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JP2007223093A - Optical head and image forming apparatus - Google Patents

Optical head and image forming apparatus Download PDF

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JP2007223093A
JP2007223093A JP2006044857A JP2006044857A JP2007223093A JP 2007223093 A JP2007223093 A JP 2007223093A JP 2006044857 A JP2006044857 A JP 2006044857A JP 2006044857 A JP2006044857 A JP 2006044857A JP 2007223093 A JP2007223093 A JP 2007223093A
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JP
Japan
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substrate
light emitting
optical head
circuit
electrode
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2006044857A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junichi Wakabayashi
淳一 若林
Ryoichi Nozawa
陵一 野澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To make an optical head compact by arranging each light emitting element and a selecting circuit so as to overlap each other. <P>SOLUTION: A first substrate 10 and a second substrate 20 are opposed to each other in the optical head. Both a plurality of the light emitting elements E and a plurality of unit circuits U corresponding respectively to the light emitting elements E are arranged on a surface of the second substrate 20. Both a data signal line LD where a data signal D designating a tone of each light emitting element E is supplied, and a shift register 43 sequentially selecting each unit circuit U are arranged on a surface of the first substrate 10. Each unit circuit U controls light emission of the light emitting element E corresponding to the unit circuit U on the basis of the data signal D acquired from the data signal line LD in accordance with the selection by the shift register 43. Both a transistor Q constituting the shift register 43 and each light emitting element E overlap each other when seen from a direction perpendicular to the first substrate 10 and the second substrate 20. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、有機発光ダイオード素子などの発光素子を制御する技術に関する。   The present invention relates to a technique for controlling a light emitting element such as an organic light emitting diode element.

多数の発光素子が基板に配列された光ヘッド(ラインヘッド)を感光体ドラムなどの像
担持体の露光に利用した画像形成装置が従来から提案されている。例えば特許文献1には
、各発光素子の駆動に関わる様々な要素を多数の発光素子とともにひとつの基板の面上に
配置した光ヘッドが開示されている。基板の面上には、例えば、各発光素子の階調を指定
するデータ信号が供給される複数の信号線や、各発光素子の駆動のためにデータ信号を信
号線から取得(サンプリング)する複数のスイッチング素子、各スイッチング素子を順番
にオン状態に遷移させるシフトレジスタなどが配置される。
特開2005−231171号公報(図7)
2. Description of the Related Art Conventionally, an image forming apparatus using an optical head (line head) in which a large number of light emitting elements are arranged on a substrate for exposure of an image carrier such as a photosensitive drum has been proposed. For example, Patent Document 1 discloses an optical head in which various elements related to driving of each light emitting element are arranged on the surface of one substrate together with many light emitting elements. On the surface of the substrate, for example, a plurality of signal lines to which a data signal designating the gradation of each light emitting element is supplied, or a plurality of data signals acquired (sampled) from the signal line for driving each light emitting element. Switching elements, a shift register for sequentially switching each switching element to an ON state, and the like are arranged.
Japanese Patent Laying-Open No. 2005-231171 (FIG. 7)

しかしながら、特許文献1の構成においては、以上のような様々な要素の配置のために
大型の基板が必要となるから、光ヘッドやこれを利用した画像形成装置の小型化が制約さ
れるという問題があった。このような事情を背景として、本発明は、光ヘッドを小型化す
るという課題の解決を目的としている。
However, in the configuration of Patent Document 1, a large substrate is required for the arrangement of the various elements as described above, and thus there is a problem that miniaturization of the optical head and the image forming apparatus using the same is restricted. was there. Against this background, the present invention aims to solve the problem of downsizing the optical head.

以上の課題を解決するために、本発明に係る光ヘッドは、複数の発光素子と、各発光素
子に対応する複数の単位回路と、各発光素子の階調を指定するデータ信号が供給される信
号線(例えば図2のデータ信号線LD)と、各単位回路を順次に選択する選択回路(例え
ば図2のシフトレジスタ43や図10のサンプリング回路45)とを具備し、各単位回路
は、選択回路による選択に応じて信号線から取得したデータ信号に基づいて、当該単位回
路に対応する発光素子の発光を制御し、各発光素子と選択回路とは、例えば各発光素子が
配列された基板に垂直な方向からみて重なり合う。より具体的には、選択回路がトランジ
スタ(例えば図6のトランジスタQや図10のトランジスタSW)を含んで構成される光
ヘッドにおいて、各発光素子は、例えば選択回路のトランジスタの半導体層(例えば図6
の半導体層11)と重なり合う。
In order to solve the above problems, an optical head according to the present invention is supplied with a plurality of light emitting elements, a plurality of unit circuits corresponding to each light emitting element, and a data signal designating the gradation of each light emitting element. 2 includes a signal line (for example, the data signal line LD in FIG. 2) and a selection circuit (for example, the shift register 43 in FIG. 2 and the sampling circuit 45 in FIG. 10) for sequentially selecting each unit circuit. Based on the data signal acquired from the signal line according to the selection by the selection circuit, the light emission of the light emitting element corresponding to the unit circuit is controlled. Each light emitting element and the selection circuit are, for example, a substrate on which each light emitting element is arranged. Overlapping when viewed from the direction perpendicular to More specifically, in an optical head in which the selection circuit includes a transistor (for example, the transistor Q in FIG. 6 or the transistor SW in FIG. 10), each light-emitting element is, for example, a semiconductor layer (for example, FIG. 6
Of the semiconductor layer 11).

以上の構成によれば、各発光素子と選択回路とが重なり合うように配置されるから、各
発光素子と選択回路とが重なり合わないように配置された構成と比較して光ヘッドを小型
化することが可能である。例えば、各発光素子が配列された基板に垂直な方向からみて各
発光素子と選択回路とが重なり合う構成とすれば、基板の別個の領域に発光素子と選択回
路とが配置された構成と比較して基板を小型化することができる。
According to the above configuration, since each light emitting element and the selection circuit are arranged so as to overlap each other, the optical head can be downsized as compared with the configuration arranged so that each light emitting element and the selection circuit do not overlap each other. It is possible. For example, if each light emitting element and the selection circuit overlap each other when viewed from the direction perpendicular to the substrate on which each light emitting element is arranged, the light emitting element and the selection circuit are arranged in separate areas of the substrate. Thus, the substrate can be reduced in size.

本発明の発光素子とは、電気エネルギの付与(例えば電流の供給や電界の印加)によっ
て発光する素子であり、例えば電流の供給によって発光する有機発光ダイオード素子であ
る。本発明における「複数の発光素子」は、光ヘッドが備える総ての発光素子であっても
一部の発光素子であってもよい。したがって、光ヘッドの総ての発光素子が選択回路と重
なり合う必要はない。
The light-emitting element of the present invention is an element that emits light by application of electric energy (for example, supply of electric current or application of an electric field), for example, an organic light-emitting diode element that emits light by supplying electric current. The “plurality of light emitting elements” in the present invention may be all light emitting elements included in the optical head or a part of the light emitting elements. Therefore, it is not necessary that all the light emitting elements of the optical head overlap the selection circuit.

本発明の好適な態様において、各発光素子は、相互に対向する第1電極および第2電極
と両電極間に介在する発光層とを含み、各発光素子の第2電極は、複数の発光素子にわた
って連続に形成されて各発光素子の発光層と選択回路との間に介在する。この態様によれ
ば、第2電極が発光層と選択回路との間に介在するから、選択回路および発光層の一方か
ら他方に対する電気的な影響(例えばノイズ)を第2電極によって遮蔽することが可能で
ある。また、遮光性(光吸収性または光反射性)の導電材料によって第2電極が形成され
た構成によれば、発光層による放射光が第2電極によって遮光されて選択回路に到達しな
いから、光照射に起因した選択回路の誤動作が防止されるという利点がある。
In a preferred aspect of the present invention, each light emitting element includes a first electrode and a second electrode facing each other, and a light emitting layer interposed between the two electrodes, and the second electrode of each light emitting element includes a plurality of light emitting elements. And are interposed between the light emitting layer of each light emitting element and the selection circuit. According to this aspect, since the second electrode is interposed between the light emitting layer and the selection circuit, an electrical influence (for example, noise) from one of the selection circuit and the light emitting layer to the other can be shielded by the second electrode. Is possible. Further, according to the configuration in which the second electrode is formed of a light-shielding (light-absorbing or light-reflecting) conductive material, the light emitted from the light-emitting layer is shielded by the second electrode and does not reach the selection circuit. There is an advantage that a malfunction of the selection circuit due to irradiation is prevented.

また、各単位回路と信号線とが重なり合う構成も好適である。この構成によれば、各単
位回路と信号線とが重なり合わないように配置された構成と比較して光ヘッドを小型化す
ることが可能である。また、各単位回路と信号線との間に第2電極を介在させた構成とす
れば、各単位回路および信号線の一方から他方に対する電気的な影響を第2電極によって
遮蔽することができる。
なお、第2電極は、単位回路と信号線とが重なり合う領域の全部にわたって両者間に介
在する必要はない。ただし、各単位回路が、信号線から取得したデータ信号を保持する保
持回路を含む構成においては、各単位回路の保持回路と信号線との間に第2電極を介在さ
せた構成が好適である。この構成によれば、保持回路が保持するデータ信号に対する信号
線の電圧の変動の影響が第2電極によって抑制される。したがって、各発光素子の発光を
データ信号に応じて確実に制御することが可能となる。
A configuration in which each unit circuit and the signal line overlap is also preferable. According to this configuration, it is possible to reduce the size of the optical head as compared with a configuration in which each unit circuit and the signal line are arranged so as not to overlap each other. In addition, if the second electrode is interposed between each unit circuit and the signal line, the electrical influence on one of the unit circuit and the signal line from the other can be shielded by the second electrode.
Note that the second electrode does not have to be interposed between the entire area where the unit circuit and the signal line overlap. However, in a configuration in which each unit circuit includes a holding circuit that holds a data signal acquired from the signal line, a configuration in which the second electrode is interposed between the holding circuit of each unit circuit and the signal line is preferable. . According to this configuration, the influence of the fluctuation of the voltage of the signal line on the data signal held by the holding circuit is suppressed by the second electrode. Therefore, the light emission of each light emitting element can be reliably controlled according to the data signal.

本発明の好適な態様においては、第2電極よりも抵抗率が低い材料で形成されて第2電
極に導通する補助配線がさらに配置され、各単位回路は、半導体層(例えば図7の半導体
層21)を有するトランジスタ(例えば図7のトランジスタR)を含んで構成され、補助
配線は、単位回路のトランジスタの半導体層と重なり合う。この構成によれば、第2電極
における電圧降下が補助配線によって抑制されるから、各発光素子を高い精度で所期の輝
度に制御することが可能となる。また、単位回路のトランジスタの半導体層と重なり合う
ように補助配線が形成されるから、半導体層に対する電気的な影響を補助配線によって抑
制できる。また、遮光性の材料によって補助配線が形成された構成によれば、半導体層に
向かう光が補助配線によって遮光されるから、光照射に起因したトランジスタの誤動作(
電流のリーク)を防止できる。
In a preferred aspect of the present invention, an auxiliary wiring formed of a material having a lower resistivity than the second electrode and conducting to the second electrode is further disposed, and each unit circuit is formed of a semiconductor layer (for example, the semiconductor layer of FIG. 7). 21) (for example, the transistor R in FIG. 7), and the auxiliary wiring overlaps with the semiconductor layer of the transistor of the unit circuit. According to this configuration, since the voltage drop in the second electrode is suppressed by the auxiliary wiring, each light emitting element can be controlled to the desired luminance with high accuracy. In addition, since the auxiliary wiring is formed so as to overlap with the semiconductor layer of the transistor of the unit circuit, an electrical influence on the semiconductor layer can be suppressed by the auxiliary wiring. In addition, according to the configuration in which the auxiliary wiring is formed of a light-shielding material, light traveling toward the semiconductor layer is shielded by the auxiliary wiring, so that the transistor malfunctions due to light irradiation (
Current leakage) can be prevented.

本発明の好適な態様に係る光ヘッドは、相互に対向する第1基板および第2基板を具備
する。選択回路は、第1基板のうち第2基板に対向する面上に配置され、複数の発光素子
は、第2基板のうち第1基板に対向する面上に配置される。以上の構成によれば、選択回
路と各発光素子とが重なり合う構成を第1基板と第2基板との接合によって容易に実現す
ることができる。
An optical head according to a preferred aspect of the present invention includes a first substrate and a second substrate facing each other. The selection circuit is disposed on a surface of the first substrate facing the second substrate, and the plurality of light emitting elements are disposed on a surface of the second substrate facing the first substrate. According to the above configuration, a configuration in which the selection circuit and each light emitting element overlap can be easily realized by joining the first substrate and the second substrate.

各単位回路が配置される位置は任意である。例えば、第1基板のうち第2基板に対向す
る面上や第2基板のうち第1基板に対向する面上に各単位回路の全部を配置した構成が採
用される。ただし、ひとつの基板のみに各単位回路の全部の要素が配置された構成におい
ては、その基板における回路の規模が他方の基板と比較して過大となって光ヘッドの小型
化が制約される場合もある。そこで、本発明の好適な態様においては、ひとつの単位回路
を構成する各要素が第1基板と第2基板とに分散して配置される。例えば、各単位回路が
、信号線から取得したデータ信号を保持する保持回路と、保持回路が保持するデータ信号
に応じて発光素子の発光を制御する発光制御回路とを含む構成においては、各単位回路の
保持回路が、第1基板のうち第2基板に対向する面上に配置され、各単位回路の発光制御
回路が、第2基板のうち第1基板に対向する面上に配置される。この態様によれば、第1
基板上の回路の規模と第2基板上の回路の規模との不均衡を抑制することができる。また
、保持回路が選択回路とともに第1基板に配置されるから、選択回路が各単位回路を選択
するための信号を第1基板から第2基板にわたって伝送する必要がないという利点がある
。なお、この態様の具体例は第2実施形態および第3実施形態として後述される。
The position where each unit circuit is arranged is arbitrary. For example, a configuration in which all the unit circuits are arranged on the surface of the first substrate facing the second substrate and the surface of the second substrate facing the first substrate is employed. However, in a configuration in which all elements of each unit circuit are arranged on only one substrate, the circuit scale on that substrate is excessive compared to the other substrate, and miniaturization of the optical head is restricted. There is also. Therefore, in a preferred aspect of the present invention, each element constituting one unit circuit is distributed and arranged on the first substrate and the second substrate. For example, in a configuration in which each unit circuit includes a holding circuit that holds a data signal acquired from a signal line, and a light emission control circuit that controls light emission of the light emitting element according to the data signal held by the holding circuit, each unit circuit The circuit holding circuit is disposed on the surface of the first substrate facing the second substrate, and the light emission control circuit of each unit circuit is disposed on the surface of the second substrate facing the first substrate. According to this aspect, the first
An imbalance between the scale of the circuit on the substrate and the scale of the circuit on the second substrate can be suppressed. Further, since the holding circuit is arranged on the first substrate together with the selection circuit, there is an advantage that it is not necessary for the selection circuit to transmit a signal for selecting each unit circuit from the first substrate to the second substrate. In addition, the specific example of this aspect is later mentioned as 2nd Embodiment and 3rd Embodiment.

本発明の具体的な態様において、第1基板に形成された要素と第2基板に形成された要
素とが、第1基板と第2基板との間隙に配置された導電体(例えば図4の導通粒子31)
を介して電気的に接続され、当該光ヘッドと外部とを電気的に接続するための接続端子は
第1基板の面上のみに形成される。この態様によれば、接続端子が第1基板の面上のみに
形成されるから、光ヘッドと外部とを接続するための構成が簡素化されるという利点があ
る。
In a specific embodiment of the present invention, an element formed on the first substrate and an element formed on the second substrate are conductors arranged in the gap between the first substrate and the second substrate (for example, in FIG. 4). Conductive particles 31)
The connection terminals for electrically connecting the optical head and the outside are formed only on the surface of the first substrate. According to this aspect, since the connection terminal is formed only on the surface of the first substrate, there is an advantage that the configuration for connecting the optical head and the outside is simplified.

本発明に係る光ヘッドは各種の電子機器に利用される。本発明に係る電子機器の典型例
は、以上の各態様に係る光ヘッドを感光体ドラムなどの像担持体の露光に利用した画像形
成装置である。この画像形成装置は、露光によって潜像が形成される像担持体(例えば図
11の感光体ドラム70)と、像担持体を露光する本発明の光ヘッドと、像担持体の潜像
に対する現像剤(例えばトナー)の付着によって顕像を形成する現像器とを含む。もっと
も、本発明に係る光ヘッドの用途は像担持体の露光に限定されない。例えば、スキャナな
どの画像読取装置においては、本発明に係る光ヘッドを原稿の照明に利用することが可能
である。この画像読取装置は、本発明に係る光ヘッドと、光ヘッドから出射して読取対象
(原稿)で反射した光を電気信号に変換する受光装置(例えばCCD(Charge Coupled D
evice)素子などの受光素子)とを具備する。
The optical head according to the present invention is used in various electronic devices. A typical example of the electronic apparatus according to the present invention is an image forming apparatus using the optical head according to each of the above aspects for exposure of an image carrier such as a photosensitive drum. This image forming apparatus includes an image carrier (for example, the photosensitive drum 70 in FIG. 11) on which a latent image is formed by exposure, the optical head of the present invention that exposes the image carrier, and development of the latent image on the image carrier. And a developing unit that forms a visible image by adhesion of an agent (for example, toner). However, the use of the optical head according to the present invention is not limited to the exposure of the image carrier. For example, in an image reading apparatus such as a scanner, the optical head according to the present invention can be used for illuminating a document. The image reading apparatus includes an optical head according to the present invention and a light receiving device (for example, a CCD (Charge Coupled D) that converts light emitted from the optical head and reflected by a reading target (original) into an electrical signal.
evice).

<A:第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係る光ヘッド(露光ヘッド)を感光体ドラムの露光に
利用した画像形成装置の部分的な構成を示す斜視図である。同図に示すように、画像形成
装置は光ヘッドHと集光性レンズアレイ60と感光体ドラム70とを含む。光ヘッドHは
、X方向(主走査方向)に配列する多数の発光素子(図1では図示略)を含む。感光体ド
ラム70は、X方向に延在する回転軸に支持され、外周面を光ヘッドHに対向させた状態
で回転する。
<A: First Embodiment>
FIG. 1 is a perspective view showing a partial configuration of an image forming apparatus using an optical head (exposure head) according to a first embodiment of the present invention for exposure of a photosensitive drum. As shown in the figure, the image forming apparatus includes an optical head H, a condensing lens array 60, and a photosensitive drum 70. The optical head H includes a large number of light emitting elements (not shown in FIG. 1) arranged in the X direction (main scanning direction). The photosensitive drum 70 is supported by a rotation shaft extending in the X direction, and rotates with the outer peripheral surface facing the optical head H.

集光性レンズアレイ60は光ヘッドHと感光体ドラム70との間隙に配置される。この
集光性レンズアレイ60は、各々の光軸を光ヘッドH(Z方向)に向けた姿勢でアレイ状
に配列された多数の屈折率分布型レンズを含む。集光性レンズアレイ60としては、例え
ば日本板硝子株式会社から入手可能なSLA(セルフォック・レンズ・アレイ)がある(
セルフォック/SELFOCは日本板硝子株式会社の登録商標)。光ヘッドHにおける各
発光素子からの出射光は集光性レンズアレイ60の各屈折率分布型レンズを透過したうえ
で感光体ドラム70の表面に到達する。この露光によって感光体ドラム70の表面には所
望の画像に応じた潜像(静電潜像)が形成される。
The condensing lens array 60 is disposed in the gap between the optical head H and the photosensitive drum 70. The condensing lens array 60 includes a large number of gradient index lenses arranged in an array with each optical axis directed to the optical head H (Z direction). As the condensing lens array 60, for example, there is SLA (selfoc lens array) available from Nippon Sheet Glass Co., Ltd. (
SELFOC is a registered trademark of Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Light emitted from each light emitting element in the optical head H passes through each refractive index distribution type lens of the condensing lens array 60 and then reaches the surface of the photosensitive drum 70. By this exposure, a latent image (electrostatic latent image) corresponding to a desired image is formed on the surface of the photosensitive drum 70.

図2は、光ヘッドHの電気的な構成を示すブロック図である。図2に示すように、光ヘ
ッドHは、複数の発光素子EがX方向に配列された素子アレイ部Aと、電源線41および
接地線42と、各発光素子Eに対応する複数(発光素子Eと同数)の単位回路Uとを具備
する。各発光素子Eは、有機EL(ElectroLuminescence)材料からなる発光層が陽極と
陰極との間に介在する有機発光ダイオード(OLED:Organic Light Emitting Diode)
素子であり、発光層に供給される電流に応じた輝度(光度)に発光する。
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the optical head H. As shown in FIG. As shown in FIG. 2, the optical head H includes an element array portion A in which a plurality of light emitting elements E are arranged in the X direction, a power line 41 and a ground line 42, and a plurality of light emitting elements E (light emitting elements). E) (number of unit circuits U). Each light emitting element E is an organic light emitting diode (OLED) in which a light emitting layer made of an organic EL (ElectroLuminescence) material is interposed between an anode and a cathode.
It is an element and emits light with luminance (luminous intensity) corresponding to the current supplied to the light emitting layer.

電源線41には外部の電源回路46から外部接続端子Tp1を介して電源電位VDDが供給
される。接地線42には電源回路46から外部接続端子Tp2を介して接地電位VSSが供給
される。各発光素子Eの陰極は接地線42に接続される。複数の単位回路Uは、X方向に
相隣接するn個(U1,U2,……,Un)を単位としてm個のブロックB(B1,B2,…
…,Bm)に区分される(mおよびnの各々は2以上の整数)。なお、本実施形態では説
明の便宜のために各ブロックBに同数の単位回路Uが含まれる構成を例示するが、ブロッ
クBごとに単位回路Uの個数が相違する構成としてもよい。
A power supply potential VDD is supplied to the power supply line 41 from an external power supply circuit 46 through an external connection terminal Tp1. A ground potential VSS is supplied to the ground line 42 from the power supply circuit 46 via the external connection terminal Tp2. The cathode of each light emitting element E is connected to the ground line 42. The plurality of unit circuits U include m blocks B (B1, B2,..., N units (U1, U2,..., Un) adjacent to each other in the X direction.
.., Bm) (each of m and n is an integer of 2 or more). In the present embodiment, for convenience of explanation, a configuration in which the same number of unit circuits U are included in each block B is illustrated, but a configuration in which the number of unit circuits U is different for each block B may be employed.

さらに、光ヘッドHは、ブロックBの総数に相当するmビットのシフトレジスタ43と
、各ブロックBの単位回路Uの個数に相当するn本のデータ信号線LD(LD1〜LDn)
を含む信号線群Lとを具備する。シフトレジスタ43には外部の制御回路47から外部接
続端子Tsを介してスタートパルスSPとクロック信号CLKとが供給される。シフトレ
ジスタ43は、各単位回路UをブロックBごとに選択するための手段であり、クロック信
号CLKに同期したスタートパルスSPのシフトによってm系統の選択信号S1〜Smを生
成する。選択信号S1〜Smの各々は、クロック信号CLKの1周期ごとに順番にアクティ
ブレベルとなる。選択信号Si(iは1≦i≦mを満たす整数)は、ブロックBiに属する
n個の単位回路Uに対して共通に供給される。選択信号Siのアクティブレベルへの遷移
はブロックBiに属する各単位回路Uの選択を意味する。
Further, the optical head H includes an m-bit shift register 43 corresponding to the total number of blocks B and n data signal lines LD (LD1 to LDn) corresponding to the number of unit circuits U of each block B.
And a signal line group L including The shift register 43 is supplied with a start pulse SP and a clock signal CLK from an external control circuit 47 via an external connection terminal Ts. The shift register 43 is a means for selecting each unit circuit U for each block B, and generates m selection signals S1 to Sm by shifting the start pulse SP in synchronization with the clock signal CLK. Each of the selection signals S1 to Sm sequentially becomes an active level every one cycle of the clock signal CLK. The selection signal Si (i is an integer satisfying 1 ≦ i ≦ m) is commonly supplied to the n unit circuits U belonging to the block Bi. The transition of the selection signal Si to the active level means selection of each unit circuit U belonging to the block Bi.

図2の画像処理回路48は、ひとつのブロックBに属する単位回路Uの総数に相当する
n系統のデータ信号D1〜Dnを生成する。データ信号Dj(jは1≦j≦nを満たす整数
)は各外部接続端子Tdを介してデータ信号線LDjに供給される。ブロックB1〜Bmの各
々に属する第j段目の単位回路Uj(合計m個)はデータ信号線LDjに対して共通に接続
される。データ信号Djは、ブロックB1〜Bmの各々の第j段目の単位回路Ujに対応した
発光素子Eの輝度をブロックB1〜Bmの配列の順番に時分割にて指定する電圧信号である
。さらに詳述すると、データ信号Djは、選択信号Siがアクティブレベルとなる期間にお
いて、ブロックBiの単位回路Ujに対応した発光素子Eに指定された輝度(階調)に応じ
てハイレベルおよびローレベルの何れかとなる。
The image processing circuit 48 of FIG. 2 generates n data signals D1 to Dn corresponding to the total number of unit circuits U belonging to one block B. The data signal Dj (j is an integer satisfying 1 ≦ j ≦ n) is supplied to the data signal line LDj via each external connection terminal Td. The jth stage unit circuits Uj (m in total) belonging to each of the blocks B1 to Bm are commonly connected to the data signal line LDj. The data signal Dj is a voltage signal that specifies the luminance of the light emitting element E corresponding to the j-th unit circuit Uj of each of the blocks B1 to Bm in time division in the order of the arrangement of the blocks B1 to Bm. More specifically, the data signal Dj has a high level and a low level according to the luminance (gradation) designated for the light emitting element E corresponding to the unit circuit Uj of the block Bi during the period in which the selection signal Si is at the active level. It becomes either.

次に、図3を参照して、ひとつの単位回路Uの具体的な構成を説明する。なお、同図に
おいてはブロックBiに属するひとつの単位回路Ujのみが図示されているが、総ての単位
回路U(U1〜Un)は同様の構成である。図3に示すように、ひとつの単位回路Ujは、
保持回路441と発光制御回路442とを含む。
Next, a specific configuration of one unit circuit U will be described with reference to FIG. In the figure, only one unit circuit Uj belonging to the block Bi is shown, but all the unit circuits U (U1 to Un) have the same configuration. As shown in FIG. 3, one unit circuit Uj
A holding circuit 441 and a light emission control circuit 442 are included.

保持回路441は、選択信号SiによるブロックBiの選択に応じてデータ信号線LDj
からデータ信号Djを取得して保持する手段(例えばラッチ回路)である。さらに詳述す
ると、保持回路441は、選択信号Siがアクティブレベルに遷移したタイミングにてデ
ータ信号線LDjからデータ信号Djを取得(サンプリング)し、選択信号Siが次にアク
ティブレベルに遷移するまでデータ信号Djの出力を維持する。
The holding circuit 441 receives the data signal line LDj according to the selection of the block Bi by the selection signal Si.
Means for acquiring and holding the data signal Dj from (eg, a latch circuit). More specifically, the holding circuit 441 acquires (samples) the data signal Dj from the data signal line LDj at the timing when the selection signal Si changes to the active level, and the data until the selection signal Si changes to the active level next time. The output of the signal Dj is maintained.

発光制御回路442は、保持回路441が保持するデータ信号Djに応じて発光素子E
の発光を制御する手段であり、pチャネル型のトランジスタ(以下「駆動トランジスタ」
という)Rdrとnチャネル型のトランジスタR0とを含む。駆動トランジスタRdrは、発
光素子Eに供給される電流を制御する手段であり、電源線41と発光素子Eの陽極との間
に介在する。トランジスタR0は駆動トランジスタRdrのドレイン(発光素子Eの陽極)
と接地線42との間に介在する。駆動トランジスタRdrおよびトランジスタR0の各々の
ゲートには保持回路441から出力されたデータ信号Djが供給される。保持回路441
がローレベルのデータ信号Djを保持している場合、駆動トランジスタRdrはオン状態と
なり、トランジスタR0はオフ状態となる。したがって、発光素子Eは、電源線41から
駆動トランジスタRdrを介した電流の供給によって発光する。これに対し、データ信号D
jがハイレベルである場合には、駆動トランジスタRdrはオフ状態とって発光素子Eは消
灯する。なお、駆動トランジスタRdrがオフ状態にあるときのリーク電流はオン状態のト
ランジスタR0を経由して接地線42に流れ込むから、データ信号Djがハイレベルである
場合に発光素子Eを確実に消灯させることができる。
The light emission control circuit 442 generates the light emitting element E according to the data signal Dj held by the holding circuit 441.
A p-channel transistor (hereinafter referred to as “driving transistor”).
Rdr) and an n-channel transistor R0. The drive transistor Rdr is a means for controlling the current supplied to the light emitting element E, and is interposed between the power supply line 41 and the anode of the light emitting element E. The transistor R0 is the drain of the driving transistor Rdr (the anode of the light emitting element E).
And the ground wire 42. The data signal Dj output from the holding circuit 441 is supplied to the gates of the drive transistor Rdr and the transistor R0. Holding circuit 441
Holds the low level data signal Dj, the drive transistor Rdr is turned on and the transistor R0 is turned off. Therefore, the light emitting element E emits light by supplying current from the power supply line 41 via the driving transistor Rdr. In contrast, the data signal D
When j is at a high level, the drive transistor Rdr is turned off and the light emitting element E is turned off. Since the leakage current when the driving transistor Rdr is in the OFF state flows into the ground line 42 via the transistor R0 in the ON state, the light emitting element E is surely turned off when the data signal Dj is at the high level. Can do.

次に、光ヘッドHの機械的な構造について説明する。図4は、図1におけるIV−IV線か
らみた断面図である。図1および図4に示すように、光ヘッドHは、相互に対向する状態
に貼り合わされた第1基板10と第2基板20とを具備する。第2基板20は第1基板1
0からみて感光体ドラム70(集光性レンズアレイ60)側に位置する。第1基板10お
よび第2基板20は、X方向を長手とする姿勢に固定された長尺状の板材である。
Next, the mechanical structure of the optical head H will be described. 4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV in FIG. As shown in FIGS. 1 and 4, the optical head H includes a first substrate 10 and a second substrate 20 that are bonded to each other. The second substrate 20 is the first substrate 1
It is located on the photosensitive drum 70 (condensing lens array 60) side when viewed from zero. The 1st board | substrate 10 and the 2nd board | substrate 20 are elongate board materials fixed to the attitude | position which makes X direction a longitudinal direction.

図5の部分(a)は、第1基板10のうち第2基板20に対向する表面(以下「対向面」
という)10s上に配置された要素の構造を示す平面図であり、同図の部分(b)は、第2基
板20のうち第1基板10に対向する表面(以下「対向面」という)20s上に配置され
た要素の構造を示す平面図である。図5の部分(a)および部分(b)の各々における紙面の手
前側が相互に向かい合うように第1基板10と第2基板20とが貼り合わされる。
Part (a) of FIG. 5 is a surface of the first substrate 10 that faces the second substrate 20 (hereinafter referred to as “opposing surface”).
10B is a plan view showing the structure of the elements arranged on 10s, and part (b) of the figure is a surface (hereinafter referred to as "opposing surface") 20s of the second substrate 20 facing the first substrate 10. It is a top view which shows the structure of the element arrange | positioned on the top. The first substrate 10 and the second substrate 20 are bonded so that the front side of the paper surface in each of the part (a) and the part (b) in FIG. 5 faces each other.

図4と図5の部分(a)とに示すように、シフトレジスタ43と信号線群Lとは第1基板
10の対向面10s上に配置される。図5の部分(a)に示すように、シフトレジスタ43は
、X方向を長手としてY方向の正側の周縁に沿うように配置された長尺状の回路であり、
第1基板10のうちX方向の負側の周縁に形成された外部接続端子Tsに接続される。ま
た、対向面10sのうちY方向の負側の周縁に沿った領域には、X方向に配列する複数の
接続端子Ca(Ca1・Ca2)が形成される。信号線群Lを構成するn本のデータ信号線L
D1〜LDnは、対向面10sのうちシフトレジスタ43と接続端子Caの配列との間隙にて
X方向に延在する。各データ信号線LDは、第1基板10のうちX方向の負側の周縁に形
成された外部接続端子Tdに接続される。
As shown in part (a) of FIGS. 4 and 5, the shift register 43 and the signal line group L are disposed on the facing surface 10 s of the first substrate 10. As shown in part (a) of FIG. 5, the shift register 43 is a long circuit disposed along the positive side periphery in the Y direction with the X direction as the longitudinal direction.
The first substrate 10 is connected to an external connection terminal Ts formed on the peripheral edge on the negative side in the X direction. A plurality of connection terminals Ca (Ca1 and Ca2) arranged in the X direction are formed in a region along the negative edge of the opposing surface 10s in the Y direction. N data signal lines L constituting the signal line group L
D1 to LDn extend in the X direction in the gap between the shift register 43 and the arrangement of the connection terminals Ca on the facing surface 10s. Each data signal line LD is connected to an external connection terminal Td formed on the periphery of the first substrate 10 on the negative side in the X direction.

図4と図5の部分(b)とに示すように、複数の発光素子Eと複数の単位回路Uとは第2
基板20の対向面20s上に配置される。複数の発光素子Eは、第2基板20のうちY方
向の正側の周縁に沿うようにX方向に配列する。また、対向面20sのうちY方向の負側
の周縁に沿った領域には、X方向に配列する複数の接続端子Cb(Cb1・Cb2)が形成さ
れる。複数の単位回路Uは、発光素子Eの配列と接続端子Cbの配列との間隙(第2基板
20の幅方向における中央部の領域)にてX方向に配列する。
As shown in FIG. 4 and FIG. 5B, the plurality of light emitting elements E and the plurality of unit circuits U are second
It is disposed on the facing surface 20 s of the substrate 20. The plurality of light emitting elements E are arranged in the X direction so as to follow the positive edge of the second substrate 20 in the Y direction. Further, a plurality of connection terminals Cb (Cb1 and Cb2) arranged in the X direction are formed in a region along the peripheral edge on the negative side in the Y direction in the facing surface 20s. The plurality of unit circuits U are arranged in the X direction at a gap (a central region in the width direction of the second substrate 20) between the arrangement of the light emitting elements E and the arrangement of the connection terminals Cb.

図4に示すように、第1基板10と第2基板20とが接合された状態で第1基板10の
各接続端子Caと第2基板20の各接続端子Cbとは相互に対向する。第1基板10と第2
基板20との接合には異方性導電体30が使用される。異方性導電体30は、多数の導電
性の粒子(以下「導通粒子」という)31を接着剤32に分散させた膜体である。第1基
板10と第2基板20との間隙に異方性導電体30を介挿したうえで両基板を熱圧着する
と、第1基板10と第2基板20とが接着剤32によって相互に固定されるとともに接続
端子Caとこれに対向する接続端子Cbとが導通粒子31に接触する。このように接続端子
Caと接続端子Cbとが導通粒子31を介して電気的に接続した箇所が図2の基板間導通部
Cである。導通粒子31は、第1基板10と第2基板20との間隔を所定の寸法に維持す
るスペーサとしても機能する。
As shown in FIG. 4, each connection terminal Ca of the first substrate 10 and each connection terminal Cb of the second substrate 20 face each other in a state where the first substrate 10 and the second substrate 20 are joined. First substrate 10 and second
An anisotropic conductor 30 is used for bonding to the substrate 20. The anisotropic conductor 30 is a film body in which a large number of conductive particles (hereinafter referred to as “conductive particles”) 31 are dispersed in an adhesive 32. When the anisotropic conductor 30 is inserted into the gap between the first substrate 10 and the second substrate 20 and the two substrates are thermocompression bonded, the first substrate 10 and the second substrate 20 are fixed to each other by the adhesive 32. In addition, the connection terminal Ca and the connection terminal Cb opposite to the connection terminal Ca are in contact with the conductive particles 31. In this way, the portion where the connection terminal Ca and the connection terminal Cb are electrically connected via the conductive particles 31 is the inter-substrate conductive portion C of FIG. The conductive particles 31 also function as a spacer that maintains a predetermined distance between the first substrate 10 and the second substrate 20.

図4に示すように、第1基板10のシフトレジスタ43(より詳細にはシフトレジスタ
43を構成するトランジスタQ)と第2基板20の各発光素子Eとは、第1基板10や第
2基板20の表面に垂直なZ方向からみて相互に重なり合う。この構成によれば、ひとつ
の基板の表面に区画された別個の領域にシフトレジスタ43と発光素子Eとが配置された
構成と比較して基板(第1基板10・第2基板20)が小型化される。さらに、本実施形
態においては第1基板10の信号線群Lと第2基板20の各単位回路UとがZ方向からみ
て相互に重なり合う。この構成によれば、ひとつの基板の別個の領域に単位回路Uと信号
線群Lとが配置された構成と比較して基板が小型化される。以上のように、本実施形態に
よれば第1基板10や第2基板20に必要となる面積が第1基板10上の要素と第2基板
20上の要素との重複の分だけ削減される。したがって、光ヘッドHやこれを内蔵する画
像形成装置が小型化されるという利点がある。
As shown in FIG. 4, the shift register 43 of the first substrate 10 (more specifically, the transistor Q constituting the shift register 43) and the light emitting elements E of the second substrate 20 are the first substrate 10 and the second substrate. They overlap each other when viewed from the Z direction perpendicular to the surface of 20. According to this configuration, the substrate (the first substrate 10 and the second substrate 20) is smaller than the configuration in which the shift register 43 and the light emitting element E are arranged in separate regions partitioned on the surface of one substrate. It becomes. Furthermore, in the present embodiment, the signal line group L of the first substrate 10 and the unit circuits U of the second substrate 20 overlap each other when viewed from the Z direction. According to this configuration, the substrate is reduced in size as compared with the configuration in which the unit circuit U and the signal line group L are arranged in separate regions of one substrate. As described above, according to the present embodiment, the area required for the first substrate 10 and the second substrate 20 is reduced by the overlap between the elements on the first substrate 10 and the elements on the second substrate 20. . Therefore, there is an advantage that the optical head H and the image forming apparatus incorporating the same are reduced in size.

次に、図6は、第1基板10に形成された要素の構成を示す断面図(図5の部分(a)に
おけるVI−VI線からみた断面図)である。図6と図4とでは上下(Z方向)が逆転してい
る。図6に示すように、第1基板10の面上にはシフトレジスタ43を構成する多数のト
ランジスタQ(図6においてはひとつのみが図示されている)が形成される。
Next, FIG. 6 is a cross-sectional view (a cross-sectional view taken along line VI-VI in part (a) of FIG. 5) showing a configuration of elements formed on the first substrate 10. 6 and 4 are upside down (Z direction). As shown in FIG. 6, a large number of transistors Q (only one is shown in FIG. 6) forming the shift register 43 are formed on the surface of the first substrate 10.

トランジスタQは、第1基板10の表面に半導体材料によって形成された半導体層11
と、半導体層11を覆うゲート絶縁層Fa0を挟んで半導体層11(チャネル領域)に対向
するゲート電極12とを含む薄膜トランジスタである。半導体層11は、例えばアモルフ
ァスシリコンに対するレーザアニールで形成されたポリシリコンの膜体である。ゲート電
極12は第1絶縁層Fa1に覆われる。トランジスタQのソース電極131およびドレイン
電極132は、アルミニウムなど低抵抗の金属によって第1絶縁層Fa1の面上に形成され
るとともにコンタクトホールを介して半導体層11(ソース領域およびドレイン領域)に
導通する。トランジスタQが形成された第1基板10の表面は第2絶縁層Fa2に覆われる
。第1絶縁層Fa1や第2絶縁層Fa2はSiO2やSiNなどの絶縁材料で形成された膜体
である。
The transistor Q includes a semiconductor layer 11 formed of a semiconductor material on the surface of the first substrate 10.
And a gate electrode 12 facing the semiconductor layer 11 (channel region) with a gate insulating layer Fa0 covering the semiconductor layer 11 interposed therebetween. The semiconductor layer 11 is a polysilicon film formed by laser annealing on amorphous silicon, for example. The gate electrode 12 is covered with the first insulating layer Fa1. The source electrode 131 and the drain electrode 132 of the transistor Q are formed on the surface of the first insulating layer Fa1 with a low resistance metal such as aluminum and are electrically connected to the semiconductor layer 11 (source region and drain region) through the contact hole. . The surface of the first substrate 10 on which the transistor Q is formed is covered with the second insulating layer Fa2. The first insulating layer Fa1 and the second insulating layer Fa2 are film bodies formed of an insulating material such as SiO 2 or SiN.

図6に示すように、信号線群Lを構成する各データ信号線LD(LD1〜LDn)はゲー
ト絶縁層Fa0の面上に形成される。トランジスタQのゲート電極12とデータ信号線LD
とは、ゲート絶縁層Fa0の全域にわたって連続に形成された導電膜(例えばアルミニウム
の薄膜)のパターニングによって同一の工程で一括的に形成される。なお、ゲート電極1
2とデータ信号線LDとの関係のように、複数の要素が共通の膜体(単層であるか複数層
であるかは不問である)の選択的な除去によって同一の工程で形成されることを以下では
単に「同層から形成される」と表記する。同層から形成された各要素の材料は当然に同一
であって各々の膜厚は略一致する。複数の要素が同層から形成される構成によれば、各々
が別個の膜体から形成される構成と比較して、製造工程の簡素化や製造コストの低減が実
現されるという利点がある。
As shown in FIG. 6, the data signal lines LD (LD1 to LDn) constituting the signal line group L are formed on the surface of the gate insulating layer Fa0. The gate electrode 12 of the transistor Q and the data signal line LD
Are collectively formed in the same process by patterning a conductive film (for example, an aluminum thin film) formed continuously over the entire area of the gate insulating layer Fa0. Gate electrode 1
2 and the data signal line LD, a plurality of elements are formed in the same process by selective removal of a common film body (whether it is a single layer or a plurality of layers). Hereinafter, this is simply expressed as “formed from the same layer”. Naturally, the material of each element formed from the same layer is the same, and the film thicknesses thereof are substantially the same. According to the configuration in which a plurality of elements are formed from the same layer, there is an advantage that the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced as compared with the configuration in which each element is formed from a separate film body.

図6に示すように、各接続端子Caは第1層133と第2層14とが第1基板10側か
らこの順番に積層された構造となっている。第1層133は、第1絶縁層Fa1の面上に、
トランジスタQのソース電極131やドレイン電極132と同層から形成される。第2絶
縁層Fa2のうち第1層133と重なり合う部分には開口部Oa1が形成される。第2層14
は、開口部Oa1の内側に入り込むように形成されて第1層133と電気的に接続される。
第2層14は、例えばITO(Indium Tin Oxide)やIZO(Indium Zinc Oxide)とい
った導電性の酸化物(光透過性の導電材料)によって形成される。このように耐食性の高
い第2層14によってアルミニウムなど耐食性の低い材料の第1層133を被覆すること
で第1層133の腐食が有効に防止される。
As shown in FIG. 6, each connection terminal Ca has a structure in which a first layer 133 and a second layer 14 are laminated in this order from the first substrate 10 side. The first layer 133 is on the surface of the first insulating layer Fa1,
It is formed from the same layer as the source electrode 131 and the drain electrode 132 of the transistor Q. An opening Oa1 is formed in a portion of the second insulating layer Fa2 that overlaps the first layer 133. Second layer 14
Is formed so as to enter the inside of the opening Oa1 and is electrically connected to the first layer 133.
The second layer 14 is formed of a conductive oxide (light-transmissive conductive material) such as ITO (Indium Tin Oxide) or IZO (Indium Zinc Oxide). By covering the first layer 133 made of a material having low corrosion resistance such as aluminum with the second layer 14 having high corrosion resistance in this way, corrosion of the first layer 133 is effectively prevented.

第1基板10に形成された複数の接続端子Caは、データ信号D1〜Dnの伝送に利用さ
れる接続端子Ca1と、選択信号S1〜Smの伝送に利用される接続端子Ca2とを含む。図5
の部分(a)や図6に示すように、接続端子Ca1の第1層133には配線Ld1が連続する。
配線Ld1は、第1層133からY方向に延在してデータ信号線LDと接続端子Ca1とを電
気的に接続する配線であり、第1層133やトランジスタQのソース電極131およびド
レイン電極132と同層から形成される。配線Ld1のうち接続端子Ca1とは反対側の端部
は、第1絶縁層Fa1を貫通するコンタクトホールh1を介して下層のデータ信号線LDに
電気的に接続される。また、図5の部分(a)に示す配線Ls1は、接続端子Ca2の第1層1
33に連続する配線であり、Y方向に延在してシフトレジスタ43(例えばトランジスタ
Q)に電気的に接続される。
The plurality of connection terminals Ca formed on the first substrate 10 include a connection terminal Ca1 used for transmission of data signals D1 to Dn and a connection terminal Ca2 used for transmission of selection signals S1 to Sm. FIG.
As shown in FIG. 6A and FIG. 6, the wiring Ld1 is continuous with the first layer 133 of the connection terminal Ca1.
The wiring Ld1 extends from the first layer 133 in the Y direction and electrically connects the data signal line LD and the connection terminal Ca1, and the source electrode 131 and the drain electrode 132 of the first layer 133 and the transistor Q. And the same layer. The end of the wiring Ld1 opposite to the connection terminal Ca1 is electrically connected to the lower data signal line LD through a contact hole h1 that penetrates the first insulating layer Fa1. Further, the wiring Ls1 shown in part (a) of FIG. 5 is the first layer 1 of the connection terminal Ca2.
33 is a wiring continuous to 33, extends in the Y direction, and is electrically connected to the shift register 43 (eg, transistor Q).

次に、図7は、第2基板20に形成された要素の構成を示す断面図(図5の部分(b)に
おけるVII−VII線からみた断面図)である。図7に示すように、第2基板20の対向面2
0s上には単位回路Uを構成する多数のトランジスタRが形成される。なお、図7におい
ては、発光制御回路442の駆動トランジスタRdrと保持回路441を構成するトランジ
スタRとが図示されている。なお、第2基板20に形成されたトランジスタ(すなわち図
2の駆動トランジスタRdrおよびトランジスタR0や保持回路441を構成するトランジ
スタ)の各々を特に区別する必要がない場合には単に「トランジスタR」と表記する。
Next, FIG. 7 is a cross-sectional view (a cross-sectional view taken along the line VII-VII in the part (b) of FIG. 5) showing the configuration of elements formed on the second substrate 20. As shown in FIG. 7, the opposing surface 2 of the second substrate 20.
A large number of transistors R constituting the unit circuit U are formed on 0s. In FIG. 7, the driving transistor Rdr of the light emission control circuit 442 and the transistor R constituting the holding circuit 441 are illustrated. If it is not necessary to distinguish each of the transistors formed on the second substrate 20 (that is, the transistors constituting the driving transistor Rdr and the transistor R0 and the holding circuit 441 in FIG. 2), they are simply expressed as “transistor R”. To do.

トランジスタRは、第1基板10のトランジスタQと同様の材料および構造の薄膜トラ
ンジスタであり、対向面20sに形成された半導体層21と、ゲート絶縁層Fb0を挟んで
半導体層21に対向するゲート電極22とを含む。トランジスタRのソース電極231お
よびドレイン電極232は、ゲート電極22を覆う第1絶縁層Fb1の面上に形成されると
ともにコンタクトホールを介して半導体層21(ソース領域およびドレイン領域)に導通
する。図5の部分(b)および図7に示すように、対向面20sのうち単位回路Uの配列と発
光素子Eの配列との間隙にはX方向に延在する電源線41が形成される。電源線41と各
トランジスタRのゲート電極22とは同層から形成される。電源線41のうち第1基板1
0におけるX方向の正側の周縁に至った端部は図2の外部接続端子Tp1として機能する。
The transistor R is a thin film transistor having the same material and structure as the transistor Q of the first substrate 10, and includes a semiconductor layer 21 formed on the facing surface 20s and a gate electrode 22 facing the semiconductor layer 21 with the gate insulating layer Fb0 interposed therebetween. Including. The source electrode 231 and the drain electrode 232 of the transistor R are formed on the surface of the first insulating layer Fb1 covering the gate electrode 22 and are electrically connected to the semiconductor layer 21 (source region and drain region) through the contact hole. As shown in part (b) of FIG. 5 and FIG. 7, a power supply line 41 extending in the X direction is formed in the gap between the arrangement of the unit circuits U and the arrangement of the light emitting elements E in the facing surface 20 s. The power supply line 41 and the gate electrode 22 of each transistor R are formed from the same layer. 1st board | substrate 1 among the power wires 41
An end portion that reaches the peripheral edge on the positive side in the X direction at 0 functions as the external connection terminal Tp1 in FIG.

図7に示すように、第1絶縁層Fb1の表面は第2絶縁層Fb2に覆われる。第2絶縁層F
b2の面上には第1電極241が発光素子Eごとに相互に離間して形成される。第1電極2
41は、発光素子Eの陽極として機能する略円形の電極であり、ITOやIZOといった
光透過性の導電材料によって形成される。図7に示すように、第1電極241は、第2絶
縁層Fb2を貫通するコンタクトホールCHを介して駆動トランジスタRdrのドレイン電極
232に電気的に接続される。
As shown in FIG. 7, the surface of the first insulating layer Fb1 is covered with the second insulating layer Fb2. Second insulating layer F
The first electrodes 241 are formed on the surface of b2 so as to be separated from each other for each light emitting element E. 1st electrode 2
Reference numeral 41 denotes a substantially circular electrode that functions as an anode of the light-emitting element E, and is formed of a light-transmitting conductive material such as ITO or IZO. As shown in FIG. 7, the first electrode 241 is electrically connected to the drain electrode 232 of the driving transistor Rdr through a contact hole CH that penetrates the second insulating layer Fb2.

第1基板10の接続端子Caと同様に、各接続端子Cbは第1層233と第2層242と
が積層された構造となっている。第1層233は、トランジスタRのソース電極231や
ドレイン電極232と同層から形成され、第2層242は第1電極241と同層から形成
される。第2層242は、第2絶縁層Fb2に形成された開口部Ob1を介して第1層233
に電気的に接続される。
Similar to the connection terminals Ca of the first substrate 10, each connection terminal Cb has a structure in which a first layer 233 and a second layer 242 are laminated. The first layer 233 is formed from the same layer as the source electrode 231 and the drain electrode 232 of the transistor R, and the second layer 242 is formed from the same layer as the first electrode 241. The second layer 242 is connected to the first layer 233 through the opening Ob1 formed in the second insulating layer Fb2.
Is electrically connected.

図5の部分(b)に示すように、第2基板20に配列された複数の接続端子Cbは、第1基
板10の接続端子Ca1に対向する接続端子Cb1と、第1基板10の接続端子Ca2に対向す
る接続端子Cb2とに区別される。各接続端子Cb1は、第1層233からY方向に連続する
配線Ld2を介して単位回路Uに電気的に接続される。したがって、ブロックB1〜Bmの各
々に属する単位回路Ujは、配線Ld2・接続端子Cb1・導通粒子31・接続端子Ca1およ
び配線Ld1を介してデータ信号線LDjに電気的に接続される。
As shown in part (b) of FIG. 5, the plurality of connection terminals Cb arranged on the second substrate 20 include a connection terminal Cb1 facing the connection terminal Ca1 of the first substrate 10 and a connection terminal of the first substrate 10. A distinction is made between connection terminals Cb2 facing Ca2. Each connection terminal Cb1 is electrically connected to the unit circuit U through the wiring Ld2 continuous from the first layer 233 in the Y direction. Accordingly, the unit circuits Uj belonging to each of the blocks B1 to Bm are electrically connected to the data signal line LDj through the wiring Ld2, the connection terminal Cb1, the conductive particle 31, the connection terminal Ca1, and the wiring Ld1.

各接続端子Cb2は、m本の配線LsAと1本の配線LsBとを介してひとつのブロックBの
n個の単位回路U1〜Unに接続される。各配線LsAはトランジスタRのソース電極231
やドレイン電極232と同層から形成され、配線LsBはトランジスタRのゲート電極22
と同層から形成される。単位回路Unに至る配線LsAは接続端子Cb2の第1層233に連
続する。したがって、単位回路Unは配線LsAを介して接続端子Cb2に電気的に接続され
る。各配線LsAは、第1絶縁層Fb1のコンタクトホールh2を介して下層の配線LsBに電
気的に接続される。したがって、ブロックBiの単位回路U1〜Un-1は、配線LsA・配線
LsBおよび第n番目の配線LsAを介して接続端子Cb2に接続される。そして、接続端子C
b2は、導通粒子31・接続端子Ca2および配線Ls1を介してシフトレジスタ43に電気的
に接続される。
Each connection terminal Cb2 is connected to n unit circuits U1 to Un of one block B via m wirings LsA and one wiring LsB. Each wiring LsA is connected to the source electrode 231 of the transistor R.
The wiring LsB is formed from the same layer as the drain electrode 232 and the wiring LsB is the gate electrode 22 of the transistor R.
And the same layer. The wiring LsA reaching the unit circuit Un is continuous with the first layer 233 of the connection terminal Cb2. Accordingly, the unit circuit Un is electrically connected to the connection terminal Cb2 via the wiring LsA. Each wiring LsA is electrically connected to the lower wiring LsB through the contact hole h2 of the first insulating layer Fb1. Accordingly, the unit circuits U1 to Un-1 of the block Bi are connected to the connection terminal Cb2 via the wiring LsA, the wiring LsB, and the nth wiring LsA. And connection terminal C
b2 is electrically connected to the shift register 43 through the conductive particles 31, the connection terminal Ca2, and the wiring Ls1.

第1電極241や第2層242が形成された第2絶縁層Fb2の表面は第3絶縁層Fb3に
覆われる。第3絶縁層Fb3のうち接続端子Cbの第2層242と重なり合う部分には開口
部Ob2が形成される。さらに、第3絶縁層Fb3のうち第1電極241と重なり合う部分に
は略円形の開口部Ob3が形成される。発光素子Eの発光層25は、開口部Ob3の内側であ
って第1電極241を底面とする空間に形成される。すなわち、第3絶縁層Fb3は、発光
層25の平面的な形状を規定する役割を担う。図4に示すように、発光層25は、Z方向
からみて第1基板10上のトランジスタQの半導体層11と重なり合う。発光層25の形
成には、例えば発光材料の液滴をノズルから吐出して第1電極241の表面に付着させる
インクジェット法(液滴吐出法)が好適に採用される。なお、発光層25による発光を促
進または効率化するための各種の機能層(正孔注入層・正孔輸送層・電子注入層・電子輸
送層・正孔ブロック層・電子ブロック層)が発光層25に積層された構成としてもよい。
The surface of the second insulating layer Fb2 on which the first electrode 241 and the second layer 242 are formed is covered with the third insulating layer Fb3. An opening portion Ob2 is formed in a portion of the third insulating layer Fb3 that overlaps the second layer 242 of the connection terminal Cb. Furthermore, a substantially circular opening Ob3 is formed in a portion of the third insulating layer Fb3 that overlaps the first electrode 241. The light emitting layer 25 of the light emitting element E is formed in a space inside the opening Ob3 and having the first electrode 241 as a bottom surface. That is, the third insulating layer Fb3 plays a role of defining the planar shape of the light emitting layer 25. As shown in FIG. 4, the light emitting layer 25 overlaps the semiconductor layer 11 of the transistor Q on the first substrate 10 when viewed from the Z direction. For the formation of the light emitting layer 25, for example, an ink jet method (droplet discharge method) in which droplets of a light emitting material are discharged from a nozzle and adhered to the surface of the first electrode 241 is suitably employed. Various functional layers (a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, an electron transport layer, a hole block layer, and an electron block layer) for promoting or improving light emission by the light emitting layer 25 are used as the light emitting layer. 25 may be laminated.

第3絶縁層Fb3の面上には、アクリルなどの有機材料やSiO2およびSiNなどの無
機材料といった各種の絶縁材料によって隔壁Fb4が形成される。隔壁Fb4は、発光層25
を露出させる開口部Ob4を有し、インクジェット法による発光層25の形成時に発光材料
の液滴が到達する領域を発光素子Eごとに仕切る要素として機能する。図7に示すように
、隔壁Fb4のうち接続端子Cbと重なり合う領域には開口部Ob5が形成される。接続端子
Cbの第2層242のうち第3絶縁層Fb3および隔壁Fb4から露出した部分が異方性導電
体30の導通粒子31に接触する。
On the surface of the third insulating layer Fb3, a partition wall Fb4 is formed of various insulating materials such as an organic material such as acrylic and an inorganic material such as SiO 2 and SiN. The partition wall Fb4 is the light emitting layer 25.
And functions as an element for partitioning the region where the droplets of the light emitting material reach when the light emitting layer 25 is formed by the ink jet method, for each light emitting element E. As shown in FIG. 7, an opening Ob5 is formed in a region of the partition wall Fb4 that overlaps with the connection terminal Cb. Of the second layer 242 of the connection terminal Cb, a portion exposed from the third insulating layer Fb3 and the partition wall Fb4 is in contact with the conductive particles 31 of the anisotropic conductor 30.

図7における第2電極27は、発光層25を挟んで第1電極241に対向する電極(図
2の接地線42に相当する)であり、図5の部分(b)に示すように、複数の発光素子Eに
わたって連続に形成されて第2基板20の周縁の外部接続端子Tp2に電気的に接続される
。なお、第1基板10と第2基板20とが接合された状態において、第2基板20上の外
部接続端子Tp1・Tp2は、実際には第1基板10とは重なり合わない。つまり、外部接続
端子Tp1・Tp2は、第2基板20のうち第1基板10の周縁から張り出す領域に形成され
る。同様に、第1基板10上の外部接続端子Ts・Tdは第2基板20とは重なり合わない
The second electrode 27 in FIG. 7 is an electrode (corresponding to the ground line 42 in FIG. 2) facing the first electrode 241 with the light emitting layer 25 interposed therebetween, and as shown in a part (b) of FIG. The light emitting elements E are continuously formed and electrically connected to the external connection terminal Tp2 on the periphery of the second substrate 20. In the state where the first substrate 10 and the second substrate 20 are joined, the external connection terminals Tp1 and Tp2 on the second substrate 20 do not actually overlap the first substrate 10. That is, the external connection terminals Tp1 and Tp2 are formed in a region of the second substrate 20 that protrudes from the periphery of the first substrate 10. Similarly, the external connection terminals Ts and Td on the first substrate 10 do not overlap with the second substrate 20.

第2電極27の材料としては、アルミニウムや銀などの金属およびこれらを主成分とす
る合金といった各種の光反射性の導電材料が採用される。発光層25から第1電極241
側に放射された光と発光層25から第1電極241とは反対側に放射されて第2電極27
の表面にて反射した光とは、図4に白抜きの矢印で図示されるように、第1電極241や
第2基板20を透過して感光体ドラム70側に出射する。したがって、第2基板20には
光透過性が要求されるが、第1基板10に光透過性は不要である。
As the material of the second electrode 27, various light-reflective conductive materials such as metals such as aluminum and silver and alloys containing these metals as main components are employed. From the light emitting layer 25 to the first electrode 241
The light radiated to the side and the light emitting layer 25 radiated to the opposite side of the first electrode 241 and the second electrode 27.
The light reflected by the surface of the light passes through the first electrode 241 and the second substrate 20 and is emitted to the photosensitive drum 70 side, as shown by white arrows in FIG. Therefore, the second substrate 20 is required to have light transmittance, but the first substrate 10 does not need light transmittance.

図4に示したように、Z方向からみて発光素子Eとシフトレジスタ43とは重なり合う
から、シフトレジスタ43のトランジスタQと発光素子Eの発光層25との間には第2電
極27が介在する。したがって、例えばトランジスタQのオン・オフの切換に伴なって発
生するノイズは第2電極27によって遮蔽されて発光層25や第1電極241には影響し
ない。このように本実施形態によれば、光ヘッドHの小型化のためにシフトレジスタ43
と発光素子Eとが重なり合う構成を採用しているにも拘わらず、シフトレジスタ43と発
光素子Eとの相互間における電気的な影響を低減できるという利点がある。
As shown in FIG. 4, since the light emitting element E and the shift register 43 overlap each other when viewed from the Z direction, the second electrode 27 is interposed between the transistor Q of the shift register 43 and the light emitting layer 25 of the light emitting element E. . Accordingly, for example, noise generated when the transistor Q is switched on and off is shielded by the second electrode 27 and does not affect the light emitting layer 25 and the first electrode 241. As described above, according to the present embodiment, the shift register 43 is reduced in order to reduce the size of the optical head H.
However, there is an advantage that the electrical influence between the shift register 43 and the light emitting element E can be reduced.

また、発光層25からの放射光が直接的にシフトレジスタ43のトランジスタQに到達
するとすれば、半導体層11の光励起に起因してトランジスタQに誤動作(例えば電流の
リーク)が発生する可能性がある。これに対し、本実施形態によれば、遮光性(光反射性
)を有する第2電極27が発光層25とシフトレジスタ43との間に介在するから、発光
層25から第1基板10側への放射光は第2電極27によって遮光されてトランジスタQ
には到達しない。したがって、光照射に起因したトランジスタQの誤動作を防止すること
が可能である。
Further, if the emitted light from the light emitting layer 25 directly reaches the transistor Q of the shift register 43, a malfunction (for example, current leakage) may occur in the transistor Q due to photoexcitation of the semiconductor layer 11. is there. On the other hand, according to the present embodiment, since the second electrode 27 having light shielding properties (light reflectivity) is interposed between the light emitting layer 25 and the shift register 43, the light emitting layer 25 is directed to the first substrate 10 side. Is shielded by the second electrode 27 and the transistor Q
Will not reach. Therefore, it is possible to prevent malfunction of the transistor Q due to light irradiation.

図5の部分(b)や図7に示すように、第2電極27は、発光層25に加えて隔壁Fb4の
面上にも形成される。図7に示すように隔壁Fb4は各単位回路Uを被覆するように形成さ
れるから、第2電極27は、Z方向からみて単位回路Uの各トランジスタRや保持回路4
41と重なり合う。また、図4に示したようにZ方向からみて単位回路Uと信号線群Lと
は重なり合う。したがって、単位回路Uの各トランジスタRと各データ信号線LD1〜L
Dnとの間には第2電極27が介在する。この構成によれば、各データ信号線LDの電圧
の変動に起因したノイズは第2電極27によって遮蔽されて単位回路Uには到達しない。
同様に、トランジスタRのオン・オフの切換に伴なうノイズは第2電極27によって遮蔽
されてデータ信号線LDには影響しない。このように本実施形態によれば、信号線群Lと
各単位回路Uとの相互間における電気的な影響を低減できるという利点がある。特に本実
施形態においては、信号線群Lと保持回路441との間に第2電極27が介在するから、
保持回路441に保持されたデータ信号Djがデータ信号線LDの電圧(データ信号)に
応じて変動する可能性が低減される。したがって、各発光素子Eをデータ信号Djに応じ
て確実に制御できる。
As shown in part (b) of FIG. 5 and FIG. 7, the second electrode 27 is formed on the surface of the partition wall Fb4 in addition to the light emitting layer 25. As shown in FIG. 7, since the partition wall Fb4 is formed so as to cover each unit circuit U, the second electrode 27 is formed so that each transistor R or the holding circuit 4 of the unit circuit U is viewed from the Z direction.
41 and overlap. Further, as shown in FIG. 4, the unit circuit U and the signal line group L overlap each other when viewed from the Z direction. Therefore, each transistor R of the unit circuit U and each data signal line LD1-L
A second electrode 27 is interposed between Dn. According to this configuration, noise caused by fluctuations in the voltage of each data signal line LD is shielded by the second electrode 27 and does not reach the unit circuit U.
Similarly, noise associated with the on / off switching of the transistor R is shielded by the second electrode 27 and does not affect the data signal line LD. As described above, according to the present embodiment, there is an advantage that the electrical influence between the signal line group L and each unit circuit U can be reduced. Particularly in the present embodiment, since the second electrode 27 is interposed between the signal line group L and the holding circuit 441,
The possibility that the data signal Dj held in the holding circuit 441 varies according to the voltage (data signal) of the data signal line LD is reduced. Therefore, each light emitting element E can be reliably controlled according to the data signal Dj.

ところで、第1基板10の要素と第2基板20の要素とが導通粒子31を介して電気的
に接続される基板間導通部Cにおいては、導通粒子31の分布の様子や導通粒子31と基
板上の要素との接触の状態など様々な要因によって、電気的な接続の位置ごとに抵抗値の
バラツキが発生し易い。したがって、電源線41から接地線42に至る経路上に基板間導
通部Cが介在する構成(例えば駆動トランジスタRdrが第1基板10に配置された構成)
においては、基板間導通部Cにおける抵抗値のバラツキに起因して、各発光素子Eに供給
される電流の電流値が相違する場合がある。これに対し、本実施形態においては、電源線
41から駆動トランジスタRdrや発光素子Eを経由して接地線42に至る経路上の総ての
要素が第2基板20に形成される。すなわち、電源線41から接地線42に至る経路上に
は基板間導通部Cが介在しない。この構成によれば、基板間導通部Cにおける抵抗値のバ
ラツキが各発光素子Eの電流に与える影響は解消されるから、発光素子Eの輝度をデータ
信号に応じて高精度に制御できるという利点がある。
By the way, in the inter-substrate conducting part C in which the elements of the first substrate 10 and the elements of the second substrate 20 are electrically connected via the conducting particles 31, the state of the distribution of the conducting particles 31 and the conducting particles 31 and the substrate. Due to various factors such as the state of contact with the upper element, variations in resistance value are likely to occur at each electrical connection position. Therefore, a configuration in which the inter-substrate conductive portion C is interposed on the path from the power supply line 41 to the ground line 42 (for example, a configuration in which the drive transistor Rdr is disposed on the first substrate 10).
In, the current value of the current supplied to each light emitting element E may be different due to the variation in the resistance value in the inter-substrate conducting portion C. On the other hand, in the present embodiment, all elements on the path from the power supply line 41 to the ground line 42 via the drive transistor Rdr and the light emitting element E are formed on the second substrate 20. That is, the inter-substrate conducting portion C is not interposed on the path from the power supply line 41 to the ground line 42. According to this configuration, since the influence of the variation in the resistance value in the inter-substrate conducting portion C on the current of each light emitting element E is eliminated, the luminance of the light emitting element E can be controlled with high accuracy according to the data signal. There is.

図7に図示された補助配線28は、第2電極27よりも抵抗率が低い導電材料によって
形成されて第2電極27に導通する配線である。この構成によれば、第2電極27におけ
る電圧降下が抑制されるから、各発光素子Eに供給される接地電位VSSは均一化される。
したがって、第2電極27における電圧降下に起因した各発光素子Eの輝度のムラを抑制
できる。第1基板10と第2基板20とが接合された状態において、補助配線28は第1
基板10上の第2絶縁層Fa2の表面に接触する。なお、本実施形態では第2電極27の表
面に補助配線28が形成された構成を例示したが、補助配線28が形成される位置は適宜
に変更される。例えば、第2電極27と隔壁Fb4との間に補助配線28が介挿された構成
としてもよい。
The auxiliary wiring 28 illustrated in FIG. 7 is a wiring that is formed of a conductive material having a lower resistivity than the second electrode 27 and is electrically connected to the second electrode 27. According to this configuration, since the voltage drop at the second electrode 27 is suppressed, the ground potential VSS supplied to each light emitting element E is made uniform.
Therefore, unevenness in luminance of each light emitting element E due to the voltage drop in the second electrode 27 can be suppressed. In the state where the first substrate 10 and the second substrate 20 are bonded, the auxiliary wiring 28 is the first wiring.
The surface of the second insulating layer Fa2 on the substrate 10 is contacted. In the present embodiment, the configuration in which the auxiliary wiring 28 is formed on the surface of the second electrode 27 is illustrated, but the position where the auxiliary wiring 28 is formed is appropriately changed. For example, the auxiliary wiring 28 may be interposed between the second electrode 27 and the partition wall Fb4.

補助配線28は、第2電極27のうち隔壁Fb4の面上に位置する部分の表面に、遮光性
(例えば光反射性)の導電材料によって形成される。したがって、補助配線28は、Z方
向からみて単位回路Uの各トランジスタRと重なり合い、第2電極27と同様に単位回路
Uと信号線群Lとの間に介在する。この構成によれば、信号線群Lと各単位回路Uとの相
互的な影響を低減できるという先述の効果が、補助配線28を形成しない構成と比較して
いっそう増進される。さらに、補助配線28は遮光性を有するから、発光素子Eからの出
射光を補助配線28によっても遮光できるという利点がある。
The auxiliary wiring 28 is formed of a light shielding (for example, light reflective) conductive material on the surface of the portion of the second electrode 27 located on the surface of the partition wall Fb4. Therefore, the auxiliary wiring 28 overlaps with each transistor R of the unit circuit U when viewed from the Z direction, and is interposed between the unit circuit U and the signal line group L like the second electrode 27. According to this configuration, the above-described effect that the mutual influence between the signal line group L and each unit circuit U can be reduced is further enhanced as compared with the configuration in which the auxiliary wiring 28 is not formed. Further, since the auxiliary wiring 28 has a light shielding property, there is an advantage that light emitted from the light emitting element E can be shielded by the auxiliary wiring 28.

<B:第2実施形態>
次に、本発明の第2実施形態について説明する。なお、本実施形態のうち作用や機能が
第1実施形態と共通する要素については以上と同じ符号を付してその詳細な説明を適宜に
省略する。
<B: Second Embodiment>
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, elements having the same functions and functions as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals as those described above, and detailed description thereof is omitted as appropriate.

図8の部分(a)は、第1基板10の対向面10s上の要素を示す平面図であり、図8の部
分(b)は第2基板20の対向面20s上の要素を示す平面図である。同図の部分(a)に示す
ように、各単位回路Uの保持回路441は対向面10sに配置される。また、同図の部分(
b)に示すように、各単位回路Uの発光制御回路442は対向面20sに配置される。なお
、各発光素子Eとシフトレジスタ43とが重なり合う構成や信号線群Lと各単位回路Uと
が重なり合う構成は第1実施形態と同様である。したがって、本実施形態によっても第1
実施形態と同様の効果が奏される。
Part (a) of FIG. 8 is a plan view showing elements on the facing surface 10 s of the first substrate 10, and part (b) of FIG. 8 is a plan view showing elements on the facing surface 20 s of the second substrate 20. It is. As shown in part (a) of the figure, the holding circuit 441 of each unit circuit U is disposed on the facing surface 10s. The part of the figure (
As shown in b), the light emission control circuit 442 of each unit circuit U is disposed on the facing surface 20s. The configuration in which each light emitting element E and the shift register 43 overlap and the configuration in which the signal line group L and each unit circuit U overlap are the same as those in the first embodiment. Therefore, the first embodiment is also the first.
The same effect as the embodiment is achieved.

ブロックB1〜Bmの各々における単位回路Ujの保持回路441は、トランジスタQの
ソース電極131やドレイン電極132と同層から形成された配線Ld1を介してデータ信
号線LDjに接続される。また、ブロックBiに属する単位回路U1〜Unの保持回路441
は、第1実施形態と同態様の配線(ソース電極131と同層から形成された配線LsA・ゲ
ート電極12と同層から形成された配線LsB)によってシフトレジスタ43に接続される
。以上のように、選択信号Siに応じてデータ信号Djを取得・保持する保持回路441が
第1基板10に配置されるから、選択信号Siを第2基板20に伝送するための接続端子
Ca2および接続端子Cb2は本実施形態において不要である。すなわち、本実施形態によれ
ば接続端子Caや接続端子Cbの個数が削減されるから、第1基板10上の要素と第2基板
20上の要素との接続に不良が発生する可能性を低減できるという利点がある。
The holding circuit 441 of the unit circuit Uj in each of the blocks B1 to Bm is connected to the data signal line LDj via the wiring Ld1 formed from the same layer as the source electrode 131 and the drain electrode 132 of the transistor Q. Further, the holding circuits 441 of the unit circuits U1 to Un belonging to the block Bi.
Are connected to the shift register 43 by wiring in the same manner as in the first embodiment (wiring LsA formed from the same layer as the source electrode 131 and wiring LsB formed from the same layer as the gate electrode 12). As described above, since the holding circuit 441 that acquires and holds the data signal Dj according to the selection signal Si is arranged on the first substrate 10, the connection terminal Ca2 for transmitting the selection signal Si to the second substrate 20 and The connection terminal Cb2 is not necessary in this embodiment. That is, according to this embodiment, since the number of connection terminals Ca and connection terminals Cb is reduced, the possibility of occurrence of defects in the connection between the elements on the first substrate 10 and the elements on the second substrate 20 is reduced. There is an advantage that you can.

<C:第3実施形態>
次に、本発明の第3実施形態について説明する。なお、本実施形態のうち作用や機能が
第1実施形態や第2実施形態と共通する要素については以上と同じ符号を付してその詳細
な説明を適宜に省略する。
<C: Third Embodiment>
Next, a third embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, elements having the same functions and functions as those in the first embodiment and the second embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted as appropriate.

図9の部分(a)は、第1基板10の対向面10s上の要素を示す平面図であり、図9の部
分(b)は第2基板20の対向面20s上の要素を示す平面図である。本実施形態においては
第2実施形態と同様に、各単位回路Uのうち保持回路441が対向面10sに配置される
とともに発光制御回路442が対向面20sに配置される。なお、各発光素子Eとシフト
レジスタ43とが重なり合う構成や信号線群Lと各単位回路Uとが重なり合う構成は第1
実施形態と同様である。
Part (a) of FIG. 9 is a plan view showing elements on the facing surface 10 s of the first substrate 10, and part (b) of FIG. 9 is a plan view showing elements on the facing surface 20 s of the second substrate 20. It is. In the present embodiment, as in the second embodiment, among the unit circuits U, the holding circuit 441 is disposed on the facing surface 10s, and the light emission control circuit 442 is disposed on the facing surface 20s. The configuration in which each light emitting element E and the shift register 43 overlap or the configuration in which the signal line group L and each unit circuit U overlap are the first.
This is the same as the embodiment.

各駆動トランジスタRdrのソース電極231が接続される電源線41は、トランジスタ
Rのゲート電極22と同層から形成され、図9の部分(b)に示すように、接続端子Cb1の
配列と発光制御回路442の配列との間隙にてX方向に延在する。電源線41のうち第2
基板20におけるY方向の負側の周縁に至った端部は接続端子Cb3となる。また、対向面
20sには、第2電極27と電気的に接続された接続端子Cb4が電源線41と同層から形
成される。
The power supply line 41 to which the source electrode 231 of each driving transistor Rdr is connected is formed from the same layer as the gate electrode 22 of the transistor R, and as shown in part (b) of FIG. 9, the arrangement of the connection terminals Cb1 and light emission control. It extends in the X direction with a gap from the arrangement of the circuits 442. Second of power line 41
The end of the substrate 20 that reaches the peripheral edge on the negative side in the Y direction becomes the connection terminal Cb3. A connection terminal Cb4 electrically connected to the second electrode 27 is formed on the facing surface 20s from the same layer as the power line 41.

図9の部分(a)に示すように、第1基板10の対向面10sのうちX方向の負側の周縁に
は、接続端子Cb3に対向する外部接続端子Tp1と接続端子Cb4に対向する外部接続端子T
p2とが形成される。接続端子Cb3と外部接続端子Tp1とは導通粒子31を介して相互に導
通する。同様に接続端子Cb4と外部接続端子Tp2とは導通粒子31によって電気的に接続
される。以上のように本実施形態においては、総ての外部接続端子(Ts・Td・Tp1・T
p2)が第1基板10に形成されるから、光ヘッドHと外部とを接続するための構成が簡素
化されるという利点がある。例えば、第1実施形態おいては、外部接続端子Tsおよび外
部接続端子Tdに導通する配線基板(典型的にはフレキシブル配線基板)を第1基板10
に実装するとともに外部接続端子Tp1・Tp2に導通する配線基板を第2基板20に実装す
る必要がある。これに対し、本実施形態においては第1基板10のみに配線基板を実装す
れば足りるから、光ヘッドHの部品点数が削減されるとともにこれによる製造コストの低
減が実現される。
As shown in part (a) of FIG. 9, the outer peripheral surface facing the connection terminal Cb4 and the external connection terminal Tp1 facing the connection terminal Cb3 are disposed on the peripheral edge on the negative side in the X direction of the facing surface 10s of the first substrate 10. Connection terminal T
p2 is formed. The connection terminal Cb3 and the external connection terminal Tp1 are electrically connected to each other via the conductive particles 31. Similarly, the connection terminal Cb4 and the external connection terminal Tp2 are electrically connected by the conductive particles 31. As described above, in this embodiment, all external connection terminals (Ts, Td, Tp1, T
Since p2) is formed on the first substrate 10, there is an advantage that the configuration for connecting the optical head H and the outside is simplified. For example, in the first embodiment, a wiring board (typically a flexible wiring board) that is electrically connected to the external connection terminal Ts and the external connection terminal Td is used as the first board 10.
It is necessary to mount on the second substrate 20 a wiring board that is mounted on the external connection terminals Tp1 and Tp2. On the other hand, in the present embodiment, it is sufficient to mount the wiring board only on the first substrate 10, so that the number of components of the optical head H is reduced and the manufacturing cost is thereby reduced.

<D:変形例>
以上の各形態には様々な変形を加えることができる。具体的な変形の態様を例示すれば
以下の通りである。なお、以下の各態様を適宜に組み合わせてもよい。
<D: Modification>
Various modifications can be made to each of the above embodiments. An example of a specific modification is as follows. In addition, you may combine each following aspect suitably.

(1)変形例1
以上の各形態においては、シフトレジスタ43や信号線群Lが配置された第1基板10
と発光素子Eや単位回路U(第2実施形態においては発光制御回路442)が配置された
第2基板20とが相互に接合された構成を例示したが、2枚の基板の接合は本発明におい
て必ずしも必要ではない。例えば、各要素が図7のように配置された第2基板20を絶縁
層によって被覆し、シフトレジスタ43や信号線群Lといった図6の各要素をこの絶縁層
の面上に形成してもよい。図6の各要素を絶縁層の面上に形成する方法は、第1実施形態
において各要素を第1基板10の面上に形成する方法と同様である。以上の構成において
は、接続端子Caおよび接続端子Cbや異方性導電体30が不要とされる。
(1) Modification 1
In each of the above embodiments, the first substrate 10 on which the shift register 43 and the signal line group L are arranged.
A configuration in which the second substrate 20 on which the light emitting element E and the unit circuit U (the light emission control circuit 442 in the second embodiment) are disposed is bonded to each other is illustrated. Is not necessarily required. For example, the second substrate 20 in which each element is arranged as shown in FIG. 7 is covered with an insulating layer, and each element shown in FIG. 6 such as the shift register 43 and the signal line group L is formed on the surface of this insulating layer. Good. The method for forming each element in FIG. 6 on the surface of the insulating layer is the same as the method for forming each element on the surface of the first substrate 10 in the first embodiment. In the above configuration, the connection terminal Ca, the connection terminal Cb, and the anisotropic conductor 30 are unnecessary.

(2)変形例2
第1実施形態においては単位回路Uの全部が第2基板20に配置された構成を例示し、
第2実施形態および第3実施形態においては保持回路441と発光制御回路442とが第
1基板10と第2基板20とに分散して配置された構成を例示したが、単位回路Uの全部
(保持回路441および発光制御回路442の双方)が第1基板10に配置された構成も
採用される。この構成においては、トランジスタQの半導体層11とトランジスタRの半
導体層21とを第1基板10の面上に同層から形成することができ、第2基板20には半
導体層21を形成する必要がないから、第1実施形態ないし第3実施形態と比較して光ヘ
ッドHの製造工程が簡素化されるという利点がある。
(2) Modification 2
In the first embodiment, a configuration in which all of the unit circuits U are arranged on the second substrate 20 is illustrated,
In the second embodiment and the third embodiment, the configuration in which the holding circuit 441 and the light emission control circuit 442 are dispersedly arranged on the first substrate 10 and the second substrate 20 is illustrated, but the entire unit circuit U ( A configuration in which both the holding circuit 441 and the light emission control circuit 442) are disposed on the first substrate 10 is also employed. In this configuration, the semiconductor layer 11 of the transistor Q and the semiconductor layer 21 of the transistor R can be formed from the same layer on the surface of the first substrate 10, and the semiconductor layer 21 needs to be formed on the second substrate 20. Therefore, there is an advantage that the manufacturing process of the optical head H is simplified as compared with the first to third embodiments.

(3)変形例3
以上の各形態においては、発光素子Eが配置された第2基板20を各発光素子Eからの
放射光が透過する構成(ボトムエミッション構造)を例示したが、発光素子Eからの放射
光が第2基板20とは反対側に出射するトップエミッション構造にも本発明は適用される
。トップエミッション構造の光ヘッドHにおいては第2電極27が光透過性の導電材料に
よって形成される。ただし、この構成において充分な光量の出射光を感光体ドラム70側
に出射するためには、シフトレジスタ43を構成する要素(例えばトランジスタQ)が発
光層25と比較して充分に小さいことが望ましい。
(3) Modification 3
In each of the above embodiments, the configuration (bottom emission structure) in which the radiated light from each light emitting element E is transmitted through the second substrate 20 on which the light emitting element E is disposed is exemplified. The present invention is also applied to a top emission structure that emits light to the opposite side of the two substrates 20. In the optical head H having the top emission structure, the second electrode 27 is formed of a light transmissive conductive material. However, in order to emit a sufficient amount of emitted light to the photosensitive drum 70 in this configuration, it is desirable that the elements (for example, the transistor Q) constituting the shift register 43 are sufficiently smaller than the light emitting layer 25. .

(4)変形例4
単位回路Uの構成は適宜に変更される。例えば、以上の各形態においてはラッチ回路が
保持回路441として利用された構成を例示したが、駆動トランジスタRdrのゲートに接
続された容量素子が保持回路441とされた構成も採用される。この構成においては、駆
動トランジスタRdrのゲートとデータ信号線LDとの電気的な接続(導通/非導通)を選
択信号Siに応じて制御するスイッチング素子が配置される。オン状態となったスイッチ
ング素子を介してデータ信号線LDから駆動トランジスタRdrのゲート電極22にデータ
信号Djが供給され、スイッチング素子がオフ状態に変化した後も、ゲート電極22の電
圧は容量素子(保持回路441)によってデータ信号Djに応じた電圧に維持される。
(4) Modification 4
The configuration of the unit circuit U is changed as appropriate. For example, in each of the above embodiments, the configuration in which the latch circuit is used as the holding circuit 441 is illustrated, but a configuration in which the capacitor connected to the gate of the driving transistor Rdr is the holding circuit 441 is also employed. In this configuration, a switching element for controlling the electrical connection (conduction / non-conduction) between the gate of the drive transistor Rdr and the data signal line LD according to the selection signal Si is arranged. Even after the data signal Dj is supplied from the data signal line LD to the gate electrode 22 of the drive transistor Rdr via the switching element that is turned on, and the switching element is turned off, the voltage of the gate electrode 22 remains the capacitive element ( The holding circuit 441) maintains the voltage according to the data signal Dj.

(5)変形例5
以上の各形態においてはシフトレジスタ43が各単位回路Uを順次に選択する構成を例
示したが、単位回路Uを選択する回路(本発明における選択回路)の構成は任意である。
例えば、図2のシフトレジスタ43の代わりに図10のサンプリング回路(デマルチプレ
クサ)45が第1基板10に配置された構成も採用される。サンプリング回路45は、各
々が別個の単位回路Uに対応する複数(「m×n」個)のトランジスタSWを含む。
(5) Modification 5
In each of the above embodiments, the configuration in which the shift register 43 sequentially selects each unit circuit U is exemplified, but the configuration of the circuit for selecting the unit circuit U (selection circuit in the present invention) is arbitrary.
For example, a configuration in which the sampling circuit (demultiplexer) 45 of FIG. 10 is arranged on the first substrate 10 instead of the shift register 43 of FIG. The sampling circuit 45 includes a plurality (“m × n”) of transistors SW each corresponding to a separate unit circuit U.

第1基板10の対向面10sには、図10に示すように、m本のデータ信号線LD(L
D1〜LDm)を含む信号線群Lと、n本の選択信号線LS(LS1〜LSn)を含む信号線
群Laとが形成される。ブロックBiに属するn個の単位回路U1〜Unは、各々に対応する
トランジスタSWを介してデータ信号線LDiに共通に接続される。また、ブロックB1〜
Bmの各々における単位回路Ujに対応したトランジスタSW(合計m個)のゲートは選択
信号線LSjに対して共通に接続される。
As shown in FIG. 10, m data signal lines LD (L
A signal line group L including D1 to LDm) and a signal line group La including n selection signal lines LS (LS1 to LSn) are formed. The n unit circuits U1 to Un belonging to the block Bi are commonly connected to the data signal line LDi via the corresponding transistors SW. Also, block B1 ~
The gates of the transistors SW (a total of m) corresponding to the unit circuits Uj in each of Bm are commonly connected to the selection signal line LSj.

選択信号線LSjには制御回路47から選択信号SELjが供給される。選択信号SEL1〜SEL
nは所定の周期で順番にアクティブレベルとなる信号である。データ信号線LDiには画像
処理回路48からデータ信号Diが供給される。選択信号SELjがアクティブレベルに遷移
すると、各単位回路Ujに対応した合計m個のトランジスタSWが一斉にオン状態に変化
し、このときにデータ信号線LD1〜LDmに供給されているデータ信号D1〜Dmが各ブロ
ックBの単位回路Ujに対して並列に入力される。すなわち、サンプリング回路45は、
各ブロックBに属するn個の単位回路U1〜Unのなかから、データ信号Dの取込みの対象
となるべき単位回路Ujを選択する手段として機能する。選択信号SEL1〜SELnによるn回
の選択が完了すると、総ての単位回路Uの保持回路441には、以上の各形態と同様に、
その単位回路Uに対応したデータ信号Djが保持される。
A selection signal SELj is supplied from the control circuit 47 to the selection signal line LSj. Selection signal SEL1 to SEL
n is a signal that sequentially becomes an active level in a predetermined cycle. A data signal Di is supplied from the image processing circuit 48 to the data signal line LDi. When the selection signal SELj transitions to the active level, a total of m transistors SW corresponding to the unit circuits Uj are turned on at the same time. At this time, the data signals D1 to Dm supplied to the data signal lines LD1 to LDm are changed. Dm is input in parallel to the unit circuit Uj of each block B. That is, the sampling circuit 45
It functions as means for selecting a unit circuit Uj to be taken in from the data signal D among n unit circuits U1 to Un belonging to each block B. When n selections by the selection signals SEL1 to SELn are completed, the holding circuits 441 of all the unit circuits U are in the same manner as the above embodiments.
A data signal Dj corresponding to the unit circuit U is held.

図10の構成における各トランジスタSW(より詳細には半導体層)は、第1基板10
や第2基板20に垂直な方向からみて発光素子Eと重なり合う。また、各データ信号線L
Dと各選択信号線LSとは、第2基板20上の単位回路Uを構成する各トランジスタRと
重なり合う。したがって、本変形例によっても第1実施形態と同様の作用および効果が奏
される。なお、図10のサンプリング回路45や信号線群Lおよび信号線群Laによって
各単位回路Uを選択する構成は、第2実施形態や第3実施形態についても同様に採用され
る。
Each transistor SW (more specifically, a semiconductor layer) in the configuration of FIG.
And overlaps with the light emitting element E when viewed from the direction perpendicular to the second substrate 20. Each data signal line L
D and each selection signal line LS overlap each transistor R constituting the unit circuit U on the second substrate 20. Therefore, the same operation and effect as in the first embodiment can be achieved by this modification. The configuration in which each unit circuit U is selected by the sampling circuit 45, the signal line group L, and the signal line group La in FIG. 10 is similarly adopted in the second embodiment and the third embodiment.

(6)変形例6
以上の各形態においては各単位回路Uと重なり合わないように電源線41が形成された
構成を例示したが、各単位回路UのトランジスタR(より詳細には半導体層21)と重な
り合うように電源線41が形成された構成も採用される。この構成における電源線41は
、例えばトランジスタRのソース電極231(ドレイン電極232)や第1電極241と
同層から形成される。この構成によれば、第1基板10上の要素による電気的な影響(例
えば第1基板10上の要素における電圧の変動)に起因したトランジスタRの誤動作が抑
制されるという利点がある。
(6) Modification 6
In each of the above embodiments, the configuration in which the power supply line 41 is formed so as not to overlap with each unit circuit U is illustrated. However, the power supply so as to overlap with the transistor R (more specifically, the semiconductor layer 21) of each unit circuit U. A configuration in which the line 41 is formed is also adopted. The power supply line 41 in this configuration is formed from the same layer as the source electrode 231 (drain electrode 232) and the first electrode 241 of the transistor R, for example. According to this configuration, there is an advantage that malfunction of the transistor R due to an electrical influence (for example, voltage fluctuation in the element on the first substrate 10) due to the element on the first substrate 10 is suppressed.

(7)変形例7
以上の各形態においては発光素子EとしてOLED素子が採用された構成を例示したが
、これ以外の発光素子を利用した様々な光ヘッドにも本発明は適用される。例えば、無機
EL材料からなる発光層を含む発光素子や発光ダイオード素子、電界放出(FE:Field
Emission)素子、表面導電型電子放出(SE:Surface-conduction Electron-emitter
)素子、弾道電子放出(BS:Ballistic electron Surface emitting)素子など様々
な発光素子を本発明に適用することができる。
(7) Modification 7
In each of the above embodiments, the configuration in which the OLED element is employed as the light emitting element E is illustrated, but the present invention is also applied to various optical heads using other light emitting elements. For example, a light emitting element or a light emitting diode element including a light emitting layer made of an inorganic EL material, field emission (FE: Field)
Emission device, surface-conduction electron emission (SE)
) Devices, ballistic electron surface emitting (BS) devices, and other various light emitting devices can be applied to the present invention.

<E:応用例>
次に、本発明に係る光ヘッドを利用した機器のひとつの形態として画像形成装置を例示
する。
図11は、以上の各形態に係る光ヘッドHを採用した画像形成装置の構成を示す断面図
である。画像形成装置は、タンデム型のフルカラー画像形成装置であり、以上の形態に係
る4個の光ヘッドH(HK,HC,HM,HY)と、各光ヘッドHに対応する4個の感光体ド
ラム70(70K,70C,70M,70Y)とを具備する。ひとつの光ヘッドHは、これに
対応した感光体ドラム70の像形成面(外周面)と対向するように配置される。なお、各
符号の添字「K」「C」「M」「Y」は、黒(K)、シアン(C)、マゼンダ(M)、イエロ
ー(Y)の各顕像の形成に利用されることを意味している。
<E: Application example>
Next, an image forming apparatus is illustrated as one form of equipment using the optical head according to the present invention.
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a configuration of an image forming apparatus employing the optical head H according to each of the above embodiments. The image forming apparatus is a tandem type full-color image forming apparatus, and includes four optical heads H (HK, HC, HM, and HY) according to the above-described form and four photosensitive drums corresponding to each optical head H. 70 (70K, 70C, 70M, 70Y). One optical head H is disposed so as to face the image forming surface (outer peripheral surface) of the corresponding photosensitive drum 70. Note that the subscripts “K”, “C”, “M”, and “Y” of each symbol are used for forming each visible image of black (K), cyan (C), magenta (M), and yellow (Y). Means.

図11に示すように、駆動ローラ711と従動ローラ712とには無端の中間転写ベル
ト72が巻回される。4個の感光体ドラム70は、相互に所定の間隔をあけて中間転写ベ
ルト72の周囲に配置される。各感光体ドラム70は、中間転写ベルト72の駆動に同期
して回転する。
As shown in FIG. 11, an endless intermediate transfer belt 72 is wound around a driving roller 711 and a driven roller 712. The four photosensitive drums 70 are arranged around the intermediate transfer belt 72 at a predetermined interval from each other. Each photosensitive drum 70 rotates in synchronization with driving of the intermediate transfer belt 72.

各感光体ドラム70の周囲には、光ヘッドHのほかにコロナ帯電器731(731K,
731C,731M,731Y)と現像器732(732K,732C,732M,732Y)
とが配置される。コロナ帯電器731は、これに対応する感光体ドラム70の像形成面を
一様に帯電させる。この帯電した像形成面を各光ヘッドHが露光することで静電潜像が形
成される。各現像器732は、静電潜像に現像剤(トナー)を付着させることで感光体ド
ラム70に顕像(可視像)を形成する。
In addition to the optical head H, a corona charger 731 (731K,
731C, 731M, 731Y) and developing unit 732 (732K, 732C, 732M, 732Y)
And are arranged. The corona charger 731 uniformly charges the image forming surface of the photosensitive drum 70 corresponding thereto. Each of the optical heads H exposes this charged image forming surface to form an electrostatic latent image. Each developing device 732 forms a visible image (visible image) on the photosensitive drum 70 by attaching a developer (toner) to the electrostatic latent image.

以上のように感光体ドラム70に形成された各色(黒・シアン・マゼンタ・イエロー)
の顕像が中間転写ベルト72の表面に順次に転写(一次転写)されることでフルカラーの
顕像が形成される。中間転写ベルト72の内側には4個の一次転写コロトロン(転写器)
74(74K,74C,74M,74Y)が配置される。各一次転写コロトロン74は、これ
に対応する感光体ドラム70から顕像を静電的に吸引することによって、感光体ドラム7
0と一次転写コロトロン74との間隙を通過する中間転写ベルト72に顕像を転写する。
Each color (black, cyan, magenta, yellow) formed on the photosensitive drum 70 as described above.
Are sequentially transferred (primary transfer) to the surface of the intermediate transfer belt 72 to form a full-color visible image. Inside the intermediate transfer belt 72 are four primary transfer corotrons (transfer devices).
74 (74K, 74C, 74M, 74Y) are arranged. Each primary transfer corotron 74 electrostatically attracts a visible image from the corresponding photosensitive drum 70, thereby the photosensitive drum 7.
The visible image is transferred to the intermediate transfer belt 72 that passes through the gap between 0 and the primary transfer corotron 74.

シート(記録材)75は、ピックアップローラ761によって給紙カセット762から
1枚ずつ給送され、中間転写ベルト72と二次転写ローラ77との間のニップに搬送され
る。中間転写ベルト72の表面に形成されたフルカラーの顕像は、二次転写ローラ77に
よってシート75の片面に転写(二次転写)され、定着ローラ対78を通過することでシ
ート75に定着される。排紙ローラ対79は、以上の工程を経て顕像が定着されたシート
75を排出する。
The sheets (recording material) 75 are fed one by one from the paper feed cassette 762 by the pickup roller 761 and conveyed to the nip between the intermediate transfer belt 72 and the secondary transfer roller 77. The full-color visible image formed on the surface of the intermediate transfer belt 72 is transferred (secondary transfer) to one side of the sheet 75 by the secondary transfer roller 77 and is fixed to the sheet 75 by passing through the fixing roller pair 78. . The paper discharge roller pair 79 discharges the sheet 75 on which the visible image is fixed through the above steps.

以上に例示した画像形成装置はOLED素子を光源(露光手段)として利用しているの
で、レーザ走査光学系を利用した構成よりも装置が小型化される。なお、以上に例示した
以外の構成の画像形成装置にも本発明を適用することができる。例えば、ロータリ現像式
の画像形成装置や、中間転写ベルトを使用せずに感光体ドラムからシートに対して直接的
に顕像を転写するタイプの画像形成装置、あるいはモノクロの画像を形成する画像形成装
置にも本発明に係る光ヘッドを利用することが可能である。
Since the image forming apparatus exemplified above uses an OLED element as a light source (exposure means), the apparatus is made smaller than a configuration using a laser scanning optical system. Note that the present invention can also be applied to image forming apparatuses having configurations other than those exemplified above. For example, a rotary development type image forming apparatus, an image forming apparatus that directly transfers a visible image from a photosensitive drum to a sheet without using an intermediate transfer belt, or an image forming that forms a monochrome image The optical head according to the present invention can also be used in the apparatus.

なお、本発明に係る光ヘッドの用途は像担持体の露光に限定されない。例えば、本発明
の光ヘッドは、原稿などの読取対象に光を照射するライン型の光ヘッド(照明装置)とし
て画像読取装置に採用される。この種の画像読取装置としては、スキャナ、複写機やファ
クシミリの読取部分、バーコードリーダ、あるいはQRコード(登録商標)のような二次
元画像コードを読む二次元画像コードリーダがある。
The use of the optical head according to the present invention is not limited to the exposure of the image carrier. For example, the optical head of the present invention is employed in an image reading apparatus as a line-type optical head (illumination device) that irradiates a reading target such as a document with light. As this type of image reading apparatus, there is a scanner, a copying machine or a reading part of a facsimile, a barcode reader, or a two-dimensional image code reader for reading a two-dimensional image code such as a QR code (registered trademark).

第1実施形態に係る画像形成装置の部分的な構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a partial configuration of an image forming apparatus according to a first embodiment. 光ヘッドの電気的な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical structure of an optical head. 単位回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a unit circuit. 光ヘッドの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of an optical head. 第1基板・第2基板に配置される要素の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the element arrange | positioned at a 1st board | substrate and a 2nd board | substrate. 第1基板とその表面上の要素との構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of a 1st board | substrate and the element on the surface. 第2基板とその表面上の要素との構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of a 2nd board | substrate and the element on the surface. 第2実施形態において第1基板・第2基板に配置される要素の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the element arrange | positioned in 1st board | substrate and 2nd board | substrate in 2nd Embodiment. 第3実施形態において第1基板・第2基板に配置される要素の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the element arrange | positioned in 1st board | substrate and 2nd board | substrate in 3rd Embodiment. 変形例に係る光ヘッドの電気的な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical structure of the optical head which concerns on a modification. 本発明に係る画像形成装置の具体的な形態を示す概念図である。1 is a conceptual diagram illustrating a specific form of an image forming apparatus according to the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

H……光ヘッド、10……第1基板、20……第2基板、10s,20s……対向面、30
……異方性導電体、31……導通粒子、32……接着剤、41……電源線、42……接地
線、43……シフトレジスタ、441……保持回路、442……発光制御回路、45……
サンプリング回路、46……電源回路、47……制御回路、48……画像処理回路、A…
…素子アレイ部、E……発光素子、L……信号線群、LD(LD1〜LDn)……データ信
号線、U(U1〜Un)……単位回路、B(B1〜Bm)……ブロック、Ts,Td,Tp1,T
p2……外部接続端子、Q,R……トランジスタ、Ca(Ca1,Ca2),Cb(Cb1,Cb2)
……接続端子、60……集光性レンズアレイ、70……感光体ドラム。
H: Optical head, 10: First substrate, 20: Second substrate, 10s, 20s: Opposing surface, 30
…… Anisotropic conductor, 31 …… Conductive particles, 32 …… Adhesive, 41 …… Power line, 42 …… Ground line, 43 …… Shift register, 441 …… Holding circuit, 442 …… Light emission control circuit , 45 ……
Sampling circuit 46... Power supply circuit 47... Control circuit 48.
... Element array part, E ... Light emitting element, L ... Signal line group, LD (LD1 to LDn) ... Data signal line, U (U1 to Un) ... Unit circuit, B (B1 to Bm) ... Block , Ts, Td, Tp1, T
p2: External connection terminal, Q, R: Transistor, Ca (Ca1, Ca2), Cb (Cb1, Cb2)
... Connection terminals, 60 ... Condensing lens array, 70 ... Photosensitive drum.

Claims (12)

複数の発光素子と、
前記各発光素子に対応する複数の単位回路と、
前記各発光素子の階調を指定するデータ信号が供給される信号線と、
前記各単位回路を順次に選択する選択回路とを具備し、
前記各単位回路は、前記選択回路による選択に応じて前記信号線から取得したデータ信
号に基づいて、当該単位回路に対応する前記発光素子の発光を制御し、
前記各発光素子と前記選択回路とは重なり合う
ことを特徴とする光ヘッド。
A plurality of light emitting elements;
A plurality of unit circuits corresponding to each of the light emitting elements;
A signal line to which a data signal specifying the gradation of each light emitting element is supplied;
A selection circuit for sequentially selecting the unit circuits,
Each unit circuit controls light emission of the light emitting element corresponding to the unit circuit based on a data signal acquired from the signal line according to the selection by the selection circuit,
Each of the light emitting elements and the selection circuit overlap each other.
前記選択回路は、半導体層を有するトランジスタを含んで構成され、
前記各発光素子は、前記選択回路のトランジスタの半導体層と重なり合う
請求項1に記載の光ヘッド。
The selection circuit includes a transistor having a semiconductor layer,
The optical head according to claim 1, wherein each of the light emitting elements overlaps a semiconductor layer of a transistor of the selection circuit.
前記各発光素子は、相互に対向する第1電極および第2電極と両電極間に介在する発光
層とを含み、前記各発光素子の第2電極は、前記複数の発光素子にわたって連続に形成さ
れて前記各発光素子の発光層と前記選択回路との間に介在する
請求項1または請求項2に記載の光ヘッド。
Each of the light emitting elements includes a first electrode and a second electrode facing each other, and a light emitting layer interposed between both electrodes, and the second electrode of each of the light emitting elements is formed continuously over the plurality of light emitting elements. The optical head according to claim 1, wherein the optical head is interposed between a light emitting layer of each of the light emitting elements and the selection circuit.
前記第2電極は遮光性を有する
請求項3に記載の光ヘッド。
The optical head according to claim 3, wherein the second electrode has a light shielding property.
前記各単位回路と前記信号線とは重なり合い、
前記第2電極は、前記各単位回路と前記信号線との間に介在する
請求項3または請求項4に記載の光ヘッド。
Each unit circuit and the signal line overlap,
The optical head according to claim 3, wherein the second electrode is interposed between the unit circuits and the signal line.
前記各単位回路は、前記信号線から取得したデータ信号を保持する保持回路を含み、
前記第2電極は、前記各単位回路の保持回路と前記信号線との間に介在する
請求項5に記載の光ヘッド。
Each unit circuit includes a holding circuit that holds a data signal acquired from the signal line,
The optical head according to claim 5, wherein the second electrode is interposed between a holding circuit of each unit circuit and the signal line.
前記第2電極よりも抵抗率が低い材料で形成されて前記第2電極に導通する補助配線を
具備し、
前記各単位回路は、半導体層を有するトランジスタを含んで構成され、
前記補助配線は、前記単位回路のトランジスタの半導体層と重なり合う
請求項3から請求項6の何れかに記載の光ヘッド。
An auxiliary wiring formed of a material having a lower resistivity than the second electrode and conducting to the second electrode;
Each unit circuit includes a transistor having a semiconductor layer,
The optical head according to claim 3, wherein the auxiliary wiring overlaps a semiconductor layer of a transistor of the unit circuit.
相互に対向する第1基板および第2基板を具備し、
前記選択回路は、前記第1基板のうち前記第2基板に対向する面上に配置され、
前記複数の発光素子は、前記第2基板のうち前記第1基板に対向する面上に配置される
請求項1から請求項7の何れかに記載の光ヘッド。
A first substrate and a second substrate facing each other;
The selection circuit is disposed on a surface of the first substrate facing the second substrate,
The optical head according to claim 1, wherein the plurality of light emitting elements are disposed on a surface of the second substrate that faces the first substrate.
前記複数の単位回路は、前記第2基板のうち前記第1基板に対向する面上に配置される
請求項8に記載の光ヘッド。
The optical head according to claim 8, wherein the plurality of unit circuits are arranged on a surface of the second substrate that faces the first substrate.
前記各単位回路は、前記信号線から取得したデータ信号を保持する保持回路と、前記保
持回路が保持するデータ信号に応じて前記発光素子の発光を制御する発光制御回路とを含
み、
前記各単位回路の保持回路は、前記第1基板のうち前記第2基板に対向する面上に配置
され、前記各単位回路の発光制御回路は、前記第2基板のうち前記第1基板に対向する面
上に配置される
請求項8に記載の光ヘッド。
Each unit circuit includes a holding circuit that holds a data signal acquired from the signal line, and a light emission control circuit that controls light emission of the light emitting element according to the data signal held by the holding circuit,
The holding circuit of each unit circuit is disposed on a surface of the first substrate that faces the second substrate, and the light emission control circuit of each unit circuit faces the first substrate of the second substrate. The optical head according to claim 8, wherein the optical head is disposed on a surface to be operated.
前記第1基板に形成された要素と前記第2基板に形成された要素とが、前記第1基板と
前記第2基板との間隙に配置された導電体を介して電気的に接続され、
当該光ヘッドと外部とを電気的に接続するための接続端子は第1基板の面上のみに形成
される
請求項8から請求項10の何れかに記載の光ヘッド。
The element formed on the first substrate and the element formed on the second substrate are electrically connected via a conductor disposed in a gap between the first substrate and the second substrate,
11. The optical head according to claim 8, wherein a connection terminal for electrically connecting the optical head and the outside is formed only on the surface of the first substrate.
露光によって潜像が形成される像担持体と、
前記像担持体を露光する請求項1から請求項11の何れかに記載の光ヘッドと、
前記像担持体の潜像に対する現像剤の付着によって顕像を形成する現像器と
を具備する画像形成装置。




An image carrier on which a latent image is formed by exposure; and
The optical head according to any one of claims 1 to 11, which exposes the image carrier;
An image forming apparatus comprising: a developing unit that forms a visible image by attaching a developer to the latent image of the image carrier.




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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009154530A (en) * 2007-12-04 2009-07-16 Seiko Epson Corp Light emitting device, method of driving the same, and electronic apparatus
CN111290165A (en) * 2018-12-10 2020-06-16 Tcl集团股份有限公司 Light source plate, backlight module and display device

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