JP2020122803A5 - 粒子測定システム及び粒子測定方法 - Google Patents
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Claims (29)
- 粒子からの光を検出する検出部と、
予め設定された所定の加電圧係数に応じて前記検出部を制御する情報処理部と、
前記所定の加電圧係数と前記検出部で検出された値とを記憶する記憶部と、
からなり、
前記所定の加電圧係数は、前記検出部が蛍光基準粒子から検出した出力パルスの特徴量に基づき設定される、粒子測定システム。 - 前記所定の加電圧係数は、前記検出部が蛍光基準粒子から検出した出力パルスの特徴量と前記出力パルスの特徴量が検出された際の前記検出部の制御信号とに基づき設定される、請求項１に記載の粒子測定システム。
- 前記記憶部は、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を記憶する、請求項２に記載の粒子測定システム。
- 前記記憶部は、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を三次関数として記憶する、請求項３に記載の粒子測定システム。
- 前記情報処理部は、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と、前記検出部の制御信号との関係を特定する、請求項３又は４に記載の粒子測定システム。
- 前記情報処理部は、前記特定された制御信号で前記検出部を制御する、請求項５に記載の粒子測定システム。
- 前記出力パルスの特徴量は、前記検出部の制御信号に依存する値である、請求項６に記載の粒子測定システム。
- 前記検出部は、複数の検出器からなる、請求項１から７のいずれか一項に記載の粒子測定システム。
- 前記複数の検出器に対して、同一の前記所定の加電圧係数を設定する、請求項８に記載の粒子測定システム。
- 前記複数の検出器間で出力差を有する、請求項８又は９に記載の粒子測定システム。
- 前記記憶部は、前記複数の検出器それぞれに対して前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を記憶し、
前記情報処理部は、前記設定された所定の加電圧係数に対して、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係に基づき前記複数の検出器それぞれに対応する制御信号を特定し、前記特定された制御信号で前記複数の検出器それぞれを制御する、請求項８から１０のいずれか一項に記載の粒子測定システム。 - 前記出力パルスの特徴量は、出力パルスの高さ、又は出力パルスの面積である、請求項１から１１のいずれか一項に記載の粒子測定システム。
- 前記出力パルスの特徴量は、出力パルスの高さである、請求項１から１２のいずれか一項に記載の粒子測定システム。
- 前記所定の加電圧係数は、ユーザーによって設定される、請求項１から１３のいずれか一項に記載の粒子測定システム。
- 前記記憶部は、前記検出部及び／又は前記情報処理部と、ネットワークを介して接続されている、請求項１から１４のいずれか一項に記載の粒子測定システム。
- 粒子からの光を検出部により検出する検出工程と、
予め設定された所定の加電圧係数に応じて前記検出部を制御する情報処理工程と、
前記所定の加電圧係数と前記検出部で検出された値とを記憶する記憶工程と、
からなり、
前記所定の加電圧係数は、前記検出部が蛍光基準粒子から検出した出力パルスの特徴量に基づき設定される、粒子測定方法。 - 前記所定の加電圧係数は、前記検出部が蛍光基準粒子から検出した出力パルスの特徴量と前記出力パルスの特徴量が検出された際の前記検出部の制御信号とに基づき設定される、請求項１６に記載の粒子測定方法。
- 前記記憶工程では、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を記憶する、請求項１７に記載の粒子測定方法。
- 前記記憶工程では、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を三次関数として記憶する、請求項１８に記載の粒子測定方法。
- 前記情報処理工程では、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と、前記検出部の制御信号との関係を特定する、請求項１８又は１９に記載の粒子測定方法。
- 前記情報処理部は、前記特定された制御信号で前記検出部を制御する、請求項２０に記載の粒子測定方法。
- 前記出力パルスの特徴量は、前記検出部の制御信号に依存する値である、請求項２１に記載の粒子測定方法。
- 前記検出部は、複数の検出器からなる、請求項１６から２２のいずれか一項に記載の粒子測定方法。
- 前記複数の検出器に対して、同一の前記所定の加電圧係数を設定する、請求項２３に記載の粒子測定方法。
- 前記複数の検出器間で出力差を有する、請求項２３又は２４に記載の粒子測定方法。
- 前記記憶工程では、前記複数の検出器それぞれに対して前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を記憶し、
前記情報処理工程では、前記設定された所定の加電圧係数に対して、前記出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係に基づき前記複数の検出器それぞれに対応する制御信号を特定し、前記特定された制御信号で前記複数の検出器それぞれを制御する、請求項２３から２５のいずれか一項に記載の粒子測定方法。 - 前記出力パルスの特徴量は、出力パルスの高さ、又は出力パルスの面積である、請求項１６から２６のいずれか一項に記載の粒子測定方法。
- 前記出力パルスの特徴量は、出力パルスの高さである、請求項１６から２７のいずれか一項に記載の粒子測定方法。
- 前記所定の加電圧係数は、ユーザーによって設定される、請求項１６から２８のいずれか一項に記載の粒子測定方法。
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