JP2004330567A - 液体噴射ヘッド及び液体噴射装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】良好且つ安定した吐出特性が得られる液体噴射ヘッド及び液体噴射装置を提供する。
【解決手段】ノズル開口に連通する圧力発生室12が形成される流路形成基板10と、流路形成基板10の一方面側に振動板を介して設けられる下電極60、圧電体層70及び上電極80からなる圧電素子300とを具備する液体噴射ヘッドであって、少なくとも圧電素子300の長手方向端部近傍に対向する領域に圧電素子300の並設方向に沿って連続的に設けられると共に複数の圧電素子300の下電極60に対向する領域に貫通部を有する絶縁層100と、絶縁層100上に連続的に設けられて貫通部を介して下電極60と電気的に接続される接続配線層110とを有し、少なくとも二酸化シリコン膜101及びポリイミド膜102を積層して絶縁層100を形成することで、上電極80と接続配線層110とを確実に絶縁する。
【選択図】 図2
【解決手段】ノズル開口に連通する圧力発生室12が形成される流路形成基板10と、流路形成基板10の一方面側に振動板を介して設けられる下電極60、圧電体層70及び上電極80からなる圧電素子300とを具備する液体噴射ヘッドであって、少なくとも圧電素子300の長手方向端部近傍に対向する領域に圧電素子300の並設方向に沿って連続的に設けられると共に複数の圧電素子300の下電極60に対向する領域に貫通部を有する絶縁層100と、絶縁層100上に連続的に設けられて貫通部を介して下電極60と電気的に接続される接続配線層110とを有し、少なくとも二酸化シリコン膜101及びポリイミド膜102を積層して絶縁層100を形成することで、上電極80と接続配線層110とを確実に絶縁する。
【選択図】 図2
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被噴射液を吐出する液体噴射ヘッド及び液体噴射装置に関し、特に、インク滴を吐出するノズル開口と連通する圧力発生室に供給されたインクを圧電素子によって加圧することにより、ノズル開口からインク滴を吐出させるインクジェット式記録ヘッド及びインクジェット式記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
インク滴を吐出するノズル開口と連通する圧力発生室の一部を振動板で構成し、この振動板を圧電素子により変形させて圧力発生室のインクを加圧してノズル開口からインク滴を吐出させるインクジェット式記録ヘッドには、圧電素子の軸方向に伸長、収縮する縦振動モードの圧電アクチュエータを使用したものと、たわみ振動モードの圧電アクチュエータを使用したものの2種類が実用化されている。そして、たわみ振動モードのアクチュエータを使用したものとしては、例えば、振動板の表面全体に亙って成膜技術により均一な圧電材料層を形成し、この圧電材料層をリソグラフィ法により圧力発生室に対応する形状に切り分けて各圧力発生室毎に独立するように圧電素子を形成したものがある(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開平5−286131号公報(第3図、第3頁)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このように圧電素子を高密度に配列したインクジェット式記録ヘッドでは、各圧電素子の一方の電極(共通電極)が複数の圧電素子に共通して設けられているため、多数の圧電素子を同時に駆動して多数のインク滴を一度に吐出させると、電圧降下が発生して圧電素子の変位量が不安定となり、インク吐出特性が低下するという問題がある。このような問題は、圧電素子の共通電極の厚さを厚くすることによって解決することはできるが、この共通電極は振動板の一部を構成しているため、圧電素子の駆動による振動板の変位量が低下してしまうという問題が発生してしまう。また、共通電極の面積を広げることによってもこのような問題を解決することはできるが、ヘッドが大型化してしまうという問題がある。また、薄膜で形成された圧電素子の電極はその膜厚が薄いため抵抗値が比較的高く、このような問題が特に生じやすい。
【0005】
なお、このような問題は、インクを吐出するインクジェット式記録ヘッドだけでなく、インク以外の液体を吐出する他の液体噴射ヘッドにおいても、同様に発生する。
【0006】
本発明はこのような事情に鑑み、良好且つ安定した吐出特性が得られる液体噴射ヘッド及び液体噴射装置を提供することを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明の第1の態様は、ノズル開口に連通する圧力発生室が形成される流路形成基板と、該流路形成基板の一方面側に振動板を介して設けられる下電極、圧電体層及び上電極からなる圧電素子とを具備する液体噴射ヘッドであって、少なくとも前記圧電素子の長手方向端部近傍に対向する領域に当該圧電素子の並設方向に沿って連続的に設けられると共に複数の前記圧電素子の前記下電極に対向する領域に貫通部を有する絶縁層と、該絶縁層上に連続的に設けられて前記貫通部を介して前記下電極と電気的に接続される接続配線層とを有し、且つ前記絶縁層が、少なくとも二酸化シリコン膜及びポリイミド膜を積層してなることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0008】
かかる第1の態様では、絶縁層によって上電極と接続配線層とを確実に絶縁することができると共に、例えば、応力集中等による圧電素子の破壊等を防止することができる。
【0009】
本発明の第2の態様は、第1の態様において、前記絶縁層が、前記二酸化シリコン膜上に前記ポリイミド膜が積層されたものであることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0010】
かかる第2の態様では、二酸化シリコン膜が均一な厚さで形成されていない場合でも、ポリイミド膜によって上電極と接続配線層とが確実に絶縁される。また、ポリイミド膜が圧電素子と接触することがなく、ポリイミド膜が吸収した水分によって圧電素子が破壊されることがない。
【0011】
本発明の第3の態様は、第2の態様において、前記二酸化シリコン膜のパターン面積が前記ポリイミド膜のパターン面積よりも広いことを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0012】
かかる第3の態様では、ポリイミド膜の圧電素子との接触が確実に防止される。
【0013】
本発明の第4の態様は、第2又は3の態様において、前記絶縁層が、前記ポリイミド膜上に設けられた二酸化シリコン膜を含む3層からなることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0014】
かかる第4の態様では、ポリイミド膜の圧電素子との接触が防止されると共に、ポリイミド膜が水分を吸収するのを防止することができる。
【0015】
本発明の第5の態様は、第1の態様において、前記絶縁層が、前記ポリイミド膜上に前記二酸化シリコン膜が積層されたものであることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0016】
かかる第5の態様では、ポリイミド膜が水分を吸収することがないため、ポリイミド膜が圧電素子に接触していても圧電素子が破壊されることはない。
【0017】
本発明の第6の態様は、第4又は5の態様において、前記ポリイミド膜上に積層される前記二酸化シリコン膜が、当該ポリイミド膜を覆って設けられていることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0018】
かかる第6の態様では、ポリイミド膜が水分を吸収するのを確実に防止することができる。
【0019】
本発明の第7の態様は、第1〜6の何れかの態様において、前記二酸化シリコン膜の膜厚が、前記ポリイミド膜の膜厚よりも薄いことを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0020】
かかる第7の態様では、絶縁層の剛性を過度に上げることなく、ポリイミド膜の表面を容易に平坦化することができる。
【0021】
本発明の第8の態様は、第1〜7の何れかの態様において、前記圧電素子の個別電極である前記上電極から引き出される引き出し配線が前記流路形成基板の端部近傍まで延設され、前記絶縁層が前記引き出し配線を含む領域に当該引き出し配線よりも厚い厚さで形成されると共に、少なくとも前記引き出し配線上の前記絶縁層の表面が平坦化されていることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0022】
かかる第8の態様では、絶縁層上に接合される基板の接着状態が改善される。
【0023】
本発明の第9の態様は、第8の態様において、前記ポリイミド膜が、スピンコート法によって形成されていることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0024】
かかる第9の態様では、絶縁層の表面を比較的容易に平坦化することができる。
【0025】
本発明の第10の態様は、第1〜9の何れかの態様の液体噴射ヘッドを具備することを特徴とする液体噴射装置にある。
【0026】
かかる第10の態様では、耐久性及び信頼性を向上した液体噴射装置を実現することができる。
【0027】
【発明の実施の形態】
以下に本発明を実施形態に基づいて詳細に説明する。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係るインクジェット式記録ヘッドを示す分解斜視図であり、図2は、図1の断面図であり、図3は、実施形態1に係るインクジェット式記録ヘッドの配線構造を示す平面図である。
【0028】
図示するように、流路形成基板10は、本実施形態では面方位(110)のシリコン単結晶基板からなり、その一方の面には、異方性エッチングにより形成された複数の圧力発生室12がその幅方向に並設されている。また、圧力発生室12の長手方向外側には、後述する封止基板30のリザーバ部32と連通して各圧力発生室12の共通のインク室となるリザーバの一部を構成する連通部13が形成され、各圧力発生室12の長手方向一端部とそれぞれインク供給路14を介して連通されている。また、この流路形成基板10の一方の面は開口面となり、他方の面には予め熱酸化により形成した二酸化シリコンからなる、厚さ1〜2μmの弾性膜50が形成されている。
【0029】
ここで、異方性エッチングは、シリコン単結晶基板のエッチングレートの違いを利用して行われる。例えば、本実施形態では、シリコン単結晶基板をKOH等のアルカリ溶液に浸漬すると、徐々に侵食されて(110)面に垂直な第1の(111)面と、この第1の(111)面と約70度の角度をなし且つ上記(110)面と約35度の角度をなす第2の(111)面とが出現し、(110)面のエッチングレートと比較して(111)面のエッチングレートが約1/180であるという性質を利用して行われる。かかる異方性エッチングにより、二つの第1の(111)面と斜めの二つの第2の(111)面とで形成される平行四辺形状の深さ加工を基本として精密加工を行うことができ、圧力発生室12を高密度に配列することができる。本実施形態では、各圧力発生室12の長辺を第1の(111)面で、短辺を第2の(111)面で形成している。この圧力発生室12は、流路形成基板10をほぼ貫通して弾性膜50に達するまでエッチングすることにより形成されている。なお、弾性膜50は、シリコン単結晶基板をエッチングするアルカリ溶液に侵される量がきわめて小さい。また各圧力発生室12の一端に連通する各インク供給路14は、圧力発生室12より浅く形成されており、圧力発生室12に流入するインクの流路抵抗を一定に保持している。すなわち、インク供給路14は、シリコン単結晶基板を厚さ方向に途中までエッチング(ハーフエッチング)することにより形成されている。なお、ハーフエッチングは、エッチング時間の調整により行われる。
【0030】
このような圧力発生室12等が形成される流路形成基板10の厚さは、圧力発生室12を配設する密度に合わせて最適な厚さを選択することが好ましい。例えば、1インチ当たり180個(180dpi)程度に圧力発生室12を配置する場合には、流路形成基板10の厚さは、180〜280μm程度、より望ましくは、220μm程度とするのが好適である。また、例えば、360dpi程度と比較的高密度に圧力発生室12を配置する場合には、流路形成基板10の厚さは、100μm以下とするのが好ましい。これは、隣接する圧力発生室12間の隔壁の剛性を保ちつつ、配列密度を高くできるからである。
【0031】
また、流路形成基板10の開口面側には、各圧力発生室12のインク供給路14とは反対側で連通するノズル開口21が穿設されたノズルプレート20が接着剤や熱溶着フィルム等を介して固着されている。なお、ノズルプレート20は、厚さが例えば、0.05〜1mmのガラスセラミックス、シリコン単結晶基板又は不錆鋼などからなる。ノズルプレート20は、一方の面で流路形成基板10の一面を全面的に覆い、流路形成基板10であるシリコン単結晶基板を衝撃や外力から保護する補強板の役目も果たす。また、ノズルプレート20は、流路形成基板10と熱膨張係数が略同一の材料で形成するようにしてもよい。この場合には、流路形成基板10とノズルプレート20との熱による変形が略同一となるため、熱硬化性の接着剤等を用いて容易に接合することができる。ここで、インク滴吐出圧力をインクに与える圧力発生室12の大きさと、インク滴を吐出するノズル開口21の大きさとは、吐出するインク滴の量、吐出スピード、吐出周波数に応じて最適化される。例えば、1インチ当たり360個のインク滴を記録する場合、ノズル開口21は数十μmの直径で精度よく形成する必要がある。
【0032】
一方、このような流路形成基板10の開口面とは反対側の弾性膜50の上には、厚さが例えば、0.4μmの絶縁体膜55が形成され、この絶縁体膜55上には、厚さが例えば、約0.2μmの下電極膜60と、厚さが例えば、約1μmの圧電体層70と、厚さが例えば、約0.05μmの上電極膜80とが、後述するプロセスで積層形成されて、圧電素子300を構成している。ここで、圧電素子300は、下電極膜60、圧電体層70、及び上電極膜80を含む部分をいう。一般的には、圧電素子300の何れか一方の電極を共通電極とし、他方の電極及び圧電体層70を各圧力発生室12毎にパターニングして構成する。そして、ここではパターニングされた何れか一方の電極及び圧電体層70から構成され、両電極への電圧の印加により圧電歪みが生じる部分を圧電体能動部という。本実施形態では、下電極膜60は圧電素子300の共通電極とし、上電極膜80を圧電素子300の個別電極としているが、駆動回路や配線の都合でこれを逆にしても支障はない。何れの場合においても、各圧力発生室毎に圧電体能動部が形成されていることになる。なお、本実施形態では、弾性膜50、絶縁体膜55及び下電極膜60が振動板として作用する。また、ここでは、圧電素子300と当該圧電素子300の駆動により変位が生じる振動板とを合わせて圧電アクチュエータと称する。
【0033】
ここで、圧電素子300の個別電極である各上電極膜80には、例えば、金(Au)等からなり、インク供給路14とは反対側の端部近傍から流路形成基板10の端部近傍まで延設される引き出し配線であるリード電極90が接続されている。そして、このリード電極90の先端部近傍には、図示しないが、圧電素子300を駆動するための駆動回路に繋がる外部配線が接続される。
【0034】
また、圧電素子300の共通電極である下電極膜60は、圧力発生室12の並設方向に亘って連続的に延設され、且つ圧力発生室12のインク供給路14とは反対側の端部近傍でパターニングされている。すなわち、本実施形態では、下電極膜60は、流路形成基板10のリード電極90が延設される領域のみが除去され、その他の領域に全面に亘って設けられている。
【0035】
そして、このような圧電素子300の長手方向端部近傍に対向する領域には、絶縁材料からなり圧電素子300の並設方向に沿って延設される絶縁層100を有する。例えば、本実施形態では、絶縁層100は、図3に示すように、圧力発生室12の列の周囲に亘って連続的に設けられており、圧力発生室12の列に対応する領域は開口部100aとなっている。
【0036】
ここで、この絶縁層100は、二酸化シリコン膜及びポリイミド膜を積層してなり、例えば、本実施形態では、圧電素子300の端部を覆って設けられる二酸化シリコン膜101とこの二酸化シリコン膜101上に設けられるポリイミド膜102との2層で構成されている。そして、この絶縁層100のポリイミド膜102上には、導電材料からなる接続配線層110が連続的に設けられており、この接続配線層110と下電極膜60とは、絶縁層100(二酸化シリコン膜101、ポリイミド膜102)に設けられた複数の貫通部100bを介して電気的に接続されている。
【0037】
絶縁層100に設けられる貫通部100bは、比較的等間隔で配置されていることが好ましく、例えば、本実施形態では、各圧電素子300のリード電極90側の端部近傍に延設されている絶縁層100の各隔壁11に対向する領域に、それぞれ貫通部100bを設けるようにした。なお、この貫通部100bの大きさも、特に限定されないが、20μm以下であることが好ましい。
【0038】
このような絶縁層100の膜厚は、接続配線層110と、圧電素子300の個別電極である上電極膜80及び上電極膜80から引き出されるリード電極90とを絶縁できれば、特に限定されないが、例えば、本実施形態では、二酸化シリコン膜101を0.5μmの厚さで形成し、ポリイミド膜102を1μmの厚さで形成した。このような絶縁層100を構成する二酸化シリコン膜101とポリイミド膜102との膜厚関係、すなわち、二酸化シリコン膜101の膜厚をポリイミド膜102の膜厚よりも薄くすることにより、絶縁層100の剛性が高まることで生じる応力集中による圧電素子及び振動板の破壊を防止できる。また、ポリイミド膜102の膜厚を二酸化シリコン膜101の膜厚よりも厚くすることでポリイミド膜102の表面を容易に平坦化することができる。
【0039】
また、この絶縁層100上に形成された接続配線層110上には後述する封止基板30が接合されるため、接続配線層110の表面は平坦であることが好ましい。すなわち、絶縁層100の少なくとも封止基板30が接合される領域の表面が平坦化されていることが好ましい。例えば、本実施形態では、図2(b)に示すように、リード電極90に対向する領域に封止基板30が接合されるため、絶縁層100を、少なくともリード電極90よりも厚い厚さで形成し、その表面が平坦化されるようにした。具体的には、二酸化シリコン膜101をCVD法によって形成し、その上にポリイミド膜102をスピンコート法により形成することにより、ポリイミド膜102の表面が平坦化されるようにした。これにより、絶縁層100上に形成される接続配線層110の表面も平坦となる。
【0040】
このような構成では、圧電素子300の共通電極である下電極膜60と接続配線層110とが電気的に接続されているため、下電極膜60の抵抗値が実質的に低下する。したがって、多数の圧電素子300を同時に駆動しても電圧降下が発生することがなく、常に良好で且つ安定したインク吐出特性を得ることができる。また、この接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90とを絶縁するための絶縁層100が、本実施形態では、二酸化シリコン膜101及びポリイミド膜102の2層構造となっているため、両者を確実に絶縁することができると共に、応力集中による圧電素子300又は振動板等の破壊を防止することができる。
【0041】
ここで、絶縁層は、二酸化シリコン膜又はポリイミド膜の何れか1層で構成されていても、接続配線層と上電極膜及びリード電極とを絶縁することは可能である。しかしながら、例えば、絶縁層が二酸化シリコン膜のみからなる場合、二酸化シリコン膜は、成膜される部材の表面形状に沿って形成され、例えば、リード電極の端部などで膜が薄くなってしまうため、この部分で短絡(ショート)が発生するおそれがある。また、二酸化シリコン膜の膜厚を厚くすればショートの発生は防止することはできるが、二酸化シリコン膜を形成した部分の剛性が著しく高くなってしまい、圧電素子の駆動時に、応力集中による圧電素子や振動板の破壊が発生するおそれがある。一方、絶縁層がポリイミド膜のみからなる場合、材料であるポリイミドは吸湿しやすいという材料特性を有するため、ポリイミド膜が徐々に水分を吸収してしまい、吸収した水分によって圧電素子等が破壊されてしまうおそれがある。
【0042】
このように二酸化シリコン膜又はポリイミド膜の1層からなる絶縁層では、上記したような種々の問題が生じるおそれがあるが、本発明では、絶縁層100が二酸化シリコン膜101とポリイミド膜102との少なくとも2層を有するようにすることで、これらの問題を発生させることなく、接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90とを良好に絶縁できるようにした。
【0043】
すなわち、本実施形態では、二酸化シリコン膜101上にポリイミド膜102を形成するようにしたので、二酸化シリコン膜101に局所的に膜厚が薄い部分が存在しても、ポリイミド膜102によって接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90との絶縁状態が確実に維持される。また、二酸化シリコン膜101を比較的薄く形成しても確実に絶縁することができるため、絶縁層100の剛性を比較的低く抑えることができ、応力集中による圧電素子300等の破壊を防止することができる。さらに、ポリイミド膜102は、二酸化シリコン膜101よりも小さいパターンで形成され、ポリイミド膜102自体が圧電素子300と接触することがないため、ポリイミド膜102が水分を吸湿しても、それによって圧電素子300が破壊されることもない。
【0044】
このように絶縁層100を介して接続配線層110が形成された流路形成基板10の表面には、さらに、圧電素子300の運動を阻害しない程度の空間を確保した状態で、その空間を密封可能な圧電素子保持部31を有する封止基板30が接着剤150によって接合されている。そして、圧電素子300はこの圧電素子保持部31内に密封されている。ここで、封止基板30の一部は、絶縁層100上に形成された接続配線層110上に接合される。さらに、封止基板30には、連通部13に対向する領域に封止基板30を貫通するリザーバ部32が設けられ、このリザーバ部32は、上述のように流路形成基板10の連通部13と連通されて各圧力発生室12の共通のインク室となるリザーバ120を構成している。このような封止基板30は、流路形成基板10の熱膨張率と略同一の材料、例えば、ガラス、セラミック材料等で形成されていることが好ましく、本実施形態では、流路形成基板10と同一材料のシリコン単結晶基板を用いて形成した。なお、上述したように封止基板30が接合される領域の絶縁層100及び接続配線層110の表面は平坦化されているため、封止基板30と接続配線層110とが良好に接合される。したがって、圧電素子保持部31を確実に密封することができ、圧電素子保持部31内への水分の侵入等を防止することができる。
【0045】
また、封止基板30には、封止膜41及び固定板42とからなるコンプライアンス基板40が接合されている。ここで、封止膜41は、剛性が低く可撓性を有する材料(例えば、厚さが6μmのポリフェニレンサルファイド(PPS)フィルム)からなり、この封止膜41によってリザーバ部31の一方面が封止されている。また、固定板42は、金属等の硬質の材料(例えば、厚さが30μmのステンレス鋼(SUS)等)で形成される。この固定板42のリザーバ120に対向する領域は、厚さ方向に完全に除去された開口部43となっているため、リザーバ120の一方面は可撓性を有する封止膜41のみで封止されている。
【0046】
なお、このような本実施形態のインクジェット式記録ヘッドは、図示しない外部インク供給手段からインクを取り込み、リザーバ120からノズル開口21に至るまで内部をインクで満たした後、図示しない駆動回路からの記録信号に従い、外部配線を介して圧力発生室12に対応するそれぞれの下電極膜60と上電極膜80との間に電圧を印加し、弾性膜50、下電極膜60及び圧電体層70をたわみ変形させることにより、各圧力発生室12内の圧力が高まりノズル開口21からインク滴が吐出する。
【0047】
また、以上説明した本実施形態のインクジェット式記録ヘッドの製造方法は、特に限定されないが、以下にその一例を説明する。図4〜図6は、圧力発生室12の幅方向の一部を示す断面図である。まず、図4(a)に示すように、流路形成基板10となるシリコン単結晶基板のウェハを約1100℃の拡散炉で熱酸化して弾性膜50及びマスク膜51となる二酸化シリコン膜52を全面に形成する。次いで、図4(b)に示すように、弾性膜50(二酸化シリコン膜52)上に、ジルコニウム(Zr)層を形成後、例えば、500〜1200℃の拡散炉で熱酸化して酸化ジルコニウム(ZrO2)からなる絶縁体膜55を形成する。
【0048】
次いで、図4(c)に示すように、絶縁体膜55上にスパッタリングで下電極膜60を形成し、所定形状にパターニングする。このような下電極膜60の材料としては、少なくとも白金(Pt)、イリジウム(Ir)からなることが好適である。これは、スパッタリング法やゾル−ゲル法で成膜する後述の圧電体層70は、成膜後に大気雰囲気下又は酸素雰囲気下で600〜1000℃程度の温度で焼成して結晶化させる必要があるからである。すなわち、下電極膜60の材料は、このような高温、酸化雰囲気下で導電性を保持できなければならず、殊に、圧電体層70としてチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)を用いた場合には、酸化鉛の拡散による導電性の変化が少ないことが望ましく、これらの理由から白金、イリジウム等が好適である。なお、本実施形態では、下電極膜60の材料として、白金及びイリジウムを用いている。
【0049】
次に、図4(d)に示すように、圧電体層70を成膜する。この圧電体層70は、結晶が配向していることが好ましい。例えば、本実施形態では、金属有機物を触媒に溶解・分散したいわゆるゾルを塗布乾燥してゲル化し、さらに高温で焼成することで金属酸化物からなる圧電体層70を得る、いわゆるゾル−ゲル法を用いて形成することにより、結晶が配向している圧電体層70とした。圧電体層70の材料としては、チタン酸ジルコン酸鉛系の材料がインクジェット式記録ヘッドに使用する場合には好適である。なお、この圧電体層70の成膜方法は、特に限定されず、例えば、スパッタリング法で形成してもよい。さらに、ゾル−ゲル法又はスパッタリング法等によりチタン酸ジルコン酸鉛の前駆体膜を形成後、アルカリ水溶液中での高圧処理法にて低温で結晶成長させる方法を用いてもよい。何れにしても、このように成膜された圧電体層70は、バルクの圧電体とは異なり結晶が優先配向しており、且つ本実施形態では、圧電体層70は、結晶が柱状に形成されている。なお、優先配向とは、結晶の配向方向が無秩序ではなく、特定の結晶面がほぼ一定の方向に向いている状態をいう。また、結晶が柱状の薄膜とは、略円柱体の結晶が中心軸を厚さ方向に略一致させた状態で面方向に亘って集合して薄膜を形成している状態をいう。勿論、優先配向した粒状の結晶で形成された薄膜であってもよい。なお、このように薄膜工程で製造された圧電体層の厚さは、一般的に0.2〜5μmである。次に、図4(e)に示すように、上電極膜80を成膜する。上電極膜80は、導電性の高い材料であればよく、アルミニウム、金、ニッケル、白金、イリジウム、もしくはこれらの合金等の多くの金属や、導電性酸化物等を使用できる。本実施形態では、イリジウムをスパッタリングにより成膜している。次に、図4(f)に示すように、圧電体層70及び上電極膜80のみをエッチングして圧電素子300のパターニングを行う。
【0050】
次いで、図5(a)に示すように、リード電極90を形成する。例えば、本実施形態では、金(Au)等からなる金属膜91を流路形成基板10の全面に亘って1.2μm程度の厚さで形成すると共に、この金属膜91を圧電素子300毎にパターニングすることによって各リード電極90とする。次に、圧力発生室12の列の周囲に絶縁層100を形成すると共に所定位置に開口部100a及び貫通部100bを形成する。すなわち、図5(b)に示すように、流路形成基板10の全面に二酸化シリコン膜101をCVD法によって形成後、エッチングによりパターニングして、開口部100a及び貫通部100bを形成する。
【0051】
さらに、図5(c)に示すように、流路形成基板10の全面にポリイミド膜102をスピンコート法によって形成後、エッチングすることにより二酸化シリコン膜101よりも若干小さい所定パターンとする。すなわち、二酸化シリコン膜101と同様に、開口部100a及び貫通部100bを形成する。次に、図5(d)に示すように、絶縁層100上に接続配線層110を形成する。すなわち、流路形成基板10の全面に接続配線層110を成膜後、エッチングすることによって所定パターンとする。この接続配線層110は、上述したように下電極膜60の抵抗値を低下させるためのものであるため、少なくとも下電極膜60よりも固有抵抗の小さい金属を用いることが望ましく、例えば、金(Au)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)等が挙げられる。例えば、本実施形態では、金(Au)をスパッタリングによって形成している。
【0052】
このようにして膜形成を行った後、前述したアルカリ溶液によるシリコン単結晶基板(流路形成基板10)の異方性エッチングを行い、圧力発生室12、連通部13及びインク供給路14を形成する。具体的には、まず、図6(a)に示すように、流路形成基板10の圧電素子300側に、圧電素子保持部31、リザーバ部32等が予め形成された封止基板30を接合する。次に、図6(b)に示すように、流路形成基板10の表面上に形成されている二酸化シリコン膜52をパターニングして所定形状のマスク膜51を形成し、このマスク膜51を介して流路形成基板10を異方性エッチングすることにより圧力発生室12等を形成する。その後は、流路形成基板10にノズルプレート20を接合すると共に、封止基板30にコンプライアンス基板40を接合してインクジェット式記録ヘッドとする。なお、実際には、上述した一連の膜形成及び異方性エッチングによって一枚のウェハ上に多数のチップを同時に形成し、プロセス終了後、図1に示すような一つのチップサイズの流路形成基板10毎に分割する。
【0053】
(実施形態2)
図7は、実施形態2に係るインクジェット式記録ヘッドの断面図である。本実施形態は、絶縁層の他の構成を示す例であり、図7に示すように、本実施形態では、二酸化シリコン膜101上に設けられたポリイミド膜102を覆うように、さらに二酸化シリコン膜101Aを設け、実質的に3層からなる絶縁層100Aとした以外は、実施形態1と同様である。そして、この構成では、ポリイミド膜102は二酸化シリコン膜101Aによって完全に覆われて外気と遮断されているため、ポリイミド膜102が水分を吸収することはない。このような構成では、ポリイミド膜102が吸収した水分に起因する圧電素子300の破壊を確実に防止することができ、接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90との絶縁状態をさらに良好に保持することができる。
【0054】
(実施形態3)
図8は、実施形態3に係るインクジェット式記録ヘッドの断面図である。本実施形態は、絶縁層の他の構成を示す例であり、図8に示すように、本実施形態の絶縁層100Bは、圧電素子300を覆って設けられたポリイミド膜102Aと、このポリイミド膜102Aを覆って設けられた二酸化シリコン膜101Bとで構成されている以外は、実施形態1と同様である。この構成の場合にも、ポリイミド膜102Aは、二酸化シリコン膜101Bによって完全に覆われて外気と遮断されているため、ポリイミド膜102Aが水分を吸収することはない。したがって、このような構成でも、ポリイミド膜102Aが吸収した水分によって圧電素子300が破壊されることがなく、絶縁層100Bによって、接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90とを良好に絶縁することができる。
【0055】
(他の実施形態)
以上、本発明の一実施形態を説明したが、本発明の構成は上述したものに限定されるものではない。また、例えば、上述の実施形態では、絶縁層100の圧力発生室12の列に対向する領域に開口部100aを設けるようにしたが、絶縁層100の厚さが振動板の変位を妨げない程度の厚さであれば、勿論、この開口部100aは設けなくてもよい。また、例えば、上述の実施形態では、成膜及びリソグラフィプロセスを応用して製造される薄膜型のインクジェット式記録ヘッドを例にしたが、勿論これに限定されるものではなく、例えば、グリーンシートを貼付する等の方法により形成される厚膜型のインクジェット式記録ヘッドにも本発明を採用することができる。
【0056】
また、これら各実施形態のインクジェット式記録ヘッドは、インクカートリッジ等と連通するインク流路を具備する記録ヘッドユニットの一部を構成して、インクジェット式記録装置に搭載される。図9は、そのインクジェット式記録装置の一例を示す概略図である。図9に示すように、インクジェット式記録ヘッドを有する記録ヘッドユニット1A及び1Bは、インク供給手段を構成するカートリッジ2A及び2Bが着脱可能に設けられ、この記録ヘッドユニット1A及び1Bを搭載したキャリッジ3は、装置本体4に取り付けられたキャリッジ軸5に軸方向移動自在に設けられている。この記録ヘッドユニット1A及び1Bは、例えば、それぞれブラックインク組成物及びカラーインク組成物を吐出するものとしている。そして、駆動モータ6の駆動力が図示しない複数の歯車およびタイミングベルト7を介してキャリッジ3に伝達されることで、記録ヘッドユニット1A及び1Bを搭載したキャリッジ3はキャリッジ軸5に沿って移動される。一方、装置本体4にはキャリッジ軸5に沿ってプラテン8が設けられており、図示しない給紙ローラなどにより給紙された紙等の記録媒体である記録シートSがプラテン8上に搬送されるようになっている。
【0057】
なお、上述した実施形態においては、本発明の液体噴射ヘッドの一例としてインクジェット式記録ヘッドを説明したが、液体噴射ヘッドの基本的構成は上述したものに限定されるものではない。本発明は、広く液体噴射ヘッドの全般を対象としたものであり、インク以外のアルカリ性の液体を噴射するものにも勿論適用することができる。その他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンタ等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレー等のカラーフィルタの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレー、FED(面発光ディスプレー)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。このように、アルカリ性の液体を噴射する液体噴射ヘッドに本発明を適用すれば、上述した実施形態と同じ優れた効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態1に係る記録ヘッドの分解斜視図である。
【図2】実施形態1に係る記録ヘッドの断面図である。
【図3】記録ヘッドの配線パターンを示す平面図である。
【図4】実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図5】実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図6】実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図7】実施形態2に係る記録ヘッドの断面図である。
【図8】実施形態3に係る記録ヘッドの断面図である。
【図9】一実施形態に係る記録装置の概略図である。
【符号の説明】
10 流路形成基板、12 圧力発生室、20 ノズルプレート、21 ノズル開口、30 封止基板、40 コンプライアンス基板、60 下電極膜、70圧電体層、80 上電極膜、90 リード電極、100 絶縁層、101 二酸化シリコン膜、102 ポリイミド膜、110 接続配線層、300 圧電素子
【発明の属する技術分野】
本発明は、被噴射液を吐出する液体噴射ヘッド及び液体噴射装置に関し、特に、インク滴を吐出するノズル開口と連通する圧力発生室に供給されたインクを圧電素子によって加圧することにより、ノズル開口からインク滴を吐出させるインクジェット式記録ヘッド及びインクジェット式記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
インク滴を吐出するノズル開口と連通する圧力発生室の一部を振動板で構成し、この振動板を圧電素子により変形させて圧力発生室のインクを加圧してノズル開口からインク滴を吐出させるインクジェット式記録ヘッドには、圧電素子の軸方向に伸長、収縮する縦振動モードの圧電アクチュエータを使用したものと、たわみ振動モードの圧電アクチュエータを使用したものの2種類が実用化されている。そして、たわみ振動モードのアクチュエータを使用したものとしては、例えば、振動板の表面全体に亙って成膜技術により均一な圧電材料層を形成し、この圧電材料層をリソグラフィ法により圧力発生室に対応する形状に切り分けて各圧力発生室毎に独立するように圧電素子を形成したものがある(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開平5−286131号公報(第3図、第3頁)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このように圧電素子を高密度に配列したインクジェット式記録ヘッドでは、各圧電素子の一方の電極(共通電極)が複数の圧電素子に共通して設けられているため、多数の圧電素子を同時に駆動して多数のインク滴を一度に吐出させると、電圧降下が発生して圧電素子の変位量が不安定となり、インク吐出特性が低下するという問題がある。このような問題は、圧電素子の共通電極の厚さを厚くすることによって解決することはできるが、この共通電極は振動板の一部を構成しているため、圧電素子の駆動による振動板の変位量が低下してしまうという問題が発生してしまう。また、共通電極の面積を広げることによってもこのような問題を解決することはできるが、ヘッドが大型化してしまうという問題がある。また、薄膜で形成された圧電素子の電極はその膜厚が薄いため抵抗値が比較的高く、このような問題が特に生じやすい。
【0005】
なお、このような問題は、インクを吐出するインクジェット式記録ヘッドだけでなく、インク以外の液体を吐出する他の液体噴射ヘッドにおいても、同様に発生する。
【0006】
本発明はこのような事情に鑑み、良好且つ安定した吐出特性が得られる液体噴射ヘッド及び液体噴射装置を提供することを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明の第1の態様は、ノズル開口に連通する圧力発生室が形成される流路形成基板と、該流路形成基板の一方面側に振動板を介して設けられる下電極、圧電体層及び上電極からなる圧電素子とを具備する液体噴射ヘッドであって、少なくとも前記圧電素子の長手方向端部近傍に対向する領域に当該圧電素子の並設方向に沿って連続的に設けられると共に複数の前記圧電素子の前記下電極に対向する領域に貫通部を有する絶縁層と、該絶縁層上に連続的に設けられて前記貫通部を介して前記下電極と電気的に接続される接続配線層とを有し、且つ前記絶縁層が、少なくとも二酸化シリコン膜及びポリイミド膜を積層してなることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0008】
かかる第1の態様では、絶縁層によって上電極と接続配線層とを確実に絶縁することができると共に、例えば、応力集中等による圧電素子の破壊等を防止することができる。
【0009】
本発明の第2の態様は、第1の態様において、前記絶縁層が、前記二酸化シリコン膜上に前記ポリイミド膜が積層されたものであることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0010】
かかる第2の態様では、二酸化シリコン膜が均一な厚さで形成されていない場合でも、ポリイミド膜によって上電極と接続配線層とが確実に絶縁される。また、ポリイミド膜が圧電素子と接触することがなく、ポリイミド膜が吸収した水分によって圧電素子が破壊されることがない。
【0011】
本発明の第3の態様は、第2の態様において、前記二酸化シリコン膜のパターン面積が前記ポリイミド膜のパターン面積よりも広いことを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0012】
かかる第3の態様では、ポリイミド膜の圧電素子との接触が確実に防止される。
【0013】
本発明の第4の態様は、第2又は3の態様において、前記絶縁層が、前記ポリイミド膜上に設けられた二酸化シリコン膜を含む3層からなることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0014】
かかる第4の態様では、ポリイミド膜の圧電素子との接触が防止されると共に、ポリイミド膜が水分を吸収するのを防止することができる。
【0015】
本発明の第5の態様は、第1の態様において、前記絶縁層が、前記ポリイミド膜上に前記二酸化シリコン膜が積層されたものであることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0016】
かかる第5の態様では、ポリイミド膜が水分を吸収することがないため、ポリイミド膜が圧電素子に接触していても圧電素子が破壊されることはない。
【0017】
本発明の第6の態様は、第4又は5の態様において、前記ポリイミド膜上に積層される前記二酸化シリコン膜が、当該ポリイミド膜を覆って設けられていることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0018】
かかる第6の態様では、ポリイミド膜が水分を吸収するのを確実に防止することができる。
【0019】
本発明の第7の態様は、第1〜6の何れかの態様において、前記二酸化シリコン膜の膜厚が、前記ポリイミド膜の膜厚よりも薄いことを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0020】
かかる第7の態様では、絶縁層の剛性を過度に上げることなく、ポリイミド膜の表面を容易に平坦化することができる。
【0021】
本発明の第8の態様は、第1〜7の何れかの態様において、前記圧電素子の個別電極である前記上電極から引き出される引き出し配線が前記流路形成基板の端部近傍まで延設され、前記絶縁層が前記引き出し配線を含む領域に当該引き出し配線よりも厚い厚さで形成されると共に、少なくとも前記引き出し配線上の前記絶縁層の表面が平坦化されていることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0022】
かかる第8の態様では、絶縁層上に接合される基板の接着状態が改善される。
【0023】
本発明の第9の態様は、第8の態様において、前記ポリイミド膜が、スピンコート法によって形成されていることを特徴とする液体噴射ヘッドにある。
【0024】
かかる第9の態様では、絶縁層の表面を比較的容易に平坦化することができる。
【0025】
本発明の第10の態様は、第1〜9の何れかの態様の液体噴射ヘッドを具備することを特徴とする液体噴射装置にある。
【0026】
かかる第10の態様では、耐久性及び信頼性を向上した液体噴射装置を実現することができる。
【0027】
【発明の実施の形態】
以下に本発明を実施形態に基づいて詳細に説明する。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係るインクジェット式記録ヘッドを示す分解斜視図であり、図2は、図1の断面図であり、図3は、実施形態1に係るインクジェット式記録ヘッドの配線構造を示す平面図である。
【0028】
図示するように、流路形成基板10は、本実施形態では面方位(110)のシリコン単結晶基板からなり、その一方の面には、異方性エッチングにより形成された複数の圧力発生室12がその幅方向に並設されている。また、圧力発生室12の長手方向外側には、後述する封止基板30のリザーバ部32と連通して各圧力発生室12の共通のインク室となるリザーバの一部を構成する連通部13が形成され、各圧力発生室12の長手方向一端部とそれぞれインク供給路14を介して連通されている。また、この流路形成基板10の一方の面は開口面となり、他方の面には予め熱酸化により形成した二酸化シリコンからなる、厚さ1〜2μmの弾性膜50が形成されている。
【0029】
ここで、異方性エッチングは、シリコン単結晶基板のエッチングレートの違いを利用して行われる。例えば、本実施形態では、シリコン単結晶基板をKOH等のアルカリ溶液に浸漬すると、徐々に侵食されて(110)面に垂直な第1の(111)面と、この第1の(111)面と約70度の角度をなし且つ上記(110)面と約35度の角度をなす第2の(111)面とが出現し、(110)面のエッチングレートと比較して(111)面のエッチングレートが約1/180であるという性質を利用して行われる。かかる異方性エッチングにより、二つの第1の(111)面と斜めの二つの第2の(111)面とで形成される平行四辺形状の深さ加工を基本として精密加工を行うことができ、圧力発生室12を高密度に配列することができる。本実施形態では、各圧力発生室12の長辺を第1の(111)面で、短辺を第2の(111)面で形成している。この圧力発生室12は、流路形成基板10をほぼ貫通して弾性膜50に達するまでエッチングすることにより形成されている。なお、弾性膜50は、シリコン単結晶基板をエッチングするアルカリ溶液に侵される量がきわめて小さい。また各圧力発生室12の一端に連通する各インク供給路14は、圧力発生室12より浅く形成されており、圧力発生室12に流入するインクの流路抵抗を一定に保持している。すなわち、インク供給路14は、シリコン単結晶基板を厚さ方向に途中までエッチング(ハーフエッチング)することにより形成されている。なお、ハーフエッチングは、エッチング時間の調整により行われる。
【0030】
このような圧力発生室12等が形成される流路形成基板10の厚さは、圧力発生室12を配設する密度に合わせて最適な厚さを選択することが好ましい。例えば、1インチ当たり180個(180dpi)程度に圧力発生室12を配置する場合には、流路形成基板10の厚さは、180〜280μm程度、より望ましくは、220μm程度とするのが好適である。また、例えば、360dpi程度と比較的高密度に圧力発生室12を配置する場合には、流路形成基板10の厚さは、100μm以下とするのが好ましい。これは、隣接する圧力発生室12間の隔壁の剛性を保ちつつ、配列密度を高くできるからである。
【0031】
また、流路形成基板10の開口面側には、各圧力発生室12のインク供給路14とは反対側で連通するノズル開口21が穿設されたノズルプレート20が接着剤や熱溶着フィルム等を介して固着されている。なお、ノズルプレート20は、厚さが例えば、0.05〜1mmのガラスセラミックス、シリコン単結晶基板又は不錆鋼などからなる。ノズルプレート20は、一方の面で流路形成基板10の一面を全面的に覆い、流路形成基板10であるシリコン単結晶基板を衝撃や外力から保護する補強板の役目も果たす。また、ノズルプレート20は、流路形成基板10と熱膨張係数が略同一の材料で形成するようにしてもよい。この場合には、流路形成基板10とノズルプレート20との熱による変形が略同一となるため、熱硬化性の接着剤等を用いて容易に接合することができる。ここで、インク滴吐出圧力をインクに与える圧力発生室12の大きさと、インク滴を吐出するノズル開口21の大きさとは、吐出するインク滴の量、吐出スピード、吐出周波数に応じて最適化される。例えば、1インチ当たり360個のインク滴を記録する場合、ノズル開口21は数十μmの直径で精度よく形成する必要がある。
【0032】
一方、このような流路形成基板10の開口面とは反対側の弾性膜50の上には、厚さが例えば、0.4μmの絶縁体膜55が形成され、この絶縁体膜55上には、厚さが例えば、約0.2μmの下電極膜60と、厚さが例えば、約1μmの圧電体層70と、厚さが例えば、約0.05μmの上電極膜80とが、後述するプロセスで積層形成されて、圧電素子300を構成している。ここで、圧電素子300は、下電極膜60、圧電体層70、及び上電極膜80を含む部分をいう。一般的には、圧電素子300の何れか一方の電極を共通電極とし、他方の電極及び圧電体層70を各圧力発生室12毎にパターニングして構成する。そして、ここではパターニングされた何れか一方の電極及び圧電体層70から構成され、両電極への電圧の印加により圧電歪みが生じる部分を圧電体能動部という。本実施形態では、下電極膜60は圧電素子300の共通電極とし、上電極膜80を圧電素子300の個別電極としているが、駆動回路や配線の都合でこれを逆にしても支障はない。何れの場合においても、各圧力発生室毎に圧電体能動部が形成されていることになる。なお、本実施形態では、弾性膜50、絶縁体膜55及び下電極膜60が振動板として作用する。また、ここでは、圧電素子300と当該圧電素子300の駆動により変位が生じる振動板とを合わせて圧電アクチュエータと称する。
【0033】
ここで、圧電素子300の個別電極である各上電極膜80には、例えば、金(Au)等からなり、インク供給路14とは反対側の端部近傍から流路形成基板10の端部近傍まで延設される引き出し配線であるリード電極90が接続されている。そして、このリード電極90の先端部近傍には、図示しないが、圧電素子300を駆動するための駆動回路に繋がる外部配線が接続される。
【0034】
また、圧電素子300の共通電極である下電極膜60は、圧力発生室12の並設方向に亘って連続的に延設され、且つ圧力発生室12のインク供給路14とは反対側の端部近傍でパターニングされている。すなわち、本実施形態では、下電極膜60は、流路形成基板10のリード電極90が延設される領域のみが除去され、その他の領域に全面に亘って設けられている。
【0035】
そして、このような圧電素子300の長手方向端部近傍に対向する領域には、絶縁材料からなり圧電素子300の並設方向に沿って延設される絶縁層100を有する。例えば、本実施形態では、絶縁層100は、図3に示すように、圧力発生室12の列の周囲に亘って連続的に設けられており、圧力発生室12の列に対応する領域は開口部100aとなっている。
【0036】
ここで、この絶縁層100は、二酸化シリコン膜及びポリイミド膜を積層してなり、例えば、本実施形態では、圧電素子300の端部を覆って設けられる二酸化シリコン膜101とこの二酸化シリコン膜101上に設けられるポリイミド膜102との2層で構成されている。そして、この絶縁層100のポリイミド膜102上には、導電材料からなる接続配線層110が連続的に設けられており、この接続配線層110と下電極膜60とは、絶縁層100(二酸化シリコン膜101、ポリイミド膜102)に設けられた複数の貫通部100bを介して電気的に接続されている。
【0037】
絶縁層100に設けられる貫通部100bは、比較的等間隔で配置されていることが好ましく、例えば、本実施形態では、各圧電素子300のリード電極90側の端部近傍に延設されている絶縁層100の各隔壁11に対向する領域に、それぞれ貫通部100bを設けるようにした。なお、この貫通部100bの大きさも、特に限定されないが、20μm以下であることが好ましい。
【0038】
このような絶縁層100の膜厚は、接続配線層110と、圧電素子300の個別電極である上電極膜80及び上電極膜80から引き出されるリード電極90とを絶縁できれば、特に限定されないが、例えば、本実施形態では、二酸化シリコン膜101を0.5μmの厚さで形成し、ポリイミド膜102を1μmの厚さで形成した。このような絶縁層100を構成する二酸化シリコン膜101とポリイミド膜102との膜厚関係、すなわち、二酸化シリコン膜101の膜厚をポリイミド膜102の膜厚よりも薄くすることにより、絶縁層100の剛性が高まることで生じる応力集中による圧電素子及び振動板の破壊を防止できる。また、ポリイミド膜102の膜厚を二酸化シリコン膜101の膜厚よりも厚くすることでポリイミド膜102の表面を容易に平坦化することができる。
【0039】
また、この絶縁層100上に形成された接続配線層110上には後述する封止基板30が接合されるため、接続配線層110の表面は平坦であることが好ましい。すなわち、絶縁層100の少なくとも封止基板30が接合される領域の表面が平坦化されていることが好ましい。例えば、本実施形態では、図2(b)に示すように、リード電極90に対向する領域に封止基板30が接合されるため、絶縁層100を、少なくともリード電極90よりも厚い厚さで形成し、その表面が平坦化されるようにした。具体的には、二酸化シリコン膜101をCVD法によって形成し、その上にポリイミド膜102をスピンコート法により形成することにより、ポリイミド膜102の表面が平坦化されるようにした。これにより、絶縁層100上に形成される接続配線層110の表面も平坦となる。
【0040】
このような構成では、圧電素子300の共通電極である下電極膜60と接続配線層110とが電気的に接続されているため、下電極膜60の抵抗値が実質的に低下する。したがって、多数の圧電素子300を同時に駆動しても電圧降下が発生することがなく、常に良好で且つ安定したインク吐出特性を得ることができる。また、この接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90とを絶縁するための絶縁層100が、本実施形態では、二酸化シリコン膜101及びポリイミド膜102の2層構造となっているため、両者を確実に絶縁することができると共に、応力集中による圧電素子300又は振動板等の破壊を防止することができる。
【0041】
ここで、絶縁層は、二酸化シリコン膜又はポリイミド膜の何れか1層で構成されていても、接続配線層と上電極膜及びリード電極とを絶縁することは可能である。しかしながら、例えば、絶縁層が二酸化シリコン膜のみからなる場合、二酸化シリコン膜は、成膜される部材の表面形状に沿って形成され、例えば、リード電極の端部などで膜が薄くなってしまうため、この部分で短絡(ショート)が発生するおそれがある。また、二酸化シリコン膜の膜厚を厚くすればショートの発生は防止することはできるが、二酸化シリコン膜を形成した部分の剛性が著しく高くなってしまい、圧電素子の駆動時に、応力集中による圧電素子や振動板の破壊が発生するおそれがある。一方、絶縁層がポリイミド膜のみからなる場合、材料であるポリイミドは吸湿しやすいという材料特性を有するため、ポリイミド膜が徐々に水分を吸収してしまい、吸収した水分によって圧電素子等が破壊されてしまうおそれがある。
【0042】
このように二酸化シリコン膜又はポリイミド膜の1層からなる絶縁層では、上記したような種々の問題が生じるおそれがあるが、本発明では、絶縁層100が二酸化シリコン膜101とポリイミド膜102との少なくとも2層を有するようにすることで、これらの問題を発生させることなく、接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90とを良好に絶縁できるようにした。
【0043】
すなわち、本実施形態では、二酸化シリコン膜101上にポリイミド膜102を形成するようにしたので、二酸化シリコン膜101に局所的に膜厚が薄い部分が存在しても、ポリイミド膜102によって接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90との絶縁状態が確実に維持される。また、二酸化シリコン膜101を比較的薄く形成しても確実に絶縁することができるため、絶縁層100の剛性を比較的低く抑えることができ、応力集中による圧電素子300等の破壊を防止することができる。さらに、ポリイミド膜102は、二酸化シリコン膜101よりも小さいパターンで形成され、ポリイミド膜102自体が圧電素子300と接触することがないため、ポリイミド膜102が水分を吸湿しても、それによって圧電素子300が破壊されることもない。
【0044】
このように絶縁層100を介して接続配線層110が形成された流路形成基板10の表面には、さらに、圧電素子300の運動を阻害しない程度の空間を確保した状態で、その空間を密封可能な圧電素子保持部31を有する封止基板30が接着剤150によって接合されている。そして、圧電素子300はこの圧電素子保持部31内に密封されている。ここで、封止基板30の一部は、絶縁層100上に形成された接続配線層110上に接合される。さらに、封止基板30には、連通部13に対向する領域に封止基板30を貫通するリザーバ部32が設けられ、このリザーバ部32は、上述のように流路形成基板10の連通部13と連通されて各圧力発生室12の共通のインク室となるリザーバ120を構成している。このような封止基板30は、流路形成基板10の熱膨張率と略同一の材料、例えば、ガラス、セラミック材料等で形成されていることが好ましく、本実施形態では、流路形成基板10と同一材料のシリコン単結晶基板を用いて形成した。なお、上述したように封止基板30が接合される領域の絶縁層100及び接続配線層110の表面は平坦化されているため、封止基板30と接続配線層110とが良好に接合される。したがって、圧電素子保持部31を確実に密封することができ、圧電素子保持部31内への水分の侵入等を防止することができる。
【0045】
また、封止基板30には、封止膜41及び固定板42とからなるコンプライアンス基板40が接合されている。ここで、封止膜41は、剛性が低く可撓性を有する材料(例えば、厚さが6μmのポリフェニレンサルファイド(PPS)フィルム)からなり、この封止膜41によってリザーバ部31の一方面が封止されている。また、固定板42は、金属等の硬質の材料(例えば、厚さが30μmのステンレス鋼(SUS)等)で形成される。この固定板42のリザーバ120に対向する領域は、厚さ方向に完全に除去された開口部43となっているため、リザーバ120の一方面は可撓性を有する封止膜41のみで封止されている。
【0046】
なお、このような本実施形態のインクジェット式記録ヘッドは、図示しない外部インク供給手段からインクを取り込み、リザーバ120からノズル開口21に至るまで内部をインクで満たした後、図示しない駆動回路からの記録信号に従い、外部配線を介して圧力発生室12に対応するそれぞれの下電極膜60と上電極膜80との間に電圧を印加し、弾性膜50、下電極膜60及び圧電体層70をたわみ変形させることにより、各圧力発生室12内の圧力が高まりノズル開口21からインク滴が吐出する。
【0047】
また、以上説明した本実施形態のインクジェット式記録ヘッドの製造方法は、特に限定されないが、以下にその一例を説明する。図4〜図6は、圧力発生室12の幅方向の一部を示す断面図である。まず、図4(a)に示すように、流路形成基板10となるシリコン単結晶基板のウェハを約1100℃の拡散炉で熱酸化して弾性膜50及びマスク膜51となる二酸化シリコン膜52を全面に形成する。次いで、図4(b)に示すように、弾性膜50(二酸化シリコン膜52)上に、ジルコニウム(Zr)層を形成後、例えば、500〜1200℃の拡散炉で熱酸化して酸化ジルコニウム(ZrO2)からなる絶縁体膜55を形成する。
【0048】
次いで、図4(c)に示すように、絶縁体膜55上にスパッタリングで下電極膜60を形成し、所定形状にパターニングする。このような下電極膜60の材料としては、少なくとも白金(Pt)、イリジウム(Ir)からなることが好適である。これは、スパッタリング法やゾル−ゲル法で成膜する後述の圧電体層70は、成膜後に大気雰囲気下又は酸素雰囲気下で600〜1000℃程度の温度で焼成して結晶化させる必要があるからである。すなわち、下電極膜60の材料は、このような高温、酸化雰囲気下で導電性を保持できなければならず、殊に、圧電体層70としてチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)を用いた場合には、酸化鉛の拡散による導電性の変化が少ないことが望ましく、これらの理由から白金、イリジウム等が好適である。なお、本実施形態では、下電極膜60の材料として、白金及びイリジウムを用いている。
【0049】
次に、図4(d)に示すように、圧電体層70を成膜する。この圧電体層70は、結晶が配向していることが好ましい。例えば、本実施形態では、金属有機物を触媒に溶解・分散したいわゆるゾルを塗布乾燥してゲル化し、さらに高温で焼成することで金属酸化物からなる圧電体層70を得る、いわゆるゾル−ゲル法を用いて形成することにより、結晶が配向している圧電体層70とした。圧電体層70の材料としては、チタン酸ジルコン酸鉛系の材料がインクジェット式記録ヘッドに使用する場合には好適である。なお、この圧電体層70の成膜方法は、特に限定されず、例えば、スパッタリング法で形成してもよい。さらに、ゾル−ゲル法又はスパッタリング法等によりチタン酸ジルコン酸鉛の前駆体膜を形成後、アルカリ水溶液中での高圧処理法にて低温で結晶成長させる方法を用いてもよい。何れにしても、このように成膜された圧電体層70は、バルクの圧電体とは異なり結晶が優先配向しており、且つ本実施形態では、圧電体層70は、結晶が柱状に形成されている。なお、優先配向とは、結晶の配向方向が無秩序ではなく、特定の結晶面がほぼ一定の方向に向いている状態をいう。また、結晶が柱状の薄膜とは、略円柱体の結晶が中心軸を厚さ方向に略一致させた状態で面方向に亘って集合して薄膜を形成している状態をいう。勿論、優先配向した粒状の結晶で形成された薄膜であってもよい。なお、このように薄膜工程で製造された圧電体層の厚さは、一般的に0.2〜5μmである。次に、図4(e)に示すように、上電極膜80を成膜する。上電極膜80は、導電性の高い材料であればよく、アルミニウム、金、ニッケル、白金、イリジウム、もしくはこれらの合金等の多くの金属や、導電性酸化物等を使用できる。本実施形態では、イリジウムをスパッタリングにより成膜している。次に、図4(f)に示すように、圧電体層70及び上電極膜80のみをエッチングして圧電素子300のパターニングを行う。
【0050】
次いで、図5(a)に示すように、リード電極90を形成する。例えば、本実施形態では、金(Au)等からなる金属膜91を流路形成基板10の全面に亘って1.2μm程度の厚さで形成すると共に、この金属膜91を圧電素子300毎にパターニングすることによって各リード電極90とする。次に、圧力発生室12の列の周囲に絶縁層100を形成すると共に所定位置に開口部100a及び貫通部100bを形成する。すなわち、図5(b)に示すように、流路形成基板10の全面に二酸化シリコン膜101をCVD法によって形成後、エッチングによりパターニングして、開口部100a及び貫通部100bを形成する。
【0051】
さらに、図5(c)に示すように、流路形成基板10の全面にポリイミド膜102をスピンコート法によって形成後、エッチングすることにより二酸化シリコン膜101よりも若干小さい所定パターンとする。すなわち、二酸化シリコン膜101と同様に、開口部100a及び貫通部100bを形成する。次に、図5(d)に示すように、絶縁層100上に接続配線層110を形成する。すなわち、流路形成基板10の全面に接続配線層110を成膜後、エッチングすることによって所定パターンとする。この接続配線層110は、上述したように下電極膜60の抵抗値を低下させるためのものであるため、少なくとも下電極膜60よりも固有抵抗の小さい金属を用いることが望ましく、例えば、金(Au)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)等が挙げられる。例えば、本実施形態では、金(Au)をスパッタリングによって形成している。
【0052】
このようにして膜形成を行った後、前述したアルカリ溶液によるシリコン単結晶基板(流路形成基板10)の異方性エッチングを行い、圧力発生室12、連通部13及びインク供給路14を形成する。具体的には、まず、図6(a)に示すように、流路形成基板10の圧電素子300側に、圧電素子保持部31、リザーバ部32等が予め形成された封止基板30を接合する。次に、図6(b)に示すように、流路形成基板10の表面上に形成されている二酸化シリコン膜52をパターニングして所定形状のマスク膜51を形成し、このマスク膜51を介して流路形成基板10を異方性エッチングすることにより圧力発生室12等を形成する。その後は、流路形成基板10にノズルプレート20を接合すると共に、封止基板30にコンプライアンス基板40を接合してインクジェット式記録ヘッドとする。なお、実際には、上述した一連の膜形成及び異方性エッチングによって一枚のウェハ上に多数のチップを同時に形成し、プロセス終了後、図1に示すような一つのチップサイズの流路形成基板10毎に分割する。
【0053】
(実施形態2)
図7は、実施形態2に係るインクジェット式記録ヘッドの断面図である。本実施形態は、絶縁層の他の構成を示す例であり、図7に示すように、本実施形態では、二酸化シリコン膜101上に設けられたポリイミド膜102を覆うように、さらに二酸化シリコン膜101Aを設け、実質的に3層からなる絶縁層100Aとした以外は、実施形態1と同様である。そして、この構成では、ポリイミド膜102は二酸化シリコン膜101Aによって完全に覆われて外気と遮断されているため、ポリイミド膜102が水分を吸収することはない。このような構成では、ポリイミド膜102が吸収した水分に起因する圧電素子300の破壊を確実に防止することができ、接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90との絶縁状態をさらに良好に保持することができる。
【0054】
(実施形態3)
図8は、実施形態3に係るインクジェット式記録ヘッドの断面図である。本実施形態は、絶縁層の他の構成を示す例であり、図8に示すように、本実施形態の絶縁層100Bは、圧電素子300を覆って設けられたポリイミド膜102Aと、このポリイミド膜102Aを覆って設けられた二酸化シリコン膜101Bとで構成されている以外は、実施形態1と同様である。この構成の場合にも、ポリイミド膜102Aは、二酸化シリコン膜101Bによって完全に覆われて外気と遮断されているため、ポリイミド膜102Aが水分を吸収することはない。したがって、このような構成でも、ポリイミド膜102Aが吸収した水分によって圧電素子300が破壊されることがなく、絶縁層100Bによって、接続配線層110と上電極膜80及びリード電極90とを良好に絶縁することができる。
【0055】
(他の実施形態)
以上、本発明の一実施形態を説明したが、本発明の構成は上述したものに限定されるものではない。また、例えば、上述の実施形態では、絶縁層100の圧力発生室12の列に対向する領域に開口部100aを設けるようにしたが、絶縁層100の厚さが振動板の変位を妨げない程度の厚さであれば、勿論、この開口部100aは設けなくてもよい。また、例えば、上述の実施形態では、成膜及びリソグラフィプロセスを応用して製造される薄膜型のインクジェット式記録ヘッドを例にしたが、勿論これに限定されるものではなく、例えば、グリーンシートを貼付する等の方法により形成される厚膜型のインクジェット式記録ヘッドにも本発明を採用することができる。
【0056】
また、これら各実施形態のインクジェット式記録ヘッドは、インクカートリッジ等と連通するインク流路を具備する記録ヘッドユニットの一部を構成して、インクジェット式記録装置に搭載される。図9は、そのインクジェット式記録装置の一例を示す概略図である。図9に示すように、インクジェット式記録ヘッドを有する記録ヘッドユニット1A及び1Bは、インク供給手段を構成するカートリッジ2A及び2Bが着脱可能に設けられ、この記録ヘッドユニット1A及び1Bを搭載したキャリッジ3は、装置本体4に取り付けられたキャリッジ軸5に軸方向移動自在に設けられている。この記録ヘッドユニット1A及び1Bは、例えば、それぞれブラックインク組成物及びカラーインク組成物を吐出するものとしている。そして、駆動モータ6の駆動力が図示しない複数の歯車およびタイミングベルト7を介してキャリッジ3に伝達されることで、記録ヘッドユニット1A及び1Bを搭載したキャリッジ3はキャリッジ軸5に沿って移動される。一方、装置本体4にはキャリッジ軸5に沿ってプラテン8が設けられており、図示しない給紙ローラなどにより給紙された紙等の記録媒体である記録シートSがプラテン8上に搬送されるようになっている。
【0057】
なお、上述した実施形態においては、本発明の液体噴射ヘッドの一例としてインクジェット式記録ヘッドを説明したが、液体噴射ヘッドの基本的構成は上述したものに限定されるものではない。本発明は、広く液体噴射ヘッドの全般を対象としたものであり、インク以外のアルカリ性の液体を噴射するものにも勿論適用することができる。その他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンタ等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレー等のカラーフィルタの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレー、FED(面発光ディスプレー)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。このように、アルカリ性の液体を噴射する液体噴射ヘッドに本発明を適用すれば、上述した実施形態と同じ優れた効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態1に係る記録ヘッドの分解斜視図である。
【図2】実施形態1に係る記録ヘッドの断面図である。
【図3】記録ヘッドの配線パターンを示す平面図である。
【図4】実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図5】実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図6】実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図7】実施形態2に係る記録ヘッドの断面図である。
【図8】実施形態3に係る記録ヘッドの断面図である。
【図9】一実施形態に係る記録装置の概略図である。
【符号の説明】
10 流路形成基板、12 圧力発生室、20 ノズルプレート、21 ノズル開口、30 封止基板、40 コンプライアンス基板、60 下電極膜、70圧電体層、80 上電極膜、90 リード電極、100 絶縁層、101 二酸化シリコン膜、102 ポリイミド膜、110 接続配線層、300 圧電素子
Claims (10)
- ノズル開口に連通する圧力発生室が形成される流路形成基板と、該流路形成基板の一方面側に振動板を介して設けられる下電極、圧電体層及び上電極からなる圧電素子とを具備する液体噴射ヘッドであって、
少なくとも前記圧電素子の長手方向端部近傍に対向する領域に当該圧電素子の並設方向に沿って連続的に設けられると共に複数の前記圧電素子の前記下電極に対向する領域に貫通部を有する絶縁層と、該絶縁層上に連続的に設けられて前記貫通部を介して前記下電極と電気的に接続される接続配線層とを有し、且つ前記絶縁層が、少なくとも二酸化シリコン膜及びポリイミド膜を積層してなることを特徴とする液体噴射ヘッド。 - 請求項1において、前記絶縁層が、前記二酸化シリコン膜上に前記ポリイミド膜が積層されたものであることを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項2において、前記二酸化シリコン膜のパターン面積が前記ポリイミド膜のパターン面積よりも広いことを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項2又は3において、前記絶縁層が、前記ポリイミド膜上に設けられた二酸化シリコン膜を含む3層からなることを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項1において、前記絶縁層が、前記ポリイミド膜上に前記二酸化シリコン膜が積層されたものであることを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項4又は5において、前記ポリイミド膜上に積層される前記二酸化シリコン膜が、当該ポリイミド膜を覆って設けられていることを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項1〜6の何れかにおいて、前記二酸化シリコン膜の膜厚が、前記ポリイミド膜の膜厚よりも薄いことを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項1〜7の何れかにおいて、前記圧電素子の個別電極である前記上電極から引き出される引き出し配線が前記流路形成基板の端部近傍まで延設され、前記絶縁層が前記引き出し配線を含む領域に当該引き出し配線よりも厚い厚さで形成されると共に、少なくとも前記引き出し配線上の前記絶縁層の表面が平坦化されていることを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項8において、前記ポリイミド膜が、スピンコート法によって形成されていることを特徴とする液体噴射ヘッド。
- 請求項1〜9の何れかの液体噴射ヘッドを具備することを特徴とする液体噴射装置。
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