JP2002361462A - 配線板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機及びそれを使用したプリント配線板の製造方法 - Google Patents
配線板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機及びそれを使用したプリント配線板の製造方法Info
- Publication number
- JP2002361462A JP2002361462A JP2001164566A JP2001164566A JP2002361462A JP 2002361462 A JP2002361462 A JP 2002361462A JP 2001164566 A JP2001164566 A JP 2001164566A JP 2001164566 A JP2001164566 A JP 2001164566A JP 2002361462 A JP2002361462 A JP 2002361462A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- worksheet
- wiring board
- laser
- lens
- resin layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
の大型化、特性向上達成のため、レーザー穴明け加工機
で(1)レーザー出力時、光学レンズの焦点位置と、ワ
ークシート14表面との焦点位置補正(2)バイアホー
ル6の形状向上、(3)手順の改善で時間短縮する。 【解決手段】レンズの近傍のに取り付けた自動距離測定
手段にて、距離を測定し、又はデータベースから順次読
み出し、該補正値からレンズのホルダー冶具をZ軸方向
に駆動させ、レンズの焦点位置をワークシートの絶縁樹
脂層5の表面(F2)の位置に決め絶縁樹脂層5に穴明
け加工する。
Description
としてのプリント配線板において、配線パターンの高密
度化、その構成での多層化、そのワークサイズでの大型
化に生産対応するためのレーザ―穴明け加工機、及びそ
れを用いたプリント配線板製造方法に関する。
るように、電子機器は、小型化、携帯化の傾向にある。
これに伴い、LSI等を搭載するためのプリント配線板
のような半導体装置用基板も、例えば特開平7−162
154号公報に示されるように、より一層の高密度化及
び高多層化が図られるようになってきた。
面を模式的に示す図である。例えば、両面に銅箔2が貼
着されて内部にガラスクロス(ガラスエポキシ部)1を
含んだコア基板4に続いて、コア基板4の両面の銅箔2
がエッチングされた。
ターン層2に形成される。また、配線パターン層2は、
該表面層に形成される絶縁層との密着力を向上させるた
めの黒化処理が施される。
よる絶縁樹脂層5が形成された銅箔8を絶縁樹脂層5を
内側にして重ね合わせ加熱、加圧により、絶縁樹脂層5
及び銅箔8形成する。
像、エッチング及び剥膜により選択的に除去されて所定
のパターン(バイアホール形状)をもつ上側パターン層8
が形成され、該パターン(バイアホール形状)を介し
て、該絶縁樹脂層5に、レーザー穴明け加工機によりバ
イアホール6を形成する。
ルを用いて貫通孔3があけられ、絶縁樹脂層5の粗化、
無電解めっき用触媒核層7の付与、無電解めっき、電解
めっき3が設けられ、貫通孔3内及びレーザー穴明け加
工機により絶縁樹脂層5に形成したバイアホール6に下
側配線層2との電気的な導電をとるために銅層3,8に
レジスト塗布、露光、現像、エッチング、および剥膜、
により選択的に除去されて所定の配線パターンをもつ上
側配線パターン層3、8が形成される。
樹脂層5に、レーザー穴明け加工機にてバイアホール6
を形成加工する従来の工程を、レーザー穴明け加工の動
作手順に従って図5を参照して記述すると、1)まずレ
ンズ13aの設置場所と異なる位置に取り付けた距離測
定用の接触式距離測定センサー部26のセンサー16a
の測定点位置近傍下のXY方向移動テーブル15の上面
までの距離を測定する。
シート14(プリント基板)を搬入セットアップする。
3)次にワークシート内の予め指定されたスキャンエリ
ア加工開始点位置の中心をセンサー16aの測定点位置
までXYテーブル15を駆動させて、移動させる。
させてワークシート14の表面に接触させて、その厚さ
を測定し、5)次に、レーザービーム、XY偏向用反射
板11a、11bなどスキャニング装置11、レーザー
ビーム光12、レンズ13a,レンズ冶具13bからな
るレーザー出力照射手段13によるレンズ13aの照射
開始点位置にワークシートの予め指定されたスキャンエ
リア加工開始点位置の中心をテーブル15を駆動させ
て、移動させる。
タに基ついて、該レンズ13aのホルダー冶具13bを
Z軸方向に駆動させ、レンズ13aの焦点位置をワーク
シートの表面に対して一定の高さに補正し、7)XYテ
ーブル15にセットアップしたワークシート(プリント
基板)14のアライメント位置をアライメントマーク検
出手段にて自動確認して、自動補正する。
に予め形成されている絶縁樹脂層5にレーザービーム1
2を照射して該絶縁樹脂層5にバイアホール穴明け加工
する。
ルダレジスト9が形成され、半導体装置用プリント配線
板が完成する。
プリント配線板は、その配線板の層構成が、より多層
化、パターン配線のより高密度化により製造時、前記バ
イアホール6を形成するバイアホール6の形成工程で、
その絶縁樹脂層5にバイアホールを形成のためレーザー
穴明け加工機にて加工する工程があり、次の(1)〜
(3)に示すような問題がある。
が大きくなると、レーザー穴明け加工機のレンズ13a
とステージ上のワークシートの表面との距離が補正許容
限度を超え、前記距離が適正な範囲に維持できず、レー
ザー加工で得られるバイアホール6の形状は真円度が低
下する。(2)レーザービーム光12が正常にビーム光
として絞れずに該レーザービーム光線12のエネルギ密
度が適正量より低下し、バイアホール6の側断面形状が
不良形状、或いは該形状の底部分に照射エネルギ密度不
足による絶縁樹脂層5の残りが発生し、該不良による、
下部配線パターン層2,3と該バイアホール6に形成さ
れる、無電解メッキ層7、或いは電解めっき層3と電気
的接続の品質保証上の信頼性が低下する。(3)該レー
ザー穴明け加工機のワークシートの加工に要する時間が
長く、ワークシートの大型化、高多層化等えの対応によ
る、長時間化がある。
慮してなされたもので、 プリント配線板において該配
線パターンの高密度化、多層化、ワークシートのサイズ
の大型化及び、電気特性の信頼性向上の具体的達成をす
るためになされたものであり、本発明の課題は(1)レ
ーザー穴明け加工機でバイアホール形成加工のためにレ
ーザー出力時、光学レンズ13aの焦点位置と、XYス
テージ15にセットしたワークシート14表面との最適
な距離の測定方法及びその焦点位置の補正手順、(2)
絶縁樹脂層5に形成されるバイアホール6の側断面形状
の向上、(3)該絶縁樹脂層5のバイアホール形成にお
いて、レーザー穴明け加工機による加工動作手順の改善
等による加工時間の短縮にあり、これによりプリント配
線板の高密度化、多層化、及びそのサイズの大型化を実
現し得るレーザー穴明け加工機及びプリント配線板製造
方法を提供することを目的とする。
層5にバイアホール6を形成する穴明け加工機におい
て、該バイアホールを形成加工するレーザー出力照射手
段13に設けた光学レンズ13aの近傍に、XY方向移
動ステージ15にセットしたワークシート14と光学レ
ンズ13aとの距離を測定する自動距離測定手段16を
備え、1つのスキャンエリア毎に、その距離を測定し、
測定した該データに基ついて、該レンズ13aのホルダ
ー冶具13bをZ軸方向に駆動させることにより、レン
ズ13aの焦点位置をワークシートの表面に対して一定
の高さに補正した後に、レーザービーム12を照射して
ワークシート上に予め形成されている絶縁樹脂層5に穴
明け加工することを特徴とする配線板製造用自動測定補
正機能付きレーザ―穴明け加工機である。
層5にバイアホール6を形成する穴明け加工機におい
て、該バイアホールを形成加工するレーザー出力照射手
段13に設けた光学レンズ13aの近傍に、XY方向移
動ステージ15にセットしたワークシート14と光学レ
ンズ13aとの距離を測定する自動距離測定手段16を
備え、ワークシート毎の1つのスキャンエリア毎に、そ
の距離を測定し、各ワークシート毎に測定した該データ
をデータベースとして格納する電子媒体等の記録手段を
備え、記録手段から順次読み出される各ワークシート毎
に対応する測定データに基ついて、該ワークシート毎の
1つのスキャンエリア毎に、各該レンズ13aのホルダ
ー冶具13bをZ軸方向駆動させることにより、レンズ
13aの焦点位置をワークシートの表面に対して一定の
高さに補正した後に、レーザービーム12を照射して、
ワークシート上に予め形成されている絶縁樹脂層5に穴
明け加工することを特徴とする配線板製造用自動測定補
正機能付きレーザ―穴明け加工機である。
脂層5にバイアホール6を形成する穴明け加工機におい
て、該バイアホールを形成加工するレーザー出力照射手
段13に設けた光学レンズ13aの近傍に、XY方向移
動ステージ15にセットしたワークシート14と光学レ
ンズ13aとの距離を測定する自動距離測定手段16を
備え、ワークシート毎に、複数カ所の距離を測定し、各
ワークシート毎に測定した該データをデータベースとし
て格納する電子媒体(フロピー、e−メール)等の記録手
段を備え、該記録手段から順次読み出される各ワークシ
ート毎に対応する測定データに基ついて、該ワークシー
ト毎に、各該レンズ13aのホルダー冶具13bをZ軸
方向に駆動させることにより、レンズ13aの焦点位置
をワークシートの表面に対して一定の高さに補正した後
に、レーザービーム12を照射して、ワークシート上に
予め形成されている絶縁樹脂層5に穴明け加工すること
を特徴とする配線板製造用自動測定補正機能付きレーザ
―穴明け加工機である。
2又は請求項3記載のレーザ―穴明け加工機を用いて、
各ワークシートと光学レンズ13aとの距離の測定を予
めオフラインで測定し、測定したデータを記録した電子
媒体(フロピー、e-メール)等による記録手段から順次
読み出される各ワークシート毎に対応する測定データに
基いて、ホルダー冶具13bをZ軸方向に駆動させるこ
とにより、レンズ13aの焦点位置をワークシートの表
面に対して一定の高さに補正した後に、ワークシート上
に予め形成されている絶縁樹脂層5にレーザービーム1
2を照射して、穴明け加工することを特徴とする配線板
製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機であ
る。
記載のレーザ―穴明け加工機を用いて、ワークシート1
4上の絶縁樹脂層5にバイアホール6を穴明け加工して
プリント配線板を製造することを特徴とするプリント配
線板の製造である。
記載のレーザ―穴明け加工機を用いて、ワークシート1
4上の絶縁樹脂層5にバイアホール6を穴明け加工して
プリント配線板を製造することを特徴とするプリント配
線板の製造方法である。
記載のレーザ―穴明け加工機を用いて、ワークシート1
4上の絶縁樹脂層5にバイアホール6を穴明け加工して
プリント配線板を製造することを特徴とするプリント配
線板の製造方法である。
記載のレーザ―穴明け加工機を用いて、ワークシート1
4上の絶縁樹脂層5にバイアホール6を穴明け加工して
プリント配線板を製造することを特徴とするプリント配
線板の製造方法である。
でバイアホール形成加工のためにレーザービーム12を
出力する時、光学レンズ13aの焦点位置と、XY方向
移動ステージ15にセットしたワークシート14の表面
との最適な距離の測定および、その測定データによるレ
ーザービーム12の焦点自動補正機能を備えたレーザ―
穴明け加工機によって、絶縁樹脂層5に形成されるバイ
アホール6の側断面形状を向上し、該絶縁樹脂層5のバ
イアホール形成において、レーザー穴明け加工機にて加
工動作手順の改善等による加工時間の短縮により、プリ
ント配線板の高密度化、多層化、及びそのサイズの大型
化を実現し得るレーザー穴明け加工機、及び該加工機を
用いてプリント配線板を製造する製造方法を提供するも
のである。
用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機の斜視図
であり、XY方向移動ステージ15とレーザー出力照射
手段13とにより構成される。レーザービーム出力照射
手段13は、レーザー発生源からのレーザービーム12
の光路上にあるXY偏向用反射板11a、11b、光学
レンズ13a、レンズホルダー冶具13bにより構成さ
れる。そしてレンズホルダー冶具13bには、自動距離
測定手段16を備える。XY方向移動ステージ15にワ
ークシート14がセットアップされ、レーザー出力照射
手段13は例えば、50mm正方形で構成された1つの
スキャンエリア毎に、XY方向移動ステージ15が停止
している間にレーザービーム12を照射する。
にワークシート14は(レンズ13a側)表面側層より
銅箔8、絶縁樹脂層5、銅箔2、ガラスクロス(ガラス
エポキシ部)1、銅箔2、裏側の絶縁樹脂層5、銅箔8
により形成されている。
ザーであり、スキャンエリア毎に、バイアホール6を形
成加工する炭酸ガスレーザービーム12をXY偏向反射
板11a、11bにて走査させた際に、平行光として、
レンズ13aより走査出力されるようになっていて、
又、凸(集光)レンズ13aの光学的性質によりワーク
シート14上の絶縁樹脂5表面にて、直径が70μm〜
125μm、そのエネルギーが0.14mjになる様に
調整する為に、レンズ13aを取り付け支持するホルダ
ー冶具13bをZ軸方向に駆動させることが出来るよう
になっている。
力照射手段13に設けた光学レンズ13aの近傍に、X
Y方向移動ステージ15のステージ表面と光学レンズ1
3aとの距離、及びステージ15にセットアップされた
ワークシート14の最表面と光学レンズ13aとの距離
を測定する自動距離測定手段16を備え、1つのスキャ
ンエリア毎に、その距離を測定する。
センサー16aにより,レンズ13aとXYテーブル1
5の表面までの距離を(d0)、測定手段16のセンサ
ー16aにより、レンズ13aとXYステージ15にセ
ットアップしたワークシート14の表面までの距離を
(dw)、として距離測定データとし、ワークシート1
4の総厚さ(ワークシート表面に形成された銅箔8、絶
縁樹脂層5を含む)を(t)として、距離測定データ
(d0)及び(dw)から得られる、ワークシートの総
厚、(t=d0−dw)に基ついて、最終補正値(t=
d0−dw)により、レンズ13aのホルダー冶具13
bをZ軸方向に駆動させて、レンズ13aの焦点位置2
7をワークシート14の表面近傍に形成された絶縁樹脂
層5の表面(F2)、またはその近傍(F1〜F2)の
位置に決める。
4表面と、絶縁樹脂層5との間に配線パターン層となる
銅箔8が形成されている場合は、銅箔8の層厚(t1)
を考慮して最終補正値(d0−dw―t1)により、レ
ンズ13aのホルダー冶具13bをZ軸方向に駆動させ
て、レンズ13aの焦点位置27がワークシート14の
表面(銅箔8層)のすぐ下層の絶縁樹脂層5の表面(F
2)又はその近傍(F1〜F3)に来るように高さを補
正した後に、スキャニング装置部11のX方向の走査用
ミラー11a、Y方向の走査用ミラー11bを回転させ
て、予めスキャンエリア毎に用意されたバイアホール形
成用描画データに基いて該スキャンエリア毎の全面スキ
ャニングを完了する。該全面スキャニングはワークシー
ト上に予め形成されている絶縁樹脂層5に対して行う。
り、例えばワークシート14(住友ベークライト製AP
L−4001使用)表面にエポキシ系樹脂により形成さ
れた樹脂層厚60μmから100μmの絶縁樹脂層5に
対するレーザービーム12の照射は、同一部に3回から
5回の重複照射(3ショットから5ショット)を行な
い、該絶縁樹脂層5に穴明け加工する。
用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機の斜視図
であり、請求項1と同様にXY方向移動ステージ15と
レーザー出力照射手段13とにより構成されるが、自動
距離測定手段16による距離測定データを順次記録する
手段17を備えている。XY方向移動ステージ15にワ
ークシート14がセットアップされ、レーザー出力照射
手段13は例えば、50mm正方形で構成された1つの
スキャンエリア毎に、XY方向移動ステージ15が停止
している間にレーザービーム12を照射する。
ザーであり、スキャンエリア毎に、バイアホールを形成
加工する炭酸ガスレーザービーム12をXY偏向反射板
11a、11bにて走査させた際に、平行光として、レ
ンズ13aより走査出力されるようになっていて、又、
凸(集光)レンズ13aの光学的性質によりワークシー
ト上の絶縁樹脂層5表面にて、直径が70μm〜125
μm、そのエネルギーが0.14mjになる様に調整す
る為に、該レンズ13aを取り付け支持するホルダー冶
具13bをZ軸方向に駆動させることが出来るようにな
っている。
出力照射手段13に設けた光学レンズ13aの近傍に、
XY方向移動ステージ15のステージ表面と、光学レン
ズ13aとの距離、及びステージ15にセットアップさ
れたワークシート最表面と光学レンズとの距離との距離
を測定する自動距離測定手段16を備え、1つのスキャ
ンエリア毎に、その距離を測定する。
センサー16aにより、レンズ13aとXYテーブル1
5の表面までの距離を(d0)、レンズ13aとXYス
テージ15にセットアップしたワークシート14の表面
までの距離を(dw)として測定した距離測定データよ
りワークシート14の総厚を(t)として(t=d0−
dw)により、また、例えば図2に示すワークシート1
4表面と、絶縁樹脂層5との間に配線パターン層となる
銅箔8が形成されている場合は、銅箔8の層厚(t1)
を考慮して補正値(d0―dw−t1)により、各ワー
クシート毎最終補正値(d0−dw)又は(d0−dw
―t1)をデータベースとして記録手段17にて例えば
フレキシブルディスク等の電子媒体に格納する。
にスキャンエリア毎の最終補正値(d0−dw)又は
(d0―dw―t1)を順次読み出して、最終補正値に
基いて、レンズ13aの焦点位置27がワークシート1
4の表面に形成した絶縁樹脂層5の表面(F2)又はそ
の近傍(F1〜F3)に来るように高さを補正した後
に、スキャニング装置部11のX方向のミラー11a、
Y方向のミラー11bを回転させて、予めスキャンエリ
ア毎用意されたバイアホール形成用描画データに基いて
該スキャンエリア毎の全面スキャニングを完了する。
り、例えばワークシート14表面にエポキシ系樹脂によ
り形成された層厚さが60μmから100μmの絶縁樹
脂層5に対するレーザービーム12の照射は、同一部に
3回から5回の重複照射(3ショットから5ショット)
を行ない、該絶縁樹脂層5に穴明け加工する。
用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機の斜視図
であり、請求項1または請求項2と同様にXY方向移動
ステージ15とレーザー出力照射手段13とにより構成
される。XY方向移動ステージ15にワークシート14
がセットアップされ、レーザー出力照射手段13は例え
ば、50mm正方形で構成された1つのスキャンエリア
毎に、XY方向移動ステージ15が停止している間にレ
ーザービーム12を照射する。
ザーであり、スキャンエリア毎に、バイアホールを形成
加工する炭酸ガスレーザービーム12をXY偏向反射板
11a、11bにて走査させた際に、平行光として、レ
ンズ13aより走査出力されるようになっていて、、凸
(集光)レンズ13aの光学的性質によりワークシート
14上の絶縁樹脂5表面にて、ビーム光12の直径が7
0μm〜125μm、そのエネルギーが0.14mjにな
る様に調整する為に、該レンズ13aを取り付け支持す
るのホルダー冶具13bをZ軸方向に駆動させることが
出来るようになっている。
出力照射手段13に設けた光学レンズ13aの近傍に、
XY方向移動ステージ15のステージ表面と光学レンズ
13aとの距離、及びそのステージ15にセットアップ
されたワークシート14表面と光学レンズ13aとの距
離を測定する自動距離測定手段16を備え、1つのワー
クシート毎に複数カ所(例えば1つのワークシートの中
央、と4隅の合計5点の測定点)など、その距離を測定
する。
センサー16aにより、レンズ13aとXYテーブル1
5の表面までの距離を(d0)、レンズ13aとXYス
テージ15にセットアップしたワークシート14の表面
までの距離を(dw)として測定した距離測定データよ
りワークシート総厚を(t)として、(t=d0−d
w)により、又、例えば図2に示すワークシート14表
面と、絶縁樹脂層5上に配線パターン層となる銅箔8が
形成されている場合は、銅箔8の層厚(t1)を考慮し
て補正値(d0−dw―t1)により、各ワークシート
毎補正値(d0−dw)と(d0−dw―t1)を各ワ
ークシート14毎に統計的手法で、測定データを、例え
ば平均実値、例えば最も大きな(最大値)、など最終補
正値を1つ選択する。
記録手段17にて例えばフレキシブルディスク等の電子
媒体に格納して、該データベースから1つのワークシー
ト14毎に最終補正値(d0−dw)又は(d0−dw
―t1)を順次読み出して、最終補正値に基いて、レン
ズ13aのホルダー冶具13bをZ軸方向に駆動させ、
レンズ13aの焦点位置27をワークシート14の表面
近傍に形成されている絶縁樹脂層5の表面(F2)或い
はその近傍(F1〜F3)に来るように高さを補正した
後に、スキャニング装置部11のX方向の走査用ミラー
11a、Y方向の走査用ミラー11bを回転させて、予
めワークシート毎に用意されたバイアホール形成用描画
データに基いてワークシート14毎の全面スキャニング
を完了する。
に予め形成されている絶縁樹脂層5に対して行い、炭酸
ガスレーザービーム12の照射により、例えばワークシ
ート14表面にエポキシ系樹脂により形成された層厚6
0μmから100μmの絶縁樹脂層5に対するレーザー
ビーム12の照射は、同一部に3回から5回の重複照射
(3ショットから5ショット)を行ない、該絶縁樹脂層
5に穴明け加工する。
用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機の斜視図
であり、請求項2または請求項3と同様にXY方向移動
ステージ15とレーザー出力照射手段13とにより構成
される。
14がセットアップされ、レーザー出力照射手段13は
例えば、50mm正方形で構成された1つのスキャンエ
リア毎に、XY方向移動ステージ15が停止している間
にレーザービーム12を照射する。
であり、スキャンエリア毎に、バイアホール6を形成加
工する炭酸ガスレーザービーム12をXY偏向反射板1
1a、11bにて走査させた際に、平行光として、レン
ズ13aより走査出力されるようになっていて、また、
凸(集光)レンズ13aの光学的性質によりワークシー
ト14上の絶縁樹脂5表面にて、直径が70μm〜12
5μm、そのエネルギーが0.14mjになる様に調整
する為に、レンズ13aを取り付け支持するのホルダー
冶具13bをZ軸方向に駆動させることが出来るように
なっている。
力照射手段13に設けた光学レンズ13aの近傍に、X
Y方向移動ステージ15のステージ表面と光学レンズ1
3aとの距離及びステージ15にセットアップされたワ
ークシート14の最表面と光学レンズ13aとの距離を
測定する自動距離測定手段16を備え、各ワークシート
毎に測定したデータを各ワークシート毎に付与されたコ
ード番号、をキー番号としたデータベースとして格納す
る電子媒体等の記録手段を備え、データベースのデータ
情報を外部設備例えばパソコン、例えば距離、厚さ、等
の測定装置より、通信手段e―メール、フレキシブルデ
ィスク等より受信の手段を備え、データベースはデータ
形式が例えばマイクロソフト社のテキストデータ、デー
タベースの名称、用語、その属性、数値の単位、小数
点、桁数等を設定して運用して通信手段にで格納された
測定データまたは最終補正値を予め各ワークシート毎に
格納する。
に付与したコード番号毎に最終補正値(d0−dw)又
は(d0−dw―t1)を順次読み出して、コード番号
で呼び出された最終補正値に基いて、順次レンズ13a
のホルダー冶具13bをZ軸方向に駆動させて、レンズ
13aの焦点位置27がワークシート14の表面近傍に
形成された絶縁樹脂層5の表面(F2)及びその近傍
(F1〜F3)に来るように高さを補正した後に、スキ
ャニング装置部11のX方向の走行用ミラー11a、Y
方向の走行用ミラー11bを回転させて、予めスキャン
エリア毎用意されたバイアホール形成用描画データに基
いてワークシート14毎の全面スキャニングを完了す
る。
に予め形成されている絶縁樹脂層5に対して行い、炭酸
ガスレーザービーム12の照射により、例えばワークシ
ート14表面にエポキシ系により形成された層厚60μ
mから100μmの絶縁樹脂層5に対するレーザービー
ム12の照射は、同一部に3回から5回の重複照射(3
ショットから5ショット)を行ない、該絶縁樹脂層5に
穴明け加工する。
発明の加工機及びこれを用いたプリント配線板の製造方
法によれば、 1)まずレンズ13aの近傍のに取り付けた自動距離測
定手段16センサーは例えば光学式反射センサー、過電
流式センサー、レーザー式センサー等で、レンズホルダ
ー冶具13bに取り付け、自動距離測定手段16センサ
ーの距離センサー16aは1式、例えば2式以上の複数
センサーの測定により、センサー16aを用いてレンズ
13aとX−Y方向移動テーブル15の表面までの距離
(d0)を測定する。
ト14を搬入セットアップする。
4表面までの距離(dw)を測定する。
w)、銅箔厚さ(t1)考慮して最終補正値、図3では
(d0−dw)、または図2の場合は(d0−dw―t
1)最終補正値とする。
ー冶具13bをZ軸方向に駆動させて、レンズ13aの
焦点位置27がワークシート14の表面または、その近
傍に設定に形成された絶縁樹脂層5の表面(F2)に来
るよう高さを補正する。
たワークシート14のアライメント位置をワークシート
に予め付与したアライメントマーク検出手段にて自動確
認して、自動補正する。
に予め形成されている絶縁樹脂層5にレーザービーム1
2を照射して該絶縁樹脂層5にバイアホールの穴明け加
工が終了する。
の削減ができ、加工能率が向上するとともに、加工精度
も向上できる。
自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機使用による
バイアホール6形成加工のためにレーザー出力時、光学
レンズ13aの焦点位置27と、XYステージ15にセ
ットしたワークシート14表面との最適な距離の測定方
法、及び補正値による補正手段にて絶縁樹脂層表面に焦
点合わせして、その焦点を絶縁樹脂表面(F2)及びそ
の近傍(F1〜F3)に調整して、レーザービーム光の
直径、およびエネルギーが安定確保され絶縁樹脂層5に
形成されるバイアホール6の正常な断面形状の形成がで
加工精度も向上できた。又8工程の動作手順が3工程削
減して、ワークシート14の測定において、その時間が
90%の短縮となり加工時間が短縮できた。課題解決に
効果的である。これによりプリント配線板の高密度化、
多層化、及びそのサイズの大型化を実現し得る配線板製
造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機及びプ
リント配線板製造方法を提供できる。
ーザ―穴明け加工機の概念図。
断面図。
プリント板半製品) 15…XYテーブル 16…距離測定センサー部 16a…センサー 17…記録装置(距離測定データの) 21…ワークシート残層 26…接触式距離測定センサー部 27…焦点位置(F)レンズ焦点位置 (F1)絶縁樹脂層表面上方のレンズ焦点位置 (F2)絶縁樹脂層表面のレンズ焦点位置 (F3)絶縁樹脂層層内のレンズ焦点位置
Claims (8)
- 【請求項1】絶縁樹脂層5にバイアホール6を形成する
穴明け加工機において、該バイアホールを形成加工する
レーザー出力照射手段13に設けた光学レンズ13aの
近傍に、XY方向移動ステージ15にセットしたワーク
シート14と光学レンズ13aとの距離を測定する自動
距離測定手段16を備え、1つのスキャンエリア毎に、
その距離を測定し、測定した該データに基ついて、該レ
ンズ13aのホルダー冶具13bをZ軸方向に駆動させ
ることにより、レンズ13aの焦点位置をワークシート
の表面に対して一定の高さに補正した後に、レーザービ
ーム12を照射してワークシート上に予め形成されてい
る絶縁樹脂層5に穴明け加工することを特徴とする配線
板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機。 - 【請求項2】絶縁樹脂層5にバイアホール6を形成する
穴明け加工機において、該バイアホールを形成加工する
レーザー出力照射手段13に設けた光学レンズ13aの
近傍に、XY方向移動ステージ15にセットしたワーク
シート14と光学レンズ13aとの距離を測定する自動
距離測定手段16を備え、ワークシート毎の1つのスキ
ャンエリア毎に、その距離を測定し、各ワークシート毎
に測定した該データをデータベースとして格納する電子
媒体等の記録手段を備え、記録手段から順次読み出され
る各ワークシート毎に対応する測定データに基ついて、
該ワークシート毎の1つのスキャンエリア毎に、各該レ
ンズ13aのホルダー冶具13bをZ軸方向駆動させる
ことにより、レンズ13aの焦点位置をワークシートの
表面に対して一定の高さに補正した後に、レーザービー
ム12を照射して、ワークシート上に予め形成されてい
る絶縁樹脂層5に穴明け加工することを特徴とする配線
板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機。 - 【請求項3】絶縁樹脂層5にバイアホール6を形成する
穴明け加工機において、該バイアホールを形成加工する
レーザー出力照射手段13に設けた光学レンズ13aの
近傍に、XY方向移動ステージ15にセットしたワーク
シート14と光学レンズ13aとの距離を測定する自動
距離測定手段16を備え、ワークシート毎に、複数カ所
の距離を測定し、各ワークシート毎に測定した該データ
をデータベースとして格納する電子媒体(フロピー、e
−メール)等の記録手段を備え、該記録手段から順次読
み出される各ワークシート毎に対応する測定データに基
ついて、該ワークシート毎に、レンズ13aのホルダー
冶具13bをZ軸方向に駆動させることにより、レンズ
13aの焦点位置をワークシートの表面に対して一定の
高さに補正した後に、レーザービーム12を照射して、
ワークシート上に予め形成されている絶縁樹脂層5に穴
明け加工することを特徴とする配線板製造用自動測定補
正機能付きレーザ―穴明け加工機。 - 【請求項4】請求項2又は請求項3記載の前記記録手段
を備えたレーザ―穴明け加工機を用いて、各ワークシー
トと光学レンズ13aとの距離の測定を予めオフライン
で測定し、測定したデータを記録した電子媒体(フロピ
ー、e-メール)等による記録手段から順次読み出される
各ワークシート毎に対応する測定データに基いて、ホル
ダー冶具13bをZ軸方向に駆動させることにより、レ
ンズ13aの焦点位置をワークシートの表面に対して一
定の高さに補正した後に、ワークシート上に予め形成さ
れている絶縁樹脂層5にレーザービーム12を照射し
て、穴明け加工することを特徴とする配線板製造用自動
測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機。 - 【請求項5】請求項1記載のレーザ―穴明け加工機を用
いて、ワークシート14上の絶縁樹脂層5にバイアホー
ル6を穴明け加工してプリント配線板を製造することを
特徴とするプリント配線板の製造方法。 - 【請求項6】請求項2記載のレーザ―穴明け加工機を用
いて、ワークシート14上の絶縁樹脂層5にバイアホー
ル6を穴明け加工してプリント配線板を製造することを
特徴とするプリント配線板の製造方法。 - 【請求項7】請求項3記載のレーザ―穴明け加工機を用
いて、ワークシート14上の絶縁樹脂層5にバイアホー
ル6を穴明け加工してプリント配線板を製造することを
特徴とするプリント配線板の製造方法。 - 【請求項8】請求項4記載のレーザ―穴明け加工機を用
いて、ワークシート14上の絶縁樹脂層5にバイアホー
ル6を穴明け加工してプリント配線板を製造することを
特徴とするプリント配線板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001164566A JP2002361462A (ja) | 2001-05-31 | 2001-05-31 | 配線板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機及びそれを使用したプリント配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001164566A JP2002361462A (ja) | 2001-05-31 | 2001-05-31 | 配線板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機及びそれを使用したプリント配線板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002361462A true JP2002361462A (ja) | 2002-12-18 |
Family
ID=19007376
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001164566A Pending JP2002361462A (ja) | 2001-05-31 | 2001-05-31 | 配線板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機及びそれを使用したプリント配線板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002361462A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010234420A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Mitsubishi Electric Corp | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 |
JP2013500867A (ja) * | 2009-08-06 | 2013-01-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 緯度方向等値線スクライビング加工、ステッチング、ならびに簡易化されたレーザ制御およびスキャナ制御 |
JP2017013092A (ja) * | 2015-07-01 | 2017-01-19 | イビデン株式会社 | プリント配線板の製造装置とプリント配線板の製造方法 |
CN115066107A (zh) * | 2022-06-30 | 2022-09-16 | 昆山鸿仕达智能科技股份有限公司 | 一种电子元件贴装过程中压合行程控制方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS571594A (en) * | 1980-06-03 | 1982-01-06 | Nec Corp | Laser working machine |
JPH0825070A (ja) * | 1994-07-12 | 1996-01-30 | Sanyo Mach Works Ltd | レーザ加工用光学系 |
JP2001053450A (ja) * | 1999-08-10 | 2001-02-23 | Nec Corp | ブラインドビアホールの形成方法 |
-
2001
- 2001-05-31 JP JP2001164566A patent/JP2002361462A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS571594A (en) * | 1980-06-03 | 1982-01-06 | Nec Corp | Laser working machine |
JPH0825070A (ja) * | 1994-07-12 | 1996-01-30 | Sanyo Mach Works Ltd | レーザ加工用光学系 |
JP2001053450A (ja) * | 1999-08-10 | 2001-02-23 | Nec Corp | ブラインドビアホールの形成方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010234420A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Mitsubishi Electric Corp | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 |
JP2013500867A (ja) * | 2009-08-06 | 2013-01-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 緯度方向等値線スクライビング加工、ステッチング、ならびに簡易化されたレーザ制御およびスキャナ制御 |
JP2017013092A (ja) * | 2015-07-01 | 2017-01-19 | イビデン株式会社 | プリント配線板の製造装置とプリント配線板の製造方法 |
CN115066107A (zh) * | 2022-06-30 | 2022-09-16 | 昆山鸿仕达智能科技股份有限公司 | 一种电子元件贴装过程中压合行程控制方法 |
CN115066107B (zh) * | 2022-06-30 | 2024-04-05 | 昆山鸿仕达智能科技股份有限公司 | 一种电子元件贴装过程中压合行程控制方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7127812B2 (en) | Process for producing a multi-layer printed wiring board | |
EP1334810B1 (en) | Circuit board production method and circuit board production data | |
JP3032753B2 (ja) | 多層印刷回路基板の製造方法 | |
JP5568618B2 (ja) | 回路キャリアを製造する方法と当該方法の使用 | |
US20050062583A1 (en) | Drift-sensitive laser trimming of circuit elements | |
JP2003060356A (ja) | 多層プリント配線基板の製造方法 | |
JP4590272B2 (ja) | 配線基板の製造方法 | |
JP3160252B2 (ja) | 多層プリント配線板の製造方法 | |
JP2003324263A (ja) | プリント配線基板の製造方法 | |
JP2002361462A (ja) | 配線板製造用自動測定補正機能付きレーザ―穴明け加工機及びそれを使用したプリント配線板の製造方法 | |
JPH10156570A (ja) | レーザ加工装置、多層プリント配線板の製造装置及び製造方法 | |
JP3353136B2 (ja) | レーザ穴あけ加工装置 | |
KR100731317B1 (ko) | 연성인쇄회로기판의 제조방법 | |
JP3126316B2 (ja) | 多層プリント配線板の製造装置及び製造方法 | |
JP2002009451A (ja) | プリント配線板の製造方法およびその製造装置 | |
JP3062142B2 (ja) | 多層印刷配線板の製造方法 | |
JP2003088983A (ja) | レーザードリル装置および多層配線基板の製造方法およびそれを用いた多層配線基板 | |
JP2011103374A (ja) | レーザ加工装置 | |
JP3023320B2 (ja) | レーザ加工装置、多層プリント配線板の製造装置及び製造方法 | |
JP2005088045A (ja) | レーザ穴あけ方法及び装置 | |
JP2003053580A (ja) | レーザ加工方法、プリント配線基板の製造方法及びプリント配線基板の製造装置 | |
JP2000165039A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JP2001094231A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JP2003053560A (ja) | レーザ加工方法及びプリント配線基板の製造方法 | |
JPH11284312A (ja) | ビアホールの穴明け方法及び穴明け装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20040123 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080507 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100706 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100713 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101109 |