JP2007149791A - 半導体発光素子および半導体発光素子の作成方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 チップサイズを大型化しても均一な発光が可能な半導体発光素子およびその作成方法を提供する。
【解決手段】伝導帯端に大きなエネルギーギャップを有するAlGaN/GaNへテロ構造としてバッファ層13と電子ガス層14を形成する。バッファ層13と電子ガス層14との界面において伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る領域には、電子ガス蓄積することができる。この電子ガスは、バッファ層13と電子ガス層14の接合界面に沿った2次元領域に分布するため、2次元電子ガス層を形成することができる。電子ガスは極めて高い移動度を有することとなり、発光面に均一に電流が供給されるように2次元電子ガス層において電子を高速に輸送することが可能となる。
【選択図】図3
【解決手段】伝導帯端に大きなエネルギーギャップを有するAlGaN/GaNへテロ構造としてバッファ層13と電子ガス層14を形成する。バッファ層13と電子ガス層14との界面において伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る領域には、電子ガス蓄積することができる。この電子ガスは、バッファ層13と電子ガス層14の接合界面に沿った2次元領域に分布するため、2次元電子ガス層を形成することができる。電子ガスは極めて高い移動度を有することとなり、発光面に均一に電流が供給されるように2次元電子ガス層において電子を高速に輸送することが可能となる。
【選択図】図3
Description
この発明は、半導体発光素子および半導体発光素子の作成方法に関し、特に基板に対して平行に発光層が積層された半導体発光素およびその作成方法に関する。
近年、化合物半導体によって形成された発光素子として発光ダイオードが広く実用化されており、主に光伝送や表示や特殊照明等に用いられている。また、窒化物半導体を利用した青色発光ダイオードにて青色光を発光させ、YAG系黄色蛍光体を透過させることに白色光を生成する白色発光ダイオードが実用化されている(例えば、特許文献1、参照。)。
かかる構成において、YAG系黄色蛍光体粉末を混合した樹脂によって発光層を覆うことによりYAG系黄色蛍光体を形成している。YAG系黄色蛍光体においては青色光の一部が黄色光に変換される。そして、変換された黄色光と、変換されなかった青色光とが混色されることにより、白色光を得ることが可能であった。このような白色発光ダイオードは、チップサイズを大型化することにより一般照明等にも利用することができ、種々の用途への展開が大いに期待されている。
かかる構成において、YAG系黄色蛍光体粉末を混合した樹脂によって発光層を覆うことによりYAG系黄色蛍光体を形成している。YAG系黄色蛍光体においては青色光の一部が黄色光に変換される。そして、変換された黄色光と、変換されなかった青色光とが混色されることにより、白色光を得ることが可能であった。このような白色発光ダイオードは、チップサイズを大型化することにより一般照明等にも利用することができ、種々の用途への展開が大いに期待されている。
しかし、YAG系黄色蛍光体粉末の混合濃度が均一でない場合には、出力される色が不均一となるという課題があった。すなわち、YAG系黄色蛍光体の濃度が低い部分は青みがかった色となり、YAG系黄色蛍光体の濃度が高い部分は黄みがかった色となり、色の不均一が生じるという問題があった。さらに、YAG系黄色蛍光体粉末を混合させた樹脂の膜厚を均一でない場合にも、出力される色が不均一となるという課題があった。このような色の不均一は、チップサイズを大型化するほど顕著になるため、YAG系黄色蛍光体を利用した一般の照明灯に利用することは困難であった。
一方、SiCの結晶中にアクセプタ不純物とドナー不純物とをドーピングさせたSiC蛍光体も提案されている(例えば、特許文献2、参照。)。かかる構成において、近紫外発光ダイオード等から発光された近紫外光によって励起することにより、ドナー電子とアクセプタ正孔を再結合させることができ、その際のエネルギー遷移よって蛍光を生成することができる。この蛍光の波長はドナー準位とアクセプタ準位のエネルギーギャップに依存するため、アクセプタ不純物やドナー不純物として混入させる元素を選択することにより、任意の色の蛍光を発光させることができる。
同文献においては、SiC結晶中にアクセプタ不純物としてそれぞれホウ素とアルミニウムをドープさせた2層のSiC蛍光体を設けることにより、黄色および青色の蛍光を生成し、これらの蛍光を混色することにより、白色光を得ている。SiC基板から発光層を積層していく課程においてSiC蛍光体を形成することができ、膜厚や不純物濃度を均一に制御しやすく、良好な色の均一性を実現することが可能であった。
特開2005−268770号公報
国際公開第2005/090515号パンフレット
しかしながら、SiC蛍光体が均一に形成されていたとしても、発光層に供給される電流が不均一である場合には、発光量が不均一となってしまうという問題があった。特に、チップサイズを大型化すると、発光層に均一に電流を供給することができず、発光ダイオードを一般照明等に利用することは困難であった。また、発光層に対して電流を均一に供給できるように、チップ全体に電極を網羅させなければならなかった。特に、光の取り出し面側にも電極を形成するには、チップ全体を網羅した電極によって光の取り出し効率が低下するとともに、透明電極を使用しなければならないという問題が生じていた。
本発明は上記課題にかんがみてなされたもので、チップサイズを大型化しても均一な発光が可能な半導体発光素子およびその作成方法を提供することを目的とする。
本発明は上記課題にかんがみてなされたもので、チップサイズを大型化しても均一な発光が可能な半導体発光素子およびその作成方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために請求項1にかかる発明は、基板に対して平行に発光層が積層された半導体発光素子において、上記発光層と平行に2次元電子ガスが蓄積される電子ガス層を具備する構成としてある。
上記のように構成した請求項1の発明において、発光層を基板に対して平行に積層することにより半導体発光素子が形成される。この半導体発光素子には電子ガス層が積層され、同電子ガス層においては上記発光層と平行に2次元電子ガスが蓄積される。上記電子ガス層においては上記2次元電子ガスが高速に電子を輸送することができ、同電子ガス層と平行に積層された上記発光層の全体に電流を行き渡らせることができる。従って、上記発光層は均一に発光することができる。
上記のように構成した請求項1の発明において、発光層を基板に対して平行に積層することにより半導体発光素子が形成される。この半導体発光素子には電子ガス層が積層され、同電子ガス層においては上記発光層と平行に2次元電子ガスが蓄積される。上記電子ガス層においては上記2次元電子ガスが高速に電子を輸送することができ、同電子ガス層と平行に積層された上記発光層の全体に電流を行き渡らせることができる。従って、上記発光層は均一に発光することができる。
また、請求項2にかかる発明では、上記発光層が窒化物半導体で構成される。
上記のように構成した請求項2の発明において、上記発光層を窒化物半導体で構成することにより、短波長の光を均一に発光させることができる。
上記のように構成した請求項2の発明において、上記発光層を窒化物半導体で構成することにより、短波長の光を均一に発光させることができる。
さらに、請求項3にかかる発明では、上記電子ガス層は、実質的に不純物を含まないAlGaN/GaNへテロ構造からなる構成としてある。
上記のように構成した請求項3の発明において、上記電子ガス層が実質的に不純物を含まないAlGaN/GaNへテロ構造から構成される。実質的に不純物を含まないAlGaN/GaNへテロ構造とは、AlGaN/GaNへテロ構造において意図的に不純物を混入させていないことを意味し、不純物濃度が1016cm-3よりも小さいことを意味する。格子定数が異なるAlGaN/GaNへテロ構造においては、接合界面における結晶ひずみによって伝導帯のバンドオフセットを生じさせることができる。従って、フェルミエネルギーよりも伝導帯端を下回らせることができ、その領域において電子ガスを蓄積することができる。この電子ガスは接合界面におけるGaN側に蓄積されるため、同電子ガスを接合界面に沿った2次元領域に蓄積させることができる。このようにして蓄積された2次元電子ガスは金属における自由電子と同様の性質を有するため、接合界面に沿って電子を高速に輸送することが可能となる。また、AlGaN/GaNへテロ構造には実質的に不純物が含まれないため、不純物に散乱されることなく電子が高速に移動することができる。
上記のように構成した請求項3の発明において、上記電子ガス層が実質的に不純物を含まないAlGaN/GaNへテロ構造から構成される。実質的に不純物を含まないAlGaN/GaNへテロ構造とは、AlGaN/GaNへテロ構造において意図的に不純物を混入させていないことを意味し、不純物濃度が1016cm-3よりも小さいことを意味する。格子定数が異なるAlGaN/GaNへテロ構造においては、接合界面における結晶ひずみによって伝導帯のバンドオフセットを生じさせることができる。従って、フェルミエネルギーよりも伝導帯端を下回らせることができ、その領域において電子ガスを蓄積することができる。この電子ガスは接合界面におけるGaN側に蓄積されるため、同電子ガスを接合界面に沿った2次元領域に蓄積させることができる。このようにして蓄積された2次元電子ガスは金属における自由電子と同様の性質を有するため、接合界面に沿って電子を高速に輸送することが可能となる。また、AlGaN/GaNへテロ構造には実質的に不純物が含まれないため、不純物に散乱されることなく電子が高速に移動することができる。
また、請求項4にかかる発明では、上記電子ガス層が複数積層される構成としてある。
上記のように構成した請求項4の発明において、上記電子ガス層を複数積層することにより、各電子ガス層にて2次元ガスを蓄積することができ、電子の輸送速度をさらに向上させることができる。
上記のように構成した請求項4の発明において、上記電子ガス層を複数積層することにより、各電子ガス層にて2次元ガスを蓄積することができ、電子の輸送速度をさらに向上させることができる。
さらに、請求項5にかかる発明では、上記基板がSiC結晶で構成される構成としてある。
上記のように構成した請求項5の発明において、上記基板をSiC結晶で構成することにより、高い熱伝導性を実現することができ、チップを大型化することができる。また、AlGaN/GaNへテロ構造との格子整合性が良好である。
上記のように構成した請求項5の発明において、上記基板をSiC結晶で構成することにより、高い熱伝導性を実現することができ、チップを大型化することができる。また、AlGaN/GaNへテロ構造との格子整合性が良好である。
また、請求項6にかかる発明では、上記基板上に積層される半導体層の総厚が3.5μm以下である構成としてある。
上記のように構成した請求項6の発明において、上記2次元電子ガスによって膜厚が薄くても電子を高速に輸送することができるため、上記基板上に積層される半導体層の総厚を3.5μm以下とすることができる。
上記のように構成した請求項6の発明において、上記2次元電子ガスによって膜厚が薄くても電子を高速に輸送することができるため、上記基板上に積層される半導体層の総厚を3.5μm以下とすることができる。
また、請求項7にかかる発明では、上記基板にはアクセプタ不純物とドナー不純物とが含まれる構成としてある。
上記のように構成した請求項7の発明において、上記基板がSiC結晶によって形成され、アクセプタ不純物とドナー不純物がドープされる。これにより、上記発光層から発せられた励起光によって上記基板にてドナー電子とアクセプタ正孔を再結合させることができ、その際に蛍光を放出することができる。
むろん、以上の発明は、半導体発光素子のみならず、請求項8のような半導体発光素子の作成方法においても同様の技術的思想を具体的に実現することができる。
上記のように構成した請求項7の発明において、上記基板がSiC結晶によって形成され、アクセプタ不純物とドナー不純物がドープされる。これにより、上記発光層から発せられた励起光によって上記基板にてドナー電子とアクセプタ正孔を再結合させることができ、その際に蛍光を放出することができる。
むろん、以上の発明は、半導体発光素子のみならず、請求項8のような半導体発光素子の作成方法においても同様の技術的思想を具体的に実現することができる。
以上説明したように請求項1および請求項8の発明によれば、チップサイズを大型化しても均一な発光が可能な半導体発光素子およびその作成方法を提供することができる。
請求項2の発明によれば、短波長の光を均一に発光させることができる。
請求項3の発明によれば、2次元電子ガスを蓄積させることができる。
請求項4の発明によれば、チップ全体に電流をより高速に行き渡らせることができる。
請求項6の発明によれば、チップ総厚を薄く形成することができる。
請求項7の発明によれば、均一に蛍光を発光することが可能となる。
請求項2の発明によれば、短波長の光を均一に発光させることができる。
請求項3の発明によれば、2次元電子ガスを蓄積させることができる。
請求項4の発明によれば、チップ全体に電流をより高速に行き渡らせることができる。
請求項6の発明によれば、チップ総厚を薄く形成することができる。
請求項7の発明によれば、均一に蛍光を発光することが可能となる。
ここでは、下記の順序に従って本発明の実施形態について説明する。
(1)白色発光ダイオードの構造および作成方法:
(2)電子ガス層のエネルギープロファイル:
(3)白色発光ダイオードの発光:
(4)第二の実施形態:
(5)まとめ:
(1)白色発光ダイオードの構造および作成方法:
(2)電子ガス層のエネルギープロファイル:
(3)白色発光ダイオードの発光:
(4)第二の実施形態:
(5)まとめ:
(1)白色発光ダイオードの構造:
図1は、第一の実施形態にかかる白色発光ダイオードの構造を模式的に示している。同図において、白色発光ダイオード10は、それぞれが層状に形成されたSiC蛍光基板11とSiC蛍光層12とバッファ層13と電子ガス層14と第一コンタクト層15と第一クラッド層16と多重量子井戸活性層17と電子ブロック層18と第二クラッド層19と第二コンタクト層20とp電極21とn電極22とから構成されている。
図1は、第一の実施形態にかかる白色発光ダイオードの構造を模式的に示している。同図において、白色発光ダイオード10は、それぞれが層状に形成されたSiC蛍光基板11とSiC蛍光層12とバッファ層13と電子ガス層14と第一コンタクト層15と第一クラッド層16と多重量子井戸活性層17と電子ブロック層18と第二クラッド層19と第二コンタクト層20とp電極21とn電極22とから構成されている。
SiC蛍光基板11は、6層ごとに周期的な構造をとる6H型のSiC結晶によって形成されている。SiC蛍光基板11には、アクセプタ不純物としてホウ素(B)が含まれるとともに、ドナー不純物として窒素(N)が含まれている。SiC蛍光基板11に含まれるホウ素の濃度は2×1018cm-3であり、SiC蛍光層12に含まれる窒素の濃度は3×1018cm-3であり、これらの不純物はSiC蛍光基板11にてほぼ均一に分布している。SiC蛍光層12は、SiC蛍光基板11上に薄膜状に積層されており、6H型のSiC結晶構造を有している。SiC蛍光層12にはアクセプタ不純物としてのアルミニウム(Al)と、ドナー不純物としての窒素が含まれており、これらの濃度はそれぞれ2×1018cm-3と3×1018cm-3とされている。
SiC蛍光層12はSiC蛍光基板11と結晶構造が同一であるため、例えば近接昇華法によってエピタキシャル成長させることができる。結晶成長中の雰囲気における窒素ガスN2の分圧を適度に調整することにより、SiC蛍光層12における窒素濃度が3×1018cm-3となるように窒素をドープさせることができる。一方、アルミニウムは、アルミニウム単体またはアルミニウム化合物を原料に対して適量混合させることにより、SiC蛍光層12におけるアルミニウム濃度が2×1018cm-3となるようにアルミニウムをドープさせることができる。
SiC蛍光層12上に、AlGaNで構成されたバッファ層13を例えば有機金属化合物気相成長法によって成長させる。さらに、バッファ層13上に例えば有機金属化合物気相成長法によって連続的にGaNで構成された電子ガス層14を1nm〜50nm成長させる。有機金属相成長法においては、炭素原子との間に直接結合を持つ有機金属を原料とし、水素、窒素などのガスをキャリアガスとして使用することにより、エピタキシャル成長を行うことができる。その後も、有機金属化合物気相成長法によって連続的にn−GaNで構成された第一コンタクト層15と、n−AlGaNで構成された第一クラッド層16と、GaInN/GaNで構成された多重量子井戸活性層17と、p−AlGaNで構成された電子ブロック層18と、p−AlGaNで構成された第二クラッド層19と、p−GaNで構成された第二コンタクト層20とが例えば有機金属化合物気相成長法によって連続的に積層されている。第二コンタクト層20表面にはNi/Auからなるp電極21が積層されている。
また、第二コンタクト層20から第一コンタクト層15の途中までの所定領域を厚み方向にエッチングすることにより、第一コンタクト層15を表面に露出させるとともに、同露出した部位にn電極22を形成している。SiC蛍光基板11上に形成された複数の半導体層12〜20までの総厚は、クラックが生じないように2.5μm以下に設定されており、そのうち第一コンタクト層15の膜厚は2.0μm程度を占めている。
図2は、白色発光ダイオード10を図1における紙面上方から見て示している。同図において、p電極21とn電極22がそれぞれ櫛歯状に形成されている。第二コンタクト層20から第一コンタクト層15の途中までを櫛歯状にエッチングすることにより、第一コンタクト層15を櫛歯状に露出させ、同露出した部位に櫛歯状のn電極22を形成している。一方、エッチングされなかった部位も櫛歯状となるため、残った第二コンタクト層20上に櫛歯状のp電極21を形成することができる。
(2)電子ガス層のエネルギープロファイル:
図3は、電子ガス層14のエネルギープロファイルを示しており、特に伝導帯端付近のエネルギープロファイルを示している。同図において、縦軸がエネルギーを示し、横軸が白色発光ダイオード10における厚み方向の位置を示している。横軸に注目すると、電子ガス層14は下層のバッファ層13と上層の第一コンタクト層15によって挟まれていることが分かる。同図において、伝導帯端が実線で示されており、フェルミエネルギーが波線によって示されている。
図3は、電子ガス層14のエネルギープロファイルを示しており、特に伝導帯端付近のエネルギープロファイルを示している。同図において、縦軸がエネルギーを示し、横軸が白色発光ダイオード10における厚み方向の位置を示している。横軸に注目すると、電子ガス層14は下層のバッファ層13と上層の第一コンタクト層15によって挟まれていることが分かる。同図において、伝導帯端が実線で示されており、フェルミエネルギーが波線によって示されている。
AlGaN/GaNへテロ構造をなすバッファ層13と電子ガス層14の伝導帯端には比較的大きなバンドオフセットが存在する。電子ガス層14におけるバッファ層13との界面付近の領域においては伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る。伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る領域においては、伝導帯に電子ガスを蓄積することができる。伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る領域は、バッファ層13と電子ガス層14の接合界面に沿った2次元領域に分布するため、2次元電子ガス層を形成することができる。
2次元電子ガス層が形成される電子ガス層14は、不純物濃度が1016cm-3よりも小さく、実質的に不純物が混入していないため、電子ガスは不純物による散乱を受けることがなく移動することができる。電子ガスは極めて高い移動度を有することとなり、2次元電子ガス層において電子を高速に輸送することが可能となる。例えばバッファ層13のAlNのモル分率が25%である場合には、2次元電子ガスは1000cm2/Vsを超える移動度を持つ。2次元電子ガスが蓄積される領域の厚みは非常に薄いが、第一コンタクト層15よりも10倍程度の電子の移動度を有しているため、第一コンタクト層15を厚くするよりも効率的にシート抵抗を抑えることができる。
すなわち、2次元電子ガスを蓄積させることにより、第一コンタクト層15の厚みを1μm増加させたときと同様のシート抵抗を実現することができる。従って、2次元電子ガスを蓄積することにより、SiC蛍光基板11上に積層される半導体層12〜20の総厚を低減することができ、この総厚を3.5μm以下とすることができる。半導体層12〜20の総厚を3.5μm以下とすることにより、クラックの可能性を大幅に低減することができるため、白色発光ダイオード10の大型化も容易となる。むろん、白色発光ダイオード10大型化しても均一な発光を維持することができる。
(3)白色発光ダイオードの発光:
以上のようして形成された白色発光ダイオード10のp電極21とn電極22に順方向の電圧を印加すると、p電極21とn電極22との間に介在する各半導体層14〜20に電流が供給される。上述したとおり、電子ガス層14においては2次元電子ガスが蓄積されているため、電流を電子ガス層14に沿った方向に均一に流すことができる。従って、電子ガス層14と平行に積層された多重量子井戸活性層17に対しても均一に電流を供給することができ、多重量子井戸活性層17は均一に発光することができる。なお、多重量子井戸活性層17は本発明の発光層に相当する。多重量子井戸活性層17においては、例えば波長390nmの近紫外光が放出される。放出された近紫外光はそれぞれアクセプタ不純物とドナー不純物がドープされたSiC蛍光基板11とSiC蛍光層12に入射し、これらの層が励起する。
以上のようして形成された白色発光ダイオード10のp電極21とn電極22に順方向の電圧を印加すると、p電極21とn電極22との間に介在する各半導体層14〜20に電流が供給される。上述したとおり、電子ガス層14においては2次元電子ガスが蓄積されているため、電流を電子ガス層14に沿った方向に均一に流すことができる。従って、電子ガス層14と平行に積層された多重量子井戸活性層17に対しても均一に電流を供給することができ、多重量子井戸活性層17は均一に発光することができる。なお、多重量子井戸活性層17は本発明の発光層に相当する。多重量子井戸活性層17においては、例えば波長390nmの近紫外光が放出される。放出された近紫外光はそれぞれアクセプタ不純物とドナー不純物がドープされたSiC蛍光基板11とSiC蛍光層12に入射し、これらの層が励起する。
それぞれ、アクセプタ不純物とドナー不純物が含まれる励起状態のSiC蛍光基板11とSiC蛍光層12においては、ドナー電子とアクセプタ正孔の再結合が生じ、その際に蛍光が外部に放出される。この蛍光の波長は、SiC蛍光基板11とSiC蛍光層12におけるアクセプタ準位とドナー準位との差に依存しているため、それぞれホウ素とアルミニウムのアクセプタ準位を有するSiC蛍光基板11とSiC蛍光層12においては異なる波長の蛍光が放出される。
具体的には、SiC蛍光基板11においては緑色から赤色にかけての広い波長スペクトルを持つ蛍光を出力することができ、SiC蛍光層12においては青色から緑色にかけての広い波長スペクトルを持つ蛍光を出力することができる。そして、白色発光ダイオード10全体として両蛍光を合成した光を出力することができる。これらの蛍光は、互いの色相角が180度反転した補色の関係にあるため、これらを合成することにより白色蛍光を得ることができる。いずれの蛍光においても広い範囲の波長スペクトルが含まれるため、演色性に優れた白色蛍光を得ることができ、照明等に好適な白色発光ダイオード10を提供することができる。上述したとおり多重量子井戸活性層17は均一に発光するため、外部に取り出される白色蛍光も均一とすることができる。
本実施形態においては、SiC蛍光基板11やSiC蛍光層12によって白色蛍光を生成する白色発光ダイオード10を例示したが、他の色の蛍光を生成する発光ダイオードに2次元ガス層を形成するようにしてもよい。また、発光層にて発光された光を蛍光に変換することなくそのまま外部に取り出す発光ダイオードにおいて2次元ガス層を形成しても、均一な発光を得ることができる。例えば発光層にAlGaAs系半導体を利用した赤色発光ダイオードにおいても2次元ガス層を形成することにより均一な赤色光を外部に出力することができる。
また、本実施形態においてはSiC結晶を基板として採用したが、他の種類の基板上に2次元ガス層を形成するようにしてもよい。ただし、本実施形態のように電子ガス層14としてGaNを積層する場合には、SiC結晶を基板として採用することが望ましい。SiC結晶はGaN結晶よりも熱膨張係数が小さいため、電子ガス層14におけるクラックを防止できるからである。
(4)第二の実施形態:
図4は、第二の実施の形態にかかる白色発光ダイオードの構造を模式的に示している。同図において、第一の実施形態と同様に白色発光ダイオード110は、SiC蛍光基板111とSiC蛍光層112とバッファ層113と電子ガス層114と第一コンタクト層115と第一クラッド層116と多重量子井戸活性層117と電子ブロック層118と第二クラッド層119と第二コンタクト層120とp電極121とn電極122とから構成されている。また、第一の実施形態と基本的に同じ作成方法によって白色発光ダイオード110を作成することができる。
図4は、第二の実施の形態にかかる白色発光ダイオードの構造を模式的に示している。同図において、第一の実施形態と同様に白色発光ダイオード110は、SiC蛍光基板111とSiC蛍光層112とバッファ層113と電子ガス層114と第一コンタクト層115と第一クラッド層116と多重量子井戸活性層117と電子ブロック層118と第二クラッド層119と第二コンタクト層120とp電極121とn電極122とから構成されている。また、第一の実施形態と基本的に同じ作成方法によって白色発光ダイオード110を作成することができる。
ただし、電子ガス層114の構成が第一の実施形態と異なっており、その構造を図5において模式的に示している。同図においては、電子ガス層114がGaNで構成された井戸層114a1〜114a3と、AlGaNで構成されたバリア層114b1〜114b3によって構成されており。これらの層114a1〜114a3,114b1〜114bが厚み方向に交互に配列する周期構造が3周期形成されている。この周期構造を形成するにあたっては、例えば有機金属化合物気相成長法によりGaNとAlGaNを交互に成長させればよい。
図6は、電子ガス層114のエネルギープロファイルを示しており、特に伝導帯端付近のエネルギープロファイルを示している。同図において、縦軸がエネルギーを示し、横軸が白色発光ダイオード10における厚み方向の位置を示している。横軸に注目すると、電子ガス層14は下層のバッファ層13と上層の第一コンタクト層15によって挟まれていることが分かる。同図において、伝導帯端が実線で示されており、フェルミエネルギーが波線によって示されている。
GaNとAlGaNで構成されたバッファ層13と井戸層114a1との界面では第一の実施形態と同様に比較的大きな伝導帯端のバンドオフセットが存在する。さらに、バリア層114b1と井戸層114a2との界面と、バリア層114b2と井戸層114a3との界面でも比較的大きな伝導帯端のバンドオフセットが存在する。そして、各界面にて下降した伝導帯端はそれぞれフェルミエネルギーを下回り、伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る各領域において電子ガスを蓄積することができる。このようにすることにより、2次元電子ガス層を3層形成することができる。
本実施形態においては、伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る領域の総厚は約0.2μmとなっている。このように、2次元電子ガス層を複数層形成することにより、2次元電子ガス層の総厚を厚くすることができる。上述したとおり2次元電子ガス層においては極めて低い電流抵抗を実現することができるため、2次元電子ガス層の総厚を厚くすることにより電流抵抗を飛躍的に低減させることができる。
本実施形態のように、2次元電子ガス層の総厚を約0.2μmとすることにより、第一コンタクト層215を2μm厚くしたときと同じ電流抵抗を実現することができる。従って、第一の実施形態よりも半導体層212〜220の総厚を薄くすることができ、クラックの可能性をさらに低減することができるため、白色発光ダイオード110をさらに大型化させることができる。むろん、白色発光ダイオード10大型化しても均一な発光を実現することができ、照明灯に利用することができる。
(5)まとめ:
伝導帯端に大きなエネルギーギャップを有するAlGaN/GaNへテロ構造としてバッファ層13と電子ガス層14を形成する。バッファ層13と電子ガス層14との界面において伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る領域には、電子ガス蓄積することができる。この電子ガスは、バッファ層13と電子ガス層14の接合界面に沿った2次元領域に分布するため、2次元電子ガス層を形成することができる。電子ガスは極めて高い移動度を有することとなり、発光面に均一に電流が供給されるように2次元電子ガス層において電子を高速に輸送することが可能となる。
伝導帯端に大きなエネルギーギャップを有するAlGaN/GaNへテロ構造としてバッファ層13と電子ガス層14を形成する。バッファ層13と電子ガス層14との界面において伝導帯端がフェルミエネルギーを下回る領域には、電子ガス蓄積することができる。この電子ガスは、バッファ層13と電子ガス層14の接合界面に沿った2次元領域に分布するため、2次元電子ガス層を形成することができる。電子ガスは極めて高い移動度を有することとなり、発光面に均一に電流が供給されるように2次元電子ガス層において電子を高速に輸送することが可能となる。
なお、本発明は上記実施形態に限られるものでないことは言うまでもない。当業者であれば言うまでもないことであるが、上記実施形態の中で開示した相互に置換可能な部材および構成等を適宜その組み合わせを変更して適用すること、上記実施形態の中で開示されていないが、公知技術であって上記実施形態の中で開示した部材および構成等と相互に置換可能な部材および構成等を適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用すること、および、上記実施形態の中で開示されていないが、公知技術等に基づいて当業者が上記実施形態の中で開示した部材および構成等の代用として想定し得る部材および構成等と適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用することは本発明の一実施形態として開示されるものである。
10,110…白色発光ダイオード
11,111…SiC蛍光基板
12,112…SiC蛍光層
13,113…バッファ層
14,114…電子ガス層
114a1〜114a3…井戸層
114b1〜114b3…バリア層
15,115…第一コンタクト層
16,116…第一クラッド層
17,117…多重量子井戸活性層
18,118…電子ブロック層
19,119…第二クラッド層
20,120…第二コンタクト層
21,121p…電極
22,122n…電極
11,111…SiC蛍光基板
12,112…SiC蛍光層
13,113…バッファ層
14,114…電子ガス層
114a1〜114a3…井戸層
114b1〜114b3…バリア層
15,115…第一コンタクト層
16,116…第一クラッド層
17,117…多重量子井戸活性層
18,118…電子ブロック層
19,119…第二クラッド層
20,120…第二コンタクト層
21,121p…電極
22,122n…電極
Claims (8)
- 基板に対して平行に発光層が積層された半導体発光素子において、
上記発光層と平行に2次元電子ガスが蓄積される電子ガス層を具備することを特徴とする半導体発光素子。 - 上記発光層は窒化物半導体で構成されることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。
- 上記電子ガス層は、実質的に不純物を含まないAlGaN/GaNへテロ構造からなることを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の半導体発光素子。
- 上記電子ガス層が複数積層されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の半導体発光素子。
- 上記基板がSiC結晶で構成されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の半導体発光素子。
- 上記基板上に積層される半導体層の総厚が3.5μm以下であることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の半導体発光素子。
- 上記基板には、アクセプタ不純物とドナー不純物とが含まれることを特徴とする請求項5または請求項6に記載の半導体発光素子。
- 基板に対して平行に発光層を積層する半導体発光素子の作成方法において、
上記発光層と平行に2次元電子ガスが蓄積される電子ガス層を積層することを特徴とする半導体発光素子の作成方法。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008153120A1 (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-18 | Rohm Co., Ltd. | 白色発光装置及び白色発光装置の形成方法 |
JP2012146908A (ja) * | 2011-01-14 | 2012-08-02 | Sanken Electric Co Ltd | 半導体ウェハ及び半導体装置 |
WO2012145410A1 (en) * | 2011-04-20 | 2012-10-26 | Invenlux Limited | Light-emitting device with low forward voltage and method for fabricating the same |
JP2014518451A (ja) * | 2011-08-02 | 2014-07-28 | 株式会社東芝 | 発光装置およびその製造方法 |
JP2014187112A (ja) * | 2013-03-22 | 2014-10-02 | Toshiba Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2017048104A (ja) * | 2016-08-26 | 2017-03-09 | 株式会社東芝 | SiCエピタキシャルウェハおよび半導体装置 |
WO2019069604A1 (ja) * | 2017-10-06 | 2019-04-11 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体発光素子 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8916885B2 (en) * | 2010-08-03 | 2014-12-23 | Alexei Koudymov | Semiconductor device with efficient carrier recombination |
TWI446590B (zh) | 2010-09-30 | 2014-07-21 | Everlight Electronics Co Ltd | 發光二極體封裝結構及其製作方法 |
US9070613B2 (en) * | 2011-09-07 | 2015-06-30 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device |
KR101961798B1 (ko) * | 2011-12-27 | 2019-03-25 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 |
RU2548610C2 (ru) * | 2013-06-20 | 2015-04-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение высшего профессионального образования и науки Санкт-Петербургский Академический университет - научно-образовательный центр нанотехнологий Российской академии наук | СВЕТОДИОД БЕЛОГО СВЕЧЕНИЯ И СВЕТОДИОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА НА ОСНОВЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ GaPAsN НА ПОДЛОЖКАХ GaP И Si |
CN104810448A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-07-29 | 中山大学 | 一种横向导通GaN基发光器件生长及制备方法 |
CN105226150A (zh) * | 2015-10-10 | 2016-01-06 | 山东大学 | 一种N-B双掺SiC衬底的GaN基无荧光粉的高效白光LED结构及其制备方法和应用 |
CN109860358B (zh) * | 2018-11-26 | 2021-10-08 | 华灿光电(浙江)有限公司 | 一种氮化镓基发光二极管外延片及其制备方法 |
CN110676356B (zh) * | 2019-09-18 | 2021-02-05 | 陕西飞米企业管理合伙企业(有限合伙) | 一种提高led亮度的外延方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10190053A (ja) * | 1996-11-05 | 1998-07-21 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2000068594A (ja) * | 1997-09-01 | 2000-03-03 | Nichia Chem Ind Ltd | 窒化物半導体素子 |
JP2005116725A (ja) * | 2003-10-07 | 2005-04-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2005187791A (ja) * | 2003-11-28 | 2005-07-14 | Shikusuon:Kk | 蛍光体および発光ダイオード |
JP2005277254A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Shikusuon:Kk | 基板およびその製造方法 |
JP2006324669A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 窒化物半導体発光素子 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07183493A (ja) * | 1993-12-24 | 1995-07-21 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US6677619B1 (en) * | 1997-01-09 | 2004-01-13 | Nichia Chemical Industries, Ltd. | Nitride semiconductor device |
KR100330228B1 (ko) * | 1999-04-07 | 2002-03-25 | 조장연 | 2차원 전자가스층을 갖는 양자구조의 질화물 반도체 발광소자의제작방법 |
KR20000012652A (ko) * | 1999-12-16 | 2000-03-06 | 김근주 | 질화물 반도체를 이용한 집적 양자우물 구조를 갖는 백색광소자 및 그 제작방법 |
US6906352B2 (en) | 2001-01-16 | 2005-06-14 | Cree, Inc. | Group III nitride LED with undoped cladding layer and multiple quantum well |
JP3846367B2 (ja) * | 2002-05-30 | 2006-11-15 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体素子部材及び半導体装置並びにそれらの製造方法、電気光学装置、電子機器 |
JP4178410B2 (ja) | 2003-11-26 | 2008-11-12 | サンケン電気株式会社 | 半導体発光素子 |
US7026653B2 (en) | 2004-01-27 | 2006-04-11 | Lumileds Lighting, U.S., Llc | Semiconductor light emitting devices including current spreading layers |
US20070176531A1 (en) * | 2004-03-24 | 2007-08-02 | Hiroyuki Kinoshita | Phoshor and light-emitting diode |
-
2005
- 2005-11-24 JP JP2005339531A patent/JP2007149791A/ja active Pending
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2006
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10190053A (ja) * | 1996-11-05 | 1998-07-21 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2000068594A (ja) * | 1997-09-01 | 2000-03-03 | Nichia Chem Ind Ltd | 窒化物半導体素子 |
JP2005116725A (ja) * | 2003-10-07 | 2005-04-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2005187791A (ja) * | 2003-11-28 | 2005-07-14 | Shikusuon:Kk | 蛍光体および発光ダイオード |
JP2005277254A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Shikusuon:Kk | 基板およびその製造方法 |
JP2006324669A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 窒化物半導体発光素子 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008153120A1 (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-18 | Rohm Co., Ltd. | 白色発光装置及び白色発光装置の形成方法 |
JP2008311532A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Rohm Co Ltd | 白色発光装置及び白色発光装置の形成方法 |
JP2012146908A (ja) * | 2011-01-14 | 2012-08-02 | Sanken Electric Co Ltd | 半導体ウェハ及び半導体装置 |
WO2012145410A1 (en) * | 2011-04-20 | 2012-10-26 | Invenlux Limited | Light-emitting device with low forward voltage and method for fabricating the same |
US8785904B2 (en) | 2011-04-20 | 2014-07-22 | Invenlux Corporation | Light-emitting device with low forward voltage and method for fabricating the same |
JP2014518451A (ja) * | 2011-08-02 | 2014-07-28 | 株式会社東芝 | 発光装置およびその製造方法 |
US9012939B2 (en) | 2011-08-02 | 2015-04-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | N-type gallium-nitride layer having multiple conductive intervening layers |
KR101552413B1 (ko) * | 2011-08-02 | 2015-09-10 | 가부시끼가이샤 도시바 | 다수의 전도성 중간층을 가지는 n-형 질화-갈륨층을 포함하는 발광 소자 및 그 제조방법 |
JP2014187112A (ja) * | 2013-03-22 | 2014-10-02 | Toshiba Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2017048104A (ja) * | 2016-08-26 | 2017-03-09 | 株式会社東芝 | SiCエピタキシャルウェハおよび半導体装置 |
WO2019069604A1 (ja) * | 2017-10-06 | 2019-04-11 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体発光素子 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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