JP2004191603A

JP2004191603A - 表示装置およびその検査方法

Info

Publication number: JP2004191603A
Application number: JP2002358769A
Authority: JP
Inventors: Ryota Fukumoto; 良太福本
Original assignee: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Current assignee: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date: 2002-12-10
Filing date: 2002-12-10
Publication date: 2004-07-08

Abstract

【課題】アクティブマトリクス型ＥＬ表示装置において、ＥＬ材料を成膜する前にＴＦＴ基板の動作確認をおこない、最終製品の良品率を向上させ、原価を低減することを課題とする。
【解決手段】画素部の駆動用ＴＦＴと接続された画素電極の先にスイッチを設け、その先に検査用配線を接続する。検査時には前記スイッチをＯＮにして、検査用配線を介し、画素電極の電位あるいは画素電極に供給される電流値を確認することで、画素が正常に動作することを確認する。こうして、不良品をＥＬ成膜前に除去可能であり、製造費用の削減を図れる。
【選択図】図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、発光素子を基板上に作りこんで形成された電子ディスプレイ(電気光学装置)に関する。特に半導体素子(半導体薄膜を用いた素子)を用いた表示装置に関する。また発光素子を用いた表示装置を表示部に用いた電子機器に関する。また、発光素子を用いた表示装置の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、基板上に薄膜トランジスタ(以後、ＴＦＴと表記する)を形成する技術が大幅に進歩し、アクティブマトリクス型表示装置への応用開発が進められている。特に、ポリシリコン膜を用いたＴＦＴは、従来のアモルファスシリコン膜を用いたＴＦＴよりも電界効果移動度(モビリティともいう)が高いので、高速動作が可能である。そのため、従来、基板外の駆動回路で行っていた画素の制御を、同一の基板上に形成した駆動回路で行うことが可能となっている。
【０００３】
このようなアクティブマトリクス型表示装置は、同一基板上にさまざまな回路や素子を作りこむことで製造のコストの低減、表示装置の小型化、歩留まりの上昇、スループットの低減など、様々な利点が得られる。
【０００４】
そしてさらに、自発光型素子として、ＥＬ素子を有した、アクティブマトリクス型のＥＬ表示装置を研究が活発化している。ＥＬ表示装置は有機ＥＬディスプレイ(ＯＥＬＤ:Organic EL Display)又は有機ライトエミッティングダイオード(ＯＬＥＤ:Organic Light Emitting Diode)とも呼ばれている。
【０００５】
一般に、ＥＬ素子に流す電流値とＥＬ素子の輝度は比例関係にある。そのため電圧値で輝度を制御するＬＣＤとはことなる画素構成が提案されている(特許文献１参照)。
【０００６】
ところで、画素がマトリクス状に並んだ表示装置は、その製造工程で配線の断線や短絡など、何らかの不具合が発生することがある。そのため製造工程中で電気的な検査をすることが多い(特許文献２参照)。
【０００７】
【特許文献１】
国際公開第０１／０６４８４号パンフレット
【特許文献２】
特許第２６１８０４２号明細書
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
従来のＥＬ表示装置は、図４に示すように、画素部の駆動ＴＦＴ４００のソース・ドレイン端子のうち、一方を電源供給線４０１と接続し、他方の端子(画素電極)は発光素子４０２に接続されているのみであった。
【０００９】
ここで、画素ＴＦＴ(スイッチング用ＴＦＴ及び、駆動ＴＦＴ)や、駆動回路(ソース信号線駆動回路及びゲート信号線駆動回路)を構成するＴＦＴが、絶縁表面を有する基板上に形成され、その後、ＥＬ材料を成膜して、駆動用ＴＦＴとＥＬ素子とが電気的に接続される。
【００１０】
よって、従来の表示装置においては、ＥＬ材料を成膜する前において、駆動用ＴＦＴのソース・ドレイン端子のうち、電源供給線とは接続されていない側の端子(画素電極)は回路上、オープン状態になっている。ＥＬ材料を成膜し、表示装置を完成させ、点灯検査を行うまでは、駆動ＴＦＴが正常に動作するか判断することは難しかった。そのため、駆動ＴＦＴや駆動ＴＦＴよりも先の発光素子が成膜される端子部で異常があり、正常に表示できないものがあったとしても、最終工程まで検出が出来ずに、工程の無駄を発生させていた。
【００１１】
以上に述べたように、従来のＥＬ表示装置では、ＥＬ材料成膜の前工程において、駆動ＴＦＴや駆動ＴＦＴよりも先の画素電極での異状が確認できず、不要な製造コストを発生させていた。
【００１２】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、発光素子の成膜前に画素回路を含めた表示装置全体が正常に動作するかを検出出来るアクティブマトリクス型の表示装置を提供出来ることを課題とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、以上のような問題点を解決するため、ＥＬ材料を成膜する前に、画素回路を含めた表示装置が正常に動作するか検査し、問題があった基板が次のＥＬ材料の成膜の工程に進まないようにして、製造費用を削減することを考えた。
【００１４】
なお、本明細書中において、発光素子の例として、エレクトロルミネッセンス(ＥＬ)素子を例に説明していることがあるが、発光素子はＥＬ素子とは限らず、電極に電圧を加える、あるいは電流を流すことで表示状況が変化する素子であればどのようなものでもよい。また、ＥＬ素子とは、一重項励起素子からの発光(蛍光)を利用するものと、三重項励起素子からの発光(燐光)を利用するものの両方を示すものとする。
【００１５】
本発明によって、基板上に、画素をマトリクス状に配置したアクティブマトリクスＥＬ表示装置において、各画素の駆動ＴＦＴのソース・ドレイン端子のうち、一方が電源供給線に電気的に接続され、他方にスイッチが接続され、前記スイッチを介して、検査用配線が前記基板の外部に引き出していることを特徴としているＥＬ表示装置を提供する。
【００１６】
前記スイッチは、全て同時に開閉がなされるように、前記スイッチを制御する端子が、全て同じ端子に接続されて、前記基板の外部から、信号が入力されることを特徴とするＥＬ表示装置でもよい。
【００１７】
前記スイッチを介して、駆動ＴＦＴと接続されている検査用配線は、画素内で利用している配線と共用でもよい
【００１８】
前記スイッチを介して、駆動ＴＦＴと接続されている検査用配線は、表示装置がカラー表示であり、画素内の電源供給線が各色で異なり、複数存在する場合は、隣接する画素の電源供給線と共用でもよい。
【００１９】
本発明によって、基板上に作製された前記アクティブマトリクス型ＥＬ表示装置において、発光素子を成膜する前に、一画素ずつ動作させたときに、スイッチを通過して流れる電流量、あるいは電圧値を検出することで、駆動ＴＦＴの特性異常などの不良や、発光素子が成膜される前の工程におけるパターニング不良や工程上で生じたゴミなどによる画素電極と電源供給線やソース信号線等とのショートなどによる不良の有無を全ての画素について検査する方法が提供される。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の表示装置の構造及びその検査方法について説明する。なお、本発明において表示装置に用いるトランジスタは、種類を限定しない。例えば、ＭＯＳトランジスタ、アモルファスシリコンＴＦＴ、ポリシリコンＴＦＴ、分子トランジスタ、有機トランジスタ、バイポーラトランジスタなどどれをもちいてもよい。また、ＴＦＴの場合、構造を限定する必要はなく、例えばプレーナ型や逆スタガ型といった構造のＴＦＴを用いてもよい。また、トランジスタの極性は限定せず、Ｎ型トランジスタでもＰ型トランジスタでもどちらでもよい。
【００２１】
また、本発明において表示装置に用いるスイッチは、二つの端子間に電流が流れる状態と流れない状態を持つ。本文では流れる状態をＯＮすると呼び、流れない状態をＯＦＦすると呼ぶ。二つの端子をそれぞれ第一の端子、第二の端子と呼ぶ。また、ＯＮとＯＦＦを制御する端子を制御端子と呼ぶ。ただし、制御端子は必ずしも図示しない。また、スイッチ素子の構造は特に限定しない。例えば、ＭＯＳトランジスタ、アモルファスシリコンＴＦＴ、ポリシリコンＴＦＴ、分子トランジスタ、有機トランジスタ、バイポーラトランジスタなどどれをもちいてもよい。
さらに、本発明で用いる駆動回路も公知なものを用いればよい。
【００２２】
図１に本発明の実施形態を示す。図１は、本発明の表示装置の画素部の構成である。
【００２３】
電源供給線１０１、発光素子の駆動に用いられる駆動用ＴＦＴ１００、発光素子１０２、検査時と通常駆動時との切り替えに用いられるスイッチ１０３、検査用配線１０４、対向電極１０５で構成される。なお、検査段階では発光素子１０２、および、対向電極１０５は無くてもよい。
【００２４】
電源供給線１０１に駆動用ＴＦＴ１００のソース・ドレイン端子のうちの一方の端子が接続され、他方の端子に発光素子１０２の一方の電極(以下、画素電極と表記する)が接続され、発光素子の他方の電極に対向電極が接続され、画素電極と検査用配線の間にスイッチが接続される。スイッチを制御する端子には、図では何も接続されていないが、検査時と、通常の駆動時との切り替えが出来れば、どの様に接続されてもかまわない。また、駆動用ＴＦＴのゲートに接続される端子は、図では表記されていないが、特に限定せず、画素の構成によって異なる。
【００２５】
なお、図１では電源供給線と駆動ＴＦＴを直接接続したが、二つが電気的に接続されていればよく、直接接続せずに間に電流制御用の素子などを挿入してもよい。
【００２６】
次に、本実施形態の動作について図１を参照しながら説明する。
【００２７】
まず、パネルが通常動作するときについて、このとき、スイッチ１０３はＯＦＦし、スイッチを非導通にし、電流が流れないようにする。そして、駆動用ＴＦＴ１００のゲート端子に入力される信号により、発光素子に流れる電流が制御され、階調が表示される。ただし、このとき画素の駆動方式は問わない。例えば発光素子に一定の電流が流れるように制御される定電流駆動方式であってもよいし、発光素子に一定の電圧がかかるように制御される定電圧駆動方式であってもよい。
【００２８】
次に、パネルを検査するときの動作について説明する。パネルが検査されるときには、発光素子、および、対向電極は無くてもよいため、ここでは無いものとして考える。まず、スイッチ１０３をＯＮにし、スイッチを導通させる。そして、画素が通常に動作するときと同様に該画素に信号を入力し、駆動ＴＦＴ１００を動作させる。このとき、発光素子および対向電極があり、スイッチ１０３がＯＦＦならば発光素子にかかるはずの電圧値あるいは電流値が、スイッチ１０３が導通し、発光素子および対向電極が無いため、前記発光素子にかかるべき電圧値あるいは電流値が検査用配線を通して、検査することが出来る。なお、定電圧駆動方式の場合は電圧値を検査すればよいし、定電流駆動方式の場合は電流値を検査すればよい。
【００２９】
画素がマトリクス状に配置されている場合において、検査用配線が他の画素と共用であるときは、検査用配線が共用である画素のうち検査対象となる一つの画素を除くすべての画素の駆動用ＴＦＴをＯＦＦし電流が流れないようにして、検査対象となる一つ画素の駆動用ＴＦＴを駆動させて、検査することで、一つの画素ずつ検査することができ、全ての画素に異常がないか検査することが出来る。
【００３０】
本実施形態の具体的な例を図２に示す。
【００３１】
図２は、電源供給線２０１、画素に映像信号を入力するソース信号線２０６、発光素子の駆動に用いられる駆動用ＴＦＴ２００、発光素子２０２、検査時と通常駆動時との切り替えに用いられるスイッチ２０３、検査用配線２０４、対向電極２０５、書込用のゲート信号が入力される書込用ゲート信号線２０７、ビデオ信号で入力された電位を保持するための容量素子２０８、ビデオ信号の入力を制御する書込用ＴＦＴ２０９によって構成されている。なお、検査する段階では、発光素子２０２、および対向電極２０５は無くてもよい。
【００３２】
書込用ＴＦＴ２０９のゲート端子に書込用ゲート信号線２０７が接続され、ソース・ドレイン端子のうち一方にソース信号線２０６が接続され、他方に駆動用ＴＦＴ２００のゲート端子が接続され、駆動用ＴＦＴ２００のソース・ドレイン端子のうち一方に電源供給線２０１が接続され、他方に発光素子２０２の一方の電極(以下、画素電極と表記する)が接続され、発光素子の他方の電極に対向電極２０５が接続され、駆動用ＴＦＴ２００のゲート端子と電源供給線２０１との間に容量素子２０８が接続され、上記画素電極にスイッチ２０３の一方の端子が接続され、他方に検査用配線２０４が接続される。
【００３３】
なお、ここではスイッチ２０３を制御する信号線を図示していないが、スイッチ２０３を制御する信号線の入力方法は限定しない。例えば、ソース信号線と平行に入力してもよいし、ゲート信号線と平行に入力してもよい。
【００３４】
書込用ＴＦＴ２０９、駆動ＴＦＴ２００は共にシングルゲート構造で書かれているが、ＴＦＴを２つ以上直列につないだマルチゲート構造でもよいし、ＴＦＴを２つ以上並列につないだマルチチャネル構造でもよい。
【００３５】
図２の画素構成のときの動作および、検査方法について説明する。図２の画素構成は、公知なものである図４の構成にスイッチ２０３と検査用配線２０４を追加したものである。通常に動作させるときには、スイッチ２０３をＯＦＦさせて、画素電極と検査用配線２０４を非導通にする。このときの接続関係は図４と同じであり、駆動方法は公知なものを用いればよい。次に、検査方法を説明する。発光素子２０２および対向電極２０５は無いものとし、スイッチ２０３をＯＮにして、画素電極と検査用配線２０４を導通させる。そして、検査用配線が共用である画素のうち、検査したい画素を除いた全ての画素の駆動用ＴＦＴに電流が流れないようなビデオ信号を入力し、検査したい画素に、発光素子および対向電極が作製されたあとであれば発光するようなビデオ信号を入力し、駆動ＴＦＴを駆動させて、その時画素電極からスイッチ２０３を介して検査用配線にかかる電圧値、あるいは検査用配線を流れる電流値を検査し、該画素が正常であるか検査をする。
【００３６】
画素の構成は図３のように、電源供給線と駆動用ＴＦＴのゲート端子との間に消去用ＴＦＴ３１１と消去用ＴＦＴを制御する消去用ゲート信号線３１０を加えた構成でもよい。
【００３７】
表示装置がカラー表示で、電源供給線が複数の種類ある場合は、図５で示されるように、検査用配線と隣の画素の電源供給線とを共用にした構成でもよい。このように、電源供給線と検査用配線を共用にしたときにおいて、図５のように配列されていたとすると、３列あるうちの真ん中の緑色電源供給線ｇに接続されている画素の検査をするときには、該画素中のスイッチ５０３接続されている電源供給線ｒは検査用配線として利用し、電源は供給しない。
【００３８】
また、図示していないが、カラー表示で電源供給線が複数の種類ある場合は、図３の画素の回路構成において、検査用配線と隣接する画素の電源供給線とを共用にしてもよい。
【００３９】
【実施例】
以下に、本発明の実施例について記載する。
【００４０】
[実施例１]
本実施例においては、実施形態で示した表示装置の構成のなかで、図５で示される画素構成のものについて説明する。図６に表示装置の構成例を示す。基板６１１上に、複数の画素６１３がｍ行ｎ列のマトリクス状に配置された表示部６１２を有し、表示部６１２の周辺には、信号線駆動回路６１４、行選択線駆動回路６１５を有している。Ｓ１〜Ｓｎで表記されたソース信号線６０６は画素６１３と列に対応して接続しており、信号線駆動回路６１４と接続されている。またＧ１〜Ｇｍで表記された書込用ゲート信号線６０７は画素６１３と行に対応して接続しており、行選択回路６１５と接続されている。信号線駆動回路６１４、行選択回路６１５、はＦＰＣコンタクト部６１６と接続されている。３つの電源供給線６０１ｒ、６０１ｇ、６０１ｂ、および、スイッチ駆動信号線６１７はＦＰＣコンタクト部６１５から直接画素に接続されている。また、実際にはクロック信号線や電源線等が存在するが、ここでは省略する。
【００４１】
上記半導体装置を表示装置として電子機器に搭載して使う場合、ＦＰＣコンタクト部６１６にフレキシブルケーブルなどを貼り付けし、電源や信号源と接続する。
【００４２】
製造工程中での検査をする場合、ＦＰＣコンタクト部３１６に複数の針で構成されたコンタクトプローブ６２１を接触させ、検査装置６２２と電気的に接続する。検査装置６２２は外部駆動回路６２３と測定機器６２４を有する。外部駆動回路６２３は検査対象である半導体装置に電源や信号を供給する。また、測定機器６２４は検査用配線として利用されている電源供給線の電圧値あるいは、電流値を測定する。測定結果から、各画素が正常に動作しているかが調べられる。
【００４３】
[実施例２]
本発明の表示装置を用いた電子機器として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコンポ等)、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile Disc(ＤＶＤ)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。特に、斜め方向から画面を見る機会が多い携帯情報端末は、視野角の広さが重要視されるため、自発光型の表示装置を用いることが望ましい。それら電子機器の具体例を図７に示す。なお、ここで示す電子装置はごく一例であり、これらの用途に限定するものではない。
【００４４】
図７(Ａ)はディスプレイであり、筐体２００１、支持台２００２、表示部２００３、スピーカー部２００４、ビデオ入力端子２００５等を含む。本発明の表示装置は表示部２００３に用いることが出来る。また本発明により、図７(Ａ)に示すディスプレイが完成される。本発明の表示装置は自発光型であるためバックライトが必要なく、液晶ディスプレイよりも薄い表示部とすることが出来る。なお、ディスプレイは、パソコン用、ＴＶ放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用表示装置が含まれる。
【００４５】
図７(Ｂ)はデジタルスチルカメラであり、本体２１０１、表示部２１０２、受像部２１０３、操作キー２１０４、外部接続ポート２１０５、シャッター２１０６等を含む。本発明の表示装置は表示部２１０２に用いることが出来る。また本発明により、図７(Ｂ)に示すデジタルスチルカメラが完成される。
【００４６】
図７(Ｃ)はノート型パーソナルコンピュータであり、本体２２０１、筐体２２０２、表示部２２０３、キーボード２２０４、外部接続ポート２２０５、ポインティングマウス２２０６等を含む。本発明の表示装置は表示部２２０３に用いることが出来る。また本発明により、図７(Ｃ)に示すノート型パーソナルコンピュータが完成される。
【００４７】
図７(Ｄ)はモバイルコンピュータであり、本体２３０１、表示部２３０２、スイッチ２３０３、操作キー２３０４、赤外線ポート２３０５等を含む。本発明の表示装置は表示部２３０２に用いることが出来る。また本発明により、図７(Ｄ)に示すモバイルコンピュータが完成される。
【００４８】
図７(Ｅ)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはＤＶＤ再生装置)であり、本体２４０１、筐体２４０２、表示部Ａ２４０３、表示部Ｂ２４０４、記録媒体(ＤＶＤ等)読み込み部２４０５、操作キー２４０６、スピーカー部２４０７等を含む。表示部Ａ２４０３は主として画像情報を表示し、表示部Ｂ２４０４は主として文字情報を表示するが、本発明の表示装置はこれら表示部Ａ、Ｂ２４０３、２４０４に用いることが出来る。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。また本発明により、図７(Ｅ)に示すＤＶＤ再生装置が完成される。
【００４９】
図７(Ｆ)はゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)であり、本体２５０１、表示部２５０２、アーム部２５０３を含む。本発明の表示装置は表示部２５０２に用いることが出来る。また本発明により、図７(Ｆ)に示すゴーグル型ディスプレイが完成される。
【００５０】
図７(Ｇ)はビデオカメラであり、本体２６０１、表示部２６０２、筐体２６０３、外部接続ポート２６０４、リモコン受信部２６０５、受像部２６０６、バッテリー２６０７、音声入力部２６０８、操作キー２６０９等を含む。本発明の表示装置は表示部２６０２に用いることが出来る。また本発明により、図７(Ｇ)に示すビデオカメラが完成される。
【００５１】
ここで図７(Ｈ)は携帯電話であり、本体２７０１、筐体２７０２、表示部２７０３、音声入力部２７０４、音声出力部２７０５、操作キー２７０６、外部接続ポート２７０７、アンテナ２７０８等を含む。本発明の表示装置は表示部２７０３に用いることが出来る。なお、表示部２７０３は黒色の背景に白色の文字を表示することで携帯電話の消費電流を抑えることが出来る。また本発明により、図７(Ｈ)に示す携帯電話が完成される。
【００５２】
なお、将来的に発光材料の発光輝度が高くなれば、出力した画像情報を含む光をレンズ等で拡大投影してフロント型若しくはリア型のプロジェクターに用いることも可能となる。
【００５３】
また、上記電子機器はインターネットやＣＡＴＶ(ケーブルテレビ)などの電子通信回線を通じて配信された情報を表示することが多くなり、特に動画情報を表示する機会が増してきている。発光材料の応答速度は非常に高いため、本発明の表示装置は動画表示に好ましい。
【００５４】
また、本発明の表示装置は発光している部分が電力を消費するため、発光部分が極力少なくなるように情報を表示することが望ましい。従って、携帯情報端末、特に携帯電話や音響再生装置のような文字情報を主とする表示部に表示装置を用いる場合には、非発光部分を背景として文字情報を発光部分で形成するように駆動することが望ましい。
【００５５】
以上の様に、本発明の適用範囲は極めて広く、あらゆる分野の電子機器に用いることが可能である。また本実施例の電子機器は、実施例１に示した構成を用いることが出来る。
【発明の効果】
本発明によると、全ての画素回路が正常に動作するかを簡単に検査することが出来る。これにより、不良品を発光素子が成膜される前に除去可能であり、製造費用の削減を図ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図２】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図３】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図４】従来の画素部の回路構成を示す図。
【図５】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図６】本発明の実施例を示す図。
【図７】本発明が適用可能な電子機器の例を示す図。

Claims

基板上に複数の画素がマトリクス状に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、トランジスタ、スイッチ、発光素子を有し、前記トランジスタの第一の端子に第一の配線を電気的に接続し、第二の端子に前記スイッチの第一の端子を接続し、前記スイッチの第一の端子と第二の配線を電気的に接続し、前記トランジスタの第二の端子に前記発光素子を接続することを特徴とする表示装置。
請求項１において、前記第一の配線が電源供給線であり、前記第二の配線が検査用配線であり基板端部の検査端子に接続されていることを特徴とする表示装置。
請求項１において、前記第一の配線が電源供給線であり、前記第二の配線が第一の配線とは異なる隣接する画素の電源供給線と共用とすることを特徴とする表示装置。
基板上に複数の画素がマトリクス状に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、第一のトランジスタ、第二のトランジスタ、発光素子、容量素子、スイッチ、電源供給線、ソース信号線、検査用配線、ゲート信号線を有し、前記第一のトランジスタのゲート端子に前記ゲート信号線が接続され、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方に前記ソース信号線が接続され、他方に前記第二のトランジスタのゲート端子が接続され、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方に前記電源供給線が接続され、他方が前記発光素子に接続され、前記第二のトランジスタのゲート端子と前記電源供給線との間に前記容量素子が形成され、また、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の内、前記電源供給線に接続されていない側の端子に、前記スイッチが接続され、前記スイッチの反対側の端子に、前記検査用配線が接続されることを特徴とする表示装置。
基板上に複数の画素がマトリクス状に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、第一のトランジスタ、第二のトランジスタ、発光素子、容量素子、スイッチ、電源供給線、ソース信号線、検査用配線、第一のゲート信号線、第二のゲート信号線、第三のトランジスタを有し、前記第一のトランジスタのゲート端子に、前記第一のゲート信号線が接続され、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方に前記ソース信号線が接続され、他方に前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方が接続され、第二のトランジスタのゲート端子には前記第二のゲート信号線が接続され、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の内、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子のどちらとも接続されていない端子に前記電源供給線を接続され、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子のうち、前記ソース信号線ソース信号線と接続されていない側の端子と、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子のうち、前記電源供給線と接続されていない側の端子との接続部に前記第三のトランジスタのゲート端子を接続され、前記第三のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方が前記電源供給線に接続され、他方が前記発光素子に接続され、前記第三のトランジスタのゲート端子と前記電源供給線との間に前記容量素子が形成され、前記第三のトランジスタのソース・ドレイン端子のうち、前記電源供給線に接続されていない側の端子に前記スイッチを接続し、前記スイッチの他方に前記検査用配線が接続されることを特徴とする表示装置。
請求項４または請求項５において、前記検査用配線が隣接する画素の電源供給線と共用であることを特徴とする表示装置
請求項１乃至請求項６において、前記トランジスタがポリシリコンＴＦＴであることを特徴とする表示装置。
基板上に複数の画素がマトリクス上に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、トランジスタ、スイッチ、発光素子を有し、前記トランジスタの第一の端子に前記第一の配線を電気的に接続し、前記第二の端子に前記スイッチの第一の端子を接続し、前記スイッチの第一の端子と前記第二の配線を電気的に接続し、前記トランジスタの第二の端子に前記発光素子を接続することを特徴とする表示装置において、前記スイッチを閉じ導通させ、前記電源供給線に電圧を供給し、前記トランジスタに信号を入力したときに、前記第二の配線の電圧値、あるいは前記第二の配線に供給される電流値を読み取り、画素が正常に動作するか検査することを特徴とする表示装置の検査方法。
請求項１乃至請求項７のいずれか１項に記載の表示装置を用いたことを特徴とする電子機器。