JP2008226894A - 照度検出装置及びセンサモジュール - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、複数の受光素子と、受光素子の検出信号を増幅させる増幅回路素子と、受光素子と増幅回路素子とを電気的に接続するか否かの切り替えを行う切り替えスイッチ素子と、増幅回路素子と電気的に接続された受動素子とを備えた照度検出装置及びセンサモジュールに関し、小型化を図ることのできる照度検出装置及びセンサモジュールを提供することを課題とする。
【解決手段】配線基板11の基板本体31としてシリコン基板を用いると共に、配線基板11に、外部から照射された光を受光した際に光の照度に応じた検出信号を出力する複数の受光素子13と、受光素子13が出力した検出信号を増幅させる増幅回路素子14と、受光素子13と増幅回路素子14とを電気的に接続するか否かの切り替えを行う切り替えスイッチ素子15と、増幅回路素子14と電気的に接続された抵抗体17及びキャパシタ18とを設けた。
【選択図】図3
【解決手段】配線基板11の基板本体31としてシリコン基板を用いると共に、配線基板11に、外部から照射された光を受光した際に光の照度に応じた検出信号を出力する複数の受光素子13と、受光素子13が出力した検出信号を増幅させる増幅回路素子14と、受光素子13と増幅回路素子14とを電気的に接続するか否かの切り替えを行う切り替えスイッチ素子15と、増幅回路素子14と電気的に接続された抵抗体17及びキャパシタ18とを設けた。
【選択図】図3
Description
本発明は、照度検出装置に係り、特に外部から照射された光の照度に応じた検出信号を出力する複数の受光素子と、検出信号を増幅させる増幅回路素子と、受光素子と増幅回路素子とを電気的に接続するか否かの切り替えを行う切り替えスイッチ素子と、増幅回路素子と電気的に接続された受動素子とを備えた照度検出装置及びセンサモジュールに関する。
従来、外部から照射された光の照度を検出するときには、図1に示すような照度検出装置200が用いられている。
図1は、従来の照度検出装置の断面図である。
図1を参照するに、従来の照度検出装置200は、配線基板201と、照度検出部品202と、受動素子であるチップ抵抗体203及びチップコンデンサ204とを有する。
配線基板201は、照度検出部品202、チップ抵抗体203、及びチップコンデンサ204を配設するためのものである。配線基板201は、基板本体207と、貫通ビア211〜216と、配線218,219,221〜224と、外部接続用パッド225〜229,231と、外部接続端子233〜238とを有する。
基板本体207は、板状とされている。貫通ビア211〜216は、基板本体207を貫通するように設けられている。配線218,219,221〜224は、基板本体207の上面207Aに設けられている。配線218は、貫通ビア211の上端部と接続されており、配線219は、貫通ビア212の上端部と接続されている。配線221は、貫通ビア213の上端部と接続されており、配線222は、貫通ビア214の上端部と接続されている。配線223は、貫通ビア215の上端部と接続されており、配線224は、貫通ビア216の上端部と接続されている。
外部接続用パッド225〜229,231は、基板本体207の下面207Bに設けられている。外部接続用パッド225は、貫通ビア211の下端部と接続されており、外部接続用パッド226は、貫通ビア212の下端部と接続されている。外部接続用パッド227は、貫通ビア213の下端部と接続されており、外部接続用パッド228は、貫通ビア214の下端部と接続されている。外部接続用パッド229は、貫通ビア215の下端部と接続されており、外部接続用パッド231は、貫通ビア216の下端部と接続されている。
外部接続端子233は、外部接続用パッド225に設けられており、外部接続端子234は、外部接続用パッド226に設けられている。外部接続端子235は、外部接続用パッド227に設けられており、外部接続端子236は、外部接続用パッド228に設けられている。外部接続端子237は、外部接続用パッド229に設けられており、外部接続端子238は、外部接続用パッド231に設けられている。
照度検出部品202は、セラミック基板241と、複数の受光素子242と、増幅回路素子244と、切り替えスイッチ素子245と、透光性部材247とを有する。
セラミック基板241は、セラミック基板本体251と、貫通ビア252〜255と、受光素子載置用パッド258と、配線パターン261〜263と、内部接続用パッド265〜268と、内部接続端子271〜274を有する。
セラミック基板本体251は、複数の受光素子242、増幅回路素子244、及び切り替えスイッチ素子245を収容する凹部276を有する。貫通ビア252〜255は、凹部276の底部に対応する部分のセラミック基板本体251を貫通するように設けられている。
受光素子載置用パッド258は、貫通ビア252の形成位置に対応する部分の凹部276の底面276Aに所定の間隔で複数設けられている。受光素子載置用パッド258は、貫通ビア252の上端部と接続されている。
配線パターン261は、貫通ビア253の形成位置に対応する部分の凹部276の底面276Aに設けられている。配線パターン261は、貫通ビア253の上端部と接続されている。配線パターン262は、貫通ビア254の形成位置に対応する部分の凹部276の底面276Aに設けられている。配線パターン262は、貫通ビア254の上端部と接続されている。配線パターン263は、貫通ビア255の形成位置に対応する部分の凹部276の底面276Aに設けられている。配線パターン263は、貫通ビア255の上端部と接続されている。
内部接続用パッド265は、貫通ビア252の形成位置に対応する部分のセラミック基板本体251の下面251Aに設けられている。内部接続用パッド265は、貫通ビア252の下端部と接続されている。内部接続用パッド266は、貫通ビア253の形成位置に対応する部分のセラミック基板本体251の下面251Aに設けられている。内部接続用パッド266は、貫通ビア253の下端部と接続されている。
内部接続用パッド267は、貫通ビア254の形成位置に対応する部分のセラミック基板本体251の下面251Aに設けられている。内部接続用パッド267は、貫通ビア254の下端部と接続されている。内部接続用パッド268は、貫通ビア255の形成位置に対応する部分のセラミック基板本体251の下面251Aに設けられている。内部接続用パッド268は、貫通ビア255の下端部と接続されている。
内部接続端子271は、内部接続用パッド265に設けられており、配線基板201の配線218と電気的に接続されている。内部接続端子272は、内部接続用パッド266に設けられており、配線基板201の配線219と電気的に接続されている。内部接続端子273は、内部接続用パッド267に設けられており、配線基板201の配線221と電気的に接続されている。内部接続端子274は、内部接続用パッド268に設けられており、配線基板201の配線222と電気的に接続されている。
なお、内部接続端子271〜274を除いた部分のセラミック基板241は、導体が形成されたグリーンシート及び貫通部(凹部276に相当する)が形成されたグリーンシートを積層し、その後、焼結することで形成する。
受光素子242は、複数の受光素子載置用パッド258上に配置されている。受光素子242は、外部からの光を受光する受光部281と、正電極282と、負電極283とを有する。正電極282は、金属ワイヤ285を介して、配線パターン261と電気的に接続されている。負電極283は、受光素子載置用パッド258と電気的に接続されている。
増幅回路素子244は、凹部276の底面276Aに設けられている。増幅回路素子244は、ワイヤ289を介して、配線パターン262と電気的に接続されている。また、増幅回路素子244は、ワイヤ291を介して、配線パターン263と電気的に接続されている。増幅回路素子244は、受光素子242が外部からの光を受光した際に出力する光の照度に応じた検出信号(微弱電流)を増幅させるためのものである。
切り替えスイッチ素子245は、凹部276の底面276Aに設けられている。切り替えスイッチ素子245は、ワイヤ286を介して、配線パターン261と電気的に接続されている。また、切り替えスイッチ素子245は、ワイヤ287を介して、配線パターン262と電気的に接続されている。切り替えスイッチ素子245は、受光素子242と増幅回路素子244とを電気的に接続するか否かの切り替え(受光素子242が検出した検出信号を増幅回路素子244に送信するか否かの切り替え)を行うためのものである。
透光性部材247は、セラミック基板本体251上に固定されている。透光性部材247は、外部から照射された光を透過可能な状態で、凹部276により形成された空間Jを気密するためのものである。
チップ抵抗体203は、配線基板201上に設けられている。チップ抵抗体203は、内部接続端子295を介して、配線222と電気的に接続されると共に、内部接続端子296を介して、配線223と電気的に接続されている。また、チップ抵抗体203は、増幅回路素子244と電気的に接続されている。
チップコンデンサ204は、配線基板201上に設けられている。チップコンデンサ204は、内部接続端子297を介して、配線223と電気的に接続されると共に、内部接続端子298を介して、配線224と電気的に接続されている。また、チップコンデンサ204は、増幅回路素子244と電気的に接続されている。チップ抵抗体203及びチップコンデンサ204は、複数の受光素子の特性に応じて増幅回路素子244の特性(例えば、ゲイン)を最適化するためのものである(例えば、特許文献1参照。)。
特開2007−27279号公報
しかしながら、従来の照度検出装置200では、チップ抵抗体203及びチップコンデンサ204を、複数の受光素子242、増幅回路素子244、及び切り替えスイッチ素子245が配設された基板(具体的には、セラミック基板241)とは別の基板(具体的には、配線基板201)に配設していたため、照度検出装置200が大型化してしまうというという問題があった。
また、従来の照度検出装置200を他の配線基板に実装したセンサモジュールにおいても同様な問題があった。
そこで本発明は、小型化を図ることのできる照度検出装置及びセンサモジュールを提供することを目的とする。
本発明の一観点によれば、基板本体と、前記基板本体の主面に設けられたパッド及び配線パターンと、前記基板本体を貫通すると共に、前記パッド又は前記配線パターンと電気的に接続された貫通ビアと、を有した配線基板と、前記配線基板に設けられ、外部から照射された光の照度に応じた検出信号を出力する複数の受光素子と、前記配線基板に設けられ、前記検出信号を増幅させる増幅回路素子と、前記配線基板に設けられ、前記受光素子と前記増幅回路素子とを電気的に接続するか否かの切り替えを行う切り替えスイッチ素子と、を備えた照度検出装置であって、前記基板本体としてシリコン基板を用いると共に、前記配線基板に前記増幅回路素子と電気的に接続された受動素子を設けたことを特徴とする照度検出装置が提供される。
本発明によれば、配線基板に増幅回路素子と電気的に接続された受動素子を設けることにより、受動素子を別の配線基板に設けた場合と比較して、照度検出装置を小型化することができる。また、基板本体としてセラミック板よりも反りの少ないシリコン基板を用いることで、配線基板の反りを低減することが可能となるため、受光素子の検出信号の信頼性を向上させることができる。
また、前記受動素子としてキャパシタ及び/又は抵抗体を用いてもよい。これにより、複数の受光素子の特性に応じて増幅回路素子の特性(例えば、ゲイン)を最適化することができる。
また、前記受動素子として薄膜形成技術により形成された薄膜を用いてもよい。これにより、受動素子としてチップ部品を用いた場合と比較して、受動素子のコストを低減することが可能となるため、照度検出装置のコストを低減することができる。
また、前記基板本体の主面に、前記複数の受光素子、前記増幅回路素子、前記切り替えスイッチ素子、及び前記受動素子を収容する凹部を有した透光性部材を設けてもよい。これにより、凹部により形成される空間が気密されるため、受光素子に埃や異物が付着することを防止できる。
また、前記透光性部材としてガラス基板を用いると共に、前記ガラス基板と前記シリコン基板とを陽極接合してもよい。これにより、凹部により形成される空間が汚染されることを防止できる。
また、前記凹部が形成された側とは反対側に位置する前記透光性部材の面に、前記透光性部材の面において前記外部から照射された光が反射されることを防止する反射防止膜を設けてもよい。これにより、実際に照射された光に対応した照度を検出することができる。
また、前記基板本体の主面の反対側に位置する前記配線基板に、前記貫通ビアと電気的に接続された外部接続端子を設けてもよい。これにより、増幅回路素子により増幅された受光素子の検出信号を外部に伝送することができる。
本発明の他の観点によれば、請求項1ないし8のうち、いずれか一項記載の照度検出装置と、前記照度検出装置から出力される光の照度に応じた前記検出信号を、無線により外部に送信する無線用配線基板と、を備えたことを特徴とするセンサモジュールが提供される。
本発明によれば、請求項1ないし8のうち、いずれか一項記載の照度検出装置を備えることにより、センサモジュールの小型化を図ることができる。また、照度検出装置から出力される光の照度に応じた検出信号を無線により外部に送信する無線用配線基板を備えることにより、照度の検出と検出した信号の送信とを1つのモジュールで行うことができる。
本発明によれば、照度検出装置及びセンサモジュールの小型化を図ることができる。
次に、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。
(実施の形態)
図2は、本発明の実施の形態に係る照度検出装置の平面図であり、図3は、図2に示す照度検出装置のA−A線方向の断面図であり、図4は、図2に示す照度検出装置のB−B線方向の断面図である。なお、図2では、透光性部材21を一点鎖線で示すと共に、反射防止膜22の図示を省略する。
図2は、本発明の実施の形態に係る照度検出装置の平面図であり、図3は、図2に示す照度検出装置のA−A線方向の断面図であり、図4は、図2に示す照度検出装置のB−B線方向の断面図である。なお、図2では、透光性部材21を一点鎖線で示すと共に、反射防止膜22の図示を省略する。
図2乃至図4を参照するに、本実施の形態の照度検出装置10は、配線基板11と、複数の受光素子13と、増幅回路素子14と、切り替えスイッチ素子15と、受動素子である抵抗体17及びキャパシタ18と、透光性部材21と、反射防止膜22と、遮光部材23と、外部接続端子24〜27とを有する。
配線基板11は、基板本体31と、貫通ビア32〜35と、受光素子載置用パッド37と、配線パターン41〜43,45〜48と、パッド49と、ソルダーレジスト52と、外部接続用パッド54〜57と、拡散防止膜59とを有する。
基板本体31は、貫通孔61〜64が形成されたシリコン基板である。このように、基板本体31としてシリコン基板を用いることにより、セラミック板を用いた場合と比較して、配線基板11の反りを低減することが可能となるため、配線基板11に配設される複数の受光素子13が光を受光した際に出力する検出信号(微弱電流)の信頼性を向上させることができる。基板本体31の厚さM1は、例えば、200μmとすることができる。
貫通ビア32〜35は、貫通孔61〜64に設けられている。貫通ビア32〜35の材料としては、例えば、Cuを用いることができる。貫通ビア32〜35は、例えば、めっき法により形成することができる。
受光素子載置用パッド37は、貫通ビア32の形成位置に対応する部分の基板本体31の上面31Aに所定の間隔で設けられている。受光素子載置用パッド37は、貫通ビア32の上端部と接続されている。
配線パターン41は、受光素子13と切り替えスイッチ素子15との間に位置する基板本体31の上面31Aに設けられている。配線パターン41は、貫通ビア33の上端部と接続されている。配線パターン42は、増幅回路素子14と切り替えスイッチ素子15との間に位置する基板本体31の上面31Aに設けられている。配線パターン42は、貫通ビア34の上端部と接続されている。配線パターン43は、増幅回路素子14の近傍に位置する基板本体31の上面31Aに設けられている。配線パターン43は、貫通ビア35の上端部と接続されている。
配線パターン45〜48は、増幅回路素子14の近傍に位置する基板本体31の上面31Aに設けられている。配線パターン45の一方の端部は、配線パターン42と接続されており、他方の端部は抵抗体17と接続されている。配線パターン46の一方の端部は、配線パターン43と接続されており、他方の端部は抵抗体17と接続されている。配線パターン47の一方の端部は、配線パターン45と接続されており、他方の端部はキャパシタ18と接続されている。配線パターン48の一方の端部は、配線パターン46と接続されており、他方の端部はキャパシタ18と接続されている。
パッド49は、増幅回路素子14の近傍に位置する基板本体31の上面31Aに設けられている。パッド49は、図示していないグラウンド層と電気的に接続されている。これにより、パッド49は、グラウンド電位とされている。
ソルダーレジスト52は、基板本体31の下面31Bに設けられている。ソルダーレジスト52は、拡散防止膜59の形成位置に対応する部分の外部接続用パッド54〜57を露出する開口部52Aを有する、
外部接続用パッド54〜57は、基板本体31の下面31Bに設けられている。外部接続用パッド54は、貫通ビア32の下端部と接続されている。外部接続用パッド54は、貫通ビア32を介して、受光素子載置用パッド37と電気的に接続されている。外部接続用パッド55は、貫通ビア33の下端部と接続されている。外部接続用パッド55は、貫通ビア33を介して、配線パターン41と電気的に接続されている。外部接続用パッド56は、貫通ビア34の下端部と接続されている。外部接続用パッド56は、貫通ビア34を介して、配線パターン42と電気的に接続されている。外部接続用パッド57は、貫通ビア35の下端部と接続されている。外部接続用パッド57は、貫通ビア35を介して、配線パターン43と電気的に接続されている。
外部接続用パッド54〜57は、基板本体31の下面31Bに設けられている。外部接続用パッド54は、貫通ビア32の下端部と接続されている。外部接続用パッド54は、貫通ビア32を介して、受光素子載置用パッド37と電気的に接続されている。外部接続用パッド55は、貫通ビア33の下端部と接続されている。外部接続用パッド55は、貫通ビア33を介して、配線パターン41と電気的に接続されている。外部接続用パッド56は、貫通ビア34の下端部と接続されている。外部接続用パッド56は、貫通ビア34を介して、配線パターン42と電気的に接続されている。外部接続用パッド57は、貫通ビア35の下端部と接続されている。外部接続用パッド57は、貫通ビア35を介して、配線パターン43と電気的に接続されている。
拡散防止膜59は、開口部52Aの形成位置に対応する部分の外部接続用パッド54〜57に設けられている。拡散防止膜59は、外部接続用パッド54〜57に含まれるCuが外部接続端子24〜27に拡散することを防止するための膜である。拡散防止膜59は、外部接続用パッド54〜57に設けられたNi層66と、Ni層66に設けられたAu層67とから構成されている。Ni層66の厚さは、例えば、3μmとすることができる。また、Au層67の厚さは、例えば、1.5μmとすることができる。
受光素子13は、外部から照射された光を受光する受光部69と、正電極71と、負電極72とを有する。受光素子13は、負電極72と受光素子載置用パッド37とが電気的に接続されるように、複数の受光素子載置用パッド37上に設けられている。受光部69及び正電極71は、透光性部材21と対向している。正電極71は、金属ワイヤ74と接続されると共に、金属ワイヤ74を介して、配線パターン41と電気的に接続されている。受光素子13は、外部から照射された光を受光した際、照射された光の照度に対応した検出信号(微弱電流)を出力するための素子である。受光素子13としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。
増幅回路素子14は、電極パッド75〜77を有する。増幅回路素子14は、電極パッド75〜77が透光性部材21と対向するように、基板本体31の上面31Aに固定されている。電極パッド75は、金属ワイヤ78と接続されると共に、金属ワイヤ78を介して、パッド49と電気的に接続されている。電極パッド76は、金属ワイヤ79と接続されると共に、金属ワイヤ79を介して、配線パターン42と電気的に接続されている。電極パッド77は、金属ワイヤ81と接続されると共に、金属ワイヤ81を介して、配線パターン43と電気的に接続されている。増幅回路素子14は、切り替えスイッチ素子15を介して送信される受光素子13の検出信号(微弱電流)を受信すると共に、検出信号を増幅させるためのものである。
切り替えスイッチ素子15は、複数の電極パッド83と、電極パッド84とを有する。切り替えスイッチ素子15は、電極パッド83,84が透光性部材21と対向するように、複数の受光素子13と増幅回路素子14との間に位置する基板本体31の上面31Aに固定されている。各電極パッド83は、金属ワイヤ85と接続されると共に、金属ワイヤ85を介して、配線パターン41と電気的に接続されている。電極パッド84は、金属ワイヤ86と接続されると共に、金属ワイヤ86を介して、配線パターン42と電気的に接続されている。切り替えスイッチ素子15は、複数の受光素子13の内、どの受光素子13と増幅回路素子14とを電気的に接続するか否かの切り替え(受光素子13が検出した検出信号を増幅回路素子14に送信するか否かの切り替え)を行うためのものである。
抵抗体17は、配線パターン45の他方の端部から配線パターン46の他方の端部に亘るように配線基板11上に設けられている。抵抗体17は、配線パターン45,46を介して、増幅回路素子14と電気的に接続されている。抵抗体17は、複数の受光素子13の特性のバラツキに応じて、増幅回路素子14の特性(例えば、ゲイン)を最適化するためのものである。
このように、複数の受光素子13、増幅回路素子14、及び切り替えスイッチ素子15が配設された配線基板11に抵抗体17を設けることにより、受光素子242、増幅回路素子244、及び切り替えスイッチ素子245が配設された基板(具体的には、セラミック基板241)とは別の基板(具体的には、配線基板201)にチップ抵抗体203を設けた従来の照度検出装置200(図1参照)と比較して、照度検出装置10の小型化を図ることができる。
抵抗体17としては、例えば、薄膜形成技術(例えば、スパッタ法や蒸着法)により形成された薄膜を用いるとよい(基板本体31がシリコン基板であるため薄膜形成技術を適用することができる)。抵抗体17としては、例えば、Ta2N膜を用いることができる。抵抗体17としてTa2N膜を用いた場合、抵抗体17の厚さM2は、例えば、0.1μm〜1μmとすることができる。
このように、抵抗体17として薄膜形成技術(例えば、スパッタ法や蒸着法)により形成された薄膜を用いることにより、抵抗体17のコストを低減することが可能となるため、照度検出装置10のコストを低減できる。
キャパシタ18は、配線パターン47の他方の端部から配線パターン48の他方の端部に亘るように配線基板11上に設けられている。キャパシタ18は、配線パターン47,48を介して、増幅回路素子14と電気的に接続されている。キャパシタ18は、複数の受光素子13の特性のバラツキに応じて、増幅回路素子14の特性(例えば、ゲイン)を最適化するためのものである。
このように、複数の受光素子13、増幅回路素子14、及び切り替えスイッチ素子15が配設された配線基板11にキャパシタ18を設けることにより、受光素子242、増幅回路素子244、及び切り替えスイッチ素子245が配設された基板(具体的には、セラミック基板241)とは別の基板(具体的には、配線基板201)にチップコンデンサ204を設けた従来の照度検出装置200(図1参照)と比較して、照度検出装置10の小型化を図ることができる。
キャパシタ18としては、例えば、薄膜形成技術(例えば、スパッタ法や蒸着法)により形成された薄膜を用いるとよい(基板本体31がシリコン基板であるため薄膜形成技術を適用することができる)。キャパシタ18としては、例えば、Ta2O5膜を誘電体として用いることができる。キャパシタ18としてTa2O5膜を用いた場合、キャパシタ18の厚さM3は、例えば、0.2μm〜1μmとすることができる。
このように、キャパシタ18として薄膜形成技術(例えば、スパッタ法や蒸着法)により形成された薄膜を用いることにより、キャパシタ18のコストを低減することが可能となるため、照度検出装置10のコストを低減できる。
透光性部材21は、複数の受光素子13、増幅回路素子14、切り替えスイッチ素子15、抵抗体17、及びキャパシタ18を収容する凹部88を有する。透光性部材21は、凹部88が配線基板11と対向するように、基板本体31の上面31Aに接合されている。透光性部材21は、外部から照射された光を透過可能な状態で、凹部88により形成された空間Cを気密するためのものである。
このような透光性部材21を設けることにより、凹部88により形成された空間Cが気密されるため、複数の受光素子13の受光部69に埃や異物が付着することを防止できる。
透光性部材21としては、例えば、ガラス基板を用いることができる。透光性部材21としてガラス基板を用いた場合、透光性部材21と基板本体31(シリコン基板)とを陽極接合するとよい。このように、透光性部材21(ガラス基板)と基板本体31(シリコン基板)とを陽極接合することにより、凹部88により形成された空間Cが汚染されることを防止できる。
反射防止膜22は、外部から光が照射される側の透光性部材21の面21Aを覆うように設けられている。反射防止膜22は、透光性部材21の面21Aにおいて外部から照射された光が反射されることを防止するためのものである。反射防止膜22としては、例えば、透光性部材21の面21A上に、Ta2O5膜、SiO2膜の順に積層させたTa2O5/SiO2積層膜を用いることができる。Ta2O5/SiO2積層膜は、例えば、スパッタ法や蒸着法等の方法により形成することができる。Ta2O5膜の厚さは、例えば、0.2Åとすることができる。また、SiO2膜の厚さは、例えば、0.13Åとすることができる。
このように、透光性部材21の面21Bに反射防止膜22を設けることにより、外部から実際に照射された光に対応した照度を検出することができる。
遮光部材23は、受光素子13の受光部69と対向する部分に、透光性部材21を露出する開口部23Aを有する。開口部23Aは、外部から照射された光を受光素子13の受光部69に通過させるためのものである。
このように、受光素子13の受光部69と対向する部分に開口部23Aを有した遮光部材23を凹部88に対応する部分の透光性部材21の面を覆うように設けることにより、複数の受光素子13がそれぞれの受光素子13の配設位置に照射された光の照度のみを検出することが可能となるため、狭い範囲の光の照度を検出することができる。
また、開口部23Aの直径は、受光素子13の受光部69の有効エリア(図示せず)の直径よりも小さくするとよい。これにより、受光部69の有効エリア以外に光が照射されることがなくなるため、複数の受光素子13が検出する光の照度の信頼性を向上させることができる。有効エリアの直径がφ0.8mmの場合、開口部23の直径は、例えば、φ0.4mmとすることができる。
上記構成とされた遮光部材23としては、例えば、シリコン膜を用いることができる。この場合、シリコン膜の厚さは、例えば、5Åとすることができる。また、シリコン膜は、例えば、蒸着法により形成することができる。
外部接続端子24は、外部接続用パッド54に形成された拡散防止膜59に設けられており、貫通ビア32と電気的に接続されている。外部接続端子25は、外部接続用パッド55に形成された拡散防止膜59に設けられており、貫通ビア33と電気的に接続されている。外部接続端子26は、外部接続用パッド56に形成された拡散防止膜59に設けられており、貫通ビア34と電気的に接続されている。外部接続端子27は、外部接続用パッド57に形成された拡散防止膜59に設けられている。外部接続端子27は、貫通ビア35と電気的に接続されている。
このような外部接続端子24〜27を配線基板11に設けることにより、増幅回路素子14により増幅された受光素子13の検出信号を外部に伝送することができる。
本実施の形態の照度検出装置によれば、複数の受光素子13、増幅回路素子14、及び切り替えスイッチ素子15が配設された配線基板11に抵抗体17及びキャパシタ18を設けることにより、受光素子242、増幅回路素子244、及び切り替えスイッチ素子245が配設された基板(具体的には、セラミック基板241)とは別の基板(具体的には、配線基板201)にチップ抵抗体203及びチップコンデンサ204を設けた従来の照度検出装置200(図1参照)と比較して、照度検出装置10の小型化を図ることができる。
また、基板本体31としてシリコン基板を用いることにより、基板本体31としてセラミック板を用いた場合と比較して、配線基板11の反りを低減することが可能となり、受光素子13の搭載位置の精度を向上できるため、受光素子13が出力する検出信号の信頼性を向上させることができる。
なお、本実施の形態では、複数の受光素子13を1列に配置した場合を例に挙げて説明したが、配線基板11に複数の受光素子13をアレイ状に配置してもよい。
図5は、本実施の形態の照度検出装置を備えたセンサモジュールの断面図である。
次に、図5を参照して、照度検出装置10を備えたセンサモジュール90について説明する。センサモジュール90は、照度検出装置10と、照度検出装置10が実装される無線用配線基板91と、外部接続端子92とを有する。
無線用配線基板91は、基板本体94と、貫通ビア95と、配線101〜105,115〜119,125〜127,141,142と、EEPROM107と、CPU108と、ADC(Analog to Digital Converter)109と、絶縁層111,134と、ビア112,113,136〜139と、チップコンデンサ121と、チップ抵抗122と、アンテナ128と、無線用CPU131と、無線用RFIC132と、バラン143とを有する。
基板本体94は、コア基板である。貫通ビア95は、基板本体94を貫通するように設けられている。配線101〜105は、基板本体94の上面94Aに設けられている。EEPROM107は、配線101,102と接続されている。EEPROM107は、照度検出装置10から出力される光の照度に応じた検出信号をデータとして一時保管するためのものである。
CPU108は、配線103,104と接続されている。CPU108は、ADC109から送信されたデジタル信号に基づいて、照度検出データを作成するためのものである。ADC109は、配線104,105と接続されている。ADC109は、照度検出装置10から出力される光の照度に応じた検出信号(アナログ信号)をデジタル信号に変換するためのものである。
絶縁層111は、配線101〜105、EEPROM107、CPU108、及びADC109を覆うように基板本体94の上面94Aに設けられている。
ビア112は、絶縁層111を貫通するように形成されており、下端部が配線102と接続されている。ビア113は、絶縁層111を貫通するように形成されており、下端部が配線104と接続されている。
配線115〜119は、絶縁層111上に設けられている。配線115は、ビア112の上端部及び照度検出装置10の外部接続端子24と接続されている。配線116は、照度検出装置10の外部接続端子25と接続されている。配線117は、照度検出装置10の外部接続端子26と接続されている。配線118は、ビア113の上端部及び照度検出装置10の外部接続端子27と接続されている。
チップコンデンサ121は、配線115に実装されている。チップコンデンサ121は、配線115と電気的に接続されている。チップ抵抗122は、配線118,119に実装されている。チップ抵抗122は、配線118,119と電気的に接続されている。配線125〜127は、基板本体94の下面94Bに設けられている。配線126は、貫通ビア95の下端部と接続されている。アンテナ128は、配線形成時に同時に作り込まれたものであり、基板本体94の下面94Bに設けられている。
無線用CPU131は、配線125,126と接続されている。無線用RFIC132は、配線126,127と接続されている。無線用CPU131及び無線用RFIC132は、無線出力用のデータの作成及び変換を行うためのものである。
絶縁層134は、配線125〜127、アンテナ128、無線用CPU131、及び無線用RFIC132を覆うように基板本体94の下面94Bに設けられている。
ビア136は、絶縁層134を貫通するように形成されており、上端部が配線125と接続されている。ビア137は、絶縁層134を貫通するように形成されており、上端部が配線126と接続されている。ビア138は、絶縁層134を貫通するように形成されており、上端部が配線127と接続されている。ビア139は、絶縁層134を貫通するように形成されており、上端部がアンテナ128と接続されている。
配線141,142は、絶縁層134の下面に設けられている。配線141は、ビア136の下端部と接続されている。配線142は、ビア137の下端部と接続されている。バラン143は、ビア138,139の下端部と接続されておる。バラン143は、ビア139を介して、アンテナ128と電気的に接続されている。
上記構成とされた無線用配線基板91は、照度検出装置10から出力される光の照度に応じた検出信号を、無線により外部に送信するためのものである。
本実施の形態のセンサモジュールによれば、照度検出装置10を備えることにより、センサモジュールの小型化を図ることができる。また、照度検出装置から出力される光の照度に応じた検出信号を無線により外部に送信する無線用配線基板91を備えることにより、照度の検出と検出した信号の送信とを1つのモジュールで行うことができる。
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明はかかる特定の実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲内に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
本発明は、外部から照射された光の照度を検出する照度検出装置及びセンサモジュールに適用できる。
10 照度検出装置
11 配線基板
13 受光素子
14 増幅回路素子
15 切り替えスイッチ素子
17 抵抗体
18 キャパシタ
21 透光性部材
21A 面
22 反射防止膜
23 遮光部材
23A,52A 開口部
24〜27,92 外部接続端子
31,94 基板本体
31A,94A 上面
31B,94B 下面
32〜35,95 貫通ビア
37 受光素子載置用パッド
41〜43,45〜48 配線パターン
49 パッド
52 ソルダーレジスト
54〜57 外部接続用パッド
59 拡散防止膜
61〜64 貫通孔
66 Ni層
67 Au層
69 受光部
71 正電極
72 負電極
74,78,79,81,85,86 金属ワイヤ
75〜77,83,84 電極パッド
88 凹部
90 センサモジュール
91 無線用配線基板
101〜105,115〜119,125〜127,141,142 配線
107 EEPROM
108 CPU
109 ADC
111,134 絶縁層
112,113,136〜139 ビア
121 チップコンデンサ
122 チップ抵抗
128 アンテナ
131 無線用CPU
132 無線用RFIC
143 バラン
C 空間
M1〜M3 厚さ
11 配線基板
13 受光素子
14 増幅回路素子
15 切り替えスイッチ素子
17 抵抗体
18 キャパシタ
21 透光性部材
21A 面
22 反射防止膜
23 遮光部材
23A,52A 開口部
24〜27,92 外部接続端子
31,94 基板本体
31A,94A 上面
31B,94B 下面
32〜35,95 貫通ビア
37 受光素子載置用パッド
41〜43,45〜48 配線パターン
49 パッド
52 ソルダーレジスト
54〜57 外部接続用パッド
59 拡散防止膜
61〜64 貫通孔
66 Ni層
67 Au層
69 受光部
71 正電極
72 負電極
74,78,79,81,85,86 金属ワイヤ
75〜77,83,84 電極パッド
88 凹部
90 センサモジュール
91 無線用配線基板
101〜105,115〜119,125〜127,141,142 配線
107 EEPROM
108 CPU
109 ADC
111,134 絶縁層
112,113,136〜139 ビア
121 チップコンデンサ
122 チップ抵抗
128 アンテナ
131 無線用CPU
132 無線用RFIC
143 バラン
C 空間
M1〜M3 厚さ
Claims (9)
- 基板本体と、前記基板本体の主面に設けられたパッド及び配線パターンと、前記基板本体を貫通すると共に、前記パッド又は前記配線パターンと電気的に接続された貫通ビアと、を有した配線基板と、
前記配線基板に設けられ、外部から照射された光の照度に応じた検出信号を出力する複数の受光素子と、
前記配線基板に設けられ、前記検出信号を増幅させる増幅回路素子と、
前記配線基板に設けられ、前記受光素子と前記増幅回路素子とを電気的に接続するか否かの切り替えを行う切り替えスイッチ素子と、を備えた照度検出装置であって、
前記基板本体としてシリコン基板を用いると共に、前記配線基板に前記増幅回路素子と電気的に接続された受動素子を設けたことを特徴とする照度検出装置。 - 前記受動素子は、キャパシタ及び/又は抵抗体であることを特徴とする請求項1記載の照度検出装置。
- 前記受動素子は、薄膜形成技術により形成された薄膜であることを特徴とする請求項1又は2記載の照度検出装置。
- 前記基板本体の主面に、前記複数の受光素子、前記増幅回路素子、前記切り替えスイッチ素子、及び前記受動素子を収容する凹部を有した透光性部材を設けたことを特徴とする請求項1ないし3のうち、いずれか一項記載の照度検出装置。
- 前記透光性部材は、ガラス基板であり、
前記ガラス基板と前記シリコン基板とを陽極接合したことを特徴とする請求項1ないし4のうち、いずれか一項記載の照度検出装置。 - 前記凹部が形成された側とは反対側に位置する前記透光性部材の面に、前記透光性部材の面において前記外部から照射された光が反射されることを防止する反射防止膜を設けたことを特徴とする請求項1ないし5のうち、いずれか一項記載の照度検出装置。
- 前記基板本体の主面の反対側に位置する前記配線基板に、前記貫通ビアと電気的に接続された外部接続端子を設けたことを特徴とする請求項1ないし6のうち、いずれか一項記載の照度検出装置。
- 前記複数の受光素子は、前記外部から照射された光を受光する受光部を有し、
前記凹部に対応する部分の前記透光性部材に前記外部から照射された光を遮光する遮光部材を設けると共に、前記複数の受光素子の前記受光部と対向する部分の前記遮光部材に前記外部から照射された光を通過させる開口部を設けたことを特徴とする請求項4ないし7のうち、いずれか一項記載の照度検出装置。 - 請求項1ないし8のうち、いずれか一項記載の照度検出装置と、
前記照度検出装置から出力される光の照度に応じた前記検出信号を、無線により外部に送信する無線用配線基板と、を備えたことを特徴とするセンサモジュール。
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