[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2007140623A - メモリ故障検出装置 - Google Patents

メモリ故障検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007140623A
JP2007140623A JP2005329619A JP2005329619A JP2007140623A JP 2007140623 A JP2007140623 A JP 2007140623A JP 2005329619 A JP2005329619 A JP 2005329619A JP 2005329619 A JP2005329619 A JP 2005329619A JP 2007140623 A JP2007140623 A JP 2007140623A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
failure
block
failure detection
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005329619A
Other languages
English (en)
Inventor
Shiyouichi Sato
升一 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2005329619A priority Critical patent/JP2007140623A/ja
Publication of JP2007140623A publication Critical patent/JP2007140623A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

【課題】複数のメモリブロックを備えるメモリの故障検出において、一部のメモリブロックが故障した場合であっても故障と判定されず、かつ、メモリ使用中でも故障したメモリブロックを特定する情報を取得することが可能なメモリ故障検出装置を提供する。
【解決手段】ブロック故障検出部3の検出結果に基づいて、カウンタ4で故障したメモリブロック2の数をカウントし、その数が予め設定した比較値を超えた場合にメモリ故障判定部5で故障と判定する。また、ブロック故障検出部3の検出結果に基づいて、故障したメモリブロックを特定する情報を外部から取得可能とするブロック故障情報取得部6を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、メモリ故障検出装置であって、特に複数のメモリブロックで構成されているメモリの故障検出装置に関する。
多くの設定情報を保存する装置のメモリは、通常、複数のメモリブロックから構成される。例えば、装置の設定、伝送経路の設定など多くの情報を保存する必要がある伝送装置では、それらの情報を主バックアップメモリに保存している。その主バックアップメモリは、一般に複数のメモリチップで構成され、各メモリチップは複数のメモリブロックから構成されている。すなわち、主バックアップメモリは複数のメモリブロックで構成されており、各メモリブロックに前記の設定情報等が記憶されている。そして、主バックアップメモリのようなメモリの故障検出では、メモリブロック単位で故障検出する方法が用いられている。
具体的には、メモリブロックにデータを書き込む前に、データにチェックサムやCRCなどの故障検出確認データを付加する。そして、このデータをメモリブロックに書き込んで記憶させ、さらに読み出しを行なった後に、記憶前後の故障検出確認データに差異があるか否かにより、故障したメモリブロックを検出する。
従来のメモリ故障検出装置は、メモリを構成する複数のメモリブロックに対して、周期的に、或いは書き込み、読み出しを行なうタイミングで上記の故障検出を行い、故障を1つでも検出した場合には、メモリ全体として故障と判定するように構成されている。そして、故障と判定された場合には、メモリを用いた装置本体に故障を通知する構成となっている。
なお、チェックサムによる故障検出方法は特許文献1に開示されている。
特開2001−077816号公報
従来の故障検出方法を用いたメモリ故障検出装置では、メモリとして機能する必要最低数のメモリブロックが使用可能であっても、メモリブロックの故障が1つでも発生すればメモリ全体の故障と判定するため、このメモリを用いる装置は稼動を停止しなければならないという問題があった。また、メモリブロック単位で故障を検出しているにもかかわらず、故障したメモリブロックを特定する情報を取得できないという不具合があった。
本発明は上記の問題を解消するためになされたものであり、故障したメモリブロックが少ない場合は、メモリの使用を中断せずに済み、また、故障したメモリブロックを特定する情報を取得できるメモリ故障検出装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載のメモリ故障検出装置は、複数のメモリブロックを備えるメモリの故障検出装置であって、前記メモリの故障を前記メモリブロック単位で検出するブロック故障検出部と、前記ブロック故障検出部での検出結果に基づいて故障した前記メモリブロックの数をカウントするカウンタと、前記カウンタでカウントされた数が予め設定した比較値を超えた場合に故障と判定するメモリ故障判定部と、前記ブロック故障検出部での検出結果に基づいて故障した前記メモリブロックを特定する情報を外部から取得可能にするブロック故障情報取得部とを備える。
請求項1に記載のメモリ故障検出装置によれば、複数のメモリブロックを備えるメモリの一部が故障しても、故障したメモリブロックの数が予め設定された値を超えるまでは、故障と判定されないため、メモリの継続使用が可能となる。さらに、メモリ使用中であっても、故障したメモリブロックを特定する情報を外部から取得することができるため、メモリの計画的な修理、交換を行なうことが可能となり、作業品質が向上させることができる。
<実施の形態1>
図1のブロック図を用いて、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置を説明する。本実施の形態は本発明の主要な構成部分を抽出したものである。
多くの情報を記憶するメモリ1は、複数のメモリブロック2を備える。そして、本発明に係るメモリ故障検出装置は、ブロック故障検出部3、カウンタ4、メモリ故障判定部5、ブロック故障情報取得部6から構成され、メモリ1に接続されている。
ブロック故障検出部3では、チェックサムまたはCRCなどの故障検出方法を用いてメモリ1の故障をメモリブロック単位で検出する。さらに、メモリ1内のすべてのメモリブロック2に対して、周期的に、或いは、書き込み・読み出しを行なうタイミングで上記の故障検出を行なうため、メモリ1は故障検出の影響を受けずに、使用を継続することができる。
カウンタ4では、ブロック故障検出部3より、メモリ1内で故障したメモリブロック2の検出結果を受け取り、その結果に基づいて故障したメモリブロック2の数をカウントする。
カウンタ4でカウントされた数は、メモリ故障判定部5で比較値と比較され、比較値を超えた場合にはメモリ1全体を故障と判定する。比較値とはメモリ故障検出装置に予め設定された値である。
また、ブロック故障検出部3にはブロック故障情報取得部6が接続されている。このブロック故障情報取得部6は、ブロック故障検出部3の検出結果に基づいて、例えば後で示す記憶、点灯表示などの手段により、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を外部から取得可能にする部分である。
以上のように構成された本実施の形態のメモリ故障検出装置の動作を説明する。
メモリ1で故障が発生すると、ブロック故障検出部3がメモリ1内をメモリブロック単位で故障を検出する。この検出は、メモリ1の使用に影響を与えないように行なわれる。
カウンタ4は、ブロック故障検出部3の結果に基づいて、メモリ1内の故障したメモリブロック2の数をカウントする。そして、メモリ故障判定部5において、この数と予め設定された比較値とを比較し、比較値を超えた場合には故障と判定される。つまり、メモリ1全体のうち故障したメモリブロック2の数が比較値を超えた場合に、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置はメモリ1を故障と判定する。
上記の動作と並行して、ブロック故障情報取得部6では、ブロック故障検出部3の検出結果に基づいて、後で示す記憶、点灯表示などの手段により、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を外部から取得可能にしている。
以上の動作により、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置によれば、メモリ1の一部が故障した場合でも、メモリブロック2の故障した数が装置に設定された比較値を超えるまでメモリ1は故障と判定されないため、メモリ1の継続使用が可能となる。
また、ブロック故障情報取得部6では、メモリ1の使用中であっても、多様な手段により、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を外部から取得可能なため、メモリ1の計画的な修理、交換を行なうことが可能となり、作業品質が向上する。
本実施の形態は本発明の主要な構成部分を抽出したものであるが、現実的な実施の形態として、多くの設定情報を記憶する必要がある伝送装置のメモリに用いられるメモリ故障検出装置が想定される。以下、伝送装置の主バックアップメモリ、メモリチップに用いられるメモリ故障検出装置として、上述した技術思想を用いた実施の形態について以下説明する。
<実施の形態2>
本実施の形態に係る発明についてのブロック図を図2に示す。ここでメモリ1は、伝送装置の主バックアップメモリやメモリチップに該当する。図1と比較すると、図2ではスイッチ7と故障通知処理部8を備え、さらに、ブロック故障情報取得部6として、ブロック故障情報記憶部9を用い、メモリ故障点灯表示部10を備える。
スイッチ7はメモリ故障判定部5に接続されており、外部から比較値の設定を可能にするものである。また、メモリ故障判定部5に接続された故障通知処理部8は、メモリ故障判定部5から故障の判定を受けた場合に、伝送装置を制御するCPUやその上位制御装置などに故障の通知をする。その通知に基づいて、前記CPUやその上位制御装置などは、伝送装置自身、及び、メモリ1の制御を行なう。
さらに、ブロック故障情報記憶部9はブロック故障検出部3からの検出結果に基づいて、故障したメモリブロック2を特定する情報を記憶、保管する。メモリ故障点灯表示部10はカウンタ4に接続されており、カウンタ4で1以上カウントした場合に、点灯表示する。メモリ故障点灯表示部10には、例えばLEDなどが用いられる。
以上のように構成された本実施の形態のメモリ故障検出装置の動作を説明する。
メモリ1で故障が発生すると、ブロック故障検出部3がメモリ1内をメモリブロック単位で故障を検出する。この検出は、メモリ1の使用に影響を与えないように行なわれる。
カウンタ4は、ブロック故障検出部3の結果に基づいて、メモリ1内の故障したメモリブロック2の数をカウントする。そして、メモリ故障判定部5で、この数とスイッチ7より設定された比較値とを比較し、比較値を超えた場合には故障と判定する。つまり、メモリ1全体のうち故障したメモリブロック2の数が、スイッチ7から設定した比較値を超えた場合に、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置はメモリ1を故障と判定する。メモリ故障判定部5で故障の判定をした場合、故障通知処理部8は前記CPUやその上位制御装置などに装置故障の通知をする。その通知に基づいて、前記CPUやその上位制御装置などは伝送装置自身、及び、メモリ1の制御を行なう。
上記の動作と並行して、ブロック故障情報記憶部9では、ブロック故障検出部3の検出結果に基づいて、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を記憶、保管する。また、メモリ故障点灯表示部10ではカウンタ4で1以上カウントした場合、つまり、メモリブロック2が1つでも故障した場合に点灯表示する。
以上の動作により、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置によれば、メモリ1の一部が故障した場合でも、メモリブロック2の故障した数が使用者により設定された比較値を超えるまでメモリ1は故障と判定されず、前記CPUやその上位制御装置などに故障の通知がなされないため、メモリ1の使用、及び、伝送装置の稼動を継続することが可能となる。これにより、一部のメモリ1が故障していても伝送装置の継続稼動が必要なときにはスイッチ7から比較値を上げ、伝送装置の継続稼動は不要でメモリ1の故障検出精度を上げたいときには比較値を下げるというように、使用者の要求に応じてメモリ1、伝送装置の稼動性、及び、メモリ1の故障検出精度を変更することができる。
また、ブロック故障情報記憶部9では、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を記憶しているため、メモリ1の使用中であっても、外部端末等を接続すれば、その情報を外部から取得することができる。これにより、メモリ1の計画的な修理、交換を行なうことが可能となり、作業品質が向上する。
メモリ故障点灯表示部10は、メモリブロックが1つでも故障した場合、つまり、メモリ1に故障が発生した場合に点灯表示する。これにより、メモリ1が故障したか否かを常時確認することができる。さらに、メモリ故障点灯表示部10で故障を確認した後に、ブロック故障情報記憶部9の情報を確認すれば、メモリ1の故障について迅速な調査を行なうことができる。
<実施の形態3>
本実施の形態に係る発明についてブロック図を図3に示す。図2の発明の構成と比較すると、スイッチ7の代わりにCPU11と外部端末12がメモリ故障判定部5に接続されている。
外部端末12で設定された値は、通信網、さらにCPU11を介してメモリ故障判定部5に送信され、比較値として用いられる。
以上のように構成された本実施の形態のメモリ故障検出装置の動作を説明する。
メモリ1で故障が発生すると、ブロック故障検出部3がメモリ1内をメモリブロック単位で故障を検出する。この検出は、メモリ1の使用に影響を与えないように行なわれる。
カウンタ4は、ブロック故障検出部3の結果に基づいて、メモリ1内の故障したメモリブロック2の数をカウントする。そして、メモリ故障判定部5で、この数と外部端末12で設定された比較値とを比較し、比較値を超えた場合には故障と判定する。つまり、メモリ1全体のうち故障したメモリブロック2の数が、通信網、さらにCPU11を介して外部端末12から遠隔的に設定した比較値を超えた場合に、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置はメモリ1を故障と判定する。メモリ故障判定部5で故障の判定をした場合、故障通知処理部8は前記CPUやその上位制御装置などに装置故障の通知をする。その通知に基づいて、前記CPUやその上位制御装置などは伝送装置自身、及び、メモリ1の制御を行なう。
上記の動作と並行して、ブロック故障情報記憶部9では、ブロック故障検出部3の検出結果に基づいて、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を記憶、保管する。また、メモリ故障点灯表示部10ではカウンタ4で1以上カウントした場合、つまり、メモリブロック2が1つでも故障した場合に点灯表示する。
以上の動作により、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置によれば、メモリ1の一部が故障した場合でも、メモリブロック2の故障した数が遠く離れた使用者により設定された比較値を超えるまでメモリ1は故障と判定されず、前記CPUやその上位制御装置などに故障の通知がなされないため、メモリ1の使用、及び、伝送装置の稼動を継続することが可能となる。これにより、一部のメモリ1がの故障していても伝送装置の継続稼動が必要なときには遠隔的に外部端末12から比較値を上げ、伝送装置の継続稼動は不要でメモリ1の故障検出精度を上げたいときには比較値を下げるというように、使用者の要求に応じてメモリ1、伝送装置の稼動性、及び、メモリ1の故障検出精度を変更することができる。また、伝送装置の場合、近くに使用者がいないことが多い。そのため、遠隔からの比較値の設定が可能になることにより、迅速な比較値の変更、使用者が伝送装置まで移動する時間の削除が可能となる。
また、ブロック故障情報記憶部9では、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を記憶しているため、メモリ1の使用中であっても、外部端末等を接続すれば、その情報を外部から取得することができる。これにより、メモリ1の計画的な修理、交換を行なうことが可能となり、作業品質が向上する。
メモリ故障点灯表示部10は、メモリブロックが1つでも故障した場合、つまり、メモリ1に故障が発生した場合に点灯表示する。これにより、メモリ1が故障したか否かを常時確認することができる。さらに、メモリ故障点灯表示部10で故障を確認した後に、ブロック故障情報記憶部9の情報を確認すれば、メモリ1の故障について迅速な調査を行なうことができる。
<実施の形態4>
本実施の形態に係る発明についてブロック図を図4に示す。図2の発明の構成と比較すると、ブロック故障情報記憶部9とメモリ故障点灯表示部10の代わりに、ブロック故障点灯表示部13がブロック故障検出部3に接続されている。
ブロック故障点灯表示部13は、ブロック故障検出部3からの検出結果に基づいて、故障したメモリブロック2を特定する情報を点灯表示する。例えば、このブロック故障点灯表示部13を、メモリブロック2と同数のLED14で構成し、メモリブロック2と1対1に対応させて、故障したメモリブロック2を点灯表示する。或いは、この対応関係を複数のLED14による点灯の組み合わせに対応させれば、LEDの個数を削減することができる。
以上のように構成された本実施の形態のメモリ故障検出装置の動作を説明する。
メモリ1で故障が発生すると、ブロック故障検出部3がメモリ1内をメモリブロック単位で故障を検出する。この検出は、メモリ1の使用に影響を与えないように行なわれる。
カウンタ4は、ブロック故障検出部3の結果に基づいて、メモリ1内の故障したメモリブロック2の数をカウントする。そして、メモリ故障判定部5で、この数とスイッチ7より設定された比較値とを比較し、比較値を超えた場合には故障と判定する。つまり、メモリ1全体のうち故障したメモリブロック2の数が、スイッチ7から設定した比較値を超えた場合に、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置はメモリ1を故障と判定する。メモリ故障判定部5で故障の判定をした場合、故障通知処理部8は前記CPUやその上位制御装置などに装置故障の通知をする。その通知に基づいて、前記CPUやその上位制御装置などは伝送装置自身、及び、メモリ1の制御を行なう。
上記の動作と並行して、ブロック故障点灯表示部13では、ブロック故障検出部3の検出結果に基いて、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を点灯表示する。
以上の動作により、本実施の形態に係るメモリ故障検出装置によれば、メモリ1の一部が故障した場合でも、メモリブロック2の故障した数が使用者により設定された比較値を超えるまでメモリ1は故障と判定されず、前記CPUやその上位制御装置に故障の通知がなされないため、メモリ1の使用、及び、伝送装置の稼動を継続することが可能となる。これにより、一部のメモリ1が故障していても伝送装置の継続稼動が必要なときにはスイッチ7から比較値を上げ、伝送装置の継続稼動は不要でメモリ1の故障検出精度を上げたいときには比較値を下げるというように、使用者の要求に応じてメモリ1、伝送装置の稼動性、及び、メモリ1の故障検出精度を変更することができる。
また、ブロック故障点灯表示部13では、メモリ1の故障をメモリブロック単位で特定する情報を点灯表示しているため、メモリ1の使用中であっても、外部からその情報を取得することができる。また、メモリブロック2が1つでも故障すれば点灯表示するため、メモリ1が故障したか否かについて常時確認することが可能となる。これにより、計画的な修理、交換を行なうことが可能となり、作業品質が向上する。得られる効果としては図2の構成とほぼ同じであるが、いずれの構成にするかは回路の簡略化、コストなどの要請により決めればよい。
実施の形態1に係るメモリ故障検出装置のブロック図である。 実施の形態2に係るメモリ故障検出装置のブロック図である。 実施の形態3に係るメモリ故障検出装置のブロック図である。 実施の形態4に係るメモリ故障検出装置のブロック図である。
符号の説明
1 メモリ、2 メモリブロック、3 ブロック故障検出部、4 カウンタ、5 メモリ故障判定部、6 ブロック故障情報取得部、7 スイッチ、8 故障通知処理部、9 ブロック故障情報記憶部、10 メモリ故障点灯表示部、11 CPU、12 外部端末、13 ブロック故障点灯表示部、14 LED。

Claims (8)

  1. 複数のメモリブロックを備えるメモリの故障検出装置であって、
    前記メモリの故障を前記メモリブロック単位で検出するブロック故障検出部と、
    前記ブロック故障検出部での検出結果に基づいて故障した前記メモリブロックの数をカウントするカウンタと、
    前記カウンタでカウントされた数が予め設定した比較値を超えた場合に故障と判定するメモリ故障判定部と、
    前記ブロック故障検出部での検出結果に基づいて故障した前記メモリブロックを特定する情報を外部から取得可能にするブロック故障情報取得部と、
    を備えるメモリ故障検出装置。
  2. 外部から前記比較値を設定するスイッチ
    をさらに備える請求項1に記載のメモリ故障検出装置。
  3. 通信網を介して遠隔的に前記比較値を設定する手段
    をさらに備える請求項1に記載のメモリ故障検出装置。
  4. 前記ブロック故障情報取得部は前記メモリブロック単位で故障情報を記憶するブロック故障情報記憶部を含む
    請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のメモリ故障検出装置。
  5. 前記カウンタで1以上カウントした場合に前記メモリの故障を点灯表示するメモリ故障点灯表示部
    をさらに備える請求項4に記載のメモリ故障検出装置。
  6. 前記ブロック故障情報取得部は前記メモリブロック単位で故障を点灯表示するブロック故障点灯表示部を含む
    請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のメモリ故障検出装置。
  7. 複数のメモリブロックを備えるメモリの故障検出装置であって、
    前記メモリの故障を前記メモリブロック単位で検出するブロック故障検出部と、
    前記ブロック故障検出部での検出結果に基づいて故障した前記メモリブロックの数をカウントするカウンタと、
    前記カウンタでカウントされた数が予め設定した比較値を超えた場合に故障と判定するメモリ故障判定部と、
    を備えるメモリ故障検出装置。
  8. 複数のメモリブロックを備えるメモリの故障検出装置であって、
    前記メモリの故障を前記メモリブロック単位で検出するブロック故障検出部と、
    前記ブロック故障検出部での検出結果に基づいて故障した前記メモリブロックを特定する情報を外部から取得可能にするブロック故障情報取得部と、
    を備えるメモリ故障検出装置。
JP2005329619A 2005-11-15 2005-11-15 メモリ故障検出装置 Pending JP2007140623A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005329619A JP2007140623A (ja) 2005-11-15 2005-11-15 メモリ故障検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005329619A JP2007140623A (ja) 2005-11-15 2005-11-15 メモリ故障検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007140623A true JP2007140623A (ja) 2007-06-07

Family

ID=38203441

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005329619A Pending JP2007140623A (ja) 2005-11-15 2005-11-15 メモリ故障検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007140623A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9135111B2 (en) 2011-03-28 2015-09-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device and bad area managing method thereof
JP2017110934A (ja) * 2015-12-14 2017-06-22 日立オートモティブシステムズ株式会社 車載制御装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9135111B2 (en) 2011-03-28 2015-09-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device and bad area managing method thereof
JP2017110934A (ja) * 2015-12-14 2017-06-22 日立オートモティブシステムズ株式会社 車載制御装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20170149925A1 (en) Processing cache data
KR20090077724A (ko) 전원 제어 장치 및 전원 제어 방법
CN104133709A (zh) 嵌入式系统的升级方法和装置
US20150370624A1 (en) Information processing apparatus and fault diagnosis method
CN114008984B (zh) 计算机可读存储介质以及管理方法
JP5054654B2 (ja) プラント運転装置
CN110445932B (zh) 异常掉卡处理方法、装置、存储介质以及终端
JP2007140623A (ja) メモリ故障検出装置
JP2007257062A (ja) メモリエラー検出機能、メモリチップの温度検出機能を備えたメモリモジュール
WO2016139811A1 (ja) 設備操作端末及び情報処理端末、並びに設備管理システム
JP2020071281A (ja) 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及びプログラム
JP2003345620A (ja) 多ノードクラスタシステムのプロセス監視方法
CN111078604B (zh) 一种i2c总线设备读写的方法及装置
JP2007067540A (ja) 二重系系切替装置
JP6030977B2 (ja) 燃料電池制御システム及び燃料電池制御方法
JP2010146363A (ja) 二重化プログラマブルコントローラの系切替方式
JP3861858B2 (ja) 画像表示装置の保守システム
JP4930684B2 (ja) Tvおよびtv用データ転送制御方法
JP6362532B2 (ja) プラント監視装置
WO2024052975A1 (ja) モータ駆動装置、及び診断システム
JP2007039206A (ja) エレベーター制御システム
JP2003167028A (ja) 電源装置及び半導体集積回路試験装置
JP6361202B2 (ja) 情報処理装置、診断方法、及び、プログラム
CN111833799B (zh) 一种led接收组件及接收卡切换方法
KR100651761B1 (ko) 피엘씨 시스템용 모듈 교체 시스템