JP2003090850A - 電流センサ - Google Patents
電流センサInfo
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Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定環境に存在する不要な磁界の影響を排除
でき、精度の高い電流測定を実現できる電流センサの提
供。 【解決手段】 導体21、22は、同一の平面内に互い
に平行に配置され、互いに逆向きの測定電流を流すよう
になっている。磁気センサ23は、導体21の周囲に発
生する磁束のうち水平方向の磁束を検出してそれに応じ
た電気信号を出力し、その垂直方向の外部磁界には感知
しないように構成されている。磁気センサ24は、導体
22の周囲に発生する磁束のうち水平方向の磁束を検出
してそれに応じた電気信号を出力し、その垂直方向の外
部磁界には感知しないように構成されている。減算回路
(図示せず)は、磁気センサ23の出力と磁気センサ2
4の出力との減算を行うようになっている。
でき、精度の高い電流測定を実現できる電流センサの提
供。 【解決手段】 導体21、22は、同一の平面内に互い
に平行に配置され、互いに逆向きの測定電流を流すよう
になっている。磁気センサ23は、導体21の周囲に発
生する磁束のうち水平方向の磁束を検出してそれに応じ
た電気信号を出力し、その垂直方向の外部磁界には感知
しないように構成されている。磁気センサ24は、導体
22の周囲に発生する磁束のうち水平方向の磁束を検出
してそれに応じた電気信号を出力し、その垂直方向の外
部磁界には感知しないように構成されている。減算回路
(図示せず)は、磁気センサ23の出力と磁気センサ2
4の出力との減算を行うようになっている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、導体を流れる電流
により生ずる磁束を検出することにより電流値を測定す
る電流センサであって、外部磁界の影響を受けないで電
流測定ができるものである。
により生ずる磁束を検出することにより電流値を測定す
る電流センサであって、外部磁界の影響を受けないで電
流測定ができるものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、非接触の電流センサとして、
電流導体に流れる測定電流により生ずる磁束を磁気セン
サで検出し、この検出に基づいて電流値を測定する電流
センサがある。このような電流センサとして、例えば、
米国特許5942895号に記載のものが知られてい
る。
電流導体に流れる測定電流により生ずる磁束を磁気セン
サで検出し、この検出に基づいて電流値を測定する電流
センサがある。このような電流センサとして、例えば、
米国特許5942895号に記載のものが知られてい
る。
【0003】この電流センサは、図5に示すように、測
定用の電流を流すことによりその周囲に磁束を発生させ
る測定用導体1と、この測定用導体1の下方に配置さ
れ、その磁束を検出する磁気センサ2とを備えている。
磁気センサ2は、その上面側に、測定用導体1の発生す
る磁束を検出する磁気検出素子3、4が配置されてい
る。また、磁気センサ2の上には、測定用導体1によっ
て発生する磁束を水平方向に収束させるとともに、その
磁束を磁気検出素子3、4に導く磁気収束板5、6が設
けられ、これらは所定の空隙(ギャップ)7を設けて配
置されている。
定用の電流を流すことによりその周囲に磁束を発生させ
る測定用導体1と、この測定用導体1の下方に配置さ
れ、その磁束を検出する磁気センサ2とを備えている。
磁気センサ2は、その上面側に、測定用導体1の発生す
る磁束を検出する磁気検出素子3、4が配置されてい
る。また、磁気センサ2の上には、測定用導体1によっ
て発生する磁束を水平方向に収束させるとともに、その
磁束を磁気検出素子3、4に導く磁気収束板5、6が設
けられ、これらは所定の空隙(ギャップ)7を設けて配
置されている。
【0004】磁気センサ2は、リードフレーム8は固定
された状態でパッケージ9内に収容されている。また、
磁気収束板5、6は、適宜手段でパッケージ9内に固定
されている。さらに、パッケージ9には、外部と電気的
に接続する端子10が固定されている。そして、測定用
導体1の外周のうち、磁気収束板5、6が配置される部
分を除く他の部分には、発生する磁束を収束する磁気収
束部材11が設けられている。
された状態でパッケージ9内に収容されている。また、
磁気収束板5、6は、適宜手段でパッケージ9内に固定
されている。さらに、パッケージ9には、外部と電気的
に接続する端子10が固定されている。そして、測定用
導体1の外周のうち、磁気収束板5、6が配置される部
分を除く他の部分には、発生する磁束を収束する磁気収
束部材11が設けられている。
【0005】次に、このような構成からなる従来の電流
センサの動作について、図5〜図7を参照して説明す
る。いま、図5の測定用導体1に、紙面の手前から紙面
の後方に向けて電流が流れているものとすると、測定用
導体1の周囲には、時計方向回りに磁束が発生している
(7図参照)。
センサの動作について、図5〜図7を参照して説明す
る。いま、図5の測定用導体1に、紙面の手前から紙面
の後方に向けて電流が流れているものとすると、測定用
導体1の周囲には、時計方向回りに磁束が発生している
(7図参照)。
【0006】この磁束は、磁束収束板5、6および磁束
収束部材11により収束されているいる。磁束収束板
5、6では、図6に示すように、磁束が水平方向に収束
されているが、磁束収束板5と磁束収束板6との間には
空隙7があるので、この空隙7の部分では磁束が磁気セ
ンサ2側に向けて垂直方向に広がる。このため、その垂
直方向に広がる磁束の向きは、図6に示すように、磁気
収束板5の端部の下側と、磁気収束板6の端部の下側と
では互いに逆方向になる。そこで、磁気センサ2では、
磁気検出素子3と磁気検出素子4とが逆向きの磁束を検
出するとともに、その磁気検出素子3、4の各出力信号
の減算を行うことにより、測定用導体1に流れる電流に
より発生する磁束密度に応じた電気信号を得るようにな
っている。
収束部材11により収束されているいる。磁束収束板
5、6では、図6に示すように、磁束が水平方向に収束
されているが、磁束収束板5と磁束収束板6との間には
空隙7があるので、この空隙7の部分では磁束が磁気セ
ンサ2側に向けて垂直方向に広がる。このため、その垂
直方向に広がる磁束の向きは、図6に示すように、磁気
収束板5の端部の下側と、磁気収束板6の端部の下側と
では互いに逆方向になる。そこで、磁気センサ2では、
磁気検出素子3と磁気検出素子4とが逆向きの磁束を検
出するとともに、その磁気検出素子3、4の各出力信号
の減算を行うことにより、測定用導体1に流れる電流に
より発生する磁束密度に応じた電気信号を得るようにな
っている。
【0007】ところで、実際に電流センサが電流を測定
する環境では、測定用導体1に流れる電流により発生す
る磁束の他に、本来の電流測定に不要な外部磁界が存在
し、この外部磁界には、垂直方向のものと水平方向のも
のとがある。そのうち、垂直方向の外部磁界は、磁気検
出素子3、4に対して同一方向の磁束として作用するの
で、その各出力信号を減算することにより打ち消され
る。このため、磁気センサ2の出力信号には、その垂直
方向の外部磁界の影響は表れない。
する環境では、測定用導体1に流れる電流により発生す
る磁束の他に、本来の電流測定に不要な外部磁界が存在
し、この外部磁界には、垂直方向のものと水平方向のも
のとがある。そのうち、垂直方向の外部磁界は、磁気検
出素子3、4に対して同一方向の磁束として作用するの
で、その各出力信号を減算することにより打ち消され
る。このため、磁気センサ2の出力信号には、その垂直
方向の外部磁界の影響は表れない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし、水平方向に外
部磁界は、磁気センサ2の位置では、図7に示すように
測定用導体1による磁束と同一の方向となり、垂直方向
の外部磁界のように、磁気検出素子3、4の各出力信号
の減算により打ち消すことができない。このため、磁気
センサ2の出力信号には、その水平方向の外部磁界の影
響が表れる。
部磁界は、磁気センサ2の位置では、図7に示すように
測定用導体1による磁束と同一の方向となり、垂直方向
の外部磁界のように、磁気検出素子3、4の各出力信号
の減算により打ち消すことができない。このため、磁気
センサ2の出力信号には、その水平方向の外部磁界の影
響が表れる。
【0009】この外部磁界の影響を数式を使用して説明
すると、以下のようになる。すなわち、図7に示すよう
に、水平方向の外部磁界による磁気センサ2の出力をV
e、測定用導体1に電流が流れることで生ずる磁界によ
る磁気センサ2の出力をViとすると、この両者による
磁気センサ2の出力Vsは、次の(1)式のようにな
る。
すると、以下のようになる。すなわち、図7に示すよう
に、水平方向の外部磁界による磁気センサ2の出力をV
e、測定用導体1に電流が流れることで生ずる磁界によ
る磁気センサ2の出力をViとすると、この両者による
磁気センサ2の出力Vsは、次の(1)式のようにな
る。
【0010】Vs=Vi+Ve ・・・・(1)
従って、図5に示すような従来の電流センサでは、水平
方向の外部磁界が存在する測定環境では、その外部磁界
によって電流の測定値に誤差が生ずる。特に、各種の電
子機器で使用する電流センサにおいては、その電流セン
サが設置される周辺の部品から発生する磁界が存在し、
これを無視することができない。
方向の外部磁界が存在する測定環境では、その外部磁界
によって電流の測定値に誤差が生ずる。特に、各種の電
子機器で使用する電流センサにおいては、その電流セン
サが設置される周辺の部品から発生する磁界が存在し、
これを無視することができない。
【0011】そこで、精度の高い電流測定を行うため
に、測定環境に存在する磁界の影響を受けない新たな電
流センサの出現が望まれる。本発明は上述の点に鑑みて
なされたものであり、その目的は、測定環境に存在する
不要な外部磁界の影響を排除でき、精度の高い電流測定
を実現できる電流センサを提供することにある。
に、測定環境に存在する磁界の影響を受けない新たな電
流センサの出現が望まれる。本発明は上述の点に鑑みて
なされたものであり、その目的は、測定環境に存在する
不要な外部磁界の影響を排除でき、精度の高い電流測定
を実現できる電流センサを提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し、本発
明の目的を達成するために、請求項1〜請求項10に記
載の各発明は、以下のように構成した。すなわち、請求
項1に記載の発明は、測定電流をそれぞれ流す第1の導
体および第2の導体を、同一の平面内に互いに平行に配
置した測定用導体と、前記第1の導体に流れる測定電流
によって発生する磁界の強さを検出する第1の磁気セン
サと、前記第2の導体に流れる測定電流によって発生す
る磁界の強さを検出する第2の磁気センサとを備え、前
記第1の導体と前記第2の導体に流れる測定電流の方向
が互いに逆向きであることを特徴とするものである。
明の目的を達成するために、請求項1〜請求項10に記
載の各発明は、以下のように構成した。すなわち、請求
項1に記載の発明は、測定電流をそれぞれ流す第1の導
体および第2の導体を、同一の平面内に互いに平行に配
置した測定用導体と、前記第1の導体に流れる測定電流
によって発生する磁界の強さを検出する第1の磁気セン
サと、前記第2の導体に流れる測定電流によって発生す
る磁界の強さを検出する第2の磁気センサとを備え、前
記第1の導体と前記第2の導体に流れる測定電流の方向
が互いに逆向きであることを特徴とするものである。
【0013】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の電流センサにおいて、前記第1の磁気センサは、前記
第1の導体に流れる測定電流によって発生する磁束のう
ち所定方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出
力し、前記第2の磁気センサは、前記第2の導体に流れ
る測定電流によって発生する磁束のうち前記所定方向と
同一方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力
するように構成し、前記第1磁気センサの出力と前記第
2磁気センサの出力との減算を行う減算手段を備えるよ
うにしたことを特徴とするものである。
の電流センサにおいて、前記第1の磁気センサは、前記
第1の導体に流れる測定電流によって発生する磁束のう
ち所定方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出
力し、前記第2の磁気センサは、前記第2の導体に流れ
る測定電流によって発生する磁束のうち前記所定方向と
同一方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力
するように構成し、前記第1磁気センサの出力と前記第
2磁気センサの出力との減算を行う減算手段を備えるよ
うにしたことを特徴とするものである。
【0014】請求項3に記載の発明は、請求項1または
請求項2に記載の電流センサにおいて、前記第1の磁気
センサは、前記第1の導体の発生する磁束を所定方向に
収束させるとともに、漏れ磁束を生成させる第1の磁気
収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞ
れ検出する第1および第2の磁気検出素子とを備え、か
つ、前記第1の磁気検出素子の出力と前記第2の磁気検
出素子の出力の減算を行うように構成し、前記第2の磁
気センサは、前記第2の導体の発生する磁束を前記所定
方向と同一方向に収束させるとともに、漏れ磁束を生成
させる第2の磁気収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異
なる位置でそれぞれ検出する第3および第4の磁気検出
素子とを備え、かつ、前記第3の磁気検出素子の出力と
前記第4の磁気検出素子の出力の減算を行うように構成
したことを特徴とするものである。
請求項2に記載の電流センサにおいて、前記第1の磁気
センサは、前記第1の導体の発生する磁束を所定方向に
収束させるとともに、漏れ磁束を生成させる第1の磁気
収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞ
れ検出する第1および第2の磁気検出素子とを備え、か
つ、前記第1の磁気検出素子の出力と前記第2の磁気検
出素子の出力の減算を行うように構成し、前記第2の磁
気センサは、前記第2の導体の発生する磁束を前記所定
方向と同一方向に収束させるとともに、漏れ磁束を生成
させる第2の磁気収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異
なる位置でそれぞれ検出する第3および第4の磁気検出
素子とを備え、かつ、前記第3の磁気検出素子の出力と
前記第4の磁気検出素子の出力の減算を行うように構成
したことを特徴とするものである。
【0015】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の電流センサにおいて、前記第1および第2の磁気セン
サの各磁気収束板は、対応する前記第1および第2の導
体にそれぞれ接していることを特徴とするものである。
請求項5に記載の発明は、請求項1乃至請求項4のいず
れかに記載の電流センサにおいて、前記第1および第2
の導体の各断面積は、前記第1および第2の磁気センサ
の各配置位置において他の部分の断面積よりも小さくな
っていることを特徴とするものである。
の電流センサにおいて、前記第1および第2の磁気セン
サの各磁気収束板は、対応する前記第1および第2の導
体にそれぞれ接していることを特徴とするものである。
請求項5に記載の発明は、請求項1乃至請求項4のいず
れかに記載の電流センサにおいて、前記第1および第2
の導体の各断面積は、前記第1および第2の磁気センサ
の各配置位置において他の部分の断面積よりも小さくな
っていることを特徴とするものである。
【0016】請求項6に記載の発明は、測定電流をそれ
ぞれ流す第1の導体と第2の導体を、同一の平面内に互
いに平行に配置するとともに、その両導体の一方の各終
端側同士を電気的に接続した測定用導体と、前記第1の
導体に流れる測定電流によって発生する磁界の強さを検
出する第1の磁気センサと、前記第2の導体に流れる測
定電流によって発生する磁界の強さを検出する第2の磁
気センサと、を備えたことを特徴とするものである。
ぞれ流す第1の導体と第2の導体を、同一の平面内に互
いに平行に配置するとともに、その両導体の一方の各終
端側同士を電気的に接続した測定用導体と、前記第1の
導体に流れる測定電流によって発生する磁界の強さを検
出する第1の磁気センサと、前記第2の導体に流れる測
定電流によって発生する磁界の強さを検出する第2の磁
気センサと、を備えたことを特徴とするものである。
【0017】請求項7に記載の発明は、請求項6に記載
の電流センサにおいて、前記第1の磁気センサは、前記
第1の導体に流れる測定電流によって発生する磁束のう
ち所定方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出
力し、前記第2の磁気センサは、前記第2の導体に流れ
る測定電流によって発生する磁束のうち前記所定方向と
同一方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力
するように構成し、前記第1磁気センサの出力と前記第
2磁気センサの出力との減算を行う減算手段を備えるよ
うにしたことを特徴とするものである。
の電流センサにおいて、前記第1の磁気センサは、前記
第1の導体に流れる測定電流によって発生する磁束のう
ち所定方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出
力し、前記第2の磁気センサは、前記第2の導体に流れ
る測定電流によって発生する磁束のうち前記所定方向と
同一方向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力
するように構成し、前記第1磁気センサの出力と前記第
2磁気センサの出力との減算を行う減算手段を備えるよ
うにしたことを特徴とするものである。
【0018】請求項8に記載の発明は、請求項6または
請求項7に記載の電流センサにおいて、前記第1の磁気
センサは、前記第1の導体の発生する磁束を所定方向に
収束させるとともに、漏れ磁束を生成させる第1の磁気
収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞ
れ検出する第1および第2の磁気検出素子とを備え、か
つ、前記第1の磁気検出素子の出力と前記第2の磁気検
出素子の出力の減算を行うように構成し、前記第2の磁
気センサは、前記第2の導体の発生する磁束を前記所定
方向と同方向に収束させるとともに、漏れ磁束を生成さ
せる第2の磁気収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異な
る位置でそれぞれ検出する第3および第4の磁気検出素
子とを備え、かつ、前記第3の磁気検出素子の出力と前
記第4の磁気検出素子の出力の減算を行うように構成し
たことを特徴とするものである。
請求項7に記載の電流センサにおいて、前記第1の磁気
センサは、前記第1の導体の発生する磁束を所定方向に
収束させるとともに、漏れ磁束を生成させる第1の磁気
収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞ
れ検出する第1および第2の磁気検出素子とを備え、か
つ、前記第1の磁気検出素子の出力と前記第2の磁気検
出素子の出力の減算を行うように構成し、前記第2の磁
気センサは、前記第2の導体の発生する磁束を前記所定
方向と同方向に収束させるとともに、漏れ磁束を生成さ
せる第2の磁気収束板と、前記漏れ磁束を、所定の異な
る位置でそれぞれ検出する第3および第4の磁気検出素
子とを備え、かつ、前記第3の磁気検出素子の出力と前
記第4の磁気検出素子の出力の減算を行うように構成し
たことを特徴とするものである。
【0019】請求項9に記載の発明は、請求項8に記載
の電流センサにおいて、前記第1および第2の磁気セン
サの各磁気収束板は、対応する前記第1および第2の導
体に接していることを特徴とするものである。請求項1
0に記載の発明は、請求項6乃至請求項9のいずれかに
記載の電流センサにおいて、前記第1および第2の導体
の各断面積は、前記第1および第2の磁気センサの各配
置位置において他の部分の断面積よりも小さくなってい
ることを特徴とするものである。
の電流センサにおいて、前記第1および第2の磁気セン
サの各磁気収束板は、対応する前記第1および第2の導
体に接していることを特徴とするものである。請求項1
0に記載の発明は、請求項6乃至請求項9のいずれかに
記載の電流センサにおいて、前記第1および第2の導体
の各断面積は、前記第1および第2の磁気センサの各配
置位置において他の部分の断面積よりも小さくなってい
ることを特徴とするものである。
【0020】請求項11に記載の発明は、請求項2乃至
請求項5または請求項7乃至請求項10のいずれかに記
載の電流センサにおいて、前記第1および第2の磁気セ
ンサと、前記減算手段とは、少なくとも同一のシリコン
基板上に形成するようにしたことを特徴とするものであ
る。請求項12に記載の発明は、請求項3乃至請求項5
または請求項8乃至請求項11のいずれかに記載の電流
センサにおいて、前記第1の磁気センサは、前記第1お
よび第2の磁気検出素子と、これらの出力を減算および
増幅する回路を含む信号処理回路とを前記同一のシリコ
ン基板の第1のセンサ形成領域に形成し、前記第1の磁
気センサは、前記第3および第4の磁気検出素子と、こ
れらの出力を減算および増幅する回路を含む信号処理回
路とを前記同一のシリコン基板の第2のセンサ形成領域
に形成するようにしたことを特徴とするものである。
請求項5または請求項7乃至請求項10のいずれかに記
載の電流センサにおいて、前記第1および第2の磁気セ
ンサと、前記減算手段とは、少なくとも同一のシリコン
基板上に形成するようにしたことを特徴とするものであ
る。請求項12に記載の発明は、請求項3乃至請求項5
または請求項8乃至請求項11のいずれかに記載の電流
センサにおいて、前記第1の磁気センサは、前記第1お
よび第2の磁気検出素子と、これらの出力を減算および
増幅する回路を含む信号処理回路とを前記同一のシリコ
ン基板の第1のセンサ形成領域に形成し、前記第1の磁
気センサは、前記第3および第4の磁気検出素子と、こ
れらの出力を減算および増幅する回路を含む信号処理回
路とを前記同一のシリコン基板の第2のセンサ形成領域
に形成するようにしたことを特徴とするものである。
【0021】次に、以上のような構成からなる各発明の
作用や効果について説明する。すなわち、請求項1およ
び請求項6に記載の発明では、第1の磁気センサの出力
と第2の磁気センサの出力との減算を行うことが可能と
なる。このため、測定環境に存在する外部磁界の影響を
排除でき、その結果、精度の高い電流測定が可能とな
る。
作用や効果について説明する。すなわち、請求項1およ
び請求項6に記載の発明では、第1の磁気センサの出力
と第2の磁気センサの出力との減算を行うことが可能と
なる。このため、測定環境に存在する外部磁界の影響を
排除でき、その結果、精度の高い電流測定が可能とな
る。
【0022】また、請求項2および請求項7に記載の発
明では、第1および第2の磁気センサの各出力は、自己
が検出すべき磁束の方向と直交する方向の外部磁界の影
響を排除することができるが、その磁束の方向と同一方
向の外部磁界の影響を排除することができない。このた
め、第1および第2の磁気センサの各出力には、その外
部磁界による影響の成分が含まれてしまう。
明では、第1および第2の磁気センサの各出力は、自己
が検出すべき磁束の方向と直交する方向の外部磁界の影
響を排除することができるが、その磁束の方向と同一方
向の外部磁界の影響を排除することができない。このた
め、第1および第2の磁気センサの各出力には、その外
部磁界による影響の成分が含まれてしまう。
【0023】しかし、第1および第2の磁気センサの各
出力は、自己が検出すべき磁束の方向の成分については
正と負になり、その磁束の方向と同一方向の外部磁界に
よる成分が加わると、その各成分についてはいずれも例
えば正となる。減算手段は、その第1磁気センサの出力
と第2磁気サンサの出力を減算を行うので、その外部磁
界による成分同士が打ち消され、減算手段の出力には、
その外部磁界による影響が表れない。
出力は、自己が検出すべき磁束の方向の成分については
正と負になり、その磁束の方向と同一方向の外部磁界に
よる成分が加わると、その各成分についてはいずれも例
えば正となる。減算手段は、その第1磁気センサの出力
と第2磁気サンサの出力を減算を行うので、その外部磁
界による成分同士が打ち消され、減算手段の出力には、
その外部磁界による影響が表れない。
【0024】このため、請求項2および請求項7に記載
の発明によれば、測定環境に存在する外部磁界の影響を
排除でき、精度の高い電流測定が実現できる。さらに、
請求項3および請求項8に記載の発明では、第1の磁気
センサにおいて、第1および第2の磁気収束板により生
成される漏れ磁束は、その収束させる磁束の方向と直交
する方向に向きが変換される。このため、第1および第
2の磁気検出素子は、その検出する磁束の方向が逆方向
になって、その各出力は正と負となる。
の発明によれば、測定環境に存在する外部磁界の影響を
排除でき、精度の高い電流測定が実現できる。さらに、
請求項3および請求項8に記載の発明では、第1の磁気
センサにおいて、第1および第2の磁気収束板により生
成される漏れ磁束は、その収束させる磁束の方向と直交
する方向に向きが変換される。このため、第1および第
2の磁気検出素子は、その検出する磁束の方向が逆方向
になって、その各出力は正と負となる。
【0025】一方、その収束させる磁束と直交する方向
の外部磁界が加わると、その外部磁界の方向は、両磁気
検出素子では同一方向になる。このため、その両磁気検
出素子の各出力には、その外部磁界による成分がそれぞ
れ含まれ、その各成分はいずれも例えば正となる。そし
て、第1の磁気センサでは、その第1の磁気検出素子の
出力と第2の磁気検出素子の減算を行うようにしたの
で、その外部磁界による成分が打ち消され、その外部成
分による影響が表れない。このような作用は、第2の磁
気センサについても同様である。
の外部磁界が加わると、その外部磁界の方向は、両磁気
検出素子では同一方向になる。このため、その両磁気検
出素子の各出力には、その外部磁界による成分がそれぞ
れ含まれ、その各成分はいずれも例えば正となる。そし
て、第1の磁気センサでは、その第1の磁気検出素子の
出力と第2の磁気検出素子の減算を行うようにしたの
で、その外部磁界による成分が打ち消され、その外部成
分による影響が表れない。このような作用は、第2の磁
気センサについても同様である。
【0026】このようにして、第1および第2の磁気セ
ンサの各出力は、自己が検出すべき磁束の方向と直交す
る方向の外部磁界の影響を排除できるが、その磁束の方
向と同一方向の外部磁界の影響を排除できない。このた
め、第1および第2の磁気センサの各出力には、その外
部磁界による影響の成分が含まれてしまう。しかし、第
1および第2の磁気センサの各出力は、自己が検出すべ
き磁束の方向の成分については正と負になり、その磁束
の方向と同一方向の外部磁界による成分が加わると、そ
の各成分についてはいずれも例えば正となる。減算手段
は、その第1磁気センサの出力と第2磁気サンサの出力
を減算を行うので、その外部磁界による成分同士が打ち
消され、減算手段の出力には、その外部磁界による影響
が表れない。
ンサの各出力は、自己が検出すべき磁束の方向と直交す
る方向の外部磁界の影響を排除できるが、その磁束の方
向と同一方向の外部磁界の影響を排除できない。このた
め、第1および第2の磁気センサの各出力には、その外
部磁界による影響の成分が含まれてしまう。しかし、第
1および第2の磁気センサの各出力は、自己が検出すべ
き磁束の方向の成分については正と負になり、その磁束
の方向と同一方向の外部磁界による成分が加わると、そ
の各成分についてはいずれも例えば正となる。減算手段
は、その第1磁気センサの出力と第2磁気サンサの出力
を減算を行うので、その外部磁界による成分同士が打ち
消され、減算手段の出力には、その外部磁界による影響
が表れない。
【0027】このため、請求項3および請求項8に記載
の発明では、測定環境に存在する外部磁界の影響を排除
でき、精度の高い電流測定が実現できる。また、請求項
4および請求項9に記載の発明では、第1および第2の
導体の周囲に発生させる各磁束を、その各導体の周囲の
近傍に収束させることができ、その磁束を第1および第
2の磁気センサでそれぞれ検出できる。
の発明では、測定環境に存在する外部磁界の影響を排除
でき、精度の高い電流測定が実現できる。また、請求項
4および請求項9に記載の発明では、第1および第2の
導体の周囲に発生させる各磁束を、その各導体の周囲の
近傍に収束させることができ、その磁束を第1および第
2の磁気センサでそれぞれ検出できる。
【0028】さらに、請求項5および請求項10に記載
の発明では、第1および第2の導体の周囲に発生させる
各磁束の通路長を短くして、第1および第2の磁気セン
サの配置位置における磁束密度を他の部分に比較して大
きくできる。
の発明では、第1および第2の導体の周囲に発生させる
各磁束の通路長を短くして、第1および第2の磁気セン
サの配置位置における磁束密度を他の部分に比較して大
きくできる。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。本発明の電流センサの第1実
施形態の構成を、図1および図2を参照して説明する。
この第1実施形態に係る電流センサは、図1に示すよう
に、互いに独立の第1導体21および第2導体22から
なる測定用導体20と、磁気センサチップ25上に形成
された磁気センサ23、24と、電源端子や出力信号端
子などの複数の接続端子26とを少なくとも備え、これ
らをパッケージ27内に収容するようにしたものであ
る。
図面を参照して説明する。本発明の電流センサの第1実
施形態の構成を、図1および図2を参照して説明する。
この第1実施形態に係る電流センサは、図1に示すよう
に、互いに独立の第1導体21および第2導体22から
なる測定用導体20と、磁気センサチップ25上に形成
された磁気センサ23、24と、電源端子や出力信号端
子などの複数の接続端子26とを少なくとも備え、これ
らをパッケージ27内に収容するようにしたものであ
る。
【0030】なお、図1では、磁気センサチップ25
と、接続端子26との間の電気的な接続などは省略され
ている。第1導体21と第2導体22は、図1に示すよ
うに、同一の平面内に所定間隔をおいて互いに平行に配
置されている。また、この第1導体21と第2導体22
は、直流または交流からなる測定電流をその長さ方向に
それぞれ流すが、その各測定電流は、同一の電流を互い
に逆向きに流すようになっている。このため、第1導体
21の周囲に発生する磁束の向きと、第2導体22の周
囲に発生する磁束の向きとが、互いに逆方向となる(図
3参照)。
と、接続端子26との間の電気的な接続などは省略され
ている。第1導体21と第2導体22は、図1に示すよ
うに、同一の平面内に所定間隔をおいて互いに平行に配
置されている。また、この第1導体21と第2導体22
は、直流または交流からなる測定電流をその長さ方向に
それぞれ流すが、その各測定電流は、同一の電流を互い
に逆向きに流すようになっている。このため、第1導体
21の周囲に発生する磁束の向きと、第2導体22の周
囲に発生する磁束の向きとが、互いに逆方向となる(図
3参照)。
【0031】第1導体21と第2導体22は、図1に示
すように、例えば断面が長方形であって所定の長さの金
属などから構成され、その長さ方向に測定電流を流すよ
うになっている。また、第1導体21と第2導体22
は、図1に示すように、磁気センサ23、24と対向す
る部分に切欠き部28が形成され、これによりその部分
の断面積が、他の部分よりも小さくなるように構成され
ている。これにより、その部分の磁束を経路長を他の部
分よりも短くし、その磁束密度を大きくすることができ
る。
すように、例えば断面が長方形であって所定の長さの金
属などから構成され、その長さ方向に測定電流を流すよ
うになっている。また、第1導体21と第2導体22
は、図1に示すように、磁気センサ23、24と対向す
る部分に切欠き部28が形成され、これによりその部分
の断面積が、他の部分よりも小さくなるように構成され
ている。これにより、その部分の磁束を経路長を他の部
分よりも短くし、その磁束密度を大きくすることができ
る。
【0032】磁気センサ23、24は、導体21、22
によりそれぞれ発生する各磁束を検出するセンサであ
る。この磁気センサ23、24は、同一の特性を有し、
例えばシリコン基板からなる磁気センサチップ25のセ
ンサ形成領域23A、24Aに所定間隔をおいて形成さ
れている。また、この磁気センサ23、24は、第1導
体23および第2導体24の切欠き部28を有する部分
であって、その部分の下面側の近傍にそれぞれ配置され
るようになっている。
によりそれぞれ発生する各磁束を検出するセンサであ
る。この磁気センサ23、24は、同一の特性を有し、
例えばシリコン基板からなる磁気センサチップ25のセ
ンサ形成領域23A、24Aに所定間隔をおいて形成さ
れている。また、この磁気センサ23、24は、第1導
体23および第2導体24の切欠き部28を有する部分
であって、その部分の下面側の近傍にそれぞれ配置され
るようになっている。
【0033】次に、磁気センサ23、24の詳細な構成
について、図2を参照しながら説明する。磁気センサ2
3は、例えばシリコン基板からなる磁気センサチップ2
5のセンサ形成領域23A上に、第1導体21の発生す
る垂直方向の磁束を検出する磁気検出素子31、32を
設けるようにしている。磁気センサ23は、その上方に
設けた磁気収束板33、34を含んでいる。
について、図2を参照しながら説明する。磁気センサ2
3は、例えばシリコン基板からなる磁気センサチップ2
5のセンサ形成領域23A上に、第1導体21の発生す
る垂直方向の磁束を検出する磁気検出素子31、32を
設けるようにしている。磁気センサ23は、その上方に
設けた磁気収束板33、34を含んでいる。
【0034】磁気収束板33、34は、第1導体21に
よって発生する磁束を水平方向に収束させるとともに、
その磁束を磁気検出素子31、32に導くものであり、
これらは漏れ磁束を生成するために所定の空隙35をお
いて配置されている。なお、磁気収束板33、34は、
図示のように、第1導体21の表面と直接または接着層
を介して接触する状態に配置するのが好ましい。
よって発生する磁束を水平方向に収束させるとともに、
その磁束を磁気検出素子31、32に導くものであり、
これらは漏れ磁束を生成するために所定の空隙35をお
いて配置されている。なお、磁気収束板33、34は、
図示のように、第1導体21の表面と直接または接着層
を介して接触する状態に配置するのが好ましい。
【0035】磁気センサ24は、磁気センサチップ25
のセンサ形成領域24A上に、第2導体22の発生する
磁束を検出する磁気検出素子41、42を設けるように
している。磁気センサ24は、その上方に設けた磁気収
束板43、44を含んでいる。磁気収束板43、44
は、第2導体22によって発生する磁束を水平方向に収
束させるとともに、その磁束を磁気検出素子41、42
に導くものであり、これらは漏れ磁束を生成するために
所定の空隙45をおいて配置されている。なお、磁気収
束板43、44は、図示のように、第2導体22の表面
と直接または接着層を介して接触する状態に配置するの
が好ましい。
のセンサ形成領域24A上に、第2導体22の発生する
磁束を検出する磁気検出素子41、42を設けるように
している。磁気センサ24は、その上方に設けた磁気収
束板43、44を含んでいる。磁気収束板43、44
は、第2導体22によって発生する磁束を水平方向に収
束させるとともに、その磁束を磁気検出素子41、42
に導くものであり、これらは漏れ磁束を生成するために
所定の空隙45をおいて配置されている。なお、磁気収
束板43、44は、図示のように、第2導体22の表面
と直接または接着層を介して接触する状態に配置するの
が好ましい。
【0036】また、磁気センサ23は、磁気検出素子3
1の出力と磁気検出素子32の出力との減算を図示しな
い減算回路で行い、その減算結果を出力するようになっ
ている。同様に、この磁気センサ24では、磁気検出素
子41の出力と磁気検出素子42の出力の減算を図示し
ない減算回路で行い、その減算結果を出力するようにな
っている。
1の出力と磁気検出素子32の出力との減算を図示しな
い減算回路で行い、その減算結果を出力するようになっ
ている。同様に、この磁気センサ24では、磁気検出素
子41の出力と磁気検出素子42の出力の減算を図示し
ない減算回路で行い、その減算結果を出力するようにな
っている。
【0037】さらに、磁気センサ23は、磁気検出素子
31、32と上記の減算回路の他に増幅回路などを含
み、これらが磁気センサチップ25のセンサ形成領域2
3Aに形成されている。同様に、磁気センサ24は、磁
気検出素子41、42と上記の減算回路の他に増幅回路
などを含み、これらが磁気センサチップ25のセンサ形
成領域24Aに形成されている。
31、32と上記の減算回路の他に増幅回路などを含
み、これらが磁気センサチップ25のセンサ形成領域2
3Aに形成されている。同様に、磁気センサ24は、磁
気検出素子41、42と上記の減算回路の他に増幅回路
などを含み、これらが磁気センサチップ25のセンサ形
成領域24Aに形成されている。
【0038】また、この第1実施形態では、磁気センサ
23の出力と磁気センサ24の出力との減算を後述のよ
うに行い、その減算結果を出力する減算手段としての減
算回路(図示せず)を備えている。さらに、この第1実
施形態では、その減算回路が増幅回路などを含んで信号
処理回路を構成し、この信号処理回路が、磁気センサチ
ップ25上に形成されている。従って、磁気センサ2
3、24と、その信号処理回路とは、同一のシリコン基
板からなる磁気センサチップ25上に形成されることに
なる。
23の出力と磁気センサ24の出力との減算を後述のよ
うに行い、その減算結果を出力する減算手段としての減
算回路(図示せず)を備えている。さらに、この第1実
施形態では、その減算回路が増幅回路などを含んで信号
処理回路を構成し、この信号処理回路が、磁気センサチ
ップ25上に形成されている。従って、磁気センサ2
3、24と、その信号処理回路とは、同一のシリコン基
板からなる磁気センサチップ25上に形成されることに
なる。
【0039】次に、このような構成からなる第1実施形
態の動作の一例について、図1〜図3を参照して説明す
る。いま、図1に示す第1導体21に、紙面の手前から
紙面の後方に向けて測定電流が流れ、第2導体22に
は、それとは逆向きの測定電流が流れているものとす
る。この結果、第1導体21の周囲には時計方向回りの
磁束が発生し、第2導体22の周囲には反時計方向回り
の磁束が発生しており、両磁束の方向は互いに逆になっ
ている(図3参照)。
態の動作の一例について、図1〜図3を参照して説明す
る。いま、図1に示す第1導体21に、紙面の手前から
紙面の後方に向けて測定電流が流れ、第2導体22に
は、それとは逆向きの測定電流が流れているものとす
る。この結果、第1導体21の周囲には時計方向回りの
磁束が発生し、第2導体22の周囲には反時計方向回り
の磁束が発生しており、両磁束の方向は互いに逆になっ
ている(図3参照)。
【0040】第1導体21の周囲の磁束は、磁束収束板
33、34より水平方向に磁束が収束されているが、磁
束収束板33と磁束収束板34との間には空隙35があ
るので、この空隙35の部分では漏れ磁束が生じ、この
漏れ磁束が磁気センサ23側に向けて垂直方向に広が
る。このため、磁気センサ23では、磁気検出素子31
と磁気検出素子32とが逆向きの磁束を検出するととも
に、その両磁気検出素子31、32の各出力信号の減算
を行うことにより、第1導体21に流れる電流により発
生する磁束密度に応じた電気信号を出力する。
33、34より水平方向に磁束が収束されているが、磁
束収束板33と磁束収束板34との間には空隙35があ
るので、この空隙35の部分では漏れ磁束が生じ、この
漏れ磁束が磁気センサ23側に向けて垂直方向に広が
る。このため、磁気センサ23では、磁気検出素子31
と磁気検出素子32とが逆向きの磁束を検出するととも
に、その両磁気検出素子31、32の各出力信号の減算
を行うことにより、第1導体21に流れる電流により発
生する磁束密度に応じた電気信号を出力する。
【0041】一方、第2導体22の周囲の磁束は、磁束
収束板43、44より水平方向に磁束が収束されている
が、磁束収束板43と磁束収束板44との間には空隙4
5があるので、この空隙35の部分では漏れ磁束は生
じ、この漏れ磁束が磁気センサ24側に向けて垂直方向
に広がる。このため、磁気センサ24では、磁気検出素
子41と磁気検出素子42とが逆向きの磁束を検出する
とともに、その両磁気検出素子41、42の各出力信号
の減算を行うことにより、第2導体22に流れる電流に
より発生する磁束密度に応じた電気信号を出力する。
収束板43、44より水平方向に磁束が収束されている
が、磁束収束板43と磁束収束板44との間には空隙4
5があるので、この空隙35の部分では漏れ磁束は生
じ、この漏れ磁束が磁気センサ24側に向けて垂直方向
に広がる。このため、磁気センサ24では、磁気検出素
子41と磁気検出素子42とが逆向きの磁束を検出する
とともに、その両磁気検出素子41、42の各出力信号
の減算を行うことにより、第2導体22に流れる電流に
より発生する磁束密度に応じた電気信号を出力する。
【0042】ここで、垂直方向の外部磁界が加わる場合
について検討する。この場合には、磁気センサ23で
は、その外部磁界による磁束が磁気検出素子31、32
に同一方向に作用するので、その両出力信号の減算を行
うことにより打ち消される。このため、磁気センサ23
の出力信号には、その垂直方向の外部磁界の影響は表れ
ない。これは、磁気センサ24の出力信号についても同
様である。
について検討する。この場合には、磁気センサ23で
は、その外部磁界による磁束が磁気検出素子31、32
に同一方向に作用するので、その両出力信号の減算を行
うことにより打ち消される。このため、磁気センサ23
の出力信号には、その垂直方向の外部磁界の影響は表れ
ない。これは、磁気センサ24の出力信号についても同
様である。
【0043】次に、図3に示すように、水平方向の外部
磁界が加わる場合について以下に検討する。この場合に
は、磁気センサ23、24では、その水平方向の外部磁
界の影響を、上記の垂直方向の外部磁界の影響のように
排除することができない。このため磁気センサ23の出
力Vs1、および磁気センサ24の出力Vs2は、次の
(2)(3)式のようになる。
磁界が加わる場合について以下に検討する。この場合に
は、磁気センサ23、24では、その水平方向の外部磁
界の影響を、上記の垂直方向の外部磁界の影響のように
排除することができない。このため磁気センサ23の出
力Vs1、および磁気センサ24の出力Vs2は、次の
(2)(3)式のようになる。
【0044】Vs1=Vi+Ve・・・・(2)
Vs2=−Vi+Ve・・・・(3)
ここで、(2)式中において、Viは第1導体21によ
る磁束に基づく出力、Veは水平方向の外部磁界による
出力である。また、(3)式中において、Viは第2導
体22による磁束に基づく出力、Veは水平方向の外部
磁界による出力である。
る磁束に基づく出力、Veは水平方向の外部磁界による
出力である。また、(3)式中において、Viは第2導
体22による磁束に基づく出力、Veは水平方向の外部
磁界による出力である。
【0045】図示しない減算回路は、磁気センサ23、
24の出力Vs1、Vs2の減算を行うので、減算回路
の出力Vstは、次の(4)式のようになる。 Vst=Vs1−Vs2=2Vi・・・・(4) (4)式からわかるように、磁気センサ23から出力さ
れる水平方向の外部磁界による成分Veと、磁気センサ
24から出力される水平方向の外部磁界による成分Ve
とが、減算回路で打ち消される。このため、減算回路か
らの出力には、水平方向の外部磁界の影響は表れない。
24の出力Vs1、Vs2の減算を行うので、減算回路
の出力Vstは、次の(4)式のようになる。 Vst=Vs1−Vs2=2Vi・・・・(4) (4)式からわかるように、磁気センサ23から出力さ
れる水平方向の外部磁界による成分Veと、磁気センサ
24から出力される水平方向の外部磁界による成分Ve
とが、減算回路で打ち消される。このため、減算回路か
らの出力には、水平方向の外部磁界の影響は表れない。
【0046】以上説明したように、この第1実施形態に
よれば、電流の測定環境に存在する外部磁界の影響を排
除できるので、精度の高い電流測定を実現できる。ま
た、この第1実施形態によれば、磁気収束板33、3
4、43、44を設けるとともに、これらが導体21、
22の表面に接触するようにした。このため、磁気収束
板33、34、43、44で磁気強度が強められ、高感
度の電流検出ができる。
よれば、電流の測定環境に存在する外部磁界の影響を排
除できるので、精度の高い電流測定を実現できる。ま
た、この第1実施形態によれば、磁気収束板33、3
4、43、44を設けるとともに、これらが導体21、
22の表面に接触するようにした。このため、磁気収束
板33、34、43、44で磁気強度が強められ、高感
度の電流検出ができる。
【0047】次に、本発明の電流センサの第2実施形態
について、図4を参照しながら説明する。この第2実施
形態は、第1実施形態の測定用導体20を、図4に示す
ような測定用導体50に置き換えるようにしたものであ
る。この測定用導体50は、第1導体51と第2導体5
2とからなり、その一端側同士を電気的に接続し、全体
としてU字状に形成するようにしたものである。
について、図4を参照しながら説明する。この第2実施
形態は、第1実施形態の測定用導体20を、図4に示す
ような測定用導体50に置き換えるようにしたものであ
る。この測定用導体50は、第1導体51と第2導体5
2とからなり、その一端側同士を電気的に接続し、全体
としてU字状に形成するようにしたものである。
【0048】すなわち、この第2実施形態は、その測定
用導体50の長さ方向に測定電流を流すことにより、第
1導体51と第2導体52の各周囲には、方向が逆向き
の磁束を発生させ、その各磁束を磁気センサ23、24
によりそれぞれ測定するようにしたものである(図4参
照)。第1導体51と第2導体52は、図1に示す第1
導体21と第2導体22にそれぞれ相当するものであ
り、同一の平面内に所定間隔をおいて互いに平行に配置
されている。
用導体50の長さ方向に測定電流を流すことにより、第
1導体51と第2導体52の各周囲には、方向が逆向き
の磁束を発生させ、その各磁束を磁気センサ23、24
によりそれぞれ測定するようにしたものである(図4参
照)。第1導体51と第2導体52は、図1に示す第1
導体21と第2導体22にそれぞれ相当するものであ
り、同一の平面内に所定間隔をおいて互いに平行に配置
されている。
【0049】第1導体51は、例えば断面が長方形であ
って所定の長さの金属などから構成され、測定電流をそ
の長さ方向に流すようになっている。第2導体52は、
第1導体51と同様に構成される。また、第1導体51
と第2導体52は、図4に示すように、磁気センサ2
3、24と対向する部分の断面積が、他の部分よりも小
さくなるように構成されている。
って所定の長さの金属などから構成され、測定電流をそ
の長さ方向に流すようになっている。第2導体52は、
第1導体51と同様に構成される。また、第1導体51
と第2導体52は、図4に示すように、磁気センサ2
3、24と対向する部分の断面積が、他の部分よりも小
さくなるように構成されている。
【0050】なお、この第2実施形態の他の部分の構成
は、図1に示す第1実施形態の構成と同一であるので、
ここでは同一の構成素子には同一符号を付してその説明
は省略する。このような構成からなる第2実施形態で
は、その説明は省略するが、第1実施形態と同様に動作
する。このため、第2実施形態によれば、電流の測定環
境に存在する外部磁界の影響を排除できるので、精度の
高い電流測定を実現できる。
は、図1に示す第1実施形態の構成と同一であるので、
ここでは同一の構成素子には同一符号を付してその説明
は省略する。このような構成からなる第2実施形態で
は、その説明は省略するが、第1実施形態と同様に動作
する。このため、第2実施形態によれば、電流の測定環
境に存在する外部磁界の影響を排除できるので、精度の
高い電流測定を実現できる。
【0051】なお、上記の各実施形態では、磁気センサ
23、24を、第1導体21と第2導体22の各下面側
に対向させた状態で、それぞれ配置するようにした。し
かし、これに代えて、磁気センサ23、24を、第1導
体21と第2導体22の各上面側に対向させた形態で、
それぞれ配置するようにしても良い。さらに、磁気セン
サ23、24を同一の磁気センサチップ25上に形成せ
ずに独立に形成し、これらを、第1導体21と第2導体
22の各左則面側または各右側面側に対向させた形態
で、それぞれ配置するようにしても良い。
23、24を、第1導体21と第2導体22の各下面側
に対向させた状態で、それぞれ配置するようにした。し
かし、これに代えて、磁気センサ23、24を、第1導
体21と第2導体22の各上面側に対向させた形態で、
それぞれ配置するようにしても良い。さらに、磁気セン
サ23、24を同一の磁気センサチップ25上に形成せ
ずに独立に形成し、これらを、第1導体21と第2導体
22の各左則面側または各右側面側に対向させた形態
で、それぞれ配置するようにしても良い。
【0052】
【発明の効果】以上述べたように、請求項1および請求
項6に記載の各発明によれば、測定環境に存在する外部
磁界の影響が排除可能となるので、精度の高い電流測定
が可能となる。また、請求項2〜請求項5、および請求
項7から請求項12に記載の各発明によれば、測定環境
に存在する外部磁界の影響を排除できるので、精度の高
い電流測定が実現できる。
項6に記載の各発明によれば、測定環境に存在する外部
磁界の影響が排除可能となるので、精度の高い電流測定
が可能となる。また、請求項2〜請求項5、および請求
項7から請求項12に記載の各発明によれば、測定環境
に存在する外部磁界の影響を排除できるので、精度の高
い電流測定が実現できる。
【図1】本発明の電流センサの第1実施形態の構成例を
示す図であり、(A)はその平面図、(B)はその
(A)のA−A線の断面図である。
示す図であり、(A)はその平面図、(B)はその
(A)のA−A線の断面図である。
【図2】磁気センサの詳細な構成例を示す断面図であ
る。
る。
【図3】第1実施形態の動作を説明するための説明図で
ある。
ある。
【図4】本発明の電流センサの第2実施形態の構成例を
示す図であり、(A)はその平面図、(B)はその
(A)のB−B線の断面図である。
示す図であり、(A)はその平面図、(B)はその
(A)のB−B線の断面図である。
【図5】従来の電流センサの構成例を示す断面図であ
る。
る。
【図6】従来の磁気センサの動作を説明する断面図であ
る。
る。
【図7】従来の電流センサの動作を説明するための説明
図である。
図である。
20、50 測定用導体
21、51 第1導体
22、52 第2導体
23、24 磁気センサ
23A、24A センサ形成領域
25 磁気センサチップ
31、32、41、42 磁気検出素子
33、34、43、44 磁気収束板
35、55 空隙
Claims (12)
- 【請求項1】 測定電流をそれぞれ流す第1の導体およ
び第2の導体を、同一の平面内に互いに平行に配置した
測定用導体と、 前記第1の導体に流れる測定電流によって発生する磁界
の強さを検出する第1の磁気センサと、 前記第2の導体に流れる測定電流によって発生する磁界
の強さを検出する第2の磁気センサとを備え、 前記第1の導体と前記第2の導体に流れる測定電流の方
向が互いに逆向きであることを特徴とする電流センサ。 - 【請求項2】 前記第1の磁気センサは、前記第1の導
体に流れる測定電流によって発生する磁束のうち所定方
向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力し、 前記第2の磁気センサは、前記第2の導体に流れる測定
電流によって発生する磁束のうち前記所定方向と同一方
向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力するよ
うに構成し、 前記第1磁気センサの出力と前記第2磁気センサの出力
との減算を行う減算手段を備えるようにしたことを特徴
とする請求項1に記載の電流センサ。 - 【請求項3】 前記第1の磁気センサは、 前記第1の導体の発生する磁束を所定方向に収束させる
とともに、漏れ磁束を生成させる第1の磁気収束板と、 前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞれ検出する
第1および第2の磁気検出素子とを備え、 かつ、前記第1の磁気検出素子の出力と前記第2の磁気
検出素子の出力の減算を行うように構成し、 前記第2の磁気センサは、 前記第2の導体の発生する磁束を前記所定方向と同一方
向に収束させるとともに、漏れ磁束を生成させる第2の
磁気収束板と、 前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞれ検出する
第3および第4の磁気検出素子とを備え、 かつ、前記第3の磁気検出素子の出力と前記第4の磁気
検出素子の出力の減算を行うように構成したことを特徴
とする請求項1または請求項2に記載の電流センサ。 - 【請求項4】 前記第1および第2の磁気センサの各磁
気収束板は、対応する前記第1および第2の導体にそれ
ぞれ接していることを特徴とする請求項3に記載の電流
センサ。 - 【請求項5】 前記第1および第2の導体の各断面積
は、前記第1および第2の磁気センサの各配置位置にお
いて他の部分の断面積よりも小さくなっていることを特
徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の電流
センサ。 - 【請求項6】 測定電流をそれぞれ流す第1の導体と第
2の導体を、同一の平面内に互いに平行に配置するとと
もに、その両導体の一方の各終端側同士を電気的に接続
した測定用導体と、 前記第1の導体に流れる測定電流によって発生する磁界
の強さを検出する第1の磁気センサと、 前記第2の導体に流れる測定電流によって発生する磁界
の強さを検出する第2の磁気センサと、 を備えたことを特徴とする電流センサ。 - 【請求項7】 前記第1の磁気センサは、前記第1の導
体に流れる測定電流によって発生する磁束のうち所定方
向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力し、 前記第2の磁気センサは、前記第2の導体に流れる測定
電流によって発生する磁束のうち前記所定方向と同一方
向の磁束を検出してそれに応じた電気信号を出力するよ
うに構成し、 前記第1磁気センサの出力と前記第2磁気センサの出力
との減算を行う減算手段を備えるようにしたことを特徴
とする請求項6に記載の電流センサ。 - 【請求項8】 前記第1の磁気センサは、 前記第1の導体の発生する磁束を所定方向に収束させる
とともに、漏れ磁束を生成させる第1の磁気収束板と、 前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞれ検出する
第1および第2の磁気検出素子とを備え、 かつ、前記第1の磁気検出素子の出力と前記第2の磁気
検出素子の出力の減算を行うように構成し、 前記第2の磁気センサは、 前記第2の導体の発生する磁束を前記所定方向と同方向
に収束させるとともに、漏れ磁束を生成させる第2の磁
気収束板と、 前記漏れ磁束を、所定の異なる位置でそれぞれ検出する
第3および第4の磁気検出素子とを備え、 かつ、前記第3の磁気検出素子の出力と前記第4の磁気
検出素子の出力の減算を行うように構成したことを特徴
とする請求項6または請求項7に記載の電流センサ。 - 【請求項9】 前記第1および第2の磁気センサの各磁
気収束板は、対応する前記第1および第2の導体に接し
ていることを特徴とする請求項8に記載の電流センサ。 - 【請求項10】 前記第1および第2の導体の各断面積
は、前記第1および第2の磁気センサの各配置位置にお
いて他の部分の断面積よりも小さくなっていることを特
徴とする請求項6乃至請求項9のいずれかに記載の電流
センサ。 - 【請求項11】 前記第1および第2の磁気センサと、
前記減算手段とは、少なくとも同一のシリコン基板上に
形成するようにしたことを特徴とする請求項2乃至請求
項5または請求項7乃至請求項10いずれかに記載の電
流センサ。 - 【請求項12】 前記第1の磁気センサは、 前記第1および第2の磁気検出素子と、これらの出力を
減算および増幅する回路を含む信号処理回路とを前記同
一のシリコン基板の第1のセンサ形成領域に形成し、 前記第1の磁気センサは、 前記第3および第4の磁気検出素子と、これらの出力を
減算および増幅する回路を含む信号処理回路とを前記同
一のシリコン基板の第2のセンサ形成領域に形成するよ
うにしたことを特徴とする請求項3乃至請求項5または
請求項8乃至請求項11のいずれかに記載の電流セン
サ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001282317A JP2003090850A (ja) | 2001-09-17 | 2001-09-17 | 電流センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001282317A JP2003090850A (ja) | 2001-09-17 | 2001-09-17 | 電流センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003090850A true JP2003090850A (ja) | 2003-03-28 |
Family
ID=19105982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001282317A Withdrawn JP2003090850A (ja) | 2001-09-17 | 2001-09-17 | 電流センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003090850A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007017226A (ja) * | 2005-07-06 | 2007-01-25 | East Japan Railway Co | トロリ線電流検出装置 |
JP2007121283A (ja) * | 2005-10-08 | 2007-05-17 | Sentron Ag | 電流測定値用組立体群 |
JP2018116047A (ja) * | 2016-12-07 | 2018-07-26 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 電流センサ |
WO2018185964A1 (ja) * | 2017-04-04 | 2018-10-11 | 株式会社村田製作所 | 電流センサ |
CN113917215A (zh) * | 2021-10-08 | 2022-01-11 | 江苏多维科技有限公司 | 一种电流传感器 |
-
2001
- 2001-09-17 JP JP2001282317A patent/JP2003090850A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007017226A (ja) * | 2005-07-06 | 2007-01-25 | East Japan Railway Co | トロリ線電流検出装置 |
JP4597797B2 (ja) * | 2005-07-06 | 2010-12-15 | 東日本旅客鉄道株式会社 | トロリ線電流検出装置 |
JP2007121283A (ja) * | 2005-10-08 | 2007-05-17 | Sentron Ag | 電流測定値用組立体群 |
JP2018116047A (ja) * | 2016-12-07 | 2018-07-26 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 電流センサ |
JP7049102B2 (ja) | 2016-12-07 | 2022-04-06 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 電流センサ |
WO2018185964A1 (ja) * | 2017-04-04 | 2018-10-11 | 株式会社村田製作所 | 電流センサ |
US11047884B2 (en) | 2017-04-04 | 2021-06-29 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Current sensor |
CN113917215A (zh) * | 2021-10-08 | 2022-01-11 | 江苏多维科技有限公司 | 一种电流传感器 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20081202 |