JP2005209356A - 有機el素子及びカラーフィルター - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 窒化酸化珪素(SiOxNy)からなる膜であって、膜の深さ方向で窒素原子(N)と酸素原子(O)の比率が傾斜的に変化しているパッシベーション膜を基板上のカラーフィルター層と透明電極間に形成する。なお、パッシベーション膜の深さ方向での窒素原子(N)と酸素原子(O)の比率の変化が、N原子数/(O原子数+N原子数)の値で0.4から0.9の範囲で変化すること、窒素原子(N)と酸素原子(O)の比率の変化が、N原子数/(O原子数+N原子数)の値で0.6から0.9の範囲で変化することが好ましい。
【選択図】 図1
Description
NH3ガス流量 300SCCM→0SCCM
N2Oガス流量 30SCCM→270SCCM
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 3分
NH3ガス流量 300SCCM→100SCCM
N2Oガス流量 30SCCM→170SCCM
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 3分
NH3ガス流量 0SCCM→300SCCM(30秒保持)
N2Oガス流量 270SCCM→0SCCM(30秒保持)
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 3分
NH3ガス流量 0SCCM→300SCCM(1分保持)
N2Oガス流量 270SCCM→0SCCM(1分保持)
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 3分
NH3ガス流量 0SCCM→300SCCM(1分保持)
N2Oガス流量 270SCCM(1分保持)→0SCCM(1分保持)
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 3分
(1回目)
SiH4ガス流量 100SCCM
NH3ガス流量 0SCCM
N2Oガス流量 270SCCM
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 2分
(2回目)
SiH4ガス流量 100SCCM
NH3ガス流量 300SCCM
N2Oガス流量 0SCCM
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 2分
<比較例1>
オーバーコート樹脂層と透明電極(陽極)の間のパッシベーション膜をプラズマCVD装置を用いて下記条件で成膜した。
NH3ガス流量 0SCCM
N2Oガス流量 270SCCM
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 3分
<比較例2>
オーバーコート樹脂層と透明電極(陽極)の間のパッシベーション膜をプラズマCVD装置を用いて下記条件で成膜した。
NH3ガス流量 300SCCM
N2Oガス流量 0SCCM
N2ガス流量 2000SCCM
成膜温度 230℃
圧力 120pa
RF電力 1000W
成膜時間 3分
上記各実施例及び比較例のパッシベーション膜を有する有機EL素子を、60℃湿度90%の促進条件下で保存試験を行い、非発光部(ダークスポット)の拡大を観察して、ガラス基板上に直接形成した有機EL素子と比較して評価した。その結果を表1に示す。
CF:カラーフィルター OC:オーバーコート層
参考例2はオーバーコート(以下OCと表記する)層と透明電極(陽極)の間にパッシベーション層を形成せずに素子化したサンプルであるが、表1に示すように60℃、90%環境下でのダークスポット(以下DSと表記する)の状況を観察すると、当初発光していた素子も100時間経過後にはDSの拡大が進んで発光しなくなった。参考例3のように、カラーフィルター(以下CFと表記する)とOCがない場合には、パッシベーション層がなくてもDSの拡大がほとんどみられないことから、CFやOCからの水分や有機ガスがEL素子のDS拡大に強く影響することが示唆される。
2 カラーフィルター層
3 オーバーコート樹脂層
4 パッシベーション膜
5 透明電極(陽極)
6 有機発光層
7 陰極
8 乾燥剤
9 封止缶
Claims (11)
- 窒化酸化珪素(SiOxNy)からなる膜であって、膜の深さ方向で窒素原子(N)と酸素原子(O)の比率が傾斜的に変化しているパッシベーション膜を有することを特徴とする有機EL素子。
- 当該パッシベーション膜の深さ方向での窒素原子(N)と酸素原子(O)の比率の変化が、N原子数/(O原子数+N原子数)の値で0.4から0.9の範囲で変化することを特徴とする請求項1記載の有機EL素子。
- 当該パッシベーション膜の深さ方向での窒素原子(N)と酸素原子(O)の比率の変化が、N原子数/(O原子数+N原子数)の値で0.6から0.9の範囲で変化することを特徴とする請求項1記載の有機EL素子。
- 当該パッシベーション膜の一部に、N原子数/(O原子数+N原子数)の値が0.90から0.99となる窒素高濃度層が存在することを特徴とする請求項1記載の有機EL素子。
- 当該パッシベーション膜の一部に、N原子数/(O原子数+N原子数)の値が0.90から0.99となる窒素高濃度層が存在し、当該窒素高濃度層を除く残りの層のN原子数/(O原子数+N原子数)の値は平均すると0.6以下であることを特徴とする請求項1記載の有機EL素子。
- N原子数/(O原子数+N原子数)の値が0.90から0.99となる窒素高濃度層の厚さが、50nmから100nmの範囲にあることを特徴とする請求項4乃至請求項5記載の有機EL素子。
- 当該パッシベーション膜が窒化酸化珪素(SiOxNy)と窒化珪素(SiNx)との積層膜からなることを特徴とする有機EL素子。
- 窒化酸化珪素(SiOxNy)と窒化珪素(SiNx)との積層膜の内、窒化珪素(SiNx)膜層の厚さが、50nmから150nmの範囲にあることを特徴とする請求項7記載の有機EL素子。
- パッシベーション膜が、基板上のカラーフィルター層と透明電極間に形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項8記載の有機EL素子。
- パッシベーション膜が、少なくとも透明電極と金属電極間の層を包み込むように形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項8記載の有機EL素子。
- 請求項1乃至請求項8記載のパッシベーション膜が、基板上のカラーフィルター層と透明電極間に形成されていることを特徴とするカラーフィルター。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004011471A JP4479249B2 (ja) | 2004-01-20 | 2004-01-20 | 有機el素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004011471A JP4479249B2 (ja) | 2004-01-20 | 2004-01-20 | 有機el素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005209356A true JP2005209356A (ja) | 2005-08-04 |
JP4479249B2 JP4479249B2 (ja) | 2010-06-09 |
Family
ID=34898150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004011471A Expired - Lifetime JP4479249B2 (ja) | 2004-01-20 | 2004-01-20 | 有機el素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4479249B2 (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007115544A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 有機el素子 |
JP2007123174A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Canon Inc | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
JP2007123173A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Canon Inc | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
WO2009028485A1 (ja) * | 2007-08-31 | 2009-03-05 | Tokyo Electron Limited | 有機電子デバイス、有機電子デバイスの製造方法、有機電子デバイスの製造装置、基板処理システム、保護膜の構造体、および制御プログラムが記憶された記憶媒体 |
JP2009196155A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Dainippon Printing Co Ltd | ガスバリアフィルム、ガスバリア膜の作製方法及び作製装置 |
JP2009252739A (ja) * | 2008-04-10 | 2009-10-29 | Samsung Electronics Co Ltd | 傾斜組成封止薄膜およびその製造方法 |
WO2010035337A1 (ja) * | 2008-09-26 | 2010-04-01 | 富士電機ホールディングス株式会社 | 有機elデバイスおよびその製造方法 |
JP2011082109A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 |
JP2011146226A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Konica Minolta Holdings Inc | バリア性フィルム及び有機電子デバイス |
JP2011146144A (ja) * | 2010-01-12 | 2011-07-28 | Konica Minolta Holdings Inc | 発光素子 |
JP5172961B2 (ja) * | 2008-08-26 | 2013-03-27 | シャープ株式会社 | 有機elデバイスおよびその製造方法 |
CN104157790A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-11-19 | 上海天马有机发光显示技术有限公司 | 一种有机发光薄膜封装结构,其器件、装置及制造方法 |
CN102077686B (zh) * | 2009-06-29 | 2015-04-22 | 夏普株式会社 | 用于有机el元件的密封膜,有机el元件以及有机el显示器 |
KR20150135521A (ko) * | 2013-03-29 | 2015-12-02 | 린텍 가부시키가이샤 | 가스 배리어성 적층체, 전자 디바이스용 부재 및 전자 디바이스 |
WO2016046914A1 (ja) * | 2014-09-24 | 2016-03-31 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
WO2019114648A1 (en) * | 2017-12-15 | 2019-06-20 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Encapsulation structure, encapsulating method, electroluminescent apparatus, and display apparatus |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000340799A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-12-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
JP2003133062A (ja) * | 2001-10-30 | 2003-05-09 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス発光装置 |
-
2004
- 2004-01-20 JP JP2004011471A patent/JP4479249B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000340799A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-12-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
JP2003133062A (ja) * | 2001-10-30 | 2003-05-09 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス発光装置 |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007115544A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 有機el素子 |
JP2007123174A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Canon Inc | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
JP2007123173A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Canon Inc | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
WO2009028485A1 (ja) * | 2007-08-31 | 2009-03-05 | Tokyo Electron Limited | 有機電子デバイス、有機電子デバイスの製造方法、有機電子デバイスの製造装置、基板処理システム、保護膜の構造体、および制御プログラムが記憶された記憶媒体 |
JP5410978B2 (ja) * | 2007-08-31 | 2014-02-05 | 東京エレクトロン株式会社 | 有機電子デバイスの製造方法および制御プログラムが記憶された記憶媒体 |
JP2009196155A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Dainippon Printing Co Ltd | ガスバリアフィルム、ガスバリア膜の作製方法及び作製装置 |
JP2009252739A (ja) * | 2008-04-10 | 2009-10-29 | Samsung Electronics Co Ltd | 傾斜組成封止薄膜およびその製造方法 |
JP5172961B2 (ja) * | 2008-08-26 | 2013-03-27 | シャープ株式会社 | 有機elデバイスおよびその製造方法 |
US8492751B2 (en) | 2008-08-26 | 2013-07-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Organic EL device and process for manufacturing same |
WO2010035337A1 (ja) * | 2008-09-26 | 2010-04-01 | 富士電機ホールディングス株式会社 | 有機elデバイスおよびその製造方法 |
JP5378354B2 (ja) * | 2008-09-26 | 2013-12-25 | シャープ株式会社 | 有機elデバイスおよびその製造方法 |
US8487299B2 (en) | 2008-09-26 | 2013-07-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Organic EL device and method of manufacturing same |
TWI486092B (zh) * | 2008-09-26 | 2015-05-21 | Sharp Kk | 有機電激發光裝置及其製造方法 |
CN102077686B (zh) * | 2009-06-29 | 2015-04-22 | 夏普株式会社 | 用于有机el元件的密封膜,有机el元件以及有机el显示器 |
JP2011082109A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 |
JP2011146144A (ja) * | 2010-01-12 | 2011-07-28 | Konica Minolta Holdings Inc | 発光素子 |
JP2011146226A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Konica Minolta Holdings Inc | バリア性フィルム及び有機電子デバイス |
KR20150135521A (ko) * | 2013-03-29 | 2015-12-02 | 린텍 가부시키가이샤 | 가스 배리어성 적층체, 전자 디바이스용 부재 및 전자 디바이스 |
KR102267093B1 (ko) * | 2013-03-29 | 2021-06-18 | 린텍 가부시키가이샤 | 가스 배리어성 적층체, 전자 디바이스용 부재 및 전자 디바이스 |
CN104157790A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-11-19 | 上海天马有机发光显示技术有限公司 | 一种有机发光薄膜封装结构,其器件、装置及制造方法 |
WO2016046914A1 (ja) * | 2014-09-24 | 2016-03-31 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
WO2019114648A1 (en) * | 2017-12-15 | 2019-06-20 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Encapsulation structure, encapsulating method, electroluminescent apparatus, and display apparatus |
CN109935717A (zh) * | 2017-12-15 | 2019-06-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 封装结构及封装方法、电致发光器件、显示装置 |
CN109935717B (zh) * | 2017-12-15 | 2021-05-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 封装结构及封装方法、电致发光器件、显示装置 |
US11302890B2 (en) | 2017-12-15 | 2022-04-12 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Encapsulation structure with sub-film layers and encapsulating method thereoff |
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