JP2003163252A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
- Publication number
- JP2003163252A JP2003163252A JP2001360956A JP2001360956A JP2003163252A JP 2003163252 A JP2003163252 A JP 2003163252A JP 2001360956 A JP2001360956 A JP 2001360956A JP 2001360956 A JP2001360956 A JP 2001360956A JP 2003163252 A JP2003163252 A JP 2003163252A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- boat
- wafer
- chamber
- lock chamber
- transfer device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ロードロック室の容積を抑えて真空引き時間
を短縮する。 【解決手段】 複数枚のウエハWをボート37で保持し
た状態で処理するプロセスチューブ19と、プロセスチ
ューブ19の真下でボート37を搬入搬出するロードロ
ック室12と、ロードロック室12の待機部12bに設
置されボート37を昇降させるボートエレベータ23
と、ロードロック室12に連設されゲートバルブ55で
開閉される真空予備室51と、ロードロック室12の設
置部12aに設置されボート37と真空予備室51との
間でウエハWを移載するウエハ移載装置39とを備えて
おり、ウエハ移載装置39の上下方向のストロークL1
がボート37のウエハ保持範囲L2 よりも小さく設定さ
れ、ストロークの不足分L3 がボートエレベータ23の
ストロークによって補われるように構成されている。 【効果】 真空引き時間を短縮することで、スループッ
トを向上できる。
を短縮する。 【解決手段】 複数枚のウエハWをボート37で保持し
た状態で処理するプロセスチューブ19と、プロセスチ
ューブ19の真下でボート37を搬入搬出するロードロ
ック室12と、ロードロック室12の待機部12bに設
置されボート37を昇降させるボートエレベータ23
と、ロードロック室12に連設されゲートバルブ55で
開閉される真空予備室51と、ロードロック室12の設
置部12aに設置されボート37と真空予備室51との
間でウエハWを移載するウエハ移載装置39とを備えて
おり、ウエハ移載装置39の上下方向のストロークL1
がボート37のウエハ保持範囲L2 よりも小さく設定さ
れ、ストロークの不足分L3 がボートエレベータ23の
ストロークによって補われるように構成されている。 【効果】 真空引き時間を短縮することで、スループッ
トを向上できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板処理装置に関
し、特に、ワークである基板のボートへの移載技術に係
り、例えば、半導体集積回路装置(以下、ICとい
う。)の製造方法において、半導体素子を含む集積回路
が作り込まれる半導体ウエハ(以下、ウエハという。)
に酸化膜や窒化膜や金属膜を成膜する縦形拡散・CVD
装置に利用して有効な技術に関する。
し、特に、ワークである基板のボートへの移載技術に係
り、例えば、半導体集積回路装置(以下、ICとい
う。)の製造方法において、半導体素子を含む集積回路
が作り込まれる半導体ウエハ(以下、ウエハという。)
に酸化膜や窒化膜や金属膜を成膜する縦形拡散・CVD
装置に利用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】ICの高集積化が進む中で、ウエハに形
成される自然酸化膜を極力少なくすることが要求されて
いる。自然酸化膜を極力少なくするにはウエハを大気に
接触させないことが重要になる。そこで、ウエハが大気
に接触するのを極力防止するために、窒素ガス中または
真空中においてウエハを搬送するように構成した基板処
理装置が開発されている。
成される自然酸化膜を極力少なくすることが要求されて
いる。自然酸化膜を極力少なくするにはウエハを大気に
接触させないことが重要になる。そこで、ウエハが大気
に接触するのを極力防止するために、窒素ガス中または
真空中においてウエハを搬送するように構成した基板処
理装置が開発されている。
【0003】ICの製造方法において、自然酸化膜が表
面に形成されるのを防止してウエハに酸化シリコンや窒
化シリコンや金属等を成膜する基板処理装置として、日
本国特許庁特許公報特公平7−101675号に記載さ
れた縦型拡散・CVD装置、がある。この縦型拡散・C
VD装置は、複数枚のウエハを収納したカセット(ウエ
ハキャリア)を収納しウエハを出し入れする気密構造の
カセット室と、このカセット室内のカセットとボートと
の間でウエハを移載するウエハ移載装置(wafertransfe
r equipment)を有するロードロック方式のウエハ移載
室(以下、ロードロック室という。)と、このロードロ
ック室内のボートが搬入搬出される反応室(プロセスチ
ューブ)とを備えており、カセット室とロードロック室
との間およびロードロック室と反応室との間がそれぞれ
仕切弁(隔離バルブ)を介して接続されており、ロード
ロック室は真空排気せずに窒素ガスによりロードロック
室内の雰囲気が置換されるように構成されている。
面に形成されるのを防止してウエハに酸化シリコンや窒
化シリコンや金属等を成膜する基板処理装置として、日
本国特許庁特許公報特公平7−101675号に記載さ
れた縦型拡散・CVD装置、がある。この縦型拡散・C
VD装置は、複数枚のウエハを収納したカセット(ウエ
ハキャリア)を収納しウエハを出し入れする気密構造の
カセット室と、このカセット室内のカセットとボートと
の間でウエハを移載するウエハ移載装置(wafertransfe
r equipment)を有するロードロック方式のウエハ移載
室(以下、ロードロック室という。)と、このロードロ
ック室内のボートが搬入搬出される反応室(プロセスチ
ューブ)とを備えており、カセット室とロードロック室
との間およびロードロック室と反応室との間がそれぞれ
仕切弁(隔離バルブ)を介して接続されており、ロード
ロック室は真空排気せずに窒素ガスによりロードロック
室内の雰囲気が置換されるように構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
た縦型拡散・CVD装置には、ウエハ移載装置がロード
ロック室に設置されていることにより、ロードロック室
の容積が大きくなるため、真空引きする場合においては
時間が浪費されてしまうという問題点、がある。
た縦型拡散・CVD装置には、ウエハ移載装置がロード
ロック室に設置されていることにより、ロードロック室
の容積が大きくなるため、真空引きする場合においては
時間が浪費されてしまうという問題点、がある。
【0005】本発明の目的は、ロードロック室の容積を
抑制することができる基板処理装置を提供することにあ
る。
抑制することができる基板処理装置を提供することにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
の基板処理装置は、処理時に複数枚の基板を支持するボ
ートと、このボートを昇降させるボートエレベータと、
前記基板を保管する基板ストッカと、この基板ストッカ
と前記ボートとの間で前記基板を移載する基板移載装置
とを備えている基板処理装置において、前記基板移載装
置の上下方向のストロークが前記ボートの基板保持範囲
よりも小さく設定されており、このストロークの不足分
が前記ボートエレベータのストロークによって補われる
ように構成されていることを特徴とする。
の基板処理装置は、処理時に複数枚の基板を支持するボ
ートと、このボートを昇降させるボートエレベータと、
前記基板を保管する基板ストッカと、この基板ストッカ
と前記ボートとの間で前記基板を移載する基板移載装置
とを備えている基板処理装置において、前記基板移載装
置の上下方向のストロークが前記ボートの基板保持範囲
よりも小さく設定されており、このストロークの不足分
が前記ボートエレベータのストロークによって補われる
ように構成されていることを特徴とする。
【0007】前記した手段によれば、基板移載装置のス
トロークの不足分がボートエレベータのストロークによ
って補われることにより、基板移載装置のストロークを
短く設定することができるため、基板移載装置が設置さ
れる気密室の容積を抑制することができる。
トロークの不足分がボートエレベータのストロークによ
って補われることにより、基板移載装置のストロークを
短く設定することができるため、基板移載装置が設置さ
れる気密室の容積を抑制することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面に即して説明する。
面に即して説明する。
【0009】本実施の形態において、図1および図2に
示されているように、本発明に係る基板処理装置は縦形
バッチ式ホットウオール形減圧CVD(以下、CVD装
置という。)として構成されており、このCVD装置は
ICの製造方法にあってウエハに酸化シリコンや窒化シ
リコン等の絶縁膜を成膜したり、ウエハに五酸化タンタ
ル(Ta2 O5 )やルテニウム(Ru)等の金属膜を成
膜する成膜工程に使用されるようになっている。
示されているように、本発明に係る基板処理装置は縦形
バッチ式ホットウオール形減圧CVD(以下、CVD装
置という。)として構成されており、このCVD装置は
ICの製造方法にあってウエハに酸化シリコンや窒化シ
リコン等の絶縁膜を成膜したり、ウエハに五酸化タンタ
ル(Ta2 O5 )やルテニウム(Ru)等の金属膜を成
膜する成膜工程に使用されるようになっている。
【0010】なお、本実施の形態に係るCVD装置にお
いてはウエハ搬送用のキャリアとしてはFOUP(fron
t opening unified pod 。以下、ポッドという。)が使
用されている。また、以下の説明において、前後左右は
図1を基準とする。すなわち、ポッドオープナ70側が
前側、その反対側すなわちヒータユニット17側が後
側、クリーンユニット63側が左側、ウエハ移載装置6
4側が右側とする。
いてはウエハ搬送用のキャリアとしてはFOUP(fron
t opening unified pod 。以下、ポッドという。)が使
用されている。また、以下の説明において、前後左右は
図1を基準とする。すなわち、ポッドオープナ70側が
前側、その反対側すなわちヒータユニット17側が後
側、クリーンユニット63側が左側、ウエハ移載装置6
4側が右側とする。
【0011】図1および図2に示されているように、C
VD装置10は大気圧未満の圧力(以下、負圧とい
う。)を維持可能な気密性能を有する筐体(以下、耐圧
筐体という。)11を備えており、耐圧筐体11はボー
トが処理室に対して搬入搬出するロードロック方式のボ
ート搬入搬出室(以下、ロードロック室という。)12
を構成している。耐圧筐体11の前側部分11aは平面
視が半台形で側面視が略正方形の箱形状に形成されてお
り、耐圧筐体11の後側部分11bは平面視が若干横長
の長方形で側面視が縦長の長方形の箱形状に形成されて
いる。ロードロック室12における耐圧筐体11の前側
部分11aにはウエハ移載装置を設置するためのウエハ
移載装置設置部12aが設定されており、ロードロック
室12における耐圧筐体11の後側部分11bにはボー
トが処理室への搬入搬出に対して待機する待機部12b
が設定されている。なお、ロードロック方式とは、ゲー
トバルブ等の隔離バルブを用いて処理室と被処理物の搬
入搬出室とを隔離し、処理室への空気の流入を防止した
り、温度、圧力等の外乱を小さくして品質の安定化を目
的とした方式、である。
VD装置10は大気圧未満の圧力(以下、負圧とい
う。)を維持可能な気密性能を有する筐体(以下、耐圧
筐体という。)11を備えており、耐圧筐体11はボー
トが処理室に対して搬入搬出するロードロック方式のボ
ート搬入搬出室(以下、ロードロック室という。)12
を構成している。耐圧筐体11の前側部分11aは平面
視が半台形で側面視が略正方形の箱形状に形成されてお
り、耐圧筐体11の後側部分11bは平面視が若干横長
の長方形で側面視が縦長の長方形の箱形状に形成されて
いる。ロードロック室12における耐圧筐体11の前側
部分11aにはウエハ移載装置を設置するためのウエハ
移載装置設置部12aが設定されており、ロードロック
室12における耐圧筐体11の後側部分11bにはボー
トが処理室への搬入搬出に対して待機する待機部12b
が設定されている。なお、ロードロック方式とは、ゲー
トバルブ等の隔離バルブを用いて処理室と被処理物の搬
入搬出室とを隔離し、処理室への空気の流入を防止した
り、温度、圧力等の外乱を小さくして品質の安定化を目
的とした方式、である。
【0012】耐圧筐体11にはロードロック室12を負
圧に排気するための排気管13と、ロードロック室12
を大気圧に戻したりウエハを冷却したりする際に不活性
ガス(窒素ガス等)を供給する不活性ガス供給管14と
がそれぞれ接続されている。なお、ロードロック室12
の待機部12bの背面壁には保守点検口40が保守点検
時にボートを搬入搬出し得るように大きく開設されてお
り、通常時においては保守点検口40はゲート41によ
って閉塞されている。また、ロードロック室12のウエ
ハ移載装置設置部12aの正面壁にはウエハ搬入搬出口
42がウエハを出し入れし得るように開設されている。
さらに、ロードロック室12にはダミーウエハ(処理条
件を調整するための製品とならないウエハ)を保管する
ダミーウエハ用ストッカ43が設置されている。
圧に排気するための排気管13と、ロードロック室12
を大気圧に戻したりウエハを冷却したりする際に不活性
ガス(窒素ガス等)を供給する不活性ガス供給管14と
がそれぞれ接続されている。なお、ロードロック室12
の待機部12bの背面壁には保守点検口40が保守点検
時にボートを搬入搬出し得るように大きく開設されてお
り、通常時においては保守点検口40はゲート41によ
って閉塞されている。また、ロードロック室12のウエ
ハ移載装置設置部12aの正面壁にはウエハ搬入搬出口
42がウエハを出し入れし得るように開設されている。
さらに、ロードロック室12にはダミーウエハ(処理条
件を調整するための製品とならないウエハ)を保管する
ダミーウエハ用ストッカ43が設置されている。
【0013】図2および図3に示されているように、耐
圧筐体11の天井壁にはボート搬入搬出口15が開設さ
れており、ボート搬入搬出口15はシャッタ16によっ
て開閉されるように構成されている。耐圧筐体11の上
にはヒータユニット17が垂直方向に設置されており、
ヒータユニット17の内部には処理室18を形成するプ
ロセスチューブ19が配置されている。プロセスチュー
ブ19は上端が閉塞し下端が開口した円筒形状に形成さ
れてヒータユニット17に同心円に配置されており、プ
ロセスチューブ19の円筒中空部によって処理室18が
構成されている。プロセスチューブ19は耐圧筐体11
の天井壁の上にマニホールド20を介して支持されてお
り、マニホールド20にはプロセスチューブ19の円筒
中空部によって形成された処理室18に原料ガスやパー
ジガス等を導入するためのガス導入管21と、プロセス
チューブ19の内部を排気するための排気管22とがそ
れぞれ接続されている。マニホールド20は耐圧筐体1
1のボート搬入搬出口15に同心円に配置されている。
圧筐体11の天井壁にはボート搬入搬出口15が開設さ
れており、ボート搬入搬出口15はシャッタ16によっ
て開閉されるように構成されている。耐圧筐体11の上
にはヒータユニット17が垂直方向に設置されており、
ヒータユニット17の内部には処理室18を形成するプ
ロセスチューブ19が配置されている。プロセスチュー
ブ19は上端が閉塞し下端が開口した円筒形状に形成さ
れてヒータユニット17に同心円に配置されており、プ
ロセスチューブ19の円筒中空部によって処理室18が
構成されている。プロセスチューブ19は耐圧筐体11
の天井壁の上にマニホールド20を介して支持されてお
り、マニホールド20にはプロセスチューブ19の円筒
中空部によって形成された処理室18に原料ガスやパー
ジガス等を導入するためのガス導入管21と、プロセス
チューブ19の内部を排気するための排気管22とがそ
れぞれ接続されている。マニホールド20は耐圧筐体1
1のボート搬入搬出口15に同心円に配置されている。
【0014】図1に示されているように、待機部12b
の後側左隅部にはボートを昇降させるためのボートエレ
ベータ23が、待機部12bの前後方向に延在する中心
線に対して傾斜されて設置されている。本実施の形態に
おいては、この中心線に対して傾斜させた配置により、
待機部12bにおけるデッドスペースが活用されてい
る。図3に示されているように、ボートエレベータ23
は上側取付板24と下側取付板25とによって垂直にそ
れぞれ敷設されたガイドレール26および送りねじ軸2
7を備えており、ガイドレール26には移動体としての
昇降台28が垂直方向に昇降自在に嵌合されている。昇
降台28は送りねじ軸27に垂直方向に進退自在に螺合
されている。なお、作動やバックラッシュを良好なもの
とするために、送りねじ軸27と昇降台28との螺合部
にはボールねじ機構が使用されている。送りねじ軸27
の上端部は上側取付板24および耐圧筐体11の天井壁
を貫通して待機部12bの外部に突出されており、待機
部12bの外部に設置されたモータ29によって正逆回
転駆動されるように連結されている。上側取付板24と
昇降台28の上面に固定された取付板30との間には上
側ベローズ32が介設されており、下側取付板25と昇
降台28の下面に固定された取付板31との間には下側
ベローズ33が介設されている。
の後側左隅部にはボートを昇降させるためのボートエレ
ベータ23が、待機部12bの前後方向に延在する中心
線に対して傾斜されて設置されている。本実施の形態に
おいては、この中心線に対して傾斜させた配置により、
待機部12bにおけるデッドスペースが活用されてい
る。図3に示されているように、ボートエレベータ23
は上側取付板24と下側取付板25とによって垂直にそ
れぞれ敷設されたガイドレール26および送りねじ軸2
7を備えており、ガイドレール26には移動体としての
昇降台28が垂直方向に昇降自在に嵌合されている。昇
降台28は送りねじ軸27に垂直方向に進退自在に螺合
されている。なお、作動やバックラッシュを良好なもの
とするために、送りねじ軸27と昇降台28との螺合部
にはボールねじ機構が使用されている。送りねじ軸27
の上端部は上側取付板24および耐圧筐体11の天井壁
を貫通して待機部12bの外部に突出されており、待機
部12bの外部に設置されたモータ29によって正逆回
転駆動されるように連結されている。上側取付板24と
昇降台28の上面に固定された取付板30との間には上
側ベローズ32が介設されており、下側取付板25と昇
降台28の下面に固定された取付板31との間には下側
ベローズ33が介設されている。
【0015】昇降台28の側面にはアーム34が水平に
突設されており、アーム34の先端部の上面には支持台
35が垂直に立脚されている。支持台35の上面にはシ
ールキャップ36が水平に据え付けられている。シール
キャップ36はプロセスチューブ19の炉口になる耐圧
筐体11のボート搬入搬出口15をシールするように構
成されているとともに、ボート37を垂直に支持するよ
うに構成されている。ボート37は複数枚(例えば、2
5枚、50枚、100枚、125枚、150枚ずつ等)
のウエハWをその中心を揃えて水平に支持した状態で、
プロセスチューブ19の処理室に対してボートエレベー
タ23によるシールキャップ36の昇降に伴って搬入搬
出するように構成されている。
突設されており、アーム34の先端部の上面には支持台
35が垂直に立脚されている。支持台35の上面にはシ
ールキャップ36が水平に据え付けられている。シール
キャップ36はプロセスチューブ19の炉口になる耐圧
筐体11のボート搬入搬出口15をシールするように構
成されているとともに、ボート37を垂直に支持するよ
うに構成されている。ボート37は複数枚(例えば、2
5枚、50枚、100枚、125枚、150枚ずつ等)
のウエハWをその中心を揃えて水平に支持した状態で、
プロセスチューブ19の処理室に対してボートエレベー
タ23によるシールキャップ36の昇降に伴って搬入搬
出するように構成されている。
【0016】図1および図2に示されているように、ロ
ードロック室12のウエハ移載装置設置部12aの底壁
にはウエハ移載装置用エレベータ38が貫通して設置さ
れており、ウエハ移載装置用エレベータ38はウエハ移
載装置39を気密シールを維持しつつ昇降させるように
構成されている。ウエハ移載装置39はスカラ形ロボッ
ト(selective compliance assembly robot arm SCA
RA)によって構成されており、負圧下でウエハWを移
載するように設定されている。図2に示されているよう
に、ウエハ移載装置39の昇降ストロークL1 は後記す
るボート37のウエハ保持(チャージング)範囲L2 よ
りも小さく設定されており、ウエハ移載装置39のスト
ロークの不足分L3 はボート37のボートエレベータ2
3によって補われるように構成されている。この構成に
より、ウエハ移載装置用エレベータ38が小形化され、
かつ、ロードロック室12のウエハ移載装置設置部12
aの高さすなわちロードロック室12の全体としての容
積が小さく抑制されている。
ードロック室12のウエハ移載装置設置部12aの底壁
にはウエハ移載装置用エレベータ38が貫通して設置さ
れており、ウエハ移載装置用エレベータ38はウエハ移
載装置39を気密シールを維持しつつ昇降させるように
構成されている。ウエハ移載装置39はスカラ形ロボッ
ト(selective compliance assembly robot arm SCA
RA)によって構成されており、負圧下でウエハWを移
載するように設定されている。図2に示されているよう
に、ウエハ移載装置39の昇降ストロークL1 は後記す
るボート37のウエハ保持(チャージング)範囲L2 よ
りも小さく設定されており、ウエハ移載装置39のスト
ロークの不足分L3 はボート37のボートエレベータ2
3によって補われるように構成されている。この構成に
より、ウエハ移載装置用エレベータ38が小形化され、
かつ、ロードロック室12のウエハ移載装置設置部12
aの高さすなわちロードロック室12の全体としての容
積が小さく抑制されている。
【0017】耐圧筐体11の前側には負圧を維持可能な
気密性能を有する第二の耐圧筐体50が隣接して設置さ
れており、この第二の耐圧筐体50によって真空予備室
(以下、予備室という。)51が形成されている。予備
室51の耐圧筐体(以下、予備室筐体という。)50に
は予備室51を負圧に排気するための排気管52と、予
備室51を大気圧に戻したりウエハを冷却したりする際
に不活性ガス(窒素ガス等)を供給する不活性ガス供給
管53とがそれぞれ接続されている。予備室筐体50の
ウエハ搬入搬出口42に対向する部位にはウエハ搬入搬
出口54が開設されており、このウエハ搬入搬出口54
はゲートバルブ55によって開閉されるようになってい
る。
気密性能を有する第二の耐圧筐体50が隣接して設置さ
れており、この第二の耐圧筐体50によって真空予備室
(以下、予備室という。)51が形成されている。予備
室51の耐圧筐体(以下、予備室筐体という。)50に
は予備室51を負圧に排気するための排気管52と、予
備室51を大気圧に戻したりウエハを冷却したりする際
に不活性ガス(窒素ガス等)を供給する不活性ガス供給
管53とがそれぞれ接続されている。予備室筐体50の
ウエハ搬入搬出口42に対向する部位にはウエハ搬入搬
出口54が開設されており、このウエハ搬入搬出口54
はゲートバルブ55によって開閉されるようになってい
る。
【0018】予備室51にはストッカ移動装置56が設
置されており、ストッカ移動装置56はいずれも基板ス
トッカとしての第一ストッカ57および第二ストッカ5
8を、左右方向に同時に移動させるように構成されてい
る。第一ストッカ57および第二ストッカ58はボート
37と同様な構造をもって、複数枚のウエハを水平に保
持するように構成されており、そのウエハ保持(チャー
ジング)範囲はボート37のウエハ保持範囲よりも小さ
く、かつ、ウエハ移載装置39の上下方向のストローク
L1 に対応するように設定されている。予備室筐体50
の正面壁にはウエハ搬入搬出口59が背面壁側のウエハ
搬入搬出口54と対向するように開設されており、この
ウエハ搬入搬出口59はゲートバルブ60によって開閉
されるようなっている。
置されており、ストッカ移動装置56はいずれも基板ス
トッカとしての第一ストッカ57および第二ストッカ5
8を、左右方向に同時に移動させるように構成されてい
る。第一ストッカ57および第二ストッカ58はボート
37と同様な構造をもって、複数枚のウエハを水平に保
持するように構成されており、そのウエハ保持(チャー
ジング)範囲はボート37のウエハ保持範囲よりも小さ
く、かつ、ウエハ移載装置39の上下方向のストローク
L1 に対応するように設定されている。予備室筐体50
の正面壁にはウエハ搬入搬出口59が背面壁側のウエハ
搬入搬出口54と対向するように開設されており、この
ウエハ搬入搬出口59はゲートバルブ60によって開閉
されるようなっている。
【0019】予備室筐体50の前側には大気圧以上の圧
力(以下、正圧という。)を維持可能な気密性能を有す
る筐体61が隣接して設置されており、この筐体61に
よってウエハ移載室(以下、正圧移載室という。)62
が形成されている。正圧移載室62の左端部にはクリー
ンエアを供給するクリーンユニット63が設置されてお
り、クリーンユニット63の右側には正圧の下でウエハ
を移載する正圧ウエハ移載装置64が設置されている。
力(以下、正圧という。)を維持可能な気密性能を有す
る筐体61が隣接して設置されており、この筐体61に
よってウエハ移載室(以下、正圧移載室という。)62
が形成されている。正圧移載室62の左端部にはクリー
ンエアを供給するクリーンユニット63が設置されてお
り、クリーンユニット63の右側には正圧の下でウエハ
を移載する正圧ウエハ移載装置64が設置されている。
【0020】図1および図2に示されているように、正
圧移載室62の筐体61の正面壁にはウエハ搬入搬出口
65が開設されており、ウエハ搬入搬出口65はウエハ
Wを正圧移載室62に対して搬入搬出し得るように構成
されている。ウエハ搬入搬出口65にはポッドオープナ
70が設置されている。ポッドオープナ70はポッドP
を載置する載置台71と、載置台71に載置されたポッ
ドPのキャップを着脱するキャップ着脱機構72とを備
えており、載置台71に載置されたポッドPのキャップ
をキャップ着脱機構72によって着脱することにより、
ポッドPのウエハ出し入れ口を開閉するようになってい
る。ポッドオープナ70の載置台71に対してはポッド
Pが、工程内搬送装置によって供給および排出されるよ
うになっている。
圧移載室62の筐体61の正面壁にはウエハ搬入搬出口
65が開設されており、ウエハ搬入搬出口65はウエハ
Wを正圧移載室62に対して搬入搬出し得るように構成
されている。ウエハ搬入搬出口65にはポッドオープナ
70が設置されている。ポッドオープナ70はポッドP
を載置する載置台71と、載置台71に載置されたポッ
ドPのキャップを着脱するキャップ着脱機構72とを備
えており、載置台71に載置されたポッドPのキャップ
をキャップ着脱機構72によって着脱することにより、
ポッドPのウエハ出し入れ口を開閉するようになってい
る。ポッドオープナ70の載置台71に対してはポッド
Pが、工程内搬送装置によって供給および排出されるよ
うになっている。
【0021】次に、前記構成に係るCVD装置を使用し
たICの製造方法における成膜工程を説明する。
たICの製造方法における成膜工程を説明する。
【0022】これから成膜すべきウエハWは25枚がポ
ッドPに収納された状態で、成膜工程を実施するCVD
装置10へ工程内搬送装置によって搬送されて来る。図
1および図2に示されているように、搬送されて来たポ
ッドPはポッドオープナ70の載置台71の上に工程内
搬送装置から受け渡されて載置される。ポッドPのキャ
ップがキャップ着脱機構72によって取り外され、ポッ
ドPのウエハ出し入れ口が開放される。他方、予備室5
1のウエハ搬入搬出口59はゲートバルブ60によって
開放される。
ッドPに収納された状態で、成膜工程を実施するCVD
装置10へ工程内搬送装置によって搬送されて来る。図
1および図2に示されているように、搬送されて来たポ
ッドPはポッドオープナ70の載置台71の上に工程内
搬送装置から受け渡されて載置される。ポッドPのキャ
ップがキャップ着脱機構72によって取り外され、ポッ
ドPのウエハ出し入れ口が開放される。他方、予備室5
1のウエハ搬入搬出口59はゲートバルブ60によって
開放される。
【0023】ポッドPがポッドオープナ70により開放
されると、正圧移載室62に設置された正圧ウエハ移載
装置64はウエハ搬入搬出口65を通してポッドPから
ウエハWを一枚ずつ順次にピックアップして正圧移載室
62に搬入(ウエハローディング)し、さらに、予備室
51へウエハ搬入搬出口59を通じて搬入するととも
に、予備室51の第一ストッカ57に移載(チャージン
グ)して行く。この移載作業中には、予備室51のロー
ドロック室12側のウエハ搬入搬出口42、54はゲー
トバルブ55によって閉じられており、ロードロック室
12の負圧は予備室51の正圧にかかわらず維持されて
いる。25枚のウエハWの第一ストッカ57への移載が
完了すると、予備室51の正圧移載室62側のウエハ搬
入搬出口59がゲートバルブ60によって閉じられ、予
備室51が排気管52によって負圧に排気される。
されると、正圧移載室62に設置された正圧ウエハ移載
装置64はウエハ搬入搬出口65を通してポッドPから
ウエハWを一枚ずつ順次にピックアップして正圧移載室
62に搬入(ウエハローディング)し、さらに、予備室
51へウエハ搬入搬出口59を通じて搬入するととも
に、予備室51の第一ストッカ57に移載(チャージン
グ)して行く。この移載作業中には、予備室51のロー
ドロック室12側のウエハ搬入搬出口42、54はゲー
トバルブ55によって閉じられており、ロードロック室
12の負圧は予備室51の正圧にかかわらず維持されて
いる。25枚のウエハWの第一ストッカ57への移載が
完了すると、予備室51の正圧移載室62側のウエハ搬
入搬出口59がゲートバルブ60によって閉じられ、予
備室51が排気管52によって負圧に排気される。
【0024】予備室51が予め設定された圧力値に減圧
されると、ロードロック室12側のウエハ搬入搬出口4
2、54がゲートバルブ55によって開かれる。続い
て、ロードロック室12のウエハ移載装置39はウエハ
搬入搬出口42、54を通して第一ストッカ57からウ
エハWを一枚ずつ順次にピックアップしてロードロック
室12の待機部12bに搬入するとともに、ウエハWを
待機部12bのボート37に装填(チャージング)して
行く。25枚のウエハWのボート37への装填が全て終
了すると、ロードロック室12のウエハ搬入搬出口4
2、54がゲートバルブ55によって閉じられる。ちな
みに、ダミーウエハはウエハ移載装置39によってダミ
ーウエハ用ストッカ43から必要に応じてピックアップ
され、ボート37に装填される。
されると、ロードロック室12側のウエハ搬入搬出口4
2、54がゲートバルブ55によって開かれる。続い
て、ロードロック室12のウエハ移載装置39はウエハ
搬入搬出口42、54を通して第一ストッカ57からウ
エハWを一枚ずつ順次にピックアップしてロードロック
室12の待機部12bに搬入するとともに、ウエハWを
待機部12bのボート37に装填(チャージング)して
行く。25枚のウエハWのボート37への装填が全て終
了すると、ロードロック室12のウエハ搬入搬出口4
2、54がゲートバルブ55によって閉じられる。ちな
みに、ダミーウエハはウエハ移載装置39によってダミ
ーウエハ用ストッカ43から必要に応じてピックアップ
され、ボート37に装填される。
【0025】この25枚のウエハWのボート37への装
填作業に際して、図2に示されているように、ウエハ移
載装置用エレベータ38の昇降ストロークL1 はボート
37のウエハ保持範囲L2 よりも小さく設定されている
ため、ストロークが不足する。しかし、そのウエハ移載
装置用エレベータ38のストロークの不足分L3 はボー
トエレベータ23のストロークによって補われるため、
ウエハ移載装置39はボート37へ25枚のウエハWを
全て装填することができる。換言すれば、ウエハ移載装
置用エレベータ38の昇降ストロークL1 がボート37
のウエハ装填範囲L2 よりも小さく設定されている分だ
け、ウエハ移載装置用エレベータ38が小形化されてい
ることになるため、ロードロック室12のウエハ移載装
置設置部12aの高さを待機部12bよりも低く設定す
ることができる。その結果、ロードロック室12の全体
としての容積を小さく抑えることができるため、ロード
ロック室12の真空引きの時間を短縮することができる
とともに、ウエハ移載装置39およびロードロック室1
2ひいてはCVD装置全体としての製造コストやランニ
ングコストを低減することができる。
填作業に際して、図2に示されているように、ウエハ移
載装置用エレベータ38の昇降ストロークL1 はボート
37のウエハ保持範囲L2 よりも小さく設定されている
ため、ストロークが不足する。しかし、そのウエハ移載
装置用エレベータ38のストロークの不足分L3 はボー
トエレベータ23のストロークによって補われるため、
ウエハ移載装置39はボート37へ25枚のウエハWを
全て装填することができる。換言すれば、ウエハ移載装
置用エレベータ38の昇降ストロークL1 がボート37
のウエハ装填範囲L2 よりも小さく設定されている分だ
け、ウエハ移載装置用エレベータ38が小形化されてい
ることになるため、ロードロック室12のウエハ移載装
置設置部12aの高さを待機部12bよりも低く設定す
ることができる。その結果、ロードロック室12の全体
としての容積を小さく抑えることができるため、ロード
ロック室12の真空引きの時間を短縮することができる
とともに、ウエハ移載装置39およびロードロック室1
2ひいてはCVD装置全体としての製造コストやランニ
ングコストを低減することができる。
【0026】ウエハWの第一ストッカ57からボート3
7へのウエハ移載装置39による装填作業の間は、ボー
ト搬入搬出口15がシャッタ16によって閉鎖されるこ
とにより、プロセスチューブ19の高温雰囲気が待機部
12bに流入することは防止されている。このため、装
填途中のウエハWおよび装填されたウエハWが高温雰囲
気に晒されることはなく、ウエハWが高温雰囲気に晒さ
れることによる自然酸化等の弊害の派生は防止されるこ
とになる。
7へのウエハ移載装置39による装填作業の間は、ボー
ト搬入搬出口15がシャッタ16によって閉鎖されるこ
とにより、プロセスチューブ19の高温雰囲気が待機部
12bに流入することは防止されている。このため、装
填途中のウエハWおよび装填されたウエハWが高温雰囲
気に晒されることはなく、ウエハWが高温雰囲気に晒さ
れることによる自然酸化等の弊害の派生は防止されるこ
とになる。
【0027】図2および図3に示されているように、予
め指定された枚数のウエハWがボート37へ装填される
と、図3および図4に示されているように、ボート搬入
搬出口15はシャッタ16によって開けられる。続い
て、シールキャップ36に支持されたボート37がボー
トエレベータ23の昇降台28によって上昇されて、プ
ロセスチューブ19の処理室18に搬入(ボートローデ
ィング)される。ボート37が上限に達すると、ボート
37を支持したシールキャップ36の上面の周辺部がボ
ート搬入搬出口15をシール状態に閉塞するため、プロ
セスチューブ19の処理室18は気密に閉じられた状態
になる。このボート37の処理室18への搬入に際し
て、ロードロック室12が真空排気されることによって
内部の酸素や水分が予め除去されているため、ボート3
7の処理室18への搬入に伴って外部の酸素や水分が処
理室18に侵入することは確実に防止される。
め指定された枚数のウエハWがボート37へ装填される
と、図3および図4に示されているように、ボート搬入
搬出口15はシャッタ16によって開けられる。続い
て、シールキャップ36に支持されたボート37がボー
トエレベータ23の昇降台28によって上昇されて、プ
ロセスチューブ19の処理室18に搬入(ボートローデ
ィング)される。ボート37が上限に達すると、ボート
37を支持したシールキャップ36の上面の周辺部がボ
ート搬入搬出口15をシール状態に閉塞するため、プロ
セスチューブ19の処理室18は気密に閉じられた状態
になる。このボート37の処理室18への搬入に際し
て、ロードロック室12が真空排気されることによって
内部の酸素や水分が予め除去されているため、ボート3
7の処理室18への搬入に伴って外部の酸素や水分が処
理室18に侵入することは確実に防止される。
【0028】ここで、ボート37を処理室18へ搬入す
る昇降台28が上昇する際には、上側ベローズ32は上
方向に短縮し、下側ベローズ33は上方向に伸長する必
要があるが、上側ベローズ32および下側ベローズ33
の中空部内は上側取付板24および耐圧筐体11の天井
壁を貫通する連通孔と、下側取付板25および耐圧筐体
11の底壁を貫通する連通孔によって大気圧に連通され
ているため、上側ベローズ32は上方向に短縮し、下側
ベローズ33は上方向に伸長することができる。また、
上側ベローズ32の中空部内および下側ベローズ33の
中空部内は待機部12bからそれぞれ隔離されているた
め、上側ベローズ32の短縮および下側ベローズ33の
伸長(特に、上側ベローズ32の短縮)に伴って、上側
ベローズ32の中空部内および下側ベローズ33の中空
部内の大気中の酸素や水分、送りねじ軸27や昇降台2
8の雌ねじ孔やガイドレール26に塗布された潤滑油
(グリース)からの蒸発ガス等が待機部12bに侵入す
る現象は防止される。
る昇降台28が上昇する際には、上側ベローズ32は上
方向に短縮し、下側ベローズ33は上方向に伸長する必
要があるが、上側ベローズ32および下側ベローズ33
の中空部内は上側取付板24および耐圧筐体11の天井
壁を貫通する連通孔と、下側取付板25および耐圧筐体
11の底壁を貫通する連通孔によって大気圧に連通され
ているため、上側ベローズ32は上方向に短縮し、下側
ベローズ33は上方向に伸長することができる。また、
上側ベローズ32の中空部内および下側ベローズ33の
中空部内は待機部12bからそれぞれ隔離されているた
め、上側ベローズ32の短縮および下側ベローズ33の
伸長(特に、上側ベローズ32の短縮)に伴って、上側
ベローズ32の中空部内および下側ベローズ33の中空
部内の大気中の酸素や水分、送りねじ軸27や昇降台2
8の雌ねじ孔やガイドレール26に塗布された潤滑油
(グリース)からの蒸発ガス等が待機部12bに侵入す
る現象は防止される。
【0029】その後、プロセスチューブ19の処理室1
8は気密に閉じられた状態で、所定の圧力となるように
排気管22によって排気され、ヒータユニット17によ
って所定の温度に加熱され、所定の原料ガスがガス導入
管21によって所定の流量だけ供給される。これによ
り、予め設定された処理条件に対応する所望のCVD膜
がウエハWに形成される。
8は気密に閉じられた状態で、所定の圧力となるように
排気管22によって排気され、ヒータユニット17によ
って所定の温度に加熱され、所定の原料ガスがガス導入
管21によって所定の流量だけ供給される。これによ
り、予め設定された処理条件に対応する所望のCVD膜
がウエハWに形成される。
【0030】この成膜中に、次のバッチ(以下、第二バ
ッチという。)の分の25枚のウエハWがポッドオープ
ナ70の載置台71の上のポッドPから予備室51の第
二ストッカ58へ、正圧ウエハ移載装置64による前述
した移載作業によって移載されることにより、第二バッ
チの分の25枚のウエハWが予備室51において予め準
備される。この後、ゲートバルブ60が閉じられ、予備
室51内は予め設定された負圧に減圧される。この第二
バッチの準備作業中には、予備室51のロードロック室
12側のウエハ搬入搬出口42、54はゲートバルブ5
5によって閉じられているため、ロードロック室12の
負圧は予備室51の正圧にかかわらず維持されている。
ッチという。)の分の25枚のウエハWがポッドオープ
ナ70の載置台71の上のポッドPから予備室51の第
二ストッカ58へ、正圧ウエハ移載装置64による前述
した移載作業によって移載されることにより、第二バッ
チの分の25枚のウエハWが予備室51において予め準
備される。この後、ゲートバルブ60が閉じられ、予備
室51内は予め設定された負圧に減圧される。この第二
バッチの準備作業中には、予備室51のロードロック室
12側のウエハ搬入搬出口42、54はゲートバルブ5
5によって閉じられているため、ロードロック室12の
負圧は予備室51の正圧にかかわらず維持されている。
【0031】予め設定された成膜処理時間が経過する
と、図2および図3に示されているように、ボート37
がボートエレベータ23の昇降台28によって下降され
ることにより、成膜済みのウエハWを保持したボート3
7は負圧の状態になったロードロック室12の待機部1
2bに搬出(ボートアンローディング)される。ボート
37が待機部12bに搬出されると、ボート搬入搬出口
15がシャッタ16によって閉鎖される。続いて、窒素
ガスが待機部12bに不活性ガス供給管14によって給
気される。待機部12bに搬出されたボート37の処理
済みウエハWは、この窒素ガスの給気によってウエハ移
載装置39による移載作業に耐え得る温度(約200
℃)まで冷却される。ウエハWが所定の温度になると、
ロードロック室12は所定の負圧に再び減圧される。
と、図2および図3に示されているように、ボート37
がボートエレベータ23の昇降台28によって下降され
ることにより、成膜済みのウエハWを保持したボート3
7は負圧の状態になったロードロック室12の待機部1
2bに搬出(ボートアンローディング)される。ボート
37が待機部12bに搬出されると、ボート搬入搬出口
15がシャッタ16によって閉鎖される。続いて、窒素
ガスが待機部12bに不活性ガス供給管14によって給
気される。待機部12bに搬出されたボート37の処理
済みウエハWは、この窒素ガスの給気によってウエハ移
載装置39による移載作業に耐え得る温度(約200
℃)まで冷却される。ウエハWが所定の温度になると、
ロードロック室12は所定の負圧に再び減圧される。
【0032】ロードロック室12が予め設定された負圧
に減圧されると、ロードロック室12のウエハ搬入搬出
口42、54がゲートバルブ55によって開かれる。な
お、予備室51は予め設定された負圧に減圧されてい
る。続いて、ロードロック室12のウエハ移載装置39
は待機部12bのボート37から成膜済みのウエハWを
一枚ずつ順次にピックアップし、ウエハ搬入搬出口4
2、54を通して予備室51に搬出(ウエハアンローデ
ィング)するとともに、ウエハWを予備室51の第一ス
トッカ57に装填(チャージング)して行く。25枚の
ウエハWのボート37から第一ストッカ57への移替え
作業が完了すると、ロードロック室12のウエハ搬入搬
出口42、54がゲートバルブ55によって閉じられ
る。
に減圧されると、ロードロック室12のウエハ搬入搬出
口42、54がゲートバルブ55によって開かれる。な
お、予備室51は予め設定された負圧に減圧されてい
る。続いて、ロードロック室12のウエハ移載装置39
は待機部12bのボート37から成膜済みのウエハWを
一枚ずつ順次にピックアップし、ウエハ搬入搬出口4
2、54を通して予備室51に搬出(ウエハアンローデ
ィング)するとともに、ウエハWを予備室51の第一ス
トッカ57に装填(チャージング)して行く。25枚の
ウエハWのボート37から第一ストッカ57への移替え
作業が完了すると、ロードロック室12のウエハ搬入搬
出口42、54がゲートバルブ55によって閉じられ
る。
【0033】この成膜済みウエハWのボート37から第
一ストッカ57への移替え作業は、いずれも負圧に維持
されたロードロック室12および予備室51において実
施されるため、ボート37から第一ストッカ57へのウ
エハの移替え作業に際して、ウエハWのCVD膜の表面
に自然酸化膜が生成されたり、異物等が付着したりする
のは防止されることになる。
一ストッカ57への移替え作業は、いずれも負圧に維持
されたロードロック室12および予備室51において実
施されるため、ボート37から第一ストッカ57へのウ
エハの移替え作業に際して、ウエハWのCVD膜の表面
に自然酸化膜が生成されたり、異物等が付着したりする
のは防止されることになる。
【0034】成膜済みウエハWのボート37から第一ス
トッカ57への移替え作業が完了すると、予備室51の
ウエハ搬入搬出口42、54がゲートバルブ55によっ
て閉じられ、窒素ガスが予備室51に不活性ガス供給管
53によって給気される。予備室51に搬出されて第一
ストッカ57に移載された処理済みウエハWは、この窒
素ガスの給気によってポッドPへの収納に耐え得る温度
(約5℃〜60℃)まで冷却される。処理済みウエハW
が所定の温度に冷却されると、予備室51の内圧は大気
圧に維持される。
トッカ57への移替え作業が完了すると、予備室51の
ウエハ搬入搬出口42、54がゲートバルブ55によっ
て閉じられ、窒素ガスが予備室51に不活性ガス供給管
53によって給気される。予備室51に搬出されて第一
ストッカ57に移載された処理済みウエハWは、この窒
素ガスの給気によってポッドPへの収納に耐え得る温度
(約5℃〜60℃)まで冷却される。処理済みウエハW
が所定の温度に冷却されると、予備室51の内圧は大気
圧に維持される。
【0035】予備室51の内圧が大気圧に維持される
と、予備室51のウエハ搬入搬出口59がゲートバルブ
60によって開かれる。他方、ポッドオープナ70の載
置台71に載置された空のポッドPのキャップがポッド
オープナ70によって外され、ポッドPが開かれる。続
いて、正圧移載室62の正圧ウエハ移載装置64はウエ
ハ搬入搬出口59を通して予備室51の第一ストッカ5
7からウエハWを一枚ずつ順次にピックアップして正圧
移載室62に搬出し、正圧移載室62のウエハ搬入搬出
口65を通してポッドPに収納(チャージング)して行
く。成膜済みの25枚のウエハWのポッドPへの収納が
完了すると、ポッドPのキャップがポッドオープナ70
のキャップ着脱機構72によってウエハ出し入れ口に装
着され、ポッドPが閉じられる。
と、予備室51のウエハ搬入搬出口59がゲートバルブ
60によって開かれる。他方、ポッドオープナ70の載
置台71に載置された空のポッドPのキャップがポッド
オープナ70によって外され、ポッドPが開かれる。続
いて、正圧移載室62の正圧ウエハ移載装置64はウエ
ハ搬入搬出口59を通して予備室51の第一ストッカ5
7からウエハWを一枚ずつ順次にピックアップして正圧
移載室62に搬出し、正圧移載室62のウエハ搬入搬出
口65を通してポッドPに収納(チャージング)して行
く。成膜済みの25枚のウエハWのポッドPへの収納が
完了すると、ポッドPのキャップがポッドオープナ70
のキャップ着脱機構72によってウエハ出し入れ口に装
着され、ポッドPが閉じられる。
【0036】閉じられたポッドPは載置台71の上から
次の工程へ工程内搬送装置によって搬送されて行く。以
降、前述した作用が繰り返されることにより、一台のポ
ッドPに収納されたウエハW毎に成膜が連続してバッチ
処理されて行く。
次の工程へ工程内搬送装置によって搬送されて行く。以
降、前述した作用が繰り返されることにより、一台のポ
ッドPに収納されたウエハW毎に成膜が連続してバッチ
処理されて行く。
【0037】前記実施の形態によれば、次の効果が得ら
れる。
れる。
【0038】1) ロードロック方式のボート搬入搬出室
に隣接してロードロック方式の予備室を設けることによ
り、ウエハの移替え作業をいずれも負圧に維持された予
備室およびボート搬入搬出室において実施することがで
きるため、ウエハの表面および処理済みの成膜の表面に
自然酸化膜が生成されたり、異物等が付着したりするの
を防止することができる。
に隣接してロードロック方式の予備室を設けることによ
り、ウエハの移替え作業をいずれも負圧に維持された予
備室およびボート搬入搬出室において実施することがで
きるため、ウエハの表面および処理済みの成膜の表面に
自然酸化膜が生成されたり、異物等が付着したりするの
を防止することができる。
【0039】2) ロードロック方式の予備室を配設する
ことにより、処理室における成膜作業中に、これからバ
ッチ処理するウエハの搬入作業および処理済みウエハの
搬出作業を同時進行させて予め準備することができるた
め、スループットを高めることができる。
ことにより、処理室における成膜作業中に、これからバ
ッチ処理するウエハの搬入作業および処理済みウエハの
搬出作業を同時進行させて予め準備することができるた
め、スループットを高めることができる。
【0040】3) ボート搬入搬出室および予備室に窒素
ガス給気管を接続することにより、処理済みのウエハを
強制冷却することができるため、スループットをより一
層高めることができる。
ガス給気管を接続することにより、処理済みのウエハを
強制冷却することができるため、スループットをより一
層高めることができる。
【0041】4) ウエハ移載装置用エレベータの昇降ス
トロークL1 をボートのウエハ保持範囲L2 よりも小さ
く設定することにより、ウエハ移載装置用エレベータを
小形化することができるため、ロードロック室のウエハ
移載装置設置部の高さを低く設定することにより、ロー
ドロック室全体としての容積を小さく設定することがで
きる。
トロークL1 をボートのウエハ保持範囲L2 よりも小さ
く設定することにより、ウエハ移載装置用エレベータを
小形化することができるため、ロードロック室のウエハ
移載装置設置部の高さを低く設定することにより、ロー
ドロック室全体としての容積を小さく設定することがで
きる。
【0042】5) ロードロック室全体としての容積を小
さく抑えることにより、ロードロック室の真空引きの時
間を短縮させてスループットを向上させることができる
とともに、ウエハ移載装置およびロードロック室ひいて
はCVD装置全体としての製造コストやランニングコス
トを低減することができる。
さく抑えることにより、ロードロック室の真空引きの時
間を短縮させてスループットを向上させることができる
とともに、ウエハ移載装置およびロードロック室ひいて
はCVD装置全体としての製造コストやランニングコス
トを低減することができる。
【0043】6) 25枚のウエハのストッカとボートと
の間の移載作業に際して、ウエハ移載装置用エレベータ
の昇降ストロークL1 のボートのウエハ保持範囲L2 に
対する不足分L3 をボートエレベータのストロークによ
って補うことにより、ウエハ移載装置はボートへ25枚
のウエハを全て装填することができる。
の間の移載作業に際して、ウエハ移載装置用エレベータ
の昇降ストロークL1 のボートのウエハ保持範囲L2 に
対する不足分L3 をボートエレベータのストロークによ
って補うことにより、ウエハ移載装置はボートへ25枚
のウエハを全て装填することができる。
【0044】図5は本発明の他の実施の形態であるCV
D装置を示す平面断面図である。
D装置を示す平面断面図である。
【0045】本実施の形態が前記実施の形態と異なる点
は、搬入用の予備室51Aおよびストッカ57Aと、搬
出用の予備室51Bおよびストッカ57Bとが設備され
ている点である。ちなみに、ストッカ移動装置の代わり
に、ストッカ57A、57Bの向きを変更するためのス
トッカ変向装置56A、56Bがそれぞれ設置されてい
る。
は、搬入用の予備室51Aおよびストッカ57Aと、搬
出用の予備室51Bおよびストッカ57Bとが設備され
ている点である。ちなみに、ストッカ移動装置の代わり
に、ストッカ57A、57Bの向きを変更するためのス
トッカ変向装置56A、56Bがそれぞれ設置されてい
る。
【0046】本実施の形態によれば、搬入経路と搬出経
路とを一方通行に設定することができるため、CVD装
置のスループットをより一層高めることができる。
路とを一方通行に設定することができるため、CVD装
置のスループットをより一層高めることができる。
【0047】なお、本発明は前記実施の形態に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変
更が可能であることはいうまでもない。
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変
更が可能であることはいうまでもない。
【0048】例えば、ダミーウエハはボートに常備して
おき定期または不定期に交換するように取り扱ってもよ
いし、ボートに固定させておいてもよい。また、ダミー
ウエハはロードロック室に設置するに限らず、正圧移載
室に設置し、このストッカに保管したダミーウエハを適
宜に取り出してボートに装填するように取り扱ってもよ
い。
おき定期または不定期に交換するように取り扱ってもよ
いし、ボートに固定させておいてもよい。また、ダミー
ウエハはロードロック室に設置するに限らず、正圧移載
室に設置し、このストッカに保管したダミーウエハを適
宜に取り出してボートに装填するように取り扱ってもよ
い。
【0049】前記実施の形態ではCVD装置について説
明したが、酸化装置や拡散装置、アニール装置および熱
処理装置等の基板処理装置全般に適用することができ
る。
明したが、酸化装置や拡散装置、アニール装置および熱
処理装置等の基板処理装置全般に適用することができ
る。
【0050】また、ウエハを処理する場合について説明
したが、液晶パネルや磁気ディスク、光ディスク等の基
板全般について適用することができる。
したが、液晶パネルや磁気ディスク、光ディスク等の基
板全般について適用することができる。
【0051】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ロードロック室の容積を抑制することができる。
ロードロック室の容積を抑制することができる。
【図1】本発明の一実施の形態であるCVD装置を示す
平面断面図である。
平面断面図である。
【図2】その側面断面図である。
【図3】図1のIII-III 線に沿う背面断面図である。
【図4】その成膜作業中の背面断面図である。
【図5】本発明の他の実施の形態であるCVD装置を示
す平面断面図である。
す平面断面図である。
W…ウエハ(基板)、P…ポッド(基板キャリア)、1
0…CVD装置(基板処理装置)、11…耐圧筐体、1
1a…前側部分、11b…後側部分、12…ロードロッ
ク室、12a…ウエハ移載装置設置部、12b…待機
部、13…排気管、14…不活性ガス供給管、15…ボ
ート搬入搬出口、16…シャッタ、17…ヒータユニッ
ト、18…処理室、19…プロセスチューブ、20…マ
ニホールド、21…ガス導入管、22…排気管、23…
ボートエレベータ、24…上側取付板、25…下側取付
板、26…ガイドレール、27…送りねじ軸、28…昇
降台、29…モータ、30、31…取付板、32…上側
ベローズ、33…下側ベローズ、34…アーム、35…
支持台、36…シールキャップ、37…ボート、38…
ウエハ移載装置用エレベータ、39…ウエハ移載装置、
40…保守点検口、41…ゲート、42…ウエハ搬入搬
出口、43…ダミーウエハ用ストッカ、50…予備室筐
体、51…予備室、52…排気管、53…不活性ガス供
給管、54…ウエハ搬入搬出口、55…ゲートバルブ、
56…ストッカ移動装置、57…第一ストッカ、58…
第二ストッカ、59…ウエハ搬入搬出口、60…ゲート
バルブ、61…筐体、62…正圧移載室(ウエハ移載
室)、63…クリーンユニット、64…正圧ウエハ移載
装置、65…ウエハ搬入搬出口、70…ポッドオープ
ナ、71…載置台、72…キャップ着脱機構、51A、
51B…予備室、56A、56B…ストッカ変向装置、
57A、57B…ストッカ。
0…CVD装置(基板処理装置)、11…耐圧筐体、1
1a…前側部分、11b…後側部分、12…ロードロッ
ク室、12a…ウエハ移載装置設置部、12b…待機
部、13…排気管、14…不活性ガス供給管、15…ボ
ート搬入搬出口、16…シャッタ、17…ヒータユニッ
ト、18…処理室、19…プロセスチューブ、20…マ
ニホールド、21…ガス導入管、22…排気管、23…
ボートエレベータ、24…上側取付板、25…下側取付
板、26…ガイドレール、27…送りねじ軸、28…昇
降台、29…モータ、30、31…取付板、32…上側
ベローズ、33…下側ベローズ、34…アーム、35…
支持台、36…シールキャップ、37…ボート、38…
ウエハ移載装置用エレベータ、39…ウエハ移載装置、
40…保守点検口、41…ゲート、42…ウエハ搬入搬
出口、43…ダミーウエハ用ストッカ、50…予備室筐
体、51…予備室、52…排気管、53…不活性ガス供
給管、54…ウエハ搬入搬出口、55…ゲートバルブ、
56…ストッカ移動装置、57…第一ストッカ、58…
第二ストッカ、59…ウエハ搬入搬出口、60…ゲート
バルブ、61…筐体、62…正圧移載室(ウエハ移載
室)、63…クリーンユニット、64…正圧ウエハ移載
装置、65…ウエハ搬入搬出口、70…ポッドオープ
ナ、71…載置台、72…キャップ着脱機構、51A、
51B…予備室、56A、56B…ストッカ変向装置、
57A、57B…ストッカ。
フロントページの続き
Fターム(参考) 5F031 CA02 DA17 FA01 FA11 FA12
FA15 LA12 MA07 MA09 MA28
MA29 NA02 NA04 NA09 NA18
5F045 AA03 AB31 AB32 AB33 DP16
DQ05 EB08 EM10 EN04
Claims (2)
- 【請求項1】 処理時に複数枚の基板を支持するボート
と、このボートを昇降させるボートエレベータと、前記
基板を保管する基板ストッカと、この基板ストッカと前
記ボートとの間で前記基板を移載する基板移載装置とを
備えている基板処理装置において、前記基板移載装置の
上下方向のストロークが前記ボートの基板保持範囲より
も小さく設定されており、このストロークの不足分が前
記ボートエレベータのストロークによって補われるよう
に構成されていることを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 前記基板ストッカの基板保持範囲が前記
ボートの基板保持範囲よりも小さく設定されており、前
記基板移載装置の上下方向のストロークが前記基板スト
ッカの前記基板保持範囲に等しく設定されていることを
特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001360956A JP2003163252A (ja) | 2001-11-27 | 2001-11-27 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001360956A JP2003163252A (ja) | 2001-11-27 | 2001-11-27 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003163252A true JP2003163252A (ja) | 2003-06-06 |
Family
ID=19171692
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001360956A Pending JP2003163252A (ja) | 2001-11-27 | 2001-11-27 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003163252A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007057518A1 (en) * | 2005-11-17 | 2007-05-24 | Beneq Oy | Arrangement in connection with ald reactor |
JP2007519412A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-07-19 | ルサッフル・エ・コンパニー | 生地中の高糖度および弱有機酸の存在に耐性のある新規なパン酵母 |
JP2013115393A (ja) * | 2011-12-01 | 2013-06-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置及び真空処理装置の運転方法 |
WO2020194415A1 (ja) * | 2019-03-22 | 2020-10-01 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム |
CN114743911A (zh) * | 2022-04-02 | 2022-07-12 | 合肥真萍电子科技有限公司 | 一种石英舟装载晶圆的装载装置 |
-
2001
- 2001-11-27 JP JP2001360956A patent/JP2003163252A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007519412A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-07-19 | ルサッフル・エ・コンパニー | 生地中の高糖度および弱有機酸の存在に耐性のある新規なパン酵母 |
JP4749341B2 (ja) * | 2004-01-30 | 2011-08-17 | ルサッフル・エ・コンパニー | 生地中の高糖度および弱有機酸の存在に耐性のある新規なパン酵母 |
WO2007057518A1 (en) * | 2005-11-17 | 2007-05-24 | Beneq Oy | Arrangement in connection with ald reactor |
JP2013115393A (ja) * | 2011-12-01 | 2013-06-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置及び真空処理装置の運転方法 |
WO2020194415A1 (ja) * | 2019-03-22 | 2020-10-01 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム |
KR20210120088A (ko) | 2019-03-22 | 2021-10-06 | 가부시키가이샤 코쿠사이 엘렉트릭 | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법, 및 프로그램 |
CN113508455A (zh) * | 2019-03-22 | 2021-10-15 | 株式会社国际电气 | 基板处理装置、半导体器件的制造方法以及程序 |
JPWO2020194415A1 (ja) * | 2019-03-22 | 2021-11-25 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム |
JP7110483B2 (ja) | 2019-03-22 | 2022-08-01 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム |
CN113508455B (zh) * | 2019-03-22 | 2024-03-26 | 株式会社国际电气 | 基板处理装置、半导体器件的制造方法以及记录介质 |
CN114743911A (zh) * | 2022-04-02 | 2022-07-12 | 合肥真萍电子科技有限公司 | 一种石英舟装载晶圆的装载装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003077974A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
US6540469B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
US7198447B2 (en) | Semiconductor device producing apparatus and producing method of semiconductor device | |
KR102170007B1 (ko) | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법, 및 프로그램 | |
JP2003124284A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
US20030000476A1 (en) | Substrate processing apparatus, conveying unit thereof, and semiconductor device fabricating Method | |
JPWO2007018139A1 (ja) | 半導体装置の製造方法および基板処理装置 | |
US20020197145A1 (en) | Substrate processing apparatus and a method for fabricating a semiconductor device by using same | |
JP2002203892A (ja) | 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法 | |
US11430679B2 (en) | Semiconductor manufacturing apparatus | |
JP2002359237A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2009266962A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JPH10107124A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2003163252A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2003115518A (ja) | 基板処理装置 | |
KR20200108467A (ko) | 처리 장치, 배기 시스템, 반도체 장치의 제조 방법 | |
JP2003092329A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2004023032A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2004119627A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP4359109B2 (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JPH1050802A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2002173775A (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
KR20190088023A (ko) | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법 및 기록매체 | |
JP2001077172A (ja) | 基板の処理装置、基板の搬送体、並びに電子部品の製造方法 | |
JP2003060009A (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 |