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JP2007134400A - レーザ誘導光配線装置 - Google Patents

レーザ誘導光配線装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 LSIチップ上の配線に適用することができ、構成が極めて簡潔で、伝送レベル等の特性余裕も高く、特性再現性や信頼性の向上を図る。
【解決手段】 レーザ誘導光配線装置であって、基板1と、基板1上に離間して設けられた第1及び第2の光反射部8a,8bと、基板1上に設けられ、第1及び第2の光反射部8a,8bを光結合して光共振器を構成するための第1の光導波路3と、光導波路3中に設けられ、第1及び第2の光反射部8a,8bと共にレーザ発振器を構成する第1の光利得部2aと、光導波路3中に第1の光利得部2aとは離間して設けられ、第1及び第2の光反射部8a,8bと共にレーザ発振器を構成する第2の光利得部2bと、を具備した。
【選択図】 図1

Description

本発明は、LSIチップ等の配線を光で行うオンチップ光配線技術に係わり、特に光配線をレーザ共振器により実現したレーザ誘導光配線装置に関する。
バイポーラトランジスタや電界効果トランジスタ等の電子デバイスの性能向上により、大規模集積回路(LSI)の飛躍的な動作速度向上が図られてきている。ところが、トランジスタの微細化による性能向上の一方で、それを接続する電気配線は微細化により配線抵抗や配線間容量の増大が深刻な問題となり、LSI性能向上のボトルネックになりつつある。
このような電気配線の問題を鑑み、LSI内を光で接続する光配線LSIが幾つか提案されている(例えば、特許文献1参照)。光配線は、直流から100GHz以上の周波数で損失の周波数依存性が殆ど無く、配線路の電磁障害なども無いため数10Gbps以上の配線が容易に実現できる。
しかしながら、特許文献1のような従来技術は、莫大な数の配線を必要とするLSIに適用するには再現性や信頼性が桁違いに低いという問題があった。例えば、LSI配線の最上層(グローバル配線)だけに光を適用する場合を想定しても、1つのLSIチップで数100本以上の配線を搭載することも珍しくない。これは即ち、LSIが動作するだけでも数100本以上の光配線を1本の不良も無く動作させることが必要であり、LSIの製造歩留まりまで考えると数万本〜数十万本の光配線を製作して、配線不良を皆無にするだけの再現性と信頼性が必要ということを意味する。従って、LSI用の光配線は個々の配線距離は短いものの再現性や信頼性が極めて高い必要があり、そのために構成が極めてシンプルであることと、高密度集積のため極限的小型化が達成可能なことが必要となる。
従来の光配線は、基本的に発光素子、光導波路、受光素子が必須の要素となっており、発光素子技術、光導波路技術、受光素子技術の他、これらを効率良く光接続する光結合技術、光伝送システム設計といった周辺技術まで含めた多岐に渡る技術を集大成していく必要があった。しかも、これらの要素は動作原理、材料、構造、加工技術などが異なり、実現のために種々の材料と加工技術を複雑に組み合わせていく必要があり、その実現が極めて難しかった。
特開平6−132516号公報
このように、従来の光配線では構成要素が複雑化しやすく、用いる材料も多岐に渡ってしまうため、特性の安定性や再現性に問題を生じ易く、また、配線の小型化が難しいなど、LSI配線への適用に不適格な要素が非常に多いという問題があった。
本発明は、上記事情を考慮してなされたもので、その目的とするところは、LSIチップ上の配線に適用するため、構成が極めて簡潔であり、伝送レベル等の特性余裕も高く、従って特性再現性や信頼性の非常に高いオンチップのレーザ誘導光配線装置を提供することにある。
本発明の一態様は、レーザ誘導光配線装置において、同一基板上に少なくとも1組の第1の光反射部と第2の光反射部を互いに離間して設け且つ前記第1の光反射部と前記第2の光反射部を光導波路により光結合して光共振器を構成し、該光共振器中に少なくとも1つの光利得部と1つの光スイッチを設け、前記光利得部を励起して前記第1の光反射部と前記光利得部と前記第2の光反射部等を有するレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記光スイッチを動作させて前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの光経路損失を切り替えて前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を前記基板の前記光スイッチ以外の場所で検出して出力信号を得ることを特徴とする。
また、本発明の別の一態様は、レーザ誘導光配線装置において、基板と、前記基板上に離間して設けられた第1及び第2の光反射部と、前記基板上に設けられ、前記第1及び第2の光反射部を光結合して光共振器を構成するための光導波路と、前記光導波路中の一部に設けられ、前記第1及び第2の光反射部と共にレーザ発振器を構成する光利得部と、前記光導波路中の一部に前記光利得部とは離間して設けられ、入力信号により前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの光経路損失を切り替えて前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させる光スイッチと、を具備したことを特徴とする。
また、本発明の別の一態様は、レーザ誘導光配線装置において、同一基板上に少なくとも1組の第1の光反射部と第2の光反射部を互いに離間して設け且つ前記第1の光反射部と前記第2の光反射部を光導波路により光結合して光共振器を構成し、該光共振器中に少なくとも2つの光利得部を設け、前記光利得部を励起して前記第1の光反射部と前記光利得部と前記第2の光反射部からなるレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記光利得部の1つを利得変化させて前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの光経路利得を切り替え、これにより前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を利得変化させた前記光利得部以外の光利得部で検出して出力信号を得ることを特徴とする。
また、本発明の別の一態様は、レーザ誘導光配線装置において、基板と、前記基板上に離間して設けられた第1及び第2の光反射部と、前記基板上に設けられ、前記第1及び第2の光反射部を光結合して光共振器を構成するための第1の光導波路と、前記光導波路中に設けられ、前記第1及び第2の光反射部と共にレーザ発振器を構成する第1の光利得部と、前記光導波路中に前記第1の光利得部とは離間して設けられ、前記第1及び第2の光反射部と共にレーザ発振器を構成する第2の光利得部と、を具備したことを特徴とする。
本発明によれば、基板上に光導波路と光反射部、更に光利得部と光スイッチ又は複数の光利得部を設けることにより、光配線の基本要素を発光素子と光導波路にすることができる。このため、光伝送系の構成が極めて簡潔となり、伝送レベル等の特性余裕も高く、従って光配線としての特性再現性や信頼性の向上を図ることができる。
本発明の骨子は、発光素子(光送信)、光導波路(光伝送)、受光素子(光受信)というような一方通行的光伝達動作を基本にするのではなく、発光素子、光導波路、発光素子の組合せを空間的に分散配置し、これらを1つのレーザ発振器として連動させて系のレーザ動作そのものを信号として共有させるものである。即ち、空間的に離れた発光素子を1つの系として連動させ、系の応答より遅い動作であれば一部の変動が一斉に系全体に伝わることを利用し、空間的に離れた位置へ信号伝達を実現する。このとき、送信の発光素子はレーザ発振器としての系の光利得(又は損失)を制御する光スイッチとして機能させ、もう一方の発光素子は系の光量変動に応じた励起キャリアの変動等を外部伝達する受信器として機能させるものである。
以下、本発明の詳細を図示の実施形態によって説明する。ここでは幾つかの具体的材料を示して説明を行っていくが、これはレーザ発振可能な材料であれば同様に実施可能であり、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。また、ここでは1〜2本分の光配線を抽出した形で示していくが、これは勿論、多数の光配線を集積すること、LSIチップ上に集積することを意図しており、集積する光配線数は任意である。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図であり、本発明の光配線に必要な要素を抜き出した形で示してある。また、図1の中心軸上の断面構成を、図2に示す。ここでは、具体的構成材料の例としてGaInAsP/InP系材料を用いて説明していくが、これは他の材料でも構わず、例えばGaAlAs/GaAs系材料や,Si,SiGe/Si等の材料を用いても構わない。
図1において、11はn型InP基板、12はGaInAsP活性層(レーザ媒質、例えば発光波長1.3μm)、13はGaInAsP光導波路コア(例えばバンドギャップ波長1.2μm)、14はp型InP層、15は半絶縁型クラッド層(例えばFeドープInP)、16はp側電極(例えばAuZnなど)、17はn側電極(例えばAuGeなど)、18はドライエッチングによるミラー部である。
InP基板11上に、GaInAsP光導波路コア13と半絶縁型クラッド層15の積層構造がストライプ状に形成され、このストライプの両端がドライエッチングによりエッチングされてミラー18(18a,18b)が形成されている。光導波路コア13の端部近傍はGaInAsP活性層12(12a,12b)となり、半絶縁型クラッド層15(15a,15b)の端部近傍はp型InP層14(14a,14b)となっている。
そして、InP層14a,14b上にp側電極16(16a,16b)がそれぞれ形成され、基板1の下面にn側電極17が形成されている。即ち、ミラー18a,18b間を接続するように光導波路(光導波路コア13)が形成され、ミラー18a側にミラー18a,18b及び光導波路コア13と共にレーザ発振器を構成する第1の光利得部(活性層12a)が形成され、ミラー18b側にミラー18a,18b及び光導波路コア13と共にレーザ発振器を構成する第2の光利得部(活性層12b)が形成されている。
ここで、活性層12は、例えば厚さ0.12μm、幅1μm、長さ50μmとし、光導波路コア13は例えば厚さ0.12μm、幅1μm、長さ1mmとする。活性層12及び光導波路コア13には、量子井戸構造を用いても構わない。光導波路コア13の長さは、レーザ発振器の最大動作周波数を決定するパラメータとなるため、ある長さ以上では光配線装置としての動作速度が制限される。これは後述する。
図2に示すように、活性層12は光導波路コア13に直接接続されており、活性層12a,12bは光学的に結合されている。活性層12と光導波路コア13は、順番に結晶成長とパターンニングを行って形成しても、多重量子井戸構造等の選択成長による組成制御技術を用いて一括結晶成長を行ってパターンニングする方法で形成しても良い。また、活性層12a,12bの外側端はドライエッチングによる垂直端面ミラー18が形成されており、所謂ファブリペロー型共振器を形成しているが、基本的に光を外部出力する必要が無いため垂直端面に高反射コートや金属コート(図示せず)を施してミラー反射率を高めても構わない。
また、活性層12a,12bの外側端をドライエッチングするのではなく、回折格子付きの延長光導波路を設けてDBR(Distributed Bragg Reflector)レーザ構造としても構わない。さらに、活性層12a,12bの上下左右のいずれか近傍に回折格子を形成し、DFB(Distributed Feed Back)レーザ構造としても構わない。DFBレーザ構造とする場合、原理的に活性層12a又は12b単独でも発振可能となるが、12a,12bの連携動作を行うため、単独の発振しきい値はやや高めに設定しておく。このような構成としたレーザ誘導光配線装置の動作原理を以下に示す。
図3は、図1に示したレーザ誘導光配線装置の能動部を抜き出した模式構成断面図と、内部光強度分布、及び等価回路である。12a,12bはレーザ活性層、13は光導波路コア、18a,18bは反射ミラーである。
まず、図3(a)に示すように活性層12aのみ励起(電流注入)した場合、内部光強度(E)は活性層12aから光導波路13の間で緩やかな減衰分布を持つ。しかし、活性層12aとバンドギャップの同じ活性層12bに入ると、急激に光吸収されて減衰してしまう。この状態で系をレーザ発振させるには、活性層12bが光励起によって透明化するまで活性層12aを強く励起すれば良いが、一般には相当な困難を伴う。逆に、図3(b)に示すように活性層12bのみ励起すると図3(a)と逆の光分布となるが、当然ながら、この状態でのレーザ発振も難しい。
次に、図4に示すように活性層12a,12bを両方励起すると、内部の光強度分布はほぼ一様となり、光の周回利得を1、即ちレーザ発振させることが可能になる。それぞれの要素の特性パラメータとして、ミラー18の反射率をRa(12a側),Rb(12b側)、活性層12の長さをLa(12a側),Lb(12b側)、活性層12の誘導放出利得(光利得)をga(12a側),gb(12b側)、活性層12の吸収損失をαa(12a側),αb(12b側)、光導波路13の長さをLt、光導波路13の吸収損失をαt、活性層と光導波路の結合係数をCa(12aと13の間)、Cb(12bと13の間)とすると、全体のレーザ発振条件は系を一周した光が元の光強度を維持できる条件から、
ln{1/(RaRbCaCb)}
=2(gaLa+gbLb−αaLa−αbLb−αtLt) …(1)
となる。
ここで、ga,gbは活性層12a,12bに注入するキャリア(電流)の関数であり、それ以外のパラメータは構造が決まれば確定する固定パラメータである。従って、レーザ発振条件はga,gbによる光学利得が系の光損失を超えることであり、次の関係が成り立てば良い。即ち、
ga(IFa)La+gb(IFb)Lb
=αaLa+αbLb+αtLt+[ln{1/(RaRbCaCb)}]/2 …(2)
が成立すればよい。ここで、IFa,IFbは、それぞれ活性層12a,12bの励起電流を表している。
図5に、前述した図1の構成でドライエッチングによる垂直端面ミラー18にSiO2 /Si多層膜コートを行ってRa=Rb=80%とし、IFa=IFb=IF/2、即ち12a,12bとも同じ電流とした場合のレーザ発振特性の例を示す。
図5の横軸は素子電圧(VF)及びミラー端面からの光出力(Po)、縦軸は12a,12bへの注入電流の合計値(IF=IFa+IFb)である。PoとVFのグラフがそれぞれ2つあるのは、図1の系がレーザ発振した場合とレーザ発振しない場合のものである。レーザ発振しない場合の特性は、光導波路13の途中を非垂直エッチングして活性層12aと12bの光学的結合を分断した場合のものであり、活性層12a,12bの電気的な特性は変わっていない。
図5中で、Poが急激に増加するポイントがレーザ発振しきい値であり、その電流をIth、電圧をVthで記述する。図5は、IFa=IFbの対称励起した場合の特性であり、IFa≠IFbとした場合には利得g(IF)の非線形性により、しきい電流値及びしきい電圧値が図5のIth,Vthからずれる場合が多い。
ここで、活性層12a,12bは、それぞれp型クラッド層14a,14bとn型クラッド層(基板)11に挟まれたダイオードとなっており、その電流電圧特性は、
I=I0[exp{(V−IRs)e/nkT} …(3)
と表せる。ここで、Rsは16,14,12,11,17からなるpn接合ダイオードの内部抵抗、I0は飽和電流、nはダイオード定数、kはボルツマン定数、Tは絶対温度である。これを電圧について逆算すると以下の(4)式のようになる。
V1={ln(I1/I0)}nkT/e+I1Rs (I1<Ith)…(4)
半導体レーザは、レーザ発振すると活性層電圧(接合電位)がしきい電圧で固定されるため、しきい値以上の電圧は以下の(5)式のようになる。
V2={ln(Ith/I0)}nkT/e+I2Rs (I2>Ith)…(5)
この場合、第1項は電流に対して定数となる。図5に示したように、同じ素子で光結合を制御し、レーザ発振状態と非発振状態を切り替えるとすると、上述したV1,V2でI1=I2=Ibと置き換え、V2とV1の差分をΔVとして以下の(6)式が得られる。
ΔV={ln(Ib/Ith)}nkT/e …(6)
このΔVは、図5のVoffとVonの差(Voff−Von)に等しく、半導体レーザ素子で電流注入を一定にしてレーザ発振と非発振を切替えることができたとすると、その素子電圧が変化するということを意味している。また、逆に、素子バイアス電圧を一定に保つと、素子に流れる電流値が変化するということにもなる。
本実施形態のレーザ誘導光配線装置の原理はここにあり、片側反射ミラーを持たせた2つの活性層を光結合してレーザ発振器を構成し、一方の活性層に加えた変動で全体のレーザ発振状態を変動させ、その結果、もう一方の活性層に何らかの形で変動が現れるという性質を利用する。即ち、上記2つの活性層を隔離して配置すれば、一方の活性層に加えた変動が隔離した位置のもう一方の活性層に伝わり、何らかの変動として取り出せることになり、結果として信号を伝達する機能を持つことになる。
図1の実施形態の動作方法の例を示す。まず、電極16a,16bにバイアス電流としてそれぞれIb/2を加えておき、系をレーザ発振状態(図5レーザ発振)としておく。次に、電極16a又は16bの何れかに信号印加するが、例えば信号として−Ib/2を電極16aに印加、即ち信号に合わせて電極16aのバイアス電流をオフにするようにする。すると、信号入力時に系のレーザ発振が停止し、相手方の電極16bは素子電圧がVonからVoffに上昇する。ここで、Ith=10mA,Ib=30mAとすると、活性層12a,12bはそれぞれしきい電流が5mAでバイアス電流が15mAの状態に相当し、ダイオード定数(n)が2とすると、Voff−Von(=ΔV)は約57mVとなる。
上記信号印加は電極16bに対して行うこともでき、その場合、逆に電極16aに信号電圧が発生する。即ち、上記バイアス及び信号印加では、信号を印加した電極と反対の電極に約50mVの信号電圧を発生可能になる。この場合、信号印加した電極側の活性層が、利得オンの状態から利得オフの状態に切り替って光スイッチとして機能している。従って、図1の実施形態では一方が光スイッチ、一方が光利得部及び信号受信部として機能しており、しかもそれが受動的に交換可能、即ち双方向伝送可能という特徴を持っている。
ここで、一方の活性層の変動がもう一方の活性層の変動として現れる限界を説明する。レーザは光の誘導放出現象を利用しており、励起されたレーザ媒質に光注入されることが基本的な要件の一つになる。このため、本実施形態のように2つの活性層を隔離配置し、その間でレーザ共振器を構成する場合、活性層間(又はミラー間)の光伝達時間だけ遅れて誘導放出が起こることになり、その遅れ時間分だけレーザ発振動作の立ち上がりに時間を要することになる。従って、本実施形態のレーザ誘導光配線装置は、レーザ発振器を光が一周する時間より速い動作は難しい。
しかしながら、図1の例で見ると、活性層及び光導波路の実効屈折率を3.5とし、レーザ発振器長を約1mmとすると光の周回時間は約23psとなり、最大応答速度は40GHz程度となる。即ち、10数GHz程度の速度であれば十分応答可能であり、一般的論理データのNRZ(Non Return to Zero)信号であれば20Gbps程度の信号が扱えることになり、それほど致命的なものではないことが分かる。
このように本実施形態によれば、基板11上に第1のミラー18aと第2のミラー18bとの間を光学的に接続する光導波路13、ミラー18a側にレーザ発振器を構成するための第1の活性層12a、ミラー18b側にレーザ発振器を構成するための第2の活性層12bを設けることにより、光配線の基本要素が発光素子と光導波路になる。そして、受光専用素子が必須要素でなくなるほか、系の設計がレーザ動作考慮だけで良いため、最小受信感度や光結合効率などを考慮した光送受信レベル設定などの緻密な光伝送設計が不要になる。
従って、光配線構成要素が根本的に簡潔化されてばらつき要因や故障要因などが減少し、更に系の動作余裕が大幅に向上することで特性不良の出現頻度が大幅に減少する。即ち、光配線の特性再現性や信頼性などを劇的に向上し、LSIオンチップ光配線の実用性を大幅に高めることで、情報通信機器などの高度化に大きく貢献することができる。
また本実施形態では、ミラー18a,18bの両方に活性層12a,12bを設け、各々の活性層12a,12bに、レーザ発振器を構成するための光利得部及び発信状態を検出するための信号受信部としての機能を持たせているので、双方向の信号伝達が可能となる。
(第2の実施形態)
図6に、図1で示したレーザ誘導光配線装置の周辺回路の例を示す。但し、前述した動作例のように、レーザ誘導光配線装置の動作方法は、下記実施形態に限定されるものではなく、本実施形態はあくまで一例である。
図6において、破線で囲われた12a,13,12bが図1の実施形態の等価回路に相当し、バイアス抵抗Rdは、図1の実施形態の基板上に集積しても、外部に設けても構わない。ここで、活性層12a(14a,11と合わせpn接合ダイオード)と直列接続したバイアス抵抗Rdに印加するバイアス電圧をVd、それぞれのバイアス電流をIdとし、バイアス抵抗Rdと活性層12の接続端子の電圧をVs、Vsから流入する電流をIsとする。12a,12b間のレーザ発振特性として、12a,12bに同じ電流を流したときの発振しきい値をIth,Vthとする。即ち、発振しきい値における電流は、12a,12bともそれぞれIth/2であるとする。
この回路の動作例として、Idをしきい電流値より僅かに下、例えば0.95Ithの半分とする(Id=0.475Ith)。そして、信号送信側はIsとしてIthよりも十分大きな電流を流入するものとする。こうすると、Is=0(Isa=Isb=0)のとき、Vsa,VsbはいずれもほぼVthに近い値となっている。この状態で、次に例えば12a側に信号としてIsa=2Ithを注入する。そうすると、12b側がしきい値より低めにバイアスされているものの、12a側からの光注入により全体としてレーザ発振可能な状態になる。
レーザ発振が起こると、12b側の実効しきい値(発振しきい値光量に達する電流値)が低下し、実質的にしきい値以上にバイアス電流を与えられた状態となり、素子電圧が図5で説明した原理で低下する。即ち、Isaの注入によりVsbが低下し、Vsbの変動を取り出すことで12a側から12b側への信号伝達が実現する。勿論、Isbの注入でVsaを低下させることも可能であり、逆方向への信号伝達も可能である。
また、Idを予めIth/2より大きい値、例えばIth(全体の電流は2Ith)として系を初めからレーザ発振させておき、Isa,Isbをレーザ発振停止させるに足りる負電流(例えば−Ith)とすることでも動作可能である。この場合、信号出力位相が上記しきい値以下のバイアスの場合と反対になる。
(第3の実施形態)
第1及び第2の実施形態では、光導波路が直線的な場合を示してきたが、これは図7に示すように曲がった光導波路であっても構わない。この場合、光導波路13の損失に吸収損失αtLt以外に曲がり損失が付加されるが、その影響はレーザ発振しきい値が曲がり損失分だけ上昇することとなって現れる。
また、図8に示すように光導波路が直交配置されたものであっても良い。図8では、前記図1に示す光導波路13を第1の光導波路13aとし、これと直交するように第2の光導波路13bが形成され、第2の光導波路13bの両端に第3及び第4のミラー18c,18dがそれぞれ設けられ、ミラー18c,18dの近傍に第3及び第4の活性層12c,12d、電極16c,16dが設けられている。
このように、2組(18a−18b間及び18c−18d間)のレーザ誘導光配線装置の光導波路13(13a,13b)が直交交差しているものでも全く同様な信号伝達が可能である。これは、直交する光が干渉しない性質を用いたもので、実体として光導波路13が交差していても、光配線路としては2つの独立な配線として機能するものである。図8の光導波路13は、交差部分が直角に交わるように配置する必要がある。
このように、本発明のレーザ誘導光配線装置は、光導波路13の形状や配線パターン、直交交差等によりその本質的機能が変化するものではない。
(第4の実施形態)
図9は、図8の直交交差配線の交差部に活性層を設け、単純直交交差配線にない機能を付加した実施形態である。電極16e下部には、他の活性層12a〜12dと同様に活性層が設けられ(図示せず)、形状的には12aと12cの中心を合わせて重ねた形状となっている。また、16a,16e,16bの3電極部の組合せによるレーザ共振器と、16c,16e,16dの3電極部の組合せによるレーザ共振器の2つのレーザ誘導光配線装置が、中央の活性層(16eの下部)を共有する形で合成されている。
まず、3電極部の組合せによるレーザ共振器(例えば16a,16e,16b)の動作であるが、これら3つの電極は、前述してきた2電極型のレーザ誘導光配線装置と同様、3つの電極からそれぞれ信号発信ができる。さらに、1つの電極に入力した信号は、他の2つの電極でそれぞれ受信することができる。動作方法としては、例えば前述の図6の実施形態の動作回路を3つの活性層に拡張し、図6と同様に動作させればよい。
次に、16a,16e,16bの3電極部の組合せによるレーザ共振器と、16c,16e,16dの3電極部の組合せによるレーザ共振器の2つのレーザ誘導光配線装置間の動作であるが、16e部分の活性層を介して両者の結合動作が可能である。例えば、16eを発信電極とした場合、その情報は残りの4電極全てに伝達することが可能になる。また、16a,16b,16c,16dで発信した信号は、全て16eに集約可能である。さらに、2つのレーザ誘導光配線装置間で信号授受することも可能である。
このように、図9のような配線間の共有活性層を設けることで、配線間伝送や多点間の光配線が可能になる。
(第5の実施形態)
図10は、光導波路として表面プラズモン導波路を用いた実施形態であり、ここではレーザ活性層はSi基板の一部、光導波路としては金属薄膜を用いている。図10において、21はSi基板、22はSiO2 カバー、23(23a,23b)はpウェル、24(24a,24b)はnウェル、25(25a,25b)はn電極、26(26a,26b)はp電極、27は表面プラズモンガイド(金属薄膜)、28は反射ミラーである。
電極25,26は例えばAlとし、表面プラズモンガイド27は、例えばAuを厚さ40nm、幅2μm、長さ100μm形成する。このとき、Au薄膜下には絶縁膜としてSiO2 を例えば20nm設けておく。Si発光部(レーザ能動部)は、pウェル23とnウェル24の間の部分であり、両ウェル23,24からキャリア注入することで発光再結合を行わせる。
このとき、pウェル23又はnウェル24を形成する際、粒径10nm前後のSiO2 粉末を混入したドーパントペーストをスピンコートして熱拡散することで、拡散フロントに数nm〜数10nmの拡散フロント凹凸を形成し、そのナノサイズ凹凸によるキャリア閉じ込め効果を利用して発光再結合を促進する。また、Si発光部に、希土類ドーパントを注入して希土類発光を行わせたり、数nmのSiO2 で覆われたナノサイズSi球を配置して微小球Si発光を利用しても構わない。
表面プラズモンは、光と各種分極波が結合したポラリトンの一種であり、金属の自由電子偏移分極と結合した金属表面を伝わる光伝播モードで、一般には表面プラズモンポラリトン(Surface Plasmon Polariton、以下、SPPと記す)と呼ばれる。図11に示すように、SPPの光は金属界面を中心に閉じ込められており、その光電界分布の範囲にSi発光部が位置すれば誘導放出動作が可能になる。
図10の実施形態は、電極25,26間がダイオードとなっており、この間に順方向電流を通電することで発光する。また25a,26a間と、25b,26b間にそれぞれ通電することで両端活性層が発光し、ミラー28を共振器とするレーザ発振が可能になる。この信号伝達は前述した実施形態群と同様に行えばよい。
光導波路となるSPPガイドは、金属と誘電体の界面に導波モードが存在するが、金属薄膜では図12に示すように、金属の表側と裏側のSPPが結合するモードが存在する。図12の曲線は、SPP導波モードの波面を表しており、表側SPPと裏側SPPが同位相の場合と逆位相の場合がある。また、図13に示すように、微小金属ギャップでも同様に2つのSPPが結合するモードがあり、これらの導波構造は、適用する場所や周辺条件などに応じて使い分ければよい。
(変形例)
なお、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではない。本発明の実施形態は幾つかの具体例を示しているが、これはあくまで構成例であり、本発明の主旨に従い個々の要素に他の手段(材料、寸法など)を用いても構わないものである。また、実施形態に示された材料、形状、配置などはあくまで一例であり、さらに各実施形態を組み合わせて実施することも可能である。
実施形態では、光導波路の両側にそれぞれ光利得部を設けたが、図14に示すように、一方を単なる光スイッチ31としても良い。この場合も、光スイッチ31により光導波路13中の光経路損失を切り替えることにより、レーザ発振状態を変化させることができ、先の実施形態と同様の効果が得られる。但し、信号電圧方向は双方向ではなく、光スイッチ31側から光利得部12a側への一方向のみとなる。
また、実施形態では、レーザ発振状態の変化を光利得部で検出したが、これとは別に光検出器を設けて光導波路中を導波する光を検出することにより、レーザ発振状態の変化を検出することも可能である。例えば図15に示すように、一方のミラー18aの外側に光検出器32設け、ミラー18aを透過した光を検出するようにしても良い。光検出器32の設置位置としては、図15に限らず、光導波路中を導波する光を検出できる位置であれば良い。
その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施することができるものである。
第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す断面図。 第1の実施形態における動作を説明するための機能ブロック図及び等価回路図。 第1の実施形態における動作を説明するための機能ブロック図及び等価回路図。 第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置のレーザ発振特性の例を示す図。 第2の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の周辺回路例を示す等価回路図。 第3の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第3の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第4の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第5の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第5の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す断面図。 第5の実施形態における光ガイドの構成及び導波モードを示す断面図。 第5の実施形態における光ガイドの構成及び導波モードを示す断面図。 本発明の変形例の概略構成を示す断面図。 本発明の変形例の概略構成を示す断面図。
符号の説明
11…n型InP基板
12…GaInAsP活性層
13…GaInAsP光導波路コア
14…P型InP層
15…半絶縁InPクラッド層
16,26…p側電極
17,25…n側電極
18,28…反射ミラー
21…Si基板
22…SiO2 カバー
23…pウェル
24…nウェル
27…表面プラズモンガイド

Claims (16)

  1. 同一基板上に少なくとも1組の第1の光反射部と第2の光反射部を互いに離間して設け且つ前記第1の光反射部と前記第2の光反射部を光導波路により光結合して光共振器を構成し、該光共振器中に少なくとも1つの光利得部と1つの光スイッチを設け、前記光利得部を励起して前記第1の光反射部と前記光利得部と前記第2の光反射部等を有するレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記光スイッチを動作させて前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの光経路損失を切り替えて前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を前記基板の前記光スイッチ以外の場所で検出して出力信号を得ることを特徴とするレーザ誘導光配線装置。
  2. 基板と、
    前記基板上に離間して設けられた第1及び第2の光反射部と、
    前記基板上に設けられ、前記第1及び第2の光反射部を光結合して光共振器を構成するための光導波路と、
    前記光導波路中の一部に設けられ、前記第1及び第2の光反射部と共にレーザ発振器を構成する光利得部と、
    前記光導波路中の一部に前記光利得部とは離間して設けられ、入力信号により前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの光経路損失を切り替えて前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させる光スイッチと、
    を具備したことを特徴とするレーザ誘導光配線装置。
  3. 前記光スイッチとは離間した位置に、前記光導波路中を導波する光の強度変化を検出することにより前記レーザ発振器のレーザ発振状態の変化を検出する検出部を設けたことを特徴とする請求項2記載のレーザ誘導光配線装置。
  4. 前記レーザ発振器のレーザ発振状態の変化を、前記光利得部で検出することを特徴とする請求項2記載のレーザ誘導光配線装置。
  5. 前記光利得部は電流注入によって励起されるものであり、前記レーザ発振器のレーザ発振状態変化を前記光利得部の電圧又は電流の変化で検出することを特徴とする請求項1又は4記載のレーザ誘導光配線装置。
  6. 前記光スイッチは前記光利得部と同等の構造体からなり、該光スイッチの励起レベルを変化させることにより前記光経路損失を切り替えるものであることを特徴とする請求項1〜5の何れかに記載のレーザ誘導光配線装置。
  7. 前記光導波路は、前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの少なくとも一部が湾曲されていることを特徴とする請求項1〜6の何れかに記載のレーザ誘導光配線装置。
  8. 同一基板上に少なくとも1組の第1の光反射部と第2の光反射部を互いに離間して設け且つ前記第1の光反射部と前記第2の光反射部を光導波路により光結合して光共振器を構成し、該光共振器中に少なくとも2つの光利得部を設け、前記光利得部を励起して前記第1の光反射部と前記光利得部と前記第2の光反射部等を有するレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記光利得部の1つを利得変化させて前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの光経路利得を切り替え、これにより前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を利得変化させた前記光利得部以外の光利得部で検出して出力信号を得ることを特徴とするレーザ誘導光配線装置。
  9. 基板と、
    前記基板上に離間して設けられた第1及び第2の光反射部と、
    前記基板上に設けられ、前記第1及び第2の光反射部を光結合して光共振器を構成するための第1の光導波路と、
    前記光導波路中に設けられ、前記第1及び第2の光反射部と共にレーザ発振器を構成する第1の光利得部と、
    前記光導波路中に前記第1の光利得部とは離間して設けられ、前記第1及び第2の光反射部と共にレーザ発振器を構成する第2の光利得部と、
    を具備したことを特徴とするレーザ誘導光配線装置。
  10. 前記第1及び第2の光利得部をそれぞれ励起して各々のレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記第1及び第2の光利得部の一方を利得変化させて前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの光経路利得を切り替え、これにより前記第1及び第2の光利得部の他方によるレーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を前記第1及び第2の光利得部の他方で検出することを特徴とする請求項9記載のレーザ誘導光配線装置。
  11. 前記光利得部は電流注入によって励起されるものであり、前記レーザ発振器のレーザ発振状態の変化を前記光利得部の電圧又は電流の変化で検出することを特徴とする請求項8又は10記載のレーザ誘導光配線装置。
  12. 前記基板上に離間して設けられた第3及び第4の光反射部と、
    前記基板上に前記第1の光導波路と直交するように設けられ、前記第3及び第4の光反射部を光結合して光共振器を構成するための第2の光導波路と、
    前記第2の光導波路中に設けられ、前記第3及び第4の光反射部と共にレーザ発振器を構成する第3の光利得部と、
    前記光導波路中に前記第3の光利得部とは離間して設けられ、前記第3及び第4の光反射部と共にレーザ発振器を構成する第4の光利得部と、
    を更に具備したことを特徴とする請求項9記載のレーザ誘導光配線装置。
  13. 前記第1の光導波路と前記第2の光導波路との交差部に、前記第1及び第2の光反射部と共にレーザ発振器を構成、及び/又は前記第3及び第4の光反射部と共にレーザ発振器を構成する第5の光利得部を設けたことを特徴とする請求項12記載のレーザ誘導光配線装置。
  14. 前記第1の光導波路は、前記第1の光反射部から前記第2の光反射部までの少なくとも一部が湾曲されていることを特徴とする請求項8〜13の何れかに記載のレーザ誘導光配線装置。
  15. 前記第1の光導波路は、表面プラズモン導波路であることを特徴とする請求項8〜14の何れかに記載のレーザ誘導光配線装置。
  16. 前記光利得部は、それぞれ信号送信時は自らの利得を入力信号に応じて変化させて前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、信号受信時は自らの励起を一定化してレーザ発振状態の変化に応じた励起キャリア消費の変化を出力信号として検出するものであり、各光利得部が送信部と受信部を兼ねて双方向伝送又は多点信号伝送を可能にすることを特徴とする請求項8〜15の何れかに記載のレーザ誘導光配線装置。
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