JP2001318001A - 色彩測定装置 - Google Patents
色彩測定装置Info
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- JP2001318001A JP2001318001A JP2000136807A JP2000136807A JP2001318001A JP 2001318001 A JP2001318001 A JP 2001318001A JP 2000136807 A JP2000136807 A JP 2000136807A JP 2000136807 A JP2000136807 A JP 2000136807A JP 2001318001 A JP2001318001 A JP 2001318001A
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- reflectance
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Abstract
(57)【要約】
【課題】照明光の種類が変わっても、安定した色差値が
得られる色彩測定装置を提供する。 【解決手段】測定物体１を基準サンプルとサンプルに置
き換えた時の分光強度と照明光の分光強度を、分光セン
サ４、５により電流信号１５、１６に変換し、測光回路
部６でＡ／Ｄ変換した後、演算制御部８で基準サンプル
及びサンプルの分光反射率Ｒ0（λ）、Ｒ1（λ）に変換
する。そして、波長毎に引き算をしサンプルの分光反射
率Ｒ1（λ）が基準サンプルの分光反射率Ｒ0（λ）より
マイナスとなる波長領域で、その差の絶対値の２倍を分
光反射率Ｒ1（λ）に加えて得られる補正分光反射率Ｒ2
（λ）を作成し、基準サンプルに対するサンプル及び補
正サンプルとの色差値を計算し、これを画面に表示する
と共に色差値が１より小さい場合のサンプルを合格品と
する。
得られる色彩測定装置を提供する。 【解決手段】測定物体１を基準サンプルとサンプルに置
き換えた時の分光強度と照明光の分光強度を、分光セン
サ４、５により電流信号１５、１６に変換し、測光回路
部６でＡ／Ｄ変換した後、演算制御部８で基準サンプル
及びサンプルの分光反射率Ｒ0（λ）、Ｒ1（λ）に変換
する。そして、波長毎に引き算をしサンプルの分光反射
率Ｒ1（λ）が基準サンプルの分光反射率Ｒ0（λ）より
マイナスとなる波長領域で、その差の絶対値の２倍を分
光反射率Ｒ1（λ）に加えて得られる補正分光反射率Ｒ2
（λ）を作成し、基準サンプルに対するサンプル及び補
正サンプルとの色差値を計算し、これを画面に表示する
と共に色差値が１より小さい場合のサンプルを合格品と
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗料、食品、紙、
繊維、医薬品、プラスチック、化粧品等の色彩を測定す
る色彩測定装置に関する。
繊維、医薬品、プラスチック、化粧品等の色彩を測定す
る色彩測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、基準サンプルの色彩からあるサン
プルの色彩がどれくらいずれているかを測定し、合否を
判定する装置として色彩測定装置が用いられている。こ
のような色彩測定装置として、例えば決められた照明光
下におけるサンプルの三刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを測定するた
めの光電検出部と、この三刺激値からＣＩＥＬＡＢの規
定（ＪＩＳ８７２２）により計算された測色値Ｌ*、
ａ*、ｂ*と、基準サンプルとの色差値△Ｅab *を演算す
る演算機能と、これら演算結果を図４のように表示する
表示部を備えたものが使用されている。そして、サンプ
ルの合否の判定は、予め決められている色差値△Ｅab *
の許容値を基準とし、その範囲内（例えば、１より小）
にあれば合格としている。
プルの色彩がどれくらいずれているかを測定し、合否を
判定する装置として色彩測定装置が用いられている。こ
のような色彩測定装置として、例えば決められた照明光
下におけるサンプルの三刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを測定するた
めの光電検出部と、この三刺激値からＣＩＥＬＡＢの規
定（ＪＩＳ８７２２）により計算された測色値Ｌ*、
ａ*、ｂ*と、基準サンプルとの色差値△Ｅab *を演算す
る演算機能と、これら演算結果を図４のように表示する
表示部を備えたものが使用されている。そして、サンプ
ルの合否の判定は、予め決められている色差値△Ｅab *
の許容値を基準とし、その範囲内（例えば、１より小）
にあれば合格としている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような色彩測定装
置を用いた検査方法では、基準サンプルとサンプルとの
前記色差値△Ｅab *が０またはほぼ０であっても、他の
照明光下で見るとサンプルが基準サンプルと違う色に見
える、いわゆる条件等色が発生し、色彩測定装置の検査
で合格しても他の照明光下では不良品として扱われると
いう問題がある。このような問題を防止する方法とし
て、他の照明光を使用した条件等色指数を用いて判定し
たり、いちいち他の照明光で観察して比べるなどの方法
も考えられるが、これによっても色差を精密に評価する
ことができず、また検査作業の工程を複雑にし、検査費
用が増大するという問題がある。
置を用いた検査方法では、基準サンプルとサンプルとの
前記色差値△Ｅab *が０またはほぼ０であっても、他の
照明光下で見るとサンプルが基準サンプルと違う色に見
える、いわゆる条件等色が発生し、色彩測定装置の検査
で合格しても他の照明光下では不良品として扱われると
いう問題がある。このような問題を防止する方法とし
て、他の照明光を使用した条件等色指数を用いて判定し
たり、いちいち他の照明光で観察して比べるなどの方法
も考えられるが、これによっても色差を精密に評価する
ことができず、また検査作業の工程を複雑にし、検査費
用が増大するという問題がある。
【０００４】このような照明光源によって色彩が不一致
となる場合の基準サンプルとサンプルの２つの分光反射
率（または分光透過率）をそれぞれ波長毎の反射率（ま
たは透過率）で結んだ分光曲線の間には、一般に図５に
示すように、その分光曲線の差が基本サンプルに対し
て、ある波長領域ではプラス値となり、ある波長領域で
はマイナス値となる関係が出た場合、色差値（△
Ｅab *）を計算すると、内部の計算過程で＋−が相殺さ
れ、実際には色差が大きくても計算結果の色差が０また
はほぼ０になることがある。一方、二つの分光曲線の差
を求めたとき、すべての波長範囲でプラス値のみかマイ
ナス値のみであるときは、従来からの色差計算による方
法で全く問題はない。本発明は、このような事情に鑑み
てなされたものであって、照明光源の違いに影響されず
に同じような色差値が得られる色彩測定装置を提供する
ことを目的とする。
となる場合の基準サンプルとサンプルの２つの分光反射
率（または分光透過率）をそれぞれ波長毎の反射率（ま
たは透過率）で結んだ分光曲線の間には、一般に図５に
示すように、その分光曲線の差が基本サンプルに対し
て、ある波長領域ではプラス値となり、ある波長領域で
はマイナス値となる関係が出た場合、色差値（△
Ｅab *）を計算すると、内部の計算過程で＋−が相殺さ
れ、実際には色差が大きくても計算結果の色差が０また
はほぼ０になることがある。一方、二つの分光曲線の差
を求めたとき、すべての波長範囲でプラス値のみかマイ
ナス値のみであるときは、従来からの色差計算による方
法で全く問題はない。本発明は、このような事情に鑑み
てなされたものであって、照明光源の違いに影響されず
に同じような色差値が得られる色彩測定装置を提供する
ことを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の色彩測定装置は、基準サンプル及びサンプ
ルからの反射光（または透過光）の分光分布を測定し
て、それぞれの分光反射率（または分光透過率）を計測
し、これらの分光反射率（または分光透過率）に基づい
て計算された色差値を表示して、その色差値の大きさか
らサンプルの合否を判定できるようにした色彩測定装置
において、前記サンプルの分光反射率（または分光透過
率）から基準サンプルの分光反射率（または分光透過
率）を波長毎に差し引いた分光反射率差（または分光透
過率差）が、波長領域によってプラス値とマイナス値が
混在する場合、そのいずれかの極性の一方を有する波長
領域において、その極性を反転した値の２倍分を前記サ
ンプルの分光反射率（または分光透過率）に加えてなる
補正分光反射率（または補正分光透過率）と、前記基準
サンプルの分光反射率（または分光透過率）から色差を
算出するための演算制御部とその色差値を表示する出力
表示部を備えたことを特徴とする。本発明の色彩測定装
置は、上記のように構成されており、基準サンプルとサ
ンプルの分光反射率（または分光透過率）の差の極性を
同一にした補正分光反射率（または補正分光透過率）と
前記基準分光反射率（または基準分光透過率）から色差
値を求めることにより、条件等色を無くし正確な色彩検
査を行うことができる。
め、本発明の色彩測定装置は、基準サンプル及びサンプ
ルからの反射光（または透過光）の分光分布を測定し
て、それぞれの分光反射率（または分光透過率）を計測
し、これらの分光反射率（または分光透過率）に基づい
て計算された色差値を表示して、その色差値の大きさか
らサンプルの合否を判定できるようにした色彩測定装置
において、前記サンプルの分光反射率（または分光透過
率）から基準サンプルの分光反射率（または分光透過
率）を波長毎に差し引いた分光反射率差（または分光透
過率差）が、波長領域によってプラス値とマイナス値が
混在する場合、そのいずれかの極性の一方を有する波長
領域において、その極性を反転した値の２倍分を前記サ
ンプルの分光反射率（または分光透過率）に加えてなる
補正分光反射率（または補正分光透過率）と、前記基準
サンプルの分光反射率（または分光透過率）から色差を
算出するための演算制御部とその色差値を表示する出力
表示部を備えたことを特徴とする。本発明の色彩測定装
置は、上記のように構成されており、基準サンプルとサ
ンプルの分光反射率（または分光透過率）の差の極性を
同一にした補正分光反射率（または補正分光透過率）と
前記基準分光反射率（または基準分光透過率）から色差
値を求めることにより、条件等色を無くし正確な色彩検
査を行うことができる。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。図１は、本発明の一実施例のブロック
図である。図１において、４、５はそれぞれバンドパス
フィルタアレイ４１、５１及びフォトダイオードアレイ
４２、５２により、入射光を分光して波長毎の光強度に
比例した光電流に変換する分光センサである。
づいて説明する。図１は、本発明の一実施例のブロック
図である。図１において、４、５はそれぞれバンドパス
フィルタアレイ４１、５１及びフォトダイオードアレイ
４２、５２により、入射光を分光して波長毎の光強度に
比例した光電流に変換する分光センサである。
【０００７】照明回路３に接続されたキセノンランプの
光源２から発せられる照明光は、その１部を光源２の分
光分布を測定するために、分光センサ５に入射すると共
に、残りの１部を測定物体１に照射する。測定物体１か
らの反射光が、分光センサ４に入射すると、波長毎の光
強度に比例した光電流が、フォトダイオードアレイ４２
から出力される。また、分光センサ５に入射した照明光
の波長毎の光強度に比例した光電流が、フォトダイオー
ドアレイ５２から出力される。
光源２から発せられる照明光は、その１部を光源２の分
光分布を測定するために、分光センサ５に入射すると共
に、残りの１部を測定物体１に照射する。測定物体１か
らの反射光が、分光センサ４に入射すると、波長毎の光
強度に比例した光電流が、フォトダイオードアレイ４２
から出力される。また、分光センサ５に入射した照明光
の波長毎の光強度に比例した光電流が、フォトダイオー
ドアレイ５２から出力される。
【０００８】前記フォトダイオードアレイ４２、５２か
らの光電流は、測光回路部６でＡ／Ｄ変換され、入出力
ポート７を通して、演算制御部８へ入力される。照明光
の光強度は入出力ポート７を介して演算制御部８によっ
て一定に制御される。この演算制御部８は、装置全体の
制御と色差値の演算を行う中央処理装置（ＣＰＵ）９
と、測定を実行するためのプログラムや測色値計算に必
要な等色関数値ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ（λ）を記憶し
ておくＲＯＭ（ｒｅａｄ ｏｎｌｙ ｍｅｍｏｒｙ）１
０と、演算データや装置の状態等を記憶しておくＲＡＭ
（ｒａｍｄｏｍ ａｃｃｅｓｓ ｍｅｍｏｒｙ）１１か
ら構成され、液晶、ＣＲＴのディスプレイやプリンタ等
の表示印字部１３を制御する出力制御部１２と、基準サ
ンプル測定用キーやサンプル測定用キーを設けたキーボ
ード１４が接続されている。
らの光電流は、測光回路部６でＡ／Ｄ変換され、入出力
ポート７を通して、演算制御部８へ入力される。照明光
の光強度は入出力ポート７を介して演算制御部８によっ
て一定に制御される。この演算制御部８は、装置全体の
制御と色差値の演算を行う中央処理装置（ＣＰＵ）９
と、測定を実行するためのプログラムや測色値計算に必
要な等色関数値ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ（λ）を記憶し
ておくＲＯＭ（ｒｅａｄ ｏｎｌｙ ｍｅｍｏｒｙ）１
０と、演算データや装置の状態等を記憶しておくＲＡＭ
（ｒａｍｄｏｍ ａｃｃｅｓｓ ｍｅｍｏｒｙ）１１か
ら構成され、液晶、ＣＲＴのディスプレイやプリンタ等
の表示印字部１３を制御する出力制御部１２と、基準サ
ンプル測定用キーやサンプル測定用キーを設けたキーボ
ード１４が接続されている。
【０００９】次に、本装置の測定手順とその動作を図１
の構成図及び図２のフローチャートに基づいて説明す
る。測定物体１を基準サンプルとし、キーボード１４に
設けられた基準サンプル測定用キーを押すと、基準サン
プルは光源２により照光され、その反射光は分光センサ
４のバンドパスフィルタアレイ４１により分光されると
共に、フォトダイオードアレイ４２により波長毎の電流
信号１５に変換される。また、光源２の照光の１部は分
光センサ５のバンドパスフィルタアレイ５１により分光
されると共に、フォトダイオードアレイ５２により波長
毎の電流信号１６に変換される。前記電流信号１５及び
電流信号１６は、測光回路部６でＡ／Ｄ変換され入出力
ポート７を介して演算制御部８に取り込まれる。そし
て、演算制御部８において、前記電流信号１５及び電流
信号１６は、一定間隔毎の波長λに対する基準サンプル
からの反射光の分光反射率Ｒ0（λ）と照明光の分光分
布Ｐ0（λ）に変換され、ＲＡＭ１１に格納される（Ｓ
１）。
の構成図及び図２のフローチャートに基づいて説明す
る。測定物体１を基準サンプルとし、キーボード１４に
設けられた基準サンプル測定用キーを押すと、基準サン
プルは光源２により照光され、その反射光は分光センサ
４のバンドパスフィルタアレイ４１により分光されると
共に、フォトダイオードアレイ４２により波長毎の電流
信号１５に変換される。また、光源２の照光の１部は分
光センサ５のバンドパスフィルタアレイ５１により分光
されると共に、フォトダイオードアレイ５２により波長
毎の電流信号１６に変換される。前記電流信号１５及び
電流信号１６は、測光回路部６でＡ／Ｄ変換され入出力
ポート７を介して演算制御部８に取り込まれる。そし
て、演算制御部８において、前記電流信号１５及び電流
信号１６は、一定間隔毎の波長λに対する基準サンプル
からの反射光の分光反射率Ｒ0（λ）と照明光の分光分
布Ｐ0（λ）に変換され、ＲＡＭ１１に格納される（Ｓ
１）。
【００１０】次に、測定物体１をサンプルに変え、キー
ボード１４に設けられたサンプル測定用キーを押すと、
上記と同様の動作で、前記電流信号１５及び電流信号１
６は、サンプルからの反射光の分光反射率Ｒ1（λ）と
照明光の分光分布Ｐ1（λ）に変換され、ＲＡＭ１１に
格納される（Ｓ２）。
ボード１４に設けられたサンプル測定用キーを押すと、
上記と同様の動作で、前記電流信号１５及び電流信号１
６は、サンプルからの反射光の分光反射率Ｒ1（λ）と
照明光の分光分布Ｐ1（λ）に変換され、ＲＡＭ１１に
格納される（Ｓ２）。
【００１１】サンプルの分光反射率Ｒ1（λ）がＲＡＭ
１１に格納されると、演算制御部８は、前記分光反射率
Ｒ1（λ）より分光反射率Ｒ0（λ）を各波長ごとに引き
算をを行い、その差がマイナスとなる波長領域におい
て、その差の絶対値の２倍を前記分光反射率Ｒ1（λ）
に加算してなる補正分光反射率Ｒ2（λ）を計算して、
これをＲＡＭ１１に格納する（Ｓ３）。
１１に格納されると、演算制御部８は、前記分光反射率
Ｒ1（λ）より分光反射率Ｒ0（λ）を各波長ごとに引き
算をを行い、その差がマイナスとなる波長領域におい
て、その差の絶対値の２倍を前記分光反射率Ｒ1（λ）
に加算してなる補正分光反射率Ｒ2（λ）を計算して、
これをＲＡＭ１１に格納する（Ｓ３）。
【００１２】補正分光反射率Ｒ2（λ）がＲＡＭ１１に
格納されると、演算制御器８は、上記で求めた基準サン
プルの分光反射率曲線Ｒ0（λ）、サンプルの分光反射
率Ｒ1（λ）、サンプルの補正分光反射率Ｒ2（λ）及び
照明光の分光分布Ｐ（λ）を用い、（１）、（２）、
（３）式による演算を行い、それぞれの三刺激値
（Ｘ0、Ｙ0、Ｚ0）、（Ｘ1、Ｙ1、Ｚ1）、（Ｘ2、Ｙ2、
Ｚ2）を算出する。ただし、ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ
（λ）はＸＹＺ表示系の等色関数であり、ｉ＝０、１、
２とする。 Ｘi＝ΣＰ（λ）Ｒi（λ）ｘ（λ）／ΣＰ（λ）ｙ（λ）…（１） Ｙi＝ΣＰ（λ）Ｒi（λ）ｙ（λ）／ΣＰ（λ）ｙ（λ）…（２） Ｚi＝ΣＰ（λ）Ｒi（λ）ｚ（λ）／ΣＰ（λ）ｙ（λ）…（３） さらに、（４）、（５）、（６）式による演算を行い、
それぞれの測色値（Ｌ 0 *、ａ0 *、ｂ0 *）、（Ｌ1 *、
ａ1 *、ｂ1 *）、（Ｌ2 *、ａ2 *、ｂ2 *）を算出する。ただ
し、Ｘｎ＝９５．０４、Ｙｎ＝１００．００、Ｚｎ＝１
０８．８９、ｉ＝０、１、２とする。 Ｌi *＝１１６(Ｙi／Ｙn)1/3−１６…（４） ａi *＝５００{(Ｘi／Ｘn)1/3−(Ｙi／Ｙn)1/3}…（５） ｂi *＝２００{(Ｙi／Ｙn)1/3−(Ｚi／Ｚn)1/3}…（６） さらに、（７）、（８）式による演算を行い、基準サン
プルとサンプル間の色差値△Ｅab *、基準サンプルと補
正サンプル間の色差値｜△Ｅab *｜を算出する。 △Ｅab *＝{(Ｌ1 *−Ｌ0 *)2−(ａ1 *−ａ0 *)2−(ｂ1 *−ｂ0 *)2}0.5…（７） ｜△Ｅab *｜＝{(Ｌ2 *−Ｌ0 *)2−(ａ2 *−ａ0 *)2−(ｂ2 *−ｂ0 *)2}0.5…（８） 上記のＬi *、ａi *、ｂi *、△Ｅab *、｜△Ｅab *｜をＲＡ
Ｍ１１に格納する（Ｓ４）。
格納されると、演算制御器８は、上記で求めた基準サン
プルの分光反射率曲線Ｒ0（λ）、サンプルの分光反射
率Ｒ1（λ）、サンプルの補正分光反射率Ｒ2（λ）及び
照明光の分光分布Ｐ（λ）を用い、（１）、（２）、
（３）式による演算を行い、それぞれの三刺激値
（Ｘ0、Ｙ0、Ｚ0）、（Ｘ1、Ｙ1、Ｚ1）、（Ｘ2、Ｙ2、
Ｚ2）を算出する。ただし、ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ
（λ）はＸＹＺ表示系の等色関数であり、ｉ＝０、１、
２とする。 Ｘi＝ΣＰ（λ）Ｒi（λ）ｘ（λ）／ΣＰ（λ）ｙ（λ）…（１） Ｙi＝ΣＰ（λ）Ｒi（λ）ｙ（λ）／ΣＰ（λ）ｙ（λ）…（２） Ｚi＝ΣＰ（λ）Ｒi（λ）ｚ（λ）／ΣＰ（λ）ｙ（λ）…（３） さらに、（４）、（５）、（６）式による演算を行い、
それぞれの測色値（Ｌ 0 *、ａ0 *、ｂ0 *）、（Ｌ1 *、
ａ1 *、ｂ1 *）、（Ｌ2 *、ａ2 *、ｂ2 *）を算出する。ただ
し、Ｘｎ＝９５．０４、Ｙｎ＝１００．００、Ｚｎ＝１
０８．８９、ｉ＝０、１、２とする。 Ｌi *＝１１６(Ｙi／Ｙn)1/3−１６…（４） ａi *＝５００{(Ｘi／Ｘn)1/3−(Ｙi／Ｙn)1/3}…（５） ｂi *＝２００{(Ｙi／Ｙn)1/3−(Ｚi／Ｚn)1/3}…（６） さらに、（７）、（８）式による演算を行い、基準サン
プルとサンプル間の色差値△Ｅab *、基準サンプルと補
正サンプル間の色差値｜△Ｅab *｜を算出する。 △Ｅab *＝{(Ｌ1 *−Ｌ0 *)2−(ａ1 *−ａ0 *)2−(ｂ1 *−ｂ0 *)2}0.5…（７） ｜△Ｅab *｜＝{(Ｌ2 *−Ｌ0 *)2−(ａ2 *−ａ0 *)2−(ｂ2 *−ｂ0 *)2}0.5…（８） 上記のＬi *、ａi *、ｂi *、△Ｅab *、｜△Ｅab *｜をＲＡ
Ｍ１１に格納する（Ｓ４）。
【００１３】基準サンプル、サンプルのＬi *、ａi *、ｂ
i *、△Ｅab *、｜△Ｅab *｜を出力制御部１２により映像
信号に変換して表示印字部１２の画面上に図３のような
画像を表示すると共に、｜△Ｅab *｜が１より小さけれ
ば合格（○印）とし、１以上であれば不合格（×印）と
判定する（Ｓ５）。続いて他のサンプルを検査する場合
は、ステップ２からの動作を繰り返す。なお、本実施例
では、補正分光反射率Ｒ2（λ）を基準サンプルの補正
分光反射率Ｒ0（λ）に対してその差を全てプラスに変
換して補正を行ったが、逆に、全てマイナスになるよう
に補正してもよい。また、上記実施例は反射光を計測し
た場合について説明しているが、サンプルが透過光によ
り観測されるものであれば、図１において照明光を透過
させその透過率を計測することにより、実施例と同様の
構成と手順で色差値を求めることができる。
i *、△Ｅab *、｜△Ｅab *｜を出力制御部１２により映像
信号に変換して表示印字部１２の画面上に図３のような
画像を表示すると共に、｜△Ｅab *｜が１より小さけれ
ば合格（○印）とし、１以上であれば不合格（×印）と
判定する（Ｓ５）。続いて他のサンプルを検査する場合
は、ステップ２からの動作を繰り返す。なお、本実施例
では、補正分光反射率Ｒ2（λ）を基準サンプルの補正
分光反射率Ｒ0（λ）に対してその差を全てプラスに変
換して補正を行ったが、逆に、全てマイナスになるよう
に補正してもよい。また、上記実施例は反射光を計測し
た場合について説明しているが、サンプルが透過光によ
り観測されるものであれば、図１において照明光を透過
させその透過率を計測することにより、実施例と同様の
構成と手順で色差値を求めることができる。
【００１４】
【発明の効果】本発明の色彩測定装置は上記のように構
成されており、サンプルの分光反射率（または分光透過
率）を基準サンプルの分光反射率（または分光透過率）
に対してその差がプラスかマイナスかの一方向に補正す
ることにより条件等色をなくし、異なる光源からの照明
に対して正確な色差検査を行うことができ、検査品の合
格確度を上げることができる。
成されており、サンプルの分光反射率（または分光透過
率）を基準サンプルの分光反射率（または分光透過率）
に対してその差がプラスかマイナスかの一方向に補正す
ることにより条件等色をなくし、異なる光源からの照明
に対して正確な色差検査を行うことができ、検査品の合
格確度を上げることができる。
【図１】本発明の実施例による色彩測定装置の構成図で
ある。
ある。
【図２】本発明の動作手順を示すフローチャート図であ
る。
る。
【図３】本発明の色彩測定装置の表示画面図である。
【図４】従来の色彩測定装置の表示画面図である。
【図５】基準サンプルの分光曲線に対し条件等色となる
サンプルの分光曲線（ａ）とサンプルの補正分光曲線
（ｂ）の関係を示す分光曲線図である。
サンプルの分光曲線（ａ）とサンプルの補正分光曲線
（ｂ）の関係を示す分光曲線図である。
１…測定物体 ２…光源 ３…照明回路 ４、５…分光センサ ６…測光回路部 ７…入出力ポート ８…演算制御部 ９…ＣＰＵ １０…ＲＯＭ １１…ＲＡＭ １２…出力制御部 １３…表示印字部 １４…キーボード １５、１６…電流信号 ４１、５１…バンドパスフィルタアレイ ４２、５２…フォトダイオードアレイ
Claims (1)
- 【請求項１】基準サンプル及びサンプルからの反射光
（または透過光）の分光分布を測定して、それぞれの分
光反射率（または分光透過率）を計測し、これらの分光
反射率（または分光透過率）に基づいて計算された色差
値を表示して、その色差値の大きさからサンプルの合否
を判定できるようにした色彩測定装置において、前記サ
ンプルの分光反射率（または分光透過率）から基準サン
プルの分光反射率（または分光透過率）を波長毎に差し
引いた分光反射率差（または分光透過率差）が、波長領
域によってプラス値とマイナス値が混在する場合、その
いずれかの極性の一方を有する波長領域において、その
極性を反転した値の２倍分を前記サンプルの分光反射率
（または分光透過率）に加えてなる補正分光反射率（ま
たは補正分光透過率）と、前記基準サンプルの分光反射
率（または分光透過率）から色差を算出するための演算
制御部とその色差値を表示する出力表示部を備えたこと
を特徴とする色彩測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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2000
- 2000-05-10 JP JP2000136807A patent/JP2001318001A/ja active Pending
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