JP2006066675A - WIRING PATTERN AND METHOD FOR FORMING THE SAME, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE - Google Patents
WIRING PATTERN AND METHOD FOR FORMING THE SAME, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006066675A JP2006066675A JP2004247914A JP2004247914A JP2006066675A JP 2006066675 A JP2006066675 A JP 2006066675A JP 2004247914 A JP2004247914 A JP 2004247914A JP 2004247914 A JP2004247914 A JP 2004247914A JP 2006066675 A JP2006066675 A JP 2006066675A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring pattern
- substrate
- liquid
- lyophilic
- forming method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 155
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 140
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 112
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 103
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 claims abstract description 37
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 52
- -1 silane compound Chemical class 0.000 claims description 37
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- 239000005871 repellent Substances 0.000 claims description 28
- 230000002940 repellent Effects 0.000 claims description 27
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 21
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 19
- 239000011941 photocatalyst Substances 0.000 claims description 16
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 12
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 11
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims description 11
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 9
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims description 9
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 claims description 7
- UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N Iron oxide Chemical compound [Fe]=O UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000001699 photocatalysis Effects 0.000 claims description 6
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 2
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 46
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 45
- 239000011344 liquid material Substances 0.000 description 16
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 14
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 13
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 11
- STQANYYPDRAHDX-UHFFFAOYSA-N 4-(1-benzyl-2h-pyridin-4-yl)pyridine Chemical group C=1C=CC=CC=1CN(C=C1)CC=C1C1=CC=NC=C1 STQANYYPDRAHDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 9
- BNKZNKGMNLJQPO-UHFFFAOYSA-N 4-(1-hexadecyl-2H-pyridin-4-yl)pyridine Chemical group C(CCCCCCCCCCCCCCC)N1CC=C(C=C1)C1=CC=NC=C1 BNKZNKGMNLJQPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- FAKGLPCKEIKMMC-UHFFFAOYSA-N 4-(1-methyl-2h-pyridin-4-yl)pyridine Chemical group C1=CN(C)CC=C1C1=CC=NC=C1 FAKGLPCKEIKMMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 8
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 8
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 8
- RNWHBJXAGLOTLO-UHFFFAOYSA-N 4-(1-dodecyl-2H-pyridin-4-yl)pyridine Chemical group C(CCCCCCCCCCC)N1CC=C(C=C1)C1=CC=NC=C1 RNWHBJXAGLOTLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 7
- 229940078552 o-xylene Drugs 0.000 description 7
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 7
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 6
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 5
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 5
- BGHCVCJVXZWKCC-UHFFFAOYSA-N tetradecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCC BGHCVCJVXZWKCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XTHFKEDIFFGKHM-UHFFFAOYSA-N Dimethoxyethane Chemical compound COCCOC XTHFKEDIFFGKHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N Methyl acrylate Chemical compound COC(=O)C=C BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 4
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 4
- 239000002585 base Substances 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 125000003709 fluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 239000002609 medium Substances 0.000 description 4
- FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N methacrylamide Chemical compound CC(=C)C(N)=O FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 4
- SCPYDCQAZCOKTP-UHFFFAOYSA-N silanol Chemical compound [SiH3]O SCPYDCQAZCOKTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 3
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 3
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 3
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 3
- ILVUABTVETXVMV-UHFFFAOYSA-N hydron;bromide;iodide Chemical compound Br.I ILVUABTVETXVMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 3
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 3
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 3
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 3
- KPZGRMZPZLOPBS-UHFFFAOYSA-N 1,3-dichloro-2,2-bis(chloromethyl)propane Chemical compound ClCC(CCl)(CCl)CCl KPZGRMZPZLOPBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 1H-indene Chemical compound C1=CC=C2CC=CC2=C1 YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000022 2-aminoethyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])N([H])[H] 0.000 description 2
- 125000000094 2-phenylethyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 2
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N Acrylamide Chemical compound NC(=O)C=C HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical group [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 description 2
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000003668 acetyloxy group Chemical group [H]C([H])([H])C(=O)O[*] 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004218 chloromethyl group Chemical group [H]C([H])(Cl)* 0.000 description 2
- 125000000068 chlorophenyl group Chemical group 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 2
- 125000002433 cyclopentenyl group Chemical group C1(=CCCC1)* 0.000 description 2
- 125000001511 cyclopentyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 2
- DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N decane Chemical compound CCCCCCCCCC DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N diglyme Chemical compound COCCOCCOC SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N dimethylmethane Natural products CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N dodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SQNZJJAZBFDUTD-UHFFFAOYSA-N durene Chemical compound CC1=CC(C)=C(C)C=C1C SQNZJJAZBFDUTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 2
- 125000001301 ethoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])O* 0.000 description 2
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 2
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005660 hydrophilic surface Effects 0.000 description 2
- 125000004464 hydroxyphenyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N limonene Chemical compound CC(=C)C1CCC(C)=CC1 XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005499 meniscus Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- NZBHSEACJFETHP-UHFFFAOYSA-N methyl hydrogen sulfate hydrobromide Chemical compound Br.COS(O)(=O)=O NZBHSEACJFETHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 2
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 2
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- INFDPOAKFNIJBF-UHFFFAOYSA-N paraquat Chemical compound C1=C[N+](C)=CC=C1C1=CC=[N+](C)C=C1 INFDPOAKFNIJBF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000001935 peptisation Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 2
- 238000012643 polycondensation polymerization Methods 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 229920002981 polyvinylidene fluoride Polymers 0.000 description 2
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 2
- 125000001725 pyrenyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000004076 pyridyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000168 pyrrolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 2
- 125000004079 stearyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001544 thienyl group Chemical group 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MPUZDPBYKVEHNH-BQYQJAHWSA-N (e)-2-methyl-3-phenylprop-2-enamide Chemical compound NC(=O)C(/C)=C/C1=CC=CC=C1 MPUZDPBYKVEHNH-BQYQJAHWSA-N 0.000 description 1
- YMHRSHDHKGICOH-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,10,10,10-henicosafluorodecan-2-yl prop-2-enoate Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)OC(=O)C=C YMHRSHDHKGICOH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LZDKZFUFMNSQCJ-UHFFFAOYSA-N 1,2-diethoxyethane Chemical compound CCOCCOCC LZDKZFUFMNSQCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZVABYGYVXBZDP-UHFFFAOYSA-N 1-adamantyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound C1C(C2)CC3CC2CC1(OC(=O)C(=C)C)C3 MZVABYGYVXBZDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PHPRWKJDGHSJMI-UHFFFAOYSA-N 1-adamantyl prop-2-enoate Chemical compound C1C(C2)CC3CC2CC1(OC(=O)C=C)C3 PHPRWKJDGHSJMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- USMPUQWIEBJXNS-UHFFFAOYSA-L 1-benzyl-4-(1-benzylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium;dibromide Chemical compound [Br-].[Br-].C=1C=C(C=2C=C[N+](CC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=C[N+]=1CC1=CC=CC=C1 USMPUQWIEBJXNS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- NLOIIDFMYPFJKP-UHFFFAOYSA-L 1-benzyl-4-(1-benzylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium;dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].C=1C=C(C=2C=C[N+](CC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=C[N+]=1CC1=CC=CC=C1 NLOIIDFMYPFJKP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- DQFSMAISNCIUAQ-UHFFFAOYSA-L 1-benzyl-4-(1-benzylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium;diiodide Chemical compound [I-].[I-].C=1C=C(C=2C=C[N+](CC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=C[N+]=1CC1=CC=CC=C1 DQFSMAISNCIUAQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- SPFVNQBOHYXSMM-UHFFFAOYSA-M 1-decylpyridin-1-ium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 SPFVNQBOHYXSMM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- HJUPHPDWOUZDKH-UHFFFAOYSA-M 1-decylpyridin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 HJUPHPDWOUZDKH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- MYGCSEZBEJBLBL-UHFFFAOYSA-M 1-dodecyl-2-methylpyridin-1-ium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1C MYGCSEZBEJBLBL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- TVFWSIQTAXZIPC-UHFFFAOYSA-M 1-dodecyl-2-methylpyridin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1C TVFWSIQTAXZIPC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- PNXWPUCNFMVBBK-UHFFFAOYSA-M 1-dodecylpyridin-1-ium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 PNXWPUCNFMVBBK-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- GKQHIYSTBXDYNQ-UHFFFAOYSA-M 1-dodecylpyridin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 GKQHIYSTBXDYNQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- GZNACENTEXAZDR-UHFFFAOYSA-M 1-dodecylpyridin-1-ium;iodide Chemical compound [I-].CCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 GZNACENTEXAZDR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- RRQYJINTUHWNHW-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxy-2-(2-ethoxyethoxy)ethane Chemical compound CCOCCOCCOCC RRQYJINTUHWNHW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CNJRPYFBORAQAU-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxy-2-(2-methoxyethoxy)ethane Chemical compound CCOCCOCCOC CNJRPYFBORAQAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CAQYAZNFWDDMIT-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxy-2-methoxyethane Chemical compound CCOCCOC CAQYAZNFWDDMIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KQVYBYSUVFRMGE-UHFFFAOYSA-M 1-hexadecylpyridin-1-ium;iodide Chemical compound [I-].CCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 KQVYBYSUVFRMGE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- HPASIEPQICUKEH-UHFFFAOYSA-J 1-methyl-4-(1-methylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium dibromide dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].C[N+]1=CC=C(C=C1)C1=CC=[N+](C=C1)C.[Br-].[Br-].C[N+]1=CC=C(C=C1)C1=CC=[N+](C=C1)C HPASIEPQICUKEH-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 125000004134 1-norbornyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C2(*)C([H])([H])C([H])([H])C1([H])C2([H])[H] 0.000 description 1
- JDASKPRUFDKACZ-UHFFFAOYSA-M 1-octadecylpyridin-1-ium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 JDASKPRUFDKACZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WJDJWDHXZBNQNE-UHFFFAOYSA-M 1-octadecylpyridin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 WJDJWDHXZBNQNE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- QBHZBEKRSGUBEA-UHFFFAOYSA-L 1-phenyl-4-(1-phenylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium;dibromide Chemical compound [Br-].[Br-].C1=CC=CC=C1[N+]1=CC=C(C=2C=C[N+](=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=C1 QBHZBEKRSGUBEA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- SZZVUWLOZBMPLX-UHFFFAOYSA-L 1-phenyl-4-(1-phenylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium;dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].C1=CC=CC=C1[N+]1=CC=C(C=2C=C[N+](=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=C1 SZZVUWLOZBMPLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- ZEBGBBHACLKGGZ-UHFFFAOYSA-N 1-propyl-4-(1-propylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium Chemical compound C1=C[N+](CCC)=CC=C1C1=CC=[N+](CCC)C=C1 ZEBGBBHACLKGGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZPAMJYSSYPEWNA-UHFFFAOYSA-L 1-propyl-4-(1-propylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium;dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].C1=C[N+](CCC)=CC=C1C1=CC=[N+](CCC)C=C1 ZPAMJYSSYPEWNA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- DFSQJFYMIIVWTL-UHFFFAOYSA-M 1-propyl-4-pyridin-1-ium-4-ylpyridin-1-ium dibromide Chemical compound [Br-].[Br-].C1=C[N+](CCC)=CC=C1C1=CC=[NH+]C=C1 DFSQJFYMIIVWTL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- HJNAJKBRYDFICV-UHFFFAOYSA-M 1-tetradecylpyridin-1-ium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 HJNAJKBRYDFICV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- YFVBASFBIJFBAI-UHFFFAOYSA-M 1-tetradecylpyridin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 YFVBASFBIJFBAI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- ICGLGDINCXDWJB-UHFFFAOYSA-N 2-benzylprop-2-enamide Chemical compound NC(=O)C(=C)CC1=CC=CC=C1 ICGLGDINCXDWJB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LWUBNLXPDJHRNE-UHFFFAOYSA-M 2-methyl-1-octadecylpyridin-1-ium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1C LWUBNLXPDJHRNE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- OHKPBMJFGWXVQZ-UHFFFAOYSA-M 2-methyl-1-octadecylpyridin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1C OHKPBMJFGWXVQZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- ANAVKDKVQLBHCP-UHFFFAOYSA-M 2-methyl-1-octadecylpyridin-1-ium;iodide Chemical compound [I-].CCCCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1C ANAVKDKVQLBHCP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- HLBBFKACALSXFX-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-3-naphthalen-1-ylprop-2-enamide Chemical compound C1=CC=C2C(C=C(C)C(N)=O)=CC=CC2=C1 HLBBFKACALSXFX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WWZCBQCIRMBFJC-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-3-octylundec-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCC(=C(C)C(N)=O)CCCCCCCC WWZCBQCIRMBFJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AEBNPEXFDZBTIB-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-4-phenylbut-2-enamide Chemical compound NC(=O)C(C)=CCC1=CC=CC=C1 AEBNPEXFDZBTIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VPMYLQWVBALSQG-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-n-naphthalen-2-ylprop-2-enamide Chemical compound C1=CC=CC2=CC(NC(=O)C(=C)C)=CC=C21 VPMYLQWVBALSQG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PABGQABTFFNYFH-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-n-octadecylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCNC(=O)C(C)=C PABGQABTFFNYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KFTHUBZIEMOORC-UHFFFAOYSA-N 2-methylbut-2-enamide Chemical compound CC=C(C)C(N)=O KFTHUBZIEMOORC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QFSWDVMHHPAJCF-UHFFFAOYSA-N 2-naphthalen-1-ylprop-2-enamide Chemical compound C1=CC=C2C(C(=C)C(=O)N)=CC=CC2=C1 QFSWDVMHHPAJCF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IMOLAGKJZFODRK-UHFFFAOYSA-N 2-phenylprop-2-enamide Chemical compound NC(=O)C(=C)C1=CC=CC=C1 IMOLAGKJZFODRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XEUHRVUCTOLCMW-UHFFFAOYSA-N 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,9-pentadecafluorononan-2-yl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC(C)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F XEUHRVUCTOLCMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JEYIBZVLIFOBOX-UHFFFAOYSA-N 3-octylundec-2-enamide Chemical compound C(CCCCCCC)C(=CC(=O)N)CCCCCCCC JEYIBZVLIFOBOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FEZAQYCRLLDDBS-UHFFFAOYSA-N 4-bicyclo[2.2.1]heptanyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound C1CC2CCC1(OC(=O)C(=C)C)C2 FEZAQYCRLLDDBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WGUJUIMHWNHXGB-UHFFFAOYSA-N 4-bicyclo[2.2.1]heptanyl prop-2-enoate Chemical compound C1CC2CCC1(OC(=O)C=C)C2 WGUJUIMHWNHXGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LUAZZOXZPVVGSO-UHFFFAOYSA-N Benzyl viologen Chemical compound C=1C=C(C=2C=C[N+](CC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=C[N+]=1CC1=CC=CC=C1 LUAZZOXZPVVGSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WNWCIUVJYZPASF-UHFFFAOYSA-N C(C=C)(=O)NC1CCCCCCCCCCC1 Chemical compound C(C=C)(=O)NC1CCCCCCCCCCC1 WNWCIUVJYZPASF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KYJNSRZDNNBSBQ-UHFFFAOYSA-N C(CCCCCCCCC)C(=CC(=O)N)CCCCCCCCCC Chemical compound C(CCCCCCCCC)C(=CC(=O)N)CCCCCCCCCC KYJNSRZDNNBSBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MUMMWFKZIFBZGL-UHFFFAOYSA-N C1=C(C=CC2=CC=CC=C12)OC(C(=C)C)=O.C1=C(C=CC2=CC=CC=C12)OC(C=C)=O Chemical compound C1=C(C=CC2=CC=CC=C12)OC(C(=C)C)=O.C1=C(C=CC2=CC=CC=C12)OC(C=C)=O MUMMWFKZIFBZGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004640 Melamine resin Substances 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004727 OSO3H Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018828 PO3H2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 101100422634 Postia placenta (strain ATCC 44394 / Madison 698-R) STS-02 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical group [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002808 Si–O–Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VBIIFPGSPJYLRR-UHFFFAOYSA-M Stearyltrimethylammonium chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C VBIIFPGSPJYLRR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002777 acetyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)=O 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SWLVFNYSXGMGBS-UHFFFAOYSA-N ammonium bromide Chemical compound [NH4+].[Br-] SWLVFNYSXGMGBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- MJYSISMEPNOHEG-UHFFFAOYSA-N anthracen-9-ylmethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound C1=CC=C2C(COC(=O)C(=C)C)=C(C=CC=C3)C3=CC2=C1 MJYSISMEPNOHEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003125 aqueous solvent Substances 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N benzyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1=CC=CC=C1 AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GCTPMLUUWLLESL-UHFFFAOYSA-N benzyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC1=CC=CC=C1 GCTPMLUUWLLESL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- FPCJKVGGYOAWIZ-UHFFFAOYSA-N butan-1-ol;titanium Chemical compound [Ti].CCCCO.CCCCO.CCCCO.CCCCO FPCJKVGGYOAWIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 1
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- DVBJBNKEBPCGSY-UHFFFAOYSA-M cetylpyridinium bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 DVBJBNKEBPCGSY-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- YMKDRGPMQRFJGP-UHFFFAOYSA-M cetylpyridinium chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCCCCCC[N+]1=CC=CC=C1 YMKDRGPMQRFJGP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WOWHHFRSBJGXCM-UHFFFAOYSA-M cetyltrimethylammonium chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C WOWHHFRSBJGXCM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- HUKRRLLQISYINT-UHFFFAOYSA-N cyclododecyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1CCCCCCCCCCC1 HUKRRLLQISYINT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OLYPZOMHOKXSGU-UHFFFAOYSA-N cyclododecyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC1CCCCCCCCCCC1 OLYPZOMHOKXSGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OIWOHHBRDFKZNC-UHFFFAOYSA-N cyclohexyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1CCCCC1 OIWOHHBRDFKZNC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KBLWLMPSVYBVDK-UHFFFAOYSA-N cyclohexyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC1CCCCC1 KBLWLMPSVYBVDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HHNHBFLGXIUXCM-GFCCVEGCSA-N cyclohexylbenzene Chemical compound [CH]1CCCC[C@@H]1C1=CC=CC=C1 HHNHBFLGXIUXCM-GFCCVEGCSA-N 0.000 description 1
- UUZLJPRHSPEASP-UHFFFAOYSA-N cyclohexylmethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1CCCCC1 UUZLJPRHSPEASP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FIMUXQLLGBMSAI-UHFFFAOYSA-N cyclohexylmethyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC1CCCCC1 FIMUXQLLGBMSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VRFCNQCFVJBFMC-UHFFFAOYSA-N cyclooctyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1CCCCCCC1 VRFCNQCFVJBFMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JXVKENWQKWGKOL-UHFFFAOYSA-N cyclooctyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC1CCCCCCC1 JXVKENWQKWGKOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930007927 cymene Natural products 0.000 description 1
- HXWGXXDEYMNGCT-UHFFFAOYSA-M decyl(trimethyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCC[N+](C)(C)C HXWGXXDEYMNGCT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- PLMFYJJFUUUCRZ-UHFFFAOYSA-M decyltrimethylammonium bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCC[N+](C)(C)C PLMFYJJFUUUCRZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- XRWMGCFJVKDVMD-UHFFFAOYSA-M didodecyl(dimethyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)CCCCCCCCCCCC XRWMGCFJVKDVMD-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WLCFKPHMRNPAFZ-UHFFFAOYSA-M didodecyl(dimethyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)CCCCCCCCCCCC WLCFKPHMRNPAFZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229940019778 diethylene glycol diethyl ether Drugs 0.000 description 1
- GMSCBRSQMRDRCD-UHFFFAOYSA-N dodecyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCOC(=O)C(C)=C GMSCBRSQMRDRCD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DDXLVDQZPFLQMZ-UHFFFAOYSA-M dodecyl(trimethyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C DDXLVDQZPFLQMZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- XJWSAJYUBXQQDR-UHFFFAOYSA-M dodecyltrimethylammonium bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C XJWSAJYUBXQQDR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- XGZNHFPFJRZBBT-UHFFFAOYSA-N ethanol;titanium Chemical compound [Ti].CCO.CCO.CCO.CCO XGZNHFPFJRZBBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003205 fragrance Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical group 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZNAOFAIBVOMLPV-UHFFFAOYSA-N hexadecyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCOC(=O)C(C)=C ZNAOFAIBVOMLPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PZDUWXKXFAIFOR-UHFFFAOYSA-N hexadecyl prop-2-enoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCOC(=O)C=C PZDUWXKXFAIFOR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 125000002510 isobutoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])O* 0.000 description 1
- 125000003253 isopropoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(O*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- PBOSTUDLECTMNL-UHFFFAOYSA-N lauryl acrylate Chemical compound CCCCCCCCCCCCOC(=O)C=C PBOSTUDLECTMNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005647 linker group Chemical group 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- ZEIWWVGGEOHESL-UHFFFAOYSA-N methanol;titanium Chemical compound [Ti].OC.OC.OC.OC ZEIWWVGGEOHESL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JZMJDSHXVKJFKW-UHFFFAOYSA-M methyl sulfate(1-) Chemical compound COS([O-])(=O)=O JZMJDSHXVKJFKW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- JESLNRRBYQSYER-UHFFFAOYSA-N n,2-dimethyl-n-naphthalen-1-ylprop-2-enamide Chemical compound C1=CC=C2C(N(C(=O)C(C)=C)C)=CC=CC2=C1 JESLNRRBYQSYER-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LDSCXFJCOFEMJQ-UHFFFAOYSA-N n,2-dimethyl-n-naphthalen-2-ylprop-2-enamide Chemical compound C1=CC=CC2=CC(N(C(=O)C(C)=C)C)=CC=C21 LDSCXFJCOFEMJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LGCYBCHJTSUDRE-UHFFFAOYSA-N n,2-dimethyl-n-phenylprop-2-enamide Chemical compound CC(=C)C(=O)N(C)C1=CC=CC=C1 LGCYBCHJTSUDRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HUESSPLKCMYVFN-UHFFFAOYSA-N n,n-didodecyl-2-methylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCN(C(=O)C(C)=C)CCCCCCCCCCCC HUESSPLKCMYVFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IXSXIMCFYLTCMM-UHFFFAOYSA-N n,n-didodecylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCN(C(=O)C=C)CCCCCCCCCCCC IXSXIMCFYLTCMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SSVFHFPWPYNJIR-UHFFFAOYSA-N n-(1-adamantyl)-n,2-dimethylprop-2-enamide Chemical compound C1C(C2)CC3CC2CC1(N(C(=O)C(C)=C)C)C3 SSVFHFPWPYNJIR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QDCCCHXLHWSWRH-UHFFFAOYSA-N n-(1-adamantyl)-n-methylprop-2-enamide Chemical compound C1C(C2)CC3CC2CC1(N(C(=O)C=C)C)C3 QDCCCHXLHWSWRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QXPDTLQSZMKKKG-UHFFFAOYSA-N n-(cyclohexylmethyl)-n,2-dimethylprop-2-enamide Chemical compound CC(=C)C(=O)N(C)CC1CCCCC1 QXPDTLQSZMKKKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SXMHECGYSOUMFN-UHFFFAOYSA-N n-benzyl-n-methylprop-2-enamide Chemical compound C=CC(=O)N(C)CC1=CC=CC=C1 SXMHECGYSOUMFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006606 n-butoxy group Chemical group 0.000 description 1
- KCSKCZXFHXRTAV-UHFFFAOYSA-N n-cyclododecyl-2-methylprop-2-enamide Chemical compound CC(=C)C(=O)NC1CCCCCCCCCCC1 KCSKCZXFHXRTAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZHOSCNHYHQYXAK-UHFFFAOYSA-N n-cyclododecyl-n,2-dimethylprop-2-enamide Chemical compound CC(=C)C(=O)N(C)C1CCCCCCCCCCC1 ZHOSCNHYHQYXAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZXXSYQZTGRKRJR-UHFFFAOYSA-N n-cyclododecyl-n-methylprop-2-enamide Chemical compound C=CC(=O)N(C)C1CCCCCCCCCCC1 ZXXSYQZTGRKRJR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBLADNFGVOKFSU-UHFFFAOYSA-N n-cyclohexyl-2-methylprop-2-enamide Chemical compound CC(=C)C(=O)NC1CCCCC1 JBLADNFGVOKFSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JOALSIPKRVPCBJ-UHFFFAOYSA-N n-cyclohexyl-n,2-dimethylprop-2-enamide Chemical compound CC(=C)C(=O)N(C)C1CCCCC1 JOALSIPKRVPCBJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LHLLNIZKYYRADT-UHFFFAOYSA-N n-cyclohexyl-n-methylprop-2-enamide Chemical compound C=CC(=O)N(C)C1CCCCC1 LHLLNIZKYYRADT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PMJFVKWBSWWAKT-UHFFFAOYSA-N n-cyclohexylprop-2-enamide Chemical compound C=CC(=O)NC1CCCCC1 PMJFVKWBSWWAKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZQEWHWKRGJXZOT-UHFFFAOYSA-N n-cyclooctyl-2-methylprop-2-enamide Chemical compound CC(=C)C(=O)NC1CCCCCCC1 ZQEWHWKRGJXZOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WDUCEMBDJSELLG-UHFFFAOYSA-N n-cyclooctylprop-2-enamide Chemical compound C=CC(=O)NC1CCCCCCC1 WDUCEMBDJSELLG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HOZLHJIPBBRFGM-UHFFFAOYSA-N n-dodecyl-2-methylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCNC(=O)C(C)=C HOZLHJIPBBRFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQPVIMDDIXCFFS-UHFFFAOYSA-N n-dodecylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCNC(=O)C=C XQPVIMDDIXCFFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YRGCLADHMAKURN-UHFFFAOYSA-N n-hexadecyl-2-methylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCNC(=O)C(C)=C YRGCLADHMAKURN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BKWMQCLROIZNLX-UHFFFAOYSA-N n-hexadecylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCNC(=O)C=C BKWMQCLROIZNLX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IZXGMKHVTNJFAA-UHFFFAOYSA-N n-methyl-n-phenylprop-2-enamide Chemical compound C=CC(=O)N(C)C1=CC=CC=C1 IZXGMKHVTNJFAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BESRBCAXRGFKDI-UHFFFAOYSA-N n-naphthalen-2-ylprop-2-enamide Chemical compound C1=CC=CC2=CC(NC(=O)C=C)=CC=C21 BESRBCAXRGFKDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CNWVYEGPPMQTKA-UHFFFAOYSA-N n-octadecylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCNC(=O)C=C CNWVYEGPPMQTKA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003506 n-propoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])O* 0.000 description 1
- HVYCQBKSRWZZGX-UHFFFAOYSA-N naphthalen-1-yl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound C1=CC=C2C(OC(=O)C(=C)C)=CC=CC2=C1 HVYCQBKSRWZZGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SOEDHYUFNWMILE-UHFFFAOYSA-N naphthalen-1-yl prop-2-enoate Chemical compound C1=CC=C2C(OC(=O)C=C)=CC=CC2=C1 SOEDHYUFNWMILE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 231100000956 nontoxicity Toxicity 0.000 description 1
- HMZGPNHSPWNGEP-UHFFFAOYSA-N octadecyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCOC(=O)C(C)=C HMZGPNHSPWNGEP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FSAJWMJJORKPKS-UHFFFAOYSA-N octadecyl prop-2-enoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCOC(=O)C=C FSAJWMJJORKPKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- DCKVFVYPWDKYDN-UHFFFAOYSA-L oxygen(2-);titanium(4+);sulfate Chemical compound [O-2].[Ti+4].[O-]S([O-])(=O)=O DCKVFVYPWDKYDN-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- HFPZCAJZSCWRBC-UHFFFAOYSA-N p-cymene Chemical compound CC(C)C1=CC=C(C)C=C1 HFPZCAJZSCWRBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 229960004624 perflexane Drugs 0.000 description 1
- BPHQIXJDBIHMLT-UHFFFAOYSA-N perfluorodecane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F BPHQIXJDBIHMLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJIJAJXFLBMLCK-UHFFFAOYSA-N perfluorohexane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F ZJIJAJXFLBMLCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YNPNZTXNASCQKK-UHFFFAOYSA-N phenanthrene Chemical compound C1=CC=C2C3=CC=CC=C3C=CC2=C1 YNPNZTXNASCQKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QIWKUEJZZCOPFV-UHFFFAOYSA-N phenyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1=CC=CC=C1 QIWKUEJZZCOPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WRAQQYDMVSCOTE-UHFFFAOYSA-N phenyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC1=CC=CC=C1 WRAQQYDMVSCOTE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013032 photocatalytic reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 1
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical compound N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920003217 poly(methylsilsesquioxane) Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001709 polysilazane Polymers 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N propylene carbonate Chemical compound CC1COC(=O)O1 RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 1
- 125000005920 sec-butoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005573 silicon-containing polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 125000004213 tert-butoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C(O*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- UQMOLLPKNHFRAC-UHFFFAOYSA-N tetrabutyl silicate Chemical compound CCCCO[Si](OCCCC)(OCCCC)OCCCC UQMOLLPKNHFRAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BGHCVCJVXZWKCC-NJFSPNSNSA-N tetradecane Chemical group CCCCCCCCCCCCC[14CH3] BGHCVCJVXZWKCC-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 1
- BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N tetrafluoroethene Chemical group FC(F)=C(F)F BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CXWXQJXEFPUFDZ-UHFFFAOYSA-N tetralin Chemical compound C1=CC=C2CCCCC2=C1 CXWXQJXEFPUFDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N tetramethyl orthosilicate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)OC LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZUEKXCXHTXJYAR-UHFFFAOYSA-N tetrapropan-2-yl silicate Chemical compound CC(C)O[Si](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C ZUEKXCXHTXJYAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZQZCOBSUOFHDEE-UHFFFAOYSA-N tetrapropyl silicate Chemical compound CCCO[Si](OCCC)(OCCC)OCCC ZQZCOBSUOFHDEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003609 titanium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910000348 titanium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J titanium tetrachloride Chemical compound Cl[Ti](Cl)(Cl)Cl XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N titanium(IV) isopropoxide Chemical compound CC(C)O[Ti](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SZEMGTQCPRNXEG-UHFFFAOYSA-M trimethyl(octadecyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C SZEMGTQCPRNXEG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N tungsten trioxide Chemical compound O=[W](=O)=O ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
【課題】 配線パターンを形成する際のプロセスタイムを短縮する。
【解決手段】 撥液性を有する基板P上に配線パターンを形成する配線パターン形成方法であって、液滴吐出法によって親液性材料X2を上記基板上に吐出配置することによって親液領域H1を形成する工程と、上記親液領域上に導電性微粒子を含む機能液を配置し乾燥、焼成させることによって上記配線パターンを形成する工程とを有する。
【選択図】 図3PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten a process time when forming a wiring pattern.
A wiring pattern forming method for forming a wiring pattern on a substrate P having liquid repellency, wherein a lyophilic region X1 is formed by discharging and placing a lyophilic material X2 on the substrate by a droplet discharge method. And a step of forming the wiring pattern by disposing a functional liquid containing conductive fine particles on the lyophilic region, and drying and baking the functional liquid.
[Selection] Figure 3
Description
本発明は、配線パターン及びその形成方法、電気光学装置、並びに電子機器に関するものである。 The present invention relates to a wiring pattern and a method for forming the same, an electro-optical device, and an electronic apparatus.
従来から半導体集積回路などの微細な配線パターンの形成方法としては、フォトリソグラフィ法が多用されている。一方、特許文献1、特許文献2などには、液滴吐出法を用いた方法が開示されている。これら公報に開示されている技術は、配線パターン形成用材料を含んだ機能液を液滴吐出ヘッドから基板上に吐出することにより、配線パターン形成面に材料を配置して配線パターンを形成するものであり、少量多種生産に対応可能であるなど大変有効であるとされている。
Conventionally, a photolithography method has been frequently used as a method for forming a fine wiring pattern such as a semiconductor integrated circuit. On the other hand,
ところで、近年ではデバイスを構成する回路の高密度化がますます進み、例えば配線パターンについてもさらなる微細化、細線化が要求されている。
しかしながら、このような微細な配線パターンを上記の液滴吐出法による方法によって形成しようとした場合、特にその配線幅の精度を十分にだすのが難しい。そのため、基板上に仕切部材であるバンクを設けるとともに、バンクの上部を撥液性にし、それ以外の部分が親液性となるように表面処理を施す方法も提案されている。
By the way, in recent years, the density of circuits constituting a device has been increased, and for example, further miniaturization and thinning of wiring patterns are required.
However, when such a fine wiring pattern is to be formed by the above-described method by the droplet discharge method, it is particularly difficult to sufficiently obtain the accuracy of the wiring width. For this reason, a method has been proposed in which a bank as a partition member is provided on the substrate, a surface treatment is performed so that the upper portion of the bank is liquid repellent and the other portions are lyophilic.
一方、予め撥液部と親液部との配線パターンを形成した基板の親液部に液滴吐出法により選択的に機能液を吐出することも提案されている。この場合、機能液は、親液部に溜まりやすくなるため、バンクを形成することなく、位置精度を保って配線パターンを形成することが可能である。
しかしながら、バンクはフォトリソグラフィ法を用いて形成されるため、コスト高につながる可能性があり、また、プロセスタイムも長くなる。
また、予め撥液部と親液部とを基板に形成する場合には、基板上にFAS等の撥液性単分子膜を形成し、マスクを介して露光することによって、撥液性単分子膜を選択的に分解し親液部を形成している。このように、撥液部と親液部とを基板に形成する場合にも、マスクを介した露光が必要となるため、プロセスタイムが長くなる。
However, since the bank is formed by using a photolithography method, there is a possibility that the cost may be increased, and the process time becomes long.
Further, when the liquid repellent part and the lyophilic part are formed on the substrate in advance, a liquid repellent monomolecule is formed by forming a liquid repellent monomolecular film such as FAS on the substrate and exposing through a mask. The membrane is selectively decomposed to form a lyophilic part. As described above, also when the liquid repellent part and the lyophilic part are formed on the substrate, the exposure through the mask is required, so that the process time becomes long.
本発明は、上述する問題点に鑑みてなされたもので、配線パターンを形成する際のプロセスタイムを短縮することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to shorten the process time when forming a wiring pattern.
上記目的を達成するために、本発明の配線パターン形成方法は、撥液性を有する基板上に配線パターンを形成する配線パターンの形成方法であって、液滴吐出法によって親液性材料を上記基板上に吐出配置することによって親液領域を形成する工程と、上記親液領域上に導電性微粒子を含む機能液を配置し乾燥、焼成させることによって上記配線パターンを形成する工程とを有することを特徴とする。 In order to achieve the above object, a wiring pattern forming method of the present invention is a wiring pattern forming method for forming a wiring pattern on a substrate having liquid repellency, wherein the lyophilic material is added by a droplet discharge method. A step of forming a lyophilic region by discharging and arranging on a substrate; and a step of forming a wiring pattern by disposing a functional liquid containing conductive fine particles on the lyophilic region, drying and baking the functional liquid. It is characterized by.
このような特徴を有する本発明の配線パターン形成方法によれば、親液性材料が液滴吐出法を用いて基板上に吐出配置されることによって親液領域が形成される。このため、従来のように、親液領域を形成する際にマスクを介した露光処理が必要なくなる。したがって、本発明の配線パターン形成方法によれば、配線パターンを形成する際のプロセスタイムを短縮することが可能となる。 According to the wiring pattern forming method of the present invention having such characteristics, a lyophilic region is formed by discharging and placing a lyophilic material on a substrate using a droplet discharge method. This eliminates the need for an exposure process via a mask when forming the lyophilic region as in the prior art. Therefore, according to the wiring pattern forming method of the present invention, it is possible to shorten the process time when forming the wiring pattern.
また、本発明の配線パターン形成方法においては、上記親液性材料として光触媒材料を使用し、上記基板上に上記親液性材料を吐出配置した後に、上記親液性材料を露光するという構成を採用することができる。
このような構成を採用することによって、親液性材料の親液性をより向上させることができる。このため、基板に対する配線パターンの密着力を向上させることができる。なお、親液性材料を露光する際には、マスクを用いる必要がないため、従来の配線パターン形成方法よりも、プロセスタイムを短縮することが可能である。
In the wiring pattern forming method of the present invention, a photocatalytic material is used as the lyophilic material, and the lyophilic material is exposed after the lyophilic material is discharged and disposed on the substrate. Can be adopted.
By adopting such a configuration, the lyophilicity of the lyophilic material can be further improved. For this reason, the adhesive force of the wiring pattern with respect to a board | substrate can be improved. Note that it is not necessary to use a mask when exposing the lyophilic material, so that the process time can be shortened as compared with the conventional wiring pattern forming method.
また、本発明の配線パターン形成方法においては、上記親液性材料として光触媒材料を使用し、上記基板上に上記親液性材料を吐出配置する前に、上記親液性材料を露光するという構成を採用することもできる。
このような構成を採用することによって、親液性材料の親液性をより向上させることができる。このため、基板に対する配線パターンの密着力を向上させることができる。なお、親液性材料を露光する際には、マスクを用いる必要がないため、従来の配線パターン形成方法よりも、プロセスタイムを短縮することが可能である。また、親液性材料に対する露光処理を、基板に対する処理と切り離して行うことができるため、基板に対する処理のプロセスタイムを短縮させることができる。
In the wiring pattern forming method of the present invention, a photocatalytic material is used as the lyophilic material, and the lyophilic material is exposed before the lyophilic material is discharged and disposed on the substrate. Can also be adopted.
By adopting such a configuration, the lyophilicity of the lyophilic material can be further improved. For this reason, the adhesive force of the wiring pattern with respect to a board | substrate can be improved. Note that it is not necessary to use a mask when exposing the lyophilic material, so that the process time can be shortened as compared with the conventional wiring pattern forming method. In addition, since the exposure process for the lyophilic material can be performed separately from the process for the substrate, the process time of the process for the substrate can be shortened.
なお、本発明の配線パターン形成方法においては、上記光触媒材料が、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化スズ、チタン酸ストロンチウム、酸化タングステン、酸化ビスマス、及び酸化鉄のうち、いずれか1種または2種以上の物質を含む微粒子分散液であるという構成を採用することができる。 In the wiring pattern forming method of the present invention, the photocatalytic material is any one or more of titanium oxide, zinc oxide, tin oxide, strontium titanate, tungsten oxide, bismuth oxide, and iron oxide. It is possible to adopt a configuration in which the fine particle dispersion contains the substance.
また、本発明の配線パターン形成方法においては、上記親液性材料として光触媒材料を使用する場合に、上記親液性材料が、シリカ微粒子であるという構成を採用することもできる。 Moreover, in the wiring pattern formation method of this invention, when using a photocatalyst material as said lyophilic material, the structure that the said lyophilic material is a silica particle can also be employ | adopted.
また、本発明の配線パターン形成方法においては、上記撥液性を有する基板が、上記基板上に撥液性の有機薄膜を形成する工程により撥液性が付与されるという構成を採用することもできるし、上記撥液を有する基板が、フルオロカーボン系化合物を反応ガスに用いて上記基板の表面をプラズマ処理する工程により撥液性が付与されるという構成を採用することもできるし、上記撥液を有する基板が、上記基板上に、フッ素を含有する高分子化合物を塗布してなる撥液膜を形成する工程により撥液性が付与されるという構成を採用することもできる。 In the wiring pattern forming method of the present invention, the substrate having the liquid repellency may be configured such that the liquid repellency is imparted by the step of forming the liquid repellant organic thin film on the substrate. In addition, the substrate having the liquid repellency can adopt a configuration in which liquid repellency is imparted by a plasma treatment of the surface of the substrate using a fluorocarbon compound as a reaction gas. It is also possible to adopt a configuration in which a substrate having a liquid repellency is imparted by a step of forming a liquid repellent film formed by applying a fluorine-containing polymer compound on the substrate.
なお、本発明の配線パターン形成方法においては、上記撥液性の有機薄膜が、有機分子1〜10層からなるという構成を採用することもできる。なお、撥液性の有機薄膜が有機分子からなる場合に、上記有機分子として、フッ素を含有するシラン化合物あるいは界面活性剤を用いることができる。 In addition, in the wiring pattern formation method of this invention, the structure that the said liquid repellent organic thin film consists of 1-10 layers of organic molecules is also employable. When the liquid repellent organic thin film is composed of organic molecules, fluorine-containing silane compounds or surfactants can be used as the organic molecules.
また、本発明の配線パターン形成方法においては、液滴吐出法によって上記機能液を上記親液性材料上に吐出配置するという構成を採用することができる。
このような構成を採用することによって、機能液を無駄にすることなく、所望の位置に配置することができるため、配線を低コストで形成することが可能となる。
Further, in the wiring pattern forming method of the present invention, it is possible to adopt a configuration in which the functional liquid is discharged and disposed on the lyophilic material by a droplet discharge method.
By adopting such a configuration, the functional liquid can be disposed at a desired position without being wasted, so that the wiring can be formed at low cost.
次に、本発明の配線パターンは、本発明の配線パターン形成方法によって形成されたことを特徴とする。
このような特徴を有する本発明の配線パターンは、プロセスタイムが短縮されて形成される。
Next, the wiring pattern of the present invention is formed by the wiring pattern forming method of the present invention.
The wiring pattern of the present invention having such characteristics is formed with a reduced process time.
次に、本発明の電気光学装置は、本発明の配線パターンを備えることを特徴とする。
このような特徴を有する本発明の電気光学装置は、配線パターン形成のプロセスタイムが短縮された配線パターンを備えるため、低コスト化される。
Next, an electro-optical device according to the present invention includes the wiring pattern according to the present invention.
Since the electro-optical device of the present invention having such a feature includes a wiring pattern in which the process time for forming the wiring pattern is shortened, the cost is reduced.
次に、本発明の電子機器は、本発明の配線パターンを備えることを特徴とする。
このような特徴を有する本発明の電子機器は、配線パターン形成のプロセスタイムが短縮された配線パターンを備えるため、電子機器自体が低コスト化される。
Next, an electronic apparatus according to the present invention includes the wiring pattern according to the present invention.
Since the electronic device of the present invention having such characteristics includes a wiring pattern in which the process time for forming the wiring pattern is shortened, the cost of the electronic device itself is reduced.
以下、図面を参照して、本発明に係る配線パターン及びその形成方法、電気光学装置、並びに電子機器の一実施形態について説明する。なお、以下の図面において、各部材を認識可能な大きさとするために、各部材の縮尺を適宜変更している。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS An embodiment of a wiring pattern and a method for forming the wiring pattern, an electro-optical device, and an electronic apparatus according to the invention will be described below with reference to the drawings. In the following drawings, the scale of each member is appropriately changed in order to make each member a recognizable size.
本実施の形態では、基板上に液滴吐出法によって液滴吐出ヘッドの吐出ノズルから親液性材料あるいは親液性材料を含むインクを液滴状に吐出配置することによって親液領域を形成し、この親液領域上に導電性配線(配線パターン)を形成する場合の例を用いて説明する。 In this embodiment, a lyophilic region is formed on a substrate by discharging and arranging a lyophilic material or ink containing a lyophilic material from a discharge nozzle of a droplet discharge head in a droplet shape by a droplet discharge method. A description will be given using an example in which conductive wiring (wiring pattern) is formed on the lyophilic region.
[親液性材料]
本実施形態の親液性材料としては、紫外線露光によってより良好な親液性を発揮する光触媒材料を用いることができる。光触媒としては、光半導体として知られる例えば酸化チタン(TiO2)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化スズ(SnO2)、チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)、酸化タングステン(WO3)、酸化ビスマス(Bi2O3)、および酸化鉄(Fe2O3)のうち、いずれか1種または2種以上の物質を含む微粒子分散液を用いることができる。また、このような光触媒に酸素欠陥や不純物を導入すると、この光触媒の紫外光や可視光に対する感度が高くなり、好ましい。
[Liquid material]
As the lyophilic material of the present embodiment, a photocatalytic material that exhibits better lyophilicity by ultraviolet exposure can be used. As a photocatalyst, for example, titanium oxide (TiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tin oxide (SnO 2 ), strontium titanate (SrTiO 3 ), tungsten oxide (WO 3 ), bismuth oxide (Bi 2 ), which are known as optical semiconductors. A fine particle dispersion containing any one or more of O 3 ) and iron oxide (Fe 2 O 3 ) can be used. In addition, it is preferable to introduce oxygen defects or impurities into such a photocatalyst because the sensitivity of the photocatalyst to ultraviolet light or visible light increases.
このような物質のうち、特に二酸化チタンが、バンドギャップエネルギーが高く、化学的に安定で毒性もなく、入手も容易であることなどから好適に使用される。二酸化チタンには、アナターゼ型、ルチル型、およびブルッカイト型があり、本発明ではいずれも使用することができるが、特にアナターゼ型が好ましい。 Among these substances, titanium dioxide is particularly preferably used because it has a high band gap energy, is chemically stable, has no toxicity, and is easily available. Titanium dioxide includes an anatase type, a rutile type, and a brookite type, and any of them can be used in the present invention, but the anatase type is particularly preferable.
アナターゼ型二酸化チタンとしては、例えば、塩酸解膠型のアナターゼ型チタニアゾル(石原産業(株)製STS−02(平均粒径7nm)、石原産業(株)製ST−K01)、硝酸解膠型のアナターゼ型チタニアゾル(日産化学(株)製TA−15(平均粒径12nm))等を挙げることができる。
光触媒の粒径については、これが小さいほど光触媒反応が効果的に起こるので好ましく、具体的には、平均粒径を50nm以下とするのが好ましく、20nm以下とするのが特に好ましい。
Examples of the anatase type titanium dioxide include hydrochloric acid peptization type anatase type titania sol (STS-02 (average particle size: 7 nm) manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., ST-K01 manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd.), nitrate peptization type Anatase type titania sol (TA-15 manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd. (average particle size 12 nm)) and the like can be mentioned.
Regarding the particle size of the photocatalyst, the smaller the particle size, the more effective the photocatalytic reaction occurs. Specifically, the average particle size is preferably 50 nm or less, and particularly preferably 20 nm or less.
光触媒は、光触媒単独として用いても良いし、バインダと混合して用いても良い。光触媒単独で用いる場合には、例えば微粒子分散液に含まれる物質として二酸化チタンを用いた場合、基板上に無定形チタニアを液滴吐出法によって配置し、次いで焼成を行うことにより、結晶性チタニアに相変化させるといった方法を採用することができる。ここで用いられる無定形チタニアとしては、例えば四塩化チタン、硫酸チタン等のチタンの無機塩の加水分解、脱水縮合、テトラエトキシチタン、テトライソプロポキシチタン、テトラ−n−プロポキシチタン、テトラブトキシチタン、テトラメトキシチタン等の有機チタン化合物を酸存在下において加水分解、脱水縮合によって得ることができる。この無定形チタニアは、400℃〜500℃における焼成によってアナターゼ型チタニアに変性し、600℃〜700℃の焼成によってルチル型チタニアに変性する。 The photocatalyst may be used as a photocatalyst alone or in combination with a binder. When the photocatalyst is used alone, for example, when titanium dioxide is used as the substance contained in the fine particle dispersion, amorphous titania is disposed on the substrate by a droplet discharge method, and then fired to form crystalline titania. A method of changing the phase can be employed. As the amorphous titania used here, for example, hydrolysis, dehydration condensation, tetraethoxytitanium, tetraisopropoxytitanium, tetra-n-propoxytitanium, tetrabutoxytitanium, titanium inorganic salts such as titanium tetrachloride and titanium sulfate, An organic titanium compound such as tetramethoxytitanium can be obtained by hydrolysis and dehydration condensation in the presence of an acid. This amorphous titania is denatured into anatase titania by baking at 400 ° C. to 500 ° C., and denatured into rutile type titania by baking at 600 ° C. to 700 ° C.
また、バインダと混合して光触媒を用いる場合には、バインダとしてその主骨格が上記の光触媒の光励起により分解されないような高い結合エネルギーを有するものが好ましく、例えば、オルガノポリシロキサン等が好適とされる。
オルガノポリシロキサンをバインダとして用いた場合、このオルガノポリシロキサンからなるバインダと光触媒とを必要に応じ他の添加剤とともに溶剤中に分散して塗布液を調製し、この塗布液を液滴吐出法によって基板上に吐出配置し、次いで乾燥、焼成を行うという方法を採用することができる。なお、使用する溶剤としては、エタノール、イソプロパノール等のアルコール系の有機溶剤が好ましい。
When a photocatalyst is used by mixing with a binder, it is preferable that the binder has a high binding energy such that the main skeleton is not decomposed by photoexcitation of the photocatalyst. For example, organopolysiloxane is suitable. .
When an organopolysiloxane is used as a binder, a coating liquid is prepared by dispersing the binder made of this organopolysiloxane and a photocatalyst together with other additives in a solvent as required, and this coating liquid is prepared by a droplet discharge method. It is possible to adopt a method of discharging and arranging on the substrate, followed by drying and baking. In addition, as a solvent to be used, alcohol-type organic solvents, such as ethanol and isopropanol, are preferable.
また、バインダとして無定形シリカ前駆体を用いることができる。この無定形シリカ前駆体は、一般式SiX4で表され、Xはハロゲン、メトキシ基、エトキシ基、またはアセチル基等であるケイ素化合物、それらの加水分解物であるシラノール、または平均分子量3000以下のポリシロキサンであるのが好ましい。 An amorphous silica precursor can be used as the binder. This amorphous silica precursor is represented by the general formula SiX 4, X is a halogen, a methoxy group, an ethoxy group or a silicon compound an acetyl group or the like, and silanol or average molecular weight of 3,000 or less, their hydrolysates Polysiloxane is preferred.
具体的には、テトラエトキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラブトキシシラン、テトラメトキシシラン等が挙げられる。また、この場合には、無定形シリカの前駆体と光触媒の粒子とを非水性溶媒中に均一に分散させ、基板上にて空気中の水分により加水分解させてシラノールを形成させた後、常温で脱水縮重合する方法を採用することができる。シラノールの脱水縮重合を100℃以上で行えば、シラノールの重合度が増し、膜表面の強度を向上できる。
また、これらの結着剤は、単独あるいは2種以上を混合して用いることができる。
Specific examples include tetraethoxysilane, tetraisopropoxysilane, tetra-n-propoxysilane, tetrabutoxysilane, and tetramethoxysilane. In this case, the amorphous silica precursor and the photocatalyst particles are uniformly dispersed in a non-aqueous solvent and hydrolyzed with moisture in the air on the substrate to form silanol, and then at room temperature. It is possible to employ a method of dehydration-condensation polymerization. If dehydration condensation polymerization of silanol is carried out at 100 ° C. or higher, the degree of polymerization of silanol increases and the strength of the film surface can be improved.
Moreover, these binders can be used individually or in mixture of 2 or more types.
[液滴吐出装置]
液滴吐出法の吐出技術としては、帯電制御方式、加圧振動方式、電気機械変換式、電気熱変換方式、静電吸引方式などが挙げられる。帯電制御方式は、材料に帯電電極で電荷を付与し、偏向電極で材料の飛翔方向を制御して吐出ノズルから吐出させるものである。また、加圧振動方式は、材料に30kg/cm2程度の超高圧を印加して吐出ノズル先端側に材料を吐出させるものであり、制御電圧をかけない場合には材料が直進して吐出ノズルから吐出され、制御電圧をかけると材料間に静電的な反発が起こり、材料が飛散して吐出ノズルから吐出されない。また、電気機械変換方式は、ピエゾ素子(圧電素子)がパルス的な電気信号を受けて変形する性質を利用したもので、ピエゾ素子が変形することによって材料を貯留した空間に可撓物質を介して圧力を与え、この空間から材料を押し出して吐出ノズルから吐出させるものである。
[Droplet discharge device]
Examples of the discharge technique of the droplet discharge method include a charge control method, a pressure vibration method, an electromechanical conversion method, an electrothermal conversion method, and an electrostatic suction method. In the charge control method, a charge is applied to a material with a charging electrode, and the flight direction of the material is controlled with a deflection electrode to be discharged from a discharge nozzle. In addition, the pressure vibration method is a method in which an ultra-high pressure of about 30 kg /
また、電気熱変換方式は、材料を貯留した空間内に設けたヒータにより、材料を急激に気化させてバブル(泡)を発生させ、バブルの圧力によって空間内の材料を吐出させるものである。静電吸引方式は、材料を貯留した空間内に微小圧力を加え、吐出ノズルに材料のメニスカスを形成し、この状態で静電引力を加えてから材料を引き出すものである。また、この他に、電場による流体の粘性変化を利用する方式や、放電火花で飛ばす方式などの技術も適用可能である。液滴吐出法は、材料の使用に無駄が少なく、しかも所望の位置に所望の量の材料を的確に配置できるという利点を有する。なお、液滴吐出法により吐出される液状材料(流動体)の一滴の量は、例えば1〜300ナノグラムである。 In the electrothermal conversion method, a material is rapidly vaporized by a heater provided in a space where the material is stored to generate bubbles, and the material in the space is discharged by the pressure of the bubbles. In the electrostatic attraction method, a minute pressure is applied to a space in which a material is stored, a meniscus of material is formed on the discharge nozzle, and an electrostatic attractive force is applied in this state before the material is drawn out. In addition to this, techniques such as a system that uses a change in the viscosity of a fluid due to an electric field and a system that uses a discharge spark are also applicable. The droplet discharge method has an advantage that the use of the material is less wasteful and a desired amount of the material can be accurately disposed at a desired position. The amount of one drop of the liquid material (fluid) discharged by the droplet discharge method is, for example, 1 to 300 nanograms.
次に、上述の液滴吐出法を用いて液体材料を吐出する液滴吐出装置の一例について説明する。なお、本実施形態においては、液滴吐出法を用いて液滴吐出ヘッドから基板に対して液滴を吐出(滴下)することによりインクジェット装置を挙げて説明する。 Next, an example of a droplet discharge device that discharges a liquid material using the above-described droplet discharge method will be described. In this embodiment, an ink jet apparatus will be described by ejecting (dropping) droplets from a droplet ejection head to a substrate using a droplet ejection method.
図1は、液滴吐出装置IJの概略構成を示す斜視図である。
液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド1と、X軸方向駆動軸4と、Y軸方向ガイド軸5と、制御装置CONTと、ステージ7と、クリーニング機構8と、基台9と、ヒータ15とを備えている。
ステージ7は、この液滴吐出装置IJにより液体材料を配置される基板Pを支持するものであって、基板Pを基準位置に固定する不図示の固定機構を備えている。
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of the droplet discharge device IJ.
The droplet discharge device IJ includes a
The stage 7 supports the substrate P on which the liquid material is arranged by the droplet discharge device IJ, and includes a fixing mechanism (not shown) that fixes the substrate P to a reference position.
液滴吐出ヘッド1は、複数の吐出ノズルを備えたマルチノズルタイプの液滴吐出ヘッドであり、長手方向とX軸方向とを一致させている。複数の吐出ノズルは、液滴吐出ヘッド1の下面に一定間隔で設けられている。液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルからは、ステージ7に支持されている基板Pに対して、液体材料が吐出される。
The
X軸方向駆動軸4には、X軸方向駆動モータ2が接続されている。X軸方向駆動モータ2はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからX軸方向の駆動信号が供給されると、X軸方向駆動軸4を回転させる。X軸方向駆動軸4が回転すると、液滴吐出ヘッド1はX軸方向に移動する。
Y軸方向ガイド軸5は、基台9に対して動かないように固定されている。ステージ7は、Y軸方向駆動モータ3を備えている。Y軸方向駆動モータ3はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからY軸方向の駆動信号が供給されると、ステージ7をY軸方向に移動する。
An X-axis direction drive
The Y-axis direction guide
制御装置CONTは、液滴吐出ヘッド1に液滴の吐出制御用の電圧を供給する。また、X軸方向駆動モータ2に液滴吐出ヘッド1のX軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を、Y軸方向駆動モータ3にステージ7のY軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を供給する。
クリーニング機構8は、液滴吐出ヘッド1をクリーニングするものである。クリーニング機構8には、図示しないY軸方向の駆動モータが備えられている。このY軸方向の駆動モータの駆動により、クリーニング機構は、Y軸方向ガイド軸5に沿って移動する。クリーニング機構8の移動も制御装置CONTにより制御される。
ヒータ15は、ここではランプアニールにより基板Pを熱処理する手段であり、基板P上に配置された液体材料に含まれる溶媒の蒸発及び乾燥を行う。このヒータ15の電源の投入及び遮断も制御装置CONTにより制御される。
The control device CONT supplies the
The cleaning mechanism 8 cleans the
Here, the
液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド1と基板Pを支持するステージ7とを相対的に走査しつつ基板Pに対して、液滴吐出ヘッド1の下面にX軸方向に配列された複数の吐出ノズルから液滴を吐出する。
The droplet discharge device IJ has a plurality of arrays arranged in the X-axis direction on the lower surface of the
図2は、ピエゾ方式による液体材料の吐出原理を説明するための図である。
図2において、液体材料を収容する液体室21に隣接してピエゾ素子22が設置されている。液体室21には、液体材料を収容する材料タンクを含む液体材料供給系23を介して液体材料が供給される。ピエゾ素子22は駆動回路24に接続されており、この駆動回路24を介してピエゾ素子22に電圧を印加し、ピエゾ素子22を変形させることにより、液体室21が変形し、吐出ノズル25から液体材料が吐出される。この場合、印加電圧の値を変化させることにより、ピエゾ素子22の歪み量が制御される。また、印加電圧の周波数を変化させることにより、ピエゾ素子22の歪み速度が制御される。ピエゾ方式による液滴吐出は材料に熱を加えないため、材料の組成に影響を与えにくいという利点を有する。
FIG. 2 is a diagram for explaining the principle of discharging a liquid material by a piezo method.
In FIG. 2, a
[配線パターン形成方法]
次に、本発明の配線パターン形成方法の実施形態の一例として、基板上に導電膜配線(配線パターン)を形成する方法について図3及び図4を参照して説明する。なお、本実施形態の配線パターン形成方法は、表面処理工程、材料配置工程、中間乾燥工程及び熱処理/光処理工程から概略構成される。
以下、各工程毎に詳細に説明する。
[Wiring pattern forming method]
Next, as an example of an embodiment of the wiring pattern forming method of the present invention, a method for forming a conductive film wiring (wiring pattern) on a substrate will be described with reference to FIGS. The wiring pattern forming method of the present embodiment is roughly composed of a surface treatment process, a material arrangement process, an intermediate drying process, and a heat treatment / light treatment process.
Hereinafter, each process will be described in detail.
(表面処理工程)
表面処理工程は、基板Pの表面を撥液化する撥液化処理工程と、撥液化された基板Pの表面を配線パターン形成領域に応じて親液部を形成する親液化処理工程とに大別される。
撥液化処理工程では、配線パターンを形成する基板Pの表面を親液材料あるいは親液材料を含むインクに対して撥液性に加工する。なお、予め撥液性を有する基板を用いる場合には、撥液化処理工程を省略することができる。撥液化処理工程では、具体的には、親液性材料あるいは親液性材料を含むインクに対する所定の接触角と、後に詳説する親液部における接触角との差が好ましくは40°以上となるように基板Pの表面に対して表面処理を施す。
基板Pの表面を撥液化する方法としては、例えば、基板Pの表面に有機薄膜を形成する方法、プラズマ処理法、撥液性の高分子化合物を基板P表面に塗布する方法等を採用できる。
(Surface treatment process)
The surface treatment process is roughly divided into a lyophobic treatment process for making the surface of the substrate P lyophobic and a lyophilic treatment process for forming a lyophilic portion on the surface of the lyophobic substrate P according to the wiring pattern formation region. The
In the liquid repellent treatment step, the surface of the substrate P on which the wiring pattern is formed is processed to be liquid repellent with respect to the lyophilic material or the ink containing the lyophilic material. Note that when a substrate having liquid repellency is used in advance, the liquid repellency treatment step can be omitted. In the lyophobic treatment step, specifically, the difference between the predetermined contact angle with respect to the lyophilic material or the ink containing the lyophilic material and the contact angle in the lyophilic portion described in detail later is preferably 40 ° or more. Thus, the surface treatment is performed on the surface of the substrate P.
As a method for making the surface of the substrate P liquid repellent, for example, a method of forming an organic thin film on the surface of the substrate P, a plasma treatment method, a method of applying a liquid repellent polymer compound to the surface of the substrate P, or the like can be employed.
有機薄膜を形成する方法では、配線パターンを形成すべき基板Pの表面に、シラン化合物や界面活性剤等の有機分子から有機薄膜を形成する。
基板Pの表面を処理するための有機分子は、基板Pに物理的または化学的に結合可能な官能基と、その反対側に親液基あるいは撥液基といった基板の表面性を改質する(表面エネルギーを制御する)官能基とを備えており、基板Pに結合して有機薄膜を形成し、理想的には単分子膜となる。中でも、基板Pとの結合可能な官能基と、その反対側の基板の表面を改質する官能基とを結ぶ有機構造が炭素の直鎖あるいは一部分岐した炭素鎖である有機分子は、基板Pに結合して自己組織化して緻密な自己組織化膜を形成する。
In the method of forming an organic thin film, an organic thin film is formed from organic molecules such as a silane compound and a surfactant on the surface of a substrate P on which a wiring pattern is to be formed.
The organic molecule for treating the surface of the substrate P modifies the surface properties of the substrate such as a functional group that can be physically or chemically bonded to the substrate P and a lyophilic group or a liquid repellent group on the opposite side. A functional group that controls the surface energy), and binds to the substrate P to form an organic thin film, which is ideally a monomolecular film. Among them, an organic molecule in which an organic structure that connects a functional group that can be bonded to the substrate P and a functional group that modifies the surface of the substrate on the opposite side is a linear or partially branched carbon chain of carbon To form a dense self-assembled film.
ここで、自己組織化膜とは、基板の下地層等の構成原子と反応可能な結合性官能基とそれ以外の直鎖とからなり、直鎖部位間におけるのファンデルワールスの相互作用や芳香環間におけるπ−πスタッキングにより極めて高い配向性を有する化合物を、配向させて形成された膜である。この有機薄膜は、単分子を配向させて形成されているので、極めて膜厚を薄くすることができ、しかも、分子レベルで均一な膜となる。すなわち、膜の表面に同じ分子が位置するため、膜の表面に均一でしかも優れた撥液性や親液性を付与することができる。 Here, the self-assembled film is composed of a binding functional group capable of reacting with a constituent atom such as an underlayer of a substrate and other straight chain, and van der Waals interaction or fragrance between the straight chain sites. It is a film formed by orienting a compound having extremely high orientation by π-π stacking between rings. Since the organic thin film is formed by aligning single molecules, the film thickness can be extremely reduced, and the film is uniform at the molecular level. That is, since the same molecule is located on the surface of the film, uniform and excellent liquid repellency and lyophilicity can be imparted to the surface of the film.
上記の高い配向性を有する化合物として、例えば下記一般式(1)に示すようなシラン化合物を用いることができる。式(1)中、R1は有機基を表し、X1及びX2は−OR2、−R2、−Clを示し、X1及びX2に含まれるR2は、炭素数1〜4のアルキル基を示し、aは1〜3の整数である。 As the compound having high orientation, for example, a silane compound represented by the following general formula (1) can be used. In Formula (1), R 1 represents an organic group, X 1 and X 2 represent —OR 2 , —R 2 , —Cl, and R 2 contained in X 1 and X 2 has 1 to 4 carbon atoms. And a is an integer of 1 to 3.
(1) R1SiX1 aX2 (3−a) (1) R 1 SiX 1 a X 2 (3-a)
一般式(1)で表されるシラン化合物は、シラン原子に有機基が置換し、残りの結合基にアルコキシ基またはアルキル基または塩素基が置換したものである。有機基R1の例としては、例えば、フェニル基、ベンジル基、フェネチル基、ヒドロキシフェニル基、クロロフェニル基、アミノフェニル基、ナフチル基、アンスレニル基、ピレニル基、チエニル基、ピロリル基、シクロヘキシル基、シクロヘキセニル基、シクロペンチル基、シクロペンテニル基、ピリジニル基、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、オクタデシル基、n−オクチル基、クロロメチル基、メトキシエチル基、ヒドロキシエチル基、アミノエチル基、シアノ基、メルカプトプロピル基、ビニル基、アリル基、アクリロキシエチル基、メタクリロキシエチル基、グリシドキシプロピル基、アセトキシ基等を例示できる。
X1のアルコキシ基や塩素基、Si−O−Si結合等を形成するための官能基であり、水により加水分解されてアルコールや酸として脱離する。アルコキシ基としては例えば、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、イソプロポキシ基、n−ブトキシ基、イソブトキシ基、sec−ブトキシ基、tert−ブトキシ基等を挙げることができる。
R2の炭素数は脱離するアルコールの分子量が比較的小さく、除去が容易であり形成される膜の緻密性の低下を抑制できるという観点から、1〜4の範囲であることが好ましい。
In the silane compound represented by the general formula (1), an organic group is substituted on the silane atom, and an alkoxy group, an alkyl group, or a chlorine group is substituted on the remaining bonding group. Examples of the organic group R 1 include, for example, phenyl group, benzyl group, phenethyl group, hydroxyphenyl group, chlorophenyl group, aminophenyl group, naphthyl group, anthrenyl group, pyrenyl group, thienyl group, pyrrolyl group, cyclohexyl group, cyclohexane Hexenyl, cyclopentyl, cyclopentenyl, pyridinyl, methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, octadecyl, n- Octyl group, chloromethyl group, methoxyethyl group, hydroxyethyl group, aminoethyl group, cyano group, mercaptopropyl group, vinyl group, allyl group, acryloxyethyl group, methacryloxyethyl group, glycidoxypropyl group, acetoxy group Etc. can be illustrated.
X 1 is a functional group for forming an alkoxy group, a chlorine group, a Si—O—Si bond, or the like, and is hydrolyzed by water to be removed as an alcohol or an acid. Examples of the alkoxy group include a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an isopropoxy group, an n-butoxy group, an isobutoxy group, a sec-butoxy group, and a tert-butoxy group.
The number of carbon atoms of R 2 is preferably in the range of 1 to 4 from the viewpoint that the molecular weight of the alcohol to be desorbed is relatively small, can be easily removed, and the deterioration of the denseness of the formed film can be suppressed.
一般式(1)で表される代表的な撥液性シラン化合物としては、含フッ素アルキルシラン化合物が挙げられる。特にR1がパ−フルオロアルキル構造CnF2n+1で表される構造を有するものであり、一般式(2)で表される化合物を例示することができる。式(2)中、nは1から18の整数を、mは2から6までの整数をそれぞれ表し、X1およびX2およびaは、上記式(1)と同じ意味を表す。
含フッ素アルキルシラン化合物を用いることにより、膜の表面にフルオロアルキル基が位置するように各化合物が配向して自己組織化膜が形成されるので、膜の表面に均一な撥液性を付与することができる。
A typical liquid repellent silane compound represented by the general formula (1) includes a fluorine-containing alkylsilane compound. In particular, R 1 has a structure represented by the perfluoroalkyl structure C n F 2n + 1 , and examples thereof include compounds represented by the general formula (2). In formula (2), n represents an integer from 1 to 18, m represents an integer from 2 to 6, and X 1, X 2 and a represent the same meaning as in the above formula (1).
By using a fluorine-containing alkylsilane compound, each compound is oriented so that a fluoroalkyl group is located on the surface of the film, and a self-assembled film is formed. Thus, uniform liquid repellency is imparted to the surface of the film. be able to.
(2) CnF2n+1(CH2)mSiX1 aX2 (3−a) (2) C n F 2n + 1 (CH 2) m SiX 1 a X 2 (3-a)
より具体的には、CF3−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3(CF2)3−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3(CF2)5−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3(CF2)5−CH2CH2−Si(OC2H5)3、CF3(CF2)7−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3(CF2)11−CH2CH2−Si(OC2H5)3、CF3(CF2)3−CH2CH2−Si(CH3)(OCH3)2、CF3(CF2)7−CH2CH2−Si(CH3)(OCH3)2、CF3(CF2)8−CH2CH2−Si(CH3)(OC2H5)2、CF3(CF2)8−CH2CH2−Si(C2H5)(OC2H5)2等が挙げられる。
More specifically, CF 3 —CH 2 CH 2 —Si (OCH 3 ) 3 , CF 3 (CF 2 ) 3 —CH 2 CH 2 —Si (OCH 3 ) 3 , CF 3 (CF 2 ) 5 —CH 2 CH 2 —Si (OCH 3 ) 3 , CF 3 (CF 2 ) 5 —CH 2 CH 2 —Si (OC 2 H 5 ) 3 , CF 3 (CF 2 ) 7 —CH 2 CH 2 —Si (OCH 3) ) 3 , CF 3 (CF 2 ) 11 —CH 2 CH 2 —Si (OC 2 H 5 ) 3 , CF 3 (CF 2 ) 3 —CH 2 CH 2 —Si (CH 3 ) (OCH 3 ) 2 , CF 3 (CF 2) 7 -CH 2 CH 2 -Si (CH 3) (OCH 3) 2, CF 3 (CF 2) 8 -
また、R1がパ−フルオロアルキルエーテル構造CnF2n+1O(CpF2pO)rで表される構造を有するものも挙げることができる。その具体例としては例えば、下記一般式(3)で表される化合物を例示することができる。 Further, R 1 Gapa - can also be mentioned those having a structure represented by fluoroalkyl ether structure C n F 2n + 1 O ( C p F 2p O) r. Specific examples thereof include a compound represented by the following general formula (3).
(3) CpF2p+1O(CpF2pO)r(CH2)mSiX1 aX2 (3−a) (3) C p F 2p + 1 O (C p F 2p O) r (CH 2) m SiX 1 a X 2 (3-a)
(式中、mは2から6の整数を,pは1から4の整数を、rは1から10の整数をそれぞれ表し、X1およびX2およびaは、前出と同じ意味を表す。)具体的な化合物の例としては、CF3O(CF2O)6−CH2CH2−Si(OC2H5)3、CF3O(C3F6O)4−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3O(C3F6O)2(CF2O)3−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3O(C3F6O)8−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3O(C4F9O)5−CH2CH2−Si(OCH3)3、CF3O(C4F9O)5−CH2CH2−Si(CH3)(OC2H5)2、CF3O(C3F6O)4−CH2CH2−Si(C2H5)(OCH3)2等が挙げられる。
(In the formula, m represents an integer of 2 to 6, p represents an integer of 1 to 4, r represents an integer of 1 to 10, and X 1, X 2 and a represent the same meaning as described above. ) examples of specific compounds, CF 3 O (CF 2 O ) 6 -
フルオロアルキル基やパ−フルオロアルキルエーテル構造を有するシラン化合物は「FAS」と総称される。これらの化合物は、単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。なお、FASを用いることにより、基板Pとの密着性と良好な撥液性とを得ることができる。
上記の高い配向性を有する化合物として、下記一般式(A)で表される界面活性剤を用いることもできる。式(I)中、R1は疎水性の有機基を表し、Y1は親水性の極性基、−OH、−(CH2CH2O)nH、−COOH、−COOA、−CONH2、−SO3H、−SO3A、−OSO3H、−OSO3A、−PO3H2、−PO3A、−NO2、−NH2、−NH3B(アンモニウム塩)、≡NHB(ピリジニウム塩)、−NX1 3B(アルキルアンモニウム塩)等である。ただし、Aは1個以上の陽イオンを表し、Bは1個以上の陰イオンを表すものとする。また、X1は前出と同じ炭素数1〜4のアルキル基を意味を表すものとする。
Silane compounds having a fluoroalkyl group or a perfluoroalkyl ether structure are collectively referred to as “FAS”. These compounds may be used alone or in combination of two or more. By using FAS, adhesion to the substrate P and good liquid repellency can be obtained.
As the compound having high orientation, a surfactant represented by the following general formula (A) can also be used. In formula (I), R 1 represents a hydrophobic organic group, Y 1 represents a hydrophilic polar group, —OH, — (
R1Y1 (A) R 1 Y 1 (A)
一般式(A)で表される界面活性剤は両親媒性化合物であり、親油性の有機基R1に親水性の官能基が結合した化合物である。Y1は親水性の極性基を表し、基板との結合あるいは吸着するための官能基であり、有機基R1は新油性を有し、親水面の反対側に並ぶことにより親水面上に親油面が形成される。有機基R1の例としては、例えば、フェニル基、ベンジル基、フェネチル基、ヒドロキシフェニル基、クロロフェニル基、アミノフェニル基、ナフチル基、アンスレニル基、ピレニル基、チエニル基、ピロリル基、シクロヘキシル基、シクロヘキセニル基、シクロペンチル基、シクロペンテニル基、ピリジニル基、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、オクタデシル基、n−オクチル基、クロロメチル基、メトキシエチル基、ヒドロキシエチル基、アミノエチル基、シアノ基、メルカプトプロピル基、ビニル基、アリル基、アクリロキシエチル基、メタクリロキシエチル基、グリシドキシプロピル基、アセトキシ基等を例示できる。 The surfactant represented by the general formula (A) is an amphiphilic compound, and is a compound in which a hydrophilic functional group is bonded to an oleophilic organic group R 1 . Y 1 represents a hydrophilic polar group, which is a functional group for bonding to or adsorbing to the substrate, and the organic group R 1 has a new oil property and is arranged on the opposite side of the hydrophilic surface so that it is parent to the hydrophilic surface. An oil level is formed. Examples of the organic group R 1 include, for example, phenyl group, benzyl group, phenethyl group, hydroxyphenyl group, chlorophenyl group, aminophenyl group, naphthyl group, anthrenyl group, pyrenyl group, thienyl group, pyrrolyl group, cyclohexyl group, cyclohexane Hexenyl, cyclopentyl, cyclopentenyl, pyridinyl, methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, octadecyl, n- Octyl group, chloromethyl group, methoxyethyl group, hydroxyethyl group, aminoethyl group, cyano group, mercaptopropyl group, vinyl group, allyl group, acryloxyethyl group, methacryloxyethyl group, glycidoxypropyl group, acetoxy group Etc. can be illustrated.
一般式(A)で表される代表的な撥液性の界面活性剤としては、含フッ素アルキル構造を有する化合物が挙げられる。特にR1がパ−フルオロアルキル構造CnF2n+1で表される構造を有するものが有用である。より具体的には、F(CF2CF2)1−7−CH2CH2−N+(CH3)3Cl−、C8F17SO2NHC3H6−N+(CH3)、F(CF2CF2)1−7−CH2CH2SCH2CH2−CO2 −Li+、C8F17SO2N(C2H5)−CO2 −K+、(F(CF2CF2)1−7)CH2CH2O)1,2PO(O−NH4 +)1,2、C10F21SO3 −NH4 +、C6F13CH2CH2SO3H、C6F13CH2CH2SO3 −NH4 +、C8F17SO2N(C2H5)−(CH2CH2O)0−25H、C8F17SO2N(C2H5)−(CH2CH2O)0−25CH3、F(CF2CF2)1−7−CH2CH2O−(CH2CH2O)0−25Hが挙げられる。
As a typical liquid repellent surfactant represented by the general formula (A), a compound having a fluorine-containing alkyl structure may be mentioned. In particular, those having a structure in which R 1 is represented by the perfluoroalkyl structure C n F 2n + 1 are useful. More specifically, F (CF 2 CF 2) 1-7 -
フルオロアルキル基を有する界面活性剤は、単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。なお、フルオロアルキル基を有する界面活性剤を用いることにより、基板Pとの密着性と良好な撥液性とを得ることができる。 The surfactant having a fluoroalkyl group may be used alone or in combination of two or more. In addition, by using a surfactant having a fluoroalkyl group, adhesion to the substrate P and good liquid repellency can be obtained.
さらに、フッ素を含有しないアルキル構造であってもよく、一般的な界面活性剤にも緻密な膜を形成させることで、撥液性を得ることができる。具体的な界面活性剤としては、n−デシルトリメチルアンモニウムクロライド、n−デシルトリメチルアンモニウムブロマイド、n−ドデシルトリメチルアンモニウムクロライド、n−ドデシルトリメチルアンモニウムブロマイド、n−ヘキサデシルトリメチルアンモニウムクロライド、n−ヘキサデシルトリメチルアンモニウムブロマイド、n−オクタデシルトリメチルアンモニウムクロライド、n−オクタデシルトリメチルアンモニウムブロマイド、ジ−n−ドデシルジメチルアンモニウムクロライド、ジ−n−ドデシルジメチルアンモニウムブロマイド、n−デシルピリジニウムクロライド、n−デシルピリジニウムブロマイド、n−ドデシルピリジニウムクロライド、n−ドデシルピリジニウムブロマイド、n−ドデシルピリジニウムアイオダイド、n−テトラデシルピリジニウムクロライド、n−テトラデシルピリジニウムブロマイド、n−ヘキサデシルピリジニウムクロライド、n−ヘキサデシルピリジニウムブロマイド、n−ヘキサデシルピリジニウムアイオダイド、n−オクタデシルピリジニウムクロライド、n−オクタデシルピリジニウムブロマイド、n−ドデシルピコリニウムクロライド、n−ドデシルピコリニウムブロマイド、n−オクタデシルピコリニウムクロライド、n−オクタデシルピコリニウムブロマイド、n−オクタデシルピコリニウムアイオダイド、N,N’−ジメチル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N,N’−ジメチル−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N,N’−ジメチル−4,4’−ビピリジニウム ビス(メチルサルフェイト)、N,N’−ジメチル−4,4’−ビピリジニウムビス(р−トルエンスルホネート)、N,N’−ジ(n−プロピル)−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N,N’−ジ(n−プロピル)−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N,N’−ジ(n−プロピル)−4,4’−ビピリジニウム ビス(р−トルエンスルホネート)、N,N’−ジベンジル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N,N’−ジベンジル−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N,N’−ジベンジル−4,4’−ビピリジニウムジアイオダイド、N,N’−ジベンジル−4,4’−ビピリジニウム ビス(р−トルエンスルホネート)、N,N’−ジフェニル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N,N’−ジフェニル−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N,N’−ビス(3−スルホネートプロピル)−4,4’−ビピリジニウム、1,3−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}プロパンテトラクロライド、1,3−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}プロパン テトラブロマイド、1,3−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}プロパン テトラクロライド、1,3−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}プロパン テトラブロマイド、1,4−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}ブタン テトラクロライド、1,4−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}ブタン テトラブロマイド、1,4−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}ブタン テトラクロライド、1,4−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}ブタン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレンテトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−メチル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−ベンジル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラブロマイド、N−n−ドデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N−n−ドデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ブロマイドアイオダイド、N−n−ドデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ブロマイドメチルサルフェイト、N−n−ドデシル−N’−ベンジル−4,4’−ビピリジニウムジクロライド、N−n−ドデシル−N’−ベンジル−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N−n−ドデシル−N’−ベンジル−4,4’−ビピリジニウム クロライドブロマイド、N−n−ヘキサデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N−n−ヘキサデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ブロマイドアイオダイド、N−n−ヘキサデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ブロマイドメチルサルフェイト、N−n−ヘキサデシル−N’−ベンジル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N−n−ヘキサデシル−N’−ベンジル−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N−n−オクタデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウムジクロライド、N−n−オクタデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ブロマイドアイオダイド、N−n−オクタデシル−N’−メチル−4,4’−ビピリジニウム ブロマイドメチルサルフェイト、N−n−オクタデシル−N’−ベンジル−4、4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N,N’−ジ−n−ドデシル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N,N’−ジ−n−ドデシル−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、N,N’−ジ−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジニウム ジクロライド、N,N’−ジ−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジニウム ジブロマイド、1,3−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}プロパン テトラクロライド、1 ,3−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}プロパン テトラブロマイド、1 ,4−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}ブタン テトラブロマイド、1 ,6−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}ヘキサンテトラブロマイド、1 ,3−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}プロパン テトラブロマイド、1 ,4−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}ブタン テトラブロマイド、1 ,6−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}ヘキサン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレンテトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ドデシル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}−o−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}−m−キシレン テトラブロマイド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラクロライド、α,α’−ビス{N−(N’−n−ヘキサデシル−4,4’−ビピリジル)}−p−キシレン テトラブロマイド、シクロヘキシルアクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、シクロヘキシルアクリルアミド、シクロヘキシルメタクリルアミド、N−シクロヘキシル−N−メチルアクリルアミド、N−シクロヘキシル−N−メチルメタクリルアミド、シクロヘキシルメチルアクリレート、シクロヘキシルメチルメタクリレート、シクロヘキシルメチルアクリルアミド、シクロヘキシルメチルメタクリルアミド、N−シクロヘキシルメチル−N−メチルアクリルアミド、N−シクロヘキシルメチル−N−メチルメタクリルアミド、フェニルアクリレート、フェニルメタクリレート、フェニルアクリルアミド、フェニルメタクリルアミド、N−メチル−N−フェニルアクリルアミド、N−メチル−N−フェニルメタクリルアミド、ベンジルアクリレート、ベンジルメタクリレート、ベンジルアクリルアミド、ベンジルメタクリルアミド、N−ベンジル−N−メチルアクリルアミド、N−ベンジル−N−メチルメタクリルアミド、1−ノルボルニルアクリレート、1−ノルボルニルメタクリレート、1−ノルボルニルアクリルアミド、1−ノルボルニルメタクリルアミド、N−メチル−N−(1−ノルボルニル)アクリルアミド、N−メチル−N−(1−ノルボルニル)メタクリルアミド、シクロオクチルアクリレート、シクロオクチルメタクリレート、シクロオクチルアクリルアミド、シクロオクチルメタクリルアミド、N−シクロオクチル−N−メチルアクリルアミド、N−シクロオクチル−N−メチルメタクリルアミド、アダマンチルアクリレート、アダマンチルメタクリレート、アダマンチルアクリルアミド、アダマンチルメタクリルアミド、N−アダマンチル−N−メチルアクリルアミド、N−アダマンチル−N−メチルメタクリルアミド、1−ナフチルアクリレート、1−ナフチルメタクリレート、1−ナフチルアクリルアミド、1−ナフチルメタクリルアミド、N−メチル−N−(1−ナフチル)アクリルアミド、N−メチル−N−(1−ナフチル)メタクリルアミド、2−ナフチルアクリレート、2−ナフチルメタクリレート、2−ナフチルアクリルアミド、2−ナフチルメタクリルアミド、N−メチル−N−(2−ナフチル)アクリルアミド、N−メチル−N−(2−ナフチル)メタクリルアミド、n−ドデシルアクリレート、n−ドデシルメタクリレート、n−ドデシルアクリルアミド、n−ドデシルメタクリルアミド、N−n−ドデシル−N−メチルアクリルアミド、N−n−ドデシル−N−メチルメタクリルアミド、シクロドデシルアクリレート、シクロドデシルメタクリレート、シクロドデシルアクリルアミド、シクロドデシルメタクリルアミド、N−シクロドデシル−N−メチルアクリルアミド、N−シクロドデシル−N−メチルメタクリルアミド、n−ヘキサデシルアクリレート、n−ヘキサデシルメタクリレート、n−ヘキサデシルアクリルアミド、n−ヘキサデシルメタクリルアミド、N−n−ヘキサデシル−N−メチルアクリルアミド、N−n−ヘキサデシル−N−メチルメタクリルアミド、n−オクタデシルアクリレート、n−オクタデシルメタクリレート、n−オクタデシルアクリルアミド、n−オクタデシルメタクリルアミド、N−n−オクタデシル−N−メチルアクリルアミド、N−n−オクタデシル−N−メチルメタクリルアミド、ジ−n−オクチルアクリルアミド、ジ−n−オクチルメタクリルアミド、ジ−n−デシルアクリルアミド、ジ−n−デ
シルメタクリルアミド、ジ−n−ドデシルアクリルアミド、ジ−n−ドデシルメタクリルアミド、9−アントラセンメチルアクリレート、9−アントラセンメチルメタクリレート、9−アントラセンメチルアクリルアミド、9−アントラセンメチルメタクリルアミド、9−フェナントレンメチルアクリレート、9−フェナントレンメチルメタクリレート、9−フェナントレンメチルアクリルアミド、9−フェナントレンメチルメタクリルアミド、N−メチル−N−(9−フェナントレンメチル)アクリルアミド、N−メチル−N−(9−フェナントレンメチル)メタクリルアミド、1−ピレンメチルアクリレート、1−ピレンメチルメタクリレート、1−ピレンメチルアクリルアミド、1−ピレンメチルメタクリルアミド、N−メチル−N−(1−ピレンメチル)アクリルアミド、N−メチル−N−(1−ピレンメチル)メタクリルアミド、4−アクリロイルオキシメチルフタロシアニン等が挙げられる。
Furthermore, it may have an alkyl structure that does not contain fluorine, and liquid repellency can be obtained by forming a dense film on a general surfactant. Specific surfactants include n-decyltrimethylammonium chloride, n-decyltrimethylammonium bromide, n-dodecyltrimethylammonium chloride, n-dodecyltrimethylammonium bromide, n-hexadecyltrimethylammonium chloride, n-hexadecyltrimethyl. Ammonium bromide, n-octadecyltrimethylammonium chloride, n-octadecyltrimethylammonium bromide, di-n-dodecyldimethylammonium chloride, di-n-dodecyldimethylammonium bromide, n-decylpyridinium chloride, n-decylpyridinium bromide, n-dodecyl Pyridinium chloride, n-dodecylpyridinium bromide, n-dodecylpyridinium Iodide, n-tetradecylpyridinium chloride, n-tetradecylpyridinium bromide, n-hexadecylpyridinium chloride, n-hexadecylpyridinium bromide, n-hexadecylpyridinium iodide, n-octadecylpyridinium chloride, n-octadecylpyridinium bromide, n-dodecylpicolinium chloride, n-dodecylpicolinium bromide, n-octadecylpicolinium chloride, n-octadecylpicolinium bromide, n-octadecylpicolinium iodide, N, N'-dimethyl-4,4'-bipyridinium dichloride N, N′-dimethyl-4,4′-bipyridinium dibromide, N, N′-dimethyl-4,4′-bipyridinium bis (methylsulfate) G), N, N′-dimethyl-4,4′-bipyridinium bis (р-toluenesulfonate), N, N′-di (n-propyl) -4,4′-bipyridinium dichloride, N, N′-di (N-propyl) -4,4′-bipyridinium dibromide, N, N′-di (n-propyl) -4,4′-bipyridinium bis (р-toluenesulfonate), N, N′-dibenzyl-4, 4′-bipyridinium dichloride, N, N′-dibenzyl-4,4′-bipyridinium dibromide, N, N′-dibenzyl-4,4′-bipyridinium diiodide, N, N′-dibenzyl-4,4 ′ -Bipyridinium bis (р-toluenesulfonate), N, N'-diphenyl-4,4'-bipyridinium dichloride, N, N'-diphenyl-4,4'-bipyridinium dibromide N, N′-bis (3-sulfonatepropyl) -4,4′-bipyridinium, 1,3-bis {N- (N′-methyl-4,4′-bipyridyl)} propanetetrachloride, 1,3- Bis {N- (N'-methyl-4,4'-bipyridyl)} propane tetrabromide, 1,3-bis {N- (N'-benzyl-4,4'-bipyridyl)} propane tetrachloride, 1, 3-bis {N- (N'-benzyl-4,4'-bipyridyl)} propane tetrabromide, 1,4-bis {N- (N'-methyl-4,4'-bipyridyl)} butane tetrachloride, 1,4-bis {N- (N'-methyl-4,4'-bipyridyl)} butane tetrabromide, 1,4-bis {N- (N'-benzyl-4,4'-bipyridyl)} butane tetra Chloride, 1,4-bis {N- (N'- Benzyl-4,4′-bipyridyl)} butane tetrabromide, α, α′-bis {N- (N′-methyl-4,4′-bipyridyl)}-o-xylene tetrachloride, α, α′-bis {N- (N′-methyl-4,4′-bipyridyl)}-o-xylene tetrabromide, α, α′-bis {N- (N′-benzyl-4,4′-bipyridyl)}-o— Xylene tetrachloride, α, α′-bis {N- (N′-benzyl-4,4′-bipyridyl)}-o-xylene tetrabromide, α, α′-bis {N- (N′-methyl-4) , 4′-bipyridyl)}-m-xylene tetrachloride, α, α′-bis {N- (N′-methyl-4,4′-bipyridyl)}-m-xylene tetrabromide, α, α′-bis {N- (N′-benzyl-4,4′-bipyridyl)}-m-xylene tetrachrome Id, α, α′-bis {N- (N′-benzyl-4,4′-bipyridyl)}-m-xylene tetrabromide, α, α′-bis {N- (N′-methyl-4,4) '-Bipyridyl)}-p-xylene tetrachloride, α, α'-bis {N- (N'-methyl-4,4'-bipyridyl)}-p-xylene tetrabromide, α, α'-bis {N -(N'-benzyl-4,4'-bipyridyl)}-p-xylene tetrachloride, α, α'-bis {N- (N'-benzyl-4,4'-bipyridyl)}-p-xylene tetra Bromide, Nn-dodecyl-N′-methyl-4,4′-bipyridinium dichloride, Nn-dodecyl-N′-methyl-4,4′-bipyridinium bromide iodide, Nn-dodecyl-N ′ -Methyl-4,4'-bipyridinium bromidemethyl Rufate, Nn-dodecyl-N′-benzyl-4,4′-bipyridinium dichloride, Nn-dodecyl-N′-benzyl-4,4′-bipyridinium dibromide, Nn-dodecyl-N′- Benzyl-4,4′-bipyridinium chloride bromide, Nn-hexadecyl-N′-methyl-4,4′-bipyridinium dichloride, Nn-hexadecyl-N′-methyl-4,4′-bipyridinium bromide iodide Nn-hexadecyl-N′-methyl-4,4′-bipyridinium bromide methyl sulfate, Nn-hexadecyl-N′-benzyl-4,4′-bipyridinium dichloride, Nn-hexadecyl-N ′ -Benzyl-4,4'-bipyridinium dibromide, Nn-octadecyl-N'-methyl-4,4'-bi Lidinium dichloride, Nn-octadecyl-N′-methyl-4,4′-bipyridinium bromide iodide, Nn-octadecyl-N′-methyl-4,4′-bipyridinium bromide methylsulfate, Nn -Octadecyl-N'-benzyl-4,4'-bipyridinium dibromide, N, N'-di-n-dodecyl-4,4'-bipyridinium dichloride, N, N'-di-n-dodecyl-4,4 '-Bipyridinium dibromide, N, N'-di-n-hexadecyl-4,4'-bipyridinium dichloride, N, N'-di-n-hexadecyl-4,4'-bipyridinium dibromide, 1,3-bis {N- (N'-n-dodecyl-4,4'-bipyridyl)} propane tetrachloride, 1,3-bis {N- (N'-n-dodecyl-4,4 ' Bipyridyl)} propane tetrabromide, 1,4-bis {N- (N'-n-dodecyl-4,4'-bipyridyl)} butane tetrabromide, 1,6-bis {N- (N'-n-dodecyl) -4,4'-bipyridyl)} hexane tetrabromide, 1,3-bis {N- (N'-n-hexadecyl-4,4'-bipyridyl)} propane tetrabromide, 1,4-bis {N- ( N′-n-hexadecyl-4,4′-bipyridyl)} butane tetrabromide, 1,6-bis {N- (N′-n-hexadecyl-4,4′-bipyridyl)} hexane tetrabromide, α, α '-Bis {N- (N'-n-dodecyl-4,4'-bipyridyl)}-o-xylene tetrachloride, α, α'-bis {N- (N'-n-dodecyl-4,4' -Bipyridyl)}-o-xylene tetrabloma Α, α′-bis {N- (N′-n-dodecyl-4,4′-bipyridyl)}-m-xylene tetrachloride, α, α′-bis {N- (N′-n-dodecyl) -4,4'-bipyridyl)}-m-xylene tetrabromide, α, α'-bis {N- (N'-n-dodecyl-4,4'-bipyridyl)}-p-xylene tetrachloride, α, α′-bis {N- (N′-n-dodecyl-4,4′-bipyridyl)}-p-xylene tetrabromide, α, α′-bis {N- (N′-n-hexadecyl-4,4) '-Bipyridyl)}-o-xylene tetrachloride, α, α'-bis {N- (N'-n-hexadecyl-4,4'-bipyridyl)}-o-xylene tetrabromide, α, α'-bis {N- (N′-n-hexadecyl-4,4′-bipyridyl)}-m-xylene tetrachloro , Α, α′-bis {N- (N′-n-hexadecyl-4,4′-bipyridyl)}-m-xylene tetrabromide, α, α′-bis {N- (N′-n-hexadecyl- 4,4′-bipyridyl)}-p-xylene tetrachloride, α, α′-bis {N- (N′-n-hexadecyl-4,4′-bipyridyl)}-p-xylene tetrabromide, cyclohexyl acrylate, Cyclohexyl methacrylate, cyclohexyl acrylamide, cyclohexyl methacrylamide, N-cyclohexyl-N-methyl acrylamide, N-cyclohexyl-N-methyl methacrylamide, cyclohexyl methyl acrylate, cyclohexyl methyl methacrylate, cyclohexyl methyl acrylamide, cyclohexyl methyl methacrylamide, N-cyclohexyl Silmethyl-N-methylacrylamide, N-cyclohexylmethyl-N-methylmethacrylamide, phenylacrylate, phenylmethacrylate, phenylacrylamide, phenylmethacrylamide, N-methyl-N-phenylacrylamide, N-methyl-N-phenylmethacrylamide, Benzyl acrylate, benzyl methacrylate, benzyl acrylamide, benzyl methacrylamide, N-benzyl-N-methyl acrylamide, N-benzyl-N-methyl methacrylamide, 1-norbornyl acrylate, 1-norbornyl methacrylate, 1-norborn Nylacrylamide, 1-norbornylmethacrylamide, N-methyl-N- (1-norbornyl) acrylamide, N-methyl-N- (1-norbornyl) me Tacrylamide, cyclooctyl acrylate, cyclooctyl methacrylate, cyclooctyl acrylamide, cyclooctyl methacrylamide, N-cyclooctyl-N-methyl acrylamide, N-cyclooctyl-N-methyl methacrylamide, adamantyl acrylate, adamantyl methacrylate, adamantyl acrylamide, adamantyl Methacrylamide, N-adamantyl-N-methylacrylamide, N-adamantyl-N-methylmethacrylamide, 1-naphthylacrylate, 1-naphthylmethacrylate, 1-naphthylacrylamide, 1-naphthylmethacrylamide, N-methyl-N- ( 1-naphthyl) acrylamide, N-methyl-N- (1-naphthyl) methacrylamide, 2-naphthyl acrylate 2-naphthyl methacrylate, 2-naphthyl acrylamide, 2-naphthyl methacrylamide, N-methyl-N- (2-naphthyl) acrylamide, N-methyl-N- (2-naphthyl) methacrylamide, n-dodecyl acrylate, n- Dodecyl methacrylate, n-dodecyl acrylamide, n-dodecyl methacrylamide, Nn-dodecyl-N-methyl acrylamide, Nn-dodecyl-N-methyl methacrylamide, cyclododecyl acrylate, cyclododecyl methacrylate, cyclododecyl acrylamide, cyclo Dodecyl methacrylamide, N-cyclododecyl-N-methylacrylamide, N-cyclododecyl-N-methylmethacrylamide, n-hexadecyl acrylate, n-hexadecyl methacrylate, n Hexadecylacrylamide, n-hexadecylmethacrylamide, Nn-hexadecyl-N-methylacrylamide, Nn-hexadecyl-N-methylmethacrylamide, n-octadecylacrylate, n-octadecylmethacrylate, n-octadecylacrylamide, n -Octadecyl methacrylamide, Nn-octadecyl-N-methylacrylamide, Nn-octadecyl-N-methylmethacrylamide, di-n-octylacrylamide, di-n-octylmethacrylamide, di-n-decylacrylamide, Di-n-de
Sil methacrylamide, di-n-dodecyl acrylamide, di-n-dodecyl methacrylamide, 9-anthracene methyl acrylate, 9-anthracene methyl methacrylate, 9-anthracene methyl acrylamide, 9-anthracene methyl methacrylamide, 9-phenanthrene methyl acrylate, 9-phenanthrenemethyl methacrylate, 9-phenanthrenemethylacrylamide, 9-phenanthrenemethylmethacrylamide, N-methyl-N- (9-phenanthrenemethyl) acrylamide, N-methyl-N- (9-phenanthrenemethyl) methacrylamide, 1- Pyrenemethyl acrylate, 1-pyrenemethyl methacrylate, 1-pyrenemethylacrylamide, 1-pyrenemethylmethacrylamide, N-methyl-N- 1-pyrenemethyl) acrylamide, N- methyl-N-(1-pyrenemethyl) methacrylamide, 4-acryloyloxymethyl phthalocyanine, and the like.
シラン化合物や界面活性剤等の有機分子などからなる有機薄膜は、上記の原料化合物と基板Pとを同一の密閉容器中に入れておき、室温で2〜3日程度の間放置することにより基板P上に形成される。また、密閉容器全体を80〜140℃に保持することにより、1〜3時間程度で基板上に形成される。これらは気相からの形成法であるが、液相からも自己組織化膜を形成できる。例えば、原料化合物を含む溶液中に基板を30分〜6時間浸積し、洗浄、乾燥することで基板上に自己組織化膜が形成される。また、原料化合物を含む溶液を40〜80℃に加熱することにより、5分〜2時間の浸漬で自己組織化膜を形成することができる。なお、自己組織化膜を形成する前に、基板表面には、紫外光を照射したり、あるいはプラズマ処理、酸やアルカリ液により洗浄することで前処理を施しておくことが望ましい。 An organic thin film composed of an organic molecule such as a silane compound or a surfactant is prepared by placing the raw material compound and the substrate P in the same sealed container and leaving it at room temperature for about 2 to 3 days. Formed on P. Further, by holding the entire sealed container at 80 to 140 ° C., it is formed on the substrate in about 1 to 3 hours. These are formation methods from the gas phase, but a self-assembled film can also be formed from the liquid phase. For example, the self-assembled film is formed on the substrate by immersing the substrate in a solution containing the raw material compound for 30 minutes to 6 hours, washing and drying. Moreover, a self-assembled film can be formed by immersion for 5 minutes to 2 hours by heating a solution containing a raw material compound to 40 to 80 ° C. Before forming the self-assembled film, it is desirable that the substrate surface be pretreated by irradiating with ultraviolet light, or by washing with plasma treatment, acid or alkali solution.
なお、有機薄膜はある程度厚みをもってもよく、その厚さは好ましくは有機分子1〜10層である。 The organic thin film may have a certain thickness, and the thickness is preferably 1 to 10 layers of organic molecules.
一方、プラズマ処理法では、常圧又は真空中で基板Pに対してプラズマ照射を行う。プラズマ処理に用いるガス種は、配線パターンを形成すべき基板Pの表面材質等を考慮して種々選択できる。処理ガスとしては、フルオロカーボン系化合物を好適に用いることができ、例えば、4フッ化メタン、パーフルオロヘキサン、パーフルオロデカン等を例示できる。 On the other hand, in the plasma processing method, plasma irradiation is performed on the substrate P under normal pressure or vacuum. Various types of gas used for the plasma treatment can be selected in consideration of the surface material of the substrate P on which the wiring pattern is to be formed. As the processing gas, a fluorocarbon-based compound can be preferably used, and examples thereof include tetrafluoromethane, perfluorohexane, and perfluorodecane.
また撥液性の高分子化合物を基板P表面に塗布する方法による場合、例えば含フッ素ポリイミド樹脂等をスピンコート法等を用いて基板P上に塗布することで撥液層を形成することができる。撥液性高分子化合物としては、上記ポリイミド樹脂に限られず、分子内にフッ素原子を含有するモノマー、オリゴマー又はポリマーを用いることができ、具体例を挙げるならば、ポリ4フッ化エチレン(PTFE)、エチレン−4フッ化エチレン共重合体、6フッ化プロピレン−4フッ化エチレン共重合体、ポリフッ化ビニリデン(PVdF)、ポリ(ペンタデカフルオロヘプチルエチルメタクリレート)(PPFMA)、ポリ(パーフルオロオクチルエチルアクリレート)等の長鎖パーフルオロアルキル構造を有するエチレン、アクリレート、メタクリレート、ビニル、ウレタン、シリコーン系ポリマーである。 In the case of applying a liquid repellent polymer compound to the surface of the substrate P, for example, a liquid repellent layer can be formed by applying a fluorine-containing polyimide resin or the like onto the substrate P using a spin coat method or the like. . The liquid repellent polymer compound is not limited to the above polyimide resin, and a monomer, oligomer or polymer containing a fluorine atom in the molecule can be used. For example, polytetrafluoroethylene (PTFE) , Ethylene-4-fluoroethylene copolymer, hexafluoropropylene-4-fluoroethylene copolymer, polyvinylidene fluoride (PVdF), poly (pentadecafluoroheptylethyl methacrylate) (PPFMA), poly (perfluorooctylethyl) Acrylate) and other long-chain perfluoroalkyl structures such as ethylene, acrylate, methacrylate, vinyl, urethane, and silicone polymers.
なお、基板Pの表面を撥液性に加工する処理は、所望の撥液性を有するフィルム、例えば4フッ化エチレン加工されたポリイミドフィルム等を基板Pの表面に貼着することによって行ってもよい。また、撥液性の高いポリイミドフィルムをそのまま基板Pとして用いてもよい。
このように、有機薄膜形成やプラズマ処理、撥液性高分子の塗布を実施することにより、図3(a)に示されるように、基板Pの表面に撥液性膜Fが形成され、撥液性を有する基板Pを形成することができる。
In addition, the process which processes the surface of the board | substrate P to liquid repellency may be performed by sticking to the surface of the board | substrate P the film which has desired liquid repellency, for example, the polyimide film processed by the tetrafluoroethylene, etc. Good. Further, a polyimide film having high liquid repellency may be used as the substrate P as it is.
Thus, by performing organic thin film formation, plasma treatment, and application of a liquid repellent polymer, a liquid repellent film F is formed on the surface of the substrate P as shown in FIG. A substrate P having liquidity can be formed.
次に、上述の液滴吐出装置IJによって、配線パターンを形成すべき領域に親液性材料あるいは親液性材料を含むインクを配置することによって、親液部H1(親液領域)を形成する。 Next, the lyophilic portion H1 (lyophilic region) is formed by placing the lyophilic material or the ink containing the lyophilic material in the region where the wiring pattern is to be formed by the above-described droplet discharge device IJ. .
以下、親液化処理について説明する。
まず、図3(b)に示すように、基板Pにおける親液部を形成する領域上に液滴吐出装置IJの吐出ヘッド1を配置し、吐出ノズルから親液性材料あるいは親液性材料を含むインクX2を吐出することによって、図3(c)に示すように、親液部を形成する領域上に親液性材料あるいは親液性材料を含むインクを配置する。ここで、例えば、後述の配線パターンを形成するための機能液よりも表面張力が大きな親液性材料あるいは親液性材料を含むインクを選択的に用いることによって、機能液を液滴吐出装置IJによって吐出配置する場合よりも、より狭い領域に親液性材料あるいは親液性材料を含むインクを配置することができる。その後、必要に応じて親液性材料あるいは親液性材料を含むインクを乾燥することによって、図3(d)に示すように、親液部H1を形成する。これによって、基板P上に親液部H1と撥液部H2とが形成される。ここで、親液性材料として光触媒を用いている場合には、例えば、880nm以下の波長の紫外線によって露光することで、親液性をより向上させるとともに後述の配線パターンに対して優れた密着性を発揮する親液部H1を形成することができる。ここで、本実施形態の配線形成方法においては、880nm以下の波長の紫外線によって光触媒を露光しているため、基板P全体を露光した場合であっても、基板Pの撥液性を損なうことなく親液性材料を露光することができる。
このように、本実施形態の配線パターン形成方法によれば、液滴吐出装置IJを用いて親液部H1を形成するため、従来のように、親液部を形成する際にマスクを介した露光処理が必要なくなる。したがって、本実施形態の配線パターン形成方法によれば、配線パターンを形成する際のプロセスタイムを短縮することが可能となる。
Hereinafter, the lyophilic process will be described.
First, as shown in FIG. 3B, the
As described above, according to the wiring pattern forming method of the present embodiment, the lyophilic portion H1 is formed using the droplet discharge device IJ. No exposure processing is required. Therefore, according to the wiring pattern forming method of the present embodiment, it is possible to shorten the process time when forming the wiring pattern.
なお、本実施形態においては、親液性材料を基板P上に配置した後に、親液性材料に対して紫外線露光を行った。しかしながら、親液性材料を基板P上に配置する前に、親液性材料に対して紫外線露光を行うこともできる。このような場合には、基板Pに対する配線パターンの形成工程から光触媒(親液性材料)の露光プロセスを切り離すことができるため、基板Pに対する配線パターンの形成工程をより短縮化することができる。 In this embodiment, after the lyophilic material is disposed on the substrate P, the lyophilic material is exposed to ultraviolet rays. However, before the lyophilic material is placed on the substrate P, the lyophilic material can be exposed to ultraviolet light. In such a case, since the exposure process of the photocatalyst (lyophilic material) can be separated from the wiring pattern forming process on the substrate P, the wiring pattern forming process on the substrate P can be further shortened.
(材料配置工程)
次に、上述の液滴吐出装置IJを用いて、機能液を親液部H1上に吐出して配置させる。なお、ここでは、導電性微粒子として銀を用いた機能液X1を吐出する。なお、液滴吐出の条件としては、例えば、インク重量4ng/dot、インク速度(吐出速度)5〜7m/secで行うことできる。また、液滴を吐出する雰囲気は、温度60℃以下、湿度80%以下に設定されていることが好ましい。これにより、液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルが目詰まりすることなく安定した液滴吐出を行うことができる。
(Material placement process)
Next, using the above-described droplet discharge device IJ, the functional liquid is discharged and disposed on the lyophilic portion H1. Here, the functional liquid X1 using silver as the conductive fine particles is discharged. Note that the droplet discharge conditions may be, for example, an ink weight of 4 ng / dot and an ink speed (discharge speed) of 5 to 7 m / sec. The atmosphere for discharging the droplets is preferably set to a temperature of 60 ° C. or lower and a humidity of 80% or lower. Thereby, it is possible to perform stable droplet discharge without clogging the discharge nozzle of the
なお、導電性微粒子としては、銀の他にも、金、銅、アルミニウム、パラジウム、ITO、及びニッケルのうちの少なくともいずれか1つを含有する金属微粒子の他、これらの酸化物、並びに導電性ポリマーや超電導体の微粒子などを用いることができる。これらの導電性微粒子は分散性を向上させるために表面に、キシレンやトルエン等の有機溶剤やクエン酸等をコーティングして使うこともできる。導電性微粒子の粒径は1nm以上0.1μm以下であることが好ましい。0.1μmより大きいと後述する液滴吐出ヘッドの吐出ノズルに目詰まりが生じるおそれがある。また、1nmより小さいと導電性微粒子に対するコーディング材の体積比が大きくなり、得られる膜中の有機物の割合が過多となる。コーティング材で導電性微粒子を被覆したものを用いる場合、液状体の形態では導電性を示さず、乾燥または焼結した際に導電性を呈するようなインクとすることもできる。 As the conductive fine particles, in addition to silver, metal fine particles containing at least one of gold, copper, aluminum, palladium, ITO, and nickel, oxides thereof, and conductivity Polymer or superconductor fine particles can be used. In order to improve the dispersibility, these conductive fine particles can be used by coating the surface with an organic solvent such as xylene or toluene, citric acid or the like. The particle diameter of the conductive fine particles is preferably 1 nm or more and 0.1 μm or less. If it is larger than 0.1 μm, there is a risk of clogging in the discharge nozzle of the droplet discharge head described later. On the other hand, if the thickness is smaller than 1 nm, the volume ratio of the coding material to the conductive fine particles becomes large, and the ratio of the organic matter in the obtained film becomes excessive. In the case of using a coating material coated with conductive fine particles, it is also possible to use an ink that does not exhibit conductivity in the form of a liquid, but exhibits conductivity when dried or sintered.
導電性微粒子及び有機金属化合物のうちの少なくとも一方を含有する液体の分散媒または溶媒としては、室温での蒸気圧が0.001mmHg以上200mmHg以下(約0.133Pa以上26600Pa以下)であるものが好ましい。蒸気圧が200mmHgより高いと、吐出後に分散媒または溶媒が急激に蒸発してしまい、良好な膜を形成することが困難となるからである。 As the liquid dispersion medium or solvent containing at least one of the conductive fine particles and the organometallic compound, those having a vapor pressure of 0.001 mmHg or more and 200 mmHg or less (about 0.133 Pa or more and 26600 Pa or less) at room temperature are preferable. . This is because if the vapor pressure is higher than 200 mmHg, the dispersion medium or the solvent rapidly evaporates after discharge, making it difficult to form a good film.
また、分散媒または溶媒の蒸気圧は0.001mmHg以上50mmHg以下(約0.133Pa以上6650Pa以下)であるのがより好ましい。蒸気圧が50mmHgより高いと、液滴吐出法で液滴を吐出する際に乾燥によるノズル詰まりが起こり易く、安定な吐出が困難になるからである。一方、室温での蒸気圧が0.001mmHgより低い分散媒または溶媒の場合には、乾燥が遅くなって膜中に分散媒または溶媒が残留しやすくなり、後工程の熱及び/又は光処理後に良質の導電膜が得られにくくなる。 The vapor pressure of the dispersion medium or solvent is more preferably 0.001 mmHg to 50 mmHg (about 0.133 Pa to 6650 Pa). This is because if the vapor pressure is higher than 50 mmHg, nozzle clogging due to drying tends to occur when droplets are ejected by the droplet ejection method, and stable ejection becomes difficult. On the other hand, in the case of a dispersion medium or solvent whose vapor pressure at room temperature is lower than 0.001 mmHg, drying becomes slow and the dispersion medium or solvent tends to remain in the film, and after heat and / or light treatment in the subsequent step. It becomes difficult to obtain a good conductive film.
分散媒としては、上記の導電性微粒子を分散できるもので凝集を起こさないものであれば特に限定されない。例えば、水の他に、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールなどのアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンなどの炭化水素系化合物、またエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンなどのエーテル系化合物、さらにプロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノンなどの極性化合物を例示できる。これらのうち、微粒子の分散性と分散液の安定性、また液滴吐出法への適用の容易さの点で、水、アルコール類、炭化水素系化合物、エーテル系化合物が好ましく、より好ましい分散媒としては、水、炭化水素系化合物を挙げることができる。 The dispersion medium is not particularly limited as long as it can disperse the conductive fine particles and does not cause aggregation. For example, in addition to water, alcohols such as methanol, ethanol, propanol, butanol, n-heptane, n-octane, decane, dodecane, tetradecane, toluene, xylene, cymene, durene, indene, dipentene, tetrahydronaphthalene, decahydro Hydrocarbon compounds such as naphthalene and cyclohexylbenzene, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, 1,2-dimethoxyethane, bis (2- Methoxyethyl) ether, ether compounds such as p-dioxane, propylene carbonate, γ- Butyrolactone, N- methyl-2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, can be exemplified polar compounds such as cyclohexanone. Of these, water, alcohols, hydrocarbon compounds, and ether compounds are preferable and more preferable dispersion media in terms of fine particle dispersibility, dispersion stability, and ease of application to the droplet discharge method. Examples thereof include water and hydrocarbon compounds.
上記導電性微粒子を分散媒に分散する場合の分散質濃度としては、1質量%以上80質量%以下とするのが好ましく、所望の導電膜の膜厚に応じて調整することができる。80質量%を超えると凝集をおこしやすくなり、均一な膜が得にくくなる。 The dispersoid concentration when the conductive fine particles are dispersed in the dispersion medium is preferably 1% by mass or more and 80% by mass or less, and can be adjusted according to the desired film thickness of the conductive film. If it exceeds 80% by mass, aggregation tends to occur and it becomes difficult to obtain a uniform film.
上記導電性微粒子の分散液の表面張力は0.02N/m以上0.07N/m以下の範囲内であることが好ましい。液滴吐出法によりインクを吐出する際、表面張力が0.02N/m未満であると、インクのノズル面に対する濡れ性が増大するため飛行曲りが生じやすくなり、0.07N/mを超えるとノズル先端でのメニスカスの形状が安定しないため吐出量や吐出タイミングの制御が困難になる。表面張力を調整するため、上記分散液には、基板との接触角を大きく低下させない範囲で、フッ素系、シリコーン系、ノニオン系などの表面張力調節剤を微量添加するとよい。ノニオン系表面張力調節剤は、インクの基板への濡れ性を向上させ、膜のレベリング性を改良し、膜の微細な凹凸の発生などの防止に役立つものである。上記表面張力調節剤は、必要に応じて、アルコール、エーテル、エステル、ケトン等の有機化合物を含んでもよい。 The surface tension of the conductive fine particle dispersion is preferably in the range of 0.02 N / m to 0.07 N / m. When ink is ejected by the droplet ejection method, if the surface tension is less than 0.02 N / m, the wettability of the ink with respect to the nozzle surface increases, and thus flight bending tends to occur, and if the surface tension exceeds 0.07 N / m. Since the shape of the meniscus at the nozzle tip is not stable, it becomes difficult to control the discharge amount and the discharge timing. In order to adjust the surface tension, a small amount of a surface tension regulator such as a fluorine-based, silicone-based, or nonionic-based material may be added to the dispersion within a range that does not significantly reduce the contact angle with the substrate. The nonionic surface tension modifier improves the wettability of the ink to the substrate, improves the leveling property of the film, and helps prevent the occurrence of fine irregularities on the film. The surface tension modifier may contain an organic compound such as alcohol, ether, ester, or ketone, if necessary.
上記分散液の粘度は1mPa・s以上50mPa・s以下であることが好ましい。液滴吐出法を用いてインクを液滴として吐出する際、粘度が1mPa・sより小さい場合にはノズル周辺部がインクの流出により汚染されやすく、また粘度が50mPa・sより大きい場合は、ノズル孔での目詰まり頻度が高くなり円滑な液滴の吐出が困難となる。 The viscosity of the dispersion is preferably 1 mPa · s to 50 mPa · s. When ejecting ink as droplets using the droplet ejection method, if the viscosity is less than 1 mPa · s, the nozzle periphery is easily contaminated by the outflow of the ink, and if the viscosity is greater than 50 mPa · s, the nozzle The frequency of clogging in the holes increases, and it becomes difficult to smoothly discharge droplets.
このような機能液X1としては、具体的には、直径10nm程度の銀微粒子が有機溶剤に分散した銀微粒子分散液(真空冶金社製、商品名「パーフェクトシルバー」)の分散媒をテトラデカンで置換してこれを希釈し、濃度が60wt%、粘度が8mPa・s、表面張力が0.022N/mとなるように調整したものを例示することができる。 As such a functional liquid X1, specifically, a dispersion medium of a silver fine particle dispersion (trade name “Perfect Silver” manufactured by Vacuum Metallurgical Co., Ltd.) in which silver fine particles having a diameter of about 10 nm are dispersed in an organic solvent is replaced with tetradecane. Then, it can be diluted and adjusted to have a concentration of 60 wt%, a viscosity of 8 mPa · s, and a surface tension of 0.022 N / m.
この材料配置工程は、図4(a)に示すように、液滴吐出ヘッド1から機能液X1を液滴にして吐出する。
このとき、撥液部H2は撥液性が付与されているため、図4(b)に示すように、吐出された機能液X1の一部が撥液部H2にのっても撥液部H2からはじかれ、図4(c)に示されるように、親液部H1上に溜まるようになる。さらに、親液部H1は親液性を付与されているため、吐出された機能液X1が親液部H1にてより拡がり易くなり、これによって機能液X1が、分断されることなく所定位置内でより均一に親液部H1を配置することができる。ここで、親液部H1の線幅が、機能液X1の着弾径よりも小さい場合には、機能液X1の着弾径以下の線幅の配線パターンを形成することができる。
In this material arrangement step, as shown in FIG. 4A, the functional liquid X1 is discharged as droplets from the
At this time, since the liquid repellent part H2 is given liquid repellency, as shown in FIG. 4B, even if a part of the discharged functional liquid X1 is placed on the liquid repellent part H2, the liquid repellent part It is repelled from H2 and accumulates on the lyophilic part H1 as shown in FIG. 4 (c). Furthermore, since the lyophilic part H1 is imparted with lyophilicity, the discharged functional liquid X1 is more likely to spread in the lyophilic part H1, so that the functional liquid X1 is within a predetermined position without being divided. Thus, the lyophilic part H1 can be arranged more uniformly. Here, when the line width of the lyophilic portion H1 is smaller than the landing diameter of the functional liquid X1, a wiring pattern having a line width equal to or smaller than the landing diameter of the functional liquid X1 can be formed.
(中間乾燥工程)
親液部H1に所定量の機能液X1を吐出した後、分散媒の除去のため、必要に応じて乾燥処理をする。この乾燥処理は、例えば基板Pを加熱する通常のホットプレート、電気炉などによる処理の他、ランプアニールによって行うこともできる。ランプアニールに使用する光の光源としては、特に限定されないが、赤外線ランプ、キセノンランプ、YAGレーザー、アルゴンレーザー、炭酸ガスレーザー、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザーなどを光源として使用することができる。
これらの光源は一般には、出力10W以上5000W以下の範囲のものが用いられるが、本実施形態では100W以上1000W以下の範囲で十分である。
そして、この中間乾燥工程によって、親液部H1上には、銀を導電性微粒子として含む機能液の層が形成される。
(Intermediate drying process)
After discharging a predetermined amount of the functional liquid X1 to the lyophilic part H1, a drying process is performed as necessary to remove the dispersion medium. This drying process can be performed by lamp annealing, for example, in addition to a process using a normal hot plate or an electric furnace for heating the substrate P. The light source used for lamp annealing is not particularly limited, but excimer laser such as infrared lamp, xenon lamp, YAG laser, argon laser, carbon dioxide laser, XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, ArCl, etc. Can be used as a light source.
In general, these light sources have an output in the range of 10 W to 5000 W, but in the present embodiment, a range of 100 W to 1000 W is sufficient.
By this intermediate drying step, a functional liquid layer containing silver as conductive fine particles is formed on the lyophilic part H1.
このようにして機能液X1を親液部H1上に配置したならば、例えば80℃、30秒間の加熱条件で機能液X1の中間乾燥処理を行う。この乾燥工程での加熱温度は、機能液X1中の導電性微粒子が互いに結合しない程度の温度、すなわち焼結温度以下の温度とする。このような加熱処理を行うと、機能液X1中の液分は蒸発し、親液部H1上に残った導電性微粒子の集合体は、液分がほぼ除去されたものとなる。 When the functional liquid X1 is thus placed on the lyophilic part H1, the intermediate drying treatment of the functional liquid X1 is performed under heating conditions of, for example, 80 ° C. for 30 seconds. The heating temperature in this drying step is set to a temperature at which the conductive fine particles in the functional liquid X1 are not bonded to each other, that is, a temperature equal to or lower than the sintering temperature. When such a heat treatment is performed, the liquid component in the functional liquid X1 evaporates, and the aggregate of conductive fine particles remaining on the lyophilic portion H1 is substantially the liquid component removed.
なお、上記乾燥工程にて用いる加熱手段には、通常のホットプレート、電気炉などの他、加熱ランプも用いることができる。ランプアニールに用いる光源としては、特に限定されないが、赤外線ランプ、キセノンランプ、YAGレーザー、アルゴンレーザー、炭酸ガスレーザー、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザーなどを光源として使用することができる。これらの光源は一般には、出力10W以上5000W以下の範囲のものが用いられるが、本実施形態では100W以上1000W以下の範囲で十分である。 As the heating means used in the drying step, a heating lamp can be used in addition to a normal hot plate, an electric furnace or the like. The light source used for lamp annealing is not particularly limited, but an infrared lamp, a xenon lamp, a YAG laser, an argon laser, a carbon dioxide laser, an excimer laser such as XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, ArCl, etc. is used as a light source. Can be used. In general, these light sources have an output in the range of 10 W to 5000 W, but in the present embodiment, a range of 100 W to 1000 W is sufficient.
(焼結処理/光処理工程)
吐出工程後の乾燥膜は、微粒子間の電気的接触をよくするために、分散媒を完全に除去する必要がある。また、導電性微粒子の表面に分散性を向上させるために有機物などのコーティング材がコーティングされている場合には、このコーティング材も除去する必要がある。そのため、吐出工程後の基板Pには熱処理及び/又は光処理が施される。
(Sintering / light treatment process)
The dried film after the discharging process needs to completely remove the dispersion medium in order to improve the electrical contact between the fine particles. Further, when a coating material such as an organic material is coated on the surface of the conductive fine particles in order to improve dispersibility, it is also necessary to remove this coating material. Therefore, the substrate P after the discharge process is subjected to heat treatment and / or light treatment.
焼結処理及び/又は光処理は通常大気中で行なわれるが、必要に応じて、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰囲気中で行うこともできる。熱処理及び/又は光処理の処理温度は、分散媒の沸点(蒸気圧)、雰囲気ガスの種類や圧力、微粒子の分散性や酸化性等の熱的挙動、コーティング材の有無や量、基材の耐熱温度などを考慮して適宜決定される。
例えば、有機物からなるコーティング材を除去するためには、約300℃で焼成することが必要である。また、プラスチックなどの基板を使用する場合には、室温以上100℃以下で行うことが好ましい。
以上の工程によって、図4(d)に示すように、親液部H1上に銀からなる配線パターン33が形成される。
なお、機能液に、予め導電性を有する導電性微粒子でなく、熱処理または光処理により導電性を発現する材料を含有させておき、本焼結処理/光処理工程において配線パターン33に導電性を発現させても良い。このように、本発明の導電性微粒子は、このような焼結処理/光処理工程等の後処理によって導電性を発揮する材料を含むものである。
The sintering treatment and / or light treatment is usually performed in the air, but can be performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon, helium, etc., if necessary. The treatment temperature of heat treatment and / or light treatment depends on the boiling point (vapor pressure) of the dispersion medium, the type and pressure of the atmospheric gas, the thermal behavior such as fine particle dispersibility and oxidation, the presence and amount of coating material, It is determined appropriately in consideration of the heat resistant temperature.
For example, in order to remove the coating material made of organic matter, it is necessary to bake at about 300 ° C. In the case where a substrate such as plastic is used, it is preferably performed at a temperature between room temperature and 100 ° C.
Through the above steps, as shown in FIG. 4D, the wiring pattern 33 made of silver is formed on the lyophilic portion H1.
It should be noted that the functional liquid contains not only conductive fine particles having conductivity in advance, but also a material that exhibits conductivity by heat treatment or light treatment, and the wiring pattern 33 is made conductive in the main sintering treatment / light treatment step. It may be expressed. Thus, the conductive fine particles of the present invention include a material that exhibits conductivity by post-treatment such as sintering / light treatment.
上記中間乾燥工程および焼結処理/光処理工程では、基板Pは熱処理または光照射処理に供されることとなるが、係る熱処理ないし光照射処理の条件は、分散媒の沸点(蒸気圧)、雰囲気ガスの種類や圧力、微粒子の分散性や酸化性等の熱的挙動、コーティング材の有無や量、基材の耐熱温度などを考慮して適宜決定される。
例えば、導電性微粒子がコーティング材により被覆されている場合、上記焼結工程までにコーティング材を除去する必要があるので、焼結工程において約300℃程度まで加熱する。
In the intermediate drying step and the sintering treatment / light treatment step, the substrate P is subjected to heat treatment or light irradiation treatment. The conditions for the heat treatment or light irradiation treatment are the boiling point (vapor pressure) of the dispersion medium, It is appropriately determined in consideration of the type and pressure of the atmospheric gas, the thermal behavior such as fine particle dispersibility and oxidation, the presence and amount of coating material, the heat-resistant temperature of the substrate, and the like.
For example, when the conductive fine particles are covered with a coating material, it is necessary to remove the coating material before the above-described sintering step, and thus the heating is performed to about 300 ° C. in the sintering step.
そして、以上の工程により、配線パターン33が基板P上に形成される。このような本実施形態の配線パターン形成方法においては、撥液性膜Fを露光して分解することによって親液部を形成する場合と比較して、親液部における配線パターンの密着性を向上させることができる。したがって、配線パターン33の剥離を抑止することが可能となり、より信頼性に優れた配線パターンを形成することができる。 And the wiring pattern 33 is formed on the board | substrate P by the above process. In the wiring pattern forming method of this embodiment, the adhesion of the wiring pattern in the lyophilic portion is improved as compared with the case where the lyophilic portion is formed by exposing and decomposing the lyophobic film F. Can be made. Therefore, peeling of the wiring pattern 33 can be suppressed, and a wiring pattern with higher reliability can be formed.
[電気光学装置]
本発明の電気光学装置の一例である液晶表示装置について説明する。図5は、本発明に係る液晶表示装置について、各構成要素とともに示す対向基板側から見た平面図であり、図6は図5のH−H’線に沿う断面図である。図7は、液晶表示装置の画像表示領域においてマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図で、図8は、液晶表示装置の部分拡大断面図である。
[Electro-optical device]
A liquid crystal display device which is an example of the electro-optical device of the invention will be described. FIG. 5 is a plan view of the liquid crystal display device according to the present invention as seen from the counter substrate side shown together with each component, and FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line HH ′ of FIG. FIG. 7 is an equivalent circuit diagram of various elements and wirings in a plurality of pixels formed in a matrix in the image display region of the liquid crystal display device, and FIG. 8 is a partial enlarged cross-sectional view of the liquid crystal display device.
図5及び図6において、本実施の形態の液晶表示装置(電気光学装置)100は、対をなすTFTアレイ基板10と対向基板20とが光硬化性の封止材であるシール材52によって貼り合わされ、このシール材52によって区画された領域内に液晶50が封入、保持されている。シール材52は、基板面内の領域において閉ざされた枠状に形成されている。
5 and 6, the liquid crystal display device (electro-optical device) 100 according to the present embodiment is bonded to a pair of
シール材52の形成領域の内側の領域には、遮光性材料からなる周辺見切り53が形成されている。シール材52の外側の領域には、データ線駆動回路201及び実装端子202がTFTアレイ基板10の一辺に沿って形成されており、この一辺に隣接する2辺に沿って走査線駆動回路204が形成されている。TFTアレイ基板10の残る一辺には、画像表示領域の両側に設けられた走査線駆動回路204の間を接続するための複数の配線205が設けられている。また、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所においては、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための基板間導通材206が配設されている。
A
なお、データ線駆動回路201及び走査線駆動回路204をTFTアレイ基板10の上に形成する代わりに、例えば、駆動用LSIが実装されたTAB(Tape Automated Bonding)基板とTFTアレイ基板10の周辺部に形成された端子群とを異方性導電膜を介して電気的及び機械的に接続するようにしてもよい。なお、液晶表示装置100においては、使用する液晶50の種類、すなわち、TN(Twisted Nematic)モード、C−TN法、VA方式、IPS方式等の動作モードや、ノーマリホワイトモード/ノーマリブラックモードの別に応じて、位相差板、偏光板等が所定の向きに配置されるが、ここでは図示を省略する。また、液晶表示装置100をカラー表示用として構成する場合には、対向基板20において、TFTアレイ基板10の後述する各画素電極に対向する領域に、例えば赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタをその保護膜とともに形成する。
Instead of forming the data line driving
このような構造を有する液晶表示装置100の画像表示領域においては、図7に示すように、複数の画素100aがマトリクス状に構成されているとともに、これらの画素100aの各々には、画素スイッチング用のTFT(スイッチング素子)30が形成されており、画素信号S1、S2、…、Snを供給するデータ線6aがTFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画素信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次で供給してもよく、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。また、TFT30のゲートには走査線3aが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、…、Gmをこの順に線順次で印加するように構成されている。
In the image display region of the liquid
画素電極19はTFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけオン状態とすることにより、データ線6aから供給される画素信号S1、S2、…、Snを各画素に所定のタイミングで書き込む。このようにして画素電極19を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画素信号S1、S2、…、Snは、図6に示す対向基板20の対向電極121との間で一定期間保持される。なお、保持された画素信号S1、S2、…、Snがリークするのを防ぐために、画素電極19と対向電極121との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量60が付加されている。例えば、画素電極19の電圧は、ソース電圧が印加された時間よりも3桁も長い時間だけ蓄積容量60により保持される。これにより、電荷の保持特性は改善され、コントラスト比の高い液晶表示装置100を実現することができる。
The
図8はボトムゲート型TFT30を有する液晶表示装置100の部分拡大断面図であって、TFTアレイ基板10を構成するガラス基板Pには、上記実施形態のパターン形成方法によって形成されたゲート配線61(配線パターン)が形成されている。
FIG. 8 is a partially enlarged cross-sectional view of the liquid
ゲート配線61上には、SiNxからなるゲート絶縁膜62を介してアモルファスシリコン(a−Si)層からなる半導体層63が積層されている。このゲート配線部分に対向する半導体層63の部分がチャネル領域とされている。半導体層63上には、オーミック接合を得るための例えばn+型a−Si層からなる接合層64a及び64bが積層されており、チャネル領域の中央部における半導体層63上には、チャネルを保護するためのSiNxからなる絶縁性のエッチストップ膜65が形成されている。なお、これらゲート絶縁膜62、半導体層63、及びエッチストップ膜65は、蒸着(CVD)後にレジスト塗布、感光・現像、フォトエッチングを施されることで、図示されるようにパターニングされる。
A
さらに、接合層64a、64b及びITOからなる画素電極19も同様に成膜するとともに、フォトエッチングを施されることで、図示するようにパターニングされる。そして、画素電極19、ゲート絶縁膜62及びエッチストップ膜65上にそれぞれバンク66…を形成し、これらバンク66…間に上述した液滴吐出装置IJを用いて、ソース線、ドレイン線を形成することができる。なお、これらのソース線及びドレイン線も本発明に係るパターンとして構成することが可能である。
Further, the
このように、本実施形態では、ゲート線61が本発明の配線パターン形成方法によって形成されるため、液晶表示装置を製造する際のプロセスタイムを短縮することができる。したがって、液晶表示装置が低コスト化される。また、本発明の配線パターン形成方法によれば、配線パターンと基板との密着性を向上させることができるため、より信頼性に優れた液晶表示装置を製造することができる。
Thus, in this embodiment, since the
上記実施の形態では、TFT30を液晶表示装置100の駆動のためのスイッチング素子として用いる構成としたが、液晶表示装置以外にも例えば有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示デバイスに応用が可能である。有機EL表示デバイスは、蛍光性の無機および有機化合物を含む薄膜を、陰極と陽極とで挟んだ構成を有し、上記薄膜に電子および正孔(ホール)を注入して励起させることにより励起子(エキシトン)を生成させ、このエキシトンが再結合する際の光の放出(蛍光・燐光)を利用して発光させる素子である。そして、上記のTFT30を有する基板上に、有機EL表示素子に用いられる蛍光性材料のうち、赤、緑および青色の各発光色を呈する材料すなわち発光層形成材料及び正孔注入/電子輸送層を形成する材料をインクとし、各々をパターニングすることで、自発光フルカラーELデバイスを製造することができる。
本発明におけるデバイス(電気光学装置)の範囲にはこのような有機ELデバイスをも含むものであり、低コスト化され、かつ、信頼性に優れた有機ELデバイスを得ることができる。
In the above embodiment, the
The range of the device (electro-optical device) in the present invention includes such an organic EL device, and it is possible to obtain an organic EL device that is reduced in cost and excellent in reliability.
図9は、上記液滴吐出装置IJにより一部の構成要素が製造された有機EL装置の側断面図である。図9を参照しながら、有機EL装置の概略構成を説明する。
図9において、有機EL装置301は、基板311、回路素子部321、画素電極331、バンク部341、発光素子351、陰極361(対向電極)、および封止基板371から構成された有機EL素子302に、フレキシブル基板(図示略)の配線および駆動IC(図示略)を接続したものである。回路素子部321は、アクティブ素子であるTFT30が基板311上に形成され、複数の画素電極331が回路素子部321上に整列して構成されたものである。そして、TFT30を構成するゲート配線61が、上述した実施形態の配線パターンの形成方法により形成されている。
FIG. 9 is a side sectional view of an organic EL device in which some components are manufactured by the droplet discharge device IJ. The schematic configuration of the organic EL device will be described with reference to FIG.
In FIG. 9, an
各画素電極331間にはバンク部341が格子状に形成されており、バンク部341により生じた凹部開口344に、発光素子351が形成されている。なお、発光素子351は、赤色の発光をなす素子と緑色の発光をなす素子と青色の発光をなす素子とからなっており、これによって有機EL装置301は、フルカラー表示を実現するものとなっている。陰極361は、バンク部341および発光素子351の上部全面に形成され、陰極361の上には封止用基板371が積層されている。
有機EL素子を含む有機EL装置301の製造プロセスは、バンク部341を形成するバンク部形成工程と、発光素子351を適切に形成するためのプラズマ処理工程と、発光素子351を形成する発光素子形成工程と、陰極361を形成する対向電極形成工程と、封止用基板371を陰極361上に積層して封止する封止工程とを備えている。
The manufacturing process of the
発光素子形成工程は、凹部開口344、すなわち画素電極331上に正孔注入層352および発光層353を形成することにより発光素子351を形成するもので、正孔注入層形成工程と発光層形成工程とを具備している。そして、正孔注入層形成工程は、正孔注入層352を形成するための液状体材料を各画素電極331上に吐出する第1吐出工程と、吐出された液状体材料を乾燥させて正孔注入層352を形成する第1乾燥工程とを有している。また、発光層形成工程は、発光層353を形成するための液状体材料を正孔注入層352の上に吐出する第2吐出工程と、吐出された液状体材料を乾燥させて発光層353を形成する第2乾燥工程とを有している。なお、発光層353は、前述したように赤、緑、青の3色に対応する材料によって3種類のものが形成されるようになっており、したがって上記の第2吐出工程は、3種類の材料をそれぞれに吐出するために3つの工程からなっている。
この発光素子形成工程において、正孔注入層形成工程における第1吐出工程と、発光層形成工程における第2吐出工程とで上記の液滴吐出装置IJを用いることができる。
The light emitting element forming step is to form the
In this light emitting element forming step, the above-described droplet discharge device IJ can be used in the first discharging step in the hole injection layer forming step and the second discharging step in the light emitting layer forming step.
上述した実施形態においては、本発明に係るパターン形成方法を使って、TFT(薄膜トランジスタ)のゲート配線を形成しているが、ソース電極、ドレイン電極、画素電極などの他の構成要素を製造することも可能である。以下、TFTを製造する方法について図10を参照しながら説明する。 In the above-described embodiment, the gate wiring of the TFT (thin film transistor) is formed using the pattern forming method according to the present invention. However, other components such as a source electrode, a drain electrode, and a pixel electrode are manufactured. Is also possible. Hereinafter, a method for manufacturing a TFT will be described with reference to FIG.
まず、洗浄したガラス基板510の上面に、撥液性膜F及び親液部H1を形成する。この親液部H1を形成する際には、上述のように液滴吐出法によって親液性材料あるいは親液性材料を含むインクを吐出配置し、必要に応じて乾燥処理を行うことによって形成する。その後、機能液を親液部H1上に配置し、乾燥処理を行うことによって、ゲート走査電極512が形成される。
First, the liquid repellent film F and the lyophilic portion H1 are formed on the upper surface of the cleaned
この時の導電性微粒子としては、Ag,Al,Au,Cu,パラジウム、Ni,W−si,導電性ポリマーなどが好適に採用可能である。このようにして形成されたゲート走査電極512は、親液部H1の周囲に十分な撥液性が予め与えられ、機能液が親液部H1からはみ出ることがないため、微細な配線パターンを形成することが可能となっている。
As the conductive fine particles at this time, Ag, Al, Au, Cu, palladium, Ni, W-si, conductive polymer, or the like can be suitably used. The
次に、図10(b)に示すように、プラズマCVD法によりゲート絶縁膜513、活性層510、コンタクト層509の連続成膜を行う。ゲート絶縁膜513として窒化シリコン膜、活性層510としてアモルファスシリコン膜、コンタクト層509としてn+型シリコン膜を原料ガスやプラズマ条件を変化させることにより形成する。
Next, as shown in FIG. 10B, a
上記半導体層形成工程に続くバンク形成工程では、図10(c)に示すように、ゲート絶縁膜513の上面に、1画素ピッチの1/20〜1/10でかつ上記溝511aと交差する溝514aを設けるためのバンク514を、フォトリソグラフィ法に基づいて形成する。このバンク514としては、形成後に光透過性と撥液性を備える必要があり、その素材としては、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、オレフィン樹脂、メラミン樹脂などの高分子材料のほかポリシラザンなどの無機系の材料が好適に用いられる。
In the bank formation process subsequent to the semiconductor layer formation process, as shown in FIG. 10C, a groove intersecting the groove 511a at 1/20 to 1/10 of one pixel pitch on the upper surface of the
この形成後のバンク514に撥液性を持たせるためにCF4プラズマ処理等(フッ素成分を有するガスを用いたプラズマ処理)を施す必要があるが、代わりに、バンク514の素材自体に予め撥液成分(フッ素基等)を充填しておくものとしても良い。この場合には、CF4プラズマ処理等を省略することができる。
In order to impart liquid repellency to the
以上のようにして撥液化されたバンク514の、吐出インクに対する接触角としては、40°以上、またガラス面の接触角としては、10°以下を確保することが好ましい。すなわち、本発明者らが試験により確認した結果、例えば導電性微粒子(テトラデカン溶媒)に対する処理後の接触角は、バンク514の素材としてアクリル樹脂系を採用した場合には約54.0°(未処理の場合には10°以下)を確保することができる。なお、これら接触角は、プラズマパワー550Wのもと、4フッ化メタンガスを0.1L/minで供給する処理条件下で得たものである。
The contact angle of the
上記バンク形成工程に続くソース・ドレイン電極形成工程では、バンク514で区画された描画領域である上記溝514a内を満たすように、導電性微粒子を含む液滴をインクジェットで吐出することで、図10(d)に示すように、上記ゲート走査電極512に対して交差するソース電極515及びドレイン電極516が形成される。なお、上述のように、ソース電極515及びドレイン電極516を形成する際に本発明の配線パターン形成方法を適用することによって、フォトリソグラフィ法を用いて形成されるバンクを形成する必要がなくなる。
In the source / drain electrode formation step subsequent to the bank formation step, droplets containing conductive fine particles are ejected by ink jet so as to fill the
なお、ソース電極515及びドレイン電極516を形成する時の導電性微粒子としても、Ag,Al,Au,Cu,パラジウム、Ni,W−si,導電性ポリマーなどが好適に採用可能である。このようにして形成されたソース電極515及びドレイン電極516は、バンク514に十分な撥液性が予め与えられているので、溝514aからはみ出ることなく微細な配線パターンを形成することが可能となっている。
Note that Ag, Al, Au, Cu, palladium, Ni, W-si, a conductive polymer, and the like can be suitably used as the conductive fine particles when forming the
また、ソース電極515及びドレイン電極516を配置した溝514aを埋めるように絶縁材料517が配置される。以上の工程により、基板510上には、バンク514と絶材料517からなる平坦な上面520が形成される。
An insulating
そして、絶縁材料517にコンタクトホール519を形成するとともに、上面520上にパターニングされた画素電極(ITO)518を形成し、コンタクトホール519を介してドレイン電極516と画素電極518とを接続することで、TFTが形成される。
Then, a
図11は、液晶表示装置の別の実施形態を示す図である。
図11に示す液晶表示装置(電気光学装置)901は、大別するとカラーの液晶パネル(電気光学パネル)902と、液晶パネル902に接続される回路基板903とを備えている。また、必要に応じて、バックライト等の照明装置、その他の付帯機器が液晶パネル902に付設されている。
FIG. 11 is a diagram showing another embodiment of the liquid crystal display device.
A liquid crystal display device (electro-optical device) 901 illustrated in FIG. 11 includes a color liquid crystal panel (electro-optical panel) 902 and a
液晶パネル902は、シール材904によって接着された一対の基板905a及び基板905bを有し、これらの基板905bと基板905bとの間に形成される間隙、いわゆるセルギャップには液晶が封入されている。これらの基板905a及び基板905bは、一般には透光性材料、例えばガラス、合成樹脂等によって形成されている。基板905a及び基板905bの外側表面には偏光板906a及び偏光板906bが貼り付けられている。なお、図11においては、偏光板906bの図示を省略している。
The
また、基板905aの内側表面には電極907aが形成され、基板905bの内側表面には電極907bが形成されている。これらの電極907a、907bはストライプ状または文字、数字、その他の適宜のパターン状に形成されている。また、これらの電極907a、907bは、例えばITO(Indium Tin Oxide:インジウムスズ酸化物)等の透光性材料によって形成されている。基板905aは、基板905bに対して張り出した張り出し部を有し、この張り出し部に複数の端子908が形成されている。これらの端子908は、基板905a上に電極907aを形成するときに電極907aと同時に形成される。従って、これらの端子908は、例えばITOによって形成されている。これらの端子908には、電極907aから一体に延びるもの、及び導電材(不図示)を介して電極907bに接続されるものが含まれる。
An
回路基板903には、配線基板909上の所定位置に液晶駆動用ICとしての半導体素子900が実装されている。なお、図示は省略しているが、半導体素子900が実装される部位以外の部位の所定位置には抵抗、コンデンサ、その他のチップ部品が実装されていてもよい。配線基板909は、例えばポリイミド等の可撓性を有するフィルム状のベース基板911の上に形成されたCu等の金属膜をパターニングして配線パターン912を形成することによって製造されている。
On the
本実施形態では、液晶パネル902における電極907a、907b及び回路基板903における配線パターン912が本発明の配線パターン形成方法によって形成されている。
したがって、電極907a、907b及び回路基板903における配線パターン912のプロセスタイムを短縮することができるとともに、電極907a、907b及び回路基板903における配線パターン912の密着性を向上させることができるため、低コストで、かつ、信頼性に優れた液晶表示装置を得ることができる。
In this embodiment, the
Accordingly, the process time of the
なお、前述した例はパッシブ型の液晶パネルであるが、アクティブマトリクス型の液晶パネルとしてもよい。すなわち、一方の基板に薄膜トランジスタ(TFT)を形成し、各TFTに対し画素電極を形成する。また、各TFTに電気的に接続する配線(ゲート配線、ソース配線)を上記のようにインクジェット技術を用いて形成することができる。一方、対向する基板には対向電極等が形成されている。このようなアクティブマトリクス型の液晶パネルにも本発明を適用することができる。 Note that the above-described example is a passive liquid crystal panel, but an active matrix liquid crystal panel may be used. That is, a thin film transistor (TFT) is formed on one substrate, and a pixel electrode is formed for each TFT. In addition, wirings (gate wirings and source wirings) that are electrically connected to the TFTs can be formed using the inkjet technique as described above. On the other hand, a counter electrode or the like is formed on the opposing substrate. The present invention can also be applied to such an active matrix liquid crystal panel.
なお、本発明に係る電気光学装置としては、上記の他に、PDP(プラズマディスプレイパネル)や、基板上に形成された小面積の薄膜に膜面に平行に電流を流すことにより、電子放出が生ずる現象を利用する表面伝導型電子放出素子等にも適用可能である。 In addition to the above, the electro-optical device according to the present invention emits electrons by passing a current parallel to the film surface through a PDP (plasma display panel) or a small-area thin film formed on a substrate. The present invention is also applicable to a surface conduction electron-emitting device that utilizes the phenomenon that occurs.
[電子機器]
次に、非接触型カード媒体の実施形態について説明する。図12に示すように、本実施形態に係る非接触型カード媒体(電子機器)400は、カード基体402とカードカバー418から成る筐体内に、半導体集積回路チップ408とアンテナ回路412を内蔵し、図示されない外部の送受信機と電磁波または静電容量結合の少なくとも一方により電力供給あるいはデータ授受の少なくとも一方を行うようになっている。
[Electronics]
Next, an embodiment of a non-contact card medium will be described. As shown in FIG. 12, a non-contact type card medium (electronic device) 400 according to the present embodiment includes a semiconductor integrated circuit chip 408 and an antenna circuit 412 in a housing composed of a card base 402 and a card cover 418. At least one of power supply and data transmission / reception is performed by at least one of electromagnetic waves and capacitive coupling with an external transceiver (not shown).
本実施形態では、上記アンテナ回路412が、本発明の配線パターン形成方法によって形成されている。
したがって、アンテナ回路412のプロセスタイムを短縮することができるとともに密着性を向上させることができるため、低コストで、かつ、信頼性に優れた非接触型カード媒体を製造することができる。
In the present embodiment, the antenna circuit 412 is formed by the wiring pattern forming method of the present invention.
Therefore, since the process time of the antenna circuit 412 can be shortened and the adhesion can be improved, a non-contact card medium with low cost and excellent reliability can be manufactured.
次に、本発明の電子機器の具体例について説明する。
図13(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図13(a)において、600は携帯電話本体を示し、601は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図13(b)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図13(b)において、700は情報処理装置、701はキーボードなどの入力部、703は情報処理本体、702は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図13(c)は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図13(c)において、800は時計本体を示し、801は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図13(a)〜(c)に示す電子機器は、上記実施形態の液晶表示装置を備えたものであるので、低コスト化され、かつ、信頼性に優れた配線パターンを備える電子機器を提供することが可能となる。
なお、本実施形態の電子機器は液晶表示装置を備えるものとしたが、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、プラズマ型表示装置等、他の電気光学装置を備えた電子機器とすることもできる。
Next, specific examples of the electronic device of the present invention will be described.
FIG. 13A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 13A,
FIG. 13B is a perspective view illustrating an example of a portable information processing apparatus such as a word processor or a personal computer. In FIG. 13B,
FIG. 13C is a perspective view illustrating an example of a wristwatch type electronic device. In FIG. 13C,
Since the electronic apparatus shown in FIGS. 13A to 13C includes the liquid crystal display device of the above-described embodiment, an electronic apparatus including a wiring pattern that is reduced in cost and excellent in reliability is provided. It becomes possible to do.
In addition, although the electronic device of this embodiment shall be provided with a liquid crystal display device, it can also be set as the electronic device provided with other electro-optical devices, such as an organic electroluminescent display device and a plasma type display device.
P……基板、X1……機能液、X2……親液性材料、H1……親液部(親液領域)、33……配線パターン、100……液晶表示装置(電気光学装置)、400……非接触型カード媒体、600……携帯電話本体(電子機器)、700……情報処理装置(電子機器)、800……時計本体(電子機器)
P: substrate, X1: functional liquid, X2: lyophilic material, H1: lyophilic part (lyophilic area), 33: wiring pattern, 100: liquid crystal display device (electro-optical device), 400 …… Contactless card media, 600 …… Mobile phone body (electronic device), 700 …… Information processing device (electronic device), 800 …… Watch body (electronic device)
Claims (14)
液滴吐出法によって親液性材料を前記基板上に吐出配置することによって親液領域を形成する工程と、
前記親液領域上に導電性微粒子を含む機能液を配置し乾燥、焼成させることによって前記配線パターンを形成する工程と
を有することを特徴とする配線パターン形成方法。 A wiring pattern forming method for forming a wiring pattern on a substrate having liquid repellency,
Forming a lyophilic region by discharging and placing a lyophilic material on the substrate by a droplet discharge method;
Forming a wiring pattern by disposing a functional liquid containing conductive fine particles on the lyophilic region, drying and baking the functional liquid, and forming a wiring pattern.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004247914A JP2006066675A (en) | 2004-08-27 | 2004-08-27 | WIRING PATTERN AND METHOD FOR FORMING THE SAME, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004247914A JP2006066675A (en) | 2004-08-27 | 2004-08-27 | WIRING PATTERN AND METHOD FOR FORMING THE SAME, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006066675A true JP2006066675A (en) | 2006-03-09 |
Family
ID=36112872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004247914A Withdrawn JP2006066675A (en) | 2004-08-27 | 2004-08-27 | WIRING PATTERN AND METHOD FOR FORMING THE SAME, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006066675A (en) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008091565A (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Dainippon Printing Co Ltd | Organic semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP2008091564A (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Dainippon Printing Co Ltd | Organic semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP2010010549A (en) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Konica Minolta Holdings Inc | Method of manufacturing thin film transistor, and thin film transistor |
KR101368998B1 (en) * | 2012-08-07 | 2014-03-06 | 삼성테크윈 주식회사 | Selective filling method of insulating material on circuit board by surface treatment |
WO2014112402A1 (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-24 | 株式会社ブイ・テクノロジー | Method for manufacturing electronic device |
JP2014138106A (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-28 | Yamagata Univ | Electronic device and method for manufacturing the same |
CN115613012A (en) * | 2022-09-22 | 2023-01-17 | 辽宁师范大学 | Preparation method of patterned thin film |
-
2004
- 2004-08-27 JP JP2004247914A patent/JP2006066675A/en not_active Withdrawn
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008091565A (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Dainippon Printing Co Ltd | Organic semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP2008091564A (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Dainippon Printing Co Ltd | Organic semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP2010010549A (en) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Konica Minolta Holdings Inc | Method of manufacturing thin film transistor, and thin film transistor |
KR101368998B1 (en) * | 2012-08-07 | 2014-03-06 | 삼성테크윈 주식회사 | Selective filling method of insulating material on circuit board by surface treatment |
WO2014112402A1 (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-24 | 株式会社ブイ・テクノロジー | Method for manufacturing electronic device |
JP2014138107A (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-28 | Yamagata Univ | Method for manufacturing electronic device |
JP2014138106A (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-28 | Yamagata Univ | Electronic device and method for manufacturing the same |
KR20150106414A (en) * | 2013-01-17 | 2015-09-21 | 브이 테크놀로지 씨오. 엘티디 | Method for manufacturing electronic device |
TWI619154B (en) * | 2013-01-17 | 2018-03-21 | V科技股份有限公司 | Manufacturing method of electronic device |
KR102051699B1 (en) | 2013-01-17 | 2019-12-03 | 브이 테크놀로지 씨오. 엘티디 | Method for manufacturing electronic device |
CN115613012A (en) * | 2022-09-22 | 2023-01-17 | 辽宁师范大学 | Preparation method of patterned thin film |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3823981B2 (en) | PATTERN AND WIRING PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, AND ACTIVE MATRIX SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD | |
JP2005012173A (en) | Film pattern forming method, device and device manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus | |
CN100592516C (en) | Pixel structure, active matrix substrate, manufacturing method thereof, and related devices and equipment | |
KR100634110B1 (en) | Method for fabricating thin film pattern, device and fabricating method therefor, electro-optical apparatus, electronic apparatus, and method for fabricating active matrix substrate | |
KR101008779B1 (en) | Pattern formation method, electro-optical device manufacturing method and electronic device manufacturing method | |
JP2004363560A (en) | Substrate, device, device manufacturing method, active matrix substrate manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus | |
JP2005019955A (en) | Thin film pattern forming method, device manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus | |
JP2007329446A (en) | Metal wiring formation method, active matrix substrate manufacturing method, device, electro-optical device, and electronic apparatus | |
US20060188661A1 (en) | Method of forming film pattern, method of manufacturing device, electro-optical device, and electronic apparatus | |
JP2005013986A (en) | Device and manufacturing method thereof, active matrix substrate manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus | |
JP2004335962A (en) | Thin-film pattern forming method, device and manufacturing method thereof, electro-optical device, and electronic apparatus | |
JP2005013985A (en) | FILM PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, ACTIVE MATRIX SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD, ACTIVE MATRIX SUBSTRATE | |
JP2004351305A (en) | Thin-film pattern forming method, device and manufacturing method thereof, electro-optical device, and electronic apparatus | |
JP2006066675A (en) | WIRING PATTERN AND METHOD FOR FORMING THE SAME, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE | |
JP4572868B2 (en) | Wiring pattern forming method, non-contact card medium manufacturing method, electro-optical device manufacturing method, and active matrix substrate manufacturing method | |
JP4517583B2 (en) | Line pattern forming method and device manufacturing method | |
JP4539032B2 (en) | Film pattern forming method and device manufacturing method | |
JP4042625B2 (en) | THIN FILM PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE | |
KR100820663B1 (en) | Active matrix substrates and methods of manufacturing the same, electro-optical devices and electronic devices | |
JP2006108506A (en) | Film pattern forming method and substrate manufacturing method | |
JP2005093800A (en) | Thin film pattern forming mask, thin film pattern forming method, electro-optical device, and electronic apparatus | |
JP2007280987A (en) | Metal wiring forming method and active matrix substrate manufacturing method | |
JP4517584B2 (en) | Line pattern forming method and device manufacturing method | |
JP2009006228A (en) | Pattern forming method, electro-optical device manufacturing method, and electronic device manufacturing method | |
JP4453651B2 (en) | Active matrix substrate manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20071106 |