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JP2019045396A - ラマン分光測定装置及びラマン分光測定方法 - Google Patents

ラマン分光測定装置及びラマン分光測定方法 Download PDF

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JP2019045396A
JP2019045396A JP2017170631A JP2017170631A JP2019045396A JP 2019045396 A JP2019045396 A JP 2019045396A JP 2017170631 A JP2017170631 A JP 2017170631A JP 2017170631 A JP2017170631 A JP 2017170631A JP 2019045396 A JP2019045396 A JP 2019045396A
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Noriyuki Honma
敬之 本間
雅広 柳沢
Masahiro Yanagisawa
雅広 柳沢
美紀子 齋藤
Mikiko Saito
美紀子 齋藤
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Abstract

【課題】被検査体の形状の測定とラマン分光測定を同時にできるラマン分光測定装置及びラマン分光測定方法を提供する。【解決手段】被検査体8で生じたラマン散乱光2cに基づいてラマン分光測定するラマン分光測定装置1であって、被検査体8にラマン散乱光2cを生じさせる励起光2aと、少なくとも1つ以上の単色光6aとを出射する光出射部と、被検査体8で生じたラマン散乱光2cと、単色光3a、4a、5a(単色光6a)によって被検査体8で生じた反射光とを分光する分光器10と、励起光2aと単色光6aとを被検査体8に導き、ラマン散乱光2cと反射光6bとを分光器10へと導く光学系7とを備え、反射光6bの強度に基づいて被検査体8の形状を測定する。【選択図】図1

Description

本発明は、ラマン分光測定装置及びラマン分光測定方法に関する。
ラマン分光法(ラマン分光測定)は、励起光を被検査体に照射し、励起光が照射された箇所から生じるラマン散乱光のスペクトルが、被検査体中に存在する化学種や分子によって異なるのを利用して、被検査体の化学構造を解析する手法である。このようなラマン分光法は、分子・結晶構造の精密解析方法として知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2006−214900号公報
しかしながら、ラマン分光測定では、被検査体の表面形状や厚さなどの形状を測定できない。そのため、従来は、被検査体の表面形状と化学構造とを分析する場合、ラマン分光測定の前か後に、被検査体の表面形状を測定する必要があった。特に、被検査体が微小な場合や表面形状が変わりやすい場合などでは、被検査体の表面形状の測定結果とラマン分光測定の結果とが対応しない場合もあり、被検査体の表面形状や厚さなどの形状の測定とラマン分光測定とを同時に行うことが求められている。
そこで、本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、被検査体の形状の測定とラマン分光測定を同時にできるラマン分光測定装置及びラマン分光測定方法を提供することを目的とする。
本発明によるラマン分光測定装置は、被検査体で生じたラマン散乱光に基づいてラマン分光測定するラマン分光測定装置であって、前記被検査体に前記ラマン散乱光を生じさせる励起光と、少なくとも1つ以上の単色光とを出射する光出射部と、前記被検査体で生じた前記ラマン散乱光と、前記単色光によって前記被検査体で生じた反射光とを分光する分光器と、前記励起光と前記単色光とを前記被検査体に導き、前記ラマン散乱光と前記反射光とを前記分光器へと導く光学系とを備え、前記反射光の強度に基づいて前記被検査体の形状を測定する。
本発明によるラマン分光測定方法は、被検査体で生じたラマン散乱光に基づいてラマン分光測定するラマン分光測定方法であって、前記被検査体に前記ラマン散乱光を生じさせる励起光と、少なくとも1つ以上の単色光とを、前記被検査体に照射する照射工程と、前記ラマン散乱光と、前記単色光によって前記被検査体で生じた反射光とを分光する分光工程と、前記反射光の強度に基づいて前記被検査体の形状を測定する測定工程とを有する。
本発明によれば、被検査体で生じたラマン散乱光と反射光とを分光し、ラマン散乱光に基づいてラマン分光測定すると共に、被検査体で生じた反射光の強度に基づいて被検査体の形状を測定するので、被検査体の形状の測定とラマン分光測定を同時にできる。
第1実施形態のラマン分光測定装置の全体構成を示す概略図である。 ラマン分光測定の結果を示すグラフである。 反射光の強度に基づく表面形状の測定の原理を示す図である。 図4Aはプラズモンセンサと試料の隙間を測定する原理を説明する図であり、図4Bは、干渉縞を撮像した画像である。 他の実施形態のラマン分光測定装置の全体構成を示す概略図である。 図6Aは、焦点位置が薄膜表面にあるときの反射光を示す図であり、図6Bは、焦点位置が金属基板表面にあるときの反射光を示す図であり、図6Cは、焦点位置が金属基板中にあるときの反射光を示す図である。 図7Aは、第1実施形態のノッチフィルタの配置を示す図であり、図7Bは、他の実施形態のノッチフィルタの配置を示す図であり、図7Cはノッチフィルタの傾きとノッチフィルタからの出射光の強度の関係を表すグラフである。 図8Aは、白色光を光源としてシリコン基板の摩耗面をCCDカメラで撮像した画像であり、図8Bは、447nmのレーザ光を単色光としてシリコン基板の摩耗面をCCDカメラで撮像した画像である。 図9Aは、被検査体の構造を示す図であり、図9Bは、DLCのラマン散乱光像であり、図9Cは、DLCの反射光像である。 図10Aは、被検査体の構造を示す図であり、図10Bは、DLCの膜厚の測定結果を示すグラフである。
(1)第1実施形態のラマン分光測定装置の全体構成
図1に示すように、本発明の第1実施形態のラマン分光測定装置1は、励起光源2及び単色光源6でなる光出射部と、光学系7と、第1ノッチフィルタ9と、分光器10と、第2ノッチフィルタ14と、筐体16と、撮像装置としてのCCD18と、被検査体8を載置するステージ19と、モニタ22とを備えている。ステージ19は、ステージ19に接続された制御装置20からの制御信号によりステージ19の位置を面内に動かすことで載置した被検査体8を移動させ、被検査体8の測定位置を変えることができる。また、ステージ19の位置を垂直方向に動かすことで載置した被検査体8を深さ方向に移動させ、後述する対物レンズ11からの励起光2a及び単色光6aの被検査体8に対する焦点位置を変えることができる。本実施形態では、被検査体8として、Fe基板上に形成されたダイアモンドライクカーボン(以下、DLCという)薄膜試料を用いている。
ステージ19の上部には筐体16が配置されており、筐体16に光学系7が設置されている。光学系7は、対物レンズ11と、ビームスプリッタ12と、ハーフミラー13とを備えている。対物レンズ11は、被検査体8と向かい合うように、筐体16の外壁に設けられている。筐体16には、対物レンズ11と被検査体8との距離を調節する対物レンズ11の位置調整機能が設けられており、対物レンズ11の焦点位置を調整できるようになっている。通常は、被検査体8の表面に焦点位置がくるように調整する。ハーフミラー13とビームスプリッタ12とは、対物レンズ11と直線状に配置されており、対物レンズ11を透過した光がビームスプリッタ12、ハーフミラー13をこの順に透過していく。
筐体16の上面に設けられた窓部27bには、第2ノッチフィルタ14を介してCCDカメラ18が接続されている。ハーフミラー13を透過した光が第2ノッチフィルタ14を通過してCCDカメラ18のCCDに到達でき、CCDカメラ18は、被検査体8表面の画像を撮像できる。CCDカメラ18にはモニタ22が接続されており、モニタ22は、CCDカメラ18が撮像した被検査体8表面の画像を表示できる。なお、CCDカメラ18の撮像領域は、対物レンズ11の倍率を変えることで、適宜設定できる。また、本実施形態では、ノッチフィルタとして、例えばエドモンド・オプティクス製OD6ノッチフィルタ#67-110を用いている。CCDカメラ18は、動画も撮影することができ、表面形状の変化とラマン分光スペクトルの変化を同時に測定することもできる。
励起光源2は、被検査体8にラマン散乱光を生じさせるための励起光2aを出射する光源であり、例えばレーザ光源などである。励起光2aの波長は、被検査体8に合わせて、すなわち、検出したい被検査体8の分子構造に合わせて適宜選択される。本実施形態では、被検査体8がDLCであるので、励起光源2として、532nmの波長のレーザ光(励起光2a)を出射するレーザ光源を用いている。励起光源2は、出射した励起光2aをミラー26で反射させ、筐体16の側面に設けられた窓部27cから筐体16内に設置されたハーフミラー13へと入射させる。励起光源2、ミラー26の位置は、励起光2aを光学系7のハーフミラー13に照射できるように配置されている。励起光2aは、ハーフミラー13においてビームスプリッタ12に向けて反射し、ビームスプリッタ12を透過して対物レンズ11に入射し、対物レンズ11によって被検査体8に集光される。
本実施形態の単色光源6は、波長の異なるレーザ光を出射する3つのレーザ光源3、4、5でなる。レーザ光源3は、単色光3aとして波長が676nmのレーザ光を出射し、レーザ光源4は、単色光4aとして波長が657nmのレーザ光を出射し、レーザ光源5は、単色光5aとして波長が447nmのレーザ光を出射する。単色光3a、4a、5aの波長は、励起光2a波長とDLCのラマン散乱光の波長と異なるように選択している。
単色光源6は、ミラー15a、15d、及び、ハーフミラー15b、15cでなるミラー群15とビームエキスパンダ24とを備えている。ミラー15aは、単色光5aをハーフミラー15bに反射し、単色光5aをハーフミラー15bに入射させる。ハーフミラー15bは、単色光4aをハーフミラー15cに反射すると共に、入射した単色光5aを透過し、単色光4a、5aをハーフミラー15cに入射させる。ハーフミラー15cは、単色光3aをミラー15dに反射すると共に、入射した単色光4a、5aを透過し、単色光3a、4a、5aをミラー15dに入射させる。ミラー15dは、単色光3a、4a、5aをビームエキスパンダ24に反射し、単色光3a、4a、5aをビームエキスパンダ24へ入射させる。なお制御装置20によりステージ19及び被検査体8を面内又は垂直方向にスキャンをする測定の場合は、ビームエキスパンダ24は用いない。
単色光3a、4a、5aは、ハーフミラー15bで単色光5a、4aが合波され、ハーフミラー15cで合波された単色光5a、4aと、単色光3aとが合波される。以下では、合波された単色光3a、4a、5aをまとめて単色光6aと称して発明を説明する。なお、図1では、便宜上、単色光5a、4a、3aを別々の光として示している。
ビームエキスパンダ24は、倍率が5倍に設定されており、単色光6aのビーム径が拡大し、単色光6aを筐体16の側面に設けられた窓部27aから筐体16内に設置されたビームスプリッタ12に入射させる。単色光源6は、単色光6aをビームスプリッタ12に入射できるように、レーザ光源3、4、5、ミラー群15、及び、ビームエキスパンダ24の位置が調整されている。単色光6aは、ビームスプリッタ12で対物レンズ11に向けて反射され、対物レンズ11によって被検査体8に集光される。このように、光学系7によって、励起光2aと単色光6aとが被検査体8に導かれる。
単色光6aは、ビームエキスパンダ24によってビーム径が拡大されているので、被検査体8表面上で励起光2aよりも大きな領域に照射される。そのため、単色光6aを、CCDカメラ18を用いて被検査体8表面の画像を撮像するときの照明光として利用できる。
励起光2aが被検査体8に照射されると、ラマン効果によりラマン散乱光2cが生じる。同時に被検査体8表面で励起光2aが反射し、反射光(以下、励起反射光2bという)が生じる。また、単色光6aが被検査体8表面に照射されると、反射光6bが生じる。ラマン散乱光2c、励起反射光2b、及び、反射光6bとは対物レンズ11、ビームスプリッタ12を透過して、ハーフミラー13へと入射する。ハーフミラー13は、ラマン散乱光2c、励起反射光2b、及び、反射光6bの一部を窓部27b方向に透過させ、第2ノッチフィルタ14を介してCCDカメラ18へ入射させ、ラマン散乱光2c、励起反射光2b、及び、反射光6bの一部を窓部27c方向に反射し、第1ノッチフィルタ9を介して分光器10に入射させる。このように、光学系7によって、ラマン散乱光2cと反射光6bとが分光器10へ導かれる。
第1ノッチフィルタ9、第2ノッチフィルタ14は、励起光2aと同じ波長の光、すなわち、励起反射光2bのみを減衰させるように阻止波長帯域が設定される。本実施形態では、523.5nm〜540.5nmに阻止波長帯域を設定している。第1ノッチフィルタ9、第2ノッチフィルタ14で、励起反射光2bが減衰され(減衰工程)、分光器10、CCDカメラ18には、第1ノッチフィルタ9、第2ノッチフィルタ14を通過したラマン散乱光2c及び反射光6bのみが入射する。分光器10は、ラマン散乱光2c、反射光6bを分光して、光の波長毎に光の強度を記録した分光スペクトルを生成し、分光スペクトルをパーソナルコンピュータなどの演算装置21に送出する。演算装置21は、分光スペクトルに基づいて、横軸にラマンシフト(波数,cm−1)の大きさ、縦軸に光の強度を示すグラフを作成し、当該グラフをラマン分光測定の結果として、モニタ22に出力する。
図2は、ラマン分光測定の結果を表す上述のグラフである。図2には、1500カイザー(cm−1)付近のDLCのラマン散乱光のピークと、3つの単色光3a、4a、5aの波数に現れた反射光6bのピークとが観察された。単色光6aは、被検査体8で反射するとき、周波数がシフトしないので、反射光6bのピークが、単色光6aに含まれる3つの単色光3a、4a、5aの波数に現れる。図2中に示す領域25は、第1ノッチフィルタ9、第2ノッチフィルタ14の阻止波長帯域に対応する領域であり、検出された光の強度が小さくなっている。
また、本実施形態では、単色光6aの波長を励起光2aの波長と異なるように選択しているので、反射光6bが第1ノッチフィルタ9、第2ノッチフィルタ14で減衰されることがなく、反射光6bを検出できる。さらに本実施形態では、単色光6aの波長をDLCのラマン散乱光2cの波長と異なるように選択しているので、ラマン散乱光2cのピークと反射光6bのピークが図2に示すように重ならず、ラマン散乱光2cの強度を用いてより正確にDLCを分析することができる。加えて、ラマン散乱光2cと反射光6bのピークが重なっていないので、ラマン散乱光2cのピークと反射光6bのピークとを分離する処理をする必要がなく、より容易にラマン分光測定をすることができる。
さらに、単色光6aの波長は、励起光2aの波数より大きい波数領域をストークス領域とし、励起光2aの波数より小さい波数領域をアンチストークス領域とすると、ストークス領域及びアンチストークス領域(すなわち、励起光2aの波長以外の波長)から選択するのがよい。また、単色光6aの波長は、ストークス領域の分析対象のピーク(解析に用いる波数(波長))と重ならない波数から選ぶのが良い。又は、高波数側領域(3500cm−1〜4000cm−1)では、被検査体8の物質を種々変更してもラマン散乱光(ストークス光)のピークが現れることが少なく、アンチストークス領域では、ラマン散乱光(アンチストークス光)のピークが小さく、アンチストークス光のピークをラマン分光測定に用いることが少ないので、単色光6aの波長は、この波数領域から単色光6aの波数を選択するのがよい。
また、単色光6aの波長は、アンチストークス領域の波数から選択するのがより望ましい。図2に示すように、アンチストークス領域のバックグラウンド成分がストークス領域のバックグラウンド成分よりも小さいため、後述する反射光6bの強度を用いた表面形状測定などを、バックグラウンド成分の影響を受けずに、より精度よく行うことができるからである。
実際には、第1ノッチフィルタ9によってアンチストークス領域の一部の波長の光も減衰しているので、第1ノッチフィルタ9の阻止波長帯域の下限よりも小さい波長の光を単色光6aとして選択することとなる。第1ノッチフィルタ9の阻止波長帯域は、大きすぎるとラマン散乱光2cも減衰させてしまう恐れがあり、小さすぎると励起光2aのスペクトルの裾部分の波長の光がラマン分光スペクトルに現れて、ラマン分光測定に影響を与える恐れがある。そのため、第1ノッチフィルタ9の阻止波長帯域は、上限を励起光2aの波長プラス当該波長の0.5〜3.0%、下限を励起光2aの波長マイナス当該波長の0.5〜3.0%にするのが良い。第2ノッチフィルタ14の阻止波長帯域についても同様である。
したがって、単色光6aの波長は、第1ノッチフィルタの阻止波長帯域の下限である励起光2aの波長の99.5%より小さい波長の光から、被検査体の組成や光源の構成などを考慮して適宜選択するのが望ましい。なお、単色光6aの波長は、このようにして適宜選択すればよいので、その下限は特に限定されないが、波長の下限は、概ね、300nm程度である。これ以上波長が短いと紫外域になるので光学材料やCCD検出器の大幅な変更が必要となる。例えば、励起光2aの波長が532nmの場合、単色光6aの波長は529nm以下の波長から選択する。
第2ノッチフィルタ14を透過したラマン散乱光2c及び反射光6bは、CCDカメラ18に入射する。CCDカメラ18は、被検査体8表面で反射した反射光6bを受光する。なお、CCDカメラ18の前に第2ノッチフィルタ14を設置したのは、励起反射光2bの強度が反射光6bよりも大きく、CCDカメラ18のダイナミックレンジをこえているので、励起反射光2bを遮断しないと、反射光6bに基づいて画像を生成できないからである。ここで、図3に示すように、被検査体8の表面で単色光6aが反射すると、反射光6bのほとんどが単色光6aの入射方向、すなわち対物レンズ11の方向に垂直に反射する。CCDカメラ18で受光する反射光6bの強度は反射率100%とすれば単色光6aと同程度である。
一方で、被検査体8の表面にある突起8aやデブリ8bに単色光6aが入射すると、突起8aやデブリ8b又は凹部8cは表面が被検査体8の表面のよりも平坦ではないので、反射光6bが種々の方向に生じる。そのため、対物レンズ11の方向に反射する反射光6bが減り、CCDカメラ18で受光する反射光6bの強度は、被検査体8表面で単色光6aが反射して生じた反射光6bよりも小さい。このように、被検査体8の表面の形状によって、CCDカメラ18で受光する反射光6bの強度が異なるので、CCDカメラ18が被検査体8表面を撮像することで、被検査体8の表面形状を表す反射光像を生成できる。
以上のように本発明のラマン分光測定装置1は、ラマン分光測定と同時に、CCDカメラ18によって反射光像を作成できる。また、CCDカメラ18では、ラマン散乱光2cも受光しており、励起光2aのビーム径はビームエキスパンダで拡大されていないので、反射光像内にラマン散乱光2cが生じた位置が輝点として表れる。そのため、反射光像からラマン分光測定を行った箇所を特定できる。
また、本実施形態のラマン分光測定装置1では、図4Aに示すように、試料上に特許第6179905号に開示されているプラズモンセンサ41を載置して、表面増強ラマン散乱により強度が増強されたラマン散乱光2cを生じさせるようにすることもできる。この場合、ラマン散乱光2cの強度が増加されるので、より精度よくラマン分光測定をすることができる。プラズモンセンサ41は、励起光2aと単色光6aを透過でき、半球形状に形成されて、球面部(以下、下面という)が被検査体8と向き合うように載置されている。そのため、特に、プラズモンセンサ41の周辺部では、試料との間に隙間が生じる。
このとき、単色光6aの一部(図4中の33a)は、プラズモンセンサ41の下面で反射し、反射光33bとなる。他の単色光6a(図4中の34a)は、プラズモンセンサ41を透過して試料の表面で反射し、反射光34bとなる。図4Aでは、説明の便宜上、単色光33a、34a、反射光33b、34bの光線の位置をずらして記載しているが、実際には、光線は重なっている。反射光33bと反射光34bとは干渉し、干渉した反射光33b、34bの強度から反射光33bと反射光34bとの光路長差を算出でき、プラズモンセンサ41の下面と試料の間の隙間の距離を算出できる。
図4Bは、プラズモンセンサ41を被検査体8上に載置した状態でCCDカメラ18によって撮像した画像である。プラズモンセンサ41は、半球形状をしており、周辺部に向かうほど、プラズモンセンサ41の下面と試料との間の隙間が大きくなるので、同心円状の干渉縞が観察される。このように、被検査体としてのプラズモンセンサ41の下面と試料との間の隙間の形状を測定できる。
(2)作用及び効果
以上の構成において、本実施形態のラマン分光測定装置1は、光出射部の励起光源2から出射した、被検査体8にラマン散乱光2cを生じさせる励起光2aと、光出射部の単色光源6から出射した少なくとも1つ以上の単色光3a、4a、5a(まとめて単色光6aという)とを、光学系7を介して被検査体8に照射し(照射工程)、ラマン散乱光2cと、単色光6aによって被検査体8に生じた反射光6bと光学系7を介して分光器10で受光し、ラマン散乱光2cと反射光6bとを分光し(分光工程)、反射光6bの強度に基づいて被検査体8の形状を測定する(測定工程)ように構成した。
本実施形態のラマン分光測定装置1は、被検査体8で生じたラマン散乱光2cと反射光6bとを分光し、ラマン散乱光2cに基づいてラマン分光測定すると共に、被検査体8で生じた反射光6bの強度に基づいて被検査体8の表面形状を測定するので、被検査体の形状の測定とラマン分光測定を同時にできる。
(3)他の実施形態
図1と同じ構成には同じ符号を付した図5に他の実施形態のラマン分光測定装置101を示す。ラマン分光測定装置101は、単色光源60の構成が第1実施形態と異なる。他の構成は第1実施形態と同様であるので、ここでは、第2実施形態の単色光源60の構成を中心に説明する。単色光源60は、白色光源30と、筐体16内に設けられたバンドパスフィルタ31とでなる。白色光源30は、白色光30aを出射し、筐体16の窓部27aからバンドパスフィルタ31に白色光30aを照射する。
バンドパスフィルタ31は、白色光30aのうち、所定の波長の光を透過させ、他の波長の光を減衰することで、白色光30aを単色光60aにし、ビームスプリッタ12に照射する。本実施形態では、バンドパスフィルタ31の通過帯域の中心波長を441nmに設定しており、白色光30aを波長が441nmの単色光60aにする。単色光60aの波長は、バンドパスフィルタ31の通過帯域を適宜設定することで所望の波長に変えることができる。このように、バンドパスフィルタ31の通過帯域を適宜設定することで単色光60aの波長を適宜調整できるので、白色光源30とバンドパスフィルタ31を用いる方が、レーザ光源を用いる場合よりも、波長の選択性が良い。
上記の実施形態では、3つの単色光3a、4a、5aを用いた場合について説明したが、本発明はこれに限られず、少なくとも1つ以上の単色光を用いればよい。特に、反射光を干渉させる場合は、複数の単色光を用いた方がより精度よく形状を測定することができる。また、単色光源として白色光源とバンドパスフィルタを用いる場合は、例えば、白色光源から出射した白色光を分波し、分波した白色光を、通過帯域の異なる複数のバンドパスフィルタに通すことで、複数の単色光を生成する。
上記の実施形態では、単色光6aを被検査体8の表面に照射して生じた反射光6bを用いて、被検査体8の表面形状を測定する場合について説明したが、本発明はこれに限られず、単色光6aを用いて、被検査体を深さ方向に分析すると共に、被検査体の形状として、被検査体の膜厚を測定することもできる。ここでは、図6に示すように、薄膜と、薄膜の下部に形成された層(例えば金属基板)との界面で単色光6aが反射することで生じる反射光6bを利用する。
具体的には、対物レンズ11に設けられたピント調節機構(図示せず)を用いるか又はステージ19の位置を垂直方向に動かすことで載置した被検査体8を深さ方向に移動させて、対物レンズ11の焦点位置を薄膜と金属基板との界面に向けて移動させながら、反射光の強度を分光器10で測定する。焦点位置が薄膜表面よりも対物レンズ11側にあるときは、焦点位置が大気中にあるため、分光器10で検出される反射光6bの強度は弱い。図6Aに示すように、対物レンズ11のピント位置が被検査体8の薄膜表面にあるときは、薄膜表面で反射した反射光(図示せず)は対物レンズに入射するようになるが、薄膜を透過して金属基板表面で反射した反射光6bが対物レンズ11に入射しないので、反射光6bの強度は弱いままである。その後、焦点位置が薄膜中なると、大気中と薄膜中では屈折率が違う、その影響を受けて反射光6bの強度が変化する。
続いて、図6Bに示すように、焦点位置が薄膜と金属基板との界面になると、金属基板表面で反射した反射光6bも対物レンズ11に入射するようになり、分光器10で検出される反射光6bの強度が強くなる。その後、焦点位置が金属基板中に移動しても、図6Cに示すように、反射光6bが対物レンズ11に入射するので、反射光6bの強度は強いままである。以上のように、大気と薄膜の界面及び薄膜と金属基板の界面で、反射光6bの強度に変化が生じるので、焦点位置と反射光6bをプロットすることで、反射光6bの強度変化から薄膜の膜厚を測定することができる。このとき、同時にラマン分光測定もできるので、薄膜の化学構造を深さ方向に分析することができる。
上記の実施形態では、CCDカメラ18を用いて被検査体8の表面形状を測定した場合について説明したが、本発明はこれに限られず、分光器10で検出した反射光6bの強度を用いて被検査体8の表面形状を測定することもできる。この場合、ビームエキスパンダ24は用いずに、単色光6aを被検査体表面に照射する。そして、制御装置20がステージ19の位置を制御して被検査体8の位置を面内方向に移動させることで、被検査体8の表面を単色光6a及び励起光2aで走査する。走査で得られた単色光6aの照射位置と分光器10で検出した反射光強度の6とに基づいて、被検査体8の面内の反射光像を生成し、励起光2aの照射位置と分光器10で検出したラマン散乱光2cの強度に基づいて、ラマン散乱光像を生成する。このように、反射光像と同時にラマン散乱光像を生成することができ、被検査体の形状の測定とラマン分光測定を同時にできる。
上記の実施形態では、単色光源6を設け、単色光6aを被検査体8に照射して生じた反射光6bの強度に基づいて被検査体8の表面形状の画像を生成した場合について説明したが、本発明はこれに限らず、単色光源6を設けずに、励起光2aが単色光6aを兼ね、励起光源2から出射された励起光2aを単色光として用い、被検査体8で生じた励起反射光2bから、被検査体8の反射光像を生成してもよい。この場合、第2ノッチフィルタ14によって励起反射光2bをCCDカメラ18で検出できない程度まで減衰させるのではなく、励起反射光2bの強度をCCDカメラ18のダイナミックレンジ内に入るように減衰させる。例えば、下記に説明する方法で、励起反射光2bの強度を減衰させることができる。
通常は、図7Aに示すように、励起反射光2bが第2ノッチフィルタ14に垂直に入射するように第2ノッチフィルタ14を配置するが、この実施形態では、図7Bに示すように、励起反射光2bの光線に垂直な線14aから、第2ノッチフィルタ14の中心線14bを角度θだけ傾けて、第2ノッチフィルタ14を配置する。このようにすることで、第2ノッチフィルタ14での励起反射光2bの減衰度合いを調整することができ、励起反射光2bの強度をCCDカメラ18のダイナミックレンジ内に入るようにできる。
図7Cは、励起反射光2bの光線に垂直な線14aと、第2ノッチフィルタ14の中心線14bとのなす角度θと第2ノッチフィルタ14の出射光の強度の関係を表すグラフである。図7Cでは、縦軸が上述の角度θ(°)、左縦軸が第2ノッチフィルタのカット効率(I/I)、右縦軸が第2ノッチフィルタ14の出射光の強度(cps、毎秒のカウント数)を表す。図7Cに示すように、角度θが大きくなるほど、出射光の強度が大きくなり、第2ノッチフィルタ14での励起反射光2bの減衰量が低下することがわかる。
本実施形態の場合、CCDカメラ18のダイナミックレンジの光強度は60000cpsであり、S/N比からみたCCDカメラ18で検出できる最小の光強度は10cps程度であるので、角度θは5°〜45°に設定するのが望ましい。このような角度範囲に角度θが入るように、第2ノッチフィルタ14の位置を調整することで、励起光2aを単色光として利用することができる。これにより、励起光2aを単色光として、隙間測定や深さ方向分析をすることもできる。また、第1ノッチフィルタ9も同様に傾けることで、分光器10で分光したスペクトル中に励起反射光2bを取得し、その強度に基づいて、反射光像を生成することもできる。
上記の実施形態では、Fe基板上のDLC薄膜の表面で反射した反射光の強度に基づいて、表面形状画像を測定した場合について説明したが、本発明はこれに限られず、反射光を干渉させて、被検査体表面の表面トポグラフィーを得ることもできる。この場合、干渉光の強度I(λ)は次式で表されるので膜厚または隙間量を測定することができる。
I(λ)=I1(λ)+I2(λ)±2sqrt(I1(λ)I2(λ))cos(4πnt/λ)
ここでλは干渉光の波長、nは屈折率、I1=I2=1/4でありtは膜の場合は膜厚で空気の場合は隙間量である。膜厚の場合は、I1(λ)とI2(λ)はそれぞれ膜表面からの反射光強度と膜の下地からの反射光強度であり、隙間の場合は、隙間上部からの反射強度と隙間下部からの反射光強度である。干渉光強度I(λ)はI1(λ)の反射光とI2(λ)の反射光の干渉である。
(4)検証試験
まず第1実施形態のラマン分光測定装置1を用いて、シリコン基板表面をサファイア半球摺動子で摺動して摩耗させた摩耗面の反射光像を作成した。図8Aに示すのは、光源として白色光源を用いて撮像した摩耗面の画像であり、図8Bに示すのは、第1実施形態のラマン分光測定装置1を用いて撮像した摩耗面の画像(波長が447nmのレーザ光を単色光6aとして撮像)であり、図8Aの画像と図8Bの画像とは同じ場所を撮像したものである。
両図を比較すると、ラマン分光測定装置1を用いて撮像した摩耗面の画像でも、表面形状を観察できることが確認できた。また、図8B中に矢印で示した位置に白色の輝点が存在する。これは、励起光2aによって生じたラマン散乱光2cであり、反射光像から、ラマン分光測定をしている位置を特定できることが確認できた。
次に、9Aに示すFe基板上に形成したDLCを被検査体8として用い、ラマン分光測定装置1によって、DLCの表面を励起光2aと単色光6aとで走査し、ラマン散乱光像と反射光像とを作成した。図9Bに示すのがラマン散乱光像であり、図9Cに示すのが反射光像である。図9Bのラマン散乱光像の中心に白色部分がみられる。この白色部分は、この部分は他の部分と化学構造が異なっている、又は、表面に凹凸部が形成されていると考えられるが、ラマン散乱光像だけでは特定しにくい。
ここで、図9Cの反射光像を見ると、表面が平坦であり、ラマン散乱光像の白色部分に対応する位置に凹凸部が形成されていないことが確認できる。このように、同じ領域を撮像したラマン散乱光像と反射光像とを観察することで、ラマン分光像の白色部分が、化学構造が他と異なる部分であることを特定できる。以上のように、ラマン散乱光像と反射光像とを同時に作成できることが確認でき、ラマン散乱光像と反射光像とにより被検査体の表面形状を考慮しつつその化学構造を分析できる。
最後に、図10Aに示すFe基板上に膜厚が0.9μmのDLCを形成した被検査体8として用い、ラマン分光測定装置1によって、被検査体8の深さ方向の分析を行った。分析は、対物レンズ11の焦点位置を対物レンズ11側からFe基板方向に移動させていきつつ、反射光6bの強度と、ラマン散乱光2cの強度とを測定した。図10Bは、深さ方向の分析を示すグラフであり、横軸が深さ方向の距離を表し、左縦軸がラマン散乱光2cの強度(図10B中の53)、最右の縦軸が反射光6bの強度(図10B中の52)、反射光6bの強度の左隣の縦軸がラマン散乱光2cの1次微分線の強度(図10B中の51)を表している。1次微分線51は、ラマン散乱光2cの強度の測定結果に基づいて算出した。
1次微分線51のピーク位置からDLCは、図10B中の2本線で挟まれた領域であり、その領域の右隣がFe基板で、その領域の左隣が大気である。DLCの膜厚は、約0.9μmであることが確認できる。ここで、1次微分線51の強度が最大値になったとき、反射光の強度が減少し、1次微分線51が最低値になったとき、反射光の強度が増加していることがわかる。このように、大気と薄膜の界面及び薄膜と金属基板の界面で、反射光6bの強度に変化が生じることが確認できた。反射光6bの強度が変化した位置と、大気とDLCの界面及びDLCとFeの界面の位置とが対応しており、反射光6bの強度変化から薄膜の膜厚および薄膜表面の位置および金属基板の位置を測定することができた。
1 ラマン分光測定装置
2 励起光源
6 単色光源
7 光学系
8 被検査体
9 第1ノッチフィルタ
10 分光器
14 第2ノッチフィルタ

Claims (10)

  1. 被検査体で生じたラマン散乱光に基づいてラマン分光測定するラマン分光測定装置であって、
    前記被検査体に前記ラマン散乱光を生じさせる励起光と、少なくとも1つ以上の単色光とを出射する光出射部と、
    前記被検査体で生じた前記ラマン散乱光と、前記単色光によって前記被検査体で生じた反射光とを分光する分光器と、
    前記励起光と前記単色光とを前記被検査体に導き、前記ラマン散乱光と前記反射光とを前記分光器へと導く光学系と
    を備え、
    前記反射光の強度に基づいて前記被検査体の形状を測定する
    ラマン分光測定装置。
  2. 前記光学系と前記分光器との間に配置され、前記励起光によって前記被検査体で生じた励起反射光を減衰するノッチフィルタをさらに備える
    請求項1に記載のラマン分光測定装置。
  3. 前記単色光の波長は、前記励起光及び/又は前記ラマン散乱光のうち解析に用いる波長とは異なる
    請求項1又は2に記載のラマン分光測定装置。
  4. 前記単色光の波長は、前記ノッチフィルタの阻止波長帯域の下限より小さい
    請求項2に記載のラマン分光測定装置。
  5. 前記単色光の波長は、前記励起光の波長の99.5%より小さい
    請求項1〜4のいずれか1項に記載のラマン分光測定装置。
  6. 前記光学系を介して前記被検査体の表面を撮像する撮像装置をさらに備える
    請求項1〜5のいずれか1項に記載のラマン分光測定装置。
  7. 前記励起光が前記単色光を兼ねる
    請求項1又は2に記載のラマン分光測定装置。
  8. 被検査体で生じたラマン散乱光に基づいてラマン分光測定するラマン分光測定方法であって、
    前記被検査体に前記ラマン散乱光を生じさせる励起光と、少なくとも1つ以上の単色光とを、前記被検査体に照射する照射工程と、
    前記ラマン散乱光と、前記単色光によって前記被検査体で生じた反射光とを分光する分光工程と、
    前記反射光の強度に基づいて前記被検査体の形状を測定する測定工程と
    を有する
    ラマン分光測定方法。
  9. 前記励起光によって前記被検査体に生じた励起反射光を減衰する減衰工程をさらに備え、
    前記励起反射光を減衰した後に、前記ラマン散乱光と前記反射光とを分光する
    請求項8に記載のラマン分光測定方法。
  10. 前記励起光が前記単色光を兼ねる
    請求項8又は9に記載のラマン分光測定方法。
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