JP2019117171A

JP2019117171A - Inspection device, inspection system, method for inspection, and program

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Publication number: JP2019117171A
Application number: JP2017252554A
Authority: JP
Inventors: 尚也石鍋; Naoya Ishinabe; 清人田中; Kiyoto Tanaka
Original assignee: Nireco Corp
Current assignee: Nireco Corp
Priority date: 2017-12-27
Filing date: 2017-12-27
Publication date: 2019-07-18
Anticipated expiration: 2037-12-27
Also published as: JP6379410B1

Abstract

To detect defects accurately even if meandering, expansion, or shrinkage has been generated in a printed material.SOLUTION: The inspection device includes: a positional correcting operation unit, which divides an inspection image to be a target of an inspection into a plurality of regions and performs a pattern matching on each region and a reference image to determine the area of the reference image which corresponds to each region; and an inspection unit, which compares each region of the inspection image formed by dividing the inspection image and each area of the reference image corresponding to each region to detect a defect in the inspection image.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、検査装置、検査システム、検査方法、およびプログラムに関する。 The present invention relates to an inspection apparatus, an inspection system, an inspection method, and a program.

繰り返し連続印刷された同一絵柄を検査する印刷物検査装置において、基準画像にフィルタをかけて、検査画像と比較することにより、検査画像に存在する欠陥を検出する技術がある（例えば、特許文献１参照）。 In a printed matter inspection apparatus for inspecting the same pattern that has been repeatedly and continuously printed, there is a technique for detecting a defect present in an inspection image by applying a filter to a reference image and comparing it with the inspection image (for example, see Patent Document 1) ).

特開平１１−１４２３５０号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-142350

しかしながら、特許文献１に記載の技術では、印刷物の蛇行や伸縮等により基準画像と検査画像のズレ量がフィルタサイズを超えた場合、絵柄のエッジ部分で誤検出をしてしまうという課題がある。 However, in the technique described in Patent Document 1, there is a problem that when the shift amount between the reference image and the inspection image exceeds the filter size due to the meandering or expansion or contraction of the printed matter, false detection is performed at the edge portion of the pattern.

本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、印刷物に蛇行や伸縮等が生じた場合であっても、精度良く欠陥を検出することができる検査装置、検査システム、検査方法、およびプログラムを提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of the above-described points, and an inspection apparatus, an inspection system, an inspection method, and the like which can detect a defect with high accuracy even when the printed matter is meandered or expanded or contracted. The task is to provide a program.

（１）本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、本発明の一態様は、検査対象となる検査画像を複数の領域に分割し、分割した領域毎に基準画像とパターンマッチングを行うことにより、各領域それぞれに対応する前記基準画像の領域を決定する位置補正演算部と、分割した前記検査画像の各領域と、当該領域に対応する前記基準画像の各領域とをそれぞれ比較することにより、前記検査画像にある欠陥を検出する検査部と、を備える検査装置である。 (1) The present invention has been made to solve the above-described problems, and one aspect of the present invention divides an inspection image to be inspected into a plurality of areas, and generates a reference image and a pattern for each divided area. A position correction operation unit that determines the area of the reference image corresponding to each area by performing matching, each area of the divided inspection image, and each area of the reference image corresponding to the area And an inspection unit configured to detect a defect in the inspection image by comparison.

（２）また、本発明の一態様は、（１）に記載の検査装置であって、同一絵柄が繰り返し連続印刷された検査対象物を順次撮像するカメラが撮像した画像を順次記憶する記憶部を備え、前記位置補正演算部は、前記基準画像とパターンマッチングすることにより、前記記憶部が記憶する前記検査画像の開始位置を補正する。 (2) Moreover, one aspect of this invention is an inspection apparatus as described in (1), Comprising: The memory | storage part which memorize | stores sequentially the image which the camera which images the inspection target object which the same pattern repeatedly printed continuously is imaged one by one The position correction operation unit corrects the start position of the inspection image stored in the storage unit by performing pattern matching with the reference image.

（３）また、本発明の一態様は、（１）または（２）に記載の検査装置であって、前記位置補正演算部は、専用のプロセッサによりパターンマッチングを実行し、前記位置補正演算部による実行結果を、記憶している画像のアドレスに変換するアドレス変換部を備える。 (3) Further, one aspect of the present invention is the inspection apparatus according to (1) or (2), wherein the position correction operation unit executes pattern matching by a dedicated processor, and the position correction operation unit And an address conversion unit that converts an execution result of the above into an address of a stored image.

（４）また、本発明の一態様は、（１）から（３）いずれかに記載の検査装置であって、前記位置補正演算部は、前記基準画像に対する前記検査画像のずれの大きさに応じて分割数を決定する。 (4) Further, one aspect of the present invention is the inspection apparatus according to any one of (1) to (3), wherein the position correction operation unit determines the size of deviation of the inspection image with respect to the reference image. Determine the number of divisions accordingly.

（５）また、本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、本発明の一態様は、同一絵柄が繰り返し連続印刷された検査対象物を順次撮像するカメラと、検査装置とを備える検査システムであって、前記検査装置は、前記カメラが撮像した検査対象となる検査画像を複数の領域に分割し、分割した領域毎に基準画像とパターンマッチングを行うことにより、各領域それぞれに対応する前記基準画像の領域を決定する位置補正演算部と、分割した前記検査画像の各領域と、当該領域に対応する前記基準画像の各領域とをそれぞれ比較することにより、前記検査画像にある欠陥を検出する検査部と、を備える検査システムである。 (5) Further, the present invention is made to solve the above-mentioned problems, and one aspect of the present invention is a camera for sequentially imaging an inspection object on which the same pattern is repeatedly printed continuously, and an inspection apparatus The inspection apparatus divides an inspection image to be an inspection object captured by the camera into a plurality of areas, and performs pattern matching with the reference image for each of the divided areas, thereby each area By comparing each of the divided areas of the inspection image with each of the areas of the reference image corresponding to the area, the position correction operation unit for determining the area of the reference image corresponding to And an inspection unit that detects a certain defect.

（６）また、本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、本発明の一態様は、コンピュータが、検査対象となる検査画像を複数の領域に分割し、分割した領域毎に基準画像とパターンマッチングを行うことにより、各領域それぞれに対応する前記基準画像の領域を決定する位置補正演算過程と、分割した前記検査画像の各領域と、当該領域に対応する前記基準画像の各領域とをそれぞれ比較することにより、前記検査画像にある欠陥を検出する検査過程と、を有する検査方法である。 (6) In addition, the present invention is made to solve the above-described problems, and one aspect of the present invention is that the computer divides the inspection image to be inspected into a plurality of regions and divides each region Position-correcting operation process of determining the area of the reference image corresponding to each area by performing pattern matching with the reference image, the area of the divided inspection image and the area of the reference image corresponding to the area And D. an inspection process for detecting a defect present in the inspection image by comparing each area with each other.

（７）また、本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、本発明の一態様は、コンピュータが、検査対象となる検査画像を複数の領域に分割し、分割した領域毎に基準画像とパターンマッチングを行うことにより、各領域それぞれに対応する前記基準画像の領域を決定する位置補正演算ステップと、分割した前記検査画像の各領域と、当該領域に対応する前記基準画像の各領域とをそれぞれ比較することにより、前記検査画像にある欠陥を検出する検査ステップと、を実行するためのプログラムである。 (7) Further, the present invention is made to solve the above-described problems, and one aspect of the present invention is that the computer divides the inspection image to be inspected into a plurality of regions and divides each region Position-correcting operation step of determining the area of the reference image corresponding to each area by performing pattern matching with the reference image, each area of the divided inspection image and the area of the reference image corresponding to the area A program for performing an inspection step of detecting a defect in the inspection image by comparing each region with each other.

本発明によれば、印刷物に蛇行や伸縮等が生じた場合であっても、精度良く欠陥を検出することができる。 According to the present invention, it is possible to detect a defect with high accuracy even when meandering or stretching occurs in a printed matter.

本発明の実施形態に係る検査システムの構成の一例を示すシステム構成図である。It is a system configuration figure showing an example of composition of an inspection system concerning an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る情報処理装置のハードウェア構成の一例を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the hardware constitutions of the information processing apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る検査装置のハードウェア構成の一例を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram showing an example of the hardware constitutions of the inspection device concerning the embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る検査装置における画像の格納方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the storing method of the image in the test | inspection apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る基準画像と検査画像とのズレの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the shift | offset | difference of the reference | standard image and test | inspection image which concern on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る基準画像と検査画像との比較領域を示す図である。It is a figure which shows the comparison area | region of the reference | standard image and test | inspection image which concern on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る検査装置が生成する欠陥画像の一例を示す説明図である。It is an explanatory view showing an example of a defective picture which an inspection device concerning an embodiment of the present invention generates. 本発明の実施形態に係る検査装置が実行する検査処理の一例を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows an example of inspection processing which an inspection device concerning an embodiment of the present invention performs.

（実施形態）
以下、図面を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。
図１は、本発明の実施形態に係る検査システム１の構成の一例を示すシステム構成図である。
検査システム１は、情報処理装置１０と、検査装置２０と、ラインカメラ３０と、測長エンコーダ４０と、ラベラ５０と、を含んで構成される。検査システム１は、同一絵柄（以下、「レピート」と称する。）が繰り返し連続印刷された印刷物Ｔ（以下、「検査対象物Ｔ」と称する。）の汚れや文字欠けなどの欠陥を検出するシステムである。検査対象物Ｔは、例えば、伸縮するフィルムなどのシート状印刷物等である。情報処理装置１０、ラインカメラ３０、測長エンコーダ４０及びラベラ５０と検査装置２０とは、有線又は無線により接続されている。 (Embodiment)
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a system configuration diagram showing an example of the configuration of an inspection system 1 according to an embodiment of the present invention.
The inspection system 1 includes an information processing apparatus 10, an inspection apparatus 20, a line camera 30, a length measuring encoder 40, and a labeler 50. The inspection system 1 is a system for detecting a defect such as dirt or missing of a printed matter T (hereinafter, referred to as “inspection object T”) on which the same pattern (hereinafter, referred to as “repeat”) is repeatedly printed continuously. It is. The inspection object T is, for example, a sheet-like printed material such as a film which expands and contracts. The information processing apparatus 10, the line camera 30, the length measuring encoder 40, the labeler 50, and the inspection apparatus 20 are connected by wire or wirelessly.

情報処理装置１０は、例えば、パーソナルコンピュータやタブレット端末やスマートフォン等の少なくとも表示部と入力部とを備える電子機器である。情報処理装置１０は、検査システム１を操作するための操作画面を表示してユーザからの操作入力を受け付ける。操作画面には、検査対象物Ｔに関する情報（例えば、レピートの長さであるレピート長や、検査幅等）の入力欄や、検査の開始を指示する検査開始ボタン等が配置されている。情報処理装置１０は、操作画面において検査開始ボタンが入力を受け付けると、検査の開始を指示する検査開始信号を検査装置２０に出力する。検査開始信号には、操作画面において入力された情報が含まれる。 The information processing apparatus 10 is an electronic device including, for example, at least a display unit and an input unit such as a personal computer, a tablet terminal, and a smartphone. The information processing apparatus 10 displays an operation screen for operating the inspection system 1 and receives an operation input from a user. On the operation screen, an input field for information on the inspection object T (for example, repeat length which is the length of the repeat, inspection width and the like), an inspection start button for instructing the start of the inspection, and the like are arranged. When the examination start button receives an input on the operation screen, the information processing apparatus 10 outputs an examination start signal instructing the start of the examination to the examination apparatus 20. The inspection start signal includes the information input on the operation screen.

また、情報処理装置１０は、検査の結果を表示する。例えば、情報処理装置１０は、検査対象物Ｔに欠陥がある場合には、欠陥部分の画像である欠陥画像を表示して、ブザー（音）を出力する。また、情報処理装置１０は、欠陥画像をファイルに保存する。 Further, the information processing apparatus 10 displays the result of the examination. For example, when the inspection object T has a defect, the information processing apparatus 10 displays a defect image which is an image of the defect portion and outputs a buzzer (sound). Further, the information processing apparatus 10 stores the defect image in a file.

ラインカメラ３０は、流れ方向ｆに向かって流れてくる検査対象物Ｔを１ライン毎に順次撮像し、撮像した画像を検査装置２０に出力する。以下、流れ方向ｆを前方とし、その逆方向を後方とする。また、流れ方向ｆを縦方向として縦横方向を定める。測長エンコーダ４０は、流れ方向ｆにおいてラインカメラ３０の直後に設置され、検査対象物Ｔがラインカメラ３０を通過した長さを測定する。例えば、測長エンコーダ４０は、一定の長さ毎にパルス信号を検査装置２０に出力する。 The line camera 30 sequentially captures the inspection object T flowing in the flow direction f line by line, and outputs the captured image to the inspection apparatus 20. Hereinafter, the flow direction f is assumed to be forward, and the opposite direction is assumed to be backward. Further, the longitudinal direction is defined with the flow direction f as the vertical direction. The length measuring encoder 40 is installed immediately after the line camera 30 in the flow direction f, and measures the length of the inspection object T passing through the line camera 30. For example, the length measurement encoder 40 outputs a pulse signal to the inspection device 20 every fixed length.

ラベラ５０は、流れ方向ｆにおいて、ラインカメラ３０及び測長エンコーダ４０より後方に設置され、検査対象物Ｔの欠陥部分にラベルを貼付する。 The labeler 50 is disposed rearward of the line camera 30 and the length measurement encoder 40 in the flow direction f, and applies a label to a defective portion of the inspection object T.

検査装置２０は、例えば、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）とＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−ＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＧａｔｅＡｒｒａｙ）とを備える画像処理ボードを有する画像処理装置である。検査装置２０は、メモリ部２１と、位置補正演算部２２と、アドレス変換部２３と、検査部２４と、欠陥生成部２５とを備える。 The inspection apparatus 20 is, for example, an image processing apparatus having an image processing board provided with a central processing unit (CPU) and a field-programmable gate array (FPGA). The inspection apparatus 20 includes a memory unit 21, a position correction operation unit 22, an address conversion unit 23, an inspection unit 24, and a defect generation unit 25.

メモリ部２１は、メモリ２１１（記憶部）を備え、情報処理装置１０から検査開始信号が入力されると、ラインカメラ３０から入力される１ライン毎の画像をメモリ２１１にあるリングバッファに順次格納する。また、メモリ部２１は、画像の格納を開始したリングバッファのアドレスを基準となる基準画像の先頭アドレスとして保持する。メモリ部２１は、測長エンコーダ４０から入力されるパルス数のカウントが設定値を超える度にリングバッファのアドレスを進める。当該設定値は、ラインカメラ３０が撮像する１ラインの画像に相当する値である。そして、メモリ部２１は、基準画像の先頭アドレスからのライン数が、操作画面において設定されたレピート長（設定レピート長とも称する）に達した時のアドレスを、検査対象となる検査画像の先頭アドレスとして保持する。その後、メモリ部２１は、検査画像の先頭アドレスからのライン数がレピート長（測定レピート長とも称する）に達すると、基準画像と検査画像と基準画像の先頭アドレスと検査画像の先頭アドレスとレピート長とを位置補正演算部２２に出力する。 The memory unit 21 includes a memory 211 (storage unit), and when an inspection start signal is input from the information processing apparatus 10, images for each line input from the line camera 30 are sequentially stored in a ring buffer in the memory 211. Do. In addition, the memory unit 21 holds the address of the ring buffer that has started storing the image as the start address of the reference image that is the reference. The memory unit 21 advances the address of the ring buffer each time the count of the number of pulses input from the length measurement encoder 40 exceeds the set value. The setting value is a value corresponding to an image of one line captured by the line camera 30. Then, the memory unit 21 sets the address when the number of lines from the start address of the reference image reaches the repeat length set on the operation screen (also referred to as a set repeat length) as the start address of the inspection image to be inspected. Hold as. Thereafter, when the number of lines from the start address of the inspection image reaches the repeat length (also referred to as the measurement repeat length), the memory unit 21 generates the reference image, the inspection image, the start address of the reference image, and the start address and repeat length of the inspection image. And the position correction calculation unit 22.

位置補正演算部２２は、メモリ２２１を備え、メモリ部２１から入力されたデータをメモリ２２１に格納する。メモリ２２１には、メモリ部２１のメモリ２１１と同一のデータが格納される。位置補正演算部２２は、メモリ部２１から入力された基準画像の先頭アドレスに格納された画像と検査画像の先頭アドレスに格納された画像とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、流れ方向のズレ量から検査画像の先頭アドレスを前後にずらす。ここで、位置補正演算部２２は、位相限定相関法によるパターンマッチングをする際には、専用プロッセサによる並列処理を行い、処理を高速化する。 The position correction operation unit 22 includes a memory 221, and stores data input from the memory unit 21 in the memory 221. The memory 221 stores the same data as the memory 211 of the memory unit 21. The position correction operation unit 22 performs pattern matching based on the phase-only correlation method on the image stored at the start address of the reference image input from the memory unit 21 and the image stored at the start address of the inspection image. The start address of the inspection image is shifted back and forth from the shift amount. Here, when performing the pattern matching by the phase only correlation method, the position correction operation unit 22 performs parallel processing by a dedicated processor to speed up the processing.

その後、位置補正演算部２２は、基準画像の後半部分と検査画像の後半部分とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、基準画像の終了位置と検査画像の終了位置とのズレ量の大きさを算出する。位置補正演算部２２は、算出したズレ量に応じて、検査画像を分割する分割数を決定する。例えば、位置補正演算部２２は、ズレ量が大きいほど分割数を多くする。 Thereafter, the position correction operation unit 22 performs pattern matching by the phase limited correlation method on the second half of the reference image and the second half of the inspection image, and the size of the amount of deviation between the end position of the reference image and the end position of the inspection image Calculate The position correction operation unit 22 determines the number of divisions for dividing the inspection image according to the calculated amount of displacement. For example, the position correction operation unit 22 increases the number of divisions as the amount of deviation is larger.

そして、位置補正演算部２２は、決定した分割数の領域に検査画像及び基準画像を分割する。位置補正演算部２２は、分割した領域毎に基準画像と検査画像とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、検査画像の領域毎に基準画像との縦横のズレ量を格納したテーブルを生成する。位置補正演算部２２は、生成したテーブルをアドレス変換部２３に出力する。 Then, the position correction operation unit 22 divides the inspection image and the reference image into areas of the determined number of divisions. The position correction operation unit 22 performs pattern matching based on the phase limited correlation method between the reference image and the inspection image for each of the divided regions, and generates a table storing longitudinal and lateral displacement amounts with respect to the reference image for each region of the inspection image. . The position correction operation unit 22 outputs the generated table to the address conversion unit 23.

なお、位置補正演算部２２は、基準画像の後半部分と検査画像の後半部分とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、基準画像の終了位置と検査画像の終了位置とのズレ量の大きさを算出することに加えて、または代えて基準画像の後半部分と検査画像の後半部分とで回転不変位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、基準画像の終了位置と検査画像の終了位置とのズレ量の大きさを算出してもよい。回転不変位相限定相関法は、位相限定相関法によるマッチングで算出される縦横のズレ量に加え、回転とスケール（拡大・縮小率）とを算出できる。具体的には、位置補正演算部２２は、位相限定相関法により縦横のズレ量の大きさを算出し、算出した縦横のズレ量の大きさを回転角とスケールに変換する。そして、位置補正演算部２２は、変換した回転角、スケールと、アフィン変換とを用いて、スケールが生じていない画像を生成し、該画像に対して位相限定相関法によるパターンマッチングを行うことで縦横方向のズレ量を算出する。
このように、位相限定相関法によるパターンマッチングに加えて、または代えて回転不変位相限定相関法によるパターンマッチングを行うことで、検査画像の回転やスケールを算出することができ、検査精度を向上させることができる。 The position correction operation unit 22 performs pattern matching based on the phase limited correlation method on the second half of the reference image and the second half of the inspection image, and the size of the amount of deviation between the end position of the reference image and the end position of the inspection In addition to or instead of calculating the pattern matching by the rotation invariant phase only correlation method between the second half of the reference image and the second half of the inspection image, the difference between the end position of the reference image and the end position of the inspection image The magnitude of the quantity may be calculated. The rotation invariant phase only correlation method can calculate rotation and a scale (enlargement / reduction ratio) in addition to the longitudinal and lateral deviation amounts calculated by matching by the phase only correlation method. Specifically, the position correction operation unit 22 calculates the magnitude of the longitudinal and lateral displacement amounts by the phase limited correlation method, and converts the magnitudes of the calculated longitudinal and lateral displacement amounts into a rotation angle and a scale. Then, the position correction operation unit 22 generates an unscaled image using the converted rotation angle, scale, and affine transformation, and performs pattern matching based on the phase limited correlation method on the image. Calculate the amount of misalignment in the vertical and horizontal directions.
Thus, the rotation and scale of the inspection image can be calculated by performing pattern matching by the rotation invariant phase only correlation method in addition to or instead of the pattern matching by the phase only correlation method, and the inspection accuracy is improved. be able to.

アドレス変換部２３は、位置補正演算部２２から入力されたテーブルに基づいて、メモリ２１１における、検査画像を分割した各領域のアドレスと、当該各領域に対応する基準画像の各領域のアドレスとを補正する。そして、アドレス変換部２３は、補正したアドレスを含む検査開始コマンドを検査部２４に出力する。 The address conversion unit 23 calculates the address of each area obtained by dividing the inspection image in the memory 211 and the address of each area of the reference image corresponding to each area based on the table input from the position correction operation unit 22. to correct. Then, the address conversion unit 23 outputs an inspection start command including the corrected address to the inspection unit 24.

検査部２４は、分割した領域毎に基準画像と検査画像とを先頭アドレスから順次比較検査し、検査画像にある欠陥を検出する。このとき、検査部２４は、アドレス変換部２３から入力されたアドレスを参照して、検査画像の各領域に対応する基準画像の各領域を決定する。検査部２４は、検査結果を欠陥生成部２５に出力する。 The inspection unit 24 sequentially compares and inspects the reference image and the inspection image from the top address for each divided area, and detects a defect in the inspection image. At this time, the inspection unit 24 refers to the address input from the address conversion unit 23 to determine each area of the reference image corresponding to each area of the inspection image. The inspection unit 24 outputs the inspection result to the defect generation unit 25.

欠陥生成部２５は、検査結果に基づいて、重要度の高い欠陥から順に並べ替えた後、欠陥を撮像した欠陥画像を生成し、情報処理装置１０に出力する。また、欠陥生成部２５は、検査結果に基づいて、検査対象物の欠陥をトラッキングし、重要度の高い欠陥がラベラ５０の位置まできたときに、ラベラ５０にラベルを貼付させる。 The defect generation unit 25 rearranges the defects in descending order of importance based on the inspection result, generates a defect image obtained by imaging the defects, and outputs the generated defect image to the information processing apparatus 10. In addition, the defect generation unit 25 tracks the defect of the inspection object based on the inspection result, and applies the label to the labeler 50 when the defect having a high degree of importance reaches the position of the labeler 50.

図２は、本発明の第１の実施形態に係る情報処理装置１０のハードウェア構成の一例を示す概略ブロック図である。
情報処理装置１０は、ＣＰＵ１０１と、記憶媒体インタフェース部１０２と、記憶媒体１０３と、入力部１０４と、出力部１０５と、ＲＯＭ１０６（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）と、ＲＡＭ１０７（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）と、補助記憶部１０８と、インタフェース部１０９と、を備える。ＣＰＵ１０１と、記憶媒体インタフェース部１０２と、入力部１０４と、出力部１０５と、ＲＯＭ１０６と、ＲＡＭ１０７と、補助記憶部１０８と、インタフェース部１０９とは、バスを介して相互に接続される。
なお、ここで言うＣＰＵ１０１は、プロセッサ一般のことを示すものであって、狭義のいわゆるＣＰＵと呼ばれるデバイスのことだけではなく、例えばＧＰＵ（ＧｒａｐｈｉｃｓＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）やＤＳＰ（ＤｉｇｉｔａｌＳｉｇｎａｌＰｒｏｃｅｓｓｏｒ）等も含む。また、ここで言うＣＰＵ１０１は、一つのプロセッサで実現されることに限られず、同じ、または異なる種類の複数のプロセッサを組み合わせることで実現されてもよい。 FIG. 2 is a schematic block diagram showing an example of the hardware configuration of the information processing apparatus 10 according to the first embodiment of the present invention.
The information processing apparatus 10 includes a CPU 101, a storage medium interface unit 102, a storage medium 103, an input unit 104, an output unit 105, a ROM 106 (Read Only Memory), a RAM 107 (Random Access Memory), and an auxiliary storage unit. And an interface unit 109. The CPU 101, the storage medium interface unit 102, the input unit 104, the output unit 105, the ROM 106, the RAM 107, the auxiliary storage unit 108, and the interface unit 109 are mutually connected via a bus.
The CPU 101 mentioned here indicates a general processor, and includes not only a device called a so-called CPU in a narrow sense, but also, for example, a GPU (Graphics Processing Unit), a DSP (Digital Signal Processor), and the like. Further, the CPU 101 mentioned here is not limited to being realized by one processor, but may be realized by combining a plurality of processors of the same or different types.

ＣＰＵ１０１は、補助記憶部１０８、ＲＯＭ１０６およびＲＡＭ１０７が記憶するプログラムを読み出して実行し、また、補助記憶部１０８、ＲＯＭ１０６およびＲＡＭ１０７が記憶する各種データを読み出し、補助記憶部１０８、ＲＡＭ１０７に対して各種データを書き込むことにより、情報処理装置１０を制御する。また、ＣＰＵ１０１は、記憶媒体インタフェース部１０２を介して記憶媒体１０３が記憶する各種データを読み出し、また、記憶媒体１０３に各種データを書き込む。記憶媒体１０３は、光磁気ディスク、フレキシブルディスク、フラッシュメモリなどの可搬記憶媒体であり、各種データを記憶する。
記憶媒体インタフェース部１０２は、光ディスクドライブ、フレキシブルディスクドライブなどの記憶媒体１０３の読み書きを行うためのインタフェースである。 The CPU 101 reads and executes programs stored in the auxiliary storage unit 108, the ROM 106, and the RAM 107, and reads various data stored in the auxiliary storage unit 108, the ROM 106, and the RAM 107, and transmits various data to the auxiliary storage unit 108 and the RAM 107. Is controlled to control the information processing apparatus 10. The CPU 101 also reads various data stored in the storage medium 103 via the storage medium interface unit 102 and writes various data in the storage medium 103. The storage medium 103 is a portable storage medium such as a magneto-optical disk, a flexible disk, or a flash memory, and stores various data.
The storage medium interface unit 102 is an interface for reading and writing the storage medium 103 such as an optical disk drive and a flexible disk drive.

入力部１０４は、マウス、キーボード、タッチパネル、チャンネルボタン、電源ボタン、設定ボタン、赤外線受信部などの入力装置である。
出力部１０５は、表示部、スピーカなどの出力装置である。
ＲＯＭ１０６、ＲＡＭ１０７は、情報処理装置１０の各機能部を動作させるためのプログラムや各種データを記憶する。
補助記憶部１０８は、ハードディスクドライブ、フラッシュメモリなどであり、情報処理装置１０の各機能部を動作させるためのプログラム、各種データを記憶する。
インタフェース部１０９は、通信インタフェースを有し、有線または無線によりネットワークＮＷや検査装置２０と接続される。 The input unit 104 is an input device such as a mouse, a keyboard, a touch panel, a channel button, a power button, a setting button, and an infrared receiver.
The output unit 105 is an output device such as a display unit and a speaker.
The ROM 106 and the RAM 107 store programs for operating the respective functional units of the information processing apparatus 10 and various data.
The auxiliary storage unit 108 is a hard disk drive, a flash memory, or the like, and stores programs for operating the respective functional units of the information processing apparatus 10 and various data.
The interface unit 109 has a communication interface, and is connected to the network NW and the inspection apparatus 20 by wire or wireless.

図３は、本発明の実施形態に係る検査装置２０のハードウェア構成の一例を示す概略ブロック図である。
検査装置２０は、ＣＰＵ２０１と、記憶媒体インタフェース部２０２と、記憶媒体２０３と、入力部２０４と、出力部２０５と、ＲＯＭ２０６（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）と、ＲＡＭ２０７（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）と、補助記憶部２０８と、インタフェース部２０９と、ＦＰＧＡ２１０と、を備える。ＣＰＵ２０１と、記憶媒体インタフェース部２０２と、入力部２０４と、出力部２０５と、ＲＯＭ２０６と、ＲＡＭ２０７と、補助記憶部２０８と、インタフェース部２０９と、ＦＰＧＡ２１０とは、バスを介して相互に接続される。
なお、ここで言うＣＰＵ２０１は、プロセッサ一般のことを示すものであって、狭義のいわゆるＣＰＵと呼ばれるデバイスのことだけではなく、例えばＧＰＵやＤＳＰ等も含む。また、ここで言うＣＰＵ２０１は、一つのプロセッサで実現されることに限られず、同じ、または異なる種類の複数のプロセッサを組み合わせることで実現されてもよい。例えば、ＧＰＵは、ＣＰＵ２０１とともに位相限定相関法によるパターンマッチングを行うための専用のプロセッサである。 FIG. 3 is a schematic block diagram showing an example of the hardware configuration of the inspection apparatus 20 according to the embodiment of the present invention.
The inspection apparatus 20 includes a CPU 201, a storage medium interface unit 202, a storage medium 203, an input unit 204, an output unit 205, a ROM 206 (Read Only Memory), a RAM 207 (Random Access Memory), and an auxiliary storage unit 208. , An interface unit 209, and an FPGA 210. The CPU 201, the storage medium interface unit 202, the input unit 204, the output unit 205, the ROM 206, the RAM 207, the auxiliary storage unit 208, the interface unit 209, and the FPGA 210 are mutually connected via a bus. .
Note that the CPU 201 mentioned here indicates a general processor, and includes not only a device called a so-called CPU in a narrow sense, but also, for example, a GPU, a DSP, and the like. Further, the CPU 201 referred to here is not limited to being realized by one processor, and may be realized by combining a plurality of processors of the same or different types. For example, the GPU is a dedicated processor for performing pattern matching by the phase limited correlation method with the CPU 201.

ＣＰＵ２０１は、補助記憶部２０８、ＲＯＭ２０６およびＲＡＭ２０７が記憶するプログラムを読み出して実行し、また、補助記憶部２０８、ＲＯＭ２０６およびＲＡＭ２０７が記憶する各種データを読み出し、補助記憶部２０８、ＲＡＭ２０７に対して各種データを書き込むことにより、検査装置２０を制御する。また、ＣＰＵ２０１は、記憶媒体インタフェース部２０２を介して記憶媒体２０３が記憶する各種データを読み出し、また、記憶媒体２０３に各種データを書き込む。記憶媒体２０３は、光磁気ディスク、フレキシブルディスク、フラッシュメモリなどの可搬記憶媒体であり、各種データを記憶する。
記憶媒体インタフェース部２０２は、光ディスクドライブ、フレキシブルディスクドライブなどの記憶媒体２０３の読み書きを行うためのインタフェースである。 The CPU 201 reads and executes programs stored in the auxiliary storage unit 208, the ROM 206, and the RAM 207, and reads various data stored in the auxiliary storage unit 208, the ROM 206, and the RAM 207, and transmits various data to the auxiliary storage unit 208 and the RAM 207. Is controlled to control the inspection apparatus 20. The CPU 201 also reads various data stored in the storage medium 203 via the storage medium interface unit 202 and writes various data in the storage medium 203. The storage medium 203 is a portable storage medium such as a magneto-optical disk, a flexible disk, or a flash memory, and stores various data.
The storage medium interface unit 202 is an interface for reading and writing the storage medium 203 such as an optical disk drive and a flexible disk drive.

入力部２０４は、マウス、キーボード、タッチパネル、チャンネルボタン、電源ボタン、設定ボタン、赤外線受信部などの入力装置である。
出力部２０５は、表示部、スピーカなどの出力装置である。
ＲＯＭ２０６、ＲＡＭ２０７は、検査装置２０の各機能部を動作させるためのプログラムや各種データを記憶する。
補助記憶部２０８は、ハードディスクドライブ、フラッシュメモリなどであり、検査装置２０の各機能部を動作させるためのプログラム、各種データを記憶する。
インタフェース部２０９は、通信インタフェースを有し、有線または無線によりネットワークＮＷや情報処理装置１０やラインカメラ３０や測長エンコーダ４０やラベラ５０と接続される。
ＦＰＧＡ２１０は、ラインカメラ３０から入力されるライン毎の入力画像やリングバッファのアドレスの管理などを行う。 The input unit 204 is an input device such as a mouse, a keyboard, a touch panel, a channel button, a power button, a setting button, and an infrared receiver.
The output unit 205 is an output device such as a display unit and a speaker.
The ROM 206 and the RAM 207 store programs for operating the respective functional units of the inspection apparatus 20 and various data.
The auxiliary storage unit 208 is a hard disk drive, a flash memory, or the like, and stores programs for operating the respective functional units of the inspection apparatus 20 and various data.
The interface unit 209 has a communication interface, and is connected to the network NW, the information processing apparatus 10, the line camera 30, the length measuring encoder 40, and the labeler 50 by wire or wireless.
The FPGA 210 manages, for example, the input image of each line input from the line camera 30 and the address of the ring buffer.

例えば、図１における検査装置２０の機能構成におけるメモリ部２１、アドレス変換部２３、検査部２４は、図３におけるＲＯＭ２０６、またはＲＡＭ２０７、または補助記憶部２０８、またはＦＰＧＡ２１０、またはそれらの何れかの組み合わせにより構成される。また、位置補正演算部２２、欠陥生成部２５は、ＣＰＵ２０１により構成される。 For example, the memory unit 21, the address conversion unit 23, and the inspection unit 24 in the functional configuration of the inspection apparatus 20 in FIG. 1 are the ROM 206 or RAM 207 in FIG. 3 or the auxiliary storage unit 208 or the FPGA 210 or any combination thereof. It consists of Further, the position correction operation unit 22 and the defect generation unit 25 are configured by the CPU 201.

続いて、検査システム１が、検査対象物Ｔの欠陥を検出する検査処理について詳細に説明する。まず、情報処理装置１０において、オペレータがレピート長や検査幅等を含む検査対象物Ｔに関する情報を操作画面に入力し、検査開始ボタンを押下する。情報処理装置１０は、入力された情報を含む検査開始信号を検査装置２０に出力する。検査装置２０は、検査開始信号が入力されると、ラインカメラ３０が撮像する画像の取り込みを開始する。 Subsequently, an inspection process in which the inspection system 1 detects a defect of the inspection object T will be described in detail. First, in the information processing apparatus 10, the operator inputs information on the inspection object T including the repeat length, inspection width and the like into the operation screen, and presses the inspection start button. The information processing apparatus 10 outputs an inspection start signal including the input information to the inspection apparatus 20. When the inspection start signal is input, the inspection apparatus 20 starts capturing an image captured by the line camera 30.

図４は、本発明の実施形態に係る検査装置２０における画像の格納方法を説明するための図である。検査装置２０のメモリ部２１は、ラインカメラ３０から入力される１ライン毎の画像をメモリ２１１内にあるリングバッファに順次格納する。このとき、メモリ部２１は、格納を開始したリングバッファのアドレスを基準画像の先頭アドレスＳＴ１として保持する。すなわち、メモリ部２１は、最初に撮像されるレピートを基準となる基準画像とする。メモリ部２１は、測長エンコーダ４０から入力されるパルス数のカウントが設定値を超える度にリングバッファのアドレスを進める。そして、メモリ部２１は、基準画像の先頭アドレスＳＴ１からのライン数が、検査開始信号に含まれるレピート長Ｌに達した時のアドレスを検査画像の先頭アドレスとＳＴ２して保持する。すなわち、メモリ部２１は、次に撮像されるレピートを検査対象である検査画像とする。また、メモリ部２１は、検査画像の先頭アドレスＳＴ２からのライン数が、検査開始信号に含まれるレピート長Ｌに達した時のアドレスを、次の検査対象となる更新画像の先頭アドレスＳＴ３として保持する。メモリ部２１は、リングバッファの最後まで書き込みが完了すると、リングバッファの先頭に戻って順次画像を格納する。 FIG. 4 is a view for explaining a method of storing an image in the inspection apparatus 20 according to the embodiment of the present invention. The memory unit 21 of the inspection device 20 sequentially stores the image of each line input from the line camera 30 in a ring buffer in the memory 211. At this time, the memory unit 21 holds the address of the ring buffer that has started storing as the start address ST1 of the reference image. That is, the memory unit 21 sets a repeat image to be first captured as a reference image as a reference. The memory unit 21 advances the address of the ring buffer each time the count of the number of pulses input from the length measurement encoder 40 exceeds the set value. Then, the memory unit 21 holds the address when the number of lines from the start address ST1 of the reference image reaches the repeat length L included in the inspection start signal as the start address of the inspection image ST2. That is, the memory unit 21 sets the repeat image to be captured next as an inspection image to be inspected. In addition, the memory unit 21 holds the address when the number of lines from the start address ST2 of the inspection image reaches the repeat length L included in the inspection start signal as the start address ST3 of the updated image to be the next inspection target Do. When writing is completed to the end of the ring buffer, the memory unit 21 returns to the head of the ring buffer and sequentially stores images.

すなわち、検査装置２０は、検査対象物Ｔにおいて、ラインカメラ３０が先に撮像した（先に印刷された）レピートを基準画像とし、その後撮像した（その後印刷された）レピートを検査画像とする。 That is, in the inspection object T, the inspection apparatus 20 sets, as a reference image, the repeat image imaged (previously printed) by the line camera 30 first, and the repeat image imaged thereafter (printed thereafter) as an inspection image.

メモリ部２１は、検査画像の先頭アドレスからのライン数がレピート長に達すると、基準画像と、検査画像と、基準画像の先頭アドレスと、検査画像の先頭アドレスとを位置補正演算部２２に出力する。位置補正演算部２２は、メモリ部２１から入力された情報をメモリ２２１に格納する。 When the number of lines from the start address of the inspection image reaches the repeat length, the memory unit 21 outputs the reference image, the inspection image, the start address of the reference image, and the start address of the inspection image to the position correction operation unit 22 Do. The position correction operation unit 22 stores the information input from the memory unit 21 in the memory 221.

位置補正演算部２２は、基準画像の先頭アドレスに格納された画像と検査画像の先頭アドレスに格納された画像とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、流れ方向のズレ量から検査画像の先頭アドレスを前後にずらして補正する。このように、検査画像の先頭アドレスを前後にずらして検査画像の開始位置を補正することにより、比較する基準画像と検査画像の開始位置を合わせることができる。 The position correction operation unit 22 performs pattern matching according to the phase limited correlation method between the image stored at the start address of the reference image and the image stored at the start address of the inspection image, and the shift amount of the flow direction Correct the address by shifting it back and forth. As described above, the start position of the inspection image can be matched with the reference image to be compared by correcting the start position of the inspection image by shifting the start address of the inspection image back and forth.

しかしながら、基準画像と検査画像とをパターンマッチングすることにより開始位置を合わせた場合であっても、検査対象物Ｔにおいて検査画像の途中から蛇行した場合や一部のみ伸縮している場合には、基準画像と検査画像とで途中からズレが生じることがある。 However, even when the start position is matched by pattern matching the reference image and the inspection image, in the case where the inspection object T meanders from the middle of the inspection image or only a part of the inspection image is expanded or contracted, Misalignment may occur midway between the reference image and the inspection image.

図５は、本発明の実施形態に係る基準画像と検査画像とのズレの一例を示す図である。本図に示す例では、基準画像Ｇ１１において位置ｐ１に印刷されている模様が、検査画像Ｇ１２においては位置ｐ１より後方の位置ｐ２に印刷されている。このような場合に、そのまま基準画像と検査画像とを比較すると、位置ｐ１及び位置ｐ２において欠陥を誤検出することがある。そこで、検査装置２０の位置補正演算部２２は、検査画像を複数の領域に分割し、分割した各領域それぞれについてパターンマッチングにより基準画像とのズレ量を算出して、基準画像の対応する領域を決定する。 FIG. 5 is a view showing an example of the deviation between the reference image and the inspection image according to the embodiment of the present invention. In the example shown in the drawing, the pattern printed at the position p1 in the reference image G11 is printed at the position p2 behind the position p1 in the inspection image G12. In such a case, when the reference image and the inspection image are compared as they are, a defect may be erroneously detected at the position p1 and the position p2. Therefore, the position correction operation unit 22 of the inspection apparatus 20 divides the inspection image into a plurality of areas, calculates the amount of deviation from the reference image by pattern matching for each of the divided areas, and calculates the corresponding area of the reference image. decide.

図６は、本発明の実施形態に係る基準画像と検査画像との比較領域を示す図である。本図では、検査画像に伸びが生じている場合を例に説明する。まず、図６（ａ）に示すように、位置補正演算部２２は、検査画像を進み方向に複数（本例では、４つ）の領域ＡＩ１〜ＡＩ４に等分割する。同様に、位置補正演算部２２は、基準画像を進み方向に検査画像と同数の領域ＡＳ１〜ＡＳ４に等分割する。ここで、検査画像には伸びが生じているため、印刷されている模様にズレが生じ、検査画像の領域ＡＩ１〜ＡＩ４と基準画像の領域ＡＳ１〜ＡＳ４とをそのまま比較しても、精度良く欠陥を検出することができない。 FIG. 6 is a view showing a comparison area of a reference image and an inspection image according to the embodiment of the present invention. In the drawing, the case where the inspection image is stretched is described as an example. First, as shown in FIG. 6A, the position correction operation unit 22 equally divides the inspection image in the leading direction into a plurality of (four in this example) areas AI1 to AI4. Similarly, the position correction operation unit 22 equally divides the reference image in the leading direction into the areas AS1 to AS4 as many as the inspection images. Here, since the inspection image is stretched, displacement occurs in the printed pattern, and even if the regions AI1 to AI4 of the inspection image and the regions AS1 to AS4 of the reference image are compared as they are, the defect is accurately performed. Can not detect.

そこで、位置補正演算部２２は、検査画像の各領域ＡＩ１〜ＡＩ４と基準画像の各領域ＡＳ１〜ＡＳ４とでそれぞれ位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、検査画像の各領域ＡＩ１〜ＡＩ４に対する基準画像の各領域ＡＳ１〜ＡＳ４の縦横のズレ量を算出する。そして、図６（ｂ）に示すように、位置補正演算部２２は、算出した各領域のズレ量に基づいて、検査画像の各領域ＡＩ１〜ＡＩ４に対応する基準画像の各領域ＡＳ１〜ＡＳ４を領域ＡＳ１１〜ＡＳ１４に補正する。 Therefore, the position correction operation unit 22 performs pattern matching according to the phase limited correlation method on each of the areas AI1 to AI4 of the inspection image and each of the areas AS1 to AS4 of the reference image, and performs the reference image on each of the areas AI1 to AI4 of the inspection image. The amount of vertical and horizontal deviation of each of the areas AS1 to AS4 is calculated. Then, as shown in FIG. 6B, the position correction operation unit 22 sets each area AS1 to AS4 of the reference image corresponding to each area AI1 to AI4 of the inspection image based on the calculated shift amount of each area. Correction to the areas AS11 to AS14.

このように、検査画像を複数の領域に分割し、分割した領域毎に基準画像と位置合わせを行うことにより、検査画像の途中から蛇行した場合や一部のみ伸縮している場合であっても、蛇行や伸縮に対する追従性が向上し、基準画像と検査画像との比較位置にズレが生じることを低減することができる。よって、伸縮や蛇行に対応した印刷物の検査が可能になる。 As described above, the inspection image is divided into a plurality of regions, and alignment with the reference image is performed for each divided region, so that the inspection image may meander from the middle or may be partially expanded or contracted. The followability to meandering and expansion and contraction can be improved, and the occurrence of deviation in the comparison position between the reference image and the inspection image can be reduced. Therefore, inspection of the printed matter corresponding to expansion and contraction and meandering becomes possible.

また、位置補正演算部２２における処理（位相限定相関法によるパターンマッチング）を、ＣＰＵ２０１（ＧＰＵ）による並列処理で実行することにより、全体の処理を高速化することができる。 Further, by executing the processing (pattern matching based on the phase limited correlation method) in the position correction operation unit 22 by parallel processing by the CPU 201 (GPU), the overall processing can be speeded up.

また、パターンマッチングを位相限定相関法により実行することで、縦方向及び横方向のズレ量を検出することができる。また照明の明るさの変化や印刷物の濃度変化に影響されにくいマッチングを行うことができる。 Further, by performing pattern matching by the phase limited correlation method, the amount of deviation in the longitudinal direction and the lateral direction can be detected. In addition, it is possible to perform matching that is less susceptible to changes in the brightness of the illumination and density changes in the printed matter.

位置補正演算部２２は、検査画像の先頭アドレスのズレ量、及び検査画像の領域ＡＩ１〜ＡＩ４毎に基準画像との縦横のズレ量を格納したテーブル（パターンマッチングの実行結果）を生成し、生成したテーブルをアドレス変換部２３に出力する。アドレス変換部２３は、位置補正演算部２２から入力されたテーブルを、メモリ２１１が記憶する画像のアドレスに変換する。つまり、アドレス変換部２３は、位置補正演算部２２から入力されたテーブルに基づいて、メモリ２１１における画像のアドレスを変換する。具体的には、アドレス変換部２３は、テーブルに基づいて、検査画像の各領域ＡＩ１〜ＡＩ４のアドレスと、当該各領域それぞれに対応する基準画像の領域ＡＳ１１〜ＡＳ１４のアドレスを補正する。このように、アドレス変換部２３が、位置補正演算部２２による実行結果をアドレス変換することにより、リアルタイムに印刷物を検査することが可能になる。 The position correction operation unit 22 generates and generates a table (pattern matching execution result) storing the amount of displacement of the start address of the inspection image and the amount of longitudinal and lateral displacement from the reference image for each of the regions AI1 to AI4 of the inspection image. The table is output to the address conversion unit 23. The address conversion unit 23 converts the table input from the position correction calculation unit 22 into the address of the image stored in the memory 211. That is, the address conversion unit 23 converts the address of the image in the memory 211 based on the table input from the position correction calculation unit 22. Specifically, the address conversion unit 23 corrects the addresses of the areas AI1 to AI4 of the inspection image and the addresses of the areas AS11 to AS14 of the reference image corresponding to the respective areas based on the table. As described above, the address conversion unit 23 can convert the execution result of the position correction operation unit 22 into an address, thereby inspecting the printed matter in real time.

検査部２４は、アドレス変換部２３が補正したアドレスを参照して、検査画像の領域ＡＩ１〜ＡＩ４と基準画像の領域ＡＳ１１〜ＡＳ１４とをそれぞれ比較検査することにより、検査画像にある欠陥を検出する。なお、検査部２４は、基準画像と検査画像との差異から欠陥を検出する際、何れかに最大値フィルタまたは最小値フィルタをかけ、さらに所定濃度のバイアスを加算または減算することにより、蛇行や同期ずれと印刷物の伸縮またはばたつきの影響を除去して欠陥を検出する。ここで、最小値フィルタとは、その中心の画素の濃度をそのフィルタ内の画素の最小の濃度にするフィルタである。また、最大値フィルタとは、その中心の画素の濃度をそのフィルタ内の画素の最大の濃度にするフィルタである。検査部２４は、複数に分割された領域毎に検査画像と基準画像とを比較しているため、このフィルタサイズを小さくすることができる。よって、検査画像に蛇行や伸縮が少ない場合には、フィルタサイズを小さくすることでより厳しい検査をすることができる。 The inspection unit 24 detects defects in the inspection image by comparing and inspecting the regions AI1 to AI4 of the inspection image and the regions AS11 to AS14 of the reference image with reference to the address corrected by the address conversion unit 23. . When the inspection unit 24 detects a defect from the difference between the reference image and the inspection image, the inspection unit 24 applies a maximum value filter or a minimum value filter to either, and additionally adds or subtracts a bias of a predetermined density. Detect defects by removing the effects of out-of-sync and print stretch or flutter. Here, the minimum value filter is a filter that sets the density of the central pixel to the minimum density of the pixels in the filter. In addition, the maximum value filter is a filter that sets the density of the central pixel to the maximum density of the pixels in the filter. Since the inspection unit 24 compares the inspection image and the reference image for each of the plurality of divided regions, the filter size can be reduced. Therefore, when the inspection image has less meandering and expansion and contraction, the inspection can be performed more rigorously by reducing the filter size.

欠陥生成部２５は、検査部２４における検査結果をラベラ５０及び情報処理装置１０に出力する。例えば、欠陥生成部２５は、トラッキングを行い、重要度の高い欠陥がラベラ５０の位置まできたときに、ラベラ５０にラベルを貼付させる。また、欠陥生成部２５は、検査結果に基づいて欠陥画像及び伸縮グラフを生成し、生成した欠陥画像及び伸縮グラフを情報処理装置１０に出力する。情報処理装置１０は、検査装置２０から入力された欠陥画像及び伸縮グラフを表示してブザーを出力し、欠陥画像及び伸縮グラフをファイルに保存する。伸縮グラフは、同一の検査対象物における設定レピート長に対する測定レピート長の変動の推移を示すグラフである。なお、欠陥生成部２５は、伸縮グラフに代えて、基準画像に対する検査画像の伸縮を示す数値を情報処理装置１０に出力してもよい。この場合には、情報処理装置１０が、入力された数値に基づいて伸縮グラフを生成してもよい。 The defect generation unit 25 outputs the inspection result in the inspection unit 24 to the labeler 50 and the information processing apparatus 10. For example, the defect generation unit 25 performs tracking, and applies a label to the labeler 50 when a high importance defect reaches the position of the labeler 50. In addition, the defect generation unit 25 generates a defect image and an expansion and contraction graph based on the inspection result, and outputs the generated defect image and the expansion and contraction graph to the information processing apparatus 10. The information processing apparatus 10 displays the defect image and the expansion / contraction graph input from the inspection apparatus 20, outputs a buzzer, and saves the defect image and the expansion / contraction graph in a file. The expansion / contraction graph is a graph showing the transition of the change in measured repeat length with respect to the set repeat length in the same inspection object. The defect generation unit 25 may output, to the information processing apparatus 10, a numerical value indicating expansion and contraction of the inspection image with respect to the reference image, instead of the expansion and contraction graph. In this case, the information processing apparatus 10 may generate the expansion / contraction graph based on the input numerical value.

図７は、本発明の実施形態に係る検査装置２０が生成する欠陥画像の一例を示す説明図である。図示するように、欠陥生成部２５は、検査画像において少なくとも欠陥部分Ｄを含む領域の画像Ｇ２２と、当該領域に対応する基準画像の画像Ｇ２１とを含む欠陥画像を生成する。欠陥部分Ｄは、少なくとも画像Ｇ２２において強調表示される。本図に示す例では、画像Ｇ２２において、矢印で欠陥部分Ｄを示している。また、画像Ｇ２１では、欠陥部分Ｄに対応する位置に矢印を表示して、対応する位置を強調表示している。また、画像Ｇ２１には「基準」を表示し、画像Ｇ２２には「検査」を表示することで、どちらの画像が基準画像であるか検査画像であるかを容易に判別可能にしている。なお、欠陥画像は、画像Ｇ２１と画像Ｇ２２とを並べた静止画像であってもよいし、画像Ｇ２１と画像Ｇ２２とを交互に表示する動画像であってもよい。 FIG. 7 is an explanatory view showing an example of a defect image generated by the inspection apparatus 20 according to the embodiment of the present invention. As illustrated, the defect generation unit 25 generates a defect image including an image G22 of an area including at least the defect portion D in the inspection image and an image G21 of a reference image corresponding to the area. Defective portion D is highlighted at least in image G22. In the example shown in the drawing, the defect portion D is indicated by an arrow in the image G22. Further, in the image G21, an arrow is displayed at a position corresponding to the defect portion D to highlight the corresponding position. Further, by displaying “reference” in the image G21 and displaying “examination” in the image G22, it is possible to easily determine which image is the reference image or the inspection image. The defect image may be a still image in which the image G21 and the image G22 are aligned, or may be a moving image in which the image G21 and the image G22 are alternately displayed.

アドレス変換部２３は、１つの検査画像の検査が完了すると、検査画像を次の画像に更新する。具体的には、アドレス変換部２３は、メモリ２１１における検査画像の先頭アドレスを基準画像の先頭アドレスに、更新画像の先頭アドレスを検査画像の先頭アドレスにそれぞれ変更する。その後、検査装置２０は、更新した検査画像について、上述した処理により検査を実行する。このように処理を繰り返すことで、繰り返し連続印刷された同一絵柄を検査することができる。 When the inspection of one inspection image is completed, the address conversion unit 23 updates the inspection image to the next image. Specifically, the address conversion unit 23 changes the start address of the inspection image in the memory 211 to the start address of the reference image, and the start address of the updated image to the start address of the inspection image. Thereafter, the inspection apparatus 20 executes an inspection on the updated inspection image by the above-described process. By repeating the process in this manner, the same pattern printed repeatedly and repeatedly can be inspected.

図８は、本発明の実施形態に係る検査装置２０が実行する検査処理の一例を示すフローチャートである。
ステップＳ１０１において、メモリ部２１は、ラインカメラ３０から入力される画像の記録を開始する。具体的には、メモリ部２１は、ラインカメラ３０から入力される１ライン毎の画像をメモリ２１１にあるリングバッファに順次格納する。 FIG. 8 is a flowchart showing an example of the inspection process performed by the inspection apparatus 20 according to the embodiment of the present invention.
In step S101, the memory unit 21 starts recording of an image input from the line camera 30. Specifically, the memory unit 21 sequentially stores the images of each line input from the line camera 30 in a ring buffer in the memory 211.

ステップＳ１０３において、メモリ部２１は、検査画像の格納が完了したか否かを判定する。具体的には、メモリ部２１は、検査画像の先頭アドレスからのライン数がレピート長に達すると、検査画像の格納が完了したと判定する。検査画像の格納が完了した場合（ステップＳ１０３；ＹＥＳ）、検査装置２０は、ステップＳ１０７の処理を実行する。検査画像の格納が完了していない場合（ステップＳ１０３；ＮＯ）、検査装置２０は、ステップＳ１０３の処理を繰り返す。 In step S103, the memory unit 21 determines whether the storage of the inspection image is completed. Specifically, when the number of lines from the start address of the inspection image reaches the repeat length, the memory unit 21 determines that the storage of the inspection image is completed. When the storage of the inspection image is completed (step S103; YES), the inspection apparatus 20 executes the process of step S107. When the storage of the inspection image is not completed (step S103; NO), the inspection apparatus 20 repeats the process of step S103.

ステップＳ１０５において、位置補正演算部２２は、メモリ部２１が格納した基準画像及び検査画像をメモリ２２１に格納し、基準画像の開始位置と検査画像の開始位置とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、流れ方向のズレ量から検査画像の先頭アドレスを前後にずらして補正する。 In step S105, the position correction calculation unit 22 stores the reference image and the inspection image stored in the memory unit 21 in the memory 221, and performs pattern matching by the phase limited correlation method between the start position of the reference image and the start position of the inspection image. Then, the head address of the inspection image is corrected by shifting it forward and backward from the amount of displacement in the flow direction.

ステップＳ１０７において、メモリ部２１は、情報処理装置１０から検査開始信号が入力されたか否かを判定する。検査開始信号が入力された場合（ステップＳ１０７；ＹＥＳ）、検査装置２０は、ステップＳ１０９の処理を実行する。一方、検査開始信号が入力されていない場合（ステップＳ１０７；ＮＯ）、検査装置２０は、ステップＳ１２１の処理を繰り返す。 In step S107, the memory unit 21 determines whether the inspection start signal is input from the information processing device 10. When the inspection start signal is input (step S107; YES), the inspection apparatus 20 executes the process of step S109. On the other hand, when the inspection start signal is not input (step S107; NO), the inspection apparatus 20 repeats the process of step S121.

ステップＳ１０９において、位置補正演算部２２は、基準画像の後半部分と検査画像の後半部分とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、算出したズレ量から分割数を決定する。 In step S109, the position correction operation unit 22 performs pattern matching by the phase limited correlation method on the second half of the reference image and the second half of the inspection image, and determines the number of divisions from the calculated amount of deviation.

ステップＳ１１１において、位置補正演算部２２は、決定した分割数の領域に基準画像及び検査画像を分割する。 In step S111, the position correction operation unit 22 divides the reference image and the inspection image into areas of the determined number of divisions.

ステップＳ１１３において、位置補正演算部２２は、分割した領域毎に基準画像と検査画像とで位相限定相関法によるパターンマッチングを行い、各領域における縦横のズレ量を算出し、算出したズレ量を格納したテーブルを生成する。 In step S113, the position correction operation unit 22 performs pattern matching according to the phase limited correlation method between the reference image and the inspection image for each divided area, calculates the amount of vertical and horizontal deviation in each area, and stores the calculated deviation. Create a table that you

ステップＳ１１５において、アドレス変換部２３は、位置補正演算部２２が生成したテーブルに基づいて、メモリ２１１における検査画像及び基準画像の各領域のアドレスを補正する。 In step S115, the address conversion unit 23 corrects the address of each area of the inspection image and the reference image in the memory 211 based on the table generated by the position correction operation unit 22.

ステップＳ１１７において、検査部２４は、アドレス変換部２３が補正したアドレスに基づいて、分割した領域毎に基準画像と検査画像とを先頭アドレスから順次比較検査する。 In step S117, based on the address corrected by the address conversion unit 23, the inspection unit 24 sequentially compares and inspects the reference image and the inspection image for each divided area from the top address.

ステップＳ１１９において、欠陥生成部２５は、検査部２４における検査結果を出力する。具体的には、欠陥生成部２５は、重要度の高い欠陥から順に並べ替えた後、欠陥を撮像した欠陥画像を生成し、情報処理装置１０に出力する。また、欠陥生成部２５は、検査結果に基づいて、検査対象物の欠陥をトラッキングし、重要度の高い欠陥がラベラ５０の位置まできたときに、ラベラ５０にラベルを貼付させる。 In step S119, the defect generation unit 25 outputs the inspection result in the inspection unit 24. Specifically, the defect generation unit 25 rearranges the defects in descending order of importance, generates a defect image obtained by imaging the defects, and outputs the generated defect image to the information processing apparatus 10. In addition, the defect generation unit 25 tracks the defect of the inspection object based on the inspection result, and applies the label to the labeler 50 when the defect having a high degree of importance reaches the position of the labeler 50.

ステップＳ１２１において、アドレス変換部２３は、検査画像を次の画像に更新する。具体的には、アドレス変換部２３は、メモリ２１１における検査画像の先頭アドレスを基準画像の先頭アドレスに、検査画像の次の更新画像の先頭アドレスを検査画像の先頭アドレスにそれぞれ変更する。その後、ステップＳ１０５の処理に戻る。 In step S121, the address conversion unit 23 updates the inspection image to the next image. Specifically, the address conversion unit 23 changes the start address of the inspection image in the memory 211 to the start address of the reference image, and the start address of the next updated image of the inspection image to the start address of the inspection image. Thereafter, the process returns to the process of step S105.

このように、本実施形態に係る検査システム１は、検査対象となる検査画像を複数の領域に分割し、分割した領域毎に基準画像とパターンマッチングを行うことにより、各領域それぞれに対応する基準画像の領域を決定する位置補正演算部２２と、分割した検査画像の各領域と、当該領域に対応する基準画像の各領域とをそれぞれ比較することにより、検査画像にある欠陥を検出する検査部２４と、を備える検査装置２０を備える。 As described above, the inspection system 1 according to the present embodiment divides the inspection image to be inspected into a plurality of regions, and performs pattern matching with the reference image for each of the divided regions, thereby creating a reference corresponding to each of the regions. An inspection unit that detects a defect in an inspection image by comparing the position correction operation unit 22 that determines the region of the image, each region of the divided inspection image, and each region of the reference image that corresponds to the region And 24. An inspection apparatus 20 is provided.

このような構成により、一部のみ、または途中からずれている検査画像であっても、基準画像との実際のズレ量に近い値を計測することができ、伸縮や蛇行に対応した印刷物の検査が可能になる。 With such a configuration, it is possible to measure a value close to the actual amount of deviation from the reference image even if it is an inspection image that is only a part or in the middle, and inspection of printed matter corresponding to expansion and contraction or meandering Becomes possible.

また、同一絵柄が繰り返し連続印刷された検査対象物を順次撮像するラインカメラ３０と、ラインカメラ３０が撮像した画像を順次記憶するメモリ部２１と、を備え、位置補正演算部２２は、基準画像とパターンマッチングすることにより、メモリ部２１が記憶する検査画像の開始位置を補正する。これにより、順次撮像する画像から検査画像の開始位置を正確に抽出することができるため、精度良く印刷物を検査することができる。 The position correction operation unit 22 further includes a line camera 30 that sequentially images the inspection object on which the same pattern is repeatedly printed continuously, and a memory unit 21 that sequentially stores images captured by the line camera 30. By performing pattern matching with the above, the start position of the inspection image stored in the memory unit 21 is corrected. Thus, since the start position of the inspection image can be accurately extracted from the sequentially captured images, the printed matter can be inspected with high accuracy.

また、位置補正演算部２２は、専用のプロセッサによりパターンマッチングを実行し、位置補正演算部２２による実行結果を、記憶している画像のアドレスに変換するアドレス変換部２３を備える。これにより全体の処理を高速化することができ、リアルタイムに印刷物を検査することが可能になる。 Further, the position correction operation unit 22 includes an address conversion unit 23 which executes pattern matching by a dedicated processor and converts the execution result of the position correction operation unit 22 into the address of the stored image. This makes it possible to speed up the entire process and to inspect the printed matter in real time.

また、位置補正演算部２２は、基準画像に対する検査画像のずれの大きさに応じて分割数を決定する。これにより、基準画像と検査画像のずれの大きさに応じた領域に分割して比較検査するため、精度良く印刷物を検査することが可能になる。 Further, the position correction calculation unit 22 determines the number of divisions according to the size of the deviation of the inspection image with respect to the reference image. As a result, the printed matter can be inspected with high accuracy because the comparison inspection is performed by dividing into areas according to the size of the deviation between the reference image and the inspection image.

なお、上述した実施形態では、検査装置２０が自動的に分割数を決定しているが、これに限らず、分割数は予め設定されていてもよいし、情報処理装置１０が表示する操作画面においてオペレータが分割数を指定できるようにしてもよい。 In the embodiment described above, the inspection apparatus 20 automatically determines the number of divisions, but the present invention is not limited to this, and the number of divisions may be set in advance, and the operation screen displayed by the information processing apparatus 10 The operator may specify the number of divisions in.

また、上述した実施形態では、ラインカメラ３０が先に撮像したレピートを基準画像としているが、これに限らず、検査装置２０は、予め基準画像を記憶しておいてもよい。 Further, in the above-described embodiment, although the repeat image captured by the line camera 30 first is used as the reference image, the present invention is not limited to this, and the inspection apparatus 20 may store the reference image in advance.

また、上述した実施形態では、情報処理装置１０と検査装置２０とが別の装置である場合について説明したが、これに限らず、情報処理装置１０に画像処理ボードを接続させたものであってもよい。また、検査装置２０は、画像処理ボードのみから構成されるものであってもよい。 In the embodiment described above, the case where the information processing apparatus 10 and the inspection apparatus 20 are separate apparatuses has been described. However, the present invention is not limited to this, and the image processing board is connected to the information processing apparatus 10 It is also good. Further, the inspection apparatus 20 may be configured of only an image processing board.

なお、本発明の一態様における情報処理装置１０、検査装置２０で動作するプログラムは、本発明の一態様に関わる上記の各実施形態や変形例で示した機能を実現するように、１つ、または複数の、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）等のプロセッサを制御するプログラム（コンピュータを機能させるプログラム）であっても良い。そして、これらの各装置で取り扱われる情報は、その処理時に一時的にＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）に蓄積され、その後、フラッシュメモリやＨＤＤ（ＨａｒｄＤｉｓｋＤｒｉｖｅ）等の各種ストレージに格納され、必要に応じてＣＰＵ等によって読み出し、修正・書き込みが行われても良い。 In addition, the program which operate | moves with the information processing apparatus 10 and the test | inspection apparatus 20 in 1 aspect of this invention is one so that the function shown in said each embodiment and modification in connection with 1 aspect of this invention is implement | achieved Alternatively, a plurality of programs for controlling a processor such as a CPU (Central Processing Unit) (programs for causing a computer to function) may be used. Then, the information handled by each of these devices is temporarily stored in RAM (Random Access Memory) at the time of its processing, and then stored in various storages such as flash memory and HDD (Hard Disk Drive). It may be read, corrected or written by a CPU or the like.

なお、上述した各実施形態や変形例における情報処理装置１０、検査装置２０の一部又は全部を１つ、または複数のプロセッサを備えたコンピュータで実現するようにしても良い。その場合、この制御機能を実現するためのプログラムをコンピュータが読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することによって実現しても良い。 Note that a part or all of the information processing apparatus 10 and the inspection apparatus 20 in each of the above-described embodiments and modifications may be realized by a computer including one or a plurality of processors. In that case, a program for realizing the control function may be recorded in a computer readable recording medium, and the computer system may read and execute the program recorded in the recording medium.

なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、情報処理装置１０、検査装置２０に内蔵されたコンピュータシステムであって、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。 Here, the “computer system” is a computer system built in the information processing apparatus 10 and the inspection apparatus 20, and includes an OS and hardware such as peripheral devices. The term "computer-readable recording medium" refers to a storage medium such as a flexible disk, a magneto-optical disk, a ROM, a portable medium such as a ROM or a CD-ROM, or a hard disk built in a computer system.

さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでも良い。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであっても良い。 Furthermore, the “computer-readable recording medium” is one that holds a program dynamically for a short time, like a communication line in the case of transmitting a program via a network such as the Internet or a communication line such as a telephone line. In such a case, a volatile memory in a computer system serving as a server or a client may be included, which holds a program for a predetermined time. The program may be for realizing a part of the functions described above, or may be realized in combination with the program already recorded in the computer system.

また、上述した各実施形態や変形例における情報処理装置１０、検査装置２０の一部、又は全部を典型的には集積回路であるＬＳＩとして実現してもよいし、チップセットとして実現してもよい。また、上述した各実施形態や変形例における情報処理装置１０、検査装置２０の各機能ブロックは個別にチップ化してもよいし、一部、又は全部を集積してチップ化してもよい。また、集積回路化の手法は、ＬＳＩに限らず専用回路、および／または汎用プロセッサで実現しても良い。また、半導体技術の進歩によりＬＳＩに代替する集積回路化の技術が出現した場合、当該技術による集積回路を用いることも可能である。 In addition, a part or all of the information processing apparatus 10 and the inspection apparatus 20 in each of the embodiments and modifications described above may be realized as an LSI, which is typically an integrated circuit, or may be realized as a chip set. Good. In addition, each functional block of the information processing apparatus 10 and the inspection apparatus 20 in each embodiment or modification described above may be individually chipped, or a part or all of the functional blocks may be integrated and chipped. Also, the method of circuit integration may be realized not only by LSI but also by a dedicated circuit and / or a general purpose processor. In the case where an integrated circuit technology comes out to replace LSI's as a result of the advancement of semiconductor technology, it is also possible to use an integrated circuit according to such technology.

以上、図面を参照してこの発明の実施形態について詳しく説明してきたが、具体的な構成は上述のものに限られることはなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内において様々な設計変更等をすることが可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings, the specific configuration is not limited to the above-described ones, and various design changes can be made without departing from the scope of the present invention. It is possible.

１検査システム
１０情報処理装置
２０検査装置
２１メモリ部
２１１メモリ
２２位置補正演算部
２２１メモリ
２３アドレス変換部
２４検査部
２５欠陥生成部
３０ラインカメラ
４０測長エンコーダ
５０ラベラ
１０１ＣＰＵ
１０２記憶媒体インタフェース部
１０３記憶媒体
１０４入力部
１０５出力部
１０６ＲＯＭ
１０７ＲＡＭ
１０８補助記憶部
１０９インタフェース部
２０１ＣＰＵ
２０２記憶媒体インタフェース部
２０３記憶媒体
２０４入力部
２０５出力部
２０６ＲＯＭ
２０７ＲＡＭ
２０８補助記憶部
２０９インタフェース部
２１０ＦＰＧＡ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 inspection system 10 information processing apparatus 20 inspection apparatus 21 memory part 211 memory 22 position correction arithmetic part 221 memory 23 address conversion part 24 inspection part 25 defect generation part 30 line camera 40 length measurement encoder 50 labeler 101 CPU
102 storage medium interface unit 103 storage medium 104 input unit 105 output unit 106 ROM
107 RAM
108 Auxiliary storage unit 109 interface unit 201 CPU
202 storage medium interface unit 203 storage medium 204 input unit 205 output unit 206 ROM
207 RAM
208 auxiliary storage unit 209 interface unit 210 FPGA

Claims

A position correction operation unit that determines an area of the reference image corresponding to each area by dividing an inspection image to be inspected into a plurality of areas and performing pattern matching with the reference image for each divided area;
An inspection unit which detects a defect in the inspection image by comparing each of the divided regions of the inspection image with each of the regions of the reference image corresponding to the region;
Inspection device provided with

A storage unit that sequentially stores images captured by a camera that sequentially captures an inspection object on which the same pattern is repeatedly printed continuously;
The position correction operation unit corrects the start position of the inspection image stored in the storage unit by performing pattern matching with the reference image.
The inspection apparatus according to claim 1.

The position correction operation unit executes pattern matching using a dedicated processor,
An address conversion unit configured to convert an execution result of the position correction calculation unit into an address of a stored image;
The inspection apparatus according to claim 1 or 2.

The position correction operation unit determines the number of divisions according to the size of the deviation of the inspection image with respect to the reference image.
The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3.

An inspection system comprising: a camera for sequentially imaging an inspection object on which the same pattern is repeatedly printed continuously; and an inspection apparatus,
The inspection device
Position correction that determines the area of the reference image corresponding to each area by dividing the inspection image to be inspected which is captured by the camera into a plurality of areas and performing pattern matching with the reference image for each divided area Operation unit,
An inspection unit which detects a defect in the inspection image by comparing each of the divided regions of the inspection image with each of the regions of the reference image corresponding to the region;
Inspection system comprising

The computer is
A position correction operation process of determining an area of the reference image corresponding to each area by dividing an inspection image to be inspected into a plurality of areas and performing pattern matching with the reference image for each divided area;
An inspection process for detecting a defect in the inspection image by comparing each area of the divided inspection image with each area of the reference image corresponding to the area;
Having an inspection method.

The computer is
A position correction operation step of determining an area of the reference image corresponding to each area by dividing an inspection image to be inspected into a plurality of areas and performing pattern matching with the reference image for each divided area;
An inspection step of detecting a defect in the inspection image by comparing each area of the divided inspection image with each area of the reference image corresponding to the area;
A program to run.