[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2006191465A - 電子機器 - Google Patents

電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2006191465A
JP2006191465A JP2005002707A JP2005002707A JP2006191465A JP 2006191465 A JP2006191465 A JP 2006191465A JP 2005002707 A JP2005002707 A JP 2005002707A JP 2005002707 A JP2005002707 A JP 2005002707A JP 2006191465 A JP2006191465 A JP 2006191465A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal processing
processing device
peltier element
substrate
image sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005002707A
Other languages
English (en)
Inventor
Matsuo Kishi
松雄 岸
Kosuke Yamamoto
幸祐 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2005002707A priority Critical patent/JP2006191465A/ja
Publication of JP2006191465A publication Critical patent/JP2006191465A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】 信号処理デバイス上にCCDイメージセンサーをはじめとする固体撮像素子が積層されている電子機器において、信号処理デバイスと固体撮像素子から発生する熱によるこれらの素子の温度上昇を防ぐことにより、出力される画像の画質を向上することができる電子機器を提供する。
【解決手段】 ペルチェ素子上にCCDイメージセンサーなどの固体撮像素子からの電気信号を受け信号処理を行う信号処理デバイス、さらにこの信号処理デバイスの上にCCDイメージセンサーやCMOSイメージセンサーなどの固体撮像素子が積層配置されている。また、これらは、これらを保持するための部材とレンズやフィルターなどの光学部品とこれを保持する部材によりモジュール化されていることを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、CCDイメージセンサーやCMOSイメージセンサーなどの固体撮像素子を用い画像をセンシングし、映像化あるいは写真化するための電子機器に関する。
デジタルカメラやビデオカメラ等では、画像のセンシングにCCDイメージセンサーやCMOSイメージセンサー等の半導体を用いた固体撮像素子を用いているが、これらの半導体を用いたイメージセンサーは、温度上昇と共に暗電流が増化する。この暗電流の増化は、センシングした画像の画質の低下をもたらしている。
また、上記イメージセンサーから出力される電気信号は、信号処理デバイスにより処理されることにより画像化されるが、この信号処理デバイスは、高速動作するため非常に大きな電力を消費し、大きな発熱源となる。
一方、電子機器や光学部品の小型化要求に対して、レンズやフィルターなどの光学系とイメージセンサーを保持し、電気的に実装する基板をパッケージとし、イメージセンサーをこの中に封入する構造がとられてきているが、さらに、イメージセンサーと信号処理デバイスは非常に近接した位置に実装されるようになってきており、信号処理デバイスの上にイメージセンサーを直接接着し、実装しモジュール化したものが多用されるようになった。たとえば、このような例が、特許文献1や特許文献2に開示されている。
特開平11−261044号公報 特開2004−6564号公報
しかしながら、上記特許文献1に記載された従来のモジュール化されたものには、イメージセンサーや信号処理デバイスからの熱を放出するために、ヒートシンクが取付けられるが、信号処理デバイスから発熱した熱の影響は避けられず、イメージセンサーが加熱され、温度上昇をきたすため画質の劣化が著しかった。
本発明は、前記課題を解決するために以下の手段を提供する。
本発明の電子機器は、イメージセンサーが取付けられた信号処理デバイスをその裏面よりペルチェ素子により冷却することによりイメージセンサーの温度上昇を防ぎ、さらに、下げることができることを特徴とするものである。
また、ペルチェ素子を発熱体である信号処理デバイスに直接とりつけるため、吸熱効率が高まると同時に、全体の大きさを小さく留めることが出来る。
さらに、光学部品や保持部品・配線部品等によりパッケージされるので、ペルチェ素子により室温以下に冷却した場合においても、雰囲気より結露を生じることが無くなる。
本発明によれば、イメージセンサーの温度上昇を押さえるだけでなく下げることができるので、イメージセンサーの性能に係わる暗電流を下げることがきる。これにより、優れた質の画像出力できる電子機器を提供することができる。
(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態に係る電子機器について、図面を参照して説明する。図1は、本発明である電子機器の主要部の断面図である。電気配線が施された基板1上にペルチェ素子2が接着剤等により固定され、電気的にはワイヤー3により基板1上の配線に接続され電力が供給されるようになっている。ペルチェ素子2は、その放熱面側が基板1側となるように配置されている。信号処理デバイス4はペルチェ素子2の吸熱面側に取付けられペルチェ素子2と同様にワイヤー3により基板1に電気的に接続され信号の入出力ができるようになっている。さらに、CCDイメージセンサー5は信号処理デバイス4に接続されており、電気的にはワイヤー3により外部と接続が取られている。このペルチェ素子2、信号処理デバイス4およびCCDイメージセンサー5は、フィルター7およびレンズ8を保持した鏡筒6と、ペルチェ素子2、信号処理デバイス4及びCCDイメージセンサー5を保持すると共にこれらに電力を供給する前記基板1により覆われることで、パッケージ化された状態にたもたれ、いわゆるカメラモジュール9を構成した形となっている。
このカメラモジュール9にヒートシンクを取り付け、CCDイメージセンサー5、信号処理デバイス4および関連周辺部品を動作させ画像を取り込んだ。このとき、ペルチェ素子2を動作させずに動作した場合、CCDイメージセンサー5の温度は、初期温度25℃であったものが、42℃まで上昇した。これは、CCDイメージセンサー5の発熱に加え、信号処理デバイス4の発熱が加わったため、このような大幅な温度上昇をきたしたものである。つぎに、ペルチェ素子2に電流を流し、このペルチェ素子2上に取付けられたCCDイメージセンサー5と信号処理デバイス4の冷却を行った。ヒートシンク能力とのバランスをとりながらペルチェ素子2への投入電力を調整したところ、CCDイメージセンサー5の温度は20℃となった。
ペルチェ素子を取付けていない従来の品の構造を図2に示す。これに対しても同様の実験を行ったところ、CCDイメージセンサー5の温度は40℃となっていた。このことから、本発明によるCCDイメージセンサー5に対する冷却効果は40℃−20℃=20℃ということになる。一般に、シリコンを用いたCCDイメージセンサー5では、8℃の温度低下に対して、ノイズは半減する。したがって、本実施形態では、ノイズが約18%、すなわち、82%のノイズ低減が図れたことになる。
(第2実施形態)
次に、図3をもとに本発明の第2実施形態について説明する。
図3に示すように、ペルチェ素子に取り付ける基板1にスルーホール(貫通孔)を形成し、基板表面およびスルーホール内を熱伝導率が高い金属、例えば銅などによりメタライズして熱伝導層10を形成する。この熱伝導層10の上にペルチェ素子2の放熱面を配置することにより、熱が貫通孔内の熱伝導層を通って基板裏側の熱伝導層に伝わる。従って、ペルチェ素子2およびこれに搭載されているCCDイメージセンサー5と信号処理デバイス4からの熱の放散性を高めることができる。
(第3実施形態)
さらに、熱の放散性を高めるためには、図4に示すような金属等からなる熱伝導性の高いヒートシンク11を直接ペルチェ素子2に接続してもよい。図4では、基板1に穴部を設け、この基板の裏面に設けたヒートシンク11の一部を穴部から突出させて直接ペルチェ素子2の放熱側と接続する構造となっている。
なお、本実施形態では、CCDイメージセンサーを用いたが、CMOSイメージセンサーでも同様の効果が得られることはいうまでもない。
本発明の第1実施形態に係わる電子機器の概要を示す図である。 従来例の概要を示す図である。 本発明の第1実施形態に係わる電子機器の別の例の概要を示す図である。 本発明の第1実施形態に係わる電子機器の別の例の概要を示す図である。
符号の説明
1・・・基板
2・・・ペルチェ素子
3・・・ワイヤー
4・・・信号処理デバイス
5・・・CCDイメージセンサー
6・・・鏡筒
7・・・フィルター
8・・・レンズ
9・・・カメラモジュール
10・・・熱伝導層
11・・・ヒートシンク

Claims (7)

  1. ペルチェ素子と、
    前記ペルチェ素子上に配置され撮像素子からの電気信号を受けて信号処理を行う信号処理デバイスと、
    前記信号処理デバイス上に配置された撮像素子と、からなることを特徴とする電子機器。
  2. 前記ペルチェ素子を搭載し、前記ペルチェ素子、前記信号処理デバイス、及び前記撮像素子に電力を供給する基板と、
    前記撮像素子の上に配置された光学部品を保持する保持部材と、からなり、
    前記基板と前記保持部材とで、前記ペルチェ素子、前記信号処理デバイス、及び前記撮像素子を覆ったことを特徴とする請求項1記載の電子機器。
  3. 前記基板に取り付けられた放熱部材を有し、この放熱部材に前記ペルチェ素子の放熱面が接続されていることを特徴とする請求項2記載の電子機器。
  4. 前記放熱部材は、前記基板の裏面に設けられ、前記基板に設けられた穴部から上方に突出することで前記ペルチェ素子の放熱面と接続することを特徴とする請求項3記載の電子機器。
  5. 前記基板表面に設けられた熱伝導層を有し、この熱伝導層に前記ペルチェ素子の放熱面が接続されていることを特徴とする請求項2記載の電子機器。
  6. 前記基板は貫通孔を有し、この貫通孔内にも熱伝導層を設けたことを特徴とする請求項5記載の電子機器。
  7. 前記電子機器はカメラモジュールであることを特徴とする請求項1から6のうちのいずれか1項に記載の電子機器。
JP2005002707A 2005-01-07 2005-01-07 電子機器 Pending JP2006191465A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005002707A JP2006191465A (ja) 2005-01-07 2005-01-07 電子機器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005002707A JP2006191465A (ja) 2005-01-07 2005-01-07 電子機器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006191465A true JP2006191465A (ja) 2006-07-20

Family

ID=36798156

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005002707A Pending JP2006191465A (ja) 2005-01-07 2005-01-07 電子機器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006191465A (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007051312B4 (de) * 2006-12-29 2009-09-10 Dongbu Hitek Co., Ltd. Verfahren zur Herstellung einer CMOS-Einrichtung mit Peltier-Element und Fotodiode
JP2010233015A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Canon Inc 撮像装置
JP2011187962A (ja) * 2010-03-09 2011-09-22 Lg Innotek Co Ltd 発光装置
US8174597B2 (en) 2008-10-10 2012-05-08 Sony Corporation Solid-state imaging device and signal processing system
US8212887B2 (en) 2008-10-10 2012-07-03 Sony Corporation Solid-state image pickup device with optical communication unit and cooling unit
US8355049B2 (en) 2008-10-10 2013-01-15 Sony Corporation Solid-state imaging device including an optical communication section placed in proximity to an optical black area and signal processing system
US8368767B2 (en) 2008-10-10 2013-02-05 Sony Corporation Solid-state image pickup device, optical apparatus, signal processing apparatus, and signal processing system
US8704923B2 (en) 2008-10-10 2014-04-22 Sony Corporation Solid-state imager and signal processing system
CN103855110A (zh) * 2012-11-30 2014-06-11 三星电子株式会社 执行热复位的图像传感器及方法和包括图像传感器的设备
US9728487B2 (en) 2015-05-19 2017-08-08 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
WO2021131833A1 (ja) * 2019-12-27 2021-07-01 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 センサ装置
WO2021235744A1 (ko) * 2020-05-20 2021-11-25 엘지이노텍 주식회사 이미지 센서 패키지 및 이를 포함하는 카메라 장치

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007051312B4 (de) * 2006-12-29 2009-09-10 Dongbu Hitek Co., Ltd. Verfahren zur Herstellung einer CMOS-Einrichtung mit Peltier-Element und Fotodiode
US8368767B2 (en) 2008-10-10 2013-02-05 Sony Corporation Solid-state image pickup device, optical apparatus, signal processing apparatus, and signal processing system
US8174597B2 (en) 2008-10-10 2012-05-08 Sony Corporation Solid-state imaging device and signal processing system
US8212887B2 (en) 2008-10-10 2012-07-03 Sony Corporation Solid-state image pickup device with optical communication unit and cooling unit
US8355049B2 (en) 2008-10-10 2013-01-15 Sony Corporation Solid-state imaging device including an optical communication section placed in proximity to an optical black area and signal processing system
US8704923B2 (en) 2008-10-10 2014-04-22 Sony Corporation Solid-state imager and signal processing system
JP2010233015A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Canon Inc 撮像装置
JP2011187962A (ja) * 2010-03-09 2011-09-22 Lg Innotek Co Ltd 発光装置
US8546835B2 (en) 2010-03-09 2013-10-01 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device
CN103855110A (zh) * 2012-11-30 2014-06-11 三星电子株式会社 执行热复位的图像传感器及方法和包括图像传感器的设备
US9728487B2 (en) 2015-05-19 2017-08-08 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
WO2021131833A1 (ja) * 2019-12-27 2021-07-01 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 センサ装置
EP4084076A4 (en) * 2019-12-27 2023-04-19 Sony Semiconductor Solutions Corporation SENSOR DEVICE
WO2021235744A1 (ko) * 2020-05-20 2021-11-25 엘지이노텍 주식회사 이미지 센서 패키지 및 이를 포함하는 카메라 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4379295B2 (ja) 半導体イメージセンサー・モジュール及びその製造方法
JP2008219704A (ja) 半導体装置
JP6177244B2 (ja) 冷却航空カメラ
JP2016502371A (ja) 映像撮影装置
JP6529276B2 (ja) 撮像装置
JP2008306303A (ja) 撮像装置
JP2006191465A (ja) 電子機器
US9668374B2 (en) Heat dissipating component and electronic device
TW201528813A (zh) 具有高效率熱傳遞之成像設備及其相關系統
JP2008131251A (ja) デジタルカメラ
JP5829430B2 (ja) 撮像装置
JP2008227653A (ja) 撮像素子を有する半導体装置
JPH01303745A (ja) 固体撮像素子のパツケージ
US20080297635A1 (en) Imaging apparatus
JP2010205916A (ja) 半導体ユニットおよび電子撮像装置
JP5460178B2 (ja) 撮像装置
JP2002247594A (ja) 撮像装置
JP6666027B2 (ja) 半導体装置および撮像装置
JP2010226227A (ja) 撮像装置
JP2007134811A (ja) 撮像装置
JP2008193358A (ja) 撮像素子ユニット
JP2013172168A (ja) 放熱装置、及び撮像装置
JP2002072341A (ja) 放熱装置
JP2005057149A (ja) 電気部品モジュールおよびその製造方法
JP5427076B2 (ja) 3ccd小型カメラの放熱構造