JP2003347149A - 金属転写シート、金属転写シートの製造方法およびセラミックコンデンサの製造方法 - Google Patents
金属転写シート、金属転写シートの製造方法およびセラミックコンデンサの製造方法Info
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- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 317
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 317
- 238000012546 transfer Methods 0.000 title claims abstract description 96
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 195
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 109
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims abstract description 42
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 33
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical group [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 198
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 104
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 51
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 40
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 39
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 33
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 5
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 19
- 239000010408 film Substances 0.000 description 182
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 58
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 20
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 14
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 11
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 11
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 10
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 10
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 9
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 9
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 9
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 8
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 6
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 238000001978 electrochemical passivation Methods 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000006388 chemical passivation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000002848 electrochemical method Methods 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001643 poly(ether ketone) Polymers 0.000 description 1
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 229920006289 polycarbonate film Polymers 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 150000003457 sulfones Chemical class 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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- C23C28/02—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D1/00—Electroforming
- C25D1/04—Wires; Strips; Foils
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D5/00—Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
- C25D5/34—Pretreatment of metallic surfaces to be electroplated
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/20—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern
- H05K3/205—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern using a pattern electroplated or electroformed on a metallic carrier
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
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- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12771—Transition metal-base component
- Y10T428/12861—Group VIII or IB metal-base component
- Y10T428/12882—Cu-base component alternative to Ag-, Au-, or Ni-base component
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- Y10T428/12771—Transition metal-base component
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 剥離力が小さく、簡易かつ確実に転写するこ
とができる金属転写シート、その金属転写シートの製造
方法、および、その金属転写シートを用いて金属層を転
写することにより、信頼性の高いセラミックコンデンサ
を、小型・薄層にて生産効率良く製造することのでき
る、セラミックコンデンサの製造方法を提供すること。 【解決手段】 キャリアフィルム1上に、スパッタリン
グ法や電解めっき法により第1金属層2を形成した後、
これをめっき浴に浸漬して、第1金属層2側を陽極とす
る電圧の印加により不働態膜3を形成し、極性を反転さ
せ、不働態膜3側を陰極とする電圧の印加により第2金
属層4を形成する。これにより、第1金属層2と第2金
属層4とが不働態膜3を介して積層される金属転写シー
ト5を得て、第2金属層4を、セラミックグリーンシー
ト11に内部電極として転写する。
とができる金属転写シート、その金属転写シートの製造
方法、および、その金属転写シートを用いて金属層を転
写することにより、信頼性の高いセラミックコンデンサ
を、小型・薄層にて生産効率良く製造することのでき
る、セラミックコンデンサの製造方法を提供すること。 【解決手段】 キャリアフィルム1上に、スパッタリン
グ法や電解めっき法により第1金属層2を形成した後、
これをめっき浴に浸漬して、第1金属層2側を陽極とす
る電圧の印加により不働態膜3を形成し、極性を反転さ
せ、不働態膜3側を陰極とする電圧の印加により第2金
属層4を形成する。これにより、第1金属層2と第2金
属層4とが不働態膜3を介して積層される金属転写シー
ト5を得て、第2金属層4を、セラミックグリーンシー
ト11に内部電極として転写する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属転写シート、
金属転写シートの製造方法およびセラミックコンデンサ
の製造方法に関し、詳しくは、金属層を転写することの
できる金属転写シート、その金属転写シートの製造方
法、および、その金属転写シートを用いて金属層を転写
するセラミックコンデンサの製造方法に関する。
金属転写シートの製造方法およびセラミックコンデンサ
の製造方法に関し、詳しくは、金属層を転写することの
できる金属転写シート、その金属転写シートの製造方
法、および、その金属転写シートを用いて金属層を転写
するセラミックコンデンサの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、積層セラミックコンデンサの
内部電極など、電子部品の電極を形成する方法として、
スクリーン印刷法などが知られているが、近年、大容量
かつ小型化を図るべく、転写技術を用いて、電極を薄層
で形成することが提案されている。
内部電極など、電子部品の電極を形成する方法として、
スクリーン印刷法などが知られているが、近年、大容量
かつ小型化を図るべく、転写技術を用いて、電極を薄層
で形成することが提案されている。
【0003】このような転写技術を用いる方法として、
例えば、特許第2990621号公報には、(a)蒸着
によりフィルム上に第1の金属層を形成するステップ
と、(b)湿式めっきにより第1の金属層の上に第2の
金属層を形成するステップと、(c)第1および第2の
金属層をパターニングするステップと、(d)金属層を
覆うように、フィルム上にセラミックのスラリーをコー
ティングしてセラミックグリーンシートを形成するステ
ップと、(e)フィルムに支持された金属一体化グリー
ンシートをセラミックグリーンシートまたは他の金属一
体化グリーンシート上に圧着し積層するステップと、
(f)フィルムを剥離するステップと、(g)積層した
セラミックグリーンシートを焼成するステップとを備え
る積層セラミック電子部品の製造方法が記載されてい
る。
例えば、特許第2990621号公報には、(a)蒸着
によりフィルム上に第1の金属層を形成するステップ
と、(b)湿式めっきにより第1の金属層の上に第2の
金属層を形成するステップと、(c)第1および第2の
金属層をパターニングするステップと、(d)金属層を
覆うように、フィルム上にセラミックのスラリーをコー
ティングしてセラミックグリーンシートを形成するステ
ップと、(e)フィルムに支持された金属一体化グリー
ンシートをセラミックグリーンシートまたは他の金属一
体化グリーンシート上に圧着し積層するステップと、
(f)フィルムを剥離するステップと、(g)積層した
セラミックグリーンシートを焼成するステップとを備え
る積層セラミック電子部品の製造方法が記載されてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、特許第29
90621号公報に記載される方法では、フィルムに対
して、蒸着により形成された第1の金属層の付着力が小
さい(剥離力が小さい)ことを利用するものであるが、
この方法では、それらの剥離強度を十分に小さくするこ
とができず、実際には、離型剤を塗布する必要があり、
積層セラミックコンデンサの大容量化に伴なって、積層
数を増加させる場合には、生産効率の向上を図ることが
できず、また、離型剤の残存によって信頼性が低下する
という不具合がある。
90621号公報に記載される方法では、フィルムに対
して、蒸着により形成された第1の金属層の付着力が小
さい(剥離力が小さい)ことを利用するものであるが、
この方法では、それらの剥離強度を十分に小さくするこ
とができず、実際には、離型剤を塗布する必要があり、
積層セラミックコンデンサの大容量化に伴なって、積層
数を増加させる場合には、生産効率の向上を図ることが
できず、また、離型剤の残存によって信頼性が低下する
という不具合がある。
【0005】本発明は、このような不具合に鑑みなされ
たものであり、その目的とするところは、剥離力が小さ
く、簡易かつ確実に転写することができる金属転写シー
ト、その金属転写シートの製造方法、および、その金属
転写シートを用いて金属層を転写することにより、信頼
性の高いセラミックコンデンサを、小型・薄層にて生産
効率良く製造することのできる、セラミックコンデンサ
の製造方法を提供することにある。
たものであり、その目的とするところは、剥離力が小さ
く、簡易かつ確実に転写することができる金属転写シー
ト、その金属転写シートの製造方法、および、その金属
転写シートを用いて金属層を転写することにより、信頼
性の高いセラミックコンデンサを、小型・薄層にて生産
効率良く製造することのできる、セラミックコンデンサ
の製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の金属転写シートは、第1金属層と第2金属
層とが、不働態膜を介して積層されていることを特徴と
している。
め、本発明の金属転写シートは、第1金属層と第2金属
層とが、不働態膜を介して積層されていることを特徴と
している。
【0007】また、本発明の金属転写シートにおいて、
前記第1金属層がニッケルであってもよく、前記第2金
属層がニッケルであってもよく、前記第2金属層が銅で
あってもよい。また、前記第2金属層が複数の金属層か
らなるものでもよく、その場合には、前記第2金属層が
ニッケル層および銅層からなるものでもよい。
前記第1金属層がニッケルであってもよく、前記第2金
属層がニッケルであってもよく、前記第2金属層が銅で
あってもよい。また、前記第2金属層が複数の金属層か
らなるものでもよく、その場合には、前記第2金属層が
ニッケル層および銅層からなるものでもよい。
【0008】また、前記第1金属層が、蒸着法または電
解めっき法により形成され、前記第2金属層が、電解め
っき法により形成され、さらには、前記不働態膜が、め
っき浴内において、前記第2金属層の電解めっきに対し
て極性が反転された状態で、電圧が印加されることによ
り、形成されていることが好ましい。
解めっき法により形成され、前記第2金属層が、電解め
っき法により形成され、さらには、前記不働態膜が、め
っき浴内において、前記第2金属層の電解めっきに対し
て極性が反転された状態で、電圧が印加されることによ
り、形成されていることが好ましい。
【0009】また、本発明は、第1金属層を用意する工
程、めっき浴内において、前記第1金属層側を陽極とし
て電圧を印加することにより、不働態膜を形成する工
程、めっき浴内において、前記不働態膜側を陰極として
電圧を印加することにより、第2金属層を形成する工程
を備える、金属転写シートの製造方法を含んでいる。こ
の方法では、前記不働態膜を形成する工程において、2
〜10秒間電圧を印加することが好ましい。
程、めっき浴内において、前記第1金属層側を陽極とし
て電圧を印加することにより、不働態膜を形成する工
程、めっき浴内において、前記不働態膜側を陰極として
電圧を印加することにより、第2金属層を形成する工程
を備える、金属転写シートの製造方法を含んでいる。こ
の方法では、前記不働態膜を形成する工程において、2
〜10秒間電圧を印加することが好ましい。
【0010】さらに、本発明は、本発明の金属転写シー
トの第2金属層を、セラミックグリーンシートに転写す
る工程、前記第2金属層が転写されたセラミックグリー
ンシートを積層する工程、積層されたセラミックグリー
ンシートを焼成する工程を備える、セラミックコンデン
サの製造方法をも含んでいる。
トの第2金属層を、セラミックグリーンシートに転写す
る工程、前記第2金属層が転写されたセラミックグリー
ンシートを積層する工程、積層されたセラミックグリー
ンシートを焼成する工程を備える、セラミックコンデン
サの製造方法をも含んでいる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の金属転写シート
の製造方法の一実施形態を示す工程図である。以下、図
1参照して、本発明の金属転写シートの一実施形態を製
造する方法を説明する。
の製造方法の一実施形態を示す工程図である。以下、図
1参照して、本発明の金属転写シートの一実施形態を製
造する方法を説明する。
【0012】まず、この方法では、図1(a)に示すよ
うに、キャリアフィルム1を用意する。キャリアフィル
ム1は、特に制限されず、公知のキャリアフィルムを用
いることができ、例えば、ポリエチレンフィルム、ポリ
プロピレンフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリ塩化
ビニルフィルム、ポリエステルフィルム、ポリカーボネ
ートフィルム、ポリイミドフィルム、ポリサルフォンフ
ィルム、ポリエーテルサルフォンフィルム、ポリアミド
フィルム、ポリアミドイミドフィルム、ポリエーテルケ
トンフィルム、ポリフェニレンスルフィドフィルムなど
の公知のプラスチックフィルムが挙げられる。これらの
うち、寸法安定性、耐熱性の点では、ポリイミドフィル
ムが好ましく、材料コストの点では、ポリエチレンテレ
フタレートフィルムなどのポリエステルフィルムが好ま
しく用いられる。また、キャリアフィルム1の厚みは、
特に制限されないが、例えば、20〜40μm程度であ
る。
うに、キャリアフィルム1を用意する。キャリアフィル
ム1は、特に制限されず、公知のキャリアフィルムを用
いることができ、例えば、ポリエチレンフィルム、ポリ
プロピレンフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリ塩化
ビニルフィルム、ポリエステルフィルム、ポリカーボネ
ートフィルム、ポリイミドフィルム、ポリサルフォンフ
ィルム、ポリエーテルサルフォンフィルム、ポリアミド
フィルム、ポリアミドイミドフィルム、ポリエーテルケ
トンフィルム、ポリフェニレンスルフィドフィルムなど
の公知のプラスチックフィルムが挙げられる。これらの
うち、寸法安定性、耐熱性の点では、ポリイミドフィル
ムが好ましく、材料コストの点では、ポリエチレンテレ
フタレートフィルムなどのポリエステルフィルムが好ま
しく用いられる。また、キャリアフィルム1の厚みは、
特に制限されないが、例えば、20〜40μm程度であ
る。
【0013】なお、キャリアフィルム1には、第1金属
層2が形成される表面に、例えば、アルカリ処理やプラ
ズマ処理などの公知の表面処理を施してもよい。
層2が形成される表面に、例えば、アルカリ処理やプラ
ズマ処理などの公知の表面処理を施してもよい。
【0014】次いで、この方法では、図1(b)に示す
ように、キャリアフィルム1上に、第1金属層2を形成
する。第1金属層2の形成は、特に制限されないが、例
えば、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ
リング法などの蒸着法、例えば、電解めっき法、無電解
めっき法などのめっき法などが用いられる。
ように、キャリアフィルム1上に、第1金属層2を形成
する。第1金属層2の形成は、特に制限されないが、例
えば、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ
リング法などの蒸着法、例えば、電解めっき法、無電解
めっき法などのめっき法などが用いられる。
【0015】上記の中でも、表面平滑性が良好である
と、後工程での第2金属層4の平滑性も良好となること
から、蒸着法が好ましく、特にスパッタリング法が好ま
しい。
と、後工程での第2金属層4の平滑性も良好となること
から、蒸着法が好ましく、特にスパッタリング法が好ま
しい。
【0016】第1金属層2を形成する金属としては、特
に制限されず、公知の金属を用いることができ、例え
ば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、C
u、Pd、Au、Agおよびこれらの合金などが挙げら
れる。これらのうち、電解めっきなどによる第1金属層
2の形成に引き続いて不働態膜3を形成する場合には、
例えば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、
Cuなどの不働態膜3を形成できる金属が用いられ、好
ましくは、Ni、Cuが用いられる。
に制限されず、公知の金属を用いることができ、例え
ば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、C
u、Pd、Au、Agおよびこれらの合金などが挙げら
れる。これらのうち、電解めっきなどによる第1金属層
2の形成に引き続いて不働態膜3を形成する場合には、
例えば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、
Cuなどの不働態膜3を形成できる金属が用いられ、好
ましくは、Ni、Cuが用いられる。
【0017】また、このような第1金属層2としては、
例えば、蒸着法によって金属薄膜のみを形成してもよ
く、また、例えば、蒸着法によって金属薄膜を形成し、
その金属薄膜上に、電解めっき法によって電解めっき層
を形成してもよく、さらには、例えば、無電解めっき法
によって金属薄膜を形成し、その金属薄膜上に、電解め
っき法によって電解めっき層を形成してもよく、その層
数や形成方法の組み合わせは、適宜選択することができ
る。
例えば、蒸着法によって金属薄膜のみを形成してもよ
く、また、例えば、蒸着法によって金属薄膜を形成し、
その金属薄膜上に、電解めっき法によって電解めっき層
を形成してもよく、さらには、例えば、無電解めっき法
によって金属薄膜を形成し、その金属薄膜上に、電解め
っき法によって電解めっき層を形成してもよく、その層
数や形成方法の組み合わせは、適宜選択することができ
る。
【0018】また、第1金属層2の厚みは、特に制限さ
れないが、例えば、金属薄膜では、300〜5000Å
程度、電解めっき層では、0.1〜1.0μm程度であ
る。厚みが、300Å未満であると、電気抵抗が高くな
って、十分なめっき電流を供給することができない場合
がある。
れないが、例えば、金属薄膜では、300〜5000Å
程度、電解めっき層では、0.1〜1.0μm程度であ
る。厚みが、300Å未満であると、電気抵抗が高くな
って、十分なめっき電流を供給することができない場合
がある。
【0019】そして、この方法では、図1(c)に示す
ように、第1金属層2の表面に、不働態膜3を形成す
る。不働態膜3の形成は、特に制限されないが、例え
ば、電気化学的不働態化法や化学的不働態化法などの公
知のパシベーション法が用いられる。好ましくは、電気
化学的不働態化法により、アノードまたはカソードを分
極させ、不働態領域あるいは過不働態領域での電位コン
トロールにより、不働態膜3を形成する。不働態膜3を
形成する金属としては、例えば、Fe、Ni、Cr、C
o、Pb、Sn、Zn、Cuなどが挙げられ、好ましく
は、Ni、Cuが用いられる。Ni、Cuを用いること
により、金属転写シート5の剥離力のさらなる低減化を
図ることができる。
ように、第1金属層2の表面に、不働態膜3を形成す
る。不働態膜3の形成は、特に制限されないが、例え
ば、電気化学的不働態化法や化学的不働態化法などの公
知のパシベーション法が用いられる。好ましくは、電気
化学的不働態化法により、アノードまたはカソードを分
極させ、不働態領域あるいは過不働態領域での電位コン
トロールにより、不働態膜3を形成する。不働態膜3を
形成する金属としては、例えば、Fe、Ni、Cr、C
o、Pb、Sn、Zn、Cuなどが挙げられ、好ましく
は、Ni、Cuが用いられる。Ni、Cuを用いること
により、金属転写シート5の剥離力のさらなる低減化を
図ることができる。
【0020】より具体的には、例えば、次に述べる第2
金属層4を電解めっきにより形成する場合には、めっき
浴に、第1金属層2が積層されているキャリアフィルム
1を浸漬して、第2金属層4を電解めっきする場合に対
して、極性を反転させた状態(通常、第1金属層2側が
陽極となる状態)で電圧を印加すればよい。
金属層4を電解めっきにより形成する場合には、めっき
浴に、第1金属層2が積層されているキャリアフィルム
1を浸漬して、第2金属層4を電解めっきする場合に対
して、極性を反転させた状態(通常、第1金属層2側が
陽極となる状態)で電圧を印加すればよい。
【0021】このような方法によって、不働態膜3を形
成すれば、制御の容易なパラメータである印加電圧およ
び印加時間をコントロールすることによって、不働態膜
3を形成することができるので、剥離度合を正確かつ確
実に管理して、安定した転写性能を実現できる金属転写
シート5を製造することができる。また、電解めっき装
置を用いて、第2金属層4の電解めっきに対して極性を
反転させるのみで、不働態膜3を形成することができる
ので、簡易かつ生産効率よく、金属転写シート5を製造
することができる。
成すれば、制御の容易なパラメータである印加電圧およ
び印加時間をコントロールすることによって、不働態膜
3を形成することができるので、剥離度合を正確かつ確
実に管理して、安定した転写性能を実現できる金属転写
シート5を製造することができる。また、電解めっき装
置を用いて、第2金属層4の電解めっきに対して極性を
反転させるのみで、不働態膜3を形成することができる
ので、簡易かつ生産効率よく、金属転写シート5を製造
することができる。
【0022】例えば、ニッケルなどにより不働態膜3を
形成する場合には、ニッケルめっき浴に、第1金属層2
が積層されているキャリアフィルム1を浸漬して、第1
金属層2側を陽極として、例えば、+0.2〜+5V、
好ましくは、+0.4〜+2Vの電圧を、例えば、0.
1〜60秒間、好ましくは、2〜10秒間印加する。
0.1秒未満では、不働態膜3が形成されにくい傾向が
あり、また、60秒より長いと、第1金属層2にダメー
ジを与えてしまう場合がある。
形成する場合には、ニッケルめっき浴に、第1金属層2
が積層されているキャリアフィルム1を浸漬して、第1
金属層2側を陽極として、例えば、+0.2〜+5V、
好ましくは、+0.4〜+2Vの電圧を、例えば、0.
1〜60秒間、好ましくは、2〜10秒間印加する。
0.1秒未満では、不働態膜3が形成されにくい傾向が
あり、また、60秒より長いと、第1金属層2にダメー
ジを与えてしまう場合がある。
【0023】なお、このような電圧の印加は、例えば、
参照電極をめっき浴に挿入して、その参照電極に対する
作用電極(第1金属層2)の電位を計測しながら電流を
流すポテンシオスタットなどの電気化学的計測方法によ
って、電位コントロールすることが好ましい。
参照電極をめっき浴に挿入して、その参照電極に対する
作用電極(第1金属層2)の電位を計測しながら電流を
流すポテンシオスタットなどの電気化学的計測方法によ
って、電位コントロールすることが好ましい。
【0024】また、不働態膜3の上記した形成条件(印
加電圧および印加時間など)は、特にニッケルに限定さ
れるものではなく、その他の金属においても適用するこ
とができる。また、通常、不働態膜3の形成時は、電解
めっき時に比べて電流の絶対値が非常に小さいため、そ
の他の金属においては、通常の電解めっき条件を基準と
して、極性を反転させた電圧を目安に、印加電圧を決定
することができる。
加電圧および印加時間など)は、特にニッケルに限定さ
れるものではなく、その他の金属においても適用するこ
とができる。また、通常、不働態膜3の形成時は、電解
めっき時に比べて電流の絶対値が非常に小さいため、そ
の他の金属においては、通常の電解めっき条件を基準と
して、極性を反転させた電圧を目安に、印加電圧を決定
することができる。
【0025】これによって、第1金属層2の表面に、数
十Å程度の不働態膜3を形成することができる。この不
働態膜3は、導体もしくは半導体であるため、次に第2
金属層4を、電解めっきによって形成することができ
る。
十Å程度の不働態膜3を形成することができる。この不
働態膜3は、導体もしくは半導体であるため、次に第2
金属層4を、電解めっきによって形成することができ
る。
【0026】次いで、この方法では、図1(d)に示す
ように、不働態膜3の表面に第2金属層4を形成して、
金属転写シート5を得る。第2金属層4の形成は、特に
制限されないが、第1金属層2の形成と同様に、例え
ば、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリ
ング法などの蒸着法、例えば、電解めっき法、無電解め
っき法などのめっき法などが用いられ、好ましくは、電
解めっき法が用いられる。
ように、不働態膜3の表面に第2金属層4を形成して、
金属転写シート5を得る。第2金属層4の形成は、特に
制限されないが、第1金属層2の形成と同様に、例え
ば、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリ
ング法などの蒸着法、例えば、電解めっき法、無電解め
っき法などのめっき法などが用いられ、好ましくは、電
解めっき法が用いられる。
【0027】第2金属層4を形成する金属としては、特
に制限されず、公知の金属を用いることができ、例え
ば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、C
u、Pd、Ir、Au、Ag、Pt、Rhおよびこれら
の合金などが挙げられる。これらのうち、不働態膜3の
形成に引き続いて第2金属層4を形成する場合には、例
えば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、C
uなどの不働態膜3を形成する金属がそのまま用いら
れ、好ましくは、Ni、Cuが用いられる。Ni、Cu
を用いることにより、金属転写シート5の剥離力のさら
なる低減化を図ることができる。
に制限されず、公知の金属を用いることができ、例え
ば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、C
u、Pd、Ir、Au、Ag、Pt、Rhおよびこれら
の合金などが挙げられる。これらのうち、不働態膜3の
形成に引き続いて第2金属層4を形成する場合には、例
えば、Fe、Ni、Cr、Co、Pb、Sn、Zn、C
uなどの不働態膜3を形成する金属がそのまま用いら
れ、好ましくは、Ni、Cuが用いられる。Ni、Cu
を用いることにより、金属転写シート5の剥離力のさら
なる低減化を図ることができる。
【0028】また、このような第2金属層4としては、
例えば、電解めっき法によって電解めっき層を複数形成
してもよく、その層数や形成方法の組み合わせは、適宜
選択することができる。また、第2金属層4の厚みは、
特に制限されないが、例えば、0.1〜3μm程度であ
る。
例えば、電解めっき法によって電解めっき層を複数形成
してもよく、その層数や形成方法の組み合わせは、適宜
選択することができる。また、第2金属層4の厚みは、
特に制限されないが、例えば、0.1〜3μm程度であ
る。
【0029】より具体的には、例えば、第2金属層4を
電解めっきにより形成する場合には、めっき浴内におい
て、第1金属層2の表面に不働態膜3を形成した後に、
引き続き、その不働態膜3の形成時と極性を反転させた
状態(通常、不働態膜3側が陰極となる状態)で電圧を
印加すればよい。
電解めっきにより形成する場合には、めっき浴内におい
て、第1金属層2の表面に不働態膜3を形成した後に、
引き続き、その不働態膜3の形成時と極性を反転させた
状態(通常、不働態膜3側が陰極となる状態)で電圧を
印加すればよい。
【0030】例えば、ニッケルなどにより第2金属層4
を形成する場合には、ニッケルめっき浴内において、第
1金属層2の表面に不働態膜3を形成した後に、極性を
反転させて、不働態膜3側を陰極として、例えば、電流
密度が−0.5〜−40A/dm2、好ましくは、−
2.0〜−15A/dm2になるように、例えば、1〜
180秒間、好ましくは、5〜60秒間電圧を印加す
る。
を形成する場合には、ニッケルめっき浴内において、第
1金属層2の表面に不働態膜3を形成した後に、極性を
反転させて、不働態膜3側を陰極として、例えば、電流
密度が−0.5〜−40A/dm2、好ましくは、−
2.0〜−15A/dm2になるように、例えば、1〜
180秒間、好ましくは、5〜60秒間電圧を印加す
る。
【0031】なお、このような第2金属層4の形成は、
不働態膜3の形成とは、別途(工業的には、別のライン
で)形成することもできる。
不働態膜3の形成とは、別途(工業的には、別のライン
で)形成することもできる。
【0032】そして、このようにして得られる金属転写
シート5は、第1金属層2と第2金属層4とが、不働態
膜3を介して積層されており、この金属転写シート5を
被転写体に貼着して引き剥がせば、不働態膜3を易剥離
界面として、第2金属層4を、小さい剥離力で簡易かつ
確実に被転写体に転写することができる。
シート5は、第1金属層2と第2金属層4とが、不働態
膜3を介して積層されており、この金属転写シート5を
被転写体に貼着して引き剥がせば、不働態膜3を易剥離
界面として、第2金属層4を、小さい剥離力で簡易かつ
確実に被転写体に転写することができる。
【0033】なお、キャリアフィルム1は、必ずしも必
要ではなく、適宜除去して用いてもよい。
要ではなく、適宜除去して用いてもよい。
【0034】そして、この金属転写シート5は、離型剤
などを用いずとも、第2金属層4を効率良く転写するこ
とができるので、特に制限されないが、例えば、電子部
品の電極や回路基板の配線および端子などの回路パター
ンを形成するために、好適に用いることができる。
などを用いずとも、第2金属層4を効率良く転写するこ
とができるので、特に制限されないが、例えば、電子部
品の電極や回路基板の配線および端子などの回路パター
ンを形成するために、好適に用いることができる。
【0035】次に、このような金属転写シート5におい
て、第2金属層4を予め所定の回路バターンとして形成
する方法について、図2〜図5を参照して、より具体的
に説明する。
て、第2金属層4を予め所定の回路バターンとして形成
する方法について、図2〜図5を参照して、より具体的
に説明する。
【0036】図2に示す方法では、まず、図2(a)に
示すように、上記と同様に、キャリアフィルム1を用意
した後、図2(b)に示すように、スパッタリング法に
より、第1金属層2として第1金属薄膜2aを形成す
る。第1金属薄膜2aとしては、ニッケルや銅などが好
ましく、その厚みが、例えば、300〜3000Åであ
ることが好ましい。次に、この方法では、図2(c)に
示すように、第1金属薄膜2a上に、電解めっき法によ
り、第1金属層2として第1金属めっき層2bを形成す
る。第1金属めっき層2bとしては、ニッケルや銅など
が好ましく、上記したように、第1金属薄膜2aを陰極
として、電圧を印加することにより、形成することがで
きる。なお、第1金属めっき層2bの厚みは、例えば、
0.1〜0.5μmであることが好ましい。その後、こ
の方法では、図2(d)に示すように、第1金属めっき
層2b上に、所定の回路パターンと逆パターンでめっき
レジスト6を形成する。めっきレジスト6は、例えば、
ドライフィルムレジストなどを用いて公知の方法によ
り、所定のレジストパターンとして形成すればよい。
示すように、上記と同様に、キャリアフィルム1を用意
した後、図2(b)に示すように、スパッタリング法に
より、第1金属層2として第1金属薄膜2aを形成す
る。第1金属薄膜2aとしては、ニッケルや銅などが好
ましく、その厚みが、例えば、300〜3000Åであ
ることが好ましい。次に、この方法では、図2(c)に
示すように、第1金属薄膜2a上に、電解めっき法によ
り、第1金属層2として第1金属めっき層2bを形成す
る。第1金属めっき層2bとしては、ニッケルや銅など
が好ましく、上記したように、第1金属薄膜2aを陰極
として、電圧を印加することにより、形成することがで
きる。なお、第1金属めっき層2bの厚みは、例えば、
0.1〜0.5μmであることが好ましい。その後、こ
の方法では、図2(d)に示すように、第1金属めっき
層2b上に、所定の回路パターンと逆パターンでめっき
レジスト6を形成する。めっきレジスト6は、例えば、
ドライフィルムレジストなどを用いて公知の方法によ
り、所定のレジストパターンとして形成すればよい。
【0037】そして、この方法では、図2(e)に示す
ように、第1金属めっき層2bにおけるめっきレジスト
6が形成されていない表面に、不働態膜3を形成し、そ
れに引き続いて、図2(f)に示すように、不働態膜3
の表面に、電解めっき法により、第2金属層4として第
2金属めっき層4aを形成する。
ように、第1金属めっき層2bにおけるめっきレジスト
6が形成されていない表面に、不働態膜3を形成し、そ
れに引き続いて、図2(f)に示すように、不働態膜3
の表面に、電解めっき法により、第2金属層4として第
2金属めっき層4aを形成する。
【0038】不働態膜3の形成は、上記したように、次
に形成する第2金属めっき層4aのめっき浴に、第1金
属めっき層2bおよび第1金属薄膜2aが積層されてい
るキャリアフィルム1を浸漬して、第1金属めっき層2
b側を陽極として、電圧を印加することにより、形成す
ることができる。
に形成する第2金属めっき層4aのめっき浴に、第1金
属めっき層2bおよび第1金属薄膜2aが積層されてい
るキャリアフィルム1を浸漬して、第1金属めっき層2
b側を陽極として、電圧を印加することにより、形成す
ることができる。
【0039】また、第2金属めっき層4aの形成は、不
働態膜3の形成に引き続いて、めっき浴内において極性
を反転させ、不働態膜3側を陰極として、電圧を印加す
ることにより、形成することができる。
働態膜3の形成に引き続いて、めっき浴内において極性
を反転させ、不働態膜3側を陰極として、電圧を印加す
ることにより、形成することができる。
【0040】このような不働態膜3および第2金属めっ
き層4aとしては、ニッケルや銅などが好ましく用いら
れる。また、第2金属めっき層4aの厚みは、例えば、
0.1〜3μmであることが好ましい。
き層4aとしては、ニッケルや銅などが好ましく用いら
れる。また、第2金属めっき層4aの厚みは、例えば、
0.1〜3μmであることが好ましい。
【0041】このような方法によれば、極性を反転させ
るのみの簡易な方法および設備によって、不働態膜3お
よび第2金属めっき層4aを連続して形成することがで
きる。なお、不働態膜3および第2金属めっき層4aの
形成は、それぞれ別々のラインにおいて形成してもよ
い。
るのみの簡易な方法および設備によって、不働態膜3お
よび第2金属めっき層4aを連続して形成することがで
きる。なお、不働態膜3および第2金属めっき層4aの
形成は、それぞれ別々のラインにおいて形成してもよ
い。
【0042】そして、図2(g)に示すように、めっき
レジスト6を除去することにより、第2金属めっき層4
aが所定の回路バターンとして形成されている金属転写
シート5を得ることができる。めっきレジスト6は、特
に制限されず、例えば、化学エッチング(ウェットエッ
チング)などの公知のエッチングや剥離によって除去す
ればよい。
レジスト6を除去することにより、第2金属めっき層4
aが所定の回路バターンとして形成されている金属転写
シート5を得ることができる。めっきレジスト6は、特
に制限されず、例えば、化学エッチング(ウェットエッ
チング)などの公知のエッチングや剥離によって除去す
ればよい。
【0043】また、図3(h)に示すように、第2金属
層4を、第2金属めっき層4aおよび第3金属めっき層
4bの2層として形成してもよい。すなわち、この方法
では、図2に示す方法と同様の工程(図3(a)〜
(e)の各工程は、それぞれ、図2(a)〜(e)の各
工程に対応し、同一の部材には同一符号が付されてい
る。)によって、図3(f)に示すように、第2金属め
っき層4bを形成した後に、さらに、図3(g)に示す
ように、第2金属めっき層4b上に、電解めっき法によ
り、第2金属層4として第3金属めっき層4bを形成す
る。第3金属めっき層4bの形成は、上記と同様に、め
っき浴内において、第2金属層4側を陰極として、電圧
を印加することにより、形成することができる。
層4を、第2金属めっき層4aおよび第3金属めっき層
4bの2層として形成してもよい。すなわち、この方法
では、図2に示す方法と同様の工程(図3(a)〜
(e)の各工程は、それぞれ、図2(a)〜(e)の各
工程に対応し、同一の部材には同一符号が付されてい
る。)によって、図3(f)に示すように、第2金属め
っき層4bを形成した後に、さらに、図3(g)に示す
ように、第2金属めっき層4b上に、電解めっき法によ
り、第2金属層4として第3金属めっき層4bを形成す
る。第3金属めっき層4bの形成は、上記と同様に、め
っき浴内において、第2金属層4側を陰極として、電圧
を印加することにより、形成することができる。
【0044】なお、このように、第2金属層4を2層と
して形成する場合には、不働態膜3に直接積層されてい
ない第3金属めっき層4bは、不働態膜3を形成する金
属にかかわらず、その目的および用途に応じた金属を広
く選択することができる。
して形成する場合には、不働態膜3に直接積層されてい
ない第3金属めっき層4bは、不働態膜3を形成する金
属にかかわらず、その目的および用途に応じた金属を広
く選択することができる。
【0045】より具体的には、第2金属めっき層4aお
よび第3金属めっき層4bが、それぞれ、ニッケルおよ
び銅であることが好ましく、第2金属めっき層4aの厚
さが、例えば、0.1〜0.5μmであり、第3金属め
っき層4bの厚さが、例えば、0.1〜10μmである
ことが好ましい。
よび第3金属めっき層4bが、それぞれ、ニッケルおよ
び銅であることが好ましく、第2金属めっき層4aの厚
さが、例えば、0.1〜0.5μmであり、第3金属め
っき層4bの厚さが、例えば、0.1〜10μmである
ことが好ましい。
【0046】また、図4に示す方法では、まず、図4
(a)に示すように、上記と同様に、キャリアフィルム
1を用意した後、図4(b)に示すように、スパッタリ
ング法により、第1金属層2として第1金属薄膜2aを
形成する。第1金属薄膜2aとしては、ニッケルや銅な
どが好ましく、その厚みが、例えば、300〜3000
Åであることが好ましい。次に、この方法では、図4
(c)に示すように、第1金属薄膜2a上に、所定の回
路パターンと逆パターンでめっきレジスト6を形成す
る。めっきレジスト6は、例えば、ドライフィルムレジ
ストなどを用いて公知の方法により、所定のレジストパ
ターンとして形成すればよい。
(a)に示すように、上記と同様に、キャリアフィルム
1を用意した後、図4(b)に示すように、スパッタリ
ング法により、第1金属層2として第1金属薄膜2aを
形成する。第1金属薄膜2aとしては、ニッケルや銅な
どが好ましく、その厚みが、例えば、300〜3000
Åであることが好ましい。次に、この方法では、図4
(c)に示すように、第1金属薄膜2a上に、所定の回
路パターンと逆パターンでめっきレジスト6を形成す
る。めっきレジスト6は、例えば、ドライフィルムレジ
ストなどを用いて公知の方法により、所定のレジストパ
ターンとして形成すればよい。
【0047】そして、この方法では、図4(d)に示す
ように、第1金属薄膜2aにおけるめっきレジスト6が
形成されていない表面に、不働態膜3を形成し、それに
引き続いて、図4(e)に示すように、不働態膜3の表
面に、電解めっき法により、第2金属層4として第2金
属めっき層4aを形成する。
ように、第1金属薄膜2aにおけるめっきレジスト6が
形成されていない表面に、不働態膜3を形成し、それに
引き続いて、図4(e)に示すように、不働態膜3の表
面に、電解めっき法により、第2金属層4として第2金
属めっき層4aを形成する。
【0048】不働態膜3の形成は、次に形成する第2金
属めっき層4aのめっき浴に、第1金属薄膜2aが積層
されているキャリアフィルム1を浸漬して、第1金属薄
膜2a側を陽極として、電圧を印加することにより、形
成することができる。
属めっき層4aのめっき浴に、第1金属薄膜2aが積層
されているキャリアフィルム1を浸漬して、第1金属薄
膜2a側を陽極として、電圧を印加することにより、形
成することができる。
【0049】また、第2金属めっき層4aの形成は、不
働態膜3の形成に引き続いて、めっき浴内において極性
を反転させ、不働態膜3側を陰極として、電圧を印加す
ることにより、形成することができる。
働態膜3の形成に引き続いて、めっき浴内において極性
を反転させ、不働態膜3側を陰極として、電圧を印加す
ることにより、形成することができる。
【0050】このような不働態膜3および第2金属めっ
き層4aとしては、ニッケルや銅などが好ましく用いら
れる。また、第2金属めっき層4aの厚みは、例えば、
0.1〜3μmであることが好ましい。
き層4aとしては、ニッケルや銅などが好ましく用いら
れる。また、第2金属めっき層4aの厚みは、例えば、
0.1〜3μmであることが好ましい。
【0051】このような方法によれば、極性を反転させ
るのみの簡易な方法によって、不働態膜3および第2金
属めっき層4aを連続して形成することができる。な
お、不働態膜3および第2金属めっき層4aの形成は、
それぞれ別々のラインにおいて形成してもよい。
るのみの簡易な方法によって、不働態膜3および第2金
属めっき層4aを連続して形成することができる。な
お、不働態膜3および第2金属めっき層4aの形成は、
それぞれ別々のラインにおいて形成してもよい。
【0052】そして、図4(f)に示すように、めっき
レジスト6を除去することにより、第2金属めっき層4
aが所定の回路バターンとして形成されている金属転写
シート5を得ることができる。めっきレジスト6は、特
に制限されず、例えば、化学エッチング(ウェットエッ
チング)などの公知のエッチングや剥離によって除去す
ればよい。
レジスト6を除去することにより、第2金属めっき層4
aが所定の回路バターンとして形成されている金属転写
シート5を得ることができる。めっきレジスト6は、特
に制限されず、例えば、化学エッチング(ウェットエッ
チング)などの公知のエッチングや剥離によって除去す
ればよい。
【0053】また、図5に示す方法では、まず、図5
(a)に示すように、上記と同様に、キャリアフィルム
1を用意した後、図5(b)に示すように、スパッタリ
ング法により、第1金属層2として第1金属薄膜2aを
形成する。第1金属薄膜2aとしては、ニッケルや銅な
どが好ましく、その厚みが、例えば、300〜3000
Åであることが好ましい。次に、この方法では、図5
(c)に示すように、第1金属薄膜2a上に、電解めっ
き法により、第1金属層2として第1金属めっき層2b
を形成する。第1金属めっき層2bとしては、ニッケル
や銅などが好ましく、上記したように、第1金属薄膜2
a側を陰極として、電圧を印加することにより、形成す
ることができる。なお、第1金属めっき層2bの厚み
は、例えば、0.1〜0.5μmであることが好まし
い。
(a)に示すように、上記と同様に、キャリアフィルム
1を用意した後、図5(b)に示すように、スパッタリ
ング法により、第1金属層2として第1金属薄膜2aを
形成する。第1金属薄膜2aとしては、ニッケルや銅な
どが好ましく、その厚みが、例えば、300〜3000
Åであることが好ましい。次に、この方法では、図5
(c)に示すように、第1金属薄膜2a上に、電解めっ
き法により、第1金属層2として第1金属めっき層2b
を形成する。第1金属めっき層2bとしては、ニッケル
や銅などが好ましく、上記したように、第1金属薄膜2
a側を陰極として、電圧を印加することにより、形成す
ることができる。なお、第1金属めっき層2bの厚み
は、例えば、0.1〜0.5μmであることが好まし
い。
【0054】その後、この方法では、図5(d)に示す
ように、第1金属めっき層2bの表面に不働態膜3を形
成し、それに引き続いて、図5(e)に示すように、不
働態膜3の表面に、電解めっき法により、第2金属層4
として第2金属めっき層4aを形成する。
ように、第1金属めっき層2bの表面に不働態膜3を形
成し、それに引き続いて、図5(e)に示すように、不
働態膜3の表面に、電解めっき法により、第2金属層4
として第2金属めっき層4aを形成する。
【0055】不働態膜3の形成は、次に形成する第2金
属めっき層4aのめっき浴に、第1金属めっき層2bお
よび第1金属薄膜2aが積層されているキャリアフィル
ム1を浸漬して、第1金属めっき層2b側を陽極とし
て、電圧を印加することにより、形成することができ
る。
属めっき層4aのめっき浴に、第1金属めっき層2bお
よび第1金属薄膜2aが積層されているキャリアフィル
ム1を浸漬して、第1金属めっき層2b側を陽極とし
て、電圧を印加することにより、形成することができ
る。
【0056】また、第2金属めっき層4aの形成は、不
働態膜3の形成に引き続いて、めっき浴内において極性
を反転させ、不働態膜3側を陰極として、電圧を印加す
ることにより、形成することができる。
働態膜3の形成に引き続いて、めっき浴内において極性
を反転させ、不働態膜3側を陰極として、電圧を印加す
ることにより、形成することができる。
【0057】このような不働態膜3および第2金属めっ
き層4aとしては、ニッケルや銅などが好ましく用いら
れる。また、第2金属めっき層4aの厚みは、例えば、
0.1〜3μmであることが好ましい。
き層4aとしては、ニッケルや銅などが好ましく用いら
れる。また、第2金属めっき層4aの厚みは、例えば、
0.1〜3μmであることが好ましい。
【0058】このような方法によれば、極性を反転させ
るのみの簡易な方法によって、不働態膜3および第2金
属めっき層4aを連続して形成することができる。な
お、不働態膜3および第2金属めっき層4aの形成は、
それぞれ別々のラインにおいて形成してもよい。
るのみの簡易な方法によって、不働態膜3および第2金
属めっき層4aを連続して形成することができる。な
お、不働態膜3および第2金属めっき層4aの形成は、
それぞれ別々のラインにおいて形成してもよい。
【0059】次いで、この方法では、図5(f)に示す
ように、第2金属めっき層4a上に、所定の回路パター
ンと同一のパターンでエッチングレジスト7を形成す
る。エッチングレジスト7は、例えば、ドライフィルム
レジストなどを用いて公知の方法により、所定のレジス
トパターンとして形成すればよい。
ように、第2金属めっき層4a上に、所定の回路パター
ンと同一のパターンでエッチングレジスト7を形成す
る。エッチングレジスト7は、例えば、ドライフィルム
レジストなどを用いて公知の方法により、所定のレジス
トパターンとして形成すればよい。
【0060】その後、この方法では、図5(g)に示す
ように、このエッチングレジスト7をレジストとして、
第2金属めっき層4a、不働態膜3および第1金属めっ
き層2bをエッチングする。第2金属めっき層4a、不
働態膜3および第1金属めっき層2bのエッチングは、
例えば、公知のエッチング液を用いて、化学エッチング
(ウェットエッチング)すればよい。
ように、このエッチングレジスト7をレジストとして、
第2金属めっき層4a、不働態膜3および第1金属めっ
き層2bをエッチングする。第2金属めっき層4a、不
働態膜3および第1金属めっき層2bのエッチングは、
例えば、公知のエッチング液を用いて、化学エッチング
(ウェットエッチング)すればよい。
【0061】そして、図5(h)に示すように、エッチ
ングレジスト7を除去することにより、第2金属めっき
層4aが所定の回路バターンとして形成されている金属
転写シート5を得ることができる。エッチングレジスト
7は、特に制限されず、例えば、化学エッチング(ウェ
ットエッチング)などの公知のエッチングや剥離によっ
て除去すればよい。
ングレジスト7を除去することにより、第2金属めっき
層4aが所定の回路バターンとして形成されている金属
転写シート5を得ることができる。エッチングレジスト
7は、特に制限されず、例えば、化学エッチング(ウェ
ットエッチング)などの公知のエッチングや剥離によっ
て除去すればよい。
【0062】そして、このようにして得られる第2金属
層4が所定の回路バターンとして形成されている金属転
写シート5を用いれば、転写技術によって、積層セラミ
ックコンデンサの内部電極を効率的に形成することがで
きる。
層4が所定の回路バターンとして形成されている金属転
写シート5を用いれば、転写技術によって、積層セラミ
ックコンデンサの内部電極を効率的に形成することがで
きる。
【0063】次に、図6を参照して、この金属転写シー
ト5を用いて、積層セラミックコンデンサを製造する方
法を説明する。
ト5を用いて、積層セラミックコンデンサを製造する方
法を説明する。
【0064】この方法では、まず、図6(a)に示すよ
うに、この金属転写フィルム5の第2金属層4を、セラ
ミックグリーンシート11上に接触させ、キャリアフィ
ルム1側からセラミックグリーンシート11側に向かっ
て圧力を加えた後、引き剥がせば、不働態膜3を易剥離
界面として第2金属層4が第1金属層2から剥離して、
図6(b)に示すように、第2金属層4が所定の回路パ
ターンからなる内部電極としてセラミックグリーンシー
ト11上に転写される。
うに、この金属転写フィルム5の第2金属層4を、セラ
ミックグリーンシート11上に接触させ、キャリアフィ
ルム1側からセラミックグリーンシート11側に向かっ
て圧力を加えた後、引き剥がせば、不働態膜3を易剥離
界面として第2金属層4が第1金属層2から剥離して、
図6(b)に示すように、第2金属層4が所定の回路パ
ターンからなる内部電極としてセラミックグリーンシー
ト11上に転写される。
【0065】次いで、第2金属層4が所定の回路パター
ンとして転写されたセラミックグリーンシート11を、
目的とする枚数分積層した後、セラミックグリーンシー
ト11を、例えば、約400℃〜1200℃で焼成する
ことにより、図6(c)に示すような積層セラミックコ
ンデンサ12を製造することができる。
ンとして転写されたセラミックグリーンシート11を、
目的とする枚数分積層した後、セラミックグリーンシー
ト11を、例えば、約400℃〜1200℃で焼成する
ことにより、図6(c)に示すような積層セラミックコ
ンデンサ12を製造することができる。
【0066】このようにして積層セラミックコンデンサ
12を製造すれば、セラミックグリーンシート11上
に、回路パターンに相当する第2金属層4が転写される
ので、これによって、セラミックグリーンシート11上
に内部電極を薄い回路パターンで、簡易かつ確実に形成
することができる。そのため、積層セラミックコンデン
サ12の大容量化および小型・薄層化を図ることができ
る。しかも、この金属転写シート5では、離型剤などを
用いずとも、効率良く転写することができるので、積層
セラミックコンデンサ12の生産効率および信頼性を向
上させることができる。
12を製造すれば、セラミックグリーンシート11上
に、回路パターンに相当する第2金属層4が転写される
ので、これによって、セラミックグリーンシート11上
に内部電極を薄い回路パターンで、簡易かつ確実に形成
することができる。そのため、積層セラミックコンデン
サ12の大容量化および小型・薄層化を図ることができ
る。しかも、この金属転写シート5では、離型剤などを
用いずとも、効率良く転写することができるので、積層
セラミックコンデンサ12の生産効率および信頼性を向
上させることができる。
【0067】また、金属転写シート5を用いて積層セラ
ミックコンデンサ12を製造する方法としては、例え
ば、金属転写シート5の第2金属層4を、粘着テープに
1次転写して、その粘着テープから、第2金属層4をセ
ラミックグリーンシート11に2次転写し、これを積層
後に焼成してもよい。
ミックコンデンサ12を製造する方法としては、例え
ば、金属転写シート5の第2金属層4を、粘着テープに
1次転写して、その粘着テープから、第2金属層4をセ
ラミックグリーンシート11に2次転写し、これを積層
後に焼成してもよい。
【0068】すなわち、この方法では、まず、図7
(a)に示すように、基材13上に粘着剤14が塗布さ
れている粘着テープ15を用意して、金属転写フィルム
5の第2金属層4を、その粘着テープ15の粘着剤14
上に接触させ、図7(b)に示すように、上記と同様に
加圧して1次転写する。また、この方法では、図7
(c)に示すように、セラミックグリーンシート11上
に、接着剤16を塗布する。そして、図7(d)に示す
ように、粘着テープ15に転写されている第2金属層4
を、セラミックグリーンシート11の接着剤16上に接
触させ、図8(e)に示すように、上記と同様に加圧し
て2次転写する。その後、第2金属層4が転写されたセ
ラミックグリーンシート11を、目的とする枚数分積層
した後、接着剤16の消失温度以上で焼成することによ
り、図8(f)に示すような積層セラミックコンデンサ
12を製造することができる。
(a)に示すように、基材13上に粘着剤14が塗布さ
れている粘着テープ15を用意して、金属転写フィルム
5の第2金属層4を、その粘着テープ15の粘着剤14
上に接触させ、図7(b)に示すように、上記と同様に
加圧して1次転写する。また、この方法では、図7
(c)に示すように、セラミックグリーンシート11上
に、接着剤16を塗布する。そして、図7(d)に示す
ように、粘着テープ15に転写されている第2金属層4
を、セラミックグリーンシート11の接着剤16上に接
触させ、図8(e)に示すように、上記と同様に加圧し
て2次転写する。その後、第2金属層4が転写されたセ
ラミックグリーンシート11を、目的とする枚数分積層
した後、接着剤16の消失温度以上で焼成することによ
り、図8(f)に示すような積層セラミックコンデンサ
12を製造することができる。
【0069】なお、この方法において、粘着テープ15
の粘着力は、50〜500N/m程度であることが、2
次転写のためには好ましい。
の粘着力は、50〜500N/m程度であることが、2
次転写のためには好ましい。
【0070】また、本発明の金属転写フィルムは、上記
した積層セラミックコンデンサ12の製造に制限される
ことなく、他の積層型電子部品などの電子部品の電極
や、プリント基板などの回路基板の配線や端子などを形
成する場合にも、好適に用いることができる。
した積層セラミックコンデンサ12の製造に制限される
ことなく、他の積層型電子部品などの電子部品の電極
や、プリント基板などの回路基板の配線や端子などを形
成する場合にも、好適に用いることができる。
【0071】
【実施例】以下、実施例および比較例を挙げて、本発明
をさらに具体的に説明する。
をさらに具体的に説明する。
【0072】実施例1
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図2(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åの銅薄膜
を形成した(図2(b)参照)。次いで、これを、電解
ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側を陰極として、
0.5A/dm2の電流密度で10秒間電圧を印加する
ことにより、電解ニッケルめっきを行ない、銅薄膜上に
厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形成した(図2
(c)参照)。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図2(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åの銅薄膜
を形成した(図2(b)参照)。次いで、これを、電解
ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側を陰極として、
0.5A/dm2の電流密度で10秒間電圧を印加する
ことにより、電解ニッケルめっきを行ない、銅薄膜上に
厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形成した(図2
(c)参照)。
【0073】その後、このニッケルめっき層に、フォト
レジストからなるめっきレジストを貼着して、所定の回
路パターンと逆パターンとなるように、フォトリソグラ
フ法によりパターン化した(図2(d)参照)。
レジストからなるめっきレジストを貼着して、所定の回
路パターンと逆パターンとなるように、フォトリソグラ
フ法によりパターン化した(図2(d)参照)。
【0074】次いで、これを、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、ニッケルめっき層側を陽極として、10秒間電
圧を印加して、ニッケルめっき層におけるめっきレジス
トが形成されていない表面に、不働態膜を形成した後
(図2(e)参照)、そのまま続けて、極性を反転さ
せ、不働態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流
密度で約60秒間電圧を印加することにより、電解ニッ
ケルめっきを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.5μ
mのニッケルめっき層を形成した(図2(f)参照)。
その後、めっきレジストを化学エッチングにより除去す
ることによって(図2(g)参照)、金属転写シートを
得た。
浸漬し、ニッケルめっき層側を陽極として、10秒間電
圧を印加して、ニッケルめっき層におけるめっきレジス
トが形成されていない表面に、不働態膜を形成した後
(図2(e)参照)、そのまま続けて、極性を反転さ
せ、不働態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流
密度で約60秒間電圧を印加することにより、電解ニッ
ケルめっきを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.5μ
mのニッケルめっき層を形成した(図2(f)参照)。
その後、めっきレジストを化学エッチングにより除去す
ることによって(図2(g)参照)、金属転写シートを
得た。
【0075】実施例2
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図3(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åの銅薄膜
を形成した(図3(b)参照)。次いで、これを、電解
ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側を陰極として、
0.5A/dm2の電流密度で10秒間電圧を印加する
ことにより、電解ニッケルめっきを行ない、銅薄膜上に
厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形成した(図3
(c)参照)。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図3(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åの銅薄膜
を形成した(図3(b)参照)。次いで、これを、電解
ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側を陰極として、
0.5A/dm2の電流密度で10秒間電圧を印加する
ことにより、電解ニッケルめっきを行ない、銅薄膜上に
厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形成した(図3
(c)参照)。
【0076】その後、このニッケルめっき層に、フォト
レジストからなるめっきレジストを貼着して、所定の回
路パターンと逆パターンとなるように、フォトリソグラ
フ法によりパターン化した(図3(d)参照)。
レジストからなるめっきレジストを貼着して、所定の回
路パターンと逆パターンとなるように、フォトリソグラ
フ法によりパターン化した(図3(d)参照)。
【0077】次いで、これを、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、ニッケルめっき層側を陽極として、10秒間電
圧を印加して、ニッケルめっき層におけるめっきレジス
トが形成されていない表面に、不働態膜を形成した後
(図3(e)参照)、そのまま続けて、極性を反転さ
せ、不働態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流
密度で10秒間電圧を印加することにより、電解ニッケ
ルめっきを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.1μm
のニッケルめっき層を形成した(図3(f)参照)。次
いで、これを、電解銅めっき浴に浸漬し、ニッケルめっ
き層側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で1
0分間、さらに、2A/dm2の電流密度で30秒間電
圧を印加することにより、電解銅めっきを行ない、ニッ
ケルめっき層上に厚さ0.5μmの銅めっき層を形成し
た(図3(g)参照)。その後、めっきレジストを化学
エッチングにより除去することによって(図3(h)参
照)、金属転写シートを得た。
浸漬し、ニッケルめっき層側を陽極として、10秒間電
圧を印加して、ニッケルめっき層におけるめっきレジス
トが形成されていない表面に、不働態膜を形成した後
(図3(e)参照)、そのまま続けて、極性を反転さ
せ、不働態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流
密度で10秒間電圧を印加することにより、電解ニッケ
ルめっきを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.1μm
のニッケルめっき層を形成した(図3(f)参照)。次
いで、これを、電解銅めっき浴に浸漬し、ニッケルめっ
き層側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で1
0分間、さらに、2A/dm2の電流密度で30秒間電
圧を印加することにより、電解銅めっきを行ない、ニッ
ケルめっき層上に厚さ0.5μmの銅めっき層を形成し
た(図3(g)参照)。その後、めっきレジストを化学
エッチングにより除去することによって(図3(h)参
照)、金属転写シートを得た。
【0078】実施例3
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図4(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åのニッケ
ル薄膜を形成した(図4(b)参照)。次いで、このニ
ッケル薄膜に、フォトレジストからなるめっきレジスト
を貼着して、所定の回路パターンと逆パターンとなるよ
うに、フォトリソグラフ法によりパターン化した(図4
(c)参照)。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図4(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åのニッケ
ル薄膜を形成した(図4(b)参照)。次いで、このニ
ッケル薄膜に、フォトレジストからなるめっきレジスト
を貼着して、所定の回路パターンと逆パターンとなるよ
うに、フォトリソグラフ法によりパターン化した(図4
(c)参照)。
【0079】その後、これを、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、ニッケル薄膜側を陽極として、10秒間電圧を
印加して、ニッケル薄膜におけるめっきレジストが形成
されていない表面に、不働態膜を形成した後(図4
(d)参照)、そのまま続けて、極性を反転させ、不働
態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で約
60秒間電圧を印加することにより、電解ニッケルめっ
きを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.5μmのニッ
ケルめっき層を形成した(図4(e)参照)。その後、
めっきレジストを化学エッチングにより除去することに
よって(図4(f)参照)、金属転写シートを得た。
浸漬し、ニッケル薄膜側を陽極として、10秒間電圧を
印加して、ニッケル薄膜におけるめっきレジストが形成
されていない表面に、不働態膜を形成した後(図4
(d)参照)、そのまま続けて、極性を反転させ、不働
態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で約
60秒間電圧を印加することにより、電解ニッケルめっ
きを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.5μmのニッ
ケルめっき層を形成した(図4(e)参照)。その後、
めっきレジストを化学エッチングにより除去することに
よって(図4(f)参照)、金属転写シートを得た。
【0080】実施例4
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図4(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åのニッケ
ル薄膜を形成した(図4(b)参照)。次いで、このニ
ッケル薄膜に、フォトレジストからなるめっきレジスト
を貼着して、所定の回路パターンと逆パターンとなるよ
うに、フォトリソグラフ法によりパターン化した(図4
(c)参照)。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図4(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åのニッケ
ル薄膜を形成した(図4(b)参照)。次いで、このニ
ッケル薄膜に、フォトレジストからなるめっきレジスト
を貼着して、所定の回路パターンと逆パターンとなるよ
うに、フォトリソグラフ法によりパターン化した(図4
(c)参照)。
【0081】その後、これを、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、ニッケル薄膜側を陽極として、10秒間電圧を
印加して、ニッケル薄膜におけるめっきレジストが形成
されていない表面に、不働態膜を形成した(図4(d)
参照)。
浸漬し、ニッケル薄膜側を陽極として、10秒間電圧を
印加して、ニッケル薄膜におけるめっきレジストが形成
されていない表面に、不働態膜を形成した(図4(d)
参照)。
【0082】次いで、一旦、電解ニッケルめっき浴から
引き上げて乾燥した後、再び、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、不働態膜側を陰極として、0.5A/dm2の
電流密度で約60秒間電圧を印加することにより、電解
ニッケルめっきを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.
5μmのニッケルめっき層を形成した(図4(e)参
照)。その後、めっきレジストを化学エッチングにより
除去することによって(図4(f)参照)、金属転写シ
ートを得た。
引き上げて乾燥した後、再び、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、不働態膜側を陰極として、0.5A/dm2の
電流密度で約60秒間電圧を印加することにより、電解
ニッケルめっきを行ない、不働態膜の表面に、厚さ0.
5μmのニッケルめっき層を形成した(図4(e)参
照)。その後、めっきレジストを化学エッチングにより
除去することによって(図4(f)参照)、金属転写シ
ートを得た。
【0083】実施例5
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図4(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åのニッケ
ル薄膜を形成した(図4(b)参照)。次いで、このニ
ッケル薄膜に、フォトレジストからなるめっきレジスト
を貼着して、所定の回路パターンと逆パターンとなるよ
うに、フォトリソグラフ法によりパターン化した(図4
(c)参照)。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図4(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åのニッケ
ル薄膜を形成した(図4(b)参照)。次いで、このニ
ッケル薄膜に、フォトレジストからなるめっきレジスト
を貼着して、所定の回路パターンと逆パターンとなるよ
うに、フォトリソグラフ法によりパターン化した(図4
(c)参照)。
【0084】その後、これを、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、ニッケル薄膜側を陽極として、10秒間電圧を
印加して、ニッケル薄膜におけるめっきレジストが形成
されていない表面に、不働態膜を形成した(図4(d)
参照)。
浸漬し、ニッケル薄膜側を陽極として、10秒間電圧を
印加して、ニッケル薄膜におけるめっきレジストが形成
されていない表面に、不働態膜を形成した(図4(d)
参照)。
【0085】次いで、一旦、電解ニッケルめっき浴から
引き上げて乾燥した後、電解銅めっき浴に浸漬し、不働
態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で3
0秒間、さらに、2A/dm2の電流密度で10分間電
圧を印加することにより、電解銅めっきを行ない、不働
態膜の表面に、厚さ10μmの銅めっき層を形成した
(図4(e)参照)。その後、めっきレジストを化学エ
ッチングにより除去することによって(図4(f)参
照)、金属転写シートを得た。
引き上げて乾燥した後、電解銅めっき浴に浸漬し、不働
態膜側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で3
0秒間、さらに、2A/dm2の電流密度で10分間電
圧を印加することにより、電解銅めっきを行ない、不働
態膜の表面に、厚さ10μmの銅めっき層を形成した
(図4(e)参照)。その後、めっきレジストを化学エ
ッチングにより除去することによって(図4(f)参
照)、金属転写シートを得た。
【0086】実施例6
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図5(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åの銅薄膜
を形成した(図5(b)参照)。次いで、これを、電解
ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側を陰極として、
0.5A/dm2の電流密度で10秒間電圧を印加する
ことにより、電解ニッケルめっきを行ない、銅薄膜上に
厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形成した(図5
(c)参照)。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して(図5(a)参照)、このキャリアフィルム
上に、スパッタリング法により、厚さ800Åの銅薄膜
を形成した(図5(b)参照)。次いで、これを、電解
ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側を陰極として、
0.5A/dm2の電流密度で10秒間電圧を印加する
ことにより、電解ニッケルめっきを行ない、銅薄膜上に
厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形成した(図5
(c)参照)。
【0087】次いで、電解ニッケルめっき浴内におい
て、そのまま続けて、極性を反転させ、ニッケルめっき
層側を陽極として、10秒間電圧を印加して、ニッケル
めっき層の表面に、不働態膜を形成した後(図5(d)
参照)、そのまま続けて、極性を反転させ、不働態膜側
を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で約60秒
間電圧を印加することにより、電解ニッケルめっきを行
ない、不働態膜の表面に、厚さ0.5μmのニッケルめ
っき層を形成した(図5(e)参照)。
て、そのまま続けて、極性を反転させ、ニッケルめっき
層側を陽極として、10秒間電圧を印加して、ニッケル
めっき層の表面に、不働態膜を形成した後(図5(d)
参照)、そのまま続けて、極性を反転させ、不働態膜側
を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で約60秒
間電圧を印加することにより、電解ニッケルめっきを行
ない、不働態膜の表面に、厚さ0.5μmのニッケルめ
っき層を形成した(図5(e)参照)。
【0088】その後、このニッケルめっき層に、フォト
レジストからなるエッチングレジストを貼着して、所定
の回路パターンと同一パターンとなるように、フォトリ
ソグラフ法によりパターン化した(図5(f)参照)。
レジストからなるエッチングレジストを貼着して、所定
の回路パターンと同一パターンとなるように、フォトリ
ソグラフ法によりパターン化した(図5(f)参照)。
【0089】次いで、このエッチングレジストをレジス
トとして、上側のニッケルめっき層、不働態膜、下側の
ニッケルめっき層を化学エッチングし、(図5(g)参
照)、その後、エッチングレジストを化学エッチングに
より除去することによって(図2(h)参照)、金属転
写シートを得た。
トとして、上側のニッケルめっき層、不働態膜、下側の
ニッケルめっき層を化学エッチングし、(図5(g)参
照)、その後、エッチングレジストを化学エッチングに
より除去することによって(図2(h)参照)、金属転
写シートを得た。
【0090】比較例1
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して、このキャリアフィルム上に、スパッタリン
グ法により、厚さ800Åの銅薄膜を形成した。次い
で、これを、電解ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側
を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で10秒間
電圧を印加することにより、電解ニッケルめっきを行な
い、銅薄膜上に厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形
成した。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して、このキャリアフィルム上に、スパッタリン
グ法により、厚さ800Åの銅薄膜を形成した。次い
で、これを、電解ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側
を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で10秒間
電圧を印加することにより、電解ニッケルめっきを行な
い、銅薄膜上に厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形
成した。
【0091】その後、このニッケルめっき層に、フォト
レジストからなるめっきレジストを貼着して、所定の回
路パターンと逆パターンとなるように、フォトリソグラ
フ法によりパターン化した。
レジストからなるめっきレジストを貼着して、所定の回
路パターンと逆パターンとなるように、フォトリソグラ
フ法によりパターン化した。
【0092】次いで、これを、電解ニッケルめっき浴に
浸漬し、不働態膜を形成することなく、ニッケルめっき
層側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で約6
0秒間電圧を印加することにより、電解ニッケルめっき
を行ない、ニッケルめっき層の表面に、厚さ0.5μm
のニッケルめっき層を形成した。その後、めっきレジス
トを化学エッチングにより除去することによって、金属
転写シートを得た。
浸漬し、不働態膜を形成することなく、ニッケルめっき
層側を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で約6
0秒間電圧を印加することにより、電解ニッケルめっき
を行ない、ニッケルめっき層の表面に、厚さ0.5μm
のニッケルめっき層を形成した。その後、めっきレジス
トを化学エッチングにより除去することによって、金属
転写シートを得た。
【0093】比較例2
まず、キャリアフィルムとして厚さ25μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して、このキャリアフィルム上に、スパッタリン
グ法により、厚さ800Åの銅薄膜を形成した。次い
で、これを、電解ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側
を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で10秒間
電圧を印加することにより、電解ニッケルめっきを行な
い、銅薄膜上に厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形
成した。
レンテレフタレートフィルムからなるキャリアフィルム
を用意して、このキャリアフィルム上に、スパッタリン
グ法により、厚さ800Åの銅薄膜を形成した。次い
で、これを、電解ニッケルめっき浴に浸漬し、銅薄膜側
を陰極として、0.5A/dm2の電流密度で10秒間
電圧を印加することにより、電解ニッケルめっきを行な
い、銅薄膜上に厚さ0.1μmのニッケルめっき層を形
成した。
【0094】次いで、このニッケルめっき層の表面に、
スパッタリング法により、厚さ1000Åのニッケル薄
膜を形成した。その後、これを、電解ニッケルめっき浴
に浸漬し、ニッケル薄膜側を陰極として、0.5A/d
m2の電流密度で約60秒間電圧を印加することによ
り、電解ニッケルめっきを行ない、ニッケル薄膜の表面
に、厚さ0.5μmのニッケルめっき層を形成した。
スパッタリング法により、厚さ1000Åのニッケル薄
膜を形成した。その後、これを、電解ニッケルめっき浴
に浸漬し、ニッケル薄膜側を陰極として、0.5A/d
m2の電流密度で約60秒間電圧を印加することによ
り、電解ニッケルめっきを行ない、ニッケル薄膜の表面
に、厚さ0.5μmのニッケルめっき層を形成した。
【0095】その後、このニッケルめっき層に、フォト
レジストからなるエッチングレジストを貼着して、所定
の回路パターンと同一パターンとなるように、フォトリ
ソグラフ法によりパターン化した。次いで、このエッチ
ングレジストをレジストとして、上側のニッケルめっき
層、ニッケル薄膜、下側のニッケルめっき層を化学エッ
チングし、その後、エッチングレジストを化学エッチン
グにより除去することによって、金属転写シートを得
た。
レジストからなるエッチングレジストを貼着して、所定
の回路パターンと同一パターンとなるように、フォトリ
ソグラフ法によりパターン化した。次いで、このエッチ
ングレジストをレジストとして、上側のニッケルめっき
層、ニッケル薄膜、下側のニッケルめっき層を化学エッ
チングし、その後、エッチングレジストを化学エッチン
グにより除去することによって、金属転写シートを得
た。
【0096】評価
各実施例および各比較例で得られた金属転写シートを用
いて、各金属転写シートにおける回路パターンとして形
成されている上側のめっき層に、100N/mの密着力
を有する粘着テープを貼着した後、引き剥がす剥離試験
を、各金属転写シートについて10回実施して、そのめ
っき層を粘着テープに転写できる確率を求めた。その結
果を表1に示す。
いて、各金属転写シートにおける回路パターンとして形
成されている上側のめっき層に、100N/mの密着力
を有する粘着テープを貼着した後、引き剥がす剥離試験
を、各金属転写シートについて10回実施して、そのめ
っき層を粘着テープに転写できる確率を求めた。その結
果を表1に示す。
【0097】
【表1】
【0098】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の金属転写シ
ートの製造方法によれば、易剥離界面を形成する不働態
膜を、制御の容易なパラメータである印加電圧および印
加時間をコントロールすることによって形成することが
できるので、剥離度合を正確かつ確実に管理して、安定
した転写性能を実現できる金属転写シートを製造するこ
とができる。また、本発明の金属転写シートの製造方法
によれば、電解めっき装置を用いて、第2金属層の電解
めっきに対して極性を反転させるのみで、不働態膜を形
成することができるので、簡易かつ生産効率よく、金属
転写シートを製造することができる。
ートの製造方法によれば、易剥離界面を形成する不働態
膜を、制御の容易なパラメータである印加電圧および印
加時間をコントロールすることによって形成することが
できるので、剥離度合を正確かつ確実に管理して、安定
した転写性能を実現できる金属転写シートを製造するこ
とができる。また、本発明の金属転写シートの製造方法
によれば、電解めっき装置を用いて、第2金属層の電解
めっきに対して極性を反転させるのみで、不働態膜を形
成することができるので、簡易かつ生産効率よく、金属
転写シートを製造することができる。
【0099】そして、本発明の金属転写シートは、小さ
い剥離力で簡易かつ確実に被転写体に転写することがで
き、離型剤などを用いずとも、第2金属層を薄層に形成
して、効率良く転写することができる。そのため、電子
部品の電極や回路基板の配線および端子などの形成、と
りわけ、近年、大容量化、小型・薄層化が要求されてい
る積層セラミックコンデンサの内部電極を形成するため
に、好適に用いることができる。
い剥離力で簡易かつ確実に被転写体に転写することがで
き、離型剤などを用いずとも、第2金属層を薄層に形成
して、効率良く転写することができる。そのため、電子
部品の電極や回路基板の配線および端子などの形成、と
りわけ、近年、大容量化、小型・薄層化が要求されてい
る積層セラミックコンデンサの内部電極を形成するため
に、好適に用いることができる。
【0100】そのため、本発明のセラミックコンデンサ
の製造方法によれば、セラミックグリーンシート上に内
部電極を薄い回路パターンで、簡易かつ確実に形成する
ことができるので、セラミックコンデンサの大容量化お
よび小型・薄層化を図ることができる。しかも、本発明
のセラミックコンデンサの製造方法によれば、離型剤な
どを用いずとも、効率良く転写することができるので、
セラミックコンデンサの生産効率および信頼性を向上さ
せることができる。
の製造方法によれば、セラミックグリーンシート上に内
部電極を薄い回路パターンで、簡易かつ確実に形成する
ことができるので、セラミックコンデンサの大容量化お
よび小型・薄層化を図ることができる。しかも、本発明
のセラミックコンデンサの製造方法によれば、離型剤な
どを用いずとも、効率良く転写することができるので、
セラミックコンデンサの生産効率および信頼性を向上さ
せることができる。
【図1】本発明の金属転写シートの製造方法の一実施形
態を示す工程図であって、(a)は、キャリアフィルム
を用意する工程、(b)は、キャリアフィルム上に、第
1金属層を形成する工程、(c)は、第1金属層の表面
に、不働態膜を形成する工程、(d)は、不働態膜の表
面に、第2金属層を形成する工程を示す。
態を示す工程図であって、(a)は、キャリアフィルム
を用意する工程、(b)は、キャリアフィルム上に、第
1金属層を形成する工程、(c)は、第1金属層の表面
に、不働態膜を形成する工程、(d)は、不働態膜の表
面に、第2金属層を形成する工程を示す。
【図2】図1に示す金属転写シートの製造方法におい
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の一実施形態を示す工程図であって、(a)は、
キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパッタ
リング法により、第1金属薄膜を形成する工程、(c)
は、第1金属薄膜上に、電解めっき法により、第1金属
めっき層を形成する工程、(d)は、第1金属めっき層
上に、所定の回路パターンと逆パターンでめっきレジス
トを形成する工程、(e)は、第1金属めっき層におけ
るめっきレジストが形成されていない表面に、不働態膜
を形成する工程、(f)は、不働態膜の表面に、電解め
っき法により、第2金属めっき層を形成する工程、
(g)は、めっきレジストを除去する工程を示す。
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の一実施形態を示す工程図であって、(a)は、
キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパッタ
リング法により、第1金属薄膜を形成する工程、(c)
は、第1金属薄膜上に、電解めっき法により、第1金属
めっき層を形成する工程、(d)は、第1金属めっき層
上に、所定の回路パターンと逆パターンでめっきレジス
トを形成する工程、(e)は、第1金属めっき層におけ
るめっきレジストが形成されていない表面に、不働態膜
を形成する工程、(f)は、不働態膜の表面に、電解め
っき法により、第2金属めっき層を形成する工程、
(g)は、めっきレジストを除去する工程を示す。
【図3】図1に示す金属転写シートの製造方法におい
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の他の実施形態を示す工程図であって、(a)
は、キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパ
ッタリング法により、第1金属薄膜を形成する工程、
(c)は、第1金属薄膜上に、電解めっき法により、第
1金属めっき層を形成する工程、(d)は、第1金属め
っき層上に、所定の回路パターンと逆パターンでめっき
レジストを形成する工程、(e)は、第1金属めっき層
におけるめっきレジストが形成されていない表面に、不
働態膜を形成する工程、(f)は、不働態膜の表面に、
電解めっき法により、第2金属めっき層を形成する工
程、(g)は、第2金属めっき層上に、電解めっき法に
より、第3金属めっき層を形成する工程、(h)は、め
っきレジストを除去する工程を示す。
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の他の実施形態を示す工程図であって、(a)
は、キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパ
ッタリング法により、第1金属薄膜を形成する工程、
(c)は、第1金属薄膜上に、電解めっき法により、第
1金属めっき層を形成する工程、(d)は、第1金属め
っき層上に、所定の回路パターンと逆パターンでめっき
レジストを形成する工程、(e)は、第1金属めっき層
におけるめっきレジストが形成されていない表面に、不
働態膜を形成する工程、(f)は、不働態膜の表面に、
電解めっき法により、第2金属めっき層を形成する工
程、(g)は、第2金属めっき層上に、電解めっき法に
より、第3金属めっき層を形成する工程、(h)は、め
っきレジストを除去する工程を示す。
【図4】図1に示す金属転写シートの製造方法におい
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の他の実施形態を示す工程図であって、(a)
は、キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパ
ッタリング法により、第1金属薄膜を形成する工程、
(c)は、第1金属薄膜上に、所定の回路パターンと逆
パターンでめっきレジストを形成する工程、(d)は、
第1金属薄膜におけるめっきレジストが形成されていな
い表面に、不働態膜を形成する工程、(e)は、不働態
膜の表面に、電解めっき法により、第2金属めっき層を
形成する工程、(f)は、めっきレジストを除去する工
程を示す。
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の他の実施形態を示す工程図であって、(a)
は、キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパ
ッタリング法により、第1金属薄膜を形成する工程、
(c)は、第1金属薄膜上に、所定の回路パターンと逆
パターンでめっきレジストを形成する工程、(d)は、
第1金属薄膜におけるめっきレジストが形成されていな
い表面に、不働態膜を形成する工程、(e)は、不働態
膜の表面に、電解めっき法により、第2金属めっき層を
形成する工程、(f)は、めっきレジストを除去する工
程を示す。
【図5】図1に示す金属転写シートの製造方法におい
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の他の実施形態を示す工程図であって、(a)
は、キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパ
ッタリング法により、第1金属薄膜を形成する工程、
(c)は、第1金属薄膜上に、電解めっき法により、第
1金属めっき層を形成する工程、(d)は、第1金属め
っき層の表面に不働態膜を形成する工程、(e)は、不
働態膜の表面に、電解めっき法により、第2金属めっき
層を形成する工程、(f)は、第2金属めっき層上に、
所定の回路パターンと同一のパターンでエッチングレジ
ストを形成する工程、(g)は、エッチングレジストを
レジストとして、第2金属めっき層、不働態膜および第
1金属めっき層をエッチングする工程、(h)は、エッ
チングレジストを除去する工程を示す。
て、第2金属層を予め所定の回路バターンとして形成す
る方法の他の実施形態を示す工程図であって、(a)
は、キャリアフィルムを用意する工程、(b)は、スパ
ッタリング法により、第1金属薄膜を形成する工程、
(c)は、第1金属薄膜上に、電解めっき法により、第
1金属めっき層を形成する工程、(d)は、第1金属め
っき層の表面に不働態膜を形成する工程、(e)は、不
働態膜の表面に、電解めっき法により、第2金属めっき
層を形成する工程、(f)は、第2金属めっき層上に、
所定の回路パターンと同一のパターンでエッチングレジ
ストを形成する工程、(g)は、エッチングレジストを
レジストとして、第2金属めっき層、不働態膜および第
1金属めっき層をエッチングする工程、(h)は、エッ
チングレジストを除去する工程を示す。
【図6】金属転写シートを用いて、積層セラミックコン
デンサを製造する方法を示す工程図であって、(a)
は、金属転写フィルムの第2金属層を、セラミックグリ
ーンシート上に接触させ、圧力を加える工程、(b)
は、金属転写フィルムをセラミックグリーンシートに転
写する工程、(c)は、第2金属層が転写されたセラミ
ックグリーンシートを、積層して焼成することにより、
積層セラミックコンデンサを製造する工程を示す。
デンサを製造する方法を示す工程図であって、(a)
は、金属転写フィルムの第2金属層を、セラミックグリ
ーンシート上に接触させ、圧力を加える工程、(b)
は、金属転写フィルムをセラミックグリーンシートに転
写する工程、(c)は、第2金属層が転写されたセラミ
ックグリーンシートを、積層して焼成することにより、
積層セラミックコンデンサを製造する工程を示す。
【図7】金属転写シートを用いて、積層セラミックコン
デンサを製造する他の方法を示す工程図であって、
(a)は、金属転写フィルムの第2金属層を、粘着テー
プの粘着剤上に接触させる工程、(b)は、金属転写フ
ィルムの第2金属層を、粘着テープの粘着剤上に1次転
写する工程、(c)は、セラミックグリーンシート上
に、接着剤を塗布する工程、(d)は、粘着テープに転
写されている第2金属層を、セラミックグリーンシート
の接着剤上に接触させる工程を示す。
デンサを製造する他の方法を示す工程図であって、
(a)は、金属転写フィルムの第2金属層を、粘着テー
プの粘着剤上に接触させる工程、(b)は、金属転写フ
ィルムの第2金属層を、粘着テープの粘着剤上に1次転
写する工程、(c)は、セラミックグリーンシート上
に、接着剤を塗布する工程、(d)は、粘着テープに転
写されている第2金属層を、セラミックグリーンシート
の接着剤上に接触させる工程を示す。
【図8】図7に続いて、金属転写シートを用いて、積層
セラミックコンデンサを製造する他の方法を示す工程図
であって、(e)は、粘着テープに転写されている第2
金属層を、セラミックグリーンシートの接着剤上に2次
転写する工程、(f)は、第2金属層が転写されたセラ
ミックグリーンシートを、積層して焼成することによ
り、積層セラミックコンデンサを製造する工程を示す。
セラミックコンデンサを製造する他の方法を示す工程図
であって、(e)は、粘着テープに転写されている第2
金属層を、セラミックグリーンシートの接着剤上に2次
転写する工程、(f)は、第2金属層が転写されたセラ
ミックグリーンシートを、積層して焼成することによ
り、積層セラミックコンデンサを製造する工程を示す。
2 第1金属層
3 不働態膜
4 第2金属層
5 金属転写シート
11 セラミックグリーンシート
12 積層セラミックコンデンサ
─────────────────────────────────────────────────────
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(72)発明者 大内 一男
大阪府茨木市下穂積1丁目1番2号 日東
電工株式会社内
(72)発明者 小田 高司
大阪府茨木市下穂積1丁目1番2号 日東
電工株式会社内
(72)発明者 桶結 卓司
大阪府茨木市下穂積1丁目1番2号 日東
電工株式会社内
Fターム(参考) 5E001 AB03 AE02 AE03 AH01 AJ01
5E082 AA01 AB03 BB07 BC14 BC38
FG46 GG10
Claims (12)
- 【請求項1】 第1金属層と第2金属層とが、不働態膜
を介して積層されていることを特徴とする、金属転写シ
ート。 - 【請求項2】 前記第1金属層がニッケルであることを
特徴とする、請求項1に記載の金属転写シート。 - 【請求項3】 前記第2金属層がニッケルであることを
特徴とする、請求項1または2に記載の金属転写シー
ト。 - 【請求項4】 前記第2金属層が銅であることを特徴と
する、請求項1または2に記載の金属転写シート。 - 【請求項5】 前記第2金属層が複数の金属層からなる
ことを特徴とする、請求項1に記載の金属転写シート。 - 【請求項6】 前記第2金属層がニッケル層および銅層
からなることを特徴とする、請求項5に記載の金属転写
シート。 - 【請求項7】 前記第1金属層が、蒸着法または電解め
っき法により形成されていることを特徴とする、請求項
1〜6のいずれかに記載の金属転写シート。 - 【請求項8】 前記第2金属層が、電解めっき法により
形成されていることを特徴とする、請求項7に記載の金
属転写シート。 - 【請求項9】 前記不働態膜が、めっき浴内において、
前記第2金属層の電解めっきに対して極性が反転された
状態で、電圧が印加されることにより、形成されている
ことを特徴とする、請求項8に記載の金属転写シート。 - 【請求項10】 第1金属層を用意する工程、 めっき浴内において、前記第1金属層側を陽極として電
圧を印加することにより、不働態膜を形成する工程、 めっき浴内において、前記不働態膜側を陰極として電圧
を印加することにより、第2金属層を形成する工程を備
えることを特徴とする、金属転写シートの製造方法。 - 【請求項11】 前記不働態膜を形成する工程におい
て、2〜10秒間電圧を印加することを特徴とする、請
求項10に記載の金属転写シートの製造方法。 - 【請求項12】 請求項1〜9のいずれかに記載の金属
転写シートの第2金属層を、セラミックグリーンシート
に転写する工程、 前記第2金属層が転写されたセラミックグリーンシート
を積層する工程、 積層されたセラミックグリーンシートを焼成する工程を
備えることを特徴とする、セラミックコンデンサの製造
方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002148469A JP2003347149A (ja) | 2002-05-23 | 2002-05-23 | 金属転写シート、金属転写シートの製造方法およびセラミックコンデンサの製造方法 |
US10/442,069 US20030219608A1 (en) | 2002-05-23 | 2003-05-21 | Metal transfer sheet, producing method thereof, and producing method of ceramic condenser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002148469A JP2003347149A (ja) | 2002-05-23 | 2002-05-23 | 金属転写シート、金属転写シートの製造方法およびセラミックコンデンサの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003347149A true JP2003347149A (ja) | 2003-12-05 |
Family
ID=29545238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002148469A Pending JP2003347149A (ja) | 2002-05-23 | 2002-05-23 | 金属転写シート、金属転写シートの製造方法およびセラミックコンデンサの製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20030219608A1 (ja) |
JP (1) | JP2003347149A (ja) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030219608A1 (en) | 2003-11-27 |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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