JP2022140005A - 可変減衰器、信号解析装置、及び誘電体ブロックの固定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図2に示すように、可変ATT2は、上面両端部にコネクタ12、13が設けられ、該コネクタ12、13間に渡る部分を覆うように金属製のカバー筐体11が取り付けられたベース基板20と、カバー筐体11の反対側から当該ベース基板20の一面全体を覆う、例えば、金属板からなるアース板20aとの積層構造によって構成されている。
誘電体ブロック33を固定するための第1の固定方法に基づく、誘電体ブロック33の圧入作業イメージを図8に示している。図8に示すように、第1の固定方法においては、ベース基板20に形成される伝送路用溝23は、該伝送路用溝23内に圧入前の誘電体ブロック33の幅W1よりもわずかに小さい幅W0を有している。
図9~図11は、第2の固定方法を示している。第2の固定方法を実現するためには、ベース基板20として、伝送路用溝23の誘電体ブロック33を配置する所要の位置ごとに、例えば、図9に示すように、誘電体ブロック33a(図10参照)を受け入れ可能な形状を有する堀込部201が形成されたものが用意される。第2の固定方法に基づいて伝送路用溝23に圧入される誘電体ブロック33aは、例えば、図10に示すように、長さ方向の中央部分の幅が両端部の幅に比べて幅が小さい直方体形状の部材で構成されている。
本実施形態に係る可変ATT2は、誘電体ブロック33をそれぞれの配置位置で伝送路用溝23内に圧入した構成を有するため、予め圧入による誘電体ブロック33の変形を考慮してインピーダンスを設計することにより、望ましいインピーダンスを実現できる。
2 可変ATT(可変減衰器)
3 周波数変換部
5 信号解析部
20 ベース基板
20a アース板
21 信号入力端子
22 信号出力端子
23 伝送路用溝
25 溝(減衰経路)
26 溝(スルー経路)
31 減衰素子
33、33a 誘電体ブロック
33b 中心導体
50 DUT(被試験対象)
201 堀込部
Claims (7)
- 信号入力端子(21)と信号出力端子(22)間に高周波信号の伝送路を構成するための伝送路用溝(23)が形成される金属製のベース基板(20)と、前記ベース基板の前記伝送路用溝が形成される側の面全体を覆うアース板(20a)と、を有し、
前記伝送路用溝は、減衰素子(31)が装着され、前記信号入力端子から入力される前記高周波信号を該減衰素子により減衰させる減衰経路(25)と、前記減衰素子を通さないスルー経路(26)と、が複数組設けられ、
前記組ごとに前記減衰経路または前記スルー経路を選択し、選択された全ての前記減衰経路内の前記減衰素子に応じた減衰レベルを設定可能な可変減衰器(2)であって、
前記ベース基板の前記伝送路用溝の所要の位置ごとに配置され、前記伝送路用溝の幅よりも大きな幅を有し、中央部を中心導体(33b)が貫通する樹脂製の複数の誘電体ブロック(33)をさらに有し、
前記誘電体ブロックは、それぞれの配置位置で、前記ベース基板の上面から突出しない状態で前記伝送路用溝内に圧入されていることを特徴とする可変減衰器。 - 前記伝送路用溝は、前記誘電体ブロックの配置位置に対応して形成され、前記誘電体ブロックを受け入れ可能な形状を有する堀込部(201)を有し、
前記誘電体ブロックは、前記堀込部に受け入れられた状態で前記伝送路用溝内に圧入されていることを特徴とする請求項1記載の可変減衰器。 - 前記誘電体ブロックは、前記堀込部に対して接着剤で接着されていることを特徴とする請求項2に記載の可変減衰器。
- 前記伝送路用溝は、前記ベース基板の前記面全体が前記アース板で覆われる積層状態で同軸型伝送路を構成し、
前記同軸型伝送路は、ストリップライン(Stripline)構造を有することを特徴とする請求項1~3のいずれか一項に記載の可変減衰器。 - 前記高周波信号は、5G NR規格の信号であり、
前記伝送路用溝は、前記信号入力端子と前記信号出力端子間のインピーダンスが、全ての前記誘電体ブロックが前記伝送路用溝に圧入された状態で所定の値となるように設計されていることを特徴とする請求項1~4のいずれか一項に記載の可変減衰器。 - 減衰レベルを可変設定可能であり、被試験対象(50)から出力された高周波信号を、設定された減衰レベルで減衰させる可変減衰器(2)と、
減衰された前記高周波信号を中間周波数信号に変換する周波数変換部(3)と、
前記中間周波数信号をサンプリングして得られるディジタルデータに対して解析処理を行う信号解析部(5)と、を備え、
前記可変減衰器は、
信号入力端子(21)と信号出力端子(22)間に前記高周波信号の伝送路を構成するための伝送路用溝(23)が形成される金属製のベース基板(20)と、前記ベース基板の前記伝送路用溝が形成される側の面全体を覆うアース板(20a)と、を有し、
前記伝送路用溝は、減衰素子(31)が装着され、前記信号入力端子から入力される前記高周波信号を該減衰素子により減衰させる減衰経路(25)と、前記減衰素子を通さないスルー経路(26)と、が複数組設けられ、
前記組ごとに前記減衰経路または前記スルー経路を選択し、選択された全ての前記減衰経路内の前記減衰素子に応じた減衰レベルを設定可能であって、
前記ベース基板の前記伝送路用溝の所要の位置ごとに配置され、前記伝送路用溝の幅よりも大きな幅を有し、中央部を中心導体(33b)が貫通する樹脂製の複数の誘電体ブロック(33)をさらに有し、
前記誘電体ブロックは、それぞれの配置位置で、前記ベース基板の上面から突出しない状態で前記伝送路用溝内に圧入されていることを特徴とする信号解析装置。 - 請求項6に記載の信号解析装置における前記可変衰器の前記伝送路用溝内に前記誘電体ブロックを固定する誘電体ブロックの固定方法であって、
前記減衰経路、及び前記スルー経路が形成された前記伝送路用溝を有する金属製の前記ベース基板を用意するステップ(S1)と、
前記伝送路用溝の所要の位置に、該伝送路用溝の幅よりも大きな幅を有する樹脂製の複数の前記誘電体ブロックを配置するステップ(S2)と、
前記誘電体ブロックを、それぞれの配置位置で、前記ベース基板の上面から突出しない状態で前記伝送路用溝内に圧入するステップ(S3)と、
を含み、圧入された状態で前記伝送路用溝の両側面から加わる圧力により前記誘電体ブロックを固定することを特徴とする誘電体ブロックの固定方法。
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