JP2007157902A - 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】粘着部を上に向けて粘着シートを支持台に載置し、その上に基板を載置した後、基板の裏面側の気圧を表面側の気圧より低くすることで、粘着シートと基板とを密着させ、次いでその気圧差を解除し、支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から昇降ピンによって基板を持ち上げ粘着シートから剥離している。このことによって、基板裏面のパーティクルを迅速且つ確実に、簡単に除去することができる。また、露光ステージに対応した突起を備えた支持台を用いることにより、基板を露光ステージに載置したときに露光に悪影響を及ぼすパーティクルを除去することができ、良好なパターンを得ることができる。
【選択図】図1
Description
粘着シートを、その粘着部を上にして支持台に載置する工程と、
基板を、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の表面側と裏面側との間の差圧を解除する工程と、
次いで前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする。
吸引孔の形成されている支持台に、吸引孔の形成されている粘着シートをその粘着部を上にして載置する工程と、
基板を、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記支持台の吸引孔及び前記粘着シートの吸引孔を通して前記基板を吸引することによって、前記粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の吸引を停止し、前記基板の表面側と裏面側との差圧を解除する工程と、
次いで前記粘着シートから前記基板を剥離し、前記基板の裏面に付着していたパーティクルを前記粘着シートの粘着部に転写させる工程と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする。
前記支持台の表面には、露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起が形成され、
前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように、基板を支持台に載せる前に位置合わせを行う工程を含むことが好ましい。
基板を支持するための支持台と、
この支持台に粘着部が上になるように載置され、その上に基板が表面を上にして載置される粘着シートと、
前記基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させるための手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする。
吸引孔が形成された基板を支持するための支持台と、
吸引孔が形成されると共に前記支持台に粘着部が上になるように載置され、その上に基板が載置される粘着シートと、
前記支持台及び粘着シートの各吸引孔を通して基板を吸引し、粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させるための吸引手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする。
52 粘着シート
53 巻き取りロール
58 吸引孔
59 長孔
64 支持台
65 吸引孔
67 ウェハ保持用の突起
80 リフトピン
Claims (14)
- 粘着シートを、その粘着部を上にして支持台に載置する工程と、
基板を、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の表面側と裏面側との間の差圧を解除する工程と、
次いで前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする基板のパーティクル除去方法。 - 吸引孔の形成されている支持台に、吸引孔の形成されている粘着シートをその粘着部を上にして載置する工程と、
基板を、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記支持台の吸引孔及び前記粘着シートの吸引孔を通して前記基板を吸引することによって、前記粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の吸引を停止し、前記基板の表面側と裏面側との差圧を解除する工程と、
次いで前記粘着シートから前記基板を剥離し、前記基板の裏面に付着していたパーティクルを前記粘着シートの粘着部に転写させる工程と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする基板のパーティクル除去方法。 - 基板が載置される領域と支持台の下方側空間とを気密に区画するために、基板を囲む環状のシール体により粘着シートを支持台に押しつける工程を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の基板のパーティクル除去方法。
- 前記基板はレジスト膜が形成され且つ露光前の段階であって、
前記支持台の表面には、露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起が形成され、
前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように、基板を支持台に載せる前に位置合わせを行う工程を含むことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去方法。 - 粘着シートから基板を剥離した後、当該粘着シートを横方向にずらし、次の基板の密着に備える工程を含むことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去方法。
- 粘着シートから基板を剥離した後、当該粘着シートにおける支持台の突起との接触部位が、突起と接触しなくなる位置になるように、当該粘着シートを横方向にずらし、次の基板の密着に備える工程を含むことを特徴とする請求項4記載の基板のパーティクル除去方法。
- 基板を支持するための支持台と、
この支持台に粘着部が上になるように載置され、その上に基板が表面を上にして載置される粘着シートと、
この粘着シートに載置された基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させるための手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする基板のパーティクル除去装置。 - 吸引孔が形成された基板を支持するための支持台と、
吸引孔が形成されると共に前記支持台に粘着部が上になるように載置され、その上に基板が載置される粘着シートと、
前記支持台及び粘着シートの各吸引孔を通して基板を吸引し、粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させるための吸引手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする基板のパーティクル除去装置。 - 基板が載置される領域と支持台の下方側空間とを気密に区画するために、粘着シートを支持台に押しつける環状のシール体を備えたことを特徴とする請求項7または8に記載の基板のパーティクル除去装置。
- 前記基板はレジスト膜が形成されかつ露光前の段階であって、
前記支持台の表面には、露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起が形成され、
前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように、基板を支持台に載せる前に位置合わせを行うための位置合わせ手段を備えたことを特徴とする請求項7ないし9のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去装置。 - 粘着シートから基板を剥離した後、次の基板の密着に備えるために当該粘着シートを横方向にずらすように搬送する粘着シート搬送手段を備えたことを特徴とする請求項7ないし10のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去装置。
- 粘着シートから基板を剥離した後、次の基板の密着に備えるために、粘着シートにおける支持台の突起との接触部位が、突起と接触しなくなる位置になるように、当該粘着シートを横方向にずらすように搬送する粘着シート搬送手段を備えたことを特徴とする請求項10に記載の基板のパーティクル除去装置。
- 基板に対してレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、露光後の基板に対して現像処理を行う塗布、現像装置において、
表面にレジスト膜が形成されている基板に対して、露光が行われる前に裏面側のパーティクルを除去するための請求項7ないし12のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去装置と、
このパーティクル除去装置との間で基板の受け渡しを行うための基板搬送手段と、を備えたことを特徴とする塗布、現像装置。 - 基板に対してレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、露光後の基板に対して現像処理を行うプロセスブロックと、このプロセスブロックを露光装置に接続するためのインターフェイスブロックと、を備え、前記基板のパーティクル除去装置が、インターフェイスブロックに設けられていることを特徴とする請求項13に記載の塗布、現像装置。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010016125A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 剥離装置および剥離方法 |
JP2011204860A (ja) * | 2010-03-25 | 2011-10-13 | Disco Corp | テープ剥離装置 |
JP2013074124A (ja) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2015148818A (ja) * | 2009-04-14 | 2015-08-20 | インターナショナル テスト ソリューションズ, インコーポレイテッド | ウェハ製造クリーニング装置、プロセス及び使用方法 |
JP2017522726A (ja) * | 2014-06-19 | 2017-08-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | ロールツーロールウエハ裏側粒子及び汚染の除去 |
US11155428B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-10-26 | International Test Solutions, Llc | Material and hardware to automatically clean flexible electronic web rolls |
US11211242B2 (en) | 2019-11-14 | 2021-12-28 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning contact elements and support hardware using functionalized surface microfeatures |
US11318550B2 (en) | 2019-11-14 | 2022-05-03 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning wire bonding machines using functionalized surface microfeatures |
US11756811B2 (en) | 2019-07-02 | 2023-09-12 | International Test Solutions, Llc | Pick and place machine cleaning system and method |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4693805B2 (ja) * | 2007-03-16 | 2011-06-01 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造装置及び製造方法 |
JP5395405B2 (ja) | 2008-10-27 | 2014-01-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板洗浄方法及び装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0621219A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-28 | Sony Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH10233430A (ja) * | 1997-02-19 | 1998-09-02 | Nitto Denko Corp | 粘着テープ貼付け装置 |
JP2002083795A (ja) * | 2000-09-07 | 2002-03-22 | Toshiba Corp | 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置 |
JP2005109489A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5695817A (en) * | 1994-08-08 | 1997-12-09 | Tokyo Electron Limited | Method of forming a coating film |
JP4266106B2 (ja) * | 2001-09-27 | 2009-05-20 | 株式会社東芝 | 粘着性テープの剥離装置、粘着性テープの剥離方法、半導体チップのピックアップ装置、半導体チップのピックアップ方法及び半導体装置の製造方法 |
US7232591B2 (en) * | 2002-04-09 | 2007-06-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of using an adhesive for temperature control during plasma processing |
US20050274457A1 (en) * | 2004-05-28 | 2005-12-15 | Asm Assembly Automation Ltd. | Peeling device for chip detachment |
US20060046269A1 (en) * | 2004-09-02 | 2006-03-02 | Thompson Allen C | Methods and devices for processing chemical arrays |
JP4356936B2 (ja) * | 2005-01-21 | 2009-11-04 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布、現像装置及びその方法 |
-
2005
- 2005-12-02 JP JP2005349189A patent/JP4607748B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-11-14 US US11/559,675 patent/US20070125491A1/en not_active Abandoned
- 2006-12-01 KR KR1020060120289A patent/KR101061637B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0621219A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-28 | Sony Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH10233430A (ja) * | 1997-02-19 | 1998-09-02 | Nitto Denko Corp | 粘着テープ貼付け装置 |
JP2002083795A (ja) * | 2000-09-07 | 2002-03-22 | Toshiba Corp | 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置 |
JP2005109489A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010016125A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 剥離装置および剥離方法 |
JP2015148818A (ja) * | 2009-04-14 | 2015-08-20 | インターナショナル テスト ソリューションズ, インコーポレイテッド | ウェハ製造クリーニング装置、プロセス及び使用方法 |
US10002776B2 (en) | 2009-04-14 | 2018-06-19 | International Test Solutions, Inc. | Wafer manufacturing cleaning apparatus, process and method of use |
JP2011204860A (ja) * | 2010-03-25 | 2011-10-13 | Disco Corp | テープ剥離装置 |
JP2013074124A (ja) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2017522726A (ja) * | 2014-06-19 | 2017-08-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | ロールツーロールウエハ裏側粒子及び汚染の除去 |
US11155428B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-10-26 | International Test Solutions, Llc | Material and hardware to automatically clean flexible electronic web rolls |
US11434095B2 (en) | 2018-02-23 | 2022-09-06 | International Test Solutions, Llc | Material and hardware to automatically clean flexible electronic web rolls |
US11756811B2 (en) | 2019-07-02 | 2023-09-12 | International Test Solutions, Llc | Pick and place machine cleaning system and method |
US11211242B2 (en) | 2019-11-14 | 2021-12-28 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning contact elements and support hardware using functionalized surface microfeatures |
US11318550B2 (en) | 2019-11-14 | 2022-05-03 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning wire bonding machines using functionalized surface microfeatures |
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