JP2003173564A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JP2003173564A JP2003173564A JP2001371346A JP2001371346A JP2003173564A JP 2003173564 A JP2003173564 A JP 2003173564A JP 2001371346 A JP2001371346 A JP 2001371346A JP 2001371346 A JP2001371346 A JP 2001371346A JP 2003173564 A JP2003173564 A JP 2003173564A
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Abstract
び光ディスクへの書き込み光量の変動のない光ヘッド装
置を提供する。 【解決手段】入射光の波面を変化させる液晶素子4と、
液晶素子4を構成する透明基板に形成された電極領域の
外周部より小さくなるように、入射光の径を制限する絞
り40とを対物レンズ6とビームスプリッタ2との間に
設置して、光ヘッド装置を構成する。
Description
光記録媒体の記録・再生を行う光ヘッド装置に関する。
ィスクであるCDに比べディジタル情報が高密度で記録
されており、DVDを再生するための光ヘッド装置は、
光源の波長をCDの780nmよりも短い650nmま
たは635nmとしたり、対物レンズの開口数(NA)
をCDの0.45よりも大きい0.6にして光ディスク
面上に集光するスポット径を小さくしている。
波長を400nm程度、NAを0.6以上とすること
で、より大きな記録密度を得ることが提案されている。
しかし、光源の短波長化や対物レンズの高NA化が原因
で、光ディスク面が光軸に対して直角より傾くチルトの
許容量や光ディスクの厚さムラの許容量が小さくなる。
スクのチルトの場合にはコマ収差が発生し、光ディスク
の厚さムラの場合には球面収差が発生するために、光ヘ
ッド装置の集光特性が劣化して信号の読み取りが困難に
なることによる。高密度記録において、光ディスクのチ
ルトや厚さムラに対する光ヘッド装置の許容量を拡げる
ためにいくつかの方式が提案されている。
方向と半径方向との2軸方向に移動する対物レンズのア
クチュエータに、検出されたチルト角に応じて対物レン
ズを傾けるように傾斜用の軸を追加する方式がある。し
かし、この追加方式では球面収差は補正できないこと
や、アクチュエータの構造が複雑になるなどの問題があ
る。
の間に備えた位相補正素子により波面収差を補正する方
式がある。この補正方式では、アクチュエータに大幅な
改造を施すことなく光ヘッド装置に素子を組み入れるだ
けで光ディスクのチルトの許容量や厚さムラの許容量を
拡げることができる。
のチルトを補正する上記の補正方式に特開平10−20
263がある。これは、位相補正素子を構成している液
晶などの複屈折性材料を挟持している一対の基板のそれ
ぞれに、電極が分割されて形成された分割電極に電圧を
印加して、複屈折性材料の実質的な屈折率を光ディスク
のチルト角に応じて変化させ、この屈折率の変化により
発生した透過光の波面変化により、光ディスクのチルト
で発生したコマ収差を補正する方式である。
正素子など光ヘッド装置に液晶を用いた場合、液晶素子
に電圧を印加すると、印加電圧に影響されて光ディスク
の再生信号強度が変化する問題があった。
解決するためになされたものであり、光源と、光源から
の出射光を光記録媒体に集光させるための対物レンズ
と、光記録媒体に集光され反射された出射光を受光する
光検出器と、光源と光記録媒体との間の光路中に配置さ
れた液晶素子とを備える光ヘッド装置において、液晶素
子は液晶に電圧を印加するための電極を備え、電極が占
める領域内のみに光源からの出射光が制限されて入射さ
れることを特徴とする光ヘッド装置を提供する。
い有効径内に、入射光を制限するための絞りを配置した
上記の光ヘッド装置を提供する。
媒体に集光させるための対物レンズと、光記録媒体に集
光され反射された出射光を受光する光検出器と、光源と
光記録媒体との間の光路中に配置された液晶素子とを備
える光ヘッド装置において、液晶素子は液晶に電圧を印
加するための電極を備え、電極が占める領域の大きさは
対物レンズの瞳径と対物レンズのトラッキング時に移動
できる範囲を含めた有効光束透過範囲より幅で0.1m
m以上大きいこと特徴とする光ヘッド装置を提供する。
化させることができる波面補正素子である上記の光ヘッ
ド装置を提供する。
一例を示す。本例は、CD、DVD、青色光出射の半導
体レーザなどを用いる光ディスク装置の光ディスクに情
報を記録したり再生するためのものである。本光ヘッド
装置は光源である半導体レーザ1、コリメートレンズ
3、対物レンズ6、対物レンズを搭載したアクチュエー
タ7、光ディスク8、プリズム型ビームスプリッタ2お
よび光検出光学系77を有する。さらに、半導体レーザ
1からの出射光の波面を変化させる液晶素子4を配置し
た。この液晶素子4は液晶に電圧を印加できる電極を持
つ透明な基板に挟まれている。40は、液晶素子4へ入
射する光の領域を制限する絞りである。
コリメートレンズ3により平行光となり、液晶素子4を
透過し、アクチュエータ7に設置された対物レンズ6に
より光ディスク8上に集光される。この光ディスクに反
射された出射光は、再び対物レンズ6および液晶素子4
を透過する。光の出射波面を変化させる液晶層を挟持し
た液晶素子(図8)は、液晶分子が平行配向したものを
用いることができる。
基板21a、21bがシール材22により接着され液晶
セルを形成している。ガラス基板21aの内側表面に
は、内側表面から電極24a、シリカなどを主成分とす
る絶縁膜25a、配向膜26がこの順に、またガラス基
板21bの内側表面には、内側表面から電極24b、上
記の絶縁膜25b、配向膜26がこの順に被膜されてい
る。
いる。液晶セル内部には液晶が充填され液晶層23とさ
れており、図8に示した液晶分子28は、一方向に配向
されたホモジニアス配向の状態にある。
より、光ディスクの再生信号が変化する従来の問題につ
いて解析を行った結果、次のようなメカニズムであるこ
とが判明した。
間に電圧を印加すると、対向して重なる電極の領域の液
晶層に電圧が印加され、液晶層の屈折率が変化する。こ
のとき2つの電極24a、24bの対向して重ならない
領域の液晶層に電圧は印加されず屈折率は変化しない。
れない部分とでは屈折率が異なり、この2種の屈折率領
域の境界付近を透過する光はこの屈折率差により図7に
示すように散乱・回折され、透過光の波面が乱れ、さら
に透過率が低下する。なお、図7における符号で図8の
符号と同じものは、同じ要素を示す。
され、実質的に波面の乱れのない光で対物レンズに到達
する光が減少する。この減少により、光ディスクの再生
信号強度が低下したり、光ディスクへの書き込み光量が
変化する。さらに、印加する電圧を変化させると、液晶
層に電圧が印加された部分とされない部分との屈折率差
が変化し、回折効率が変化し、光ディスクの再生信号強
度が変動することがわかった。
のサイズは、入射光の径に対して充分に大きなサイズで
あることが好ましい。このことで、電極が形成されてい
る領域と形成されていない領域の境界付近に光が照射さ
れることがなくなり、液晶層に印加する電圧を変化させ
ても再生信号光量が変化しなくなった。
ると液晶素子の外形サイズが大きくなり、光ヘッド装置
の小型化を困難にし、また液晶素子のコストアップにも
なっていた。
への入射光の径を制限する絞り40を配置することが好
ましい。この絞り40は、液晶素子の光源側または光デ
ィスク側のいずれに配置してもよい。光源側に配置した
場合には、入射光を制限することで、電極の形成領域と
電極の非形成領域との境界に光が照射されることはな
く、この境界領域で回折が起こらないのでより好まし
い。
大きさは対物レンズの瞳径と対物レンズのトラッキング
時に移動できる範囲を含めた有効光束透過範囲より幅で
0.1mm以上大きい。これによって、液晶素子の透過
光に散乱・回折に基づく波面の乱れを確実に発生させな
い。
の電極41の関係を示した。内径42内部の分割した領
域は、電極を表す。図6に示すように絞り内径42は電
極41外径と同じか、または小さいことが好ましい。そ
の重なり幅Wが小さいと、光が絞りを透過するときに絞
りで回折された光が回りこみ、電極外周部に到達し、液
晶層に電圧を印加することで回折を起こすことがあるの
で、重なり幅Wは0.1mm以上であることが好まし
い。また、この重なり幅Wは大きいほうが好ましいが、
この重なり幅Wが大き過ぎると、液晶素子の外形サイズ
も大きくなるので、Wは0.1mm以上かつ1mm以下
が好ましい。さらに0.2mm以上0.4mm以下が同
様の理由で好ましい。
と一体化することや、ビームスプリッタと一体化するこ
ともできるが、できるだけ液晶素子に近いほうが、この
絞りにより回折した光が液晶素子の電極外周部に回り込
むのを防ぐことができるので好ましい。この絞り40
は、図5に示すように液晶素子と別体で配置することも
できるし、図2に示すように液晶素子に接合したり、さ
らに液晶素子のホルダ部分(図示せず)で光が通る開口
部分の径を絞りとして利用することもできる。また、液
晶素子の表面に遮光膜を形成し液晶素子と完全に一体化
することもできる。図2および図5における符号で、図
8の符号と同じものは、同じ要素を示す。
4bが形成されているものと同じ基板に絞り40を作成
することもできる。この場合、図3に示すように電極4
1の外周と絞り40の内径とをほぼ一致させることが好
ましい。図4における符号で、図8の符号と同じもの
は、同じ要素を示す。
成してもよいが、その場合電極との絶縁性を考慮し絞り
の内径を若干大きくし、50μmから1μmまでのわず
かな間隔を電極との間に設けることが好ましい。また、
この絶縁のための間隔が大きいと、この間隔の領域を透
過する光が液晶の電圧変化により回折するのでこの間隔
は10μm以下とすることが好ましい。
差補正機能について図8に基づき説明する。液晶層中の
液晶分子の配向方向と入射光の偏光方向が一致した場合
に、液晶層に電圧を印加することで実効的な屈折率が変
化し、光の偏光状態をほとんど変化させずに、光の波面
を変化させることができる。このことで出射光は、液晶
素子を透過するときに偏光状態をほとんど変化させるこ
となく、液晶層に電圧を印加することで光の波面を変化
させることができる。
には、光ディスク基板の厚み偏差や多層光ディスクの再
生により発生する、球面収差の補正用に分割された図9
に示すような電極(同心円は分割線を表す)を設ける。
また、光ディスクの傾斜(チルト)により発生するコマ
収差の補正用に分割された図3に示すような電極や、図
9示す電極との組み合わせを設けてもよい。
めの電極として、図10に示すように、基板の表面に薄
膜の電極80を形成し、所望の電圧分布となるようにこ
の分割しない電極80上に、それぞれの収差に対処でき
る形状の複数の給電部材81、82、83を設ける。8
4は給電部材用に引出配線である。そして、それぞれの
給電部材に上記球面収差の場合と同様に適切な電圧を印
加することで、給電部材間の電極面内での電圧降下を利
用し、給電部材間の電極面内に連続的な電圧分布を発生
させてもよい。
長板を積層することで部品点数を減らすことができる。
さらに、対物レンズを搭載したアクチュエータに液晶素
子を搭載することで、トラッキング時に対物レンズと液
晶素子とが一体に動き、この2つ部品の位置ズレによる
収差補正性能に劣化はない。
レイ用途などに用いられるネマティック液晶などが好ま
しく、カイラル剤の添加によりツイストさせてもよい。
また、使用する基板の材料としては、ガラス、ポリカー
ボネート系樹脂、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、塩
化ビニル系樹脂などが使用できるが、耐久性などの点か
らガラスの基板が好ましい。
や、4分の5波長板などの4分の1波長の奇数倍の位相
差をもつものでもよい。また、材料としては、水晶やL
iNbO3のような複屈折性単結晶を用いてもよいし、
高分子液晶、ポリカーボネートなどの有機物膜を用いて
もよい。
再生信号の強度が最適となるように、液晶素子4に向け
て制御電圧発生手段である液晶素子制御回路により電圧
が出力される。液晶素子制御回路より出力される電圧
は、光ディスクの厚み偏差量、チルト量、液晶素子と対
物レンズの位置ずれなどに応じた電圧であり、液晶素子
の電極に印加する実質的に変化する電圧となる。
き偏差により生ずるコマ収差を補正する液晶素子である
位相補正素子を備えている。対物レンズは光ディスクが
傾くとコマ収差を発生し信号の読み取り精度が低下す
る。このコマ収差を補正する位相補正素子を図1に示す
光ヘッド装置の液晶素子4として組み込んだ。この位相
補正素子(図8を参照)は、液晶分子28の配向方向
が、半導体レーザからの出射光の波面を変化させるよう
に、液晶層23を透過するときの出射光の偏光方向に平
行とした。
層23を、シール材22で囲み、配向膜26、中間膜2
5a、25b透明電極膜24a、24bおよびガラス基
板21a、21bではさみ込む構成とした。本実施例で
は液晶層を挟む2枚の透明基板であるガラス基板には、
液晶層に電圧を印加できるように図6に示すようにコマ
収差に対応したセグメントに分割されたITOからなる
透明電極を形成した。位相補正素子の光源側表面には、
図2に示すように絞りを黒色樹脂で印刷形成した。この
絞りは図6に示すように、絞りの内径42が電極41の
外周部より小さくなるように形成し、この絞りと電極の
重なり幅Wは0.3mmとした。
クの反射面までのカバー層厚が約0.6mmの光ディス
クで信号再生特性を調べた。位相補正素子に電圧を印加
しても、光ディスクの再生信号が変動することなく、良
好な再生書き込み特性が得られた。また、各セグメント
の電極へは、光ディスクの傾きによるコマ収差を補正す
るよう所望の電圧を印加することにより、コマ収差を充
分に補正し再生特性は良好であった。
にのみに入射光を制限したため、液晶層の電圧の印加部
分と非印加部分とで発生する屈折率差に入射光が影響さ
れず、液晶素子の透過光に散乱・回折に基づく波面の乱
れがなかった。このため光ヘッド装置において、光ディ
スクの再生信号強度が低下、変動したり、光ディスクへ
の書き込み光量が変化することがなかった。
液晶素子に形成された電極の領域内にのみに入射光を制
限したため、液晶層の電圧の印加部分と非印加部分とで
発生する屈折率差に入射光が影響されず、液晶素子の透
過光に散乱・回折に基づく波面の乱れを生じない。この
ため、光ヘッド装置において、光ディスクの再生信号強
度が低下、変動したり、光ディスクへの書き込み光量が
変化することがない。
概念的断面図。
例を示す概念的断面図。
関係の一例を示す概念的平面図。
の例を示す概念的断面図。
の例を示す概念的断面図。
係の他の例を示す概念的平面図。
念的断面図。
に形成された分割電極パターンを示す模式的平面図。
の電極および給電部材パターンを示す模式的平面図。
Claims (4)
- 【請求項1】光源と、光源からの出射光を光記録媒体に
集光させるための対物レンズと、光記録媒体に集光され
反射された出射光を受光する光検出器と、光源と光記録
媒体との間の光路中に配置された液晶素子とを備える光
ヘッド装置において、液晶素子は液晶に電圧を印加する
ための電極を備え、電極が占める領域内のみに光源から
の出射光が制限されて入射されることを特徴とする光ヘ
ッド装置。 - 【請求項2】前記電極が占める領域の径より小さい有効
径内に、入射光を制限するための絞りを配置した請求項
1記載の光ヘッド装置。 - 【請求項3】光源と、光源からの出射光を光記録媒体に
集光させるための対物レンズと、光記録媒体に集光され
反射された出射光を受光する光検出器と、光源と光記録
媒体との間の光路中に配置された液晶素子とを備える光
ヘッド装置において、液晶素子は液晶に電圧を印加する
ための電極を備え、電極が占める領域の大きさは対物レ
ンズの瞳径と対物レンズのトラッキング時に移動できる
範囲を含めた有効光束透過範囲より幅で0.1mm以上
大きいこと特徴とする光ヘッド装置。 - 【請求項4】前記液晶素子が出射光の波面を変化させる
ことができる波面補正素子である請求項1、2または3
記載の光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001371346A JP2003173564A (ja) | 2001-12-05 | 2001-12-05 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001371346A JP2003173564A (ja) | 2001-12-05 | 2001-12-05 | 光ヘッド装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003173564A true JP2003173564A (ja) | 2003-06-20 |
Family
ID=19180410
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001371346A Pending JP2003173564A (ja) | 2001-12-05 | 2001-12-05 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003173564A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111208089A (zh) * | 2020-01-13 | 2020-05-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 长距离端面粗糙晶体体内缺陷测量装置和方法 |
-
2001
- 2001-12-05 JP JP2001371346A patent/JP2003173564A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111208089A (zh) * | 2020-01-13 | 2020-05-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 长距离端面粗糙晶体体内缺陷测量装置和方法 |
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A977 | Report on retrieval |
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A521 | Written amendment |
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A02 | Decision of refusal |
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