JP2003014614A

JP2003014614A - 光安定性試験装置

Info

Publication number: JP2003014614A
Application number: JP2001198887A
Authority: JP
Inventors: Norikatsu Fukumoto; 典勉福本
Original assignee: NAGANO KAGAKU KIKAI SEISAKUSHO KK; NAGANO SCIENCE EQUIP Manufacturing
Current assignee: NAGANO KAGAKU KIKAI SEISAKUSHO KK; NAGANO SCIENCE EQUIP Manufacturing
Priority date: 2001-06-29
Filing date: 2001-06-29
Publication date: 2003-01-15

Abstract

(57)【要約】【課題】長期にわたり安定した信頼度の高い信号伝達
手段を持ち、且つ設置の自由度の大きい信号伝達機構を
有する光安定性試験装置を提供する。【解決手段】光安定性試験装置における試料台４に光
センサー５を回転可能に設け、光センサー５からの信号
を光センサー５に取り付けた導線により制御部に伝達す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、薬品等の
光安定性を試験するための光安定性試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の光安定性試験装置を図３及び図４
を参照しつつ説明する。

【０００３】図３は従来の光安定性試験装置を示す模式
的正面図である。この光安定性試験装置１は、光源２及
び反射鏡である光学系３を有し、光源２には蛍光灯のよ
うな管型光源が用いられている。尚、この従来の光安定
性試験装置１は一例であり、実際には各種の光源を用い
た機器がある。

【０００４】一方、下部には試料台４が回転軸６により
回転可能に設置されている。回転軸６は図示しない駆動
装置により回転できる。試料台４には２個の光センサー
５が設けられている。この光センサー５は光学系３を介
した光源２からの光線又は光源２からの直接の光線の照
射量を測定するものである。

【０００５】試料台４に図示しない薬品等の試料が置か
れ、この試料に光学系３を介した光源２からの光線又は
光源２からの光線が直接照射され、試料の劣化度を測定
することによりこの試料の光安定性が試験されることに
なる。照射を均一にするため、照射中、試料台４は回転
軸６を中心に図示しない駆動装置により回転される。

【０００６】試料に対する照射量は光センサー５により
測定され、この光センサー５からの信号が信号伝達機構
７を介して図示しない制御部に伝達され、光源２の発光
量の制御や積算照射量の集計に使用される。即ち、光源
２の光量は、光センサー５の受光量をフィードバックし
て制御される。

【０００７】図４は、従来の光安定性試験装置１におけ
る回転軸６に設けられた信号伝達機構７を示す要部斜視
図である。この信号伝達機構７は、光センサー５からの
信号を図示しない制御部に伝達するためのものである。
信号伝達機構７は、主に、回転軸６の外周に設けられた
絶縁部８、この絶縁部８の外周面に沿って設けられたス
リップリング９、このスリップリング９に接触するよう
に設けられた摺動子１０及び端子台１１から成ってい
る。即ち、光センサー５からの信号は図示しない導線に
より中空の回転軸６を経てスリップリング９から摺動子
１０に伝わり端子台１１を経て図示しない制御部に伝達
される。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した信号
伝達機構７を有する光安定性試験装置１では次のような
問題点があった。

【０００９】即ち、スリップリング９から摺動子１０に
伝わる（信号）電流は、数１０から１００ｎＡ程度の微
弱電流であるため、この微弱電流を安定して流す必要あ
る。このためにスリップリング９と摺動子１０との間の
接触面の酸化を防止するための性能維持処置は施されて
いる。

【００１０】しかし、長期に亙る使用は接触部に摩耗を
生じさせ、接触不良に至る。また、長期間性能を安定さ
せるため構造面においてコストがかかる上、構造上設置
の自由度が小さいという問題点があった。

【００１１】そこで、本発明は上記問題点を解決するた
めになされたもので、信号伝達の無接点化による信頼度
向上を図り、かつ設置の自由度の大きい信号伝達機構を
有する光安定性試験装置を提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る光安定性試験装置は、光源、当該光源
から発せられた光線が照射される試料を載置するための
試料台、当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測
定するための光センサー及び当該光センサーからの信号
が伝達され前記光源を制御する制御部を有する光安定性
試験装置において、前記試料台は外周部に位置する駆動
機構により駆動回転可能にされ、前記光センサーは前記
試料台に対し回転可能に設けられ、前記光センサーから
の信号は当該光センサーに取り付けられた導線により制
御部に伝達されるものである。「外周部に位置する駆動
機構」とは、特に試料台の中心に位置する回転軸を伴う
直接回転によらない駆動機構の意で、例えば、試料台の
外周面に接触して駆動する機構をいう。「光センサーに
取り付けられた」とは、光センサーに直接取り付ける
他、光センサーと一体になった取付体に取り付ける場合
も含む。

【００１３】また、光源のほかに当該光源から発せられ
た光線を調節する光学系及び当該光学系を経た光線が照
射される試料を載置するための試料台、当該試料台に取
り付けられた光線の照射量を測定するための光センサー
及び当該光センサーからの信号が伝達され前記光学系を
制御する制御部を有する光安定性試験装置において、前
記試料台は外周部に位置する駆動機構により駆動回転可
能にされ、前記光センサーは前記試料台に対し回転可能
に設けられ、前記光センサーからの信号は当該光センサ
ーに取り付けられた導線により制御部に伝達されるもの
であってもよい。

【００１４】また、試料台は円盤形状をしていることが
好ましい。

【００１５】また、駆動機構は試料台と駆動ローラとの
摩擦作用を利用するものであることが好ましい。

【００１６】また、駆動機構は歯車機構を利用するもの
であることも可能である。

【００１７】また、試料台は外周部に位置する支持ロー
ラにより支持されていることが好ましい。

【００１８】また、試料台は外周部に位置する複数個の
支持ローラ及び駆動ローラにより支持されていることが
好ましい。

【００１９】また、複数個の支持ローラ及び駆動ローラ
は試料台に関し円対称の位置に設けられていることが好
ましい。「試料台に関し円対称の位置」とは、例えば、
支持ローラが２個の場合は、２個の支持ローラ及び駆動
ローラの合計３個のローラの間隔が試料台の中心に関し
各々１２０°の角度である意である。

【００２０】また、試料台に複数個の光センサーを有す
ることが好ましい。但し、複数個の光センサーを設けた
場合の同一方向の継続回転は、各光センサーに取り付け
られた導線同士が撚れるため、構造上許される範囲の回
転回数毎に反転することを要する。

【００２１】また、前記複数個の光センサーは前記試料
台に関し円対称の位置に設けられていること好ましい。
「試料台に関し円対称の位置」とは、例えば、光センサ
ーが２個の場合は、２個の光センサーが試料台上におけ
る同一直径上の位置にあることをいう。
また、光センサーは前記試料台に対しベアリング機構を
介して回転可能に設けられていることが好ましい。

【００２２】

【発明の実施の形態】発明の実施の形態を実施例に基づ
き、図面を参照して説明する。

【００２３】本発明の実施例を図１及び図２を参照しつ
つ説明する。図１は、本発明に係る光安定性試験装置に
おける試料台及び駆動ローラを示す図で、（ａ）は要部
平面図、（ｂ）の要部側面図である。図２は、本発明に
係る光安定性試験装置における試料台に取り付けられた
光センサーの取付状態を示す要部斜視図である。

【００２４】本発明に係る光安定性試験装置における試
料台４は、２個の支持ローラ１５，１５及び１個の駆動
ローラ６１により支持され駆動回転可能になっている。
従って、試料台４の中心には回転軸は存在しない。即
ち、２個の支持ローラ１５，１５及び１個の駆動ローラ
６１は、各々段差形状になっており試料台４を回転可能
に支持している。

【００２５】本実施例では、２個の支持ローラ及び駆動
ローラは試料台に関し円対称の位置に設けられている。
即ち、２個の支持ローラ及び駆動ローラの合計３個のロ
ーラの間隔が試料台の中心に関し各々１２０°の角度に
ある。

【００２６】試料台４を回転駆動させるための駆動機構
１２は、駆動ローラ６１とともに駆動ローラ６１の回転
軸６及び回転軸６を回転させる駆動源６３を有してい
る。試料台４と駆動ローラ６１とは接触しておりその摩
擦力により回転作用が伝わることになる。

【００２７】試料台４には、２つの光センサー５，５が
設けられている。２個の光センサーは前記試料台に関し
円対称の位置に設けられている。即ち、２個の光センサ
ーは、試料台上における同一直径上の位置にある。

【００２８】また、この２つの光センサー５，５は、試
料台４に対して回転可能に設けられている。この試料台
４に対する光センサー５の取付状態の詳細を図２を参照
しつつ説明する。

【００２９】試料台４に取付部５１により光センサー５
が回転可能に取り付けられている。即ち、取付部５１の
内側にベアリング５２を介し光センサー５が取り付けら
れているため、光センサー５は試料台４に対して回転可
能となっている。この光センサー５の下部に光センサー
５と一体となった取付体５３が設けられている。この取
付体５３には取付具５４により可撓性部材である可撓性
の薄板１４が取り付けられている。従って、可撓性部材
である可撓性の薄板１４は光センサー５の回転に追従す
ることになる。可撓性の薄板１４には光センサー５から
の信号を伝達するための導線５５が取り付けられてい
る。図１（ｂ）では、光センサー５と可撓性の薄板１４
とにおいて、実線で記載されたものが９０°回転すると
点線で記載されたものまで移動する。図１（ａ）では、
可撓性の薄板１４において、点線で記載されたものが９
０°回転すると二点鎖線で記載されたものまで移動す
る。

【００３０】図１に示すように、可撓性の薄板１４は試
料台４から離れた位置にある固定端子部１３に取り付け
られている。即ち、可撓性の薄板１４に取り付けられた
導線５５を伝達された信号は、この固定端子部１３を介
して図示しない制御部へ伝達され光源や光学系が制御さ
れ試料への光線の照射量が調節されることになる。

【００３１】尚、光センサー５が複数個（本実施例では
２個）搭載の装置においては、試料台４の回転数を検知
するため、試料台４に回転位置報知部６４を設け、一
方、試料台４から離れた位置にある回転検知素子６５を
設ける。

【００３２】次に、上記構成をした光安定性試験装置の
作用を説明する。

【００３３】光安定性試験装置における試料台４に試料
が載置されこの試料に光源からの光線が直接又は光学系
を介して照射される。照射を均一にするため試料台４は
支持ローラ１５、１５により支持され駆動機構１２によ
り即ち駆動源６３により回転軸６が回転され駆動ローラ
６１が回転することにより駆動回転されることになる。

【００３４】試料台４の回転に伴い、回転位置報知部６
４が回転検知素子６５の検知部を通過することで、この
回転検知素子６５は試料台４の回転を検知できる。この
信号を図示しない制御部に伝達することにより、駆動源
６３は図示しない制御部により、試料台４の１回乃至複
数回の回転毎に反転動作を行う様、制御される。

【００３５】この際、試料台４に設けられた光センサー
５はベアリング５２を介して試料台４に対して回転可能
になっているため、試料台４の回転中、光センサー５は
可撓性の薄板１４の弾性作用に追従して回転することに
なる。従って、可撓性の薄板１４に取り付けられている
導線５５は絡むことなく試料台４は反転を含む回転を続
けることができる。

【００３６】光源からの光線の照射中、光センサー５に
より照射量が測定され導線５５及び固定端子部１３を介
して図示しない制御部へ伝達される。その後、制御部は
受信した信号に基づき光源の発光量の制御や積算照射量
の集計を行うことになる。

【００３７】本実施例においては、上記の構成・作用に
より、次に示す効果を得ることができる。

【００３８】従来における光安定性試験装置における信
号伝達機構と異なり、スリップリング等の摺動部を有し
ないため、光センサー５からの微弱な信号を安定的に制
御部に伝達することができる。

【００３９】また、試料台４の中心に回転軸を有しない
ため、構造上設置の自由度が大きい利点を有する。

【００４０】尚、本実施例においては、光センサー５か
らの信号を伝達する導線５５が、試料台４の回転中絡ま
ないようにするため可撓性の薄板１４を用いているが、
導線５５自身に薄板と同様の可撓性を持たせることが出
来る場合には、薄板を取り除き導線だけで上記効果を達
成することができる。逆に、導線５５自身に薄板と同様
の可撓性を持たせることが出来ない場合には、上記薄板
等の可撓性部材が必要である。

【００４１】また、本実施例においては、試料台４の駆
動機構１２として接触摩擦力を利用しているが他に歯車
機構やゴムベルト等を用いることも可能である。

【００４２】また、本実施例においては、２個の光セン
サーを用いているが、試料台に三以上の光センサーを設
けることも可能である。

【００４３】

【発明の効果】以上のように、本発明に係る光安定性試
験装置は、試料台の中心に回転軸を設けない機構により
回転駆動しているため、長期安定の信頼度の高い信号伝
達機構が構成でき、また、設置の自由度も大きくなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光安定性試験装置における試料台
及び駆動ローラを示す図で、（ａ）は要部平面図、
（ｂ）の要部側面図である。

【図２】本発明に係る光安定性試験装置における試料台
に取り付けられた光センサーの取付状態を示す要部斜視
図である。

【図３】従来の光安定性試験装置を示す模式的正面図で
ある。

【図４】従来の光安定性試験装置における回転軸に設け
られた信号伝達機構を示す要部斜視図である。

【符号の説明】

１光安定性試験装置２光源３光学系４試料台５光センサー６回転軸７信号伝達機構８絶縁部９スリップリング１０摺動子１１端子台１２駆動機構１３固定端子部１４可撓性部材（可撓性の薄板）１５支持ローラ５１取付部５２ベアリング５３取付体５４取付具５５導線６１駆動ローラ６３駆動源６４回転位置報知部６５回転検知素子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源、当該光源から発せられた光線が照
射される試料を載置するための試料台、当該試料台に取
り付けられた光線の照射量を測定するための光センサー
及び当該光センサーからの信号が伝達され前記光源を制
御する制御部を有する光安定性試験装置において、前記
試料台は外周部に位置する駆動機構により駆動回転可能
にされ、前記光センサーは前記試料台に対し回転可能に
設けられ、前記光センサーからの信号は当該光センサー
に取り付けられた導線により制御部に伝達されることを
特徴とする光安定性試験装置。
【請求項２】光源、当該光源から発せられた光線を調
節する光学系、当該光学系を経た光線が照射される試料
を載置するための試料台、当該試料台に取り付けられた
光線の照射量を測定するための光センサー及び当該光セ
ンサーからの信号が伝達され前記光学系を制御する制御
部を有する光安定性試験装置において、前記試料台は外
周部に位置する駆動機構により駆動回転可能にされ、前
記光センサーは前記試料台に対し回転可能に設けられ、
前記光センサーからの信号は当該光センサーに取り付け
られた導線により制御部に伝達されることを特徴とする
光安定性試験装置。
【請求項３】前記試料台は円盤形状をしていることを特
徴とする請求項１又は２記載の光安定性試験装置。
【請求項４】前記駆動機構は前記試料台と駆動ローラ
との摩擦作用を利用するものであることを特徴とする請
求項１，２又は３記載の光安定性試験装置。
【請求項５】前記駆動機構は歯車機構を利用するもの
であることを特徴とする請求項１，２，３又は４記載の
光安定性試験装置。
【請求項６】前記試料台は外周部に位置する支持ロー
ラにより支持されていることを特徴とする請求項１，
２，３、４又は５記載の光安定性試験装置。
【請求項７】前記試料台は外周部に位置する複数個の
支持ローラ及び駆動ローラにより支持されていることを
特徴とする請求項１，２，３、４、５又は６記載の光安
定性試験装置。
【請求項８】前記複数個の支持ローラ及び駆動ローラ
は前記試料台に関し円対称の位置に設けられていること
を特徴とする請求項７記載の光安定性試験装置。
【請求項９】前記試料台に複数個の光センサーを有す
ることを特徴とする請求項１，２，３、４、５、６、７
又は８記載の光安定性試験装置。
【請求項１０】前記試料台は所定の回転回数毎に反転
可能になっていることを特徴とする請求項９記載の光安
定性試験装置。
【請求項１１】前記複数個の光センサーは前記試料台
に関し円対称の位置に設けられていることを特徴とする
請求項９又は１０記載の光安定性試験装置。
【請求項１２】前記光センサーは前記試料台に対しベ
アリング機構を介して回転可能に設けられていることを
特徴とする請求項１，２，３、４、５，６，７，８，
９、１０又は１１記載の光安定性試験装置。