JP2012174751A - マウンタ装置の加圧制御ヘッド - Google Patents
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Abstract
【解決手段】部品を吸着するノズル131の高さを位置決めするサーボモータ23と、ノズル131が吸着した部品を基板に押し付ける荷重を制御できる加圧制御ヘッド13とを備えるマウンタ装置であって、前記サーボモータ23を、ノズル131が部品を基板に加圧する加圧源としても利用し、前記サーボモータ23の指令レベル論理座標と実際座標の差によって生じる当該サーボモータ23の発生出力トルクにより加圧圧力を可変とする。
【選択図】図3
Description
特許文献1のように、搭載荷重を制御することのできる搭載ヘッドでは、XY機構上に載置されたマウンタヘッドのノズル先端が、XY動作によって、搭載する基板上の部品や、その他、基板周辺のマウンタ機構部に接触する可能性のない第1のZ軸高さと、ノズルの吸着している部品が基板面に接触を開始する直前の第2のZ軸高さと、部品が基板面に接触し、VCMなどによって加圧する第3のZ軸高さとを持っている。
特許文献1によれば、第1の高さから第2の高さへの移動はZ軸モータによりなされ、第2の高さから第3の高さへの移動はVCMによって実行される。
すなわち、特許文献1では、VCMを加圧手段とした場合は、ロードセルなどの荷重検出手段によってノズルへの印加荷重を計測し、目標荷重になるようVCMの出力をフィードバック制御する。
このようなVCM方式は比較的高精度であるが、高荷重を実現する場合にはVCMの大型化が避けられない。
また、特許文献2のように、電空レギュレータなどによって圧力制御された空気圧によって加圧力を得る方式においては、電空レギュレータやエアープランジャーなどのコストが高く、またヘッドサイズも比較的大きくなるため、広い荷重範囲を高精度に制御する場合に適用される。
すなわち、特許文献3のように、ばねの圧縮力/引張り力によって加圧力を得る方式においては、安価でコンパクトな構成を実現できる反面、1N〜50Nのように広い荷重範囲を持ったばねを用いる場合、高い精度を実現することが困難であるため、比較的に荷重範囲の狭い用途にしか適用できない。
<発明の概要1>
本発明では、Z軸を昇降駆動するZ軸モータを唯一の駆動源として、Z軸の昇降駆動と加圧制御を実現するものである。
このような目標を実現する構造としては、特許文献3に示されたように、加圧用のばねを設け、ばねの圧縮に応じた圧力をノズルに伝えるようにするのが一般的であるが、加圧用ばねを用いない工夫として、Z軸の目標高さ位置(=サーボモータの指令レベル論理座標)と実際の高さ位置(=サーボモータの実際座標)の差に応じて、サーボモータ(駆動回路に組み込まれた電流増幅回路が位置偏差と位置制御ゲインに応じた電流をモータ巻き線に通じる)の発生出力トルクが発生することを原理とした。
このため、ノズル先端を加圧すると、サーボモータの指令レベル論理座標と実際座標に差が生じ、モータの発生出力トルクが増加する現象を生じる。ノズルの圧力値が増減すると、前記「サーボモータの指令レベル論理座標と実際座標の差」が変化し、ばねを用いた加圧構造と同様な効果を生じる。
即ち、位置制御において目標位置と実際位置との偏差を検知した場合に、フィードバックゲインを高くした場合にはその偏差をゼロにするように高トルクで駆動されるが、ゲインが低い場合には低トルクで駆動されるため、この発生出力トルクを適宜の値になるようにゲインを選択することでばねの強さを任意に設定できる。
従って、後述するようにノズルに吸着した電子部品を降下して基板に当接する瞬間を検出するときのゲイン、及び基板面に電子部品を所定の圧力で所定時間押し圧する時のゲインを適宜に選択することで所望の荷重制御を行うことができる。
すなわち、XY機構上に載置されたマウンタヘッドのノズル先端が、XY動作によって、搭載する基板上の部品や、その他、基板周辺のマウンタ機構部に接触する可能性のない第1の高さから、ノズルの吸着している部品が基板面に接触を開始する直前の第2のZ軸高さまでは、搭載処理性能改善のためにZ軸を高速で移動させる。
そして、第2の高さから部品の加圧処理を含む部品搭載完了までは、Z軸モータを位置制御状態のまま低速度(4mm/秒程度)で下降(ノズルを基板面に向けて進める)させ、ロードセルの計測結果が設定された荷重に達したときにモータの駆動を停止する。
また、モータの実座標が目標座標に達するまでは、ロードセルの計測値が設定値を超えない限り下降を繰り返すよう制御される。
<マウンタの構造>
図1は電子部品実装装置(マウンタ装置)の概略構成図である。
図示のように、電子部品実装装置1は、中央部から少し後方で左右方向に延在する回路基板搬送路15と、装置1の前部(図示の下側)に配設され、回路基板10に実装される部品を供給する部品供給部11と、当該装置1の前部に配設されたX軸移動機構12とY軸移動機構14を備えている。
X軸移動機構12は、部品を吸着する吸着ノズル131を備えた搭載ヘッド部13(加圧制御ヘッド)をX軸方向に移動させる。
搭載ヘッド部13は、X軸移動機構12と接続されている。
Y軸移動機構14は、X軸移動機構12、並びに搭載ヘッド部13をY軸方向に移動させる。
搭載ヘッド部13は、吸着ノズル131を垂直方向(Z軸方向)に昇降可能に移動させるZ軸移動機構を備え、また、吸着ノズル131を、ノズル軸(吸着軸)を中心に回転させるθ軸移動機構を備えている。
また、搭載ヘッド部13には、支持部材に取付けるようにして、回路基板10上に形成された基板マークを撮像する基板認識カメラ17が搭載されている。
また、Y軸モータ22は、Y軸移動機構14の駆動源で、X軸移動機構12をY軸方向に駆動し、それにより搭載ヘッド部13はX軸方向とY軸方向に移動可能となる。
また、θ軸モータ24は、吸着ノズル131のθ軸回転機構(不図示)の駆動源で、吸着ノズル131をそのノズル中心軸(吸着軸)を中心にして回転させる。
そして、吸着された部品18を撮像した部品認識カメラ16から出力されるアナログの画像信号をA/D変換器271によりデジタル信号に変換してメモリ272に格納し、CPU273がその画像データに基づいて吸着された部品の認識を行なう。
すなわち、画像認識装置27は、部品中心と吸着角度を演算し、部品の吸着姿勢を認識する。
また、画像認識装置27は、基板認識カメラ17で撮像された基板マークの画像を処理して基板マーク位置を演算する。
また、画像認識装置27は、部品認識カメラ16で撮像された部品18の画像データと基板認識カメラ17で撮像された基板マークデータを処理して、両方の補正データを制御手段20へ転送する。
記憶装置30は、フラッシュメモリなどで構成され、キーボード28とマウス29により入力された部品データ、及び不図示のホストコンピュータから供給される部品データなどを格納するのに用いられる。
表示装置(モニタ)31は、部品データ、演算データ、及び部品認識カメラ16で撮像した部品18の画像などをその表示面311に表示する。
そして、部品供給装置11から供給される部品を吸着ノズル131で吸着し、搭載ヘッド部13を部品認識カメラ16上部に移動させて、部品を同カメラで撮像する。
撮像された部品の画像は、画像認識装置27で画像処理され、補正データを制御手段20へ転送する。
制御手段20は、記憶装置30から基板補正データと当該部品の部品データを読み出して、この部品データと前記転送された画像認識装置27で演算された部品中心と部品の傾きをもとに、部品の搭載位置と吸着姿勢を認識する。
続いて、部品搭載位置と部品中心と吸着中心間に位置ずれがあり、また、角度ずれが検出されると、これらの総合位置ずれと角度ずれがX軸モータ21、Y軸モータ22、θ軸モータ24を駆動することにより補正され、部品が所定の回路基板位置に正しい姿勢(基準角度)で搭載される。
搭載ヘッド部13上部には、垂直Z駆動部102を垂直上下動させるためのZ軸モータ23がベースフレーム100に固定され、このZ軸モータ23にカップリング110を介してボールねじのねじ部111が接続されている。
垂直回転駆動部軸受105は、内部にスプライン軸受107があり、スプライン軸であるノズルシャフト104と接続されている。
垂直回転駆動部軸受105の外周部には、回転ベアリング106が取付けられている。この回転ベアリング106の外周がベースフレーム100に固定されていて、ノズルシャフト104は、垂直回転駆動部軸受105によって回転動作と上下動作ができるように固定されている。
従って、Z軸モータ23を回転動作させることにより、ボールねじのナット部118によって垂直Z駆動部102が上下に駆動される構造となっていて、ノズルシャフト104及び吸着ノズル131を上下駆動動作できる。
垂直Z駆動部102のノズルシャフト104とボールねじのナット部109の間に円形の穴形状である変形部112が設けられている。この変形部112に、ひずみゲージ113が取付けられている。
ひずみゲージ113は、ひずみゲージ113の出力電圧と荷重値の関係は、予め校正をとって図4のような関係をとり、コントローラ20に保存してある。
なお、ひずみゲージ113は、適切な構造変更を伴ってロードセルに置き換えることができる。
電子部品18を吸着した搭載ヘッド部13を部品認識カメラ16の上方へ移動し、電子部品18を認識する。
認識を完了した後に搭載ヘッド部13を移動し、回路基板10上の電子部品18の搭載予定部に搭載ヘッド部13にて電子部品18を吸着して部品認識カメラ16上に移動し、電子部品18を部品認識カメラ16上で認識し、回路基板10上の搭載位置へ移動して搭載を行う。
吸着ノズル131に吸着された部品18を、搭載する回路基板10への搭載高さ直前位置(Z1)まで高速で降下させる。
その後、Z軸モータ23を駆動して、吸着ノズル131に吸着された部品18を4mm/秒程度の低速度で下降させて衝撃荷重を押さえつつ、目標搭載高さまで下降させる。
電子部品18の下面が回路基板10に接触(0)すると検出部112が変形し、ひずみゲージ113の出力に変化(L0→L1)が生じる。
さらに、ひずみゲージ113の出力が目標の加圧量になるようにZ軸モータ23を駆動させる。
ひずみゲージ113の出力が目標荷重値に対応する出力(L2)となった時にZ軸モータ23を停止させる。
電子部品18を加圧搭載した後にバキュームエアをOFFし、Z軸モータ23を動作させて垂直Z軸駆動部102及び吸着ノズル131を上昇させる。
その後、次の電子部品の吸着位置へ移動が行なわれる。
その後、原点復帰速度10mm/秒にて、上昇をさせる。
原点センサ114の検出ONの高さ(A0)をZ軸モータのエンコーダ値から読取り、CPU27Cに記憶しておく。
Z軸駆動部102が原点センサ114を検出した直後に検出されるZ軸モータ23のエンコーダ原点の位置を、Z軸駆動部102の原点とすることで、電源オフ/オンを繰り返してもZ軸原点の高精度な再現性が得られる。
図5において、「1」はXY機構上に載置されたマウンタヘッドのノズル先端が、XY動作によって、搭載する基板上の部品や、その他基板周辺のマウンタ機構部に接触する可能性のない第1の高さであり、「2」はノズルの吸着している部品が基板面に接触を開始する直前の第2のZ軸高さである。
ここで、モータ速度を低速(4mm/秒)として、モータ位置制御モードにおいて発生トルクを生成するゲインを、必要とする設定荷重に応じて設定する。前記発生出力トルクを、前記サーボモータの位置フィードバックゲインを含む制御パラメータに基づいて可変する。
その他、ゲインの制御パラメータとしての設定特性を、積分補償型ゲインパラメータを少なく設定したゲインに変更する。
サーボモータの発生トルクは位置フィードバックゲインと位置偏差に応じて決まるが、位置偏差量とその状態の継続時間に応じても発生トルクのフィードバック調整が機能するため、積分補償型ゲインなどの時間軸を要素とするフィードバック機能を小さく設定し、安定な加圧力を得ようとするものである。
発生トルクは、設定ゲイン10〜設定ゲイン100を数値10ごとに評価している。
このように、モータ軸変移角度とゲインとモータ出力トルクはおおむね比例関係にある。従って、前記のように設定荷重 (部品の種別により異なる部品の基板面への押圧力) 対応して、発生出力トルクを前記サーボモータのフィードバックゲインを選択することにより調節することができる。
前記部品が基板面に当接した直後に縦軸に示す荷重は急峻に立ち上がり、以降時間の推移に比例して荷重が増加する。
この急峻に立ち上がる荷重部分は、主にヘッド可動部の持つ質量による衝撃荷重が計測されたものである。
実装機の操作設定により、最低加圧継続時間が設定されている場合は、「5」まで指定圧力を維持するために、ロードセルの計測結果に応じてZ軸モータの降下/上昇を繰り返すことが可能となっている。
ロードセルの計測結果が設定荷重を上回ったことにより、Z軸モータの降下を瞬時に停止することが望ましい。
この反応に遅延が有ると、その分モータの目標座標が進みモータ軸の発生トルクが過大となってしまう。
このため、本発明の荷重方式では、通常のサーボアンプを直接マウンタ制御部からコントロールして荷重制御を実現させることができる。
従って、荷重制御のためにロードセルの計測結果を参照して、モータ軸やVCMまたは電空レギュレータを高速にフィードバック制御するような特別な制御系を設ける必要がない。
すなわち、ばね加圧式の構造では、コネクタ挿入処理のように負荷荷重のピーク(抜け防止の返し部の通過が最大負荷となるため)を通過した直後、急激に負荷が小さくなってしまうような特性を持った負荷であると、ばねのたわみ量に相当する軸のオーバーシュートが発生し、衝撃荷重によって部品にダメージを与える恐れがある。
これに対し、本方式では、前記最大ずれ量が制限されているため、負荷変動に対する位置のオーバーシュートが小さく、衝撃荷重を小さく抑えることができる。
本発明は、部品供給部から部品を取出して基板上に荷重制御しながら装着する搭載ヘッドにおいて、目標の加圧量を維持する動作維持の際に、軸の移動量を軸が動作する最小変位量を移動単位として、微小に動作させながら荷重制御するものである。
このチップ部品マウント装置は、チャック手段に保持されたチップ部品を基体のマウント部に載置して加圧する際、前記チャック手段を駆動するリニアモータのトルクを徐々に増加し、チップ部品に対する荷重を徐々に増加する。
すなわち、荷重制御時に荷重の変動が小さく、出力するモータトルクが微小だった場合、機械的な摺動抵抗やバックラッシなどの影響もあり、軸がほとんど動作せず、加圧部先端にまで動作の変化が見られずに、荷重の変化が見られないということになり、そのため、荷重値のズレやばらつきの増加などにつながる問題があった。
図8において、前述した実施形態1と同様、13は搭載ヘッド部、23はZ軸モータ、24はθ軸モータ、100はベースフレーム、101はリニアガイド、102は垂直Z駆動部、104はノズルシャフト、109はタイミングベルト、110はカップリング、111はボールねじのねじ部、118はボールねじのナット部、131は吸着ノズルである。
「1」1段階目下降:目標位置まで指定速度(デフォルト:最高速)で下降する。
「2」ゲイン切替え:荷重制御切替え高さに到達したら(この場合接触時)、軸のゲインを荷重制御用ゲインに切替え、軸速度を第一速度に切替える。
ここで言う間欠動作とは、20[μm]移動→停止し、ロードセル値読込み→20[μm]移動の繰返し動作のことを言う。
「5」維持:指定加圧時間中モータ電流値監視&指定荷重維持する。
「6」完了:ゲインを通常動作用のゲインに切替え、上昇動作する。
送り量が小さい時は、図10のような波形となり、同荷重を繰返し荷重した時のばらつき(3σ)=±1.34[N]であった。
図16のように、送り量を大きくすることで、同荷重を繰返し荷重した時のばらつき(3σ)=±0.15[N]と約1/10にすることが可能である。
すなわち、モータ軸が必ず動作する最小の送り量としているので、モータの目標座標のみが変化し、ノズル先端が動かないということが起きないので、確実に荷重制御をすることができる。
実施形態3では、1[msec]間隔で20[μm]送りをしたが、時間間隔をもっと小さくし、高周波で送ることにより、実際のノズル先端の荷重の変化を更に小さくすることができる。
なお、送り量と時間間隔は、装置の構成によって決まり、実施形態の値に決まるものではない。
本発明は、部品吸着ノズル内で上下移動するノズルスライダー部の動きを規制するストッパー部を有し、ノズルとノズルスライダーの間に弾性体を有し、前記弾性体は、部品吸着ノズルの押込み量に応じて荷重が変化するように構成された、電子部品を基板上に搭載する電子部品搭載装置において、低い加圧量のときは、弾性体により加圧を行い、高い加圧量のときは、ノズルは、ストッパーに当接し剛体の状態で加圧するものである。
この装置では、駆動源の回転力をボールねじに伝えることで、スライダー部の上下方向の微小な動作を行う。電子部品を加圧搭載するときは、スライダー部上部に配置された加圧用駆動源(サーボモータ)の回転力を加圧ツールへリニアガイドを通じて伝達し、スライダー部を基板方向へ押し出すことで加圧を行う。スライダー部は圧縮ばねにより上方向へ常時引き上げられており、またスライダー部は上下方向の駆動源と加圧用駆動源と切り離されているので、上下方向の微小動作と加圧動作を切り離して動作することができる。
1)衝撃荷重が大きくなる
加圧するためのユニットが完全にリジット(剛体)の場合、加圧を行う際に基板との接触時の衝撃緩和のために、ユニットの下降速度を極力抑える必要があり、搭載時間が長くなる。
2)目標荷重までの到達時間が長くなる
前記衝撃荷重を抑えるために下降速度を抑えるため、目標荷重までの到達時間が長くなる。
3)微小荷重の制御が難しい
加圧するためのユニットが完全にリジット(剛体)の場合、押込み量(変位量)に対する加圧量が大きいため、微小な荷重制御が難しく、目標荷重値とのズレが発生したり、バラツキが大きくなる。
図12は本発明の一実施例として電子部品搭載装置の構成を示すもので、部品搭載ヘッド201、ボールネジやベルトと組み合わせたモータ、もしくはリニアモータ等で駆動されるX軸フレーム202、Yフレーム軸203、基板搬送部204、部品供給部205からなる電子部品搭載装置を示したものである。
また、X軸フレーム202上に設置された部品搭載ヘッド201は、X軸フレーム202に沿って移動し、X軸フレーム202は直交したY軸フレーム3に沿って移動するXYユニットである。
部品搭載ヘッド201には上下方向に移動可能な搭載部品を吸着するノズルが装着されており、基板搬送部204によって搬送され固定された基板に対して、部品供給部205で供給された部品をノズルで真空吸着してからその部品を基板に搭載することができる。
スライダー部223にはガイドナット210aがあり、固定ブラケット207に取り付けられたリニアガイドレール210bと連結することでスムーズに上下動を行うことができる。
また、スライダー部223の中空ロードセル222内の軸受によってスプラインシャフト206、カップリング209、ノズルシャフト212、ノズル214の上下方向を保持しており、スライダー部223と一緒に上下動することで電子部品215を吸着・搭載する。
なお、213はボールブッシュ、219はスラスト軸受である。
スプラインシャフト206とノズルシャフト212はカップリング209によって直結されているので、スプラインシャフト206が回転するとノズルシャフト212が回転し、電子部品15を回転させる。
ノズルが通常状態からリジット状態になるまでのストローク229を極力小さくすることで、ノズルばね228圧以上の目標荷重までの到達時間を早くすることができる。
つまり、ノズルばね228を用いた加圧量は最大でF1であり、これは図15(b)に示すノズルストローク229がゼロになり、ノズル214がリジットになる加圧量である。図16における加圧量F2は、ノズルばね228の圧縮途中が目標荷重値であることを示す。
図16の加圧量F3はノズル214がリジットになる加圧量F1より大きい加圧量であり、加圧量F3へ達するまでは加圧波形の傾きが二つ存在することとなる。
1)衝撃を緩和することができる
ノズルばねの初期荷重を低くすることで、基板に接触した時の衝撃荷重を小さくすることができ、下降速度を抑える必要が無く、早い時間で目標荷重に到達することができる。
2)高速に目標荷重まで加圧できる
低い加圧量の時は、ノズルばねが圧縮されストッパーに当たる前に目標加圧量になるので、目標加圧への到達時間が短い。
また、ノズルばねのストロークを極力小さくすることで、ノズルがリジットになり、高荷重領域までの到達時間を早めることができる。
3)低い加圧量の時に高精度に制御ができる
加圧量が低い時は、ノズルばねにより、変位量に対する加圧量の変化が小さいので、精度良く、制御することができる。
実施形態3では、Zスライダー部に荷重検出用のロードセルを組み込んだ方式を用いたが、荷重検出をZモータの負荷トルクで検出するトルク制御においても同様の効果が認められる。
本発明は、電子部品を吸着ノズルにより、部品供給部より基板上へ移動搭載するマウンタ装置であり、吸着ノズルが部品を基板面に押し付ける圧力を検出するセンサを有すると共に、ノズルの押し付け力が、専用の加圧モータ、または、ノズルの昇降手段の推力より得られる構造であって、加圧力の設定範囲の50%未満の範囲で、前記圧力センサの出力を参照して、加圧制御し、前記加圧範囲を超える部分はモータの電流値を参照して加圧制御する方式である。
さらに、その加圧力の設定範囲の50%未満の範囲で得た圧力センサの出力値と、モータの電流値とが比例関係にあることを利用し、前記加圧範囲を超える部分はモータの電流値から加圧力を推測して加圧制御する。
そのメリットは、高加圧用の圧力検出部は、低加圧の時、ノイズなどの影響で上手く読み取れないという問題を解決できることである。
図17に圧力検出部の電気的に良い環境における無負荷時の出力の一例を示した。
しかし、加圧検出部は一般的に高価であり、前記特許第2877120号公報の方法では、これを二個以上使わなくてはならないというデメリットがあった。
図18に実施において必要な機械的構成を示す。図中、前述した実施形態1と同様、13は搭載ヘッド部、18は電子部品、23はZ軸モータ、24はθ軸モータ、100はベースフレーム、101はリニアガイド、102は垂直Z駆動部、104はノズルシャフト、105は垂直回転駆動部軸受、106は回転ベアリング、107はスプライン軸受、108はθモータプーリ、109はタイミングベルト、110はカップリング、111はボールねじのねじ部、118はボールねじのナット部、131は吸着ノズルであって、143はロータリブッシュベアリング、144は加圧検出部、150は加圧用の台である。
この構成では、吸着ノズル131が鉛直上方へ押される力を、ノズル軸104に設けられた圧力検出部144で検出する。
また、本実施例で使用するZ軸モータ23はサーボモータである。
その指令に基づいて、サーボドライバ124はモータ駆動電流をZ軸モータ(サーボモータ)23に出す。なお、モータエンコーダ123からモータ位置情報がサーボドライバ124に取り入れられる。
次に、図18の加圧用の台150へ、ノズル131を押し当て、モータ23を駆動してZ軸を徐々に下降させ(ステップS22)、圧力検出部144が10Nを検出(ステップS23)した時のモータ駆動電流I10を記憶しておく(ステップS24)。
一般的に、サーボモータの電流と加圧力は、モータの回転数が変わらなければ比例することから、10Nから100Nまでの加圧力は、0N時と10N時の電流値から推測が可能なので、これをCPU125にて演算し、記憶しておく。
この関係を図21に示した。
そして、加圧指令が10Nを超える高加圧領域では、圧力検出部144を使用せず、図21の特性とモータ駆動電流から推測した加圧値を使用する。
この時の手順を図22に示す。
続いて、記憶した指令値は低加圧領域か?を判別し(ステップS32)、低加圧領域であれば次のステップS33に進み、低加圧領域でなければ図23のステップS36に進む。
ステップS33では、電子部品をノズルへ吸着し、搭載位置までヘッドをXY方向へ移動させる。
続いて、電子部品を搭載する基板へ向けて低速で下降させる(ステップS34)。
次に、加圧値が指令値を超えたか?を判別し(ステップS35)、指令値を超えていれば処理を終了し、指令値を超えていなければステップS34に戻って以降の処理を繰り返す。
続いて、電子部品をノズルへ吸着し、搭載位置までヘッドをXY方向へ移動させる(ステップS37)。
続いて、電子部品を搭載する基板へ向けて低速で下降させる(ステップS38)。
次に、モータ電流値が指令値を超えたか?を判別し(ステップS39)、指令値を超えていれば処理を終了し、指令値を超えていなければステップS38に戻って以降の処理を繰り返す。
本発明は、前述した発明の概要1の加圧制御システムにおいて、加圧制御時の異常状態判定結果に加えて、ノズルの先端座標、ロードセルでの計測荷重値、部品種に基づき異常検知時の対応動作を切り分けるものである。
さらに、部品が基板から受ける衝撃荷重を許容範囲内に抑制する手段として、部品種ごとに規定された衝撃時間、部品搭載時のZ軸方向移動速度に基づいて算出された衝撃荷重計算結果が部品の許容衝撃荷重を超過しない範囲で、最大のZ方向移動速度を算出する。
本実施例では、前述した実施形態1の図7において、加圧時間経過後、バキュームエアをOFFし、荷重制御用に変更されたモータゲインを元に戻すため、目標座標と実座標の乖離が無くなる座標にZ軸を移動させた後、ゲインを元に戻し高速で上昇動作を行い、次部品の吸着動作に移行する。
前述の様に、荷重動作時は、ノズル先端の目標座標に対する最大遅れ量が0.75mmとなるようなゲインが設定されている。これは、図24で示すとおり、指定荷重ごとの最大遅れ量が一定となるゲインを設定することにより、荷重制御時のノズル先端座標を高精度に制御するためのものである。
荷重制御用ゲインは、指定された荷重を元に、比例要素・微分要素・積分要素等のパラメータ値を計算により求める方法と、予め規定されたテーブルから取得する方法がある。
上記実施例では、荷重制御動作時の軸動作速度は低速(4mm/s程度)としているが、軸の動作速度を遅くする事は搭載タクトに影響を与えるため、性能改善の点からなるべく高速の動作が望ましい。
荷重制御時の動作決定条件としては以下の二点が挙げられる。
1)衝突(基板接触)荷重が指定荷重以下であること。
2)反応遅れ許容時間の荷重変化量が制御精度を上回らないこと。
そこで、荷重制御の予備動作として、実際に搭載する部品を吸着し、基板上で荷重動作を行い、接触荷重を測定することで上記二点を満足する最適な下降速度を求める。
この場合、接触後の下降速度は接触荷重を最大値で計算するため0mm/s(一瞬停止)に近似し、衝突時間は予め部品種や部品形状、基板厚等のデータに対する時間を内部テーブルで持ち、生産プログラムの情報から最適な衝突時間を採用し、接触荷重を計算する。
下降速度を計算により算出した場合は、実際との部品の誤差を修正するため、生産動作時の接触荷重をフィードバックし、下降速度を微調整する。
搭載荷重を制御する目的は搭載部品によって様々であり、そのため広い加圧範囲と加圧精度が要求されている。
1)ウェハダイなど薄弱な部品であり、過大な負荷を掛けると部品が破損してしまうため、部品に掛かる荷重値を一定値以下で制御したい。
2)バンプ部品にて、バンプの大きさ(高さ)が均一でなく、搭載時に全てのバンプが正確に接地しない可能性があるため、一定の力で加圧してバンプの高さを均一にしたい。
3)コネクタ部品の圧入を行いたい。
このような目的が異なる動作では、異常動作の判定条件や、異常動作時の対応を切替えることが望ましい。
実施形態1の図5の「2」基板面に接触を開始する直前の第2Z高さまで下降する(ステップS41)。
2)荷重値取得
第2Z高さでモータ速度やゲインを切替える前にロードセルの荷重値を取得する(ステップS42)。
3)荷重値判定
第2Z高さでロードセルに荷重が掛かっている場合は正しい部品が既に接触しているか、正しい荷重値が取得できていないためエラーとする(ステップS43)。
4)荷重動作開始
モータ速度やゲインの変更を行い、下降動作を開始する(ステップS44)。
リアルタイムでロードセルの荷重値を監視する荷重監視タスクを起動し、荷重値の監視を開始する(ステップS51)。
5)イベント受信
荷重監視タスクから、ロードセルの荷重値が0から変化した時(ステップS52)や、指定荷重を大幅にオーバした荷重を検知した時(ステップS53)など、エラー判定を行う時にイベント通知を受信する(ステップS45)。
6)Z軸高さ取得
エラー判定を行うため、イベント受信時のZ軸高さを取得する(ステップS46)。
7)エラー判定
部品種や部品外形寸法等を使用し、エラー判定を行う(ステップS47)。
エラー判定条件の詳細は表1に示す。
8)加圧時間経過
指定荷重時間の加圧動作が完了するまで上記1)〜8)の処理を繰り返す(ステップS48)。
9)荷重監視終了イベント発行
指定荷重時間の加圧動作が完了したら荷重監視タスクに終了イベントを発行し、荷重動作を終了する(ステップS49)。
10)エラー処理
荷重エラー時のエラー処理を実行する(ステップS50)。
本発明は、Z軸モータの電流値から印加荷重を検出し、Z軸モータを制御することにより部品を基板に押し付けることで印加荷重を制御する加圧制御ヘッドにおいて、予め記憶していたZ軸座標に対するコギングトルクを加圧動作時に補正値として使用することにより、加圧搭載時の加圧精度を向上させることを可能としたものである。
さらに、コギングトルクの大きさをZ軸座標に応じて記憶する。
また、Z軸モータの電流値をZ軸座標またはZ軸モータの回転角度に応じて補正し、コギングトルクの影響を低減することで、加圧搭載時の加圧精度を向上させることを可能とする。
また、加圧動作時にコギングトルクの補正値として使用する補正値を、軸ゲインや動作速度を加圧搭載時と同じ状態にして取得することにより、補正値の精度を向上させ加圧搭載時の加圧精度を向上させることを可能とする。
また、加圧搭載時の動作ゲインや動作方法の違いによるコギングトルクの変化を、記憶領域に保存されたコギングトルクデータを使用し、補正式による変換を行うことで、動作状態の変化によるコギングトルクの変化を吸収し、高精度での加圧搭載を維持することを可能とする。
前述した実施形態1の荷重検出手段を用いずに加圧搭載を行うヘッド構成例において、Z軸可動部とZ軸モータをボールねじを介して直結にすることで、電子部品への印加荷重がモータにダイレクトに伝わるようにしている。
これにより、部品とモータ間の印加荷重の誤差発生部はボールねじとクロスローラガイドに限定され、これらの摺動抵抗を低減することにより、部品とモータ間の誤差が小さくなり、低荷重領域での加圧搭載が実現可能となる。
また、サーボモータはモータ動作時の内部抵抗となるコギングトルクを持っており、一般的には定格トルクの5%〜10%程度とされている。
Z軸可動部は高速で動作することを前提とした設計がされているため、通常の高速動作時の動作トルクが100%になるようなモータ選定がされている。
上記構造の加圧ヘッドでは、低荷重の加圧を行う場合に、モータの動作トルクを10%以下に低下させることがある。このように低出力領域で使用するとコギングトルクの影響を受け、正しい加圧動作が行えない問題が発生する。
前述したヘッド構成において、加圧搭載時と同じ条件でZ軸を一定速度で下降させたときの電流値波形を図26に示す。
Z軸を一定速度で下降させているため、電流値は一定値となるはずのものがコギングトルクによる影響で周期的に電流値に変動が起きている事がわかる。図26の波形は2回分の測定結果を示すものであるが、1回目と2回目の測定結果には差異が無く安定している。
なお、コギングトルクが経時変化しない特性である事は周知である。
図26で使用したモータの場合、電流値の変動幅は定格トルクの−2%〜+1%となっており、この変動幅を荷重値に換算するとおおよそ3N程度の幅で電流値が振動していることになる。
これは、加圧搭載時には3N程度の誤差を伴うことになることを示している。
ヘッド部の組付け調整段階で、モータのコギングトルク値の取得を行う。コギングトルク値の取得は、加圧動作時により近いゲイン設定、動作状態で行う。
2)加圧搭載範囲の上限高さへ移動し、軸ゲインを加圧搭載用ゲインに変更する(ステップS63、ステップS64)。
加圧搭載範囲内のデータを取得するため、加圧搭載範囲の上限高さを測定開始高さとする(ステップS65)。
3)Z軸を任意の移動量(10μm)下降させ、軸移動完了後、電流値の整定を待って現在座標値とその時の電流値を取得する(ステップS66)。
軸座標は、摺動抵抗を考慮し指令座標ではなく実座標とする。
4)取得した現在座標と電流値を内部テーブルに保存する(ステップS67)。
5)前述した3)、4)を加圧搭載範囲の下限高さまで繰り返す(ステップS68)。
6)前述した2)〜5)を複数回(5回)行う(ステップS69)。
7)内部テーブルの平均値を、各Z軸座標に対するコギングトルク値として採用し、記憶領域に保存する(ステップS70)。
加圧搭載動作時は、加圧搭載範囲上限高さまで高速でZ軸を下降させ、ゲインの切り替えを行う。その後、加圧搭載用の動作プロファイルで下降を行い、基板への当接検知や目標荷重での加圧動作を行う。
一定周期でモータ電流値とZ軸座標をサンプリングし、サンプリングしたZ軸座標に応じたコギングトルク値を記憶領域に保存されているコギングトルクテーブルより選択し、取得した電流値からコギングトルクの影響分を除外した物を実印加荷重とする。
補正するコギングトルク値はコギングトルクテーブルのZ軸座標と加圧搭載時の実座標から近似座標の直線補完により算出する。
このことにより、全ての加圧領域においてコギングトルクの影響が除外できるため、加圧精度が向上できる。
加圧搭載動作は、低荷重領域から高荷重領域までの加圧搭載を対象としている。
そのため、低荷重領域時と、高荷重領域時では、ゲイン設定や動作プロファイル、動作シーケンスが異なってくる。
波形の周期は変化していないが、荷重ゲイン時と比較すると、通常ゲイン時の波形は振幅が大きくなっている。
ゲイン切り替えは軸を停止状態(サーボロック状態)で行っている。
「2」部は加圧搭載時のゲインで軸動作を開始した時の電流値変化である。
停止時の電流値から駆動電流分変化があり、定速状態になるとコギングの影響が出ていることを示している。
これらの変化の影響を排除するために、軸状態別のコギングトルク算出パラメータを使用する。
この算出パラメータを使用することにより、コギングトルクテーブルの取得方法を変更したり、コギングテーブルを状態別に複数記憶することなく、動作ゲインや動作シーケンスの変更に対応することが可能となる。
上記実施例では、全ての加圧搭載範囲に対してコギングトルク値を取得し、コギングトルクテーブルから近似値を取得する方法で行ってきたが、計算による取得方法も可能である。
オフセット値A =(Z1÷(T×4)の余り値)−(T×4)
適用周期番号(テーブル番号)=(Z0−A)÷Tの解
データ番号 = (Z0−A)÷Tの余り値をテーブルデータの刻み幅で割った値
となり、テーブル[テーブル番号][データ番号]のデータが補正するコギングトルク値となる。
そして、周期(テーブル)ごとに平均値を算出して(ステップS84)、適用テーブル検索式を算出する(ステップS85)。
コギングトルク周期を1.5mm、データの刻みが10μm、Z1の値が33mmの時、2mm時のコギングトルク値は
A=33mm÷(1.5mm×4)= 5…3−(1.5mm×4)
よってA=−3mm
テーブル番号=((2mm−(−3mm)) ÷ 1.5 = 3…1
よってテーブル番号=3
データ番号=1mm÷10μm =100
よってテーブル[3][100]に保存されているトルク値を補正値として使用する。
また、データの刻み幅が大きい場合は前後のデータで直線補完することも可能である。
さらに、精度的には劣るがコギングトルク値をY値、Z軸座標をX値とした多次元式に変換して記憶することも可能である。
1)コギングトルクの大きさに関わらず、低荷重領域での加圧搭載動作が実現可能となる。
2)コギングトルクの影響を排除し、高精度な加圧搭載動作が実現可能となる。
3)動作ゲインや動作状態の切り替えによって、発生するコギングトルク値に変化があっても動的にコギングトルク値を計算することが可能となる。
10 基板
13 搭載ヘッド部(加圧制御ヘッド)
131 吸着ノズル
132 衝撃緩衝ばね
18 電子部品
23 サーボモータ
Claims (4)
- 部品を吸着するノズルの高さを位置決めするサーボモータと、ノズルが吸着した部品を基板に押し付ける荷重を制御できる加圧制御ヘッドとを備えるマウンタ装置であって、
前記サーボモータを、前記ノズルが部品を基板に加圧する加圧源としても利用し、
前記サーボモータの指令レベル論理座標と実際座標の差によって生じる当該サーボモータの発生出力トルクにより加圧圧力を可変とすることを特徴とするマウンタ装置の加圧制御ヘッド。 - 前記発生出力トルクを、前記サーボモータの設定荷重に対応したゲインを設定することで調節することを特徴とする請求項1に記載のマウンタ装置の加圧制御ヘッド。
- 前記発生出力トルクを、前記サーボモータの位置フィードバックゲインを含む制御パラメータに基づいて可変とするようにしたことを特徴とする請求項1に記載のマウンタ装置の加圧制御ヘッド。
- 前記制御パラメータは、積分補償型ゲインパラメータの有効性を低く設定したものであることを特徴とする請求項3に記載のマウンタ装置の加圧制御ヘッド。
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