JP2003037709A - 画像読取方法および装置 - Google Patents
画像読取方法および装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画像情報を静電潜像として記録し、読取用の
電磁波で走査されることにより静電潜像に応じた電流を
発生する画像検出器を使用する画像読取方法および装置
において、より適当な読取用の電磁波の大きさで読取り
を行うことにより読取効率を向上する。 【解決手段】 画像検出器10に一様な放射線を照射す
ることにより濃度が一様なベタ画像を記録し、そして、
読取光照射手段20により読取光の大きさを変化させな
がら上記画像検出器10を走査露光し、このときの読取
光量の大きさと読取効率の関係を求め、読取効率がその
最大値の90%の大きさとなるときの読取光量を制御用
プリント基板80の制御手段に設定し、この設定された
読取光量の大きさに従って読取光照射手段20の光源1
01に流れる電流を制御する。
電磁波で走査されることにより静電潜像に応じた電流を
発生する画像検出器を使用する画像読取方法および装置
において、より適当な読取用の電磁波の大きさで読取り
を行うことにより読取効率を向上する。 【解決手段】 画像検出器10に一様な放射線を照射す
ることにより濃度が一様なベタ画像を記録し、そして、
読取光照射手段20により読取光の大きさを変化させな
がら上記画像検出器10を走査露光し、このときの読取
光量の大きさと読取効率の関係を求め、読取効率がその
最大値の90%の大きさとなるときの読取光量を制御用
プリント基板80の制御手段に設定し、この設定された
読取光量の大きさに従って読取光照射手段20の光源1
01に流れる電流を制御する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は画像読取方法および
装置に関し、より詳細には、画像を静電潜像として記録
する撮像デバイス(画像検出器)を備えた画像読取方方
法および装置に関するものである。
装置に関し、より詳細には、画像を静電潜像として記録
する撮像デバイス(画像検出器)を備えた画像読取方方
法および装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、画像検出器を用いた装置とし
て、ファクシミリ、複写機或いは放射線撮像装置などが
知られている。
て、ファクシミリ、複写機或いは放射線撮像装置などが
知られている。
【0003】特に、医療用X線撮影においては、被験者
の受ける被爆線量の低減、診断性能の向上などのため
に、X線などの放射線に感応する例えばa−Seから成
るセレン板などの光導電体を有する放射線固体検出器
(静電記録体)を画像検出器として用い、該放射線固体
検出器にX線を照射し、照射されたX線の線量に応じた
量の電荷を放射線固体検出器内の蓄電部に潜像電荷とし
て蓄積させることにより、放射線画像情報を蓄電部に静
電潜像として記録すると共に、読取光としてのレーザビ
ーム或いはライン光で放射線画像情報が記録された放射
線固体検出器を走査することにより、該放射線固体検出
器から放射線画像情報を読み取る方法や装置が提案され
ている(例えば、米国特許第5268569号明細書、
国際公開1998年第59261号明細書、特開平9−
5906号公報、本願出願人による特願平10−232
824号、同11−242876号、同11−8792
2号など)。
の受ける被爆線量の低減、診断性能の向上などのため
に、X線などの放射線に感応する例えばa−Seから成
るセレン板などの光導電体を有する放射線固体検出器
(静電記録体)を画像検出器として用い、該放射線固体
検出器にX線を照射し、照射されたX線の線量に応じた
量の電荷を放射線固体検出器内の蓄電部に潜像電荷とし
て蓄積させることにより、放射線画像情報を蓄電部に静
電潜像として記録すると共に、読取光としてのレーザビ
ーム或いはライン光で放射線画像情報が記録された放射
線固体検出器を走査することにより、該放射線固体検出
器から放射線画像情報を読み取る方法や装置が提案され
ている(例えば、米国特許第5268569号明細書、
国際公開1998年第59261号明細書、特開平9−
5906号公報、本願出願人による特願平10−232
824号、同11−242876号、同11−8792
2号など)。
【0004】さらに、本出願人は、上記のような放射線
固体検出器を用いた放射線画像記録読取装置を実用的に
利用するため、上記放射線固体検出器と、記録光の照射
の前に画像検出器に蓄積される不要電荷を消滅させるた
めに画像検出器に電磁波を照射したり、本記録の前のプ
リチャージを行うために1次露光を行う前露光光源部
と、読取光を放射線固体検出器に対して走査露光せしめ
る読取用露光光源部と、読取光の走査露光により静電潜
像に応じて発生した電流を検出する電流検出手段とが、
同筐体内に備えられ、装置全体としてコンパクトかつ可
搬な構成とした胸部撮影装置を提案している(特願20
00−113944号)。
固体検出器を用いた放射線画像記録読取装置を実用的に
利用するため、上記放射線固体検出器と、記録光の照射
の前に画像検出器に蓄積される不要電荷を消滅させるた
めに画像検出器に電磁波を照射したり、本記録の前のプ
リチャージを行うために1次露光を行う前露光光源部
と、読取光を放射線固体検出器に対して走査露光せしめ
る読取用露光光源部と、読取光の走査露光により静電潜
像に応じて発生した電流を検出する電流検出手段とが、
同筐体内に備えられ、装置全体としてコンパクトかつ可
搬な構成とした胸部撮影装置を提案している(特願20
00−113944号)。
【0005】ここで、上記のような放射線固体検出器を
用いて放射線画像の記録を行ない、そして読取光の照射
により静電潜像を読み出す場合、理論的には読取光の光
量を大きくしたとき、その大きさの変化にともなって読
み出される画像信号の大きさは大きくなり、つまり読取
効率(記録された静電潜像の電荷の大きさに対して読み
出される画像信号の大きさの割合)が大きくなり、全て
の静電潜像を読み出すのに相当する光量に達した後は、
読取光の光量をそれ以上大きくしても読取効率は大きく
ならず一定値の画像信号が出力されるものと考えられ
る。
用いて放射線画像の記録を行ない、そして読取光の照射
により静電潜像を読み出す場合、理論的には読取光の光
量を大きくしたとき、その大きさの変化にともなって読
み出される画像信号の大きさは大きくなり、つまり読取
効率(記録された静電潜像の電荷の大きさに対して読み
出される画像信号の大きさの割合)が大きくなり、全て
の静電潜像を読み出すのに相当する光量に達した後は、
読取光の光量をそれ以上大きくしても読取効率は大きく
ならず一定値の画像信号が出力されるものと考えられ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際に
は読取光の光量を次第に大きくしていくと、図6に示す
ように読取光の光量がある値以上になると読取光量は減
少していくことが本出願人の実験により明らかとなっ
た。このような傾向は、図6に示す実験結果に限らず、
他に放射線固体検出器においても同様の傾向がみられ、
さらに、放射線固体検出器によってこの読取効率が最大
となる読取光の光量がそれぞれ異なることも明らかとな
った。
は読取光の光量を次第に大きくしていくと、図6に示す
ように読取光の光量がある値以上になると読取光量は減
少していくことが本出願人の実験により明らかとなっ
た。このような傾向は、図6に示す実験結果に限らず、
他に放射線固体検出器においても同様の傾向がみられ、
さらに、放射線固体検出器によってこの読取効率が最大
となる読取光の光量がそれぞれ異なることも明らかとな
った。
【0007】本発明は、上記ような事情に鑑みて、画像
情報を静電潜像として記録し、読取光等の読取用の電磁
波で走査されることにより静電潜像に応じた電流を発生
する画像検出器を使用する画像読取方法および装置にお
いて、より適当な大きさの読取用の電磁波で読取りを行
うことにより読取効率を向上することができる画像読取
方法および装置を提供することを目的とするものであ
る。
情報を静電潜像として記録し、読取光等の読取用の電磁
波で走査されることにより静電潜像に応じた電流を発生
する画像検出器を使用する画像読取方法および装置にお
いて、より適当な大きさの読取用の電磁波で読取りを行
うことにより読取効率を向上することができる画像読取
方法および装置を提供することを目的とするものであ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の画像読取方法
は、画像情報を静電潜像として記録し、読取用の電磁波
で走査露光されることにより静電潜像に応じた電流を発
生する画像検出器を用いて、この画像検出器に読取用の
電磁波を走査露光し、読取用電磁波の走査露光により静
電潜像に応じて発生した電流を画像信号として検出する
ことにより読取りを行う画像読取方法において、画像検
出器における読取効率がその読取効率の最大値の80〜
100%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁波によ
り、画像情報が静電潜像として記録された画像検出器を
走査露光して読取りを行うことを特徴とする。
は、画像情報を静電潜像として記録し、読取用の電磁波
で走査露光されることにより静電潜像に応じた電流を発
生する画像検出器を用いて、この画像検出器に読取用の
電磁波を走査露光し、読取用電磁波の走査露光により静
電潜像に応じて発生した電流を画像信号として検出する
ことにより読取りを行う画像読取方法において、画像検
出器における読取効率がその読取効率の最大値の80〜
100%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁波によ
り、画像情報が静電潜像として記録された画像検出器を
走査露光して読取りを行うことを特徴とする。
【0009】ここで、上記「画像検出器」とは、画像情
報を静電潜像として記録し、読取用の電磁波で走査され
ることにより、前記静電潜像に応じた電流を発生するも
のであって、例えば上述の特願平10−232824号
に記載された静電記録体などである。この画像検出器と
しては、画像情報を担持する光(可視光に限らない)を
照射することによって、画像情報を静電潜像として記録
させることができるものであってもよいし、被写体を透
過した放射線など、放射線画像情報を担持する放射線を
照射することによって、放射線画像情報を静電潜像とし
て記録させることができるものであってもよい。
報を静電潜像として記録し、読取用の電磁波で走査され
ることにより、前記静電潜像に応じた電流を発生するも
のであって、例えば上述の特願平10−232824号
に記載された静電記録体などである。この画像検出器と
しては、画像情報を担持する光(可視光に限らない)を
照射することによって、画像情報を静電潜像として記録
させることができるものであってもよいし、被写体を透
過した放射線など、放射線画像情報を担持する放射線を
照射することによって、放射線画像情報を静電潜像とし
て記録させることができるものであってもよい。
【0010】また、上記「読取用の電磁波」は、画像検
出器から静電潜像を読み取ることができるものであれば
よく、具体的には光や放射線などである。
出器から静電潜像を読み取ることができるものであれば
よく、具体的には光や放射線などである。
【0011】また、上記「走査露光する」とは、平面状
の画像検出器に対して2次元的に読取用の電磁波を照射
することをいい、例えば、ビーム状の読取用電磁波を2
次元的に走査するようにしてもよいし、もしくは主走査
方向に線状に延びたライン光を副走査方向に走査するよ
うにしてもよい。
の画像検出器に対して2次元的に読取用の電磁波を照射
することをいい、例えば、ビーム状の読取用電磁波を2
次元的に走査するようにしてもよいし、もしくは主走査
方向に線状に延びたライン光を副走査方向に走査するよ
うにしてもよい。
【0012】また、上記「読取用電磁波の大きさ」と
は、画像検出器の読取用電磁波が照射される面において
単位面積および単位時間あたりに照射される読取用電磁
波の強度を意味する。
は、画像検出器の読取用電磁波が照射される面において
単位面積および単位時間あたりに照射される読取用電磁
波の強度を意味する。
【0013】また、上記「読取効率」とは、画像検出器
に記録された静電潜像の電荷量に対して読取光の照射に
より読み出された画像信号の割合を意味する。また、例
えば、一様な放射線が照射されることにより濃度が一様
なベタ画像が記録された画像検出器を読み取るような場
合には、そのときに検出される電流値そのものなども含
むものとする。
に記録された静電潜像の電荷量に対して読取光の照射に
より読み出された画像信号の割合を意味する。また、例
えば、一様な放射線が照射されることにより濃度が一様
なベタ画像が記録された画像検出器を読み取るような場
合には、そのときに検出される電流値そのものなども含
むものとする。
【0014】また、上記「読取効率の最大値」とは、画
像検出器に照射する読取用の電磁波の大きさを変化させ
たときに検出される読取効率のピーク値を意味する。
像検出器に照射する読取用の電磁波の大きさを変化させ
たときに検出される読取効率のピーク値を意味する。
【0015】また、画像検出器における読取用電磁波の
大きさと読取効率との関係に基づいて、読取効率がその
読取効率の最大値の80〜100%の範囲内の値となる
読取用電磁波の大きさを選択し、この選択した大きさの
読取用電磁波により、画像情報が静電潜像として記録さ
れた画像検出器を走査露光して読取りを行うようにする
ことができる。
大きさと読取効率との関係に基づいて、読取効率がその
読取効率の最大値の80〜100%の範囲内の値となる
読取用電磁波の大きさを選択し、この選択した大きさの
読取用電磁波により、画像情報が静電潜像として記録さ
れた画像検出器を走査露光して読取りを行うようにする
ことができる。
【0016】ここで、上記「読取効率がその読取効率の
最大値の80〜100%の範囲内の値となる読取用電磁
波の大きさを選択する」とは、例えば、上記読取用電磁
波の大きさと読取効率との関係がピーク値をもつような
関係である場合においては、そのピーク値を境に両側に
読取効率の最大値の80〜100%の範囲内の値となる
読取用電磁波の大きさが存在し得るが(但し、100%
の場合は除く)、より小さい読取用電磁波の大きさを選
択することが望ましい。
最大値の80〜100%の範囲内の値となる読取用電磁
波の大きさを選択する」とは、例えば、上記読取用電磁
波の大きさと読取効率との関係がピーク値をもつような
関係である場合においては、そのピーク値を境に両側に
読取効率の最大値の80〜100%の範囲内の値となる
読取用電磁波の大きさが存在し得るが(但し、100%
の場合は除く)、より小さい読取用電磁波の大きさを選
択することが望ましい。
【0017】また、画像検出器における読取用電磁波の
大きさと読取効率との関係を、読取用電磁波の大きさを
設定するための基準画像が記録された画像検出器を読取
用電磁波の大きさを変化させながら走査露光して読取り
を行うことにより求めるようにすることができる。
大きさと読取効率との関係を、読取用電磁波の大きさを
設定するための基準画像が記録された画像検出器を読取
用電磁波の大きさを変化させながら走査露光して読取り
を行うことにより求めるようにすることができる。
【0018】ここで、上記「読取用電磁波の大きさを設
定するための基準画像」とは、例えば、一様な放射線を
画像検出器に照射することにより記録された濃度が一様
な画像を意味する。
定するための基準画像」とは、例えば、一様な放射線を
画像検出器に照射することにより記録された濃度が一様
な画像を意味する。
【0019】また、読取効率がその読取効率の最大値の
80〜95%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁波
により、画像情報が静電潜像として記録された画像検出
器を走査露光して読取りを行うようにすることができ
る。
80〜95%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁波
により、画像情報が静電潜像として記録された画像検出
器を走査露光して読取りを行うようにすることができ
る。
【0020】ここで、上記画像検出器の読み取りの際、
できるだけ高い読取効率となるように読取用電磁波を照
射することが望ましいが、例えば、図6に示すような読
取効率と読取光量との関係を有する画像検出器を利用す
る場合には、読取効率が95%と100%とではそれ程
その大きさに差がなく、これに対しこのときの読取光量
には大きな差があるので、パワーの削減、コストの削減
等を考慮すると読取効率が95%程度となる読取用電磁
波の大きさで読取りを行う方が望ましい。
できるだけ高い読取効率となるように読取用電磁波を照
射することが望ましいが、例えば、図6に示すような読
取効率と読取光量との関係を有する画像検出器を利用す
る場合には、読取効率が95%と100%とではそれ程
その大きさに差がなく、これに対しこのときの読取光量
には大きな差があるので、パワーの削減、コストの削減
等を考慮すると読取効率が95%程度となる読取用電磁
波の大きさで読取りを行う方が望ましい。
【0021】また、例えば、読取用電磁波の大きさと読
取効率との関係が上記のようにピーク値を持つような場
合においては、そのピーク値を境に両側に読取効率の最
大値の80〜95%の範囲内の値となる読取用電磁波の
大きさが存在し得るが、より小さい読取用電磁波の大き
さを選択することが望ましい。
取効率との関係が上記のようにピーク値を持つような場
合においては、そのピーク値を境に両側に読取効率の最
大値の80〜95%の範囲内の値となる読取用電磁波の
大きさが存在し得るが、より小さい読取用電磁波の大き
さを選択することが望ましい。
【0022】本発明の画像読取装置は、画像情報を静電
潜像として記録し、読取用の電磁波で走査露光されるこ
とにより静電潜像に応じた電流を発生する画像検出器
と、画像情報が静電潜像として記録された画像検出器に
読取用の電磁波を走査露光する読取用電磁波照射手段
と、読取用電磁波の走査露光により静電潜像に応じて流
れる電流を画像信号として検出する画像信号検出手段と
を備えた画像読取装置において、読取用電磁波照射手段
が、画像検出器における読取効率がその読取効率の最大
値の80〜100%の範囲内の値となる大きさの読取用
電磁波により、画像情報が静電潜像として記録された画
像検出器を走査露光するものであることを特徴とするも
のである。
潜像として記録し、読取用の電磁波で走査露光されるこ
とにより静電潜像に応じた電流を発生する画像検出器
と、画像情報が静電潜像として記録された画像検出器に
読取用の電磁波を走査露光する読取用電磁波照射手段
と、読取用電磁波の走査露光により静電潜像に応じて流
れる電流を画像信号として検出する画像信号検出手段と
を備えた画像読取装置において、読取用電磁波照射手段
が、画像検出器における読取効率がその読取効率の最大
値の80〜100%の範囲内の値となる大きさの読取用
電磁波により、画像情報が静電潜像として記録された画
像検出器を走査露光するものであることを特徴とするも
のである。
【0023】また、読取用電磁波照射手段が、画像検出
器における読取用電磁波の大きさと読取効率との関係に
基づいて選択された読取効率がその読取効率の最大値の
80〜100%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁
波により、画像情報が静電潜像として記録された画像検
出器を走査露光するものとすることができる。
器における読取用電磁波の大きさと読取効率との関係に
基づいて選択された読取効率がその読取効率の最大値の
80〜100%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁
波により、画像情報が静電潜像として記録された画像検
出器を走査露光するものとすることができる。
【0024】また、読取用電磁波照射手段が、読取用電
磁波の大きさを設定するための基準画像が記録された画
像検出器を読取用電磁波の大きさを変化させながら走査
露光して読取りを行うことにより画像検出器における読
取用電磁波の大きさと読取効率との関係を求め、この求
めた関係に基づいて読取効率がその読取効率の最大値の
80〜100%の範囲内の値となる読取用電磁波の大き
さを選択するものとすることができる。
磁波の大きさを設定するための基準画像が記録された画
像検出器を読取用電磁波の大きさを変化させながら走査
露光して読取りを行うことにより画像検出器における読
取用電磁波の大きさと読取効率との関係を求め、この求
めた関係に基づいて読取効率がその読取効率の最大値の
80〜100%の範囲内の値となる読取用電磁波の大き
さを選択するものとすることができる。
【0025】また、読取用電磁波照射手段が、読取効率
がその読取効率の最大値の80〜95%の範囲内の値と
なる大きさの読取用電磁波により、画像情報が静電潜像
として記録された画像検出器に走査露光するものとする
ことができる。
がその読取効率の最大値の80〜95%の範囲内の値と
なる大きさの読取用電磁波により、画像情報が静電潜像
として記録された画像検出器に走査露光するものとする
ことができる。
【0026】また、画像情報として放射線画像情報を適
用することができる。
用することができる。
【0027】
【発明の効果】本発明による画像読取方法および装置に
よれば、画像検出器における読取効率がその読取効率の
最大値の80〜100%の範囲内の値となる大きさの読
取用電磁波により、画像情報が静電潜像として記録され
た画像検出器を走査露光して読取りを行うようにしたの
で、より適当な読取用の電磁波の大きさで読取りを行っ
て読取効率の向上を図ることができる。
よれば、画像検出器における読取効率がその読取効率の
最大値の80〜100%の範囲内の値となる大きさの読
取用電磁波により、画像情報が静電潜像として記録され
た画像検出器を走査露光して読取りを行うようにしたの
で、より適当な読取用の電磁波の大きさで読取りを行っ
て読取効率の向上を図ることができる。
【0028】読取用の電磁波の大きさをより適当な大き
さとできるので、読取用の電磁波を発するのに無駄なパ
ワーを消費することなく、装置としてのコストの削減も
図ることができる。
さとできるので、読取用の電磁波を発するのに無駄なパ
ワーを消費することなく、装置としてのコストの削減も
図ることができる。
【0029】また、画像検出器における読取用電磁波の
大きさと読取効率との関係に基づいて、読取効率がその
読取効率の最大値の80〜100%の範囲内の値となる
読取用電磁波の大きさを選択し、この選択した大きさの
読取用電磁波により、画像情報が静電潜像として記録さ
れた画像検出器を走査露光して読取りを行うようにした
場合には、さらに読取用の電磁波の大きさの最適化を図
ることが可能である。
大きさと読取効率との関係に基づいて、読取効率がその
読取効率の最大値の80〜100%の範囲内の値となる
読取用電磁波の大きさを選択し、この選択した大きさの
読取用電磁波により、画像情報が静電潜像として記録さ
れた画像検出器を走査露光して読取りを行うようにした
場合には、さらに読取用の電磁波の大きさの最適化を図
ることが可能である。
【0030】また、画像検出器における読取用電磁波の
大きさと読取効率との関係を、読取用電磁波の大きさを
設定するための基準画像が記録された画像検出器を読取
用電磁波の大きさを変化させながら走査露光して読取り
を行うことにより求めるようにした場合には、より簡略
な構成および方法により上記のような効果を得ることが
できる。
大きさと読取効率との関係を、読取用電磁波の大きさを
設定するための基準画像が記録された画像検出器を読取
用電磁波の大きさを変化させながら走査露光して読取り
を行うことにより求めるようにした場合には、より簡略
な構成および方法により上記のような効果を得ることが
できる。
【0031】また、読取効率がその読取効率の最大値の
80〜95%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁波
により、画像情報が静電潜像として記録された画像検出
器を走査露光して読取りを行うようにした場合には、無
駄な読取用の電磁波の照射を抑制することができ、さら
にコストの削減も図ることができる。
80〜95%の範囲内の値となる大きさの読取用電磁波
により、画像情報が静電潜像として記録された画像検出
器を走査露光して読取りを行うようにした場合には、無
駄な読取用の電磁波の照射を抑制することができ、さら
にコストの削減も図ることができる。
【0032】また、画像情報として放射線画像情報を使
用した場合には、読取効率が向上するので、より画質の
向上した放射線画像を画像診断に用いることができる。
用した場合には、読取効率が向上するので、より画質の
向上した放射線画像を画像診断に用いることができる。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態について詳細に説明する。図1は本発明の画像
読取方法を実施する画像読取装置の一実施形態を適用し
た胸部撮影装置1の概略構成を示す側断面図である。図
1に示すように、本胸部撮影装置1は、撮影用支持柱3
に撮像部4がボールネジやシリンダなどの図示しないア
クチュエータを介して昇降自在に支持されてなるもので
ある。
実施形態について詳細に説明する。図1は本発明の画像
読取方法を実施する画像読取装置の一実施形態を適用し
た胸部撮影装置1の概略構成を示す側断面図である。図
1に示すように、本胸部撮影装置1は、撮影用支持柱3
に撮像部4がボールネジやシリンダなどの図示しないア
クチュエータを介して昇降自在に支持されてなるもので
ある。
【0034】撮像部4は、ガラス基板5上に形成された
撮像デバイスである放射線画像検出器10と、該画像検
出器10が配されたガラス基板5をさらに保持する基台
6と、画像検出器10に記録された放射線画像情報の読
取時に使用される読取光照射手段20と、読取光照射手
段20による画像検出器10へ読取用の電磁波(以下、
読取光という)の走査露光により画像検出器10にて静
電潜像に応じて発生した電流を検出して画像信号として
得る画像信号検出手段30と、画像検出器10に所定の
電圧を印加する高電圧電源部45と、撮影開始前に画像
検出器10に前露光光を照射する前露光光源部60と、
図示しない被写体を透過した放射線が被写体により散乱
されて発生する散乱線を吸収する画像検出器10の被写
体に面する側に配されたグリッド70と、該グリッド7
0、前露光光源部60および読取光照射手段20を制御
する制御手段が構成された制御用プリント基板80とが
同筐体2内に配置された構成となっている。
撮像デバイスである放射線画像検出器10と、該画像検
出器10が配されたガラス基板5をさらに保持する基台
6と、画像検出器10に記録された放射線画像情報の読
取時に使用される読取光照射手段20と、読取光照射手
段20による画像検出器10へ読取用の電磁波(以下、
読取光という)の走査露光により画像検出器10にて静
電潜像に応じて発生した電流を検出して画像信号として
得る画像信号検出手段30と、画像検出器10に所定の
電圧を印加する高電圧電源部45と、撮影開始前に画像
検出器10に前露光光を照射する前露光光源部60と、
図示しない被写体を透過した放射線が被写体により散乱
されて発生する散乱線を吸収する画像検出器10の被写
体に面する側に配されたグリッド70と、該グリッド7
0、前露光光源部60および読取光照射手段20を制御
する制御手段が構成された制御用プリント基板80とが
同筐体2内に配置された構成となっている。
【0035】また、撮像部4は、画像信号検出手段30
からの画像信号を支持柱3内部を通って外部の画像処理
装置150に出力する信号ケーブル90と、支持柱3内
部を通って外部のAC(交流)電源152に接続されて
いるパワーケーブル92とを備えている。
からの画像信号を支持柱3内部を通って外部の画像処理
装置150に出力する信号ケーブル90と、支持柱3内
部を通って外部のAC(交流)電源152に接続されて
いるパワーケーブル92とを備えている。
【0036】画像信号検出手段30は、プリント基板3
1、一端がプリント基板31と接続された比較的短いT
AB(Tape Automated Bonding)フィルム32、およ
び該TABフィルム32上に載置されたチャージアンプ
IC33からなる。TABフィルム32の他端は画像検
出器10と接続されている。
1、一端がプリント基板31と接続された比較的短いT
AB(Tape Automated Bonding)フィルム32、およ
び該TABフィルム32上に載置されたチャージアンプ
IC33からなる。TABフィルム32の他端は画像検
出器10と接続されている。
【0037】図2は画像検出器10の一例と読取光照射
手段20との配置関係を示した図である。なお、図2で
は後述する基台6は省略して示している。また、読取光
照射手段20は光源部とその走査機構を有するものであ
るが、走査機構については省略して示している。
手段20との配置関係を示した図である。なお、図2で
は後述する基台6は省略して示している。また、読取光
照射手段20は光源部とその走査機構を有するものであ
るが、走査機構については省略して示している。
【0038】画像検出器10は、放射線画像情報を静電
潜像として記録し、読取光で走査されることにより静電
潜像に応じた電流を発生するものであり、具体的には図
2に示すように、ガラス基板5上に形成されており、被
写体を透過したX線などの記録用の電磁波など(以下記
録光という)に対して透過性を有する第一導電層11、
記録光の照射を受けることにより電荷を発生して導電性
を呈する記録用光導電層12、第一導電層11に帯電さ
れる潜像極性電荷(例えば負電荷)に対しては略絶縁体
として作用し、かつ、該潜像極性電荷と逆極性の輸送極
性電荷(前例においては正電荷)に対しては略導電体と
して作用する電荷輸送層13、読取光の照射を受けるこ
とにより電荷を発生して導電性を呈する読取用光導電層
14、読取光に対して透過性を有する第二導電層15を
この順に積層してなるものである。記録用光導電層12
と電荷輸送層13との界面に蓄電部19が形成される。
潜像として記録し、読取光で走査されることにより静電
潜像に応じた電流を発生するものであり、具体的には図
2に示すように、ガラス基板5上に形成されており、被
写体を透過したX線などの記録用の電磁波など(以下記
録光という)に対して透過性を有する第一導電層11、
記録光の照射を受けることにより電荷を発生して導電性
を呈する記録用光導電層12、第一導電層11に帯電さ
れる潜像極性電荷(例えば負電荷)に対しては略絶縁体
として作用し、かつ、該潜像極性電荷と逆極性の輸送極
性電荷(前例においては正電荷)に対しては略導電体と
して作用する電荷輸送層13、読取光の照射を受けるこ
とにより電荷を発生して導電性を呈する読取用光導電層
14、読取光に対して透過性を有する第二導電層15を
この順に積層してなるものである。記録用光導電層12
と電荷輸送層13との界面に蓄電部19が形成される。
【0039】第一導電層11および第二導電層15はそ
れぞれ電極をなすものであり、第一導電層11の電極は
2次元状に平坦な平板電極とされ、第二導電層15の電
極は図中斜線で示すように多数のエレメント(線状電
極)15aが画素ピッチでストライプ状に配されたスト
ライプ電極とされている(例えば特願平10−2328
24号記載の静電記録体を参照)。エレメント15aの
配列方向が主走査方向、エレメント15aの長手方向が
副走査方向に対応する。
れぞれ電極をなすものであり、第一導電層11の電極は
2次元状に平坦な平板電極とされ、第二導電層15の電
極は図中斜線で示すように多数のエレメント(線状電
極)15aが画素ピッチでストライプ状に配されたスト
ライプ電極とされている(例えば特願平10−2328
24号記載の静電記録体を参照)。エレメント15aの
配列方向が主走査方向、エレメント15aの長手方向が
副走査方向に対応する。
【0040】読取用光導電層14としては、近紫外から
青の領域の波長(300〜550nm)の電磁波に対し
て高い感度を有し、赤の領域の波長(700nm以上)
の電磁波に対して低い感度を有するもの、具体的には、
a−Se、PbI2、Bi1 2(Ge,Si)O20、
ペリレンビスイミド(R=n−プロピル)、ペリレンビ
スイミド(R=n−ネオペンチル)のうち少なくとも1
つを主成分とする光導電性物質が好適である。本実施の
形態ではa−Seを使用する。
青の領域の波長(300〜550nm)の電磁波に対し
て高い感度を有し、赤の領域の波長(700nm以上)
の電磁波に対して低い感度を有するもの、具体的には、
a−Se、PbI2、Bi1 2(Ge,Si)O20、
ペリレンビスイミド(R=n−プロピル)、ペリレンビ
スイミド(R=n−ネオペンチル)のうち少なくとも1
つを主成分とする光導電性物質が好適である。本実施の
形態ではa−Seを使用する。
【0041】なお、本実施形態においては、エレメント
15aは各幅を50μmとし、画素ピッチ100μmに
て配されており、波長550nm以下の光が透過するも
の、例えばITO、もしくは薄膜Alなどを用いる。
15aは各幅を50μmとし、画素ピッチ100μmに
て配されており、波長550nm以下の光が透過するも
の、例えばITO、もしくは薄膜Alなどを用いる。
【0042】図3は図1に示す撮像部4の画像検出器1
0およびそれを支持する基板5、基台6の筐体2への取
付部をより具体的に示す図であり、(A)は画像検出器
10側からみた正面図、(B)、(C)はそれぞれ
(A)のB−B線断面図、C−C線断面図を示す。基台
6は図に示すように画像検出器10が形成されたガラス
基板5を支持するものである。一般にガラス基板5は厚
み1.1mm以下と非常に薄いものであるのに比較し
て、基台6は図のように垂直に配してもたわむことのな
い程度に十分厚いガラスからなり、ここでは5mm以上
とする。基台6は読取用光源および前露光光源から出力
された光に対して透過性を有し、ガラス基板5と略同一
の屈折率および熱膨張率を有する。また、読取光の反射
による光ロスや迷光を防止するため、読取光入射面6a
にAR(反射防止)コートが施されている。なお、基台
6と基板5はエポキシ樹脂やカナダバルサムなどの接着
剤により接着されている。図3に示すように、基台6は
その四隅、左右および下端部で金属などからなる取付部
材7により挟みつけられて補強され筐体2に固定されて
いる。なお、基台6の上端部と取付部材7との間には、
画像検出器10とプリント基板31とを接続する前述の
TABフィルム32を通す隙間8が設けられている。詳
細には、断面図(B)に示すように基台6の画像検出器
10の上方に位置する部分と取付部材7との間には隙間
8が設けられており、図(A)に示す基台6の右上隅部
は断面図(C)に示すように取付部材7により挟みつけ
られている。
0およびそれを支持する基板5、基台6の筐体2への取
付部をより具体的に示す図であり、(A)は画像検出器
10側からみた正面図、(B)、(C)はそれぞれ
(A)のB−B線断面図、C−C線断面図を示す。基台
6は図に示すように画像検出器10が形成されたガラス
基板5を支持するものである。一般にガラス基板5は厚
み1.1mm以下と非常に薄いものであるのに比較し
て、基台6は図のように垂直に配してもたわむことのな
い程度に十分厚いガラスからなり、ここでは5mm以上
とする。基台6は読取用光源および前露光光源から出力
された光に対して透過性を有し、ガラス基板5と略同一
の屈折率および熱膨張率を有する。また、読取光の反射
による光ロスや迷光を防止するため、読取光入射面6a
にAR(反射防止)コートが施されている。なお、基台
6と基板5はエポキシ樹脂やカナダバルサムなどの接着
剤により接着されている。図3に示すように、基台6は
その四隅、左右および下端部で金属などからなる取付部
材7により挟みつけられて補強され筐体2に固定されて
いる。なお、基台6の上端部と取付部材7との間には、
画像検出器10とプリント基板31とを接続する前述の
TABフィルム32を通す隙間8が設けられている。詳
細には、断面図(B)に示すように基台6の画像検出器
10の上方に位置する部分と取付部材7との間には隙間
8が設けられており、図(A)に示す基台6の右上隅部
は断面図(C)に示すように取付部材7により挟みつけ
られている。
【0043】読取光照射手段20としては、LEDチッ
プが一列に複数並べられて構成された光源と、該光源か
ら出力された光を画像検出器10上で線状に照射させる
光学系とからなるものを用いる。なお、読取光照射手段
20は、光源部を画像検出器10と必要な距離を保った
まま図示しない走査機構(リニアモータ)により、画像
検出器10のストライプ電極15a長手方向に走査する
ことにより画像検出器10の全面の露光を行う。
プが一列に複数並べられて構成された光源と、該光源か
ら出力された光を画像検出器10上で線状に照射させる
光学系とからなるものを用いる。なお、読取光照射手段
20は、光源部を画像検出器10と必要な距離を保った
まま図示しない走査機構(リニアモータ)により、画像
検出器10のストライプ電極15a長手方向に走査する
ことにより画像検出器10の全面の露光を行う。
【0044】上述のように、読取用光導電層14として
は近紫外から青の領域の波長(300〜550nm)の
電磁波に対して高い感度を有し、赤の領域の波長(70
0nm以上)の電磁波に対して低い感度を有するもので
あるで、光源として550nm以下の近紫外から青の領
域の波長の光を出力するものを利用する。
は近紫外から青の領域の波長(300〜550nm)の
電磁波に対して高い感度を有し、赤の領域の波長(70
0nm以上)の電磁波に対して低い感度を有するもので
あるで、光源として550nm以下の近紫外から青の領
域の波長の光を出力するものを利用する。
【0045】読取光照射手段20の光源の具体的な一例
を図4に示してその構成と作用を説明する。図4(A)
は、図2に示す読取光照射手段20の光源部の詳細な構
成を示した、Y方向からみた側面図であり、図4(B)
は、光源部のX−Y断面図である。なお図4では前述の
基台6は省略して示している。
を図4に示してその構成と作用を説明する。図4(A)
は、図2に示す読取光照射手段20の光源部の詳細な構
成を示した、Y方向からみた側面図であり、図4(B)
は、光源部のX−Y断面図である。なお図4では前述の
基台6は省略して示している。
【0046】図4に示すように、読取光照射手段20の
光源部は、Z軸方向に線状に並べられている複数のLE
Dチップ101a,101b,…からなる光源101と、
該光源101から出射された光の品質を向上させるため
の、該光源101の長手方向に延びる開口102aを有
するスリット102および該スリット102の開口10
2aに向けて光を集束せしめる光学部材103であるシ
リンドリカルレンズ104,105からなる第一の光学
手段106と、第一の光学手段106を通過した光を光
源101の長手方向に直交する方向について画像検出器
面上に集束せしめるシリンドリカルレンズ107,10
8からなる第二の光学手段109とからなるものであ
る。
光源部は、Z軸方向に線状に並べられている複数のLE
Dチップ101a,101b,…からなる光源101と、
該光源101から出射された光の品質を向上させるため
の、該光源101の長手方向に延びる開口102aを有
するスリット102および該スリット102の開口10
2aに向けて光を集束せしめる光学部材103であるシ
リンドリカルレンズ104,105からなる第一の光学
手段106と、第一の光学手段106を通過した光を光
源101の長手方向に直交する方向について画像検出器
面上に集束せしめるシリンドリカルレンズ107,10
8からなる第二の光学手段109とからなるものであ
る。
【0047】スリット102は、光源から出力された光
を空間的にフィルタリングしてフレア光を抑え、検出器
上でのビーム径を決定するものである。なお、スリット
は光の空間的な広がりを抑えるものであればよく、本実
施形態のような開口を有する機械的なスリットのみなら
ず、濃度分布フィルタなどの光学的な隙間であってもよ
い。
を空間的にフィルタリングしてフレア光を抑え、検出器
上でのビーム径を決定するものである。なお、スリット
は光の空間的な広がりを抑えるものであればよく、本実
施形態のような開口を有する機械的なスリットのみなら
ず、濃度分布フィルタなどの光学的な隙間であってもよ
い。
【0048】光源101の各発光点すなわち各LEDチ
ップ101a,101b,…から出力された光は、シリ
ンドリカルレンズ104,105によりスリット102
の開口102aでその長手方向に集束されてフィルタリ
ングされ、第二の光学手段109のシリンドリカルレン
ズ107,108により光源の長手方向に直交する方向
に集束されて画像検出器10上に照射される。各LED
チップからの光ビームは等方的に広がって拡散するもの
であり、光源の長手方向については集束されていないた
め、各チップからの光は検出器上で光源の長手方向に拡
散する。これにより光源101からの光は検出器上を線
状に照射することとなり、各チップからの光は該線状に
並ぶ複数の画素を同時に露光する。すなわち、検出器上
の各画素は複数のLEDチップから出力された光により
同時に露光される。例えば、図4は模式的に示したもの
であるが、検出器10上の点Aは7個のLEDチップに
より同時に露光されている。
ップ101a,101b,…から出力された光は、シリ
ンドリカルレンズ104,105によりスリット102
の開口102aでその長手方向に集束されてフィルタリ
ングされ、第二の光学手段109のシリンドリカルレン
ズ107,108により光源の長手方向に直交する方向
に集束されて画像検出器10上に照射される。各LED
チップからの光ビームは等方的に広がって拡散するもの
であり、光源の長手方向については集束されていないた
め、各チップからの光は検出器上で光源の長手方向に拡
散する。これにより光源101からの光は検出器上を線
状に照射することとなり、各チップからの光は該線状に
並ぶ複数の画素を同時に露光する。すなわち、検出器上
の各画素は複数のLEDチップから出力された光により
同時に露光される。例えば、図4は模式的に示したもの
であるが、検出器10上の点Aは7個のLEDチップに
より同時に露光されている。
【0049】より具体的には、例えば、光学系の焦点距
離を40mm、画素サイズを100μm、LEDチップ
の間隔(発光点間隔)を200μm、LEDチップから
の光源長手方向のビーム広がり角を120°(半値)と
すると、検出器上の各画素は少なくとも700個以上の
LEDチップからの光に同時に露光される。
離を40mm、画素サイズを100μm、LEDチップ
の間隔(発光点間隔)を200μm、LEDチップから
の光源長手方向のビーム広がり角を120°(半値)と
すると、検出器上の各画素は少なくとも700個以上の
LEDチップからの光に同時に露光される。
【0050】ここで、上記光源101から出力される読
取光の光量は制御用プリント基板80に載置された制御
手段により電流制御によって制御されるが、本装置にお
ける光源101の光量は、以下のようにして制御手段に
設定されたものである。
取光の光量は制御用プリント基板80に載置された制御
手段により電流制御によって制御されるが、本装置にお
ける光源101の光量は、以下のようにして制御手段に
設定されたものである。
【0051】まず、画像検出器10に一様な放射線を照
射することにより濃度が一様なベタ画像を記録し、そし
て、読取光照射手段20により図5に示すように走査位
置に対して読取光の大きさを変化させながら上記画像検
出器10を走査露光する。このとき、画像信号検出手段
30により検出された画像信号に基づいて読取光量の大
きさと読取効率(画像信号検出手段30により検出され
た画像信号の大きさを画像検出器10に照射された放射
線量から算出される画像信号の大きさで除算した値に基
づく割合)との関係を求める。読取光量と読取効率との
関係は、理論的には読取光の大きさが所定の大きさ以上
になると読取効率の大きさは一定の値に漸近することに
なるが、実際には、例えば、図6に示すような関係とな
り、読取効率が最大となる読取光量の大きさが存在す
る。従って、読取効率がこの最大値の90%の大きさと
なるときの読取光量の大きさを所定の入力手段により上
記制御手段に設定する。制御手段は、この設定された読
取光量の大きさに従って読取光照射手段20の光源10
1に電流が流れるよう制御する。
射することにより濃度が一様なベタ画像を記録し、そし
て、読取光照射手段20により図5に示すように走査位
置に対して読取光の大きさを変化させながら上記画像検
出器10を走査露光する。このとき、画像信号検出手段
30により検出された画像信号に基づいて読取光量の大
きさと読取効率(画像信号検出手段30により検出され
た画像信号の大きさを画像検出器10に照射された放射
線量から算出される画像信号の大きさで除算した値に基
づく割合)との関係を求める。読取光量と読取効率との
関係は、理論的には読取光の大きさが所定の大きさ以上
になると読取効率の大きさは一定の値に漸近することに
なるが、実際には、例えば、図6に示すような関係とな
り、読取効率が最大となる読取光量の大きさが存在す
る。従って、読取効率がこの最大値の90%の大きさと
なるときの読取光量の大きさを所定の入力手段により上
記制御手段に設定する。制御手段は、この設定された読
取光量の大きさに従って読取光照射手段20の光源10
1に電流が流れるよう制御する。
【0052】なお、本実施形態では、読取効率がその最
大値の90%の大きさとなるときの読取光量の大きさを
所定の入力手段により設定するようにしたが、制御手段
により自動的に上記読取光量の大きさを算出し設定する
ようにしてもよい。
大値の90%の大きさとなるときの読取光量の大きさを
所定の入力手段により設定するようにしたが、制御手段
により自動的に上記読取光量の大きさを算出し設定する
ようにしてもよい。
【0053】また、上述の読取光照射手段20の光源1
01は、LEDチップを複数並べて構成されたものであ
るが、LEDチップの代わりにLDチップを複数並べて
構成してもよい。さらに、複数の発光点が線状に並んで
形成されたLEDアレイもしくはLDアレイを光源とし
て用いてもよい。
01は、LEDチップを複数並べて構成されたものであ
るが、LEDチップの代わりにLDチップを複数並べて
構成してもよい。さらに、複数の発光点が線状に並んで
形成されたLEDアレイもしくはLDアレイを光源とし
て用いてもよい。
【0054】また、上述の読取光照射手段20の光源部
において、第一の光学手段106のシリンドリカルレン
ズ104、105のかわりにセルフォックレンズを用い
てもよい。
において、第一の光学手段106のシリンドリカルレン
ズ104、105のかわりにセルフォックレンズを用い
てもよい。
【0055】図7は画像検出器10、画像信号検出手段
30、および高電圧電源部45の接続態様の詳細を示し
た図である。図示するように、画像検出器10の各エレ
メント15aがTABフィルム32上に形成されたプリ
ントパターン(不図示)を介してチャージアンプIC3
3と接続され、さらにチャージアンプIC33がTAB
フィルム32上に形成されたプリントパターン(不図
示)を介してプリント基板31と接続されている。な
お、本実施形態では全てのエレメント15aを1つのチ
ャージアンプIC33に接続するのではなく、全体とし
て数個〜数10個のチャージアンプIC33を設け、順
次隣接する数本のエレメント15aごとに各チャージア
ンプIC33に接続するようにしている。
30、および高電圧電源部45の接続態様の詳細を示し
た図である。図示するように、画像検出器10の各エレ
メント15aがTABフィルム32上に形成されたプリ
ントパターン(不図示)を介してチャージアンプIC3
3と接続され、さらにチャージアンプIC33がTAB
フィルム32上に形成されたプリントパターン(不図
示)を介してプリント基板31と接続されている。な
お、本実施形態では全てのエレメント15aを1つのチ
ャージアンプIC33に接続するのではなく、全体とし
て数個〜数10個のチャージアンプIC33を設け、順
次隣接する数本のエレメント15aごとに各チャージア
ンプIC33に接続するようにしている。
【0056】画像検出器10の平面電極である第一導電
層11には、画像記録領域より一部が大きめに形成され
た非画像領域11aが設けられている。この非画像領域
11aには画像検出器10の近傍に配された高電圧電源
部45から出力されたケーブル46のホット側(芯線)
46aが直接ボンディングされ、ケーブル46のアース
側(外被)46bがプリント基板31にネジ止め47に
より接続されている。本実施形態ではホット側46aが
アース側46bに対してマイナス電位となるようにす
る。プリント基板31に接続されたアース側46bは、
TABフィルム32を通して各チャージアンプIC33
に共通に接続されることによりチャージアンプIC33
の基準電位ともなる。
層11には、画像記録領域より一部が大きめに形成され
た非画像領域11aが設けられている。この非画像領域
11aには画像検出器10の近傍に配された高電圧電源
部45から出力されたケーブル46のホット側(芯線)
46aが直接ボンディングされ、ケーブル46のアース
側(外被)46bがプリント基板31にネジ止め47に
より接続されている。本実施形態ではホット側46aが
アース側46bに対してマイナス電位となるようにす
る。プリント基板31に接続されたアース側46bは、
TABフィルム32を通して各チャージアンプIC33
に共通に接続されることによりチャージアンプIC33
の基準電位ともなる。
【0057】なお、本実施形態では画像検出器10とプ
リント基板31との接続にTAB接続を利用したが、ワ
イヤーボンディングや異方性導電ゴムで接続してもよ
い。
リント基板31との接続にTAB接続を利用したが、ワ
イヤーボンディングや異方性導電ゴムで接続してもよ
い。
【0058】図8は筐体2内に設けられた画像信号検出
手段30および高電圧電源部45の詳細、並びにこれら
と画像検出器10、画像信号検出手段30、および装置
1の外部に配された画像処理装置150などとの接続態
様を示したブロック図である。
手段30および高電圧電源部45の詳細、並びにこれら
と画像検出器10、画像信号検出手段30、および装置
1の外部に配された画像処理装置150などとの接続態
様を示したブロック図である。
【0059】高電圧電源部45は、高電圧電源40とバ
イアス切換手段42とが一体化された回路であり、高電
圧電源40は、一旦、画像検出器10へのバイアス印加
/短絡など切換えのためバイアス切換手段45を介して
画像検出器10に接続されている。なお、この回路は、
切換え時に流れる電流のピーク値を制限して装置の電流
が集中する箇所の破壊を防ぐために、充放電過大電流を
防止するように設計されている。
イアス切換手段42とが一体化された回路であり、高電
圧電源40は、一旦、画像検出器10へのバイアス印加
/短絡など切換えのためバイアス切換手段45を介して
画像検出器10に接続されている。なお、この回路は、
切換え時に流れる電流のピーク値を制限して装置の電流
が集中する箇所の破壊を防ぐために、充放電過大電流を
防止するように設計されている。
【0060】TABフィルム32上に設けられたチャー
ジアンプIC33は、画像検出器10の各エレメント1
5aごとに接続された多数のチャージアンプ33aおよ
びサンプルホールド(S/H)33b、各サンプルホー
ルド33bからの信号をマルチプレクスするマルチプレ
クサ33cを備えている。画像検出器10において発生
する電流は各チャージアンプ33aにより電圧に変換さ
れ、該電圧がサンプルホールド33bにより所定のタイ
ミングでサンプルホールドされ、サンプルホールドされ
た各エレメント15aに対応する電圧がエレメント15
aの配列順に切り替わるようにマルチプレクサ33cか
ら順次出力される(主走査の一部に相当する)。マルチ
プレクサ33cから順次出力された信号はプリント基板
31上に設けられたマルチプレクサ31cに入力され、
さらに各エレメント15aに対応する電圧がエレメント
15aの配列順に切り替わるようにマルチプレクサ31
cから順次出力され主走査が完了する。マルチプレクサ
31cから順次出力された信号はA/D変換部31aに
よりデジタル信号に変換され、デジタル信号がメモリ3
1bに格納される。
ジアンプIC33は、画像検出器10の各エレメント1
5aごとに接続された多数のチャージアンプ33aおよ
びサンプルホールド(S/H)33b、各サンプルホー
ルド33bからの信号をマルチプレクスするマルチプレ
クサ33cを備えている。画像検出器10において発生
する電流は各チャージアンプ33aにより電圧に変換さ
れ、該電圧がサンプルホールド33bにより所定のタイ
ミングでサンプルホールドされ、サンプルホールドされ
た各エレメント15aに対応する電圧がエレメント15
aの配列順に切り替わるようにマルチプレクサ33cか
ら順次出力される(主走査の一部に相当する)。マルチ
プレクサ33cから順次出力された信号はプリント基板
31上に設けられたマルチプレクサ31cに入力され、
さらに各エレメント15aに対応する電圧がエレメント
15aの配列順に切り替わるようにマルチプレクサ31
cから順次出力され主走査が完了する。マルチプレクサ
31cから順次出力された信号はA/D変換部31aに
よりデジタル信号に変換され、デジタル信号がメモリ3
1bに格納される。
【0061】前露光光源部60としては、短時間で発光
/消光し、残光の非常に小さい光源が必要であり、本実
施形態においては外部電極型希ガス蛍光ランプを利用す
る。詳細には前露光光源部60は、図1に示すように、
図中紙面奥方向に延びる複数の外部電極型希ガス蛍光ラ
ンプ61と、該蛍光ランプ61と画像検出器10との間
に挿入された波長選択フィルタ62と、蛍光ランプ61
の後方に配され、蛍光ランプ61から出力された光を効
率よく画像検出器10側へ反射するための反射板63と
を備えてなる。なお、前露光光は画像検出器10の第二
電極層15全体に照射すればよく特に集光手段は必要な
いが、照度分布は小さい方がよい。なお、光源としては
蛍光ランプの代わりに、例えばLEDチップを面的に並
べたものを利用するもことできる。さらに、基台6に波
長選択性を持たせることにより、波長選択フィルタ62
を省くこともできる。
/消光し、残光の非常に小さい光源が必要であり、本実
施形態においては外部電極型希ガス蛍光ランプを利用す
る。詳細には前露光光源部60は、図1に示すように、
図中紙面奥方向に延びる複数の外部電極型希ガス蛍光ラ
ンプ61と、該蛍光ランプ61と画像検出器10との間
に挿入された波長選択フィルタ62と、蛍光ランプ61
の後方に配され、蛍光ランプ61から出力された光を効
率よく画像検出器10側へ反射するための反射板63と
を備えてなる。なお、前露光光は画像検出器10の第二
電極層15全体に照射すればよく特に集光手段は必要な
いが、照度分布は小さい方がよい。なお、光源としては
蛍光ランプの代わりに、例えばLEDチップを面的に並
べたものを利用するもことできる。さらに、基台6に波
長選択性を持たせることにより、波長選択フィルタ62
を省くこともできる。
【0062】画像検出器10から静電潜像を読み取る
際、基本的には蓄積されている潜像電荷を全て読み出す
ことができるが、場合によっては潜像電荷を完全に読み
出すことができず画像検出器10に残留電荷として読み
残すことがある。また、画像検出器10に静電潜像を記
録するとき、記録光の照射の前に画像検出器10に高圧
を印加するが、この印加の際に暗電流が発生し、それに
よる電荷(暗電流電荷)も画像検出器10に蓄積され
る。さらに、これら以外の原因によっても画像検出器1
0に種々な電荷が記録光の照射の前に蓄積されることが
知られている。記録光の照射の前に蓄積されるこれら残
留電荷,暗電流電荷などの不要電荷は、記録光を照射す
ることにより蓄積される画像情報を担持する電荷に加算
されることになるから、結局画像検出器10から静電潜
像を読み取ったとき、出力される信号には画像情報を担
持する電荷に基づく信号以外に不要電荷による信号成分
が含まれることになり、残像現象やS/N劣化などの問
題を生じる。
際、基本的には蓄積されている潜像電荷を全て読み出す
ことができるが、場合によっては潜像電荷を完全に読み
出すことができず画像検出器10に残留電荷として読み
残すことがある。また、画像検出器10に静電潜像を記
録するとき、記録光の照射の前に画像検出器10に高圧
を印加するが、この印加の際に暗電流が発生し、それに
よる電荷(暗電流電荷)も画像検出器10に蓄積され
る。さらに、これら以外の原因によっても画像検出器1
0に種々な電荷が記録光の照射の前に蓄積されることが
知られている。記録光の照射の前に蓄積されるこれら残
留電荷,暗電流電荷などの不要電荷は、記録光を照射す
ることにより蓄積される画像情報を担持する電荷に加算
されることになるから、結局画像検出器10から静電潜
像を読み取ったとき、出力される信号には画像情報を担
持する電荷に基づく信号以外に不要電荷による信号成分
が含まれることになり、残像現象やS/N劣化などの問
題を生じる。
【0063】「前露光」は、この記録光を画像検出器に
照射する前に画像検出器に蓄積されている不要電荷を消
去し、残像現象やS/N劣化などの問題を解消するため
のものである。
照射する前に画像検出器に蓄積されている不要電荷を消
去し、残像現象やS/N劣化などの問題を解消するため
のものである。
【0064】次いで、このように構成される胸部撮影装
置1の動作について説明する。まず、被写体(患者)の
体格に合わせて撮影部4を昇降し位置決めする。次に、
画像検出器10に対して前露光光を照射し、画像検出器
10に蓄積されている不要電荷を消去する。なお、前露
光処理は、画像検出器10への電圧印加前に行ってもよ
いし、該電圧印加後に行ってもよい。さらには、電圧印
加前に前露光点灯し、電圧印加後に消灯する態様であっ
てもよい。
置1の動作について説明する。まず、被写体(患者)の
体格に合わせて撮影部4を昇降し位置決めする。次に、
画像検出器10に対して前露光光を照射し、画像検出器
10に蓄積されている不要電荷を消去する。なお、前露
光処理は、画像検出器10への電圧印加前に行ってもよ
いし、該電圧印加後に行ってもよい。さらには、電圧印
加前に前露光点灯し、電圧印加後に消灯する態様であっ
てもよい。
【0065】撮影時には、まず、バイアス切換手段42
により電源40の負極を第1の導電体層11に接続して
第一導電層11と各エレメント15aとの間に直流電圧
を印加し両導電層11,15を帯電させる。これにより
画像検出器10内の第一導電層11とエレメント15a
との間に、エレメント15aをU字の凹部とするU字状
の電界が形成される。
により電源40の負極を第1の導電体層11に接続して
第一導電層11と各エレメント15aとの間に直流電圧
を印加し両導電層11,15を帯電させる。これにより
画像検出器10内の第一導電層11とエレメント15a
との間に、エレメント15aをU字の凹部とするU字状
の電界が形成される。
【0066】その後、撮影者がタイミングを見計らって
図示しない照射ボタンを押すと、撮影部4の被写体側面
に配されているグリッド70が揺動を開始し、このグリ
ッド70の揺動速度が所定速度に達し、かつ上述の電圧
印加により画像検出器10に十分な電圧が印加されたタ
イミングでX線が照射される。
図示しない照射ボタンを押すと、撮影部4の被写体側面
に配されているグリッド70が揺動を開始し、このグリ
ッド70の揺動速度が所定速度に達し、かつ上述の電圧
印加により画像検出器10に十分な電圧が印加されたタ
イミングでX線が照射される。
【0067】被写体を透過したX線、すなわち被写体の
放射線画像情報を担持する記録光を画像検出器10に照
射すると、画像検出器10の記録用光導電層12内で正
負の電荷対が発生し、その内の負電荷が上述の電界分布
に沿ってエレメント15aに集中せしめられ、記録用光
導電層12と電荷輸送層13との界面に形成された蓄電
部19に負電荷が蓄積される。この蓄積された負電荷す
なわち潜像極性電荷の量は被写体を透過した放射線量に
略比例するので、この潜像極性電荷が静電潜像を担持す
ることとなる。このようにして静電潜像が画像検出器1
0に記録される。一方、記録用光導電層12内で発生す
る正電荷は第一導電層11に引き寄せられて、高電圧電
源40から注入された負電荷と電荷再結合し消滅する。
放射線画像情報を担持する記録光を画像検出器10に照
射すると、画像検出器10の記録用光導電層12内で正
負の電荷対が発生し、その内の負電荷が上述の電界分布
に沿ってエレメント15aに集中せしめられ、記録用光
導電層12と電荷輸送層13との界面に形成された蓄電
部19に負電荷が蓄積される。この蓄積された負電荷す
なわち潜像極性電荷の量は被写体を透過した放射線量に
略比例するので、この潜像極性電荷が静電潜像を担持す
ることとなる。このようにして静電潜像が画像検出器1
0に記録される。一方、記録用光導電層12内で発生す
る正電荷は第一導電層11に引き寄せられて、高電圧電
源40から注入された負電荷と電荷再結合し消滅する。
【0068】X線を照射し画像記録を行った後、画像検
出器10から静電潜像を読み取る際には、画像検出器1
0の両導電層11,15間はバイアス切換手段42によ
り短絡される。
出器10から静電潜像を読み取る際には、画像検出器1
0の両導電層11,15間はバイアス切換手段42によ
り短絡される。
【0069】読取光照射手段20が作動し、光源101
から読取光Lが出力されるとともにエレメント15aに
長手方向すなわち副走査方向に図示しないリニアモータ
により移動させ、画像検出器10の全面を走査する。上
述の読取光照射手段20の動作説明の通り、該光源部か
ら出力されるライン状の読取光Lが基台6およびガラス
基板5を透過し、画像検出器10の各エレメント15a
に照射される。
から読取光Lが出力されるとともにエレメント15aに
長手方向すなわち副走査方向に図示しないリニアモータ
により移動させ、画像検出器10の全面を走査する。上
述の読取光照射手段20の動作説明の通り、該光源部か
ら出力されるライン状の読取光Lが基台6およびガラス
基板5を透過し、画像検出器10の各エレメント15a
に照射される。
【0070】ここで、読取光照射手段20の光源部から
出力される読取光Lの光量は、上述したように読取効率
がその最大値の90%の大きさの読取効率となるときの
読取光Lの大きさが制御用プリント基板80の制御手段
に予め設定されており、これに従って制御手段は読取光
照射手段20の光源101に制御電流を流す。
出力される読取光Lの光量は、上述したように読取効率
がその最大値の90%の大きさの読取効率となるときの
読取光Lの大きさが制御用プリント基板80の制御手段
に予め設定されており、これに従って制御手段は読取光
照射手段20の光源101に制御電流を流す。
【0071】上記のように読取光Lの大きさを制御する
ことにより、より適当な読取用の電磁波の大きさで読取
りを行って読取効率の向上を図ることができる。
ことにより、より適当な読取用の電磁波の大きさで読取
りを行って読取効率の向上を図ることができる。
【0072】また、読取光lの大きさをより適当な大き
さとするので、読取光Lを発するのに無駄なパワーを消
費することなく、装置としてのコストの削減も図ること
ができる。
さとするので、読取光Lを発するのに無駄なパワーを消
費することなく、装置としてのコストの削減も図ること
ができる。
【0073】上記のようにして画像検出器10に読取光
Lが照射されると、読取用光導電層14内に正負の電荷
対が発生し、その内の正電荷が蓄電部19に蓄積された
負電荷(潜像極性電荷)に引きつけられるように電荷輸
送層13内を急速に移動し、蓄電部19で潜像極性電荷
と電荷再結合し消滅する。一方、読取用光導電層14に
生じた負電荷は第二導電層15に注入される正電荷と電
荷再結合し消滅する。このようにして、画像検出器10
に蓄積されていた負電荷が電荷再結合により消滅し、こ
の電荷再結合の際の電荷の移動による電流が画像検出器
10内に生じる。
Lが照射されると、読取用光導電層14内に正負の電荷
対が発生し、その内の正電荷が蓄電部19に蓄積された
負電荷(潜像極性電荷)に引きつけられるように電荷輸
送層13内を急速に移動し、蓄電部19で潜像極性電荷
と電荷再結合し消滅する。一方、読取用光導電層14に
生じた負電荷は第二導電層15に注入される正電荷と電
荷再結合し消滅する。このようにして、画像検出器10
に蓄積されていた負電荷が電荷再結合により消滅し、こ
の電荷再結合の際の電荷の移動による電流が画像検出器
10内に生じる。
【0074】各エレメント15aごとに接続された電流
検出用のチャージアンプ33aにより、この電流を各エ
レメント15aごとに並列的(同時)に検出する。チャ
ージアンプ33aにより検出された信号は、サンプルホ
ールド33bによりサンプルホールドされ、サンプルホ
ールドされた各エレメント15aに対応する電圧がエレ
メント15aの配列順に切り替わるようにマルチプレク
サ33cから順次出力され、プリント基板31上のマル
チプレクサ31cによりさらに順次出力され、A/D変
換部31aでA/D変換され、デジタルの画像信号とし
てメモリ31bに格納される。
検出用のチャージアンプ33aにより、この電流を各エ
レメント15aごとに並列的(同時)に検出する。チャ
ージアンプ33aにより検出された信号は、サンプルホ
ールド33bによりサンプルホールドされ、サンプルホ
ールドされた各エレメント15aに対応する電圧がエレ
メント15aの配列順に切り替わるようにマルチプレク
サ33cから順次出力され、プリント基板31上のマル
チプレクサ31cによりさらに順次出力され、A/D変
換部31aでA/D変換され、デジタルの画像信号とし
てメモリ31bに格納される。
【0075】読取光Lの走査露光に伴い画像検出器10
内を流れる電流は潜像電荷すなわち静電潜像に応じたも
のであり、この電流を検出して得た画像信号は静電潜像
を表すので静電潜像を読取ることができる。
内を流れる電流は潜像電荷すなわち静電潜像に応じたも
のであり、この電流を検出して得た画像信号は静電潜像
を表すので静電潜像を読取ることができる。
【0076】なお、一旦メモリ31bに格納された画像
信号は、信号ケーブル90を介して外部の画像処理装置
150に送られ、この画像処理装置150において適当
な画像処理が施され、撮影情報と共にネットワーク15
1にアップロードされ、サーバもしくはプリンタに送ら
れる。
信号は、信号ケーブル90を介して外部の画像処理装置
150に送られ、この画像処理装置150において適当
な画像処理が施され、撮影情報と共にネットワーク15
1にアップロードされ、サーバもしくはプリンタに送ら
れる。
【0077】なお、上記実施の形態においては画像検出
器として、特願平10−232824号記載の静電記録
体を使用したが、本発明はこれに限定されない。すなわ
ち、読取用の電磁波で走査されることにより、画像情報
を坦持する静電電荷に応じた電流を発生するものであれ
ば、どのような画像検出器にも適用することができる。
器として、特願平10−232824号記載の静電記録
体を使用したが、本発明はこれに限定されない。すなわ
ち、読取用の電磁波で走査されることにより、画像情報
を坦持する静電電荷に応じた電流を発生するものであれ
ば、どのような画像検出器にも適用することができる。
【図1】本発明の実施の形態である胸部撮影装置の概略
構成を示す側断面図
構成を示す側断面図
【図2】上記胸部撮影装置に使用されている画像検出器
の斜視図と読取用露光光源部との配置関係を示した図
の斜視図と読取用露光光源部との配置関係を示した図
【図3】上記画像検出器を支持する基台を示す図
【図4】読取用露光光源部の詳細な構成を示す図
【図5】読取光量と走査位置の関係を示す図
【図6】本発明の画像読取方法および装置で使用される
画像検出器における読取光量と読取効率の関係を示す図
画像検出器における読取光量と読取効率の関係を示す図
【図7】画像検出器、電流検出手段および高電圧電源部
の接続態様の詳細を示した図
の接続態様の詳細を示した図
【図8】電流検出手段および高電圧電源部の詳細および
これらと画像検出器の接続態様を示したブロック図
これらと画像検出器の接続態様を示したブロック図
1 胸部撮影装置
3 撮影用支持柱
4 撮影部
10 画像検出器
20 読取用露光光源部
30 電流検出手段
40 高電圧電源
45 高電圧電源部
60 前露光光源部
70 グリッド
80 制御用プリント基板
90 信号ケーブル
92 パワーケーブル
101 光源
101a,101b,101c,101d LEDチ
ップ
ップ
Claims (9)
- 【請求項1】 画像情報を静電潜像として記録し、読取
用の電磁波で走査露光されることにより前記静電潜像に
応じた電流を発生する画像検出器を用いて、該画像検出
器に前記読取用の電磁波を走査露光し、前記読取用電磁
波の走査露光により前記静電潜像に応じて発生した前記
電流を画像信号として検出することにより読取りを行う
画像読取方法において、 前記画像検出器における読取効率が該読取効率の最大値
の80〜100%の範囲内の値となる大きさの前記読取
用電磁波により、前記画像情報が静電潜像として記録さ
れた画像検出器を走査露光して前記読取りを行うことを
特徴とする画像読取方法。 - 【請求項2】 前記画像検出器における前記読取用電磁
波の大きさと前記読取効率との関係に基づいて、前記読
取効率が該読取効率の最大値の80〜100%の範囲内
の値となる前記読取用電磁波の大きさを選択し、この選
択した大きさの前記読取用電磁波により、前記画像情報
が静電潜像として記録された画像検出器を走査露光して
前記読取りを行うことを特徴とする請求項1記載の画像
読取方法。 - 【請求項3】 前記画像検出器における前記読取用電磁
波の大きさと前記読取効率との関係を、前記読取用電磁
波の大きさを設定するための基準画像が記録された前記
画像検出器を前記読取用電磁波の大きさを変化させなが
ら走査露光して前記読取りを行うことにより求めること
を特徴とする請求項2記載の画像読取方法。 - 【請求項4】 前記読取効率が該読取効率の最大値の8
0〜95%の範囲内の値となる大きさの前記読取用電磁
波により、前記画像情報が静電潜像として記録された画
像検出器を走査露光して前記読取りを行うことを特徴と
する請求項1から3いずれか1項記載の画像読取方法。 - 【請求項5】 画像情報を静電潜像として記録し、読取
用の電磁波で走査露光されることにより前記静電潜像に
応じた電流を発生する画像検出器と、前記画像情報が静
電潜像として記録された画像検出器に前記読取用の電磁
波を走査露光する読取用電磁波照射手段と、前記読取用
電磁波の走査露光により前記静電潜像に応じて流れる電
流を画像信号として検出する画像信号検出手段とを備え
た画像読取装置において、 前記読取用電磁波照射手段が、前記画像検出器における
読取効率が該読取効率の最大値の80〜100%の範囲
内の値となる大きさの前記読取用電磁波により、前記画
像情報が静電潜像として記録された画像検出器を走査露
光するものであることを特徴とする画像読取装置。 - 【請求項6】 前記読取用電磁波照射手段が、前記画像
検出器における前記読取用電磁波の大きさと前記読取効
率との関係に基づいて選択された前記読取効率が該読取
効率の最大値の80〜100%の範囲内の値となる大き
さの前記読取用電磁波により、前記画像情報が静電潜像
として記録された画像検出器を走査露光するものである
ことを特徴とする請求項5記載の画像読取装置。 - 【請求項7】 前記読取用電磁波照射手段が、前記読取
用電磁波の大きさを設定するための基準画像が記録され
た前記画像検出器を前記読取用電磁波の大きさを変化さ
せながら走査露光して読取りを行うことにより前記画像
検出器における前記読取用電磁波の大きさと前記読取効
率との関係を求め、この求めた関係に基づいて前記読取
効率が該読取効率の最大値の80〜100%の範囲内の
値となる前記読取用電磁波の大きさを選択するものであ
ることを特徴とする請求項6記載の画像読取装置。 - 【請求項8】 前記読取用電磁波照射手段が、前記読取
効率が該読取効率の最大値の80〜95%の範囲内の値
となる大きさの前記読取用電磁波により、前記画像情報
が静電潜像として記録された画像検出器に走査露光する
ものであることを特徴とする請求項5から7いずれか1
項記載の画像読取装置。 - 【請求項9】 前記画像情報が、放射線画像情報である
ことを特徴とする請求項5から8いずれか1項記載の画
像読取装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001222426A JP2003037709A (ja) | 2001-07-24 | 2001-07-24 | 画像読取方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001222426A JP2003037709A (ja) | 2001-07-24 | 2001-07-24 | 画像読取方法および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003037709A true JP2003037709A (ja) | 2003-02-07 |
Family
ID=19055904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001222426A Withdrawn JP2003037709A (ja) | 2001-07-24 | 2001-07-24 | 画像読取方法および装置 |
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JP (1) | JP2003037709A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006322746A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Shimadzu Corp | 2次元放射線検出器 |
-
2001
- 2001-07-24 JP JP2001222426A patent/JP2003037709A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006322746A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Shimadzu Corp | 2次元放射線検出器 |
JP4622670B2 (ja) * | 2005-05-17 | 2011-02-02 | 株式会社島津製作所 | 2次元放射線検出器 |
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