JP2012251058A - 加熱硬化性シリコーン樹脂組成物 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】(A)シラノール基を有するオルガノポリシロキサン、(B)アルコキシリル基を有するオルガノポリシロキサン、(C)縮合触媒、並びに(D)チアゾール化合物及び/又はトリアジン化合物を含有する加熱硬化性シリコーン樹脂組成物、並びに当該加熱硬化性シリコーン樹脂組成物が光半導体を封止してなる光半導体封止体。
【選択図】なし
Description
1. (A)シラノール基を有するオルガノポリシロキサン、
(B)アルコキシリル基を有するオルガノポリシロキサン、
(C)縮合触媒、並びに
(D)チアゾール化合物及び/又はトリアジン化合物を含有する加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
2. 前記(D)成分が2−メルカプトベンゾチアゾールを少なくとも含む上記1に記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
3. 前記(C)縮合触媒がAl、Zn、Sn、Zr、Hf、Tiおよびランタノイドからなる群から選ばれる少なくとも1種を含む金属化合物である上記1または2に記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
4. 前記(C)成分がZnの金属塩化合物とSnの金属塩化合物および/またはランタノイドの金属塩化合物とを少なくとも含み、前記Znの金属塩化合物に対する、前記Snの金属塩化合物および/またはランタノイドの金属塩化合物の重量比が1以下である上記1〜3のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
5. 前記(A)成分が、
下記式(1)で表されるジオルガノポリシロキサン、および/または、
R3SiO1/2単位(式中のRはそれぞれ非置換または置換の炭素数1〜6の1価の炭化水素基である。)及びSiO4/2単位を繰り返し単位で前記SiO4/2単位1モルに対し前記R3SiO1/2単位の割合が0.5モル〜1.2モルで有し、かつ前記シラノール基を6.0質量%未満有するシリコーンレジンを含む上記1〜4のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
[式(1)中、R1は同一のまたは異なる、アルキル基、アリール基であり、nは10以上の整数である。]
6. 前記(D)成分の量が、前記(A)成分および前記(B)成分の合計100質量部に対して0.01〜10質量部である上記1〜5のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
7. 前記(C)成分の量が、前記(A)成分および前記(B)成分の合計100質量部に対して0.001〜10質量部である上記1〜6のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
8. 前記(B)成分の量が、前記(A)成分100質量部に対して0.1〜5000質量部である上記1〜7のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
9. さらに(E)成分として、ビス(アルコキシシリル)アルカン、ビス(アルコキシシリルアルキル)アミンおよびイソシアヌレート化合物からなる群から選ばれる少なくとも1種を含有する上記1〜8のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
10. 前記(E)成分の量が、前記(A)成分および前記(B)成分の合計100質量部に対して0.1〜10質量部である上記9に記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
11. 前記シリコーンレジンが、さらに、SiO4/2単位1モルに対しR2SiO2/2単位(式中のRはそれぞれ非置換または置換のアリル基、アルキル基、アリール基である。)およびRSiO3/2単位(式中のRはそれぞれ非置換または置換の炭素数1〜6の1価の炭化水素基である。)のうち少なくとも1つを前記R2SiO2/2単位、前記RSiO3/2単位がそれぞれ1.0モル以下で、前記R2SiO2/2単位、前記RSiO3/2単位の合計が1.0モル以下となるように有する請求項5〜10のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
12. 上記1〜11のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物が光半導体を封止してなる光半導体封止体。
本発明の光半導体封止体は耐硫化性に優れる。
オルガノポリシロキサン(A)が有する炭化水素基としては特に限定されず、例えば、フェニル基などの芳香族基(アリール基);アルキル基;アルケニル基等が挙げられる。
オルガノポリシロキサン(A)の主鎖は、直鎖状、分岐状、または、網目状のいずれであってもよい。
式(1)中、R1は同一のまたは異なる、アルキル基、アリール基であり、nは10以上の整数とすることができる。アルキル基は炭素数1〜18、アリール基は炭素数6〜18とすることができる。式(1)で表されるジオルガノポリシロキサンは鎖状である。
式(1)中、nは、オルガノポリシロキサン(A)の重量平均分子量に対応する数値とすることができ、10〜15,000の整数であるのが好ましい。
オルガノポリシロキサン(A)としての、シリコーンレジンは、R3SiO1/2単位(式中のRはそれぞれ非置換または置換の炭素数1〜6の1価の炭化水素基である。)及びSiO4/2単位を繰り返し単位でSiO4/2単位1モルに対しR3SiO1/2単位の割合が0.5モル〜1.2モルで有するのが好ましい。また、シリコーンレジンは、シラノール基を6.0質量%未満有するのが好ましい。
オルガノポリシロキサン(A)の分子量は、1,000〜1,000,000であるのが好ましく、1000〜100,000であるのがより好ましい。
なお、本発明において、オルガノポリシロキサン(A)の分子量は、クロロホルムを溶媒とするゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)によるポリスチレン換算の重量平均分子量である。
オルガノポリシロキサン(A)は1種単独で用いてもよく2種以上を併用してもよい。
メチルメトキシオリゴマーは、市販品を使用することができ、例えば、x−40−9246(重量平均分子量:6000、信越化学工業社製)が挙げられる。
R7 mSi(OR8)nO(4-m-n)/2 (b2−1)
式(b2−1)中、R7は有機基であり、R8はアルキル基であり、mは0<m<2、nは0<n<2、m+nは0<m+n≦3である。
R7が示す有機基は、例えば、酸素原子、窒素原子および硫黄原子からなる群から選ばれる少なくとも1種のヘテロ原子を含んでもよい炭化水素基が挙げられ、具体例としては、アルキル基(炭素数1〜6のものが好ましい。)、(メタ)アクリレート基、アルケニル基、アリール基、これらの組合せ等が挙げられる。アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基等が挙げられる。アルケニル基としては、例えば、ビニル基、アリル基、プロペニル基、イソプロペニル基、2−メチル−1−プロペニル基、2−メチルアリル基等が挙げられる。アリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基等が挙げられる。これらのうち、メチル基、(メタ)アクリレート基、(メタ)アクリロキシアルキル基が好ましい。
R8が示すアルキル基は、R7が示す有機基としてのアルキル基として記載したものと同義である。
オルガノポリシロキサン(b3)は、例えば、両末端シラノール基を有するポリシロキサン1モルに対してアルコキシリル基を有するシラン化合物1モル以上を脱アルコール縮合した反応物として得ることができる。
オルガノポリシロキサン(b3)を製造するために使用される、両末端シラノール基を有するポリシロキサンとしては、例えば、両末端にシラノール基を有するジアルキルポリシロキサン(具体的には例えば、両末端にシラノール基を有するジメチルポリシロキサン)が挙げられる。
オルガノポリシロキサン(b3)を製造するために使用される、アルコキシ基を有するシラン化合物としては、例えば、下記式(b1)で表される化合物、その加水分解縮合物、上述の式(b2−1)で表される化合物等が挙げられる。
式(b1)中、nは2,3または4を示し、R5はアルキル基を示し、R6は有機基を示す。R6が示す有機基は、オルガノポリシロキサン(B)が有することができる有機基として記載したものと同義である。
なお、(メタ)アクリロキシトリアルコキシシランは、アクリロキシトリアルコキシシランまたはメタクリロキシトリアルコキシシランであることを意味する。(メタ)アクリレート基、(メタ)アクリロキシアルキル基についても同様である。
式(b3−1)で表される化合物は、例えば、両末端にシラノール基を有するポリシロキサンを、テトラメトキシシラン(式(b1)で表される化合物に相当する)で変性することによって製造することができる。
化合物(B)は、1種単独で用いてもよく2種以上を併用してもよい。
オルガノポリシロキサン(B)の量は、加熱硬化性に優れるという観点から、オルガノポリシロキサン(A)100質量部に対して、0.1〜5000質量部であるのが好ましく、0.5〜5000質量部であるのがより好ましく、5〜1,000質量部であるのがさらに好ましい。
(C)縮合触媒は、金属の、塩;錯体;アルコラート;酸化物;多元金属酸化物、これらの塩および/または錯体;これらの組み合わせとすることができる。(C)縮合触媒は金属塩化合物であるのが室温安定性、硬化性に優れるという観点から好ましい。
(C)縮合触媒は、金属(例えば、Al、Zn、Sn、Zr、Hf、Tiおよびランタノイドからなる群から選ばれる少なくとも1種)と有機基とを有する化合物とすることができる。金属は、例えば、酸素原子、窒素原子、硫黄原子のようなヘテロ原子を介して、および/または、エステル結合のような結合基を介して、有機基と結合することができる。有機基は、脂肪族炭化水素基(鎖状、分岐状、環状、これらの組み合わせを含む。脂肪族炭化水素基は不飽和結合を有することができる。)、芳香族炭化水素基、これらの組み合わせが挙げられる。有機基は例えば酸素原子、窒素原子、硫黄原子のようなヘテロ原子を有することができる。有機基としては、例えば、有機カルボキシレート(−O−CO−R);アルコキシ基、フェノキシ基のような、炭化水素基がオキシ基と結合したのもの(−O−R);配位子;これらの組み合わせが挙げられる。
(C)縮合触媒は、硬化性、室温安定性に優れるという観点から、Al、Zn、Sn、Zr、Hf、Tiおよびランタノイドからなる群から選ばれる少なくとも1種を含む金属化合物であるのが好ましく、金属塩化合物であるのがより好ましい。
オクチル酸アルミニウム、環状のアルミニウムオキサイドを含有する化合物(例えば、下記式(7)で表される化合物が挙げられる。)、アルミニウムトリアセテート、アルミニウムトリステアレートのようなアルミニウム塩;
アルミニウムsec−ブチラート、アルミニウムトリエトキシド、アルミニウムトリイソプロポキシド、アルコキシアリールアルミネートのようなアルミニウムアルコラートが挙げられる。
式(1)中、R1が炭素数1〜18のアルキル基、アリール基である。
アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基が挙げられる。アリール基としては例えば、フェニル基、ナフチル基、アズレンが挙げられる。
式(2)中、R2、R3は同一または異なる炭素数1〜18の1価の炭化水素基、アルコキシ基である。式(2)中、同一の(R2COCHCOR3)内にあるR2、R3は入れ替わっていてもよい。
炭素数1〜18の1価の炭化水素基としては例えば炭素数1〜18のアルキル基、アリール基が挙げられる。炭素数1〜18のアルキル基、アリール基は上記と同義である。
アルコキシ基としては例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基が挙げられる。
本発明において亜鉛化合物−1を製造する際に使用される酸の量は、酸化亜鉛、炭酸亜鉛、水酸化亜鉛、塩化亜鉛、硫酸亜鉛および硝酸亜鉛からなる群から選ばれる少なくとも1種:1モルに対して1.5モル以上2モル未満であるのが好ましい。このような範囲である場合、透明性、耐硫化性(特に長期にわたる耐硫化性)に優れる。酸の量は上記と同様の理由から、酸化亜鉛、炭酸亜鉛、水酸化亜鉛、塩化亜鉛、硫酸亜鉛および硝酸亜鉛からなる群から選ばれる少なくとも1種:1モルに対して、1.5〜1.9モルであるのが好ましく、1.6〜1.8モルであるのがより好ましい。
亜鉛化合物−1としては具体的には例えば、Zn(OH)(−O−CO−R)、R−CO−O−Zn−O−Zn−O−CO−R;O−Zn−O−P−、Zn−O−Zn−O−P−O−のような亜鉛を有するリン酸塩が挙げられる。
亜鉛化合物−1はxが1以上の場合その構造のなかに例えば−Zn−O−Zn−のような結合を有することができる。このような結合は亜鉛化合物を製造するなかで生成物質が例えば脱水縮合することによって形成されうる。
亜鉛化合物−1は原料である、酸化亜鉛、炭酸亜鉛、水酸化亜鉛、塩化亜鉛、硫酸亜鉛、硝酸亜鉛;原料である酸を未反応物として含むことができる。
2価のスズ化合物(2価のスズの金属塩化合物)としては、例えば、ビス(2−エチルヘキサン酸)錫、ビス(ネオデカン酸)錫が挙げられる。
R3 a−Sn−[O−CO−R4]4-a (II)
式中、R3はアルキル基であり、R4は炭化水素基であり、aは1〜3の整数である。
アルキル基は炭素原子数1以上のものが挙げられ、具体的には例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、オクチル基が挙げられる。
炭化水素基は特に制限されない。炭化水素基(鎖状、分岐状、環状、これらの組み合わせを含む。)は脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基、これらの組み合わせが挙げられる。炭化水素基の炭素原子数1〜18の整数とすることができ、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、2−エチルペンチル基、オクチル基が挙げられる。4価のスズ化合物は少なくとも1個のアルキル基と少なくとも1個のエステル結合とを有する4価のスズ化合物が好ましい。
式(1)
(式中、R1は炭素原子数1〜18の炭化水素基である。)
式(2)
(式中、R2はそれぞれ炭素原子数1〜16の炭化水素基であり、R3はそれぞれ炭素原子数1〜18の炭化水素基であり、mは1〜3の整数である。)
式(1)、式(2)中の炭化水素基は(C)縮合触媒が有することができる有機基と同義である。
耐熱着色安定性、相溶性(例えば、シリコーン樹脂に対する相溶性)に優れるという観点から、上記式(2)においてR2で表される炭化水素基の炭素原子数は3〜16であるのが好ましく、4〜16であるのがより好ましい。R2で表される炭化水素基は上記と同義である。
なかでも耐熱着色安定性に優れ、相溶性に優れるという観点から、R2で表される炭化水素基は脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基であることが好ましく、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基、ナフテン環(R2COO−としてのナフテート基)、フェニル基がより好ましく、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基、ナフテン環がさらに好ましい。
脂肪族炭化水素基を有するR3O−(アルコキシ基)は、なかでも、耐熱着色安定性に優れ、相溶性に優れるという観点から、脂肪族炭化水素基を有するR3O−(アルコキシ基)はメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基、イソプロポキシ基であるのが好ましい。
式(f1)中のR15が示す炭化水素基は、直鎖状でも分岐状でもよく、不飽和結合を有することができ、ヘテロ原子(例えば、酸素原子、窒素原子、硫黄原子など)を有することができる。
R15が示す炭化水素基としては、例えば、炭素数1〜18の脂肪族炭化水素基(アルキル基;アリル基などの不飽和脂肪族炭化水素基;等を含む)、脂環式炭化水素基、アリール基(芳香族炭化水素基)、これらの組み合わせ等が挙げられる。
脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基等が挙げられる。
脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基などのシクロアルキル基;ナフテン環(ナフテン酸由来のシクロパラフィン環);アダマンチル基、ノルボルニル基などの縮合環系炭化水素基;等が挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、アズレン等が挙げられる。
これらのうち、加熱硬化性に優れるという観点から、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基、これらの組み合わせであるのが好ましく、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、ナフテン環、アダマンチル基、ノルボルニル基、フェニル基、ナフチル基およびアズレンからなる群から選ばれる少なくとも1種であるのがより好ましく、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基、ナフテン環(R15COO−としてのナフテート基)、フェニル基であるのがさらに好ましく、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基、ナフテン環であるのが特に好ましい。
式(f2)中のR16は、式(f1)中のR16と同義である。
式(f2)中のR17,R18が示す炭素数1〜18の炭化水素基は、式(f1)中のR15が示す炭化水素基のうち炭素数が1〜18であるものと同様である。
式(f2)中のR17,R18が示すアルコキシ基としては、例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基などの炭素数1〜18のアルコキシ基が挙げられる。
式(f2)中のR17,R18は、塩素原子、臭素原子、フッ素原子などのハロゲンを有していてもよい。
なお、式(f2)において、R17とR18とは、入れ替わってもよい。
本発明の組成物に含有されるランタノイド化合物(C)としては、「ランタノイド化合物」であれば特に限定されないが、本発明の組成物の加熱硬化性が優れるという理由から、下記式(c1)で表される化合物であるのが好ましい。
式(c1)中のRcが示す炭素数1〜30のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基などの直鎖状アルキル基;イソプロピル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、sec−ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、1−メチルヘキシル基、1−エチルペンチル基、1−プロピルブチル基、2−エチル−1−メチルブチル基、1−エチル−3−メチルブチル基、1,2−ジメチルペンチル基、1−エチル−2−メチルブチル基、1−メチルヘプチル基、1−エチルヘキシル基、1−プロピルペンチル基、1−エチル−2−メチルペンチル基、3−メチル−1−プロピルブチル基、2−メチル−1−プロピルブチル基、1−メチルオクチル基、1−エチルヘプチル基、1−プロピルヘキシル基、1−ブチルペンチル基、1,3−ジエチルペンチル基、1,5−ジメチルヘプチル基、1−エチル−3−メチルヘキシル基、1−メチルノニル基、1−エチルオクチル基、1−プロピルヘプチル基、1−ブチルヘキシル基、3−エチル−1−プロピルペンチル基、1,7−ジメチルオクチル基、1−エチル−4−メチルヘプチル基、2−メチル−1−プロピルヘキシル基、ネオノニル基、ネオデシル基などの分岐状アルキル基;シクロペンチル基、シクロヘキシル基、4−メチルシクロヘキシル基、4−エチルシクロヘキシル基、4−tert−ブチルシクロヘキシル基、4−(2−エチルヘキシル)シクロヘキシル基、ボルニル基、イソボルニル基、アダマンチル基などのシクロアルキル基;ナフテン環(ナフテン酸由来のシクロパラフィン環);等が挙げられる。
式(c1)中のRcが示すアリル基は、2−プロペニル基(−CH2CH=CH2)である。
式(c1)中のRcが示すアリール基としては、炭素数6〜30のアリール基であるのが好ましく、具体的には、例えば、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基、フェナントレニル基、ピレニル基、ペリレニル基、フルオレニル基、ビフェニル基、ターフェニル基、ルブレニル基、クリセニル基、トリフェニレニル基等が挙げられる。
(C)縮合触媒は、加熱硬化性、室温安定性に優れるという観点から、Znの金属塩化合物とSnの金属塩化合物および/またはランタノイドの金属塩化合物とを少なくとも含むのが好ましい。Znの金属塩化合物、Snの金属塩化合物、ランタノイドの金属塩化合物は上記と同様である。
(C)縮合触媒がZnの金属塩化合物とSnの金属塩化合物および/またはランタノイドの金属塩化合物とを少なくとも含む場合、Znの金属塩化合物に対する、前記Snの金属塩化合物および/またはランタノイドの金属塩化合物の重量比は、加熱硬化性、作業安定性に優れるという観点から、1以下であるのが好ましく、0.001〜0.1であるのがより好ましい。
本発明の組成物に含有される(D)成分としてのチアゾール化合物は、チアゾール骨格を有する化合物であれば特に制限されない。例えば、非置換のまたは置換基(例えば、メルカプト基)を有するベンゾチアゾールが挙げられる。具体的には、例えば、ベンゾチアゾール;2−メルカプトベンゾチアゾールのようなメルカプト基を有するチアゾール化合物;炭化水素基、フルオロ基、シリル基のような置換基を有するチアゾール化合物が挙げられる。なかでも、耐硫化性により優れ、着色安定性、相溶性に優れるという観点から、2−メルカプトベンゾチアゾール、シリル基を有するベンゾチアゾール化合物が好ましい。
なかでも、耐硫化性により優れ、着色安定性、相溶性に優れるという観点から、トリアジンチオール化合物(トリアジン骨格及びメルカプト基を有する化合物)が好ましく、シリル基および/またはシロキサン骨格を有するトリアジンチオール化合物がより好ましい。
シロキサン骨格を有するトリアジンチオール化合物は、例えば、メルカプト基を2個以上(好ましくは3個以上)有するトリアジン化合物と、メルカプト基と反応可能な官能基(例えば、アミノ基)を1個以上(好ましくは2個以上)有するポリシロキサン(例えば、反応性シリコーンオイル)とを反応させることによって製造することができる。この製造の際に使用されるポリシロキサンはメルカプト基と反応可能な官能基を有する以外は特に制限されない。ポリシロキサンはメルカプト基と反応可能な官能基以外に例えば、アルコキシ基、シリル基としてのアルコキシシリル基をさらに有することができる。
(D)成分はそれぞれ単独でまたは2種以上を組み合わせて使用することができる。
式中、R7〜R8はそれぞれアルキル基であり、R9は酸素原子、窒素原子、硫黄原子のようなヘテロ原子を有してもよい2価のアルカンであり、aはそれぞれ1〜3の整数である。アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基が挙げられる。R9としての2価のアルカンは炭素原子数1〜10のアルキレン基が挙げられる。2価のアルカンは上記と同義である。
式中、R7〜R8はそれぞれアルキル基であり、R10は酸素原子、窒素原子、硫黄原子のようなヘテロ原子を有してもよいアルキレン基であり、aはそれぞれ1〜3の整数である。アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基が挙げられる。R10としてのアルキレン基は炭素原子数1〜10のアルキレン基が挙げられる。
式1中、Rはそれぞれ有機基または脂肪族不飽和結合を有してもよい一価の炭化水素基である。さらにRはエポキシ基、グリシドキシ基、アルコキシシリル基(例えば、トリアルコキシシリル基)、(メタ)アクリロイル基、イソシアネート基などの官能基を含むことができる。官能基は有機基、炭化水素基を介してイソシアヌレート骨格に結合することができる。
イソシアヌレート化合物としては、例えば、イソシアヌレート骨格と加水分解性シリル基とを有するイソシアヌレートシランが挙げられる。具体的には例えば、トリス(トリメトキシリル)イソシアヌレート、トリス(トリメトキシリルアルキル)イソシアヌレート[トリス(トリメトキシリルプロピル)イソシアヌレート]が挙げられる。
(E)成分の量は、密着性に優れるという観点から、前記(A)成分および前記(B)成分の合計100質量部に対して、0.1〜10質量部であるのが好ましい。
添加剤としては、例えば、硬化剤、触媒(例えば縮合触媒以外の触媒;ルイス酸触媒、ルイス塩基触媒;カチオン重合触媒が挙げられる。)、重合開始剤(例えば、熱重合開始剤、光重合開始剤が挙げられる。)、無機フィラー、酸化防止剤、滑剤、紫外線吸収剤、熱光安定剤、分散剤、帯電防止剤、重合禁止剤、消泡剤、硬化促進剤、溶剤、蛍光物質(無機物、有機物を含む。)、老化防止剤、ラジカル禁止剤、接着性改良剤、ビス(アルコキシシリル)アルカン、ビス(アルコキシシリルアルキル)アミンやカップリング剤、イソシアヌレート化合物のような密着付与剤(接着付与剤)、リン酸エステル、亜リン酸エステル、ホウ素化合物、難燃剤、界面活性剤、保存安定性改良剤、オゾン老化防止剤、増粘剤、可塑剤、放射線遮断剤、核剤、カップリング剤、導電性付与剤、リン系過酸化物分解剤、顔料、金属不活性化剤、物性調整剤が挙げられる。各種添加剤は特に制限されない。例えば、従来公知のものが挙げられる。
本発明の組成物は1液型または2液型として製造することが可能である。
本発明の組成物を適用することができる光半導体は特に制限されない。例えば、発光ダイオード(LED)、有機電界発光素子(有機EL)、レーザーダイオード、LEDアレイが挙げられる。
なお本発明の組成物を適用することができる被着体は光半導体に限らない。例えば、光半導体以外の半導体;ゴム;ポリフタルアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、(メタ)アクリル樹脂のようなプラスチック;ガラス;銀、銀メッキ、アルミ、アルミ窒化物、ホウ素窒化物のような金属およびまたはセラミックが挙げられる。
本発明の組成物の使用方法としては、例えば、被着体(例えば、光半導体、銀等の金属部材、プラスチック部材)に本発明の組成物を付与し、本発明の組成物が付与された被着体を加熱して本発明の組成物を硬化させることが挙げられる。本発明の組成物を付与する方法は特に制限されない。例えば、ディスペンサーを使用する方法、ポッティング法、スクリーン印刷、トランスファー成形、インジェクション成形が挙げられる。
本発明の組成物の加熱温度は、密着性、薄膜硬化性に優れ、硬化時間、可使時間を適切な長さとすることができ、縮合反応による副生成物であるアルコールが発泡するのを抑制でき、硬化物のクラックを抑制でき、硬化物の平滑性、成形性、物性に優れるという観点から、80℃〜150℃付近で硬化させるのが好ましく、150℃付近がより好ましい。
加熱は、硬化性に優れ、透明性に優れるという観点から、実質的に無水の条件下で行うことができる。本発明において、加熱が実質的に無水の条件下でなされるとは、加熱における環境の大気中の湿度が10%RH以下であることをいう。
得られる積層体は、銀をシリコーン樹脂組成物から得られるシリコーン樹脂層で覆うのが好ましい態様の1つとして挙げられる。例えば、シリコーン樹脂層は銀を直接覆ってもよい。また、シリコーン樹脂層と銀との間に例えば別の透明な層(例えば、樹脂層、ガラス層、空気層)を有してもよい。
積層体は、光半導体を有するのが好ましい態様の1つとして挙げられる。光半導体は特に制限されない。例えば、上記と同義のものが挙げられる。光半導体はシリコーン樹脂層と銀を含む部材との間にある態様であってもよい。また光半導体は銀を含む部材と並列し、シリコーン樹脂層が光半導体と銀を含む部材とを封止する態様であってもよい。また光半導体は2個の銀を含む部材と並列し、光半導体は第1の部材と第2の部材との間に位置し、シリコーン樹脂層が光半導体と2個の銀を含む部材とを封止する態様であってもよい。
図1は、本発明における積層体の一例を模式的に示す断面図である。図1において、積層体100は部材(銀を含む部材)120とシリコーン樹脂層102とを有する。
図2において、積層体200は部材(銀を含む部材)220と光半導体203とシリコーン樹脂層202とを有する。積層体200は光半導体203とシリコーン樹脂層202との間にさらに透明な層(図示せず。)を有することができる。透明な層としては、例えば、樹脂層、ガラス層、空気層が挙げられる。
本発明において、分光反射率維持率による耐硫化性は以下のように評価される。まず、銀の部材(銀を用いて得られる金属層)の上に本発明の組成物を厚さ1mmに付与し硬化させて、前記部材とシリコーン樹脂層とを有する積層体とし、前記積層体を理論値560ppmの硫化水素ガス中に25℃の条件下で置く耐硫化試験を行い、前記耐硫化試験の前および前記耐硫化試験開始から24および72時間後における、前記積層体の分光反射率を分光反射率計を用いて測定し、前記分光反射率を式[分光反射率維持率=(耐硫化試験後の分光反射率/耐硫化試験前の分光反射率)×100]に当てはめ分光反射率維持率を算出する。
耐硫化試験は、10Lのデシケーターの底に粉状に粉砕した硫化鉄を10g程度(塩酸0.5mmolに対して大過剰)を置き、この硫化鉄の上方に、硫化鉄に接触しないように目皿(貫通孔を有する)をデシケーター内に取り付け、この目皿の上に積層体を置き、大過剰の硫化鉄に0.5mmolの塩酸を滴下することにより、0.25mmolの硫化水素(理論値560ppm、実際の濃度は500ppm程度。)を発生(反応式:FeS+2HCl→FeCl2+H2S)させて行う。なお硫化水素の濃度560ppmは理論値である。
分光反射率の測定は、分光反射率計[ウシオ電機社製のURE−30]を用いて、耐硫化試験前および耐硫化試験後(硫化水素発生から24および72時間後)の積層体に対し475nm(測定波長)での分光反射率を測定する。
本発明において算出される分光反射率維持率が80%以上である場合耐硫化性に優れるので好ましく、80%以上であるのがより好ましい。
本発明の光半導体封止体(本発明の封止体)は、本発明の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物が光半導体を封止してなる光半導体封止体である。
本発明の光半導体封止体は、本発明の組成物から得られるシリコーン樹脂層で光半導体および銀を含む部材を封止することができる光半導体封止体である。
本発明の光半導体封止体に使用されるシリコーン樹脂組成物は本発明の組成物であれば特に制限されない。本発明の光半導体封止体に使用される銀を含む部材は特に制限されない。例えば上記と同義のものが挙げられる。本発明の光半導体封止体に使用される光半導体は特に制限されない。例えば上記と同義のものが挙げられる。
光半導体封止体としては、例えば、光半導体と、凹部を有する枠体と、封止材とを有し、前記光半導体は前記凹部の底部に配置され、前記枠体は前記凹部の側面に銀または銀を含むリフレクタを備え、前記封止材は前記光半導体および前記リフレクタを封止し、前記封止材が本発明の組成物から得られる光半導体封止体が挙げられる。
図3は、本発明の光半導体封止体の一例を模式的に示す断面図である。
図3において、光半導体封止体300は、光半導体303と、凹部302を有する枠体304と、封止材308とを有し、光半導体303は凹部302の底部(図示せず。)に配置され、枠体304は凹部302の側面(図示せず。)に第11族の金属(例えば、銀)から得られるリフレクタ320を備え、封止材308は光半導体303およびリフレクタ320を封止する。
封止材308は、本発明の組成物を硬化させたものである。凹部302において斜線部306まで本発明の組成物で充填してもよい。または符号308の部分を他の透明な層とし斜線部306を本発明の光半導体封止体が有する封止材とすることができる。封止材は蛍光物質等を含有することができる。
光半導体封止体は1個当たり、1個のまたは複数の光半導体を有することができる。光半導体は発光層(マウント部材と接する面の反対面)を上にして枠体内に配置すればよい。
光半導体303は、枠体304と基板310とから形成される、凹部302の底部(図示せず。)に配置され、マウント部材301で固定されている。
リフレクタの別の態様として、枠体304が有する端部312、314が一体的に結合し、リフレクタが側面および底部を形成するものが挙げられる。この場合リフレクタの底部の上に光半導体を配置することができる。
リフレクタ320は凹部302の底部(図示せず。)から遠ざかるほど断面寸法が大きくなる、テーパ状の開口端(図示せず。)を有するものとすることができる。
マウント部材としては例えば銀ペースト、樹脂が挙げられる。光半導体303の各電極(図示せず。)と外部電極309とは導電性ワイヤー307によってワイヤーボンディングされている。
光半導体封止体300は、凹部302を封止材308、306または302(部分308と部分306とを合わせた部分)で封止することができる。
光半導体封止体をシリコーン樹脂層で封止することによって、耐硫化性を高めリフレクタ(金属層、特に銀製のもの、銀を含むもの、銀メッキ層)の腐食(例えば、変色。具体的には銀の変色)を抑制することができ、光半導体封止体の輝度や透明性を低下させることがない。
また、凹部を封止材で封止することによって、封止材は低硬度で硬化収縮が小さいため、封止材が硬化収縮によって凹部からのハガレたり、ワイヤーが断線するのを抑制することができる。
図4において、光半導体封止体400は図3に示す光半導体封止体300の上にレンズ401を有する。レンズ401は本発明の組成物を用いて形成されてもよい。
図5において、光半導体封止体500は、光半導体503と、凹部(図示せず。)を有する枠体(図示せず。)を含む基板510と、封止材502とを有し、光半導体503は凹部の底部(図示せず。)に配置され、枠体は凹部の側面(図示せず。)に第11族の金属(例えば、銀)から得られるリフレクタ520を備え、ランプ機能を有する樹脂506の内部に基板510、インナーリード505を有し、封止材502が上述のシリコーン樹脂組成物から得られ、封止材502は光半導体503およびリフレクタ520を封止する光半導体封止体である。封止材502は耐硫化性を有する。
図5において、枠体(図示せず。)と基板510とを一体に形成することができる。
リフレクタ520は凹部の側面および底部(図示せず。)とを一体的に形成されていてもよい。
光半導体503は、基板510上にマウント部材501で固定されている。マウント部材としては、例えば、銀ペースト、樹脂が挙げられる。
光半導体503の各電極(図示せず。)は導電性ワイヤー507によってワイヤーボンディングさせている。
樹脂506を本発明の組成物を用いて形成することができる。
図6は、本発明の組成物および/または本発明の光半導体封止体を用いたLED表示器の一例を模式的に示す図である。
図6において、LED表示器600は、光半導体封止体601を筐体604の内部にマトリックス状に配置し、光半導体封止体601を封止材606で封止し、筐体604の一部に遮光部材605を配置して構成されている。本発明の組成物を封止材606に使用することができる。また、光半導体封止体601として本発明の光半導体封止体を使用することができる。
[評価]
下記のとおりにして得られた組成物について、耐硫化性、室温安定性、加熱硬化性、透過率を以下に示す方法で評価した。結果を表に示す。
<耐硫化性>
硬化サンプル作製:銀メッキ上に下記のとおりにして得られた組成物を厚さ1mm程度になるよう塗布し、150℃熱風オーブン下の条件下で12時間加熱して硬化させて、硬化サンプルを作製した。
試験:10Lのデシケーターの底に粉状に粉砕した硫化鉄を10g程度(塩酸0.5mmolに対して大過剰)を置き、この硫化鉄の上方に、硫化鉄に接触しないように目皿(貫通孔を有する)をデシケーター内に取り付け、この目皿の上に硬化サンプルを置いた。次に、大過剰の硫化鉄に0.5mmolの塩酸を滴下することにより、0.25mmolの硫化水素(濃度:約500ppm、理論値560ppm)を発生させた(反応式:FeS+2HCl→FeCl2+H2S)。硫化水素発生から24時間後(室温)に目視により銀の変色を確認した。目視により変色が確認されなかったものを「○」、目視によりわずかに変色が確認されたものを「△」、目視により大きく変色が確認されたものを「×」とした。
本発明において耐硫化試験での硫化水素の濃度は理論値560ppmであるものとする。耐硫化試験では塩酸を0.5mmol添加しているので硫化水素は0.25mmol(0.25mmol×22.4リットル=5.6ミリリットル)生成する。故に硫化水素の濃度は[5.6ミリリットル/10リットル(デシケータの容積)]×106=560ppmとなる。
下記のとおりにして得られた組成物の粘度(初期粘度)と、下記のとおりにして得られた組成物を23℃、55%RHの条件下におき24時間後(24時間後の粘度)とを、E型粘度計を用いてRH50%、25℃の条件下で測定し、混合から24時間後の増粘度[(24時間後の粘度)/(初期粘度)]を評価した。
<加熱硬化性>
下記のとおりにして得られた組成物を150℃、熱風オーブンの条件下で、8時間置いたのちに得られた硬化物の硬度を硬度計を用いて測定した。規定硬度の70%以上を「○」、70%未満を「×」とした。
透過率評価試験において、下記のようにして得られた組成物を150℃の条件下で12時間硬化させて得られた初期硬化物、および耐熱試験(初期硬化物をさらに150℃の条件下で10日間加熱する試験。)後の硬化物(いずれも厚さが2mm。)についてそれぞれ、JIS K0115:2004に準じ紫外・可視吸収スペクトル測定装置(島津製作所社製)を用いて波長400nmにおける直線透過率を測定した。そして、耐熱試験後の直線透過率の初期の直線透過率に対する透過保持率を下記計算式によって求めた。
透過保持率(%)=(耐熱試験後の直線透過率)/(初期の直線透過率)×100
各表に示す成分を同表に示す量(質量部)で用いて、これらをミキサー(あわとり錬太郎、シンキー社製)を用いて均一に混合し組成物を製造した。
・(A)ポリシロキサン1:ポリジメチルシロキサン−α,ω−ジオール、重量平均分子量49,000、商品名ss10、信越化学工業社製
・(A)ポリシロキサン2:PRX−413(東レ・ダウコーニング社製)、ポリジメチルシロキサン−α,ω−ジオール(重量平均分子量4,000)
・(A)ポリシロキサン3:SR−1000(モメンティブ・マテリアルズ・ジャパン社製)、MQレジン(重量平均分子量4000)SR−1000は、下記式(I)で表される構造を有する。
(R1SiO3/2)a(R2 2SiO2/2)b(R3 3SiO1/2)c(SiO4/2)d(XO1/2)e (I)
式中、a、bは0であり、R1〜R3はメチル基、Xは水素基でd/(a+b+c+d)が0.5、e/(a+b+c+d)が0.07であり、R3SiO1/2単位及びSiO4/2単位を繰り返し単位でSiO4/2単位1モルに対しR3SiO1/2単位の割合が0.5モル〜1.2モルで有する。
・(B)アルコキシシリル化合物1:両末端トリメトキシシリルシロキサン(両末端トリメトキシシロキシ封鎖ジメチルポリシロキサン)
アルコキシシリル化合物1は以下のとおり製造した。
500mLの3つ口フラスコに攪拌機とリフラックスコンデンサーを備え付け両末端にシラノール基を有するポリシロキサン(ポリジメチルシロキサン−α,ω−ジオール、重量平均分子量49,000、商品名ss10、信越化学工業社製。)を100質量部、テトラメトキシシランを10質量部、および酢酸を0.1質量部添加し窒素雰囲気下で100℃の条件下で6時間反応させた。1H−NMR分析によりss10が有するシラノール基の消失を確認した。得られたオルガノシロキサンをアルコキシシリル化合物1とした。アルコキシシリル化合物1は以下の式で示される、両末端がトリメトキシシロキシ基で封鎖されたジメチルポリシロキサンである。アルコキシシリル化合物1の重量平均分子量は55,000であった。ポリシロキサンの重量平均分子量はクロロホルムを溶媒とするゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)分析によりポリスチレン換算で表わされるものである。アルコキシシリル化合物1の25℃における粘度は1,500mPa・sであった。
アルコキシシリル化合物2は以下のとおり製造した。
500mLの3つ口フラスコに攪拌機とリフラックスコンデンサーを備え付け両末端にシラノール基を有するポリシロキサン(ポリジメチルシロキサン−α,ω−ジオール、重量平均分子量21,000、商品名ss70、信越化学工業社製。)を100質量部、信越化学工業社製KC−89S(アルコキシシラン縮合物、メトキシ基45重量%、粘度5mPa・s)を10質量部、および酢酸を0.1質量部添加し窒素雰囲気下で120℃の条件下で16時間反応させた。1H−NMR分析によりss70が有するシラノール基の消失を確認した。その後、140℃、1.3kPaの条件下で3時間、系内から酢酸と低沸点不純物を留去し、原料のシラノール基を有するポリシロキサンの両末端がケイ素結合アルコキシ基を45重量%有するアルコキシシランオリゴマーで封止(変性)されているポリジメチルシロキサンを得た。得られたポリシロキサンをアルコキシシリル化合物2とした。アルコキシシリル化合物2の25℃における粘度は2000mPa・sであった。
・(B)アルコキシシリル化合物4:PRX−413(東レ・ダウコーニング、(A)ポリシロキサン2:PRX−413と同様。)を100gに対してXR31−2733(モーメンティブ社製、アルコキシオリゴマー)を100g、酢酸0.2gを投入し、100℃6hrにて反応させ、揮発分(反応残渣:酢酸やメタノール等)を100℃2hrで反応させ、アルコキシシリル化合物4(413−2733)を得た。
・(C)ジルコニウム化合物1:トリブトキシナフテン酸ジルコニウム
トリブトキシナフテン酸ジルコニウムは以下のとおり製造した。ジルコニウムテトラブトキシド(関東化学社製、0.026mol)とナフテン酸(東京化成社製、カルボキシ基に結合する炭化水素基の炭素原子数の平均:15、中和価220mg、以下同様。)6.6g(0.026mol)とを窒素雰囲気下、室温で2時間程度攪拌し反応させ目的合成物とした。
なお、ナフテン酸の中和価はナフテン酸1gを中和するのに必要なKOHの量である。
合成物の定性はフーリエ変換赤外分光光度計(FT−IR)を用いてその分析を行った。その結果、カルボン酸由来のCOOHに帰属される1700cm-1付近の吸収が反応後は消失し、1450〜1560cm-1付近のCOOZrに由来するピークを確認した。
得られた合成物をジルコニウム化合物1とする。ジルコニウム化合物1が有するナフテート基(R1COO−)中のR1の平均炭素原子数は15である。
・(C)ハフニウム化合物1:トリブトキシナフテン酸ハフニウム
ハフニウム化合物1は以下のとおり製造した。ハフニウムテトラブトキシド(Gelest社製、0.01mol)とナフテン酸(東京化成社製、カルボキシ基に結合する炭化水素基の炭素原子数の平均:15、中和価220mg。なお、ナフテン酸の中和価はナフテン酸1gを中和するのに必要なKOHの量である。)2.55g(0.01mol)とを窒素雰囲気下、室温で2時間程度攪拌し反応させ目的合成物とした。
合成物の定性はフーリエ変換赤外分光光度計(FT−IR)を用いてその分析を行った。その結果カルボン酸由来のCOOHに帰属される1700cm-1付近の吸収が反応後は消失し、1,450〜1,560cm-1付近のCOOHfに由来するピークを確認した。得られた合成物をハフニウム化合物1とする。ハフニウム化合物1が有するナフテート基(R1COO−)中のR1の平均炭素原子数は15である。
・(C)錫化合物2:ネオスタンU−28、ビス(2−エチルヘキサン酸)錫(日東化成)
・(C)ランタノイド化合物1:トリス(2エチルヘキサノエート)セリウム(Gelest社製)
・(C)アルミニウム化合物1:アルミニウムトリスアセチルアセトナート(川研ファインケミカル)
・(C)亜鉛化合物1:商品名22%Zn、1.6モル反応物2−エチルヘキサン酸亜鉛(ホープ製薬社製)
・(C)チタン化合物1:ジイソプロポキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン
・(D)2メルカプトベンゾチアゾール(四国化成社製)
・(D)ベンゾチアゾール:無置換のベンゾチアゾール(東京化成工業社製)
・(D)トリアジンチオール1:アミノ基含有シリコーンオイルX−22−161A:100g(アミン当量800、信越化学工業(株)製)、トリアジントリチオール23.3g、トルエン100gを温度計、水冷コンデンサーを備えた1Lセパラブルフラスコに投入し、100℃で12時間加熱攪拌し反応を進行させた。反応の進行と共に、混合物の粘度は増加し、増粘が停止したところで反応終了とした。その後、溶媒を減圧下で留去し、それとともに発生した硫化水素も除去した。得られた反応生成物は淡黄濁色のワックス状物質で、重量平均分子量は2000であった。この生成物のIRスペクトルを測定したところ、反応前と比べて、N−H構造に由来する吸収が減少し、新たにトリアジンチオール構造に由来する吸収が観測された。
・(D)トリアジンチオール2:アミノ基含有シリコーンオイルKF−857:100g(アミン当量800、信越化学工業(株)製)、トリアジントリチオール23.3g、トルエン100gを温度計、水冷コンデンサーを備えた1Lセパラブルフラスコに投入し、100℃で12時間加熱攪拌し反応を進行させた。反応の進行と共に、混合物の粘度は増加し、増粘が停止したところで反応終了とした。その後、溶媒を減圧下で留去し、それとともに発生した硫化水素も除去した。得られた反応生成物は淡黄濁色のワックス状物質で、重量平均分子量は2000であった。この生成物のIRスペクトルを測定したところ、反応前と比べて、N−H構造に由来する吸収が減少し、新たにトリアジンチオール構造に由来する吸収が観測された。
・(D)トリアジンチオール3:アミノ基含有シリコーンオイルKF−8001:100g(アミン当量800、信越化学工業(株)製)、トリアジントリチオール23.3g、トルエン100gを温度計、水冷コンデンサーを備えた1Lセパラブルフラスコに投入し、100℃で12時間加熱攪拌し反応を進行させた。反応の進行と共に、混合物の粘度は増加し、増粘が停止したところで反応終了とした。その後、溶媒を減圧下で留去し、それとともに発生した硫化水素も除去した。得られた反応生成物は淡黄濁色のワックス状物質で、重量平均分子量は2000であった。この生成物のIRスペクトルを測定したところ、反応前と比べて、N−H構造に由来する吸収が減少し、新たにトリアジンチオール構造に由来する吸収が観測された。
・(D)トリアジンチオール4:アミノ基含有シリコーンオイルKF9192:100g(アミン当量800、信越化学工業(株)製)、トリアジントリチオール23.3g、トルエン100gを温度計、水冷コンデンサーを備えた1Lセパラブルフラスコに投入し、100℃で12時間加熱攪拌し反応を進行させた。反応の進行と共に、混合物の粘度は増加し、増粘が停止したところで反応終了とした。その後、溶媒を減圧下で留去し、それとともに発生した硫化水素も除去した。得られた反応生成物は淡黄濁色のワックス状物質で、重量平均分子量は2000であった。この生成物のIRスペクトルを測定したところ、反応前と比べて、N−H構造に由来する吸収が減少し、新たにトリアジンチオール構造に由来する吸収が観測された。
・イミダゾールシラン(商品名:IM−1000、新日鉄化学社製)
・(E)ビストリメトキシアルカン:ビス(トリメトキシシリル)ヘキサン(商品名:Z6830、東レ・ダウコーニング社製)
・(E)イソシアヌレートシラン:トリス(トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート(商品名:x−12−965、信越化学工業社製)
これに対して、実施例I−1〜7、実施例II−1〜7は、耐硫化性、室温安定性、加熱硬化性、透過性に優れる。
102、202 シリコーン樹脂層
120、220 部材
203 光半導体
300、400、500 光半導体封止体
301、501 マウント部材
302、502 凹部、シリコーン樹脂層
303、503 光半導体
304 枠体
306 斜線部(シリコーン樹脂層)
307、507 導電性ワイヤー
308 シリコーン樹脂層(その他の透明な層)
309 外部電極
312、314 端部
310、510 基板
320、520 リフレクタ
401 レンズ
506 樹脂
600 LED表示器
601 光半導体封止体
604 筐体
605 遮光部材
606 封止材
Claims (12)
- (A)シラノール基を有するオルガノポリシロキサン、
(B)アルコキシリル基を有するオルガノポリシロキサン、
(C)縮合触媒、並びに
(D)チアゾール化合物及び/又はトリアジン化合物を含有する加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。 - 前記(D)成分が2−メルカプトベンゾチアゾールを少なくとも含む請求項1に記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 前記(C)縮合触媒がAl、Zn、Sn、Zr、Hf、Tiおよびランタノイドからなる群から選ばれる少なくとも1種を含む金属化合物である請求項1または2に記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 前記(C)成分がZnの金属塩化合物とSnの金属塩化合物および/またはランタノイドの金属塩化合物とを少なくとも含み、前記Znの金属塩化合物に対する、前記Snの金属塩化合物および/またはランタノイドの金属塩化合物の重量比が1以下である請求項1〜3のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 前記(A)成分が、
下記式(1)で表されるジオルガノポリシロキサン、および/または、
R3SiO1/2単位(式中のRはそれぞれ非置換または置換の炭素数1〜6の1価の炭化水素基である。)及びSiO4/2単位を繰り返し単位で前記SiO4/2単位1モルに対し前記R3SiO1/2単位の割合が0.5モル〜1.2モルで有し、かつ前記シラノール基を6.0質量%未満有するシリコーンレジンを含む請求項1〜4のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
[式(1)中、R1は同一のまたは異なる、アルキル基、アリール基であり、nは10以上の整数である。] - 前記(D)成分の量が、前記(A)成分および前記(B)成分の合計100質量部に対して0.01〜10質量部である請求項1〜5のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 前記(C)成分の量が、前記(A)成分および前記(B)成分の合計100質量部に対して0.001〜10質量部である請求項1〜6のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 前記(B)成分の量が、前記(A)成分100質量部に対して0.1〜5000質量部である請求項1〜7のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- さらに(E)成分として、ビス(アルコキシシリル)アルカン、ビス(アルコキシシリルアルキル)アミンおよびイソシアヌレート化合物からなる群から選ばれる少なくとも1種を含有する請求項1〜8のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 前記(E)成分の量が、前記(A)成分および前記(B)成分の合計100質量部に対して0.1〜10質量部である請求項9に記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 前記シリコーンレジンが、さらに、SiO4/2単位1モルに対しR2SiO2/2単位(式中のRはそれぞれ非置換または置換のアリル基、アルキル基、アリール基である。)およびRSiO3/2単位(式中のRはそれぞれ非置換または置換の炭素数1〜6の1価の炭化水素基である。)のうち少なくとも1つを前記R2SiO2/2単位、前記RSiO3/2単位がそれぞれ1.0モル以下で、前記R2SiO2/2単位、前記RSiO3/2単位の合計が1.0モル以下となるように有する請求項5〜10のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物。
- 請求項1〜11のいずれかに記載の加熱硬化性シリコーン樹脂組成物が光半導体を封止してなる光半導体封止体。
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