JP2016148539A - OCT device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、OCT装置に関し、特に光周波数掃引型のOCT装置に関する。 The present invention relates to an OCT apparatus, and more particularly to an optical frequency sweep type OCT apparatus.
従来から、光コヒーレンストモグラフィ(Optical Coherence Tomography:OCT)を用いて、網膜や皮膚などの断層画像を撮影する装置が知られている。 2. Description of the Related Art Conventionally, an apparatus that captures a tomographic image of a retina or skin using optical coherence tomography (OCT) is known.
図10に、従来のOCT装置の基本構成を示す。掃引光源41は、時間に対して光の周波数が直線的に変化するように出力光の波長を掃引する。掃引光源41からの光の一部は、光カプラ42で分岐されて測定用干渉計44に入射する。光カプラ43で分岐された光の一方は遅延ファイバ45に入射し、他方はレンズ46を介して測定対象物100に入射し反射される。
FIG. 10 shows a basic configuration of a conventional OCT apparatus. The
測定対象物100で反射された光は、再び測定用干渉計44に入射する。光カプラ47では、測定対象物100に入射し反射された光と、遅延ファイバ45を伝搬した遅延光との干渉光が生成される。
The light reflected by the
測定用干渉計44からの干渉光は、受光器48aでヘテロダイン検波され、A/D変換器49aでサンプリングされる。掃引光源41において光周波数が直線的に掃引されている場合、ヘテロダイン検波で得られたビート信号の周波数は、測定対象物100に入射し反射された光と、遅延ファイバ45を伝搬した遅延光との光路差に比例する。
The interference light from the
仮に、上記の光路差がゼロとなる位置にレンズ46が配置されているとすれば、ビート信号の周波数はレンズ46から測定対象物100までの距離に比例する。したがって、ビート信号をフーリエ変換し、そのスペクトラムを計算すれば、測定対象物100の内部の反射率分布を測定することができる。
If the
しかしながら、実際の掃引光源41から出力される光の周波数は、非直線的に掃引されたり、変調が重畳されていたりする。これにより、測定用干渉計44から出力されるヘテロダイン信号のスペクトラムはぼやけたり、側帯波を持ったりすることになり、高精度な測定の妨げとなる。
However, the frequency of the light output from the actual
そこで、掃引光源41からの光を光カプラ42で分岐して、測定用干渉計44だけでなくリファレンス用干渉計51にも入力する構成が提案されている(例えば、特許文献1参照)。リファレンス用干渉計51からの干渉光は、受光器48bでヘテロダイン検波され、A/D変換器49bでサンプリングされる。掃引光源41による掃引の非線形性の影響は、測定用干渉計44だけでなく、リファレンス用干渉計51においても同様に現れる。このため、A/D変換器49a,49bの後段の制御器50において、リファレンス用干渉計51からの信号強度が0となるタイミングで測定用干渉計44からのビート信号をリサンプリングすれば、掃引の変動が除去された信号を得ることができる。これをリニアライズと呼ぶ。
Therefore, a configuration has been proposed in which light from the
しかしながら、従来のリファレンス用干渉計を用いてリニアライズを行う方法では、測定用干渉計用の受光器及びA/D変換器に加えて、リファレンス用干渉計用の受光器及びA/D変換器を追加する必要があるため、装置が高価になるという問題があった。 However, in the conventional method of performing linearization using a reference interferometer, in addition to the photoreceiver and A / D converter for measurement interferometer, the photoreceiver and A / D converter for reference interferometer There is a problem that the apparatus becomes expensive.
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、リファレンス用干渉計を用いることなく、掃引光源の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去した測定を行うことが可能なOCT装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in order to solve the above-described conventional problems, and performs measurement without the influence of nonlinearity of the optical frequency sweep speed of the sweep light source without using a reference interferometer. An object of the present invention is to provide an OCT apparatus capable of performing the above.
上記課題を解決するために、本発明の請求項1のOCT装置は、所定の光周波数掃引速度で波長掃引された光を出力する光源と、前記光源からの出力光を測定光と参照光とに2分岐する光分岐部と、前記測定光を測定対象物及び基準反射面に入射させるとともに、前記測定対象物によって反射された前記測定光と、前記基準反射面によって反射された前記測定光とを合波する第1光合波部と、前記第1光合波部で合波された前記測定光と前記参照光とを合波することで干渉光を出力する第2光合波部と、前記干渉光を受光してビート信号を生成する受光部と、前記ビート信号をディジタル信号に変換するA/D変換部と、前記ディジタル信号に基づいて、前記測定対象物における前記測定光の伝搬方向の反射率分布を算出する反射率分布算出部と、を備え、前記反射率分布算出部は、前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記干渉光のスペクトラムを算出する第1フーリエ変換部と、前記スペクトラムから、前記基準反射面によって反射された前記測定光に対応する信号を基準信号として抽出する信号抽出部と、前記基準信号を逆フーリエ変換して時間波形信号を算出する逆フーリエ変換部と、前記基準信号の前記時間波形信号を基準として、前記ディジタル信号をリサンプリングするリサンプリング部と、前記リサンプリング部によってリサンプリングされた前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記反射率分布を算出する第2フーリエ変換部と、を有することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, an OCT apparatus according to
また、本発明の請求項2のOCT装置においては、前記光分岐部から出力されて前記第2光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記測定対象物で反射されて前記第2光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差が、前記光分岐部から出力されて前記第2光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記基準反射面で反射されて前記第2光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差よりも短くなる位置に前記基準反射面が配置されることを特徴とする。
In the OCT apparatus according to
また、本発明の請求項3のOCT装置においては、前記光分岐部から出力されて前記第2光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記測定対象物で反射されて前記第2光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差が、前記光分岐部から出力されて前記第2光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記基準反射面で反射されて前記第2光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差よりも長くなる位置に前記基準反射面が配置されることを特徴とする。 In the OCT apparatus according to claim 3 of the present invention, the optical path length of the reference light output from the optical branching unit to the second optical multiplexing unit, and the measurement object output from the optical branching unit The optical path difference between the optical path length of the measurement light reflected by the optical path and reaching the second optical multiplexing section is output from the optical branching section and the optical path length of the reference light reaching the second optical multiplexing section, and the light The reference reflecting surface is arranged at a position that is longer than an optical path difference from an optical path length of the measurement light that is output from the branching portion and reflected by the reference reflecting surface to reach the second optical multiplexing portion. To do.
本発明は、リファレンス用干渉計を用いることなく、掃引光源の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去した測定を行うことが可能なOCT装置を提供する。 The present invention provides an OCT apparatus capable of performing measurement without the influence of nonlinearity of the optical frequency sweep speed of a swept light source without using a reference interferometer.
以下、本発明に係るOCT装置の実施形態について、図面を用いて説明する。 Hereinafter, embodiments of an OCT apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.
(第1の実施形態)
図1に示すように、本発明の第1の実施形態としてのOCT装置1は、光周波数掃引型OCT(Swept-Source OCT:SS−OCT)であって、掃引光源11、光分岐部としての光カプラ12、第1光合波部としての光サーキュレータ13、測定光学系14、第2光合波部としての光カプラ16、受光部としてのバランスドレシーバ17、A/D変換器18、及び反射率分布算出部19を備える。
(First embodiment)
As shown in FIG. 1, an
掃引光源11は、規定された掃引波長範囲及び光周波数掃引速度(あるいは波長掃引速度)で波長掃引されたレーザ光を出力するようになっている。発振波長の掃引は、例えば、回折格子を用いた外部共振器レーザにおいて、回折格子やミラー等の角度を変えて共振波長を変えることにより実行される。
The
光カプラ12は、掃引光源11の出力光を2つに分岐する。光カプラ12で分岐された光の一方は参照光として遅延ファイバ20に入力される。光カプラ12で分岐された光の他方は、測定光として光サーキュレータ13の第1端子13aに入力されて、第2端子13bを介して測定用ファイバ21に入力される。
The
測定光学系14は、少なくとも1つのレンズ14aからなっている。測定光学系14は、光サーキュレータ13の第2端子13bから出力されて測定用ファイバ21の先端から出射した測定光を測定対象物100に集光するとともに、測定対象物100によって反射された測定光を測定用ファイバ21を介して光サーキュレータ13の第2端子13bに入力するようになっている。
The measurement
レンズ14aの表面には、少なくとも掃引光源11の出力光の波長を含む波長帯域の光を反射する基準反射面としての反射膜15が形成されている。反射膜15によって反射された測定光は、光サーキュレータ13の第2端子13bに入力される。
On the surface of the
光サーキュレータ13は、第2端子13bから測定光を測定対象物100及び反射膜15に入射させるとともに、測定対象物100によって反射された測定光と、反射膜15によって反射された測定光とを合波して第3端子13cから出力するようになっている。
The
なお以降では、光カプラ12から出力されて光カプラ16に至る参照光の光路長を「参照光光路長」ともいう。また、光カプラ12から出力されて測定対象物100で反射されて光カプラ16に至る測定光の光路長を「測定光光路長」ともいう。また、光カプラ12から出力されて反射膜15で反射されて光カプラ16に至る測定光の光路長を「基準光光路長」ともいう。
Hereinafter, the optical path length of the reference light output from the
反射膜15は、参照光光路長と測定光光路長との光路差が、参照光光路長と基準光光路長との光路差よりも短くなる位置に配置される。図1は、参照光光路長との光路差がゼロとなる位置が、測定光の伝搬方向に沿って測定対象物100の表面よりも奥側に設定された例を示している。
The
あるいは、反射膜15は、参照光光路長と測定光光路長との光路差が、参照光光路長と基準光光路長との光路差よりも長くなる位置に配置されてもよい。
Alternatively, the
光カプラ16は、遅延ファイバ20からの参照光と、光サーキュレータ13の第3端子13cから出力された測定光の合波光(測定対象物100及び反射膜15からの反射光)とを合波するようになっている。これにより、光カプラ16からは、参照光光路長との光路差がゼロとなる位置から反射膜15までの距離、及び、参照光光路長との光路差がゼロとなる位置から測定対象物100までの距離に応じた周波数成分を有する干渉光が出力される。
The
遅延ファイバ20及び測定用ファイバ21は、例えば単一モードファイバからなる。光カプラ16に入力される遅延ファイバ20からの参照光と測定用ファイバ21からの測定光の偏波が直交して干渉信号が得られなくなる事態を避けるため、遅延ファイバ20側又は測定用ファイバ21側の少なくとも一方に偏波コントローラを挿入して偏波を調整してもよい。若しくは、測定用ファイバ21からの反射光の互いに直交する2つの偏波成分をそれぞれ検出する偏波ダイバーシティ受信を用いてもよい。あるいは、全て若しくは一部のファイバを偏波保持ファイバとしてもよい。
The
また、遅延ファイバ20で発生するレイリー散乱光が光カプラ12を介して掃引光源11に戻ることによる悪影響を防ぐため、必要に応じて掃引光源11と光カプラ12の間に光アイソレータを挿入してもよい。
Further, an optical isolator is inserted between the
光カプラ16の2つの出力ポートからそれぞれ出力される干渉光の位相は、互いに逆位相となる。これら2つの合波光はバランスドレシーバ17に入力される。バランスドレシーバ17は、例えば2つのフォトダイオード(PD)及び減算器を有している。PDは、入力光の強度に比例した電気信号を出力する。
The phases of the interference light respectively output from the two output ports of the
バランスドレシーバ17は、光カプラ16からの2つの干渉光を2つのPDでそれぞれ受けて電気信号に変換し、それらの電気信号を減算器で減算して、測定用ファイバ21からの測定光と遅延ファイバ20からの参照光の干渉によるビート信号を生成するようになっている。
The
このようなバランス受信によって、干渉によるビート信号は振幅が2倍になり、2つの合波光に含まれる同相の雑音はキャンセルされ、ランダムな雑音は振幅が√2倍になるので、信号対雑音比を改善することができる。 By such balance reception, the amplitude of the beat signal due to interference is doubled, the in-phase noise included in the two combined lights is canceled, and the random noise is doubled in amplitude, so the signal-to-noise ratio Can be improved.
A/D変換器18は、バランスドレシーバ17から出力されたアナログの電気信号(ビート信号)をディジタル信号に変換するようになっている。
The A /
反射率分布算出部19は、例えばCPU、ROM、RAMなどを含むマイクロコンピュータで構成され、ビート信号のディジタル信号に基づいて、測定対象物100における測定光の伝搬方向の反射率分布を算出するようになっている。反射率分布算出部19は、所定のプログラムを実行することにより、図2に示すように、第1フーリエ変換部31、信号抽出部32、逆フーリエ変換部33、リサンプリング部34、及び第2フーリエ変換部35をソフトウェア的に構成する。
The reflectance
第1フーリエ変換部31は、ビート信号のディジタル信号を離散フーリエ変換して、干渉光のスペクトラムを算出するようになっている。
The first
信号抽出部32は、ローパスフィルタ、ハイパスフィルタ、又はバンドパスフィルタとして機能するディジタルフィルタであり、第1フーリエ変換部31によって算出されたスペクトラムから、反射膜15によって反射された測定光に対応する信号を基準信号として抽出するようになっている。
The
逆フーリエ変換部33は、信号抽出部32によって抽出された基準信号を逆離散フーリエ変換して時間波形信号を算出するようになっている。この時間波形信号は、従来のOCTにおけるリファレンス用干渉計の信号と同等である。
The inverse Fourier transform unit 33 calculates a time waveform signal by performing inverse discrete Fourier transform on the reference signal extracted by the
リサンプリング部34は、基準信号の時間波形信号を基準として、ビート信号のディジタル信号をリサンプリングするようになっている。このリサンプリングは、例えば基準信号の時間波形信号の信号強度がゼロとなる時点をトリガとして行われる。なお、リサンプリングのタイミングはこれに限らず、例えば基準信号の時間波形信号の信号強度がピーク値を取る時点をトリガとしてもよい。また、信号強度がゼロとなる時点Tkと次に信号強度がゼロとなる時点Tk+1の間を等分割した時点をトリガとすれば測定帯域を拡大することができる。図4(c)に4等分した例を示した。リサンプリング部34によるリサンプリングのタイミング、及び、リサンプリングされる値は、公知の補間法などにより決定される。
The
第2フーリエ変換部35は、リサンプリング部34によってリサンプリングされたビート信号のディジタル信号を離散フーリエ変換して、測定対象物100における測定光の伝搬方向の反射率分布を算出するようになっている。
The second
以下、図3〜5と図6のフローチャートを参照しながら、本実施形態のOCT装置1における反射率分布算出部19の動作を説明する。
Hereinafter, the operation of the reflectance
まず、第1フーリエ変換部31は、A/D変換器18から出力されたビート信号のディジタル信号を離散フーリエ変換して、図3(a)に示すように、測定対象物100からの反射光と反射膜15からの反射光のスペクトラムを算出する(ステップS1)。
First, the first
OCTにおいては、時間に対して光周波数が直線的に変化する掃引が理想である。しかしながら、実際に掃引光源11から出力されるレーザ光の周波数は、非直線的に掃引されたり、変調が重畳されていたりする。これに起因して、反射膜15からの反射光のスペクトラムは、線スペクトラムではなくブロードな形状となり、側帯波を有する。
In OCT, a sweep in which the optical frequency changes linearly with time is ideal. However, the frequency of the laser light actually output from the
次に、信号抽出部32は、図3(a)の干渉光のスペクトラムから、反射膜15で反射された測定光に対応する基準信号を抽出する。このとき、図3(b)に示すように側帯波も抽出する(ステップS2)。
Next, the
次に、逆フーリエ変換部33は、抽出された基準信号を逆離散フーリエ変換して、図3(c)に示すような基準信号の時間波形信号を算出する(ステップS3)。 Next, the inverse Fourier transform unit 33 performs inverse discrete Fourier transform on the extracted reference signal to calculate a time waveform signal of the reference signal as shown in FIG. 3C (step S3).
次に、リサンプリング部34は、基準信号の時間波形信号を基準とし、A/D変換器18から出力されたビート信号を図4(a)に示すようにリサンプリングする(ステップS4)。図4(a)は、基準信号の信号強度がゼロとなる時点をトリガとして、基準信号の2倍の周波数でビート信号をリサンプリングしている例を示している。
Next, the
そして、第2フーリエ変換部35は、リサンプリングされたビート信号を離散フーリエ変換して、図4(b)に示すように、掃引光源11の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去したスペクトラムを算出する(ステップS5)。このスペクトラムから、測定対象物100と反射膜15における測定光の伝搬方向の反射率分布が得られる。
Then, the second
図6のフローチャートに示した処理では、ステップS4においてA/D変換器18から出力されたビート信号がリサンプリングされた。本発明はこれに限らず、図3(a)のスペクトラムから、基準信号だけでなく測定対象物100によって反射された測定光に対応する信号を図5に示す測定対象信号として抽出し、この測定対象信号をリサンプリングするものであってもよい。その場合の反射率分布算出部19の構成とフローチャートを図7,8に示す。
In the process shown in the flowchart of FIG. 6, the beat signal output from the A /
図8のフローチャートにおけるステップS11,S12,S14の処理は、図6のフローチャートにおけるステップS1,S2,S3とそれぞれ同様であるので説明を省略する。 The processes in steps S11, S12, and S14 in the flowchart of FIG. 8 are the same as steps S1, S2, and S3 in the flowchart of FIG.
信号抽出部32は、図3(a)の干渉光のスペクトラムから、測定対象物100で反射された測定光に対応する測定対象信号を図5に示すように抽出する(ステップS13)。
The
逆フーリエ変換部33は、抽出された測定対象信号を逆離散フーリエ変換して、測定対象信号の時間波形信号を算出する(ステップS15)。 The inverse Fourier transform unit 33 performs inverse discrete Fourier transform on the extracted measurement target signal to calculate a time waveform signal of the measurement target signal (step S15).
次に、リサンプリング部34は、基準信号の時間波形信号を基準とし、逆フーリエ変換部33から出力された測定対象信号の時間波形信号をリサンプリングする(ステップS16)。
Next, the
そして、第2フーリエ変換部35は、リサンプリングされた測定対象信号を離散フーリエ変換して、測定対象物100からの反射光のみのスペクトラムを算出する(ステップS17)。
Then, the second
これにより、A/D変換器18から出力されたビート信号をリサンプリングする場合と比較して、掃引光源11の光周波数掃引速度の非線形性の影響を更に除去することが可能となる。
As a result, it is possible to further eliminate the influence of nonlinearity of the optical frequency sweep speed of the
以上説明したように、本実施形態のOCT装置1は、掃引光源11を利用したOCT(SS−OCT)において、1つの受光器で、リニアライズ用の反射膜15からの反射光(基準信号)と、測定対象物100からの反射光(測定対象信号)を受光する。基準信号と測定対象信号の周波数はディジタルフィルタで分離される。OCT装置1は、基準信号を基にして、ビート信号又は測定対象信号をリサンプリングしてリニアライズする。さらに、OCT装置1は、リニアライズされたビート信号又は測定対象信号を離散フーリエ変換して、掃引光源11の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去した測定対象物100の反射率分布を得る。
As described above, the
これにより、従来のOCTにおけるリファレンス用干渉計を用いることなく、1つの受光器と1つのA/D変換器でOCT装置を構成できるため、OCT装置の簡素化、低価格化を実現できる。 As a result, since the OCT apparatus can be configured with one light receiver and one A / D converter without using a reference interferometer in the conventional OCT, simplification and cost reduction of the OCT apparatus can be realized.
また、本実施形態のOCT装置1においては、参照光光路長と測定光光路長との光路差が、参照光光路長と基準光光路長との光路差よりも短く(又は長く)なる位置に反射膜15が配置される。これにより、反射膜15での反射光のスペクトラムと、測定対象物100での反射光のスペクトラムとを周波数軸上で分離し、基準信号と測定対象信号とを別個に抽出することができる。
In the
(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態としてのOCT装置2について図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成及び動作については適宜説明を省略する。
(Second Embodiment)
Next, an
図9に示すように、本実施形態のOCT装置2は、光サーキュレータ13の第2端子13bから測定用ファイバ21aを介して出力される測定光を2つに分岐して、測定用ファイバ21b及び測定用ファイバ21cに入力する光カプラ22を備える。測定用ファイバ21b,21cは、光カプラ22から取り外し可能となっている。
As shown in FIG. 9, the
また、光カプラ22は、測定用ファイバ21bの先端から出射して測定対象物100で反射された測定光と、測定用ファイバ21cの先端に形成された反射膜15で反射された測定光とが入力され、これらの光を光サーキュレータ13の第2端子13bに出力するようになっている。
Further, the
上記のように構成された本実施形態のOCT装置2は、測定用ファイバ21b,21cを適切な長さのものに適宜交換可能である。このため、参照光光路長と測定光光路長との光路差を容易に調整することができる。同様に、参照光光路長と基準光光路長との光路差を容易に調整することができる。これにより、反射膜15での反射光のスペクトラムと、測定対象物100での反射光のスペクトラムとを周波数軸上の任意の位置に分離することができる。
In the
1,2 OCT装置
11 掃引光源
12 光カプラ(光分岐部)
13 光サーキュレータ(第1光合波部)
14 測定光学系
14a レンズ
15 反射膜(基準反射面)
16 光カプラ(第2光合波部)
17 バランスドレシーバ(受光部)
18 A/D変換器(A/D変換部)
19 反射率分布算出部
20 遅延ファイバ
21,21a〜21c 測定用ファイバ
22 光カプラ
31 第1フーリエ変換部
32 信号抽出部
33 逆フーリエ変換部
34 リサンプリング部
35 第2フーリエ変換部
100 測定対象物
1, 2
13 Optical circulator (first optical multiplexing unit)
14 Measurement
16 Optical coupler (second optical multiplexer)
17 Balanced receiver (receiver)
18 A / D converter (A / D converter)
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記光源からの出力光を測定光と参照光とに2分岐する光分岐部(12)と、
前記測定光を測定対象物(100)及び基準反射面(15)に入射させるとともに、前記測定対象物によって反射された前記測定光と、前記基準反射面によって反射された前記測定光とを合波する第1光合波部(13)と、
前記第1光合波部で合波された前記測定光と前記参照光とを合波することで干渉光を出力する第2光合波部(16)と、
前記干渉光を受光してビート信号を生成する受光部(17)と、
前記ビート信号をディジタル信号に変換するA/D変換部(18)と、
前記ディジタル信号に基づいて、前記測定対象物における前記測定光の伝搬方向の反射率分布を算出する反射率分布算出部(19)と、を備え、
前記反射率分布算出部は、
前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記干渉光のスペクトラムを算出する第1フーリエ変換部(31)と、
前記スペクトラムから、前記基準反射面によって反射された前記測定光に対応する信号を基準信号として抽出する信号抽出部(32)と、
前記基準信号を逆フーリエ変換して時間波形信号を算出する逆フーリエ変換部(33)と、
前記基準信号の前記時間波形信号を基準として、前記ディジタル信号をリサンプリングするリサンプリング部(34)と、
前記リサンプリング部によってリサンプリングされた前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記反射率分布を算出する第2フーリエ変換部(35)と、を有することを特徴とするOCT装置。 A light source (11) that outputs light swept in wavelength at a predetermined optical frequency sweep speed;
A light branching section (12) for branching the output light from the light source into measurement light and reference light;
The measurement light is incident on the measurement object (100) and the reference reflection surface (15), and the measurement light reflected by the measurement object and the measurement light reflected by the reference reflection surface are combined. A first optical multiplexing unit (13) to perform,
A second optical multiplexing unit (16) that outputs interference light by multiplexing the measurement light and the reference light combined in the first optical multiplexing unit;
A light receiving unit (17) that receives the interference light and generates a beat signal;
An A / D converter (18) for converting the beat signal into a digital signal;
A reflectance distribution calculation unit (19) for calculating a reflectance distribution in the propagation direction of the measurement light in the measurement object based on the digital signal,
The reflectance distribution calculation unit
A first Fourier transform unit (31) for Fourier transforming the digital signal to calculate a spectrum of the interference light;
A signal extraction unit (32) for extracting, as a reference signal, a signal corresponding to the measurement light reflected by the reference reflecting surface from the spectrum;
An inverse Fourier transform unit (33) for calculating a time waveform signal by performing an inverse Fourier transform on the reference signal;
A resampling unit (34) for resampling the digital signal with reference to the time waveform signal of the reference signal;
An OCT apparatus comprising: a second Fourier transform unit (35) that performs Fourier transform on the digital signal resampled by the resampling unit to calculate the reflectance distribution.
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