[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2021087042A - 撮像装置およびカメラ - Google Patents

撮像装置およびカメラ Download PDF

Info

Publication number
JP2021087042A
JP2021087042A JP2019212884A JP2019212884A JP2021087042A JP 2021087042 A JP2021087042 A JP 2021087042A JP 2019212884 A JP2019212884 A JP 2019212884A JP 2019212884 A JP2019212884 A JP 2019212884A JP 2021087042 A JP2021087042 A JP 2021087042A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conversion circuit
circuit
lamp
lamp signal
signal generation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019212884A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7407416B2 (ja
Inventor
徳永 祐介
Yusuke Tokunaga
祐介 徳永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2019212884A priority Critical patent/JP7407416B2/ja
Priority to US17/088,692 priority patent/US11490043B2/en
Publication of JP2021087042A publication Critical patent/JP2021087042A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7407416B2 publication Critical patent/JP7407416B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14634Assemblies, i.e. Hybrid structures
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/76Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the image signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/616Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/618Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise for random or high-frequency noise
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • H04N25/628Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for reducing horizontal stripes caused by saturated regions of CMOS sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • H04N25/677Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction for reducing the column or line fixed pattern noise
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/1205Multiplexed conversion systems
    • H03M1/123Simultaneous, i.e. using one converter per channel but with common control or reference circuits for multiple converters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/50Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
    • H03M1/56Input signal compared with linear ramp

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

【課題】AD変換ゲインのばらつきを低減できる撮像装置を提供する。【解決手段】撮像装置1は、複数の画素が2次元に配列された画素アレイ100と、第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第1変換回路10と、第1変換回路10から離れた位置に配置され、第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第2変換回路20と、第2変換回路20よりも第1変換回路10に近い位置に配置され、第1変換回路10および第2変換回路20に第1ランプ信号を供給する第1ランプ信号発生回路30と、一端が第1ランプ信号発生回路30の出力端子31に接続され、一端から他端に向けて第1変換回路10の入力端子11から遠ざかるように延びる部分を含む第1接続線と、一端が第1接続線の他端に接続され他端が入力端子11に接続され一端から他端に向けて入力端子11に近づくように延びる部分を含む第2接続線と、を備える。【選択図】図5

Description

本発明は、画像を撮像する撮像装置に関する。
シングルスロープ型アナログデジタル変換回路(ADC:Analog to Digital Converter)を搭載する撮像装置においては、特に大画面の品種において、画素アレイの出力信号をアナログデジタル変換するAD(Analog to Digital)変換回路が上下に別れて配置される構成が一般的である。AD変換回路には、AD変換に必要な参照電圧(ランプ信号)を生成するデジタルアナログ変換回路(DAC:Digital to Analog Converter)が接続される。従来、このような構成においては、AD変換ゲインのばらつきを低減するため、典型的には、上下のAD変換回路のそれぞれに対応してDACが設けられる(例えば、特許文献1参照)。
特開2014−239289号公報 特許第6442711号公報
本発明は、AD変換ゲインのばらつきを低減できる撮像装置等を提供することを目的とする。
本開示の一態様に係る撮像装置は、複数の画素が2次元に配列された画素アレイと、前記複数の画素のうち第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第1変換回路と、前記第1変換回路から離れた位置に配置され、前記複数の画素のうち第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第2変換回路と、前記第2変換回路よりも前記第1変換回路に近い位置に配置され、前記第1変換回路および前記第2変換回路に第1ランプ信号を供給する第1ランプ信号発生回路と、一端が前記第1ランプ信号発生回路の出力端子に接続され、前記一端から他端に向けて前記第1変換回路の入力端子から遠ざかるように延びる部分を含む第1接続線と、一端が前記第1接続線の前記他端に接続され、他端が前記第1変換回路の前記入力端子に接続され、前記一端から他端に向けて前記第1変換回路の前記入力端子に近づくように延びる部分を含む第2接続線と、を備える。
本開示の一態様に係る撮像装置は、複数の画素が2次元に配列された画素アレイと、前記複数の画素のうち第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第1変換回路と、前記第1変換回路から離れた位置に配置され、前記複数の画素のうち第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第2変換回路と、前記第2変換回路よりも前記第1変換回路に近い位置に配置され、前記第1変換回路および前記第2変換回路に第1ランプ信号を供給する第1ランプ信号発生回路と、を備え、前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第1変換回路の前記入力端子までの電気経路の長さは、前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第2変換回路の入力端子までの電気経路の長さと等しい。
本開示の一態様に係るカメラは、上記撮像装置と、前記画素アレイに外部の光を集光するレンズと、を備える。
AD変換ゲインのばらつきを低減できる撮像装置等が提供される。
図1は、第1の比較例に係る撮像装置の構成を示す模式図である。 図2は、第2の比較例に係る撮像装置の構成を示す模式図である。 図3Aは、第2の比較例に係る撮像装置のシミュレーション結果を示す図その1である。 図3Bは、第2の比較例に係る撮像装置のシミュレーション結果を示す図その2である。 図3Cは、第2の比較例に係る撮像装置のシミュレーション結果を示す図その3である。 図4Aは、暗時画面の模式図である。 図4Bは、一部が明るい画面の模式図その1である。 図4Cは、一部が明るい画面の模式図その2である。 図4Dは、ランプ信号の波形とコンパレータ出力の波形とを示す模式図である。 図5は、実施の形態1に係る撮像装置の構成を示す模式図である。 図6は、ソースフォロアを用いたバッファ回路の構成例を示す回路図である。 図7は、実施の形態1に係る第2列AD変換回路にバッファ回路が挿入されている様子を示す模式図である。 図8Aは、実施の形態1に係る撮像装置のシミュレーション結果を示す図その1である。 図8Bは、実施の形態1に係る撮像装置のシミュレーション結果を示す図その2である。 図8Cは、実施の形態1に係る撮像装置のシミュレーション結果を示す図その3である。 図9Aは、実施の形態1に係る第1ランプ線のレイアウト構造を示す模式図その1である。 図9Bは、実施の形態1に係る第1ランプ線のレイアウト構造を示す模式図その2である。 図9Cは、実施の形態1に係る第1ランプ線のレイアウト構造を示す模式図その3である。 図10Aは、実施の形態2に係る撮像装置の分解斜視図である。 図10Bは、実施の形態2に係る第1の半導体基板と第2の半導体基板と第3の半導体基板との平面図である。 図11は、実施の形態3に係るカメラの構成を示す模式図である。 図12は、第1ランプ線の他の形態を示す模式図である。
本開示の一態様に係る撮像装置は、複数の画素が2次元に配列された画素アレイと、前記複数の画素のうち第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第1変換回路と、前記第1変換回路から離れた位置に配置され、前記複数の画素のうち第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第2変換回路と、前記第2変換回路よりも前記第1変換回路に近い位置に配置され、前記第1変換回路および前記第2変換回路に第1ランプ信号を供給する第1ランプ信号発生回路と、一端が前記第1ランプ信号発生回路の出力端子に接続され、前記一端から他端に向けて前記第1変換回路の入力端子から遠ざかるように延びる部分を含む第1接続線と、一端が前記第1接続線の前記他端に接続され、他端が前記第1変換回路の前記入力端子に接続され、前記一端から他端に向けて前記第1変換回路の前記入力端子に近づくように延びる部分を含む第2接続線と、を備える。
上記構成の撮像装置によると、第1ランプ信号発生回路から第1変換回路までの電気経路の長さと、第1ランプ信号発生回路から第2変換回路までの電気経路の長さとの差を低減することができる。従って、上記構成の撮像装置によると、AD変換ゲインのばらつきを低減することができる。
また、平面視において前記第1接続線と前記第2接続線との間に位置する第1シールドをさらに備えるとしてもよい。
また、一端が前記第1接続線の前記他端に接続され、他端が前記第2変換回路の入力端子に接続される第3接続線をさらに備えるとしてもよい。
また、平面視において前記第1接続線と前記第3接続線との間に位置する第2シールドをさらに備えるとしてもよい。
また、平面視において前記第1接続線、前記第2接続線、および前記第3接続線に重なる第3シールドをさらに備えるとしてもよい。
また、一端が前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子に接続され、他端が前記第2変換回路の入力端子に接続される第3接続線をさらに備えるとしてもよい。
また、前記第2接続線の長さは、前記第3接続線の長さと等しいとしてもよい。
また、前記第3接続線の長さは、前記第1接続線および前記第2接続線の合計の長さと等しいとしてもよい。
また、前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第1変換回路の前記入力端子までの電気経路の長さは、前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第2変換回路の入力端子までの電気経路の長さと等しいとしてもよい。
また、前記第1ランプ信号発生回路と前記第1変換回路との間に接続された第1バッファ回路と、前記第1ランプ信号発生回路と前記第2変換回路との間に接続された第2バッファ回路と、をさらに備えるとしてもよい。
また、前記第1変換回路および前記第2変換回路に第2ランプ信号を供給する第2ランプ信号発生回路をさらに備え、前記第1ランプ信号および前記第2ランプ信号は合成されて前記第1変換回路および前記第2変換回路のそれぞれに入力されるとしてもよい。
また、第1の半導体基板と、前記第1の半導体基板に積層される第2の半導体基板と、を備え、前記第1の半導体基板は、前記画素アレイを含み、前記第2の半導体基板は、前記第1変換回路、前記第2変換回路、および前記第1ランプ信号発生回路を含むとしてもよい。
また、前記第1変換回路により変換されたデジタル信号と、前記第2変換回路により変換されたデジタル信号とを用いた処理を行うロジック回路をさらに備え、前記第2の半導体基板は、前記ロジック回路を含み、前記ロジック回路は、平面視において前記第1変換回路と前記第2変換回路との間に位置するとしてもよい。
また、前記画素アレイは、平面視において前記第1変換回路と前記第2変換回路との間に位置するとしてもよい。
本開示の一態様に係る撮像装置は、複数の画素が2次元に配列された画素アレイと、前記複数の画素のうち第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第1変換回路と、前記第1変換回路から離れた位置に配置され、前記複数の画素のうち第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第2変換回路と、前記第2変換回路よりも前記第1変換回路に近い位置に配置され、前記第1変換回路および前記第2変換回路に第1ランプ信号を供給する第1ランプ信号発生回路と、を備え、前記第1ランプ信号発生回路の出力端子から前記第1変換回路の入力端子までの電気経路の長さは、前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第2変換回路の入力端子までの電気経路の長さと等しい。
上記構成の撮像装置によると、第1ランプ信号発生回路から第1変換回路までの電気経路の長さと、第1ランプ信号発生回路から第2変換回路までの電気経路の長さとの差を低減することができる。従って、上記構成の撮像装置によると、AD変換ゲインのばらつきを低減することができる。
本開示の一態様に係るカメラは、上記撮像装置と、前記画素アレイに外部の光を集光するレンズと、を備える。
上記構成のカメラによると、第1ランプ信号発生回路から第1変換回路までの電気経路の長さと、第1ランプ信号発生回路から第2変換回路までの電気経路の長さとの差を低減することができる。従って、上記構成の撮像装置によると、AD変換ゲインのばらつきを低減することができる。従って、上記構成のカメラによると、AD変換ゲインのばらつきを低減することができる。
(本開示の一態様を得るに至った知見)
前述したように、シングルスロープ型アナログデジタル変換回路を搭載する撮像装置においては、特に大画面の品種において、画素アレイの出力信号をアナログデジタル変換する列AD変換回路が上下に別れて配置される構成が一般的である。この場合の構成例として、例えば、特許文献2には、AD変換に必要な参照電圧(ランプ信号)を生成するランプ信号発生回路として機能するデジタルアナログ変換回路(DAC)を、イメージセンサの上下左右に計4個配置する構成の例が開示されている。
図1は、第1の比較例に係る撮像装置1001の構成を示す模式図である。
図1に示すように、第1の比較例に係る撮像装置1001は、画素アレイ1100の列方向上側の左右に、それぞれ、DAC1030とDAC1040とを備え、画素アレイ1100の列方向下側の左右に、それぞれ、DAC1031とDAC1041とを備える。また、撮像装置1001は、画素アレイ1100の上側に、画素アレイ1100の出力であるアナログ信号をデジタル信号に変換する列AD変換回路1080を備え、画素アレイ1100の下側に、画素アレイ1100の出力であるアナログ信号をデジタル信号に変換する列AD変換回路1090を備える。
DAC1030とDAC1040とから出力されるランプ信号は、それぞれ、第1ランプ線1060と第2ランプ線1070とを通って列AD変換回路1080に入力されて電気的に合成される。列AD変換回路1080は、電気的に合成されたランプ信号を利用して、画素アレイ1100の出力であるアナログ信号をデジタル信号に変換する。これにより、列AD変換回路1080における左右の対称性を上げ、ひいては、AD変換における左右の誤差を低減している。列AD変換回路1090についても同様である。
しかしながら、列AD変換回路1080と列AD変換回路1090との上下間については、DAC1030およびDAC1040と、DAC1031およびDAC1041との間の個体差によって、AD変換における誤差が生じ得る。
図2は、第2の比較例に係る撮像装置2001の構成を模式的に示すブロック図である。
図2に示すように、2個のDAC2030およびDAC2040のそれぞれが、列AD変換回路1080と列AD変換回路1090とにランプ信号を供給する。これにより、DACの個体差に起因する、列AD変換回路1080と列AD変換回路1090との間での、AD変換における誤差を無くすことができる。
しかしながら、ランプ信号は、傾きを持つ時間変化信号(TVS:Time Variant Signal)である。そのため、DAC2030と列AD変換回路1080との間の配線経路の時定数と、DAC2030と列AD変換回路1090との間の配線経路の時定数との差が大きいと、列AD変換回路1080と列AD変換回路1090との間でAD変換における誤差が生じる。この問題は、配線経路の時定数で決まる周波数帯域が、ランプ信号の周波数帯域よりも狭い場合において顕著となる。
図3A、図3B、図3Cは、第2の比較例に係る撮像装置2001のシミュレーション結果を示す図である。図3A、図3B、図3Cにおいて、DNは、下側の列AD変換回路1090のシミュレーション結果を示し、UPは上側の列AD変換回路1080のシミュレーション結果を示す。
図3Aは、暗時のAD変換結果を示す図である。横軸は、画素アレイ1100を横方向に10分割した場合の列位置を示す。縦軸は、AD変換後の値を電子数で換算した値で表した歪みを示す。左右からランプ信号を供給している関係上、上に凸のお椀状の歪み形状を示すが、その盛り上がりが上下で異なり、下側の方が上側よりも盛り上がりが大きい。
図3Bは、上側の列AD変換回路1080のAD変換結果から、下側の列AD変換回路1090のAD変換結果を引いた上下差を示す図である。図3Bに示すように、上記上下差は、下に凸のお椀状の形状を示す。このことは、特にストリーキング特性に悪影響を及ぼす。
図3Cは、画素アレイ1100の中央部(列位置3から8の間)に明るい光を入射した場合のストリーキング特性を示す図である。具体的には、図3Cは、画素アレイ1100の中央部に明るい光を入射した場合のAD変換結果から、図3Aに示す暗時のAD変換結果を引いたCDS(Correlated Double Sampling)後の結果を示す図である。図3Cに示すように、画素アレイ1100の周辺部が0[ele]よりも浮き上がっている。特に下側の浮き上がりが大きい。これは、コスト削減要請等によりOB(Optical Black)領域補正が実装できない撮像装置では致命的な欠点となる。画素アレイ1100の周辺部の傾きは、例えば、特許文献1に開示されているように、コンパレータのキックバックによる影響である。
コンパレータのキックバックによる影響について、図4A、図4B、図4Cを用いて説明する。
図4Aは、暗時画面の模式図である。図4Bは、一部(中央部)が明るい画面の模式図その1である。図4Cは、一部(中央部)が明るい画面の模式図その2である。図4Dは、ランプ信号(RAMP)の波形とコンパレータ出力の波形とを示す模式図である。
図4Aに示す暗時画面の場合、ランプ信号の波形は図4Dの上段のプロットとなる。画素信号電圧は破線直線で表されている。図4Dで、P相期間と呼ばれる「ダウンカウント期間」で無信号状態をAD変換し、D相期間と呼ばれる「アップカウント期間」で画素信号をAD変換し、それらの差を取る(CDS動作)ことで正しい画像信号を得る。このとき、図4Aに示す暗時画面の画像は無信号と等価のため、全ゼロの真っ暗な画面が出力される。
このとき、ランプ信号は理想的な振る舞いをしない。図4Dの上段のプロットにあるように、画像信号とランプ信号との関係が反転する瞬間近辺にコンパレータが一斉に反転動作に入るために、そのキックバックの影響を受けて画像信号が歪む。暗時画像ではダウンカウント側とアップカウント側とで全ての列回路のコンパレータが同時に反転するため、歪も含めてランプ信号の波形が同一形状となる。従って、結果的にCDS後のAD変換結果に差が生じない。
しかしながら、図4Bに示す一部が明るい画面の場合はそうではない。このとき、ランプ信号の波形の応答は図4Dの下段のプロットにあるように、アップカウント側の歪み方に変化が生じる。これは、画面の一部が明るいため、その列回路に入力される画像信号が「VSL(白)」のように下がるため、暗時「VSL(黒)」で反転するコンパレータの数が少なくなり歪み方が小さくなるためである。その結果、コンパレータの判定位置が後方に遅れ、若干白い値として判定される。その結果、図4Cに示すように、白い部分の横方向周辺が白く浮く画面となる。これがストリーキングである。
なお、特許文献1には開示されていないが、ストリーキング成分自体が傾きを持つ。すなわち、白い領域に近い程キックバックが大きく、白い領域から離れる程キックバックが小さくなるためである。図3Bの周辺部の傾きは、このキックバックによるものである。
発明者は、上側の列AD変換回路1080と下側の列AD変換回路1090との間で、AD変換における誤差が生じるという問題に対し、鋭意検討、実験を行った。その結果、配線経路の時定数の差が影響することを見出した。また、この問題を解決するためには、次の2つのアプローチが有効であることを見出した。ひとつは、(1)列AD変換回路の入力端にバッファ回路を挿入するアプローチである。もうひとつは、(2)ランプ配線の時定数を均一化するアプローチである。なお、上記1つ目のアプローチは必須ではない。例えば、ランプ信号を伝達する電気経路の周波数帯域がランプ信号自身の周波数帯域と比べて同等もしくは広い場合には、必ずしも1つ目のアプローチは必要ではない。すなわち、上記2つ目のアプローチのみで効果を得ることができる。
(実施の形態1)
図5は、実施の形態1に係る撮像装置1の構成を示す模式図である。
図5に示すように、撮像装置1は、画素アレイ100と、第1ランプ信号発生回路30と、第2ランプ信号発生回路40と、第1ランプ線60と、第2ランプ線70と、第1列AD変換回路80と、第2列AD変換回路90とを備える。第1列AD変換回路80は、さらに、第1変換回路10と、第1バッファ回路51と、第3バッファ回路53とを備える。第2列AD変換回路90は、さらに、第2変換回路20と、第2バッファ回路52と、第4バッファ回路54とを備える。
画素アレイ100は、複数の画素が行列状に配置されて構成される。
第1変換回路10は、画素アレイ100を構成する複数の画素のうち第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。以下、「アナログ信号をデジタル信号に変換する」ことを、「AD変換する」と表現することもある。ここで、第1グループの画素は、例えば、画素アレイ100の奇数列(または偶数列)の画素であってもよい。第1グループの画素は、例えば、画素アレイ100の列方向における上半分の領域に配置される画素であってもよい。また、第1グループの画素からのアナログ信号を伝送する信号線は、1本であってもよいし、複数本であってもよい。ここでは、第1グループの画素は、画素アレイ100の奇数列の画素であるとし、第1グループの画素からのアナログ信号を伝送する信号は、複数本であるとする。より具体的には、アナログ信号を伝送する信号線の数は、画素アレイ100の奇数列の数と同数である。各アナログ信号は、各奇数列の画素から読み出された画素値とも呼ぶ。すなわち、ここでは、第1変換回路10は、画素アレイ100の奇数列から読み出されたアナログ信号のそれぞれをデジタル信号に変換するAD変換回路である。また、ここでは、第1変換回路10は、ランプ信号を利用してAD変換を行う、シングルスロープ型アナログデジタル変換器であるとする。図5に示すように、第1変換回路10は、平面視において、画素アレイ100の列方向における上方に配置される。
第2変換回路20は、画素アレイ100を構成する複数の画素のうち第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。ここで、第2グループの画素は、例えば、画素アレイ100の偶数列(または奇数列)の画素であってもよい。第2グループの画素は、画素アレイ100の列方向における下半分の領域に配置される画素であってもよい。また、第2グループの画素からのアナログ信号を伝送する信号線は、1本であってもよいし、複数本であってもよい。ここでは、第2グループの画素は、画素アレイ100の偶数列の画素であるとし、第2グループの画素からのアナログ信号を伝送する信号線は、複数本であるとする。より具体的には、アナログ信号を伝送する信号線の数は、画素アレイ100の偶数列の数と同数である。各アナログ信号は、各偶数列の画素から読み出された画素値とも呼ぶ。すなわち、ここでは、第2変換回路20は、画素アレイ100の偶数列から読み出されたアナログ信号のそれぞれをデジタル信号に変換するAD変換回路である。また、ここでは、画素アレイ100の奇数列の数と偶数列の数とは等しいとする。すなわち、ここでは、第1グループの画素からのアナログ信号を伝送する信号線の数と、第2グループの画素からのアナログ信号を伝送する信号線の数とが等しいとする。また、ここでは、第2変換回路20は、ランプ信号を利用してAD変換を行う、シングルスロープ型アナログデジタル変換器であるとする。図5に示すように、第2変換回路20は、画素アレイ100の平面視において、画素アレイ100の列方向における下方に配置される。すなわち、第1変換回路10と第2変換回路20とは互いに離間して配置される。また、画素アレイ100は、平面視において第1変換回路10と第2変換回路20との間に位置する。
第1ランプ信号発生回路30は、第1変換回路10と第2変換回路20とに接続され、第1変換回路10と第2変換回路20とがAD変換に利用する第1ランプ信号を出力する。より具体的には、第1ランプ信号発生回路30は、第1ランプ信号を出力する出力端子31を有し、出力端子31が、後述する第1ランプ線60と第1バッファ回路とを介して、第1変換回路10の入力端子11に接続される。また、第1ランプ信号発生回路30は、後述する第1ランプ線60と第2バッファ回路52とを介して、第2変換回路20の入力端子21に接続される。第1変換回路10は、入力端子11を1つ有する構成であってもよいし、複数有する構成であってもよい。第2変換回路20は、入力端子21を1つ有する構成であってもよいし、複数有する構成であってもよい。ここでは、第1変換回路10は、複数の入力端子11を有するとする。より具体的には、第1変換回路10は、画素アレイ100の奇数列と同数の入力端子11を有するとする。
図5に示すように、第1ランプ信号発生回路30は、平面視において、画素アレイ100の列方向における上方であって、かつ、画素アレイの行方向における左方に配置される。
第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と第1変換回路10の入力端子11とを接続する電気経路の長さは、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と第2変換回路20の入力端子21とを接続する電気経路の長さと等しくしてもよい。第1変換回路10の入力端子11および第2変換回路20の入力端子21がそれぞれ複数である場合には、(1)第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と、第1変換回路10の複数の入力端子11のうち、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31からの電気経路が最も短い入力端子11とを接続する電気経路の長さが、(2)第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と、第2変換回路20複数の入力端子21のうち、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31からの電気経路が最も短い入力端子21とを接続する電気経路の長さと等しくしてもよい。本実施の形態では、第1変換回路10が複数の入力端子11を有し、第2変換回路20が複数の入力端子21を有する構成である。また、(1)第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と、第1変換回路10の複数の入力端子11のうち、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31からの電気経路が最も短い入力端子11とを接続する電気経路の長さが、(2)第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と、第2変換回路20の複数の入力端子21のうち、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31からの電気経路が最も短い入力端子21とを接続する電気経路の長さと等しい。これにより、電気経路における時定数を実質的に等しくすることができる。ここでいう「電気経路の長さが等しい」とは、例えば、差が±20%以内であることを意味する。あるいは、例えば、差が±10%以内であることを意味してもよい。一般的なデジタルスチルカメラ用途である場合には、上記差が±20%以内であればよい。産業用カメラ等の高精度用途である場合には、上記差が10%以内であればよい。
第2ランプ信号発生回路40は、第1変換回路10と第2変換回路20とに接続され、第1変換回路10と第2変換回路20とがAD変換に利用する第2ランプ信号を出力する。より具体的には、第2ランプ信号発生回路40は、第1ランプ信号を出力する出力端子41を有し、出力端子41が、後述する第2ランプ線70と第3バッファ回路53とを介して、第1変換回路10の入力端子11に接続される。また、第2ランプ信号発生回路40は、後述する第2ランプ線70と第4バッファ回路54とを介して、第2変換回路20の入力端子21に接続される。
図5に示すように、第2ランプ信号発生回路40は、平面視において、画素アレイ100の列方向における上方であって、かつ、画素アレイの行方向における右方に配置される。
第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と第1変換回路10の入力端子11とを接続する電気経路の長さは、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と第2変換回路20の入力端子21とを接続する電気経路の長さと等しい。ここで、第1変換回路10の入力端子11と、第2変換回路20の入力端子21とが複数である場合には、(1)第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と、第1変換回路10の複数の入力端子11のうち、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41からの電気経路が最も短い入力端子11とを接続する電気経路の長さが、(2)第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と、第2変換回路20の複数の入力端子21のうち、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41からの電気経路が最も短い入力端子21とを接続する電気経路の長さと等しい。ここでは、第1変換回路10が複数の入力端子11を有し、第2変換回路20が複数の入力端子21を有する構成である。そのため、(1)第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と、第1変換回路10の複数の入力端子11のうち、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41からの電気経路が最も短い入力端子11とを接続する電気経路の長さが、(2)第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と、第2変換回路20複数の入力端子21のうち、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41からの電気経路が最も短い入力端子21とを接続する電気経路の長さと等しい
第1バッファ回路51は、第1ランプ信号発生回路30と第1変換回路10との間に接続され、第1ランプ信号をバッファリングする。
第2バッファ回路52は、第1ランプ信号発生回路30と第2変換回路20との間に接続され、第1ランプ信号をバッファリングする。
第3バッファ回路53は、第2ランプ信号発生回路40と第1変換回路10との間に接続され、第2ランプ信号をバッファリングする。
第4バッファ回路54は、第2ランプ信号発生回路40と第2変換回路20との間に接続され、第2ランプ信号をバッファリングする。
第1ランプ線60は、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31に接続され、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31から出力される第1ランプ信号を伝達する。第1ランプ線60は、第1配線60aと、第2配線60bと、第3配線60cと、第4配線60dと、第5配線60eとを含む。
第1配線60aは、一端が第1ランプ信号発生回路30の出力端子31に接続され、一端から他端に向けて第1変換回路10の入力端子11から遠ざかるように延びる部分を含む。第1配線60aの他端は、第2配線60bの一端、および、第3配線60cの一端に接続される。第1配線60aは、第1接続線を例示する。
第2配線60bは、一端が第1配線60aの他端に接続され、一端から他端に向けて第1変換回路10に近づくように延びる部分を含む。第2配線60bの他端は、第4配線60dの一端に接続される。第2配線60bの他端は、第4配線60dと第1バッファ回路51とを介して、第1変換回路10の入力端子11に接続される。第2配線60bの一端から、第4配線60dおよび第1バッファ回路51を経由して第1変換回路10の入力端子11までの電気経路は、第2接続線を例示する。
第3配線60cは、一端が第1配線60aの他端に接続され、一端から他端に向けて第2変換回路20の入力端子21に近づくように延びる部分を含む。第3配線60c他端は、第5配線60eの一端に接続される。第3配線60c他端は、第5配線60eと第2バッファ回路52とを介して、第2変換回路20の第1入力端子21に接続される。第3配線60cの一端から、第5配線60eおよび第2バッファ回路52を経由して第2変換回路20の入力端子21までの電気経路は、第3接続線を例示する。
ここで、上記した第2配線60bの一端から第1変換回路10の入力端子11までの電気経路の長さは、第3配線60cの一端から第2変換回路20の入力端子21までの電気経路の長さと等しくてもよい。ここでいう「電気経路の長さが等しい」とは、例えば、差が±20%以内であることを意味する。あるいは、例えば、差が±10%以内であることを意味してもよい。
第4配線60dは、第1ランプ線60のうち、第1列AD変換回路80内に配置された部分である。第4配線60dの一端は、第2配線60bの他端に接続される。
第5配線60eは、第1ランプ線60のうち、第2列AD変換回路90内に配置された部分である。第5配線60eの一端は、第3配線60cの他端に接続される。
第2ランプ線70は、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41に接続され、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41から出力される第2ランプ信号を伝達する。第2ランプ線70は、第1配線70aと、第2配線70bと、第3配線70cと、第4配線70dと、第5配線70eとを含む。
第1配線70aは、一端が第2ランプ信号発生回路40の出力端子41に接続され、一端から他端に向けて第1変換回路10の入力端子11から遠ざかるように延びる部分を含む。第1配線70aの他端は、第2配線70bの一端、および、第3配線70cの一端に接続される。
第2配線70bは、一端が第1配線70aの他端に接続され、一端から他端に向けて第1変換回路10に近づくように延びる部分を含む。第2配線70bの他端は、第4配線70dの一端に接続される。第2配線70bの他端は、第4配線70dと第3バッファ回路53とを介して、第1変換回路10の入力端子11に接続される。
第3配線70cは、一端が第1配線70aの他端に接続され、一端から他端に向けて第2変換回路20の入力端子21に近づくように延びる部分を含む。第3配線70c他端は、第5配線70eの一端に接続される。第3配線70c他端は、第5配線70eと第4バッファ回路54とを介して、第2変換回路20の入力端子21に接続される。
ここで、上記した第2配線70bの一端から第1変換回路10の入力端子11までの電気経路の長さは、第3配線70cの一端から第2変換回路20の入力端子21までの電気経路の長さと等しくてもよい。ここでいう「等しい」とは、例えば、差が±10%以内であることを意味する。あるいは、例えば、差が±5%以内であることを意味してもよい。
第4配線70dは、第2ランプ線70のうち、第1列AD変換回路80内に配置された部分である。第4配線70dの一端は、第2配線70bの他端に接続される。
第5配線70eは、第2ランプ線70のうち、第2列AD変換回路90内に配置された部分である。第5配線70e一端は、第3配線70cの他端に接続される。
上記構成の撮像装置1には、上述したように、上記2つのアプローチが組み合わされて盛り込まれている。以下、これら2つのアプローチの詳細について説明する。
まず、1つ目のアプローチである(1)列AD変換回路の入力端にバッファ回路を挿入するアプローチについて説明する。
図6は、ソースフォロアを用いたバッファ回路の構成例を示す回路図である。
図6に示すように、ランプ線130(ここでは、第1ランプ線60または第2ランプ線70に対応)は、コンパレータに接続される前に、NMOSトランジスタ110および電流源120で構成されるソースフォロアに入力される。
ここで、コンパレータ入力端の容量をCとし、NMOSトランジスタ110の相互コンダクタンスをgm, 出力抵抗をRds, ゲート−ドレイン間の寄生容量をCgdとし、ゲートソース間の寄生容量をGgsとすると、ソースフォロアのコンダクタンスGi=i/Viは、次式で表される。
Figure 2021087042
このとき、ソースフォロアの周波数帯域が、ランプ線130やコンパレータよりも十分に高いとすると、ソースフォロアのコンダクタンスGは、簡素化された次式で表される。
Figure 2021087042
このことは、ランプ線130(ここでは、第1ランプ線60または第2ランプ線70に対応)から見た負荷容量が、CからCgdに激減することを示す。
なお、コンパレータは、出力変動に対して応答することで、出力の変動を入力に伝えない特性がある。このことは、コンパレータのキックバックがランプ線130に伝搬しないことを表し、図4Cに示すランプ信号(RAMP)の歪みが大きく低減することを示す。
図7は、第2列AD変換回路90に、バッファ回路が挿入されている様子を示す模式図である。図7は、第2列AD変換回路90のうち、図5中の破線で示される領域Aの構成を示す模式図でもある。すなわち、図7は、第2列AD変換回路90のうち、第2列AD変換回路90に入力されるアナログ信号を伝送する1本の信号線に対応する部分の回路構成を示す模式図となっている。このため、実際の第2列AD変換回路90には、図7に示す回路構成が、アナログ信号を伝送する信号線の本数分だけ、画素アレイ100の行方向に並んで配置される。第1列AD変換回路80にもバッファ回路が挿入されている。第2列AD変換回路90のバッファ回路と、第1列AD変換回路80のバッファ回路とは同様の構成であってもよい。以下では、第2列AD変換回路90のバッファ回路について説明し、第1列AD変換回路80のバッファ回路については説明を省略する。
図7に示すように、第2バッファ回路52は、図6に代表されるバッファ回路210と、一端がバッファ回路210に接続されたキャパシタ211とを備える。第4バッファ回路54は、図6に代表されるバッファ回路220と、一端がバッファ回路220に接続されたキャパシタ221とを備える。第2変換回路20は、キャパシタ211の他端とキャパシタ221の他端とが接続される接続ノードの電圧と、第2グループの画素からのアナログ信号の電圧とを比較するコンパレータ230と、コンパレータ230の出力が接続されるカウンタ231とを備える。上記構成により、第1ランプ信号および第2ランプ信号は合成されて第2変換回路に入力される。従って、コンパレータ230は、第1ランプ信号と第2ランプ信号とが合成された信号の電圧と、アナログ信号の電圧とを比較する。すなわち、第2変換回路20は、第1ランプ信号と第2ランプ信号とが合成された信号の電圧を参照電圧として、第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。
次に、2つ目のアプローチである(2)ランプ配線の時定数を均一化するアプローチについて説明する。
図5に示すように、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31から引き出される第1ランプ線60は、まず、第1配線60aにより、画素アレイ100の列方向における中央付近まで引き出される。その後、互いに長さが等しい第2配線60bと第3配線60cとに分岐されて、それぞれ、第1列AD変換回路80と第2列AD変換回路90とに入力される。第1ランプ線60は、上記構成により、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と第1変換回路10の入力端子11とを接続する電気経路の長さと、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と第2変換回路20の入力端子21とを接続する電気経路の長さとを等しくしている。これにより、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と第1変換回路10の入力端子11とを接続する電気経路の時定数と、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31と第2変換回路20の入力端子21とを接続する電気経路の時定数とを実質的に等しくしている。
同様に、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41から引き出される第2ランプ線70は、まず、第1配線70aにより、画素アレイ100の列方向における中央付近まで引き出される。その後、互いに長さが等しい第2配線70bと第3配線70cとに分岐されて、それぞれ、第1列AD変換回路80と第2列AD変換回路90とに入力される。第2ランプ線70は、上記構成により、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と第1変換回路10の入力端子11とを接続する電気経路の長さと、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と第2変換回路20の入力端子21とを接続する電気経路の長さとを等しくしている。これにより、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と第1変換回路10の入力端子11とを接続する電気経路の時定数と、第2ランプ信号発生回路40の出力端子41と第2変換回路20の入力端子21とを接続する電気経路の時定数とを実質的に等しくしている。
図8A、図8B、図8Cは、上記2つのアプローチが組み合わされて盛り込まれている撮像装置1のシミュレーション結果を示す図である。図8A、図8B、図8Cにおいて、DNは、下側の列AD変換回路、すなわち、第2列AD変換回路90のシミュレーション結果を示し、UPは上側の列AD変換回路、すなわち、第1列AD変換回路80のシミュレーション結果を示す。
図8Aは、暗時のAD変換結果を示す図である。横軸は、画素アレイ100の列位置を示し、縦軸はAD変換後の値を示す。
図8Bは、上側の第1列AD変換回路80のAD変換後の値から、下側の第2列AD変換回路90のAD変換後の値を引いた値、すなわち上下の列AD変換回路のAD変換後の値の差を示す図である。図8Bに示すように、撮像装置1では、電気経路の時定数を上下のAD変換回路の間で等しくすることにより、AD変換後の値の差をほとんどなくせることが確認できる。これに対して、第2の比較例に係る撮像装置2001では、図3Bに示すように、上下のAD変換回路によるAD変換後の値に差があることが確認できる。
図8Cは、画素アレイ100の中央部に明るい光が入射した場合のストリーキング特性を示す図である。具体的には、図8Cは、画素アレイ1100の中央部に明るい光を入射した場合のAD変換結果から、図8Aに示す暗時のAD変換結果を引いたCDS後の結果を示す図である。図8Cに示すように、撮像装置1では、上側と下側で画素アレイ100の周辺部の浮き上がりに差はなく、均一なAD変換結果が得られていることが確認できる。さらには、バッファ回路を挿入することによるキックバック低減効果により、ストリーキング浮き量自体も大幅に減少するだけでなく、ストリーキング自体の傾きもほぼなくなり、補正をする必要のない良好な特性であることが確認できる。これに対して、第2の比較例に係る撮像装置2001では、図3Cに示すように、画素アレイ1100の周辺部が浮き上がっていること、特に下側の浮き上がりが大きいこと、および、上側と下側とで浮き上がりに差があることが確認できる。
次に、図9Aを用いて、第1ランプ線60および第2ランプ線70のレイアウト構造について説明する。第1ランプ線60のレイアウト構造と第2ランプ線70のレイアウト構造とは、同様である。このため、以下では、第1ランプ線60のレイアウト構造を説明し、第2ランプ線70のレイアウト構造については説明を省略する。
ここでは、第1ランプ線60が最上層のメタル配線である形態について説明するが、必ずしも、第1ランプ線60が最上層のメタル配線である形態に限定されない。
図9Aは、図5の破線で示される領域Bにおける第1ランプ線60を含む配線層のレイアウト構造を示す。すなわち図9Aは、第1配線60a、第2配線60b、第3配線60cを含む配線層のレイアウト構造を示す模式図である。図9Bは、第1ランプ線60を含む配線層よりも1つ下の配線層のレイアウト構造を示す模式図である。図9Cは、第1ランプ線60を含む配線層よりも2つ下の配線層のレイアウト構造を示す模式図である。
図9Aに示すように、撮像装置1は、第1配線60aと第2配線60bとの間に位置する第1シールド301と、第1配線60aと第3配線60cとの間に位置する第2シールド302とを備える。第1シールド301および第2シールド302は、第1ランプ線60と同層の配線層に含まれ、例えばメタルである。第1シールド301および第2シールド302のそれぞれは、固定電位、例えばグランド電位に接続されてもよい。
撮像装置1は、第1シールド301および第2シールド302を備えることで、第1配線60aと第2配線60bとの間の容量カップリングを分離し、第1配線60aと第3配線60cとの間の容量カップリングを分離する。これにより、第1配線60aと第2配線60bとの間の容量カップリングと、第1配線60aと第3配線60cとの間の容量カップリングとの間の非対称性を低減している。
撮像装置1は、第1ランプ線60の配線層よりも1つ下の配線層に、第3シールド303を備える。第3シールド303は、平面視において第1配線60a、第2配線60b、および、第3配線60cに重なるように配置される。第3シールドは、一部にスリットが設けられていてもよい。第3シールドは、例えばメタルであってもよい。
撮像装置1は、第1ランプ線60の配線層よりも2つ下の配線層に、第4シールド304を備えてもよい。第4シールド304は、平面視において第1配線60a、第2配線60b、および、第3配線60cに重なっていてもよい。第4シールドは、一部にスリットが設けられていてもよい。第4シールドは、例えばメタルであってもよい。第4シールド304のスリットは、平面視において、第3シールド303のスリットと重ならない位置に設けられていてもよい。
撮像装置1は、第3シールド303および第4シールド304を備える。これにより、第2配線60bと、第1ランプ線の配線層よりも2つ下の配線層よりも下に存在する物体との間の容量カップリングを分離する。また、第3配線60cと、第1ランプ線の配線層よりも2つ下の配線層よりも下に存在する物体との間の容量カップリングを分離する。すなわち、第2配線60bと、第1ランプ線の配線層よりも2つ下の配線層よりも下に存在する物体との間の容量カップリングと、第3配線60cと、第1ランプ線の配線層よりも2つ下の配線層よりも下に存在する物体との間の容量カップリングとの非対称性を低減している。
このように、撮像装置1は、第1ランプ線60と同層の配線層に、第1シールド301と第2シールド302とを備える。また撮像装置1は、第1ランプ線60の配線層の1つ下の配線層に第3シールド303を備え、第1ランプ線60の配線層の2つ下の配線層に第4シールド304を備える。これにより、第2配線60bと第3配線60cとの時定数を実質的に等しくしている。
なお、本実施の形態では、上記した2つのアプローチが組み合わされて盛り込まれている撮像装置1について説明した。しかしながら、ランプ信号を伝達する電気経路の周波数帯域がランプ信号自身の周波数帯域と比べて同等もしくは広い場合には、1つ目のアプローチである(1)列AD変換回路の入力端にバッファ回路を挿入するアプローチは必須ではない。2つ目のアプローチである(2)ランプ配線の時定数を均一化するアプローチのみで目的を達成できる場合もある。
また、本実施の形態では、第1ランプ線60の形状として図5の領域Bに示される形態について説明した。しかし、この形態に限定されない。例えば、図12に示すように、第1ランプ線60は、第3配線60cに代えて第6配線60fを備えてもよい。この場合においても、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31から第1変換回路10の入力端子11までの電気経路の長さを、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31から第2変換回路20の入力端子21までの電気経路の長さと等しくしてもよい。この形態において、第1ランプ信号発生回路30の出力端子31から、第6配線60f、第4配線60dおよび第1バッファ回路51を経由して第1変換回路10の入力端子11までの電気経路は、第3接続線を例示する。
(実施の形態2)
図10Aは、実施の形態2に係る撮像装置1Aの分解斜視図である。実施の形態1に係る撮像装置1と同様の構成要素は同じ符号で示し、詳細な説明を省略する。以下、撮像装置1との相違点を中心に説明する。
図10Aに示すように、撮像装置1Aは、第1の半導体基板410と、第2の半導体基板420と、第1の半導体基板410と第2の半導体基板420との間の第3の半導体基板430とを備える。
図10Bは、第1の半導体基板410、第2の半導体基板420および第3の半導体基板430のそれぞれの平面図を示す。
図10Aと図10Bとに示すように、第1の半導体基板410には、画素アレイ100が形成される。第2の半導体基板420には、第1変換回路10、第2変換回路20、第1ランプ信号発生回路30、第2ランプ信号発生回路40、第1バッファ回路51、第2バッファ回路52、第3バッファ回路53、第4バッファ回路54、第1ランプ線60、第2ランプ線70、および、ロジック回路421が形成される。第3の半導体基板430には、メモリ431が形成される。言い換えると、第1の半導体基板410は、画素アレイ100を含む。第2の半導体基板420は、第1変換回路10、第2変換回路20、第1ランプ信号発生回路30、第2ランプ信号発生回路40、第1バッファ回路51、第2バッファ回路52、第3バッファ回路53、第4バッファ回路54、第1ランプ線60、第2ランプ線70、および、ロジック回路421を含む。第3の半導体基板430は、メモリ431を含む。また、ロジック回路421は、平面視において第1変換回路10と第2変換回路20との間に位置していてもよい。
ロジック回路421は、第1変換回路10により変換されたデジタル信号と、第2変換回路20により変換回路により変換されたデジタル信号とを用いた処理を行う。ロジック回路421が行う処理には、例えば、撮像された画像を補正する画像処理やノイズを低減する処理が含まれていてもよく、撮像された画像から特定の情報を抽出する処理が含まれていてもよい。
メモリ431は、例えば、第1変換回路10により変換されたデジタル信号と、第2変換回路20により変換回路により変換されたデジタル信号とを記憶するフレームメモリである。第3の半導体基板430は、例えば、メモリ431の代わりに、または、メモリ431に加えて、CNN(Convolutional Neural Network)を利用したAI(Artificial Intelligence)処理を行うロジック回路を含んでもよい。
上記構成の撮像装置1Aは、ロジック回路421において、大規模な処理を実現することができる。このため、撮像装置1Aは、高画質な画像を出力することができる。
(実施の形態3)
実施の形態1に係る撮像装置1および実施の形態2に係る撮像装置1Aは、デジタルビデオカメラ、デジタルスチルカメラ等のカメラにおける、撮像デバイス(画像入力装置)として適用可能である。
以下、実施の形態1に係る撮像装置1を撮像デバイスとして適用する実施の形態3に係るカメラについて説明する。
図11は、実施の形態3に係るカメラ500の構成を示すブロック図である。実施の形態1に係る撮像装置1と同様の構成要素は同じ符号で示し説明を省略する。
図11に示すように、カメラ500は、撮像装置1と、レンズ510と、カメラ信号処理回路520と、システムコントローラ530とを備える。
レンズ510は、撮像装置1の画素アレイ100に外部からの光を集光する。
カメラ信号処理回路520は、撮像装置1からの出力信号に対して信号処理を行い、画像又はデータを外部に出力する。
システムコントローラ530は、撮像装置1とカメラ信号処理回路520とを制御する。
上記構成のカメラ500によると、撮像装置1を撮像デバイスとして適用することで、撮像デバイスにおけるAD変換ゲインのばらつきが抑制されるため、画像特性の良好なカメラを実現することができる。
(補足)
以上のように、本出願において開示する技術の例示として、実施の形態1〜実施の形態3について説明した。しかしながら、本開示による技術は、これらに限定されず、本開示の趣旨を逸脱しない限り、適宜、変更、置き換え、付加、省略等を行った実施の形態にも適用可能である。
本開示に係る撮像装置は、医療用カメラ、監視用カメラ、車載用カメラ、測距カメラなどに広く適用できる。
1、1A、1001、2001 撮像装置
10 第1変換回路
11、21 入力端子
20 第2変換回路
30 第1ランプ信号発生回路
31、41 出力端子
40 第2ランプ信号発生回路
51 第1バッファ回路
52 第2バッファ回路
53 第3バッファ回路
54 第4バッファ回路
60、1060、2060 第1ランプ線
60a、70a 第1配線
60b、70b 第2配線
60c、70c 第3配線
60d、70d 第4配線
60e、70e 第5配線
70、1070、2070 第2ランプ線
80 第1列AD変換回路
90 第2列AD変換回路
100、1100 画素アレイ
110 NMOSトランジスタ
120 電流源
130 ランプ線
210、220 バッファ回路
211、221 キャパシタ
230 コンパレータ
231 カウンタ
301 第1シールド
302 第2シールド
303 第3シールド
304 第4シールド
410 第1の半導体基板
420 第2の半導体基板
421 ロジック回路
430 第3の半導体基板
431 メモリ
500 カメラ
510 レンズ
520 カメラ信号処理装置
530 システムコントローラ
1030、1031、1040、1041、2030、2040 DAC
1061 第3ランプ線
1071 第4ランプ線

Claims (16)

  1. 複数の画素が2次元に配列された画素アレイと、
    前記複数の画素のうち第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第1変換回路と、
    前記第1変換回路から離れた位置に配置され、前記複数の画素のうち第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第2変換回路と、
    前記第2変換回路よりも前記第1変換回路に近い位置に配置され、前記第1変換回路および前記第2変換回路に第1ランプ信号を供給する第1ランプ信号発生回路と、
    一端が前記第1ランプ信号発生回路の出力端子に接続され、前記一端から他端に向けて前記第1変換回路の入力端子から遠ざかるように延びる部分を含む第1接続線と、
    一端が前記第1接続線の前記他端に接続され、他端が前記第1変換回路の前記入力端子に接続され、前記一端から他端に向けて前記第1変換回路の前記入力端子に近づくように延びる部分を含む第2接続線と、
    を備える、
    撮像装置。
  2. 平面視において前記第1接続線と前記第2接続線との間に位置する第1シールドをさらに備える、
    請求項1に記載の撮像装置。
  3. 一端が前記第1接続線の前記他端に接続され、他端が前記第2変換回路の入力端子に接続される第3接続線をさらに備える、
    請求項1または請求項2に記載の撮像装置。
  4. 平面視において前記第1接続線と前記第3接続線との間に位置する第2シールドをさらに備える、
    請求項3に記載の撮像装置。
  5. 平面視において前記第1接続線、前記第2接続線、および前記第3接続線に重なる第3シールドをさらに備える、
    請求項3または請求項4に記載の撮像装置。
  6. 一端が前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子に接続され、他端が前記第2変換回路の入力端子に接続される第3接続線をさらに備える、
    請求項1に記載の撮像装置。
  7. 前記第2接続線の長さは、前記第3接続線の長さと等しい、
    請求項3に記載の撮像装置。
  8. 前記第3接続線の長さは、前記第1接続線および前記第2接続線の合計の長さと等しい、
    請求項6に記載の撮像装置。
  9. 前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第1変換回路の前記入力端子までの電気経路の長さは、前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第2変換回路の入力端子までの電気経路の長さと等しい、
    請求項1に記載の撮像装置。
  10. 前記第1ランプ信号発生回路と前記第1変換回路との間に接続された第1バッファ回路と、
    前記第1ランプ信号発生回路と前記第2変換回路との間に接続された第2バッファ回路と、
    をさらに備える、
    請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の撮像装置。
  11. 前記第1変換回路および前記第2変換回路に第2ランプ信号を供給する第2ランプ信号発生回路をさらに備え、
    前記第1ランプ信号および前記第2ランプ信号は合成されて前記第1変換回路および前記第2変換回路のそれぞれに入力される、
    請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の撮像装置。
  12. 第1の半導体基板と、
    前記第1の半導体基板に積層される第2の半導体基板と、
    を備え、
    前記第1の半導体基板は、前記画素アレイを含み、
    前記第2の半導体基板は、前記第1変換回路、前記第2変換回路、および前記第1ランプ信号発生回路を含む、
    請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の撮像装置。
  13. 前記第1変換回路により変換されたデジタル信号と、前記第2変換回路により変換されたデジタル信号とを用いた処理を行うロジック回路をさらに備え、
    前記第2の半導体基板は、前記ロジック回路を含み、
    前記ロジック回路は、平面視において前記第1変換回路と前記第2変換回路との間に位置する、
    請求項12に記載の撮像装置。
  14. 前記画素アレイは、平面視において前記第1変換回路と前記第2変換回路との間に位置する、
    請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の撮像装置。
  15. 複数の画素が2次元に配列された画素アレイと、
    前記複数の画素のうち第1グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第1変換回路と、
    前記第1変換回路から離れた位置に配置され、前記複数の画素のうち第2グループの画素からのアナログ信号をデジタル信号に変換する第2変換回路と、
    前記第2変換回路よりも前記第1変換回路に近い位置に配置され、前記第1変換回路および前記第2変換回路に第1ランプ信号を供給する第1ランプ信号発生回路と、
    を備え、
    前記第1ランプ信号発生回路の出力端子から前記第1変換回路の入力端子までの電気経路の長さは、前記第1ランプ信号発生回路の前記出力端子から前記第2変換回路の入力端子までの電気経路の長さと等しい、
    撮像装置。
  16. 請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の撮像装置と、
    前記画素アレイに外部の光を集光するレンズと、
    を備える、
    カメラ。
JP2019212884A 2019-11-26 2019-11-26 撮像装置およびカメラ Active JP7407416B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019212884A JP7407416B2 (ja) 2019-11-26 2019-11-26 撮像装置およびカメラ
US17/088,692 US11490043B2 (en) 2019-11-26 2020-11-04 Imaging device and camera

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019212884A JP7407416B2 (ja) 2019-11-26 2019-11-26 撮像装置およびカメラ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021087042A true JP2021087042A (ja) 2021-06-03
JP7407416B2 JP7407416B2 (ja) 2024-01-04

Family

ID=75975265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019212884A Active JP7407416B2 (ja) 2019-11-26 2019-11-26 撮像装置およびカメラ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11490043B2 (ja)
JP (1) JP7407416B2 (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003259235A (ja) * 2002-02-28 2003-09-12 Canon Inc 撮像装置
JP2007019682A (ja) * 2005-07-06 2007-01-25 Sony Corp Ad変換装置並びに半導体装置
WO2015060143A1 (ja) * 2013-10-21 2015-04-30 ソニー株式会社 固体撮像素子および電子機器
WO2015079597A1 (ja) * 2013-11-29 2015-06-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 固体撮像装置及び撮像装置
JP2017183659A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 ソニー株式会社 固体撮像素子、撮像装置、および電子機器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014239289A (ja) 2013-06-06 2014-12-18 ソニー株式会社 Ad変換器、信号処理方法、固体撮像装置、および電子機器
JP6386722B2 (ja) 2013-11-26 2018-09-05 キヤノン株式会社 撮像素子、撮像装置及び携帯電話機
JP6454490B2 (ja) 2014-07-17 2019-01-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及びランプ信号の制御方法
WO2016013413A1 (ja) 2014-07-25 2016-01-28 ソニー株式会社 固体撮像素子、ad変換器、および電子機器
JP6499006B2 (ja) 2015-05-07 2019-04-10 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置
JP6758952B2 (ja) 2016-06-28 2020-09-23 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像システム
JP6976798B2 (ja) 2017-09-29 2021-12-08 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、移動体、回路チップ
JP2019153987A (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置及び撮像装置の信号処理方法、並びに、電子機器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003259235A (ja) * 2002-02-28 2003-09-12 Canon Inc 撮像装置
JP2007019682A (ja) * 2005-07-06 2007-01-25 Sony Corp Ad変換装置並びに半導体装置
WO2015060143A1 (ja) * 2013-10-21 2015-04-30 ソニー株式会社 固体撮像素子および電子機器
WO2015079597A1 (ja) * 2013-11-29 2015-06-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 固体撮像装置及び撮像装置
JP2017183659A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 ソニー株式会社 固体撮像素子、撮像装置、および電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
JP7407416B2 (ja) 2024-01-04
US20210160449A1 (en) 2021-05-27
US11490043B2 (en) 2022-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9485447B2 (en) Reduced size image pickup apparatus retaining image quality
KR102277597B1 (ko) 촬상 장치, 전자 기기
US7852393B2 (en) Photoelectric conversion apparatus and image sensing system using the same
US9420208B2 (en) Driving method for image pickup apparatus and driving method for image pickup system
CN106464819B (zh) 信号处理器件、控制方法、图像传感器件和电子设备
JP6442711B2 (ja) 固体撮像装置及び撮像装置
US9071783B2 (en) Solid-state imaging device and manufacturing method
US9204066B2 (en) Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and solid-state imaging system using connectable reference signal output pixels
US20110234871A1 (en) Solid-state imaging device
US10446595B2 (en) Solid-state imaging device
US20190043913A1 (en) Image sensor and image capture device
US20160028978A1 (en) Imaging apparatus
JP2013157889A (ja) 光電変換装置および撮像システム
US9153617B2 (en) Imaging apparatus, and imaging system
CN104869333B (zh) 电流镜、控制方法和图像传感器
US20220247965A1 (en) Photoelectric conversion device and electronic device
US20220303486A1 (en) Photoelectric conversion device, electronic device, and substrate
JP6702869B2 (ja) イメージセンサ、電子機器、及び、制御方法
JP7407416B2 (ja) 撮像装置およびカメラ
JP7175712B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体
US20200045258A1 (en) Image sensor, control method thereof, and image capturing apparatus
KR20140107212A (ko) 고체 촬상 소자 및 그 구동 방법, 카메라 시스템
JP2017011346A (ja) 撮像装置及び撮像システム
US20160156870A1 (en) Solid-state imaging device
WO2019194266A1 (ja) 横筋ノイズを低減する固体撮像装置及びその駆動方法並びに電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220914

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230609

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230620

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230817

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231114

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231211

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7407416

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151