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JP2006245352A - ウエハのダイシング用テープ、半導体チップのピックアップ方法 - Google Patents

ウエハのダイシング用テープ、半導体チップのピックアップ方法 Download PDF

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JP2006245352A JP2005059782A JP2005059782A JP2006245352A JP 2006245352 A JP2006245352 A JP 2006245352A JP 2005059782 A JP2005059782 A JP 2005059782A JP 2005059782 A JP2005059782 A JP 2005059782A JP 2006245352 A JP2006245352 A JP 2006245352A
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Abstract

【課題】 極めて薄いウエハであっても容易にダイシングが行え、ウエハのクラック等が防止できるとともに、分割された半導体チップを破損なくピックアップできるダイシング用テープおよび半導体チップのピックアップ方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 加熱することで粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを60重量%〜90重量%含有する粘着剤1が、粘着状態を示す室温から、前記粘着剤1を加熱して粘着力を低下させる温度までの温度範囲において、粘着剤1の貯蔵弾性率(G')が5×105Pa以上〜1.0×107Pa以下であり、前記粘着剤1を加熱して粘着力を低下させる温度での損失弾性率(G'')が、同じ温度での粘着剤1の貯蔵弾性率(G')の1/20以下であるダイシング用テープ100を使い、半導体チップをピックアップすることで上記目的が達成される。
【選択図】 図3

Description

本発明は、厚みが極薄のウエハのダイシング時や半導体チップのピックアップ時に使用するウエハのダイシング用テープ、そのダイシング用テープを用いた半導体チップのピックアップ方法に関するものである。
近年、ICカードの普及が進み、その形態はさらに薄型化、軽量化が望まれており、使用される半導体チップも薄型で幾層にも積層された複雑な形態を持つものが多い。これらのカードに使用される半導体チップの厚さは、従来、400μm程度であったものが、近年では、厚さ50〜100μmあるいは50μm以下まで薄くする必要が生じている。
厚さ100μm未満のウエハは強度が低く、破損しやすい。特に、分割された極薄の導体チップをピックアップする工程で、多くの不具合が発生していた。
これらの不具合を解決するため、本出願人はすでに特願2003−105811において、50μm以下のチップの製造方法を提案している。すなわち、ウエハの回路面に保護テープを貼った状態で、バックグラインド、ダイシング、ピックアップ、ダイボンドの一連の工程を完了させることで、極薄チップの製造を可能としたものである。
またウエハのダイシング用テープとして、テープの粘着力が紫外線を照射することで低下する紫外線硬化型テープが従来使用されていた(例えば、特許文献1参照。)。
ここで、従来のダイシング用テープを用いた半導体チップの製造工程を図4と図5を用いて説明する。700μm程度の厚みのウエハを、約400μmの厚さまで研削(バックグラインド)した後、研削済みウエハ23の研削面にダイボンド用フィルム24を貼り、その上にダイシング用テープ200を貼る。そして、このダイシング用テープ200の基材フィルム22側をダイシングテーブル25に固定する(図4(a))。研削済みウエハ23の回路面側から、ダイシングブレード26でダイシングを行い(図4(b))、複数の半導体チップ27(例えば、約1cm×1cmの正方形)に分割する(図4(c))。
そして、前記ダイシング用テープ200の粘着性を低下させると共に、ダイシング用テープ200の下部方向からニ−ドル28を押し当てる(図4(d))。ニードル28の上昇と共に、ダイシングテープ200は湾曲し、ダイボンド用フィルム24とダイシング用テープ200の粘着剤21との境界に剥離の起点(矢印29)が作成される(図5(e))。吸引コレット30で半導体チップ27の回路面から吸引し、前記剥離の起点(矢印29)から半導体チップ27をダイボンド用フィルム24とも、ダイシング用テープ200から剥離し、垂直方向へピックアップする(図5(f))。そして最後に、図5(g)に示すように、ダイボンド用フィルム24を使って、半導体チップ27をダイパット31上にダイボンドする。このようにして、半導体チップは製造される。
ところが、前記ダイシング用テープ200として紫外線硬化型のダイシング用テープを使って、例えば50μmの厚みの半導体チップをピックアップすると、全ての半導体チップに破損が発生していた。
このピックアップ時の半導体チップの破損形態を、図6を使って説明する。図6に示すように、薄く50μm程度まで研削された半導体チップ32の研削面にダイボンド用フィルム24が貼られ、次いでダイシング用テープ200が貼られている。この状態で、ニ−ドル28がダイシング用テープ200の基材フィルム22下面に押し当てられている(図6(a))。ニードル28が上昇するに従い、ダイシング用テープ200の中央部が上方へ押し上げられ、ダイシング用テープ200が湾曲すると共に、半導体チップ32も湾曲する。
その際、半導体チップ32に厚みがあり、ある程度の剛性があれば、ダイシング用テープ200の粘着剤21とダイボンド用フィルム24の境界に前記図5(e)のような剥離の起点(矢印29)が作成される。しかしながら、50μmの厚みの半導体チップ32では剛性が乏しいために、剥離の起点(矢印29)は作成されずに、ニードル28の上昇と共に半導体チップ32の湾曲が増し、ついには割れてしまう(図6(b))。
特開20001−139905号公報(頁2)
つまり、従来の紫外線硬化型ダイシング用テープは、ニードルにより半導体チップを押し上げ、半導体チップの剛性を利用してダイシング用テープから半導体チップを剥離、ピックアップすることを前提としており、50μm厚のような剛性のない極薄の半導体チップをピックアップした場合、ニードルの上昇と共に半導体チップの湾曲が増し、ついには割れてしまう問題があった。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、例えば厚さ50μm程度の極めて薄いウエハであっても容易にダイシングが行え、ウエハのクラック等が防止できるとともに、分割された半導体チップを破損なくピックアップできるダイシング用テープおよび半導体チップのピックアップ方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するための、本発明のダイシング用テープは以下のとおりである。
加熱することで粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを60重量%以上〜90重量%以下の割合で含有する粘着剤を基材フィルムの片面に設けた粘着テープであって、前記粘着剤が粘着状態を示す室温から、前記粘着剤を加熱して粘着力を低下させる温度までの温度範囲において、前記粘着剤の貯蔵弾性率(G')が5×105Pa以上〜1.0×107Pa以下であり、前記粘着剤を加熱して粘着力を低下させる温度での前記粘着剤の損失弾性率(G'')が同じ温度での前記粘着剤の貯蔵弾性率(G')の1/20以下であることを特徴とする。
また、本発明のダイシング用テープは、前記粘着剤の側鎖結晶性ポリマーの側鎖成分が、炭素数14以上〜20以下のメタクリル酸エステルまたは、アクリル酸エステルであることを特徴とする。
また、本発明の半導体チップのピックアップ方法は、加熱することで粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを60重量%〜90重量%含有し、前記粘着剤が、粘着状態を示す室温から、前記粘着剤を加熱して粘着力を低下させる温度までの温度範囲において、粘着剤の貯蔵弾性率(G')が5×105Pa以上〜1.0×107Pa以下であり、前記粘着剤を加熱して粘着力を低下させる温度での粘着剤の損失弾性率(G'')が、同じ温度での粘着剤の貯蔵弾性率(G')の1/20以下であるダイシング用テープを使って、ウエハをダイシングした後、分割された半導体チップの前記粘着剤を加熱して剥離しピックアップすることを特徴とする。
本発明によれば、ダイシング用テープを使用して、例えば厚さ50〜100μmあるいは50μm以下のウエハをダイシングしたり、分割された半導体チップをピックアップする場合、ウエハや半導体チップに破損やクラックが発生しなくなる。特にダイシング時には、ウエハを強固にダイシングテーブルに固定でき、ウエハのダイシングブレードによる振動を抑制できるとともに、ピックアップ時は、ダイシング用テープの粘着性を低下させ、ニードルの押し上げなしでのピックアップが可能となる。
以下、本発明の実施形態について説明する。
まず本発明のダイシング用テープ100の実施形態を、図1を用いて説明する。本発明のダイシング用テープ100は、基材フィルム2の片面に粘着剤1を設けたものである。前記粘着剤1は、加熱すること粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを主成分とする粘着剤である。このポリマーは、所定温度以下で粘着性を示し、それ以上の温度では非粘着性を示すという特性を有する。この前記粘着剤1には、必要に応じ、架橋剤や老化防止剤、可塑剤、充填剤等を適宜添加してもよい。
また基材フィルム2の材質については特に限定しないが、例えば、ポリエチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリウレタン、ポリカーボネート等の合成樹脂フィルムの単層体またはこれらの複層体が挙げられる。また基材フィルム2の表面をエッチング処理、アニール処理等の各種の処理を施してもよい。
次に本発明のダイシング用テープ100の粘着剤1の粘弾性特性について説明する。
図2に本発明のダイシング用テープ100の粘着剤1の粘弾性特性を示す。図から判るように本発明の粘着剤1は、貯蔵弾性率(G')が、高温になっても室温時の値を維持し、高い値を示すとともに、損失弾性率(G'')が、粘着性を低下させる温度で極めて低い値を示すことを特徴とする。
本発明のダイシング用テープ100の粘着剤1は、粘着状態を示す室温から、前記粘着剤を加熱して粘着力を低下させる温度までの温度範囲において、貯蔵弾性率(G')が5×105Pa以上〜1.0×107Pa以下であり、粘着剤1を加熱して粘着力を低下させる温度での損失弾性率(G'')が、同じ温度での前記貯蔵弾性率(G')の1/20以下であることを特徴とする。
本発明のダイシング用テープ100の粘着剤1は、前記側鎖結晶性ポリマーを主成分とする粘着剤であるとともに、上記の粘弾性値を有することで、室温において極薄のウエハ3をダイシングテーブル5に強固に固定でき、ダイシングブレード6の振動がウエハ3に伝搬せず、ウエハ3が破損することなくダイシングを行うことができる。また、半導体チップ7をピックアップする時には、前記ダイシング用テープ100の粘着剤を加熱して粘着力を極限まで低下させることで、ニードルを使った押し上げによる剥離ではなく、垂直方向のピックアップが可能となり、半導体チップ7に損傷を与えることはない。なお、上記構成要素は後述する図3を参照されたい。以下も同様とする。
特に、上記粘弾性値の内、粘着剤1を加熱して粘着力を低下させる温度での損失弾性率(G'')が、同じ温度での貯蔵弾性率(G')に比較し極端に低い値(1/20以下)を示すことが、このダイシング用テープ100の粘着力を極限まで低下させられる重要な要素である。
また、ピックアップ時、前記ダイシング用テープ100の粘着剤1を加熱して粘着力を低下させる温度での、前記粘着剤1の貯蔵弾性率(G')が5×105Paを下回ったり、損失弾性率(G'')が前記貯蔵弾性率(G')の1/20以下まで低下しなかった場合、ダイシング用テープ100の粘着力の低下が十分でなく、剥離の際に凝集力不足で粘着剤1が凝集破壊し、半導体チップ7に粘着剤1の残査が残ったり、半導体チップを吸引コレット8のみでピックアップができない。
また、半導体チップのピックアップ工程でのダイシング用テープ100の粘着剤1は、その温度での粘弾性の値から判断して、粘性的性質を著しく失っており、完全弾性体に近い状態になっている。この状態で半導体チップ7をピックアップした場合、粘着剤1のダイボンド用フィルム4への粘着剤1の転写はほぼ皆無となり、半導体チップ7の汚染が防止できる。
上記に示すダイシング用テープ100の粘着剤1の粘弾性特性を達成するため、側鎖結晶性ポリマーの含有率は、粘着剤に対し65重量%以上〜90重量%以下が好ましい。65重量%未満では、側鎖結晶性ポリマー成分が少なすぎて、ダイシング用テープ100の粘着力の低下が不十分となり、半導体チップ7がピックアップができない。また側鎖結晶性ポリマーの含有率が90重量%を超えると粘着剤に凝集力がなくなり、ダイシング用テープとして扱い難い。
また、前記側鎖結晶性ポリマーとしては、側鎖成分として炭素数14以上〜20以下のメタクリル酸エステル、アクリル酸エステルが使用される。例えば、側鎖成分としてはステアリルメタクリレートやミリスチルメタクリレート、セチルメタクリレートなどのメタクリル酸エステルなどが挙げられ、アクリル酸エステルとしては、ステアリルアクリレートやミリスチルアクリレート、セチルアクリレートなどが挙げられる。中でも、メタクリル酸エステルの内、炭素数16のセチルメタクリレートが好適に使用される。
前記側鎖結晶性ポリマーの側鎖成分として炭素数が14未満のものを使用すると、ダイシング用テープ100の粘着力の低下が不十分となり、半導体チップ7をピックアップできない。また、炭素数が20を超えるものを使用すると、ダイシング用テープ100の室温での粘着力が不十分となり、ダイシングする際ウエハ3が破損してしまう。
以上に説明するダイシング用テープを使った半導体チップのピックアップ方法を、図3を使って説明する。
図3(a)に示すように、例えば約50μmの厚さまで研削(バックグラインド)したウエハ3の研削面に、ダイボンド用フィルム4、本発明のダイシング用テープ100が、この順番で貼り付けられている。そして、ダイシング用テープ100の基材フィルム2側がダイシングテーブル5に固定されている。
次に研削済みウエハ3の回路面側から、ダイシングブレード6でダイシングを行い(図3(b))、複数の半導体チップ7(約1cm×1cmの正方形)に分割する(図3(c))。
そして、前記ダイシング用テープ100を加熱し粘着性を低下させると共に、吸引コレット8で半導体チップ7の回路面から吸引し、半導体チップ7をダイボンド用フィルム4と共にダイシング用テープ100から剥離し、垂直方向へピックアップする(図3(d))。そして最後に、図3(e)に示すように、ダイボンド用フィルム4を使って、半導体チップ7を支持体9上に設置、固定する。
以上の方法により、たとえば厚さが50μm程度と極めて薄いウエハ3であっても容易にダイシングが行え、かつ半導体チップ7を破損なくピックアップすることができる。
以下、実施例を挙げて、本発明のダイシング用テープについて説明する。
(ダイシング用テープの作成)
加熱により粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを65重量%含有する粘着剤1を作成し、PET基材フィルム2に上記で作成した粘着剤1を40μmの厚みで塗布し、加熱乾燥しダイシング用テープ100を作成した。側鎖結晶性ポリマーの側鎖成分として炭素数が16のメタクリル酸エステル(セチルメタクリレート)を使用した。
加熱により粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを85重量%含有する点以外は、すべて実施例1と同様にしてダイシング用テープ100を作成した。
側鎖結晶性ポリマーの側鎖成分として炭素数が16のアクリル酸エステル(セチルアクリレート)を使用した以外は、すべて実施例2と同様にしてダイシング用テープ100を作成した。
[比較例1]
加熱により粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを40重量%含有する以外は、すべて実施例3と同様にしてダイシング用テープを作成した。
[比較例2]
粘着剤として、一般的なアクリル系感圧粘着剤を使用し、PET基材フィルムに上記で作成した粘着剤を40μmの厚みで塗布し、加熱乾燥し粘着テープを作成した。
[比較例3]
粘着剤として、一般的な紫外線硬化型粘着剤を使用した以外は、比較例2と同様にして、粘着テープを作成した。
(粘着剤の粘弾性特性の測定)
各粘着剤1の粘弾性特性について、周知の測定方法によって、室温(1)と、粘着剤1の粘着性を低下させた状態(2)での貯蔵弾性率(G')と損失弾性率(G'')を測定した。また、(2)の状態での、損失弾性率(G'')/貯蔵弾性率(G')の値を算出した。結果を表1に示す。
(粘着力の評価−1)
以下に示す方法で、室温でのダイシング工程を想定したダイシング用テープ100の粘着力を評価した。上記で作成したダイシング用テープ100を基材フィルム2ごと2.5cm×15cm角にカットした。ステンレス板の上に市販のダイボンド用フィルム4を貼付け、その上に、前記のカットしたダイシング用テープ100を貼付けた。ダイシング用テープ100の粘着剤1とダイボンド用フィルム4の界面で幅2.5cmのピール剥離強度を測定した。その結果を表1に示す。
(粘着力の評価−2)
以下に示す方法で、半導体チップ7のピックアップ工程を想定したダイシング用テープ100の粘着力を評価した。上記で作成したダイシング用テープ100を基材フィルム2ごと1.0cm×1.0cm角にカットした。ステンレス板の上に市販のダイボンド用フィルム4を貼付け、その上に、前記のカットしたダイシング用テープ100を貼付けた。ついで、基材フィルム2の表面に垂直剥離ができるように、逆T字型の部材を瞬間接着剤を使用して固定した。逆T字の部材を垂直方向へ引っ張り、ダイシング用テープ100が剥離する強度を、ダイシング用テープ100の粘着力を低下させた状態で測定した。その結果を表1に示す。
(半導体チップの製造歩留まり)
約50μmの厚さまで研削されたウエハ3の研削面に、市販のダイボンド用フィルム4と上記で作成したダイシング用テープ100をあらかじめ積層し一体としたテープを貼り付けた。ダイシング用テープ100の基材フィルム側2をダイシングテーブル5に固定し、ウエハ3上部から、ダイシングを行い半導体チップ7(1cm×1cm角の大きさ)として160個に分割した。次いで、所定の方法でダイシング用テープ100の粘着力を低下させ、上部から吸引コレット8で半導体チップ7を吸引し、半導体チップ7をダイボンド用フィルム4ごと、ダイシング用テープ100から垂直剥離した。そして吸引コレット8で引き上げられた半導体チップ7を、支持体9上へダイボンド用フィルム4を使って設置し、固定した。
この一連の作業を、ウエハ1枚から分割、作成された半導体チップ7の160個分に対し繰り返した。160回の繰り返しの中で、半導体チップ7に破損やクラックの発生がなく、完全な製品としてできあがった割合を製品の歩留まり値として算出した。その結果を表1に示す。
Figure 2006245352
上記の評価結果から、以下の点が判った。
(粘弾性の特性値と剥離力について)
本発明のダイシング用テープ100は、ダイシング時を想定したピール剥離力の評価において、ウエハ3を不具合なくダイシングできるに十分な粘着力を有していることがわかった。比較例についても、ほぼ本発明と同じ数値を示しており、ウエハ3をダイシングするには十分であることが判った。ピックアップ工程を想定した垂直剥離力の評価では、本発明のダイシング用テープ100は、粘着力も十分低下しており、ニードルなしでのピックアップが可能と判断できる。この時、損失弾性率(G'')/貯蔵弾性率(G')の値は0.04以下という小さな値をとっている。比較例3の紫外線硬化型のテープでは、前記の損失弾性率(G'')/貯蔵弾性率(G')の値は、0.07と比較的低い値を示しているが、貯蔵弾性率(G')と損失弾性率(G'')とが、室温の状態よりも急増しており、垂直剥離力は、2400g/cm2と高く、とても吸引コレット8のみで垂直剥離ができるレベルにないことが判った。
(製品の歩留まり値について)
本発明を適用した実施例1、2での歩留まりは、いずれも90%以上と高い。これは、ダイシング工程は元より、ピックアップ工程で、前記ダイシング用テープ100の垂直剥離力が極限まで低下していることで、吸引コレット8のみでのピックアップが可能となった点が歩留まりの向上に繋がっている。一方、比較例1〜3はいずれも、ダイシング工程自体は行えたが、ピックアップ工程で、ダイシング用テープ100の粘着力が十分低下せず、半導体チップ7を垂直剥離することができなかった。
本発明に係るダイシング用テープの実施形態を示す図である。 本発明に係るダイシング用テープの粘着剤の粘弾性特性を示す一例である。 本発明に係るダイシング用テープを適用した半導体チップの製造工程を示す図である。 従来の半導体チップの製造工程の一部を示す図である。 従来の半導体チップの製造工程の残りを示す図である。 極薄の半導体チップを従来の方法でピックアップする工程を示す図である。
符号の説明
1:粘着剤、2:基材フィルム、3:ウエハ、4:ダイボンド用フィルム、5:ダイシングテーブル、6:ダイシングブレード、7:半導体チップ、8:吸引コレット、9:支持体、100:ダイシング用テープ

Claims (5)

  1. 加熱することで粘着力が低下する側鎖結晶性ポリマーを60重量%以上〜90重量%以下の割合で含有する粘着剤を基材フィルムの片面に設けた粘着テープであって、
    前記粘着剤が粘着状態を示す室温から、前記粘着剤を加熱して粘着力を低下させる温度までの温度範囲において、前記粘着剤の貯蔵弾性率(G')が、5×105Pa以上〜1.0×107Pa以下であり、前記粘着剤を加熱して粘着力を低下させる温度での前記粘着剤の損失弾性率(G'')が、同じ温度での前記貯蔵弾性率(G')の1/20以下であることを特徴とするウエハのダイシング用テープ。
  2. 前記側鎖結晶性ポリマーの側鎖成分が、炭素数14以上〜20以下のメタクリル酸エステルまたは、アクリル酸エステルであることを特徴とする請求項1に記載のウエハのダイシング用テープ。
  3. 前記ダイシング用テープを加熱して粘着力を低下させた状態における、ダイボンド用フィルムに対する前記ダイシング用テープの垂直剥離力が100g/cm2以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のウエハのダイシング用テープ。
  4. 前記ダイシング用テープが、ダイボンド用フィルムと積層され一体化されていることを特徴とする前記請求項1乃至請求項3いずれか1項に記載のダイシング用テープ。
  5. 前記請求項1乃至請求項4いずれか1項に記載のダイシング用テープを使用し、ウエハをダイシングした後、分割された半導体チップの前記粘着剤を加熱して剥離しピックアップすることを特徴とする半導体チップのピックアップ方法。
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