JP2002171768A - 電力変換装置 - Google Patents
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
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- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
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- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
- H01L2924/13055—Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 同一の回路電圧でも半導体素子に対する所要
耐圧を低減することのできる電力変換装置を提供する。 【解決手段】 4個の半導体スイッチング素子が直列接
続され、両端を直流電圧端子とし、中間の接続点を交流
電圧端子とするスイッチ直列回路と、2組のコンデンサ
が直列接続され、相互接続点を中性点とし、両端がスイ
ッチ直列回路の両端に接続されたコンデンサ直列回路
と、2個のダイオードが直列接続され、相互接続点が中
性点に接続され、一端がスイッチ直列回路の一端部の2
個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続され、
他端がスイッチ直列回路の他端部の2個の半導体スイッ
チング素子の相互接続点に接続されたダイオード直列回
路とを備え、半導体スイッチング素子及びダイオードの
少なくとも一方が絶縁基板を介して導電性基板に装着さ
れた絶縁モジュール形電力半導体素子として組み込まれ
る電力変換装置において、絶縁モジュール形電力半導体
素子を導電性のヒートシンクに装着し、導電性のヒート
シンクを中性点に接続する。
耐圧を低減することのできる電力変換装置を提供する。 【解決手段】 4個の半導体スイッチング素子が直列接
続され、両端を直流電圧端子とし、中間の接続点を交流
電圧端子とするスイッチ直列回路と、2組のコンデンサ
が直列接続され、相互接続点を中性点とし、両端がスイ
ッチ直列回路の両端に接続されたコンデンサ直列回路
と、2個のダイオードが直列接続され、相互接続点が中
性点に接続され、一端がスイッチ直列回路の一端部の2
個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続され、
他端がスイッチ直列回路の他端部の2個の半導体スイッ
チング素子の相互接続点に接続されたダイオード直列回
路とを備え、半導体スイッチング素子及びダイオードの
少なくとも一方が絶縁基板を介して導電性基板に装着さ
れた絶縁モジュール形電力半導体素子として組み込まれ
る電力変換装置において、絶縁モジュール形電力半導体
素子を導電性のヒートシンクに装着し、導電性のヒート
シンクを中性点に接続する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は直流電力を交流電力
に変換したり、交流電力を直流電力に変換したりする電
力変換装置に係り、特にこの電力変換装置を構成する絶
縁モジュール形電力半導体素子の実装に関する。
に変換したり、交流電力を直流電力に変換したりする電
力変換装置に係り、特にこの電力変換装置を構成する絶
縁モジュール形電力半導体素子の実装に関する。
【0002】
【従来の技術】絶縁モジュール形電力半導体素子の内部
構造の一例を図8に示す。これは、絶縁ゲート形トラン
ジスタ(以下、IGBTと略記する)の応用製品の一例
であり、IGBTでなる複数の半導体スイッチング素子
1を含む各種の素子がそれぞれ絶縁基板3を介してベー
ス2に装着されている。ベース2の外周部はケース4で
囲まれ、複数の素子の上面には制御IC32等を実装し
てなる制御基板31が装着されている。この制御基板3
1の表面に上ケース33が取り付けられている。ケース
4及び上ケース33の表面は略平坦をなし、このうち、
ケース4の表面に電力端子34が装着され、上ケース3
3の表面に信号端子35が装着されている。
構造の一例を図8に示す。これは、絶縁ゲート形トラン
ジスタ(以下、IGBTと略記する)の応用製品の一例
であり、IGBTでなる複数の半導体スイッチング素子
1を含む各種の素子がそれぞれ絶縁基板3を介してベー
ス2に装着されている。ベース2の外周部はケース4で
囲まれ、複数の素子の上面には制御IC32等を実装し
てなる制御基板31が装着されている。この制御基板3
1の表面に上ケース33が取り付けられている。ケース
4及び上ケース33の表面は略平坦をなし、このうち、
ケース4の表面に電力端子34が装着され、上ケース3
3の表面に信号端子35が装着されている。
【0003】ここで、ベース2は半導体スイッチング素
子1の熱を後述するヒートシンクに伝える機能を有し、
絶縁基板3は半導体スイッチング素子1とベース2とを
絶縁するものである。一般的にベース2としては銅等の
導電性の部材が使用される。
子1の熱を後述するヒートシンクに伝える機能を有し、
絶縁基板3は半導体スイッチング素子1とベース2とを
絶縁するものである。一般的にベース2としては銅等の
導電性の部材が使用される。
【0004】図9は図8に示した絶縁モジュール形電力
半導体素子のX−X矢視断面のうち、特に本発明に関連
する半導体スイッチング素子1を強調して表現した縦断
面図であり、半導体スイッチング素子1の熱を外部に放
散させるために、ベース2の外表面にアルミニウム又は
銅でなるヒートシンク5が密着されている。なお、半導
体スイッチング素子1、ベース2、絶縁基板3を接着す
るハンダ、及び、絶縁基板3とヒートシンク5とのなじ
みを良くして冷却効果を改善するコンパウンド剤などは
図示を省略している。また、一般的にベース2はヒート
シンク5にねじ等で固定され、ベース2とヒートシンク
5とは同電位になっている。
半導体素子のX−X矢視断面のうち、特に本発明に関連
する半導体スイッチング素子1を強調して表現した縦断
面図であり、半導体スイッチング素子1の熱を外部に放
散させるために、ベース2の外表面にアルミニウム又は
銅でなるヒートシンク5が密着されている。なお、半導
体スイッチング素子1、ベース2、絶縁基板3を接着す
るハンダ、及び、絶縁基板3とヒートシンク5とのなじ
みを良くして冷却効果を改善するコンパウンド剤などは
図示を省略している。また、一般的にベース2はヒート
シンク5にねじ等で固定され、ベース2とヒートシンク
5とは同電位になっている。
【0005】図10は図9に示した半導体スイッチング
素子1を、説明の都合上、電気記号で示したもので、図
示したように絶縁基板3を縦にして見ると、例えばIG
BTのコレクタが上方に、エミッタが下方に、ゲートが
左側方に位置する状態で表される。図10に示した表示
方法を用いて3レベルインバータ回路の1相分の回路を
表現すると図11のようになる。通常は、図11に示し
た要素を複数個接続することによって単相又は三相のイ
ンバータ回路が構成される。
素子1を、説明の都合上、電気記号で示したもので、図
示したように絶縁基板3を縦にして見ると、例えばIG
BTのコレクタが上方に、エミッタが下方に、ゲートが
左側方に位置する状態で表される。図10に示した表示
方法を用いて3レベルインバータ回路の1相分の回路を
表現すると図11のようになる。通常は、図11に示し
た要素を複数個接続することによって単相又は三相のイ
ンバータ回路が構成される。
【0006】ここで、IGBTなどの半導体スイッチン
グ素子1a,1b,1c,1dが直列接続されてスイッ
チ直列回路を形成し、このスイッチ直列回路の一端が正
極側の直流電圧端子Pを形成し、その他端が負極側の直
流電圧端子Nを形成し、半導体スイッチング素子1bと
1cとの相互接続点が交流電圧端子ACを形成してい
る。また、正極側の二つの半導体スイッチング素子1a
と1bの相互接続点と,負極側の二つの半導体スイッチ
ング素子1cと1dの相互接続点との間に、クランプ用
のダイオード6及び7を直列接続してなるダイオード直
列が接続されている。さらに、波形整形及び分圧用の二
つのコンデンサ8及び9が直列に接続され、その直列接
続回路の一端が正極側の直流電圧端子Pに接続され、他
端が負極側の直流電圧端子Nに接続されている。そし
て、コンデンサ8及び9の相互接続点とダイオード6及
び7の相互接続点とが中性点Cを形成している。
グ素子1a,1b,1c,1dが直列接続されてスイッ
チ直列回路を形成し、このスイッチ直列回路の一端が正
極側の直流電圧端子Pを形成し、その他端が負極側の直
流電圧端子Nを形成し、半導体スイッチング素子1bと
1cとの相互接続点が交流電圧端子ACを形成してい
る。また、正極側の二つの半導体スイッチング素子1a
と1bの相互接続点と,負極側の二つの半導体スイッチ
ング素子1cと1dの相互接続点との間に、クランプ用
のダイオード6及び7を直列接続してなるダイオード直
列が接続されている。さらに、波形整形及び分圧用の二
つのコンデンサ8及び9が直列に接続され、その直列接
続回路の一端が正極側の直流電圧端子Pに接続され、他
端が負極側の直流電圧端子Nに接続されている。そし
て、コンデンサ8及び9の相互接続点とダイオード6及
び7の相互接続点とが中性点Cを形成している。
【0007】なお、半導体スイッチング素子1a,1
b,1c,1dはそれぞれ単一のスイッチング素子であ
っても、あるいは、複数のスイッチング素子を直列又は
並列に接続したものであっても良い。また、コンデンサ
8及び9もそれぞれ単一のコンデンサであっても、ある
いは、複数のコンデンサを並列に接続したものであって
も良い。
b,1c,1dはそれぞれ単一のスイッチング素子であ
っても、あるいは、複数のスイッチング素子を直列又は
並列に接続したものであっても良い。また、コンデンサ
8及び9もそれぞれ単一のコンデンサであっても、ある
いは、複数のコンデンサを並列に接続したものであって
も良い。
【0008】一方、半導体スイッチング素子1a,1
b,1c,1dはそれぞれ個別の絶縁基板3a,3b,
3c,3dを介してベース2a,2b,2c,2d上に
装着され、これらが単一のヒートシンク5に取り付けら
れている。このうち、正極側の直流電圧端子Pと負極側
の直流電圧端子Nは図示を省略した直流電源に接続さ
れ、ヒートシンク5は接続線10によって接地された
り、3レベルインバータ回路を収納する筐体に接続され
たりする。さらに、半導体スイッチング素子1a,1
b,1c,1dの各ゲートには図示省略の制御回路の制
御信号が印加され、これによって、直流電圧端子P,N
間に供給された直流電力が交流に変換されて交流端子A
Cから出力される。
b,1c,1dはそれぞれ個別の絶縁基板3a,3b,
3c,3dを介してベース2a,2b,2c,2d上に
装着され、これらが単一のヒートシンク5に取り付けら
れている。このうち、正極側の直流電圧端子Pと負極側
の直流電圧端子Nは図示を省略した直流電源に接続さ
れ、ヒートシンク5は接続線10によって接地された
り、3レベルインバータ回路を収納する筐体に接続され
たりする。さらに、半導体スイッチング素子1a,1
b,1c,1dの各ゲートには図示省略の制御回路の制
御信号が印加され、これによって、直流電圧端子P,N
間に供給された直流電力が交流に変換されて交流端子A
Cから出力される。
【0009】なお、3レベルインバータ回路の全体的な
構成及び動作については、各種の文献に記載されて公知
であるのでこれらの説明を省略するが、ダイオード6,
7についてはこれを搭載するベースや絶縁基板を省略し
たが、半導体スイッチング素子1a,1b,1c,1d
と同様にヒートシンク5に実装されることが多い。
構成及び動作については、各種の文献に記載されて公知
であるのでこれらの説明を省略するが、ダイオード6,
7についてはこれを搭載するベースや絶縁基板を省略し
たが、半導体スイッチング素子1a,1b,1c,1d
と同様にヒートシンク5に実装されることが多い。
【0010】また、上述した例では、半導体スイッチン
グ素子としてIGBTを用いた場合を示したが、この代
わりにバイポーラトランジスタ、サイリスタ、ゲートタ
ーンオフサイリスタ等を用いることができ、これらの半
導体スイッチング素子を用いる場合も上述したと略同様
に構成することができる。
グ素子としてIGBTを用いた場合を示したが、この代
わりにバイポーラトランジスタ、サイリスタ、ゲートタ
ーンオフサイリスタ等を用いることができ、これらの半
導体スイッチング素子を用いる場合も上述したと略同様
に構成することができる。
【0011】さらに、上述したものは直流電力を交流電
力に変換するインバータ回路を示しているが、交流電力
を直流電力に変換するコンバータ回路においても上述し
たと略同様に構成することができる。
力に変換するインバータ回路を示しているが、交流電力
を直流電力に変換するコンバータ回路においても上述し
たと略同様に構成することができる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】図11に示したインバ
ータ回路においては、半導体スイッチング素子1a,1
b,1c,1dと、電気的に接続されたベース2a,2
b,2c,2d及びヒートシンク5との間に絶縁基板3
a,3b,3c,3dを介在させただけであるため、3
レベルインバータ回路の回路電圧、すなわち、直流電圧
端子P−N間の電圧が高くなると、これに応じて絶縁基
板3a,3b,3c,3dの絶縁耐圧を高くする必要が
ある。
ータ回路においては、半導体スイッチング素子1a,1
b,1c,1dと、電気的に接続されたベース2a,2
b,2c,2d及びヒートシンク5との間に絶縁基板3
a,3b,3c,3dを介在させただけであるため、3
レベルインバータ回路の回路電圧、すなわち、直流電圧
端子P−N間の電圧が高くなると、これに応じて絶縁基
板3a,3b,3c,3dの絶縁耐圧を高くする必要が
ある。
【0013】例えば、3レベルインバータ回路の回路電
圧が6kVの場合、JEC(電気学会規格調査会標準規
格)−2410によれば、装置の所要耐圧は4+1.8
×6/21/2=11.6kVとなり、この電圧以上の絶
縁耐圧を持った絶縁基板3a,3b,3c,3dが必要
になり、そのために絶縁基板3a,3b,3c,3dの
物理的な厚みを大きくしなければならない。
圧が6kVの場合、JEC(電気学会規格調査会標準規
格)−2410によれば、装置の所要耐圧は4+1.8
×6/21/2=11.6kVとなり、この電圧以上の絶
縁耐圧を持った絶縁基板3a,3b,3c,3dが必要
になり、そのために絶縁基板3a,3b,3c,3dの
物理的な厚みを大きくしなければならない。
【0014】ところが、絶縁基板3a,3b,3c,3
dを厚くすると熱抵抗が大きくなり半導体スイッチング
素子1a,1b,1c,1dから発生した熱がヒートシ
ンク5に伝わり難くなって、半導体スイッチング素子1
a,1b,1c,1dの温度が上昇し、その能力を十分
に発揮できなくなってしまう。また、この温度上昇によ
って、装置の信頼性が低下する場合もあった。
dを厚くすると熱抵抗が大きくなり半導体スイッチング
素子1a,1b,1c,1dから発生した熱がヒートシ
ンク5に伝わり難くなって、半導体スイッチング素子1
a,1b,1c,1dの温度が上昇し、その能力を十分
に発揮できなくなってしまう。また、この温度上昇によ
って、装置の信頼性が低下する場合もあった。
【0015】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、同一の回路電圧でも半導体素子に対する
所要耐圧を低減することのできる電力変換装置を提供す
ることを目的とする。
されたもので、同一の回路電圧でも半導体素子に対する
所要耐圧を低減することのできる電力変換装置を提供す
ることを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
4個の半導体スイッチング素子が直列接続され、両端を
直流電圧端子とし、中間の接続点を交流電圧端子とする
スイッチ直列回路と、2組のコンデンサが直列接続さ
れ、相互接続点を中性点とし、両端がスイッチ直列回路
の両端に接続されたコンデンサ直列回路と、2個のダイ
オードが直列接続され、相互接続点が中性点に接続さ
れ、一端がスイッチ直列回路の一端部の2個の半導体ス
イッチング素子の相互接続点に接続され、他端がスイッ
チ直列回路の他端部の2個の半導体スイッチング素子の
相互接続点に接続されたダイオード直列回路とを備え、
半導体スイッチング素子及びダイオードの少なくとも一
方が絶縁基板を介して導電性基板に装着された絶縁モジ
ュール形電力半導体素子として組み込まれる電力変換装
置において、絶縁モジュール形電力半導体素子を導電性
のヒートシンクに装着し、導電性のヒートシンクを中性
点に接続したことを特徴とするものである。
4個の半導体スイッチング素子が直列接続され、両端を
直流電圧端子とし、中間の接続点を交流電圧端子とする
スイッチ直列回路と、2組のコンデンサが直列接続さ
れ、相互接続点を中性点とし、両端がスイッチ直列回路
の両端に接続されたコンデンサ直列回路と、2個のダイ
オードが直列接続され、相互接続点が中性点に接続さ
れ、一端がスイッチ直列回路の一端部の2個の半導体ス
イッチング素子の相互接続点に接続され、他端がスイッ
チ直列回路の他端部の2個の半導体スイッチング素子の
相互接続点に接続されたダイオード直列回路とを備え、
半導体スイッチング素子及びダイオードの少なくとも一
方が絶縁基板を介して導電性基板に装着された絶縁モジ
ュール形電力半導体素子として組み込まれる電力変換装
置において、絶縁モジュール形電力半導体素子を導電性
のヒートシンクに装着し、導電性のヒートシンクを中性
点に接続したことを特徴とするものである。
【0017】請求項2に係る発明は、4個の半導体スイ
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を導電性のヒートシンクに装
着し、導電性のヒートシンクを正極側又は負極側のいず
れか一方の直流電圧端子に接続したことを特徴とするも
のである。
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を導電性のヒートシンクに装
着し、導電性のヒートシンクを正極側又は負極側のいず
れか一方の直流電圧端子に接続したことを特徴とするも
のである。
【0018】請求項3に係る発明は、4個の半導体スイ
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を、正極側と負極側とに2分
割された導電性のヒートシンクに装着し、正極側のヒー
トシンクに正極側の直流電圧端子を接続し、負極側のヒ
ートシンクに負極側の直流電圧端子を接続したことを特
徴とするものである。
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を、正極側と負極側とに2分
割された導電性のヒートシンクに装着し、正極側のヒー
トシンクに正極側の直流電圧端子を接続し、負極側のヒ
ートシンクに負極側の直流電圧端子を接続したことを特
徴とするものである。
【0019】請求項4に係る発明は、4個の半導体スイ
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を導電性のヒートシンクに装
着し、導電性のヒートシンクを交流電圧端子に接続した
ことを特徴とするものである。
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を導電性のヒートシンクに装
着し、導電性のヒートシンクを交流電圧端子に接続した
ことを特徴とするものである。
【0020】請求項5に係る発明は、4個の半導体スイ
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を相互に分割された導電性の
ヒートシンクに装着し、ヒートシンクとこれに装着され
た絶縁モジュール形電力半導体素子の一端とを接続した
ことを特徴とするものである。
ッチング素子が直列接続され、両端を直流電圧端子と
し、中間の接続点を交流電圧端子とするスイッチ直列回
路と、2組のコンデンサが直列接続され、相互接続点を
中性点とし、両端がスイッチ直列回路の両端に接続され
たコンデンサ直列回路と、2個のダイオードが直列接続
され、相互接続点が中性点に接続され、一端がスイッチ
直列回路の一端部の2個の半導体スイッチング素子の相
互接続点に接続され、他端がスイッチ直列回路の他端部
の2個の半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、半導体スイッチング
素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を介し
て導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半導体
素子として組み込まれる電力変換装置において、絶縁モ
ジュール形電力半導体素子を相互に分割された導電性の
ヒートシンクに装着し、ヒートシンクとこれに装着され
た絶縁モジュール形電力半導体素子の一端とを接続した
ことを特徴とするものである。
【0021】請求項6に係る発明は、請求項1乃至5の
いずれか1項に記載の電力変換装置において、ヒートシ
ンクを他に接続する経路に、インピーダンス素子を接続
したことを特徴とするものである。
いずれか1項に記載の電力変換装置において、ヒートシ
ンクを他に接続する経路に、インピーダンス素子を接続
したことを特徴とするものである。
【0022】請求項7に係る発明は、請求項1乃至5の
いずれか1項に記載の電力変換装置において、ヒートシ
ンクを他に接続する経路に、ヒューズを接続したことを
特徴とするものである。
いずれか1項に記載の電力変換装置において、ヒートシ
ンクを他に接続する経路に、ヒューズを接続したことを
特徴とするものである。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に示す好適な
実施形態に基づいて詳細に説明する。図1は本発明に係
る電力変換装置の第1の実施形態の構成を、主要素の冷
却系と併せて示した回路図であり、図中、図11と同一
の要素には同一の符号を付してその説明を省略する。従
来の電力変換装置においては、ヒートシンク5を接地し
ていたが、ここに示した第1の実施形態では接続線11
によってヒートシンク5を中性点Cに接続した点が構成
上異なるだけで、これ以外の構成は図11に示した従来
装置と同一である。
実施形態に基づいて詳細に説明する。図1は本発明に係
る電力変換装置の第1の実施形態の構成を、主要素の冷
却系と併せて示した回路図であり、図中、図11と同一
の要素には同一の符号を付してその説明を省略する。従
来の電力変換装置においては、ヒートシンク5を接地し
ていたが、ここに示した第1の実施形態では接続線11
によってヒートシンク5を中性点Cに接続した点が構成
上異なるだけで、これ以外の構成は図11に示した従来
装置と同一である。
【0024】以下、従来装置と構成を異にする部分を中
心にしてその動作を説明する。先ず、絶縁基板3a,3
b,3c,3dに印加される電圧の最大値は、正極側の
直流電圧端子Pと中性点Cとの間の電圧Epと、中性点
Cと負極側の直流電圧端子Nとの間の電圧Enのうち、
絶対値の大きい一方の電圧となる。Ep=En=3kV
の場合、絶縁基板3a,3b,3c,3dは3kVの耐
圧があれば良く、上述のようにJEC−2410の規定
に基づく所要電圧11.6kVと比較して約1/4の所
要電圧となる。このことは、ダイオード7及び8を絶縁
モジュール形素子とした場合の所要電圧も、約1/4と
なる。
心にしてその動作を説明する。先ず、絶縁基板3a,3
b,3c,3dに印加される電圧の最大値は、正極側の
直流電圧端子Pと中性点Cとの間の電圧Epと、中性点
Cと負極側の直流電圧端子Nとの間の電圧Enのうち、
絶対値の大きい一方の電圧となる。Ep=En=3kV
の場合、絶縁基板3a,3b,3c,3dは3kVの耐
圧があれば良く、上述のようにJEC−2410の規定
に基づく所要電圧11.6kVと比較して約1/4の所
要電圧となる。このことは、ダイオード7及び8を絶縁
モジュール形素子とした場合の所要電圧も、約1/4と
なる。
【0025】かくして、第1の実施形態によれば、同一
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を低減する
ことができる。
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を低減する
ことができる。
【0026】図2は本発明に係る電力変換装置の第2の
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は接続線12に
よってヒートシンク5を負極側の直流電圧端子Nに接続
した構成になっている。
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は接続線12に
よってヒートシンク5を負極側の直流電圧端子Nに接続
した構成になっている。
【0027】この構成によれば、絶縁基板3a,3b,
3c,3dに印加される電圧の最大値は、正極側の直流
電圧端子Pと中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと
負極側の直流電圧端子Nとの間の電圧Enとの和電圧、
すなわち、Ep+Enとなり、3レベルインバータ回路
の回路電圧が6kVの場合、JEC−2410の規定に
基づく所要電圧11.6kVと比較して約1/2の所要
電圧となる。このことは、ダイオード7及び8を絶縁モ
ジュール形素子とした場合の所要電圧も、約1/2とな
る。
3c,3dに印加される電圧の最大値は、正極側の直流
電圧端子Pと中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと
負極側の直流電圧端子Nとの間の電圧Enとの和電圧、
すなわち、Ep+Enとなり、3レベルインバータ回路
の回路電圧が6kVの場合、JEC−2410の規定に
基づく所要電圧11.6kVと比較して約1/2の所要
電圧となる。このことは、ダイオード7及び8を絶縁モ
ジュール形素子とした場合の所要電圧も、約1/2とな
る。
【0028】かくして、第2の実施形態によれば、同一
の回路電圧でも半導体素子素子に対する所要耐圧を低減
することができる。
の回路電圧でも半導体素子素子に対する所要耐圧を低減
することができる。
【0029】図3は本発明に係る電力変換装置の第3の
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図1に示した
ヒートシンク5を、直流電圧の正極側の半導体スイッチ
ング素子1a及び1bが装着されるヒートシンク5p
と、直流電圧の負極側の半導体スイッチング素子1c及
び1dが装着されるヒートシンク5nとに分割し、接続
線13によってヒートシンク5pを正極側の直流電圧端
子Pに接続すると共に、接続線14によってヒートシン
ク5nを負極側の直流電圧端子Nに接続した構成になっ
ている。
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図1に示した
ヒートシンク5を、直流電圧の正極側の半導体スイッチ
ング素子1a及び1bが装着されるヒートシンク5p
と、直流電圧の負極側の半導体スイッチング素子1c及
び1dが装着されるヒートシンク5nとに分割し、接続
線13によってヒートシンク5pを正極側の直流電圧端
子Pに接続すると共に、接続線14によってヒートシン
ク5nを負極側の直流電圧端子Nに接続した構成になっ
ている。
【0030】この構成によれば、絶縁基板3a〜3dに
印加される電圧の最大値は、正極側の直流電圧端子Pと
中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと負極側の直流
電圧端子Nとの間の電圧Enとの和電圧、すなわち、E
p+Enとなり、3レベルインバータ回路の回路電圧が
6kVの場合、JEC−2410の規定に基づく所要電
圧11.6kVと比較して約1/2の所要電圧となる。
このことは、ダイオード7及び8を絶縁モジュール形素
子とした場合の所要電圧も、約1/2となる。
印加される電圧の最大値は、正極側の直流電圧端子Pと
中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと負極側の直流
電圧端子Nとの間の電圧Enとの和電圧、すなわち、E
p+Enとなり、3レベルインバータ回路の回路電圧が
6kVの場合、JEC−2410の規定に基づく所要電
圧11.6kVと比較して約1/2の所要電圧となる。
このことは、ダイオード7及び8を絶縁モジュール形素
子とした場合の所要電圧も、約1/2となる。
【0031】かくして、第3の実施形態によれば、同一
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を低減する
ことができる。
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を低減する
ことができる。
【0032】図4は本発明に係る電力変換装置の第4の
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は接続線15に
よってヒートシンク5を交流電圧端子ACに接続した構
成になっている。
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は接続線15に
よってヒートシンク5を交流電圧端子ACに接続した構
成になっている。
【0033】この構成によれば、絶縁基板3a〜3dに
印加される電圧の最大値は、正極側の直流電圧端子Pと
中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと負極側の直流
電圧端子Nとの間の電圧Enとの和電圧、すなわち、E
p+Enとなり、3レベルインバータ回路の回路電圧が
6kVの場合、JEC−2410の規定に基づく所要電
圧11.6kVと比較して約1/2の所要電圧となる。
このことは、ダイオード7及び8を絶縁モジュール形素
子とした場合の所要電圧も、約1/2となる。
印加される電圧の最大値は、正極側の直流電圧端子Pと
中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと負極側の直流
電圧端子Nとの間の電圧Enとの和電圧、すなわち、E
p+Enとなり、3レベルインバータ回路の回路電圧が
6kVの場合、JEC−2410の規定に基づく所要電
圧11.6kVと比較して約1/2の所要電圧となる。
このことは、ダイオード7及び8を絶縁モジュール形素
子とした場合の所要電圧も、約1/2となる。
【0034】かくして、第4の実施形態によれば、同一
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を低減する
ことができる。
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を低減する
ことができる。
【0035】図5は本発明に係る電力変換装置の第5の
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図1に示した
ヒートシンク5をそれぞれ半導体スイッチング素子1a
〜1dを含む絶縁モジュール形電力半導体素子に対応さ
せて4個のヒートシンク5a〜5dに分割し、接続線1
6によりヒートシンク5aを半導体スイッチング素子1
aの低圧側、例えば、IGBTのエミッタに接続し、同
様に、接続線17によってヒートシンク5bを半導体ス
イッチング素子1bの低圧側に、 接続線18によって
ヒートシンク5cを半導体スイッチング素子1cの低圧
側に、接続線19によってヒートシンク5dを半導体ス
イッチング素子1dの低圧側にそれぞれ接続した構成に
なっている。
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図1に示した
ヒートシンク5をそれぞれ半導体スイッチング素子1a
〜1dを含む絶縁モジュール形電力半導体素子に対応さ
せて4個のヒートシンク5a〜5dに分割し、接続線1
6によりヒートシンク5aを半導体スイッチング素子1
aの低圧側、例えば、IGBTのエミッタに接続し、同
様に、接続線17によってヒートシンク5bを半導体ス
イッチング素子1bの低圧側に、 接続線18によって
ヒートシンク5cを半導体スイッチング素子1cの低圧
側に、接続線19によってヒートシンク5dを半導体ス
イッチング素子1dの低圧側にそれぞれ接続した構成に
なっている。
【0036】この構成によれば、絶縁基板3a〜3dに
印加される電圧の最大値は、正極側の直流電圧端子Pと
中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと負極側の直流
電圧端子Nとの間の電圧Enのうち、絶対値の大きい一
方の電圧となる。例えば、Ep=En=3kVの場合、
絶縁基板3a〜3dは3kVの耐圧があれば良く、上述
のようにJEC−2410の規定に基づく所要電圧1
1.6kVと比較して約1/4の所要電圧となる。この
ことは、ダイオード7及び8を絶縁モジュール形素子と
した場合の所要電圧も、約1/4となる。
印加される電圧の最大値は、正極側の直流電圧端子Pと
中性点Cとの間の電圧Epと、中性点Cと負極側の直流
電圧端子Nとの間の電圧Enのうち、絶対値の大きい一
方の電圧となる。例えば、Ep=En=3kVの場合、
絶縁基板3a〜3dは3kVの耐圧があれば良く、上述
のようにJEC−2410の規定に基づく所要電圧1
1.6kVと比較して約1/4の所要電圧となる。この
ことは、ダイオード7及び8を絶縁モジュール形素子と
した場合の所要電圧も、約1/4となる。
【0037】かくして、第5の実施形態によれば、同一
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を大幅に低
減することができる。
の回路電圧でも半導体素子に対する所要耐圧を大幅に低
減することができる。
【0038】なお、図5に示した第5の実施形態では、
ヒートシンク5a〜5dを対応する半導体スイッチング
素子1a〜1dの低圧側に接続したが、ヒートシンク5
a〜5dを対応する半導体スイッチング素子1a〜1d
の高圧側に接続する構成であっても同様な効果が得られ
る。
ヒートシンク5a〜5dを対応する半導体スイッチング
素子1a〜1dの低圧側に接続したが、ヒートシンク5
a〜5dを対応する半導体スイッチング素子1a〜1d
の高圧側に接続する構成であっても同様な効果が得られ
る。
【0039】図6は本発明に係る電力変換装置の第6の
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図1に示した
第1の実施形態と同様に接続線11によってヒートシン
ク5を中性点Cに接続するが、その接続経路にインピー
ダンス素子20を接続した点が図1と構成上異なってい
る。ここで、インピーダンス素子20は、抵抗、リアク
トル、コンデンサのいずれか一つ又は二つ以上の組み合
わせ回路で構成されている。
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図1と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図1に示した
第1の実施形態と同様に接続線11によってヒートシン
ク5を中性点Cに接続するが、その接続経路にインピー
ダンス素子20を接続した点が図1と構成上異なってい
る。ここで、インピーダンス素子20は、抵抗、リアク
トル、コンデンサのいずれか一つ又は二つ以上の組み合
わせ回路で構成されている。
【0040】この構成によれば、図1に示した第1の実
施形態の効果に加えて、中性点Cのレベルを一定値、例
えば、アースレベルに保持することができ、所要電圧を
確定することができる。
施形態の効果に加えて、中性点Cのレベルを一定値、例
えば、アースレベルに保持することができ、所要電圧を
確定することができる。
【0041】なお、ヒートシンクを直流電圧端子P,N
や、中性点Cや、半導体スイッチング素子の一端に接続
する経路にインピーダンス素子を接続しても上述したと
同様な効果が得られる。
や、中性点Cや、半導体スイッチング素子の一端に接続
する経路にインピーダンス素子を接続しても上述したと
同様な効果が得られる。
【0042】図7は本発明に係る電力変換装置の第7の
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図6と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図6に示した
インピーダンス素子20の代わりにヒューズ21を接続
した点がず6と構成を異にしている。
実施形態の構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路
図であり、図中、図6と同一の要素には同一の符号を付
してその説明を省略する。この実施形態は図6に示した
インピーダンス素子20の代わりにヒューズ21を接続
した点がず6と構成を異にしている。
【0043】この構成によれば、図1に示した第1の実
施形態の効果に加えて、中性点Cのレベルを一定値、例
えば、アースレベルに保持することができ、所要電圧を
確定することができる。
施形態の効果に加えて、中性点Cのレベルを一定値、例
えば、アースレベルに保持することができ、所要電圧を
確定することができる。
【0044】なお、ヒートシンクを直流電圧端子P,N
や、中性点Cや、半導体スイッチング素子の一端に接続
する経路にヒューズを接続しても上述したと同様な効果
が得られる。
や、中性点Cや、半導体スイッチング素子の一端に接続
する経路にヒューズを接続しても上述したと同様な効果
が得られる。
【0045】
【発明の効果】以上の説明によって明らかなように、本
発明によれば、同一の回路電圧でも半導体素子に対する
所要耐圧を低減することのできる電力変換装置を提供す
ることができる。
発明によれば、同一の回路電圧でも半導体素子に対する
所要耐圧を低減することのできる電力変換装置を提供す
ることができる。
【図1】本発明に係る電力変換装置の第1の実施形態の
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
【図2】本発明に係る電力変換装置の第2の実施形態の
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
【図3】本発明に係る電力変換装置の第3の実施形態の
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
【図4】本発明に係る電力変換装置の第4の実施形態の
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
【図5】本発明に係る電力変換装置の第5の実施形態の
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
【図6】本発明に係る電力変換装置の第6の実施形態の
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
【図7】本発明に係る電力変換装置の第7の実施形態の
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
構成を、主要素の冷却系と併せて示した回路図。
【図8】絶縁モジュール形電力変換素子の内部構造の一
例を、順次破断して示した斜視図。
例を、順次破断して示した斜視図。
【図9】図8に示した絶縁モジュール形電力変換素子の
主要な要素の取付構造を示す縦断面図。
主要な要素の取付構造を示す縦断面図。
【図10】図9に示した主要な要素のうち、半導体チッ
プを電気記号で示した略図。
プを電気記号で示した略図。
【図11】図10に示した略図を用いて、従来の電力変
換装置の構成を示した回路図。
換装置の構成を示した回路図。
1,1a,1b,1c,1d 半導体スイッチング素子 2,2a,2b,2c,2d ベース 3,3a,3b,3c,3d 絶縁基板 4 ケース 5,5a,5b,5c,5d ヒートシンク 6,7 ダイオード 8,9 コンデンサ 10〜19 接続線 20 インピーダンス素子 21 ヒューズ P,N 直流電圧端子 C 中性点 AC 交流電圧端子
Claims (7)
- 【請求項1】4個の半導体スイッチング素子が直列接続
され、両端を直流電圧端子とし、中間の接続点を交流電
圧端子とするスイッチ直列回路と、2組のコンデンサが
直列接続され、相互接続点を中性点とし、両端が前記ス
イッチ直列回路の両端に接続されたコンデンサ直列回路
と、2個のダイオードが直列接続され、相互接続点が前
記中性点に接続され、一端が前記スイッチ直列回路の一
端部の2個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点
に接続され、他端が前記スイッチ直列回路の他端部の2
個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、前記半導体スイッチ
ング素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を
介して導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半
導体素子として組み込まれる電力変換装置において、 前記絶縁モジュール形電力半導体素子を導電性のヒート
シンクに装着し、前記導電性のヒートシンクを前記中性
点に接続したことを特徴とする電力変換装置。 - 【請求項2】4個の半導体スイッチング素子が直列接続
され、両端を直流電圧端子とし、中間の接続点を交流電
圧端子とするスイッチ直列回路と、2組のコンデンサが
直列接続され、相互接続点を中性点とし、両端が前記ス
イッチ直列回路の両端に接続されたコンデンサ直列回路
と、2個のダイオードが直列接続され、相互接続点が前
記中性点に接続され、一端が前記スイッチ直列回路の一
端部の2個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点
に接続され、他端が前記スイッチ直列回路の他端部の2
個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、前記半導体スイッチ
ング素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を
介して導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半
導体素子として組み込まれる電力変換装置において、 前記絶縁モジュール形電力半導体素子を導電性のヒート
シンクに装着し、前記導電性のヒートシンクを正極側又
は負極側のいずれか一方の直流電圧端子に接続したこと
を特徴とする電力変換装置。 - 【請求項3】4個の半導体スイッチング素子が直列接続
され、両端を直流電圧端子とし、中間の接続点を交流電
圧端子とするスイッチ直列回路と、2組のコンデンサが
直列接続され、相互接続点を中性点とし、両端が前記ス
イッチ直列回路の両端に接続されたコンデンサ直列回路
と、2個のダイオードが直列接続され、相互接続点が前
記中性点に接続され、一端が前記スイッチ直列回路の一
端部の2個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点
に接続され、他端が前記スイッチ直列回路の他端部の2
個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、前記半導体スイッチ
ング素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を
介して導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半
導体素子として組み込まれる電力変換装置において、 前記絶縁モジュール形電力半導体素子を、正極側と負極
側とに2分割された導電性のヒートシンクに装着し、前
記正極側のヒートシンクに前記正極側の直流電圧端子を
接続し、前記負極側のヒートシンクに前記負極側の直流
電圧端子を接続したことを特徴とする電力変換装置。 - 【請求項4】4個の半導体スイッチング素子が直列接続
され、両端を直流電圧端子とし、中間の接続点を交流電
圧端子とするスイッチ直列回路と、2組のコンデンサが
直列接続され、相互接続点を中性点とし、両端が前記ス
イッチ直列回路の両端に接続されたコンデンサ直列回路
と、2個のダイオードが直列接続され、相互接続点が前
記中性点に接続され、一端が前記スイッチ直列回路の一
端部の2個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点
に接続され、他端が前記スイッチ直列回路の他端部の2
個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、前記半導体スイッチ
ング素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を
介して導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半
導体素子として組み込まれる電力変換装置において、 前記絶縁モジュール形電力半導体素子を導電性のヒート
シンクに装着し、前記導電性のヒートシンクを前記交流
電圧端子に接続したことを特徴とする電力変換装置。 - 【請求項5】4個の半導体スイッチング素子が直列接続
され、両端を直流電圧端子とし、中間の接続点を交流電
圧端子とするスイッチ直列回路と、2組のコンデンサが
直列接続され、相互接続点を中性点とし、両端が前記ス
イッチ直列回路の両端に接続されたコンデンサ直列回路
と、2個のダイオードが直列接続され、相互接続点が前
記中性点に接続され、一端が前記スイッチ直列回路の一
端部の2個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点
に接続され、他端が前記スイッチ直列回路の他端部の2
個の前記半導体スイッチング素子の相互接続点に接続さ
れたダイオード直列回路とを備え、前記半導体スイッチ
ング素子及びダイオードの少なくとも一方が絶縁基板を
介して導電性基板に装着された絶縁モジュール形電力半
導体素子として組み込まれる電力変換装置において、 前記絶縁モジュール形電力半導体素子を相互に分割され
た導電性のヒートシンクに装着し、前記ヒートシンクと
これに装着された前記絶縁モジュール形電力半導体素子
の一端とを接続したことを特徴とする電力変換装置。 - 【請求項6】前記ヒートシンクを他に接続する経路に、
インピーダンス素子を接続したことを特徴とする請求項
1乃至5のいずれか1項に記載の電力変換装置。 - 【請求項7】前記ヒートシンクを他に接続する経路に、
ヒューズを接続したことを特徴とする請求項1乃至5の
いずれか1項に記載の電力変換装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2000-11-29 JP JP2000362526A patent/JP2002171768A/ja active Pending
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