[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2013153380A - 撮像装置および撮像方法 - Google Patents

撮像装置および撮像方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2013153380A
JP2013153380A JP2012014008A JP2012014008A JP2013153380A JP 2013153380 A JP2013153380 A JP 2013153380A JP 2012014008 A JP2012014008 A JP 2012014008A JP 2012014008 A JP2012014008 A JP 2012014008A JP 2013153380 A JP2013153380 A JP 2013153380A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
signal
pixel
acquisition unit
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012014008A
Other languages
English (en)
Inventor
Michiteru Shibahara
道輝 柴原
Kazuhiko Nakamura
和彦 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority to JP2012014008A priority Critical patent/JP2013153380A/ja
Priority to CN201320047575.XU priority patent/CN203522898U/zh
Publication of JP2013153380A publication Critical patent/JP2013153380A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

【課題】CMOS撮像素子の白キズ等のフォトダイードの黒画像の信号出力の影響を受けない様に画像信号を補正することを目的とする。
【解決手段】積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子の上下の遮光した画素信号の最小値からN番目の値又は最大値からM番目の値以下の値の平均値の全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる第一の代表値信号を算出し、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM番目からM+Lの値の平均値の各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる第二の代表値信号を算出し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号とを減算する。
【選択図】図1A

Description

本発明は、固体撮像素子を有する撮像装置に関し、撮像素子から出力される画像信号に含まれる雑音を低減する方法に関するものである。
CMOS(Complimentary Metal Oxide Semiconductor)撮像素子は一般的にはCCD撮像素子より感度が低い。そこで、積分増倍A/D部を有し、CCD撮像素子より高感度を狙うCMOS撮像素子が開発中である(特許文献1参照)。しかし、フォトダイードの黒画像の信号出力のむらによる暗部むらや黒画像の信号出力が異常に多いフォトダイードの映像信号(白キズ)も積分増倍するため、白キズや暗部むらが増加する。
そこで、従来、光学的黒画素部分の白キズの影響を低減するため、CMOS撮像素子の水平方向の光学的黒画素(Horizontal-Optical Black以下H−OB)部分の12画素信号を平均し、1ライン分の黒画像の基準信号として記憶し、このCMOS撮像素子の有効画素部分の出力信号よりこの記憶した黒画像の基準信号を減算していた。
しかし、積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子の積分増倍に強く相関して黒画像の信号出力むらが大きくなり、白キズや暗部むらも積分増倍するため、白キズや暗部むらのレベルが大きくなり易い。また、積分増倍のもれ電流は、積分増倍を変えた時の基準暗部レベルの変動となる。さらに、電源やGNDのゆすれは、積分増倍の変動となり、積分増倍を高くした場合の暗部むらとなる。
そのため、H−OB部分の出力信号を平均しても、白キズ成分が残留する。さらに、有効画素部分の出力信号から、この平均した信号を減算すると、横筋が発生してしまう。
また、CCD(Charge Coupled Device)撮像素子は固体撮像素子の中でも感度が高く白キズが少ないが、高感度撮像時は白キズが多い。そこで、CCD撮像素子の垂直方向の光学的黒画素(Vertical-Optical Black以下V−OB)部分の12ラインの各垂直画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値、最大値からM(Mは自然数)番目の値以下の値の平均値、または他の最大値からM番目の値以下の値から算出される代表値信号の少なくとも1つを算出し、前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される画像信号から前記代表値信号を減算していた(特許文献2参照)。
また、デジタル信号処理回路の集積化が進み、複数ラインの出力信号を記憶し算術処理することが、映像専用のメモリ集積DSPだけでなく、安価な汎用のFPGA(Field Programmable Gate Array)でも容易に実現できる様になった。
特開2004−304413号公報 積分増倍A/D 特開2008−109639号公報 EM-CCDのVOB中央値減算
本発明の目的は、積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子出力の横筋を低減することにある。
本発明は、上記課題を解決するため、積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子と該固体撮像素子の受光面の有効画素から出力される画像信号を取得する第1の取得部と前記固体撮像素子の受光面の上下または左右の遮光した画素から出力される信号を取得する第2の取得部とを有する固体撮像装置において、前記第2の取得部で取得した上下の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値、最大値からM(Mは自然数)番目の値以下の値の平均値、または最大値からM番目の値以下の値から左右画素平均や左右画素重みづけ平均などで算出される値の少なくとも1つの(全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる)第一の代表値信号を算出し、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の(各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる)第二の代表値信号を算出し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号とを減算することを特徴とする撮像方法である。
また、積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子と該固体撮像素子の受光面の有効画素から出力される画像信号を取得する第1の取得部と前記固体撮像素子の受光面の上部または下部の遮光した画素から出力される信号を取得する第2の取得部とを有する固体撮像装置において、前記第2の取得部で取得した上下の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値、最大値からM(Mは自然数)番目の値以下の値の平均値、または最大値からM番目の値以下の値から算出される値の少なくとも1つの(全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる)第一の代表値信号を算出する手段と、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の(各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる)第二の代表値信号を算出する手段とを有し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号とを減算することを特徴とする固体撮像装置である。
さらに、積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子と該固体撮像素子の受光面の有効画素から出力される画像信号を取得する第1の取得部と前記固体撮像素子の受光面の上部または下部の遮光した画素から出力される信号を取得する第2の取得部とを有する固体撮像装置において、前記第2の取得部で取得した上下の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値の左右画素平均値の(全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる)第一の代表値信号を算出する手段と、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の(各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる)第二の代表値信号を算出する手段とを有し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号とを減算することを特徴とする固体撮像装置である。
上記の様に本発明によれば、遮光した画素のH−OBとV−OBの信号の最小値からN番目の値等の最大値からM番目の値の影響を除く代表値を算出することにより、H−OBの数が少ない積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子でも、白キズなどのCMOS撮像素子の大きい黒画像の信号出力成分を排除した信号を検出できる。さらに、黒画像の信号出力補正の過不足の誤差分が減少して横筋が目立たない画像信号が得られる。
H−OBが3以上で最小値から2番目の値(3で中央値)の左右重みづけ平均の場合の本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図 H−OBが5以上で最小値から3番目の値(5で中央値)の場合の本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図 H−OBが2以上で最小値の場合の本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図 H−OBが3以上で最大値除く平均値の場合の本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図 H−OBが4以上で最大値と最小値除く平均値の場合の本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図 H−OBが4以上で最大値と2番目に大きい値除く平均値の場合の本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図 H−OBの最小値から2番目の値を代表値として検出する本発明の一実施例のフローチャート H−OBの最小値から3番目の値を代表値として検出する本発明の一実施例のフローチャート H−OBの最小値を代表値として検出する本発明の一実施例のフローチャート H−OBの最大値を除く平均値を代表値として検出する本発明の一実施例のフローチャート H−OBの最大値と最小値を除く平均値を代表値として検出する本発明の一実施例のフローチャート H−OBの最大値と2番目に大きい値を除く平均値を代表値として検出するフローチャート H−OBが3の中に信号値21の白キズがある本発明の一実施例 H−OBが5の中に信号値21の白キズがある本発明の一実施例 H−OBが2の中に信号値21の白キズがある本発明の一実施例 H−OBが3の中に信号値21の白キズがある本発明の一実施例 H−OBが4の中に信号値21の白キズがある本発明の一実施例 H−OBが4の中に信号値21の白キズがある本発明の一実施例
本発明では、上下の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値、最大値からM(Mは自然数)番目の値以下の値の平均値、または他の最大値からM番目の値以下の値から左右画素平均や左右画素重みづけ平均などで算出される値の少なくとも1つの全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる第一の代表値信号を算出し、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる第二の代表値信号を算出し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号を減算する。
本発明による上下の遮光した画素信号からの算出方法の撮像装置の一実施例の概要と本発明の幾つかの一実施例の動作を、本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図の図1A−1Fをと本発明の一実施例の代表値検出フローチャートの図2A−2Fとを用いて説明する。
本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図の図1A−1Fにおいて、図1AはH−OBが3以上で最小値から2番目の値(3で中央値)を検出する場合で、図1BはH−OBが5以上で最小値から3番目の値(5で中央値)を検出する場合で、図1CはH−OBが2以上で最小値を検出する場合で、図1DはH−OBが3以上で最大値除く平均値を検出する場合で、図1EはH−OBが4以上で最大値と最小値除く平均値を検出する場合で、図1FはH−OBが4以上で最大値と2番目に大きい値除く平均値を検出する場合である。本発明の一実施例の代表値検出フローチャートの図2A−2Fにおいて、図2AはH−OB最小値から2番目の値を検出する場合で、図2BはH−OB最小値から3番目の値を検出する場合で、図2CはH−OB最小値を検出する場合で、図2DはH−OBが最大値除く平均値を検出する場合で、図2EはH−OB最大値と最小値除く平均値を検出する場合で、図2FはH−OB最大値と2番目に大きい値を除く平均値を検出する場合である。
本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図の図1A―1Fの特徴は、比較部とメモリ部とにより、最大値または2番目に大きい値を除き積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子の白キズの影響を削除している事である。
本発明の1実施例の図1A、1DはH−OBが3ヶで、図1BはH−OBが5ヶで、図1CはH−OBが2ヶで、図1E、1FはH−OBが4ヶである。なお、積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子のH−OBは多数あるが、判り易くするため、H−OBが2ヶから4ヶで動作を説明する。
図3CのようにH−OBが2の中に信号値21の白キズがあると、平均値は11.5と特に大きく、黒画像の信号出力補正で誤差が特に大きいことが判る(以下、本実施例では白キズと判定される最大信号値のレベルを21として説明を続ける)。図3A、3DのようにH−OBが3の中に信号値21の白キズがあると、平均値は9となり、中央値4や最大値を除く平均値3から大きく異なる値である。図3E、3Fのように、H−OBが4の中に信号値21の白キズがあると、平均値は8となり、最大値を除く平均値3.67から大きく異なる値である。図3Bのように、H−OBが5の中に信号値21の白キズがあると、平均値は7となり、中央値4や最大値を除く平均値3.5から大きく異なる値である。よって、平均値はH−OBの数が少し多くなっても黒画像の信号出力補正で誤差が大きいことが判る。図3A―3Fでは、本実施例の最小値は2で、中央値や最大値を除く平均値より1から2小さいが、従来の平均値の7から11.5ほど大きな誤差がない。最小値はH−OBの数が2と少ない場合でも従来のH−OBが5の平均値より黒画像の信号出力補正の誤差が少なく、実用的なことが判る。
本発明の一実施例の全体構成の撮像装置を示すブロック図の図1A―1Fにおいて、1は撮像装置、2は入射光を結像するレンズ等の光学系、3は光学系2から入射した光を電気信号に変換する積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子、5はデジタル映像信号ViからのOB代表値信号を減算して暗電流(フォトダイードの黒画像の信号出力)成分の補正を行う暗電流(フォトダイードの黒画像の信号出力)補正部、6はデジタル映像信号ViのH−OBの代表値信号の検出を行うOB代表値検出部であり、21〜23はデジタル映像信号ViのH−OBラインの画素ごとに比較する比較部で、71〜76はOB代表値を記憶するメモリであり、11は映像信号から代表値信号を減算する減算器である。7は検出暗電流補正部5から出力された信号Vmに種々の画像処理を施しNTSC(National Television System Committee)方式またはPAL(Phase Alternating by Line)方式の複合映像信号(Video Burst Sync以下VBS)またはSDI(Serial Digital Interface)映像信号、あるいはHDTVのSDI(HD−SDI)等の所定方式の映像信号に変換して出力する映像信号処理部であり、9は撮像装置1内の各部を制御するCPU(Central Processing Unit)である(CPUから各部への制御線は図示せず)。10は、デジタルAGC(D.AGC)であり、OB代表値信号を積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子のAGCの増幅度に合わせてD.AGC自身の増幅度を調節する。14は白キズの影響をさらに低減する左右画素平均部である。
次に、本発明の一実施例の動作を図1A―1Fを参照しつつ説明する。撮像装置1の積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子3は光学系2で受光面に結像された入射光をフォトダイオードで光電変換して信号電荷を生成し信号電荷を電子増倍して雑音を除去し増幅してデジタル映像信号Viに変換して暗電流補正部5にデジタル映像信号Viを出力する。デジタル映像信号Viは、暗電流補正部5を介してOB代表値検出部6に送られると共に、後述する信号処理を行うために減算器11にも送られる。OB代表値検出部6はデジタル映像信号Viを比較部21〜23でH−OBの画素信号ごとに比較し小さい順にメモリ71〜76に記憶し、暗電流(フォトダイードの黒画像の信号出力)成分としてOB代表値信号を検出する。
OB代表値信号を左右画素平均部14で左右画素重みづけ平均し、白キズの影響をさらに低減する。簡易的には、左右画素平均部14で左右画素を単純平均しても良い。
あるいは、図1D−1Fに示す実施例のように、比較部21,22とメモリ72,75,76とを用いて所定の基準を満たすH−OBの画素信号を選び、その選ばれた画素信号を加算部13を用いて加算を行い、加算結果をメモリ71に記憶し、平均化部12で平均値としてのOB代表値信号を算出するように構成してよい。
暗電流補正部5はOB代表値信号を積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子の増幅度に合わせてD.AGC10で増幅し、減算器11はその増幅した信号をデジタル映像信号Viから減算し、映像信号処理部7にデジタル映像信号Vmを出力する。映像信号処理部7はデジタル映像信号Vmに種々の画像処理を施し所定方式の映像信号Voに変換して出力する。
また、図1A―1Fで示す実施例において、暗電流補正部のD.AGCの配置場所が異なる実施例や、デジタル信号ViやVmのビット数やOB代表値信号のビット数が異なる実施例や、比較部やメモリ部の構成が異なる実施例等があるが、これらは一実施例にすぎず種々の構成が適用されてよい。
次に、図1A−1Fと図2A−2Fと図3A−3Fと図4A−4Fとを用いて暗電流信号(フォトダイードの黒画像の信号出力)の検出と補正の動作について説明する。
まず、図1A、図2A、図3A、図4Aに示す実施例について説明する。CPU9は、メモリ部72、73に最小値信号の上限値、2番目に小さい信号の上限値をそれぞれ設定しておく。ここで、これらの上限値は、例えば、信号の輝度を数値化したものを用いてよい(以下で述べる各値についても、同様の基準で数値化されたものである)。比較部21は、メモリ部72に記憶されている上限値とH−OB領域の1つ目(以下H−OB1)の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号(H−OB1の映像信号)を各画素の最小値の信号としてメモリ部72に記憶する(ステップ21,22)。比較部21は、H−OB2の映像信号の画素の値とメモリ部72に最小値の信号の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号をメモリ部72に各画素の最小値の信号として記憶する。値が大きい方の信号は比較部22に送られる。比較部22は、大きい方の信号の値と2番目に小さい信号としてメモリ部73に記憶されている上限値とを各画素間で比較し、小さい方の信号を各画素の2番目に小さい信号としてメモリ部73に記憶する(ステップ23)。同様に、比較部21は、Nヶ目(Nは3以上の自然数)のH−OBNの映像信号の画素の値とメモリ部72の最小値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の最小値の信号としてメモリ部72に記憶する。値が大きい方の信号は各画素の比較1の信号として、比較部22に送られる(ステップ24)。比較部22は、2番目に小さい信号の値と比較1の信号の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の2番目に小さい信号としてメモリ部73に記憶する(ステップ25)。比較部22が最後のH−OBの比較処理を終了すると、メモリ部73は、2番目に小さい信号を暗電流補正用のOB代表値信号としてスメア補正部5に出力し(ステップ26)、代表値検出処理が終了する(ステップ27)。
次に、図1B、図2B、図3B、図4Bに示す実施例について説明する。CPU9は、メモリ部72、73、74に最小値信号の上限値、2番目に小さい信号の上限値、3番目に小さい信号の上限値をそれぞれ設定しておく。比較部21は、メモリ部72に記憶されている上限値とH−OB1の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号(H−OB1の映像信号)を最小値の信号としてメモリ部72に記憶する(ステップ21,28)。比較部21は、最小値の信号の値とH−OB2の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の最小値の信号としてメモリ部72に記憶する(ステップ29)。比較部22は、大きい方の信号の値と各画素の2番目に小さい信号としてメモリ部73に記憶された上限値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を2番目に小さい信号としてメモリ部73に記憶する(ステップ29)。比較部21は、メモリ部72に記憶された信号の値とH−OB3の映像信号の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の最小値の信号としてメモリ部72に記憶する。値が大きい方の信号は、比較1の信号として、比較部23に送られる(ステップ30)。比較部22は、メモリ部73に記憶されている2番目に小さい信号の値と比較1の信号とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の2番目に小さい信号としてメモリ部73に記憶する。比較部23は、値が大きい方の信号と3番目に小さい信号としてメモリ部74に記憶された上限値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の3番目に小さい信号としてメモリ部74に記憶する(ステップ31)。同様に、Nライン目(Nは4以上の自然数)のH−OBNの映像信号の画素の値とメモリ部72の最小値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の最小値の信号としてメモリ部72に記憶する。値が大きい方の信号は各画素の比較1の信号として、比較部22に送られる(ステップ24)。比較部22は、2番目に小さい信号の値と比較1の信号の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の2番目に小さい信号としてメモリ部73に記憶する。値が大きい方の信号は、各画素の比較2の信号して比較部23に送られる(ステップ32)。比較部23は、3番目に小さい信号の値と比較2の信号の値とを各画素で比較し、値が小さい方の信号を各画素の3番目に小さい信号としてメモリ部74に記憶する(ステップ33)。比較部23で最後のH−OBの比較が終了すると、メモリ部74は、3番目に小さい信号を暗電流補正用のOB代表値信号としてスメア補正部5に出力し(ステップ34)、代表値信号検出処理が終了する(ステップ27)。
さらに、図1C、図2C、図3C、図4Cに示す実施例について説明する。CPU9は、メモリ部72に最小値信号の上限値を設定しておく。比較部21は、上限値とH−OB1の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号(H−OB1の映像信号)を最小値の信号としてメモリ部72に記憶する(ステップ21,35)。比較部21は、最小値の信号の値とH−OB2の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を最小値の信号としてメモリ部72に記憶する(ステップ36)。同様に、比較部21は、Nライン目(Nは3以上の自然数)のH−OBNの映像信号の画素の値と最小値の信号の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を最小値の信号としてメモリ部72に記憶する(ステップ37)。比較部21が最後のH−OBの比較処理を終了すると、メモリ部72は、最小値の信号を暗電流補正用のOB代表値信号としてスメア補正部5に出力し(ステップ38)、代表値検出処理が終了する(ステップ27)。
また、図1D、図2D、図3D、図4Dに示す実施例について説明する。CPU9は、メモリ部71の値を0、メモリ部75の値を信号の下限値に設定しておく。比較部21は、下限値とH−OB1の映像信号の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号(H−OB1の映像信号)を各画素の最大値の信号としてメモリ部75に記憶する(ステップ21,39)。比較部21は、最大値の信号とH−OB2の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を最大値の信号としてメモリ部75に記憶する。加算部13は、値が小さい方の信号を中間値としてメモリ部71に加算記憶する(ステップ40)。同様に、比較部21は、Nライン目のH−OBN(Nは3以上の自然数)の映像信号の画素の値と最大値の信号とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を最大値の信号としてメモリ部75に記憶する。加算部13は、値が小さい方の信号を中間値としてメモリ部71に加算記憶する(ステップ41)。比較部21が最後のH−OBの比較処理を終了すると、メモリ部71は、平均化部12に加算記憶した値を出力する。平均化部12は、中間値の信号を1/(N−1)に減衰して平均値を算出し暗電流補正用のOB代表値信号としてスメア補正部5に出力し(ステップ42)、代表値検出処理が終了する(ステップ27)。
また、図1E、図2E、図3E、図4Eに示す実施例について説明する。CPU9は、メモリ部71の値を0、メモリ部72の値を信号の上限値に設定しておき、メモリ部75の値を信号の下限値に設定しておく。比較部21は、下限値とH−OB1の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号(H−OB1の映像信号)を各画素の最大値の信号としてメモリ部75に記憶する(ステップ21,43)。比較部21は、最大値の信号とH−OB2の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を各画素の最大値の信号としてメモリ部75に記憶する。値が小さい方の信号は、各画素の最小値の信号として比較部22に送られる。比較部22は、値が小さい方の信号とメモリ部72に記憶された上限値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の最小値の信号としてメモリ部72に記憶する(ステップ44)。比較部21は、メモリ部75に記憶されている最大値の信号の値とH−OB3の映像信号の画素の値とを各画素で比較し、値が大きい方の信号を最大値の信号としてメモリ部75に記憶する。比較部21は、値が小さい方の信号を比較1の信号として比較部22に送る(ステップ45)。比較部22は、最小値の信号の値と比較1の信号の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を最小値の信号としてメモリ部72に記憶し、値が大きい方の信号を中間値として加算部13を介してメモリ部71に加算記憶する(ステップ46)。同様に、比較部21は、Nライン目(Nは4以上の自然数)のH−OBNの映像信号の画素の値と最大値の信号の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を最大値の信号としてメモリ部75に記憶し、値が小さい方の信号を比較1の信号として、比較部22に送る(ステップ47)。比較部22は、最小値の信号の値と比較1の信号の値とを各画素間で比較し、値が小さい方の信号を最小値の信号としてメモリ部72に記憶し、値が大きい方の信号を中間値として加算部13を介してメモリ部71に加算記憶する(ステップ48)。比較部22が最後のH−OBの比較処理を終了すると、メモリ部71は、平均化部12に加算記憶した値を出力する。平均化部12は、中間値の信号を1/(N−2)に減衰して平均値を算出し暗電流補正用のOB代表値信号としてスメア補正部5に出力し(ステップ49)、代表値信号処理が終了する(ステップ27)。
また、図1F、図2F、図3F、図4Fに示す実施例について説明する。CPU9は、メモリ部71の値を0、メモリ部75,76の値を信号の下限値にしておく。比較部21は、下限値とH−OB1の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号(H−OB1の映像信号)を最大値の信号としてメモリ部75に記憶する(ステップ21,50)。比較部21は、最大値の信号の値とH−OB2の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を最大値の信号としてメモリ部75に記憶する。値が小さい方の信号は、各画素の2番目に大きい信号として比較部22に送られる。比較部22は、値が小さい方の信号とメモリ部76に記憶された下限値と各画素間で比較し、値が小さい方の信号を各画素の2番目に大きい信号としてメモリ部76に記憶する(ステップ51)。比較部21は、メモリ部75に記憶されている最大値の信号の値とH−OB3の映像信号の画素の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を最大値の信号としてメモリ部75に記憶する。比較部21は、値が小さい方の信号を比較1の信号として比較部22に送る(ステップ45)。比較部22は、2番目に大きい信号の値と比較1の信号の値とを各画素で比較し、値が大きい方の信号を2番目に大きい信号としてメモリ部75に記憶し、値が小さい方の信号を中間値として加算部13を介してメモリ部71に加算記憶する(ステップ52)。同様に、比較部21は、Nライン目(Nは4以上の自然数)のH−OBNの映像信号の画素の値と最大値の信号の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を最大値の信号としてメモリ部75に記憶し、値が小さい方の信号を比較1の信号として比較部22に送る(ステップ47)。比較部22は、2番目に大きい信号の値と比較1の信号の値とを各画素間で比較し、値が大きい方の信号を2番目に大きい信号としてメモリ部75に記憶し、値が小さい方の信号を中間値として加算部13を介してメモリ部71に加算記憶する(ステップ53)。比較部22が最後のH−OBの比較処理を終了すると、メモリ部71は、平均化部12に加算記憶した値を出力する。平均化部12は、中間値の信号を1/(N−2)に減衰して平均値を算出し暗電流補正用のOB代表値信号としてスメア部5に出力し(ステップ49)、代表値信号検出処理が終了(ステップ27)する。
さらに、図1B、図2B、図3B、図4Bに示す実施例は、各垂直画素信号の最小値から3番目の値を代表値として用いる方法を示しており、白キズの影響がないだけでなく、暗電流が極端に少ない画素欠陥である黒キズの影響がほとんどなくなり、厳しく選別した高価な積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子を使用しにくい監視用途に適している。図1Bに示す実施例では、信号ViからOB代表値信号を減算してから映像信号処理部7に入力する信号Vmを10bitにして、監視用途に多く使用される低価格の映像信号処理部7の入力ビット数に合わせている。但し、垂直暗電流補正の精度を維持するため、FEP4の出力ビット数は14ビットとしている。
また、図1C、図2C、図3C、図4Cは、本発明の他の一実施例であり、H−OB代表値として各画素信号の最小値を算出する方法を示しており、暗電流(フォトダイードの黒画像の信号出力)補正信号の記憶が1ヶ分で済み集積規模が従来例よりも小型になる。
さらに、図1D、図2D、図3D、図4Dに示す実施例は、H−OBが3以上で最大値を除く平均値を算出する方法を示しており、白キズが多くH−OBの数も多いが黒キズが少ない積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子に適している。
図1E、図2E、図3E、図4Eに示す実施例は、H−OBが4以上で最大値と最小値を除く平均値を代表値として用いる方法を示しており、図1Eは22ビットにA/D変換しCCD撮像素子の暗電流(フォトダイードの黒画像の信号出力)の補正が容易な事と合わせて、白キズも黒キズも多くH−OBの数も多い積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子を高感度動作させる用途に適している。
図1F、図2F、図3F、図4Fに示す実施例は、H−OBが4以上で最大値と2番目に大きい値を除く平均値を代表値としており、白キズが特に多くH−OBの数も多い積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子を高感度動作させる用途に適している。
図1A―1Fに示す実施例は、暗電流補正部5とOB代表値検出部6と映像信号処理部7と映像信号処理部7とを分けていたが、別の実施例として、暗電流補正部5とOB代表値検出部6と映像信号処理部7とは、映像専用のメモリ集積DSPや、FPGAに集積することもできる。
上記と同様に、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の(各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる)第二の代表値信号を算出する。
以上積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子を用いた撮像装置について詳細に説明したが、本発明は、ここに記載された撮像装置に限定されるものではなく、上記以外の積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子を用いた撮像装置他の撮像装置に広く適用することができることは言うまでもない。
また、本発明は積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子のフォトダイードの黒画像の信号出力の積分増倍量による変動の影響を受けない様にすることにより、黒画像に近い暗部の画像信号を有効利用できるようにする。暗部の画像信号を有効利用できるので、撮像装置を実効的に高感度にする。この実効的に高感度にすることにより、放送局の情報カメラ(いわゆるお天気カメラ)や寝顔の顔色確認等の寝ている病人の遠隔看護等の低照度でも高画質が必要な撮像用途に利用することができる。さらに、遠距離間高速鉄道の監視や海峡の監視のように照明が確保できない監視の撮像用途に利用することができる。
さらに、高輝度画像の信号出力は維持するので、実効的に撮像装置のダイナミックレンジを拡大する。高感度とダイナミックレンジ拡大を両立することにより、高精細監視のワイドダイナミックレンジ撮像が可能になる。そのため、高精細とワイドダイナミックレンジが要求される、逆光状態での鉄道ホームの転落防止の監視用途や自動車の車種とドライバーの顔とナンバープレートの同時識別の監視用途に利用することができる。
1:撮像装置、2:光学系、3:積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子、
5:暗電流(フォトダイードの黒画像の信号出力)補正部、6:OB代表値検出部、
7:映像信号処理部、9:CPU、
10:利得可変部(D.AGC)、11:減算器、12:係数部、13:加算器、
14:左右画素平均部、
21,22,23:比較部、71〜76:メモリ部

Claims (3)

  1. 積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子と該固体撮像素子の受光面の有効画素から出力される画像信号を取得する第1の取得部と前記固体撮像素子の受光面の上下または左右の遮光した画素から出力される信号を取得する第2の取得部とを有する固体撮像装置において、前記第2の取得部で取得した上下の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値、最大値からM(Mは自然数)番目の値以下の値の平均値、または他の最大値からM番目の値以下の値から左右画素平均や左右画素重みづけ平均などで算出される値の少なくとも1つの(全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる)第一の代表値信号を算出し、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の(各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる)第二の代表値信号を算出し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号を減算することを特徴とする撮像方法。
  2. 積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子と該固体撮像素子の受光面の有効画素から出力される画像信号を取得する第1の取得部と前記固体撮像素子の受光面の上部または下部の遮光した画素から出力される信号を取得する第2の取得部とを有する固体撮像装置において、前記第2の取得部で取得した上下の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値、最大値からM(Mは自然数)番目の値以下の値の平均値、または他の最大値からM番目の値以下の値から算出される値の少なくとも1つの(全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる)第一の代表値信号を算出する手段と、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の(各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる)第二の代表値信号を算出する手段とを有し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号を減算することを特徴とする固体撮像装置。
  3. 積分増倍A/D部を有するCMOS撮像素子と該固体撮像素子の受光面の有効画素から出力される画像信号を取得する第1の取得部と前記固体撮像素子の受光面の上部または下部の遮光した画素から出力される信号を取得する第2の取得部とを有する固体撮像装置において、前記第2の取得部で取得した上下の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最小値からN(Nは自然数)番目の値の左右画素平均値の(全水平走査映像信号の暗部シェーディングの基準となる)第一の代表値信号を算出する手段と、前記第2の取得部で取得した左右の遮光した画素から出力される信号の各画素信号の最大値からM(Mは自然数)番目からM+L(Lは自然数)の値の平均値の(各水平走査映像信号の暗部平均値の基準となる)第二の代表値信号を算出する手段とを有し、積分増倍量に対応して前記第1の取得部で取得した有効画素から出力される各水平走査映像信号から前記第一の代表値信号と前記第二の代表値信号とを減算することを特徴とする固体撮像装置である。
JP2012014008A 2012-01-26 2012-01-26 撮像装置および撮像方法 Pending JP2013153380A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012014008A JP2013153380A (ja) 2012-01-26 2012-01-26 撮像装置および撮像方法
CN201320047575.XU CN203522898U (zh) 2012-01-26 2013-01-28 固体摄像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012014008A JP2013153380A (ja) 2012-01-26 2012-01-26 撮像装置および撮像方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013153380A true JP2013153380A (ja) 2013-08-08

Family

ID=49049387

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012014008A Pending JP2013153380A (ja) 2012-01-26 2012-01-26 撮像装置および撮像方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2013153380A (ja)
CN (1) CN203522898U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015045486A1 (ja) * 2013-09-30 2015-04-02 株式会社日立国際電気 撮像装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004350105A (ja) * 2003-05-23 2004-12-09 Nikon Corp 信号処理装置、および電子カメラ
WO2008016049A1 (fr) * 2006-07-31 2008-02-07 National University Corporation Shizuoka University Convertisseur a/n et circuit de lecture
JP2008109639A (ja) * 2006-09-25 2008-05-08 Hitachi Kokusai Electric Inc 撮像装置および撮像方法
JP2008306325A (ja) * 2007-06-06 2008-12-18 Sony Corp A/d変換回路、a/d変換回路の制御方法、固体撮像装置および撮像装置
JP2011040976A (ja) * 2009-08-11 2011-02-24 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004350105A (ja) * 2003-05-23 2004-12-09 Nikon Corp 信号処理装置、および電子カメラ
WO2008016049A1 (fr) * 2006-07-31 2008-02-07 National University Corporation Shizuoka University Convertisseur a/n et circuit de lecture
JP2008109639A (ja) * 2006-09-25 2008-05-08 Hitachi Kokusai Electric Inc 撮像装置および撮像方法
JP2008306325A (ja) * 2007-06-06 2008-12-18 Sony Corp A/d変換回路、a/d変換回路の制御方法、固体撮像装置および撮像装置
JP2011040976A (ja) * 2009-08-11 2011-02-24 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015045486A1 (ja) * 2013-09-30 2015-04-02 株式会社日立国際電気 撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN203522898U (zh) 2014-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5526014B2 (ja) 撮像装置
US8988561B2 (en) Imaging apparatus having temperature sensor within image sensor wherein apparatus outputs an image whose quality does not degrade if temperature increases within image sensor
JP2011097542A (ja) 画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画像欠陥検出補正方法、およびプログラム
JP5520833B2 (ja) 撮像方法および撮像装置
JP2010245891A (ja) 撮像装置および撮像方法
KR101556468B1 (ko) 고체 촬상 장치 및 카메라
US9106853B2 (en) Solid-state imaging device
JP2008109639A (ja) 撮像装置および撮像方法
JP5411322B2 (ja) 撮像装置および撮像方法
US8576310B2 (en) Image processing apparatus, camera module, and image processing method
JP2013150144A (ja) 撮像方法および撮像装置
US9142591B2 (en) Method for measuring electronic multiplication factor
JP2013153380A (ja) 撮像装置および撮像方法
JP5500702B2 (ja) 撮像方法および撮像装置
JP5945397B2 (ja) 撮像装置及びストリーキング補正方法
JP2009290653A (ja) 欠陥画素補正装置、撮像装置、欠陥画素補正方法、およびプログラム
US20060087571A1 (en) Method and apparatus for performing correction in imaging device
JP2013243486A (ja) 画像データ検査装置及び画像データ検査方法
JP4397869B2 (ja) スミア補正方法及びスミア補正回路
US9148597B2 (en) Electron multiplication factor measurement method and image capture device
JP2006100913A (ja) 画像処理装置および画像処理方法
JP5784669B2 (ja) 撮像装置
JP5395710B2 (ja) 撮像装置
JP2006108918A (ja) 撮像装置
JP2013153381A (ja) 撮像装置および撮像方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141211

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160428

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20161020