[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2017505457A - 底部シールドを有する有機発光ダイオードディスプレイ - Google Patents

底部シールドを有する有機発光ダイオードディスプレイ Download PDF

Info

Publication number
JP2017505457A
JP2017505457A JP2016545830A JP2016545830A JP2017505457A JP 2017505457 A JP2017505457 A JP 2017505457A JP 2016545830 A JP2016545830 A JP 2016545830A JP 2016545830 A JP2016545830 A JP 2016545830A JP 2017505457 A JP2017505457 A JP 2017505457A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display
thin film
film transistor
conductive shield
conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016545830A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6623164B2 (ja
Inventor
ジャエ ウォン チョイ
ジャエ ウォン チョイ
ジャン−ピエール ギユー
ジャン−ピエール ギユー
シー チャン チャン
シー チャン チャン
ツン−ティン ツァイ
ツン−ティン ツァイ
ヴァスダ グプタ
ヴァスダ グプタ
ヨン バエ パク
ヨン バエ パク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Apple Inc
Original Assignee
Apple Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Apple Inc filed Critical Apple Inc
Publication of JP2017505457A publication Critical patent/JP2017505457A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6623164B2 publication Critical patent/JP6623164B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/126Shielding, e.g. light-blocking means over the TFTs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78603Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film characterised by the insulating substrate or support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78606Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with supplementary region or layer in the thin film or in the insulated bulk substrate supporting it for controlling or increasing the safety of the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78651Silicon transistors
    • H01L29/7866Non-monocrystalline silicon transistors
    • H01L29/78663Amorphous silicon transistors
    • H01L29/78666Amorphous silicon transistors with normal-type structure, e.g. with top gate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78651Silicon transistors
    • H01L29/7866Non-monocrystalline silicon transistors
    • H01L29/78672Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor
    • H01L29/78675Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor with normal-type structure, e.g. with top gate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/7869Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film having a semiconductor body comprising an oxide semiconductor material, e.g. zinc oxide, copper aluminium oxide, cadmium stannate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/121Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
    • H10K59/1213Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/123Connection of the pixel electrodes to the thin film transistors [TFT]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

ディスプレイは、有機発光ダイオードディスプレイピクセルのアレイを有し得る。各ディスプレイピクセルは、駆動トランジスタの制御下で光を射出する発光ダイオードを有し得る。各ディスプレイピクセルはまた、補償動作及びプログラミング動作のための制御トランジスタを有し得る。ディスプレイピクセルのアレイは、行及び列を有し得る。行線は、行制御信号をディスプレイピクセルの行に印加するために使用され得る。列線(データ線)は、ディスプレイデータ及び他の信号をディスプレイピクセルの対応する列に印加するために使用され得る。底部導電性シールド構造体は、各駆動トランジスタの下に形成され得る。底部導電性シールド構造体は、隣接する行線及び列線から発生する任意の電界から駆動トランジスタを遮蔽するために働き得る。底部導電性シールド構造体は、電力供給ラインに結合されてもよく、又は、電気的に浮遊していてもよい。【選択図】図5

Description

本出願は、2014年9月17日に出願された米国特許出願第14/448,725号及び2013年1月21日に出願された米国仮特許出願第61/929,907号に対する優先権を主張するものであり、これらの各出願は、全体が本明細書において参照により援用されている。
これは、概して、ディスプレイを有する電子機器に関し、より詳細には、有機発光ダイオードディスプレイなどのディスプレイのためのディスプレイドライバ回路に関する。
電子機器は、多くの場合、ディスプレイを含む。例えば、セルラー電話機及びポータブルコンピュータは、ユーザに情報を提示するためのディスプレイを含む。
有機発光ダイオードディスプレイなどのディスプレイは、発光ダイオードベースのディスプレイピクセルのアレイを有する。この種類のディスプレイでは、各ディスプレイピクセルは、発光ダイオードと、光を生成するための発光ダイオードへの信号の印加を制御するための薄膜トランジスタとを含む。
有機発光ダイオードディスプレイピクセルは、アクセス薄膜トランジスタを介してデータ線に接続されたドライブ薄膜トランジスタを含む。アクセストランジスタは、対応する走査線を介して走査信号を受信するゲート端子を有し得る。アクセストランジスタをオンにするために走査信号をアサートすることによって、データ線上の画像データをディスプレイピクセルへとロードすることができる。
従来の有機発光ダイオードディスプレイピクセルでは、走査線は、駆動トランジスタに比較的近接して形成される。ある動作シナリオでは、走査線と駆動トランジスタのチャネル領域との間に水平電界が生成され得る方式で、走査線がバイアスされ得る。このように発生した電界は、駆動薄膜トランジスタの動作と干渉することがあり、したがって、その結果、望ましくないカラーアーチファクトが生じる。
したがって、改良型有機発光ダイオードディスプレイなどの改良型ディスプレイを提供することが可能であることが望ましい。
電子機器は、ディスプレイピクセルのアレイを有するディスプレイを含み得る。ディスプレイピクセルは、有機発光ダイオードディスプレイピクセルであり得る。各ディスプレイピクセルは、光を射出する有機発光ダイオードを有し得る。各ディスプレイピクセル中の駆動トランジスタは、そのディスプレイピクセル中の有機発光ダイオードに電流を印加し得る。駆動トランジスタは、閾値電圧により特徴づけられ得る。
各ディスプレイピクセルは、閾値電圧を変動についてディスプレイピクセルを補償する際に使用される制御トランジスタを有し得る。補償動作中に、基準電圧は、ディスプレイピクセルに提供され得る。また、制御トランジスタは、プログラミング動作中にディスプレイデータをディスプレイピクセルにロードする際、及びディスプレイピクセル発光動作を制御する際に使用され得る。
各ディスプレイピクセルは、制御トランジスタをバイアスするにより発生した任意の水平電界が駆動トランジスタの動作に干渉することを防止するために駆動トランジスタの直ぐ下に生成された導電性シールド構造体を備え得る。導電性シールド構造体は、駆動トランジスタの下にのみ形成され、制御トランジスタの下には形成されない。
導電性シールド構造体は、透明な導電材料又は不透明な導電材料から形成され得る。導電性シールド構造体は、電気的に浮遊していいてもよく、又は共通カソード電極などの共通電力供給ラインに短絡していてもよい。詳細には、導電性シールド構造体は、駆動トランジスタと駆動トランジスタがその上に形成された透明な基板との間に介挿された少なくとも1つのバッファ層中に形成され得る。したがって、このようにして形成された導電性シールドは底部シールドと称され得る。
一実施形態に係る、ディスプレイを有する例示的な電子機器の図である。 一実施形態に係る、有機発光ダイオードディスプレイピクセルのアレイを有する有機発光ダイオードディスプレイなど、例示的なディスプレイの図である。 一実施形態に係る、ディスプレイにおいて使用され得る種類の例示的な有機発光ダイオードディスプレイピクセルの図である。 従来の有機発光ダイオードディスプレイピクセル構造体の側断面図である。 一実施形態に係る、駆動トランジスタと、駆動トランジスタの直ぐ下に形成された導電性シールド構造体と有する例示的な有機発光ダイオードディスプレイピクセルの側断面図である。 一実施形態に係る、電気的に浮遊している導電性シールド構造体を有する、図5に示した種類の複数のディスプレイピクセルの上面図である。 一実施形態に係る、互いに短絡している導電性シールド構造体を有する、図5に示した種類の複数のディスプレイピクセルの上面図である。 一実施形態に係る、ディスプレイピクセルアレイ中の少なくともいくつかの導電性シールド構造体がどのように共通カソード電極に短絡し得るかを示す図である。 一実施形態に係る、ビアを使用して導電性シールド構造体をどのようにカソード電極に接続し得るかを示す、図9のディスプレイピクセルアレイの周辺部分の側断面図である。
有機発光ダイオード(OLED)ディスプレイを備え得る種類の例示的な電子機器が、図1に示される。図1に示すように、電子機器10は、制御回路16を有し得る。制御回路16は機器10の動作をサポートするための記憶装置及び処理回路を含み得る。記憶装置及び処理回路は、ハードディスクドライブ記憶装置、不揮発性メモリ(例えば、フラッシュメモリ、又はソリッドステートドライブを形成するように構成された他の電気的にプログラムできる読み出し専用メモリ)、揮発性メモリ(例えば、静的又は動的ランダムアクセスメモリ)などの記憶装置を含み得る。制御回路16内の処理回路は、機器10の動作を制御する目的で使用され得る。処理回路は、1つ以上のマイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、デジタル信号プロセッサ、ベースバンドプロセッサ、電力管理ユニット、音声コーデックチップ、特定用途向け集積回路、プログラム可能な集積回路などに基づき得る。
機器10にデータを供給することを可能とし、機器10から外部機器にデータを供給することを可能とするために、入出力装置12など、機器10中の入出力回路を使用することができる。入出力装置12としては、ボタン、ジョイスティック、クリックホイール、スクロールホイール、タッチパッド、キーパッド、キーボード、マイクロホン、スピーカ、音源、振動器、カメラ、センサ、発光ダイオード及び他の状態標識、データポートなどを挙げることができる。ユーザは入出力装置12を介してコマンドを供給することにより機器10の動作を制御することができ、入出力装置12の出力リソースを使用して機器10から状態情報及び他の出力を受信することができる。
入出力装置12は、ディスプレイ14などの1つ以上のディスプレイを含み得る。ディスプレイ14は、ユーザからのタッチ入力を集めるためのタッチセンサを含むタッチスクリーンディスプレイであってもよく、又はディスプレイ14はタッチに反応しなくてもよい。ディスプレイ14のためのタッチセンサは、容量性タッチセンサ電極、音響性タッチセンサ構造体、抵抗性タッチ構成要素、力ベースのタッチセンサ構造体、光ベースのタッチセンサ、又は他の好適なタッチセンサ構成のアレイに基づき得る。
制御回路16は、オペレーティングシステムコード及びアプリケーションなどの機器10上のソフトウェアを実行するために使用され得る。機器10の動作中、制御回路16上で動作しているソフトウェアは、入出力装置中のディスプレイ14上に画像を表示することができる。
図2は、基板24などの1つ以上の層上に形成された構造体を含むディスプレイ14を示す。基板24などの層は、平坦なガラス層など、平坦な矩形の材料層から形成され得る。ディスプレイ14は、ユーザに画像を表示するためのディスプレイピクセル22のアレイを有し得る。ディスプレイピクセル22のアレイは、基板24上に、ディスプレイピクセル構造体の行及び列から形成され得る。これらの構造体は、ポリシリコン薄膜トランジスタ、半導体酸化物薄膜トランジスタなどのような薄膜トランジスタを含み得る。ディスプレイピクセル22のアレイには、任意の好適な数(例えば、10個以上、100個以上、又は1,000個以上)の行及び列があり得る。
ディスプレイドライバ集積回路15などのディスプレイドライバ回路は、はんだ付け又は導電性接着剤を使用して、基板24上の金属トレースなどの導電経路に結合され得る。ディスプレイドライバ集積回路15(タイミングコントローラチップと称されることもある)は、経路25を介してシステム制御回路16と通信するための通信回路を含んでいることがある。経路25は、フレキシブルプリント回路上のトレース又は他のケーブルから形成され得る。制御回路は、セルラー電話、コンピュータ、テレビ、セットトップボックス、メディアプレーヤ、ポータブル電子機器、又はディスプレイ14が使用されている他の電子機器などの電子機器中のメインロジックボード上に配置され得る。動作中、制御回路は、ディスプレイドライバ集積回路15に、ディスプレイ14上に表示される画像に関する情報を供給することができる。ディスプレイピクセル22上に画像を表示するために、ディスプレイドライバ集積回路15は、クロック信号及び他の制御信号を、行ドライバ回路18及び列ドライバ回路20などのディスプレイドライバ回路に供給し得る。行ドライバ回路18及び/又は列ドライバ回路20は、1つ以上の集積回路及び/又は1つ以上の薄膜トランジスタ回路から形成され得る。
行ドライバ回路18は、ディスプレイ14の左縁部及び右縁部に、ディスプレイ14の単一の縁部のみに、又はディスプレイ14における他の場所に配置され得る。動作中、行ドライバ回路18は、(行線又は「走査」線と称されることがある)水平線28上に行制御信号を提供することができる。行ドライバ回路は、走査線ドライバ回路と称されることがある。
列ドライバ回路20を使用して、ディスプレイドライバ集積回路15から複数の対応する垂直線26上にデータ信号Dを提供することができる。列ドライバ回路20は、データ線ドライバ回路又はソースドライバ回路と称されることがある。垂直線26は、データ線と称されることがある。補償動作中に、列ドライバ回路20は、垂直線26を使用して基準電圧を供給することができる。プログラミング動作中に、ディスプレイデータは、線26を使用して、ディスプレイピクセル22へとロードされる。
各データ線26は、ディスプレイピクセル22の対応する列と関連づけられる。水平信号線28のセットは、ディスプレイ14を通じて水平方向に延びている。水平信号線28の各セットは、ディスプレイピクセル22の対応する行と関連づけられる。各行における水平信号線の数は、水平信号線により別個に制御されている、ディスプレイピクセル22におけるトランジスタの数によって決定される。異なる個数の走査線により、異なる構成のディスプレイピクセルを動作させることができる。
行ドライバ回路18は、ディスプレイ14中の行線28上で走査信号などの制御信号をアサートし得る。例えば、ドライバ回路18は、ディスプレイドライバ集積回路15からクロック信号及び他の制御信号を受信することができ、受信した信号に応答して、ディスプレイピクセル22の各行において走査信号及びエミッション信号をアサートすることができる。ディスプレイピクセル22の行は、(一例として)ディスプレイピクセルのアレイの最上部から始まり、アレイの最下部で終了する画像データの各フレームについての処理と共に、順次処理され得る。1つの列の走査線をアサートしている間、回路16により列ドライバ回路20に提供される制御信号及びデータ信号は、関連するデータ信号Dをデマルチプレックスし、データ線26上に駆動するように回路20に指示し、それにより、その列のディスプレイピクセルは、データ線D上に現れるディスプレイデータを用いてプログラムされる。ディスプレイピクセルが、次いで、ロードされたディスプレイデータを表示することができる。
有機発光ダイオードディスプレイにおいて、各ディスプレイピクセルは、それぞれの有機発光ダイオードを含んでいる。例示的な有機発光ダイオードディスプレイピクセル22の概略図が図3に示される。図3に示すように、ディスプレイピクセル22は、駆動トランジスタTDに結合された発光ダイオード30を含むことができる。正の電源電圧VDDELが、正の電源供給端子34に供給され得る一方で、アース電源電圧VSSELがアース電源供給端子36に供給され得る。駆動トランジスタTDの状態は、ダイオード30を流れる電流量を、したがって、ディスプレイピクセル22からの放出光40の量を制御する。
ディスプレイピクセル22は、蓄積キャパシタCst1及びCst2と、トランジスタSW1、SW2及びSW3など、スイッチとして使用される1つ以上のトランジスタとを有することができる。信号EM並びに走査信号SCAN1及びSCAN2は、行線28を使用して、ディスプレイピクセル22の行に提供される。タDは、データ線26を介してディスプレイピクセル22の列に提供される。
信号EMは、発光トランジスタSW3の動作を制御するために使用される。トランジスタSW1は、駆動トランジスタTDのゲートに接続されたノードAにデータ線26の電圧を印加するために使用される。トランジスタSW2は、補償動作中の回路初期化のために、直流(DC)バイアス電圧ViniをノードBに印加するために使用される。
補償動作中、ディスプレイピクセル22は、トランジスタの閾値電圧変動など、ピクセルツーピクセル変動について補償される。補償期間は、初期化段階と閾値電圧生成段階とを含む。補償に続いて(即ち、補償期間の補償動作が完了した後)、データがディスプレイピクセルへとロードされる。データプログラミングと称されることがあるデータローディングプロセスがプログラミング期間中に行われる。カラーディスプレイでは、プログラミングは、データをデマルチプレクスすることと、デマルチプレクスしたデータを赤色ピクセル、緑色ピクセル及び青色ピクセルへとロードすることとを含み得る。
補償及びプログラミングに続いて(即ち、補償及びプログラミング期間の満了後)、その行のディスプレイピクセルを使用して光が射出される。光を射出するためにディスプレイピクセルが使用される時間期間(即ち、発光ダイオード30が光40を射出する時間)は、発光期間と称されることがある。
初期化段階中に、回路18は、SCAN1及びSCAN2をアサートする(即ち、SCAN1及びSCAN2が高くなる)。こうしてトランジスタSW1及びSW2がオンされ、それにより、基準電圧信号Vref及び初期化電圧信号Viniが、ノードA及びBにそれぞれ印加される。補償期間の閾値電圧生成段階中、信号EMがアサートされ、スイッチSW3がオンにされ、それにより、電流が駆動トランジスタTDを流れて、ノードBにおけるキャパシタンスをチャージアップする。ノードでの電圧Bが増大するにつれて、駆動トランジスタTDのゲートソース電圧Vgsが駆動トランジスタTDの閾値電圧Vtに近づくので、駆動トランジスタTDを通る電流が低減される。したがって、ノードBにおける電圧は、Vref−Vtになる。
補償の後(即ち、初期化及び閾値電圧の生成後)、データは、補償されたディスプレイピクセルへとプログラムされる。プログラミング中、発光トランジスタSW3は、信号EMをデアサートすることによってオフにされ、データ線26を使用して所望のデータ電圧DがノードAに印加される。プログラミングの後のノードAにおける電圧は、ディスプレイデータ電圧Vdataである。ノードBにおける電圧は、ノードAとの結合により上昇する。詳細には、ノードBにおける電圧は、Vref−Vt+(Vdata−Vref)*Kになり、式中、Kは、Cst1/(Cst1+Cst2+Coled)に等しく、Coledは、ダイオード30と関連づけられたキャパシタンスである。
補償動作及びプログラミング動作が完了した後、ディスプレイ14のディスプレイドライバ回路は、補償及びプログラムされたディスプレイピクセルを発光モードにする(即ち、発光期間が開始される)。発光中、信号EMは、補償及びプログラムされたディスプレイピクセルごとにアサートされ、トランジスタSW3をオンする。ノードBにおける電圧は、ダイオード30と関連付けられた電圧Voledになる。ノードAにおける電圧は、Vdata+Voled−(Vref−Vt)−(Vdata−Vref)*Kになる。駆動トランジスタについてのVgs−Vtの値は、ノードAの電圧VaとノードBの電圧Vbとの差に等しい。Va−Vbの値は(Vdata−Vref)*(1−K)であり、Vtとは無関係である。そのため各ディスプレイピクセル22は、その行におけるディスプレイピクセル22のそれぞれが射出する光40の量が、それらのディスプレイピクセルのそれぞれについてのデータ信号Dのマグニチュードにのみ比例するように、閾値電圧変動について補償される。
図4は、従来のOLEDディスプレイピクセル構造の側断面図である。図4に示すように、透明なポリイミド(PI)基板100上にピクセル構造体が形成される。複数のバッファ層102がPI基板100に形成される。駆動トランジスタ106のためのアクティブ領域を形成するために、バッファ層102上にポリシリコン108がパターニングされる。ゲート絶縁層104は、バッファ層102上にポリシリコン108を覆って形成される。ゲート絶縁層104上に金属ゲート導体110が形成され、駆動トランジスタ106のためのゲート端子として働く。トランジスタ106に隣接して形成された金属経路130は、ディスプレイピクセルのための走査線のうちの1つとして働き得る。窒化ケイ素パッシベーション層(図4には示されていない)が、ゲート絶縁層104上に、金属構造110及び130を覆って形成される。
このように形成された薄膜駆動トランジスタ106は、発光ダイオード119のカソード58(即ち、酸化インジウムスズ電極)とアノード116(即ち、金属層)との間に電流を通す。この電流が有機発光ダイオードの発光エレクトロルミネッセンス層(発光層)118を通過するにつれて、光122が発生する。このように光122を発生させるディスプレイピクセルは、典型的には、上面発光型ディスプレイピクセルと称される。
通常の表示動作中、走査線130は、負電圧にバイアスされることがある(即ち、走査線130を−5Vにバイアスすることができる)。バッファ層102が2つのバッファ層を含むならば、PI基板100の上面で負電荷が誘起される。このようにして誘起される負電荷は、望ましくないことに、駆動トランジスタ106を流れる電流の量を減少させることがある(即ち、走査線130とトランジスタ106のチャネルとの間に発生する電界は、線132により示すように、トランジスタ106の性能に悪影響を及ぼすことがある)。したがって、この水平電界効果の影響を受けないディスプレイピクセルを形成することが望ましいことがある。
一実施形態によれば、底部導電性シールドを有するディスプレイピクセル22が提供される(例えば、図5を参照)。図5に示すように、薄膜駆動トランジスタTDなどの薄膜トランジスタ構造体は、ガラス、ポリイミド又は他の透明な誘電材料から作製された透明な基板200上に形成され得る。薄膜トランジスタTDは、図3に関して説明したディスプレイピクセル駆動トランジスタTDとして働き得る。
バッファ層306などの1つ以上のバッファ層が、基板200上に形成され得る。バッファ層306は、マルチバッファ(MB)層と称されることがある層、活性酸化物層、及び任意の好適な透明な誘電材料から形成される他の層を含み得る。
トランジスタTDのための活物質208が、バッファ層202上に形成され得る。活物質208は、ポリシリコン、インジウムガリウム酸化亜鉛、アモルファスシリコン、又は他の半導体物質の層であり得る。ゲート絶縁層204などのゲート絶縁層が、バッファ層202上に、活物質を覆って形成され得る。ゲート絶縁体204は、シリコン酸化物などの誘電体から形成され得る。ゲート導体210など導電性ゲート構造体が、ゲート絶縁体204上に配設され得る。ゲート導体210は、薄膜トランジスタTDのためのゲート端子として働き得る。ゲート210の直ぐ下の活物質208の一部分は、トランジスタTDのためのチャネル領域として働き得る。
経路230などの導電経路は、トランジスタTDに直ぐ近くに形成され得る。経路230は、例えば、制御信号/データ信号のうちの1つをディスプレイピクセル22に伝達するための制御線の一部であり得る。1つの構成では、経路230は、信号SCAN1をピクセル22中の対応するスイッチSW1に伝えるための走査線の一部であり得る(図3)。別の構成では、経路230は、信号SCAN2をピクセル22中の対応するスイッチSW2に伝えるための走査線の一部であり得る。更に別の構成では、経路230は、信号EMをピクセル22中の対応するスイッチSW3に伝えるための走査線の一部であり得る。
窒化ケイ素層などのパッシベーション層(図5には示されていない)が、任意選択的に、ゲート絶縁層204の上に、ゲート210を覆って形成され得る。パッシベーション層の堆積の後、薄膜トランジスタ構造体を不活性化するために、水素化アニーリングプロセスが適用され得る。
1つ以上の誘電体層212(層間絶縁(interlayer dielectric)層又は「ILD」層と称されることがある)が、薄膜トランジスタ構造体上に形成され得る。ゲート210及び経路230が形成される材料は、「M1」金属と称されることがある。したがって、M1金属が形成され誘電体層は、M1金属ルーティング層と称される。
薄膜トランジスタTDなどの薄膜トランジスタ構造体は、発光ダイオード219のカソード220(例えば、酸化インジウムスズ又はインジウム酸化亜鉛などの透明導電層)とアノード216(例えば、光反射金属層)との間に電流を通すことができる。この電流が有機発光ダイオードの発光エレクトロルミネッセンス層(発光層)218を通過するにつれて、光が発生され得る。このようにして発生した光は、放出光に所望の色を与える対応するカラーフィルタ素子(図示せず)を通過し得る。一般に、ディスプレイ14のために、上面発光型ディスプレイピクセル又は底面発型光ディスプレイピクセル構成のいずれかが実装され得る。
上記で説明したように、点線の電界線232によって示されるように、トランジスタTDと経路230などの隣接する制御経路との間に電界が発生することがあり得る。本発明の一実施形態によれば、シールド250などの導電性シールド構造体が、バッファ層202内の駆動トランジスタTDの直ぐ下に形成され得る。シールド250は、活物質208及びゲート絶縁層204と直接接触すべきでない。シールド構造体250は、酸化インジウムスズ、モリブデン及びモリブデンタングステンなどの透明導電性材料、又はチタン、銅、アルミニウム若しくは他の金属などの不透明な導電性材料から形成され得る。このようにして形成されると、導電性底部シールド250は、トランジスタTDのための金属経路230又は任意の他の隣接する制御線から発生する任意の水平電界を遮断する機能を果たし得る(例えば、シールド250は、任意の望ましくない水平電界がトランジスタTDの動作に悪影響を及ぼすことを防止し得る)。したがって、このようにしてトランジスタTDの下に形成されたシールド250は、「底部」シールド又は電界シールドと称されることがある。
一般に、各ピクセル中の駆動トランジスタの直ぐ下にのみ底部導電性シールドを形成することが望ましいことがある。換言すると、周辺のスイッチングトランジスタSW1、SW2及びSW3(図3)について、底部導電性シールドを形成する必要はない。駆動薄膜トランジスタTDの下のみにシールド250を形成することは、ピクセル22内の任意の望ましくない寄生容量を低減するのに役立ち得、それにより、動的な電力消費が最小限に抑えられる。
図5の構造体は、特定の色の単一のサブピクセルを形成する。ディスプレイ14には、1つのディスプレイピクセル22に3つ若しくは4つのサブピクセルが、又は1つのディスプレイピクセル22に他の好適な数のサブピクセルがあり得る。図6は、3つのサブピクセル22−R、22−G及び22−Bを有する例示的なディスプレイピクセル22の図である。サブピクセル22−Rは、赤色光を表示するための回路を含み得る(例えば、サブピクセル22−Rは、赤色カラーフィルタ素子を通して光を射出する発光ダイオードを含み得る)。サブピクセル22−Gは、緑色光を表示するための回路を含み得る(例えば、サブピクセル22−Gは、緑色カラーフィルタ素子を通して光を射出する発光ダイオードを含み得る)。サブピクセル22−Bは、青色光を表示するための回路を含み得る(例えば、サブピクセル22−Bは、青色カラーフィルタ素子を通して光を射出する発光ダイオードを含み得る)。これは単なる例示である。一般に、ディスプレイピクセル22は、可視スペクトルの赤色光、緑色光、青色光、シアン光、マゼンタ光、黄色光、白色光及び/又は他の種類の光を透過するように構成された任意の数のサブピクセルを含み得る。
図6に示すように、サブピクセルのそれぞれは、駆動トランジスタTDと、駆動トランジスタTDの占有面積と直接重なる対応する導電性光シールド250とを含む。このようにして構成すると、光シールド構造体250は、制御経路230にバイアス電圧が印加された結果として発生する任意の電界が駆動トランジスタの動作と干渉することを防止する機能を果たす。底部シールド250が、電気的に浮遊している(即ち、シールド250が、任意のプルアップ回路又はプルダウン回路によりアクティブには駆動されず、互いに接続されてない)図6の例は、単なる例示である。他の好適な構成では、導電性短絡経路252を使用して、底部シールド250が短絡し得る(例えば、図7を参照)。
図7に示すように、導電性短絡経路252は、導電性シールド250と同じ層中に形成され得る(例えば、図5のバッファ層202に導電性短絡経路252を形成することができる)。また、導電性短絡経路252は、シールド250と同じ材料から形成され得る(例えば、短絡経路252は、酸化インジウムスズ、モリブデン及びモリブデンタングステンなどの透明な導電性材料、又はチタン、銅、アルミニウム若しくは他の金属などの不透明な導電性材料から形成され得る)。導電経路252を介して底部シールドを一緒に短絡させると、特に経路252が何らかの電源供給ラインに短絡した時に、シールド能力を改善することができる。
図8は、ディスプレイ14においてピクセル22のアレイを示す図である。図8に示すように、底部シールド250(例えば、導電性シールド250−R、250−G及び250−B)の少なくとも一部分を、経路252を介して電源供給ライン254(例えば、アース電源電圧VSSELが提供される電源供給ライン)に短絡させることができる。底部シールド短絡経路252は、ディスプレイ14の外周においてのみアース線254に結合され得る。このようにして接続すると、各ディスプレイサブピクセル中の底部シールドは定常電圧VSSELに駆動され、それにより、駆動トランジスタがディスプレイピクセルアレイ全体にわたってより一貫した様式で動作することが可能になる。
更に図8を参照すると、少なくともいくつかディスプレイピクセル22中の底部シールドが、浮遊しており、電源供給ライン254に接続されていない。これは単なる例示である。別の例として、ピクセルアレイ全体における各サブピクセルの導電性シールド250は、電気的に浮遊していてもよい。更に別の例として、ピクセルアレイ全体における各サブピクセルの導電性シールド250を全て、アース電源供給ライン、正電源供給ライン又は他の電源供給ラインに短絡させてもよい。
図5に関して上記で説明したように、底部シールド構造体250は、バッファ層202中に形成され得る。底部シールド構造体250がアース線(例えば、共通カソード電極)に短絡している構成では、底部シールド構造体を、薄膜トランジスタ層を貫通して形成された導電性スルーホール又は「ビア」構造を介してカソードに結合することができる。
どのように底部シールド構造体をカソード電極に短絡させることができるかを示す、ディスプレイ14の周辺部分260の側断面図が図9に示されている。図9に示すように、導電性短絡経路252は、バッファ層202中に形成され、ディスプレイ14の外周へと延び得る。金属構造231などの1つ以上のM1金属ルーティング経路が、ゲート絶縁層204上に形成され得る。底部導電経路252との接触を形成するために、層212及び204を貫通して第1のビア構造290が形成され得る。詳細には、ビア290は、経路252とアノード216との間に電気的接続を確立し得る。アノード216との接触を形成するために、層218を貫通して第2のビア構造292が形成され得る。詳細には、ビア282は、アノード216とカソード220との間に電気的接続を確立し得る。このようにして構成すると、図5、図7及び図8に示した種類の底部シールド構造体250は、導電経路252並びにビア290及び292を経由してアースカソード電極に短絡し得る。
一実施形態によれば、基板と、基板上に形成された薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタと基板との間に介挿された少なくとも1つのバッファ層と、バッファ層中の薄膜トランジスタの直ぐ下に形成された導電性シールド構造体と含むディスプレイが提供される。
別の実施形態によれば、導電性シールド構造体は、透明な導電材料から形成される。
別の実施形態によれば、導電性シールド構造体は、不透明導電材料から形成される。
別の実施形態によれば、導電性シールド構造体は、電気的に浮遊している。
別の実施形態によれば、ディスプレイが電力供給ラインを含み、導電性シールド構造体は、電力供給ラインに短絡している。
別の実施形態によれば、ディスプレイは、ビアを貫通して導電性シールド構造体に短絡しているカソード電極を含む。
別の実施形態によれば、薄膜トランジスタは、ゲート絶縁層上に形成されたゲートを有し、導電性シールド構造体は、ゲート絶縁層と直接接触していない。
別の実施形態によれば、本ディスプレイは、追加の薄膜トランジスタであって、導電性シールド構造体が、前薄膜トランジスタの下にのみ形成され、追加の薄膜トランジスタの下には形成されない、追加の薄膜トランジスタを含む。
一実施形態によれば、基板上の薄膜トランジスタを形成することと、薄膜トランジスタと基板との間に介挿されたバッファ層を形成することと、薄膜トランジスタのために、バッファ層中に導電性シールド構造体を形成することとを含むディスプレイピクセルを製造する方法が提供される。
別の実施形態によれば、電界シールドを形成することは、薄膜トランジスタの直ぐ下に導電性シールド構造体を形成することを含む。
別の実施形態によれば、本方法は、薄膜トランジスタに結合された発光ダイオードを形成することを含む。
別の実施形態によれば、発光ダイオードは、カソード電極を有し、本方法は、導電性ビア構造を貫通してカソード電極に電界シールドを短絡させることを含む。
別の実施形態によれば、電界シールドは、アクティブには駆動されない。
別の実施形態によれば、本方法は、基板上に追加の薄膜トランジスタを形成することと、追加の薄膜トランジスタのためにバッファ層中に追加の電界シールドを形成することとを含む。
別の実施形態によれば、本方法は、バッファ層中に、電界シールドと追加の電界シールドとを短絡させる導電経路を形成することを含む。
一実施形態によれば、アレイで配列されるディスプレイピクセルを備え、アレイ中の各ディスプレイピクセルが、駆動トランジスタと、駆動トランジスタの下に形成された導電性シールドと、を含む、電子機器が提供される。
別の実施形態によれば、アレイ中の各ディスプレイピクセルは駆動トランジスタに結合された発光ダイオードを更に含む。
別の実施形態によれば、アレイ中の各ディスプレイピクセルの導電性シールドは、電気的に浮遊している。
別の実施形態によれば、アレイ中の各ディスプレイピクセルの導電性シールドは、共通電極に短絡している。
別の実施形態によれば、アレイの第1の部分中の各ディスプレイピクセルの導電性シールドは、電気的に浮遊しており、アレイの第2の部分中の各ディスプレイピクセルの導電性シールドは、共通の電極に短絡している。
上述の内容は単なる例示にすぎず、説明された実施形態の範囲及び趣旨から逸脱することなく、当業者によってさまざまな修正を行うことができる。前述の実施形態は、個々に又は任意の組み合わせで実行することができる。

Claims (20)

  1. 基板と、
    前記基板上に形成された薄膜トランジスタと、
    前記薄膜トランジスタと前記基板との間に介挿された少なくとも1つのバッファ層と、
    前記バッファ層において前記薄膜トランジスタの直ぐ下に形成された導電性シールド構造体と、
    を備える、ディスプレイ。
  2. 前記導電性シールド構造体が、透明な導電材料から形成される、請求項1に記載のディスプレイ。
  3. 前記導電性シールド構造体が、不透明な導電材料から形成される、請求項1に記載のディスプレイ。
  4. 前記導電性シールド構造体が、電気的に浮遊している、請求項1に記載のディスプレイ。
  5. 電源供給ラインであって、前記導電性シールド構造体が、前記電源供給ラインに短絡している電源供給ラインを更に備える、請求項1に記載のディスプレイ。
  6. ビアを貫通して前記導電性シールド構造体に短絡しているカソード電極を更に備える、請求項1に記載のディスプレイ。
  7. 前記薄膜トランジスタが、ゲート絶縁層上に形成されたゲートを有し、前記導電性シールド構造体が、前記ゲート絶縁層と直接接触していない、請求項1に記載のディスプレイ。
  8. 追加の薄膜トランジスタを更に備え、前記導電性シールド構造体が、前記薄膜トランジスタの下にのみ形成され、前記追加の薄膜トランジスタの下には形成されない、請求項1に記載のディスプレイ。
  9. ディスプレイピクセルの製造方法であって、
    基板上に薄膜トランジスタを形成することと、
    前記薄膜トランジスタと前記基板との間に介挿されたバッファ層を形成することと、
    前記薄膜トランジスタのために前記バッファ層中に電界シールドを形成することと、
    を含む、ディスプレイピクセルの製造方法。
  10. 前記電界シールドを形成することが、前記薄膜トランジスタの直ぐ下に導電性シールド構造体を形成することを含む、請求項9に記載の方法。
  11. 前記薄膜トランジスタに結合された発光ダイオードを形成することを更に含む、請求項9に記載の方法。
  12. 前記発光ダイオードが、カソード電極を有し、前記方法が、
    導電性ビア構造を介して前記電界シールドを前記カソード電極に短絡させることを更に含む、請求項11に記載の方法。
  13. 前記電界シールドが、アクティブには駆動されない、請求項9に記載の方法。
  14. 前記基板上に追加の薄膜トランジスタを形成することと、
    前記追加の薄膜トランジスタのために前記バッファ層中に追加の電界シールドを形成することと、
    を更に含む、請求項9に記載の方法。
  15. 前記バッファ層中に、前記電界シールドと前記追加の電界シールドとを短絡させる導電経路を形成することを更に含む、請求項14に記載の方法。
  16. 電子機器ディスプレイであって、
    アレイで配列されるディスプレイピクセルを備え、前記アレイ中の各ディスプレイピクセルが、
    駆動トランジスタと、
    前記駆動トランジスタの下に形成された導電性シールドと、
    含む、電子機器ディスプレイ。
  17. 前記アレイ中の各ディスプレイピクセルが、前記駆動トランジスタに結合された発光ダイオードを更に備える、請求項16に記載の電子機器ディスプレイ。
  18. 前記アレイ中の各ディスプレイピクセルの前記導電性シールドが、電気的に浮遊している、請求項17に記載の電子機器ディスプレイ。
  19. 前記アレイ中の各ディスプレイピクセルの前記導電性シールドが、共通電極に短絡している、請求項17に記載の電子機器ディスプレイ。
  20. 前記アレイの第1の部分中の各ディスプレイピクセルの前記導電性シールドが、電気的に浮遊しており、前記アレイの第2の部分中の各ディスプレイピクセルの前記導電性シールドが、共通の電極に短絡している、請求項17に記載の電子機器ディスプレイ。
JP2016545830A 2014-01-21 2014-09-23 底部シールドを有する有機発光ダイオードディスプレイ Active JP6623164B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201461929907P 2014-01-21 2014-01-21
US61/929,907 2014-01-21
US14/488,725 US9337247B2 (en) 2014-01-21 2014-09-17 Organic light-emitting diode display with bottom shields
US14/488,725 2014-09-17
PCT/US2014/057061 WO2015112203A1 (en) 2014-01-21 2014-09-23 Organic light-emitting diode display with bottom shields

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017505457A true JP2017505457A (ja) 2017-02-16
JP6623164B2 JP6623164B2 (ja) 2019-12-18

Family

ID=53545529

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016545830A Active JP6623164B2 (ja) 2014-01-21 2014-09-23 底部シールドを有する有機発光ダイオードディスプレイ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9337247B2 (ja)
EP (2) EP3097594B1 (ja)
JP (1) JP6623164B2 (ja)
KR (1) KR101869625B1 (ja)
AU (1) AU2014379553C1 (ja)
WO (1) WO2015112203A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019138734A1 (ja) * 2018-01-15 2019-07-18 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP2021507274A (ja) * 2017-12-14 2021-02-22 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司Boe Technology Group Co.,Ltd. 画素回路、表示パネル及び表示装置

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9472605B2 (en) * 2014-11-17 2016-10-18 Apple Inc. Organic light-emitting diode display with enhanced aperture ratio
US10128317B2 (en) * 2014-12-22 2018-11-13 Emagin Corporation Method for eliminating electrical cross-talk in OLED microdisplays
KR102325191B1 (ko) * 2015-01-05 2021-11-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102397799B1 (ko) * 2015-06-30 2022-05-16 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 이를 포함하는 표시장치
JP6654466B2 (ja) * 2015-08-31 2020-02-26 株式会社Joled 半導体装置、表示装置、表示装置の製造方法および電子機器
US9935165B2 (en) * 2015-08-31 2018-04-03 Joled, Inc. Semiconductor device, display unit, method of manufacturing display unit, and electronic apparatus
KR102628884B1 (ko) * 2015-11-27 2024-01-26 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 다이오드 표시장치
CN109903709A (zh) 2016-01-21 2019-06-18 苹果公司 有机发光二极管显示器的电源和数据路由结构
US10185190B2 (en) * 2016-05-11 2019-01-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, module, and electronic device
JP6813967B2 (ja) * 2016-06-30 2021-01-13 株式会社ジャパンディスプレイ 入力機能付き表示装置
KR102693312B1 (ko) * 2016-09-30 2024-08-07 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
KR102613853B1 (ko) * 2016-12-19 2023-12-18 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 다이오드 표시장치
CN107436685B (zh) * 2017-07-31 2020-07-07 京东方科技集团股份有限公司 显示装置、自发光的显示面板及手势识别方法
WO2019139610A1 (en) * 2018-01-12 2019-07-18 Intel Corporation Shield structure for a group iii-nitride device and method of fabrication
JP7127802B2 (ja) * 2018-04-18 2022-08-30 三国電子有限会社 タッチ検出機能付き表示装置及びその製造方法
CN208622728U (zh) * 2018-09-07 2019-03-19 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、显示面板及显示装置
KR102531674B1 (ko) 2018-12-31 2023-05-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널
KR102690931B1 (ko) * 2019-01-17 2024-08-01 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치와 그의 제조 방법
KR20210104221A (ko) 2020-02-14 2021-08-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이를 구비한 전자 기기
EP3933931A1 (en) * 2020-07-02 2022-01-05 LG Display Co., Ltd. Display panel and method of fabricating the same
KR20240108577A (ko) * 2020-12-09 2024-07-09 애플 인크. 감소된 온도 휘도 감도를 갖는 디스플레이들
US11532282B2 (en) 2020-12-09 2022-12-20 Apple Inc. Displays with reduced temperature luminance sensitivity

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001148480A (ja) * 1999-11-18 2001-05-29 Nec Corp 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタの製造装置、および薄膜トランジスタその製造方法
JP2002149087A (ja) * 2000-08-04 2002-05-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
JP2002149112A (ja) * 1999-11-30 2002-05-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 電子装置
JP2003297851A (ja) * 2002-01-30 2003-10-17 Sanyo Electric Co Ltd 半導体表示装置及びその製造方法
JP2004046092A (ja) * 2002-05-21 2004-02-12 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器
JP2005215354A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Seiko Epson Corp 有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器
JP2006227586A (ja) * 2004-12-24 2006-08-31 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
US20060246360A1 (en) * 2005-03-18 2006-11-02 Eui-Hoon Hwang Flat panel display device with thin film transistors and method of making thereof
US20080020519A1 (en) * 2006-07-21 2008-01-24 Au Optronics Corp. LTPS-LCD Structure and Method for Manufacturing the Same
JP2008096962A (ja) * 2006-09-14 2008-04-24 Epson Imaging Devices Corp 表示装置及びその製造方法
WO2011083598A1 (ja) * 2010-01-07 2011-07-14 シャープ株式会社 半導体装置、アクティブマトリクス基板、及び表示装置
JP2012064604A (ja) * 2010-09-14 2012-03-29 Casio Comput Co Ltd トランジスタ構造体、トランジスタ構造体の製造方法及び発光装置
WO2013171938A1 (ja) * 2012-05-16 2013-11-21 パナソニック株式会社 表示装置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW353150B (en) * 1994-05-13 1999-02-21 Thomson Consumer Electronics Liquid crystal display device
JP3276930B2 (ja) * 1998-11-17 2002-04-22 科学技術振興事業団 トランジスタ及び半導体装置
KR100654927B1 (ko) * 1999-03-04 2006-12-08 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 그의 제작방법
US6825496B2 (en) * 2001-01-17 2004-11-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
JP2002323706A (ja) 2001-02-23 2002-11-08 Nec Corp 横電界方式のアクティブマトリクス型液晶表示装置及びその製造方法
US7474002B2 (en) * 2001-10-30 2009-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having dielectric film having aperture portion
KR100867286B1 (ko) 2002-04-24 2008-11-06 이 잉크 코포레이션 전자 표시장치
JP2005158493A (ja) * 2003-11-26 2005-06-16 Seiko Epson Corp 有機エレクトロルミネッセンス装置および電子機器
KR100563060B1 (ko) * 2004-01-16 2006-03-24 삼성에스디아이 주식회사 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치
JP4196906B2 (ja) 2004-09-02 2008-12-17 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置及び電子機器
TWI280073B (en) * 2005-09-15 2007-04-21 Au Optronics Corp Organic light emitting diode display panel
JP2007114726A (ja) * 2005-09-26 2007-05-10 Sanyo Electric Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス表示装置
KR101242030B1 (ko) * 2006-06-22 2013-03-11 엘지디스플레이 주식회사 유기전계발광 소자
US8133773B2 (en) 2007-10-17 2012-03-13 Au Optronics Corporation Apparatus and method for reducing photo leakage current for TFT LCD
TWI324832B (en) * 2007-10-23 2010-05-11 Au Optronics Corp Photo sensor and fabrication method thereof
JP5486784B2 (ja) 2008-09-11 2014-05-07 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
US20100245370A1 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Em shielding for display devices
BRPI1016259A2 (pt) 2009-06-30 2016-05-03 Sharp Kk dispositivo de exibição de cristal líquido
KR20110111708A (ko) * 2010-04-05 2011-10-12 삼성모바일디스플레이주식회사 표시장치 및 그 제조방법
US20130214279A1 (en) * 2010-04-30 2013-08-22 Jun Nishimura Circuit board and display device
US8766252B2 (en) * 2010-07-02 2014-07-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device comprising an oxide semiconductor
KR101944704B1 (ko) * 2012-03-02 2019-04-17 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
US9869908B2 (en) 2012-03-06 2018-01-16 Apple Inc. Pixel inversion artifact reduction
KR101915755B1 (ko) 2012-05-22 2018-11-07 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치 및 그 제조 방법
KR101936773B1 (ko) 2012-07-03 2019-01-09 엘지디스플레이 주식회사 액정 디스플레이 장치의 제조방법

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001148480A (ja) * 1999-11-18 2001-05-29 Nec Corp 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタの製造装置、および薄膜トランジスタその製造方法
JP2002149112A (ja) * 1999-11-30 2002-05-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 電子装置
JP2002149087A (ja) * 2000-08-04 2002-05-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
JP2003297851A (ja) * 2002-01-30 2003-10-17 Sanyo Electric Co Ltd 半導体表示装置及びその製造方法
JP2004046092A (ja) * 2002-05-21 2004-02-12 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器
JP2005215354A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Seiko Epson Corp 有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器
JP2006227586A (ja) * 2004-12-24 2006-08-31 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
US20060246360A1 (en) * 2005-03-18 2006-11-02 Eui-Hoon Hwang Flat panel display device with thin film transistors and method of making thereof
US20080020519A1 (en) * 2006-07-21 2008-01-24 Au Optronics Corp. LTPS-LCD Structure and Method for Manufacturing the Same
JP2008096962A (ja) * 2006-09-14 2008-04-24 Epson Imaging Devices Corp 表示装置及びその製造方法
WO2011083598A1 (ja) * 2010-01-07 2011-07-14 シャープ株式会社 半導体装置、アクティブマトリクス基板、及び表示装置
JP2012064604A (ja) * 2010-09-14 2012-03-29 Casio Comput Co Ltd トランジスタ構造体、トランジスタ構造体の製造方法及び発光装置
WO2013171938A1 (ja) * 2012-05-16 2013-11-21 パナソニック株式会社 表示装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021507274A (ja) * 2017-12-14 2021-02-22 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司Boe Technology Group Co.,Ltd. 画素回路、表示パネル及び表示装置
JP7186725B2 (ja) 2017-12-14 2022-12-09 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 画素回路、表示パネル及び表示装置
WO2019138734A1 (ja) * 2018-01-15 2019-07-18 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP2019124771A (ja) * 2018-01-15 2019-07-25 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
CN111587453A (zh) * 2018-01-15 2020-08-25 株式会社日本显示器 显示装置
JP7085352B2 (ja) 2018-01-15 2022-06-16 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6623164B2 (ja) 2019-12-18
US9337247B2 (en) 2016-05-10
WO2015112203A1 (en) 2015-07-30
EP3097594B1 (en) 2023-06-28
US20150206931A1 (en) 2015-07-23
EP4236656A2 (en) 2023-08-30
AU2014379553B2 (en) 2017-09-28
AU2014379553C1 (en) 2018-04-05
EP4236656A3 (en) 2023-11-01
AU2014379553A1 (en) 2016-07-07
KR101869625B1 (ko) 2018-06-20
EP3097594A1 (en) 2016-11-30
KR20160101097A (ko) 2016-08-24
EP3097594A4 (en) 2017-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6623164B2 (ja) 底部シールドを有する有機発光ダイオードディスプレイ
US9716134B2 (en) Organic light-emitting diode display with bottom shields
US9847051B2 (en) Organic light-emitting diode display with minimized subpixel crosstalk
US9397124B2 (en) Organic light-emitting diode display with double gate transistors
JP6457086B2 (ja) 口径比を大きくした有機発光ダイオードディスプレイ
US20210193049A1 (en) Electronic Display with In-Pixel Compensation and Oxide Drive Transistors
US9336709B2 (en) Displays with overlapping light-emitting diodes and gate drivers
US20210280130A1 (en) Display device
CN108122958B (zh) 显示装置
US9647048B2 (en) Capacitor structures for display pixel threshold voltage compensation circuits
CN204204377U (zh) 显示器和电子设备显示器
EP3023970A2 (en) Display panel for compensating negative power supply voltage, display module and mobile device including the same
JP7546169B2 (ja) 低減された温度輝度感度を有するディスプレイ
CN110783345A (zh) 显示设备
JP2023517218A (ja) 低減したルーティング線抵抗を有する大型パネルディスプレイ
KR102510401B1 (ko) 표시 장치 및 그 제조 방법
US12148390B2 (en) Electronic display with in-pixel compensation and oxide drive transistors
US20240365607A1 (en) Display device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160712

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170522

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170821

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180529

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20180605

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20180629

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190903

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191125

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6623164

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250