【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スーパーツイストネマチック（ＳＴＮ）型の液晶表示装置に関し、とくに配線した電極の良否判定を検査するために有効な液晶表示装置に関するものである。また、かかる本発明の液晶表示装置の検査に用いるショート測定用プローブ部材に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＳＴＮ型の液晶表示装置は、コモン（共通電極）側の電極を基板上に形成し、セグメント（信号電極）側の電極を基板上に形成し、それぞれの電極上に配向膜を被覆し、これら基板を、液晶層を介して貼り合わせた構造である。
【０００３】
図４と図５は従来のＳＴＮ型の液晶表示装置におけるセグメント側の電極パターンを示し、図４はかかるセグメント側の電極パターンの平面図であり、図５はその要部拡大図である。
【０００４】
以下、このような電極パターンに対する検査方法を述べる。
１は基板上に基板上にストライプ状に配列形成した複数のセグメント側電極であり、これらセグメント側電極は表示領域に配置されている。各電極のピッチは６０〜１００μｍ程度である。
【０００５】
また、これらセグメント側電極１の先には、その基板の表示領域の周囲に、複数のセグメント側電極１を延在して引き込み配線２を形成し、ＴＡＢやＣＯＦとの接続部３となる。これら引き込み配線２のピッチは６０〜７０μｍ程度である。
【０００６】
そして、今後、表示領域の電極がさらに細密化され、これに伴って引き込み配線２もファインピッチ化になる傾向にある。
【０００７】
上記構成のＳＴＮ型の液晶表示装置に対するセグメント側電極１の電極間ショート（短絡）の有無を調べる検査については、プローブ方式もしくはなぞり方式と呼ばれる手法でもっておこなわれる。
【０００８】
プローブ方式によれば、セグメント側電極１のショートをおこなうに当たり、ショート測定用プローブ部材４を用いて、複数のセグメント側電極１または接続部３に対し、それぞれプローブ５を接触させ、そして、電圧を印加し、ショートの有無を、一度の検査でもって確認している。
【０００９】
他方のなぞり方式においては、セグメント側電極１に隣接するパターンに対し、それぞれプローブを順次、接触させるとともに、電圧を印加して、ショートが発生しているか、否かを検査する手法である。
【００１０】
かかる検査手法に関して、さらに下記のような先行技術がある（特許文献１参照）。
【００１１】
すべての端子を奇数ごと、偶数ごとに１本おきに短絡させ、この両端でもってテスターで当てることで、ショートの有無を判別するという技術である。
【００１２】
しかしながら、ショートが発生している箇所がわからないという課題があった。
【００１３】
また、他の特許文献２によれば、一定のまとまりでもって短絡させ、配線ピッチを広げて、プローブを密なものにしなくてはならないという点が記載されているにしても、ショートの発生箇所を確定するには、パネルを完成させた後に検査することから、不具合があった場合には、パネル完成後に、修復しなければならないという課題があった。
【００１４】
【特許文献１】
特開平８−５０２９５号公報
【特許文献２】
特開平９−１８５０７２号公報
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
上述したとおり、なぞり方式では、検査が高速におこなわれ、多面取りになると、その有利な特徴がもっとも発揮されるのであるが、接続部３を十分な長さに設定することができない場合には、表示部１の端を物理的になぞることになり、これに起因して微妙なキズが生じ、異物が発生し、これによって精度の高い表示をおこなう液晶表示装置においては、その課題が顕著である。
【００１６】
他方、プローブ方式によれば、表示領域外のＴＡＢやＣＯＦの接続部でもって検査を有利におこなうことができるが、その反面、プローブカードを用いることで高価な検査になり、ランニングコストが高くなり、その分、製造コストが大きくなるという課題があった。
【００１７】
また、近年の液晶表示装置によれば、そのセグメント側電極に接続した接続部３のパターンピッチが、よりいっそうファイン化し、これにともなってプローブ５のピッチも高精細化になるが、このように高精細化すると、わずかなプローブピッチの造りこみ誤差、装置自体が有する固有な誤差が原因して、誤判定がひきおこされ、たとえばショートがないにもかかわらず、ショート有りと判定されることがあった。
【００１８】
したがって、本発明の目的は製造コストを下げるとともに、検査の信頼性を高めた液晶表示装置を提供することにある。
【００１９】
本発明の他の目的は、高精細化した液晶パネルに好適な液晶表示装置を提供することにある。
【００２０】
本発明のさらに他の目的は、かかる本発明の液晶表示装置の検査に用いるショート測定用プローブを提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
本発明の液晶表示装置は、基板上に複数の一方電極をストライプ状に配列形成し、これら一方電極上に配向膜を被覆してなる一方部材と、基板上に複数の他方電極をストライプ状に配列形成し、これら他方電極上に配向膜を被覆してなる他方部材とを、液晶層を介して対向配設して表示領域となし、さらに前記一方部材の基板の表示領域の周囲に、複数の一方電極を延在して端子部を形成してなるスーパーツイストネマチック型の液晶表示装置であり、そして、前記端子部が表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部と、前記端子部が表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部とが交互になるように、一方電極を形成するとともに、複数の第一の端子部を電気的に導通させる通電線を配設したことを特徴とする。
【００２２】
また、本発明の液晶表示装置は、一方電極がセグメント側電極であり、他方電極がコモン側電極であることを特徴とする。
【００２３】
本発明の他の液晶表示装置は、第二の端子部の幅を一方電極の幅に比べて大きくしたことを特徴とする。
【００２４】
本発明のさらに他の液晶表示装置は、前記通電線を除去したことを特徴とする。
【００２５】
また、本発明のショート測定用プローブ部材は、かかる本発明の液晶表示装置に設けた第一の端子部を接触させるプローブと、第二の端子部を接触させるプローブとを備えたことを特徴とする。
【作用】
本発明の液晶表示装置によれば、上記構成のように、表示領域の周囲に、複数の一方電極、たとえばセグメント側電極を延在して端子部を形成した構成において、この端子部が表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部と、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部とが交互になるように、セグメント側電極を形成するとともに、複数の第一の端子部を電気的に導通させる通電線を配設したことで、この導通線と、第二の端子部とをショート測定用プローブ部材を用いて、通電テストをおこない、これによってショートの有無を判定する。
【００２６】
このような構成による検査においては、テスターのスキャニングチャンネルが半分になり、これによって測定時間を短縮でき、ほぼ半分の所要時間になる。
【００２７】
また、本発明の液晶表示装置によれば、第二の端子部の幅をセグメント側電極の幅に比べて大きくしたことで、すなわち拡大したプローブパッドを形成することで、各パッドに対しプローブを確実に接触させることができ、これによって高精細化したセグメント側電極であっても、そのような接触における誤判定が小さくなり、信頼性を著しく高めることができ、ショート判定の精度を顕著に高めることができる。
【００２８】
さらに本発明のショート測定用プローブ部材については、かかる本発明の液晶表示装置に設けた第一の端子部を接触させるプローブと、第二の端子部を接触させるプローブとを備えたことで、プローブの全本数が少なくなり、これによって、そのプローブによる接触頻度が少なくなり、その点でも、ショート判定の精度を顕著に高めることができる。
【００２９】
以上のとおり、本発明の液晶表示装置ならびにショート測定用プローブ部材によって、ショート検査の信頼性を高めるとともに、その所要時間を短縮し、その分、製造コストを低減することができる。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図により詳述する。
図１は本発明の液晶表示装置の一例であって、ＳＴＮ（スーパーツイストネマッチック）型の単純マトリックスタイプの液晶表示装置である。図２は一方電極、たとえばセグメント側電極と、それを延在して端子部とをなす配線パターンの平面図であり、図３はその要部拡大図である。
【００３１】
この液晶表示装置Ａによれば、前記一方部材と他方部材との組み合わせ構造であって、２枚のガラス基板６、７の間に液晶層が封入されて、表示領域が配された液晶表示パネルとなる。
【００３２】
これらは、シール部でもって貼り合わせた構造であり、シール部にて囲まれる領域内に液晶層が封入されている。シール部はエポキシ系の熱硬化型樹脂からなる。また、ガラス基板６、７の間には樹脂球状体からなるスペーサが多く分散され、これによって両基板６、７間のギャップを一定にして、その内部に液晶が封入されている。
【００３３】
そして、この液晶表示パネルの一方部材であるガラス基板７において、そのガラス基板７上に前記一方電極である多数平行に配列したＩＴＯからなるストライプ状透明電極群（セグメント側電極）を順次形成し、さらにストライプ状透明電極群上に一定方向にラビングしたポリイミド樹脂からなる配向膜を形成している。
【００３４】
また、他方部材であるガラス基板６においても、そのガラス基板６上に前記他方電極である多数平行に配列したＩＴＯからなるストライプ状透明電極群（コモン側電極）を順次形成し、さらにストライプ状透明電極群上に一定方向にラビングしたポリイミド樹脂からなる配向膜を形成している。
【００３５】
本例の液晶表示装置Ａは、透過型の装置構成でもって、以下、詳述すると、ガラス基板６の他方部材については、下記のとおりである。
【００３６】
ガラス基板６の上に、たとえばカラーフィルターとして着色層を形成し、さらに着色層を覆うようにアクリル系樹脂からなるオーバーコート層を被覆し、そして、オーバーコート層の上に多数平行にストライプ状配列したＩＴＯから成る透明電極（他方電極）、および一定方向にラビングしたポリイミド樹脂から成る配向膜を順次積層する。なお、透明電極と配向膜との間に樹脂やＳｉＯ２等から成る絶縁膜を介在させてもよい。
【００３７】
着色層であるカラーフィルターは顔料分散方式、すなわちあらかじめ顔料（赤、緑、青）により調合された感光性レジストを基板上に塗布し、フォトリソグラフィにより形成してもよい。この顔料分散方式によれば、そのフォトリソグラフィにおいて同時に形成することができる。
【００３８】
なお、着色層であるカラーフィルターを形成するに当り、上記のような顔料分散方式に代えて、染色法を用いてもよい。
【００３９】
つぎに一方部材においては、ガラス基板７の上には多数平行に配列したＩＴＯからなるストライプ状透明電極群（一方電極）を形成し、さらにストライプ状透明電極群上に一定方向にラビングしたポリイミド樹脂からなる配向膜を形成している。
【００４０】
ついで、ガラス基板６とガラス基板７とを、たとえば２００〜２６０°の角度でツイストされたカイラルネマチック液晶からなる液晶層を介して、双方のストライプ状透明電極群が交差（直交）するように、シール部材により貼り合わせる。また、ガラス基板６とガラス基板７の間には液晶層の厚みを一定にするためにスペーサを多数個配している。
【００４１】
さらにガラス基板６の外側にポリカーボネートからなる位相差板とヨウ素系の偏光板とを順次積み重ね、ガラス基板７の外側にポリカーボネートからなる位相差板とヨウ素系の偏光板を順次積み重ねている。これらの配設にあたっては、アクリル系の材料からなる粘着材を塗布することで貼り付ける。
【００４２】
そして、ガラス基板７側の偏光板に対し、図１に示すごとく、バックライト８を密着させて配設する。
【００４３】
同図に示すように、バックライト８はアクリル樹脂等の透明材料からなる矩形状の導光板９の端面にＬＥＤや冷陰極管などの光源部１０を配置し、半円筒状の光反射性のリフレクタ１１でもって、冷陰極管などを覆っている。導光板９の光出射面上に光散乱性の光拡散板１２とレンズシート１３とを順次積層し、他方の主面には光反射板１４を設けている。
【００４４】
光拡散板１２はＰＣやＰＥＴ等の白色シートを用いて、その一面に微細な凹凸（たとえばエンボス加工）が施され、導光板９の出射光を散乱させる。
【００４５】
このような構成のバックライト８の上に上記構成の液晶表示パネルを配設し、これらバックライト８および液晶表示パネルを筺体（図示せず）にて支持固定する。
【００４６】
そして、本発明の液晶表示装置Ａにおいては、このような装置構成を作製するに当たり、図２に示すごとく、ガラス基板７の表示領域の周囲に、すなわち、シール部材の外側に、ストライプ状透明電極群（セグメント側電極）１５を延在して引き込み配線１７を形成し、ＴＡＢやＣＯＦとの端子部１６を形成してなる。これら引き込み配線１７のピッチは、たとえば６０〜７０μｍ程度である。
【００４７】
上記端子部１６は、表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部１６ａと、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部１６ｂとが交互になるように、一方電極（セグメント側電極１５）を形成し、これら複数の第一の端子部１６ａを電気的に導通させる通電線１８を配設している。
【００４８】
引き込み配線１７、端子部１６または通電線１８については、いずれもＩＴＯから成る透明導電材でもって単層にて形成したり、あるいは、このような透明導電層の上にクロム（Ｃｒ）金属層とアルミニウム（Ａｌ）金属層とを順次積層したものでもよい。
【００４９】
また、第一の端子部１６ａと第二の端子部１６ｂには、それぞれショート測定用プローブ部材のプローブ１９ａとプローブ１９ｂを当てるプローブパッド２０、２１を形成する。なお、本発明のショート測定用プローブ部材は、前述した図４に示すショート測定用プローブ部材４のごとく、すくなくとも同様なプローブを備えるように構成したものである。
【００５０】
プローブ１９ａは、第一の端子部１６ａに対応しており、複数の第一の端子部１６ａが通電線１８により同電位になっていることから、少なくとも１個のプローブパッド２０を設け、そして、このプローブパッド２０に対応して、少なくとも１本のプローブ１９ａを設ければよい。
【００５１】
一方、個々の第二の端子部１６ｂに対し、それぞれプローブパッド２１を形成しているが、これら各々のプローブパッド２１に対応して、それぞれのプローブ１９ｂを配する。
【００５２】
以上のとおり、本発明の液晶表示装置Ａによれば、上記構成のように表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部１６ａと、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部１６ｂとが交互になるように、セグメント側電極１５を形成し、これら複数の第一の端子部１６ａを電気的に導通させる通電線１８を配設したことで、この導通線１８と、第二の端子部１６ｂとをショート測定用プローブ部材を用いて、通電テストをおこない、これによってセグメント側電極１５のショートの有無を判定する。
【００５３】
このような構成による検査においては、テスターのスキャニングチャンネルが半分になり、これによって測定時間を短縮でき、ほぼ半分の所要時間になった。
【００５４】
また、本発明によれば、第二の端子部１６ｂの幅をセグメント側電極の幅に比べて大きくしたことで、すなわち拡大したプローブパッド２０、２１を形成したことで、各パッド２０、２１に対しプローブ１９ａ、１９ｂを確実に接触させることができ、これによって高精細化したセグメント側電極であっても、そのような接触における誤判定が小さくなり、信頼性を著しく高めることができ、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００５５】
さらに本発明のショート測定用プローブ部材については、かかる本発明の液晶表示装置Ａに設けた第一の端子部１６ａを接触させるプローブ１９ａと、第二の端子部１６ｂを接触させるプローブ１９ｂとを備えたことで、これらプローブの全本数を少なくなり、これによって、そのプローブによる接触頻度が少なくなり、その点でも、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００５６】
したがって、本発明の液晶表示装置Ａならびにショート測定用プローブ部材によって、ショート検査の信頼性を高めるとともに、その所要時間を短縮し、その分、製造コストを低減することができた。
【００５７】
また、本発明によれば、第二の端子部１６ｂの幅をセグメント側電極１５の幅に比べて大きくしたことで、すなわち、図３に示すごとく、プローブパッド２１を形成したことで、プローブ１９ｂの先端が当たる面積が広がり、これにより、各パッド２１に対しプローブ１９ｂを確実に接触させることができ、これによって高精細化したセグメント側電極１５であっても、そのような接触における誤判定が小さくなり、信頼性を著しく高めることができ、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００５８】
なお、このような作用効果は、プローブパッド２１だけではなく、プローブパッド２０についても同様に奏する。
【００５９】
以上のような液晶表示装置Ａについては、実際には、図３に示す切断線Ｐ−Ｐによって、通電線１８を除去して用いる。
【００６０】
また、本発明のショート測定用プローブ部材は、かかる本発明の液晶表示装置Ａに設けた第一の端子部１６ａを接触させるプローブ１９ａと、第二の端子部１６ｂを接触させるプローブ１９ｂとを備えたことで、プローブの全本数が少なくなり、これによって、そのプローブによる接触頻度が少なくなり、その点でも、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００６１】
なお、本発明は上記実施形態例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更や改良等はなんら差し支えない。
【００６２】
たとえば、本実施形態例によれば、液晶表示パネルとバックライトとの組合せによる透過型の装置構成にて説明したが、これに代えて、反射型の装置構成もしくは半透過型の装置構成でも同じ作用効果を奏する。
【００６３】
また、本実施形態例によれば、一方電極がセグメント側電極であり、他方電極がコモン側電極であるが、これに代えて、一方電極がコモン側電極であり、他方電極がセグメント側電極であってもよい。
【００６４】
【発明の効果】
以上のとおり、本発明の液晶表示装置によれば、表示領域の周囲に、複数の一方電極、たとえばセグメント側電極を延在して端子部を形成した構成において、この端子部が表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部と、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部とが交互になるように、セグメント側電極を形成するとともに、複数の第一の端子部を電気的に導通させる通電線を配設したことで、ショート測定用プローブ部材を用いて、通電テストをおこなった場合に、テスターのスキャニングチャンネルが半分になり、これによって測定時間を短縮でき、ほぼ半分の所要時間になり、その結果、製造コストを下げるとともに、検査の信頼性を高めた高精細化の液晶表示装置が提供できた。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の液晶表示装置の概略断面図である。
【図２】本発明の液晶表示装置における配線パターンの平面図である。
【図３】本発明の液晶表示装置における配線パターンの要部拡大図である。
【図４】従来の液晶表示装置における配線パターンの平面図である。
【図５】従来の液晶表示装置における配線パターンの要部拡大図である。
【符号の説明】
Ａ・・・液晶表示装置
６、７・・・ガラス基板
８・・・バックライト
１５・・・セグメント側電極
１６・・・端子部
１６ａ・・・第一の端子部
１６ｂ・・・第二の端子部
１７・・・引き込み配線
１８・・・通電線
１９ａ、１９ｂ・・・プローブ
２０、２１・・・プローブパッド[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a super twisted nematic (STN) type liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device which is effective for inspecting the quality of wired electrodes. The present invention also relates to a short-measurement probe member used for testing the liquid crystal display device of the present invention.
[0002]
[Prior art]
In the STN type liquid crystal display device, an electrode on a common (common electrode) side is formed on a substrate, an electrode on a segment (signal electrode) side is formed on the substrate, and an alignment film is coated on each electrode. This is a structure in which substrates are bonded via a liquid crystal layer.
[0003]
4 and 5 show a segment side electrode pattern in a conventional STN type liquid crystal display device. FIG. 4 is a plan view of such a segment side electrode pattern, and FIG. 5 is an enlarged view of a main part thereof.
[0004]
Hereinafter, an inspection method for such an electrode pattern will be described.
Reference numeral 1 denotes a plurality of segment-side electrodes formed in a stripe pattern on the substrate, and these segment-side electrodes are arranged in the display area. The pitch of each electrode is about 60 to 100 μm.
[0005]
In addition, a plurality of segment-side electrodes 1 are formed around the display area of the substrate to form lead-in wirings 2 at the ends of the segment-side electrodes 1, and serve as connection portions 3 for TAB and COF. The pitch of these lead-in wires 2 is about 60 to 70 μm.
[0006]
In the future, the electrodes in the display area will be further miniaturized, and accordingly, the lead-in wiring 2 tends to have a fine pitch.
[0007]
The inspection for checking the presence or absence of a short circuit (short circuit) between the segment side electrodes 1 in the STN type liquid crystal display device having the above configuration is performed by a method called a probe method or a tracing method.
[0008]
According to the probe method, when short-circuiting the segment-side electrode 1, the probe 5 is brought into contact with each of the plurality of segment-side electrodes 1 or the connection portions 3 using the short-measurement probe member 4, and the voltage is applied. The short circuit is applied and the presence or absence of a short circuit is confirmed by a single inspection.
[0009]
In the other tracing method, a probe is sequentially brought into contact with a pattern adjacent to the segment side electrode 1 and a voltage is applied to check whether or not a short circuit has occurred.
[0010]
As for such an inspection method, there is the following prior art (see Patent Document 1).
[0011]
This is a technique in which all the terminals are short-circuited every other number for every odd number and every even number, and applied to the both ends with a tester to determine whether there is a short circuit.
[0012]
However, there is a problem that the location where the short circuit occurs is not known.
[0013]
Further, according to another patent document 2, even if it is described that short-circuiting must be performed in a certain unit, the wiring pitch must be widened, and the probe must be dense, In order to determine the value, inspection is performed after the panel is completed. Therefore, if there is a defect, the panel must be repaired after the panel is completed.
[0014]
[Patent Document 1]
JP-A-8-50295 [Patent Document 2]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-185072
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in the tracing method, the inspection is performed at a high speed, and in the case of multi-panning, the advantageous characteristics are exhibited most. However, when the connection portion 3 cannot be set to a sufficient length, In this case, the end of the display unit 1 is physically traced, which results in a fine scratch and foreign matter. This causes a problem in a liquid crystal display device that performs high-precision display. is there.
[0016]
On the other hand, according to the probe system, the inspection can be advantageously performed with the connection portion of the TAB or COF outside the display area, but on the other hand, the use of a probe card results in an expensive inspection and a high running cost. However, there is a problem that the manufacturing cost increases accordingly.
[0017]
Further, according to the recent liquid crystal display device, the pattern pitch of the connecting portion 3 connected to the segment side electrode is further finer, and the pitch of the probe 5 is also higher with this. When the resolution is increased, a slight build-in error of the probe pitch or an inherent error of the device itself may cause an erroneous determination.For example, it may be determined that there is a short even though there is no short. there were.
[0018]
Accordingly, it is an object of the present invention to provide a liquid crystal display device in which the manufacturing cost is reduced and the inspection reliability is improved.
[0019]
Another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device suitable for a high definition liquid crystal panel.
[0020]
Still another object of the present invention is to provide a short measuring probe used for testing the liquid crystal display device of the present invention.
[0021]
[Means for Solving the Problems]
The liquid crystal display device of the present invention has a structure in which a plurality of one electrodes are arranged in a stripe pattern on a substrate, and one member formed by coating an alignment film on the one electrode and a plurality of other electrodes formed in a stripe pattern on the substrate. The other member formed by arraying and covering the other electrode with an alignment film is disposed facing each other via a liquid crystal layer to form a display region, and a plurality of members are formed around the display region of the substrate of the one member. A super-twisted nematic liquid crystal display device in which a terminal portion is formed by extending one of the electrodes, and a first terminal portion in which the terminal portion is provided at a longer interval than a display region; One electrode was formed and a conducting wire for electrically conducting the plurality of first terminal portions was arranged so that the portions alternated with the second terminal portions provided at intervals shorter than the display area. It is characterized by the following.
[0022]
Further, the liquid crystal display device according to the present invention is characterized in that one electrode is a segment side electrode and the other electrode is a common side electrode.
[0023]
Another liquid crystal display device according to the present invention is characterized in that the width of the second terminal portion is larger than the width of the one electrode.
[0024]
Still another liquid crystal display device according to the present invention is characterized in that the energizing line is removed.
[0025]
Further, the short-measurement probe member of the present invention includes a probe provided in the liquid crystal display device of the present invention, the probe being in contact with the first terminal portion, and a probe being in contact with the second terminal portion. I do.
[Action]
According to the liquid crystal display device of the present invention, as in the above configuration, in a configuration in which a plurality of one electrodes, for example, the segment side electrodes are extended around the display region to form a terminal portion, the terminal portion is formed in the display region. The first terminal portion provided at a longer interval and the second terminal portion provided at an interval shorter than the display area are alternately formed, and the segment-side electrode is formed, and a plurality of first terminals are formed. With the provision of the conducting wire for electrically conducting the part, the conducting test is performed between the conducting wire and the second terminal using a short-measurement probe member, thereby determining whether there is a short circuit. .
[0026]
In an inspection with such a configuration, the scanning channel of the tester is halved, thereby reducing the measurement time, and the required time is almost halved.
[0027]
Further, according to the liquid crystal display device of the present invention, the width of the second terminal portion is made larger than the width of the segment side electrode, that is, by forming an enlarged probe pad, a probe is provided for each pad. The contact can be surely made, and thus, even in the case of the segment side electrode with high definition, erroneous determination in such a contact is reduced, the reliability can be significantly increased, and the accuracy of the short determination can be significantly increased. be able to.
[0028]
Further, the probe member for short-circuit measurement of the present invention includes a probe provided in the liquid crystal display device of the present invention for contacting the first terminal portion and a probe for contacting the second terminal portion. , The frequency of contact by the probe is reduced, and in that respect, the accuracy of the short-circuit determination can be significantly improved.
[0029]
As described above, with the liquid crystal display device and the short measurement probe member of the present invention, the reliability of the short inspection can be increased, the required time can be shortened, and the manufacturing cost can be reduced accordingly.
[0030]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 shows an example of a liquid crystal display device of the present invention, which is a simple matrix type liquid crystal display device of the STN (super twisted nematic) type. FIG. 2 is a plan view of a wiring pattern forming one electrode, for example, a segment-side electrode and extending therefrom to form a terminal portion, and FIG. 3 is an enlarged view of a main part thereof.
[0031]
According to the liquid crystal display device A, the liquid crystal display panel has a combined structure of the one member and the other member, in which a liquid crystal layer is sealed between the two glass substrates 6 and 7 to provide a display area. It becomes.
[0032]
These have a structure in which they are bonded together with a seal portion, and a liquid crystal layer is sealed in a region surrounded by the seal portion. The seal portion is made of an epoxy-based thermosetting resin. In addition, a large amount of spacers made of resin spheres are dispersed between the glass substrates 6 and 7, whereby the gap between the substrates 6 and 7 is kept constant and liquid crystal is sealed therein.
[0033]
Then, on the glass substrate 7 which is one member of the liquid crystal display panel, a stripe-shaped transparent electrode group (segment-side electrode) made of ITO, which is a large number of parallel electrodes, is sequentially formed on the glass substrate 7, Further, an alignment film made of a polyimide resin rubbed in a certain direction is formed on the stripe-shaped transparent electrode group.
[0034]
Also, on the glass substrate 6 as the other member, a stripe-shaped transparent electrode group (common-side electrode) made of ITO, which is a large number of the other electrodes, is sequentially formed on the glass substrate 6, and the stripe-shaped transparent electrode group is further formed. An alignment film made of a polyimide resin rubbed in a certain direction is formed on the electrode group.
[0035]
The liquid crystal display device A of this example has a transmission type device configuration, and will be described in detail below. The other member of the glass substrate 6 is as follows.
[0036]
On the glass substrate 6, for example, a colored layer is formed as a color filter, and an overcoat layer made of an acrylic resin is further coated so as to cover the colored layer. A transparent electrode (the other electrode) made of ITO and an alignment film made of a polyimide resin rubbed in a certain direction are sequentially laminated. Note that an insulating film made of resin, SiO 2 or the like may be interposed between the transparent electrode and the alignment film.
[0037]
The color filter serving as a colored layer may be formed by a pigment dispersion method, that is, a method in which a photosensitive resist prepared in advance with pigments (red, green, and blue) is applied on a substrate, and photolithography is performed. According to this pigment dispersion method, they can be formed simultaneously in the photolithography.
[0038]
In forming a color filter as a coloring layer, a dyeing method may be used instead of the above-described pigment dispersion method.
[0039]
Next, as one of the members, a stripe-shaped transparent electrode group (one electrode) made of ITO arranged in a large number in parallel on the glass substrate 7, and a polyimide resin rubbed in a certain direction on the stripe-shaped transparent electrode group is further formed. Is formed.
[0040]
Next, the glass substrate 6 and the glass substrate 7 are interposed (intersecting) at right angles through a liquid crystal layer made of a chiral nematic liquid crystal twisted at an angle of, for example, 200 to 260 °. Affix with a seal member. A large number of spacers are arranged between the glass substrate 6 and the glass substrate 7 to keep the thickness of the liquid crystal layer constant.
[0041]
Further, a retardation plate made of polycarbonate and an iodine-based polarizing plate are sequentially stacked outside the glass substrate 6, and a retardation plate made of polycarbonate and an iodine-based polarizing plate are sequentially stacked outside the glass substrate 7. In these arrangements, the adhesive is applied by applying an adhesive made of an acrylic material.
[0042]
Then, as shown in FIG. 1, the backlight 8 is disposed in close contact with the polarizing plate on the glass substrate 7 side.
[0043]
As shown in the figure, a backlight 8 has a light source section 10 such as an LED or a cold cathode tube arranged on an end face of a rectangular light guide plate 9 made of a transparent material such as an acrylic resin. The reflector 11 covers a cold cathode tube or the like. A light scattering plate 12 and a lens sheet 13 are sequentially laminated on the light exit surface of the light guide plate 9, and a light reflection plate 14 is provided on the other main surface.
[0044]
The light diffusing plate 12 is made of a white sheet such as PC or PET, and is provided with fine irregularities (for example, embossing) on one surface to scatter light emitted from the light guide plate 9.
[0045]
The liquid crystal display panel having the above configuration is disposed on the backlight 8 having such a configuration, and the backlight 8 and the liquid crystal display panel are supported and fixed by a housing (not shown).
[0046]
In the liquid crystal display device A of the present invention, when manufacturing such a device configuration, as shown in FIG. 2, a striped transparent electrode is provided around the display area of the glass substrate 7, that is, outside the sealing member. The group (segment-side electrode) 15 is extended to form a lead-in wiring 17, and a terminal 16 for TAB or COF is formed. The pitch of these lead-in wires 17 is, for example, about 60 to 70 μm.
[0047]
The terminal portion 16 has one electrode (segment) such that a first terminal portion 16a provided at an interval longer than the display region and a second terminal portion 16b provided at an interval shorter than the display region alternate. A side electrode 15) is formed, and a conducting wire 18 for electrically connecting the plurality of first terminal portions 16a is provided.
[0048]
Each of the lead-in wiring 17, the terminal portion 16, and the conducting wire 18 may be formed as a single layer using a transparent conductive material made of ITO, or a chromium (Cr) metal layer may be formed on such a transparent conductive layer. An aluminum (Al) metal layer may be sequentially laminated.
[0049]
Further, probe pads 20 and 21 for applying the probes 19a and 19b of the short measurement probe member are formed on the first terminal portion 16a and the second terminal portion 16b, respectively. The short measurement probe member of the present invention is configured to have at least the same probe as the short measurement probe member 4 shown in FIG. 4 described above.
[0050]
The probe 19a corresponds to the first terminal portion 16a, and since the plurality of first terminal portions 16a are at the same potential by the conducting wire 18, at least one probe pad 20 is provided, At least one probe 19a may be provided corresponding to the probe pad 20.
[0051]
On the other hand, the probe pads 21 are formed for the respective second terminal portions 16b, and the respective probes 19b are arranged corresponding to the respective probe pads 21.
[0052]
As described above, according to the liquid crystal display device A of the present invention, the first terminals 16a provided at intervals longer than the display area and the second terminals provided at intervals shorter than the display area as in the above configuration. The segment-side electrodes 15 are formed so that the portions 16b alternate with each other, and the conducting wires 18 that electrically conduct the plurality of first terminal portions 16a are provided. An energization test is performed on the second terminal portion 16b using a short-measurement probe member, thereby determining whether or not the segment-side electrode 15 is short-circuited.
[0053]
In an inspection with such a configuration, the scanning channel of the tester was halved, which allowed the measurement time to be reduced and the required time to be reduced to almost half.
[0054]
Further, according to the present invention, the width of the second terminal portion 16b is made larger than the width of the segment-side electrode, that is, by forming the enlarged probe pads 20, 21, the respective pads 20, 21 On the other hand, the probes 19a and 19b can be reliably brought into contact with each other, so that even in the case of a segment electrode having a high definition, erroneous determination in such a contact can be reduced, and the reliability can be significantly increased. Was able to significantly improve the accuracy of the method.
[0055]
Further, the short-measurement probe member of the present invention includes a probe 19a provided on the liquid crystal display device A of the present invention for contacting the first terminal portion 16a and a probe 19b for contacting the second terminal portion 16b. As a result, the total number of these probes was reduced, whereby the frequency of contact by the probes was reduced, and in that respect, the accuracy of short-circuit determination could be significantly improved.
[0056]
Therefore, with the liquid crystal display device A and the short measurement probe member of the present invention, the reliability of the short inspection was improved, the required time was shortened, and the manufacturing cost was reduced accordingly.
[0057]
Further, according to the present invention, the width of the second terminal portion 16b is made larger than the width of the segment-side electrode 15, that is, as shown in FIG. The contact area of the probe 19b can be surely brought into contact with each pad 21. Accordingly, even if the segment side electrode 15 has a high definition, an erroneous determination in such a contact can be made. As a result, the reliability was significantly improved, and the accuracy of the short-circuit determination was significantly improved.
[0058]
It is to be noted that such an operation and effect is exerted not only on the probe pad 21 but also on the probe pad 20.
[0059]
Actually, the above-described liquid crystal display device A is used after removing the energizing line 18 along the cutting line PP shown in FIG.
[0060]
Further, the short-measurement probe member of the present invention includes a probe 19a provided in the liquid crystal display device A of the present invention for contacting the first terminal portion 16a and a probe 19b for contacting the second terminal portion 16b. As a result, the total number of probes was reduced, thereby reducing the frequency of contact with the probes, and in that respect, the accuracy of short-circuit determination was significantly improved.
[0061]
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiment, and various changes and improvements may be made without departing from the scope of the present invention.
[0062]
For example, according to the present embodiment, a description has been given of a transmissive device configuration using a combination of a liquid crystal display panel and a backlight, but the same applies to a reflective device configuration or a transflective device configuration instead. It has a function and effect.
[0063]
According to the present embodiment, one electrode is a segment-side electrode and the other electrode is a common-side electrode. Alternatively, one electrode is a common-side electrode and the other electrode is a segment-side electrode. There may be.
[0064]
【The invention's effect】
As described above, according to the liquid crystal display device of the present invention, in a configuration in which a plurality of one electrodes, for example, the segment side electrodes are extended around the display region to form a terminal portion, the terminal portion is longer than the display region. The first terminal portions provided at intervals and the second terminal portions provided at intervals shorter than the display area are alternately formed, and the segment side electrodes are formed, and the plurality of first terminal portions are formed. By arranging the conducting wire that electrically conducts, when conducting the conducting test using the probe member for short measurement, the scanning channel of the tester is halved, thereby shortening the measuring time, and almost halving. As a result, it is possible to provide a high-definition liquid crystal display device with reduced manufacturing costs and improved inspection reliability.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic sectional view of a liquid crystal display device of the present invention.
FIG. 2 is a plan view of a wiring pattern in the liquid crystal display device of the present invention.
FIG. 3 is an enlarged view of a main part of a wiring pattern in the liquid crystal display device of the present invention.
FIG. 4 is a plan view of a wiring pattern in a conventional liquid crystal display device.
FIG. 5 is an enlarged view of a main part of a wiring pattern in a conventional liquid crystal display device.
[Explanation of symbols]
A: liquid crystal display devices 6, 7, glass substrate 8: backlight 15: segment side electrode 16: terminal portion 16a: first terminal portion 16b: second Terminal portion 17: lead-in wiring 18: conducting wires 19a, 19b: probes 20, 21: probe pad