JP2002248596A - 耐酸化性に優れる鉛レス半田ボール - Google Patents
耐酸化性に優れる鉛レス半田ボールInfo
- Publication number
- JP2002248596A JP2002248596A JP2001051621A JP2001051621A JP2002248596A JP 2002248596 A JP2002248596 A JP 2002248596A JP 2001051621 A JP2001051621 A JP 2001051621A JP 2001051621 A JP2001051621 A JP 2001051621A JP 2002248596 A JP2002248596 A JP 2002248596A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder
- oxide
- solder ball
- temperature
- alloy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】錫−亜鉛をベースとする半田ボールにおいて、
長期に渡って耐酸化性に優れ、かつ、精度の高い半田ボ
ールが求められていた。 【解決方法】錫−亜鉛ベースまたは、XがCu、In、
Bi、Ge、Agの少なくとも1種であるSn−Zn―
X系半田ボールであって、Cr、Nb、Mn、B、S
i、Ti、Zr、Hf、Ba、Li、Ca、Ce、S
r、Mg、Alの少なくとも1種を含有し、かつ、最表
面からの深さで1〜100nmが実質的に該含有元素の
酸化物からなることを特徴とする半田ボールにすること
により、長期に渡って優れた耐酸化性を有し、かつ、精
度の高い半田ボールが得られた。
長期に渡って耐酸化性に優れ、かつ、精度の高い半田ボ
ールが求められていた。 【解決方法】錫−亜鉛ベースまたは、XがCu、In、
Bi、Ge、Agの少なくとも1種であるSn−Zn―
X系半田ボールであって、Cr、Nb、Mn、B、S
i、Ti、Zr、Hf、Ba、Li、Ca、Ce、S
r、Mg、Alの少なくとも1種を含有し、かつ、最表
面からの深さで1〜100nmが実質的に該含有元素の
酸化物からなることを特徴とする半田ボールにすること
により、長期に渡って優れた耐酸化性を有し、かつ、精
度の高い半田ボールが得られた。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体、電気部品
の電気的接合として使われる半田の中でも、特に、BG
Aや、クリーム半田として使用される半田ボールに関す
るものである。
の電気的接合として使われる半田の中でも、特に、BG
Aや、クリーム半田として使用される半田ボールに関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】古くから、半田の成分としてPb−Sn系合
金が使われており、特性の改善は一部の金属を微量添加
することによって行なわれてきた。近年、Pbによる環境
汚染が問題となり、Pbを使わない半田に関する種々の研
究が行なわれてきた。Snをベースとした合金成分を中心
に研究が行なわれSn−Ag系やSn−Cu系合金がPb-Sn系半
田と同等の特性が得られている。しかし、これらの合金
はPb-Sn系半田に比べて、濡れ性が劣ることや、融点が
高くなる問題があった。これに対して、Sn−Znをベース
とした半田が従来の半田に近い融点を持つ代替半田とし
て注目されてきたが、この半田は大気中での酸化が激し
く、接合時のみならず、保存状態での酸化が進行するこ
とが問題であった。
金が使われており、特性の改善は一部の金属を微量添加
することによって行なわれてきた。近年、Pbによる環境
汚染が問題となり、Pbを使わない半田に関する種々の研
究が行なわれてきた。Snをベースとした合金成分を中心
に研究が行なわれSn−Ag系やSn−Cu系合金がPb-Sn系半
田と同等の特性が得られている。しかし、これらの合金
はPb-Sn系半田に比べて、濡れ性が劣ることや、融点が
高くなる問題があった。これに対して、Sn−Znをベース
とした半田が従来の半田に近い融点を持つ代替半田とし
て注目されてきたが、この半田は大気中での酸化が激し
く、接合時のみならず、保存状態での酸化が進行するこ
とが問題であった。
【0003】その対策として、特開2000―1547
8号公報では、亜鉛より蒸気圧が高い金属を添加するこ
とが開示されている。また、特開平8―164496号
公報では、Sn―Zn系半田の表面に、Au、Ni、P
d、Agの金属を被覆することが開示されている。
8号公報では、亜鉛より蒸気圧が高い金属を添加するこ
とが開示されている。また、特開平8―164496号
公報では、Sn―Zn系半田の表面に、Au、Ni、P
d、Agの金属を被覆することが開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】PbレスであるSn―
Zn系半田は、Znが存在するため極めて酸化し易くな
っており、従来の半田製造工程で許容された酸素不純物
量であって容易に酸化物を形成し、半田の成形工程、特
にボール形状の形成においては特に種々の問題を引き起
こしていた。具体的には、Zn酸化物が極めて低温で形
成されるために、その酸化物形成部が溶融金属中に固体
として表面付近に多量に存在しているため、特に、表面
張力を利用して成球する方法においては変形を招いてい
た。
Zn系半田は、Znが存在するため極めて酸化し易くな
っており、従来の半田製造工程で許容された酸素不純物
量であって容易に酸化物を形成し、半田の成形工程、特
にボール形状の形成においては特に種々の問題を引き起
こしていた。具体的には、Zn酸化物が極めて低温で形
成されるために、その酸化物形成部が溶融金属中に固体
として表面付近に多量に存在しているため、特に、表面
張力を利用して成球する方法においては変形を招いてい
た。
【0005】また、常温で保持していてもPb系半田よ
りも酸化しやすく、かつ極めて低濃度の酸素が存在する
雰囲気であっても酸化し易いため、保存時においても酸
化が半田内部にまで進行し、使用時に融点の上昇・バラ
ツキや接合強度の低下が問題となっていた。
りも酸化しやすく、かつ極めて低濃度の酸素が存在する
雰囲気であっても酸化し易いため、保存時においても酸
化が半田内部にまで進行し、使用時に融点の上昇・バラ
ツキや接合強度の低下が問題となっていた。
【0006】また、特開2000―15478号公報の
ように、半田の合金として固溶させるため、蒸気圧の高
い金属が存在する半田は酸素除去という観点からは優れ
ているものの、時間の経過による変化の観点から考える
と、Znの不均一酸化および、内部への酸素の拡散を防
止できない問題があった。
ように、半田の合金として固溶させるため、蒸気圧の高
い金属が存在する半田は酸素除去という観点からは優れ
ているものの、時間の経過による変化の観点から考える
と、Znの不均一酸化および、内部への酸素の拡散を防
止できない問題があった。
【0007】特開平8―164496号公報で開示され
ているAu、Ni、Pd、Agの金属を被覆することに
よって酸化の防止という点では優れるものの、被膜工程
中に半田が酸化して被膜が剥離することや、工程の増加
による寸法精度の低下、価格の増大が問題となってい
た。
ているAu、Ni、Pd、Agの金属を被覆することに
よって酸化の防止という点では優れるものの、被膜工程
中に半田が酸化して被膜が剥離することや、工程の増加
による寸法精度の低下、価格の増大が問題となってい
た。
【0008】
【課題を解決する手段】半田表面に酸化に対して安定で
あって、かつ極めて薄い均一な酸化物層を形成すること
によって酸素の内部への拡散を抑制すると共に、表面張
力を利用して球形とするBGAボール等の製造工程にお
いては、酸化を防ぎつつ表面張力による球状化を阻害し
ないため、極めて真球度の高いSn―Zn半田ボールが
得られるものである。
あって、かつ極めて薄い均一な酸化物層を形成すること
によって酸素の内部への拡散を抑制すると共に、表面張
力を利用して球形とするBGAボール等の製造工程にお
いては、酸化を防ぎつつ表面張力による球状化を阻害し
ないため、極めて真球度の高いSn―Zn半田ボールが
得られるものである。
【0009】酸化物が表面を覆っているため、保存時に
は酸素の拡散を抑制し、使用時には球体内部半田が溶融
することによって、機械的強度が低い半田表面の酸化物
は容易に破壊されるため接合を阻害せず、半田母材によ
る接合が極めて強固に行われるものである。
は酸素の拡散を抑制し、使用時には球体内部半田が溶融
することによって、機械的強度が低い半田表面の酸化物
は容易に破壊されるため接合を阻害せず、半田母材によ
る接合が極めて強固に行われるものである。
【0010】また、含有元素の合計が0.001wt%未満では
半田球の表面に均一に酸化物層を形成できず、5wt%よ
り多くては半田そのものの特性値、例えば融点等が大き
く変化するために0.001wt%以上5wt%以下と定めた。
半田球の表面に均一に酸化物層を形成できず、5wt%よ
り多くては半田そのものの特性値、例えば融点等が大き
く変化するために0.001wt%以上5wt%以下と定めた。
【0011】半田の必須の構成元素であるZn含有量は、
1wt%未満では半田自体の濡れ性向上が十分に作用せず、
40wt%よりおおくては半田特性が劣化するため、1wt%以
上40wt%以下と定めた。
1wt%未満では半田自体の濡れ性向上が十分に作用せず、
40wt%よりおおくては半田特性が劣化するため、1wt%以
上40wt%以下と定めた。
【0012】
【発明の実施態様】Cr、Nb、Mn、B、Si、T
i、Zr、Hf、Ba、Li、Ca、Ce、Sr、M
g、Alの少なくとも1種を含有し、かつ、最表面から
の深さで1〜100nmが該含有元素の酸化物からなる
ことを特徴とするSn−Zn系半田ボールによって、真
球度が高く、雰囲気の影響を受けにくいことが明らかと
なったものである。
i、Zr、Hf、Ba、Li、Ca、Ce、Sr、M
g、Alの少なくとも1種を含有し、かつ、最表面から
の深さで1〜100nmが該含有元素の酸化物からなる
ことを特徴とするSn−Zn系半田ボールによって、真
球度が高く、雰囲気の影響を受けにくいことが明らかと
なったものである。
【0013】この効果はSn−ZnにXが添加されてい
る系においても、その効果を発揮する。含有元素は、該
含有元素酸化物の生成自由エネルギが、Znの酸化物生
成自由エネルギよりも低く、選択的にZnよりも先に酸
化物を形成すると共に、その酸化物はごく表面を覆う形
態をとる。なぜならば、表面で含有元素が酸素と優先的
に反応することは生成自由エネルギーのから考えれば当
然であるが、半田が溶解して液体状になっているため半
田主体は、異種の濡れ性の低い酸化物は表面に残る方が
表面エネルギーを低下させる、つまりは安定な状態とな
り、結果的に表面にごく薄い酸化被膜が形成されるもの
である。
る系においても、その効果を発揮する。含有元素は、該
含有元素酸化物の生成自由エネルギが、Znの酸化物生
成自由エネルギよりも低く、選択的にZnよりも先に酸
化物を形成すると共に、その酸化物はごく表面を覆う形
態をとる。なぜならば、表面で含有元素が酸素と優先的
に反応することは生成自由エネルギーのから考えれば当
然であるが、半田が溶解して液体状になっているため半
田主体は、異種の濡れ性の低い酸化物は表面に残る方が
表面エネルギーを低下させる、つまりは安定な状態とな
り、結果的に表面にごく薄い酸化被膜が形成されるもの
である。
【0014】酸化物が形成される時間は極めて短く、融
点温度付近で薄い酸化物が形成された後は、急速に冷却
することによって、必要以上の酸化物の形成を制御する
ことが明らかとなった。従来は機械的研磨によって整球
し、真球度を向上させていたものであり、当然、その工
程で不均一なZnの酸化物が形成されていた。
点温度付近で薄い酸化物が形成された後は、急速に冷却
することによって、必要以上の酸化物の形成を制御する
ことが明らかとなった。従来は機械的研磨によって整球
し、真球度を向上させていたものであり、当然、その工
程で不均一なZnの酸化物が形成されていた。
【0015】本発明の含有元素は半田ボールを形成する
工程の原料段階で添加することが好ましく、溶解時に
は、Ar、水素、窒素、メタンなどの炭化水素ガスやその
混合物等の不活性ガス雰囲気に原料金属を装入後、加熱
・溶解することが好ましい。
工程の原料段階で添加することが好ましく、溶解時に
は、Ar、水素、窒素、メタンなどの炭化水素ガスやその
混合物等の不活性ガス雰囲気に原料金属を装入後、加熱
・溶解することが好ましい。
【0016】加熱した合金の表層部が不活性ガスで置換
されるようにガス注入口を上部に有する半田溶融層の中
に、合金インゴットを入れ完全に溶解させる。この溶解
温度によってボールの形状精度が変わる。融点以上でな
ければ液滴を形成できないことは当然である。さらに溶
解温度を上げると、溶融金属の粘性が低下するため均一
なボールを形成し易くなるが、本発明で示した元素では
酸化しやすくなるため、溶解温度は融点以上から融点+
100(K)以下に保持することが好ましい。
されるようにガス注入口を上部に有する半田溶融層の中
に、合金インゴットを入れ完全に溶解させる。この溶解
温度によってボールの形状精度が変わる。融点以上でな
ければ液滴を形成できないことは当然である。さらに溶
解温度を上げると、溶融金属の粘性が低下するため均一
なボールを形成し易くなるが、本発明で示した元素では
酸化しやすくなるため、溶解温度は融点以上から融点+
100(K)以下に保持することが好ましい。
【0017】この溶融した合金を、振動子としての円形
もしくは多角形のホーンを挿入させたセル内の、ホーン
とセル内壁の間の空間を満たすとともに、セル下部のノ
ズルより層流かつ一定流速で液柱を押し出す。ホーンの
先端からノズル部よりでる溶融金属に対して弾性波エネ
ルギーを与える。この弾性波エネルギーは均一液的を得
るためには周期的に繰り返されるものが好適であり、そ
の周波数はさらさらした液体では、10Hz〜1MHz、溶融半
田の場合には10Hz〜100KHzが望ましい。
もしくは多角形のホーンを挿入させたセル内の、ホーン
とセル内壁の間の空間を満たすとともに、セル下部のノ
ズルより層流かつ一定流速で液柱を押し出す。ホーンの
先端からノズル部よりでる溶融金属に対して弾性波エネ
ルギーを与える。この弾性波エネルギーは均一液的を得
るためには周期的に繰り返されるものが好適であり、そ
の周波数はさらさらした液体では、10Hz〜1MHz、溶融半
田の場合には10Hz〜100KHzが望ましい。
【0018】安定的に液柱を形成する領域において、超
音波発振器からの弾性波エネルギー(超音波振動)が、
音圧としてホーンを経由してノズルから押し出された液
柱に伝搬される。液柱に伝搬された弾性波エネルギー
(超音波振動)による音圧は、周波数に従って圧力が高
い部分と低い部分が液柱に形成され周期的に伝搬する。
すると液柱には外圧に対して正圧、負圧となる部位が周
期的に形成され、細くなった部位は最後に分断される。
音波発振器からの弾性波エネルギー(超音波振動)が、
音圧としてホーンを経由してノズルから押し出された液
柱に伝搬される。液柱に伝搬された弾性波エネルギー
(超音波振動)による音圧は、周波数に従って圧力が高
い部分と低い部分が液柱に形成され周期的に伝搬する。
すると液柱には外圧に対して正圧、負圧となる部位が周
期的に形成され、細くなった部位は最後に分断される。
【0019】すなわち、弾性波エネルギー(超音波振
動)を与えられた溶融半田は、セルの出口に取り付けら
れたノズルの細管を通過した後、細管の先端の開口部か
ら引きちぎられるように離れ球形化した液滴となる。
動)を与えられた溶融半田は、セルの出口に取り付けら
れたノズルの細管を通過した後、細管の先端の開口部か
ら引きちぎられるように離れ球形化した液滴となる。
【0020】このとき、均一な液滴を得るための条件
(安定的に液柱を形成する領域の条件)として、ノズル
から出る溶融金属液柱が一定流速で、層流であること、
すなわちMiddlemanの上限流速とSchneiderの下限流速を
満足することである。
(安定的に液柱を形成する領域の条件)として、ノズル
から出る溶融金属液柱が一定流速で、層流であること、
すなわちMiddlemanの上限流速とSchneiderの下限流速を
満足することである。
【0021】球状化した粒子が帯電しやすい場合は、ノ
ズル先端からわずかに離れた位置で、強制的に放出され
た溶融半田が液滴となったものに電荷を与え液滴を分散
させてもよい。さらに、液滴表層と酸素との親和性が高
い場合には、窒素やアルゴンなどの不活性ガス又は水素
などの還元ガスで満たされた空間をノズル先端から放出
された直後から通過させることによって液滴の酸化を防
ぐことができる。液滴が小さいほど酸素による酸化の影
響を受けやすいため、粒径が2mm以下の粒子を形成する
場合には通過させる酸素濃度を2000ppm以下、好ましく
は500ppm以下である。そこで、この雰囲気を通過する時
に液滴中の合金成分が酸化され、酸化物が形成される。
ズル先端からわずかに離れた位置で、強制的に放出され
た溶融半田が液滴となったものに電荷を与え液滴を分散
させてもよい。さらに、液滴表層と酸素との親和性が高
い場合には、窒素やアルゴンなどの不活性ガス又は水素
などの還元ガスで満たされた空間をノズル先端から放出
された直後から通過させることによって液滴の酸化を防
ぐことができる。液滴が小さいほど酸素による酸化の影
響を受けやすいため、粒径が2mm以下の粒子を形成する
場合には通過させる酸素濃度を2000ppm以下、好ましく
は500ppm以下である。そこで、この雰囲気を通過する時
に液滴中の合金成分が酸化され、酸化物が形成される。
【0022】低酸素濃度の実施可能な状態から徐々に酸
素含有量を増やしたところ、酸化物厚さが、100nm
以上の条件ではボールが変形したまま凝固し易く、かつ
実用する上での濡れ性および径のバラツキが許容範囲を
越えた。
素含有量を増やしたところ、酸化物厚さが、100nm
以上の条件ではボールが変形したまま凝固し易く、かつ
実用する上での濡れ性および径のバラツキが許容範囲を
越えた。
【0023】さらに、この雰囲気ガス温度が液滴温度と
温度差が大きい場合は均一なボールが得られないことが
明らかとなった。液滴温度と雰囲気温度が等しいと最も
優れた球形状が得られ、その温度差が70(K)を越え
ると変形率がBGAなどの実用許容限界範囲を越えるた
め、溶解部から冷媒までの温度差を70(K)以下が望
ましい。
温度差が大きい場合は均一なボールが得られないことが
明らかとなった。液滴温度と雰囲気温度が等しいと最も
優れた球形状が得られ、その温度差が70(K)を越え
ると変形率がBGAなどの実用許容限界範囲を越えるた
め、溶解部から冷媒までの温度差を70(K)以下が望
ましい。
【0024】低酸素濃度に保った空間を通過した液体
は、溶融した合金を溶解しない冷媒がみたされている粒
子回収層内の冷媒としては、高沸点の鉱物油(サームオ
イル)やシリコンオイルなどを用いることができる。液
滴は、液滴より高い温度に保たれている粒子回収層内の
液体(冷媒)上層部に突入する。このとき、液滴はスト
ークスの式にほぼ従って沈降を始める。
は、溶融した合金を溶解しない冷媒がみたされている粒
子回収層内の冷媒としては、高沸点の鉱物油(サームオ
イル)やシリコンオイルなどを用いることができる。液
滴は、液滴より高い温度に保たれている粒子回収層内の
液体(冷媒)上層部に突入する。このとき、液滴はスト
ークスの式にほぼ従って沈降を始める。
【0025】一方、粒子回収層内に満たされている下部
は、ほぼ常温になるようにオイルクーラントで冷却され
ており、粒子回収層内の液体は上部に行くに従って高温
となる温度分布をを有する。液滴は、粒子回収層内の液
体の温度が合金共晶点未満になると凝集して硬化してい
く。硬化とともに粒径が変化することから新たなストー
クスの式にほぼ従って沈降する。実質的には、粒子は穏
やかに堆積し、粒子の衝突によってその表面に傷を作る
ことがない。
は、ほぼ常温になるようにオイルクーラントで冷却され
ており、粒子回収層内の液体は上部に行くに従って高温
となる温度分布をを有する。液滴は、粒子回収層内の液
体の温度が合金共晶点未満になると凝集して硬化してい
く。硬化とともに粒径が変化することから新たなストー
クスの式にほぼ従って沈降する。実質的には、粒子は穏
やかに堆積し、粒子の衝突によってその表面に傷を作る
ことがない。
【0026】この時、沈降速度のわずかな差を利用し生
成する粒子を分級することも可能である。例えば、この
ようにして得られたほぼ真球で均一な粒子は、高密度実
装用のBGA、CSPなどの表面実装型部品の接合用半田ボー
ルとして用いることが可能である。これらのボールの表
面観察すると、表面の凹凸や亀裂は、ほとんど無く、ま
た、長径と短径の比も1%以内のズレに入ることから、
多点の電極をもつBGA、CSPなどの表面実装部品用いても
半田付け時の高さのズレなどを生じるおそれが無い。こ
のため半田付け後のICの荷重が均等に半田バンプに分散
され、長期にわたる接合信頼性確保も可能となる。
成する粒子を分級することも可能である。例えば、この
ようにして得られたほぼ真球で均一な粒子は、高密度実
装用のBGA、CSPなどの表面実装型部品の接合用半田ボー
ルとして用いることが可能である。これらのボールの表
面観察すると、表面の凹凸や亀裂は、ほとんど無く、ま
た、長径と短径の比も1%以内のズレに入ることから、
多点の電極をもつBGA、CSPなどの表面実装部品用いても
半田付け時の高さのズレなどを生じるおそれが無い。こ
のため半田付け後のICの荷重が均等に半田バンプに分散
され、長期にわたる接合信頼性確保も可能となる。
【0027】さらに、粒径を60μm以下とすることに
より、表面実装用のソルダーペーストの半田粒子として
用いることもできる。真球に近く表面に本発明の酸化物
層を有する粒子は、従来酸素を含む雰囲気で酸化しやす
い錫、亜鉛半田粒子の長期保存を可能とする。このた
め、錫、亜鉛系半田は、今まで活性度の高いフラックス
を用い半田付け性を確保していたため、長期保存ができ
なかったが、本発明による合金粒子の形成方法により活
性度を高め無くても半田付け性を確保できるようにな
る。本発明による合金粒子の形成は、上述のような錫と
亜鉛の組み合わせだけでなく、錫―亜鉛にCu、In、
Bi、Ge、Agの少なくとも1種を添加した組成にお
いても効果を発揮するものである。
より、表面実装用のソルダーペーストの半田粒子として
用いることもできる。真球に近く表面に本発明の酸化物
層を有する粒子は、従来酸素を含む雰囲気で酸化しやす
い錫、亜鉛半田粒子の長期保存を可能とする。このた
め、錫、亜鉛系半田は、今まで活性度の高いフラックス
を用い半田付け性を確保していたため、長期保存ができ
なかったが、本発明による合金粒子の形成方法により活
性度を高め無くても半田付け性を確保できるようにな
る。本発明による合金粒子の形成は、上述のような錫と
亜鉛の組み合わせだけでなく、錫―亜鉛にCu、In、
Bi、Ge、Agの少なくとも1種を添加した組成にお
いても効果を発揮するものである。
【0028】以上のことから、本発明による、錫と亜鉛
の合金をベースとした金属とを混合し、その共晶点以上
の温度で加熱溶融し液化させ、断続的に液化物を不活性
ガス中または還元ガス中に放出し表面に酸化被膜を形成
後、凝集する事によって得られる合金粒子は、高密度化
が進展している電気、電子機器の実装基板部品の接合に
用いられるBGAやCSPなどの部品電極部と実装基板の接合
用バンプ、QFPなどのリードを有する部品の半田接合に
用いるソルダーペースト用の合金粒子として使用でき
る。以下に具体的な実施例を示す。
の合金をベースとした金属とを混合し、その共晶点以上
の温度で加熱溶融し液化させ、断続的に液化物を不活性
ガス中または還元ガス中に放出し表面に酸化被膜を形成
後、凝集する事によって得られる合金粒子は、高密度化
が進展している電気、電子機器の実装基板部品の接合に
用いられるBGAやCSPなどの部品電極部と実装基板の接合
用バンプ、QFPなどのリードを有する部品の半田接合に
用いるソルダーペースト用の合金粒子として使用でき
る。以下に具体的な実施例を示す。
【0029】
【実施例1】加熱した合金の表層部が不活性ガスで置換
されるようにガス注入口を上部に有する半田溶解層の中
に、組成比が錫90.4wt%以上、亜鉛9wt%、添加金属元
素含有量が0.6wt%の共融物質としての合金のインゴッ
トを合計200Kg入れ、その融点温度(理論値)よりも高
い温度で保持し完全に溶解させた。この溶融した合金
を、半田溶解層内のギヤーポンプにより振動子としての
円形もしくは多角形のホーンを挿入したセル内の、ホー
ンとセル内壁の間の空間を満たし、ノズル部より層流で
溶解半田を押し出すようにした。これに超音波発信器か
ら超音波振動が音圧としてホーンを経由し、セル内部に
満たされた液を経由してノズルより押し出された液柱に
伝搬される。液柱に伝搬された超音波振動による音圧
は、周波数に従って圧力の高い部分と低い部分の液柱に
形成され周期的に伝搬する。すると液柱には外圧に対し
て正圧、負圧となる部分が周期的に形成され、細くなっ
た部位は最後に分断されるものである。
されるようにガス注入口を上部に有する半田溶解層の中
に、組成比が錫90.4wt%以上、亜鉛9wt%、添加金属元
素含有量が0.6wt%の共融物質としての合金のインゴッ
トを合計200Kg入れ、その融点温度(理論値)よりも高
い温度で保持し完全に溶解させた。この溶融した合金
を、半田溶解層内のギヤーポンプにより振動子としての
円形もしくは多角形のホーンを挿入したセル内の、ホー
ンとセル内壁の間の空間を満たし、ノズル部より層流で
溶解半田を押し出すようにした。これに超音波発信器か
ら超音波振動が音圧としてホーンを経由し、セル内部に
満たされた液を経由してノズルより押し出された液柱に
伝搬される。液柱に伝搬された超音波振動による音圧
は、周波数に従って圧力の高い部分と低い部分の液柱に
形成され周期的に伝搬する。すると液柱には外圧に対し
て正圧、負圧となる部分が周期的に形成され、細くなっ
た部位は最後に分断されるものである。
【0030】この実施例1では、1.5〜2KHzの弾性波エ
ネルギーを加えて均一切断した。球状化した粒子が帯電
して他の粒子と結合しやすいため、ノズル先端からわず
かに離れた位置で強制的に放出された溶融半田が液滴と
なったものに電荷を与え液滴を分散させた。
ネルギーを加えて均一切断した。球状化した粒子が帯電
して他の粒子と結合しやすいため、ノズル先端からわず
かに離れた位置で強制的に放出された溶融半田が液滴と
なったものに電荷を与え液滴を分散させた。
【0031】さらに、液滴表層と酸素との親和性が高い
ため、通過させる空間の酸素濃度を500ppm以下の状態を
保った窒素で満たされた空間をノズル先端から放出され
た直後から通過させた。低酸素濃度に保った空間を通過
した液滴は、ごく表面に酸化物層が形成されると共に、
表面張力によって球体形状を形成し、そのまま溶融した
合金を溶解させない液体として高沸点のシリコンオイル
が満たされている粒子回収層に到達する。液滴は、液滴
の温度以上に加熱されたシリコンオイル上層部に突入す
るようにした。突入した液滴は、シリコンオイルの下部
がオイルクーラントで常温に保たれていることから沈降
するに従って冷却され、固化した粒子として回収し洗浄
・乾燥させた後、高密度実装用のBGA、CSPなどの表面実
装型部品の接合用半田ボール、発明品を得た。添加元素
を、Al、Mg、Tiとした半田ボールをそれぞれ発明品1、
2、3とした。ノズル吹き出し口の雰囲気を大気雰囲気
として、落下距離を2倍とした以外の全ての条件を同一
にして比較品1、2、3を得た。添加元素が無い組成で
作製した半田ボールを比較品4とした。同一組成の半田
棒を作成し、所定長さに切断して融点以上に加熱したシ
リコンオイル中で球形状の半田ボール、比較品5、6、
7を得た。それぞれの半田ボールは、断面観察またはRB
Sにより酸化物層の厚さを測定し、真円度は得られたボ
ールの変形率すなわち最短部の長さと最長部の長さとの
比を比較した。さらに、ソルダーペーストとしての実地
試験を行なった。
ため、通過させる空間の酸素濃度を500ppm以下の状態を
保った窒素で満たされた空間をノズル先端から放出され
た直後から通過させた。低酸素濃度に保った空間を通過
した液滴は、ごく表面に酸化物層が形成されると共に、
表面張力によって球体形状を形成し、そのまま溶融した
合金を溶解させない液体として高沸点のシリコンオイル
が満たされている粒子回収層に到達する。液滴は、液滴
の温度以上に加熱されたシリコンオイル上層部に突入す
るようにした。突入した液滴は、シリコンオイルの下部
がオイルクーラントで常温に保たれていることから沈降
するに従って冷却され、固化した粒子として回収し洗浄
・乾燥させた後、高密度実装用のBGA、CSPなどの表面実
装型部品の接合用半田ボール、発明品を得た。添加元素
を、Al、Mg、Tiとした半田ボールをそれぞれ発明品1、
2、3とした。ノズル吹き出し口の雰囲気を大気雰囲気
として、落下距離を2倍とした以外の全ての条件を同一
にして比較品1、2、3を得た。添加元素が無い組成で
作製した半田ボールを比較品4とした。同一組成の半田
棒を作成し、所定長さに切断して融点以上に加熱したシ
リコンオイル中で球形状の半田ボール、比較品5、6、
7を得た。それぞれの半田ボールは、断面観察またはRB
Sにより酸化物層の厚さを測定し、真円度は得られたボ
ールの変形率すなわち最短部の長さと最長部の長さとの
比を比較した。さらに、ソルダーペーストとしての実地
試験を行なった。
【0032】重合ロジン(松脂)46.0重量部、テレピネ
オールを主とする溶剤44.5重量部、硬化ヒマシ油(チキ
ソ剤)8.0重量部、ジフェニルグアニジン臭化水素酸塩
を主とする活性剤0.9重量部、パルチミン酸0.3重量部、
アミン塩0.3重量部を混合しながら加熱した後に冷却し
て均質のフラックスを調整した。このフラックス10重量
部と各半田粒子90重量部とを窒素雰囲気中で攪拌混合し
てソルダーペーストを得た。
オールを主とする溶剤44.5重量部、硬化ヒマシ油(チキ
ソ剤)8.0重量部、ジフェニルグアニジン臭化水素酸塩
を主とする活性剤0.9重量部、パルチミン酸0.3重量部、
アミン塩0.3重量部を混合しながら加熱した後に冷却し
て均質のフラックスを調整した。このフラックス10重量
部と各半田粒子90重量部とを窒素雰囲気中で攪拌混合し
てソルダーペーストを得た。
【0033】このソルダーペースト500gを回路基板用印
刷機のメタルマスク上に供給し、窒素雰囲気中で次の様
な印刷条件、及び、基板仕様を持つ基板に印刷した。 [基板仕様] 寸法: 100mml×120mmw×1mmt 材質: ソルダーレジスト塗布ガラスエポキシ基板 銅パッド部のパターン: 64pin QFP対応パターン 銅パッド寸法: 5mml×0.3mmw パッドピッチ: 0.5mm [印刷条件] メタルマスク厚: 0.2mmt 印刷速度: 1.5回/分 印刷方向: 基板長手方向
刷機のメタルマスク上に供給し、窒素雰囲気中で次の様
な印刷条件、及び、基板仕様を持つ基板に印刷した。 [基板仕様] 寸法: 100mml×120mmw×1mmt 材質: ソルダーレジスト塗布ガラスエポキシ基板 銅パッド部のパターン: 64pin QFP対応パターン 銅パッド寸法: 5mml×0.3mmw パッドピッチ: 0.5mm [印刷条件] メタルマスク厚: 0.2mmt 印刷速度: 1.5回/分 印刷方向: 基板長手方向
【0034】さらにソルダーペーストを印刷塗布した50
0枚のうち1つの基板をチップマウンタに搭載し、錫・
亜鉛(組成:亜鉛9重量%)でメッキしたプリコートし
たQFPチップを所定の位置に位置決めして基板上に搭載
し、加熱炉に導入して次の条件でリフローを実施した。 [リフロー条件] リフロー時間: 6分 予備加熱温度: 423K 最高加熱温度: 501K 炉内雰囲気: 窒素供給有り、酸素濃度 500ppm
0枚のうち1つの基板をチップマウンタに搭載し、錫・
亜鉛(組成:亜鉛9重量%)でメッキしたプリコートし
たQFPチップを所定の位置に位置決めして基板上に搭載
し、加熱炉に導入して次の条件でリフローを実施した。 [リフロー条件] リフロー時間: 6分 予備加熱温度: 423K 最高加熱温度: 501K 炉内雰囲気: 窒素供給有り、酸素濃度 500ppm
【0035】リフロー後に基板を冷却し、接合部分を切
断して断面観察により半田のぬれ性、個々のランド間に
おけるブリッジの形成、接合後の強度により総合的に評
価した。リフロー結果は表1中のリフロー結果1に示
す。さらに、各半田ボールを一般的な窒素ガス中で保存
し、同様のリフロー試験を行った。その結果を表1中の
リフロー結果2に示す。
断して断面観察により半田のぬれ性、個々のランド間に
おけるブリッジの形成、接合後の強度により総合的に評
価した。リフロー結果は表1中のリフロー結果1に示
す。さらに、各半田ボールを一般的な窒素ガス中で保存
し、同様のリフロー試験を行った。その結果を表1中の
リフロー結果2に示す。
【0036】
【表1】評価試験結果 *測定限界:0.5nm
【0037】
【発明の効果】実施例の結果からも、厚さが1〜100
nmである特定元素の酸化物層を有する発明品は、成形
後のみならず長期保存後においても優れたリフロー特性
を有していることが明らかとなった。それに比べ、一定
以上の厚さの酸化物層を有する比較品は変形が大きく、
酸化物層を有しない半田ボールは長期保存による性能の
劣化が明らかとなった。
nmである特定元素の酸化物層を有する発明品は、成形
後のみならず長期保存後においても優れたリフロー特性
を有していることが明らかとなった。それに比べ、一定
以上の厚さの酸化物層を有する比較品は変形が大きく、
酸化物層を有しない半田ボールは長期保存による性能の
劣化が明らかとなった。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E319 AA03 AB01 AB05 AC01 BB04 BB08 BB10 CC33 GG20
Claims (6)
- 【請求項1】Cr、Nb、Mn、B、Si、Ti、Z
r、Hf、Ba、Li、Ca、Ce、Sr、Mg、Al
の少なくとも1種を含有し、かつ、最表面からの深さで
1〜100nmが実質的に該含有元素の酸化物からなる
ことを特徴とするSn−Zn系半田ボール - 【請求項2】Cr、Nb、Mn、B、Si、Ti、Z
r、Hf、Ba、Li、Ca、Ce、Sr、Mg、Al
の少なくとも1種を含有し、かつ、最表面からの深さで
1〜100nmが該含有元素の酸化物からなり、XがC
u、In、Bi、Ge、Agの少なくとも1種であるこ
とを特徴とするSn−Zn―X系半田ボール - 【請求項3】含有元素の合計が、0.001〜5wt%であるこ
とを特徴とする請求項1記載のSn−Zn系半田ボール - 【請求項4】含有元素の合計が、0.001〜5wt%であるこ
とを特徴とし、XがCu、In、Bi、Ge、Agの少
なくとも1種であることを特徴とする請求項2記載のS
n−Zn−X系半田ボール - 【請求項5】Zn含有量が1wt%以上40wt%以下であること
を特徴とする請求項1または3記載のSn−Zn系半田
ボール - 【請求項6】Zn含有量が1wt%以上40wt%以下であること
を特徴とし、XがCu、In、Bi、Ge、Agの少な
くとも1種であることを特徴とする請求項2または4記
載のSn−Zn−X系半田ボール
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001051621A JP2002248596A (ja) | 2001-02-27 | 2001-02-27 | 耐酸化性に優れる鉛レス半田ボール |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001051621A JP2002248596A (ja) | 2001-02-27 | 2001-02-27 | 耐酸化性に優れる鉛レス半田ボール |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002248596A true JP2002248596A (ja) | 2002-09-03 |
Family
ID=18912371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001051621A Pending JP2002248596A (ja) | 2001-02-27 | 2001-02-27 | 耐酸化性に優れる鉛レス半田ボール |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002248596A (ja) |
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004018146A1 (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-04 | Nippon Metal Industry Co., Ltd. | 錫−亜鉛系鉛フリーはんだ合金及びはんだ接合部 |
WO2004018145A1 (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-04 | Nippon Metal Industry Co., Ltd. | 錫−亜鉛系鉛フリーはんだ合金、その混合物及びはんだ接合部 |
GB2406101A (en) * | 2004-10-27 | 2005-03-23 | Quantum Chem Tech Singapore | A tin-copper-silicon solder alloy |
JP2006167800A (ja) * | 2004-12-13 | 2006-06-29 | Nanojoin Kk | はんだ合金、金属化フィルムコンデンサ端面電極材料、金属化フィルムコンデンサ及びアルミニウム用ろう材 |
CN100488703C (zh) * | 2006-10-13 | 2009-05-20 | 华南理工大学 | 一种铜粉增强的锡锌复合钎料及其制备方法 |
CZ300575B6 (cs) * | 2005-01-04 | 2009-06-17 | Jeník@Jan | Bezolovnatá pájka |
EP2101951A1 (en) * | 2006-12-29 | 2009-09-23 | Iljin Copper Foil Co., Ltd. | Pb-free solder alloy |
JP2011031253A (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-17 | Eishin Kogyo Kk | 無鉛ハンダ合金 |
CN101380700B (zh) * | 2007-09-05 | 2011-04-20 | 北京康普锡威科技有限公司 | 一种锡铋铜系无铅焊料及其制备方法 |
JP2011156558A (ja) * | 2010-01-30 | 2011-08-18 | Nihon Superior Co Ltd | 鉛フリーはんだ合金 |
US20130284495A1 (en) * | 2009-02-12 | 2013-10-31 | International Business Machines Corporation | ADDITIVES FOR GRAIN FRAGMENTATION IN Pb-FREE Sn-BASED SOLDER |
JP2014044983A (ja) * | 2012-08-24 | 2014-03-13 | Tdk Corp | 端子構造、並びにこれを備える半導体素子及びモジュール基板 |
KR101376856B1 (ko) | 2011-11-17 | 2014-03-21 | 삼성전기주식회사 | 무연 솔더 합금의 제조방법 |
WO2014109052A1 (ja) * | 2013-01-11 | 2014-07-17 | 千住金属工業株式会社 | Cuボール |
US9175368B2 (en) * | 2005-12-13 | 2015-11-03 | Indium Corporation | MN doped SN-base solder alloy and solder joints thereof with superior drop shock reliability |
US9260768B2 (en) * | 2005-12-13 | 2016-02-16 | Indium Corporation | Lead-free solder alloys and solder joints thereof with improved drop impact resistance |
US9640500B2 (en) | 2012-08-24 | 2017-05-02 | Tdk Corporation | Terminal structure and semiconductor device |
KR20180011749A (ko) * | 2015-05-26 | 2018-02-02 | 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 | 땜납 합금, 땜납 볼, 칩 솔더, 땜납 페이스트 및 납땜 조인트 |
KR20180114953A (ko) * | 2016-03-08 | 2018-10-19 | 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 | 땜납 합금, 땜납 볼, 칩 솔더, 땜납 페이스트 및 납땜 조인트 |
CN108705222A (zh) * | 2018-04-04 | 2018-10-26 | 史国民 | 一种耐腐蚀低温焊接材料及其制备方法 |
JP6439893B1 (ja) * | 2018-05-25 | 2018-12-19 | 千住金属工業株式会社 | ハンダボール、ハンダ継手および接合方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000015478A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-01-18 | Toshiba Corp | ハンダ材 |
JP2000326088A (ja) * | 1999-03-16 | 2000-11-28 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 無鉛ハンダ |
-
2001
- 2001-02-27 JP JP2001051621A patent/JP2002248596A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000015478A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-01-18 | Toshiba Corp | ハンダ材 |
JP2000326088A (ja) * | 1999-03-16 | 2000-11-28 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 無鉛ハンダ |
Cited By (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004018145A1 (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-04 | Nippon Metal Industry Co., Ltd. | 錫−亜鉛系鉛フリーはんだ合金、その混合物及びはんだ接合部 |
US7175805B2 (en) | 2002-08-23 | 2007-02-13 | Nippon Metal Industry Co., Ltd. | Tin-zinc lead-free solder, its mixture, and solder-joined part |
US7175804B2 (en) | 2002-08-23 | 2007-02-13 | Nippon Metal Industry Co., Ltd. | Sn-Zn lead-free solder alloy, and solder junction portion |
US7179417B2 (en) | 2002-08-23 | 2007-02-20 | Nippon Metal Industry Co., Ltd. | Sn—Zn lead-free solder alloy, its mixture, and soldered bond |
CN1307022C (zh) * | 2002-08-23 | 2007-03-28 | 日本金属工业株式会社 | 锡-锌系无铅焊锡合金及焊锡接头 |
CN1307023C (zh) * | 2002-08-23 | 2007-03-28 | 日本金属工业株式会社 | 锡-锌系无铅焊锡合金及焊锡接头 |
WO2004018146A1 (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-04 | Nippon Metal Industry Co., Ltd. | 錫−亜鉛系鉛フリーはんだ合金及びはんだ接合部 |
GB2406101A (en) * | 2004-10-27 | 2005-03-23 | Quantum Chem Tech Singapore | A tin-copper-silicon solder alloy |
GB2406101B (en) * | 2004-10-27 | 2006-08-02 | Quantum Chem Tech Singapore | Improvements in or relating to solders |
US7472817B2 (en) | 2004-10-27 | 2009-01-06 | Quantum Chemical Technologies (Singapore) Pte. Ltd | Solders |
JP4617485B2 (ja) * | 2004-12-13 | 2011-01-26 | ナノジョイン株式会社 | はんだ合金、金属化フィルムコンデンサ端面電極材料、金属化フィルムコンデンサ |
JP2006167800A (ja) * | 2004-12-13 | 2006-06-29 | Nanojoin Kk | はんだ合金、金属化フィルムコンデンサ端面電極材料、金属化フィルムコンデンサ及びアルミニウム用ろう材 |
CZ300575B6 (cs) * | 2005-01-04 | 2009-06-17 | Jeník@Jan | Bezolovnatá pájka |
US9175368B2 (en) * | 2005-12-13 | 2015-11-03 | Indium Corporation | MN doped SN-base solder alloy and solder joints thereof with superior drop shock reliability |
US9260768B2 (en) * | 2005-12-13 | 2016-02-16 | Indium Corporation | Lead-free solder alloys and solder joints thereof with improved drop impact resistance |
CN100488703C (zh) * | 2006-10-13 | 2009-05-20 | 华南理工大学 | 一种铜粉增强的锡锌复合钎料及其制备方法 |
EP2101951A1 (en) * | 2006-12-29 | 2009-09-23 | Iljin Copper Foil Co., Ltd. | Pb-free solder alloy |
EP2101951A4 (en) * | 2006-12-29 | 2010-01-27 | Iljin Copper Foil Co Ltd | LEAD-FREE SOLDERING ALLOY |
CN101380700B (zh) * | 2007-09-05 | 2011-04-20 | 北京康普锡威科技有限公司 | 一种锡铋铜系无铅焊料及其制备方法 |
US20130284495A1 (en) * | 2009-02-12 | 2013-10-31 | International Business Machines Corporation | ADDITIVES FOR GRAIN FRAGMENTATION IN Pb-FREE Sn-BASED SOLDER |
US8910853B2 (en) * | 2009-02-12 | 2014-12-16 | International Business Machines Corporation | Additives for grain fragmentation in Pb-free Sn-based solder |
JP2011031253A (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-17 | Eishin Kogyo Kk | 無鉛ハンダ合金 |
JP2011156558A (ja) * | 2010-01-30 | 2011-08-18 | Nihon Superior Co Ltd | 鉛フリーはんだ合金 |
KR101376856B1 (ko) | 2011-11-17 | 2014-03-21 | 삼성전기주식회사 | 무연 솔더 합금의 제조방법 |
JP2014044983A (ja) * | 2012-08-24 | 2014-03-13 | Tdk Corp | 端子構造、並びにこれを備える半導体素子及びモジュール基板 |
US9640500B2 (en) | 2012-08-24 | 2017-05-02 | Tdk Corporation | Terminal structure and semiconductor device |
WO2014109052A1 (ja) * | 2013-01-11 | 2014-07-17 | 千住金属工業株式会社 | Cuボール |
KR20180011749A (ko) * | 2015-05-26 | 2018-02-02 | 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 | 땜납 합금, 땜납 볼, 칩 솔더, 땜납 페이스트 및 납땜 조인트 |
US11465244B2 (en) | 2015-05-26 | 2022-10-11 | Senju Metal Industry Co., Ltd. | Solder alloy, solder ball, chip solder, solder paste and solder joint |
KR101939504B1 (ko) * | 2015-05-26 | 2019-01-16 | 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 | 땜납 합금 |
US10773345B2 (en) | 2016-03-08 | 2020-09-15 | Senju Metal Industry Co., Ltd. | Solder alloy, solder ball, chip solder, solder paste, and solder joint |
KR20180114953A (ko) * | 2016-03-08 | 2018-10-19 | 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 | 땜납 합금, 땜납 볼, 칩 솔더, 땜납 페이스트 및 납땜 조인트 |
KR101976343B1 (ko) * | 2016-03-08 | 2019-05-07 | 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 | 땜납 합금 |
CN112518127A (zh) * | 2018-04-04 | 2021-03-19 | 史国民 | 一种耐腐蚀低温焊接材料 |
CN112518167A (zh) * | 2018-04-04 | 2021-03-19 | 史国民 | 耐腐蚀低温焊接材料 |
CN108705222A (zh) * | 2018-04-04 | 2018-10-26 | 史国民 | 一种耐腐蚀低温焊接材料及其制备方法 |
CN112518127B (zh) * | 2018-04-04 | 2022-11-08 | 山东世商焊材有限公司 | 一种耐腐蚀低温焊接材料 |
JP2019202341A (ja) * | 2018-05-25 | 2019-11-28 | 千住金属工業株式会社 | ハンダボール、ハンダ継手および接合方法 |
EP3572183A1 (en) * | 2018-05-25 | 2019-11-27 | Senju Metal Industry Co., Ltd | Solder ball, solder joint, and joining method |
US10780530B2 (en) | 2018-05-25 | 2020-09-22 | Senju Metal Industry Co., Ltd. | Solder ball, solder joint, and joining method |
JP6439893B1 (ja) * | 2018-05-25 | 2018-12-19 | 千住金属工業株式会社 | ハンダボール、ハンダ継手および接合方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002248596A (ja) | 耐酸化性に優れる鉛レス半田ボール | |
EP1357197B1 (en) | Minute copper balls and a method for their manufacture | |
WO2000001506A1 (fr) | Poudre de soudage et procede de preparation correspondant ainsi que pate de soudage | |
JP5643972B2 (ja) | 金属フィラー、低温接続鉛フリーはんだ、及び接続構造体 | |
JP4665071B1 (ja) | 錫またははんだプリコート皮膜の形成方法及びその装置 | |
JP5453385B2 (ja) | ソルダペースト | |
JP3991788B2 (ja) | はんだおよびそれを用いた実装品 | |
JPH1133776A (ja) | 半田材料及びそれを用いた電子部品 | |
CN115397605B (zh) | 无铅且无锑的软钎料合金、焊料球和钎焊接头 | |
EP1410871B1 (en) | Lead-free solder ball | |
JP5147349B2 (ja) | バンプ形成用ペースト、及びバンプ構造体 | |
JP2001267730A (ja) | 半田ボール | |
JP2005046882A (ja) | はんだ合金、はんだボール及びはんだ接合体 | |
US20060021466A1 (en) | Mixed alloy lead-free solder paste | |
JP4112946B2 (ja) | 非鉛系接合材、ソルダーペースト及び接合方法 | |
JP4432041B2 (ja) | はんだ合金およびはんだボール | |
JP2016059943A (ja) | ボール状Au−Ge−Sn系はんだ合金及び該はんだ合金を用いた電子部品 | |
JP2001203444A (ja) | 非鉛系接合材料の均一ボール製造法 | |
WO2012060022A1 (ja) | 鍚またははんだ皮膜の形成方法及びその装置 | |
JP2001001180A (ja) | 半田材料及びそれを用いた電子部品 | |
JP2017177122A (ja) | 高温Pbフリーはんだペースト及びその製造方法 | |
JP3779692B2 (ja) | 錫亜鉛ソルダーボールの製造方法 | |
JP2005296983A (ja) | はんだ合金およびはんだボール | |
EP3923686B1 (en) | Method for forming bump electrode substrate | |
JP2004031771A (ja) | はんだ接合体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071213 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100422 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100511 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100914 |