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JP2006068870A - Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, and polishing cloth - Google Patents

Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, and polishing cloth Download PDF

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JP2006068870A
JP2006068870A JP2004257628A JP2004257628A JP2006068870A JP 2006068870 A JP2006068870 A JP 2006068870A JP 2004257628 A JP2004257628 A JP 2004257628A JP 2004257628 A JP2004257628 A JP 2004257628A JP 2006068870 A JP2006068870 A JP 2006068870A
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polishing
glass
disk
magnetic disk
glass substrate
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JP2004257628A
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Japanese (ja)
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Masahiro Katagiri
誠宏 片桐
Chaikamuwan Niyomu
チャイカムワン ニヨム
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Hoya Corp
Hoya Glass Disk Thailand Ltd
Original Assignee
Hoya Corp
Hoya Glass Disk Thailand Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk capable of easily polishing a main surface of the glass substrate to be the smooth surface; and to provide a large quantity of glass substrate for the magnetic disk and the magnetic disk with stable quality at a low price. <P>SOLUTION: This method of manufacturing the glass substrate for the magnetic disk includes a polishing process for polishing a surface of a glass disk 7 by supplying a polishing liquid and relatively sliding polishing clothes 5 and 6 and the glass disk 7, the ones having a groove 9 as a passage for the polishing liquid on a sliding surface with respect to the glass disk 7 are used for the polishing clothes 5 and 6, and the relative sliding direction of the polishing clothes 5 and 6 and the glass disk 7 is the direction crossing the groove 9 in all the polishing processes. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ハードディスクドライブ(HDD)などの情報記録装置における記録媒体となる磁気ディスクに使用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、この磁気ディスク用ガラス基板を使用する磁気ディスクの製造方法及び前記磁気ディスク用ガラス基板の製造において使用する研磨布に関する。   The present invention relates to a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk used for a magnetic disk serving as a recording medium in an information recording apparatus such as a hard disk drive (HDD), a method of manufacturing a magnetic disk using the glass substrate for a magnetic disk, and the aforementioned The present invention relates to a polishing cloth used in the manufacture of a glass substrate for a magnetic disk.

近年、情報化社会の高度化に伴って種々の情報処理装置が提案されており、また、これら情報処理装置において使用されるハードディスクドライブ(HDD)などの情報記録装置が提案されている。そして、このような情報記録装置においては、情報処理装置の小型化、高性能化のために、情報記録容量の大量化、記録密度の高密度化が求められている。   In recent years, various information processing apparatuses have been proposed with the advancement of the information society, and information recording apparatuses such as hard disk drives (HDD) used in these information processing apparatuses have been proposed. In such an information recording apparatus, in order to reduce the size and performance of the information processing apparatus, an increase in information recording capacity and an increase in recording density are required.

ハードディスクドライブにおいて、情報記録密度を高密度化するためには、いわゆるスペーシングロスを低減させる必要があり、記録媒体となる磁気ディスクに対して記録再生を行なう磁気ヘッドの浮上量(グライド・ハイト)を少なくする必要がある。   In a hard disk drive, in order to increase the information recording density, it is necessary to reduce so-called spacing loss, and the flying height (glide height) of the magnetic head that performs recording and reproduction on the magnetic disk as the recording medium Need to be reduced.

磁気ヘッドの浮上量を少なくした場合、磁気ディスクは記録再生時に高速回転するため、磁気ヘッドが磁気ディスクの表面に接触し、破壊(クラッシュ)されてしまう虞れが大きくなる。このような磁気ヘッドの破壊を防止するためには、磁気ディスクの主表面を、極めて平滑な面として仕上げておく必要がある。   When the flying height of the magnetic head is reduced, the magnetic disk rotates at a high speed during recording and reproduction, so that there is a high possibility that the magnetic head contacts the surface of the magnetic disk and is destroyed (crash). In order to prevent such destruction of the magnetic head, it is necessary to finish the main surface of the magnetic disk as a very smooth surface.

このような磁気ディスクの主表面の平滑性を実現するため、ディスク基板としては、従来広く用いられていたアルミニウム基板に代えて、ガラス基板が用いられるようになっている。ガラス基板は、アルミニウム基板に比較して、主表面の平坦性及び基板強度において優れているからである。なお、このようなガラス基板としては、基板強度を上げるために、化学強化されたガラス基板や、結晶化によって基板強度を上げた結晶化ガラス基板が用いられている。   In order to realize such smoothness of the main surface of the magnetic disk, a glass substrate is used as the disk substrate instead of the conventionally widely used aluminum substrate. This is because the glass substrate is superior in the flatness of the main surface and the substrate strength as compared with the aluminum substrate. As such a glass substrate, a chemically strengthened glass substrate or a crystallized glass substrate whose substrate strength is increased by crystallization is used in order to increase the substrate strength.

ところで、ハードディスクドライブにおける磁気ヘッドとしては、記録再生時の信号強度を向上させるために、従来広く用いられていた薄膜ヘッドに代えて、磁気抵抗効果型素子(MR素子)を用いた磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)や大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)が広く用いられるようになってきている。   Incidentally, as a magnetic head in a hard disk drive, a magnetoresistive head using a magnetoresistive element (MR element) instead of a thin film head that has been widely used in the past in order to improve the signal intensity during recording and reproduction. (MR heads) and large magnetoresistive heads (GMR heads) have been widely used.

このような磁気抵抗効果型素子を用いた磁気抵抗型ヘッドにおいては、磁気ディスクの表面に微小な凹凸があると、サーマルアスペリティ(Thermal Asperity)障害を生じ、再生に誤動作を生じたり、再生が不可能になる虞れがある。このサーマルアスペリティ障害の原因は、ガラス基板上の異物によって磁気ディスクの表面に形成された凸部が磁気ディスクの高速回転により磁気抵抗型ヘッドの近傍の空気の断熱圧縮及び断熱膨張を発生させ、磁気抵抗型ヘッドが発熱して磁気抵抗効果型素子の抵抗値が変動し、電磁変換が悪影響を受けることである。すなわち、このようなサーマルアスペリティ障害は、磁気ヘッドが磁気ディスクに接触しない場合においても発生し得る。このようなサーマルアスペリティ障害を防止するためにも、磁気ディスクの主表面は、極めて平滑で、かつ、異物の無い高清浄化された面に仕上げておく必要がある。   In a magnetoresistive head using such a magnetoresistive effect element, if there are minute irregularities on the surface of the magnetic disk, a thermal asperity failure will occur, causing a malfunction in playback or failure in playback. May be possible. The cause of this thermal asperity failure is that the convex part formed on the surface of the magnetic disk by the foreign matter on the glass substrate causes adiabatic compression and adiabatic expansion of the air in the vicinity of the magnetoresistive head due to the high-speed rotation of the magnetic disk. The resistance type head generates heat and the resistance value of the magnetoresistive effect element fluctuates, and electromagnetic conversion is adversely affected. That is, such a thermal asperity failure can occur even when the magnetic head does not contact the magnetic disk. In order to prevent such a thermal asperity failure, the main surface of the magnetic disk needs to be finished to a very smooth surface free from foreign matter.

本件出願人は、先に、このようなディスク基板の主表面を平滑な面に仕上げる目的を以て、特許文献1に記載されているように、軟質ポリシャの研磨布を貼り付けた上下定盤の間にガラス基板をセットして、これら研磨布とガラス基板とを相対的に摺動させ、ガラス基板の両主表面を研磨する研磨工程を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨布の表面粗さを適切に選定する方法について提案している。   For the purpose of finishing the main surface of such a disk substrate to be a smooth surface, the applicant of the present application previously described between the upper and lower surface plates to which a polishing cloth of a soft polisher was attached as described in Patent Document 1. In the method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having a polishing step in which a glass substrate is set on the substrate and the polishing cloth and the glass substrate are relatively slid to polish both main surfaces of the glass substrate, the surface of the polishing cloth It proposes a method to select the roughness appropriately.

また、特許文献2には、磁気ディスク用ガラス基板の製造において、上下定盤に貼り付けてガラス基板を研磨するための研磨布の構成が記載されている。この研磨布においては、ガラス基板に摺動される摺接面に研磨液の流路となる溝が設けられている。このような研磨布の溝は、粒径の大きな研磨砥粒を含有する研磨液を用いて、取り代の大きな研磨を行う場合に、研磨液を効果的に供給するために有用である。   Patent Document 2 describes the configuration of a polishing cloth for polishing a glass substrate by being attached to an upper and lower surface plate in the manufacture of a glass substrate for a magnetic disk. In this polishing cloth, a groove serving as a flow path for the polishing liquid is provided on a sliding contact surface slid on the glass substrate. Such a groove of the polishing cloth is useful for effectively supplying the polishing liquid when polishing with a large machining allowance is performed using a polishing liquid containing polishing grains having a large particle diameter.

特開2002−92867号公報JP 2002-92867 A 特開平10−249737号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-249737

ところで、前述のように、ガラス基板に対して摺動される摺接面に研磨液の流路となる溝が設けられた研磨布を用いてガラス基板の研磨を行った場合には、研磨されたガラス基板の主表面において、研磨布の溝がその溝方向に摺動された箇所において、この溝の幅に略々対応した幅で僅かな突条部(表面うねり)が形成されてしまう虞れがある。   By the way, as described above, when a glass substrate is polished using a polishing cloth in which a groove serving as a flow path for the polishing liquid is provided on a sliding surface that slides on the glass substrate, the glass substrate is polished. On the main surface of the glass substrate, a slight protrusion (surface waviness) may be formed at a location where the groove of the polishing cloth is slid in the groove direction, with a width substantially corresponding to the width of the groove. There is.

このような突条部がガラス基板の主表面に形成されていると、このガラス基板を用いて作成された磁気ディスクを備えたハードディスクドライブにおいて、磁気ヘッドの破壊やサーマルアスペリィ障害が生ずる虞れがある。特に、磁気ヘッドの浮上量が10nm、あるいは、それ以下である場合には、これら障害が発生し易い。   If such protrusions are formed on the main surface of the glass substrate, the magnetic head may be destroyed or a thermal asperity failure may occur in a hard disk drive having a magnetic disk made using the glass substrate. There is. In particular, when the flying height of the magnetic head is 10 nm or less, these failures are likely to occur.

また、近年において、ハードディスクドライブの磁気ディスクにおいては、1平方インチ当たり40ギガビット(40Gbit/inch)以上の情報記録面密度が実現できるようになってきている。このような高い情報記録面密度が実現可能となったことにより、ハードディスクドライブは、情報記録容量あたりの小型化が可能となった。したがって、ハードディスクドライブの用途は、従来のコンピュータ装置(パーソナルコンピュータやサーバ)への搭載という用途のみならず、カーナビゲーションシステム(Car Navigation System)、PDA(Personal Digital Assistance:携帯情報端末)、携帯電話など、車載用器機や携帯用器機への搭載という用途に拡大しようとしている。これら車載用器機や携帯用器機への搭載という用途においては、携帯(持運び)され、あるいは、車載環境で用いられるので、ハードディスクドライブの筐体が小型化、軽量化され、磁気ディスクも小径化されることとなる。 In recent years, it has become possible to realize an information recording surface density of 40 gigabits per square inch (40 Gbit / inch 2 ) or more in a magnetic disk of a hard disk drive. Since such high information recording surface density can be realized, the hard disk drive can be downsized per information recording capacity. Therefore, the hard disk drive is used not only for mounting on a conventional computer device (personal computer or server), but also for a car navigation system, a personal digital assistance (PDA), a mobile phone, etc. The company intends to expand its use to in-vehicle devices and portable devices. For use in in-vehicle devices and portable devices, they are carried (carried) or used in in-vehicle environments, so the hard disk drive housing is reduced in size and weight, and the magnetic disk is also reduced in diameter. Will be.

このように小型化されたハードディスクドライブの用途については、コストダウン及び大量生産の要望が強く、ディスク基板及び磁気ディスクを廉価に大量に供給する必要がある。しかし、特に、ディスク基板が小径化された場合には、大量のディスク基板について主表面の平滑性を保証することが困難となり、大量の磁気ディスクを安定して供給することが困難となる。   For the use of the hard disk drive thus miniaturized, there is a strong demand for cost reduction and mass production, and it is necessary to supply a large amount of disk substrates and magnetic disks at a low price. However, particularly when the diameter of the disk substrate is reduced, it becomes difficult to ensure the smoothness of the main surface of a large number of disk substrates, and it becomes difficult to stably supply a large number of magnetic disks.

そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるものであって、その第1の目的は、ガラス基板の主表面を簡易に、かつ、極めて平滑な面に研磨することができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することによって、安定した品質の磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを廉価に大量に提供することを可能とすることにある。   Therefore, the present invention is proposed in view of the above-mentioned circumstances, and a first object thereof is a magnetic disk capable of easily and easily polishing the main surface of a glass substrate to an extremely smooth surface. By providing a glass substrate manufacturing method, it is possible to provide a stable and high quality glass substrate and magnetic disk for a magnetic disk at low cost and in large quantities.

また、本発明の第2の目的は、磁気ディスク用ガラス基板が小径化されても、この磁気ディスク用ガラス基板の主表面を安定して極めて平滑な面に研磨することができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することによって、この磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクにおけるサーマルアスペリティ障害やヘッドクラッシュが防止されるようにして、磁気ディスクにおける情報記録面密度の高密度化に資することにある。   The second object of the present invention is to provide a magnetic disk glass capable of stably polishing the main surface of the magnetic disk glass substrate to a very smooth surface even when the diameter of the magnetic disk glass substrate is reduced. By providing a substrate manufacturing method, it is possible to prevent thermal asperity failure and head crash in a magnetic disk using the magnetic disk glass substrate, thereby contributing to an increase in the information recording surface density in the magnetic disk. It is in.

さらに、本発明の第3の目的は、ハードディスクドライブにおいて、磁気ヘッドの浮上量が10nm、あるいは、それ以下とされる場合であっても、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリティ障害の発生を防止することにある。   A third object of the present invention is to prevent the occurrence of head crashes and thermal asperity failures even when the flying height of a magnetic head is 10 nm or less in a hard disk drive. .

本発明者は、前記課題を解決すべく研究を進めた結果、磁気ディスク用ガラス基板の製造工程において、ガラス基板の主表面を研磨する工程について、研磨布のガラス基板に対する摺接面に設けられる研磨液の流路となる溝の溝方向を適切に設定しておくことにより、前記課題が解決できることを見出した。   As a result of conducting research to solve the above problems, the present inventor is provided on the sliding surface of the polishing cloth with respect to the glass substrate in the step of polishing the main surface of the glass substrate in the manufacturing process of the glass substrate for magnetic disks. It has been found that the above-mentioned problems can be solved by appropriately setting the groove direction of the groove that becomes the flow path of the polishing liquid.

すなわち、本発明は、以下の構成のいずれか一を備えるものである。   That is, the present invention includes any one of the following configurations.

〔構成1〕
研磨液を供給し研磨布とガラスディスクとを相対的に摺動させてガラスディスクの表面を研磨する研磨工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、研磨布としてガラスディスクに対する摺接面に研磨液の流路となる溝が形成されたものを用いるとともに、研磨工程の全行程において、研磨布とガラスディスクとの相対的摺動方向を、溝に交差する方向とすることを特徴とするものである。
[Configuration 1]
A method for producing a glass substrate for a magnetic disk, comprising a polishing step of supplying a polishing liquid and polishing the surface of a glass disk by sliding the polishing cloth and the glass disk relative to each other. A surface having a groove that becomes a flow path for the polishing liquid is used, and the relative sliding direction of the polishing cloth and the glass disk is set to a direction intersecting the groove in the entire polishing process. It is what.

〔構成2〕
構成1を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨布として円形の研磨布を用い、この研磨布を研磨定盤に貼り付け、この研磨定盤を回転駆動することにより、この研磨布とガラスディスクとを相対的に摺動させて、研磨工程を実行することを特徴とするものである。
[Configuration 2]
In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the configuration 1, a circular polishing cloth is used as the polishing cloth, the polishing cloth is attached to a polishing surface plate, and the polishing surface plate is driven to rotate. The polishing step is performed by sliding the glass disk relatively.

〔構成3〕
構成1、または、構成2を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、中心部に太陽歯車が設けられた研磨定盤と、この研磨定盤の外縁に設けられた内歯車と、外周部に太陽歯車及び内歯車に噛合する歯部を有しガラスディスクを保持する円板状のキャリアとを用いて、研磨布を研磨定盤に貼り付けるとともに、キャリアにガラスディスクを保持させ、このキャリアの外周部の歯部を太陽歯車及び内歯車に噛合させ、太陽歯車及び内歯車の少なくともいずれか一方を回転駆動することにより、この研磨布とキャリアに保持されたガラスディスクとを相対的に摺動させて、研磨工程を実行することを特徴とするものである。
[Configuration 3]
In the manufacturing method of the glass substrate for magnetic disks which has the structure 1 or the structure 2, the polishing surface plate provided with the sun gear in the center part, the internal gear provided in the outer edge of this polishing surface plate, and the outer peripheral part Using a disk-shaped carrier having a tooth portion meshing with the sun gear and the internal gear and holding the glass disk, the polishing cloth is attached to the polishing surface plate, and the carrier is made to hold the glass disk. The teeth of the outer peripheral portion are meshed with the sun gear and the internal gear, and at least one of the sun gear and the internal gear is driven to rotate, whereby the abrasive cloth and the glass disk held by the carrier are relatively slid. Then, the polishing step is performed.

〔構成4〕
構成1乃至構成3のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法における研磨工程を第1研磨工程として実行した後に、ガラスディスクの表面の鏡面研磨を行う第2研磨工程を実行する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、第2研磨工程においては、第1研磨工程において用いる研磨布に比較して軟質であってガラスディスクに対する摺接面が平坦である研磨布を用いることを特徴とするものである。
[Configuration 4]
A magnetic disk that executes a second polishing step of performing mirror polishing of the surface of the glass disk after executing the polishing step in the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having any one of Configurations 1 to 3 as the first polishing step In the second polishing process, a polishing cloth that is softer than the polishing cloth used in the first polishing process and that has a flat sliding contact surface with respect to the glass disk is used. It is what.

〔構成5〕
磁気ディスクの製造方法であって、構成1乃至構成4のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とするものである。
[Configuration 5]
A magnetic disk manufacturing method, wherein at least a magnetic layer is formed on a main surface of a magnetic disk glass substrate manufactured by the method for manufacturing a magnetic disk glass substrate having any one of configurations 1 to 4. It is characterized by.

〔構成6〕
ガラスディスクの表面に摺接されてこの表面を研磨し磁気ディスク用ガラス基板を製造するために、円形に形成され、または、複数の研磨布片が配置されて円形となされた研磨布であって、ガラスディスクの表面に対する摺接面に複数の溝を有し、これら複数の溝は、これら溝の任意の箇所における溝方向が、この研磨布の中心と該任意の箇所とを結ぶ直線の法線に対して交差していることを特徴とするものである。
[Configuration 6]
In order to produce a glass substrate for a magnetic disk by being brought into sliding contact with the surface of a glass disk and manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, it is a polishing cloth formed in a circular shape or a circular shape by arranging a plurality of polishing cloth pieces. The surface of the glass disk has a plurality of grooves on the slidable contact surface, and the plurality of grooves have a groove direction at an arbitrary position of the grooves, and a straight line connecting the center of the polishing cloth and the arbitrary position. It is characterized by crossing the line.

〔構成7〕
ガラスディスクの表面に摺接されてこの表面を研磨し磁気ディスク用ガラス基板を製造するために、複数の研磨布片が配置されて円形となされた研磨布であって、各研磨布片は、ガラスディスクの表面に対する摺接面に格子状に形成された溝を有しており、各溝の溝方向を、この研磨布の周方向に対して交差する方向としていることを特徴とするものである。
[Configuration 7]
In order to produce a glass substrate for a magnetic disk by being brought into sliding contact with the surface of a glass disk and manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, a polishing cloth in which a plurality of polishing cloth pieces are arranged to be circular, each polishing cloth piece, It has grooves formed in a grid pattern on the sliding surface with respect to the surface of the glass disk, and the groove direction of each groove is a direction intersecting the circumferential direction of the polishing cloth. is there.

〔構成8〕
磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、構成7、または、構成8を有する研磨布と、ガラスディスクとを相対的に摺動させ、このガラスディスクの表面を研磨する工程を含むことを特徴とするものである。
[Configuration 8]
A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, comprising the steps of relatively sliding a polishing cloth having Configuration 7 or Configuration 8 and a glass disk and polishing the surface of the glass disk. It is what.

〔構成9〕
磁気ディスクの製造方法であって、構成8を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とするものである。
[Configuration 9]
A method for manufacturing a magnetic disk, characterized in that at least a magnetic layer is formed on a main surface of a glass substrate for a magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having configuration 8. .

なお、前述の各構成において、研磨布の主表面部は、研磨パッドとすることができる。この研磨パッドは、例えば、不織布の繊維基材にポリウレタン樹脂を含浸させ湿式凝固させて形成されたものとすることができる。また、研磨布における複数の溝は、それぞれ1mm乃至3mmの幅を有し、互いにガラスディスクの径以下の間隔、例えば、10mm乃至30mmの間隔を隔てて形成されたものとすることができる。   In each configuration described above, the main surface portion of the polishing pad can be a polishing pad. This polishing pad can be formed, for example, by impregnating a nonwoven fabric fiber base material with a polyurethane resin and wet coagulating it. Further, the plurality of grooves in the polishing cloth have a width of 1 mm to 3 mm, respectively, and can be formed with an interval equal to or smaller than the diameter of the glass disk, for example, an interval of 10 mm to 30 mm.

研磨剤に含まれる研磨砥粒としては、酸化セリウム砥粒が好ましい。また、研磨剤は、液体を加えてスラリーとし、研磨砥粒を遊離砥粒としたものが好ましい。   As the abrasive grains contained in the abrasive, cerium oxide abrasive grains are preferable. In addition, it is preferable that the abrasive is a slurry obtained by adding a liquid and the abrasive grains are free abrasive grains.

構成1を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、研磨布としてガラスディスクに対する摺接面に研磨液の流路となる溝が形成されたものを用い、研磨工程の全行程において、研磨布とガラスディスクとの相対的摺動方向を、溝に交差する方向とするので、ガラスディスクの主表面を良好に研磨し、極めて平滑な面に仕上げることができる。したがって、この磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、磁気ディスク用ガラス基板の主表面のうねりによる問題、すなわち、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリテイ障害を防止することができる。   In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having the configuration 1, the polishing cloth is formed by forming a groove serving as a polishing fluid channel on the sliding surface of the glass disk, and the entire process of the polishing process. Since the relative sliding direction of the polishing cloth and the glass disk is the direction intersecting the groove, the main surface of the glass disk can be satisfactorily polished and finished to a very smooth surface. Therefore, in this method of manufacturing a magnetic disk glass substrate, problems due to the undulation of the main surface of the magnetic disk glass substrate, that is, head crashes and thermal asperity failures can be prevented.

構成2を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、研磨布として円形の研磨布を用い、この研磨布を研磨定盤に貼り付けてこの研磨定盤を回転駆動し、この研磨布とガラスディスクとを相対的に摺動させるので、ガラスディスクの主表面を簡易に、かつ、良好に研磨することができ、極めて平滑な面に仕上げることができる。したがって、この磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、安定した品質の磁気ディスク用ガラス基板を大量に製造し、供給することができる。   In the manufacturing method of the glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having the configuration 2, a circular polishing cloth is used as the polishing cloth, the polishing cloth is attached to the polishing surface plate, and the polishing surface plate is driven to rotate. Since the polishing cloth and the glass disk are relatively slid, the main surface of the glass disk can be easily and satisfactorily polished and finished to an extremely smooth surface. Therefore, in this method for producing a magnetic disk glass substrate, a stable quality glass substrate for magnetic disk can be produced and supplied in large quantities.

構成3を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、研磨定盤の中心部に設けられた太陽歯車及び研磨定盤の外縁に設けられた内歯車の少なくともいずれか一方を回転駆動し、研磨定盤に貼り付けられた研磨布とキャリアに保持されたガラスディスクとを相対的に摺動させるので、ガラスディスクの主表面を簡易に、かつ、良好に研磨することができ、極めて平滑な面に仕上げることができる。したがって、この磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、安定した品質の磁気ディスク用ガラス基板を大量に製造し、供給することができる。   In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having Configuration 3, at least one of the sun gear provided at the center of the polishing surface plate and the internal gear provided at the outer edge of the polishing surface plate is rotated. Drive and relatively slide the polishing cloth affixed to the polishing surface plate and the glass disk held by the carrier, so that the main surface of the glass disk can be polished easily and satisfactorily, An extremely smooth surface can be finished. Therefore, in this method for producing a magnetic disk glass substrate, a stable quality glass substrate for magnetic disk can be produced and supplied in large quantities.

構成4を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、前述の研磨工程を第1研磨工程として実行した後に、ガラスディスクの表面の鏡面研磨を行う第2研磨工程を実行するにあたって、第2研磨工程においては、第1研磨工程において用いる研磨布に比較して軟質であってガラスディスクに対する摺接面が平坦である研磨布を用いるので、ガラスディスクの主表面を良好な鏡面状の極めて平滑な面に研磨することができる。   In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having the configuration 4, the second polishing step of performing the mirror polishing of the surface of the glass disk is performed after the above-described polishing step is performed as the first polishing step. In the second polishing step, a polishing cloth that is softer than the polishing cloth used in the first polishing step and has a flat sliding contact surface with respect to the glass disk is used, so that the main surface of the glass disk has a good mirror surface shape. Can be polished to a very smooth surface.

構成5を有する本発明に係る磁気ディスクの製造方法においては、前述の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成するので、磁気ディスク用ガラス基板の主表面のうねりによる問題、すなわち、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリテイ障害が確実に防止された磁気ディスクを製造することができる。   In the method for manufacturing a magnetic disk according to the present invention having Configuration 5, at least the magnetic layer is formed on the main surface of the glass substrate for magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for magnetic disk described above. It is possible to manufacture a magnetic disk in which problems due to waviness of the main surface of the disk glass substrate, that is, head crashes and thermal asperity failures are reliably prevented.

構成6を有する本発明に係る研磨布においては、ガラスディスクの表面に対する摺接面に複数の溝が設けられ、これら溝の任意の箇所における溝方向が、この研磨布の中心と該任意の箇所とを結ぶ直線の法線に対して交差しているので、この研磨布を用いれば、ガラスディスクの主表面を良好に研磨し、極めて平滑な面に仕上げることができる。   In the polishing cloth according to the present invention having the configuration 6, a plurality of grooves are provided on the sliding contact surface with respect to the surface of the glass disk, and the groove directions at arbitrary positions of these grooves are the center of the polishing cloth and the arbitrary positions. Therefore, if this abrasive cloth is used, the main surface of the glass disk can be satisfactorily polished and finished to a very smooth surface.

構成7を有する本発明に係る研磨布においては、円形となされて配置された各研磨布片は、ガラスディスクの表面に対する摺接面に格子状に形成された溝を有し、各溝の溝方向をこの研磨布の周方向に対して交差する方向としているので、この研磨布を用いれば、ガラスディスクの主表面を良好に研磨し、極めて平滑な面に仕上げることができる。また、この研磨布は、製造が容易である。   In the polishing cloth according to the present invention having the structure 7, each polishing cloth piece arranged in a circular shape has grooves formed in a lattice shape on the sliding surface with respect to the surface of the glass disk. Since the direction is a direction intersecting the circumferential direction of the polishing cloth, the main surface of the glass disk can be satisfactorily polished and finished to a very smooth surface by using this polishing cloth. Moreover, this abrasive cloth is easy to manufacture.

構成8を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、前述の研磨布とガラスディスクとを相対的に摺動させて、このガラスディスクの表面を研磨するので、ガラスディスクの主表面を良好に研磨し、極めて平滑な面に仕上げることができる。   In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having the configuration 8, the surface of the glass disk is polished by relatively sliding the above-described polishing cloth and the glass disk. The surface can be polished well and finished to a very smooth surface.

構成9を有する本発明に係る磁気ディスクの製造方法においては、前述の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成するので、磁気ディスク用ガラス基板の主表面のうねりによる問題、すなわち、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリテイ障害が確実に防止された磁気ディスクを製造することができる。   In the method for manufacturing a magnetic disk according to the present invention having the structure 9, at least a magnetic layer is formed on the main surface of the glass substrate for magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for magnetic disk described above. It is possible to manufacture a magnetic disk in which problems due to waviness of the main surface of the disk glass substrate, that is, head crashes and thermal asperity failures are reliably prevented.

すなわち、本発明は、ガラス基板の主表面を簡易に、かつ、極めて平滑な面に研磨することができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することによって、安定した品質の磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを廉価に大量に提供することができるものである。   That is, the present invention provides a glass substrate for a magnetic disk with stable quality by providing a method for producing a glass substrate for a magnetic disk that can easily and smoothly polish the main surface of the glass substrate to a very smooth surface. In addition, the magnetic disk can be provided in large quantities at a low cost.

また、本発明は、磁気ディスク用ガラス基板が小径化されても、この磁気ディスク用ガラス基板の主表面を安定して極めて平滑な面に研磨することができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することによって、この磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクにおけるサーマルアスペリティ障害やヘッドクラッシュが防止されるようにして、磁気ディスクにおける情報記録面密度の高密度化に資することができるものである。   Further, the present invention provides a method for producing a glass substrate for magnetic disk, which can stably polish the main surface of the glass substrate for magnetic disk to a very smooth surface even when the diameter of the glass substrate for magnetic disk is reduced. By providing this, thermal asperity failure and head crash in a magnetic disk using the glass substrate for magnetic disk can be prevented, and the information recording surface density in the magnetic disk can be increased. .

さらに、本発明は、ハードディスクドライブにおいて、磁気ヘッドの浮上量が10nm、あるいは、それ以下とされる場合であっても、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリティ障害の発生を防止することができるものである。   Furthermore, the present invention can prevent the occurrence of head crashes and thermal asperity failures even when the flying height of the magnetic head is 10 nm or less in a hard disk drive.

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、例えば、ハードディスクドライブ(HDD)等に搭載される磁気ディスクのディスク基板として使用される磁気ディスク用ガラス基板を製造するものである。この磁気ディスクは、例えば、垂直磁気記録方式によって高密度の情報信号記録及び再生を行うことができる記録媒体である。   The method for manufacturing a glass substrate for magnetic disk according to the present invention is for manufacturing a glass substrate for magnetic disk used as a disk substrate of a magnetic disk mounted on, for example, a hard disk drive (HDD). This magnetic disk is a recording medium capable of performing high-density information signal recording and reproduction by, for example, a perpendicular magnetic recording method.

図1は、本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により製造される磁気ディスク用ガラス基板の構成を示す斜視図である。   FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a glass substrate for magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for magnetic disk according to the present invention.

この磁気ディスク用ガラス基板は、図1に示すように、外径15mm乃至30mm、内径5mm乃至12mm、板厚0.35mm乃至0.5mmであり、例えば、「0.8インチ(inch)型磁気ディスク」(内径6mm、外径21.6mm、板厚0.381mm)、「1.0インチ型磁気ディスク」(内径7mm、外径27.4mm、板厚0.381mm)などの所定の直径を有する磁気ディスクとして作製される。また、「2.5インチ型磁気ディスク」、「3.5インチ型磁気ディスク」など磁気ディスクとして作製されるものとしてもよい。なお、ここで、「内径」とは、磁気ディスク用ガラス基板1の中心孔2の内径である。   As shown in FIG. 1, the glass substrate for a magnetic disk has an outer diameter of 15 to 30 mm, an inner diameter of 5 to 12 mm, and a plate thickness of 0.35 to 0.5 mm. Predetermined diameters such as “disk” (inner diameter 6 mm, outer diameter 21.6 mm, plate thickness 0.381 mm), “1.0 inch type magnetic disk” (inner diameter 7 mm, outer diameter 27.4 mm, plate thickness 0.381 mm), etc. It is manufactured as a magnetic disk. Further, it may be manufactured as a magnetic disk such as a “2.5 inch magnetic disk” or a “3.5 inch magnetic disk”. Here, the “inner diameter” is the inner diameter of the center hole 2 of the glass substrate 1 for magnetic disks.

この磁気ディスク用ガラス基板1は、ガラスからなることにより、鏡面研磨によって優れた平滑性を実現することができ、硬度が高く、また、剛性が高いので、耐衝撃性に優れている。特に、携帯(持運び)用、あるいは、車載用の情報器機に搭載されるハードディスクドライブに使用される磁気ディスクには、高い耐衝撃性が要求されるので、このような磁気ディスクにおいてガラス基板を用いることには有用性が高い。ガラス基板の主表面の表面粗さは、Raで0.1nm乃至0.7とされることが好ましい。   Since the glass substrate 1 for magnetic disks is made of glass, it can realize excellent smoothness by mirror polishing, has high hardness, and high rigidity, and thus has excellent impact resistance. In particular, since a magnetic disk used for a hard disk drive mounted on a portable (carried) or in-vehicle information device is required to have high impact resistance, a glass substrate is used in such a magnetic disk. Usefulness is high. The surface roughness of the main surface of the glass substrate is preferably 0.1 nm to 0.7 in terms of Ra.

ガラスは脆性材料であるが、化学強化や風冷強化などの強化処理、あるいは、結晶化の手段により、破壊強度を向上させることができる。このような磁気ディスク用ガラス基板1の材料として好ましいガラスとしては、アルミノシリケートガラスを挙げることができる。アルミノシリケートガラスは、優れた平滑鏡面を実現することができるとともに、例えば、化学強化を行なうことによって、破壊強度を高めることができるからである。   Although glass is a brittle material, the fracture strength can be improved by a strengthening treatment such as chemical strengthening or air cooling strengthening or by means of crystallization. A preferable example of the material for the glass substrate 1 for magnetic disks is aluminosilicate glass. This is because the aluminosilicate glass can realize an excellent smooth mirror surface and can increase the breaking strength by, for example, chemical strengthening.

アルミノシリケートガラスとしては、SiO:62乃至75重量%、Al:5乃至15重量%、LiO:4乃至10重量%、NaO:4乃至12重量%、ZrO:5.5乃至15重量%を主成分として含有するとともに、NaOとZrOとの重量比が0.5乃至2.0、AlとZrOとの重量比が0.4乃至2.5である化学強化用ガラスが好ましい。 The aluminosilicate glass, SiO 2: 62 to 75 wt%, Al 2 O 3: 5 to 15 wt%, Li 2 O: 4 to 10 wt%, Na 2 O: 4 to 12 wt%, ZrO 2: 5 0.5 to 15 wt% as a main component, the weight ratio of Na 2 O to ZrO 2 is 0.5 to 2.0, and the weight ratio of Al 2 O 3 to ZrO 2 is 0.4 to 2 A glass for chemical strengthening of .5 is preferred.

また、このようなガラス基板において、ZrOの未溶解物が原因で生じるガラス基板表面の突起をなくすためには、SiOを57乃至74mol%、ZrOを0乃至2.8mol%、Alを3乃至15mol%、LiOを7乃至16mol%、NaOを4乃至14mol%含有する化学強化用ガラスを使用することが好ましい。このような組成のアルミノシリケートガラスは、化学強化することによって、抗折強度が増加し、圧縮応力層の深さも深く、ヌープ硬度にも優れている。 Further, in such a glass substrate, in order to eliminate the protrusion of the glass substrate surface undissolved product of ZrO 2 occurs causes a SiO 2 57 to 74 mol%, a ZrO 2 0 to 2.8 mol%, Al 2 It is preferable to use a chemically strengthening glass containing 3 to 15 mol% of O 3 , 7 to 16 mol% of LiO 2 and 4 to 14 mol% of Na 2 O. The aluminosilicate glass having such a composition has an increased bending strength, a deep compressive stress layer, and an excellent Knoop hardness when chemically strengthened.

なお、本発明において製造する磁気ディスク用ガラス基板1をなす材料は、前述したものに限定されるわけではない。すなわち、磁気ディスク用ガラス基板1の材質としては、前述したアルミノシリケートガラスの他に、例えば、ソーダライムガラス、ソーダアルミノケイ酸ガラス、アルミノボロシリケートガラス、ボロシリケートガラス、石英ガラス、チェーンシリケートガラス、または、結晶化ガラス等のガラスセラミックなどを挙げることができる。   In addition, the material which comprises the glass substrate 1 for magnetic discs manufactured in this invention is not necessarily limited to what was mentioned above. That is, as a material of the glass substrate 1 for magnetic disks, in addition to the aluminosilicate glass described above, for example, soda lime glass, soda aluminosilicate glass, aluminoborosilicate glass, borosilicate glass, quartz glass, chain silicate glass, or And glass ceramics such as crystallized glass.

また、本発明において、磁気ディスク用ガラス基板1は、端面の両側の稜部が面取りされたものであることが好ましい。磁気ディスク用ガラス基板1は、端面の稜部が面取りされていることにより、破壊強度が高まるからである。   In the present invention, it is preferable that the magnetic disk glass substrate 1 has chamfered ridges on both sides of the end surface. This is because the glass substrate 1 for a magnetic disk has a high crushing strength due to the chamfered edge portion of the end surface.

以下、本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法について、工程順に説明する。   Hereinafter, the manufacturing method of the glass substrate for magnetic disks which concerns on this invention is demonstrated in order of a process.

(1)形状加工工程
本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、まず、円板状のガラスディスクを形成する。このガラスディスクは、前述したように、アルミノシリケートガラスからなることが好ましい。このガラスディスクは、例えば、溶融させたガラス母材などから、プレス法などにより、製造する磁気ディスク用ガラス基板1の直径よりもやや大きな直径を有するように形成する。
(1) Shape processing process In the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs concerning this invention, a disk-shaped glass disc is formed first. As described above, the glass disk is preferably made of aluminosilicate glass. This glass disk is formed to have a diameter slightly larger than the diameter of the glass substrate 1 for magnetic disk to be manufactured, for example, from a melted glass base material by a pressing method or the like.

(2)ラッピング工程
この工程では、ガラスディスクの形状を整えるとともに、主表面をラッピング加工する。ラッピング加工では、両面ラッピング装置とアルミナ砥粒を用いて加工を行い、ガラスディスクの寸法精度と形状精度を所定のものとする。
(2) Lapping step In this step, the shape of the glass disk is adjusted and the main surface is lapped. In the lapping process, processing is performed using a double-sided lapping apparatus and alumina abrasive grains, and the dimensional accuracy and shape accuracy of the glass disk are set to predetermined values.

次に、このガラスディスクの中心部に、所定の大きさの中心孔を形成する。この中心孔は、磁気ディスク用ガラス基板1における中心孔2となるものであり、この中心孔2の内径よりもやや小径の内径の孔として形成する。また、この工程において、ガラスディスクの外周側端面部分及ぴ内周側端面部分に面取り加工を施す。   Next, a center hole of a predetermined size is formed at the center of the glass disk. This central hole is the central hole 2 in the magnetic disk glass substrate 1 and is formed as a hole having an inner diameter slightly smaller than the inner diameter of the central hole 2. Further, in this step, chamfering is performed on the outer peripheral side end surface portion and the inner peripheral side end surface portion of the glass disk.

(3)端面部分鏡面研磨工程
次に、ガラスディスクの内外周の端面部分を研磨し、鏡面加工する。この工程における研磨は、研磨剤を用いて、ブラシ等により行う。この工程において使用する研磨剤に含まれる研磨砥粒としては、ガラスディスクに対して研磨能力を奏する研磨砥粒であれば、特に制限なく使用することができる。例えば、酸化セリウム(CeO)砥粒、コロイダルシリカ砥粒、アルミナ砥粒、ダイヤモンド砥粒などを挙げることができ、特に、酸化セリウム研磨砥粒が好ましい。研磨砥粒の粒径については、適宜選択することができるが、例えば、0.5μm乃至3μm程度とすることが好ましい。また、研磨剤は、研磨砥粒を含む研磨剤に、水(純水)などの液体を加え、この研磨剤をスラリーとして用いることが好ましい。
(3) End surface partial mirror polishing step Next, the end surfaces of the inner and outer circumferences of the glass disk are polished and mirror-finished. Polishing in this step is performed with a brush or the like using an abrasive. The abrasive grains contained in the abrasive used in this step can be used without particular limitation as long as they are abrasive grains that exhibit a polishing ability with respect to a glass disk. Examples thereof include cerium oxide (CeO 2 ) abrasive grains, colloidal silica abrasive grains, alumina abrasive grains, and diamond abrasive grains, and cerium oxide abrasive grains are particularly preferable. The particle size of the abrasive grains can be selected as appropriate, but is preferably about 0.5 μm to 3 μm, for example. Moreover, it is preferable that a polishing agent adds liquid, such as water (pure water), to the polishing agent containing an abrasive grain, and uses this polishing agent as a slurry.

なお、この端面部分鏡面研磨工程は、ガラス基板を重ね合わせて端面研磨する際にガラス基板の主表面にキズ等が付くことを避けるため、後述する第一研磨工程の前、あるいは、第二研磨工程の前後に行うことが好ましい。この端面部分鏡面研磨工程により、ガラスディスクの内外周の端面部分の表面粗さは、Raで0.1μm以下、Rmaxで1μm以下の鏡面とされる。   In addition, this end surface partial mirror polishing step is performed before the first polishing step, which will be described later, or in the second polishing, in order to avoid scratches or the like on the main surface of the glass substrate when end surfaces are polished by overlapping the glass substrates. It is preferable to carry out before and after the process. By this end surface partial mirror polishing step, the surface roughness of the inner and outer peripheral end surfaces of the glass disk is a mirror surface with Ra of 0.1 μm or less and Rmax of 1 μm or less.

(4)第1研磨工程
次に、主表面研磨工程として、第1研磨工程を施す。この第1研磨工程は、前述のラッピング工程で主表面に残留したキズや歪みの除去を主たる目的とする。この工程は、両面研磨装置と、本発明に係る研磨布(硬質樹脂ポリッシャの研磨パッド)とを用いて行う。
(4) 1st grinding | polishing process Next, a 1st grinding | polishing process is given as a main surface grinding | polishing process. The first polishing process is mainly intended to remove scratches and distortions remaining on the main surface in the lapping process described above. This step is performed using a double-side polishing apparatus and the polishing cloth (a polishing pad of a hard resin polisher) according to the present invention.

図2は、両面研磨装置の構成を示す側面図である。   FIG. 2 is a side view showing the configuration of the double-side polishing apparatus.

両面研磨装置は、図2に示すように、上下一対の研磨定盤3,4を有し、これら研磨定盤3,4の互いに対向する主面部には、研磨布(硬質樹脂ポリッシャの研磨パッド)5,6が貼付されている。この両面研磨装置においては、各研磨定盤3,4に貼付された研磨布5,6間にガラスディスク7を設置し、各研磨定盤3,4のいずれか一方、または、双方を移動操作することにより、ガラスディスク7と研磨布5,6とを互いに摺接させて、このガラスディスク7の主表面を研磨することができる。   As shown in FIG. 2, the double-side polishing apparatus has a pair of upper and lower polishing surface plates 3, 4, and a polishing cloth (a polishing pad of a hard resin polisher) is disposed on the mutually opposing main surface portions of the polishing surface plates 3, 4. ) 5 and 6 are affixed. In this double-side polishing apparatus, a glass disk 7 is installed between the polishing cloths 5 and 6 attached to the polishing surface plates 3 and 4, and one or both of the polishing surface plates 3 and 4 are moved. By doing so, the main surface of this glass disk 7 can be grind | polished by making the glass disk 7 and the polishing cloths 5 and 6 mutually slide-contact.

図3は、研磨布の形状を示す斜視図である。   FIG. 3 is a perspective view showing the shape of the polishing pad.

研磨布5,6としては、不織布の繊維基材にポリウレタン樹脂を含浸させ、湿式凝固させて所定の形状に形成された研磨パッドを使用することができる。この研磨布5,6の硬度は、アスカーA硬度で、60乃至80程度とすることが好ましい。この研磨布5,6は、図3に示すように、ガラスディスクに対する摺接面8に、研磨液の流路となる溝9が形成されたものを用いる。この研磨布5,6における複数の溝9は、それぞれ1mm乃至3mmの幅を有し、互いにガラスディスク7の径以下の間隔、例えば、10mm乃至30mmの間隔を隔てて形成されていることが好ましい。   As the polishing cloths 5 and 6, a polishing pad formed by impregnating a nonwoven fabric fiber base material with a polyurethane resin and wet coagulating it into a predetermined shape can be used. The hardness of the polishing cloths 5 and 6 is preferably about 60 to 80 in terms of Asker A hardness. As shown in FIG. 3, the polishing cloths 5 and 6 are formed by forming grooves 9 serving as a flow path for the polishing liquid on the sliding contact surface 8 with respect to the glass disk. The plurality of grooves 9 in the polishing cloths 5 and 6 each have a width of 1 mm to 3 mm, and are preferably formed with an interval equal to or less than the diameter of the glass disk 7, for example, an interval of 10 mm to 30 mm. .

そして、本発明においては、この第1研磨工程の全行程において、研磨布5,6とガラスディスク7との相対的摺動方向は、図3中に矢印Aで示すように、溝9の溝方向に交差する方向とする。   In the present invention, in the entire process of the first polishing step, the relative sliding direction between the polishing cloths 5 and 6 and the glass disk 7 is as shown by an arrow A in FIG. The direction intersects the direction.

また、研磨布5,6としては、円形に形成され、または、複数の研磨布片を円形に配置したものを用いることができる。この場合には、研磨布5,6を円形の研磨定盤に貼り付け、この研磨定盤を回転駆動することにより、この研磨布5,6とガラスディスク7とを相対的に摺動させて、ガラスディスク7の主表面の研磨を行うことができる。   In addition, as the polishing cloths 5 and 6, those formed in a circular shape or a plurality of polishing cloth pieces arranged in a circular shape can be used. In this case, the polishing cloths 5 and 6 are affixed to a circular polishing surface plate, and the polishing surface plate is driven to rotate so that the polishing cloths 5 and 6 and the glass disk 7 are relatively slid. The main surface of the glass disk 7 can be polished.

図4は、円形に形成された研磨布の構成を示す平面図である。   FIG. 4 is a plan view showing a configuration of a polishing cloth formed in a circular shape.

研磨布5,6を円形に形成する場合においては、図4に示すように、この研磨布5,6に設けられる複数の溝9は、これら溝9の任意の箇所Bおける溝方向Cが、この研磨布5,6の中心と該任意の箇所Bとを結ぶ直線の法線Dに対して交差しているようにする。この研磨布5,6において、任意の箇所Bおける溝方向Cと、研磨布の中心と任意の箇所Bとを結ぶ直線の法線Dとのなす角度を、研磨布5,6の全領域において90°未満の略々一定の角度となるようにすると、溝9は、図4に示すように、螺旋形状を描いて形成されることとなる。   In the case where the polishing cloths 5 and 6 are formed in a circular shape, as shown in FIG. 4, the plurality of grooves 9 provided in the polishing cloths 5 and 6 have a groove direction C at an arbitrary position B of the grooves 9. It is made to cross | intersect with the normal line D of the straight line which connects the center of this polishing cloth 5 and 6 and this arbitrary location B. FIG. In the polishing cloths 5 and 6, the angle formed by the groove direction C at an arbitrary position B and the normal line D connecting the center of the polishing cloth and the arbitrary position B is set in the entire region of the polishing cloths 5 and 6. When the angle is substantially constant less than 90 °, the groove 9 is formed in a spiral shape as shown in FIG.

図5は、円形に形成された研磨布の構成の他の例を示す平面図である。   FIG. 5 is a plan view showing another example of the configuration of the polishing cloth formed in a circular shape.

また、この研磨布5,6において、任意の箇所Bおける溝方向Cと、研磨布の中心と任意の箇所Bとを結ぶ直線の法線Dとのなす角度を、研磨布5,6の全領域において90°となるようにすると、溝9は、図5に示すように、放射形状を描いて形成されることとなる。   Further, in this polishing cloth 5, 6, the angle formed by the groove direction C at an arbitrary location B and the straight line normal line D connecting the center of the polishing cloth and the arbitrary location B is set to the entire width of the polishing cloth 5, 6. If the angle is 90 ° in the region, the groove 9 is formed in a radial shape as shown in FIG.

図6は、円形に形成された研磨布の構成のさらに他の例を示す平面図である。   FIG. 6 is a plan view showing still another example of the configuration of the polishing cloth formed in a circular shape.

さらに、この研磨布5,6においては、任意の箇所Bおける溝方向Cと、研磨布の中心と任意の箇所Bとを結ぶ直線の法線Dとは、研磨布5,6の全領域において一定の角度をなす必要はなく、図6に示すように、任意の箇所ごとに異なる角度であっても、これら溝方向Cと法線Dとが交差していればよい。   Further, in the polishing cloths 5 and 6, the groove direction C at an arbitrary position B and the straight line normal line D connecting the center of the polishing cloth and the arbitrary position B are in the entire region of the polishing cloths 5 and 6. It is not necessary to make a certain angle, and as shown in FIG. 6, it is only necessary that the groove direction C and the normal line D intersect even if the angle is different for each arbitrary position.

図7は、複数の研磨布片が円形に形成された研磨布の構成を示す平面図である。   FIG. 7 is a plan view showing a configuration of an abrasive cloth in which a plurality of abrasive cloth pieces are formed in a circular shape.

図8は、複数の研磨布片が円形に形成された研磨布の構成の他の例を示す平面図である。   FIG. 8 is a plan view showing another example of a configuration of an abrasive cloth in which a plurality of abrasive cloth pieces are formed in a circular shape.

そして、この研磨布5,6は、複数の研磨布片を配置して円形とする場合においては、図7及び図8に示すように、各研磨布片として、ガラスディスクの表面に対する摺接面8に格子状に形成された溝9を有するものを用いることができる。このとき、各溝9の溝方向は、この研磨布5,6が形成する円形の周方向に対して交差する方向とする。この場合において、各研磨布片は、図7に示すように、全てを扇形のものとしてもよいし、また、図8に示すように、扇形と長方形とを組み合わせたものものとしてもよい。   And when this abrasive cloth 5 and 6 arrange | positions several abrasive cloth pieces and makes it circular, as shown in FIG.7 and FIG.8, as each abrasive cloth piece, the sliding contact surface with respect to the surface of a glass disk 8 having grooves 9 formed in a lattice shape can be used. At this time, the groove direction of each groove 9 is a direction intersecting with the circular circumferential direction formed by the polishing cloths 5 and 6. In this case, all the polishing cloth pieces may be fan-shaped as shown in FIG. 7, or may be a combination of a fan-shape and a rectangle as shown in FIG.

図9は、複数の研磨布片が円形に形成された研磨布の構成のさらに他の例を示す平面図である。   FIG. 9 is a plan view showing still another example of a configuration of a polishing cloth in which a plurality of polishing cloth pieces are formed in a circular shape.

複数の研磨布片を配置して円形の研磨布5,6とする場合において、各研磨布片として格子状に形成された溝9を有するものを用いるにあたり、これら溝9のなす格子形状は、図8に示すように、直交する格子形状でもよいし、また、図9に示すように、斜行する格子形状であってもよい。この場合においても、各研磨布片における各溝9の溝方向は、この研磨布5,6が形成する円形の周方向に対して交差する方向とする。   In the case where a plurality of polishing cloth pieces are arranged to form circular polishing cloths 5 and 6, when using each of the polishing cloth pieces having grooves 9 formed in a lattice shape, the lattice shape formed by these grooves 9 is: As shown in FIG. 8, it may be an orthogonal lattice shape, or may be an oblique lattice shape as shown in FIG. Also in this case, the groove direction of each groove 9 in each polishing cloth piece is a direction intersecting the circular circumferential direction formed by the polishing cloths 5 and 6.

なお、直交する格子形状に形成された溝9を有する研磨布片としては、長尺状のシート状に形成された汎用の研磨布を適宜に切断することによって得ることができる。   In addition, as a polishing cloth piece which has the groove | channel 9 formed in the orthogonal | lattice grid | lattice shape, it can obtain by cut | disconnecting the general purpose polishing cloth formed in the elongate sheet shape suitably.

そして、この第1研磨工程においては、遊星歯車機構を用いてガラスディスク7の研磨を行うようにしてもよい。   And in this 1st grinding | polishing process, you may make it grind | polish the glass disk 7 using a planetary gear mechanism.

図10は、遊星歯車機構の構成を示す斜視図である。   FIG. 10 is a perspective view showing the configuration of the planetary gear mechanism.

遊星歯車機構は、図10に示すように、一方の研磨定盤10の中心部に設けられた太陽歯車11と、この研磨定盤10の外縁に設けられた内歯車12と、ガラスディスク7を保持する円板状のキャリア13とからなる。このキャリア13は、外周部に、太陽歯車11及び内歯車12に噛合する歯部14を有している。このキャリア13は、ガラスディスク7よりもやや薄い円板状に形成され、このガラスディスク7の外径よりもやや大きい内径の少なくとも一の円形の透孔部15を有している。このキャリア13は、透孔部15内にガラスディスク7を位置させることにより、このガラスディスク7を保持する。また、この遊星歯車機構は、一方の研磨定盤10に対向する他方の研磨定盤16を有している。   As shown in FIG. 10, the planetary gear mechanism includes a sun gear 11 provided at the center of one polishing surface plate 10, an internal gear 12 provided on the outer edge of the polishing surface plate 10, and a glass disk 7. It consists of a disk-shaped carrier 13 to be held. The carrier 13 has a tooth portion 14 that meshes with the sun gear 11 and the internal gear 12 on the outer peripheral portion. The carrier 13 is formed in a disk shape that is slightly thinner than the glass disk 7, and has at least one circular through-hole portion 15 having an inner diameter slightly larger than the outer diameter of the glass disk 7. The carrier 13 holds the glass disk 7 by positioning the glass disk 7 in the through hole portion 15. Further, the planetary gear mechanism has the other polishing surface plate 16 facing the one polishing surface plate 10.

この遊星歯車機構においては、まず、一方、または、両方の研磨定盤10,16の主面部に研磨布5,6を貼付する。そして、キャリア13の透孔部15内にガラスディスク7を保持させた状態で、このキャリア13の外周部の歯部14を太陽歯車11及び内歯車12に噛合させる。そして、このキャリア13及びガラスディスク7を各研磨定盤10,16によって挟持させることにより、ガラスディスク7は、両側の主表面を各研磨定盤10,16によって保持され、周縁部をキャリア13の透孔部15の内縁部に保持された状態となる。   In this planetary gear mechanism, first, polishing cloths 5 and 6 are attached to the main surface portions of one or both polishing surface plates 10 and 16. Then, with the glass disk 7 held in the through-hole portion 15 of the carrier 13, the tooth portion 14 on the outer peripheral portion of the carrier 13 is engaged with the sun gear 11 and the internal gear 12. Then, by sandwiching the carrier 13 and the glass disk 7 by the polishing surface plates 10, 16, the glass disk 7 is held on the main surfaces on both sides by the polishing surface plates 10, 16 and the peripheral portion of the carrier 13. The state is held at the inner edge of the through hole 15.

そして、この遊星歯車機構において、研磨定盤10,16に貼付された研磨布5,6とガラスディスク7の主表面との間に研磨剤を供給しつつ、太陽歯車11及び内歯車12の両方、または、いずれか一方を回転駆動することにより、研磨布5,6とガラスディスク7の主表面とが相対的に摺動され、このガラスディスク7の主表面の研磨が行われる。また、このとき、研磨定盤10,16の両方、または、いずれか一方も、回転駆動することが好ましい。   In this planetary gear mechanism, both the sun gear 11 and the internal gear 12 are supplied while supplying an abrasive between the polishing cloths 5 and 6 affixed to the polishing surface plates 10 and 16 and the main surface of the glass disk 7. Alternatively, by rotating one of them, the polishing cloths 5 and 6 and the main surface of the glass disk 7 slide relative to each other, and the main surface of the glass disk 7 is polished. At this time, it is preferable that both or one of the polishing surface plates 10 and 16 is rotationally driven.

この第1研磨工程において使用する研磨剤に含まれる研磨砥粒としては、ガラスディスク7に対して研磨能力を奏する研磨砥粒であれば、特に制限なく使用することができる。例えば、酸化セリウム(CeO)砥粒、コロイダルシリカ砥粒、アルミナ砥粒、ダイヤモンド砥粒などを挙げることができるが、なかでも、酸化セリウム研磨砥粒が好ましい。 As the abrasive grains contained in the abrasive used in the first polishing process, any abrasive grains capable of polishing the glass disk 7 can be used without particular limitation. Examples include cerium oxide (CeO 2 ) abrasive grains, colloidal silica abrasive grains, alumina abrasive grains, and diamond abrasive grains. Among them, cerium oxide abrasive grains are preferable.

研磨砥粒の粒径については、適宜選択することができるが、例えば、1.5μm乃至5μm程度とすることが好ましい。   The particle size of the abrasive grains can be selected as appropriate, but is preferably about 1.5 μm to 5 μm, for example.

また、研磨剤は、乾式(粉体砥粒)であっても、湿式(遊離砥粒)であってもよい。研磨作用を好ましく実現する観点からは、湿式(遊離砥粒)とすることが好ましい。研磨剤を湿式(遊離砥粒)として用いるには、磁性粒子と研磨砥粒とを含む研磨剤に、水(純水)などの液体を加え、この研磨剤をスラリーとして用いることが好ましい。   The abrasive may be dry (powder abrasive) or wet (free abrasive). From the viewpoint of preferably realizing the polishing action, wet (free abrasive grains) is preferable. In order to use the abrasive as wet (free abrasive grains), it is preferable to add a liquid such as water (pure water) to the abrasive containing magnetic particles and abrasive grains and use the abrasive as a slurry.

この遊星歯車機構において、研磨剤は、研磨布5,6に設けられた溝9内を流路として、これら研磨布5,6の研磨領域の全域に効率良く供給される。また、この遊星歯車機構においては、各研磨定盤10,16がガラスディスク7を保持する圧力を調整することにより、研磨代を調整することができる。この第1研磨工程においては、後述する第2研磨工程に比較して、研磨代を大きくして、研磨効率を高めることが望ましい。なお、遊星歯車機構を用いることにより、一度に大量のガラスディスク7について、効率良く研磨を行うことができる。   In this planetary gear mechanism, the abrasive is efficiently supplied to the entire polishing area of the polishing cloth 5, 6 using the inside of the groove 9 provided in the polishing cloth 5, 6 as a flow path. Further, in this planetary gear mechanism, the polishing allowance can be adjusted by adjusting the pressure at which the polishing surface plates 10 and 16 hold the glass disk 7. In this first polishing step, it is desirable to increase the polishing allowance and increase the polishing efficiency as compared to the second polishing step described later. By using the planetary gear mechanism, it is possible to efficiently polish a large number of glass disks 7 at a time.

この遊星歯車機構においては、研磨布5,6に対するガラスディスク7の移動軌跡は、サイクロイド曲線、または、サイクロイド曲線と円弧とが合成された曲線となる。この移動軌跡は、太陽歯車11、内歯車12、各研磨定盤10,16の回転方向及び回転速度の比率、並びに、太陽歯車11とキャリア13との径の比率によって変化する。   In this planetary gear mechanism, the movement trajectory of the glass disk 7 with respect to the polishing cloths 5 and 6 is a cycloid curve or a curve in which a cycloid curve and an arc are combined. This movement trajectory varies depending on the ratio of the rotation direction and the rotation speed of the sun gear 11, the internal gear 12, and each polishing surface plate 10, 16 and the ratio of the diameters of the sun gear 11 and the carrier 13.

研磨効率や研磨代の均一性を考慮すると、太陽歯車11及び内歯車12の回転速度に対して、研磨定盤10,16の両方、または、いずれか一方の回転速度を十分に早くすることにより、研磨布5,6に対するガラスディスク7の移動軌跡を、この研磨布5,6の周方向の成分が支配的となっているものとすることが好ましい。この場合、前述のような溝9を有する研磨布5,6を使用した場合に、この研磨布5,6とガラスディスク7との相対的摺動方向は、この第1研磨工程の全行程において、溝9の溝方向に交差する方向となる。   In consideration of the polishing efficiency and the uniformity of the polishing allowance, the rotation speeds of either or both of the polishing surface plates 10 and 16 are sufficiently increased with respect to the rotation speeds of the sun gear 11 and the internal gear 12. The movement trajectory of the glass disk 7 with respect to the polishing cloths 5 and 6 is preferably such that the circumferential components of the polishing cloths 5 and 6 are dominant. In this case, when the polishing cloths 5 and 6 having the grooves 9 as described above are used, the relative sliding direction between the polishing cloths 5 and 6 and the glass disk 7 is determined in the entire process of the first polishing process. The direction intersects the groove direction of the groove 9.

(5)第2研磨工程
次に、主表面の鏡面研磨工程として、第2研磨工程を施す。この第2研磨工程は、主表面を鏡面状に仕上げることを目的とする。この第2研磨工程は、第1研磨工程と同様に、両面研磨装置と、研磨布(軟質発泡樹脂ポリッシャ)とを用いて行うことができ、また、前述のような遊星歯車機構を用いて行うこともできる。
(5) Second Polishing Step Next, a second polishing step is performed as a mirror polishing step for the main surface. The purpose of this second polishing step is to finish the main surface into a mirror surface. Similar to the first polishing step, the second polishing step can be performed using a double-side polishing apparatus and a polishing cloth (soft foam resin polisher), and is also performed using the planetary gear mechanism as described above. You can also.

この第2研磨工程においては、研磨布(軟質発泡樹脂ポリッシャ)としては、ガラスディスクに対する摺接面が、平坦、すなわち、溝のない状態であるものを使用する。また、この第2研磨工程における研磨布は、第1研磨工程において使用する研磨布に比較して、軟質の材料からなるものとなっている。   In the second polishing step, a polishing cloth (soft foam resin polisher) having a flat sliding surface with respect to the glass disk, that is, a state having no groove is used. Further, the polishing cloth in the second polishing process is made of a soft material as compared with the polishing cloth used in the first polishing process.

したがって、この第2研磨工程においては、前述の第1研磨工程に比較して、研磨代が少なく、かつ、より高度の鏡面加工が行われる。   Accordingly, in this second polishing step, the polishing allowance is small and higher-level mirror finishing is performed as compared with the first polishing step described above.

この第2研磨工程において使用する研磨剤としては、第1研磨工程で用いる酸化セリウム砥粒に比ぺて微細な酸化セリウム砥粒を用いることが好ましい。この酸化セリウム砥粒の粒径は、例えば、0.1μm乃至1μm程度とすることができる。   As the polishing agent used in the second polishing step, it is preferable to use fine cerium oxide abrasive grains as compared with the cerium oxide abrasive particles used in the first polishing step. The particle diameter of the cerium oxide abrasive grains can be set to, for example, about 0.1 μm to 1 μm.

(6)第1洗浄工程
第二研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄する。なお、各洗浄槽には、超音波を印加することが好ましい。
(6) 1st washing | cleaning process The glass substrate which finished the 2nd grinding | polishing process is immersed in each washing tank of neutral detergent, neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) sequentially. And wash. In addition, it is preferable to apply an ultrasonic wave to each washing tank.

(7)化学強化工程
次に、前述の研削及び研磨工程を終えたガラスディスクに化学強化を施す。化学強化は、例えば、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を400°C程度に加熱し、300°Cに予熱された洗浄済みのガラスディスクを約3時間程度浸漬して行う。この浸漬の際に、ガラスディスクの表面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラスディスクが端面で保持されるようにホルダーに収納した状態で行うことが好ましい。
(7) Chemical Strengthening Step Next, chemical strengthening is performed on the glass disk after the above-described grinding and polishing steps. For chemical strengthening, for example, a chemical strengthening solution prepared by mixing potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) is prepared, and this chemical strengthening solution is heated to about 400 ° C and preheated to 300 ° C. The glass disk is immersed for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass disk, it is preferable to carry out in a state in which the plurality of glass disks are housed in a holder so as to be held by the end surfaces.

このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラスディスク表層のリチウムイオン、ナトリウムイオンが、化学強化溶液中のナトリウムイオン、カリウムイオンにそれぞれ置換され、ガラスディスクが強化される。   Thus, by immersing in a chemical strengthening solution, the lithium ion and sodium ion of a glass disk surface layer are each substituted by the sodium ion and potassium ion in a chemical strengthening solution, and a glass disk is strengthened.

(8)第2洗浄工程
化学強化処理を終えたガラスディスクを、40°C程度に加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行い、さらに、硫酸洗浄を終えたガラスディスクを、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄する。なお、各洗浄槽には、超音波を印加することが好ましい。
(8) Second cleaning step The glass disk that has been subjected to the chemical strengthening treatment is cleaned by immersing it in concentrated sulfuric acid heated to about 40 ° C. Further, the glass disk that has been cleaned with sulfuric acid is cleaned with pure water and pure water. , IPA (isopropyl alcohol) and IPA (steam-dried) are sequentially immersed in each cleaning tank for cleaning. In addition, it is preferable to apply an ultrasonic wave to each washing tank.

なお、本発明において使用するガラス基板をなす材料は、前述したものに限定されるわけではない。すなわち、ガラス基板の材質としては、前述したアルミノシリケートガラスの他に、例えば、ソーダライムガラス、ソーダアルミノケイ酸ガラス、アルミノボロシリケートガラス、ボロシリケートガラス、石英ガラス、チェーンシリケートガラス、または、結晶化ガラス等のガラスセラミックなどを挙げることができる。   In addition, the material which comprises the glass substrate used in this invention is not necessarily limited to what was mentioned above. That is, as the material of the glass substrate, in addition to the aluminosilicate glass described above, for example, soda lime glass, soda aluminosilicate glass, aluminoborosilicate glass, borosilicate glass, quartz glass, chain silicate glass, or crystallized glass Examples thereof include glass ceramics.

(9)磁気ディスクの製造工程
このようにして作成された磁気ディスク用ガラス基板を用いて、この磁気ディスク用ガラス基板の主表面部上に少なくとも磁性層を形成することにより、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリティー障害の防止が図られた磁気ディスクを構成することができる。
(9) Manufacturing process of magnetic disk By using the glass substrate for magnetic disk thus prepared, at least a magnetic layer is formed on the main surface portion of the glass substrate for magnetic disk. It is possible to configure a magnetic disk in which the parity failure is prevented.

磁性層としては、高い異方性磁場(Hk)を備えるCo−Pt系合金磁性層が好ましい。また、磁気ディスク用ガラス基板と磁性層との間には、磁性層の結晶配向性やグレインの均一化、微細化を図る観点から、適宜下地層を形成するようにしてもよい。これら下地層及び磁性層の成膜方法としては、例えば、DCマグネトロンスパッタリング法を用いることができる。   As the magnetic layer, a Co—Pt alloy magnetic layer having a high anisotropic magnetic field (Hk) is preferable. In addition, an underlayer may be appropriately formed between the magnetic disk glass substrate and the magnetic layer from the viewpoint of achieving crystal orientation of the magnetic layer and making the grains uniform and fine. As a method for forming these underlayer and magnetic layer, for example, a DC magnetron sputtering method can be used.

また、磁性層上には、磁性層を保護するための保護層を設けることが好ましい。保護層の材料としては、炭素系保護層を挙げることができる。炭素系保護層としては水素化炭素、窒素化炭素を用いることができる。この保護層の形成には、プラズマCVD法、または、DCマグネトロンスパッタリング法を用いることができる。   Moreover, it is preferable to provide a protective layer for protecting the magnetic layer on the magnetic layer. Examples of the material for the protective layer include a carbon-based protective layer. As the carbon-based protective layer, hydrogenated carbon or nitrogenated carbon can be used. For the formation of this protective layer, plasma CVD or DC magnetron sputtering can be used.

さらに、保護層上には、磁気ヘッドからの衝撃を緩和するための潤滑層を形成することが好ましい。潤滑層としては、パーフルオロポリエーテル系潤滑層を挙げることができる。特に、保護層との親和性に優れる水酸基を具備するアルコール変性パーフルオロポリエーテル潤滑層が好ましい。この潤滑層は、ディップ法を用いて形成することができる。   Furthermore, it is preferable to form a lubricating layer for reducing the impact from the magnetic head on the protective layer. An example of the lubricating layer is a perfluoropolyether lubricating layer. In particular, an alcohol-modified perfluoropolyether lubricating layer having a hydroxyl group having excellent affinity with the protective layer is preferable. This lubricating layer can be formed using a dip method.

以下、本発明の実施例について、詳細に説明する。   Examples of the present invention will be described in detail below.

この実施例1においては、以下の工程を経て磁気ディスク用ガラス基板を製造した。   In Example 1, a magnetic disk glass substrate was manufactured through the following steps.

(1)形状加工工程
溶融させたアルミノシリケートガラスをプレス加工によりディスク状に成型し、ガラスディスクを得た。なお、アルミノシリケートガラスとしては、SiOを57乃至74mol%、ZrOを0乃至2.8mol%、Alを3乃至15mol%、LiOを7乃至16mol%、NaOを4乃至14mol%を主成分として含有する化学強化用ガラスを使用した。
(1) Shape processing step The molten aluminosilicate glass was molded into a disk shape by press working to obtain a glass disk. As the aluminosilicate glass, SiO 2 is 57 to 74 mol%, ZrO 2 is 0 to 2.8 mol%, Al 2 O 3 is 3 to 15 mol%, LiO 2 is 7 to 16 mol%, and Na 2 O is 4 to 4%. A chemically strengthened glass containing 14 mol% as a main component was used.

(2)ラッピング工程
次に、得られたガラスディスクの主表面をラッピング加工した。ラッピング加工では両面ラッピング装置とアルミナ砥粒を用いて加工を行い、ガラスディスクの寸法精度と形状精度を所定とする。次いで、砥石を用いて研削することによりガラスディスクの中心部に円孔を形成するとともに、外周側端面及ぴ内周側端面に所定の面取り加工を施した。
(2) Lapping process Next, the main surface of the obtained glass disk was lapped. In the lapping process, processing is performed using a double-sided lapping apparatus and alumina abrasive grains, and the dimensional accuracy and shape accuracy of the glass disk are set to be predetermined. Next, a circular hole was formed at the center of the glass disk by grinding with a grindstone, and a predetermined chamfering process was performed on the outer peripheral side end surface and the inner peripheral side end surface.

得られたガラスディスクの内径は7mm、外径は27.4mm、板厚は0.381mmであり、1.0インチ型磁気ディスク用ガラス基板の所定寸法であることを確認した。   The obtained glass disk had an inner diameter of 7 mm, an outer diameter of 27.4 mm, a plate thickness of 0.381 mm, and was confirmed to be a predetermined size of a glass substrate for a 1.0 inch type magnetic disk.

ガラスディスクの表面形状を観察したところ、主表面の表面粗さはRmaxで2μm、Raで0.3μm程度であった。端面の表面粗さを観察したところ、側面部及び面取り面ともにRmaxで14μm、Raで0.5μmであった。   When the surface shape of the glass disk was observed, the surface roughness of the main surface was about 2 μm in Rmax and about 0.3 μm in Ra. When the surface roughness of the end face was observed, both the side surface portion and the chamfered surface were 14 μm in Rmax and 0.5 μm in Ra.

(3)端面部分鏡面研磨工程
まず、ガラスディスクの外周側端面について、ブラシ研磨方法により鏡面研磨を行った。このとき、研磨砥粒としては酸化セリウム砥粒を含むスラリー(遊離砥粒)を用いた。次に内周側端面についても、ブラシ研磨方法により鏡面研磨を行った。そして、端面部分鏡面研磨を終えたガラスディスクを水洗浄した。
(3) End surface partial mirror polishing step First, the outer peripheral side end surface of the glass disk was subjected to mirror polishing by a brush polishing method. At this time, slurry (free abrasive grains) containing cerium oxide abrasive grains was used as the abrasive grains. Next, the inner peripheral side end face was also subjected to mirror polishing by a brush polishing method. And the glass disk which finished the end surface partial mirror polishing was washed with water.

(4)第1研磨工程
次に、主表面研磨工程として、第1研磨工程を施した。この第1研磨工程においては、前述した研磨布(硬質樹脂ポリッシャの研磨パッド)を用いて、遊星歯車機構により主表面研磨を行った。研磨剤としては、酸化セリウム砥粒を用いた。
(4) 1st grinding | polishing process Next, the 1st grinding | polishing process was performed as a main surface grinding | polishing process. In the first polishing step, main surface polishing was performed by a planetary gear mechanism using the above-described polishing cloth (polishing pad of hard resin polisher). As the abrasive, cerium oxide abrasive grains were used.

第一研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。   The glass substrate after the first polishing step was sequentially immersed in each cleaning bath of neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) to be cleaned.

(5)第2研磨工程
次に、主表面の鏡面研磨工程として、第2研磨工程を施した。この第2研磨工程においては、研磨布(軟質発泡樹脂ポリッシャ)を用いて、遊星歯車機構により主表面の鏡面研磨を行った。研磨剤としては、第1研磨工程で用いた酸化セリウム砥粒に比ぺて微細な酸化セリウム砥粒を用いた。
(5) Second Polishing Step Next, a second polishing step was performed as a mirror polishing step for the main surface. In this second polishing step, mirror polishing of the main surface was performed by a planetary gear mechanism using a polishing cloth (soft foam resin polisher). As the polishing agent, fine cerium oxide abrasive grains were used as compared with the cerium oxide abrasive grains used in the first polishing step.

(6)第1洗浄工程
第二研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。なお、各洗浄槽には超音波を印加した。
(6) 1st washing | cleaning process The glass substrate which finished the 2nd grinding | polishing process is immersed in each washing tank of neutral detergent, neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) sequentially. And washed. In addition, ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

(7)化学強化工程
次に、前述の研削及び研磨工程を終えたガラス基板に化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を400°Cに加熱し、300°Cに予熱された洗浄済みのガラス基板を約3時間浸漬して行った。この浸漬の際に、ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラス基板が端面で保持されるようにホルダーに収納した状態で行った。
(7) Chemical strengthening process Next, the glass substrate which finished the above-mentioned grinding and polishing process was chemically strengthened. For chemical strengthening, a chemically strengthened solution prepared by mixing potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) is prepared, and this chemically strengthened solution is heated to 400 ° C. and preheated to 300 ° C. Was immersed for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, the plurality of glass substrates were stored in a holder so as to be held by the end surfaces.

このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラス基板表層のリチウムイオン、ナトリウムイオンが、化学強化溶液中のナトリウムイオン、カリウムイオンにそれぞれ置換され、ガラス基板が強化される。   Thus, by immersing in the chemical strengthening solution, lithium ions and sodium ions on the surface of the glass substrate are replaced with sodium ions and potassium ions in the chemical strengthening solution, respectively, and the glass substrate is strengthened.

ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の厚さは、約100乃至200μmであった。   The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 to 200 μm.

化学強化を終えたガラス基板を、20°Cの水槽に浸漬して急冷し、約10分間維持した。   The glass substrate that had been chemically strengthened was immersed in a 20 ° C. water bath for rapid cooling and maintained for about 10 minutes.

(8)第2洗浄工程
化学強化処理を終えたガラス基板を、約40°Cに加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行った。さらに、硫酸洗浄を終えたガラス基板を、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。なお、各洗浄槽には超音波を印加した。
(8) 2nd washing | cleaning process The glass substrate which finished the chemical strengthening process was immersed in the concentrated sulfuric acid heated to about 40 degreeC, and was wash | cleaned. Furthermore, the glass substrate that had been subjected to the sulfuric acid cleaning was sequentially immersed in each cleaning tank of pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) and cleaned. In addition, ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

前述の工程を経て得られた磁気ディスク用ガラス基板の円孔の内周側端面の表面粗さは、面取り面でRmax0.4μm、Ra0.04μm、側面部でRmax0.4μm、Ra0.05μmであった。外周端面における表面粗さRaは、面取り面で0.04μm、側面部で、0.07μmであった。このように、内周側端面は、外周側端面と同様に、鏡面状に仕上がっていることを確認した。   The surface roughness of the inner peripheral side end surface of the circular hole of the magnetic disk glass substrate obtained through the above-described steps was Rmax 0.4 μm and Ra 0.04 μm on the chamfered surface, and Rmax 0.4 μm and Ra 0.05 μm on the side surface. It was. The surface roughness Ra at the outer peripheral end surface was 0.04 μm at the chamfered surface and 0.07 μm at the side surface portion. As described above, it was confirmed that the inner peripheral side end face was finished in a mirror surface like the outer peripheral side end face.

また、ガラス基板の主面部の表面粗さRaは、0.5nm(AFMで測定)であった。電子顕微鏡(4000倍)で端面表面を観察したところ、側面部及び面取り面は鏡面状態であった。また、円孔の内周側端面である側面部及び面取り面に異物やクラックは認められず、ガラス基板の表面についても、異物やサーマルアスペリティの原因となるパーティクルは認められなかった。さらに、抗折強度試験機(島津オートグラフDDS−2000)を用いて抗折強度を測定したところ、12乃至20kgであった。なお、化学強化レベルを変化させて同様に抗折強度を測定したところ、約10乃至25kgであった。   Further, the surface roughness Ra of the main surface portion of the glass substrate was 0.5 nm (measured by AFM). When the end surface was observed with an electron microscope (4000 times), the side surface and the chamfered surface were in a mirror state. Further, no foreign matter or cracks were observed on the side surface and the chamfered surface, which are the inner peripheral side end faces of the circular holes, and no foreign matter or particles causing thermal asperity were found on the surface of the glass substrate. Furthermore, when the bending strength was measured using a bending strength tester (Shimadzu Autograph DDS-2000), it was 12 to 20 kg. In addition, when the bending strength was similarly measured by changing the chemical strengthening level, it was about 10 to 25 kg.

〔比較例1〕
第1研磨工程において、溝方向が周方向となっている部分を有する溝が形成された円形の研磨布を用いて研磨し、他の工程については前述の実施例1と同様として、磁気ディスク用ガラス基板を作成した。
[Comparative Example 1]
In the first polishing step, polishing is performed using a circular polishing cloth in which a groove having a groove direction in the circumferential direction is formed, and the other steps are the same as in the first embodiment, and the magnetic disk is used. A glass substrate was created.

〔実施例1と比較例1との対比〕
実施例1により作成された磁気ディスク用ガラス基板と、比較例1により作成された磁気ディスク用ガラス基板とについて、主面部の形状についてのデータを比較した。主面部の形状としては、表面うねり(Wa)を測定し、比較した。表面うねり(Wa)は、磁気ディスク用ガラス基板の主表面の所定領域(記録領域となる円環状領域)について、非接触レーザ干渉法によって測定した値から、以下の定義によって算出された値を用いた。
[Contrast between Example 1 and Comparative Example 1]
The data on the shape of the main surface portion of the glass substrate for magnetic disk prepared in Example 1 and the glass substrate for magnetic disk prepared in Comparative Example 1 were compared. As the shape of the main surface portion, surface waviness (Wa) was measured and compared. For the surface waviness (Wa), a value calculated according to the following definition from a value measured by a non-contact laser interferometry for a predetermined region (an annular region serving as a recording region) on the main surface of the glass substrate for a magnetic disk is used. It was.

Wa=(1/N)Σi=1 |Xi−X ̄|
ただし、この定義において、Nは、測定ポイント数であり、Xiは、測定ポイント値、すなわち、測定ポイントにおける基準線から主表面までの高さであり、X ̄は、測定ポイント値の平均値である。
Wa = (1 / N) Σ i = 1 N | Xi−X ̄ |
However, in this definition, N is the number of measurement points, Xi is the measurement point value, that is, the height from the reference line to the main surface at the measurement point, and X ̄ is the average value of the measurement point values. is there.

図11は、表面うねり(Wa(nm))のデータを示すグラフである。   FIG. 11 is a graph showing data of surface waviness (Wa (nm)).

その結果、図11に示すように、実施例1により作成された磁気ディスク用ガラス基板においては、20枚の磁気ディスク用ガラス基板について、表面うねり(Wa)の平均値が0.318nmであったのに対し、比較例1により作成された磁気ディスク用ガラス基板においては、20枚の磁気ディスク用ガラス基板について、表面うねり(Wa)の平均値が0.567nmであった。   As a result, as shown in FIG. 11, in the glass substrate for magnetic disk produced by Example 1, about 20 glass substrates for magnetic disks, the average value of surface waviness (Wa) was 0.318 nm. On the other hand, in the glass substrate for magnetic disk produced by Comparative Example 1, the average value of the surface waviness (Wa) was 0.567 nm for the 20 glass substrates for magnetic disk.

すなわち、実施例1により作成された磁気ディスク用ガラス基板のほうが、比較例1により作成された磁気ディスク用ガラス基板よりも、表面うねり(Wa)が少ないことが確認された。   That is, it was confirmed that the glass substrate for magnetic disk produced by Example 1 had less surface waviness (Wa) than the glass substrate for magnetic disk produced by Comparative Example 1.

なお、実施例1のガラス基板と比較例1のガラス基板との表面粗さを比較した。測定は、原子間カ顕微鏡を用いて、ガラス基板の主表面の所定領域(記録領域となる円環状領域における縦5μm横5μmの矩形状の微小領域)について行った。その結果、実施例1のガラス基板と比較例1のガラス基板は、ともに、表面粗さは同等(表面粗さRaで略0.5nm)であった。すなわち、実施例1のガラス基板と比較例1のガラス基板は、表面粗さは略同等であるが、表面うねりについては、比較例1のガラス基板の方が、略2倍程度大きくなっていた。   In addition, the surface roughness of the glass substrate of Example 1 and the glass substrate of Comparative Example 1 was compared. The measurement was performed on a predetermined region on the main surface of the glass substrate (a rectangular minute region having a length of 5 μm and a width of 5 μm in an annular region serving as a recording region) using an atomic microscope. As a result, both the glass substrate of Example 1 and the glass substrate of Comparative Example 1 had the same surface roughness (surface roughness Ra was approximately 0.5 nm). That is, the glass substrate of Example 1 and the glass substrate of Comparative Example 1 have substantially the same surface roughness, but the surface waviness of the glass substrate of Comparative Example 1 was approximately twice as large. .

この実施例2では、以下の工程を経て、磁気ディスクを製造した。   In Example 2, a magnetic disk was manufactured through the following steps.

前述して得た磁気ディスク用ガラス基板の両主表面に、静止対向型のDCマグネトロンスパッタリング装置を用いて、Al−Ru合金第1下地層、Cr−Mo合金第2下地層、Co−Cr−Pt−B合金磁性層、水素化炭素保護層を順次成膜した。次にアルコール変性パーフロロポリエーテル潤滑層をディップ法で成膜した。この様にして磁気ディスクを得た。   On both main surfaces of the glass substrate for magnetic disk obtained as described above, an Al—Ru alloy first underlayer, a Cr—Mo alloy second underlayer, Co—Cr— were formed using a stationary opposed DC magnetron sputtering apparatus. A Pt—B alloy magnetic layer and a hydrogenated carbon protective layer were sequentially formed. Next, an alcohol-modified perfluoropolyether lubricating layer was formed by dipping. In this way, a magnetic disk was obtained.

〔比較例2〕
前述の比較例1において作成された磁気ディスク用ガラス基板を用いて、前述の実施例2と同様の工程により、磁気ディスクを作成した。
[Comparative Example 2]
Using the magnetic disk glass substrate prepared in Comparative Example 1 described above, a magnetic disk was prepared by the same process as in Example 2 described above.

〔実施例2と比較例2との対比〕
実施例2により得られた磁気ディスクについて、異物により磁性層等の膜に欠陥が発生していないことを確認した。また、グライドテストを実施したところ、ヒット(ヘッドが磁気ディスク表面の突起にかすること)やクラッシュ(ヘッドが磁気ディスク表面の突起に衝突すること)は認められなかった。さらに、磁気抵抗型ヘッドで再生試験を行ったところ、サーマルアスペリティ障害による再生の誤動作は認められなかった。
[Contrast between Example 2 and Comparative Example 2]
With respect to the magnetic disk obtained in Example 2, it was confirmed that no defect occurred in the film such as the magnetic layer due to the foreign matter. In addition, when the glide test was performed, no hit (the head bited against the protrusion on the surface of the magnetic disk) or crash (the head collided with the protrusion on the surface of the magnetic disk) was not recognized. Furthermore, when a reproduction test was conducted with a magnetoresistive head, no malfunction of reproduction due to thermal asperity failure was found.

また、比較例2により得られた磁気ディスクについて、異物により磁性層等の膜に欠陥が発生していないことを確認した。しかし、グライドテストを実施したところ、ヒット(ヘッドが磁気ディスク表面の突起にかすること)やクラッシュ(ヘッドが磁気ディスク表面の突起に衝突すること)が認められた。さらに、磁気抵抗型ヘッドで再生試験を行ったところ、サーマルアスペリティ障害による再生の誤動作が認められた。   In addition, it was confirmed that the magnetic disk obtained in Comparative Example 2 had no defects in the magnetic layer or the like due to foreign matter. However, when the glide test was performed, hits (the head biting on the protrusion on the magnetic disk surface) and crashes (the head hitting the protrusion on the magnetic disk surface) were recognized. Furthermore, when a reproduction test was conducted with a magnetoresistive head, a malfunction of reproduction due to a thermal asperity failure was observed.

なお、以上の試験は1平方インチ当たりの情報記録密度が40ギガビット相当の磁気ディスク用の試験方法として行った。具体的には、磁気ヘッドの浮上量は10nmとし、記録再生試験では、情報線記録密度を700fciとした。   The above test was performed as a test method for a magnetic disk having an information recording density per square inch equivalent to 40 gigabits. Specifically, the flying height of the magnetic head was 10 nm, and in the recording / reproducing test, the information line recording density was 700 fci.

次に、実施例2及び比較例2の磁気ディスクについて、グライド試験を実施した。このグライド試験とは、検査用模擬ヘッドを磁気ディスク上に浮上飛行させておき、その浮上量を徐々に減少させ、検査用模擬ヘッドと磁気ディスクとが接触した時の検査用模擬ヘッドの浮上量を計測する試験である。接触したときの磁気ヘッドの浮上量をタッチダウンハイトと呼ぶ。浮上量が10nmの磁気ヘッドで安全に記録再生を行なわせるためには、タッチダウンハイトは、多くとも5nm以下である必要がある。   Next, a glide test was performed on the magnetic disks of Example 2 and Comparative Example 2. In this glide test, the simulated head for flying is floated on the magnetic disk, the flying height is gradually reduced, and the flying height of the simulated head for testing when the simulated head is in contact with the magnetic disk. It is a test to measure. The flying height of the magnetic head when touched is called the touchdown height. In order to perform recording / reproduction safely with a magnetic head having a flying height of 10 nm, the touchdown height needs to be 5 nm or less at most.

このようにして、実施例2の磁気ディスクのタッチダウンハイトを測定したところ、4nmであった。一方、比較例2の磁気ディスクのタッチダウンハイトを測定したところ、7nmであった。比較例2の磁気ディスクの方が表面うねりが大きいため、比較例2の磁気ディスクにおけるタッチダウンハイトは、実施例2の磁気ディスクの略2倍程度大きくなってしまった。   Thus, when the touchdown height of the magnetic disk of Example 2 was measured, it was 4 nm. On the other hand, when the touchdown height of the magnetic disk of Comparative Example 2 was measured, it was 7 nm. Since the surface waviness of the magnetic disk of Comparative Example 2 is larger, the touchdown height in the magnetic disk of Comparative Example 2 is about twice as large as that of the magnetic disk of Example 2.

なお、本発明は、ロードアンロード(LUL)方式で記録再生されるハードディスクドライブに搭載される磁気ディスク、あるいは、この磁気ディスク用のガラス基板として特に好適である。ロードアンロード方式のハードディスクドライブでは、コンタクトスタートストップ(CSS)方式のハードディスクドライブに比ペて、表面が平坦平滑な磁気ディスクを用いる必要があるからである。本発明に係る磁気ディスクは、例えぱ、タッチダウンハイトが4nm、あるいは、それ以下の磁気ディスクとすることができるので、ロードアンロード方式のハードディスクドライブに好ましく搭載することができる。   The present invention is particularly suitable as a magnetic disk mounted on a hard disk drive that is recorded / reproduced by a load / unload (LUL) method, or a glass substrate for this magnetic disk. This is because a load / unload type hard disk drive needs to use a magnetic disk having a flat and smooth surface compared to a contact start / stop (CSS) type hard disk drive. For example, the magnetic disk according to the present invention can be a magnetic disk having a touchdown height of 4 nm or less, and can be preferably mounted on a load / unload type hard disk drive.

本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造される磁気ディスク用ガラス基板の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the glass substrate for magnetic discs manufactured by the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs which concerns on this invention. 前記磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において使用する両面研磨装置の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the double-side polish apparatus used in the manufacturing method of the said glass substrate for magnetic discs. 前記磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において使用する研磨布の形状を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the shape of the polishing cloth used in the manufacturing method of the said glass substrate for magnetic discs. 本発明に係る円形に形成された研磨布の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the abrasive cloth formed circularly based on this invention. 本発明に係る円形に形成された研磨布の構成の他の例を示す平面図である。It is a top view which shows the other example of a structure of the abrasive cloth formed circularly based on this invention. 本発明に係る円形に形成された研磨布の構成のさらに他の例を示す平面図である。It is a top view which shows the further another example of the structure of the abrasive cloth formed circularly concerning this invention. 本発明に係る複数の研磨布片が円形に形成された研磨布の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the polishing cloth in which the several polishing cloth piece which concerns on this invention was formed circularly. 本発明に係る複数の研磨布片が円形に形成された研磨布の構成の他の例を示す平面図である。It is a top view which shows the other example of a structure of the polishing cloth in which the several polishing cloth piece which concerns on this invention was formed circularly. 本発明に係る複数の研磨布片が円形に形成された研磨布の構成のさらに他の例を示す平面図である。It is a top view which shows the further another example of a structure of the polishing cloth in which the several polishing cloth piece which concerns on this invention was formed circularly. 本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において使用する遊星歯車機構の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the planetary gear mechanism used in the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs which concerns on this invention. 本発明の実施例により作成された磁気ディスク用ガラス基板と、比較例により作成された磁気ディスク用ガラス基板との表面うねり(Wa)のデータを示すグラフである。It is a graph which shows the data of the surface waviness (Wa) of the glass substrate for magnetic discs produced by the Example of this invention, and the glass substrate for magnetic discs produced by the comparative example.

符号の説明Explanation of symbols

1 磁気ディスク用ガラス基板
2 中心孔
3,4 研磨定盤
5,6 研磨布
7 ガラスディスク
8 摺接面
9 溝
10,16 研磨定盤
11 太陽ギヤ
12 内歯ギヤ
13 キャリア
14 歯部
15 透孔部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Glass substrate for magnetic disks 2 Center hole 3,4 Polishing surface plate 5,6 Polishing cloth 7 Glass disk 8 Sliding contact surface 9 Groove 10,16 Polishing surface plate 11 Sun gear 12 Internal gear 13 Carrier 14 Tooth part 15 Through-hole Part

Claims (9)

研磨液を供給し研磨布とガラスディスクとを相対的に摺動させて、前記ガラスディスクの表面を研磨する研磨工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
前記研磨布として、前記ガラスディスクに対する摺接面に、前記研磨液の流路となる溝が形成されたものを用いるとともに、
前記研磨工程の全行程において、前記研磨布とガラスディスクとの相対的摺動方向を、前記溝に交差する方向とすることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
A method for producing a glass substrate for a magnetic disk, comprising a polishing step of polishing the surface of the glass disk by supplying a polishing liquid and relatively sliding the polishing cloth and the glass disk,
As the polishing cloth, a sliding contact surface with respect to the glass disk is used in which a groove serving as a flow path for the polishing liquid is formed.
A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, wherein the relative sliding direction of the polishing cloth and the glass disk is a direction intersecting the groove in the entire process of the polishing process.
前記研磨布として、円形の研磨布を用い、この研磨布を研磨定盤に貼り付け、この研磨定盤を回転駆動することにより、この研磨布と前記ガラスディスクとを相対的に摺動させて、前記研磨工程を実行することを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   As the polishing cloth, a circular polishing cloth is used, the polishing cloth is attached to a polishing surface plate, and the polishing surface plate is driven to rotate, whereby the polishing cloth and the glass disk are relatively slid. The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein the polishing step is performed. 中心部に太陽歯車が設けられた研磨定盤と、この研磨定盤の外縁に設けられた内歯車と、外周部に前記太陽歯車及び前記内歯車に噛合する歯部を有し前記ガラスディスクを保持する円板状のキャリアとを用いて、
前記研磨布を前記研磨定盤に貼り付けるとともに、前記キャリアに前記ガラスディスクを保持させ、このキャリアの外周部の歯部を前記太陽歯車及び前記内歯車に噛合させ、
前記太陽歯車及び前記内歯車の少なくともいずれか一方を回転駆動することにより、この研磨布と前記キャリアに保持されたガラスディスクとを相対的に摺動させて、前記研磨工程を実行することを特徴とする請求項1、または、請求項2記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
A polishing platen provided with a sun gear at the center, an internal gear provided at the outer edge of the polishing platen, and a toothed portion that meshes with the sun gear and the internal gear on the outer periphery, and the glass disk With a disc-shaped carrier to hold,
Affixing the polishing cloth to the polishing surface plate, holding the glass disk on the carrier, meshing the teeth of the outer periphery of the carrier with the sun gear and the internal gear,
By rotating and driving at least one of the sun gear and the internal gear, the polishing process and the glass disk held by the carrier are relatively slid to execute the polishing step. A method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1 or 2.
請求項1乃至請求項3のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法における研磨工程を第1研磨工程として実行した後に、前記ガラスディスクの表面の鏡面研磨を行う第2研磨工程を実行する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
前記第2研磨工程においては、前記第1研磨工程において用いる研磨布に比較して軟質であって前記ガラスディスクに対する摺接面が平坦である研磨布を用いることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
A second polishing step of performing mirror polishing of the surface of the glass disk after executing the polishing step in the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of claims 1 to 3 as a first polishing step. A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk to be executed,
In the second polishing step, a polishing cloth that is softer than the polishing cloth used in the first polishing step and that has a flat sliding contact surface with respect to the glass disk is used. Manufacturing method.
請求項1乃至請求項4のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。   5. A magnetic disk, comprising at least a magnetic layer formed on a main surface of a glass substrate for a magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of claims 1 to 4. Manufacturing method. ガラスディスクの表面に摺接されてこの表面を研磨し磁気ディスク用ガラス基板を製造するために、円形に形成され、または、複数の研磨布片が配置されて円形となされた研磨布であって、
前記ガラスディスクの表面に対する摺接面に複数の溝を有し、
前記複数の溝は、これら溝の任意の箇所における溝方向が、この研磨布の中心と該任意の箇所とを結ぶ直線の法線に対して交差していることを特徴とする研磨布。
In order to produce a glass substrate for a magnetic disk by being brought into sliding contact with the surface of a glass disk and manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, it is a polishing cloth formed in a circular shape or a circular shape by arranging a plurality of polishing cloth pieces. ,
Having a plurality of grooves on the sliding surface against the surface of the glass disk;
The polishing cloth according to claim 1, wherein a groove direction at an arbitrary portion of the grooves intersects with a normal line of a straight line connecting the center of the polishing cloth and the arbitrary portion.
ガラスディスクの表面に摺接されてこの表面を研磨し磁気ディスク用ガラス基板を製造するために、複数の研磨布片が配置されて円形となされた研磨布であって、
前記各研磨布片は、前記ガラスディスクの表面に対する摺接面に格子状に形成された溝を有しており、各溝の溝方向を、この研磨布の周方向に対して交差する方向としていることを特徴とする研磨布。
In order to produce a glass substrate for a magnetic disk by being brought into sliding contact with the surface of the glass disk and manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, a polishing cloth in which a plurality of polishing cloth pieces are arranged and made circular,
Each of the polishing cloth pieces has grooves formed in a lattice shape on the sliding surface with respect to the surface of the glass disk, and the groove direction of each groove is defined as a direction intersecting the circumferential direction of the polishing cloth. A polishing cloth characterized by
請求項7、または、請求項8記載の研磨布と、前記ガラスディスクとを相対的に摺動させ、このガラスディスクの表面を研磨する工程を含むことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   A process for producing a glass substrate for a magnetic disk, comprising the steps of relatively sliding the polishing cloth according to claim 7 or 8 and the glass disk, and polishing the surface of the glass disk. Method. 請求項8記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。   A method for producing a magnetic disk, comprising forming at least a magnetic layer on a main surface of the glass substrate for a magnetic disk produced by the method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 8.
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