JP2006049588A - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】固体電解コンデンサの製造時に、擬似的なショート状態を更に解消する。
【解決手段】固体電解コンデンサの製造方法は、巻取り素子21に予め電流又は電圧を複数回印加して、擬似的なショート状態を解消する工程と、該巻取り素子21に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する工程を具えている。
【選択図】 図２
【解決手段】固体電解コンデンサの製造方法は、巻取り素子21に予め電流又は電圧を複数回印加して、擬似的なショート状態を解消する工程と、該巻取り素子21に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する工程を具えている。
【選択図】 図２
Description
本発明は、固体電解コンデンサの製造方法に関する。
図１は、従来の固体電解コンデンサ(１)の断面図であり、図２は、図１の固体電解コンデンサ(１)内のコンデンサ素子(２)の分解斜視図である(例えば、特許文献１参照)。
これは、一端部が開口したアルミニウム製のケース(３)内に、コンデンサ素子(２)を収納して、ケース(３)の開口をゴム製の封口部材(30)にて封止している。コンデンサ素子(２)は、図２に示すように、化成被膜を形成したアルミニウム箔である陽極箔(22)と、アルミニウム箔である陰極箔(23)を、絶縁体であるセパレータ紙(４)を介してロール状に巻回した巻取り素子(21)から構成され、内部にＴＣＮＱ(7、7、8、8−テトラシアノキノジメタン)錯塩等の固体電解質が含浸されている。固体電解質には、また、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリフラン、ポリアニリン等の導電性高分子が挙げられる。
陽極箔(22)と陰極箔(23)からは一対のタブ端子(25)(25)が引き出され、該タブ端子(25)(25)からリード線(20)(20)が延びている。該リード線(20)(20)は封口部材(30)を貫通して、外向きに突出している。ケース(３)の開口周縁部はカールされて、封口部材(30)を保持している。
陽極箔(22)と陰極箔(23)を巻き取った後であって、巻取り素子(21)に固体電解質を含浸する前には、リード線(20)(20)に通電して、巻取り素子(21)がショートしているか否かのチェックを行う。この中には、ショートしていない良品と、完全にショートしている不良品の他に、擬似的なショート状態となっている半不良品がある。この擬似的なショート状態とは、両箔(22)(23)が正確に巻き取られているにも係わらず、両箔(22)(23)の切り屑や金属粉が残っている、又はタブ端子(25)(25)やセパレータ紙(４)の若干の位置ズレなどの原因で、ショート状態となっている状態を指す。この擬似的なショート状態の巻取り素子(21)に、所定レベルの電圧又は電流を印加することにより、擬似的なショート状態が解消され、良品となることが知られている(例えば、特許文献２参照)。
これは、一端部が開口したアルミニウム製のケース(３)内に、コンデンサ素子(２)を収納して、ケース(３)の開口をゴム製の封口部材(30)にて封止している。コンデンサ素子(２)は、図２に示すように、化成被膜を形成したアルミニウム箔である陽極箔(22)と、アルミニウム箔である陰極箔(23)を、絶縁体であるセパレータ紙(４)を介してロール状に巻回した巻取り素子(21)から構成され、内部にＴＣＮＱ(7、7、8、8−テトラシアノキノジメタン)錯塩等の固体電解質が含浸されている。固体電解質には、また、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリフラン、ポリアニリン等の導電性高分子が挙げられる。
陽極箔(22)と陰極箔(23)からは一対のタブ端子(25)(25)が引き出され、該タブ端子(25)(25)からリード線(20)(20)が延びている。該リード線(20)(20)は封口部材(30)を貫通して、外向きに突出している。ケース(３)の開口周縁部はカールされて、封口部材(30)を保持している。
陽極箔(22)と陰極箔(23)を巻き取った後であって、巻取り素子(21)に固体電解質を含浸する前には、リード線(20)(20)に通電して、巻取り素子(21)がショートしているか否かのチェックを行う。この中には、ショートしていない良品と、完全にショートしている不良品の他に、擬似的なショート状態となっている半不良品がある。この擬似的なショート状態とは、両箔(22)(23)が正確に巻き取られているにも係わらず、両箔(22)(23)の切り屑や金属粉が残っている、又はタブ端子(25)(25)やセパレータ紙(４)の若干の位置ズレなどの原因で、ショート状態となっている状態を指す。この擬似的なショート状態の巻取り素子(21)に、所定レベルの電圧又は電流を印加することにより、擬似的なショート状態が解消され、良品となることが知られている(例えば、特許文献２参照)。
従来は、巻取り素子(21)に所定レベルの電圧を１回印加して、巻取り素子(21)に流れる電流を検出して、ショートしているか否かのチェックを行っていた。即ち、該電圧を印加することにより、ショートチェックを行うとともに、擬似的なショート状態を解消せんとしていた。
しかし、これでは擬似的なショート状態が完全に解消されず、良品となるべき巻取り素子(21)が不良品と判断されていた。従って、巻取り素子(21)の製造工程での歩留まりが悪く、生産効率が悪かった。
本発明の目的は、擬似的なショート状態を更に解消することにある。
しかし、これでは擬似的なショート状態が完全に解消されず、良品となるべき巻取り素子(21)が不良品と判断されていた。従って、巻取り素子(21)の製造工程での歩留まりが悪く、生産効率が悪かった。
本発明の目的は、擬似的なショート状態を更に解消することにある。
固体電解コンデンサの製造方法は、巻取り素子(21)に予め電流又は電圧を複数回印加して、擬似的なショート状態を解消する工程と、
巻取り素子(21)に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する工程を具えている。
巻取り素子(21)に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する工程を具えている。
本発明では、巻取り素子(21)がショートしているか否かを判断する前に、巻取り素子(21)に電流又は電圧を複数回印加しているから、擬似的なショート状態を更に解消できる。従って、巻取り素子(21)の製造工程での歩留まりが向上し、生産効率が改善される。
以下、本発明の一例を図を用いて詳述する。
従来と同様に、固体電解コンデンサ(１)のコンデンサ素子(２)は、図２に示すように、化成被膜を形成したアルミニウム箔である陽極箔(22)と、アルミニウム箔である陰極箔(23)を、絶縁体であるセパレータ紙(４)を介してロール状に巻回し、巻止めテープ(26)にて止着した巻取り素子(21)から構成されている。
従来と同様に、固体電解コンデンサ(１)のコンデンサ素子(２)は、図２に示すように、化成被膜を形成したアルミニウム箔である陽極箔(22)と、アルミニウム箔である陰極箔(23)を、絶縁体であるセパレータ紙(４)を介してロール状に巻回し、巻止めテープ(26)にて止着した巻取り素子(21)から構成されている。
固体電解コンデンサ(１)は、以下の如く、形成される。
陽極箔(22)と陰極箔(23)を、セパレータ紙(４)を介してロール状に巻回して、巻取り素子(21)を作る。該巻取り素子(21)の切り口化成を行った後に、２００℃以上にて炭化処理する。ここで切り口化成とは、陽極箔(22)を巻き取る際に破損した化成皮膜を修復し、或いは化成皮膜が形成されていない陽極箔(22)の端面に化成皮膜を形成する為に、再度化成処理を行うことを指す。
この後、ブタノール等のアルコール溶媒に、ｐ−トルエンスルホン酸第２鉄等の酸化剤を加えた酸化剤溶液に、モノマーを加えた混合液を作る。巻取り素子(21)を該混合液内に浸漬し、該巻取り素子(21)の内部に導電性高分子層を形成する。こうして、コンデンサ素子(２)を得る。
その後、図１に示すように、コンデンサ素子(２)のリード線(20)(20)を封口部材(30)に嵌め、コンデンサ素子(２)をケース(３)内に収納後、ケース(３)の開口周縁部に深絞り加工を施してカールする。封口部材(30)の上方から、プラスチック製の座板(31)をリード線(20)(20)を通して挿入した後に、リード線(20)(20)を外向きに曲げ加工して、座板(31)に当接させて固体電解コンデンサ(１)を得る。
陽極箔(22)と陰極箔(23)を、セパレータ紙(４)を介してロール状に巻回して、巻取り素子(21)を作る。該巻取り素子(21)の切り口化成を行った後に、２００℃以上にて炭化処理する。ここで切り口化成とは、陽極箔(22)を巻き取る際に破損した化成皮膜を修復し、或いは化成皮膜が形成されていない陽極箔(22)の端面に化成皮膜を形成する為に、再度化成処理を行うことを指す。
この後、ブタノール等のアルコール溶媒に、ｐ−トルエンスルホン酸第２鉄等の酸化剤を加えた酸化剤溶液に、モノマーを加えた混合液を作る。巻取り素子(21)を該混合液内に浸漬し、該巻取り素子(21)の内部に導電性高分子層を形成する。こうして、コンデンサ素子(２)を得る。
その後、図１に示すように、コンデンサ素子(２)のリード線(20)(20)を封口部材(30)に嵌め、コンデンサ素子(２)をケース(３)内に収納後、ケース(３)の開口周縁部に深絞り加工を施してカールする。封口部材(30)の上方から、プラスチック製の座板(31)をリード線(20)(20)を通して挿入した後に、リード線(20)(20)を外向きに曲げ加工して、座板(31)に当接させて固体電解コンデンサ(１)を得る。
上記工程に於いて、巻取り素子(21)を作ってから、巻取り素子(21)を混合液内に浸漬するまでの間に、リード線(20)(20)に通電して、巻取り素子(21)がショートしているか否かのチェックを行う。本例では、このチェックの前工程に特徴がある。
先ず、リード線(20)(20)に、所定レベルの電流又は電圧を複数回印加する。該電流又は電圧は、１００msecの間に、１０数回印加され、電流又は電圧のレベルは後記する。この後に、巻取り素子(21)に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する。
本例にあっては、巻取り素子(21)がショートしているか否かを判断する前に、巻取り素子(21)に電流又は電圧を複数回印加しているから、擬似的なショート状態をより良く解消できる。従って、巻取り素子(21)の製造工程での歩留まりが向上し、生産効率が改善される。
先ず、リード線(20)(20)に、所定レベルの電流又は電圧を複数回印加する。該電流又は電圧は、１００msecの間に、１０数回印加され、電流又は電圧のレベルは後記する。この後に、巻取り素子(21)に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する。
本例にあっては、巻取り素子(21)がショートしているか否かを判断する前に、巻取り素子(21)に電流又は電圧を複数回印加しているから、擬似的なショート状態をより良く解消できる。従って、巻取り素子(21)の製造工程での歩留まりが向上し、生産効率が改善される。
出願人は、上記の効果を確認すべく、以下の実験を行った。
先ず、定格電圧２.５Ｖで静電容量が１８０μＦであるコンデンサ(１)用の巻取り素子(21)を作る。巻取り素子(21)を収納するケース(３)の直径は５.０ｍｍで高さが６.０ｍｍである。この巻取り素子(21)に２５Ｖの電圧、５００ｍＡの電流を断続的に１０回印加した。尚、電圧、電流はパルス的に印加している。印加して１００msec後に、２５Ｖの測定電圧を印加して検出電流が１０ｍＡ以上であることを判断基準としてショートチェックを行った。これを実施例１とする。
次に、定格電圧４Ｖで静電容量が５６０μＦであるコンデンサ(１)用の巻取り素子(21)を作る。ケース(３)の直径は８.０ｍｍで高さが１１.５ｍｍである。この巻取り素子(21)に実施例１と同様にパルス電圧又は電流を印加した後に、ショートチェックを行い、これを実施例２とする。
先ず、定格電圧２.５Ｖで静電容量が１８０μＦであるコンデンサ(１)用の巻取り素子(21)を作る。巻取り素子(21)を収納するケース(３)の直径は５.０ｍｍで高さが６.０ｍｍである。この巻取り素子(21)に２５Ｖの電圧、５００ｍＡの電流を断続的に１０回印加した。尚、電圧、電流はパルス的に印加している。印加して１００msec後に、２５Ｖの測定電圧を印加して検出電流が１０ｍＡ以上であることを判断基準としてショートチェックを行った。これを実施例１とする。
次に、定格電圧４Ｖで静電容量が５６０μＦであるコンデンサ(１)用の巻取り素子(21)を作る。ケース(３)の直径は８.０ｍｍで高さが１１.５ｍｍである。この巻取り素子(21)に実施例１と同様にパルス電圧又は電流を印加した後に、ショートチェックを行い、これを実施例２とする。
次に、出願人は定格電圧２.５Ｖで静電容量が１８０μＦであるコンデンサ(１)用の巻取り素子(21)を作る。巻取り素子(21)を収納するケース(３)の直径は５.０ｍｍで高さが６.０ｍｍであり、これは実施例１に対応している。該巻取り素子(21)に２５Ｖの測定電圧を印加すると同時に、検出電流が１０ｍＡ以上であることを判断基準としてショートチェックを行った。即ち、ショートチェックの前に、パルス電圧又は電流を予め印加していない。これを従来例１とする。
次に、定格電圧４Ｖで静電容量が５６０μＦであるコンデンサ(１)用の巻取り素子(21)を作る。ケース(３)の直径は８.０ｍｍで高さが１１.５ｍｍであり、これは実施例２に対応している。従来例１と同様に、巻取り素子(21)に２５Ｖの測定電圧を印加してショートチェックを行った。これを従来例２とする。
出願人は、上記実施例１、２及び従来例１、２のコンデンサ(１)を多数作成して、ショートチェック時の不良率(下記では、ショート不良率と略す)を求めた。結果を図３に示す。
図３の結果から判るように、予めパルス電圧又は電流を複数回印加してからショートチェックを行った実施例１、２のコンデンサ(１)は、従来例１、２のコンデンサ(１)よりも擬似的なショート状態を解消でき、不良率を低減することができた。
次に、定格電圧４Ｖで静電容量が５６０μＦであるコンデンサ(１)用の巻取り素子(21)を作る。ケース(３)の直径は８.０ｍｍで高さが１１.５ｍｍであり、これは実施例２に対応している。従来例１と同様に、巻取り素子(21)に２５Ｖの測定電圧を印加してショートチェックを行った。これを従来例２とする。
出願人は、上記実施例１、２及び従来例１、２のコンデンサ(１)を多数作成して、ショートチェック時の不良率(下記では、ショート不良率と略す)を求めた。結果を図３に示す。
図３の結果から判るように、予めパルス電圧又は電流を複数回印加してからショートチェックを行った実施例１、２のコンデンサ(１)は、従来例１、２のコンデンサ(１)よりも擬似的なショート状態を解消でき、不良率を低減することができた。
上記実施例の説明は、本発明を説明するためのものであって、特許請求の範囲に記載の発明を限定し、或は範囲を減縮する様に解すべきではない。又、本発明の各部構成は上記実施例に限らず、特許請求の範囲に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能であることは勿論である。
(１) 固体電解コンデンサ
(４) セパレータ紙
(21) 巻取り素子
(22) 陽極箔
(23) 陰極箔
(４) セパレータ紙
(21) 巻取り素子
(22) 陽極箔
(23) 陰極箔
Claims (1)
- 陽極箔(22)と陰極箔(23)を巻回した巻取り素子(21)を具える固体電解コンデンサの製造方法であって、
巻取り素子(21)に予め電流又は電圧を複数回印加して、擬似的なショート状態を解消する工程と、
巻取り素子(21)に測定電圧を印加して、検出される電流値にてショートしているか否かを判断する工程を具えた固体電解コンデンサの製造方法。
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|---|---|---|---|
| JP2004228775A JP2006049588A (ja) | 2004-08-05 | 2004-08-05 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
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| JP2004228775A JP2006049588A (ja) | 2004-08-05 | 2004-08-05 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Publications (1)
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Family Applications (1)
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| JP2004228775A Pending JP2006049588A (ja) | 2004-08-05 | 2004-08-05 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102564559B1 (ko) * | 2023-02-15 | 2023-08-07 | 진동철 | 전해 콘덴서 제조 방법 |
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| JPH04103117A (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-06 | Nichicon Corp | 固体電解コンデンサの製造方法 |
| JPH09260215A (ja) * | 1996-03-21 | 1997-10-03 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体電解コンデンサの製造方法 |
| JP2003264129A (ja) * | 2002-03-12 | 2003-09-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体電解コンデンサ |
-
2004
- 2004-08-05 JP JP2004228775A patent/JP2006049588A/ja active Pending
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