JP2019158385A - 測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】移動体の変形に起因してプローブが変位しても高精度に測定値を取得する測定装置を提供する。【解決手段】三次元測定装置1は、ワークを測定するプローブ40と、プローブ40を支持した状態で、駆動部32からの駆動力を受けて移動する移動体21と、プローブ40が移動体21の移動に伴いワークを測定する際の移動体21の位置を検出する位置検出部843と、移動体21に設けられた検出センサ50の検出結果に基づいて、移動体21が移動する際の移動体21の変形に伴うプローブ40の変位を取得する変位取得部844と、位置検出部843によって検出された移動体21の位置と、変位取得部844によって取得されたプローブ40の変位とに基づいて、ワークの測定値を取得する測定値取得部845とを備える。【選択図】図1
Description
本発明は、プローブで被測定物を測定する測定装置に関する。
測定装置として、例えば直交する三軸方向にプローブを移動させて、被測定物の座標等を測定する三次元測定装置が利用されている(特許文献1参照)。この測定装置においては、プローブは、三軸方向に移動可能な移動体に支持されている。そして、測定装置は、例えばプローブが被測定物に接触する際の移動体の位置を検出することで、被測定物の座標等を測定している。
上記の移動体は、モータ等の駆動源からの駆動力を受けて移動するが、移動する際に変形することがある。例えば、プローブによる倣い測定のために移動体が移動する際に、駆動力を受けて移動体が加速することに起因して移動体が弾性変形することがある。そして、移動体が変形すると、移動体に支持されたプローブの位置も変位してしまい、測定値(被測定物の座標等)に誤差が生じてしまう。
そこで、本発明はこれらの点に鑑みてなされたものであり、移動体の変形に起因してプローブが変位しても高精度に測定値を取得することを目的とする。
本発明の一の態様においては、被測定物を測定するプローブと、前記プローブを支持した状態で、駆動源からの駆動力を受けて移動する移動体と、前記プローブが前記移動体の移動に伴い前記被測定物を測定する際の前記移動体の位置を検出する位置検出部と、前記移動体に設けられた検出センサの検出結果に基づいて、前記移動体が移動する際の前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位を取得する変位取得部と、前記位置検出部によって検出された前記移動体の位置と、前記変位取得部によって取得された前記プローブの変位とに基づいて、前記被測定物の測定値を取得する測定値取得部と、を備える、測定装置を提供する。
また、前記測定装置は、前記検出センサとして、前記プローブを支持する支持部に設けられ、前記移動体が移動する際の前記支持部の加速度を検出する加速度センサを備え、前記変位取得部は、前記加速度センサによって検出された加速度に基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位量を取得することとしてもよい。
また、前記変位取得部は、前記加速度センサによって検出された加速度を積分することで、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位量を取得することとしてもよい。
また、前記変位取得部は、前記支持部の加速度と前記プローブの変位との対応関係を示す対応情報と、前記加速度センサによって検出された加速度とに基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位量を取得することとしてもよい。
また、前記移動体は、互いに直交する方向に移動する複数の移動部材で構成され、前記加速度センサは、前記複数の移動部材のうちの前記プローブを支持する一の移動部材の前記支持部に設けられていることとしてもよい。
また、前記移動体は、互いに直交する方向に移動する複数の移動部材で構成され、前記加速度センサは、前記複数の移動部材の各々に設けられており、前記変位取得部は、各移動部材の変形に伴う前記プローブの変位を取得することとしてもよい。
また、前記測定装置は、前記検出センサとして、前記移動体が移動する際の前記移動体の変形量を検出する変形量検出センサを備え、前記変位取得部は、前記変形量検出センサによって検出された変形量に基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位を取得することとしてもよい。
また、前記移動体は、直交三軸方向に移動するために複数の移動部材で構成され、前記変形量検出センサは、前記複数の移動部材のうちの前記駆動源側の移動部材に設けられていることとしてもよい。
また、前記変位取得部は、前記移動体の変形量と前記プローブの変位との対応関係を示す対応情報と、前記変形量検出センサによって検出された変形量とに基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位を取得することとしてもよい。
また、前記測定装置は、前記検出センサとして、前記プローブを支持する支持部に設けられ、前記支持部の位置を検出する位置検出センサを備え、前記変位取得部は、前記位置検出センサの検出結果に基づいて、前記プローブの変位を取得することとしてもよい。
本発明によれば、移動体の変形に起因してプローブが変位しても高精度に測定値を取得できるという効果を奏する。
<三次元測定装置の構成>
本発明の一の実施形態に係る三次元測定装置の構成について、図1及び図2を参照しながら説明する。
本発明の一の実施形態に係る三次元測定装置の構成について、図1及び図2を参照しながら説明する。
図1は、一の実施形態に係る三次元測定装置1の概略構成を示すブロック図である。図2は、測定機本体2の構成の一例を説明するための斜視図である。三次元測定装置1は、図1に示すように、測定機本体2と、モーションコントローラ7と、ホストコンピュータ8とを有する。
測定機本体2は、図1及び図2に示すように、ベース10と、移動機構20と、駆動機構30と、プローブ40と、検出センサ50とを有する。測定機本体2は、図1に示すようにベース10上に載置されたワークWを、移動機構20によって移動するプローブ40によって測定する。
ベース10は、図2に示すように、矩形板状に形成されている。ベース10は、被測定物であるワークWが載置される載置面11を有する。ベース10のX軸方向の一端側には、Y軸方向に沿ったガイド部12が設けられている。ガイド部12は、移動機構20(具体的には、移動機構20のコラム22)のY軸方向への移動をガイドする。
移動機構20は、プローブ40を支持した状態で測定空間内を移動させる機構である。移動機構20は、測定空間内で直交三軸(X軸、Y軸及びZ軸)方向に移動する移動体21(図1)を含む。移動体21は、図2に示すように、ベース10上を跨ぐように門型に設けられている。移動体21は、直交三軸方向に移動するための複数の移動部材で構成されている。具体的には、移動体21は、コラム22、ビーム23、スライダ24、ラム25及び支柱26で構成されている。
コラム22は、ガイド部12上に立設されている。コラム22は、駆動機構30の駆動部32(図1)によって、ガイド部12上をY軸方向に沿って移動可能である。移動体21は、測定を開始する際に、コラム22を駆動させる駆動部32によって加速される。
ビーム23は、X軸方向に延びるように設けられている。ビーム23の長手方向の一端側は、コラム22に支持されており、ビーム23の長手方向の他端側は、支柱26に支持されている。ビーム23は、コラム22と共にY軸方向に移動する。
スライダ24は、ビーム23に移動可能に支持されており、Z軸方向に沿って筒状に形成されている。スライダ24は、駆動部32によって、ビーム23上をX軸方向に沿って移動可能である。
ラム25は、スライダ24の内部に挿通されており、スライダ24と共にX軸方向に移動する。また、ラム25は、駆動部32によって、スライダ24内をZ軸方向に沿って移動可能である。
駆動機構30は、移動体21を駆動して、プローブ40をX軸、Y軸、Z軸方向に移動させる。駆動機構30は、図1に示すように、駆動部32と、スケールセンサ34とを有する。
駆動部32は、例えばモータ等の駆動源を有し、移動体21のコラム22、ビーム23、スライダ24及びラム25を移動させる。なお、駆動部32は、X軸駆動部、Y軸駆動部及びZ軸駆動部を含み、X軸、Y軸、Z軸方向に独立して移動させることができる。
スケールセンサ34は、駆動機構30によって駆動された移動機構20のX、Y、Z軸方向の移動量(移動後の位置)を検出するセンサである。スケールセンサ34は、例えばリニアエンコーダであり、物差しとなる目盛りであるスケールと、目盛りから位置情報を取得する検出器とを含む。
プローブ40は、ベース10に載置されたワークWを測定するための測定子である。例えば、プローブ40は、ワークWに接触しながら移動することで、ワークWの三次元位置を倣い測定する。プローブ40は、例えばワークWへの接触を検出可能なプローブセンサ42を有する。
検出センサ50は、移動体21の変形量(例えば、プローブ40を支持するラム25の変形量)を検出するためのセンサである。詳細は後述するが、検出センサ50は、測定開始時に駆動部32から駆動力を受けて移動体21が加速する際に発生する移動体21の変形量を検出する。検出センサ50は、例えば移動体21に設けられている。
モーションコントローラ7は、測定機本体2の駆動制御を実行する。モーションコントローラ7は、図1に示すように、駆動制御部72と、カウンタ部74とを有する。
駆動制御部72は、ホストコンピュータ8からの指令を受けて、駆動機構30の駆動部32の駆動制御を実行する。
駆動制御部72は、ホストコンピュータ8からの指令を受けて、駆動機構30の駆動部32の駆動制御を実行する。
カウンタ部74は、スケールセンサ34やプローブセンサ42から出力されるパルス信号を計数する。カウンタ部74は、スケールカウンタ742と、プローブカウンタ744とを有する。
スケールカウンタ742は、スケールセンサ34から出力されるパルス信号をカウントして、移動体21のX軸、Y軸、Z軸方向における位置(以下、スケール位置とも呼ぶ)を計測する。スケールカウンタ742は、計測したスケール位置をホストコンピュータ8に出力する。
プローブカウンタ744は、プローブセンサ42から出力されるパルス信号をカウントして、プローブ40のX軸、Y軸、Z軸方向における位置(以下、プローブ位置とも呼ぶ)を計測する。プローブカウンタ744は、計測したプローブ位置をホストコンピュータ8に出力する。
ホストコンピュータ8は、モーションコントローラ7に指令を与えると共に、ワークWの形状解析等の演算処理を実行する。ホストコンピュータ8は、図1に示すように、記憶部82と、制御部84とを有する。
記憶部82は、制御部84が実行するためのプログラムや各種データを記憶する。
制御部84は、記憶部82に記憶されたプログラムを実行することにより、測定機本体2の動作を制御する。制御部84は、移動指令部842、位置検出部843、変位取得部844、及び測定値取得部845として機能する。
制御部84は、記憶部82に記憶されたプログラムを実行することにより、測定機本体2の動作を制御する。制御部84は、移動指令部842、位置検出部843、変位取得部844、及び測定値取得部845として機能する。
移動指令部842は、駆動制御部72に指令を与えて、移動機構20の移動体21(すなわち、コラム22、ビーム23、スライダ24及びラム25)をX、Y、Z軸方向に移動させる。
位置検出部843は、移動体21のX軸、Y軸及びZ軸方向における移動後の位置(すなわち、スケール位置)を検出する。例えば、位置検出部843は、スケールカウンタ742の計測結果から、スケール位置を検出する。
変位取得部844は、移動体21が移動する際の移動体21の変形に伴うプローブ40の変位を取得する。移動体21は、駆動部32からの駆動力を受けて加速しながら移動するが、移動体21が加速することに起因して、移動体21が弾性変形することがある。そして、移動体21の弾性変形に伴い、プローブ40(具体的には、当該プローブ40のワークWに接触する先端位置40a)も変位してしまう。変位取得部844は、このようなプローブ40の変位を取得する。
図3は、移動体21の変形に伴う先端位置40aの変位を説明するための模式図である。図3では、便宜上、プローブ40の先端位置40aのみが示され、プローブ40の他の部分は省略されている。また、図3(a)には変形前の移動体21が示され、図3(b)には変形後の移動体21が示されている。
ここでは、移動体21のラム25が、駆動部32からの駆動力を受けて移動体21が加速する際に、図3(a)に示す状態から図3(b)に示す状態に弾性変形している(撓んでいる)。ラム25の撓み量は、移動体21の加速度に比例して大きくなる。そして、ラム25の撓みに連動して、ラム25に支持されたプローブ40の先端位置40aの位置も、図3(a)に示す位置から図3(b)に位置に変位してしまう。このようにプローブ40の先端位置40aが変位してしまうと、ワークWの測定値に誤差が生じることがある。なお、上記では、ラム25の変形に起因したプローブ40の先端位置40aの変位について説明したが、これに限定されず、コラム22、ビーム23、スライダ24の変形に起因してプローブ40の先端位置40aが変位しうる。
ここでは、移動体21のラム25が、駆動部32からの駆動力を受けて移動体21が加速する際に、図3(a)に示す状態から図3(b)に示す状態に弾性変形している(撓んでいる)。ラム25の撓み量は、移動体21の加速度に比例して大きくなる。そして、ラム25の撓みに連動して、ラム25に支持されたプローブ40の先端位置40aの位置も、図3(a)に示す位置から図3(b)に位置に変位してしまう。このようにプローブ40の先端位置40aが変位してしまうと、ワークWの測定値に誤差が生じることがある。なお、上記では、ラム25の変形に起因したプローブ40の先端位置40aの変位について説明したが、これに限定されず、コラム22、ビーム23、スライダ24の変形に起因してプローブ40の先端位置40aが変位しうる。
変位取得部844は、移動体21に設けられた検出センサ50の検出結果に基づいて、プローブ40の変位を取得する。検出センサ50として、例えば図4に示す加速度センサ50Aが移動体21に設けられている。
図4は、移動体21に設けられた加速度センサ50Aを説明するための模式図である。加速度センサ50Aは、プローブ40を支持する支持部であるのラム25に設けられている。具体的には、加速度センサ50Aは、ラム25の先端側に設けられている。加速度センサ50Aは、移動体21の移動時にラム25が変形する際のラム25の加速度を検出する。加速度センサ50Aは、移動体21が直交三軸(X軸、Y軸、Z軸)に移動する際の各軸方向におけるラム25の加速度を取得する。これにより、ラム25の各軸方向における変形量を適切に求めることができる。
変位取得部844は、加速度センサ50Aによって検出された加速度に基づいて、移動体21の変形に伴うプローブ40の変位量を取得する。例えば、変位取得部844は、加速度センサ50Aによって検出された加速度を積分することで、移動体21の変形に伴うプローブ40の変位量を取得する。具体的には、変位取得部844は、加速度センサ50Aが検出した加速度を2階積分することでラム25の撓み量を求めることで、プローブ40の先端位置40aの変位量を取得する。また、加速度センサ50Aによって検出された実測データを用いてラム25の撓み量を求めているので、精度が向上する。
変位取得部844は、ラム25の加速度とプローブ40の変位との対応関係を示す対応情報と、加速度センサ50Aによって検出された加速度とに基づいて、移動体21の変形に伴うプローブ40の変位量を取得してもよい。上記の対応情報は、構造体である移動体21の特性モデル(伝達関数)情報であり、例えば記憶部82(図1)に記憶されている。変位取得部844は、特性モデル情報を参照することで、加速度センサ50Aによって検出された加速度に対応するプローブ40の変位量を取得できる。この場合には、加速度を2階積分して移動体21の撓み量を算出する必要がないので、プローブ40の変位量を取得しやすくなる。
なお、上記では、加速度センサ50Aが、移動体21のラム25に設けられていることとしたが、これに限定されない。例えば、加速度センサ50Aが、コラム22、ビーム23及びラム25のそれぞれに設けられてもよい。この場合には、複数の加速度センサ50Aが、コラム22、ビーム23及びラム25の各々の各軸方向における変形量を適切に検出することになる。変位取得部844は、コラム22、ビーム23及びラム25の各々の変形量に基づいて、コラム22、ビーム23及びラム25の変形に起因したプローブ40の変位量を高精度に取得する。この際、変位取得部844は、移動体21の移動方向を考慮して、コラム22、ビーム23及びラム25の変形量を調整してもよい。
測定値取得部845は、移動体21の位置(スケール位置)とプローブ40の位置に基づいて、ワークWの測定値を取得する。測定値取得部845は、移動体21の変形に伴いプローブ40が変位した際には、プローブ40の変位量を考慮して測定値を取得する。すなわち、測定値取得部845は、位置検出部843によって検出された移動体21の位置と、変位取得部844によって取得されたプローブ40の変位量とに基づいて、ワークWの測定値を取得する。具体的には、測定値取得部845は、位置検出部843が検出した移動体21の位置を、プローブ40の変位量で補正することで、ワークWの測定値を取得する。これにより、仮にプローブ40でワークWを測定する際に移動体21が変形しても、測定誤差の発生を抑制できる。
なお、測定誤差を小さくするために、移動体21の剛性を高めて移動体21が加速する際の移動体21の変形を抑制する方策も考えられる。しかし、移動体21の剛性を高めるためには移動体21を大型化する必要があるので、移動体21の重量が増加してしまう。これに対して、上述した本実施形態のようにプローブ40の変位を考慮してワークWの測定値を取得する場合には、移動体21の剛性を高める必要がないので、移動体21の重量が増加することもない。
上記では、検出センサ50が図4に示す加速度センサ50Aであることとしたが、これに限定されない。例えば、検出センサ50は、図5に示すような変形量検出センサ50Bや図6に示す位置検出センサ50Cであってもよい。
(第1変形例)
図5は、第1変形例を説明するための模式図である。なお、図5では、説明の便宜上、プローブ40が省略されている。
第1変形例においては、加速度センサ50Aの代わりに、変形量検出センサ50Bが設けられている。変形量検出センサ50Bは、例えばひずみゲージセンサや変位センサであり、移動体21が移動する際の移動体21の変形量を検出する。
図5は、第1変形例を説明するための模式図である。なお、図5では、説明の便宜上、プローブ40が省略されている。
第1変形例においては、加速度センサ50Aの代わりに、変形量検出センサ50Bが設けられている。変形量検出センサ50Bは、例えばひずみゲージセンサや変位センサであり、移動体21が移動する際の移動体21の変形量を検出する。
変形量検出センサ50Bは、図5に示すように、移動体21においてコラム22とビーム23の連結部の周囲に設けられている。移動体21の移動を開始する際には、コラム22が、ガイド部12(図1)に設けられた駆動部32から駆動力を受けて加速する。このため、変形量検出センサ50Bは、移動体21を加速させる駆動部32の近くに設けられていることになる。これにより、駆動部32の駆動力を受けて移動体21が加速する際に発生する移動体21の変形量を適切に求めることができる。
変位取得部844(図1)は、変形量検出センサ50Bによって検出された変形量に基づいて、移動体21の変形に伴うプローブ40の変位を取得する。この際、変位取得部844は、移動体21の変形量とプローブ40の変位との対応関係を示す対応情報と、変形量検出センサ50Bによって検出された変形量とに基づいて、移動体21の変形に伴うプローブ40の変位を取得する。上記の対応情報は、構造体である移動体21の特性モデル(伝達関数)情報であり、例えば記憶部82(図1)に記憶されている。変位取得部844は、特性モデル情報を参照することで、変形量検出センサ50Bによって検出された変形量に対応するプローブ40の変位量を取得できる。
測定値取得部845は、位置検出部843が検出した移動体21の位置に対して、変位取得部844によって取得されたプローブ40の変位量で補正することで、ワークWの測定値を取得する。これにより、仮にプローブ40でワークWを測定する際に移動体21が変形しても、測定誤差の発生を抑制できる。
(第2変形例)
図6は、第2変形例を説明するための模式図である。なお、図6では、説明の便宜上、プローブ40が省略されている。
第2変形例においては、加速度センサ50Aの代わりに、位置検出センサ50Cが設けられている。位置検出センサ50Cは、移動体21のラム25に設けられており、ラム25の位置を検出する。
図6は、第2変形例を説明するための模式図である。なお、図6では、説明の便宜上、プローブ40が省略されている。
第2変形例においては、加速度センサ50Aの代わりに、位置検出センサ50Cが設けられている。位置検出センサ50Cは、移動体21のラム25に設けられており、ラム25の位置を検出する。
位置検出センサ50Cは、図6に示すように、移動体21のラム25に設けられている。具体的には、位置検出センサ50Cは、ラム25の先端側(プローブ40を支持する側)に設けられている。
変位取得部844(図1)は、位置検出センサ50Cの検出結果に基づいて、プローブ40の変位を取得する。例えば、変位取得部844は、ラム25が変形した際には、変形したラム25の位置(例えば、変形していない際の基準位置からの変位)を検出することで、プローブ40の変位量を推定する。このように取得したプローブ40の変位量を用いることで、第1変形例と同様に、仮にプローブ40でワークWを測定する際に移動体21が変形しても、測定誤差の発生を抑制できる。
上記では、ホストコンピュータ8が、位置検出部843等として機能する制御部84を有することとしたが、これに限定されない。例えば、図7に示すように、制御部84が、モーションコントローラ7に設けられていてもよい。
図7は、三次元測定装置1の構成の変形例を示すブロック図である。図7に示す三次元測定装置1では、モーションコントローラ7が、記憶部82及び制御部84を有する。一方で、ホストコンピュータ8は、移動指令部842に命令を行う測定指令部85と、測定値取得部845が取得した測定値を処理する測定値処理部86を有する。また、図7では、プローブカウンタ744(図1参照)の代わりに、カウンタを用いずにプローブの位置を検出するプローブ検出部75が設けられている。
図7は、三次元測定装置1の構成の変形例を示すブロック図である。図7に示す三次元測定装置1では、モーションコントローラ7が、記憶部82及び制御部84を有する。一方で、ホストコンピュータ8は、移動指令部842に命令を行う測定指令部85と、測定値取得部845が取得した測定値を処理する測定値処理部86を有する。また、図7では、プローブカウンタ744(図1参照)の代わりに、カウンタを用いずにプローブの位置を検出するプローブ検出部75が設けられている。
<本実施形態における効果>
上述した三次元測定装置1は、移動体21に設けられた検出センサ50(例えば、ラム25に設けられた加速度センサ50A)の検出結果に基づいて、移動体21が移動する際の移動体21の変形に伴うプローブ40の変位を取得する。そして、三次元測定装置1は、検出された移動体21の位置(スケール位置)と、取得されたプローブ40の変位とに基づいて、ワークWの測定値を取得する。
これにより、検出センサ50が検出した実測データに基づいて、プローブ40の変位量を高精度に求めることができる。そして、求めたプローブ40の変位量を反映してワークWの測定値を補正するので、測定誤差を抑制できる。特に、検出センサ50が検出した実測データを用いて、この結果、移動体21の変形に起因してプローブ40が変位しても高精度に測定値を取得できる。
上述した三次元測定装置1は、移動体21に設けられた検出センサ50(例えば、ラム25に設けられた加速度センサ50A)の検出結果に基づいて、移動体21が移動する際の移動体21の変形に伴うプローブ40の変位を取得する。そして、三次元測定装置1は、検出された移動体21の位置(スケール位置)と、取得されたプローブ40の変位とに基づいて、ワークWの測定値を取得する。
これにより、検出センサ50が検出した実測データに基づいて、プローブ40の変位量を高精度に求めることができる。そして、求めたプローブ40の変位量を反映してワークWの測定値を補正するので、測定誤差を抑制できる。特に、検出センサ50が検出した実測データを用いて、この結果、移動体21の変形に起因してプローブ40が変位しても高精度に測定値を取得できる。
上記では、プローブ40が、ワークWに接触する接触式のプローブであることとしたが、これに限定されない。例えば、プローブ40は、レーザやカメラ等の非接触式のプローブであってもよい。
また、上記では、移動機構20は、直交三軸方向の各軸方向にプローブ40を移動させることとしたが、これに限定されない。例えば、移動機構20は、X軸、Y軸、Z軸のいいずれか1つ又は2つの軸方向にプローブ40を移動させてもよい。
また、上記では、移動体21が図2に示すような門型の構造であることとしたが、これに限定されない。移動体21は、プローブ40を支持した状態で移動できれば、他の構造であってもよい。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。例えば、装置の分散・統合の具体的な実施の形態は、以上の実施の形態に限られず、その全部又は一部について、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。また、複数の実施の形態の任意の組み合わせによって生じる新たな実施の形態も、本発明の実施の形態に含まれる。組み合わせによって生じる新たな実施の形態の効果は、もとの実施の形態の効果を合わせ持つ。
1 三次元測定装置
21 移動体
32 駆動部
40 プローブ
40a 先端位置
50 検出センサ
50A 加速度センサ
50B 変形量検出センサ
50C 位置検出センサ
843 位置検出部
844 変位取得部
845 測定値取得部
W ワーク
21 移動体
32 駆動部
40 プローブ
40a 先端位置
50 検出センサ
50A 加速度センサ
50B 変形量検出センサ
50C 位置検出センサ
843 位置検出部
844 変位取得部
845 測定値取得部
W ワーク
Claims (10)
- 被測定物を測定するプローブと、
前記プローブを支持した状態で、駆動源からの駆動力を受けて移動する移動体と、
前記プローブが前記移動体の移動に伴い前記被測定物を測定する際の前記移動体の位置を検出する位置検出部と、
前記移動体に設けられた検出センサの検出結果に基づいて、前記移動体が移動する際の前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位を取得する変位取得部と、
前記位置検出部によって検出された前記移動体の位置と、前記変位取得部によって取得された前記プローブの変位とに基づいて、前記被測定物の測定値を取得する測定値取得部と、
を備える、測定装置。 - 前記検出センサとして、前記プローブを支持する支持部に設けられ、前記移動体が移動する際の前記支持部の加速度を検出する加速度センサを備え、
前記変位取得部は、前記加速度センサによって検出された加速度に基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位量を取得する、
請求項1に記載の測定装置。 - 前記変位取得部は、前記加速度センサによって検出された加速度を積分することで、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位量を取得する、
請求項2に記載の測定装置。 - 前記変位取得部は、前記支持部の加速度と前記プローブの変位との対応関係を示す対応情報と、前記加速度センサによって検出された加速度とに基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位量を取得する、
請求項2に記載の測定装置。 - 前記移動体は、互いに直交する方向に移動する複数の移動部材で構成され、
前記加速度センサは、前記複数の移動部材のうちの前記プローブを支持する一の移動部材の前記支持部に設けられている、
請求項2から4のいずれか1項に記載の測定装置。 - 前記移動体は、互いに直交する方向に移動する複数の移動部材で構成され、
前記加速度センサは、前記複数の移動部材の各々に設けられており、
前記変位取得部は、各移動部材の変形に伴う前記プローブの変位を取得する、
請求項2から4のいずれか1項に記載の測定装置。 - 前記検出センサとして、前記移動体が移動する際の前記移動体の変形量を検出する変形量検出センサを備え、
前記変位取得部は、前記変形量検出センサによって検出された変形量に基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位を取得する、
請求項1に記載の測定装置。 - 前記移動体は、直交三軸方向に移動するために複数の移動部材で構成され、
前記変形量検出センサは、前記複数の移動部材のうちの前記駆動源側の移動部材に設けられている、
請求項7に記載の測定装置。 - 前記変位取得部は、前記移動体の変形量と前記プローブの変位との対応関係を示す対応情報と、前記変形量検出センサによって検出された変形量とに基づいて、前記移動体の変形に伴う前記プローブの変位を取得する、
請求項7又は8に記載の測定装置。 - 前記検出センサとして、前記プローブを支持する支持部に設けられ、前記支持部の位置を検出する位置検出センサを備え、
前記変位取得部は、前記位置検出センサの検出結果に基づいて、前記プローブの変位を取得する、
請求項1に記載の測定装置。
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Family Applications (1)
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JP2018041634A Pending JP2019158385A (ja) | 2018-03-08 | 2018-03-08 | 測定装置 |
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