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JP2007334124A - 光変調器 - Google Patents

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JP2007334124A JP2006167420A JP2006167420A JP2007334124A JP 2007334124 A JP2007334124 A JP 2007334124A JP 2006167420 A JP2006167420 A JP 2006167420A JP 2006167420 A JP2006167420 A JP 2006167420A JP 2007334124 A JP2007334124 A JP 2007334124A
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Kenji Kono
健治 河野
Masaya Nanami
雅也 名波
Yuji Sato
勇治 佐藤
Yasuji Uchida
靖二 内田
Nobuhiro Igarashi
信弘 五十嵐
Toru Nakahira
中平  徹
Eiji Kawamo
英司 川面
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Anritsu Corp
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  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)

Abstract

【課題】駆動電圧が低く、かつ高速で変調が可能な光変調器を提供する。
【解決手段】電気光学効果を有する基板1と、光導波路3と、基板の一方の面側に形成され、光の位相を変調する高周波電気信号を印加するための中心導体及び接地導体からなる進行波電極4とを有し、進行波電極が、高周波電気信号を印加することにより光の位相を変調するための相互作用部と、少なくとも外部回路から相互作用部に高周波電気信号を印加するための入力用フィードスルー部を具備する光変調器において、進行波電極には進行波電極の基本モードが伝搬し、光導波路の長手方向にほぼ垂直となる基板の断面の最も長くなる辺の長さと基板の断面の最も短くなる辺の長さの比をほぼ2倍以上に大きく、最も短くなる辺の長さとこの方向における高周波電気信号の等価屈折率の積が0.4mmより大きく、かつ15mmよりも小さくなるように、基板の最も短くなる辺の長さを設定する。
【選択図】図2

Description

本発明は駆動電圧が低く、かつ高速で変調が可能な光変調器の分野に属する。
リチウムナイオベート(LiNbO)のように電界を印加することにより屈折率が変化する、いわゆる電気光学効果を有する基板(以下、リチウムナイオベート基板をLN基板と略す)に光導波路と進行波電極を形成した進行波電極型リチウムナイオベート光変調器(以下、LN光変調器と略す)は、その優れた伝送特性から2.5Gbit/s、10Gbit/sの大容量光伝送システムに適用されている。最近はさらに40Gbit/sの超大容量光伝送システムにも適用が検討されており、キーデバイスとして期待されている。
[第1の従来技術]
このLN光変調器にはz−カットLN基板を使用するタイプとx−カットLN基板(あるいはy−カットLN基板)を使用するタイプがある。ここでは、第1の従来技術としてz−カットLN基板と2つの接地導体を有し、基本モードの伝搬に有利なコプレーナウェーブガイド(CPW)進行波電極を使用したz−カットLN基板LN光変調器をとり上げ、その斜視図を図5に示す。図6は図5のA−A’線における断面図である。なお、以下の議論はx−カットLN基板やy−カットLN基板でも同様に成り立つ。
図中、1はz−カットLN基板、2は1.3μm、あるいは1.55μmなど光通信において使用する波長領域では透明な200nmから1μm程度の厚みのSiOバッファ層、3はz−カットLN基板1にTiを蒸着後、1050℃で約10時間熱拡散して形成した光導波路であり、マッハツェンダ干渉系(あるいは、マッハツェンダ光導波路)を構成している。なお、3a、3bは電気信号と光が相互作用する部位(相互作用部と言う)における光導波路(あるいは、相互作用光導波路)、つまりマッハツェンダ光導波路の2本のアームである。また、位相変調器の場合は直線光導波路でよい。CPW進行波電極4は中心導体4a、接地導体4b、4cからなっている。また、図6において中心導体4aの幅は6μmから20μm程度であり、一般には10μm前後が使用されている。一方、中心導体4aと接地導体4b、4cの間にはギャップ(あるいはCPWのギャップ)を形成している。
この第1の従来技術では、中心導体4aと接地導体4b、4c間にバイアス電圧(通常はDCバイアス電圧)と高周波電気信号(RF電気信号とも言う)を重畳して印加する。また、SiOバッファ層2は高周波電気信号の等価屈折率n(あるいは、マイクロ波等価屈折率n)を光導波路3a、3bを伝搬する光の実効屈折率nに近づけることにより、光変調帯域を拡大するという重要な働きをしている。
次に、このように構成されるLN光変調器の動作について説明する。このLN光変調器を動作させるには、中心導体4aと接地導体4b、4c間にDCバイアス電圧とRF電気信号とを印加する必要がある。
図7に示す電圧−光出力特性はある状態でのLN光変調器の電圧−光出力特性であり、Vはその際のDCバイアス電圧である。この図7に示すように、通常、DCバイアス電圧Vは光出力特性の山と底の中点に設定される。
さて、LN光変調器を光伝送システムにおいて使用する際には、金属筐体(パッケージ)にLN光変調器のチップ、光ファイバ、及び電気信号用のマイクロ波コネクタを固定した光変調器モジュールとせねばならない。
図8にはその光変調器モジュールの構造を示す。図中のいくつかの番号は図5や図6と共通にしている。なお、簡単のために、SiOバッファ層2は省略している。
ここで、5は金属筐体、6a、6bは金属筐体5に固定された不図示のマイクロ波コネクタの芯線である。7a、7bはマイクロ波コネクタの芯線6a、6bの周囲に形成された空洞である。金属筐体5にLN基板1を固定した後、CPW進行波電極とマイクロ波コネクタの芯線6a、6bを電気的に接続する。
図には示していないがLN光導波路3へ光を入力・出力できるように光学系を設定する。次に、金属のふた8を金属筐体に固定することにより、LN光変調器モジュールが完成する。なお、高周波電気信号の出力側(図5と図8を比較してわかるように、高周波電気信号の出力側は6b、7bの側に対応する)については、終端抵抗により電気的に終端しても良く、その場合には出力側のマイクロ波コネクタの芯線6bと空洞7bは不要である。
図9には、図8においてマイクロ波コネクタの芯線6aと金属筐体5に形成された空洞7aの部分を拡大して示す。ここで、EFはマイクロ波コネクタの芯線6aと金属筐体5に形成された空洞7aとの間に生じる高周波電気信号の電気力線である。
図9からわかるように、高周波電気信号の電気力線EFはマイクロ波コネクタの芯線6aを中心とした軸対称な分布をなしている。
一方、図10には、図8のz−カットLN基板1に形成された進行波電極のマイクロ波コネクタの芯線6aとの接続部(入力用フィードスルー部と呼ぶ)のB−B’線における断面図を示す。ここで、DEFは中心導体4aと接地導体4bの間に生じた電気力線を表している。図10からわかるように、入力用フィードスルー部のB−B’において電気力線DEFは平面的な分布をなしている。
このようにマイクロ波コネクタの芯線6aを中心とした軸対称な分布(マイクロ波コネクタの固有モードと呼ぶ)の電気力線EFと、進行波電極4の中心導体4aと接地導体4b、4cの間に生じた平面的な分布(CPW進行波電極の固有モードと呼ぶ)の電気力線DEFにはそれらの分布形状にミスマッチがあり、高周波電気信号がマイクロ波コネクタの芯線6aから進行波電極4の中心導体4aと接地導体4bに伝搬する際に高周波電気信号に漏れる成分が生じる。
図11にLN光変調器において使用するz−カットLN基板1の形状と寸法を示す。図のx方向が幅(あるいは、横幅)に、z方向が厚みに、y方向が長さに対応し、各々の寸法をL、L、及びLとする。前述の漏れた高周波電気信号成分に対しては、z−カットLN基板1は誘電体共振器として機能する。つまり、漏れた高周波電気信号成分はz−カットLN基板1に共振モードを励振し、その中で共振(誘電体共振と呼ぶ)すると考えられる。
誘電体共振が生じると、マイクロ波コネクタの芯線6aから進行波電極の中心導体4aと接地導体4b、4cに伝搬すべき高周波電気信号のエネルギーの多くが、z−カットLN基板1からなる誘電体共振器の内部に共振モードを励振するのに費やされてしまい、図5や図6に示した相互作用光導波路3a、3bにおける光の変調に有効に活用されない。そのため、変調周波数に対する光の変調指数に激しい落ち込み(周波数ディップと呼ぶ)を生じてしまう。
例えば10Gbit/sの変調速度の場合に、この周波数ディップが10GHz付近やそれ以下の周波数領域に生じた場合や、40Gbit/sの変調速度の場合に、この周波数ディップが30GHz付近やそれ以下の周波数領域などに生じると、実用上極めて深刻な問題となってしまう。
[第2の従来技術]
第1の従来技術における誘電体共振器としての共振周波数を光変調に必要な周波数領域から高周波側に外すことにより、光の変調指数における周波数ディップの影響を改善するために特許文献1に提案された技術を第2の従来技術として説明する。ここで、図5から図11に示した第1の従来技術と同一番号は同一機能部に対応しているため、ここでは同一番号を持つ機能部の説明を省略する。
図12に図11のz−カットLN基板1の横断面図を示す。特許文献1によれば、変調指数の周波数ディップf

= c/(2n・d) (1)

で与えられるとのことである。ここで、cは真空中の光速、nは高周波電気信号の等価屈折率、そして重要な物理量であるdは図12に示す横断面図において最も長くなる長さ(通常は、対角線の長さ)とされている。
そして、高周波電気信号の等価屈折率nと対角線の長さdとの積n・dを0.8mmより大きく、11mmよりも小さくすることにより、周波数ディップを10Gbit/sの光伝送に支障のない高い周波数にシフトできるとしている。
我々はこの(1)式に従って、z−カットLN基板1を用いた光変調器を実際に設計・製作した。なお、設計に当たっては高周波電気信号の等価屈折率は図12のx方向では6.56、z方向では5.29とした。
ところがこの第2の従来技術の要求条件(1)式に基づいてLN光変調器を設計・製作したところ、機械的強度の観点からLN光変調器を歩留まり良く作ることが困難であることがわかった。
つまり、1例として周波数ディップfを40GHzとすると、(1)式からz−カットLN基板1の横断面図における対角線の長さdは0.63mmとなる。そこで、z−カットLN基板1の厚み(L)を0.5mmと仮定すると、z−カットLN基板1の幅(L)は0.39mmとなる。
通常、z−カットLN基板1の長さ(L)は数十mm有るのでz−カットLN基板1の横断面の寸法がこのように小さくなり過ぎると、z−カットLN基板1の剛性が極めて弱くなってしまう。そのため、ウェーハプロセス終了後の切断・研磨工程における取り扱い、及びLN光変調器として金属筐体5に実装する工程において破壊される素子が増え、機械的強度に問題があることがわかった。
特開平3−253814号公報
以上のように、変調指数の周波数ディップfを光伝送を行う上で差し支えないように高い周波数領域にシフトさせるために提案された第2の従来技術、すなわちLN基板の横断面において最も長くなる長さ(通常は、対角線の長さ)をd、高周波電気信号の等価屈折率をnとして、周波数ディップfをf = c/(2n・d)から求め、周波数ディップfが充分高くなるように対角線の長さdを設定する第2の従来技術では、光変調器としての機械的強度を保ちつつ、周波数ディップfを使用周波数領域から外すことは困難であり、より機械的強度を確保できる技術の開発が望まれていた。
上記課題を解決するために、本発明の請求項1の光変調器は、電気光学効果を有する基板と、該基板に形成された光を導波するための光導波路と、前記基板の一方の面側に形成され、前記光の位相を変調する高周波電気信号を印加するための中心導体及び接地導体からなる進行波電極とを有し、前記進行波電極が、前記高周波電気信号を印加することにより前記光の位相を変調するための相互作用部と、少なくとも外部回路から前記相互作用部に前記高周波電気信号を印加するための入力用フィードスルー部を具備する光変調器において、前記進行波電極には進行波電極の基本モードが伝搬し、前記光導波路の長手方向にほぼ垂直となる前記基板の断面の最も長くなる辺の長さと前記基板の断面の最も短くなる辺の長さの比をほぼ2倍以上に大きく、該最も短くなる辺の長さとこの方向における前記高周波電気信号の等価屈折率の積が0.4mmより大きく、かつ15mmよりも小さくなるように、前記基板の前記最も短くなる辺の長さを設定したことを特徴とする。
本発明の請求項2の光変調器は、請求項1に記載の光変調器において、前記最も短くなる辺の長さが前記基板の厚みであることを特徴とする。
本発明の請求項3の光変調器は、請求項1に記載の光変調器において、前記最も短くなる辺の長さが前記基板の横幅であることを特徴とする。
本発明の請求項4の光変調器は、電気光学効果を有する基板と、該基板に形成された光を導波するための光導波路と、前記基板の一方の面側に形成され、前記光の位相を変調する高周波電気信号を印加するための中心導体及び接地導体からなる進行波電極とを有し、前記進行波電極が、前記高周波電気信号を印加することにより前記光の位相を変調するための相互作用部と、少なくとも外部回路から前記相互作用部に前記高周波電気信号を印加するための入力用フィードスルー部を具備する光変調器において、前記進行波電極には進行波電極の基本モードが伝搬し、前記光導波路の長手方向にほぼ垂直となる前記基板の断面の最も長くなる辺の長さと前記基板の断面の最も短くなる辺の長さの比をほぼ2倍以上に大きく、該最も短くなる辺の長さを、前記基板の誘電体共振器としての共振周波数が前記高周波電気信号の周波数よりも高くなるように設定したことを特徴とする。
本発明の請求項5の光変調器は、請求項1乃至請求項2、及び請求項4に記載の光変調器において、少なくとも前記入力用フィードスルー部の下方に、前記基板よりも比誘電率の小さな低誘電率層を具備し、前記基板の厚みと前記低誘電率層の厚みから決定される共振周波数が前記高周波電気信号よりも高くなるように、前記基板の厚みに応じて前記低誘電率層の厚みを設定したことを特徴とする。
本発明の請求項6の光変調器は、請求項5に記載の光変調器において、前記低誘電率層の少なくとも一部が空気からなることを特徴とする。
本発明の請求項7の光変調器は、請求項5に記載の光変調器において、前記低誘電率層の比誘電率が空気よりも大きく、前記基板より小さな材料からなることを特徴とする。
本発明では、進行波電極に基本モードを伝搬させ、光変調指数の周波数ディップfは誘電体共振器としての基板の共振周波数により決定されるようにする。そして、誘電体共振器としての基板の共振周波数により決定されるこの周波数ディップfに対する基板の各辺の寸法の影響はそれらの自乗に反比例して小さくなることを利用する。つまり、光導波路の長手方向にほぼ垂直となる基板の断面のうち、最も長くなる辺の長さを長くして、周波数ディップfに対するその影響を充分に小さくするとともに機械的強度を確保する。そして、光導波路の長手方向にほぼ垂直となる基板の断面のうち、最も短くなる辺の長さを短くして周波数ディップfを高い周波数領域にシフトさせる。具体的には、光導波路の長手方向にほぼ垂直となる基板の断面のうち、最も長くなる辺の長さと最も短くなる辺の長さの比をほぼ2倍以上に大きくとることにより、最も長くなる辺の長さの周波数ディップfに対する影響を最も短くなる辺の長さの1/4以下と充分に小さくする。こうすることにより、LN光変調器チップとしての機械的強度を確保しつつ、使用する周波数領域から周波数ディップfを外すことができる。従って、本発明により、第2の従来技術では困難であった光変調器としての機械的強度を確保しつつ、周波数ディップfを充分高い周波数領域にシフトさせることが可能となる。
以下、本発明の実施形態について説明するが、図5から図12に示した従来の実施形態と同一番号は同一機能部に対応しているため、ここでは同一番号を持つ機能部の説明を省略する。また、光導波路、進行波電極、相互作用部および入力用フィードスルー部は、従来の実施形態と同様に形成されているものとして説明するが、これに限定されるものではない。
[第1の実施形態]
LN光変調器における光変調指数の周波数ディップfの原因としては、進行波電極を伝搬する高周波電気信号の高次モードと、LN基板の誘電体共振器としての共振の2つが考えられるが、ここでは本発明の全ての実施形態において、進行波電極については基本モードを伝搬させるように設計する。よって、本発明の全ての実施形態においては、光変調指数の周波数ディップfは誘電体共振器としての基板の共振周波数により決定される。そして、誘電体共振器としての基板の共振周波数により決定されるこの周波数ディップfに対し、基板の各辺の寸法がそれらの自乗に反比例して影響を与えることを利用する。
先に述べた第2の従来技術では、図12に示す横断面図を基にし、周波数ディップfを与える式として(1)式に基づいて設計し、横断面図において最も長くなる長さ、即ち対角線の長さdを決定していた。
一方、本発明においては、図11に示した誘電体共振器に立ち返って考える。つまり、図11に示すz−カットLN基板1からなる誘電体共振器の共振周波数が周波数ディップfに対応すると考える。この周波数ディップfは、図11におけるz−カットLN基板1の上面(進行波電極が形成されている基板面)と下面(進行波電極が形成されている基板面と反対の基板面)に金属がある場合には

= (c/2)・{(m/(n・L))+(m/(n・L))+(m/(n・L))}1/2 (2)

また、z−カットLN基板1の上面には金属があり、下面の下方には充分に深い空隙があるとすると

= (c/2)・{(m/(n・L))+(m/(n・L))+((m−1/2)/(n・L))}1/2 (3)

となる。
ここで、m、m、及びmは共振の次数を表す自然数であり、問題となるのは最も低い次数(つまり、1)の共振周波数である。2以上のm、m、及びmは2次以上の高次モードに対応する。n、n、及びnはx、y、及びzの各方向における高周波電気信号の等価屈折率であり、多くの場合、n=n=6.56、n=5.29と考えてよい。
また、(2)式と(3)式の比較からわかるように、z−カットLN基板1の幅方向(x方向)において、片方の端面に金属が有り、その反対側の端面が広い空間に接している場合には、mをm−1/2により置き換えれば良い。
(2)式や(3)式の中において、z−カットLN基板1の幅L、長さL、及び厚みLが使用されている式の形態を考え、本発明においては、第2の従来技術が主張している「横断面において最も長くなる長さ(通常は対角線の長さ)と、その方向における高周波電気信号の等価屈折率との積」ではなく、「横断面において最も短くなる辺の長さと、その方向における高周波電気信号の等価屈折率との積」をキーポイントとする。
本発明では、まず、周波数ディップfを決定する式の中に、横断面の各辺の長さが自乗に反比例する形式で入っていることに着目し、横断面において最も長い辺の長さを意図的に長くすることにより、周波数ディップfに対する影響を極めて小さくする。次に、横断面において最も短くなる辺の長さを意図的に短くすることにより、最も短くなる辺の長さとその方向における高周波電気信号の等価屈折率との積で決まる周波数ディップfを光伝送で使用する帯域よりも充分高い周波数領域にシフトさせる。換言すると、そのように周波数ディップfを高い周波数領域にシフトさせるために、横断面の寸法のうち、本発明の第1の実施形態では厚みLを薄くする構造を採用する。
以上のことを具体的に式を用いて説明する。(2)式と(3)式において、

<<L、L (4)

と仮定すると、(2)式と(3)式は各々

= (c/2)・m/(n・L) (5)
= (c/2)・(m−1/2)/(n・L) (6)

と表現でき、z−カットLN基板1の最も短くなる辺の長さ(ここでは、LN基板の厚みL)により周波数ディップfが決定できる。
ここで、(4)式が成り立つと仮定できる条件について考察する。z−カットLN基板1の長さLは充分長いので、L<<Lは当然成り立っている。従って、次に、残るLとLの関係について考える。Lは周波数ディップfの式の中にLの自乗に反比例する形式で入っているので、LはLの2倍以上の大きさであるとすると周波数ディップfに対するLの影響はLの影響の1/4と充分小さくなり、L<<Lが成り立つと考えることができる。また、基板の横幅Lを広くとることにより光変調器としての充分な機械的強度が確保できるという利点が生じる。
なお、z−カットLN基板1の下面の下に有限の深さの空隙がある場合には、(3)式あるいは(6)式とは異なってくるものの、z−カットLN基板1の比誘電率(その平方根が等価屈折率と近似できる)は高いので、空隙よりもz−カットLN基板1の影響の方が大きい。従って、z−カットLN基板1に着目したここでの議論の大筋は同じである。
以上のように、本発明は第2の従来技術の「横断面において最も長くなる長さ(通常は対角線)とその方向における高周波電気信号の等価屈折率との積」ではなく、その反対の「横断面において最も短くなる辺の長さとその方向における高周波電気信号の等価屈折率との積」をキーポイントと考えており、従来の第2技術とは発想が全く反対である。
具体的に説明すると、第2の従来技術によれば、周波数ディップfを高い周波数領域にシフトさせるためには、特にz−カットLN基板1の幅(L)を狭くしないといけないことになるが、本発明では逆に幅(L)は数mmと広くしても、厚みを薄くすることより周波数ディップfを充分高くする構造とする。
本発明によれば、光伝送にとって有害な周波数ディップfを正確、確実、かつ容易に使用周波数領域よりも高い周波数にシフトできるという大きな利点がある。
次に、「横断面において最も短くなる辺の長さとその方向における高周波電気信号の等価屈折率との積」についてさらに考察を進める。
一般に、周波数ディップfは周波数に対してシャープではなくある周波数帯域を持つ(言い換えると、誘電体共振器としての共振のQ値が高くない)ので、10Gbit/sの光伝送を考える際には、周波数ディップfとしてはできれば30%程高い13GHz程度には設定したいが、ここでは最低確保したい10GHzとすると、「横断面において最も短くなる辺の長さとその方向における高周波電気信号の等価屈折率との積((5)式や(6)式のn・L)」の大きい値については、15mmとなる。
一方、n・Lの小さな方の値については、現在我々が行っているプロセスではz−カットLN基板1の厚みLとして、0.3mm程度あれば何ら問題なく、0.2mm程度までなら歩留まりを確保できている。厚み方向の共振における等価屈折率nは5.29として議論して来たが、2程度まで考えられるので、その結果、「横断面において最も短くなる辺の長さとその方向における高周波電気信号の等価屈折率との積((5)式や(6)式のn・L)」の小さい値としては0.4となる。
本発明に従って、z−カットLN基板1を用いて製作したLN光変調器の変調指数の周波数応答特性を図1に示す。ここで、本発明の効果を明らかにするために、z−カットLN基板1の幅Lは第2の従来技術では許容することができない6mmをあえて採用した。また、基板の厚みLは0.3mm、基板の長さLは50mmとした。
本発明によるLN光変調器の特性である図1においては、40GHzまでは周波数ディップfが観測されない。よって、第2の従来技術のように素子を極めて小さくすること無しに、変調指数の周波数ディップfを40GHz以上の高い周波数にシフトさせることが可能であることがわかる。
以上のように、本実施形態によれば、z−カットLN基板1の横幅を充分に広くできるので、変調指数の周波数ディップfを高い周波数にシフトしつつ、横幅の剛性によりLN光変調器モジュールを組み立てる上で問題のない機械的強度を確保できるという利点がある。
[第2の実施形態]
本発明においては、「横断面において最も短くなる辺の長さとその方向における高周波電気信号の等価屈折率との積」が重要である。第1の実施形態においては、z−カットLN基板1の厚みLが「横断面において最も短くなる辺の長さ」であった。但し、z−カットLN基板1の厚みLが0.2mm以下と薄くなると3インチや4インチでのプロセスの際に基板割れを生じる場合が出て来る。
そこで、(2)式と(3)式に立ち返り、基板の厚みL以外の「横断面において最も短くなる辺の長さ」の可能性を考える。
つまり、第2の従来技術の「横断面における対角線の長さ」にとらわれない本発明の考え方に基づけば、厚みLが1.5mmと厚いz−カットLN基板1を使用し、基板割れを心配することなく安全にプロセスを行った後に、基板の横幅Lを狭くしても同じ効果を得ることができる。
そして、その場合には、(2)式と(3)式において、

<<L、L (7)

と仮定すると、(2)式と(3)式は各々

= (c/2)・m/(n・L) (8)
= (c/2)・(m−1/2)/(n・L) (9)

と表現でき、z−カットLN基板1の最も短くなる横幅Lにより周波数ディップfが決定されることがわかる。
ここで、(7)式が成り立つと仮定できる条件について考察する。z−カットLN基板1の長さLは充分長いので、L<<Lは当然成り立っている。従って、残るLとLの関係について考える。次に、Lは周波数ディップfの式の中にLの自乗に反比例する形式で入っているので、LはLの2倍以上の大きさであるとすると周波数ディップfに対するLの影響はLの影響の1/4と充分小さくなり、L<<Lが成り立つと考えることができる。また、基板の厚みLを厚くとることにより光変調器としての充分な機械的強度が確保できるという利点が生じる。
ちなみに、厚みLが1.5mmのz−カットLN基板1を用いて、基板の横幅Lを0.3mmとした場合には、周波数ディップfは(8)式では95GHz以上、(9)式でも47GHz以上となり周波数ディップfを充分高い周波数領域にシフトできる。このz−カットLN基板1の概略図を図2に示す。
以上のように、本実施形態によれば、z−カットLN基板1の厚みを充分に厚くできるので、変調指数の周波数ディップfを高い周波数領域にシフトしつつ、z−カットLN基板1の厚み方向の剛性によりLN光変調器モジュールを組み立てる上で問題のない機械的強度を確保できるという利点がある。
[第3の実施形態]
図3に、本発明の第1の実施形態を応用した第3の実施形態を示す。図4は図3のC−C’線における断面図である。9a、9bは高周波電気信号をLN光変調器に入力する側とLN光変調器から出力する側に設けた空隙、即ち切り欠き部である。なお、高周波電気信号をLN光変調器から出力する側に終端抵抗を取り付ける場合には9bについては無くても良い場合があることは言うまでもない。
次に、高周波電気信号をLN光変調器に入力する入力用フィードスルー側を例にとり、本発明における第3の実施形態の考え方について説明する。CPW進行波電極において高周波電気信号をLN光変調器に入力する部分、即ち入力用フィードスルー部では、マイクロ波コネクタの芯線7aとCPW進行波電極4の中心導体の4aとを接続する必要があるが、マイクロ波コネクタの芯線7aの直径は一般に100〜350μmと大きい。従って、入力用フィードスルー部における中心導体4aの幅、それにともない中心導体の4aと接地導体4b、4cとのギャップもある程度広くならざるを得ない。
z−カットLN基板1の厚みLを薄くすると、入力用フィードスルー部におけるCPW進行波電極4の中心導体4aの幅がz−カットLN基板1の厚みLと同じ程度になってしまう場合がある。そして図8のようなz−カットLN基板1の直下が金属筐体5の場合においては、CPW進行波電極4はCPW動作というよりマイクロストリップ動作をすることになり、所望の特性インピーダンスを実現できない場合も起こり得る。
本発明の第1の実施形態と第2の実施形態における考察では、z−カットLN基板1の下には空隙がある場合も含めて議論した。このように空隙を設けることにより、z−カットLN基板1がマイクロ波コネクタの芯線7aの直径程度に薄くなっても、CPW進行波電極にCPW動作をさせることが可能となるとともに、50Ωに近い特性インピーダンスを実現できる。
前述のように、こうした空隙を設ける形態はこれまでに示した式の中にも含まれているが、これらの式は空隙が充分に深い場合に対応している。一方、本発明の第3の実施形態は、特性インピーダンスと変調指数の周波数ディップfの観点から空隙の深さを適切に設定しようとするものである。
z−カットLN基板1の下にある切り欠き部9a(9bについても同じであるが、簡単のためにここでは9aについてのみ議論する)の影響について考察する。前述のように、本実施形態は第1の実施形態の応用であり、z−カットLN基板1の厚みLを基板の横幅Lよりも極めて薄く設定している(例えば、L=0.3mm、L=6.0mm)。
図4において、切り欠き部9aの深さと幅を各々T、Wとする。ここで、切り欠き部9aの幅Wは進行波電極4の中心導体4aと接地導体4b、4cとのギャップよりも充分に広いと仮定する。すると、z−カットLN基板1と切り欠き部9aの中の空気層に励振される誘電体共振器の共振周波数(つまり、周波数ディップf)は近似的に以下の式で表すことができる。

= (c/2)・m/(n・L+T) (10)

なお、ここで切り欠き部9aには比誘電率が1である空気が充填されていると仮定した。なお、切り欠き部9aに低誘電率の誘電体材料を充填する場合には、(10)式のTにその誘電体材料の等価屈折率を掛ける必要がある。
この切り欠き部9aの比誘電率は小さいので9aを低誘電率層とも呼べるが、ここでは形状から切り欠き部と呼ぶ。また、切り欠き部9aは金属筐体5を切り欠いて形成すると説明したが、要はz−カットLN基板1の下に低誘電率層を設ければ良いので、低誘電率層の作り方は金属筐体5を切り欠くだけでなく、そうした形状の金属板を設置するなど、各種の方法があることは言うまでもない。また、低誘電率の誘電体材料が切り欠き部9aの一部のみに充填されていてもよい。
(10)式からわかるように、切り欠き部9aの深さTも周波数ディップfに影響を与えることがわかる。ちなみに、z−カットLN基板1の基板の厚みLが0.3mmで、切り欠き部9aの深さTが0.4mmの場合には、周波数ディップfは75GHzとなり、充分高い周波数領域にある。さらに、切り欠き部9aが無い場合には、特性インピーダンスが30Ω程度と低いが、この切り欠き部9aを設けることによりほぼ50Ωとすることができる。
なお、切り欠き部9aの深さTが深いと特性インピーダンスは高くなり、浅いと特性インピーダンスは低くなるなど、特性インピーダンスの値に影響を与える。従って、z−カットLN基板1の基板の厚みLを薄くして周波数ディップfを所望の高い周波数領域にシフトさせるとともに、入力用フィードスルー部が最適な特性インピーダンスとなるように、切り欠き部9aの深さTを設定することが重要となる。
また、以上の考察では、切り欠き部9aの幅Wは進行波電極4の中心導体4aと接地導体4b、4cとのギャップよりも充分に広いと仮定したが、切り欠き部9aの幅Wが充分に広くはない場合には周波数ディップfや特性インピーダンスに影響が出るので、注意深く設計する必要がある。逆に、切り欠き部9aの幅Wを調整することにより、周波数ディップfや特性インピーダンスを設定することもできるが、通常は切り欠き部9aの幅Wは進行波電極4の中心導体4aと接地導体4b、4cとのギャップよりも充分に広くした方が設計が容易である。
このように、入力用フィードスルー部におけるCPW進行波電極4の特性インピーダンスを所望の値(例えば、50Ω)に設定するために切り欠き部9aを設ける場合においても、本実施形態ではz−カットLN基板1の厚みLを薄くすることにより、周波数ディップfを充分高い周波数領域にシフトすることができるとともに、基板の横幅で機械的強度を確保できるという利点がある。
[各実施形態について]
以上においては、進行波電極としてはCPW電極を例にとり説明したが、非対称コプレーナストリップ(ACPS)や対称コプレーナストリップ(CPS)などの各種進行波電極、あるいは集中定数型の電極でも良いことは言うまでもない。また、光導波路としてはマッハツェンダ型光導波路の他に、方向性結合器や直線など、その他の光導波路でも良いことは言うまでもない。
また、以上の実施形態はx−カット、y−カットもしくはz−カットの面方位、即ち、基板表面(カット面)に対して垂直な方向に結晶のx軸、y軸もしくはz軸を持つ基板にも適用可能であるし、以上に述べた各実施形態での面方位を主たる面方位とし、これらに他の面方位が副たる面方位として混在しても良いし、LN基板のみでなく、リチウムタンタレートなどその他の基板でも良いことは言うまでもない。
以上のように、本発明に係る光変調器は、RF変調性能について改善することができるという効果を有し、高速で駆動電圧が低い光変調器として有用である。
本発明の第1の実施形態に係るLN光変調器の光変調の測定結果 本発明の第2の実施形態におけるz−カットLN基板の横断面図 本発明の第3の実施形態に係る光変調器モジュールの斜視図 本発明の第3の実施形態に係る光変調器モジュールのC−C’線での断面図 第1の従来技術に係る光変調器の斜視図 第1の従来技術に係る光変調器のA−A’線における断面図 第1の従来技術に係る光変調器の動作を説明する図 第1の従来技術に係る光変調器モジュールの斜視図 第1の従来技術に係る光変調器モジュールのマイクロ波コネクタ部における高周波電気信号の電気力線の分布を説明する図 第1の従来技術に係る光変調器のモジュールのB−B’線で示した入力用フィードスルー部における高周波電気信号の電気力線の分布を説明する図 第2の従来技術に係るz−カットLN基板の斜視図 第2の従来技術に係るz−カットLN基板の横断面図
符号の説明
1:z−カットLN基板(基板、LN基板)
2:SiOバッファ層(バッファ層)
3:光導波路
3a、3b:相互作用部の光導波路(光導波路)
4:進行波電極
4a:中心導体
4b、4c:接地導体
5:金属筐体
6a、6b:マイクロ波コネクタの芯線
7a、7b:マイクロ波コネクタの芯線の周囲にある空洞
8:金属のふた
9a、9b:切り欠き部

Claims (7)

  1. 電気光学効果を有する基板と、該基板に形成された光を導波するための光導波路と、前記基板の一方の面側に形成され、前記光の位相を変調する高周波電気信号を印加するための中心導体及び接地導体からなる進行波電極とを有し、
    前記進行波電極が、前記高周波電気信号を印加することにより前記光の位相を変調するための相互作用部と、少なくとも外部回路から前記相互作用部に前記高周波電気信号を印加するための入力用フィードスルー部を具備する光変調器において、
    前記進行波電極には進行波電極の基本モードが伝搬し、前記光導波路の長手方向にほぼ垂直となる前記基板の断面の最も長くなる辺の長さと前記基板の断面の最も短くなる辺の長さの比をほぼ2倍以上に大きく、該最も短くなる辺の長さとこの方向における前記高周波電気信号の等価屈折率の積が0.4mmより大きく、かつ15mmよりも小さくなるように、前記基板の前記最も短くなる辺の長さを設定したことを特徴とする光変調器。
  2. 前記最も短くなる辺の長さが前記基板の厚みであることを特徴とする請求項1に記載の光変調器。
  3. 前記最も短くなる辺の長さが前記基板の横幅であることを特徴とする請求項1に記載の光変調器。
  4. 電気光学効果を有する基板と、該基板に形成された光を導波するための光導波路と、前記基板の一方の面側に形成され、前記光の位相を変調する高周波電気信号を印加するための中心導体及び接地導体からなる進行波電極とを有し、
    前記進行波電極が、前記高周波電気信号を印加することにより前記光の位相を変調するための相互作用部と、少なくとも外部回路から前記相互作用部に前記高周波電気信号を印加するための入力用フィードスルー部を具備する光変調器において、
    前記進行波電極には進行波電極の基本モードが伝搬し、前記光導波路の長手方向にほぼ垂直となる前記基板の断面の最も長くなる辺の長さと前記基板の断面の最も短くなる辺の長さの比をほぼ2倍以上に大きく、該最も短くなる辺の長さを、前記基板の誘電体共振器としての共振周波数が前記高周波電気信号の周波数よりも高くなるように設定したことを特徴とする光変調器。
  5. 少なくとも前記入力用フィードスルー部の下方に、前記基板よりも比誘電率の小さな低誘電率層を具備し、前記基板の厚みと前記低誘電率層の厚みから決定される共振周波数が前記高周波電気信号よりも高くなるように、前記基板の厚みに応じて前記低誘電率層の厚みを設定したことを特徴とする請求項1乃至請求項2、及び請求項4に記載の光変調器。
  6. 前記低誘電率層の少なくとも一部が空気からなることを特徴とする請求項5に記載の光変調器。
  7. 前記低誘電率層の比誘電率が空気よりも大きく、前記基板より小さな材料からなることを特徴とする請求項5に記載の光変調器。
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