JP2011192929A - 半導体位置検出器および光センサー - Google Patents
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Abstract
【解決手段】受光面を形成する半導体層2と、半導体層の両端部に半導体層に流れる電流を電極3a,bとを有する光センサーを用い、受光面上の入射光位置により電極から検出される電流値がそれぞれ変化することに基づき位置検出をおこなう半導体位置検出器において、半導体層はP型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるP型有機半導体層2aと、N型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるN型有機半導体層2bとを積層した構成を有し、半導体層がアンバイポーラー性を有する。
【選択図】図1
Description
また、請求項2の発明は、請求項1の半導体位置検出器において、上記半導体層を構成するN型有機半導体層の芳香族化合物薄膜として、フラーレン骨格を有する化合物を用いることを特徴とするものである。
また、請求項3の発明は、請求項1または2の半導体位置検出器において、上記半導体層を構成するP型有機半導体層の芳香族化合物薄膜としてビチオフェン骨格を有する化合物を用いることを特徴とするものである。
また、請求項4の発明は、請求項1、2または3の何れかの半導体位置検出器において、上記N型有機半導体層におけるキャリア移動度と、上記P型有機半導体層におけるキャリア移動度がほぼ等しくなるように、上記半導体層に電圧を印加することを特徴とするものである。
また、請求項5の発明は、支持基板と、受光面を形成する半導体層と、該半導体層の両端部に流れる電流をそれぞれ検出するための電極とを有する光センサーにおいて、上記半導体層はP型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるP型有機半導体層と、N型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるN型有機半導体層とを積層した構造であり、該半導体層がアンバイポーラー性を有することを特徴とするものである。
本発明においては、半導体層はP型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるP型有機半導体層と、N型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるN型有機半導体層とを積層し、これらがアンバイポーラー性を有する構成である。従来の半導体層としてP型特性を有する芳香族化合物薄膜、または、N型特性を有する芳香族化合物薄膜の何れかを用いた構成の光センサーは、入射光により発生したホール電流、または、電子電流のいずれかを流すものである。これに対して、本発明の構成は、ホール電流と電子電流との両方をそれぞれ流すことを可能としている。ホール電流と電子電流との両方がそれぞれ流れることで電荷輸送能力が向上するため、電極間距離を従来の有機材料を用いた光センサーよりも長くしても、光キャリアを効率よく検出することが可能であり、位置検出器としての利用が可能となる。このように、本構成の半導体位置検出器は、成形性、可撓性、生産性、コスト面に優れる有機材料を用い、且つ、半導体層を上記構成とすることで位置検出器としての利用が可能とする。
図1は、本実施形態にかかる半導体位置検出器の断面図である。支持基板4上に、ゲート電極及びゲート絶縁膜1と、半導体層2としてのP型有機半導体層2a、N型有機半導体層2bとが順次積層形成されたものである。さらに、半導体層2の上には、電子電流およびホール電流を取り出すための電極3a、3bを形成する。なお、P型有機半導体層とN型有機半導体層はどちらが先に形成されてもいいが、ここでは、下層として先にP型有機半導体層2aを形成した例で説明をおこなう。
また、例えば、ポリイミド、ポリビニルアルコール、ポリビニルフェノール、ポリエステル、ポリエチレン、ポリフェニレンスルフィド、無置換またはハロゲン原子置換ポリパラキシリレン、ポリアクリロニトリル、シアノエチルプルラン等の高分子化合物を用いることができる。
さらに、上記絶縁材料を2種以上合わせて用いても良い。特に材料は限定されないが、中でも誘電率が高く、導電率が低いものが好ましい。
上記材料を用いた絶縁膜層の作製方法としては、例えば、CVD法、プラズマCVD法、プラズマ重合法、蒸着法のドライプロセスや、スプレーコート法、スピンコート法、ディップコート法、インクジェット法、キャスト法、ブレードコート法、バーコート法等の塗布によるウェットプロセスが挙げられる。
<実施例>
膜厚300nmの熱酸化膜を形成し、さらに浸漬によりオクチルトリクロロシラン処理を施したNドープSi基板4上に、半導体層2として、P型半導体特性を示す(化4)のビチオフェン骨格を有する5,5‘−ビス(4−ヘキシルオキシフェニル)2,2’−ビチオフェンを25nm、N型半導体特性を示すフラーレンを有する化合物C60を55nmを、それぞれ真空蒸着法にて順次成膜した。その後、これらの積層構成の半導体層2の上に、信号取り出し電極3a、bをそれぞれ真空蒸着法にて成膜した。この時、光キャリア発生領域が2mm×50μmとなるシャドーマスクによりパターニングを行った。
膜厚300nmの熱酸化膜を形成したNドープSi基板上に、半導体層2として、(化4)に示すビチオフェン骨格を有するPTTP系化合物、5,5‘−ビス(4−ヘキシルオキシフェニル)2,2’−ビチオフェンを100nmを真空蒸着法にて成膜した。その後、単層の半導体層2の上に、信号取り出し電極3a、bをそれぞれ真空蒸着法にて成膜した。Si基板4のNドープ部分をゲート電極とし、熱酸化膜をゲート絶縁膜1、信号取り出し電極3a,bを、それぞれソース電極(アース)、ドレイン電極(−100V)とした。ゲート電圧を0Vから−100Vまで変化させ半導体特性を確認したところ、図2に示すようにP型半導体特性を示し、その移動度は0.1cm2/Vsであった。次に、ゲート電極に−5V印加し、ソース電極を0V、ドレイン電極を0Vから−10Vまで変化させた場合の光照射の有無によるドレイン電流の変化を調べたが、大きな電流値の違いは確認されなかった。
膜厚300nmの熱酸化膜を形成したNドープSi基板上に、半導体層2として、フラーレン化合物であるC60を100nmを真空蒸着法にて順次成膜した。その後、単層の半導体層2の上に、信号取り出し電極3a、bをそれぞれ真空蒸着法にて成膜した。Si基板4のNドープ部分をゲート電極とし、熱酸化膜をゲート絶縁膜1、信号取り出し電極3a,bを、それぞれソース電極(アース)、ドレイン電極(+100V)とした。ゲート電圧を0Vから+100Vまで変化させ半導体特性を確認したところ、図3に示すようにN型半導体特性を示し、その移動度は1.5cm2/Vsであった。次に、ゲート電極に−5V印加し、ソース電極を0V、ドレイン電極を0Vから−10Vまで変化させた場合の光照射の有無によるドレイン電流の変化を調べたが、大きな電流値の違いは確認されなかった。
実施例において、膜厚300nmの熱酸化膜を形成した後、オクチルトリクロロシラン処理を施さずに酸素プラズマ洗浄による洗浄のみをおこなったNドープSi基板4上に使用した。他の条件は、実施例と同様である。このような構成で、実施例と同様に電気特性を調べたところ、P型半導体特性のみが得られアンバイポーラー性は確認されなかった。また同様に光照射の有無によるドレイン電流の変化を調べたが、大きな電流量の違いは確認されなかった。
また、本実施形態によれば、半導体層2を構成するN型有機半導体層2bの芳香族化合物薄膜として、フラーレン骨格を有する化合物を用いることにより、効率よく電子電流の輸送を可能とし、高性能な位置検出器を提供できる。
また、本実施形態によれば、半導体層2を構成するP型有機半導体層2aの芳香族化合物薄膜としてビチオフェン骨格を有する化合物を用いることにより、効率よくホール電流の輸送を可能とし、高性能な位置検出器を提供できる。
また、本実施形態によれば、N型有機半導体層2bにおけるキャリア移動度と、P型有機半導体層2aにおけるキャリア移動度がほぼ等しくなるように半導体層2にゲート電極より電圧を印加して用いる。これにより、入射光位置に応じて、ホール電流、電子電流の両方をほぼ同量流すことができ、感度に優れた半導体位置検出器としての利用が可能となる。
また、本実施形態によれば、このような構成の光センサーは、設置場所の自由度が高く、且つ、生産性に優れ、安価である。
2 半導体層
2a P型有機半導体層
2b N型有機半導体層
3a、b 電極
4 支持基板
Claims (5)
- 受光面を形成する半導体層と、該半導体層の両端部に流れる電流をそれぞれ検出するための電極とを有する光センサーを用い、受光面上の入射光位置により該電極から検出される電流値がそれぞれ変化することに基づき位置検出をおこなう半導体位置検出器において、
上記半導体層はP型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるP型有機半導体層と、N型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるN型有機半導体層とを積層した構成を有し、該半導体層がアンバイポーラー性を有することを特徴とする半導体位置検出器。 - 請求項1の半導体位置検出器において、上記半導体層を構成するN型有機半導体層の芳香族化合物薄膜として、フラーレン骨格を有する化合物を用いることを特徴とする半導体位置検出器。
- 請求項1または2の半導体位置検出器において、上記半導体層を構成するP型有機半導体層の芳香族化合物薄膜としてビチオフェン骨格を有する化合物を用いることを特徴とする半導体位置検出器。
- 請求項1、2または3の何れかの半導体位置検出器において、上記N型有機半導体層におけるキャリア移動度と、上記P型有機半導体層におけるキャリア移動度がほぼ等しくなるように、上記半導体層に電圧を印加することを特徴とする半導体位置検出器。
- 支持基板と、受光面を形成する半導体層と、該半導体層の両端部に流れる電流をそれぞれ検出するための電極とを有する光センサーにおいて、上記半導体層はP型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるP型有機半導体層と、N型特性を有する芳香族化合物薄膜からなるN型有機半導体層とを積層した構造であり、該半導体層がアンバイポーラー性を有することを特徴とする光センサー。
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JP2010059811A JP2011192929A (ja) | 2010-03-16 | 2010-03-16 | 半導体位置検出器および光センサー |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2015030274A1 (en) * | 2013-08-29 | 2015-03-05 | Silicon Display Technology | Image sensor applying organic photo sensor and method of manufacturing the same |
Citations (2)
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JP2005209455A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | Kyoto Univ | 有機半導体装置、ならびにそれを用いた表示装置および撮像装置 |
WO2008099863A1 (ja) * | 2007-02-16 | 2008-08-21 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | 半導体,半導体装置及び相補型トランジスタ回路装置 |
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