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JP2010028810A5 - - Google Patents

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JP2010028810A5
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Claims (9)

  1. 複数の増幅器(14)を有する複数のデータ・チャンネル(12)と、
    バイアス・ノイズ補償器(22)を含み、前記複数の増幅器(14)にバイアス電圧を供給するバイアス回路(16)であって、バイアス電圧を発生すると共に、前記複数の増幅器(14)における相関低周波ノイズを低減するようにバイアス電圧間の関係を設定するように構成されているバイアス回路(16)と、
    前記バイアス回路(16)を最適化するチューニング回路と
    を有するデータ取得回路(10)。
  2. 前記バイアス回路(16)は、最初のバイアス電圧を発生する主バイアス発生器(18)を有している、請求項1に記載のデータ取得回路(10)。
  3. 前記複数の増幅器(14)の各々は、CMOSをベースとした低ノイズ増幅器を有している、請求項1に記載のデータ取得回路(10)。
  4. 前記CMOSをベースとした低ノイズ増幅器は、センサからの入力電荷を受け取る一次CMOS装置と、前記バイアス回路(16)からバイアス電圧を受け取って、一次CMOS装置の両端間の電圧を実質的に一定に維持する複数の二次CMOS装置とを有している、請求項3に記載のデータ取得回路(10)。
  5. 前記バイアス・ノイズ補償器(22)は、低ノイズ電流源と複数のCMOS装置とを有していて、少なくとも第1の組の複数のCMOS装置におけるノイズ電流が少なくとも第2の組の複数のCMOS装置のためのバイアス電圧を生じさせるように構成されている、請求項1に記載のデータ取得回路(10)。
  6. 前記バイアス・ノイズ補償器(22)は、前記バイアス電圧間の関係を比例関係に設定することによって、前記複数の増幅器(14)における相関低周波ノイズを低減する、請求項1に記載のデータ取得回路(10)。
  7. 複数の増幅器(14)を有する複数のデータ・チャンネル(12)と、
    前記複数の増幅器(14)に第1のバイアス電圧及び第2のバイアス電圧を供給するバイアス回路(16)であって、前記第1のバイアス電圧を発生する主バイアス発生器(18)と、前記主バイアス発生器(18)に結合されていて、前記複数の増幅器(14)における相関低周波ノイズを低減するように前記第1のバイアス電圧に比例する前記第2のバイアス電圧を発生するバイアス・ノイズ補償器(22)とを含んでいるバイアス回路(16)と、
    前記バイアス回路(16)を最適化するチューニング回路と
    を有するデータ取得回路(10)。
  8. 前記増幅器(14)はCMOSをベースとした低ノイズ増幅器を有し、前記CMOSをベースとした低ノイズ増幅器は、センサからの入力電荷を受け取る第1のCMOS装置と、前記バイアス・ノイズ補償器(22)から前記第1のバイアス電圧及び前記第2のバイアス電圧をそれぞれ受け取って、前記第1のCMOS装置の両端間の電圧を実質的に一定に維持する第2及び第3のCMOS装置とを有している、請求項7に記載のデータ取得回路(10)。
  9. 前記バイアス・ノイズ補償器(22)は低ノイズ電流源と第1及び第2のCMOS装置とを有していて、前記第1のCMOS装置のバイアス電圧が前記第2のCMOS装置によって生じたノイズ電流を追跡するように構成されている、請求項7に記載のデータ取得回路(10)。
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