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JP2018028447A - Method of manufacturing jig for conductive foreign matter detection device - Google Patents

Method of manufacturing jig for conductive foreign matter detection device Download PDF

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JP2018028447A
JP2018028447A JP2016159346A JP2016159346A JP2018028447A JP 2018028447 A JP2018028447 A JP 2018028447A JP 2016159346 A JP2016159346 A JP 2016159346A JP 2016159346 A JP2016159346 A JP 2016159346A JP 2018028447 A JP2018028447 A JP 2018028447A
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JP
Japan
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wiring electrode
conductive foreign
foreign matter
jig
insulating substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP2016159346A
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Japanese (ja)
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公二 小林
Koji Kobayashi
公二 小林
木下 恭一
Kyoichi Kinoshita
恭一 木下
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Toyota Industries Corp
Original Assignee
Toyota Industries Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a jib that allows for detecting conductive foreign matter attached to a metal bracket.SOLUTION: A conductive foreign matter detection device includes a jig. The jig has a plurality of recessed stripes partitioned by protruded stripes. Each of the recessed stripes has either of alternately arranged first and second wiring electrodes 42, 43 disposed thereon. The protruded stripes prevent the first and second wiring electrodes 42, 43 from touching a bracket. When conductive foreign matter is attached to the bracket, the first wiring electrodes 42 and the second wiring electrodes 43 are short-circuited by the conductive foreign matter that lies across the recessed stripes. A resistance detector measures resistance while the first wiring electrodes 42 and the second wiring electrodes 43 are being short-circuited by conductive foreign matter. The first and second wiring electrodes 42, 43 are formed through a plating process. The protruded stripes are formed by ink-jetting a liquid rubber material.SELECTED DRAWING: Figure 8

Description

本発明は、導電性異物検出装置の治具の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a jig for a conductive foreign matter detection device.

複数の蓄電装置をモジュール化した蓄電装置モジュールは、複数の蓄電装置を拘束するための金属製のブラケットを備える。蓄電装置モジュールにおいて、金属製のブラケットには、その製造のための金属加工などによって生じた導電性異物が付着しているおそれがある。ブラケットに付着した導電性異物がブラケットから離脱し、蓄電装置に付着すると、短絡の原因となる。このため、ブラケットに付着した導電性異物を検出することが望まれている。   A power storage device module obtained by modularizing a plurality of power storage devices includes a metal bracket for restraining the plurality of power storage devices. In the power storage device module, there is a possibility that conductive foreign matters generated by metal processing for manufacturing the metal bracket are attached to the metal bracket. If the conductive foreign matter attached to the bracket is detached from the bracket and attached to the power storage device, it causes a short circuit. For this reason, it is desired to detect conductive foreign matter adhering to the bracket.

導電性異物を検出する導電性異物検出装置としては、例えば、特許文献1に記載されている。特許文献1に記載の導電性異物検出装置は、床に落下した針状の導電性異物を検出し、回収する。導電性異物検出装置は、治具と、検出部とを備える。治具は、永久磁石積層体と、絶縁性を有する保持部と、保持部上に配置された第1配線電極及び第2配線電極とを備える。治具の一例としては、第1配線電極と第2配線電極が形成されたテープ状のフィルム部材を、円筒状の筐体の外周面に巻き付けたものが挙げられる。第1配線電極と第2配線電極には、電位差が生じている。永久磁石積層体の磁力によって、導電性異物が保持部に引き寄せられると、導電性異物によって第1配線電極と第2配線電極とが短絡する。検出部は、短絡による電流変化によって導電性異物を検出することができる。   For example, Patent Document 1 discloses a conductive foreign matter detection apparatus that detects conductive foreign matter. The conductive foreign matter detection device described in Patent Document 1 detects and collects needle-like conductive foreign matter that has fallen on the floor. The conductive foreign object detection device includes a jig and a detection unit. The jig includes a permanent magnet laminate, an insulating holding part, and a first wiring electrode and a second wiring electrode arranged on the holding part. As an example of the jig, a tape-shaped film member on which a first wiring electrode and a second wiring electrode are formed is wound around an outer peripheral surface of a cylindrical casing. A potential difference is generated between the first wiring electrode and the second wiring electrode. When the conductive foreign matter is attracted to the holding portion by the magnetic force of the permanent magnet laminate, the first wiring electrode and the second wiring electrode are short-circuited by the conductive foreign matter. The detection unit can detect the conductive foreign matter based on a current change caused by a short circuit.

特開2013−230456号公報JP 2013-230456 A

ところで、金属製のブラケットに保持部を接触させると、第1配線電極と第2配線電極とはブラケットによって短絡する。導電性異物の有無に関わらず第1配線電極と第2配線電極とが短絡するため、導電性異物を検出することができない。また、導電性異物検出装置には、微細な導電性異物も検出できることが望まれている。   By the way, when the holding portion is brought into contact with the metal bracket, the first wiring electrode and the second wiring electrode are short-circuited by the bracket. Since the first wiring electrode and the second wiring electrode are short-circuited regardless of the presence or absence of the conductive foreign matter, the conductive foreign matter cannot be detected. In addition, it is desired that the conductive foreign matter detection apparatus can detect fine conductive foreign matter.

本発明の目的は、金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出することができる治具を製造できる導電性異物検出装置の治具の製造方法を提供することにある。   The objective of this invention is providing the manufacturing method of the jig | tool of the electroconductive foreign material detection apparatus which can manufacture the jig | tool which can detect the electroconductive foreign material adhering to metal brackets.

上記課題を解決する導電性異物検出装置の治具の製造方法は、並設された複数の蓄電装置を並設方向の両側から挟んで拘束する金属製のブラケットに押し付けられる治具を備え、前記治具は、絶縁基板と、前記絶縁基板の1つの面に沿う方向に互いに平行に配列された複数のゴム製の突条と、前記面に沿う方向に隣り合う前記突条の間に区画された凹条と、前記面に沿う方向に隣り合う前記凹条内において、極性が異なるように交互に配置された第1配線電極及び第2配線電極と、を備え、前記第1配線電極及び前記第2配線電極より前記突条が突出している導電性異物検出装置に用いられる前記治具を製造する導電性異物検出装置の治具の製造方法であって、前記絶縁基板にめっき処理により前記第1配線電極及び前記第2配線電極を形成する工程と、前記第1配線電極と前記第2配線電極との間となる部分に液体吐出方式により液状のゴム材料を吐出して前記突条を形成する工程と、を含む。   A method for manufacturing a jig for a conductive foreign matter detection device that solves the above-described problem includes a jig that is pressed against a metal bracket that holds and constrains a plurality of power storage devices arranged side by side from both sides in a parallel arrangement direction, The jig is partitioned between an insulating substrate, a plurality of rubber protrusions arranged in parallel with each other along a surface of the insulating substrate, and the protrusions adjacent to each other along the surface. And the first wiring electrode and the second wiring electrode arranged alternately so as to have different polarities in the concave strip adjacent in the direction along the surface, the first wiring electrode and the first wiring electrode A method of manufacturing a jig for a conductive foreign matter detecting device for manufacturing the jig used in the conductive foreign matter detecting device in which the protrusion protrudes from a second wiring electrode, wherein the insulating substrate is plated by the first step. Form one wiring electrode and the second wiring electrode Including that a step, and a step of forming the protrusion by discharging the rubber material of the liquid by the liquid ejection method in the composed portion between the second wiring electrode and the first wiring electrode.

これによれば、ゴム製の突条の先端をブラケットに当てただけでは、第1配線電極及び第2配線電極とブラケットとが接触しない。治具をブラケットに向けて押し付けていくと、突条が潰れ、ブラケットに第1配線電極及び第2配線電極が近付いていく。導電性異物がブラケットに付着していない場合には、第1配線電極と第2配線電極とが短絡しない。一方で、ブラケットに導電性異物が付着している場合には、導電性異物によって隣り合う凹条に跨って第1電極配線と第2電極配線が接続され、第1配線電極と第2配線電極が短絡する。第1配線電極と第2配線電極が短絡すると、電気的な数値が変化する。これにより、導電性異物を検出することができる。突条によって、第1配線電極と第2配線電極とがブラケットによって短絡することを抑止しながら金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出できる。   According to this, the 1st wiring electrode and the 2nd wiring electrode, and a bracket do not contact only by touching the tip of a rubber protrusion on a bracket. When the jig is pressed toward the bracket, the protrusions are crushed and the first wiring electrode and the second wiring electrode approach the bracket. When the conductive foreign matter is not attached to the bracket, the first wiring electrode and the second wiring electrode do not short-circuit. On the other hand, when the conductive foreign matter adheres to the bracket, the first electrode wiring and the second electrode wiring are connected across the adjacent recesses by the conductive foreign matter, and the first wiring electrode and the second wiring electrode are connected. Is short-circuited. When the first wiring electrode and the second wiring electrode are short-circuited, the electrical value changes. Thereby, a conductive foreign material can be detected. By the protrusions, it is possible to detect the conductive foreign matter attached to the metal bracket while preventing the first wiring electrode and the second wiring electrode from being short-circuited by the bracket.

このような治具の製造について、第1配線電極及び第2配線電極は、めっき処理により形成されている。めっき処理により第1配線電極及び第2配線電極を形成することで、第1配線電極及び第2配線電極の幅や、第1配線電極と第2配線電極の配線間距離を、狭くすることができる。このため、例えば、100μm未満の微細な導電性異物についても検出することができる。また、液体吐出方式により、突条を細くでき、しかも突条間を狭くすることができる。   For manufacturing such a jig, the first wiring electrode and the second wiring electrode are formed by plating. By forming the first wiring electrode and the second wiring electrode by plating, the width of the first wiring electrode and the second wiring electrode and the distance between the wirings of the first wiring electrode and the second wiring electrode can be reduced. it can. For this reason, for example, it is possible to detect even fine conductive foreign matters of less than 100 μm. Further, the protrusions can be narrowed by the liquid discharge method, and the space between the protrusions can be narrowed.

上記導電性異物検出装置の治具の製造方法について、前記第1配線電極及び前記第2配線電極の幅は、10μm未満であり、前記めっき処理を行う前に、前記絶縁基板にオゾン処理を行う工程を含んでいてもよい。   About the manufacturing method of the jig | tool of the said conductive foreign material detection apparatus, the width | variety of the said 1st wiring electrode and the said 2nd wiring electrode is less than 10 micrometers, and performs an ozone process to the said insulated substrate before performing the said plating process. A process may be included.

微細な導電性異物を検出するために、第1配線電極及び第2配線電極の幅を狭くし、10μm未満にすると、第1配線電極及び第2配線電極と絶縁基板との接触面積が少なくなり、密着力が弱くなる。オゾン処理を行うことで、絶縁基板の表面改質を行えるため、第1配線電極及び第2配線電極と絶縁基板との密着力を強くすることができる。このため、第1配線電極及び第2配線電極の幅を10μ未満にしても、第1配線電極及び第2配線電極と絶縁基板との密着を維持できる。   If the width of the first wiring electrode and the second wiring electrode is narrowed to be less than 10 μm in order to detect fine conductive foreign matter, the contact area between the first wiring electrode and the second wiring electrode and the insulating substrate is reduced. , Adhesion is weakened. By performing the ozone treatment, the surface modification of the insulating substrate can be performed, so that the adhesion between the first wiring electrode and the second wiring electrode and the insulating substrate can be increased. For this reason, even if the width of the first wiring electrode and the second wiring electrode is less than 10 μm, the adhesion between the first wiring electrode and the second wiring electrode and the insulating substrate can be maintained.

本発明によれば、金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出することができる治具を製造できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the jig | tool which can detect the conductive foreign material adhering to metal brackets can be manufactured.

電池モジュールを示す斜視図。The perspective view which shows a battery module. 導電性異物検出装置の概略構成図。The schematic block diagram of an electroconductive foreign material detection apparatus. 治具、及び、ブラケットを示す斜視図。The perspective view which shows a jig | tool and a bracket. 治具をブラケットに重ねた状態を示す平面図。The top view which shows the state which accumulated the jig | tool on the bracket. (a)は治具を示す断面図、(b)は導電性異物が付着していないブラケットに押し付けられた治具を示す断面図。(A) is sectional drawing which shows a jig | tool, (b) is sectional drawing which shows the jig | tool pressed on the bracket with which the electroconductive foreign material has not adhered. (a)は導電性異物が付着したブラケットに押し付けられる前の治具を示す断面図、(b)は導電性異物が付着したブラケットに押し付けられた治具を示す断面図。(A) is sectional drawing which shows the jig | tool before being pressed on the bracket with which the conductive foreign material adhered, (b) is sectional drawing which shows the jig | tool pressed against the bracket with which the conductive foreign material adhered. 治具の製造工程を示す概略図。Schematic which shows the manufacturing process of a jig | tool. 治具の製造工程を示す概略図。Schematic which shows the manufacturing process of a jig | tool. 治具の製造工程を示す概略図。Schematic which shows the manufacturing process of a jig | tool.

以下、導電性異物検出装置の治具の製造方法の一実施形態について説明する。
図1に示すように、電池モジュール10は、複数の電池セル11と、各電池セル11を保持する個別の電池ホルダ12とを備える。各電池セル11は、電池ホルダ12に保持された状態で並設されている。本実施形態の電池セル11は、角型電池であり、二次電池である。なお、本実施形態では、蓄電装置として電池セル11を用いているが、蓄電装置はキャパシタでもよい。
Hereinafter, an embodiment of a method for manufacturing a jig for a conductive foreign matter detection device will be described.
As shown in FIG. 1, the battery module 10 includes a plurality of battery cells 11 and individual battery holders 12 that hold the battery cells 11. Each battery cell 11 is juxtaposed while being held by the battery holder 12. The battery cell 11 of this embodiment is a square battery and a secondary battery. In the present embodiment, the battery cell 11 is used as the power storage device, but the power storage device may be a capacitor.

電池セル11は、正極端子13と負極端子14とを備える。電池セル11の並設方向に隣り合う電池セル11同士は、正極端子13と負極端子14とが隣り合うように配置されている。電池モジュール10は、正極端子13と負極端子14とを接続するバスバー15を備える。本実施形態では、バスバー15によって複数の電池セル11が直列接続されている。なお、正極端子13同士、負極端子14同士を接続するバスバーを用いることで、複数の電池セル11が並列接続されるようにしてもよい。   The battery cell 11 includes a positive electrode terminal 13 and a negative electrode terminal 14. The battery cells 11 adjacent to each other in the direction in which the battery cells 11 are arranged are arranged such that the positive electrode terminal 13 and the negative electrode terminal 14 are adjacent to each other. The battery module 10 includes a bus bar 15 that connects the positive electrode terminal 13 and the negative electrode terminal 14. In the present embodiment, the plurality of battery cells 11 are connected in series by the bus bar 15. Note that a plurality of battery cells 11 may be connected in parallel by using a bus bar that connects the positive terminals 13 and the negative terminals 14 together.

電池モジュール10は、2つのブラケット16,17を備える。ブラケット16,17は、電池セル11の並設方向の両側に設けられている。2つのブラケット16,17により、全ての電池セル11は並設方向の両側から挟まれている。各ブラケット16,17は金属製である。   The battery module 10 includes two brackets 16 and 17. The brackets 16 and 17 are provided on both sides of the battery cells 11 in the juxtaposition direction. All the battery cells 11 are sandwiched by the two brackets 16 and 17 from both sides in the juxtaposed direction. Each bracket 16 and 17 is made of metal.

2つのブラケット16,17のうち、一方を第1ブラケット16とし、他方を第2ブラケット17とする。第1ブラケット16は、矩形板状の本体21を備える。本体21の板厚方向の面における短辺22,23に沿う方向を本体21の短手方向、長辺24,25に沿う方向を本体21の長手方向とする。   One of the two brackets 16 and 17 is a first bracket 16 and the other is a second bracket 17. The first bracket 16 includes a rectangular plate-shaped main body 21. The direction along the short sides 22 and 23 on the surface of the main body 21 in the plate thickness direction is the short direction of the main body 21, and the direction along the long sides 24 and 25 is the long direction of the main body 21.

図1及び図3に示すように、第1ブラケット16は、本体21と直角に交わる矩形板状の固定部26を本体21の長手方向の一端に備える。固定部26は、複数の固定孔27を有する。   As shown in FIGS. 1 and 3, the first bracket 16 includes a rectangular plate-shaped fixing portion 26 that intersects the main body 21 at a right angle at one end in the longitudinal direction of the main body 21. The fixing part 26 has a plurality of fixing holes 27.

第1ブラケット16は、本体21に溶接された複数(本実施形態では3つ)のリブ31を備える。リブ31は、本体21の板厚方向の面のうち、固定部26が延びる方向と同一方向に位置する面21aに設けられている。リブ31は、本体21の短手方向に並んでいる。各リブ31は、本体21の長手方向に延びている。リブ31は、一方の短辺22から、他方の短辺23に向かう途中位置まで延びている。リブ31は、板状であり、リブ31の板厚方向が本体21の短手方向と一致している。リブ31は、電池セル11の充放電に伴う電池セル11の膨張によって第1ブラケット16に加わる力に対する強度を向上させている。   The first bracket 16 includes a plurality of (three in this embodiment) ribs 31 welded to the main body 21. The rib 31 is provided on a surface 21 a located in the same direction as the direction in which the fixing portion 26 extends, among the surfaces in the plate thickness direction of the main body 21. The ribs 31 are arranged in the lateral direction of the main body 21. Each rib 31 extends in the longitudinal direction of the main body 21. The rib 31 extends from one short side 22 to an intermediate position toward the other short side 23. The rib 31 is plate-shaped, and the thickness direction of the rib 31 coincides with the short direction of the main body 21. The rib 31 improves the strength against the force applied to the first bracket 16 due to the expansion of the battery cell 11 accompanying the charging / discharging of the battery cell 11.

第1ブラケット16は、本体21の各長辺24,25から2つずつ突出する突出部32を備える。各突出部32は、貫通孔33を備える。
第2ブラケット17の固定部26は、本体21の板厚方向のうち、第1ブラケット16とは逆向きに延びている。第2ブラケット17は、固定部26が延びる方向が第1ブラケット16と異なる点を除いて、第1ブラケット16と同様な構造である。このため、第2ブラケット17の詳細な説明は省略する。
The first bracket 16 includes projecting portions 32 that project from the long sides 24 and 25 of the main body 21 by two. Each protrusion 32 includes a through hole 33.
The fixing portion 26 of the second bracket 17 extends in the direction opposite to the first bracket 16 in the thickness direction of the main body 21. The second bracket 17 has the same structure as that of the first bracket 16 except that the direction in which the fixing portion 26 extends is different from that of the first bracket 16. For this reason, detailed description of the second bracket 17 is omitted.

電池モジュール10は、各ブラケット16,17に拘束荷重を付与させる拘束ボルト34を備える。拘束ボルト34は、第1ブラケット16の各貫通孔33から第2ブラケット17の各貫通孔33に挿入されている。拘束ボルト34には、ナット35が螺合されている。各ブラケット16,17には、拘束ボルト34の頭部及びナット35から互いに近付く方向に向けた拘束力が作用する。これにより、複数の電池セル11が並設方向に拘束され、モジュール化されている。したがって、各ブラケット16,17は、電池セル11を拘束してモジュール化する機能を備える。   The battery module 10 includes a restraining bolt 34 that applies a restraining load to the brackets 16 and 17. The restraining bolts 34 are inserted from the through holes 33 of the first bracket 16 into the through holes 33 of the second bracket 17. A nut 35 is screwed onto the restraining bolt 34. A restraining force acting on the brackets 16 and 17 from the head of the restraining bolt 34 and the nut 35 in a direction approaching each other acts. Thereby, the some battery cell 11 is restrained in the parallel arrangement direction, and is modularized. Therefore, each bracket 16 and 17 has a function of restraining the battery cell 11 and modularizing it.

固定孔27には、図示しないボルトが挿通される。このボルトは、例えば、電池モジュール10が複数搭載される電池パックのケースの壁部など、電池モジュール10が搭載される搭載対象に螺合される。これにより、電池モジュール10が搭載対象に固定される。したがって、各ブラケット16,17は、電池モジュール10を搭載対象に固定する機能を備える。   A bolt (not shown) is inserted into the fixing hole 27. The bolt is screwed to a mounting target on which the battery module 10 is mounted, such as a wall portion of a case of a battery pack on which a plurality of battery modules 10 are mounted. Thereby, the battery module 10 is fixed to mounting object. Therefore, each bracket 16 and 17 has a function of fixing the battery module 10 to the mounting target.

上記した電池モジュール10のブラケット16,17には、ブラケット16,17の製造段階で生じた導電性異物が付着している場合がある。導電性異物としては、例えば、リブ31を溶接するときに生じたスパッタ、固定孔27及び貫通孔33を形成するときに生じたバリ、及び、このバリが脱落したものが挙げられる。導電性異物がブラケット16,17から離れ、電池セル11に付着すると、電池セル11が短絡する原因となる。なお、ここでの短絡は、電池セル11の外側における、電池セル11の正極端子13又は負極端子14と電池セル11のケースとの短絡、又は、電池セル11とバスバー間の短絡などを意味する。このため、以下の導電性異物検出装置を用いて、ブラケット16,17に付着した導電性異物の検出を行っている。   The brackets 16 and 17 of the battery module 10 may be attached with conductive foreign matters generated in the manufacturing stage of the brackets 16 and 17. Examples of the conductive foreign material include spatter generated when the ribs 31 are welded, burrs generated when the fixing holes 27 and the through holes 33 are formed, and burrs that have been removed. When the conductive foreign matter is separated from the brackets 16 and 17 and adheres to the battery cell 11, the battery cell 11 is short-circuited. Here, the short circuit means a short circuit between the positive electrode terminal 13 or the negative electrode terminal 14 of the battery cell 11 and the case of the battery cell 11 or a short circuit between the battery cell 11 and the bus bar outside the battery cell 11. . For this reason, the conductive foreign matter adhering to the brackets 16 and 17 is detected using the following conductive foreign matter detection device.

図2に示すように、導電性異物検出装置40は、治具41と、検出部71とを備える。治具41は、互いに極性の異なる第1配線電極42及び第2配線電極43と、第1配線電極42同士を接続する第1接続線44と、第2配線電極43同士を接続する第2接続線45と、第1配線電極42及び第2配線電極43を保持する保持具50とを備える。検出部71は、電源72と、抵抗検出器73とを備える。検出部71は、互いに非接触で保持具50に配置された第1配線電極42と第2配線電極43とが、導電性異物により短絡したことを検出する。なお、図2においては、第1配線電極42と第2配線電極43との間隔をデフォルメし、判りやすく拡大して記載しており、実際の間隔は、後述するように極めて狭い。   As shown in FIG. 2, the conductive foreign object detection device 40 includes a jig 41 and a detection unit 71. The jig 41 includes first and second wiring electrodes 42 and 43 having different polarities, a first connection line 44 that connects the first wiring electrodes 42, and a second connection that connects the second wiring electrodes 43. A wire 45 and a holder 50 for holding the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are provided. The detection unit 71 includes a power source 72 and a resistance detector 73. The detection unit 71 detects that the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 arranged in the holder 50 in a non-contact manner are short-circuited by the conductive foreign matter. In FIG. 2, the distance between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 is deformed and enlarged in an easily understandable manner, and the actual distance is extremely narrow as will be described later.

図3及び図4に示すように、保持具50は、板状の絶縁基板51を備える。絶縁基板51は、例えば、ガラスエポキシ基板が用いられる。また、絶縁基板51としては、熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂との混合物からなるものを用いることもできる。熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂、不飽和ポリエステル樹脂などが挙げられる。熱可塑性樹脂としてはポリエチレン樹脂、ポリプロピレン、ポリスチレン、ABS、AS、ポリアセタール樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂などが挙げられる。   As shown in FIGS. 3 and 4, the holder 50 includes a plate-like insulating substrate 51. As the insulating substrate 51, for example, a glass epoxy substrate is used. Further, as the insulating substrate 51, a substrate made of a mixture of a thermoplastic resin and a thermosetting resin can be used. Examples of the thermosetting resin include an epoxy resin, a phenol resin, a melamine resin, a urea resin, and an unsaturated polyester resin. Thermoplastic resins include polyethylene resin, polypropylene, polystyrene, ABS, AS, polyacetal resin, polyester resin, polyether resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, Examples include polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, and polyester resin.

絶縁基板51には、無機充填材を添加されていてもよい。無機充填材としては、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウムなどが挙げられる。   An inorganic filler may be added to the insulating substrate 51. Inorganic fillers include silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, titanate Examples include strontium, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, and calcium zirconate.

更に絶縁基板51には上記成分の他に、本発明の効果を阻害しない範囲で必要に応じて各種添加剤が含まれていてもよい。
絶縁基板51の板厚方向の面51aに沿う方向のうち一方向を第1方向とし、第1方向に直交する方向を第2方向とする。絶縁基板51は、第1方向に延びる切欠53を第2方向に並んで複数備える。絶縁基板51は、切欠53を挟んだ両側に並設部57を備える。切欠53の第2方向の寸法は、リブ31の厚みよりも長い。例えば、切欠53の第2方向の寸法は、リブ31の厚みに、リブ31を溶接することで生じたビードの幅(本体21の短手方向の寸法)を加えた寸法よりも僅かに大きい。切欠53は、リブ31と同数設けられている。本実施形態では、切欠53は、3つ設けられている。
Furthermore, in addition to the above components, the insulating substrate 51 may contain various additives as necessary as long as the effects of the present invention are not impaired.
Of the directions along the surface 51a in the plate thickness direction of the insulating substrate 51, one direction is defined as a first direction, and a direction orthogonal to the first direction is defined as a second direction. The insulating substrate 51 includes a plurality of cutouts 53 extending in the first direction and arranged in the second direction. The insulating substrate 51 includes juxtaposed portions 57 on both sides of the notch 53. The dimension of the notch 53 in the second direction is longer than the thickness of the rib 31. For example, the dimension in the second direction of the notch 53 is slightly larger than the dimension obtained by adding the width of the bead (the dimension in the short direction of the main body 21) generated by welding the rib 31 to the thickness of the rib 31. The same number of notches 53 as the ribs 31 are provided. In the present embodiment, three notches 53 are provided.

図5(a)に示すように、保持具50は、絶縁基板51の板厚方向の面のうちの一方の面51aに、複数の突条59を備える。各突条59は、絶縁基板51の1つの面51aに沿う方向に互いに平行に配列されている。本実施形態において、各突条59は、第2方向に互いに平行に配列され、絶縁基板51の全体に亘って第1方向に延びている。なお、説明の便宜上、図2では突条59を省略している。   As shown in FIG. 5A, the holder 50 includes a plurality of protrusions 59 on one surface 51 a of the surfaces of the insulating substrate 51 in the plate thickness direction. Each protrusion 59 is arranged in parallel to each other in the direction along one surface 51 a of the insulating substrate 51. In the present embodiment, the protrusions 59 are arranged in parallel to each other in the second direction, and extend in the first direction over the entire insulating substrate 51. For convenience of explanation, the protrusion 59 is omitted in FIG.

突条59はゴム製である。突条59を構成するゴムとしては、例えば、ニトリルゴムなどの硬質ゴムが用いられる。ニトリルゴム以外であっても、新JIS規格(JIS K6253−3:2012 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−硬さの求め方−第3部:デュロメータ硬さ)に基づく「デュロメータ」を計測器に用いた方法で計測されるゴム硬度がデュロメータ硬さ60〜90のものであれば使用できる。デュロメータ硬さが60未満であると、繰り返して行われる導電性異物の検出とともに突条59が摩耗してしまい、導電性異物がなくてもワイヤ状の第1配線電極42及び第2配線電極43がブラケット16,17と直接接触してしまい誤検出してしまうおそれがある。デュロメータ硬さが90を超えると、治具41をブラケット16,17に押し付けても、突条59が治具41に加わる加圧力によって潰れずに、導電性異物を検出できないおそれがある。ゴム硬度は、デュロメータ硬さ80〜90のものを用いるのがより好ましい。ニトリルゴム以外のゴムとしては、例えば、スチレンブタジレンゴムや、シリコンゴムが挙げられる。   The ridge 59 is made of rubber. As rubber which comprises the protrusion 59, hard rubbers, such as a nitrile rubber, are used, for example. Even if it is other than nitrile rubber, "Durometer" based on the new JIS standard (JIS K6253-3: 2012 vulcanized rubber and thermoplastic rubber-Determination of hardness-Part 3: Durometer hardness) is used for measuring instruments If the rubber hardness measured by the conventional method is durometer hardness 60-90, it can be used. If the durometer hardness is less than 60, the protrusion 59 is worn with repeated detection of the conductive foreign matter, and even if there is no conductive foreign matter, the wire-like first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are used. May be in direct contact with the brackets 16 and 17 and erroneously detected. If the durometer hardness exceeds 90, even if the jig 41 is pressed against the brackets 16 and 17, the protrusion 59 may not be crushed by the pressure applied to the jig 41, and there is a possibility that conductive foreign matter cannot be detected. It is more preferable to use a rubber having a durometer hardness of 80 to 90. Examples of rubbers other than nitrile rubber include styrene butadiene rubber and silicon rubber.

保持具50は、隣り合う突条59同士の間に区画された凹条60を備える。各凹条60には、第1配線電極42及び第2配線電極43のうちいずれか1つが配置されている。第1配線電極42及び第2配線電極43は、めっき処理により形成されためっき配線(例えば、銅箔)である。第1配線電極42及び第2配線電極43は、絶縁基板51に密着している。本実施形態の治具41は、絶縁基板51に第1配線電極42及び第2配線電極43をパターニングした回路基板ともいえる。   The holder 50 includes a recess 60 that is partitioned between adjacent protrusions 59. One of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 is disposed on each concave line 60. The first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are plated wiring (for example, copper foil) formed by plating. The first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are in close contact with the insulating substrate 51. The jig 41 of this embodiment can be said to be a circuit board obtained by patterning the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 on the insulating substrate 51.

第2方向に隣り合う凹条60内において、極性が異なるように、第1配線電極42と第2配線電極43とは、交互に配置されている。これにより、第1配線電極42と第2配線電極43とは隣り合っている。第1配線電極42と、第2配線電極43とは非接触で配置されることで、電気的に絶縁されている。第1配線電極42及び第2配線電極43より、突条59は突出している。   In the groove 60 adjacent in the second direction, the first wiring electrodes 42 and the second wiring electrodes 43 are alternately arranged so that the polarities are different. Thereby, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are adjacent to each other. The 1st wiring electrode 42 and the 2nd wiring electrode 43 are electrically insulated by arrange | positioning without contact. The protrusion 59 protrudes from the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43.

第1配線電極42と、第2配線電極43との間隔(第1配線電極42と第2配線電極43との間の寸法)である配線間距離は、検出したい導電性異物の大きさ(粒径)に応じて適宜設定される。同様に、第1配線電極42及び第2配線電極43の幅(絶縁基板51の面51aに沿う方向の配線電極の寸法のうち短い方の寸法)も、検出したい導電性異物の大きさ(粒径)に応じて適宜設定される。本実施形態では、配線間距離、及び、第1配線電極42及び第2配線電極43の幅は、1μm以上、10μm未満に設定される。検出したい導電性異物の大きさは、電池セル11の短絡の原因となり得る導電性異物の大きさである。本実施形態の導電性異物検出装置40は、1μm以上、10μm未満の導電性異物を検出する。   The inter-wiring distance, which is the distance between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 (the dimension between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43), is the size (grain size) of the conductive foreign matter to be detected. It is set as appropriate according to the diameter. Similarly, the width of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 (the shorter dimension of the wiring electrodes in the direction along the surface 51a of the insulating substrate 51) is also the size of the conductive foreign matter to be detected (grain size). It is set as appropriate according to the diameter. In the present embodiment, the inter-wiring distance and the widths of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are set to 1 μm or more and less than 10 μm. The size of the conductive foreign matter to be detected is the size of the conductive foreign matter that can cause a short circuit of the battery cell 11. The conductive foreign object detection device 40 of the present embodiment detects conductive foreign substances having a size of 1 μm or more and less than 10 μm.

図2に示すように、複数の第1配線電極42は、第1接続線44によって接続されている。複数の第2配線電極43は、第2接続線45によって接続されている。第1接続線44及び第2接続線45は、例えば、絶縁基板51の面51aに設けられた金属箔である。   As shown in FIG. 2, the plurality of first wiring electrodes 42 are connected by a first connection line 44. The plurality of second wiring electrodes 43 are connected by a second connection line 45. The first connection line 44 and the second connection line 45 are, for example, metal foil provided on the surface 51 a of the insulating substrate 51.

第1接続線44と第2接続線45は、それぞれ計測器としての抵抗検出器73及び電源72に電気的に接続されている。電源72は、第1配線電極42及び第2配線電極43にそれぞれ導通し、これにより第1配線電極42と第2配線電極43と抵抗検出器73を含む測定用回路を構成する。そして、電源72は、第1配線電極42と第2配線電極43との間に、予め設定された一定電圧を印加可能である。抵抗検出器73は、計測された抵抗値を、制御装置80に出力する。   The first connection line 44 and the second connection line 45 are electrically connected to a resistance detector 73 and a power source 72 as measuring instruments, respectively. The power source 72 is electrically connected to the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43, thereby constituting a measurement circuit including the first wiring electrode 42, the second wiring electrode 43, and the resistance detector 73. The power source 72 can apply a predetermined constant voltage between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43. The resistance detector 73 outputs the measured resistance value to the control device 80.

図4に示すように、ブラケット16,17に導電性異物が付着しているかを検出する際には、まず、治具41の位置決めを行う。治具41は、突条59がブラケット16,17の面21aに接触するように配置される。治具41は、切欠53内にリブ31が位置するように位置決めされる。これにより、本体21のリブ31が設けられた面21aは、リブ31の周囲の一部、及び、固定部26の周囲の一部を除いて、治具41に覆われる。   As shown in FIG. 4, when detecting whether or not conductive foreign matter is attached to the brackets 16 and 17, the jig 41 is first positioned. The jig 41 is arranged so that the protrusion 59 contacts the surface 21 a of the brackets 16 and 17. The jig 41 is positioned so that the rib 31 is positioned in the notch 53. Thereby, the surface 21 a provided with the rib 31 of the main body 21 is covered with the jig 41 except for a part of the periphery of the rib 31 and a part of the periphery of the fixing portion 26.

次に、治具41をブラケット16,17に押し付ける。突条59は、治具41に加わる加圧力によって潰れていく。なお、治具41の加圧は、加圧装置によって自動で行われてもよいし、手動で行われてもよい。   Next, the jig 41 is pressed against the brackets 16 and 17. The protrusion 59 is crushed by the pressure applied to the jig 41. Note that the pressurization of the jig 41 may be performed automatically by a pressurizing device or may be performed manually.

図5(b)に示すように、突条59が潰れても、第1配線電極42及び第2配線電極43は、凹条60内にあり、突条59より突出しない。突条59のゴム硬度、第1配線電極42及び第2配線電極43の高さ、凹条60の深さ(突条59の高さ)、及び、治具41に対する加圧力の少なくとも1つは、治具41をブラケット16,17に押し付けたときに、第1配線電極42及び第2配線電極43が凹条60から突出しないように設定されている。   As shown in FIG. 5B, even if the protrusion 59 is crushed, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are in the recess 60 and do not protrude from the protrusion 59. At least one of the rubber hardness of the protrusion 59, the height of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43, the depth of the recess 60 (the height of the protrusion 59), and the pressure applied to the jig 41 is The first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are set so as not to protrude from the recess 60 when the jig 41 is pressed against the brackets 16 and 17.

第1配線電極42及び第2配線電極43は、突条59によってブラケット16,17に接触しない。このため、ブラケット16,17に導電性異物が付着していない場合、第1配線電極42と第2配線電極43とは絶縁された状態に維持される。第1配線電極42と第2配線電極43とが絶縁されている場合、抵抗検出器73で検出される抵抗値は無限大となる。   The first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are not in contact with the brackets 16 and 17 by the protrusion 59. For this reason, when the conductive foreign matter is not attached to the brackets 16 and 17, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are maintained in an insulated state. When the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are insulated, the resistance value detected by the resistance detector 73 is infinite.

図6(a)に示すように、ブラケット16,17に導電性異物(図中F)が付着している場合、導電性異物は、隣り合う凹条60に跨る。この状態で、ブラケット16,17に治具41を押し付けると、図6(b)に示すように、第1配線電極42と第2配線電極43とが導電性異物によって短絡する。導電性異物により第1配線電極42と第2配線電極43とが短絡すると、抵抗検出器73で検出される抵抗値は低下する。   As shown in FIG. 6A, when conductive foreign matter (F in the figure) adheres to the brackets 16 and 17, the conductive foreign matter straddles the adjacent recess 60. When the jig 41 is pressed against the brackets 16 and 17 in this state, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are short-circuited by the conductive foreign matter as shown in FIG. When the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are short-circuited due to the conductive foreign matter, the resistance value detected by the resistance detector 73 decreases.

制御装置80は、抵抗値の低下を検出すると、ブラケット16,17に導電性異物が付着していると判断する。これにより、導電性異物が検出される。
次に、上記した治具41の製造方法について説明する。
When the control device 80 detects a decrease in the resistance value, it determines that the conductive foreign matter is attached to the brackets 16 and 17. Thereby, a conductive foreign material is detected.
Next, a method for manufacturing the jig 41 will be described.

まず、図7に示すように、絶縁基板51にオゾン処理(紫外線オゾン処理)を行うことで、絶縁基板51の表面改質を行う。オゾン処理は、紫外線照射装置61から紫外線を絶縁基板51の面51aに照射することで行われる。絶縁基板51に紫外線が照射されると、分子結合が切断され、面51aに新たな官能基が形成される。これらの官能基が形成されることで、絶縁基板51の表面改質が行われる。   First, as illustrated in FIG. 7, the surface modification of the insulating substrate 51 is performed by performing ozone treatment (ultraviolet ozone treatment) on the insulating substrate 51. The ozone treatment is performed by irradiating the surface 51 a of the insulating substrate 51 with ultraviolet rays from the ultraviolet irradiation device 61. When the insulating substrate 51 is irradiated with ultraviolet rays, the molecular bond is cut and a new functional group is formed on the surface 51a. By forming these functional groups, surface modification of the insulating substrate 51 is performed.

次に、図8に示すように、絶縁基板51に第1配線電極42及び第2配線電極43をめっき処理により形成する。めっき処理としては、アディティブ法が用いられる。具体的にいえば、絶縁基板51の表面のうち、第1配線電極42及び第2配線電極43を設けない部分をレジスト62でマスクし、無電解めっき処理を施すことで、絶縁基板51の面51aに第1配線電極42及び第2配線電極43が形成される。   Next, as shown in FIG. 8, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are formed on the insulating substrate 51 by plating. As the plating treatment, an additive method is used. More specifically, a portion of the surface of the insulating substrate 51 where the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are not provided is masked with a resist 62 and subjected to electroless plating, whereby the surface of the insulating substrate 51 is obtained. A first wiring electrode 42 and a second wiring electrode 43 are formed on 51a.

無電解めっき処理は、金属塩、及び、還元剤などを含んだめっき液63に絶縁基板51を浸漬することで行われる。これにより、レジスト62によりマスクされていない部分に第1配線電極42及び第2配線電極43が形成される。   The electroless plating process is performed by immersing the insulating substrate 51 in a plating solution 63 containing a metal salt and a reducing agent. As a result, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are formed in a portion that is not masked by the resist 62.

次に、図9に示すように、第1配線電極42と第2配線電極43との間に、突条59を形成する。突条59の形成は、液体吐出方式としてのインクジェット方式で行われる。具体的にいえば、硬化前の液状のゴム材料を貯留した貯留部64の容積を圧電素子65によって変動させることで、ノズル66から硬化前の液状のゴム材料を吐出させる。ゴムが硬化することで、突条59が形成され、治具41が製造される。   Next, as shown in FIG. 9, a protrusion 59 is formed between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43. The protrusion 59 is formed by an ink jet method as a liquid discharge method. More specifically, the volume of the reservoir 64 that stores the liquid rubber material before curing is changed by the piezoelectric element 65, thereby discharging the liquid rubber material before curing from the nozzle 66. When the rubber is cured, the protrusion 59 is formed, and the jig 41 is manufactured.

したがって、上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
(1)治具41は、突条59によって区画された複数の凹条60を備える。各凹条60には、第1配線電極42又は第2配線電極43が配置されている。ブラケット16,17に治具41を当てただけでは、突条59によって、第1配線電極42及び第2配線電極43と、ブラケット16,17とが接触することが抑止されている。ブラケット16,17に導電性異物が付着している場合には、複数の凹条60に跨った導電性異物によって第1配線電極42と第2配線電極43とが短絡するため、金属製のブラケット16,17の導電性異物を検出することができる。
Therefore, according to the above embodiment, the following effects can be obtained.
(1) The jig 41 includes a plurality of concave stripes 60 partitioned by the protrusions 59. In each recess 60, the first wiring electrode 42 or the second wiring electrode 43 is arranged. The contact of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 with the brackets 16 and 17 is prevented by the protrusions 59 simply by applying the jig 41 to the brackets 16 and 17. When conductive foreign matter adheres to the brackets 16 and 17, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are short-circuited by the conductive foreign matter straddling the plurality of recesses 60. 16 and 17 conductive foreign matters can be detected.

治具41の製造について、第1配線電極42及び第2配線電極43をめっき処理によって形成することで、第1配線電極と第2配線電極が形成されたテープ状のフィルム部材を、円筒状の筐体の外周面に巻き付ける場合に比べて、第1配線電極42及び第2配線電極43の幅を狭くすることができる。また、第1配線電極42と第2配線電極43の配線間距離を短くすることができる。このため、100μm未満(本実施形態では10μm未満)の微細な導電性異物であっても検出することができる。また、インクジェット方式により、突条59を形成することで、突条59を細くでき、しかも突条間を狭くすることができる。   Regarding the manufacture of the jig 41, the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are formed by plating, so that the tape-like film member on which the first wiring electrode and the second wiring electrode are formed is formed into a cylindrical shape. The widths of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 can be made narrower than in the case of winding around the outer peripheral surface of the housing. In addition, the distance between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 can be shortened. For this reason, even fine conductive foreign matters of less than 100 μm (less than 10 μm in this embodiment) can be detected. Further, by forming the protrusions 59 by the ink jet method, the protrusions 59 can be made thin, and the space between the protrusions can be reduced.

(2)絶縁基板51にオゾン処理を行っている。第1配線電極42及び第2配線電極43の幅を狭くし、10μm未満にすると、第1配線電極42と第2配線電極43との接触面積が少なくなり、アンカー効果が生じにくくなる。結果として、絶縁基板51と第1配線電極42及び第2配線電極43との密着力が弱くなる。オゾン処理を行い、絶縁基板51の表面改質を行うことで、第1配線電極42及び第2配線電極43と絶縁基板51との密着力を強くすることができる。このため、第1配線電極42及び第2配線電極43の幅を10μm未満にしても、第1配線電極42及び第2配線電極43と絶縁基板51との密着を維持できる。   (2) The insulating substrate 51 is subjected to ozone treatment. If the widths of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are reduced to less than 10 μm, the contact area between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 is reduced, and the anchor effect is less likely to occur. As a result, the adhesion between the insulating substrate 51 and the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 is weakened. By performing ozone treatment and modifying the surface of the insulating substrate 51, the adhesion between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 and the insulating substrate 51 can be increased. For this reason, even if the width of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 is less than 10 μm, the close contact between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 and the insulating substrate 51 can be maintained.

(3)突条59は、金属製の導電性異物に接触するため、突条59を軟質ゴム製とした場合、突条59が摩耗しやすい。また、導電性異物が突条59にめり込むおそれがある。結果として、治具41を長期間使用することができない。突条59を硬質ゴム製とすることで、治具41を長期間に亘って使用することができる。   (3) Since the protrusions 59 are in contact with metal conductive foreign matter, the protrusions 59 are likely to be worn when the protrusions 59 are made of soft rubber. Moreover, there is a possibility that the conductive foreign matter may sink into the ridge 59. As a result, the jig 41 cannot be used for a long time. By making the protrusion 59 from hard rubber, the jig 41 can be used over a long period of time.

(4)ブラケット16,17に付着した導電性異物を検出するための装置として、CCDカメラなどの撮像装置を用いるものが知られている。撮像装置を用いて導電性異物を検出する場合、撮像装置によって撮像された画像から導電性異物の有無を検査する。撮像装置では、バリが検出できるような倍率で撮影を行った場合、一度に狭い範囲の画像しか取得することができないため、撮像装置を移動させて、複数箇所で画像を取得する必要がある。また、リブ31の近傍では、撮像装置をリブ31から離れるように移動させる必要があり、撮像装置の焦点深度の調整が、その都度必要になる。結果として、導電性異物の検出に長時間を要する。   (4) As an apparatus for detecting conductive foreign matter attached to the brackets 16 and 17, an apparatus using an imaging device such as a CCD camera is known. When detecting a conductive foreign material using an imaging device, the presence or absence of the conductive foreign material is inspected from an image captured by the imaging device. In the imaging apparatus, when shooting is performed at a magnification that can detect burrs, only an image in a narrow range can be acquired at a time. Therefore, it is necessary to move the imaging apparatus and acquire images at a plurality of locations. Further, in the vicinity of the rib 31, it is necessary to move the imaging device away from the rib 31, and it is necessary to adjust the depth of focus of the imaging device each time. As a result, it takes a long time to detect the conductive foreign matter.

本実施形態のように、治具41をブラケット16,17の面21aに押し付けることで、治具41と接触する部分については、一括で導電性異物の有無を検査することができる。したがって、撮像装置によって撮像した画像から導電性異物を検出する場合に比べて、短時間で導電性異物の有無を検査することができる。   By pressing the jig 41 against the surfaces 21a of the brackets 16 and 17 as in the present embodiment, it is possible to inspect the presence or absence of conductive foreign matter at a portion that contacts the jig 41. Therefore, the presence / absence of conductive foreign matter can be inspected in a shorter time compared to the case where conductive foreign matter is detected from an image captured by the imaging device.

なお、実施形態は、以下のように変更してもよい。
○第1配線電極42及び第2配線電極43を形成する前に突条59を形成し、突条59同士の間に第1配線電極42及び第2配線電極43を形成してもよい。
In addition, you may change embodiment as follows.
The protrusion 59 may be formed before the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 are formed, and the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 may be formed between the protrusions 59.

○めっき処理は、セミアディティブ法などを用いて行われてもよい。
○絶縁基板51の表面改質は、オゾン処理に代えて、過酸化マンガン処理によって行われてもよい。過酸化マンガン処理は、第1配線電極42及び第2配線電極43の幅が、10μm以上、100m未満のときに行われることが好ましい。
○ The plating treatment may be performed using a semi-additive method or the like.
The surface modification of the insulating substrate 51 may be performed by manganese peroxide treatment instead of ozone treatment. The manganese peroxide treatment is preferably performed when the width of the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 is 10 μm or more and less than 100 m.

○第1配線電極42及び第2配線電極43と絶縁基板51との密着を維持することができれば、絶縁基板51の表面改質を行わなくてもよい。
○液体吐出方式は、インクジェット方式に限られない。例えば、ディスペンサなどを用いて液状のゴム材料を吐出してもよい。
If the adhesion between the first wiring electrode 42 and the second wiring electrode 43 and the insulating substrate 51 can be maintained, the surface modification of the insulating substrate 51 may not be performed.
○ The liquid ejection method is not limited to the inkjet method. For example, a liquid rubber material may be discharged using a dispenser or the like.

○ブラケット16,17の複数の面のうち、リブ31が設けられた本体21の面21aについて導電性異物の検出を行ったが、治具41の形状を変更することで、本体21の板厚方向の面のうち、リブ31が設けられていない面などについても導電性異物の検出を行うことができる。   ○ Although the conductive foreign matter was detected on the surface 21a of the main body 21 provided with the ribs 31 among the plurality of surfaces of the brackets 16 and 17, the thickness of the main body 21 was changed by changing the shape of the jig 41. Among the directional surfaces, the conductive foreign matter can be detected also on the surface where the ribs 31 are not provided.

○各突条59は、絶縁基板51の板厚方向の面に沿う方向であれば、どのような方向に配列されていてもよい。例えば、各突条59は、第1方向に互いに平行に配列されていてもよい。   Each protrusion 59 may be arranged in any direction as long as it is a direction along the surface of the insulating substrate 51 in the thickness direction. For example, the protrusions 59 may be arranged in parallel to each other in the first direction.

○計測器として、電気的な数値として電流値を計測する電流計を用いてもよい。計測器として、電気的な数値として電圧を計測する電圧計を用いてもよい。
○ブラケット16,17は、電池セル11を拘束してモジュール化する機能を備えたものであれば、どのような形状であってもよい。例えば、ブラケット16,17は、リブ31を備えていない形状であってもよいし、固定部26を備えていない形状であってもよい。治具41の形状は、ブラケット16,17の形状に合わせて適宜変更される。
As the measuring instrument, an ammeter that measures a current value as an electrical numerical value may be used. As the measuring instrument, a voltmeter that measures a voltage as an electrical numerical value may be used.
The brackets 16 and 17 may have any shape as long as the brackets 16 and 17 have a function of restraining the battery cell 11 to be modularized. For example, the brackets 16 and 17 may have a shape that does not include the ribs 31 or may have a shape that does not include the fixing portion 26. The shape of the jig 41 is appropriately changed according to the shapes of the brackets 16 and 17.

○ゴムとして、ゴム硬度がデュロメータ硬さ60〜90以外のものを用いてもよい。
○絶縁基板51の板厚方向の面のうち、突条59が設けられた面51aの反対面には、台座が設けられてもよい。
As rubber, rubber hardness other than durometer hardness of 60 to 90 may be used.
A pedestal may be provided on the surface of the insulating substrate 51 in the thickness direction opposite to the surface 51a on which the protrusions 59 are provided.

○上記実施形態の導電性異物検出装置を用いた導電性異物検出方法では、複数の導電性異物検出装置を組合せて導電性異物の検出を行ってもよい。例えば、表面改質をオゾン処理により行い、粒径が1μm以上、10μm未満の導電性異物の検出に適した導電性異物検出装置を、表面改質を過酸化マンガン処理により行い、粒径が10μm以上、100μm未満の導電性異物の検出に適した導電性異物検出装置と組合せて検出を行うこともできる。導電性異物検出装置の第1配線電極及び第2配線電極の配線の幅は、配線間距離と共に、想定される導電性異物の粒径に応じ、変更する必要がある。配線が細ければ、粒径の小さな導電性異物に加え、粒径の大きな導電性異物も検出できるが、一方で、配線が細くなると配線の強度が低下する為、想定以上の粒径の導電性異物の検出により、断線など損傷が生じやすくなる。そこで、より大きな粒径の導電性異物に対応した導電性異物検出装置を先に用いて検出を行い、粒径の大きな導電性異物が存在しないことが確認された後、より粒径の小さな異物を想定した導電性検出装置を用いることで、このような不具合を回避することが出来る。   In the conductive foreign matter detection method using the conductive foreign matter detection device of the above embodiment, a plurality of conductive foreign matter detection devices may be combined to detect conductive foreign matter. For example, a conductive foreign matter detecting apparatus suitable for detecting conductive foreign matters having a particle size of 1 μm or more and less than 10 μm is obtained by performing surface modification by ozone treatment. As described above, detection can also be performed in combination with a conductive foreign matter detection apparatus suitable for detecting conductive foreign matters of less than 100 μm. The widths of the wirings of the first wiring electrode and the second wiring electrode of the conductive foreign matter detection device need to be changed according to the assumed particle size of the conductive foreign matter together with the distance between the wirings. If the wiring is thin, in addition to the conductive foreign material having a small particle size, a conductive foreign material having a large particle size can be detected. On the other hand, if the wiring is thin, the strength of the wiring is reduced. Detection of sexual foreign matter is likely to cause damage such as disconnection. Therefore, after conducting a detection using a conductive foreign matter detection device corresponding to a conductive foreign matter having a larger particle size and confirming that there is no conductive foreign matter having a larger particle size, a foreign matter having a smaller particle size is detected. Such inconvenience can be avoided by using a conductivity detection device that assumes the above.

11…電池セル(蓄電装置)、16,17…ブラケット、40…導電性異物検出装置、41…治具、42…第1配線電極、43…第2配線電極、51…絶縁基板、59…突条、60…凹条、71…検出部、72…電源、73…抵抗検出器(計測器)。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Battery cell (electric storage apparatus) 16, 17 ... Bracket, 40 ... Conductive foreign material detection apparatus, 41 ... Jig, 42 ... 1st wiring electrode, 43 ... 2nd wiring electrode, 51 ... Insulating substrate, 59 ... Projection 60, concave stripes, 71, detector, 72, power source, 73, resistance detector (measuring instrument).

Claims (2)

並設された複数の蓄電装置を並設方向の両側から挟んで拘束する金属製のブラケットに押し付けられる治具を備え、
前記治具は、
絶縁基板と、
前記絶縁基板の1つの面に沿う方向に互いに平行に配列された複数のゴム製の突条と、
前記面に沿う方向に隣り合う前記突条の間に区画された凹条と、
前記面に沿う方向に隣り合う前記凹条内において、極性が異なるように交互に配置された第1配線電極及び第2配線電極と、を備え、前記第1配線電極及び前記第2配線電極より前記突条が突出している導電性異物検出装置に用いられる前記治具を製造する導電性異物検出装置の治具の製造方法であって、
前記絶縁基板にめっき処理により前記第1配線電極及び前記第2配線電極を形成する工程と、
前記第1配線電極と前記第2配線電極との間となる部分に液体吐出方式により液状のゴム材料を吐出して前記突条を形成する工程と、を含む導電性異物検出装置の治具の製造方法。
A jig that is pressed against a metal bracket that holds and constrains a plurality of power storage devices arranged side by side from both sides of the side by side,
The jig is
An insulating substrate;
A plurality of rubber protrusions arranged in parallel to each other in a direction along one surface of the insulating substrate;
A concave line defined between the protrusions adjacent in the direction along the surface;
A first wiring electrode and a second wiring electrode, which are alternately arranged so as to have different polarities, in the concave stripes adjacent to each other in the direction along the surface, from the first wiring electrode and the second wiring electrode; A method of manufacturing a jig for a conductive foreign matter detection device for manufacturing the jig used in the conductive foreign matter detection device from which the protrusion protrudes,
Forming the first wiring electrode and the second wiring electrode by plating on the insulating substrate;
A step of forming a protrusion by discharging a liquid rubber material by a liquid discharge method to a portion between the first wiring electrode and the second wiring electrode. Production method.
前記第1配線電極及び前記第2配線電極の幅は、10μm未満であり、
前記めっき処理を行う前に、前記絶縁基板にオゾン処理を行う工程を含む請求項1に記載の導電性異物検出装置の治具の製造方法。
The width of the first wiring electrode and the second wiring electrode is less than 10 μm,
The manufacturing method of the jig | tool of the electroconductive foreign material detection apparatus of Claim 1 including the process of performing ozone treatment to the said insulated substrate before performing the said plating process.
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