JP2007173266A - 配線基板の実装方法およびポリイミドシロキサン溶液組成物 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 配線基板の表面に電気回路配線部を部分的に被覆した硬化絶縁膜を形成する工程を含んでなる配線基板の実装方法において、前記硬化絶縁膜を、有機溶媒中に有機溶媒可溶性ポリイミドシロキサン、エポキシ化合物及び多価イソシアネート化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の硬化性成分、およびシリコーン消泡剤を含んでなり、前記有機溶媒が(A)グライム類からなる溶媒と(B)アミド類、ピロリドン類、アノン類及びそれらのいずれかの混合物からなる群から選択された溶媒とを重量比((A)/(B))が85/15〜99/1の割合で混合した混合有機溶媒からなるポリイミドシロキサン溶液組成物を用いて形成する。
【選択図】 なし
Description
また、ヘキサメチレンジアミン、ジアミノドデカンなど脂肪族ジアミン化合物を上記ジアミンと共に使用することができる。
a)テトラカルボン酸化合物とジアミン化合物とを略等モル使用し、有機極性溶媒中で連続的に15〜250℃で重合及びイミド化させてポリイミドシロキサンを得る方法。
b)テトラカルボン酸化合物とジアミン化合物とをそれぞれ分けて、まず過剰量のテトラカルボン酸化合物とジアミン化合物(例えばジアミノポリシロキサン)とを有機極性溶媒中15〜250℃で重合及びイミド化させて平均重合度1〜10程度の末端に酸無水物基(又は、酸、そのエステル化物)を有するイミドシロキサンオリゴマーを調製し、別にテトラカルボン酸化合物と過剰量のジアミン化合物とを有機極性溶媒中15〜250℃で重合及びイミド化させて平均重合度1〜10程度の末端にアミノ基を有するイミドオリゴマーを調製し、次いでこの両者を酸成分とジアミン化合物とが略等モルになるように混合して15〜60℃で反応させて、さらに130〜250℃に昇温して反応させてポリイミドシロキサンを得る方法。
c)テトラカルボン酸化合物とジアミン化合物とを略等モル使用し、有機極性溶媒中でまず20〜80℃で重合させてポリアミック酸を得た後に、そのポリアミック酸をイミド化してポリイミドシロキサンを得る方法。
なお、本発明のポリイミドシロキサン溶液組成物を構成する混合溶媒を、ポリイミドシロキサンの調製段階から用いると、本発明のポリイミドシロキサン溶液組成物を調製するうえで効率的である。
ポリイミドシロキサンは高分子量のものが好ましく更にイミド化率が高いものが好ましい。分子量の目安としての対数粘度(測定濃度:0.5g/100ミリリットル、溶媒:N−メチル−2−ピロリドン、測定温度:30℃)は、0.15以上、特に0.16〜2のものが硬化絶縁膜の強度、伸度などの機械的物性の点から好ましい。また、赤外吸収スペクトルから求められるイミド化率が、90%以上特に95%以上更に実質的に100%のものが好ましい。
エポキシ化合物としては、エポキシ当量が100〜4000程度であって、分子量が300〜10000程度である液状又は固体状のエポキシ樹脂が好ましい。例えば、ビスフェノールA型やビスフェノールF型のエポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製:エピコート806、エピコート825、エピコート828、エピコート1001、エピコート1002、エピコート1003、エピコート1004、エピコート1055、エピコート1004AF、エピコート1007、エピコート1009、エピコート1010など)、3官能以上のエポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製:エピコート152、エピコート154、エピコート180シリ−ズ、エピコート157シリ−ズ、エピコート1032シリ−ズ、チバガイギ−製:MT0163など)、宇部興産株式会社製のハイカーETBN1300×40、ナガセケムテックス株式会社製のデナレックスR−45EPT、エポキシ変性ポリシロキサン(信越化学工業社製:KF105など)などを挙げることができる。
更に、多価イソシアネ−ト化合物として、脂肪族、脂環族または芳香族の多価イソシアネ−トから誘導されるもの、例えばイソシアヌレ−ト変性多価イソシアネ−ト、ビュレット変性多価イソシアネ−ト、ウレタン変性多価イソシアネ−ト等であってもよい。
前記のブロック化剤としては例えば、アルコ−ル系、フェノ−ル系、活性メチレン系、メルカプタン系、酸アミド系、酸イミド系、イミダゾ−ル系、尿素系、オキシム系、アミン系、イミド系化合物、ピリジン系化合物等があり、これらを単独あるいは、混合して使用してもよい。具体的なブロック化剤としては、アルコ−ル系としてメタノ−ル、エタノ−ル、プロパノ−ル、ブタノ−ル、2−エチルヘキサノ−ル、メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルカルピト−ル、ベンジルアルコ−ル、シクロヘキサノ−ル等、フェノ−ル系として、フェノ−ル、クレゾ−ル、エチルフェノ−ル、ブチルフェノ−ル、ノニルフェノ−ル、ジノニルフェノ−ル、スチレン化フェノ−ル、ヒドロキシ安息香酸エステル等、活性メチレン系として、マロン酸ジメチル、マロン酸ジエチル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、アセチルアセトン等、メルカプタン系として、ブチルメルカプタン、 ドデシルメルカプタン等、酸アミド系として、アセトアニリド、酢酸アミド、ε−カプロラクタム、δ−バレロラクタム、γ−ブチロラクタム等、酸イミド系として、コハク酸イミド、マレイン酸イミド、イミダゾ−ル系として、イミダゾ−ル、2−メチルイミダゾ−ル、尿素系として、尿素、チオ尿素、エチレン尿素等、オキシム系として、ホルムアルドオキシム、アセトアルドオキシム、アセトオキシム、メチルエチルケトオキシム、シクロヘキサノンオキシム等、アミン系として、ジフェニルアミン、アニリン、カルバゾール等、イミン系として、エチレンイミン、ポリエチレンイミン等、重亜硫酸塩として、重亜硫酸ソ−ダ等、ピリジン系として、2−ヒドロキシピリジン、2−ヒドロキシキノリン等が挙げられる。
さらに詳しく述べると、本発明においては、エポキシ化合物単独か、又はエポキシ化合物とブロック多価イソシアネート化合物との組合せが好適に使用される。エポキシ化合物とブロック多価イソシアネート化合物との組合せでは、ポリイミドシロキサン100質量部に対してエポキシ化合物を0.5〜30質量部及びブロック多価イソシアネート化合物を2〜40質量部の組合せで使用するのが、130℃程度以下の低温で硬化することが容易で且つ硬化絶縁膜の封止材料に対する密着性が良好になるので好適である。
なお、これらの混合溶媒は、特に限定するものではないが、有機溶剤可溶性ポリイミドシロキサン100質量部に対して通常50質量部〜500質量部用いられる。
これらの微細なフィラーはスクリーン印刷などによって塗膜を形成する時の粘度を良好に調整し、且つ硬化絶縁膜の特性を改良するために用いられる。しかし、このような微細なフィラーを加えると、溶液組成物は高粘度になり特にチクソトロピー性が高くなるから、必然的に泡抜け性が低下し、溶液組成物を製造する工程やスクリーン印刷などによって塗膜を形成する工程において著しく作業性が低下する。本発明のポリイミドシロキサン溶液組成物は、微細な無機フィラーを含有した場合にも泡抜け性が良好であるために溶液組成物を製造する工程やスクリーン印刷などにより塗膜を形成する工程における作業性が良好である。
ブロック多価イソシアネート化合物の解離触媒としては、例えばジブチル錫ジラウレ−トなどや3級アミン類が例示できる。解離触媒の量はブロック多価イソシアネ−ト化合物100質量部に対して0.01〜25質量部特に0.1〜15質量部が好ましい。
また、硬化促進触媒としては、2−メチル−4−メチルイミダゾールなどのイミダゾール類や3級アミン類が例示できる。硬化促進触媒の量は、ブロック多価イソシアネ−ト100質量部に対して0.01〜25質量部程度特に0.1〜15質量部程度が好ましい。
前記3級アミンとしては、例えば1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン(DBUと略記することもある。以下同様)、N,N−ジメチルベンジルアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルヘキサンジアミン、トリエチレンジアミン(TEDA)、2−ジメチルアミノメチルフェノール(DMP−10)、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール(DMP−30)、ジモルホリノジエチルエーテル(DMDEE)、1,4−ジメチルピペラジン、シクロヘキシルジメチルアミンなどを挙げることができる。特に、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン(DBU)、ジメチルベンジルアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルヘキサンジアミンは、ブロックイソシアネートからブロック化剤を適当な温度において解離し、且つ、ポリイミドシロキサンとエポキシ化合物及び多価イソシアネート化合物との架橋反応を適当な速度に促進することができる。
このような配線基板の実装は概略、次の手順によっておこなわれる。
1)表面に電気回路配線2が形成されたポリイミドフィルムの絶縁基板1からなる配線基板を準備する。必要に応じて電気回路配線2の表面はスズメッキされる。
2)配線基板の表面の所定部分に、ポリイミドシロキサン溶液組成物をスクリーン印刷によって塗布し、得られた塗膜を50℃〜210℃にて加熱処理して硬化絶縁膜3を形成する。この加熱処理は通常は160℃程度の温度であるが、既にスズメッキされた場合は120℃程度の比較的低い温度で加熱処理が行なわれる。
3)硬化絶縁膜で覆われていない配線の表面にスズメッキ層4を形成する。既にスズメッキされた場合はこの工程が省略される場合もある。
4)チップ部品5を、硬化絶縁膜で覆われていない配線部(インナーリード部)に金バンプ6などによって電気的に接合する。
5)ポリイミドフィルムの絶縁基板1とチップ部品5の隙間にエポキシ樹脂などの硬化性樹脂からなるアンダーフィル材7を注入し、通常150℃〜160℃程度の温度で加熱処理して硬化させる。
6)液晶パネルの基板10の電極9を、ACF又はACP8を用いて、配線基板の硬化絶縁膜で覆われていない配線部(アウターリード部)に熱圧着して接合する。
ハジキ評価は和光純薬工業製のぬれ張力試験用混合液No.35.0を用い、スポイトにて硬化絶縁膜際から1cm付近に0.1mL垂らし、スポイトの先でぬれ張力試験用混合液を硬化絶縁膜際に近づけて、硬化絶縁膜の際を挟んで硬化絶縁膜表面から銅箔表面をぬらす。その後で、硬化絶縁膜の際からぬれ張力試験用混合液がはじかれた銅箔表面の距離を測定した。はじかれた距離が大きいほどハジキ度合が大きい。
〔エポキシ化合物〕
エピコート828:ジャパンエポキシレジン社製、エポキシ樹脂、エポキシ当量:190
エピコート157S70:ジャパンエポキシレジン社製、エポキシ樹脂、エポキシ当量:210
〔多価イソシアネート化合物〕
B−882N:タケネートB−882N、三井武田ケミカル社製、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネートブロック化体、ブロック化剤:メチルエチルケトオキシム
〔消泡剤〕
KS538:信越化学工業社製、シリコーン消泡剤(置換基の90%程度がメチル基からなり10%程度が親水性のポリオキシアルキレン基であるポリシロキサン含有した自己乳化コンパウンド型シリコーン消泡剤)
TSA−750:東芝シリコーン社製、シリコーン消泡剤(ジメチルポリシロキサンからなるコンパウンド型シリコーン消泡剤)
〔硬化触媒〕
2E4MZ:四国化成工業社製、2−エチル−4−メチルイミダゾール
DBU:アルドリッチ社製、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン
〔無機フィラー〕
アエロジル#50:日本アエロジル社製、平均粒径30nm
アエロジル#130:日本アエロジル社製、平均粒径16nm
タルクP−3:日本タルク社製タルク、ミクロエースP−3、平均粒径5.1μm
硫酸バリウムB−30:堺化学工業社製硫酸バリウム、平均粒径0.3μm
ポリイミドシロキサン溶液の製造:
容量500mLのガラス製フラスコに、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物47.1g(0.16モル)、溶媒のトリグライム(以下、TGと略記することもある)90gを仕込み、窒素雰囲気下、180℃で加熱撹拌した。α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン(アミノ当量460)125.1g(0.136モル)、TG40gを加え、180℃で60分加熱撹拌した。更にこの反応溶液に3,3’−カルボキシ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン(MBAA)6.9g(0.024モル)及びTG39gを加え、180℃で10時間加熱撹拌した後、濾過を行った。得られたポリイミドシロキサン反応溶液は、ポリマ−固形分濃度67重量%、ηinhが0.20の溶液であった。イミド化率は実質的に100%であった。
ガラス製容器に、参考例1で得たポリイミドシロキサン溶液30.0gにTG8gとシクロヘキサノン2g(その結果、ポリイミドシロキサン固形分100質量部に対してTG90質量部とシクロヘキサノン10質量部となる。以下同様。)、エポキシ樹脂のエピコート157S70を0.38g(2質量部)、硬化触媒の2E4MZを0.04g(0.2質量部)とDBUを0.16g(0.8質量部)と、シリコーン系消泡剤のKS531を0.9g(5質量部)、無機充填材のアエロジル50を0.8g(4質量部)とアエロジル130を3.3g(16.5質量部)と、タルクのミクロエースP−3を9.1g(45.5質量部)と、硫酸バリウムB−30を4.5g(22.5質量部)とを仕込み、25℃で2時間撹拌して均一に混合したポリイミドシロキサン溶液組成物を得た。
このポリイミドシロキサン溶液組成物の組成、泡抜け性、硬化絶縁膜の残存溶媒率、ハジキ距離の測定結果を表1に示す。
実施例1と同様にして表1に示した組成からなるポリイミドシロキサン組成物を得た。これらのポリイミドシロキサン組成物の組成、泡抜け性、硬化絶縁膜の残存溶媒率、ハジキ距離の測定結果を表1に示す。
実施例1と同様にして表1に示した組成からなるポリイミドシロキサン組成物を得た。これらのポリイミドシロキサン組成物の組成、泡抜け性、硬化絶縁膜の残存溶媒率、ハジキ距離の測定結果を表1に示す。比較例1〜3ではいずれも溶液組成物の泡抜け性に更に改良の余地があった。また比較例4では効果絶縁膜の残存溶媒率が極めて高いものであった。
2:銅箔で形成された電気回路配線
3:硬化絶縁膜(保護膜)
4:スズメッキ
5:ICチップ部品
6:金バンプ
7:アンダーフィル
8:異方性導電フィルム又は異方性導電ペースト
9:液晶パネル基板の電極
10:液晶パネル基板
Claims (8)
- 電気回路配線部が形成された配線基板の表面に前記電気回路配線部を部分的に被覆した硬化絶縁膜を形成する工程を含んでなる配線基板の実装方法において、
前記硬化絶縁膜を、有機溶媒中に有機溶媒可溶性ポリイミドシロキサン、エポキシ化合物及び多価イソシアネート化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の硬化性成分、およびシリコーン消泡剤を含んでなり、前記有機溶媒が(A)グライム類からなる溶媒と(B)アミド類、ピロリドン類、アノン類及びそれらのいずれかの混合物からなる群から選択された溶媒とを重量比((A)/(B))が85/15〜99/1の割合で混合した混合有機溶媒からなるポリイミドシロキサン溶液組成物を用いて形成することを特徴とする配線基板の実装方法。 - 電気回路配線部が形成された配線基板の表面に前記電気回路配線部を部分的に被覆した硬化絶縁膜を形成し、次いで前記硬化絶縁膜で覆われていない電気回路配線部に異方性導電材料によって電気的接合部を形成する工程を含んでなる配線基板の実装方法において、
前記硬化絶縁膜を、有機溶媒中に有機溶媒可溶性ポリイミドシロキサン、エポキシ化合物及び多価イソシアネート化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の硬化性成分、およびシリコーン消泡剤を含んでなり、前記有機溶媒が(A)グライム類からなる溶媒と(B)アミド類、ピロリドン類、アノン類及びそれらのいずれかの混合物からなる群から選択された溶媒とを重量比((A)/(B))が85/15〜99/1の割合で混合した混合有機溶媒からなるポリイミドシロキサン溶液組成物を用いて形成することを特徴とする前記請求項1に記載の配線基板の実装方法。 - ポリイミドシロキサン溶液組成物が、有機溶剤可溶性ポリイミドシロキサン100質量部に対して、エポキシ化合物及び多価イソシアネート化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の硬化性成分を1〜50質量部含有することを特徴とする前記請求項1〜3のいずれかに記載の配線基板の実装方法。
- ポリイミドシロキサン溶液組成物が、有機溶剤可溶性ポリイミドシロキサン100質量部に対して、シリコーン消泡剤を0.1〜10質量部含有することを特徴とする前記請求項1〜4のいずれかに記載の配線基板の実装方法。
- ポリイミドシロキサン溶液組成物の混合溶媒の(A)グライム類からなる溶媒が、トリグライム、ジグライム又はそれらの混合物であることを特徴とする前記請求項1〜5のいずれかに記載の配線基板の実装方法。
- ポリイミドシロキサン溶液組成物の混合溶媒の(B)アミド類、ピロリドン類、アノン類及びそれらのいずれかの混合物からなる群から選択された溶媒が、ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン又はそれらのいずれかの混合物であることを特徴とする前記請求項1〜6のいずれかに記載の配線基板の実装方法。
- 有機溶媒中に、有機溶媒可溶性ポリイミドシロキサン、エポキシ化合物及び多価イソシアネート化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の硬化性成分、およびシリコーン消泡剤を含んでなり、前記有機溶媒が(A)グライム類からなる溶媒と(B)アミド類、ピロリドン類、アノン類及びそれらのいずれかの混合物からなる群から選択された溶媒とを重量比((A)/(B))が85/15〜99/1の割合で混合した混合有機溶媒からなることを特徴とする泡抜け性が改良されたポリイミドシロキサン溶液組成物。
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