JP2004255416A - 炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法 - Google Patents
炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004255416A JP2004255416A JP2003049030A JP2003049030A JP2004255416A JP 2004255416 A JP2004255416 A JP 2004255416A JP 2003049030 A JP2003049030 A JP 2003049030A JP 2003049030 A JP2003049030 A JP 2003049030A JP 2004255416 A JP2004255416 A JP 2004255416A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carbon
- copper
- composite material
- copper composite
- based copper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】窒素ガス雰囲気で900℃に加熱する。Mg粉末12が、昇華してMg(ガス)となる。すると、Mgが雰囲気のN2と反応してMg3N2が生成する。このMg3N2は強い還元作用を有し、酸化物膜を除去する作用を発揮するする。
【効果】加熱雰囲気は、窒素であり、窒素は安価であり、爆発の危険もない。従って、本発明によれば、接合に要するコストを大幅に下げることができる。
【選択図】 図2
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は炭素基銅複合材とセラミックスとの接合方法又は炭素基銅複合材と銅との接合方法の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】
ある種のパワーモジュール(特にそれのヒートシンク)に、炭素部材とセラミックス又は金属を接合して一体化した構造のものが実用化されている。このときの接合、一体化が異種材料同士の場合に問題となる。
【0003】
例えば、ボルトで一体化した場合には、ボルトから離れた部位に隙間が発生しやすく、高い密着性が得られない。
ろう付けや半田付けで一体化しようとすると、ろうや半田が炭素部材やセラミックス又は金属から剥がれやすい。すなわち、炭素部材はろう材や半田と濡れ性が悪く、接合性が悪い。また、セラミックス又は金属の表面に薄い酸化物膜が存在し、この酸化物膜がろうや半田との濡れ性が悪く、接合を阻害する。
【0004】
以上のボルト締めやろう付け法によらぬ接合方法が各種提案されてきた。
すなわち、ろう材を使用せずにTiにより接合する技術が提案されている(例えば、特許文献1。)。
また、ろう材を使用せずにTi及び水素ガスの使用により接合する技術が提案されている(例えば、特許文献2。)。
【0005】
【特許文献1】
特開平9−208335号公報(請求項9)
【特許文献2】
特開昭59−137373公報(特許請求の範囲第9項、第11項)
【0006】
特許文献1の請求項9に「炭素部材の表面に予めTi膜を形成する工程と、次に前記Ti膜の表面にCuとMn又はCuとPを主成分とする組成物を配置する工程と、次にこれを非酸化性雰囲気中で前記組成物の融点以上に加熱する工程によって前記炭素部材の表面に金属化膜を形成することを特徴とする炭素部材の複合化方法。」との記載がある。
【0007】
特許文献2の特許請求の範囲第9項に「接合するときの加熱雰囲気は、H2ガス中・・・以下省略」との記載がある。
また、特許文献2の特許請求の範囲第11項に「接合するときの加熱雰囲気は、N2ガス中・・・以下省略」との記載がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
特許文献1に記載されたTiは、炭素部材のCと反応してTiCになり、良好な接合性を発揮することが知られている。
しかし、本発明者らの研究では、Tiの表面に薄い酸化物膜が存在する。この酸化物膜はCとTiとの接触を妨害する。その為に、C+Tiの反応が不活発になり、接合不良を引き起こすことが分かった。
【0009】
この点、特許文献2に記載のH2ガスは還元性に富み、酸化物膜を破壊して、C+Tiの反応を促す作用をなす。
しかし、H2ガスは高価であり、また、爆発しやすいガスであるため、その管理コストが嵩む。
【0010】
また、本発明者らの研究では特許文献2に記載のN2ガスはTiと反応してTiNを生成し、このTiNがCとTiとの接触を妨害し、接合不良を引き起こすことが分かった。
【0011】
そこで、本発明の目的は低コストで且つ接着性を高めることのできる炭素基銅複合材とセラミックスとの接合方法又は炭素基銅複合材と銅との接合方法を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項1は、炭素基銅複合材とセラミックスとの接合方法又は炭素基銅複合材と銅との接合方法において、炭素基銅複合材とセラミックスとの間又は炭素基銅複合材と銅との間に、Ti並びにMgを含む接合材を介在させ、この多層体を窒素ガス雰囲気下で前記接合材の融点以上の温度に加熱し、生成したMg3N2で炭素基銅複合材の銅表面やセラミックス又は銅表面の酸化物膜を還元し、Tiと炭素との結合を促して炭素基銅複合材とセラミックス又は銅を接合することを特徴とする。
【0013】
接合材にTiのみならずMgを加えたことを特徴とする。Mg(固体)は加熱すると昇華してMg(ガス)になり、雰囲気の窒素と結合してMg3N2になる。このMg3N2は、標準生成エネルギーの観点からTiNより安定する。この結果、TiNの生成を抑えることができる。
【0014】
加えて、Mg3N2は強い還元作用を発揮し、炭素基銅複合材の銅表面やセラミックス又は銅表面の酸化物膜を還元し、除去する。酸化物膜が除去されて濡れ性の増したセラミックス又は銅に、TiN化しないTiが良好に浸透し、TiCなどが生成できるため、接着性を格段に高めることができる。
【0015】
加熱雰囲気は、窒素であり、窒素は安価であり、爆発の危険もない。従って、本発明によれば、接合に要するコストを大幅に下げることができる。
【0016】
請求項2では、接合材は、Tiを含む銅合金箔と、この箔の両面に配置したMg又はMg合金と、からなることを特徴とする。
Tiを含む銅合金箔は、入手容易であり且つ粉末に比較して取扱いが容易である。従って、請求項2によれば、接合に要するコストを更に下げることができる。
【0017】
請求項3では、融点以上の温度は、885℃〜1083℃であることを特徴とする。
Cu組成が80%を超えるTi系銅合金の融点は885℃であるので、加熱温度が885℃未満では接合材の溶融が不十分となり接着不良が起こる。また、加熱温度が1083℃を超えると、炭素基銅複合材から銅が流れ出し、製品品質が低下する。
接着不良を回避すると共に製品品質を良好に保つために、加熱温度は885℃〜1083℃の範囲に留める。
【0018】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を添付図に基づいて以下に説明する。
図1(a)〜(d)は本発明での材料準備からるつぼ充填までの作用説明図(第1実施例)である。
(a)において、セラミックスとしてのSi3N4板11と、接合材を構成するためのMg粉末12と、接合材を構成するためのCuTi合金箔13と、炭素基銅複合材14とからなる出発材料を準備する。炭素基銅複合材14は、図面ではC/Cuと表記する。
【0019】
CuTi合金箔13は、例えば80μmの板を用いる。CuTi合金箔13は厚すぎると熱伝導が悪くなり、ヒートシンク等の接合としては好ましくない。従って、厚さは製造が可能であれば、より薄くすることが望ましい。
CuTi合金箔13は、例えばTiが3質量%で残りがCuの合金を用いる。
【0020】
(b)において、るつぼ15に、先ずSi3N4板11を置き、このSi3N4板11に10mg/cm2の割合でMg粉末12を載せる。10mg/cm2は、5〜20mg/cm2の範囲から選択することができる。5mg/cm2未満では還元作用が弱くなり、20mg/cm2を超えるとMgの溶融が多くなりすぎる。
【0021】
(c)において、CuTi合金箔13を載せ、このCuTi合金箔13に10mg/cm2の割合でMg粉末12を載せる。
【0022】
(d)において、炭素基銅複合材14を載せる。これで、るつぼ15への充填が完了する。さらには、炭素基銅複合材14に別のセラミックス製ウエイト(図示せず。)を載せ、1kg/cm2程度の押し圧を付与することが望ましい。接合をより確実にすることができるからである。
【0023】
図2は本発明での加熱要領図(第1実施例)であり、加熱手段21や窒素ガス吹込み手段22やガス抜き手段23を備えた加熱炉20に、るつぼ15を装入する。そして、炉内の空気を窒素ガスに置換して、窒素ガス雰囲気にする。次に、加熱手段21にて炉内を900℃まで加熱し、900℃に保持する。
【0024】
900℃は、885〜1083℃の範囲で変更することが可能である。Cu組成が80%を超えるTi系銅合金の融点は885℃であるので、加熱温度が885℃未満では接合材の溶融が不十分となり接着不良が起こる。また、加熱温度が1083℃を超えると、炭素基銅複合材から銅が流れ出し、製品品質が低下する。
上記加熱により加熱炉20内及びるつぼ15内で次の反応が起こる。
【0025】
【化1】
【0026】
▲1▼式に示すとおりに、Mg粉末12が、昇華してMg(ガス)となる。すると、▲2▼式に示すとおりに、Mgが雰囲気のN2と反応してMg3N2が生成する。このMg3N2は強い還元作用を発揮する。
【0027】
CuTi合金箔13に含まれるTiが雰囲気のN2と反応するか否かを検討する。前記Mg3N2は、標準生成エネルギーの観点からTiNより安定する。不安定なTiNは仮に生成したとしてもその形で存在することはない。そのため安定したMg3N2が主として生成し、不安定なTiNは実質的に生成しない。Tiの形で存在すれば、Tiは濡れ性促進剤としての役割を果たす。
【0028】
ところで、図1(a)において、セラミックスとしてのSi3N4板11には表面に酸化物膜としてのSiO2が存在する。
CuTi合金箔13には、表面に酸化物膜としてのTiO2及び/又はCuO(酸化第2銅)が存在する。
炭素基銅複合材14の銅表面には、CuO(酸化第2銅)が存在すると、考えられる。
【0029】
以上の酸化物膜SiO2、TiO2、CuOは次の反応(Mg3N2による還元反応)により、Si、Ti、Cuに変化し、実質的に酸化物膜が除去される。
【0030】
【化2】
【0031】
すなわち、▲3▼式により酸化物膜SiO2が除去され、▲4▼式により酸化物膜TiO2が除去され、▲5▼式により酸化物膜CuOが除去される。これで、Si3N4板11及び炭素基銅複合材14は溶融金属(溶融接合材)との濡れ性が高まる。
【0032】
900℃の加熱により、溶融金属(溶融接合材)はSi3N4板11及び炭素基銅複合材14に浸透し、良好な接着が行える。特に接着が困難な炭素基銅複合材14においては、TiCの生成により結合力を高めることができる。
【0033】
図3は本発明方法で製造した接合体の断面図(第1実施例)であり、接合体25は、Si3N4板11と、CuTi合金箔13と、炭素基銅複合材14とからなるが、炭素基銅複合材14はCuTi合金箔13を介してSi3N4板11に強固に接合できた接合物である。
【0034】
図1において、セラミックスとしてのSi3N4板11は、SiN、SiO2や、AlN、Al2O3やTiCであってもよい。その理由は次の通りである。
Si3N4、SiO2での酸化物膜はSiO2であり、上記▲3▼式により還元できる。AlN、Al2O3での酸化物膜はAl2O3であり、同様にMg3N2での還元が可能である。TiCでの酸化物膜はTiO2であり、上記▲4▼式により還元できる。
すなわち、セラミックスは酸化物、窒化物、炭化物、硼化物など何れでもよい。
【0035】
以上に説明した第1実施例の別実施例を次に説明する。別実施例としての第2実施例は、前記第1実施例と重複する部分が多いが、正確を期すために詳しく説明する。
図4(a)〜(d)は本発明での材料準備からるつぼ充填までの作用説明図(第2実施例)である。
(a)において、銅板26と、接合材を構成するためのMg粉末12及びCuTi合金箔13と、炭素基銅複合材14とからなる出発材料を準備する。
【0036】
CuTi合金箔13は、例えば80μmの板を用いる。
CuTi合金箔13は、例えばTi3質量%で残りがCuの合金を用いる。
【0037】
(b)において、るつぼ15に、先ず銅板26を置き、この銅板26に10mg/cm2の割合でMg粉末12を載せる。
(c)において、CuTi合金箔13を載せ、このCuTi合金箔13に10mg/cm2の割合でMg粉末12を載せる。
(d)において、炭素基銅複合材14を載せる。これで、るつぼ15への充填が完了する。
【0038】
図5は本発明での加熱要領図(第2実施例)であり、加熱手段21や窒素ガス吹込み手段22やガス抜き手段23を備えた加熱炉20に、るつぼ15を装入する。そして、炉内の空気を窒素ガスに置換して、窒素ガス雰囲気にする。次に、加熱手段21にて炉内を900℃まで加熱し、900℃に保持する。
【0039】
上記加熱により加熱炉20内及びるつぼ15内で次の反応が起こる。
【0040】
【化3】
【0041】
▲6▼式に示すとおりに、Mg粉末12が、昇華してMg(ガス)となる。すると、▲7▼式に示すとおりに、Mgが雰囲気のN2と反応してMg3N2が生成する。このMg3N2は強い還元作用を発揮する。
【0042】
ところで、図4(a)において、銅板26には表面に酸化物膜としてのCuOが存在する。
CuTi合金箔13には、表面に酸化物膜としてのTiO2及び/又はCuOが存在する。
炭素基銅複合材14の銅表面には、CuOが存在すると、考えられる。
【0043】
以上の酸化物膜TiO2、CuOは次の反応(Mg3N2による還元反応)により、Ti、Cuに変化し、実質的に酸化物膜が除去される。
【0044】
【化4】
【0045】
すなわち、▲8▼式により酸化物膜TiO2が除去され、▲9▼式により酸化物膜CuOが除去される。これで、銅板26及び炭素基銅複合材14は溶融金属との濡れ性が高まる。
【0046】
900℃での加熱により、溶融金属(溶融接合材)はSi3N4板11及び炭素基銅複合材14に浸透し、良好な接着が行える。特に接着が困難な炭素基銅複合材14においては、TiCの生成により結合力を高めることができる。
【0047】
図6は本発明方法で製造した接合体の断面図(第2実施例)であり、接合体27は、銅板26と、炭素基銅複合材14とからなる。図5に示したCuTi合金箔13は銅板26と一体化するために実質的に2層になった。炭素基銅複合材14は一体化したCuTi合金箔13を介して銅板26に強固に接合できた接合物である。
【0048】
尚、実施例では、接合材としてCuTi合金箔にMg粉末を組合わせが接合材はCuTiMg合金箔であってもよい。又は接合材はCu粉末+Ti粉末+Mg粉末からなる金属粉末混合物に置換えることもできる。
CuTiMg合金箔は取扱いの点で最良である。CuTi合金箔にMg粉末を組合わせたものは、Mg粉末が入手容易である点からコストダウンに好適である。
【0049】
【発明の効果】
本発明は上記構成により次の効果を発揮する。
請求項1は、接合材にTiのみならずMgを加えたことを特徴とする。Mg(固体)は加熱すると昇華してMg(ガス)になり、雰囲気の窒素と結合してMg3N2になる。このMg3N2は、標準生成エネルギーの観点からTiNより安定する。この結果、TiNの生成を抑えることができる。
【0050】
加えて、Mg3N2は強い還元作用を発揮し、炭素基銅複合材の銅表面やセラミックス又は銅表面の酸化物膜を還元し、除去する。酸化物膜が除去されて濡れ性の増したセラミックス又は銅に、TiN化しないTiが良好に浸透し、TiCなどが生成できるため、接着性を格段に高めることができる。
【0051】
加熱雰囲気は、窒素であり、窒素は安価であり、爆発の危険もない。従って、本発明によれば、接合に要するコストを大幅に下げることができる。
従って、請求項1によれば、低コストで且つ接着性を高めることのできる炭素基銅複合材とセラミックスとの接合方法又は炭素基銅複合材と銅との接合方法を提供することができる。
【0052】
請求項2では、接合材は、Tiを含む銅合金箔と、この箔の両面に配置したMg又はMg合金と、からなることを特徴とする。Tiを含む銅合金箔は、入手容易であり且つ粉末に比較して取扱いが容易である。従って、請求項2によれば、接合に要するコストを更に下げることができる。
【0053】
請求項3では、融点以上の温度は、885℃〜1083℃であることを特徴とする。加熱温度が885℃未満では接合材の溶融が不十分となり接着不良が起こる。また、加熱温度が1083℃を超えると、炭素基銅複合材から銅が流れ出し、製品品質が低下する。
接着不良を回避すると共に製品品質を良好に保つために、加熱温度は885℃〜1083℃の範囲に留める。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明での材料準備からるつぼ充填までの作用説明図(第1実施例)
【図2】本発明での加熱要領図(第1実施例)
【図3】本発明方法で製造した接合体の断面図(第1実施例)
【図4】本発明での材料準備からるつぼ充填までの作用説明図(第2実施例)
【図5】本発明での加熱要領図(第2実施例)
【図6】本発明方法で製造した接合体の断面図(第2実施例)
【符号の説明】
11…セラミックスとしてのSi3N4板、12…接合材を構成するためのMg粉末、13…接合材を構成するためのCuTi合金箔、14…炭素基銅複合材、20…加熱炉、21…加熱手段、22…窒素ガス吹込み手段、25、27…接合体、26…銅板。
Claims (3)
- 炭素基銅複合材とセラミックスとの接合方法又は炭素基銅複合材と銅との接合方法において、炭素基銅複合材とセラミックスとの間又は炭素基銅複合材と銅との間に、Ti並びにMgを含む接合材を介在させ、この多層体を窒素ガス雰囲気下で前記接合材の融点以上の温度に加熱し、生成したMg3N2で炭素基銅複合材の銅表面やセラミックス又は銅表面の酸化物膜を還元し、Tiと炭素との結合を促して炭素基銅複合材とセラミックス又は銅を接合することを特徴とする炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法。
- 前記接合材は、Tiを含む銅合金箔と、この箔の両面に配置したMg又はMg合金と、からなることを特徴とする請求項1記載の炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法。
- 前記融点以上の温度は、885℃〜1083℃であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003049030A JP4108505B2 (ja) | 2003-02-26 | 2003-02-26 | 炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003049030A JP4108505B2 (ja) | 2003-02-26 | 2003-02-26 | 炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004255416A true JP2004255416A (ja) | 2004-09-16 |
JP4108505B2 JP4108505B2 (ja) | 2008-06-25 |
Family
ID=33114834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003049030A Expired - Fee Related JP4108505B2 (ja) | 2003-02-26 | 2003-02-26 | 炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4108505B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021033622A1 (ja) * | 2019-08-21 | 2021-02-25 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
JP2021035901A (ja) * | 2019-08-21 | 2021-03-04 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
CN112601729A (zh) * | 2018-08-28 | 2021-04-02 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
CN112654593A (zh) * | 2018-08-28 | 2021-04-13 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
WO2021112046A1 (ja) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
CN114230359A (zh) * | 2020-09-09 | 2022-03-25 | 比亚迪股份有限公司 | 一种陶瓷覆铜板及其制备方法 |
KR20220054461A (ko) * | 2019-12-02 | 2022-05-02 | 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 | 구리/세라믹스 접합체, 절연 회로 기판, 및 구리/세라믹스 접합체의 제조 방법, 절연 회로 기판의 제조 방법 |
EP3992170A4 (en) * | 2019-06-26 | 2023-07-26 | Mitsubishi Materials Corporation | JOINTED COPPER/CERAMIC BODY, INSULATION CIRCUIT BOARD, METHOD OF MAKING A JOINED COPPER/CERAMIC BODY AND INSULATION CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD |
JP7512863B2 (ja) | 2019-12-06 | 2024-07-09 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
-
2003
- 2003-02-26 JP JP2003049030A patent/JP4108505B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102409815B1 (ko) | 2018-08-28 | 2022-06-15 | 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 | 구리/세라믹스 접합체, 절연 회로 기판, 및 구리/세라믹스 접합체의 제조 방법, 및 절연 회로 기판의 제조 방법 |
CN112601729A (zh) * | 2018-08-28 | 2021-04-02 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
CN112654593A (zh) * | 2018-08-28 | 2021-04-13 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
KR20210043586A (ko) * | 2018-08-28 | 2021-04-21 | 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 | 구리/세라믹스 접합체, 절연 회로 기판, 및 구리/세라믹스 접합체의 제조 방법, 및 절연 회로 기판의 제조 방법 |
CN112654593B (zh) * | 2018-08-28 | 2022-11-11 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
JPWO2020045388A1 (ja) * | 2018-08-28 | 2021-08-26 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、及び、絶縁回路基板の製造方法 |
CN112601729B (zh) * | 2018-08-28 | 2022-11-11 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
US11396059B2 (en) | 2018-08-28 | 2022-07-26 | Mitsubishi Materials Corporation | Copper/ceramic bonded body, insulating circuit substrate, copper/ceramic bonded body production method, and insulating circuit substrate production method |
JP7056744B2 (ja) | 2018-08-28 | 2022-04-19 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、及び、絶縁回路基板の製造方法 |
EP3845511A4 (en) * | 2018-08-28 | 2022-04-27 | Mitsubishi Materials Corporation | COPPER-CERAMIC COMPONENT, INSULATED CIRCUIT BOARD, PROCESS FOR MANUFACTURING A COPPER-CERAMIC COMPONENT AND PROCESS FOR MANUFACTURING AN INSULATED CIRCUIT BOARD |
EP3845509A4 (en) * | 2018-08-28 | 2022-04-27 | Mitsubishi Materials Corporation | COPPER/CERAMIC ASSEMBLED BODY, INSULATED PRINTED CIRCUIT BOARD, METHOD FOR PRODUCING COPPER/CERAMIC ASSEMBLED BODY, AND METHOD FOR MAKING INSULATED PRINTED CIRCUIT BOARD |
EP3992170A4 (en) * | 2019-06-26 | 2023-07-26 | Mitsubishi Materials Corporation | JOINTED COPPER/CERAMIC BODY, INSULATION CIRCUIT BOARD, METHOD OF MAKING A JOINED COPPER/CERAMIC BODY AND INSULATION CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD |
EP3960722A4 (en) * | 2019-08-21 | 2022-06-22 | Mitsubishi Materials Corporation | COPPER-CERAMIC COMPOSITE BODY, INSULATING CIRCUIT SUBSTRATE, METHOD OF MAKING COPPER-CERAMIC COMPOSITE BODY AND METHOD OF MAKING AN INSULATING CIRCUIT SUBSTRATE |
WO2021033622A1 (ja) * | 2019-08-21 | 2021-02-25 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
US11881439B2 (en) | 2019-08-21 | 2024-01-23 | Mitsubishi Materials Corporation | Copper/ceramic joined body, insulating circuit substrate, copper/ceramic joined body production method, and insulating circuit substrate production method |
JP2021035901A (ja) * | 2019-08-21 | 2021-03-04 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
CN114127921A (zh) * | 2019-08-21 | 2022-03-01 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
CN114127921B (zh) * | 2019-08-21 | 2022-12-23 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板、铜-陶瓷接合体的制造方法及绝缘电路基板的制造方法 |
US11638350B2 (en) | 2019-12-02 | 2023-04-25 | Mitsubishi Materials Corporation | Copper/ceramic bonded body, insulating circuit board, method for producing copper/ceramic bonded body, and method for producing insulating circuit board |
KR102413017B1 (ko) | 2019-12-02 | 2022-06-23 | 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 | 구리/세라믹스 접합체, 절연 회로 기판, 및 구리/세라믹스 접합체의 제조 방법, 절연 회로 기판의 제조 방법 |
KR20220054461A (ko) * | 2019-12-02 | 2022-05-02 | 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 | 구리/세라믹스 접합체, 절연 회로 기판, 및 구리/세라믹스 접합체의 제조 방법, 절연 회로 기판의 제조 방법 |
WO2021112046A1 (ja) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
US20230034784A1 (en) * | 2019-12-06 | 2023-02-02 | Mitsubishi Materials Corporation | Copper-ceramic bonded body, insulated circuit board, method for producing copper-ceramic bonded body, and method for producing insulated circuit board |
CN114787106B (zh) * | 2019-12-06 | 2023-07-14 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板及铜-陶瓷接合体的制造方法、绝缘电路基板的制造方法 |
CN114787106A (zh) * | 2019-12-06 | 2022-07-22 | 三菱综合材料株式会社 | 铜-陶瓷接合体、绝缘电路基板及铜-陶瓷接合体的制造方法、绝缘电路基板的制造方法 |
JP7512863B2 (ja) | 2019-12-06 | 2024-07-09 | 三菱マテリアル株式会社 | 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、及び、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法 |
CN114230359B (zh) * | 2020-09-09 | 2023-03-14 | 比亚迪股份有限公司 | 一种陶瓷覆铜板及其制备方法 |
CN114230359A (zh) * | 2020-09-09 | 2022-03-25 | 比亚迪股份有限公司 | 一种陶瓷覆铜板及其制备方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4108505B2 (ja) | 2008-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4375730B2 (ja) | 銅とセラミックス又は炭素基銅複合材料との接合用ろう材及び同接合方法 | |
JP2017183716A (ja) | ヒートシンク付絶縁回路基板の製造方法、及び、ヒートシンク付絶縁回路基板 | |
JP4108505B2 (ja) | 炭素基銅複合材とセラミックス又は銅との接合方法 | |
JPS60131874A (ja) | セラミツクと金属との接合方法 | |
JP6558272B2 (ja) | 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、接合体及びヒートシンク付パワーモジュール用基板 | |
JP7243793B2 (ja) | セラミックス/アルミニウム接合体、絶縁回路基板、ledモジュール、セラミックス部材 | |
KR101200578B1 (ko) | 복합 소재 | |
JPH11130555A (ja) | セラミックス−銅接合用ろう材 | |
JPH0788262B2 (ja) | 窒化ケイ素と金属との接合方法 | |
JPH0729859B2 (ja) | セラミツクス−金属接合部材 | |
JP6561886B2 (ja) | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JPH10314933A (ja) | アルミニウム材料と鉄材料の接合方法 | |
JP2689685B2 (ja) | 半導体装置用軽量基板 | |
JP2004231452A (ja) | 炭素基金属複合材とセラミックスとの接合方法 | |
JP2006120973A (ja) | 回路基板および回路基板の製造方法 | |
JPH04295069A (ja) | セラミックスのメタライジング方法およびその利用によるセラミックスー金属複合体の製造法 | |
JPH03205389A (ja) | セラミックスのメタライズ方法及びセラミックスと金属の接合方法 | |
JPH10194860A (ja) | ろう材 | |
JP2008254010A (ja) | ろう付け方法 | |
JPH06263553A (ja) | 炭素系材料と金属の接合体 | |
JP4373538B2 (ja) | 金属−セラミックス複合材料とセラミックスとの接合体及びその接合方法 | |
JP5809896B2 (ja) | 炭化ホウ素含有セラミックス−酸化物セラミックス接合体及び該接合体の製造方法 | |
JPH0649620B2 (ja) | セラミツクス部材と金属部材との接合方法 | |
JP2004107135A (ja) | 高純度アルミナと銅との接合方法、高純度アルミナと銅との接合体および高純度アルミナと銅電極との接合体 | |
JPH08169778A (ja) | アルミナ系セラミックス−アルミニウム合金の接合用ろう合金及び接合体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071025 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071120 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080111 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080205 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080305 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080401 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080402 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110411 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110411 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130411 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130411 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140411 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |