JP2006005159A - Cohesive tape for dicing/die bonding - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体装置製造のウエハーダイシング工程で用いられるウエハーの固定、及びダイシングによって加工されたチップのリードフレームへの接着機能を有するダイシング・ダイボンド用接着テープに関する。 The present invention relates to an adhesive tape for dicing and die bonding, which has a function of fixing a wafer used in a wafer dicing process for manufacturing a semiconductor device and bonding a chip processed by dicing to a lead frame.
半導体装置は、一般に、大径のシリコンウエハーを粘着テープ(ダイシングテープ)により固定し、ダイシング(切断分離)工程で半導体チップに加工され、次いでこのチップをダイシングテープより剥離、取り出され(ピックアップ)、リードフレームに硬化性の液状接着剤(ダイボンド剤)等で熱圧着、接着固定し製造されている。最近では、このダイシングとダイボンド工程の連続に行えることによる工程の合理化を実現でき、液状接着剤の流動成分による半導体部品の汚染及びチップ固定部位からのはみ出し等を避けることのできる、液状でない接着剤からなる接着層を有する、ダイシングテープのウエハー固定機能とダイボンド材の接着機能を兼ね備えた接着シートからなるダイシング・ダイボンドテープが望まれてきている。即ち、このテープは、ダイシング時にはダイシングにより切断されたチップが飛ばないように固定力があり、またダイボンド時にはチップに接着層が付着した状態で容易に取り出すことができ(ピックアップ)、更にダイボンド工程ではリードフレームに強固に接着する機能を有するものである。 In general, a semiconductor device has a large-diameter silicon wafer fixed with an adhesive tape (dicing tape), processed into a semiconductor chip in a dicing (cutting and separating) process, and then the chip is peeled off and taken out from the dicing tape (pickup). The lead frame is manufactured by thermocompression bonding and fixing with a curable liquid adhesive (die bond agent) or the like. Recently, the dicing and die bonding processes can be performed in succession to achieve rationalization of the process, and it is possible to avoid contamination of semiconductor parts due to the flow component of the liquid adhesive and protrusion from the chip fixing part. There has been a demand for a dicing die-bonding tape made of an adhesive sheet having an adhesive layer made of the above and having both the wafer fixing function of the dicing tape and the bonding function of the die-bonding material. That is, this tape has a fixing force so that the chip cut by dicing does not fly at the time of dicing, and can be easily taken out with the adhesive layer attached to the chip at the time of die bonding (pickup). It has a function of firmly bonding to the lead frame.
このダイシング・ダイボンドテープとして、特開平9−67558号公報(特許文献1)ではプラスチックフイルム基材上にダイシング・ダイボンド層として熱可塑性のポリイミド系樹脂を形成したシートが提案されている。この実施形態は、ダイシング時にウエハーを基材に密着したポリイミド樹脂層上に熱圧着固定してダイシングを行い、ポリイミド樹脂層が付着したチップ取り出し(ピックアップ)、リードフレームへ熱圧着固定、加熱接着するものである。 As this dicing die-bonding tape, JP-A-9-67558 (Patent Document 1) proposes a sheet in which a thermoplastic polyimide resin is formed as a dicing die-bonding layer on a plastic film substrate. In this embodiment, at the time of dicing, the wafer is fixed by thermocompression bonding onto a polyimide resin layer that is in close contact with the base material, dicing is performed, the chip with the polyimide resin layer attached (pickup), thermocompression fixing to the lead frame, and heat bonding are performed. Is.
ウエハーの固定、チップ取り出し(ピックアップ)性は、ポリイミド樹脂層とウエハーは熱圧着により強固に密着しているため、基材とポリイミド樹脂層との密着性に依存し、容易にはコントロールできない。また、接着層は熱可塑性のポリイミド系樹脂であるため、接着性、特に半導体装置の製造工程である、ワイヤボンド、封止、ハンダリフロー工程で要求される加湿後の接着性、高温時での接着性及び強度が不十分であるなどの欠点がある。 Wafer fixing and chip pick-up (pickup) properties depend on the adhesion between the base material and the polyimide resin layer and cannot be easily controlled because the polyimide resin layer and the wafer are firmly adhered by thermocompression bonding. In addition, since the adhesive layer is a thermoplastic polyimide-based resin, the adhesiveness, particularly the adhesiveness after humidification required in the wire bonding, sealing, and solder reflow processes, which are semiconductor device manufacturing processes, at high temperatures There are drawbacks such as insufficient adhesion and strength.
また、特開2002−256236号公報(特許文献2)では、特許第2984549号公報(特許文献3)で報告されているような密着性(粘着性)を制御できる放射線重合性粘着層を形成したフイルム基材上に、加湿後の接着性、高温時での接着性を改良した(A)ポリイミド系樹脂、(B)エポキシ樹脂、(C)フェノール樹脂、(D)硬化促進剤からなる樹脂層を形成したダイシング・ダイボンドテープが提案されている。 Further, in JP-A No. 2002-256236 (Patent Document 2), a radiation-polymerizable pressure-sensitive adhesive layer capable of controlling adhesion (adhesiveness) as reported in Japanese Patent No. 2984549 (Patent Document 3) is formed. A resin layer comprising (A) a polyimide resin, (B) an epoxy resin, (C) a phenol resin, and (D) a curing accelerator with improved adhesion after humidification and high temperature adhesion on a film substrate. There has been proposed a dicing die-bonding tape in which the film is formed.
この接着層成分の(B)エポキシ樹脂、(C)フェノール樹脂として柔らかい樹脂、特に流動性の樹脂を用いた場合には、配合組成によっては、接着層が柔らかくなり、ダイシング工程でチップクラックが発生する。 When a soft resin (particularly fluid resin) is used as the adhesive layer component (B) epoxy resin or (C) phenolic resin, the adhesive layer becomes soft depending on the composition, and chip cracks occur in the dicing process. To do.
更にまた、このダイボンド層は、硬化性のエポキシ樹脂組成物を含有するため、加湿後の接着性、高温時での接着性、強度は改善されるが、ダイシング後のチップ取り出し(ピックアップ)性が困難になる場合がある。即ち、特許第2984549号公報で報告されている基材とダイボンド層の密着性をコントロールする放射線重合性粘着層は、(メタ)アクリレート共重合体ポリマー、(メタ)アクリル基含有ポリマーあるいは多官能性アクリル化合物と光重合開始剤とからなる組成物であり、ダイボンド層と相溶し易いことによる、紫外線照射による反応、あるいはダイシング工程におけるウエハー固定の熱圧着により軟化したダイボンド層と粘着層との融着などにより、密着力が増大し、容易にチップ取り出し(ピックアップ)できなくなる。また、経時によりダイボンド層と放射線重合性粘着層との密着力(粘着力)が変化(増大)し、同様にチップ取り出し(ピックアップ)ができなくなるなどの問題点がある。 Furthermore, since this die bond layer contains a curable epoxy resin composition, adhesion after humidification, adhesion at high temperatures, and strength are improved, but chip pick-up (pickup) properties after dicing are improved. It can be difficult. That is, the radiation-polymerizable pressure-sensitive adhesive layer that controls adhesion between the substrate and the die bond layer reported in Japanese Patent No. 2984549 is a (meth) acrylate copolymer polymer, a (meth) acryl group-containing polymer, or a multifunctional product. A composition composed of an acrylic compound and a photopolymerization initiator, which is easily compatible with the die bond layer. The reaction between the ultraviolet ray irradiation or the fusion between the die bond layer and the adhesive layer softened by wafer-fixing thermocompression in the dicing process. Adhesion increases due to wearing and chip removal (pickup) cannot be easily performed. In addition, the adhesive force (adhesive force) between the die bond layer and the radiation-polymerizable adhesive layer changes (increases) with time, and similarly, there is a problem that the chip cannot be taken out (pickup).
本発明は、上記事情に鑑みなされたもので、ダイシングに耐えるウエハーの固定、ダイシング時のチップクラックの発生がなく、またチップ取り出し(ピックアップ)の容易なダイボンド層との密着力(粘着力)安定性を備え、更にリードフームとの優れた接着性を有するダイシング・ダイボンド用接着テープを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and does not cause a wafer to withstand dicing, does not generate chip cracks during dicing, and has a stable adhesion (adhesive strength) with a die bond layer that can be easily taken out (pickup). Another object of the present invention is to provide an adhesive tape for dicing and die bonding that has excellent properties and has excellent adhesion to lead foam.
本発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結果、ウエハーの熱圧着可能なダイ接着剤層として、接着性に優れ、あるヤング率値以上のポリイミド/エポキシ樹脂硬化性組成物の接着剤層とこのダイ接着剤層と基材との層間の粘着層として、特にダイ接着剤層と非相溶のシリコーン粘着層からなる構造のダイシング・ダイボンドテープを用いることにより、安定したダイシング性、チップクラック発生及び密着力経時変化のない良好なチップ取り出し性(ピックアップ性)及び優れたダイ接着性が得られることを見出し、本発明をなすに至ったものである。 As a result of diligent studies to achieve the above object, the present inventor, as a die-adhesive layer capable of thermocompression bonding of a wafer, has excellent adhesiveness and a polyimide / epoxy resin curable composition having a certain Young's modulus value or more. Stable dicing performance by using a dicing die-bonding tape with a structure consisting of a silicone adhesive layer that is incompatible with the die adhesive layer as the adhesive layer between the adhesive layer and the die adhesive layer and the substrate. The present inventors have found that good chip pick-up property (pickup property) and excellent die adhesion without occurrence of chip cracking and adhesive force change with time can be obtained, and the present invention has been made.
即ち、本発明は、基材上に形成された粘着層の上に、接着剤層を積層してなり、該接着剤層が、(A)シロキサン結合を有するポリイミド樹脂、(B)エポキシ樹脂、(C)エポキシ樹脂硬化触媒とを必須成分として含み、かつヤング率が10MPa以上の接着剤組成物からなると共に、粘着層と接着剤層の粘着力が0.2〜2.0N/25mmであることを特徴とするダイシング・ダイボンド用接着テープを提供する。 That is, the present invention comprises an adhesive layer laminated on an adhesive layer formed on a substrate, and the adhesive layer comprises (A) a polyimide resin having a siloxane bond, (B) an epoxy resin, (C) It contains an epoxy resin curing catalyst as an essential component and is composed of an adhesive composition having a Young's modulus of 10 MPa or more, and the adhesive strength between the adhesive layer and the adhesive layer is 0.2 to 2.0 N / 25 mm. An adhesive tape for dicing and die bonding is provided.
本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープによれば、これを用いることにより、半導体製造工程におけるダイシング、ダイボンド工程を安定に行うことができ、また加湿後の高接着性、高温時の高接着性、高強度を有することにより高信頼性の半導体装置を形成し得る。 According to the adhesive tape for dicing and die bonding of the present invention, by using this, dicing in the semiconductor manufacturing process, the die bonding process can be stably performed, high adhesiveness after humidification, high adhesiveness at high temperature, By having high strength, a highly reliable semiconductor device can be formed.
本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープは、基材上に形成された粘着層の上に、(A)ポリイミド樹脂、(B)エポキシ樹脂、及び(C)エポキシ樹脂硬化触媒を必須成分とする接着剤組成物からなる接着剤層を備えるものである。 The adhesive tape for dicing and die bonding of the present invention is an adhesive comprising (A) a polyimide resin, (B) an epoxy resin, and (C) an epoxy resin curing catalyst as an essential component on an adhesive layer formed on a substrate. The adhesive layer which consists of an agent composition is provided.
本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープにおける粘着層基材として具体的には、ポリエチレンフイルム、ポリプロピレンフイルム、ポリブタジエンフイルム、ポリブテンフイルム、ポリメチルペンテンフイルム、ポリ塩化ビニルフイルム、またこれらの共重合体フイルム等のポリオレフィンフイルム、ポリエチレンテレフタレートフイルム、ポリブチレンテレフタレートフイルム等のポリエステルフイルム、(メタ)アクリル酸共重合体フイルム、酢酸ビニル共重合体フイルム、ポリエーテルケトン、ポリエーテル・エーテルケトン、ポリエーテルスルフォンフイルム、ポリアミドフイルム、ポリイミドフイルム、ポリエーテルイミドフイルム、ポリカーボネートフイルム、ポリスチレンフイルム等が挙げられるが、ダイシング工程後チップ取り出しを容易にするため、基材を引き伸ばすことにより(エキスパンド)、切断されたチップを隔離することが必要であるため、延伸性のあるフイルム、具体的には、ポリエチレンフイルム、ポリプロピレンフイルム等の汎用フイルムが挙げられる。また、これらを架橋したもの、表面をプラズマ、コロナ処理したもの、これらフイルム同士又は別のフイルムを積層したものであってもよい。 Specific examples of the adhesive layer substrate in the adhesive tape for dicing and die bonding of the present invention include polyethylene film, polypropylene film, polybutadiene film, polybutene film, polymethylpentene film, polyvinyl chloride film, and copolymer films thereof. Polyolefin film, polyethylene terephthalate film, polyester film such as polybutylene terephthalate film, (meth) acrylic acid copolymer film, vinyl acetate copolymer film, polyether ketone, polyether ether ketone, polyether sulfone film, polyamide Film, polyimide film, polyetherimide film, polycarbonate film, polystyrene film, etc. are mentioned, but after dicing process In order to facilitate the removal of the film, it is necessary to isolate the cut chips by expanding the base material (expanding), so that a stretchable film, specifically, a polyethylene film, a polypropylene film, etc. General purpose film. Further, those obtained by crosslinking these, those obtained by plasma or corona treatment on the surface, or those obtained by laminating these films or different films may be used.
この基材フイルムの膜厚は、フイルムの種類及び要望される延伸性によるが、通常は20〜400μm、好ましくは30〜150μmである。 The film thickness of the substrate film is usually 20 to 400 μm, preferably 30 to 150 μm, although it depends on the kind of film and the desired stretchability.
上記基材上に形成される粘着層としては、天然ゴム及び合成ゴムからなるゴム系粘着剤、アクリル系粘着剤、シリコーン系粘着剤等が挙げられるが、接着剤層と相溶しない粘着剤が好ましく、特にシリコーン粘着剤が好ましい。該シリコーン粘着剤としては、一般的に使用されている加熱硬化型の鎖状のオルガノポリシロキサンと、固体状のシリコーンレジンからなる粘着剤を用いることができる。加熱硬化型のシリコーン粘着剤としては、有機過酸化物硬化型と白金付加硬化型があるが、基材として延伸性のポリエチレンフイルム、ポリプロピレンフイルムを用いる場合、熱により変形する場合があるため、比較的低温で硬化することのできる白金付加硬化型のシリコーン粘着剤を用いることが特に好ましい。 Examples of the pressure-sensitive adhesive layer formed on the substrate include rubber-based pressure-sensitive adhesives made of natural rubber and synthetic rubber, acrylic pressure-sensitive adhesives, silicone-based pressure-sensitive adhesives, etc., but pressure-sensitive adhesives that are not compatible with the adhesive layer. A silicone pressure-sensitive adhesive is particularly preferable. As the silicone pressure-sensitive adhesive, there can be used a pressure-sensitive adhesive composed of a thermosetting chain-like organopolysiloxane and a solid silicone resin. There are two types of thermosetting silicone adhesives: organic peroxide curing type and platinum addition curing type. When stretchable polyethylene film or polypropylene film is used as the base material, it may be deformed by heat. It is particularly preferable to use a platinum addition-curable silicone pressure-sensitive adhesive that can be cured at a low temperature.
ここで、有機過酸化物硬化型のシリコーン粘着剤は、鎖状のオルガノポリシロキサンと(R1 3SiO1/2)単位と(SiO2)単位(R1は置換もしくは非置換の一価炭化水素基)からなるオルガノポリシロキサン共重合体レジン((SiO2)単位に対する(R1 3SiO1/2)単位のモル比が0.5〜1.5)とのオルガノポリシロキサン混合物、及び架橋硬化剤としてのベンゾイルパーオキサイド、ビス(4−メチルベンゾイル)パーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ビス(t−ブチルパーオキシ)ヘキサン等の有機過酸化物を含有するものである。白金付加硬化型のシリコーン粘着剤は、鎖状のビニル基含有オルガノポリシロキサン、前記オルガノポリシロキサン共重合体レジン、及び架橋硬化剤としてケイ素結合水素原子を含有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン、触媒として塩化白金酸、アルコール変性塩化白金酸、白金のオレフィン錯体、白金とビニルシロキサンとの錯体等の白金族金属系触媒を含有するものである。 Here, the organic peroxide curing type silicone pressure sensitive adhesive is composed of a chain organopolysiloxane, a (R 1 3 SiO 1/2 ) unit, and a (SiO 2 ) unit (R 1 is a substituted or unsubstituted monovalent carbonization. Organopolysiloxane copolymer resin comprising (hydrogen groups) (organopolysiloxane mixture with (R 1 3 SiO 1/2 ) molar ratio of 0.5 to 1.5 units to (SiO 2 ) units) and crosslinking It contains an organic peroxide such as benzoyl peroxide, bis (4-methylbenzoyl) peroxide, 2,5-dimethyl-2,5-bis (t-butylperoxy) hexane as a curing agent. The platinum addition type silicone pressure sensitive adhesive is composed of a chain-like vinyl group-containing organopolysiloxane, the organopolysiloxane copolymer resin, an organohydrogenpolysiloxane containing silicon-bonded hydrogen atoms as a crosslinking curing agent, and a chlorination as a catalyst. It contains a platinum group metal catalyst such as platinum acid, alcohol-modified chloroplatinic acid, platinum olefin complex, platinum and vinylsiloxane complex.
このシリコーン粘着剤を用いた粘着層は、本発明の接着剤層に対して0.2〜2.0N/25mmの粘着力を有するものである。粘着力が0.2N/25mmより小さいと、ダイシング時にチップが接着剤層と共に剥れてしまい、飛ぶ場合がある。また、粘着力が2.0N/25mmより大きいと、チップ取り出し(ピックアップ)が困難となり、好ましくは0.3〜1.5N/25mmである。なお、この粘着力は、粘着剤の架橋密度、シリコーンレジン成分の含有量によって容易に変えることができる。 The pressure-sensitive adhesive layer using the silicone pressure-sensitive adhesive has a pressure-sensitive adhesive force of 0.2 to 2.0 N / 25 mm with respect to the adhesive layer of the present invention. If the adhesive strength is less than 0.2 N / 25 mm, the chip may be peeled off together with the adhesive layer during dicing and may fly. On the other hand, if the adhesive force is larger than 2.0 N / 25 mm, it is difficult to take out the chip (pickup), and preferably 0.3 to 1.5 N / 25 mm. In addition, this adhesive force can be easily changed by the crosslinking density of the adhesive and the content of the silicone resin component.
次に、本発明の接着剤層(ダイ接着剤層)は、(A)ポリイミド樹脂、(B)エポキシ樹脂、(C)エポキシ樹脂硬化触媒を必須成分として含む接着剤組成物からなるものであり、常温で形状を保ち、フイルム状薄膜を形成し、加熱により可塑状態を経て、硬化するもので、基材に対し優れた接着性を有するものである。 Next, the adhesive layer (die adhesive layer) of the present invention is composed of an adhesive composition containing (A) a polyimide resin, (B) an epoxy resin, and (C) an epoxy resin curing catalyst as essential components. It maintains its shape at room temperature, forms a film-like thin film, cures through a plastic state by heating, and has excellent adhesion to a substrate.
(A)成分のポリイミド樹脂は、一般式(1)で表されるその前駆体であるポリアミック酸樹脂も用いることができるが、ダイボンド工程の加熱硬化時にイミド化(脱水閉環)により水が副生し、接着面の剥離等が生じる場合があり、予めイミド化(脱水閉環)した下記一般式(2)で表されるポリイミド樹脂が好ましい。また、接着性の点からフェノール性の水酸基を骨格中に有することが好ましい。 Although the polyamic acid resin which is the precursor represented by the general formula (1) can be used as the component (A) polyimide resin, water is by-produced by imidization (dehydration ring closure) at the time of heat curing in the die bonding process. In some cases, peeling of the adhesive surface may occur, and a polyimide resin represented by the following general formula (2) that has been imidized (dehydrated and closed) in advance is preferable. Moreover, it is preferable to have a phenolic hydroxyl group in the skeleton from the viewpoint of adhesiveness.
(式中、Xは芳香族環又は脂肪族環を含む四価の有機基、Yは二価の有機基、nは1〜300の整数)
(Wherein X is a tetravalent organic group containing an aromatic ring or an aliphatic ring, Y is a divalent organic group, and n is an integer of 1 to 300)
一般式(1)で表されるポリアミック酸樹脂は下記構造式(3)
(但し、Xは上記と同様の意味を示す。)
で表されるテトラカルボン酸二無水物と、下記構造式(4)
H2N−Y−NH2 (4)
(但し、Yは上記と同様の意味を示す。)
で表されるジアミンとを常法に従ってほぼ等モルで有機溶剤中で反応させることによって得られる。
The polyamic acid resin represented by the general formula (1) has the following structural formula (3)
(However, X has the same meaning as described above.)
A tetracarboxylic dianhydride represented by the following structural formula (4)
H 2 N-Y-NH 2 (4)
(However, Y has the same meaning as described above.)
It is obtained by reacting the diamine represented by the formula (1) with an approximately equimolar amount in an organic solvent according to a conventional method.
なお、上記式(1)においてnは1〜300の整数、好ましくは2〜300の整数、特には5〜300の整数であるが、このような繰り返し数を有するポリアミック酸樹脂は、上記の方法により容易に得ることができる。更に一般式(2)で表されるポリイミド樹脂については、上記一般式(1)で表されるポリアミック酸樹脂を常法により脱水、閉環することで得られる。 In the above formula (1), n is an integer of 1 to 300, preferably an integer of 2 to 300, particularly an integer of 5 to 300. The polyamic acid resin having such a repeating number is the above-mentioned method. Can be obtained more easily. Furthermore, the polyimide resin represented by the general formula (2) can be obtained by dehydrating and ring-closing the polyamic acid resin represented by the general formula (1) by a conventional method.
ここで、上記式(3)で表されるテトラカルボン酸二無水物の例を具体的に示すと下記のものが挙げられるが、これらに限定されるものではない。 Here, specific examples of the tetracarboxylic dianhydride represented by the above formula (3) include the following, but are not limited thereto.
なお、上記式(3)のテトラカルボン酸二無水物は、所望により上記のものの1種又は2種以上を用いてもよい。 In addition, as the tetracarboxylic dianhydride of the above formula (3), one or more of the above may be used as desired.
上記式(4)で表されるジアミンのうち、好ましくは1〜80モル%、更に好ましくは1〜50モル%は下記構造式(5)
(式中、R2は炭素原子数3〜9の二価の有機基、R3、R4は炭素原子数1〜8の非置換又は置換の一価炭化水素基、mは1〜200の整数である。)
で表されるジアミノシロキサン化合物であることが、有機溶剤への溶解性、基材に対する接着性、柔軟性の点から好ましい。
Among the diamines represented by the above formula (4), preferably 1 to 80 mol%, more preferably 1 to 50 mol% is the following structural formula (5).
Wherein R 2 is a divalent organic group having 3 to 9 carbon atoms, R 3 and R 4 are unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon groups having 1 to 8 carbon atoms, and m is 1 to 200. (It is an integer.)
It is preferable from the point of the solubility to an organic solvent, the adhesiveness with respect to a base material, and a softness | flexibility to be represented by these.
一般式(5)で表されるシロキサンジアミン化合物(又はα,ω−ジアミノシロキサン)において、R2で表される炭素原子数3〜9の二価の有機基としては、例えば、−(CH2)3−,−(CH2)4−,−CH2CH(CH3)−,−(CH2)6−,−(CH2)8−等のアルキレン基、
等のアリーレン基、これらを組み合わせたアルキレン・アリーレン基、−(CH2)3−O−,−(CH2)4−O−等のオキシアルキレン基、
等のオキシアリーレン基やこれらを組み合わせた
等のオキシアルキレン・アリーレン基などの、エーテル酸素原子を含んでもよい二価炭化水素基が挙げられる。
In the siloxane diamine compound (or α, ω-diaminosiloxane) represented by the general formula (5), examples of the divalent organic group having 3 to 9 carbon atoms represented by R 2 include — (CH 2 ) 3 -, - (CH 2 ) 4 -, - CH 2 CH (CH 3) -, - (CH 2) 6 -, - (CH 2) 8 - such as an alkylene group,
Arylene groups such as, alkylene / arylene groups combining these, oxyalkylene groups such as — (CH 2 ) 3 —O—, — (CH 2 ) 4 —O—,
Oxyarylene groups such as
And a divalent hydrocarbon group which may contain an ether oxygen atom, such as an oxyalkylene / arylene group.
R3、R4で表される炭素原子数1〜8の非置換又は置換の一価炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、2−エチルヘキシル基、オクチル基等のアルキル基、ビニル基、アリル基、プロペニル基、イソプロペニル基、ブテニル基、イソブテニル基、ヘキセニル基等のアルケニル基、フェニル基、トリル基、キシリル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基等のアラルキル基、これらの基の炭素原子に結合した水素原子の一部又は全部がフッ素、臭素、塩素等のハロゲン原子等で置換された基、例えば、クロロメチル基、ブロモエチル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基等のハロゲン置換アルキル基等が挙げられ、中でもメチル基及びフェニル基が好ましい。mは1〜200の整数であり、好ましくは1〜100の整数、より好ましくは1〜80の整数である。 Examples of the unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms represented by R 3 and R 4 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, an isobutyl group, and a tert group. -Alkyl groups such as butyl group, hexyl group, cyclohexyl group, 2-ethylhexyl group, octyl group, vinyl group, allyl group, propenyl group, isopropenyl group, butenyl group, isobutenyl group, hexenyl group, etc., phenyl group Aryl groups such as tolyl group and xylyl group, aralkyl groups such as benzyl group and phenylethyl group, and part or all of hydrogen atoms bonded to carbon atoms of these groups are halogen atoms such as fluorine, bromine and chlorine A substituted group, for example, a halogen-substituted alkyl group such as a chloromethyl group, a bromoethyl group, a 3,3,3-trifluoropropyl group, etc. . Among them methyl and phenyl groups are preferred. m is an integer of 1 to 200, preferably an integer of 1 to 100, more preferably an integer of 1 to 80.
一般式(5)で表されるシロキサンジアミン化合物の例としては、具体的には、下記に示すものが挙げられるが、これらに限定されるものではない。
これらの上記式(5)で表されるジアミノシロキサン化合物は所望により1種単独でも2種以上の組み合わせでも使用することができる。 These diaminosiloxane compounds represented by the above formula (5) can be used alone or in combination of two or more as desired.
更に上記式(4)で表されるジアミンのうち、上記式(5)で表されるジアミノシロキサン化合物以外のジアミンとしては、例えば、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(p−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、1,4−ビス(m−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、1,4−ビス(p−アミノフェニルチオエーテル)ベンゼン、1,4−ビス(m−アミノフェニルチオエーテル)ベンゼン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−クロロ−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,1−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[3−クロロ−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3−クロロ−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]パーフルオロプロパン等の芳香族環含有ジアミン等が挙げられ、好ましくはp−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン等である。 Further, among the diamines represented by the above formula (4), examples of the diamine other than the diaminosiloxane compound represented by the above formula (5) include p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, and 4,4′-diamino. Diphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 2,2′-bis (4-aminophenyl) propane, 4,4′-diaminodiphenylsulfone, 4,4′-diaminodiphenyl sulfide, 1,4-bis (3- Aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (p-aminophenylsulfonyl) benzene, 1,4-bis (m-aminophenylsulfonyl) benzene, 1,4- Bis (p-aminophenylthioether) benzene, 1,4-bis (m-aminophenylthioether) Benzene, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [3-methyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [3- Chloro-4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 1,1-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, 1,1-bis [3-methyl-4- (4-aminophenoxy) Phenyl] ethane, 1,1-bis [3-chloro-4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, 1,1-bis [3,5-dimethyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, Bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [3-methyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [3-chloro-4- (4-aminophenoxy) Enyl] methane, bis [3,5-dimethyl-4- (4-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2-bis [4- (4-amino) Aromatic ring-containing diamines such as phenoxy) phenyl] perfluoropropane, etc., preferably p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 1,4 -Bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [3-methyl -4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane and the like.
また、接着性の点から本発明のポリイミド成分のポリマー骨格にフェノール性の水酸基を有することが好ましく、この水酸基の導入はフェノール性の水酸基を有するジアミン化合物を用いることにより得ることができ、下記構造のものを例示することができる。 In addition, from the viewpoint of adhesiveness, the polymer skeleton of the polyimide component of the present invention preferably has a phenolic hydroxyl group, and the introduction of this hydroxyl group can be obtained by using a diamine compound having a phenolic hydroxyl group, and has the following structure: Can be illustrated.
(式中、R5は独立に水素原子又はフッ素、臭素、よう素等のハロゲン原子、あるいは炭素原子数1〜8のアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、トリフルオロメチル基、フェニル基等の非置換又は置換の一価炭化水素基であり、各芳香族環についている置換基は全て同じでも構わないし、全て異なっていても構わない。ここでqは0〜5の整数である。A,Bはそれぞれ1種でもよく、2種以上であってもよい。Rは水素原子、ハロゲン原子又は非置換もしくは置換の一価炭化水素基である。)
(In the formula, R 5 is independently a hydrogen atom or a halogen atom such as fluorine, bromine or iodine, or an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alkenyl group, an alkynyl group, a trifluoromethyl group, a phenyl group, etc. It is a substituted or substituted monovalent hydrocarbon group, and all the substituents attached to each aromatic ring may be the same or different, where q is an integer of 0 to 5. A, B May be one kind or two kinds or more, and R is a hydrogen atom, a halogen atom or an unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group.)
ここで、R5の炭素原子数1〜8の置換又は非置換の一価炭化水素基としては、上記R3、R4で例示したものと同様のもの、またエチニル基、プロピニル基、ブチニル基、ヘキシニル基等のアルキニル基等を挙げることができる。また、Rの非置換もしくは置換の一価炭化水素基も、上記R5で例示したものと同様のものを例示することができる。 Here, the substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms of R 5 is the same as those exemplified for the above R 3 and R 4 , and also an ethynyl group, a propynyl group, and a butynyl group. And alkynyl groups such as a hexynyl group. Further, the unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group of R can be exemplified by the same groups as those exemplified for R 5 above.
なお、このフェノール性水酸基を有するジアミン化合物の使用量は、ジアミン化合物全体の5〜60質量%、特に10〜40質量%であることが好ましい。配合量が少なすぎると接着力が低くなる場合があり、また多すぎると接着層の強度が不足する場合がある。 In addition, it is preferable that the usage-amount of the diamine compound which has this phenolic hydroxyl group is 5-60 mass% of the whole diamine compound, especially 10-40 mass%. If the amount is too small, the adhesive strength may be low, and if it is too large, the strength of the adhesive layer may be insufficient.
また、フェノール性水酸基の導入のためにモノアミンを用いることもでき、下記の構造を例示することができる。 Moreover, a monoamine can also be used for introduction | transduction of a phenolic hydroxyl group, and the following structure can be illustrated.
アミン化合物はこれらに限定されるものではなく、またこれらのジアミン化合物も所望により1種単独でも2種以上の組み合わせとしても使用することができる。 The amine compounds are not limited to these, and these diamine compounds can be used alone or in combination of two or more as desired.
ポリアミック酸樹脂及びポリイミド樹脂の生成反応について具体的な例を挙げると、上述の出発原料を、不活性な雰囲気下で溶媒に溶かし、通常、80℃以下、好ましくは0〜40℃で反応させて、ポリアミック酸樹脂を合成する。更に得られたポリアミック酸樹脂を、通常、100〜200℃、好ましくは150〜200℃に昇温させることにより、ポリアミック酸樹脂の酸アミド部分を脱水閉環させ、目的とするポリイミド樹脂を合成する方法が採られる。上記反応に使用する有機溶媒は、得られるポリアミック酸に不活性なものであれば、前記出発原料を完全に溶解できるものでなくともよい。例えば、テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、γ−ブチロラクトン、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド及びジメチルスルホキシドが挙げられ、好ましくは非プロトン性極性溶媒、特に好ましくはN−メチルピロリドン、シクロヘキサノン及びγ−ブチロラクトンである。これらの溶剤は、1種又は2種以上組み合わせて用いることができる。 To give specific examples of the polyamic acid resin and polyimide resin formation reaction, the above starting materials are dissolved in a solvent under an inert atmosphere, and are usually reacted at 80 ° C. or lower, preferably 0 to 40 ° C. A polyamic acid resin is synthesized. Further, a method of synthesizing a target polyimide resin by dehydrating and ring-closing the acid amide portion of the polyamic acid resin by raising the temperature of the obtained polyamic acid resin to 100 to 200 ° C., preferably 150 to 200 ° C. Is taken. The organic solvent used for the reaction may not be one that can completely dissolve the starting material as long as it is inert to the resulting polyamic acid. Examples include tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, cyclopentanone, cyclohexanone, γ-butyrolactone, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide and dimethyl sulfoxide, preferably aprotic Polar solvents, particularly preferably N-methylpyrrolidone, cyclohexanone and γ-butyrolactone. These solvents can be used alone or in combination of two or more.
上記の脱水閉環を容易にするためには、トルエン、キシレンなどの共沸脱水剤を用いるのが望ましい。また、無水酢酸/ピリジン混合溶液を用いて低温で脱水閉環を行うこともできる。 In order to facilitate the dehydration ring closure, it is desirable to use an azeotropic dehydrating agent such as toluene or xylene. Further, dehydration ring closure can be performed at a low temperature using an acetic anhydride / pyridine mixed solution.
なお、樹脂の分子量を調整するために、無水マレイン酸、無水フタル酸などのジカルボン酸無水物及び/又はアニリン、n−ブチルアミン、上記に挙げたフェノール性の水酸基を有するモノアミンを添加することもできる。但し、ジカルボン酸無水物の添加量は、ジカルボン酸二無水物100質量部当たり、通常、0〜2質量部であり、モノアミンの添加量は、ジアミン100質量部当たり、通常、0〜2質量部である。 In order to adjust the molecular weight of the resin, dicarboxylic anhydrides such as maleic anhydride and phthalic anhydride and / or aniline, n-butylamine, and monoamines having the above-described phenolic hydroxyl groups may be added. . However, the addition amount of dicarboxylic acid anhydride is usually 0 to 2 parts by mass per 100 parts by mass of dicarboxylic dianhydride, and the addition amount of monoamine is usually 0 to 2 parts by mass per 100 parts by mass of diamine. It is.
本発明で用いられる(B)成分のエポキシ樹脂としては、1分子中にエポキシ基を少なくとも2個有する化合物が好ましく、分子構造、分子量などは特に制限はない。このようなエポキシ化合物としては、例えば、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、2,2’−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパン又はこのハロゲン化物のジグリシジルエーテル及びこれらの縮重合物(いわゆるビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂等)、ブタジエンジエポキシド、ビニルシクロヘキセンジオキシド、レゾルシンのジグリシジルエーテル、1,4−ビス(2,3−エポキシプロポキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(2,3−エポキシプロポキシ)ジフェニルエーテル、1,4−ビス(2,3−エポキシプロポキシ)シクロヘキセン、ビス(3,4−エポキシ−6−メチルシクロヘキシルメチル)アジペート、1,2−ジオキシベンゼンあるいはレゾルシノール、多価フェノール又は多価アルコールとエピクロルヒドリンとを縮合させて得られるエポキシグリシジルエーテルあるいはポリグリシジルエステル、フェノールノボラック、クレゾールノボラック等のノボラック型フェノール樹脂(あるいはハロゲン化ノボラック型フェノール樹脂)とエピクロルヒドリンとを縮合させて得られるエポキシノボラック(即ち、ノボラック型エポキシ樹脂)、過酸化法によりエポキシ化したエポキシ化ポリオレフィン、エポキシ化ポリブタジエン、ナフタレン環含有エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、シクロペンタジエン型エポキシ樹脂などが挙げられる。 As the epoxy resin of component (B) used in the present invention, a compound having at least two epoxy groups in one molecule is preferable, and the molecular structure, molecular weight and the like are not particularly limited. As such an epoxy compound, for example, bis (4-hydroxyphenyl) methane, 2,2′-bis (4-hydroxyphenyl) propane or a diglycidyl ether of this halide and a condensation polymer thereof (so-called bisphenol F) Type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, etc.), butadiene diepoxide, vinylcyclohexene dioxide, diglycidyl ether of resorcin, 1,4-bis (2,3-epoxypropoxy) benzene, 4,4′-bis (2 , 3-epoxypropoxy) diphenyl ether, 1,4-bis (2,3-epoxypropoxy) cyclohexene, bis (3,4-epoxy-6-methylcyclohexylmethyl) adipate, 1,2-dioxybenzene or resorcinol, many Hydric phenol or Epoxy novolaks obtained by condensing epoxy glycidyl ether or polyglycidyl ester, phenol novolak, cresol novolak and other novolak type phenol resins (or halogenated novolak type phenol resins) obtained by condensing monohydric alcohol and epichlorohydrin with epichlorohydrin (Ie, novolac epoxy resin), epoxidized polyolefin epoxidized by peroxidation method, epoxidized polybutadiene, naphthalene ring-containing epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, cyclopentadiene type An epoxy resin etc. are mentioned.
(B)成分のエポキシ樹脂の配合量は、(A)成分のポリイミド樹脂100質量部に対して5〜200質量部、特に10〜100質量部であることが好ましい。エポキシ樹脂の配合量が少なすぎると接着力が劣る場合があり、多すぎると硬化後の接着剤層の柔軟性が不足する場合がある。 (B) The compounding quantity of the epoxy resin of a component is 5-200 mass parts with respect to 100 mass parts of (A) component polyimide resin, It is preferable that it is especially 10-100 mass parts. If the amount of the epoxy resin is too small, the adhesive strength may be inferior, and if too large, the flexibility of the adhesive layer after curing may be insufficient.
なお、上記のエポキシ基を1分子中に少なくとも2個有するエポキシ化合物にモノエポキシ化合物を適宜併用することは差し支えなく、このモノエポキシ化合物としては、スチレンオキシド、シクロヘキセンオキシド、プロピレンオキシド、メチルグリシジルエーテル、エチルグリシジルエーテル、フェニルグリシジルエーテル、アリルグリシジルエーテル、オクチレンオキシド、ドデセンオキシドなどが例示される。また、用いるエポキシ樹脂は必ずしも1種類のみに限定されるものではなく、2種類もしくはそれ以上を併用することができる。 It should be noted that a monoepoxy compound may be appropriately used in combination with an epoxy compound having at least two epoxy groups in one molecule. Examples of the monoepoxy compound include styrene oxide, cyclohexene oxide, propylene oxide, methyl glycidyl ether, Examples include ethyl glycidyl ether, phenyl glycidyl ether, allyl glycidyl ether, octylene oxide, dodecene oxide and the like. Moreover, the epoxy resin to be used is not necessarily limited to only one type, and two or more types can be used in combination.
本発明で用いる(C)成分のエポキシ樹脂硬化触媒は特に制限はなく、リン系触媒としてはトリフェニルホスフィン、トリフェニルホスホニムトリフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレートや下記に示すような化合物が挙げられる。 The epoxy resin curing catalyst of component (C) used in the present invention is not particularly limited, and examples of the phosphorus catalyst include triphenylphosphine, triphenylphosphonium triphenylborate, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate and the compounds shown below. Can be mentioned.
(式中、R6〜R13は水素原子又はフッ素、臭素、よう素などのハロゲン原子、あるいは炭素原子数1〜8のアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、又は炭素原子数1〜8のアルコキシ基、トリフルオロメチル基、フェニル基などの非置換もしくは置換の一価炭化水素基であり、総ての置換基が同一でも、おのおの異なっていても構わない。) (Wherein R 6 to R 13 are a hydrogen atom or a halogen atom such as fluorine, bromine or iodine, or an alkyl group, alkenyl group, alkynyl group, or alkoxy having 1 to 8 carbon atoms) An unsubstituted or substituted monovalent hydrocarbon group such as a group, a trifluoromethyl group, and a phenyl group, and all the substituents may be the same or different.)
ここで、R6〜R13の一価炭化水素基としては、上記R5で例示したものと同様のもの、またメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、イソプロポキシ基、ブトキシ基等のアルコキシ基などを挙げることができる。 Here, examples of the monovalent hydrocarbon group of R 6 to R 13 are the same as those exemplified for R 5 above, and alkoxy groups such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, an isopropoxy group, and a butoxy group. Can be mentioned.
また、アミン系触媒としては2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール等のイミダゾール誘導体などを配合することができる。 In addition, as an amine catalyst, imidazole derivatives such as 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, and the like are blended. Can do.
本発明におけるエポキシ樹脂硬化触媒は、これらの中から1種単独で又は2種以上を混合して用いることができる。なお、(C)成分のエポキシ樹脂硬化触媒の配合量は、触媒量とすることができ、通常(B)成分100質量部に対し0.1〜10質量部、好ましくは0.5〜5質量部である。 The epoxy resin curing catalyst in the present invention can be used singly or in combination of two or more. In addition, the compounding quantity of the epoxy resin curing catalyst of (C) component can be made into a catalytic amount, and is 0.1-10 mass parts normally with respect to 100 mass parts of (B) component, Preferably it is 0.5-5 mass. Part.
本発明の接着剤組成物には、エポキシ樹脂の硬化剤を用いることができる。この硬化剤としては、従来から知られているエポキシ樹脂用の種々の硬化剤を使用することができ、例えば、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、ジエチルアミノプロピルアミン、N−アミノエチルピペラジン、ビス(4−アミノ−3−メチルシクロヘキシル)メタン、メタキシリレンジアミン、メンタンジアミン、3,9−ビス(3−アミノプロピル)−2,4,8,10−テトラオキサスピロ(5,5)ウンデカンなどのアミン系化合物;エポキシ樹脂−ジエチレントリアミンアダクト、アミン−エチレンオキサイドアダクト、シアノエチル化ポリアミンなどの変性脂肪族ポリアミン;ビスフェノールA、トリメチロールアリルオキシフェノール、低重合度のフェノールノボラック樹脂、エポキシ化もしくはブチル化フェノール樹脂あるいは“Super Beckcite”1001[日本ライヒホールド化学工業(株)製]、“Hitanol”4010[(株)日立製作所製]、Scado form L.9(オランダScado Zwoll社製)、Methylon 75108(米国ゼネラルエレクトリック社製)などの商品名で知られているフェノール樹脂などの、分子中に少なくとも2個のフェノール性水酸基を含有するフェノール樹脂;“Beckamine”P.138[日本ライヒホールド化学工業(株)製]、“メラン”[(株)日立製作所製]、“U−Van”10R[東洋高圧工業(株)製]などの商品名で知られている炭素樹脂;メラミン樹脂、アニリン樹脂などのアミノ樹脂;式HS(C2H4OCH2OC2H4SS)nC2H4OCH2OC2H4SH(n=1〜10の整数)で示されるような1分子中にメルカプト基を少なくとも2個有するポリスルフィド樹脂;無水フタル酸、無水ヘキサヒドロフタル酸、無水テトラヒドロフタル酸、無水ピロメリット酸、メチルナジック酸、ドデシル無水こはく酸、無水クロレンディック酸などの有機酸もしくはその無水物(酸無水物)などが挙げられる。上記した硬化剤のうちでもフェノール系樹脂(フェノールノボラック樹脂)が、本発明の組成物に良好な成形作業性を与えるとともに、優れた耐湿性を与え、また毒性がなく、比較的安価であるので望ましいものである。上記した硬化剤は、その使用にあたっては必ずしも1種類に限定されるものではなく、それら硬化剤の硬化性能などに応じて2種類以上を併用してもよい。 An epoxy resin curing agent can be used in the adhesive composition of the present invention. As this curing agent, conventionally known various curing agents for epoxy resins can be used, for example, diethylenetriamine, triethylenetetramine, diethylaminopropylamine, N-aminoethylpiperazine, bis (4-amino). Amine compounds such as -3-methylcyclohexyl) methane, metaxylylenediamine, menthanediamine, 3,9-bis (3-aminopropyl) -2,4,8,10-tetraoxaspiro (5,5) undecane Epoxy resins-modified aliphatic polyamines such as diethylenetriamine adducts, amine-ethylene oxide adducts, cyanoethylated polyamines; bisphenol A, trimethylolallyloxyphenol, low polymerization degree phenol novolac resins, epoxidized or butylated pheno Le resin or "Super Beckcite" 1001 [manufactured by Nippon Reichhold Chemical Co. (Ltd.)], "Hitanol" 4010 [(Ltd.) manufactured by Hitachi, Ltd.], Scado form L. A phenolic resin containing at least two phenolic hydroxyl groups in the molecule, such as a phenolic resin known under the trade name of 9 (manufactured by Scado Zwoll, The Netherlands), Methylon 75108 (manufactured by General Electric, USA); and “Beckamine "P. 138 [manufactured by Nippon Reichhold Chemical Co., Ltd.], “Melan” [manufactured by Hitachi, Ltd.], “U-Van” 10R [manufactured by Toyo Kodan Kogyo Co., Ltd.], etc. resin; formula HS (C 2 H 4 OCH 2 OC 2 H 4 SS) n C 2 H 4 OCH 2 OC 2 H 4 SH (n = 1~10 integer); melamine resins, amino resins such as aniline resins Polysulfide resin having at least two mercapto groups in one molecule; phthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, pyromellitic anhydride, methyl nadic acid, dodecyl succinic anhydride, chlorendic anhydride Examples thereof include organic acids such as acids or anhydrides (acid anhydrides) thereof. Among the curing agents described above, the phenolic resin (phenol novolac resin) gives good molding workability to the composition of the present invention, provides excellent moisture resistance, is non-toxic and relatively inexpensive. Is desirable. The above-mentioned curing agents are not necessarily limited to one type in use, and two or more types may be used in combination depending on the curing performance of the curing agents.
この硬化剤の使用量は、その具体的種類によって好適な配合量が相違するが、一般には前記(B)成分のエポキシ樹脂100質量部に対して1〜100質量部、より好ましくは5〜50質量部の範囲であることが好ましい。硬化剤の使用量が1質量部未満では、本発明の組成物を良好に硬化させることが困難となる場合があり、逆に100質量部を超えると、経済的に不利となるほか、エポキシ樹脂が希釈されて硬化に長時間を要するようになり、更には硬化物の物性が低下するという不利が生じる場合がある。 The amount of the curing agent used varies depending on the specific type, but generally 1 to 100 parts by mass, more preferably 5 to 50 parts per 100 parts by mass of the component (B) epoxy resin. It is preferable that it is the range of a mass part. When the amount of the curing agent used is less than 1 part by mass, it may be difficult to cure the composition of the present invention satisfactorily. May be diluted to require a long time for curing, and there may be a disadvantage that the physical properties of the cured product are deteriorated.
なお、(A)成分として骨格中にフェノール性の水酸基を有するポリイミド樹脂を用いる場合には、エポキシ樹脂、フェノール系樹脂硬化剤との配合比は重要である。この場合、フェノール性の水酸基とエポキシ基との反応を利用して硬化反応が行われるが、エポキシ基が少なすぎると被着体との接着力が十分でなくなるおそれがあり、また多すぎるとエポキシ樹脂により弾性率が上昇する場合があるため、柔軟な接着剤シートを作製するには不適となる。よってエポキシ樹脂とフェノール系樹脂硬化剤との混合配合量は、ポリイミド樹脂100質量部に対して、1〜900質量部、好ましくは5〜400質量部であることが望ましい。 In addition, when using the polyimide resin which has a phenolic hydroxyl group in frame | skeleton as (A) component, the compounding ratio with an epoxy resin and a phenol-type resin hardening | curing agent is important. In this case, the curing reaction is carried out by utilizing the reaction between the phenolic hydroxyl group and the epoxy group. However, if the epoxy group is too small, the adhesive force with the adherend may not be sufficient. Since the elastic modulus may be increased by the resin, it is unsuitable for producing a flexible adhesive sheet. Therefore, the blending amount of the epoxy resin and the phenolic resin curing agent is 1 to 900 parts by mass, preferably 5 to 400 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyimide resin.
ここで、エポキシ樹脂に対するフェノール系樹脂硬化剤と骨格中にフェノール性の水酸基を有するポリイミド樹脂の総和の化学当量比は特に制限されないが、0.7〜1.3の範囲であることが好ましく、より好ましくは0.8〜1.2である。この範囲を超えると特性の経時変化をきたす場合がある。 Here, the total chemical equivalent ratio of the phenolic resin curing agent to the epoxy resin and the polyimide resin having a phenolic hydroxyl group in the skeleton is not particularly limited, but is preferably in the range of 0.7 to 1.3, More preferably, it is 0.8-1.2. If this range is exceeded, the characteristics may change over time.
エポキシ樹脂硬化剤としてフェノール系樹脂を用いない場合においても、ポリイミド樹脂とエポキシ樹脂との配合量及び当量比は前記と同様とすることができる。 Even when no phenolic resin is used as the epoxy resin curing agent, the blending amount and equivalent ratio of the polyimide resin and the epoxy resin can be the same as described above.
更に、本発明の接着剤組成物には、本発明の効果を損わない範囲内で、シリカ微粉末、アルミナ、酸化チタン、カーボンブラック、導電性粒子等の充填剤、無機系あるいは有機系の顔料、染料等の着色剤、濡れ向上剤、酸化防止剤、熱安定剤等の添加剤などを目的に応じて添加することができる。 Furthermore, the adhesive composition of the present invention includes fillers such as silica fine powder, alumina, titanium oxide, carbon black, and conductive particles, inorganic or organic, within a range not impairing the effects of the present invention. Colorants such as pigments and dyes, additives such as wetting improvers, antioxidants and heat stabilizers can be added depending on the purpose.
本発明の接着剤組成物は、上記(A)ポリイミド樹脂、(B)エポキシ樹脂、(C)エポキシ樹脂硬化触媒、及び必要によりその他の成分を常法に準じて混合することにより調製することができる。 The adhesive composition of the present invention can be prepared by mixing the above-mentioned (A) polyimide resin, (B) epoxy resin, (C) epoxy resin curing catalyst, and other components as necessary according to a conventional method. it can.
この場合、本発明の未硬化の接着剤層は、ダイシング時のチップクラック防止のため、ヤング率を10MPa以上とすることが必要であり、(A)ポリイミド樹脂及び(B)エポキシ樹脂と組み合わせる前述のエポキシ樹脂硬化剤の種類と配合量を、該ヤング率となるように選択することが必要である。なお、ヤング率のより好ましい範囲は15MPa以上、特に20MPa以上である。その上限は特に制限されないが、通常3,000MPa以下、特に2,000MPa以下である。 In this case, the uncured adhesive layer of the present invention needs to have a Young's modulus of 10 MPa or more in order to prevent chip cracks during dicing, and is combined with (A) a polyimide resin and (B) an epoxy resin. It is necessary to select the type and blending amount of the epoxy resin curing agent so that the Young's modulus is obtained. A more preferable range of Young's modulus is 15 MPa or more, particularly 20 MPa or more. The upper limit is not particularly limited, but is usually 3,000 MPa or less, particularly 2,000 MPa or less.
本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープの製造方法を説明すると、先ずプラスチックフイルム基材上に、前記したシリコーン粘着剤を塗布し、熱により硬化して粘着層を形成する(以下、これを粘着フイルムと称する)。ここで、プラスチックフイルム基材は、前記で例示したものを用いることができるが、延伸性のあるフイルムが好ましく、特に汎用のポリエチレンフイルム、ポリプロピレンフイルムを用いることが好ましい。また、この粘着層の厚さは5〜100μmであることが好ましく、より好ましくは10〜50μmである。硬化条件としては、プラスチックフイルム基材の耐熱性にもよるが、通常60〜120℃である。 The manufacturing method of the adhesive tape for dicing and die bonding of the present invention will be described. First, the above-mentioned silicone adhesive is applied on a plastic film substrate and cured by heat to form an adhesive layer (hereinafter referred to as an adhesive film). Called). Here, as the plastic film base material, those exemplified above can be used, but a stretchable film is preferable, and a general-purpose polyethylene film or polypropylene film is particularly preferable. Moreover, it is preferable that the thickness of this adhesion layer is 5-100 micrometers, More preferably, it is 10-50 micrometers. The curing condition is usually 60 to 120 ° C., although it depends on the heat resistance of the plastic film substrate.
次に、本発明の(A)ポリイミド樹脂、(B)エポキシ樹脂、(C)エポキシ樹脂硬化触媒とを必須成分として含む接着剤組成物をトルエン、シクロヘキサノン、NMPなどの非プロトン性極性溶媒に適当な濃度に溶解し、支持基材上に塗布、乾燥し、接着層を形成したフイルムを得る(以下、これを接着フイルムと称する)。支持基材としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリテトラフルオロエチレン、紙、金属箔等、あるいはこれらの表面を離型処理したものを用いることができる。 Next, the adhesive composition containing (A) a polyimide resin, (B) an epoxy resin, and (C) an epoxy resin curing catalyst of the present invention as essential components is suitable for an aprotic polar solvent such as toluene, cyclohexanone, or NMP. The film is dissolved in a proper concentration, applied onto a supporting substrate and dried to obtain a film having an adhesive layer (hereinafter referred to as an adhesive film). As the support substrate, polyethylene, polypropylene, polyester, polyamide, polyimide, polyamideimide, polyetherimide, polytetrafluoroethylene, paper, metal foil or the like, or those obtained by releasing the surface thereof can be used.
この接着層の膜厚は、制限はなく、目的に応じ選択することができ、通常10〜100μmである。 The thickness of the adhesive layer is not limited and can be selected according to the purpose, and is usually 10 to 100 μm.
接着剤組成物を接着剤層とした際の乾燥条件としては、常温〜200℃、特に80〜150℃で1分〜1時間、特に3〜10分間とすることが好ましい。 Drying conditions when the adhesive composition is used as an adhesive layer are preferably from room temperature to 200 ° C., particularly 80 to 150 ° C., for 1 minute to 1 hour, particularly 3 to 10 minutes.
このようにして得られた粘着フイルムのシリコーン粘着層面と接着フイルムの接着剤層面とを圧着によって張り合わせることにより、本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープを得ることができる。ここで、粘着フイルムと接着フイルムとを圧着させる際の圧着条件としては、常温で0.01〜2MPa、特に0.1〜1MPaとすることが好ましい。 The adhesive tape for dicing and die bonding of the present invention can be obtained by bonding the silicone pressure-sensitive adhesive layer surface of the pressure-sensitive adhesive film thus obtained and the adhesive layer surface of the adhesive film by pressure bonding. Here, the pressure-bonding conditions for pressure-bonding the adhesive film and the adhesive film are preferably 0.01 to 2 MPa, particularly 0.1 to 1 MPa at room temperature.
本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープの使用方法は、接着剤層側の基材フイルムを剥離し、ウエハーを接着剤層に熱圧着してダイシング・ダイボンド用接着テープに固定する。熱圧着条件は、接着剤層の組成により種々選択することができるが、通常は40〜120℃で0.01〜0.2MPaである。次いで、ダイシング装置に固定し、ダイシング後、粘着層及び基材を剥離して接着剤層の付着したチップを取り出し(ピックアップ)、このチップをリードフレームに熱圧着、加熱硬化することにより接着させる。この熱圧着条件は、ウエハーと接着剤層の熱圧着条件と同様にすることができ、また加熱硬化条件は、接着剤層の組成により種々選択することができるが、通常は120〜250℃である。 The method for using the adhesive tape for dicing / die bonding of the present invention is such that the substrate film on the adhesive layer side is peeled off, and the wafer is thermocompression bonded to the adhesive layer and fixed to the adhesive tape for dicing / die bonding. The thermocompression bonding conditions can be variously selected depending on the composition of the adhesive layer, but is usually 0.01 to 0.2 MPa at 40 to 120 ° C. Subsequently, after fixing to a dicing apparatus and dicing, the pressure-sensitive adhesive layer and the base material are peeled off, the chip with the adhesive layer attached is taken out (pickup), and this chip is bonded to the lead frame by thermocompression bonding and heat curing. The thermocompression bonding conditions can be the same as the thermocompression bonding conditions of the wafer and the adhesive layer, and the heat curing conditions can be variously selected depending on the composition of the adhesive layer. is there.
本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープは、例えば図1,2に示す構成とすることができる。ここで、図1,2において、1は粘着フイルム基材、2は粘着層、3は接着剤層、4は接着フイルム基材であり、図2のテープは接着剤層3の大きさをこれが接着されるシリコンウエハーの形状、大きさに応じて粘着層より小さく形成されているものである。なお、図3,4は図1,2のテープを接着フイルム基材を除去してシリコンウエハー5に接着した状態を示すものである。 The adhesive tape for dicing die bonding of the present invention can be configured as shown in FIGS. Here, in FIGS. 1 and 2, 1 is an adhesive film substrate, 2 is an adhesive layer, 3 is an adhesive layer, 4 is an adhesive film substrate, and the tape of FIG. It is formed smaller than the adhesive layer according to the shape and size of the silicon wafer to be bonded. 3 and 4 show a state in which the tape of FIGS. 1 and 2 is bonded to the silicon wafer 5 with the adhesive film substrate removed.
本発明のダイシング・ダイボンド用接着テープは、半導体装置の製造だけでなく、接着及びダイシングの伴う種々の装置の製造工程で用いることができる。 The adhesive tape for dicing and die bonding of the present invention can be used not only in the production of semiconductor devices but also in the production processes of various devices involving adhesion and dicing.
以下、実施例及び比較例を示し、本発明を具体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, although an Example and a comparative example are shown and this invention is demonstrated concretely, this invention is not restrict | limited to the following Example.
[合成例1]
環流冷却器を連結したコック付き25mlの水分定量受器、温度計、撹拌器を備えた1Lのセパラブルフラスコに、下記式
To a 1 L separable flask equipped with a 25 ml moisture meter with a cock connected to a reflux condenser, a thermometer, and a stirrer, the following formula
次に、下記式
得られた樹脂の赤外吸収スペクトルを測定したところ、未反応の官能基があることを示すポリアミック酸に基づく吸収は現れず、1,780cm-1及び1,720cm-1にイミド基に基づく吸収を確認し、3,500cm-1にフェノール性水酸基に基づく吸収を確認した。 When the infrared absorption spectrum of the obtained resin was measured, absorption based on polyamic acid indicating that there was an unreacted functional group did not appear, and absorption based on imide groups at 1,780 cm −1 and 1,720 cm −1. The absorption based on the phenolic hydroxyl group was confirmed at 3,500 cm −1 .
接着剤組成物の調製
合成例1で得られたポリイミド樹脂−Iの40質量部をシクロヘキサノン60質量部に溶解し、この溶液に下記表1に示すエポキシ樹脂及び配合量で混合し、接着剤組成物−I〜VIを調製した。
接着フイルムの作製
前記で得られた接着剤組成物をフッ素シリコーン離型剤を被覆した厚さ50μmのPETフイルム上に塗布し、80℃で30分間加熱乾燥し、約50μmの接着剤層を形成させ、接着フイルムを作製した。各接着剤組成物−I〜VIから作製したフイルムを接着フイルム−I〜VIとする。
Preparation of Adhesive Composition 40 parts by mass of the polyimide resin-I obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in 60 parts by mass of cyclohexanone, and this solution was mixed with the epoxy resin and the blending amount shown in Table 1 below. Articles I-VI were prepared.
Preparation of adhesive film The adhesive composition obtained above was applied onto a 50 μm thick PET film coated with a fluorosilicone release agent, and dried by heating at 80 ° C. for 30 minutes to form an adhesive layer of about 50 μm. An adhesive film was prepared. The films prepared from the respective adhesive compositions-I to VI are referred to as adhesive films-I to VI.
シリコーン粘着剤組成物及び紫外線硬化型粘着剤組成物の調製
[調製例1]
(CH3)3SiO1/2単位1.1モルとSiO2単位1モルの割合からなるメチルポリシロキサンレジンを60質量%含むトルエン溶液50質量部、末端及び側鎖にビニル基を100gr当たり0.002モル有する重合度2,000の生ゴム状のジメチルポリシロキサン70質量部とトルエン80質量部を均一になるまで溶解し、次いで、この混合溶液に、下記構造のケイ素原子結合水素原子を有するオルガノポリシロキサン化合物0.64質量部と白金量が40ppmとなるような塩化白金酸の2−エチルヘキサノール変性溶液と反応抑制剤として3−メチル−1−ブチン−3−オール0.15質量部を混合し、シリコーン粘着剤組成物−Iを調製した。
Preparation of silicone pressure-sensitive adhesive composition and UV-curable pressure-sensitive adhesive composition [Preparation Example 1]
50 parts by mass of a toluene solution containing 60% by mass of a methylpolysiloxane resin having a ratio of 1.1 mol of (CH 3 ) 3 SiO 1/2 units and 1 mol of SiO 2 units; 70 parts by weight of a raw rubber-like dimethylpolysiloxane having a degree of polymerization of 2,000 mol and 0.008 parts by weight of toluene are dissolved until uniform, and then, in this mixed solution, an organo group having silicon atom-bonded hydrogen atoms having the following structure 0.64 parts by mass of polysiloxane compound, 2-ethylhexanol-modified solution of chloroplatinic acid so that the platinum amount is 40 ppm and 0.15 parts by mass of 3-methyl-1-butyn-3-ol as a reaction inhibitor are mixed A silicone pressure-sensitive adhesive composition-I was prepared.
[調製例2]
調製例1に準じて、(CH3)3SiO1/2単位1.1モルとSiO2単位1モルの割合からなるメチルポリシロキサンレジンを60質量%含むトルエン溶液66.66質量部、末端及び側鎖にビニル基を100gr当たり0.002モル有する重合度2,000の生ゴム状のジメチルポリシロキサン60質量部、トルエン73.34質量部、上記構造のケイ素原子結合水素原子を有するオルガノポリシロキサン化合物0.55質量部、白金量が40ppmとなるような塩化白金酸の2−エチルヘキサノール変性溶液と反応抑制剤として3−メチル−1−ブチン−3−オール0.15質量部から、シリコーン粘着剤組成物−IIを調製した。
[Preparation Example 2]
According to Preparation Example 1, 66.66 parts by mass of a toluene solution containing 60% by mass of a methylpolysiloxane resin consisting of 1.1 mol of (CH 3 ) 3 SiO 1/2 units and 1 mol of SiO 2 units, the terminal and Organopolysiloxane compound having 60 parts by mass of raw rubber-like dimethylpolysiloxane having a degree of polymerization of 2,000 having 0.002 mol of vinyl groups per side chain, 73.34 parts by mass of toluene, and silicon-bonded hydrogen atoms having the above structure From 0.55 parts by mass, 2-ethylhexanol modified solution of chloroplatinic acid such that the platinum amount is 40 ppm and 0.15 parts by mass of 3-methyl-1-butyn-3-ol as a reaction inhibitor, a silicone adhesive Composition-II was prepared.
[調製例3]
調製例1に準じて、(CH3)3SiO1/2単位1.1モルとSiO2単位1モルの割合からなるメチルポリシロキサンレジンを60質量%含むトルエン溶液83.33質量部、末端及び側鎖にビニル基を100gr当たり0.002モル有する重合度2,000の生ゴム状のジメチルポリシロキサン50質量部、トルエン66.67質量部、上記構造のケイ素原子結合水素原子を有するオルガノポリシロキサン化合物0.46質量部、白金量が40ppmとなるような塩化白金酸の2−エチルヘキサノール変性溶液と反応抑制剤として3−メチル−1−ブチン−3−オール0.15質量部から、シリコーン粘着剤組成物−IIIを調製した。
[Preparation Example 3]
According to Preparation Example 1, 83.33 parts by mass of a toluene solution containing 60% by mass of a methylpolysiloxane resin consisting of 1.1 mol of (CH 3 ) 3 SiO 1/2 units and 1 mol of SiO 2 units, the terminal and Organopolysiloxane compound having 50 parts by weight of raw rubber-like dimethylpolysiloxane having a polymerization degree of 2,000 having 0.002 mol of vinyl groups per side chain, 66.67 parts by weight of toluene, and silicon-bonded hydrogen atoms having the above structure 0.46 parts by mass, 2-ethylhexanol modified solution of chloroplatinic acid such that the amount of platinum is 40 ppm, and 0.15 parts by mass of 3-methyl-1-butyn-3-ol as a reaction inhibitor, a silicone adhesive Composition-III was prepared.
[調製例4]
調製例1に準じて、(CH3)3SiO1/2単位1.1モルとSiO2単位1モルの割合からなるメチルポリシロキサンレジンを60質量%含むトルエン溶液25質量部、末端及び側鎖にビニル基を100gr当たり0.002モル有する重合度2,000の生ゴム状のジメチルポリシロキサン85質量部、トルエン90質量部、上記構造のケイ素原子結合水素原子を有するオルガノポリシロキサン化合物0.78質量部、白金量が40ppmとなるような塩化白金酸の2−エチルヘキサノール変性溶液と反応抑制剤として3−メチル−1−ブチン−3−オール0.15質量部から、シリコーン粘着剤組成物−IVを調製した。
[Preparation Example 4]
According to Preparation Example 1, 25 parts by mass of a toluene solution containing 60% by mass of a methylpolysiloxane resin consisting of 1.1 mol of (CH 3 ) 3 SiO 1/2 units and 1 mol of SiO 2 units, terminal and side chains 85 parts by weight of a raw rubber-like dimethylpolysiloxane having a degree of polymerization of 2,000 having a vinyl group of 0.002 mole per 100 gr, 0.78 parts by weight of toluene, and 0.78 parts by weight of an organopolysiloxane compound having silicon-bonded hydrogen atoms having the above structure From 0.15 parts by weight of 2-methylhexanol-modified solution of chloroplatinic acid such that the platinum amount is 40 ppm and 3-methyl-1-butyn-3-ol as a reaction inhibitor, silicone adhesive composition-IV Was prepared.
[調製例5]
ブチルアクリレート75質量部と2−ヒドロキシエチルアクリレート25質量部からなる重量平均分子量290,000の共重合体の25質量%酢酸エチル溶液100質量部にジブチル錫ジラウレート0.05質量部を添加混合し、この混合溶液に、メタクリロイルオキシエチルイソシアネ−ト6.7質量部と酢酸エチル7質量部の混合溶液を滴下した。滴下終了後、赤外吸収スペクトル測定によりイソシアネートの吸収が消失するまで、60℃で加熱撹拌し、メタクリル基を有するアクリレート重合体を得た。この溶液71.4質量部、ブチルアクリレート75質量部と2−ヒドロキシエチルアクリレート25質量部からなる重量平均分子量290,000の共重合体の25質量%酢酸エチル溶液33質量部、多価イソシアネート化合物コロネートL(日本ポリウレタン社製)0.5質量部、光重合開始剤1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン(イルガキュアー184、チバ・ガイギー社製)1質量部を混合し、紫外線照射により粘着力が低下する紫外線硬化型粘着剤組成物−Vを調製した。
[Preparation Example 5]
Add and mix 0.05 parts by weight of dibutyltin dilaurate to 100 parts by weight of a 25% by weight ethyl acetate solution of a copolymer having a weight average molecular weight of 290,000 consisting of 75 parts by weight of butyl acrylate and 25 parts by weight of 2-hydroxyethyl acrylate, To this mixed solution, a mixed solution of 6.7 parts by mass of methacryloyloxyethyl isocyanate and 7 parts by mass of ethyl acetate was added dropwise. After completion of dropping, the mixture was heated and stirred at 60 ° C. until the absorption of isocyanate disappeared by infrared absorption spectrum measurement to obtain an acrylate polymer having a methacryl group. 71.4 parts by weight of this solution, 75 parts by weight of butyl acrylate and 25 parts by weight of 2-hydroxyethyl acrylate, 33 parts by weight of a 25% by weight ethyl acetate solution of a copolymer having a weight average molecular weight of 290,000, a polyvalent isocyanate compound coronate L (manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.) 0.5 parts by mass, photopolymerization initiator 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone (Irgacure 184, Ciba Geigy) 1 part by mass is mixed, and ultraviolet light whose adhesiveness is reduced by UV irradiation Curable adhesive composition-V was prepared.
粘着フイルムの作製
シリコーン粘着剤組成物−I〜IVを、厚さ100μmの無延伸ポリエチレン(LLDP)上に塗布し、100℃で10分間加熱して15μmのシリコーン粘着層を形成させることにより、シリコーン粘着フイルム−I〜IVを作製した。
紫外線硬化型粘着剤組成物−Vを、表面をコロナ処理した厚さ100μmの無延伸ポリプロピレン上に塗布し、100℃で1分間加熱し15μmの粘着層を形成させ、紫外線硬化型粘着フイルム−Vを作製した。
Preparation of Adhesive Film Silicone adhesive compositions-I to IV were applied on unstretched polyethylene (LLDP) having a thickness of 100 μm and heated at 100 ° C. for 10 minutes to form a 15 μm silicone adhesive layer. Adhesive films I to IV were prepared.
The UV curable pressure sensitive adhesive composition-V was coated on 100 μm thick unstretched polypropylene whose surface was corona-treated, and heated at 100 ° C. for 1 minute to form a 15 μm pressure sensitive adhesive layer. Was made.
ダイシング・ダイボンドテープの作製
前記で得られたシリコーン粘着フイルムの粘着層面と接着フイルムの接着剤層面を表1に示す組み合わせで、荷重2kg、巾300mmロールにより圧着し、ダイシング・ダイボンドテープ−I〜Xを作製した。
Preparation of dicing die-bonding tape The adhesive layer surface of the silicone adhesive film obtained above and the adhesive layer surface of the adhesive film are pressure-bonded with a roll of 2 kg and a width of 300 mm in the combination shown in Table 1, and dicing die-bonding tapes I to X Was made.
上記で得られた接着フイルムI〜VI及びダイシング・ダイボンドテープ−I〜Xを用いて、下記に示す試験方法により、ガラス転移点、ヤング率、接着性試験、湿熱後の接着性試験、粘着力の測定、ダイシング及びチップ取り出し試験を行った。表1にこれらの結果を示す。
ガラス転移点
前記で得られた接着フイルムを175℃で1時間熱処理し、硬化させた。20mm×5mm×50μmのフイルムに関してガラス転移点を測定した。測定には熱機械特性の測定装置のTMA−2000(アルバック理工製)を用い、引張りモード、チャック間距離15mm、測定温度25〜300℃、昇温速度10℃/分、測定荷重10gの条件でガラス転移点を測定した。
ヤング率
前記で得られた接着フイルムを175℃で1時間熱処理し、硬化させた。20mm×5mm×50μmのフイルムに関して動的粘弾性率を測定した。測定には動的粘弾性測定装置を用い、引張りモード、チャック間距離15mm、測定温度25℃、測定周波数30Hzの条件でヤング率を測定した。
接着性試験
前記で得られたダイシング・ダイボンドテープを5mm×5mmに切断して接着剤層側の基材フイルムを剥離し、これを18mm×18mmの42アロイ(凸版印刷社製KAKU−42、42アロイの試験片)に80℃,0.01MPaの条件で30秒熱圧着し、固定した後、粘着層及び基材フイルムを剥離して、再度18mm×18mmの42アロイの試験片を前記と同条件で熱圧着し、固定した。この圧着した積層体を175℃で1時間加熱処理して接着剤層を硬化させ、接着用試験片を作製した。その後、(株)島津製作所製のオートグラフ引張り試験機を用いて、速度2.0mm/分で剪断接着力を測定した。
湿熱後の接着性試験
前記の接着用試験片を85℃/85%RHの条件下で168時間保持した後、(株)島津製作所製のオートグラフ引張り試験機を用いて、速度2.0mm/分で剪断接着力を測定した。
粘着力の測定
前記で得られたダイシング・ダイボンドテープを巾25mmのテープ状に切り出し、接着剤層側の基材フイルムを剥離して、接着剤層側をSUS27CPのステンレス板(厚さ1.0mm、巾30mm)に80℃,0.01MPaの条件で60秒熱圧着し、固定した。この試験体を25±2℃、50±5%RHの恒温恒湿下に30分以上放置した後、接着剤層から粘着フイルムの端を180°に折り返し、300mm/分の速度で引き剥がしたときの剥離力を測定した。
Using the adhesive films I to VI and dicing die bond tapes I to X obtained above, the glass transition point, Young's modulus, adhesiveness test, adhesiveness test after wet heat, adhesive strength by the following test methods Measurement, dicing and chip removal test were conducted. Table 1 shows these results.
Glass transition point The adhesive film obtained above was cured by heat treatment at 175 ° C. for 1 hour. The glass transition point was measured for a 20 mm × 5 mm × 50 μm film. For the measurement, TMA-2000 (manufactured by ULVAC-RIKO), a measuring device for thermomechanical properties, was used under the conditions of tension mode, distance between chucks of 15 mm, measuring temperature of 25 to 300 ° C., heating rate of 10 ° C./min, and measuring load of 10 g. The glass transition point was measured.
Young's modulus The adhesive film obtained above was heat-treated at 175 ° C. for 1 hour to be cured. The dynamic viscoelastic modulus was measured for a 20 mm × 5 mm × 50 μm film. A dynamic viscoelasticity measuring device was used for the measurement, and the Young's modulus was measured under the conditions of a tension mode, a distance between chucks of 15 mm, a measurement temperature of 25 ° C., and a measurement frequency of 30 Hz.
Adhesion test The dicing die-bonding tape obtained above was cut into 5 mm × 5 mm, and the base film on the adhesive layer side was peeled off, and this was cut into a 42 alloy of 18 mm × 18 mm (KAKU-42, 42 manufactured by Toppan Printing Co., Ltd.). After thermobonding to an alloy test piece) at 80 ° C. and 0.01 MPa for 30 seconds and fixing, the adhesive layer and the substrate film were peeled off, and a 18 alloy × 18 mm 42 alloy test piece was again used. It was fixed by thermocompression bonding under conditions. The pressure-bonded laminate was heat-treated at 175 ° C. for 1 hour to cure the adhesive layer, and an adhesive test piece was produced. Thereafter, the shear adhesive force was measured at a speed of 2.0 mm / min using an autograph tensile tester manufactured by Shimadzu Corporation.
Adhesion test after wet heat After holding the above-mentioned adhesion test piece under the condition of 85 ° C / 85% RH for 168 hours, using an autograph tensile tester manufactured by Shimadzu Corporation, the speed is 2.0 mm / Shear adhesion was measured in minutes.
Measurement of adhesive strength The dicing die-bonding tape obtained above was cut into a tape having a width of 25 mm, the base film on the adhesive layer side was peeled off, and the stainless steel plate of SUS27CP (thickness 1.0 mm) was peeled off from the adhesive layer side. , 30 mm in width) was fixed by thermocompression bonding at 80 ° C. and 0.01 MPa for 60 seconds. After leaving this test body for 30 minutes or more under constant temperature and humidity of 25 ± 2 ° C. and 50 ± 5% RH, the end of the adhesive film was folded back to 180 ° from the adhesive layer and peeled off at a speed of 300 mm / min. The peel force was measured.
ダイシング及びチップ取り出し試験
前記で得られたダイシング・ダイボンドテープの接着剤層側の基材フイルムを剥離し、6インチウエハーに80℃,0.01MPaの条件で10秒熱圧着し、固定した。これを2mm角のチップにダイシングし、チップクラック発生の有無の観察、直径1.5mmの吸引コレットでチップ取り出しを行い、下記の基準で評価した。
ダイシング条件
装置DAD341((株)デイスコ製)
ブレード ZHT445 2050SE 27EEE
回転数 30,000rpm
送り速度 30mm/sec
チップクラック発生観察
図5に示すダイシングされたウエハー位置1〜5からチップを5個(全数25)取り出し、カット面を顕微鏡で観察し、クラック発生の確認を行った。
チップ取り出し
(ダイシング時のチップ飛び)
○:なし
×:あり
(チップ取り出し)
○:可能
×:不可能
Dicing and chip removal test The substrate film on the adhesive layer side of the dicing die-bonding tape obtained above was peeled off and fixed by thermocompression bonding to a 6-inch wafer at 80 ° C. and 0.01 MPa for 10 seconds. This was diced into 2 mm square chips, observed for the presence or absence of chip cracks, taken out with a suction collet with a diameter of 1.5 mm, and evaluated according to the following criteria.
Dicing condition equipment DAD341 (manufactured by DISCO Corporation)
Blade ZHT445 2050SE 27EEE
30,000 rpm
Feeding speed 30mm / sec
Observation of Chip Crack Generation Five chips (25 in total) were taken out from the diced wafer positions 1 to 5 shown in FIG. 5, and the cut surface was observed with a microscope to confirm the generation of cracks.
Chip removal (chip skipping during dicing)
○: None ×: Available (chip removal)
○: Possible ×: Impossible
EOCN−1020−55:o−クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量200)、日本化薬社製
NC−3000:ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、日本化薬社製
RE−310S:ビスフェノールA型エポキシ樹脂、日本化薬社製
2PHZ:2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、四国化成社製
* ダイシング、チップ取り出しが不具合であったため測定不可
** (クラック発生チップ個数)/(観察チップ全数)
*** 500mJ/cm2のエネルギー量の紫外線を照射
*** Irradiates ultraviolet rays with an energy amount of 500 mJ / cm 2
1 粘着フイルム基材
2 粘着層
3 接着剤層
4 接着フイルム基材
5 シリコンウエハー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Adhesive film base material 2 Adhesive layer 3 Adhesive layer 4 Adhesive film base material 5 Silicon wafer
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