JP2014004819A - パターン形成方法及びその形成装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】吐出機構部先端のパターン形成用マスクと接触する角部を凹形状に形成し、凹形状部を含む吐出機構部の先端部分の表面に撥液性を有する膜で被覆して、所望のパターン開口部を有するパターン形成用マスクにペーストを充填、転写する際、撥液性を有する膜で被覆した吐出機構部先端の凹形状部とパターン形成用マスクとで形成される領域の内部でペーストのローリングを促進することにより、微細なパターンを精度よくパターンを形成できるようにした。
【選択図】 図1
Description
以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。
まず、図示していない搬送手段により被パターン形成物6を搬送して被パターン形成物支持テーブル23上に載置し(S201)、チャック部232で被パターン形成物6を被パターン形成物支持テーブル23上に固定して保持する。次に、テーブル駆動部32で上下駆動部233を駆動してテーブル231を上昇させ(S202)、被パターン形成物6をパターン形成用マスク部110のパターン形成用マスク11に密着させる。次にエアシリンダ駆動部31でエアシリンダ24を駆動して吐出機構部ヘッド15を下降させ(S203)、吐出機構部1先端の吐出部101(図3A参照)をパターン形成マスク11に密着させる(S204)。このとき、吐出機構ユニット120は、図1の左端の部分に位置している。
まず、前工程として、吐出機構部1先端の吐出部101の基となる構造物を作成する。
炭化水素の膜は、プラズマ処理により行う。まず、前工程にて作製した吐出部101にマスキングを行い、先端部分の研磨加工した部分を含む炭化水素の膜を成膜する箇所のみを露出させる(S303)。
まず、吐出機構ユニット120の構造の第1の例について、図3Aを用いて説明する。なお、吐出機構ユニット120の構造は、以下に説明するいくつかの具体例において、基本的には同じ構造になっている。吐出機構部1先端の吐出部101は図3Bで説明した工程を経て、ウレタン樹脂102のパターン形成用マスク11と接する方の角に、表面にダイヤモンドライクカーボン膜103で撥水処理された円弧状の凹形状部8が形成されている。また、図3Aにおいては、芯材104の表示を省略している。
エチレンとの共重合体を分散した撥液性の膜103が形成された吐出部101を作成することが出来た。
一方、金属メッシュマスク50と接しない方の吐出部101L(R)と金属メッシュマスク50の表面55との隙間Gを1mmより広くすると、パターン形成時に吐出部101L(R)に形成した円弧状の凹形状部8L(R)内にペーストを閉じ込めることができなくなり、円弧状の凹形状部8L(R)内から漏れ出し、金属メッシュマスク50のパターン開口部542及び543に充填するペーストに加わる力が弱まることから充填量および転写量が不足した。
太陽電池セル80の表面電極配線を形成するためのパターン形成用マスク90について、被パターン形成物側面からみた局部的な拡大概要図を図9Aに示す。
パターン形成方向(パターン形成用マスク90に対するスキージの移動方向)は、細線のグリッド電極配線用の開口部943の長手方向と平行方向(図9Aの矢印501の方向)である。
ここに示した比較例のパターン形成では、高アスペクト比の配線形成は困難である。
太陽電池セル80の表面電極配線を形成するためのパターン形成用マスク1200について、被パターン形成物側面からみた局部的な拡大概要図を図12Aに示す。
バックコンタクト型太陽電池セル90の基板91に形成された表裏面電極を導通するために形成した貫通孔93へのペースト充填について、図1および16を用いて説明する。
そこで、裏面からペースト充填(図16の(b))を行った後、基板91を反転させて表面を上側にした状態で、表面からのペースト充填(図16の(c))を行う必要がある。
比較例では実現できなかった高アスペクト開口を有する貫通孔へのペースト充填を本発明のパターン形成装置100を用いて試みた。図17を用いて説明する。
さらに高アスペクト比の貫通孔でもペースト充填が可能なことから、シリコンウェハに多数の貫通孔が形成されたTSV半導体素子にも適用できる可能性がある。
吐出部1101のポリウレタン樹脂1121とステンレス製補強材1122とは、固定部材1124で吐出機構部1001に固定されている。
Claims (14)
- パターン形成用のマスクを保持するマスク保持部と、
パターン形成する試料を載置して該試料を上下に移動させて前記マスク保持部に保持されている前記マスクに接近・後退させるテーブル部と、
前記マスクを介して前記テーブル部に載置された試料にペーストのパターンを形成する吐出機構を備えたペースト吐出部と、
該ペースト吐出部の吐出機構を前記マスクに沿って往復移動させる吐出機構駆動部とを備えたパターン形成装置であって、
前記ペースト吐出手段は前記吐出機構を1対備え、該1対の吐出機構は対向して装着され、該対向して装着された1対の吐出機構のうちパターン形成に寄与する側の吐出機構には、該1対の吐出機構を前記マスクに押し当てたときに前記マスクと接触する位置よりもパターン形成時の移動方向に対して前方に凹部が形成されており、該凹部は、該凹部の前記マスクと接触する側の端部と反対の側の端部が前記マスクの側に突き出して且つ前記マスクとの間に隙間が開くように形成されており、更に前記ペースト吐出手段は、前記1対の吐出機構の間に前記ペーストを供給するペースト供給機構を備えることを特徴とするパターン形成装置。 - 前記ペースト吐出部の前記1対の吐出機構のそれぞれは、少なくとも前記凹部を含む該吐出機構の先端部の表面が撥液性を有していることを特徴とする請求項1記載のパターン形成装置。
- 前記吐出機構の先端部の凹部は、前記パターン形成時に前記吐出機構が前記マスクに押し当てられた状態で、前記吐出機構駆動部で駆動されたときに前記ペーストが前記凹部の内部でローリングするような空間を前記マスクとの間に形成することを特徴とする請求項1記載のパターン形成装置。
- マスク吸引手段を更に有し、該マスク吸引手段は、前記ペースト吐出部の前記1対の吐出機構を前記マスクに押し当てたときに前記マスクを前記ペースト吐出部の側に吸引することを特徴とする請求項1記載のパターン形成装置。
- 前記マスク吸引手段を前記ペースト吐出部の前記1対の吐出機構の前後に1対配置したことを特徴とする請求項4記載のパターン形成装置。
- 前記吐出機構は、導電性を有する材料と、ウレタンを主成分とする樹脂とを含んで形成されていることを特徴とする請求項1記載のパターン形成装置。
- パターン形成用のマスクにパターン形成する試料を密着又は近接させ、
前記マスクに1対の吐出機構を押し付けた状態で該1対の吐出機構の間の前記マスク上にペーストを加圧して供給しながら該1対の吐出機構を前記マスクに対して一方向に移動させ、
該1対の吐出機構の一方向への移動が終了した状態で前記試料を前記マスクから引き剥がすことにより前記マスクに形成されたパターンを前記試料に転写して前記試料上にペーストによるパターンを形成するパターン形成方法であって、
前記ペーストが塗布されたマスクに前記1対の吐出機構を押し付けながら該1対の吐出機構を一方向に移動させることにより、前記1対の吐出機構のうち前記一方向へ移動するときの後方の側の吐出機構の前記マスクに押し付けられる面に形成された凹部と前記マスクとで形成される空間に前記供給されたペーストを溜め込みながら前記マスクに形成されたパターンを前記試料上に転写して前記ペーストによるパターンを形成することを特徴とするパターン形成方法。 - 前記吐出機構の前記マスクに押し付けられる面に形成された凹部は撥液性の膜で被服されており、該撥液性の膜で被服された凹部と前記マスクとで形成される空間に溜め込んだペーストを該凹部と前記マスクとで形成される空間の内部で前記凹部の表面を被覆する撥液性の膜に沿ってローリングさせながらパターン形成することを特徴とする請求項7記載のパターン形成方法。
- 前記マスクとして、金属板で形成されたマスク又は金属メッシュで形成されたマスクの何れかを用いることを特徴とする請求項7記載のパターン形成方法。
- 前記マスクとして、金属メッシュに乳剤を付着させて形成して表面を撥液性の膜で被覆したマスクを用いることを特徴とする請求項8記載のパターン形成方法。
- 前記ペーストが塗布されたマスクに吐出機構を押し付けながら該吐出機構を一方向に移動させて該吐出機構に形成された前記表面が撥液性を有する凹部と前記マスクとで形成される空間にペーストを溜め込みながらパターン形成することにより、前記試料に形成されたスルーホールの内部に前記ペーストを充填させると共に、前記試料の表面に前記ペーストによるパターンを形成することを特徴とする請求項8記載のパターン形成方法。
- 前記ペーストが塗布されたマスクに前記1対の吐出機構を押し付けながら該1対の吐出機構を一方向に移動させることにより前記マスクに形成されたパターンを前記試料上に転写して前記ペーストによるパターンを形成する工程において、前記1対の吐出機構を前記マスクに押し当てたときに前記1対の吐出機構の前記移動の方向の前後において前記マスクを前記吐出機構の側に吸引しながら前記マスクに形成されたパターンを前記試料上に転写して前記ペーストによるパターンを形成することを特徴とする請求項7記載のパターン形成方法。
- 前記試料は太陽電池セルであり、前記ペーストを加圧して供給しながら前記1対の吐出機構を前記マスクに対して一方向に移動させることにより、前記マスクに形成された前記太陽電池セルのグリッド電極配線パターンとバス電極配線パターンとを前記太陽電池セルの表面に転写することを特徴とする請求項7乃至12の何れかに記載のパターン形成方法。
- 前記試料はバックコンタクト型太陽電池セルであり、前記ペーストを加圧して供給しながら前記1対の吐出機構を前記マスクに対して一方向に移動させることにより、前記マスクに形成されたパターンを前記太陽電池セルの裏面に転写して前記バックコンタクト型太陽電池セルの裏面に前記ペーストによる電極配線パターンを形成すると共に、前記バックコンタクト型太陽電池セルの裏面と表面とを接続する貫通穴の内部に前記ペーストを充填することを特徴とする請求項7乃至12の何れかに記載のパターン形成方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200131161A (ko) * | 2019-05-13 | 2020-11-23 | 주식회사 히타치하이테크 | 패턴 평가 시스템 및 패턴 평가 방법 |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101940237B1 (ko) * | 2012-06-14 | 2019-01-18 | 한국전자통신연구원 | 미세 피치 pcb 기판에 솔더 범프 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 소자의 플립 칩 본딩 방법 |
US20160031031A1 (en) * | 2014-07-31 | 2016-02-04 | Fujitsu Ten Limited | Coating apparatus and cleaning method |
JP6461519B2 (ja) * | 2014-08-29 | 2019-01-30 | 株式会社デンソーテン | 塗布装置、及び、塗布システム |
CN105098102B (zh) * | 2015-08-13 | 2017-02-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种印刷玻璃胶的装置及方法 |
JP6778402B2 (ja) * | 2015-09-01 | 2020-11-04 | 株式会社ニコン | マスク保持装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、マスク保持方法、及び露光方法 |
JP6938024B2 (ja) * | 2015-10-22 | 2021-09-22 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 被印刷基材の表面構造及びその製造方法 |
GB201613051D0 (en) | 2016-07-28 | 2016-09-14 | Landa Labs (2012) Ltd | Applying an electrical conductor to a substrate |
KR20180063750A (ko) * | 2016-12-02 | 2018-06-12 | 삼성에스디아이 주식회사 | 태양전지용 핑거 전극의 제조방법 |
CN106585069A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-04-26 | 武汉华星光电技术有限公司 | 柔性基板、面板及丝网印刷机制作柔性基板、面板的方法 |
KR20180090669A (ko) * | 2017-02-03 | 2018-08-13 | 삼성에스디아이 주식회사 | 태양전지용 핑거 전극의 제조방법 및 이에 의해 제조된 태양전지용 핑거 전극 |
CN107215096A (zh) * | 2017-06-28 | 2017-09-29 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 涂胶设备 |
CN109050028A (zh) * | 2018-09-30 | 2018-12-21 | 江苏惟哲新材料有限公司 | 一种用于高温共烧陶瓷的丝网印刷工艺 |
WO2020137901A1 (ja) * | 2018-12-28 | 2020-07-02 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半田ペースト回収装置およびスクリーン印刷装置 |
CN115870156A (zh) * | 2019-01-11 | 2023-03-31 | 新烯科技有限公司 | 浆料涂覆装置 |
CN110143043B (zh) * | 2019-04-10 | 2022-07-15 | 新疆翰阳电热科技股份有限公司 | 一种发热浆料印刷装置 |
KR102646472B1 (ko) * | 2019-04-30 | 2024-03-11 | 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 | 슬라이딩 장치 |
US11415844B2 (en) | 2019-08-14 | 2022-08-16 | Himax Technologies Limited | Liquid crystal display |
TWI710819B (zh) * | 2019-08-29 | 2020-11-21 | 奇景光電股份有限公司 | 液晶顯示器 |
CN110660880B (zh) * | 2019-08-29 | 2021-08-10 | 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 | 背接触太阳能电池组件生产方法及背接触太阳能电池组件 |
TWI791265B (zh) * | 2021-08-18 | 2023-02-01 | 大陸商常州欣盛半導體技術股份有限公司 | 載帶線路絕緣加工用墨刀及其使用方法 |
CN114953717A (zh) * | 2022-07-08 | 2022-08-30 | 松山湖材料实验室 | 光伏电池网版印刷用刮条及光伏电池片图案的印刷方法 |
CN116321675A (zh) * | 2023-01-09 | 2023-06-23 | 安捷利(番禺)电子实业有限公司 | 一种线路板及其制备方法和应用 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08156227A (ja) * | 1994-04-14 | 1996-06-18 | Tani Denki Kogyo Kk | スキージブレードとスキージ装置 |
JPH11245371A (ja) * | 1998-02-27 | 1999-09-14 | Sanyo Electric Co Ltd | マスク、及びスキージ |
JP2006281724A (ja) * | 2005-04-05 | 2006-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ペーストのスクリーン印刷装置 |
JP2007196496A (ja) * | 2006-01-26 | 2007-08-09 | Hitachi Metals Ltd | スクリーン印刷装置及びスクリーン印刷方法 |
JP2009051054A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Sharp Corp | 太陽電池の製造方法およびスクリーン印刷装置 |
JP2011201052A (ja) * | 2010-03-24 | 2011-10-13 | Panasonic Corp | スクリーン印刷装置およびスクリーン印刷方法 |
JP2011235519A (ja) * | 2010-05-10 | 2011-11-24 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | スクリーン印刷方法及びその装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1168175A (ja) | 1997-08-08 | 1999-03-09 | Yamaha Corp | 熱電モジュール |
JP3449529B2 (ja) | 1998-03-20 | 2003-09-22 | Tdk株式会社 | 強制加圧印刷用スキージ及び強制加圧印刷装置 |
JP2000062138A (ja) | 1998-08-19 | 2000-02-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 印刷装置 |
JP2000272091A (ja) * | 1999-03-25 | 2000-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スクリーン印刷用スキージおよびスクリーン印刷方法 |
JP2001326391A (ja) | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Unitika Ltd | 溶融電極を備えた電子デバイス |
JP2002307652A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スクリーン印刷装置 |
JP2003025706A (ja) | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Shinji Kanda | パターン印刷方法及び装置 |
JP2003197983A (ja) | 2001-10-16 | 2003-07-11 | Komatsu Ltd | 熱電モジュール |
JP4156227B2 (ja) * | 2001-11-02 | 2008-09-24 | 松下電器産業株式会社 | スクリーン印刷装置 |
JP2003234516A (ja) | 2002-02-12 | 2003-08-22 | Komatsu Ltd | 熱電モジュール |
JP2005057124A (ja) | 2003-08-06 | 2005-03-03 | Komatsu Electronics Inc | 熱電変換モジュール及び熱電変換装置 |
JP2007103580A (ja) | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Toyota Motor Corp | 熱電変換素子及びその製造方法 |
JP4204599B2 (ja) | 2006-03-31 | 2009-01-07 | 株式会社日立製作所 | スクリーン印刷機及びスクリーン印刷方法 |
JP5551925B2 (ja) * | 2009-12-08 | 2014-07-16 | 富士機械製造株式会社 | スキージ装置およびスクリーン印刷機 |
JP5395690B2 (ja) | 2010-01-26 | 2014-01-22 | 大日本スクリーン製造株式会社 | パターン形成方法およびパターン形成装置 |
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2013
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08156227A (ja) * | 1994-04-14 | 1996-06-18 | Tani Denki Kogyo Kk | スキージブレードとスキージ装置 |
JPH11245371A (ja) * | 1998-02-27 | 1999-09-14 | Sanyo Electric Co Ltd | マスク、及びスキージ |
JP2006281724A (ja) * | 2005-04-05 | 2006-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ペーストのスクリーン印刷装置 |
JP2007196496A (ja) * | 2006-01-26 | 2007-08-09 | Hitachi Metals Ltd | スクリーン印刷装置及びスクリーン印刷方法 |
JP2009051054A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Sharp Corp | 太陽電池の製造方法およびスクリーン印刷装置 |
JP2011201052A (ja) * | 2010-03-24 | 2011-10-13 | Panasonic Corp | スクリーン印刷装置およびスクリーン印刷方法 |
JP2011235519A (ja) * | 2010-05-10 | 2011-11-24 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | スクリーン印刷方法及びその装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200131161A (ko) * | 2019-05-13 | 2020-11-23 | 주식회사 히타치하이테크 | 패턴 평가 시스템 및 패턴 평가 방법 |
KR102425377B1 (ko) * | 2019-05-13 | 2022-07-27 | 주식회사 히타치하이테크 | 패턴 평가 시스템 및 패턴 평가 방법 |
US11428652B2 (en) | 2019-05-13 | 2022-08-30 | Hitachi High-Tech Corporation | Pattern evaluation system and pattern evaluation method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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US20130316492A1 (en) | 2013-11-28 |
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