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JP2004526395A - 電流をスイッチングする回路に対する回路構造 - Google Patents

電流をスイッチングする回路に対する回路構造 Download PDF

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JP2004526395A JP2002568494A JP2002568494A JP2004526395A JP 2004526395 A JP2004526395 A JP 2004526395A JP 2002568494 A JP2002568494 A JP 2002568494A JP 2002568494 A JP2002568494 A JP 2002568494A JP 2004526395 A JP2004526395 A JP 2004526395A
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Abstract

本発明は、電流をスイッチングする回路に対する回路構造に関し、ここでこれは少なくともスイッチ素子(T1…Tn,T1′…Tn′)と、このスイッチ素子(T1…Tn,T1′…Tn′)、電流源の極(V+,GND)およびエネルギー蓄積器(C)を互いに接続する1つずつの主導体(D,S,A)とを有する。オーム抵抗と誘導性の抵抗とを低減するため、上記の主導体(D,S,A)のうちの少なくとも1つに、これらの主導体よりも電流容量の小さい副導体(D1,S1,A1)が並列接続される。

Description

【技術分野】
【0001】
本発明は、電流をスイッチングする回路に対する回路構造に関し、殊にDC/DC変換器としての変換器または交流または三相交流に対するインバータに関する。
【0002】
コストがかからず、大量生産可能であり、極めて狭いスペースで大電流をスイッチングするための回路構造(例えば変換器の場合)は殊に問題が多い。このためには、電流容量の大きい電流線路と、例えば水冷式冷却器を用いたパワー半導体の冷却部とを有するディスクリートのパワー半導体(スイッチトランジスタ)の装置が必要である。
【0003】
パワー半導体を高速にスイッチングする際には、素子の低抵抗および低インダクタンスの接続が重要である。しかしながらこれは、中間回路コンデンサ(Zwischenkreiskondensator)およびパワー半導体の簡単な装置においてのみ可能である。付加的な素子、例えばゲート抵抗が必要な場合、パワー半導体と変換器との低インダクタンスの接続は必ずしも保証されなくなってしまう。それは抵抗によって電流を通す銅面が「切られて」しまい、ひいてはその抵抗およびインダクタンスが増大してしまうからである。
【0004】
漂遊インダクタンスが大きくなると、パワー半導体において発生する過電圧が増大する。同時に漂遊インダクタンスに蓄えられるエネルギーは熱に変わる。この熱は、スイッチングすべき電流が大きくなればなるほど多くなる。それはこのエネルギーは電流の2乗で増大するからである。したがって大電流の際には漂遊インダクタンスは最小化しなければならない。それはそうでなければパワー半導体が破壊されてしまう可能性があるからである。しかしながらこのことは、レベルは異なるが、わずかな電流が流れる回路にも当てはまるのである。
【0005】
本発明の課題は、電流をスイッチングする回路構造を提供して、これを極めて狭いスペースに低いコストで大量生産可能であるようにし、また低インダクタンスであると同時に低抵抗な、パワー半導体と中間回路との接続を可能にし、かつ1つまたは複数の中間回路コンデンサとの低抵抗の接続を可能にすることである。
【0006】
上記の課題は、請求項1の特徴部分に記載された特徴的構成を有する回路構造によって解決される。本発明の有利な実施形態は従属請求項に記載されている。
【0007】
電流容量(負荷電流の電流強度に対して設計される)が大きく、低抵抗ではあるが高いインダンクタンスを有する主導体と称される「厚い」複数の導体を使用する際、本発明では、これらの主導体のうちの少なくとも1つに、副導体と称される「より薄い」別の導体が並列接続される。ここでこの副導体は、主導体よりも電流容量が小さく、低インダクタンスであるが、高抵抗である。
【0008】
2つの目標、すなわち「低抵抗」と「低インダクタンス」とは別個に達成される。ここではスイッチングの瞬間、最初に高抵抗であるが低インダクタンスの接続が行われ、つぎに遅延を伴って低抵抗、高インダクタンスの接続が行われる。
【0009】
この手段によって、この導体の装置(並列接続された主導体および副導体)のインダクタンスおよびオーム抵抗が低減され、パワー半導体の過渡的なターンオフ過程の短縮が達成され、またこのターンオフ過程中にパワー半導体で変換されるエネルギーも低減され(損失電力が低減され)、スイッチサイクルにわたってより熱が良好に分散される。
【0010】
以下で本発明の2つの実施例を概略図面に基づいて詳しく説明する。ここで
図1は、スイッチ素子を用いて負荷を制御する公知の回路を示しており、
図2は、そのための公知の回路構造を示しており、
図3は、変換器の公知の回路を示しており、
図4aは、図3の変換器に対する回路構造の第1実施例を示しており、
図4bは、対応するプリント基板の断面を示しており、
図5aは、図3の変換器に対する回路構造の第2実施例を示しており、
図5bは、対応するプリント基板の断面を示している。
【0011】
以下で導体という場合、これは導線、プリント基板、リードフレーム、バスバーまたは類似のものとすることができる。以下の実施例において導体とは、簡単のため、例えば、それ自体公知のプリント基板(すなわち電気的に絶縁性を有するベース材料にデポジットされた導体層)として実施されているとする。
【0012】
図1は、負荷Lを駆動する公知の回路を示しており、ここでこの負荷は、通例バイポーラトランジスタまたはMOSFETとして構成されるパワー半導体のスイッチ素子Tと共に、エネルギー源の極V+およびGNDに直列に配置されている。このスイッチ素子が、高速にスイッチングされる場合、中間回路コンデンサCが、スイッチ素子Tと負荷Lとからなる直列回路に並列に必要である。
【0013】
素子T,LおよびCを互いに接続しまたこれらをエネルギー源に接続する導体は、参照符号D,A,SおよびGで示されている。導体Gを介してゲート端子gは、その制御信号を受け取ってスイッチ素子Tをスイッチオンおよびスイッチオフする。
【0014】
図2には、図1に記載された回路の公知の回路構造が、断面で示した多層プリント基板上で示されている。このプリント基板は、厚い2つの外側層、すなわち上の外側層Dと下の外側層とからなり、ここでこの下の外側層には、電気的に互いに絶縁された2つの主導体SおよびAが配置されている。これらの間には薄い内側層Gがあり、これは非導電性の絶縁プレートI1とI2により、上記の外側層から電気的に分離されている。
【0015】
関連する導電性の領域は斜線で特徴付けられており、また太く縁取りされている。これらの領域は、場合によっては貫通して端子配線を案内するために、斜線が付されていないホールによって中断される。比較的大きな非導電性の領域も同様に斜線が付されていない。この多層プリント基板は、縮尺されて図示されてはいない。層厚は、例えば、D,S,A = 400μm,G = 35μmおよびI1,I2 = 1mmである。薄い内側層Gはここではもっぱらスイッチ素子Tのゲート端子Gに制御信号を供給するために使用される。
【0016】
図3には、例えば自動車の統合型スタータ/ジェネレータ(ISG)における公知の変換器の部分回路図が示されており、すなわち直流から三相交流を形成するインバータの1つの相が示されている。この回路は例えばDC/DC変換器として動作可能である。
【0017】
この回路は、パワースイッチからなるハーフブリッジから構成されており、すなわちハイ側のスイッチT1とロー側のスイッチT1′との直列回路からなり、これは極V+およびGNDとを有するエネルギー源に配置されている。このハーフブリッジには、高い電流強度をスイッチングするため、同様の別の直列回路T2−T2′…Tn−Tn′が並列接続されている。
【0018】
すべてのハイ側スイッチT1〜Tnのドレイン端子d1〜dnは、第1主導体Dを介して互いに接続されており、またエネルギー源の正極V+に接続されている;
すべてのロー側スイッチT1′〜Tn′のソース端子s1′〜sn′は、第2主導体Sを介して互いに接続されており、またエネルギー源の負極GNDに接続されている;
すべてのハイ側スイッチT1〜Tnの互いに接続されるソース端子s1〜snと、すべてのロー側スイッチT1′〜Tn′のドレイン端子d1′〜dn′とは、第3主導体Aを介して互いに接続されている;
すべてのハイ側スイッチT1〜Tnのゲート端子g1〜gnは、制御導体と称される別の第1導体G1を介して互いに接続されている;
すべてのロー側スイッチT1′〜Tn′のゲート端子g1′〜gn′は、第2導体G2を介して互いに接続されている;
主導体DとSとの間には少なくとも1つの中間回路コンデンサCが配置されており、また負荷は主導体AとSとの間に配置されている。
【0019】
ハイ側スイッチT1〜Tnとロー側スイッチT1′〜Tn′とが交互に制御されて導通すると、第1主導体Dと第2主導体Sとの間に加わっている直流から交流電圧が得られ、ここでこれは第2主導体Aと第3主導体Sとの間で取り出すことが可能である。
【0020】
このような相の回路を3つ使用して相応に駆動制御すると、それらの3つの出力側において三相電流/電圧を取り出すことができる。
【0021】
図3の回路は、第1実施例により、多層プリント基板に構成される。これは図4bにおいて断面図で、また図4aにおいてそれに配置される素子と共に平面図で概略的に示されている。
【0022】
図4bの多層プリント基板は、互いに絶縁された4つの導電性の層、例えば銅製の層からなり、ここで第1主導体Dのベースである第1(最上部)の層と、第2主導体Sおよび第3主導体Aがある第4(最下部)の層とにそれぞれ負荷電流が流れるため、これらは十分な層厚、例えば400μmを有する。第2および第3の層は、例えば35μmの層厚を有する。このことについては後でさらに触れる。
【0023】
図4aには平面図で、第1および第4層に配置される3つの主導体A,DおよびSが、それらに配置される素子(すなわちハイ側スイッチT1〜Tnおよびロー側スイッチT1′〜Tn′,中間回路コンデンサCおよび負荷L)と共に示されている。ここで第2および第3層またその間の絶縁層は示されていない。
【0024】
ハイ側スイッチT1〜Tnおよびロー側スイッチT1′〜Tn′はそれぞれ列をなし、ここでこれらの2つの列は互いに向き合わせられて、パワースイッチの2つの列の端子が互いにかみ合うように配置されており、またそれらの互いに接続される端子s1−d1′…sn−dn′が並び合うようにされている。
【0025】
さらにハイ側スイッチおよびロー側スイッチの端子は曲げられて、外側の端子(ソース端子sおよびゲート端子g)が半導体ケーシングから小さな間隔でそれぞれ折れ曲がり、また中央の端子(ドレイン端子d)が半導体ケーシングからより大きな間隔で折れ曲がり、これによってこのケーシングが多層プリント基板に載置されて配置できるようにする。
【0026】
第2層(35μm)には、第1層(400μm)の第1主導体Dと同じ寸法でかつ精確にその下に第1副導体D1が配置されており、第1主導体Dに接続される素子の端子を第1副導体D1に貫通接続することによって、2つの導体DとD1とが互いに並列接続される。
【0027】
同様に第3層(35μm)では、第4層(400μm)に配置される2つの主導体SおよびAの上方かつ精確にこれらの上に第2副導体S1および第3副導体A1が配置されており、第2主導体Sないしは第3主導体Aに接続される素子の端子を貫通接続することによって導体SとS1とが、またAとA1とが互いに並列接続される。
【0028】
1つずつの「厚い」主導体と「薄い」副導体とのこれらの並列接続D−D1,S−S1およびA−A1は、図3では導体を表す太い線と細い線との平行線によって示されており、これは図4bからもわかる。
【0029】
この第1実施例では、並列の導体D−D1は並列の導体S−S1の上方に配置されている。
【0030】
この手段により、この実施例においてプリント基板として構成された導体装置D−D1,S−S1およびA−A1のインダクタンスおよびオーム抵抗は、1つまたは複数の中間回路コンデンサCとの間でも、また負荷Lとの間で低減されており、これはすでに上で述べた通りである。
【0031】
ハイ側スイッチおよびロー側スイッチのゲート端子と、図示しない制御回路とを接続し、また図4aには図示されていない第1制御導体G1および第2制御導体G2は、第2の薄い層の、第1副導体D1によって占められていない部分に配置されている。これらの制御信号に対しては薄い導体だけが必要であり、これらは(大電流を導く主導体D,SおよびAとは異なり)パワースイッチの端子間を通して導くことができる。
【0032】
しかしながら制御導体G1およびG2は、第1の厚い層が主導体Dによって占められていない場合にはこの第1の厚い層に配置することも可能であり、またはこの層と、その下にある第2の薄い層とに分配することも可能である。
【0033】
第2実施例でも同様に多層プリント基板を使用する。ここでこれは構造においては図4bのプリント基板に相応するが別の配分を有する。ハイ側スイッチおよびロー側スイッチはここでも向き合っているが、それらの端子は互いにかみ合うように配置されてはいない。この配置構成によって中間回路コンデンサへの接続はより低インダクタンスになり、ひいてはさらに改善される。
【0034】
この多層プリント基板は、図5bでは断面図で、また図5aではそれに配置される素子と共に平面図で概略的に示されている。
【0035】
図5bの多層プリント基板はここでも互いに絶縁された4つの導電性の層、例えば銅製の層からなり、ここで第1主導体Dを表す第1(最上部)の層と、第2主導体Sおよび第3主導体Aがある第4(最下部)層とにはそれぞれ負荷電流が流れるため、これらは十分な層厚、例えば400μmを有する。第2および第3層は例えば35μmの層厚を有する。
【0036】
この第2実施例では、並列接続された導体D−D1は、並列接続された導体A−A1の上に配置されている。
【0037】
図5aには平面図で、第1および第4層に配置される主導体A,DおよびSが、それらに配置される素子(すなわちハイ側スイッチT1…Tn,ロー側スイッチT1′…Tn′,中間回路コンデンサCおよび負荷L)と共に示されている。ここで第2および第3層なしにまたその間にある絶縁層は示されていない。
【0038】
ハイ側スイッチT1…Tnおよびロー側スイッチT1′…Tn′はそれぞれ列をなし、ここでこれらの2つの列は、図4aの実施例とは異なり、互いにかみ合わずに、互いに向き合わされて、パワースイッチの互いに接続される端子s1−d1′…sn−dn′が互いに向き合って配置されるようにする。さらにハイ側およびロー側スイッチのすべての端子は、半導体ケーシングから小さな同じ間隔で折り曲げられており、これにより、これらのケーシングを多層プリント基板に載置して配置することができる。
【0039】
第2層(35μm)には、第1層(400μm)の第1主導体Dと同じ寸法でかつ精確にその下に第1副導体D1が配置されており、第1主導体Dに接続される素子の端子を第1副導体D1に貫通接続することによって、2つの導体DとD1とが互いに並列接続される。
【0040】
同様に第3層(35μm)では、第4層(400μm)に配置される2つの主導体SおよびAの上方かつ精確にこれらの上に第2副導体S1および第3副導体A1が配置されており、第2主導体Sないしは第3主導体Aに接続される素子の端子を貫通接続することによって導体SとS1とが、またAとA1とが互いに並列接続される。
【0041】
第1制御導体G1および第2制御導体G2に対してここでも、第1実施例においてすでに述べたことが当てはまる。
【図面の簡単な説明】
【0042】
【図1】スイッチ素子を用いて負荷を制御する公知の回路である
【図2】図1の回路のための公知の回路構造である
【図3】変換器の公知の回路である
【図4】図3の変換器に対する回路構造の第1実施例である
【図5】図3の変換器に対する回路構造の第2実施例である

Claims (5)

  1. 少なくとも1つのスイッチ素子(T1…Tn,T1′…Tn′)と、
    該スイッチ素子(T1…Tn,T1′…Tn′)、電流源の極(V+,GND)、エネルギー蓄積器(C)および負荷(L)を互いに接続する1つずつの主導体(D,S,A)とを有する、電流をスイッチングする回路に対する回路構造において、
    少なくとも前記スイッチ素子(T1…Tn,T1′…Tn′)間、または前記電流源の極(V+,GND)と、スイッチ素子(T1…Tn,T1′…Tn′)または前記エネルギー蓄積器(C)との間に配置される電流容量の大きい各主導体(D,S,A)に、当該主導体(D,S,A)よりも電流容量の小さい1つずつの別の副導体(D1,S1,A1)が並列接続されていることを特徴とする、
    電流をスイッチングする回路に対する回路構造。
  2. 例えば直流から交流を得る変換器に対する回路構造であって、
    該回路構造は、直流電源の極(V+,GND)に配置されるハーフブリッジ回路を有し、
    前記ハーフブリッジ回路は、1つずつのハイ側スイッチ(T1…Tn)と1つずつのロー側スイッチ(T1′…Tn′)とからなる少なくとも1つの直列回路または互いに並列な所定の数の直列回路から構成され、
    前記ハイ側スイッチおよびロー側スイッチの互いに接続される接続点(s1−d1′…sn−dn′)は、交流を導く出力側(A)を形成し、
    すべてのハイ側スイッチ(T1…Tn)のドレイン端子(d1…dn)は、第1主導体(D)よりも電流容量の小さな第1副導体(D1)が並列接続された該第1主導体(D)を介して互いに接続されており、かつ少なくとも1つの中間回路コンデンサ(C)の一方の端子に接続されており、
    すべてのロー側スイッチ(T1′〜Tn′)のソース端子(s1′〜sn′)は、第2主導体(S)よりも電流容量の小さな第2副導体(S1)が並列接続された該第2主導体(S)を介して互いに接続されており、少なくとも1つの中間回路コンデンサ(C)の他方の端子に接続されており、かつ負荷(L)の一方の端子に接続されており、
    前記の互いに接続されたすべてのハイ側スイッチ(T1〜Tn)のソース端子(s1〜sn)およびすべてのロー側スイッチ(T1′〜Tn′)のドレイン端子(d1′〜dn′)は、第3主導体(A)よりも電流容量の小さい第3副導体(A1)が接続された該第3主導体(A)を介して互いに接続されており、かつ負荷(L)の他方の端子に接続されており、
    すべてのハイ側スイッチ(T1〜Tn)のゲート端子(g1〜gn)は、第1制御導体(G1)を介して互いに接続されており、
    すべてのロー側スイッチ(T1′〜Tn′)のゲート端子(g1′〜gn′)は第2制御導体(G2)を介して互いに接続されている、
    請求項1に記載の回路構造。
  3. 前記の主導体(D,S,A)、副導体(D1,S1,A1)および制御導体(G1,G2)は、互いに電気的に絶縁された層に重なって配置されており、
    第1の厚い層に1つの主導体(D,S,A)が配置されており、
    第2の薄い層に、前記主導体に対応付けられた副導体(D1,S1,A1)と、前記制御導体(G1,G2)とが配置されており、
    第4の厚い層に別の2つの主導体(D,S,A)が配置されており、
    第3の薄い層に、前記第4の層にある主導体に対応付けられた副導体(S1,A1)が配置されている、
    請求項2に記載の回路構造。
  4. 前記のハイ側スイッチ(T1…Tn)およびロー側スイッチ(T1′…Tn′)はそれぞれ列をなし、
    当該2つの列は互いに向き合わされて、前記スイッチの互いに接続される2つの列の端子(s1−d1′…sn−dn′)が互いにかみ合うように配置されており、
    前記スイッチ(T1…Tn,T1′…Tn′)の端子は曲げられて、外側の端子(s1…sn,g1…gn,s1′…sn′,g1′…gn′)が半導体ケーシングから小さな間隔でそれぞれ折れ曲がり、また中央の端子(d1…dn,d1′…dn′)が半導体ケーシングからより大きな間隔で折れ曲がるようにした、
    請求項2に記載の回路構造。
  5. 前記のハイ側スイッチ(T1…Tn)およびロー側スイッチ(T1′…Tn′)それぞれ列をなし、
    当該2つの列は互いに向き合わされて、前記スイッチの互いに接続される端子(s1−d1′…sn−dn′)が互いに向き合うようにされており、
    前記のスイッチの端子は、半導体ケーシングからすべて同じ小さな間隔で折り曲げられている、
    請求項2に記載の回路構造。
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