（１０）のように表される（非特許文献３参照）。

式（１０）において、ｆ_ＡはＢスキャン中のＡスキャンの本数（Ａスキャン位置の数）を表し、Δｘは、Ａスキャンの間隔（Ａスキャン位置の間隔）を表す。すなわち、測定光の空間スペクトルＨ（ｕ）のバンド幅ｆ_ｄは、測定光の光束（断面）の直径ｄと、Ｂスキャン中のＡスキャンの本数ｆ_Ａと、Ａスキャンの間隔Δｘとにより一意に定まる。

上記のように、被測定物が同じ（同一の散乱空間スペクトルＳ（ｘ，ｋ））場合、測定光の空間スペクトルＨ（ｕ）に応じてＢ（ｕ，ｋ）が変化することから、測定光の空間スペクトルＨ（ｕ）のバンド幅ｆ_ｄは、Ｂ（ｕ，ｋ）により表される空間スペクトルの広がりの指標の１つである。

非特許文献３に記載されているように、式（１０）に示すバンド幅ｆ_ｄは、空間周波数領域（時間周波数領域）での広がりを表す。ゴーストイメージを十分に抑制するためには、理論的にはスキャン密度を表す（Δｘ／ｄ）が（Δｘ／ｄ）＜（π／８）の条件を満たすようにバンド幅ｆ_ｄを小さくする必要がある。式（１０）に示すように、バンド幅ｆ_ｄを小さくするために、測定光の光束の直径ｄを大きくするか、Ａスキャンの間隔Δｘを小さくする必要がある。ある一定の直径ｄの下では、Δｘを小さくすること必要がある。

以上のように、位相変調を行うＢＭスキャンでは、ｘ方向（ラテラル方向）に隣り合うＡスキャン位置の間隔（＝Δｘ）を小さくする必要がある。このような条件を満たしてＢＭスキャンを行う場合、被測定物に対して近接したＡスキャン位置に測定光がオーバーラップするように照射されるため、スキャンデータの冗長度が高くなる傾向がある。

例えば、非特許文献３では、最も効果的にゴーストイメージを抑制するために、隣接するＡスキャン毎にπ／２だけ位相をシフトし、Δｘ＝～３［μｍ］、ｄ＝～２０［μｍ］でＢＭスキャンを実行することが記載されている。このとき、スキャン密度（Δｘ／ｄ）＝０．１５となる。この場合、理論値（（Δｘ／ｄ）＜（π／８）＝～０．３９、非特許文献３を参照）から余裕を持たせて（Ａスキャン位置の間隔がより小さくなるように）ＢＭスキャンが実行される。

例えば、被測定物である生体眼に対して横分解能が２０［μｍ］である測定光でＯＣＴスキャンを実行する眼科装置において、眼底上で６ｍｍのスキャン長（Ｂスキャン方向）で１０２４点のＡスキャンを実行した場合、隣り合うＡスキャン位置の間隔であるΔｘは、約５．９［μｍ］である。従って、Ａスキャンのスキャン密度（Δｘ／ｄ）は、おおよそ０．３である。このとき、被測定物である眼底の高精細な断層画像を取得することができる。

例えば、実施形態に係る情報処理装置は、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調されたＢスキャンデータに対し、スキャン密度が所定の値（例えば、上記のように０．３）になるようにデータサイズをリサイズすることができる。これにより、情報量を落とすことなく冗長度を低減して、スキャンデータを最適化することができる。従って、フルレンジＯＣＴによる深さ方向に長いレンジでの観察を実現しつつ、処理時間の短縮及びリソースの節約等の副次的効果が得られるようになる。

次に、実施形態に係る構成及び方法について説明する。

＜ＯＣＴ装置＞
図１に、実施形態に係る情報処理装置が適用されたＯＣＴ装置の構成例のブロック図を示す。

実施形態に係るＯＣＴ装置５００は、干渉光学系５１０と、光スキャナ５２０と、スキャンデータ生成部５３０と、制御部５４０と、情報処理部６００とを含む。いくつかの実施形態では、情報処理部６００は、情報処理装置としてＯＣＴ装置５００の外部に設けられる。この場合、情報処理部６００は、公知の通信手段を用いて、ＯＣＴ装置５００により生成されたスキャンデータを取得することが可能である。いくつかの実施形態では、情報処理部６００は、スキャンデータ生成部５３０の機能を含む。

干渉光学系５１０は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、光スキャナ５２０を介して測定光を被測定物７００に照射し、被測定物７００からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。被測定物７００は、ＯＣＴスキャンにより断層画像を取得可能であれば任意の物体であってよい。光スキャナ５２０は、干渉光学系５１０からの測定光を偏向して被測定物７００に導くと共に、被測定物７００からの測定光の戻り光を干渉光学系５１０に導く。光スキャナ５２０は、制御部５４０の制御を受け、被測定物７００における測定光の入射位置（Ａスキャン位置）が所定のラテラル方向に移動するように測定光を順次に偏向する。スキャンデータ生成部５３０は、干渉光学系５１０により得られた干渉光の検出結果に基づいてＢスキャンデータを生成する。スキャンデータ生成部５３０の機能は、後述するように、１以上のプロセッサにより実現される。

制御部５４０は、干渉光学系５１０、光スキャナ５２０、スキャンデータ生成部５３０、及び情報処理部６００の各部を制御する。特に、制御部５４０は、光スキャナ５２０に対する偏向制御に同期して、参照光の光路長と測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更する（位相変調する）ように干渉光学系５１０を制御することでＢＭスキャンを実行することが可能である。これにより、スキャンデータ生成部５３０は、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調（位相変調）されたＢスキャンデータを生成することが可能である。制御部５４０の機能は、後述するように、１以上のプロセッサにより実現される。

情報処理部６００は、実施形態に係る情報処理装置の機能を実現する。情報処理部６００は、スキャンデータ生成部５３０により生成されたＢスキャンデータからラテラル方向（Ｂスキャン方向）の冗長度を特定する。情報処理部６００は、空間周波数領域（時間周波数領域）における空間スペクトルに基づいて冗長度を特定することが可能である。

いくつかの実施形態では、情報処理部６００は、空間スペクトルに基づいてＡスキャンのスキャン密度を特定し、所定の基準スキャン密度と特定されたスキャン密度とに基づいて冗長度を特定する。

いくつかの実施形態では、情報処理部６００は、空間周波数方向における空間スペクトルの幅に基づいて冗長度を特定する。例えば、情報処理部６００は、空間スペクトルに対して関数のフィッティング処理を施し、フィッティング処理により得られた関数に基づいて空間スペクトルの幅を特定する。

情報処理部６００は、特定された冗長度に基づいてＢスキャンデータをラテラル方向に縮小することで、データサイズをリサイズする。例えば、情報処理部６００は、データサイズが変更されたＢスキャンデータに基づいて被測定物７００の断層画像を形成する。情報処理部６００の機能は、後述するように、１以上のプロセッサにより実現される。

これにより、情報量を落とすことなく冗長度を低減するようにスキャンデータを最適化することが可能になり、フルレンジＯＣＴによる深さ方向に長いレンジでの観察を実現しつつ、処理時間の短縮及びリソースの節約等の副次的効果を得ることができる。

図２～図１０に、図１のＯＣＴ装置５００の動作例を示す。図２は、図１のスキャンデータ生成部５３０と情報処理部６００の動作の概要を模式的に表したものである。図３～図１０は、図２の処理ＳＱ２～ＳＱ８の動作を説明する図を表す。図３～図１０では、被測定物７００としてのミラー工具に対してＯＣＴスキャンを実行した場合の図を表す。この場合、ｚ方向（深さ方向）におけるほぼ一定のｚ位置（深さ位置）で測定光が反射される。

ＯＣＴ装置５００は、図２に示す処理ＳＱ１～ＳＱ８を順番に実行する。処理ＳＱ７では、処理ＳＱ３において得られた処理結果を用いて冗長度が算出される。処理ＳＱ８では、処理ＳＱ７において算出された冗長度を用いて、Ｂスキャンデータのデータサイズがｘ方向（ラテラル方向、Ｂスキャン方向）にリサイズされる。

（ＳＱ１：ＯＣＴスキャン）
まず、制御部５４０は、干渉光学系５１０及び光スキャナ５２０を制御して、被測定物７００に対してＯＣＴスキャンを実行する。

具体的には、制御部５４０は、あらかじめ設定されたｘ方向に測定光が偏向するように光スキャナ５２０を制御しつつ、Ａスキャン毎に参照光の光路長と測定光の光路長との差を変更する（位相変調する）ように干渉光学系５１０を制御する。これにより、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調された複数のＡスキャンデータが取得される。

（ＳＱ２：リスケーリング）
続いて、制御部５４０は、スキャンデータ生成部５３０を制御して、干渉光学系５１０により得られたＡスキャンデータに対してリスケーリング処理を実行させる。リスケーリング処理は、波長（λ）空間のスキャンデータを波数（ｋ）空間のスキャンデータに変換する。例えば、処理ＳＱ２では、式（１）に示すスキャンデータが得られる。

図３に、処理ＳＱ２において得られたスキャンデータを模式的に表す。横軸は、ｘ方向を表し、縦軸は、波数方向を表す。

上記のように、被測定物７００としてのミラー工具に対して、Ａスキャン毎に参照光の光路長と測定光の光路長との差を変更するＡスキャンがｘ方向に順次に実行されるため、図３に示すように、ｘ方向に縞模様（濃淡は強度の差を表す）がシフトする。

（ＳＱ３：ｘ方向にフーリエ変換）
次に、制御部５４０は、スキャンデータ生成部５３０を制御して、処理ＳＱ２により得られたリスケーリング処理後のスキャンデータに対してｘ方向にフーリエ変換を実行させる。スキャンデータ生成部５３０は、例えば、式（２）～式（６）に示すように処理を実行する。

図４に、処理ＳＱ３において得られたスキャンデータを模式的に表す。横軸は、ｕ（空間周波数、時間周波数）軸の原点を中心にプラスのｕ方向とマイナスのｕ方向を表し、縦軸は、波数方向を表す。

図４に示すように、ｕ軸の原点を基準に、＋ｕ方向に信号成分Ｂと、－ｕ方向に信号成分Ｂと複素共役である信号成分Ｂ^＊とが描出される（式（２）を変形した式（６）を参照）。

（ＳＱ４：ｕ方向に窓関数を乗算）
次に、制御部５４０は、スキャンデータ生成部５３０を制御して、処理ＳＱ３により得られたフーリエ変換処理後のスキャンデータに対して、ｕ方向に窓関数を乗算させることで、式（６）で示す式から例えば＋ｕ方向の信号成分Ｂを抽出する。

例えば、窓関数として、上記のように、ヘヴィサイドステップ関数が用いられる。ヘヴィサイドステップ関数は、正の引数ｕに対して関数値「１」を出力し、０以下の負の引数ｕに対して「０」を出力するステップ関数である。

図５に、処理ＳＱ４において得られたスキャンデータを模式的に表す。横軸は、ｕ軸の原点を中心に＋ｕ方向と－ｕ方向を表し、縦軸は、波数方向を表す。

図５に示すように、処理ＳＱ３により得られたフーリエ変換処理後のスキャンデータに対してヘヴィサイドステップ関数をｕ方向に乗算することで、＋ｕ方向の信号成分Ｂだけが出力される。このとき、ｕ＝０のスキャンデータも除去されるため、すべてのＡスキャンデータに重畳されるパターンノイズを除去することができる。実用的には、すべてのＡスキャンに重畳されるパターンノイズの成分がｕ＝０の周りで幅を持つ場合があることを考慮して、ヘヴィサイドステップ関数の代わりに＋ｕ方向にシフトさせたヘヴィサイドステップ関数を用いてもよい。

（ＳＱ５：ｕ方向に逆フーリエ変換）
次に、制御部５４０は、スキャンデータ生成部５３０を制御して、処理ＳＱ４により得られた窓関数処理後のスキャンデータに対して、式（７）に示すように、ｕ方向に逆フーリエ変換を実行させる。

図６に、処理ＳＱ５において得られたスキャンデータを模式的に表す。図６は、逆フーリエ変換処理後のスキャンデータの実部と虚部とを分けて図示したものである。図６に示す実部と虚部のそれぞれについて、横軸はｘ方向を表し、縦軸は波数方向を表す。

図６では判別が難しいが、実部に対して、Ａスキャン毎にシフトした位相シフト量だけ縞模様がｘ方向にシフトしている。

（ＳＱ６：ｋ方向にフーリエ変換）
次に、制御部５４０は、スキャンデータ生成部５３０を制御して、処理ＳＱ５により得られた逆フーリエ変換処理後のスキャンデータに対して、ｋ方向にフーリエ変換処理を実行させる。

図７に、処理ＳＱ６において得られたＢスキャンデータを模式的に表す。横軸はｘ方向を表し、縦軸はｚ方向を表す。

図７に示すように、ｚ方向においてほぼ一定のｚ位置（深さ位置）に配置されたミラー工具（反射面）が描出される。

上記のように、処理ＳＱ７において得られたＢスキャンデータは、Ａスキャンがｘ方向に過度にオーバーラップするように実行されるため、スキャンデータのｘ方向の冗長度が高くなる。そこで、実施形態では、処理ＳＱ３で得られたスキャンデータに基づいて冗長度を算出し、算出された冗長度に応じて、処理ＳＱ７において得られたＢスキャンデータをｘ方向にリサイズする。

（ＳＱ７：冗長度を算出）
制御部５４０は、情報処理部６００を制御して、処理ＳＱ３で得られたフーリエ変換処理後のスキャンデータに基づいて冗長度を算出させる。

ここで、上記の式（１０）を変形すると、式（１１）のように表される。

式（１１）において、ｆ_ｄ′はＢスキャンの干渉信号の空間スペクトルのバンド幅を表す。上記のように、Ａスキャンの本数ｆ_ＡとＡスキャンの間隔Δｘはスキャン条件から与えられる。測定光と参照光との相互相関を示すＢスキャンの干渉信号の空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）（又は、Ｂ（ｕ－Φ，ｋ））のバンド幅ｆ_ｄ′は被測定物７００に応じて変化する。この場合、ＯＣＴスキャンにより得られたスキャンデータからＢスキャンの干渉信号の空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）を求め、求められた空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）（又は、Ｂ（ｕ－Φ，ｋ））からバンド幅ｆ_ｄ′を特定することが可能である。

図８に、測定光と参照光との相互相関を示す空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）を模式的に示す。図８は、空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）の所定の波数ｋにおけるｕ断面を模式的に表す。横軸は、ｕ軸の原点を中心に＋ｕ方向と－ｕ方向を表し、縦軸は、スペクトルの振幅を表す。

式（６）に示すように、＋ｕ方向の範囲に空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）が現れ、－ｕ方向の範囲に空間スペクトルＢ^＊（ｕ，ｋ）が現れる。ここで、情報処理部６００は、スキャンデータ生成部５３０により得られた処理ＳＱ３の空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）から、＋ｕ方向の空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）を抽出する。

図９に、＋ｕ方向の空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）を模式的に示す。横軸は、ｕ（空間周波数、時間周波数）方向を表し、縦軸はスペクトルの振幅を表す。

情報処理部６００は、抽出された空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）に対してフィッティング関数でフィッティング処理を行う。ここでは、フィッティング関数として、式（１２）に示すガウス関数ｇ（ｕ）を用いる。

式（１２）において、Ｐはスペクトル信号の振幅、Ｑはベースライン、ｃはｇ（ｕ）の中心位置、σは空間スペクトルの広がりを表す。

フィッティング処理により得られたフィッティング関数（式（１２）に示すガウス関数ｇ（ｕ））のパラメータσの４倍が（振幅がピークの１／ｅ^２となる）バンド幅ｆ_ｄ′に相当する。式（１１）において、ｆ_ｄ′＝４σを代入することで、見かけの測定光の光束の直径ｄ′を式（１３）のように見積もることができる。

従って、測定光の光束の直径ｄに対するＡスキャン位置の間隔Δｘであるスキャン密度は、式（１４）に示すように求めることができる。

上記のように、スキャン密度が０．３程度であれば、高精細な断層画像を取得できることが既知であり、スキャン密度が０．３より小さくなると、Ａスキャンが過剰にオーバーラップしていると考えられる。そこで、情報処理部６００は、基準スキャン密度を０．３として、式（１５）に示すように冗長度Ｒを算出する。

図９に、空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）とフィッティング処理により得られたガウス関数ｇ（ｕ）とを模式的に示す。横軸はｕ方向を表し、縦軸は空間スペクトルの振幅を表す。

例えば、図９では、振幅Ｐ＝２．８４×１０^４であり、ベースラインＱ＝９．４１×１０^２であり、中心位置ｃ＝３．８７×１０であり、空間スペクトルの広がりσ＝３．５が求められた。Ａスキャンの本数ｆ_Ａ＝２５６とし、Ａスキャン位置の間隔Δｘ＝５．９×１０^－３［ｍｍ］とすると、式（１３）から見かけの測定光の光束の直径ｄ′＝１．３６×１０^－１［ｍｍ］として求められる。この場合、式（１５）から、冗長度Ｒ＝６．９８が求められる。

以上のように、位相変調方式で取得されたスキャンデータからｘ方向の冗長度を算出することができる。

なお、冗長度は、上記のように求められるものに限定されるものではない。

例えば、情報処理部６００は、図９に示す空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）又はフィッティング関数（図９のガウス関数ｇ（ｕ））の所定の振幅におけるｕ方向の幅を求め、求められたｕ方向の幅に対応した冗長度Ｒを特定してもよい。

（ＳＱ８：ｘ方向のリサイズ）
処理ＳＱ６及び処理ＳＱ７に続いて、情報処理部６００は、処理ＳＱ７において得られた冗長度Ｒに基づいて、処理ＳＱ６において得られたフーリエ変換後のＢスキャンデータをｘ方向にリサイズする。

情報処理部６００は、フーリエ変換後のＢスキャンデータのデータサイズを（１／Ｒ）倍にリサイズする。具体的には、情報処理部６００は、フーリエ変換後のＢスキャンデータのデータサイズをｘ方向に（１／Ｒ）倍にリサイズする。

図１０に、処理ＳＱ８において得られたＢスキャンデータを模式的に表す。横軸はｘ方向を表し、縦軸はｚ方向を表す。

例えば、上記のように冗長度Ｒ＝６．９８のとき、情報処理部６００は、Ａスキャンの本数ｆ_Ａ＝２５６で取得されたＢスキャンデータを、Ａスキャンの本数＝３６．７（＝ｆ_Ａ／Ｒ）又はその近傍になるようにｘ方向にリサイズする。これにより、観察に影響しない程度に本来のＢスキャンデータが有する情報量を落とすことなくデータサイズ（画像サイズ）をリサイズすることができる。

情報処理部６００は、処理ＳＱ８により得られたリサイズ後のＢスキャンデータをフルレンジＯＣＴのスキャンデータとして出力する。制御部５４０は、出力されたフルレンジＯＣＴのスキャンデータを用いて、図示しない表示手段に表示させることが可能である。

次に、実施形態に係るＯＣＴ装置５００について具体的に説明する。

＜眼科装置＞
以下では、実施形態に係るＯＣＴ装置５００が眼科装置に適用された場合（すなわち、被測定物が眼である場合）について説明するが、実施形態に係るＯＣＴ装置が適用される装置は眼科装置に限定されるものではない。

眼科装置は、実施形態に係るＯＣＴ装置に加えて、眼科撮影装置と、眼科測定装置と、眼科治療装置とのうちのいずれか１つ以上を含んでよい。いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科撮影装置は、例えば、眼底カメラ、走査型レーザー検眼鏡、スリットランプ検眼鏡、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科測定装置は、例えば、眼屈折検査装置、眼圧計、スペキュラーマイクロスコープ、ウェーブフロントアナライザ、視野計、マイクロペリメータ等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科治療装置は、例えば、レーザー治療装置、手術装置、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。

以下の実施形態に係る眼科装置は、ＯＣＴ計測が可能なＯＣＴ装置と眼底カメラとを含むものとする。

以下では、被検眼の眼底に対するＯＣＴ計測が可能な眼科装置を例に説明するが、実施形態に係る眼科装置は、被検眼の前眼部に対してＯＣＴ計測が可能であってよい。いくつかの実施形態では、測定光の焦点位置を変更するレンズを移動することで、ＯＣＴ計測の範囲や計測部位を変更する。いくつかの実施形態では、１以上のアタッチメント（対物レンズ、前置レンズ等）を加えることで、眼底に対するＯＣＴ計測と、前眼部に対するＯＣＴ計測と、眼底及び前眼部を含む全眼球に対するＯＣＴ計測とが可能な構成である。いくつかの実施形態では、眼底計測用の眼科装置において、対物レンズと被検眼との間に前置レンズを配置することで平行光束にされた測定光を被検眼に入射させることで前眼部に対するＯＣＴ計測を行う。

この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。

以下、実施形態では、ＯＣＴを用いた計測又は撮影においてスウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について特に詳しく説明する。しかしながら、他のタイプ（例えば、スペクトラルドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。

以下の実施形態において、ｘ方向は、対物レンズの光軸方向に直交する方向（左右方向、水平方向）であり、ｙ方向は、対物レンズの光軸方向に直交する方向（上下方向、垂直方向）であり、ｚ方向は、対物レンズ（干渉光学系、後述のＯＣＴユニット）の光軸方向である。

［構成］
（光学系の構成）
図１１、及び図１２に示すように、眼科装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含む。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラと略同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、眼底（又は前眼部）のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。

〔眼底カメラユニット２〕
図１１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底画像）を取得するための光学系が設けられている。眼底画像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、例えば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、例えば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、又は近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、例えばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。

眼底カメラユニット２には、被検者の顔を支持するための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、照明光学系１０と撮影光学系３０とが設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ（単にＣＣＤと呼ぶことがある）３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの測定光を眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した測定光をＯＣＴユニット１００に導く。

照明光学系１０の観察光源１１は、例えばハロゲンランプを含む。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆを照明する。なお、観察光源としてＬＥＤ（ＬｉｇｈｔＥｍｉｔｔｉｎｇＤｉｏｄｅ）を用いることも可能である。

観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、ダイクロイックミラー４８を透過し、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、例えば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）が表示される。なお、撮影光学系３０のピントが前眼部に合わせられている場合、被検眼Ｅの前眼部の観察画像が表示される。

撮影光源１５は、例えばキセノンランプを含む。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）が表示される。なお、観察画像を表示する表示装置３と撮影画像を表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。また、被検眼Ｅを赤外光で照明して同様の撮影を行う場合には、赤外の撮影画像が表示される。また、撮影光源としてＬＥＤを用いることも可能である。

ＬＣＤ（ＬｉｑｕｉｄＣｒｙｓｔａｌＤｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用視標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための視標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。

ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー３３Ａにて反射され、ミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、例えば、従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。また、固視標の表示位置を任意に変更することも可能である。

更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための指標（アライメント指標）を生成する。フォーカス光学系６０は、眼底Ｅｆに対してフォーカス（ピント）を合わせるための指標（スプリット指標）を生成する。

アライメント光学系５０のＬＥＤ５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。

アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２、ダイクロイックミラー４８及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ミラー３２により反射され、ハーフミラー３３Ａを透過する。ハーフミラー３３Ａを透過した角膜反射光は、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント指標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい（オートアライメント機能）。

フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット指標板６３により２つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５により反射される。ミラー６５により反射された光は、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット指標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う（オートフォーカス機能）。また、スプリット指標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。

ダイクロイックミラー４８は、眼底撮影用の光路からＯＣＴ計測用の光路を分岐させている。ダイクロイックミラー４８は、ＯＣＴ計測に用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。このＯＣＴ計測用の光路には、ＯＣＴユニット１００側から順に、コリメートレンズユニット４０と、電気光学変調素子（Ｅｌｅｃｔｒｏ－ＯｐｔｉｃＭｏｄｕｌａｔｉｏｎｅｌｅｍｅｎｔ：ＥＯＭ）８０と、リトロリフレクタ４１と、光スキャナ４２と、コリメートレンズ４３と、ミラー４４と、ＯＣＴ合焦レンズ４５と、フィールドレンズ（リレーレンズ）４６とが設けられている。

ＥＯＭ８０は、コリメートレンズユニット４０とリトロリフレクタ４１との間に配置される。ＥＯＭ８０は、後述の演算制御ユニットから２００供給される制御信号（電圧）に応じて、屈折率を変更する。屈折率を変更することで、ＥＯＭ８０を通過する測定光ＬＳの光路長を変更する。ＥＯＭ８０は、通過する測定光ＬＳの光束断面に一様に屈折率を変更するように構成される。

リトロリフレクタ４１は、入射する測定光ＬＳを、測定光ＬＳの入射方向と平行で、且つ入射方向と反対の方向に折り返して反射する。リトロリフレクタ４１は、図１１に示す矢印の方向に移動可能に構成され、ＯＣＴ計測用の光路の光路長を変更する。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。

光スキャナ４２は、眼底撮影時には、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置（瞳孔共役位置）又はその近傍に配置される。なお、前眼部撮影時には、光スキャナ４２は、被検眼の瞳孔と光学的に非共役な位置に配置される。光スキャナ４２は、ＯＣＴ計測用の光路を通過する光（測定光）の進行方向を変更する。光スキャナ４２は、後述の演算制御ユニット２００からの制御を受け、測定光を１次元的又は２次元的に偏向することができる。

光スキャナ４２は、例えば、第１ガルバノミラーと、第２ガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含む。第１ガルバノミラーは、ＯＣＴユニット１００に含まれる干渉光学系の光軸に直交する垂直方向（ｙ方向）に撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。ｙ方向は、干渉光学系の光軸に垂直な平面における垂直方向である。第２ガルバノミラーは、干渉光学系の光軸に直交する水平方向（ｘ方向）に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノミラーにより偏向された測定光ＬＳを偏向する。ｘ方向は、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向である。それにより、撮影部位を測定光ＬＳでｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。

例えば、光スキャナ４２に含まれる第１ガルバノミラーの向きと第２ガルバノミラーの向きを同時に制御することで、ｘｙ面上の任意の軌跡に沿って測定光の照射位置を移動刺させることが可能である。それにより、所望のスキャンパターンに従って撮影部位のスキャンを行うことができる。

ＯＣＴ合焦レンズ４５は、測定光ＬＳの光路（干渉光学系の光軸）に沿って移動可能である。ＯＣＴ合焦レンズ４５は、後述の演算制御ユニット２００からの制御を受け、測定光ＬＳの光路に沿って移動する。

いくつかの実施形態では、ＯＣＴ合焦レンズ４５に代えて液晶レンズ又はアルバレツレンズが設けられる。液晶レンズ又はアルバレツレンズは、ＯＣＴ合焦レンズ４５と同様に、演算制御ユニット２００により制御される。

〔ＯＣＴユニット１００〕
図１２を参照しつつＯＣＴユニット１００の構成の一例を説明する。ＯＣＴユニット１００には、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、波長走査型（波長掃引型）光源からの光を測定光と参照光とに分割し、眼底Ｅｆを経由した測定光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系における干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット２００に送られる。

光源ユニット１０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、出射光の波長を走査（掃引）可能な波長走査型（波長掃引型）光源を含んで構成される。光源ユニット１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏波状態（偏光状態）が調整される。偏波コントローラ１０３は、例えばループ状にされた光ファイバ１０２に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ１０２内を導かれる光Ｌ０の偏波状態を調整する。

偏波コントローラ１０３により偏波状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束となる。平行光束となった参照光ＬＲは、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、コーナーキューブ１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲと測定光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。

コーナーキューブ１１４は、コリメータ１１１により平行光束となった参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブ１１４から出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。また、コーナーキューブ１１４は、参照光ＬＲの入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により参照光ＬＲの光路（参照光路）の長さが変更される。

コーナーキューブ１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ１１７に入射する。光ファイバ１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれて参照光ＬＲの偏波状態が調整される。

偏波コントローラ１１８は、例えば、偏波コントローラ１０３と同様の構成を有する。偏波コントローラ１１８により偏波状態が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ１１９によりアッテネータ１２０に導かれて、演算制御ユニット２００の制御の下で光量が調整される。アッテネータ１２０により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ１２１によりファイバカプラ１２２に導かれる。

ファイバカプラ１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ１２７により導かれ、コリメートレンズユニット４０により平行光束とされる。平行光束にされた測定光ＬＳは、ＥＯＭ８０、リトロリフレクタ４１、光スキャナ４２、コリメートレンズ４３、ミラー４４、ＯＣＴ合焦レンズ４５、及びフィールドレンズ４６を経由してダイクロイックミラー４８に到達する。そして、測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー４８により反射され、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに照射される。測定光ＬＳは、眼底Ｅｆの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。眼底Ｅｆによる測定光ＬＳの後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０５に導かれ、光ファイバ１２８を経由してファイバカプラ１２２に到達する。

ファイバカプラ１２２は、光ファイバ１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバ１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバカプラ１２２から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバ１２３、１２４により検出器１２５に導かれる。

検出器１２５は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（ＢａｌａｎｃｅｄＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ）である。検出器１２５は、その検出結果（干渉信号）をＤＡＱ（ＤａｔａＡｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎＳｙｓｔｅｍ）１３０に送る。ＤＡＱ１３０には、光源ユニット１０１からクロックＫＣが供給される。クロックＫＣは、光源ユニット１０１において、波長掃引型光源により所定の波長範囲内で掃引（走査）される各波長の出力タイミングに同期して生成される。光源ユニット１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、クロックＫＣに基づき、検出器１２５の検出結果をサンプリングする。ＤＡＱ１３０は、サンプリングされた検出器１２５の検出結果を演算制御ユニット２００に送る。

実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、例えばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。実施形態では、干渉光学系は、図１２に示す構成に加えて、図１１に示すコリメートレンズユニット４０、ＥＯＭ８０、リトロリフレクタ４１、光スキャナ４２、コリメートレンズ４３、ミラー４４、ＯＣＴ合焦レンズ４５、フィールドレンズ４６を含んでもよい。

〔演算制御ユニット２００〕
演算制御ユニット２００の構成について説明する。

図１３、図１５、及び図１６に、実施形態に係る眼科装置１の処理系の構成例の機能ブロック図を示す。図１５は、図１３の画像形成部２２０の構成例の機能ブロック図を表す。図１６は、図１３のデータ処理部２３０の構成例の機能ブロック図を表す。図１３、図１５及び図１６のそれぞれにおいて、図１１又は図１２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。図１４に、実施形態に係るＥＯＭ８０に対する制御タイミングの一例を示す。

演算制御ユニット２００は、検出器１２５から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様である。

図１３に示すように、演算制御ユニット２００は、制御部２１０を含み、眼底カメラユニット２、表示装置３の機能を有するユーザインターフェイス２４０、及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。例えば、演算制御ユニット２００は、眼底ＥｆのＯＣＴ画像（断層画像、３次元画像）を形成し、形成されたＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。

眼底カメラユニット２の制御として、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＣＣＤイメージセンサ３５、３８の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１の移動制御、ＯＣＴ合焦レンズ４５の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、リトロリフレクタ４１の移動制御、光スキャナ４２の動作制御、ＥＯＭ８０の駆動制御などがある。

ＯＣＴユニット１００の制御として、光源ユニット１０１の動作制御、コーナーキューブ１１４の移動制御、検出器１２５の動作制御、ＤＡＱ１３０の動作制御、アッテネータ１２０の動作制御、偏波コントローラ１０３、１１８の動作制御などがある。

演算制御ユニット２００は、光学系の制御に加えて、画像の形成処理、各種データ処理を実行する。

演算制御ユニット２００は、例えば、従来のコンピュータと同様に、プロセッサ、ＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、各種の回路基板、例えばＯＣＴ画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。いくつかの実施形態では、演算制御ユニット２００の機能は、１以上のプロセッサにより実現される。

眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、２つ以上の筐体に別れて構成されていてもよい。

制御部２１０は、主制御部２１１と、記憶部２１２とを含む。

（主制御部２１１）
主制御部２１１は、前述の眼科装置１の各部に制御信号を出力することにより各種制御を行う。特に、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２に対して、ＣＣＤイメージセンサ３５、３８、ＬＣＤ３９、合焦駆動部３１Ａ、リトロリフレクタ駆動部４１Ａ、光スキャナ４２、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ、及びＥＯＭ駆動部８０Ａを制御する。更に、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００に対して、光源ユニット１０１、参照駆動部１１４Ａ、偏波コントローラ１０３、１１８、アッテネータ１２０、検出器１２５、ＤＡＱ１３０を制御する。

主制御部２１１は、ＣＣＤイメージセンサ３５又はＣＣＤイメージセンサ３８の露光時間（電荷蓄積時間）、感度、フレームレート等を制御する。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、所望の画質の画像を取得するようにＣＣＤイメージセンサ３５又はＣＣＤイメージセンサ３８を制御する。

主制御部２１１は、ＬＣＤ３９に対して固視標や視力測定用視標の表示制御を行う。それにより、被検眼Ｅに呈示される視標が切り替えられたり、視標の種別が変更されたりする。また、ＬＣＤ３９における視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅに対する視標呈示位置を変更することが可能である。

合焦駆動部３１Ａは、合焦レンズ３１を光軸方向に移動する。主制御部２１１は、合焦レンズ３１が所望の合焦位置に配置されるように合焦駆動部３１Ａを制御する。それにより、撮影光学系３０の合焦位置が変更される。

例えば、主制御部２１１は、ＣＣＤイメージセンサ３５により得られた受光像（スプリット指標）におけるスプリット指標の位置を解析して、合焦駆動部３１Ａ及びフォーカス光学系６０を制御する。或いは、例えば、主制御部２１１は、被検眼Ｅのライブ画像を後述の表示部２４０Ａに表示させながら、後述の操作部２４０Ｂに対してユーザが行った操作に応じて合焦駆動部３１Ａ及びフォーカス光学系６０を制御する。

リトロリフレクタ駆動部４１Ａは、リトロリフレクタ４１を測定光ＬＳの入射方向又は入射方向と反対方向に移動する。主制御部２１１は、リトロリフレクタ駆動部４１Ａを制御することによりリトロリフレクタ４１を測定光ＬＳの入射方向又は入射方向と反対方向に移動して測定光ＬＳの光路長を変更する。それにより、測定光ＬＳの光路長と参照光ＬＲの光路長との差が変更される。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果（又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像）を解析し、計測部位が所望の深さ位置になるようにリトロリフレクタ駆動部４１Ａを制御する。

主制御部２１１は、光スキャナ４２を制御する。光スキャナ４２は、主制御部２１１からの制御を受け、測定光ＬＳを１次元的又は２次元的に偏向する。主制御部２１１は、事前に設定されたスキャンモードに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御する。このようなスキャンモードの例として、ラインスキャン、十字スキャン、サークルスキャン、ラジアルスキャン、同心円スキャン、マルチラインクロススキャン、らせん状スキャン、リサジュー（Ｌｉｓｓａｊｏｕｓ）スキャン、３次元スキャンなどが挙げられる。

上記のようなスキャンモードに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳで撮影部位をスキャンすることにより、スキャンライン（スキャン軌跡）に沿う方向と眼底深度方向（ｚ方向）とにより張られる面におけるＯＣＴ画像を取得することができる。

ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａは、測定光ＬＳの光路に沿ってＯＣＴ合焦レンズ４５を移動する。主制御部２１１は、ＯＣＴ合焦レンズ４５が所望の合焦位置に配置されるようにＯＣＴ合焦駆動部４５Ａを制御する。それにより、測定光ＬＳの合焦位置が変更される。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいてＯＣＴ合焦駆動部４５Ａを制御する。

ＯＣＴ合焦レンズ４５に代えて液晶レンズ又はアルバレツレンズが設けられる場合、主制御部２１１は、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御と同様に、液晶レンズ又はアルバレツレンズを制御することが可能である。

ＥＯＭ駆動部８０Ａは、ＥＯＭ８０を駆動する。主制御部２１１は、ＥＯＭ駆動部８０Ａを制御することによりＥＯＭ８０の屈折率を変更することで測定光ＬＳの光路長を変更する。

主制御部２１１は、図１４に示す制御タイミングに従ってＥＯＭ駆動部８０Ａに対して制御信号を出力することにより、Ａスキャン毎に参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更して位相変調を行う。具体的には、主制御部２１１は、光スキャナ４２の偏向制御に対応したＡスキャンの開始タイミングに同期して、Ａスキャン時間Ｔの間隔で位相シフト量Ｐｓが順次に付与されるように測定光ＬＳの光路長を変更する。非特許文献３に記載されているように、Ａスキャン毎にπ／２だけ位相がシフトするとき、ゴーストイメージを最も効果的に分離（除去）することができる。本実施形態では、Ａスキャン中に測定光ＬＳがＥＯＭ８０を２回通過するため、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量Ｐｓがπ／４だけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力する。しかしながら、Ａスキャン毎の位相シフト量はπ／２でなくてもよい。この場合、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量ＰｓがＶだけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力することで、Ａスキャン毎に２×Ｖだけ位相をシフトすることができる。

具体的には、主制御部２１１は、ＯＣＴスキャンを開始する際に計測部位が所望の深さ位置になるようにリトロリフレクタ駆動部４１Ａを制御する。そして、リトロリフレクタ駆動部４１Ａによりリトロリフレクタ４１が所定の位置に配置された状態で実行されるＢスキャン中に、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に測定光ＬＳの光路長を変更するようにＥＯＭ駆動部８０Ａを制御する。これにより、Ａスキャン毎に参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更することで位相変調が行われたスキャンデータが取得される。なお、Ｂスキャンは、ラインスキャンだけではなく、十字スキャン、サークルスキャン、ラジアルスキャン、同心円スキャン、マルチラインクロススキャン、らせん状スキャン、又はリサジュースキャンなどのＡスキャン方向と交差する方向にスキャンを実行するものであってもよい。

主制御部２１１は、光源ユニット１０１を制御する。光源ユニット１０１の制御には、光源の点灯と消灯の切り替え、出射光の強度制御、出射光の中心周波数の変更、出射光の掃引速度の変更、掃引周波数の変更、掃引波長範囲の変更などが含まれる。

参照駆動部１１４Ａは、参照光の光路に設けられたコーナーキューブ１１４を、この光路に沿って移動する。それにより、測定光ＬＳの光路長と参照光ＬＲの光路長との差が変更される。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果（又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像）を解析し、計測部位が所望の深さ位置になるように参照駆動部１１４Ａを制御する。いくつかの実施形態では、リトロリフレクタ４１と参照駆動部１１４Ａのいずれか一方だけが設けられる。

主制御部２１１は、偏波コントローラ１０３、１１８を制御する。例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいて偏波コントローラ１０３、１１８を制御する。

主制御部２１１は、アッテネータ１２０を制御する。例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいてアッテネータ１２０を制御する。

主制御部２１１は、検出器１２５を制御する。検出器１２５の制御には、露光時間（電荷蓄積時間）、感度、フレームレート等の制御がある。

主制御部２１１は、ＤＡＱ１３０を制御する。ＤＡＱ１３０の制御には、サンプリングタイミング等の制御がある。

移動機構１５０は、被検眼Ｅに対して眼底カメラユニット２（ＯＣＴユニット１００）を３次元的に相対的に移動する。例えば、主制御部２１１は、移動機構１５０を制御して、眼底カメラユニット２に設けられた光学系を３次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Ｅを動画撮影して得られる画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。

マニュアルアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるようにユーザが後述のユーザインターフェイス２４０に対して操作することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。例えば、主制御部２１１は、ユーザインターフェイス２４０に対する操作内容に対応した制御信号を移動機構１５０に出力することにより移動機構１５０を制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。

オートアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるように主制御部２１１が移動機構１５０を制御することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、光学系の光軸が被検眼Ｅの軸に略一致し、かつ、被検眼Ｅに対する光学系の距離が所定の作動距離になるように制御信号を移動機構１５０に出力することにより移動機構１５０を制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。ここで、作動距離とは、対物レンズ２２のワーキングディスタンスとも呼ばれる既定値であり、光学系を用いた測定時（撮影時）における被検眼Ｅと光学系との間の距離に相当する。

主制御部２１１は、眼底カメラユニット２等を制御することにより眼底撮影及び前眼部撮影を制御する。また、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２及びＯＣＴユニット１００等を制御することによりＯＣＴ計測を制御する。主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行う前に複数の予備的な動作を実行可能である。予備的な動作としては、アライメント、フォーカス粗調整、偏光調整、フォーカス微調整などがある。複数の予備的な動作は、所定の順序で実行される。いくつかの実施形態では、複数の予備的な動作は、上記の順序で実行される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、トラッキング制御により得られたトラッキング情報（被検眼Ｅの移動に対して光学系（干渉光学系）を追従することにより得られたトラッキング情報）に基づいて、ＯＣＴ撮影のためのスキャン範囲（第２スキャン範囲）の位置をリアルタイムに補正する。主制御部２１１は、補正されたスキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御することが可能である。

また、主制御部２１１は、各種情報を表示装置３（又は後述の表示部２４０Ａ）に表示させる。表示装置３に表示される情報には、撮影結果（観察画像、ＯＣＴ画像）、測定結果（測定値）、後述する撮影条件の変更結果を表す情報などがある。

主制御部２１１は、上記のような表示装置３に対する表示制御に加えて、後述の画像形成部２２０により形成された画像の表示制御、後述のデータ処理部２３０により得られたデータ処理結果の表示制御などを行うことが可能である。

例えば、本撮影（本計測）の前に、仮撮影（仮計測）が実行される。仮撮影において取得された干渉光ＬＣの検出結果又は当該検出結果から形成されたＯＣＴ画像に基づいて、本撮影のための撮影条件が調整される。

また、主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。

（記憶部２１２）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底画像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。

記憶部２１２に記憶された上記のデータの少なくとも一部は、眼科装置１の外部に設けられた記憶部に記憶されていてもよい。例えば、眼科装置１は、院内ＬＡＮ（ＬｏｃａｌＡｒｅａＮｅｔｗｏｒｋ）等のネットワークを介して、上記のデータの少なくとも一部を記憶する機能を有するサーバ装置と通信可能に接続される。ここで、眼科装置１とサーバ装置は、インターネット等のＷＡＮ（ＷｉｄｅＡｒｅａＮｅｔｗｏｒｋ）を介して接続されていてもよい。また、ＬＡＮとＷＡＮとを組み合わせたネットワークを介して眼科装置１とサーバ装置を接続してもよい。

（画像形成部２２０）
画像形成部２２０は、検出器１２５により検出されＤＡＱ１３０によりサンプリングされた検出信号（干渉信号）に基づいて、断層画像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部２２０は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼ＥのＯＣＴ画像を形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルター処理、ＦＦＴ（ＦａｓｔＦｏｕｒｉｅｒＴｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。

図１５に示すように、画像形成部２２０は、リスケーリング処理部２２１と、第１フーリエ変換処理部２２２と、窓関数処理部２２３と、逆フーリエ変換処理部２２４と、第２フーリエ変換処理部２２５とを含む。

（リスケーリング処理部２２１）
リスケーリング処理部２２１は、ＯＣＴユニット１００を用いて取得された波長空間におけるＢスキャンデータを波数空間におけるＢスキャンデータに変換するリスケーリング処理を行う。リスケーリング処理は、干渉光ＬＣの検出結果をクロックＫＣにより時間軸上において等間隔でサンプリングすることにより得られたスキャンデータを、時間軸上において波数が線形的に（直線的に）変化するように並び替える処理である。リスケーリング処理部２２１は、図２における処理ＳＱ２に相当する処理を実行することができる。

（第１フーリエ変換処理部２２２）
第１フーリエ変換処理部２２２は、リスケーリング処理部２２１により実行されたリスケーリング処理後のＢスキャンデータに対して、式（２）に示すようにｘ方向にフーリエ変換処理を行う。第１フーリエ変換処理部２２２は、図２における処理ＳＱ３に相当する処理を実行することができる。

（窓関数処理部２２３）
窓関数処理部２２３は、第１フーリエ変換処理部２２２により実行されたフーリエ変換処理後のＢスキャンデータに対して、上記のようにｕ方向に窓関数処理を行って、＋ｕ方向の信号成分を抽出する。窓関数処理部２２３は、図２における処理ＳＱ４に相当する処理を実行することができる。

（逆フーリエ変換処理部２２４）
逆フーリエ変換処理部２２４は、窓関数処理部２２３により実行された窓関数処理後のＢスキャンデータに対して、式（７）に示すようにｕ方向に逆フーリエ変換処理を行う。逆フーリエ変換処理部２２４は、図２における処理ＳＱ５に相当する処理を実行することができる。

（第２フーリエ変換処理部２２５）
第２フーリエ変換処理部２２５は、逆フーリエ変換処理部２２４により実行された逆フーリエ変換処理後のＢスキャンデータに対して、ｋ方向にフーリエ変換処理を行う。第２フーリエ変換処理部２２５は、図２における処理ＳＱ６に相当する処理を実行することができる。

画像形成部２２０の機能は、１以上のプロセッサにより実行される。いくつかの実施形態では、画像形成部２２０の機能は、単一のプロセッサにより実行される。

画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセット（スキャンデータ）を重ね合わせる（加算平均する）ことができる。

画像形成部２２０は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。また、眼底Ｅｆの部位とその画像とを同一視することもある。

（データ処理部２３０）
データ処理部２３０は、干渉光ＬＣの検出結果、又は画像形成部２２０により形成された画像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。例えば、データ処理部２３０は、干渉信号の信号対雑音比の解析、画像の輝度補正、光路長補正、光学倍率補正、分散補正等の各種補正処理を実行する。

また、データ処理部２３０は、眼底カメラユニット２により得られた画像（眼底画像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。

データ処理部２３０は、断層画像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（ＭａｘｉｍｕｍＩｎｔｅｎｓｉｔｙＰｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０Ａ等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層画像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層画像を、走査線の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層画像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

データ処理部２３０は、取得された３次元データセット（ボリュームデータ、スタックデータ等）に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるＢモード画像（縦断面像、軸方向断面像）、任意断面におけるＣモード画像（横断面像、水平断面像）、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｂモード画像やＣモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（例えば、特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像（ｅｎ－ｆａｃｅ画像）と呼ぶ。

データ処理部２３０は、ＯＣＴにより時系列に収集されたデータ（例えば、Ｂスキャン画像データ）に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたＢモード画像や正面画像（血管強調画像、アンギオグラム）を構築することができる。例えば、被検眼Ｅの略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のＯＣＴデータを収集することができる。

いくつかの実施形態では、データ処理部２３０は、略同一部位に対するＢスキャンにより得られた時系列のＢスキャン画像を比較し、信号強度の変化部分の画素値を変化分に対応した画素値に変換することにより当該変化部分が強調された強調画像を構築する。更に、データ処理部２３０は、構築された複数の強調画像から所望の部位における所定の厚さ分の情報を抽出してｅｎ－ｆａｃｅ画像として構築することでＯＣＴＡ像を形成する。

データ処理部２３０により生成された画像（例えば、３次元画像、Ｂモード画像、Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラム、ＯＣＴＡ像）もまたＯＣＴ画像に含まれる。

図１６に示すように、データ処理部２３０は、冗長度特定部２３１と、リサイズ処理部２３２、解析部２３３とを含む。冗長度特定部２３１は、フィッティング処理部２３１Ａを含む。

（冗長度特定部２３１）
冗長度特定部２３１は、ＯＣＴユニット１００を用いて取得されたＢスキャンデータに基づいてｘ方向の冗長度を特定する。冗長度特定部２３１は、ｘ方向のスキャン密度に基づいて冗長度を特定することが可能である。

具体的には、冗長度特定部２３１は、第１フーリエ変換処理部２２２（画像形成部２２０）により得られたフーリエ変換処理後のＢスキャンデータから測定光ＬＳと参照光ＬＲとの相互相関の空間スペクトル（Ｂ（ｕ，ｋ））を求め、求められた空間スペクトルから冗長度を特定する。

冗長度特定部２３１は、図２における処理ＳＱ７に相当する処理を実行することができる。この場合、冗長度特定部２３１は、求められた空間スペクトルに対してフィッティング処理を行い、特定されたフィッティング関数を用いてスキャン密度に対応した冗長度を特定する。

（フィッティング処理部２３１Ａ）
フィッティング処理部２３１Ａは、上記のように、求められた空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）に対して、フィッティング関数として式（１２）に示すガウス関数ｇ（ｕ）で公知のフィッティング処理を行う。これにより、ガウス関数ｇ（ｕ）のパラメータが決定される。

冗長度特定部２３１は、フィッティング処理部２３１Ａにより実行されたフィッティング処理により得られたフィッティング関数としてのガウス関数ｇ（ｕ）に基づいて、スキャン密度（Δｘ／ｄ）を求める。冗長度特定部２３１は、あらかじめ決められた基準スキャン密度ｒを用いて、式（１５）に示すように、（ｒ×ｄ／Δｘ）を冗長度Ｒとして算出する。この実施形態では、基準スキャン密度ｒ＝０．３である。

いくつかの実施形態では、冗長度特定部２３１は、フィッティング処理部２３１Ａにより実行されたフィッティング処理により得られたフィッティング関数としてのガウス関数ｇ（ｕ）における所定の振幅におけるｕ方向の幅を求める。冗長度特定部２３１は、特定されたｕ方向の幅に対応した冗長度を特定する。例えば、冗長度特定部２３１は、ガウス関数ｇ（ｕ）における所定の振幅におけるｕ方向の複数の幅に対して複数の冗長度があらかじめ関連付けられた対応情報を記憶し、当該対応情報を参照することにより、特定されたｕ方向の幅に対応した冗長度を特定する。

いくつかの実施形態では、冗長度特定部２３１は、空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）における所定の振幅におけるｕ方向の幅を求める。冗長度特定部２３１は、特定されたｕ方向の幅に対応した冗長度を特定する。例えば、冗長度特定部２３１は、空間スペクトルＢ（ｕ，ｋ）における所定の振幅におけるｕ方向の複数の幅に対して複数の冗長度があらかじめ関連付けられた対応情報を記憶し、当該対応情報を参照することにより、特定されたｕ方向の幅に対応した冗長度を特定する。

なお、上記の実施形態に係るフィッティング関数は、ガウス関数以外の任意の関数であってよい。

（リサイズ処理部２３２）
リサイズ処理部２３２は、冗長度特定部２３１により特定された冗長度に基づいて、画像形成部２２０により得られたＢスキャンデータのデータサイズをｘ方向にリサイズする。具体的には、リサイズ処理部２３２は、冗長度特定部２３１により特定された冗長度Ｒに基づいて、第２フーリエ変換処理部２２５により得られたフーリエ変換処理後のＢスキャンデータのデータサイズをｘ方向に（１／Ｒ）倍にリサイズする。

リサイズ処理部２３２は、特定された冗長度と所定の閾値との比較結果に応じてリサイズ処理を実行するか否かを判定し、リサイズ処理を実行すると判定されたときに上記のリサイズ処理を実行するようにしてもよい。例えば、特定された冗長度が１より大きいとき、リサイズ処理部２３２は、上記のリサイズ処理を実行する。

リサイズ処理部２３２は、冗長度特定部２３１により特定された冗長度に対応した数だけｘ方向に隣接するスキャン位置におけるＡスキャンデータをｘ方向に平均化することにより、Ｂスキャンデータをｘ方向にリサイズすることができる。

例えば、冗長度が「３」であるものとする。この場合、リサイズ処理部２３２は、ｘ方向に順番に隣接するスキャン位置Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６のうち３つのスキャン位置Ｐ１～Ｐ３におけるＡスキャンデータをｘ方向に平均化し、３つのスキャン位置Ｐ４～Ｐ６におけるＡスキャンデータをｘ方向に平均化する。冗長度が小数部を有する場合、小数部に応じた比率で平均化したり、小数部に応じた割合でＡスキャンデータを間引いたりすることができる。この場合、小数部に応じてスキャン位置Ｐ１～Ｐ３におけるＡスキャンデータの少なくとも１つを重み付けし、重み付けされたＡスキャンデータを含む３つのスキャンデータが平均化される。

いくつかの実施形態では、リサイズ処理部２３２は、冗長度特定部２３１により特定された冗長度に対応した数だけｘ方向に隣接するスキャン位置におけるＡスキャンデータをｘ方向に移動平均で平均化することにより、Ｂスキャンデータをｘ方向にリサイズすることができる。

例えば、冗長度が「３」であるものとする。この場合、リサイズ処理部２３２は、ｘ方向に順番に隣接するスキャン位置Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６のうち３つのスキャン位置Ｐ１～Ｐ３におけるＡスキャンデータをｘ方向に平均化し、３つのスキャン位置Ｐ２～Ｐ４におけるＡスキャンデータをｘ方向に平均化し、３つのスキャン位置Ｐ３～Ｐ５におけるＡスキャンデータをｘ方向に平均化し、３つのスキャン位置Ｐ４～Ｐ６におけるＡスキャンデータをｘ方向に平均化する。

また、リサイズ処理部２３２は、冗長度特定部２３１により特定された冗長度に応じてＡスキャンデータを間引くことにより、Ｂスキャンデータをｘ方向にリサイズしてもよい。

例えば、冗長度が「３」であるものとする。この場合、リサイズ処理部２３２は、ｘ方向に順番に隣接するスキャン位置Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６のうち、例えば、３つのスキャン位置Ｐ２、Ｐ３、Ｐ５、Ｐ６を間引いて、２つのスキャン位置Ｐ１、Ｐ４におけるＡスキャンデータが配列されたＢスキャンデータを生成する。冗長度が小数部を有する場合、小数部に応じた比率で平均化したり、小数部に応じた割合でＡスキャンデータを間引いたりすることができる。

例えば、リサイズ処理部２３２は、冗長度特定部２３１により特定された冗長度に対応した数のＡスキャンデータの１つを代表スキャンデータとして選択し、選択された代表スキャンデータを抽出することによりリサイズしてもよい。いくつかの実施形態では、代表スキャンデータは、Ａスキャン位置、所定の深さ範囲におけるデータ、又は他のＡスキャン位置におけるＡスキャンデータとの比較結果に基づいて選択される。

（解析部２３３）
解析部２３３は、少なくとも、干渉光ＬＣの検出結果、画像形成部２２０により形成されたＯＣＴ画像、リサイズ処理部２３２により実行されたリサイズ処理後のＯＣＴ画像（Ｂスキャンデータ、Ｂスキャン画像）を解析する。いくつかの実施形態では、解析部２３３は、干渉光ＬＣの検出結果又はＯＣＴ画像を解析することによりＯＣＴ画像の画質（信号対雑音比）に対応した評価値（評価値の統計値を含む）を解析結果として出力する。主制御部２１１は、解析部２３３により得られた解析結果に基づいてＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ、リトロリフレクタ４１、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも１つを制御することが可能である。

例えば、解析部２３３は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果を解析して、フォーカス微調整制御における測定光ＬＳのフォーカス状態を判定する。例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａを所定のアルゴリズムにしたがって制御しつつ、反復的なＯＣＴ計測を行う。解析部２３３は、ＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出する。解析部２３３は、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。いくつかの実施形態では、フォーカス微調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断され、フォーカス微調整は、測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、上記のような反復的なＯＣＴ計測を行って干渉信号を取得しつつ、逐次に取得される干渉信号の強度（干渉強度、干渉感度）をモニタする。更に、このモニタ処理を行いながら、ＯＣＴ合焦レンズ４５を移動させることにより、干渉強度が最大となるようなＯＣＴ合焦レンズ４５の位置を探索する。このようなフォーカス微調整によれば、干渉強度が最適化されるような位置にＯＣＴ合焦レンズ４５を導くことができる。

また、解析部２３３は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果を解析して、測定光ＬＳ及び参照光ＬＲの少なくとも一方の偏波状態を判定する。例えば、主制御部２１１は、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも一方を所定のアルゴリズムにしたがって制御しつつ、反復的なＯＣＴ計測を行う。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、アッテネータ１２０を制御して、参照光ＬＲの減衰量を変更する。解析部２３３は、ＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出する。解析部２３３は、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。この閾値はあらかじめ設定される。偏波調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断され、偏波調整は、測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、偏波調整においても干渉強度をモニタすることが可能である。

更に、解析部２３３は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像に対して所定の解析処理を行う。所定の解析処理には、被検眼Ｅにおける所定の部位（組織、病変部）の特定；指定された部位間の距離（層間距離）、面積、角度、比率、密度の算出；指定された計算式による演算；所定の部位の形状の特定；これらの統計値の算出；計測値、統計値の分布の算出；これら解析処理結果に基づく画像処理などがある。所定の組織には、血管、視神経乳頭、中心窩、黄斑などがある。所定の病変部には、白斑、出血などがある。

いくつかの実施形態では、解析部２３３は、セグメンテーション処理部として、取得された被検眼のデータに基づいてＡスキャン方向の複数の層領域を特定する。この場合、解析部２３３は、３次元のＯＣＴデータに対してセグメンテーション処理を施すことにより、被検眼の複数の組織に相当する複数の部分データセットを特定する。セグメンテーション処理は、特定の組織や組織境界を特定するための画像処理である。例えば、解析部２３３は、スキャンデータに含まれる各Ａスキャン画像における画素値（輝度値）の勾配を求め、勾配が大きい位置を組織境界として特定する。なお、Ａスキャン画像は、眼底の深さ方向にのびる１次元画像データである。なお、眼底の深さ方向は、例えば、ｚ方向、測定光ＬＳの入射方向、軸方向、干渉光学系の光軸方向などとして定義される。

典型的な例において、解析部２３３は、眼底（網膜、脈絡膜等）及び硝子体を表す３次元のＯＣＴデータを解析することにより、眼底の複数の層組織に相当する複数の部分データセットを特定する。各部分データセットは、層組織の境界によって画成される。部分データセットとして特定される層組織の例として、網膜を構成する層組織がある。網膜を構成する層組織には、内境界膜、神経繊維層、神経節細胞層、内網状層、内顆粒層、外網状層、外顆粒層、外境界膜、視細胞層、ＲＰＥがある。解析部２３３は、ブルッフ膜、脈絡膜、強膜、硝子体等に相当する部分データセットを特定することができる。いくつかの実施形態では、解析部２３３は、病変部に相当する部分データセットを特定する。病変部の例として、剥離部、浮腫、出血、腫瘍、ドルーゼンなどがある。

いくつかの実施形態では、解析部２３３は、ＲＰＥに対して強膜側の所定のピクセル数分の層組織をブルッフ膜として特定し、当該層組織に相当する部分データセットをブルッフ膜の部分データセットとして取得する。

データ処理部２３０は、撮影光学系３０を用いて取得された眼底画像とＯＣＴ画像との位置合わせを行うことができる。眼底画像とＯＣＴ画像とが並行して取得される場合には、双方の光学系が同軸であることから、同時（略同時）に取得された眼底画像とＯＣＴ画像とを、撮影光学系３０の光軸を基準として位置合わせすることができる。また、眼底画像とＯＣＴ画像との取得タイミングに関わらず、ＯＣＴ画像をｘｙ平面に投影して得られる画像と眼底画像との位置合わせをすることにより、そのＯＣＴ画像とその眼底画像とを位置合わせすることも可能である。この位置合わせ手法は、眼底画像取得用の光学系とＯＣＴ計測用の光学系とが同軸でない場合においても適用可能である。また、双方の光学系が同軸でない場合であっても、双方の光学系の相対的な位置関係が既知であれば、この相対位置関係を参照して同軸の場合と同様の位置合わせを実行することが可能である。

以上のように機能するデータ処理部２３０は、例えば、１以上のプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。

（ユーザインターフェイス２４０）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂとが含まれる。表示部２４０Ａは、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３を含んで構成される。操作部２４０Ｂは、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４０Ｂには、眼科装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。例えば眼底カメラユニット２が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部２４０Ｂは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部２４０Ａは、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４０Ｂは、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４０Ｂに対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４０Ａに表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４０Ｂとを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

情報処理部６００、又は演算制御ユニット２００（制御部２１０、画像形成部２２０、データ処理部２３０）は、実施形態に係る「情報処理装置」の一例である。ＯＣＴ装置５００、又はＯＣＴユニット１００及び光スキャナ４２は、実施形態に係る「ＯＣＴ装置」の一例である。ｘ方向（ｔ方向）又はＢスキャン方向は、実施形態に係る「ラテラル方向」の一例である。冗長度特定部２３１は、実施形態に係る「特定部」の一例である。制御部２１０、主制御部２１１は、実施形態に係る「表示制御部」の一例である。干渉光学系５１０、又はＯＣＴユニット１００から対物レンズ２２までの測定光ＬＳが通過する光学系は、実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。スキャンデータ生成部５３０又は画像形成部２２０は、実施形態に係る「スキャンデータ生成部」の一例である。被測定物７００又は被検眼Ｅは、実施形態に係る「被測定物」の一例である。表示装置３又は表示部２４０Ａは、実施形態に係る「表示手段」の一例である。

［動作例］
実施形態に係る眼科装置１の動作例について説明する。

図１７、図１８、及び図１９に、実施形態に係る眼科装置１の動作例のフロー図を示す。図１７は、実施形態に係る眼科装置１の動作例のフローチャートを表す。図１８は、図１７のステップＳ７の動作例のフローチャートを表す。図１９は、図１７のステップＳ８の動作例のフローチャートを表す。記憶部２１２には、図１７、図１８、及び図１９に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２１１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図１７、図１８、及び図１９に示す処理を実行する。

（Ｓ１：アライメント）
まず、所定の固視位置に固視標を提示した状態で、主制御部２１１は、被検眼Ｅに対する光学系のアライメント調整を行う。アライメント調整の例として、手動で行う場合と自動で行う場合とがある。

アライメント調整を手動で行う場合、主制御部２１１は、アライメント光学系５０により一対のアライメント指標を被検眼Ｅに投影する。表示部２４０Ａには、これらアライメント指標の受光像として一対のアライメント輝点が表示される。また、主制御部２１１は、一対のアライメント輝点の移動目標となる位置を表すアライメントスケールを表示部２４０Ａに表示させる。アライメントスケールは、例えば括弧型の画像である。

被検眼Ｅと眼底カメラユニット２（対物レンズ２２）との位置関係が適正である場合、公知の手法により、一対のアライメント輝点は、所定位置（例えば、角膜頂点と角膜曲率中心との中間位置）においてそれぞれ一旦結像して被検眼Ｅに投影されるようになっている。ここで、上記の位置関係が適正であるとは、被検眼Ｅと眼底カメラユニット２との間の距離（ワーキングディスタンス）が適正であり、且つ、眼底カメラユニット２の光学系の光軸と被検眼Ｅの眼軸（角膜頂点位置）とが一致（略一致）していることを意味する。検者（ユーザ）は、一対のアライメント輝点をアライメントスケール内に導くように眼底カメラユニット２を３次元的に移動させることにより、被検眼Ｅに対する光学系のアライメント調整を行うことが可能である。

アライメント調整を自動で行う場合、眼底カメラユニット２を移動させるための移動機構１５０が用いられる。データ処理部２３０は、表示部２４０Ａに表示される画面中の各アライメント輝点の位置を特定し、特定された各アライメント輝点の位置とアライメントスケールとの変位を求める。主制御部２１１は、この変位をキャンセルするように移動機構１５０により眼底カメラユニット２を移動させる。各アライメント輝点の位置の特定は、例えば、各アライメント輝点の輝度分布を求め、この輝度分布に基づいて重心位置を求めることにより実行できる。アライメントスケールの位置は一定であるので、例えばその中心位置と上記重心位置との変位を求めることにより、目的の変位を求めることが可能である。眼底カメラユニット２の移動方向及び移動距離は、あらかじめ設定されたｘ方向、ｙ方向及びｚ方向の各方向における単位移動距離を参照して決定することが可能である。単位移動距離は、例えば、眼底カメラユニット２をどの方向にどれだけ移動させると、アライメント指標がどの方向にどれだけ移動するかを事前に計測した結果から特定される。主制御部２１１は、決定された移動方向及び移動距離に応じた信号を生成し、この信号を移動機構１５０に送信する。それにより、被検眼Ｅに対する光学系の位置が自動で調整される。

（Ｓ２：スキャン条件を設定）
続いて、主制御部２１１は、スキャン条件を設定する。ここで、スキャン条件は、スキャンモード、スキャン位置、スキャン範囲（スキャン開始位置、及びスキャン終了位置）を含む。

例えば、主制御部２１１は、操作部２４０Ｂを用いてユーザにより指定されたスキャンモードを設定する。主制御部２１１は、操作部２４０Ｂを用いてユーザにより指定された、撮影部位に対応した撮影モードに基づいて、スキャンモードを設定してもよい。

また、例えば、主制御部２１１は、操作部２４０Ｂを用いてユーザにより眼底Ｅｆの眼底画像上で指定されたスキャン位置及びスキャン範囲を設定する。眼底画像の例として、撮影光学系３０を用いて取得された撮影画像、ＯＣＴ計測により得られたライブＯＣＴ画像（プロジェクション画像、ｅｎ－ｆａｃｅ画像）などがある。主制御部２１１は、操作部２４０Ｂを用いてユーザにより指定された、撮影部位に対応した撮影モードに基づいて、撮影モードにあらかじめ関連付けられた撮影部位にスキャン範囲を設定してもよい。

（Ｓ３：深さ位置を調整）
次に、主制御部２１１は、被検眼Ｅにおける注目部位に相当する画像領域が断層画像における所定の深さ範囲に入るように、注目部位に相当する画像領域が描出される深さ位置の調整を行う。

例えば、主制御部２１１は、ＬＣＤ３９の所定位置にＯＣＴ計測用の固視標を表示させる。主制御部２１１は、眼底Ｅｆにおける光学系の光軸の位置に対応するＬＣＤ３９の表示位置に固視標を表示させることが可能である。

続いて、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ仮計測を実行させ、深さ方向の計測範囲の基準位置を調整するための調整用断層画像を取得させる。具体的には、主制御部２１１は、光スキャナ４２を制御することにより、光源ユニット１０１から出射された光Ｌ０に基づいて生成された測定光ＬＳを偏向し、偏向された測定光ＬＳで被検眼Ｅの眼底Ｅｆをスキャンさせる。測定光ＬＳのスキャンにより得られた干渉光の検出結果は、クロックＫＣに同期してサンプリングされた後、画像形成部２２０に送られる。画像形成部２２０は、得られた干渉信号から被検眼Ｅの断層画像（ＯＣＴ画像）を形成する。

続いて、例えば、主制御部２１１は、得られた断層画像における所定の部位（例えば、強膜）を解析部２３３に特定させ、特定された所定の部位の位置に対して深さ方向に所定の距離だけ離れた位置を計測範囲の基準位置として設定する。主制御部２１１は、基準位置に対応して、リトロリフレクタ４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御する。また、測定光ＬＳと参照光ＬＲの光路長が略一致するようにあらかじめ決められた所定の位置が計測範囲の基準位置として設定されてもよい。

（Ｓ４：フォーカス調整）
次に、主制御部２１１は、フォーカス調整制御を実行する。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａを制御してＯＣＴ合焦レンズ４５を所定の距離だけ移動させた後、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ計測を実行させる。主制御部２１１は、上記のように、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態をデータ処理部２３０に判定させる。データ処理部２３０による判定結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部２１１は、再びＯＣＴ合焦駆動部４５Ａの制御を行い、フォーカス状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

（Ｓ５：偏波調整）
次に、主制御部２１１は、偏波調整を実行する。

例えば、主制御部２１１は、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも一方を制御して光Ｌ０及び測定光ＬＳの少なくとも一方の偏波状態を所定の量だけ変更した後、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ計測を実行させ、取得された干渉光の検出結果に基づくＯＣＴ画像を画像形成部２２０に形成させる。主制御部２１１は、上記のように、ＯＣＴ計測により得られたＯＣＴ画像の画質をデータ処理部２３０に判定させる。データ処理部２３０による判定結果に基づいて測定光ＬＳの偏波状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部２１１は、再び偏波コントローラ１０３、１１８の制御を行い、偏波状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

（Ｓ６：ＯＣＴスキャン）
続いて、主制御部２１１は、光スキャナ４２及びＯＣＴユニット１００等を制御することにより、ステップＳ１～ステップＳ５において調整された計測環境の下でＯＣＴスキャンを実行させる。

このとき、主制御部２１１は、上記のように、ステップＳ２において設定されたスキャンモードに対応した光スキャナ４２に対する偏向制御に同期して、参照光の光路長と測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更する（位相変調する）ようにＥＯＭ駆動部８０Ａを制御することでＢＭスキャンを実行する。これにより、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調（位相変調）されたＢスキャンデータが取得される。

（Ｓ７：ＯＣＴ画像を形成）
次に、主制御部２１１は、図１５に示す画像形成部２２０の各部を制御して、上記のようにＯＣＴ画像（Ｂスキャンデータ）を生成させる。

（Ｓ８：リサイズ処理）
次に、主制御部２１１は、図１６に示すデータ処理部２３０の冗長度特定部２３１を制御して、ＯＣＴスキャンにより得られたＢスキャンデータに基づいてｘ方向の冗長度を特定させる。更に、主制御部２１１は、図１６に示すデータ処理部２３０のリサイズ処理部２３２を制御して、特定された冗長度に基づいてステップＳ７において生成されたＢスキャンデータのデータサイズをｘ方向にリサイズさせる。

（Ｓ９：表示）
次に、主制御部２１１は、表示制御部として、ステップＳ８において得られたリサイズ処理後のＢスキャンデータに基づいて被検眼Ｅの断層画像を表示部２４０Ａに表示させる。

以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

図１７のステップＳ７では、例えば図１８に示す処理が実行される。

（Ｓ３１：リスケーリング処理）
まず、主制御部２１１は、リスケーリング処理部２２１を制御して、図１７のステップＳ６において取得された波長空間におけるＢスキャンデータを波数空間におけるＢスキャンデータに変換するリスケーリング処理を実行させる。

（Ｓ３２：ｘ方向にフーリエ変換）
次に、主制御部２１１は、第１フーリエ変換処理部２２２を制御して、ステップＳ３１において実行されたリスケーリング処理後のＢスキャンデータに対して、式（２）に示すようにｘ方向にフーリエ変換処理を実行させる。

（Ｓ３３：窓関数処理）
次に、主制御部２１１は、窓関数処理部２２３を制御して、ステップＳ３２において実行されたフーリエ変換処理後のＢスキャンデータに対して、上記のようにｕ方向に窓関数処理を行って、＋ｕ方向の信号成分を抽出させる。

（Ｓ３４：ｕ方向に逆フーリエ変換）
次に、主制御部２１１は、逆フーリエ変換処理部２２４を制御して、ステップＳ３３において実行された窓関数処理後のＢスキャンデータに対して、式（７）に示すようにｕ方向に逆フーリエ変換処理を実行させる。

（Ｓ３５：ｋ方向にフーリエ変換）
続いて、主制御部２１１は、第２フーリエ変換処理部２２５を制御して、ステップＳ３４において実行された逆フーリエ変換処理後のＢスキャンデータに対して、ｋ方向にフーリエ変換処理を実行させる。

以上で、図１７のステップＳ７の処理は終了である（エンド）。

図１７のステップＳ８では、例えば図１９に示す処理が実行される。

（Ｓ４１：フィッティング処理）
まず、主制御部２１１は、冗長度特定部２３１を制御して、図１７のステップＳ７において取得されたＢスキャンデータに対してフィッティング処理を実行させる。

冗長度特定部２３１のフィッティング処理部２３１Ａは、上記のように、図１８のステップＳ３５において得られたフーリエ変換処理後のＢスキャンデータから求められた測定光ＬＳと参照光ＬＲとの相互相関の空間スペクトル（Ｂ（ｕ，ｋ））に対してフィッティング処理を行う。例えば、フィッティング処理部２３１Ａは、フィッティング関数としてフィッティングされたガウス関数ｇ（ｕ）を特定する。

（Ｓ４２：冗長度を算出）
次に、主制御部２１１は、冗長度特定部２３１を制御して、ステップＳ４１において実行されたフィッティング処理により特定されたフィッティング関数（ガウス関数ｇ（ｕ））に基づいて、ｘ方向の冗長度を算出させる。

（Ｓ４３：ｘ方向にリサイズ）
次に、主制御部２１１は、リサイズ処理部２３２を制御して、ステップＳ４２において算出された冗長度度に基づいて、図１８のステップＳ３５において得られたＢスキャンデータのデータサイズをｘ方向にリサイズする。

例えば、リサイズ処理部２３２は、上記のように、ステップＳ４２において算出された冗長度Ｒに基づいて、図１８のステップＳ３５において得られたフーリエ変換処理後のＢスキャンデータのデータサイズをｘ方向に（１／Ｒ）倍にリサイズする。リサイズ処理部２３２は、上記のように、冗長度Ｒに基づいて、互いに隣接するＡスキャンデータをｘ方向に平均化したり、Ａスキャンデータを間引いたりすることで、Ｂスキャンデータのデータサイズをｘ方向にリサイズする。

以上で、図１７のステップＳ８の処理は終了である（エンド）。

以上説明したように、実施形態によれば、ＯＣＴを用いてＡスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調されたＢスキャンデータから測定光ＬＳと参照光ＬＲとの相互相関の空間スペクトルを求め、求められた空間スペクトルから冗長度を特定し、特定された冗長度に基づいてＢスキャンデータ（Ｂスキャン画像）をラテラル方向にリサイズする。それにより、観察に影響を与えない程度に本来のＢスキャンデータが有する情報量を落とすことなくデータサイズ（画像サイズ）をリサイズすることができる。すなわち、情報量を落とすことなく冗長度を低減するようにスキャンデータを最適化することが可能になり、フルレンジＯＣＴによる深さ方向に長いレンジでの観察を実現しつつ、処理時間の短縮及びリソースの節約等の副次的効果を得ることができる。

＜変形例＞
実施形態に係る構成は、上記の実施形態で説明した構成に限定されるものではない。以下、実施形態の種々の変形例について、実施形態との相違点を中心に説明する。

（第１変形例）
図１１に示す構成では、ＥＯＭ８０がコリメートレンズユニット４０とリトロリフレクタ４１との間の測定光ＬＳの光路に配置されていたが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。

図２０に、実施形態の第１変形例に係る眼科装置１ａの光学系の構成例を示す。図２０において、図１１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第１変形例に係る眼科装置１ａの光学系の構成が図１１に示す眼科装置１の光学系の構成と異なる点は、ＥＯＭ８０の配置である。図１１では、ＥＯＭ８０がコリメートレンズユニット４０とリトロリフレクタ４１との間の光路に配置される。これに対して、図２０では、ＥＯＭ８０がコリメートレンズユニット４０とリトロリフレクタ４１との間の光路とリトロリフレクタ４１と光スキャナ４２との間の光路とに配置される。ＥＯＭ８０は、コリメートレンズユニット４０と光スキャナ４２との間の光路に配置されてもよい。また、光スキャナ４２とコリメートレンズ４３と間の光路に配置されてもよい。

第１変形例では、実施形態と同様に、主制御部２１１は、図１４に示す制御タイミングに従ってＥＯＭ駆動部８０Ａに対して制御信号を出力することで、Ａスキャン毎に参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更することで位相変調を行う。この場合、主制御部２１１は、光スキャナ４２の偏向制御に対応したＡスキャンの開始タイミングに同期して、Ａスキャン時間Ｔの間隔で位相シフト量Ｐｓが順次に付与されるように測定光ＬＳの光路長を変更する。しかしながら、第１変形例では、Ａスキャン中に測定光ＬＳがＥＯＭ８０を４回通過する。従って、ゴーストイメージを最も効果的に分離（除去）するようにＡスキャン毎にπ／２だけ位相をシフトさせるために、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量Ｐｓがπ／８だけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力する。

なお、実施形態と同様に、第１変形例においても、Ａスキャン毎の位相シフト量はπ／２でなくてもよい。この場合、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量ＰｓがＶだけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力することで、Ａスキャン毎に４×Ｖだけ位相をシフトすることができる。

上記を除いて、第１変形例に係る眼科装置１ａの構成及び動作は、実施形態に係る眼科装置１の構成及び動作と同様である。

第１変形例によれば、屈折率の変更量が小さいＥＯＭ８０を用いて、実施形態と同様の効果を得ることができる。

（第２変形例）
実施形態又は第１変形例では、ＥＯＭ８０を用いて位相変調を行う場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。

図２１に、実施形態の第２変形例に係る眼科装置１ｂの光学系の構成例を示す。図２１において、図１１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２変形例に係る眼科装置１ｂの光学系の構成が図１１に示す眼科装置１の光学系の構成と異なる点は、ＥＯＭ８０に代えて、リトロリフレクタ４１に取り付けられたピエゾ素子（ｐｉｅｚｏｅｌｅｃｔｒｉｃｅｌｅｍｅｎｔ、圧電素子）８１が設けられている点である。ピエゾ素子８１は、制御部２１０（主制御部２１１）からの制御信号を受けて、リトロリフレクタ４１を図２１に示す矢印方向に移動する。なお、ピエゾ素子８１の機能は、リトロリフレクタ駆動部４１Ａにより実現されてもよい。

図２２に、実施形態の第２変形例に係る眼科装置１ｂの処理系の構成例のブロック図を示す。図２２において、図１３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２変形例に係る眼科装置１ｂの処理系の構成が図１３に示す眼科装置１の処理系の構成と異なる点は、演算制御ユニット２００に代えて演算制御ユニット２００ｂが設けられている点と、ＥＯＭ駆動部８０Ａに代えてピエゾ素子駆動部８１Ａが設けられている点である。演算制御ユニット２００ｂにおける主制御部２１１は、図１４に示す制御タイミングに従ってピエゾ素子駆動部８１Ａに対して制御信号を出力することで、Ａスキャン毎に参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更することで位相変調を行う。この場合、主制御部２１１は、光スキャナ４２の偏向制御に対応したＡスキャンの開始タイミングに同期して、Ａスキャン時間Ｔの間隔で位相シフト量Ｐｓが順次に付与されるように測定光ＬＳの光路長を変更する。第２変形例では、リトロリフレクタ４１の移動量の２倍だけ光路長が変化し、Ａスキャン中に測定光ＬＳがリトロリフレクタ４１を２回経由する。従って、ゴーストイメージを最も効果的に分離（除去）するようにＡスキャン毎にπ／２だけ位相をシフトさせるために、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量Ｐｓがπ／８だけシフトするように制御信号をピエゾ素子駆動部８１Ａに対して順次に出力する。

なお、実施形態と同様に、第２変形例においても、Ａスキャン毎の位相シフト量はπ／２でなくてもよい。この場合、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量ＰｓがＶだけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力することで、Ａスキャン毎に２×Ｖだけ位相をシフトすることができる。

上記を除いて、第２変形例に係る眼科装置１ｂの構成及び動作は、実施形態に係る眼科装置１の構成及び動作と同様である。

第２変形例によれば、ＥＯＭ８０を設けることなく、実施形態と同様の効果を得ることができる。

（第３変形例）
実施形態、第１変形例、及び第２変形例では、測定光ＬＳの光路長を変更することにより位相変調を行う場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。

図２３に、実施形態の第３変形例に係る眼科装置のＯＣＴユニット１００ｃの光学系の構成例を示す。図２３において、図１２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第３変形例に係るＯＣＴユニット１００ｃの光学系の構成が図１２に示すＯＣＴユニット１００の光学系の構成と異なる点は、分散補償部材１１３とコーナーキューブ１１４との間のコーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路にＥＯＭ８０が配置されている点である。

第３変形例では、実施形態と同様に、主制御部２１１は、図１４に示す制御タイミングに従ってＥＯＭ駆動部８０Ａに対して制御信号を出力することで、Ａスキャン毎に参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更することで位相変調を行う。この場合、主制御部２１１は、光スキャナ４２の偏向制御に対応したＡスキャンの開始タイミングに同期して、Ａスキャン時間Ｔの間隔で位相シフト量Ｐｓが順次に付与されるように参照光ＬＲの光路長を変更する。第３変形例では、Ａスキャン中に参照光ＬＲがＥＯＭ８０を１回通過する。従って、ゴーストイメージを最も効果的に分離（除去）するようにＡスキャン毎にπ／２だけ位相をシフトさせるために、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量Ｐｓがπ／２だけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力する。

なお、実施形態と同様に、第３変形例においても、Ａスキャン毎の位相シフト量はπ／２でなくてもよい。この場合、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量ＰｓがＶだけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力することで、Ａスキャン毎にＶだけ位相をシフトすることができる。

上記を除いて、第３変形例に係る眼科装置の構成及び動作は、実施形態に係る眼科装置１の構成及び動作と同様である。

第３変形例によれば、測定光ＬＳの光路長を変更することなく、実施形態と同様の効果を得ることができる。

（第４変形例）
第３変形例では、ＥＯＭ８０がコーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路に配置されていたが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。

図２４に、実施形態の第４変形例に係る眼科装置のＯＣＴユニット１００ｄの光学系の構成例を示す。図２４において、図２３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第４変形例に係るＯＣＴユニット１００ｄの光学系の構成が図２３に示すＯＣＴユニット１００ｃの光学系の構成と異なる点は、ＥＯＭ８０の配置である。図２３では、ＥＯＭ８０がコーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路に配置される。これに対して、図２４では、ＥＯＭ８０がコーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路とコーナーキューブ１１４から出射する参照光ＬＲの光路とに配置される。

第４変形例では、第３変形例と同様に、主制御部２１１は、図１４に示す制御タイミングに従ってＥＯＭ駆動部８０Ａに対して制御信号を出力することで、Ａスキャン毎に参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更することで位相変調を行う。この場合、主制御部２１１は、光スキャナ４２の偏向制御に対応したＡスキャンの開始タイミングに同期して、Ａスキャン時間Ｔの間隔で位相シフト量Ｐｓが順次に付与されるように参照光ＬＲの光路長を変更する。しかしながら、第４変形例では、Ａスキャン中に参照光ＬＲがＥＯＭ８０を２回通過する。従って、ゴーストイメージを最も効果的に分離（除去）するようにＡスキャン毎にπ／２だけ位相をシフトさせるために、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量Ｐｓがπ／４だけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力する。

なお、実施形態と同様に、第４変形例においても、Ａスキャン毎の位相シフト量はπ／２でなくてもよい。この場合、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量ＰｓがＶだけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力することで、Ａスキャン毎に２×Ｖだけ位相をシフトすることができる。

上記を除いて、第４変形例に係る眼科装置の構成及び動作は、第３変形例に係る眼科装置の構成及び動作と同様である。

第４変形例によれば、屈折率の変更量が小さいＥＯＭ８０を用いて、実施形態と同様の効果を得ることができる。

（第５変形例）
第３変形例及び第４変形例では、ＥＯＭ８０を用いて位相変調を行う場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。

図２５に、実施形態の第５変形例に係る眼科装置のＯＣＴユニット１００ｅの光学系の構成例を示す。図２５において、図１２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第５変形例に係るＯＣＴユニット１００ｅの光学系の構成が図１２に示すＯＣＴユニット１００の光学系の構成と異なる点は、ＥＯＭ８０に代えて、コーナーキューブ１１４に取り付けられたピエゾ素子８１が設けられている点である。ピエゾ素子８１は、制御部２１０（主制御部２１１）からの制御信号を受けて、コーナーキューブ１１４を図２５に示す矢印方向に移動する。なお、ピエゾ素子８１の機能は、参照駆動部１１４Ａにより実現されてもよい。

第５変形例に係る眼科装置の処理系は、図２２と同様に、ピエゾ素子駆動部８１Ａを含む。主制御部２１１は、図１４に示す制御タイミングに従ってピエゾ素子駆動部８１Ａに対して制御信号を出力することで、Ａスキャン毎に参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更することで位相変調を行う。この場合、主制御部２１１は、光スキャナ４２の偏向制御に対応したＡスキャンの開始タイミングに同期して、Ａスキャン時間Ｔの間隔で位相シフト量Ｐｓが順次に付与されるように参照光ＬＲの光路長を変更する。第５変形例では、Ａスキャン中に参照光ＬＲがコーナーキューブ１１４を１回経由する間にコーナーキューブの移動量の２倍だけ位相がシフトする。従って、ゴーストイメージを最も効果的に分離（除去）するようにＡスキャン毎にπ／２だけ位相をシフトさせるために、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量Ｐｓがπ／４だけシフトするように制御信号をピエゾ素子駆動部８１Ａに対して順次に出力する。

なお、実施形態と同様に、第５変形例においても、Ａスキャン毎の位相シフト量はπ／２でなくてもよい。この場合、主制御部２１１は、Ａスキャン毎に位相シフト量ＰｓがＶだけシフトするように制御信号をＥＯＭ駆動部８０Ａに対して順次に出力することで、Ａスキャン毎にＶだけ位相をシフトすることができる。

上記を除いて、第５変形例に係る眼科装置の構成及び動作は、実施形態に係る眼科装置１の構成及び動作と同様である。

第５変形例によれば、ＥＯＭ８０を設けることなく、実施形態と同様の効果を得ることができる。

（第６変形例）
実施形態又はその変形例では、ＥＯＭ８０又はピエゾ素子８１を用いて位相変調を行う場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。

図２６に、実施形態の第６変形例に係る眼科装置１ｆの光学系の構成例を示す。図２６において、図１１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第６変形例に係る眼科装置１ｆの光学系の構成が図１１に示す眼科装置１の光学系の構成と異なる点は、光スキャナ４２に代えて光スキャナ４２ｆが設けられている点である。

まず、実施形態、又は実施形態の第１変形例～第５変形例に係る光スキャナ４２について説明する。

図２７に、実施形態、又は実施形態の第１変形例～第５変形例に係る光スキャナ４２の構成例を模式的に示す。

光スキャナ４２は、第１光スキャナとしての第１ガルバノミラー４２１と、第２光スキャナとしての第２ガルバノミラー４２２とを含む。第１ガルバノミラー４２１は、ＯＣＴユニット１００の光軸Ｏに直交するｙ方向に撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。第２ガルバノミラー４２２は、ＯＣＴユニット１００の光軸Ｏに直交するｘ方向に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノミラー４２１により偏向された測定光ＬＳを偏向する。

第１ガルバノミラー４２１のスキャン回転中心は、平行光束とされた測定光ＬＳが進行する光軸Ｏ上に配置される。同様に、第２ガルバノミラー４２２のスキャン回転中心ＳＣもまた、光軸Ｏ上に配置される。これにより、第１ガルバノミラー４２１及び第２ガルバノミラー４２２のそれぞれの偏向面の回転角度に応じた光路長の差を発生させることなく、撮影部位におけるｘｙ平面上を測定光ＬＳでスキャンすることができる。

図２８に、第６変形例に係る光スキャナ４２ｆの構成例を模式的に示す。図２８において、図２７と同様の部分には同一符号を付して、適宜説明を省略する。

光スキャナ４２ｆは、第１光スキャナとしての第１ガルバノミラー４２１と、第２光スキャナとしての第２ガルバノミラー４２３とを含む。第１ガルバノミラー４２１は、ＯＣＴユニット１００の光軸Ｏに直交するｙ方向に撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。第２ガルバノミラー４２３は、ＯＣＴユニット１００の光軸Ｏに直交するｘ方向に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノミラー４２１により偏向された測定光ＬＳを偏向する。

しかしながら、第１ガルバノミラー４２１のスキャン回転中心は、平行光束とされた測定光ＬＳが進行する光軸Ｏ上に配置されるのに対して、第２ガルバノミラー４２３のスキャン回転中心ＳＣは、光軸Ｏから偏心した位置に配置される。このような第２ガルバノミラー４２３の配置については、例えば、非特許文献２に開示されている。光軸Ｏに対するスキャン回転中心ＳＣの偏位量をｓ、偏向角度をΔβ、Ｂスキャン中のＡスキャンの数をＮ、測定光ＬＳの中心周波数をλとすると、ｘ方向に隣り合う２つＡスキャンの間の位相変化量Φは、式（１６）のように表される（非特許文献２参照）。

上記を除いて、第６変形例に係る眼科装置の構成及び動作は、実施形態に係る眼科装置１の構成及び動作と同様である。

第６変形例によれば、第２ガルバノミラー４２３の偏向面の回転角度に応じて測定光ＬＳの光路長を変更することができるので、ＥＯＭ８０又はピエゾ素子８１を用いることなく、実施形態と同様の効果を得ることができる。

なお、第６変形例において、第１ガルバノミラー４２１のスキャン回転中心を光軸Ｏから偏心した位置に配置し、第２ガルバノミラー４２３のスキャン回転中心を光軸Ｏ上に配置するようにしてもよい。いくつかの実施形態では、光軸Ｏに対する第２ガルバノミラー４２３のスキャン回転中心の相対位置を変更可能に構成される。

いくつかの実施形態では、上記の情報処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。このようなプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な非一時的な（ｎｏｎ－ｔｒａｎｓｉｔｏｒｙ）任意の記録媒体に記憶させることができる。記録媒体は、磁気、光、光磁気、半導体などを利用した電子媒体であってよい。典型的には、記録媒体は、磁気テープ、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、ソリッドステートドライブなどである。また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

［作用］
実施形態に係る情報処理装置、ＯＣＴ装置、情報処理方法、及びプログラムについて説明する。

実施形態の第１態様は、特定部（冗長度特定部２３１）と、リサイズ処理部（２３２）とを含む情報処理装置（情報処理部６００、演算制御ユニット２００（制御部２１０、画像形成部２２０、データ処理部２３０））である。特定部は、光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物（７００、被検眼Ｅ）に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向（ｘ方向、ｔ方向、Ｂスキャン方向）の冗長度を特定する。リサイズ処理部は、特定部により特定された冗長度に基づいてＢスキャンデータのデータサイズを変更する。

このような態様によれば、情報量を落とすことなくフルレンジＯＣＴにおいて取得されるスキャンデータを最適化することが可能になる。それにより、フルレンジＯＣＴによる深さ方向に長いレンジでの観察を実現しつつ、処理時間の短縮及びリソースの節約等の副次的効果が得られるようになる。

実施形態の第２態様では、第１態様において、Ｂスキャンデータは、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調されたスキャンデータである。

このような態様によれば、ＢＭスキャンのような位相変調方式を用いたＢスキャンにより得られたスキャンデータのデータサイズを、情報量を落とすことなく最適化することが可能になる。

実施形態の第３態様では、第１態様又は第２態様において、特定部は、空間周波数領域における空間スペクトルに基づいて冗長度を特定する。

このような態様によれば、Ｂスキャンデータから得られた空間周波数領域における空間スペクトルに基づいて冗長度を特定するようにしたので、スキャンデータに応じて情報量を落とすことなく最適化することが可能になる。

実施形態の第４態様では、第３態様において、空間スペクトルは、測定光と参照光との相互相関の空間スペクトルである。

このような態様によれば、測定光と参照光との相互相関の空間スペクトルに基づいてラテラル方向の冗長度を特定するようにしたので、情報量を落とすことなくＢスキャンデータのデータサイズを最適化することが可能になる。

実施形態の第５態様では、第３態様又は第４態様において、特定部は、空間周波数方向における空間スペクトルの幅に基づいて冗長度を特定する。

このような態様によれば、Ｂスキャンデータから得られた空間周波数領域における空間スペクトルの幅に基づいて冗長度を特定するようにしたので、スキャンデータに応じて情報量を落とすことなく最適化することが可能になる。

実施形態の第６態様では、第５態様において、特定部は、空間スペクトルに対して関数のフィッティング処理を施し、フィッティング処理により得られた関数に基づいて空間スペクトルの幅を特定する

このような態様によれば、フィッティング処理により空間スペクトルの幅を特定するようにしたので、簡素な処理で高精度に冗長度を特定することが可能になる。

実施形態の第７態様では、第３態様又は第４態様において、特定部は、空間スペクトルに基づいてＡスキャンのスキャン密度を特定し、所定の基準スキャン密度と特定されたスキャン密度とに基づいて冗長度を特定する。

このような態様によれば、所定の基準スキャン密度を基準に、空間スペクトルに基づいて特定されたＡスキャンのスキャン密度から冗長度を特定するようにしたので、簡素な処理で高精度に冗長度を特定することが可能になる。

実施形態の第８態様では、第１態様～第７態様のいずれかにおいて、冗長度をＲとしたとき、リサイズ処理部は、Ｂスキャンデータのデータサイズを（１／Ｒ）倍に変更する。

このような態様によれば、情報量を落とすことなくスキャンデータを最適化することが可能になる。

実施形態の第９態様では、第１態様～第８態様のいずれかにおいて、リサイズ処理部は、ラテラル方向に隣接する２以上のＡスキャンデータをラテラル方向に平均化することによりＢスキャンデータのデータサイズを変更する。

このような態様によれば、情報量に低下を最小限に抑えつつ、観察に必要な情報量を確保しつつスキャンデータのデータサイズを最適化することが可能になる。

実施形態の第１０態様では、第１態様～第８態様のいずれかにおいて、リサイズ処理部は、Ａスキャンデータを間引くことによりＢスキャンデータのデータサイズを変更する。

このような態様によれば、観察に必要な情報量を確保しつつ、簡素な処理でスキャンデータのデータサイズを最適化することが可能になる。

実施形態の第１１態様は、第１態様～第１０態様のいずれかにおいて、リサイズ処理部によりデータサイズが変更されたＢスキャンデータに基づいて被測定物の画像（ＯＣＴ画像、断層画像）を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる表示制御部（制御部２１０、主制御部２１１）を含む。

このような態様によれば、データサイズが最適化されたＢスキャンデータに基づいて被測定物の画像を観察することが可能になる。

実施形態の第１２態様は、光スキャナ（５２０、４２、４２ｆ）と、干渉光学系（５１０、ＯＣＴユニット１００から対物レンズ２２までの測定光ＬＳが通過する光学系）と、制御部（５４０、２１０）と、スキャンデータ生成部（５３０、画像形成部２２０）と、第１態様～第１１態様のいずれかの情報処理装置とを含むＯＣＴ装置（５００、ＯＣＴユニット１００及び光スキャナ４２（４２ｆ））である。干渉光学系は、光源（光源ユニット１０１）からの光（Ｌ０）を参照光（ＬＲ）と測定光（ＬＳ）とに分割し、光スキャナにより偏向された測定光を被測定物に照射し、被測定物からの測定光の戻り光と参照光との干渉光（ＬＣ）を検出する。制御部は、光スキャナを制御すると共に、参照光の光路長と測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更するように干渉光学系を制御する。スキャンデータ生成部は、干渉光の検出結果に基づいてＢスキャンデータを生成する。

このような態様によれば、情報量を落とすことなく、データサイズが最適化されたフルレンジＯＣＴのスキャンデータを取得することが可能なＯＣＴ装置を提供することが可能になる。

実施形態の第１３態様は、特定ステップと、リサイズ処理ステップとを含む情報処理方法である。特定ステップは、光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物（７００、被検眼Ｅ）に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向（ｘ方向、ｔ方向、Ｂスキャン方向）の冗長度を特定する。リサイズ処理ステップは、特定ステップにおいて特定された冗長度に基づいてＢスキャンデータのデータサイズを変更する。

実施形態の第１４態様では、第１３態様において、Ｂスキャンデータは、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調されたスキャンデータである。

実施形態の第１５態様では、第１３態様又は第１４態様において、特定ステップは、空間周波数領域における測定光と参照光との相互相関の空間スペクトルに基づいて冗長度を特定する。

実施形態の第１６態様では、第１５態様において、空間スペクトルは、測定光と参照光との相互相関の空間スペクトルである。

実施形態の第１７態様では、第１５態様又は第１６態様において、特定ステップは、空間周波数方向における空間スペクトルの幅に基づいて冗長度を特定する。

実施形態の第１８態様では、第１７態様において、特定ステップは、空間スペクトルに対して関数のフィッティング処理を施し、フィッティング処理により得られた関数に基づいて空間スペクトルの幅を特定する。

実施形態の第１９態様では、第１５態様又は第１６態様において、特定ステップは、空間スペクトルに基づいてＡスキャンのスキャン密度を特定し、所定の基準スキャン密度と特定されたスキャン密度とに基づいて冗長度を特定する。

実施形態の第２０態様では、第１３態様～第１９態様のいずれかにおいて、冗長度をＲとしたとき、リサイズ処理ステップは、Ｂスキャンデータのデータサイズを（１／Ｒ）倍に変更する。

実施形態の第２１態様では、第１３態様～第２０態様のいずれかにおいて、リサイズ処理ステップは、ラテラル方向に隣接する２以上のＡスキャンデータをラテラル方向に平均化することによりＢスキャンデータのデータサイズを変更する。

実施形態の第２２態様では、第１３態様～第２０態様のいずれかにおいて、リサイズ処理ステップは、Ａスキャンデータを間引くことによりＢスキャンデータのデータサイズを変更する。

実施形態の第２３態様は、第１３態様～第２２態様のいずれかにおいて、リサイズ処理ステップにおいてデータサイズが変更されたＢスキャンデータに基づいて被測定物の画像（ＯＣＴ画像、断層画像）を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる表示ステップを含む。

実施形態の第２４態様は、コンピュータに、第１３態様～第２３態様のいずれかの情報処理方法の各ステップを実行させるプログラムである。

このような態様によれば、情報量を落とすことなくフルレンジＯＣＴにおいて取得されるスキャンデータを最適化するプログラムを提供することが可能になる。それにより、フルレンジＯＣＴによる深さ方向に長いレンジでの観察を実現しつつ、処理時間の短縮及びリソースの節約等の副次的効果が得られるようになる。

このような態様によれば、測定光の光路に光学部材を配置して、Ａスキャン位置毎にＡスキャンの基準位置に対する光路長差を測定光に付与するようにしたので、簡便に、低コストで、ＯＣＴの深さ方向の画像化レンジを拡大させることが可能になる。

以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形（省略、置換、付加等）を適宜に施すことが可能である。適用される構成は、例えば目的に応じて選択される。また、適用される構成に応じ、当業者にとって自明の作用効果や、本明細書において説明された作用効果が得られる。

１、１ａ、１ｂ、１ｆ眼科装置
４２、４２ｆ、５２０光スキャナ
８０ＥＯＭ
８１ピエゾ素子
１００、１００ｃ、１００ｄ、１００ｅＯＣＴユニット
２００、２００ｂ演算制御ユニット
２１０、５４０制御部
２１１主制御部
２１２記憶部
２２０画像形成部
２２１リスケーリング処理部
２２２第１フーリエ変換処理部
２２３窓関数処理部
２２４逆フーリエ変換処理部
２２５第２フーリエ変換処理部
２３０データ処理部
２３１冗長度特定部
２３１Ａフィッティング処理部
２３２リサイズ処理部
２３３解析部
２４０Ａ表示部
２４０Ｂ操作部
５００ＯＣＴ装置
５１０干渉光学系
５３０スキャンデータ生成部
６００情報処理部
Ｅ被検眼
ＬＣ干渉光
ＬＲ参照光
ＬＳ測定光

Claims

光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向の冗長度を特定する特定部と、
前記特定部により特定された前記冗長度に基づいて前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更するリサイズ処理部と、
を含む、情報処理装置。
前記Ｂスキャンデータは、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調されたスキャンデータである
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
前記特定部は、空間周波数領域における空間スペクトルに基づいて前記冗長度を特定する
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の情報処理装置。
前記空間スペクトルは、測定光と参照光との相互相関の空間スペクトルである
ことを特徴とする請求項３に記載の情報処理装置。
前記特定部は、空間周波数方向における前記空間スペクトルの幅に基づいて前記冗長度を特定する
ことを特徴とする請求項３又は請求項４に記載の情報処理装置。
前記特定部は、前記空間スペクトルに対して関数のフィッティング処理を施し、フィッティング処理により得られた前記関数に基づいて前記空間スペクトルの幅を特定する
ことを特徴とする請求項５に記載の情報処理装置。
前記特定部は、前記空間スペクトルに基づいてＡスキャンのスキャン密度を特定し、所定の基準スキャン密度と前記特定されたスキャン密度とに基づいて前記冗長度を特定する
ことを特徴とする請求項３又は請求項４に記載の情報処理装置。
前記冗長度をＲとしたとき、前記リサイズ処理部は、前記Ｂスキャンデータのデータサイズを（１／Ｒ）倍に変更する
ことを特徴とする請求項１～請求項７のいずれか一項に記載の情報処理装置。
前記リサイズ処理部は、前記ラテラル方向に隣接する２以上のＡスキャンデータを前記ラテラル方向に平均化することにより前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更する
ことを特徴とする請求項１～請求項８のいずれか一項に記載の情報処理装置。
前記リサイズ処理部は、Ａスキャンデータを間引くことにより前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更する
ことを特徴とする請求項１～請求項８のいずれか一項に記載の情報処理装置。
前記リサイズ処理部によりデータサイズが変更された前記Ｂスキャンデータに基づいて前記被測定物の画像を表示手段に表示させる表示制御部を含む
ことを特徴とする請求項１～請求項１０のいずれか一項に記載の情報処理装置。
光スキャナと、
光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記光スキャナにより偏向された前記測定光を前記被測定物に照射し、前記被測定物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記光スキャナを制御すると共に、前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更するように前記干渉光学系を制御する制御部と、
前記干渉光の検出結果に基づいて前記Ｂスキャンデータを生成するスキャンデータ生成部と、
請求項１～請求項１１のいずれか一項に記載の情報処理装置と、
を含む、光コヒーレンストモグラフィ装置。
光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物に対してＢスキャンを実行することにより得られたＢスキャンデータからラテラル方向の冗長度を特定する特定ステップと、
前記特定ステップにおいて特定された前記冗長度に基づいて前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更するリサイズ処理ステップと、
を含む、情報処理方法。
前記Ｂスキャンデータは、Ａスキャン毎に位相をシフトすることでラテラル方向に周波数変調されたスキャンデータである
ことを特徴とする請求項１３に記載の情報処理方法。
前記特定ステップは、空間周波数領域における測定光と参照光との相互相関の空間スペクトルに基づいて前記冗長度を特定する
ことを特徴とする請求項１３又は請求項１４に記載の情報処理方法。
前記空間スペクトルは、測定光と参照光との相互相関の空間スペクトルである
ことを特徴とする請求項１５に記載の情報処理方法。
前記特定ステップは、空間周波数方向における前記空間スペクトルの幅に基づいて前記冗長度を特定する
ことを特徴とする請求項１５又は請求項１６に記載の情報処理方法。
前記特定ステップは、前記空間スペクトルに対して関数のフィッティング処理を施し、フィッティング処理により得られた前記関数に基づいて前記空間スペクトルの幅を特定する
ことを特徴とする請求項１７に記載の情報処理方法。
前記特定ステップは、前記空間スペクトルに基づいてＡスキャンのスキャン密度を特定し、所定の基準スキャン密度と前記特定されたスキャン密度とに基づいて前記冗長度を特定する
ことを特徴とする請求項１５又は請求項１６に記載の情報処理方法。
前記冗長度をＲとしたとき、前記リサイズ処理ステップは、前記Ｂスキャンデータのデータサイズを（１／Ｒ）倍に変更する
ことを特徴とする請求項１３～請求項１９のいずれか一項に記載の情報処理方法。
前記リサイズ処理ステップは、前記ラテラル方向に隣接するＡスキャンデータを前記ラテラル方向に平均化することにより前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更する
ことを特徴とする請求項１３～請求項２０のいずれか一項に記載の情報処理方法。
前記リサイズ処理ステップは、Ａスキャンデータを間引くことにより前記Ｂスキャンデータのデータサイズを変更する
ことを特徴とする請求項１３～請求項２０のいずれか一項に記載の情報処理方法。
前記リサイズ処理ステップにおいてデータサイズが変更された前記Ｂスキャンデータに基づいて前記被測定物の画像を表示手段に表示させる表示ステップを含む
ことを特徴とする請求項１３～請求項２２のいずれか一項に記載の情報処理方法。
コンピュータに、請求項１３～請求項２３のいずれか一項に記載の情報処理方法の各ステップを実行させることを特徴とするプログラム。