JP2000022210A - 半導体発光素子および半導体発光装置 - Google Patents
半導体発光素子および半導体発光装置Info
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Abstract
パターンを特性を持つ半導体発光素子を得る。 【解決手段】 上面視において、第2導電型半導体層の
部分が、発光部を構成しており、さらに、該第1電極に
電気的に接続された第1ボンディングパッド15、該第
2電極に電気的に接続された第2ボンディングパッド1
8を有している半導体発光素子であって、該第1ボンデ
ィングパッド直下には絶縁層16を有しており、さら
に、上面視において、該第1ボンディングパッドと該第
2ボンディングパッドとが隣接して発光部に対して同じ
側に配設され、かつ、該第1ボンディングパッドおよび
該第2ボンディングパッドの外形が形作る長辺部側に近
接して該発光部19が配設され、かつ、該第1電極は該
第2ボンディングパッドと発光部を挟んで対向する側に
設けられることを特徴とする。
Description
構造、特に、絶縁性基板上に形成された半導体発光素子
の電極およびボンディングパッドの構造、形状に係わ
り、また、それを用いて実装した半導体発光装置に関す
る。
の混晶に代表される窒化物半導体材料により、可視ない
し紫外領域で発光するLED等の半導体発光素子が実現
されている。これらの発光素子では、成長基板として、
主にサファイア等が用いられるが、これらの基板は絶縁
性であるため、成長面側から正電極及び負電極を取り出
す必要があり、GaAs等の導電性基板を用いた従前の
発光素子とは異なった、種々の構造が提案されている。
記載された、このような技術に関わる従来例である。図
11(a)は従来例の窒化ガリウム系化合物半導体発光
素子の平面図(上面視)であり、図11(b)は図11
(a)H―H’線で切断した模式断面図である。図11
において、サファイア基板等の絶縁性基板70の上にn
型窒化ガリウム系化合物半導体層71とp型窒化ガリウ
ム化合物半導体層73とが順に積層されており、n型窒
化ガリウム系化合物半導体層71上には負電極72が形
成され、p型窒化ガリウム化合物半導体層73には正電
極用ワイヤボンディングパッド74が形成されている。
75はp型窒化ガリウム化合物半導体層73のほぼ全面
を覆って形成された電流拡散用の透光性電極であり、7
6は前記透光性電極75に設けられた正電極用ワイヤボ
ンディングパッド74を取り出すための窓部である。
用ワイヤボンディングパッドの機能を兼ねており、同図
に示されるように、正電極用ワイヤボンディングパッド
74と負電極72は四辺形であるチップ外形の対向する
隅部に形成されている。本LED素子は、正電極用ワイ
ヤボンディングパッド74および負電極72に導電性ワ
イヤが接続され、これらを通じて外部から電流が供給さ
れることにより発光動作する。
正電極用ワイヤボンディングパッド74および負電極7
2は、ワイヤの接続を確実に行うため、相当の厚さ以上
の膜厚の金属層を使用する必要があるので、発光を透過
することが不可能であり、さらに、ボンディング領域の
確保のために、通常80μm角以上の大きさを必要とす
るため、正負電極を素子の対角位置の隅部に形成する構
造の発光素子の発光パターンは中心部でくびれ、両側に
略正方形の暗黒部のある複雑な発光パターン形状とな
る。図12はこのような電極・ボンディングパッドの配
置を持つ半導体発光素子(LEDチップ)77をレンズ
付き樹脂モールドの半導体装置(LEDランプ)として
組み立てた場合の発光パターンを説明する図であり、レ
ンズ付き樹脂モールドLEDランプ78を見る方向、例
えば79の方向及び80の方向によって、発光パターン
は非対称な形81、82となる。従って、このような指
向特性を持つLEDランプを、他のランプと組み合わせ
て、例えばフルカラーディスプレイパネルを組み立てた
場合には、見る角度により、他のLEDとの混合、混色
割合が変化し、輝度の不均一、色の不均一と認識されて
いた。
実装型のランプに組み立てた半導体発光装置の構成を示
す図で(a)は平面図、(b)は(a)の変形図、
(c)は(a)の断面図である。本図において、表面実
装型の半導体発光装置83のモールドケース91の底面
92に、電極端子89、90が形成され、半導体発光素
子77のボンディングパッド84、85と電極端子8
9、90とがワイヤ86、87によりそれぞれ接続され
ている。従来例の発光素子は、ボンディングパッドがチ
ップの対角位置に有ることから、半導体発光装置83へ
半導体発光素子77を取り付ける際に、ボンディングパ
ッド84、85にワイヤボンディングされたワイヤ8
6、87が出射光を遮らないように半導体発光素子77
の発光部の前面を横切らないようにしなくてはならな
い。そのため、ワイヤがリードフレーム等に接続する電
極端子89、90は図13(a)に示すようにが発光素
子の両側、あるいは同図(b)のように、2辺の側に形
成する必要が有り、半導体発光装置の小型化を阻んでい
た。
数個用いてアレイ状の表面実装型の半導体発光装置に組
み立てた場合の構成を示す図であり、図14(a)は給
電用の共通配線95、96に対して、発光素子の辺をア
レイに平行に配列した場合の平面図であり、図14
(b)は給電用の共通配線に対して、発光素子の辺をア
レイに対して45度の角度で、菱形状に配列した場合の
平面図である。図14(a)および図14(b)におい
て、84、85は半導体発光素子77のボンディングパ
ッド、86、87はワイヤボンディングのワイヤ、88
は半導体発光素子77の発光部、89、90は電極端
子、95、96は供給用の共通配線である。図14
(a)の場合においては、切片i−i’とj−j’にお
ける光強度分布は93、94にそれぞれ示されるよう
に、最高となる位置がズレるため、例えば原稿読み取り
光源に使った場合、読み取り精度の低下を来たす原因と
なっていた。この読み取り精度を維持するためには、図
13(b)のような配置とすることが必要であり、発光
素子はアレイならび方向に対して45度に傾けて(発光
素子の辺を菱形に配列して)配列する必要があり、アレ
イ状の表面実装型の半導体発光装置光源の外形サイズが
大きくなり、また、発光点を密にできないという問題点
があった。
発光素子は、基板上に第1導電型半導体層、第1導電型
半導体層上の一部に形成された第2導電型半導体層、第
1導電型半導体層の上に第1電極、第2導電型半導体層
上の第2電極、第1電極と電気的に接している第1ボン
ディングパッド、第2電極と電気的に接している第2ボ
ンディングパッドを有し、第2電極が発光部を形成して
いる半導体発光素子において、第1ボンディングパッド
と第2ボンディングパッドは発光部に対して同じ側に形
成されており、第1ボンディングパッドの直下には絶縁
膜が形成されており、第1電極と第2ボンディングパッ
ドはチップ外形の異なる辺に沿って設けられていること
を特徴とする。
第1電極は、前記第2ボンディングパッドと発光部を挟
んで対向する側に設けられることを特徴とする。
電極は第1ボンディングパッドと配線層を介して電気的
に接続されており、配線層の直下に絶縁層が形成されて
いることを特徴とする。
第2電極と前記第2ボンディングパッドに接して第2電
極よりシート抵抗の低いリード線が形成されており、前
記リード線は発光部を挟んで前記第1電極と対向する側
に形成されていることを特徴とする。
第1電極と前記リード線は、前記第1ボンディングパッ
ドおよび前記第2ボンディングパッドが形成されている
チップ外周の辺に隣接する2辺に沿って形成されている
ことを特徴とする。
発光部の平面形状が、少なくとも3回以上の回転対称の
形状であることを特徴とする。
半導体発光素子がケースに固定されてなり、該発光素子
における第1ボンディングパッド、第2ボンディングパ
ッドに、各々ワイヤが接続され、かつ、各々のワイヤ
は、前記発光素子における発光部とは反対側に引き出さ
れて、該ケースに設けられた端子に接続されてなること
を特徴とする。
の第1の実施の形態よりなる発光素子の構成を示す図で
あり、図1(a)は平面図(上面視)であり、図1
(b)および図1(c)は模式断面図である。図1
(a)において、10はサファイア基板(約350μm
×350μmの正方形)であり、19は発光部(約30
0μm×170μmの長方形)であり、15は約130
μm角略正方形の正電極用ボンディングパッド(以下、
正電極パッドと呼ぶ)、18は約80μm角の負電極用
ボンディングパッド(以下、負電極パッドと呼ぶ)であ
り、正負の電極パッドはチップ上で発光部19に対して
同じ側に配設されており、正電極パッドおよび負電極パ
ッドの外形が形作る長辺部に近接して該半導体発光素子
の発光部19が配設されている。負電極パッド18は、
発光部を挟んで正電極パッドと対向する位置に形成され
た負電極20(幅約20μm)と、発光部19の横に設
けられた配線層21で電気的に接続されており、配線層
21および負電極パッド18部分の直下には、絶縁層1
6が積層されている。図1(a)のA−A’線で切断し
た略断面図を図1(b)に、B−B’線で切断した略断
面図を図1(c)に示す。
上に、前記サファイア基板10と略平行の面が一部露出
したn型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0≦
Y≦1)11が形成され、その上には発光層であるAl
ZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦1、0≦T≦1)1
2、p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦1、0≦
V≦1)13が積層されている。透光性正電極14は、
p型AlUGaVIn1-U-VN層13上を覆って形成され
ている。配線層21は、n型AlXGaYIn1-X-YN層
11の一部露出した面上に絶縁層16を介して形成さ
れ、その上に負電極パッド18が重ねられて形成されて
いることにより配線層21と負電極パッド18とが電気
的に接続されている。
んで対向する位置に、n型AlXGaYIn1-X-YN層1
1の露出した面上に直接負電極部20が形成されてい
る。また、図1(c)においては、サファイア基板10
上に、前記サファイア基板10と略平行の面が一部露出
したn型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0≦
Y≦1)11が形成され、その上には発光層であるAl
ZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦1、0≦T≦1)1
2、p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦1、0≦
V≦1)13が積層されている。透光性正電極14は、
p型AlUGaVIn1-U-VN層13上を覆って形成され
ており、その上の所定の領域にのみ直接正電極パッド1
5が形成されることにより、透光性正電極14と正電極
パッド15とが電気的に接続されている。また、正電極
と発光部19を挟んで対向する位置に、n型AlXGaY
In1-X-YN層11の露出した面の直上に負電極20が
形成されている。上記構成により、平面図における発光
部19とは、n型AlXGaYIn1-X-YN層11、AlZ
GaTIn1-Z-TN層12、p型AlUGaVIn1-U-VN
層13、透光性正電極14の積層構造に対応した領域で
あることになる。
子の製造方法について述べる。サファイア基板10上
に、n型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0≦
Y≦1)11、AlZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦
1、0≦T≦1)12、p型AlUGaVIn1-U-VN層
(0≦U≦1、0≦V≦1)13を順次積層する。その
後、フォトリソグラフィー技術とドライエッチング技術
を用い、ウェハ表面よりn型AlXGaYIn1-X-YN層
11の途中まで、素子の周辺部および、負電極を形成す
る部分を除去する。エッチングされなかったメサ上の部
分にのみpn界面が残されることとなる。
3上のほぼ全面に透光性正電極14(膜厚約6nm)を
形成する。電極材料としてNiを用いた。その上の所定
の領域に正電極パッド15を形成する。正電極パッド1
5の厚さは、ボンディングが容易なように比較的厚く形
成すれば良く、約1μmとした。正電極パッド15の材
料は、通常AuもしくはAu系の合金もしくはAlもし
くはAl系の合金で形成されるワイヤ材料と接続が容易
な金属で形成すれば良く、ここではTi/Au(Tiが
下側)を用いた。本実施の形態では、正電極パッド15
のサイズを約130μm角とした。
上には、絶縁層16を形成した後、負電極20と配線層
21とを一体として形成し、その上の所定領域に負電極
パッド18を形成する。絶縁層16の材料としてSiO
2を用いた。負電極20および配線層21は、ボンディ
ングの必要が無い為むやみに大きくすることは不要で、
線幅として2〜20μm程度が適当であり、本実施の形
態では10μmとした。逆に、負電極パッド18はボン
ディングの為に幅80μm以上の大きさが必要である。
本実施の形態では、約80μm角の略正方形とした。絶
縁層16は、マスクあわせの際の余裕を設けて配線層2
1直下の領域では約30μm幅とし、負電極パッド18
直下の領域では約100μm×130μmのほぼ長方形
とした。また、配線層21直下の領域における絶縁層1
6の長さは、本実施の形態においては負電極パッド18
の存在する発光部の一辺側に位置する配線層21の直下
部分も含めて約270μmとした。
で対向する側に設けられた負電極20は、n型AlXG
aYIn1-X-YN層11に接合することにより該層に電流
を注入する役割を果たしており、正電極パッド15と発
光部19に対して同じ側に設けられた負電極パッド1
8、および、これら負電極20と負電極パッド18とを
電気的に接続している配線層21は、それらの下に設け
られた絶縁層16の存在により、半導体層から絶縁され
ている。負電極20および配線層21の材料としてはT
i/Alを用い、負電極パッド18の材料としてはTi
/Mo/Auを用いた。
線層21を一括して設けたので工程が簡略化されている
が、これらを適宜別々の材料で設けてもよいことはいう
までもない。両者を異なる材料で作製する場合は、例え
ば負電極20はTi/Al、配線層21は例えばAlを
用いる。以上の工程は、実際にはウェハー上で多数の半
導体素子に対して一括して適用され、その後、四辺形状
に各素子(チップ)が切り出されて図1に示す半導体発
光素子が完成する。
および負電極パッドに素子外部から電力が供給されて発
光する。素子における電流の流れを説明すると、まず、
正電極パッドから透光性正電極に電流が供給され、さら
に、p型AlUGaVIn1-U-VN層13、AlZGaTI
n1-Z-TN12(発光層)、n型AlXGaYIn1-X-YN
層11を経て負電極20に至り、ここからさらに、配線
層21を経て負電極パッドに至る。
透光性正電極が設けられているので、発光部サイズ(本
実施の形態においては約300μm×170μmの長方
形)に比べて極めて小さい膜厚(数μm以下)でしか無
いp型AlUGaVIn1-U-VN層13から、比較的均一
に発光層に電流が供給されやすくなる。さらに、負電極
20が正電極パッド15と発光部19を挟んで対向に位
置している事により、平面図で視れば、発光部の一方の
側(正電極パッド15)からその対向する側(負電極2
0)に電流が流れるように構成されており、よって、発
光部の各部に電流が均一に注入されるようになってい
る。これにより、略長方形状の発光部が均一に発光する
ことが出来る。
来例のように、負側のボンディングパッドと負電極とを
共通とした発光素子を作製する、すなわち、図1におい
て、絶縁層16、負電極20、配線層21を除き、負電
極パッド18直下にn型AlXGaYIn1-X-YN層11
と接する負電極部分を設けた他は、電極形状、電極配置
が本実施の形態と全く同じ構造を有する半導体発光素子
を作製したところ、発光部19のうち、正電極パッド1
5および負電極パッド18が位置している側の辺近傍の
みに電流が集中して流れてしまうために、この部分が強
く発光し他の領域はほとんど発光しなかった。
により、発光素子の特性が本実施の形態と比較して悪化
してしまった。また、このように部分発熱を生じる素子
は、駆動電流値もしくは駆動電流パルス幅によって各部
の発熱量の偏差も異なるので、発光効率が発熱量により
変化することから、結果として、発光パターンが駆動電
流値もしくは駆動電流パルス幅によって変化してしまう
使いづらいものとなってしまった。
る、すなわち、n型AlXGaYIn1-X-YN層11に
は、図1における負電極パッド18、配線層21、負電
極21の3方向から電流が注入される構成とした本実施
の発光素子の変形例も試作したところ、先の変形例ほど
ではないものの、やはり、発光部19のうち、正電極パ
ッド15および負電極パッド18が位置している側の辺
近傍のみに電流が集中して流れてしまうためにこの部分
が強く発光した。これらのことから、本発明の構成に基
づいて、発光部の一方の側(正電極パッド15)から、
その対向する側(負電極20)にのみ電流が流れるよう
に、絶縁層16等を適正に配置しつつ、ボンディングパ
ッドを素子の片側に配置することが重要であることが判
明した。
モールドの発光ダイオードランプに実装した様子であ
り、垂直軸上方向22から紙面右方向23および左方向
24(各々発光部の長辺に沿って傾いた方向)において
もほぼ同様の、滑らかな放射特性を得ることが出来た。
これは、従来例と異なり、発光部の形状が左右対称であ
り、また、ボンディングパッドがチップの片側に寄って
いることにより、ボンディングワイヤ(図示されない)
が左右方向の発光の取り出しを妨げにくいという本発明
の発光素子自身の効果による。
用いて表面実装型の半導体発光装置に組み立てた場合の
構成を示す図であり、図3(a)は平面図であり、図3
(b)はC−C’線で切断した略断面図である。図にお
いて、10はサファイア基板(約350μmの正方形)
であり、19は発光部(約300μm×170μmの長
方形)であり、15は正電極パッド(約130μm角の
正方形)、18は負電極パッド(約80μm角の正方
形)であり、正電極パッド15および負電極パッド18
はサファイア基板上で発光部19と同じ側に配設されて
おり、該正電極パッド15および該負電極パッド18の
外形が形作る長辺部に近接して該半導体発光素子の発光
部が配設されている。
で正電極パッド15と対向する位置に形成された負電極
20(幅約10μm)と、発光部19の横に設けられた
配線層21で電気的に接続されており、配線層21およ
び負電極パッド18部分の直下には、絶縁層16が積層
されている。25および26は表面実装型の半導体発光
装置のモールドケース29の底面30にメッキ等の手法
により形成された電極端子であり、金線ワイヤ27およ
び28によりそれぞれ正電極パッド15及び負電極パッ
ド18と電気的に結線されている。また31は透明なモ
ールド樹脂である。
いれば、モールドケース29側の電極端子25および電
極端子26を発光素子の片側に集めることが出来て、発
光素子を組み込んだ表面実装型の半導体発光装置の小型
化が図れた。具体的には、図3に示された表面実装型の
半導体発光装置の外形サイズは、縦約1.2mm×横約
1.8mm×高さ約1.2mm程度となり、図13
(a)に示される様に、従来例の発光素子を用いた場合
に見積もられる外形サイズ縦約1.2mm×横約2.0
〜2.3mm×高さ約1.2mm程度と比較してより小
型化することが出来た。
素子を複数個用いて、LEDアレイに組み立てた場合の
構成を示す図である。図3のような、1個の発光素子を
用いて表面実装型の半導体発光装置に組み立てた場合と
異なり、表面実装型の半導体発光装置のモールドケース
32の底面にメッキ等の手法により形成されたそれぞれ
の電極端子33および電極端子34は共通ライン35お
よび共通ライン36により電気的に結線されている。2
7、28は電極端子25および電極端子26と正電極パ
ッド15および負電極パッド18とを結線する金線ワイ
ヤである。この結果、正電極パッド15、負電極パッド
18は近接して配設されており、且つ該正負の両電極パ
ッドの外形が形作る長辺部に近接して該半導体発光素子
の発光部19を配設することにより、発光素子からの金
線ワイヤ27、28を同一辺側に引き出すことが出来
て、また、従来例の図14(a)で問題になった光強度
の軸上のズレの問題を、図14(b)の斜め配置を使わ
ずとも解決することが出来た。
る半導体発光素子を、底面に対し垂直に立てて表面実装
するタイプの半導体発光装置に組み立てた場合の構成を
示す図であり、異方導電性樹脂接着剤を用いてモールド
ケース等の基体に接続する場合の構成を表している。図
5(a)は、上記半導体発光装置のモールドケースの一
例を表す要部斜面図であり、図5(b)および図5
(c)は、上記モールドケースに、本発明の第1の実施
の形態よりなる半導体発光素子を接続した場合の要部模
式図であり、図5(b)は要部平面図、図5(c)は
(b)のD−D’線で切断した要部断面図を表してい
る。
導体発光素子を垂直に立てて実装するタイプのモールド
ケースの一例である。底面41に対して垂直な壁面42
を有しており、また、モールドケース表面には、配線3
8および配線39が形成され、壁面42にまでこれらは
伸びている。壁面42における2本の配線38、配線3
9の間には、溝40が存在している。斜面43は、半導
体発光素子からの出射光を底面41に対し垂直な方向に
集める為の反射板の役割を果たす。
m以下であり、100μm以上200μm以下が望まし
い。ここでは、150μmとした。また、溝40の幅は
190μm以下であり、ここでは、100μm程度とし
た。また、溝40の深さは、異方導電性樹脂接着剤44
中に含まれる金属粉等の導電性物質の最大径を例えば5
μmとすると、少なくとも5μm以上に設計する必要が
有る。
ルドケース37に、本発明の第1の実施の形態よりなる
半導体発光素子を実装した様子を表している。壁面42
上の配線38、配線39および溝40が存在する領域
に、例えばハイソール社製の「モーフィットTG−90
00R」やその類似品(液状の透光性エポキシ樹脂に数
乃至数十wt%の粒径約10μm以下の導電性素粒子を
配合した樹脂材料)等の異方性導電樹脂接着剤44を塗
布する。次に、壁面42に対してサファイア基板10が
平行になるように、かつ、配線38、配線39と正両電
極パッド15、負電極パッド18とがそれぞれ接するよ
うに、半導体発光素子を搭載する。
(約2乃至20kg/cm2、図中矢印で示した方向か
ら加圧する)をかけながら異方導電性樹脂接着剤44の
硬化を行う。硬化条件は、異方導電性樹脂接着剤44の
種類により異なるが、本実施例で用いたものでは、15
0℃−2分乃至200℃−30秒である。この結果、荷
重を受けて硬化した正電極パッド15、負電極パッド1
8と壁面42上の配線38、配線39との間では、間に
挟まった個々の導電性物質が直接接触するので、導通状
態が作り出される。
脂接着剤44は、負荷を受けずに硬化するので導電性物
質同士が接触し合う事はほとんど無く、樹脂中に分散し
ているので絶縁性樹脂接着剤として振る舞う。この場
合、上記モールドケース37では、配線38、配線39
の間に溝40が形成されているので、正負の両電極パッ
ド間で、導電性物質による導通状態は起こらない。
ら取り出される出射光に加え、半導体発光素子のpn接
合面に対し平行な方向に出射する光、および、半導体発
光素子のサファイア基板10が透明な場合、基板側面側
から出射する光をも、底面41に対し垂直な方向に直接
取り出せる為、正面輝度が向上するという効果が発生す
る。通常LED素子においては、チップ外部(通常モー
ルド樹脂)よりも半導体層の屈折率が大きいため、半導
体層に沿って発光した光が導波しており、チップ側面か
ら取り出された導波光を直接放射する構成とすること
で、効果的に輝度を向上させることが出来るのである。
る構成とすることにより、投影面積が極めて小さい表面
実装タイプの発光装置を実現することも可能となる。本
構成の表面実装タイプの発光装置においても、本実施の
形態の発光素子の上方への放射パターン特性の対称性が
良好なことから、立てられた素子に平行な方向の各部で
は比較的一定な放射パターンが得られる。
配線層21の直下から絶縁層を無くし、配線層21の部
分をn型AlXGaYIn1-X-YN層11と接合する負電
極に変更しても、この領域は、発光部19を挟んで正電
極パッドと対向する部分であることから、発光部に均一
に電流を供給する妨げとならないことは、図1の平面図
から明らかであり、このような変更は本発明の範囲に含
まれるものである。より詳細には、図1(a)の平面図
において、負電極20がn型AlXGaYIn1-X-YN層
11と接している領域中の任意の一点と、正電極パッド
15と発光部19との境界線分上の任意の一点とを結ぶ
線分が、少なくとも発光部19を横切る構造になるよう
に絶縁層16が配置されておればよい。
実施の形態よりなる発光素子の構成を示す平面図であ
る。図において、10はサファイア基板(約350μm
×480μmの長方形)であり、45はほぼ正方形の発
光部(約300μm角)であり、15は約130μm角
正方形の正電極パッド、18は約80μm角の負電極パ
ッドであり、正電極パッド15および負電極パッド18
はサファイア基板10上で発光部19に対して同じ側に
配設されており、該正電極パッド15および該負電極パ
ッド18の外形が形作る長辺部に近接して該半導体発光
素子の発光部45が配設されている。透光性正電極14
の1辺に沿って、リード線49が正電極パッド15と一
体的に形成されており、チップ外形に対して前記リード
線49と対向する側に、負電極20(幅約10μm)が
設置されている。
約10μm)と、発光部45の横に設けられた配線層2
1で電気的に接続されており、配線層21および負電極
パッド18部分の直下には、絶縁層16が積層されてい
る。正電極パッド15および負電極パッド18および発
光部45および負電極20の構成は、図1(b)ないし
図1(c)に示したものと同様である。本実施の形態に
おける半導体発光素子の製造方法については、実施の形
態1と同様であるので詳細を省略する。
伸した透光性正電極に接続された導電材料であって、透
光性正電極と比較してシート抵抗が飛躍的に小さい導電
層から構成されており、発光素子の動作時に、リード線
先端部付近と正電極パッドとの電位差をなくすことが出
来る。本実施の形態において、リード線は総膜厚1μm
の金属膜より構成されており、透光性とするために膜厚
10nm程度以下の金属膜で構成される透光性正電極と
比較して、2桁程度シート抵抗の小さい層で構成され
た。
合したリード線49から負電極20までの距離が一様な
為、注入電流密度の不均一が発生しやすい材料でも、半
導体発光素子を構成する事が可能となった。これによ
り、実施の形態1の場合と比較して、さらに、均一に発
光部を発光させる効果を高めることが出来る。また、本
実施の形態においても、電極パッドをチップの片側に配
置したので、実施の形態1と同様の効果を得ることが出
来、図2ないし5に示されたものと同様の半導体発光装
置を得ることが可能になった。
実施の形態よりなる発光素子の構成を示す平面図であ
る。図において、10はサファイア基板(約350μm
×480μmの長方形)であり、46はほぼ円形の発光
部(直径約300μm)であり、15は約130μm角
正方形の正電極パッド、18は約80μm角の負電極パ
ッドであり、正電極パッド15および負電極パッド18
はサファイア基板10上で発光部19に対して同じ側に
配設されており、該正電極パッド15および該負電極パ
ッド18の外形が形作る長辺部に近接して該半導体発光
素子の発光部46が配設されている。
び負電極パッド18と対向する位置に形成された負電極
20(幅約5μm)は、該負電極パッド18と、発光部
46の横に設けられた配線層21で電気的に接続されて
おり、配線層21および負電極パッド18部分の直下に
は、絶縁層16が積層されている。正電極パッド15お
よび負電極パッド18および発光部46および負電極2
0の構成は、図1(b)ないし図1(c)に示したもの
と同様である。本実施の形態における半導体発光素子の
製造方法については、実施の形態1と同様であるので詳
細を省略する。
より、ほぼ円形の発光部46を得る事ができた。また、
本実施の形態においても、実施の形態1と同様の効果に
より、活性層に注入される電流は均一となる為、発光パ
ターンの不均一を小さくする事ができる。この発光素子
により、図2で示したような左右対称な発光パターンを
得る事ができた。特に、本発明のほぼ円形の発光部46
の形は、無限回の回転対称形状であり、発光素子のリー
ドフレーム等への実装時に、取付角度を選ばないという
利点がある。即ち、円形でない発光部の形の発光素子を
軸対称形のリードフレームに取り付ける場合には、取付
角度によりリードフレームの方向に対する発光の指向パ
ターンが異なっていたが、本実施例では、この問題を完
全に回避する事ができる。
導体発光素子のチップの角部近傍において、比較的細い
線状に形成される負電極20および配線層21が存在し
ない為、チップの角が欠けても素子特性に影響する事は
なく、歩留まり向上に関して有利である。また、本実施
の形態においても、電極パッドをチップの片側に配置し
たので、実施の形態1と同様の効果を得ることが出来、
図2ないし5に示されたものと同様の半導体発光装置を
得ることが可能になった。
実施の形態よりなる発光素子の構成を示す平面図であ
る。図において、10はサファイア基板(約350μm
×480μmの長方形)であり、47はほぼ多角形の発
光部(外径約300μm)であり、15は約130μm
角正方形の正電極パッド、18は約80μm角の負電極
パッドであり、正電極パッド15および負電極パッド1
8はサファイア基板10上で発光部19に対して同じ側
に配設されており、該正電極パッド15および該負電極
パッド18の外形が形作る長辺部に近接して該半導体発
光素子の発光部47が配設されている。該負電極パッド
18は、発光部47を挟んで正電極パッド15と対向す
る位置に形成された負電極20(幅約5μm)と、発光
部39の横に設けられた配線層21で電気的に接続され
ており、配線層21および負電極パッド18部分の直下
には、絶縁層16が積層されている。
および発光部47および負電極20の構成は、図1
(b)ないし図1(c)に示したものと同様である。本
実施の形態における半導体発光素子の製造方法について
は、実施の形態1と同様であるので詳細を省略する。
より、ほぼ多角形の発光部47を得る事ができた。ま
た、本実施の形態においても、実施の形態1と同様の効
果により、活性層に注入される電流は均一となる為、発
光パターンの不均一を小さくする事ができる。この発光
素子により、図2で示したような左右対称な発光パター
ンを得る事ができた。特に本発明のほぼ多角形の発光部
47の形は、回転対称形状となっており、3回対称より
4回対称、4回対称より5回対称へと回転対称数が上が
るにつれて、発光部の形状は円形に近づく事になり、リ
ードフレーム等への実装時に、取付角度を選ばないとい
う利点が発生する。
は、軸対称形のリードフレームの方向に対する発光の指
向パターンが異なっていたが、本実施の形態では、この
問題を無視できるほど低減できた。また、本実施の形態
では、図8に示した半導体発光素子のチップの角部近傍
において、比較的細い線状に形成される負電極20およ
び配線層21が存在しない為、チップの角が欠けても素
子特性に影響する事はなく、歩留まり向上に関して有利
である。
ドをチップの片側に配置したので、実施の形態1と同様
の効果を得ることが出来、図2ないし5に示されたもの
と同様の半導体発光装置を得ることが可能になった。
図8においては、発光部47の形状が正八角形となって
いるが、本発明はこれに限定されるものではなく、少な
くとも3回以上の回転対称形となっておればよい。
実施の形態よりなる発光素子の構成を示す図である。図
9(a)において、10はサファイア基板(約330μ
m×480μmの長方形)であり、19は発光部(約3
00μm角のほぼ正方形)であり、15は正電極パッ
ド、18は負電極パッドであり、正電極パッド15(約
130μmのほぼ正方形)および負電極パッド18(約
80μmのほぼ正方形)は発光部19に対して同じ側に
配設され、正電極パッド15および負電極パッド18の
外形が形作る長辺部に近接して半導体発光素子の発光部
19が配設されている。発光部19上には、透光性正電
極14の1辺に沿って、リード線49が正電極パッド1
5と一体的に形成されており、リード線49と対向する
側に、負電極20(幅約10μm)が設置されている。
形成され、負電極20、透光性正電極14等を覆ってい
る。前記絶縁層16には、前記負電極20の一部および
正電極パッド15が露出するように窓部が形成されてい
る。さらに該負電極パッド18は、前記絶縁層16上
に、負電極20と対向する位置に形成されており、発光
部19の上に設けられた配線層48により、負電極20
と負電極パッド18が電気的に結線されている。負電極
20と配線層48との接続は、前記絶縁層に設けられた
窓部でなされている。
略断面図を図9(b)に、F−F’線で切断した略断面
図を図9(c)に示す。
上に、前記サファイア基板10と略平行の面が一部露出
したn型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0≦
Y≦1)11が形成され、その上には、発光層であるA
lZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦1、0≦T≦1)1
2、p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦1、0≦
V≦1)13が積層されている。透光性正電極14は、
p型AlUGaVIn1-U-VN層13上を覆って形成され
ている。負電極20は、n型AlXGaYIn1-X-YN層
11の一部露出した面に接合して形成され、負電極20
と配線層48との接続のための窓部を有する絶縁層16
が形成されている。負電極パッド18は、負電極20と
対向する位置に、絶縁層16上に形成され、負電極パッ
ド18および負電極20は、絶縁層上16に形成された
配線層48により、電気的に結線されている。
基板10上に、サファイア基板10上面と略平行の面が
一部露出したn型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦
1、0≦Y≦1)11が形成され、その上には、発光層
であるAlZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦1、0≦T
≦1)12、p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦
1、0≦V≦1)13が積層されている。透光性正電極
14は、p型AlUGaVIn1-U-VN層13上を覆って
形成されており、p型AlUGaVIn1-U-VN層13上
の所定の領域に正電極パッド15が形成されている。
N層11の一部露出した面上に形成されている。さら
に、正電極パッド15が露出するように窓部を設けられ
た絶縁層16が、半導体発光素子のほぼ全面に形成され
ている。上記構成により、平面図における発光部19と
は、n型AlXGaYIn1-X-YN層11、AlZGaTI
n1-Z-TN層12、p型AlUGaVIn1-U-VN層13、
透光性正電極14の積層構造に対応した領域であること
になる。
子の製造方法について述べる。サファイア基板10上
に、n型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0≦
Y≦1)11、AlZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦
1、0≦T≦1)12、p型AlUGaVIn1-U-VN層
(0≦U≦1、0≦V≦1)13を順次積層する。その
後、フォトリソグラフィー技術とドライエッチング技術
を用い、ウェハ表面よりn型AlXGaYIn1-X-YN層
11の途中まで、素子の周辺部および、負電極を形成す
る部分を除去する。エッチングされなかったメサ上の部
分にのみpn界面が残され、この大部分が発光部19に
相当することとなる。本実施の形態においては、発光部
のサイズを約300μm角のほぼ正方形とした。
3上のほぼ全面に、透光性正電極14(膜厚10nm程
度)を形成する。電極材料として、例えば、Pd/Au
を用いた。さらに、その上の所定の領域に、正電極パッ
ド15を形成する。正電極パッド15の厚さは、ボンデ
ィングが容易なように、約2μmと厚く形成した。本実
施の形態においては、正電極パッド15の大きさは、約
130μm角とした。正電極パッド15の材料として
は、PtSi/Auを用いた。また、n型AlXGaYI
n1-X-YN層11上の一部露出した面上に、負電極20
を形成する。負電極20は、ボンディングの必要が無い
為、細くてよく、電極幅として10μm程度とした。負
電極20材料としては、W/Alを用いた。
し、フォトリソグラフィー技術とエッチング技術を用い
て、負電極20上の適切な位置および正電極パッド15
上に開口部を儲け、通常の薄膜形成技術と選択エッチン
グ技術により配線層48を形成する。この場合、絶縁層
16は発光部の保護をも兼ねている。絶縁層の材料とし
ては、SiO2を用い、配線層の材料として、Ti/A
lを用いた。
する事も出来るが、特に本実施の形態においては、絶縁
層が発光部表面をカバーしているので、絶縁層材料が発
光光の波長に対して透明である必要が有る。その後に、
配線層48と接続するように、負電極パッド18を形成
する。負電極パッド18は、ボンディングの為に幅80
μm以上の大きさが必要である。本実施の形態では、約
80μm角の正方形とした。負電極パッド18の材料と
しては、Alを用いた。
じて、配線層48を絶縁膜で覆ってもよい。以上の工程
は、実際には、ウェハー上で多数の半導体素子に対して
一括して適用され、その後、四辺形状に、各素子(チッ
プ)が切り出されて図9に示す半導体発光素子が完成す
る。
層48を発光部19の上部に設けた為、同じサイズの発
光部19を有する実施の形態2に比べ、半導体発光素子
の短辺のサイズを小さくする事ができた。具体的には、
実施の形態2では、半導体発光素子のサイズを約350
μm×480μmとしたが、本実施の形態においては、
図1における配線層21の幅約10μm分と、フォトリ
ソグラフィー時の位置あわせに必要とされるマージン分
だけ低減できる為、約330μm×480μmサイズの
半導体発光素子を構成する事ができた。
形状をほぼ正方形とした。また、本実施の形態において
も、実施の形態1と同様の効果により、活性層に注入さ
れる電流は均一となる為、発光パターンの不均一を小さ
くする事ができる。この電極配置により、図2で示した
ような左右対称な発光パターンを実現できた。また、本
実施の形態においても、電極パッドをチップの片側に配
置したので、実施の形態1と同様の効果を得ることが出
来、図2ないし5に示されたものと同様の半導体発光装
置を得ることが可能になった。
状としてほぼ正方形を選んだが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、ほぼ長方形、ほぼ円形、ほぼ多角形
でもよい。その際に発生する効果は実施の形態1ないし
実施の形態4に示した効果と同様である。
の実施の形態よりなる発光素子の構成を示す図である。
図10(a)において、10はサファイア基板(約35
0μm×450μmの長方形)であり、19は発光部
(約300μm角のほぼ正方形)であり、15は正電極
パッド(約130μm角の正方形)、18は負電極パッ
ド(約80μm角の正方形)であり、正電極パッド15
および負電極パッド18はサファイア基板10上で発光
部19に対して同じ側に配設し、該正電極パッド15お
よび該負電極パッド18の外形が形作る長辺部に近接し
て該半導体発光素子の発光部19が配設されている。
パッド15と一体的に形成されており、前記リード線4
9及び負電極20は、前記正電極パッド15及び負電極
パッド18が形成されているチップ外周の辺に近接する
チップ外周の2辺に沿って形成されている。該負電極2
0は、n型AlXGaYIn1-X-YN層11上の所定の領
域に形成された絶縁膜16上まで延伸しており、その上
に負電極パッド18が形成されている。図10(a)の
G−G’線で切断した略断面図を図10(b)に示す。
0上に、前記サファイア基板10と略平行の面が一部露
出したn型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0
≦Y≦1)11が形成され、その上には、発光層である
AlZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦1、0≦T≦1)
12、p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦1、0
≦V≦1)13が積層されている。透光性正電極14
は、p型AlUGaVIn1-U-VN層13上のほぼ全面に
形成され、その上の所定の領域に正電極パッド15と電
気的に接続されたリード線49が形成されている。負電
極20は、n型AlXGaYIn1−X−YN層11の
一部露出した面上に形成されている。図10(a)で示
した発光部19は、n型AlXGaYIn1-X-YN層1
1、AlZGaTIn1-Z-TN層12、p型AlUGaVI
n1-U-VN層13、透光性正電極14より構成されてい
る。
子の製造方法について述べる。サファイア基板10上
に、n型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0≦
Y≦1)11、AlZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦
1、0≦T≦1)12、p型AlUGaVIn1-U-VN層
(0≦U≦1、0≦V≦1)13を順次積層する。その
後、フォトリソグラフィー技術とドライエッチング技術
を用い、ウェハ表面よりn型AlXGaYIn1-X-YN層
11の途中まで、素子の周辺部および、負電極を形成す
る部分を除去する。エッチングされなかったメサ上の部
分にのみpn界面が残され、この大部分が発光部19に
相当することとなる。本実施の形態においては、発光部
のサイズを約300μm角のほぼ正方形とした。
3上のほぼ全面に、透光性正電極14(膜厚12nm程
度)を形成する。電極材料として、例えば、Ni/Pt
を用いた。その後に、正電極パッド15およびリード線
49を一体的に形成する。正電極パッド15の厚さは、
ボンディングが容易なように、例えば1μmと厚く形成
する。正電極パッド15の大きさは、本実施の形態にお
いては、約130μm角とした。また、リード線49
は、ボンディングの必要が無い為、幅2〜10μm程度
が適当である。正電極パッド15およびリード線49の
材料は、Cr/Auを用いた。
上には、絶縁膜16を形成した後、負電極20を形成
し、その上の所定の領域に負電極パッド18を形成す
る。負電極20は、ボンディングの必要が無い為、電極
幅として2〜20μm程度が適当である。本実施の形態
では幅約10μmとした。逆に、負電極パッド18は、
ボンディングの為に幅80μm以上の大きさが必要であ
る。本実施の形態では、約80μm角の正方形とした。
絶縁層の材料として、SiO2を用い、負電極20の材
料として、Ti/Alを用い、負電極パッド18の材料
として、Alを用いた。
数の半導体素子に対して一括して適用され、その後、四
辺形状に、各素子(チップ)が切り出されて図9に示す
半導体発光素子が完成する。
極20が正電極パッド及び不電極パッドが形成されてい
るチップ外周の辺に近接するチップ外周の辺に沿って、
負電極パッド18から延伸して設けられている為、図6
(a)で示した実施の形態2で配線層21を構成してい
た領域に、負電極20を形成して半導体発光素子を構成
した構造になっており、同じサイズの発光部19を有す
る実施の形態2に比べ、正負の両電極パッド半導体発光
素子の長辺のサイズを小さくする事ができた。
光素子のサイズを約350μm×480μmとしたが、
本実施の形態においては、図6(a)における負電極2
0の幅約10〜20μm分と、フォトリソグラフィー時
の位置あわせに必要とされるマージン分だけ低減できる
為、約350μm×450μmサイズの半導体発光素子
を構成することができた。
は、正電極パットに接合したリード線49から負電極2
0までの距離が一様な為、注入電流密度の不均一が発生
しやすい材料でも、半導体発光素子を構成する事が可能
となった。この電極構造により、図2で示したような左
右対称な発光パターンを実現できた。さらに、本実施の
形態においても、電極パッドをチップの片側に配置した
ので、実施の形態1と同様の効果を得ることが出来、図
2ないし5に示されたものと同様の半導体発光装置を得
ることが可能になった。
形状としてそれぞれ特定のものに基づいて説明したが、
本発明はこれに限定されるものではなく、それぞれ、略
正方形、略長方形、略多角形、略円形、略半円形、略楕
円形のように、少なくとも3回以上の回転対称な形状に
してもよい。また、絶縁層16として、特定の材料につ
いて説明したが、適宜、SiN、Al2O3、TiO2、
SiON、MgF等の酸化物・窒化物・弗化物絶縁体
や、ポリイミド等の有機物絶縁体など、他の絶縁材料を
用いて構成することも出来る。
より半導体発光素子に電流を流す為の2本のリードワイ
ヤーを一方向に引き出すことが可能となり、半導体発光
素子の小型化を図ることが出来た。また、発光部の形状
が単純な形状となったことで、半導体製造装置に組み立
てた場合、左右対称な発光パターン(放射特性)を得る
ことが出来る。さらに、本発明によれば、上記構成によ
って、ボンディング工程を複雑化したり、素子サイズを
無用に増大させること無く、第2電極下のpn界面に均
一に電流を供給でき、これにより、上面より正負両電極
を取るタイプの発光素子の輝度向上、発光効率向上など
に貢献する。
図で、(a)は平面図、(b)はA―A’断面図、
(c)はB−B’断面図である。
樹脂モールドしたLEDランプを示す模式図である。
立てた表面実装形の半導体発光装置を示す図で、(a)
は平面図、(b)はC−C’断面図である。
て組み立てたLEDアレイを示す図である。
立てた表面実装形の半導体発光装置を示す図で、(a)
はモールドケースの一例を示す斜視図であり、(b)は
発光素子を実装した場合の上から見た図、(c)はD−
D’断面図である。
図である。
図である。
図である。
図で、(a)は平面図、(b)はE−E’断面図、
(c)はF−F’断面図である。
す図で、(a)は平面図、(b)はG−G’断面図であ
る。
(a)は平面図、(b)はH−H’断面図である。
したLEDランプを示す模式図である。
装形の半導体発光装置を示す図で、(a)は平面図、
(b)は(a)の変形例、(c)は(a)の断面図であ
る。
たLEDアレイを示す図で(a)は一例、(b)は変形
例である。
≦Y≦1) 12 AlZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦1、0≦T
≦1) 13 p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦1、0
≦V≦1) 14 透光性正電極 15 正電極用ボンディングパッド(正電極パッド) 16 絶縁層 18 負電極用ボンディングパッド(負電極パッド) 19 発光部 20 負電極 21 配線層 22 垂直軸方向 23 右方向の発光パターン 24 左方向の発光パターン 25、26 電極端子 27、28 金線ワイヤ 29 モールドケース 30 モールドケース29の底面 31 透明モールド樹脂 32 表面実装型の半導体発光装置のモールドケース 33、34 電極端子 35、36 共通ライン 37 モールドケース 38、39 配線 40 溝 41 底面 42 壁面 43 斜面 44 異方導電性樹脂接着剤 45 発光部 46 発光部 47 発光部 48 配線層 49 リード線
Claims (7)
- 【請求項1】 基板上に第1導電型半導体層、第1導電
型半導体層上の一部に形成された第2導電型半導体層、
第1導電型半導体層の上に第1電極、第2導電型半導体
層上の第2電極、第1電極と電気的に接している第1ボ
ンディングパッド、第2電極と電気的に接している第2
ボンディングパッドを有し、第2電極が発光部を形成し
ている半導体発光素子において、 第1ボンディングパッドと第2ボンディングパッドは発
光部に対して同じ側に形成されており、第1ボンディン
グパッドの直下には絶縁膜が形成されており、第1電極
と第2ボンディングパッドはチップ外形の異なる辺に沿
って設けられていることを特徴とする半導体発光素子。 - 【請求項2】 前記第1電極は、前記第2ボンディング
パッドと発光部を挟んで対向する側に設けられることを
特徴とする、請求項1に記載の半導体発光素子。 - 【請求項3】 第1電極は第1ボンディングパッドと配
線層を介して電気的に接続されており、配線層の直下に
絶縁層が形成されていることを特徴とする請求項1或い
は2に記載の半導体発光素子。 - 【請求項4】 前記第2電極と前記第2ボンディングパ
ッドに接して第2電極よりシート抵抗の低いリード線が
形成されており、前記リード線は発光部を挟んで前記第
1電極と対向する側に形成されていることを特徴とする
請求項2に記載の半導体発光素子。 - 【請求項5】 前記第1電極と前記リード線は、前記第
1ボンディングパッドおよび前記第2ボンディングパッ
ドが形成されているチップ外周の辺に隣接する2辺に形
成されていることを特徴とする請求項4に記載の半導体
発光素子。 - 【請求項6】 前記発光部の平面形状が、少なくとも3
回以上の回転対称の形状であることを特徴とする請求項
1、2、3、4または5のいずれかに記載の半導体発光
素子。 - 【請求項7】 請求項1、2、3、4、5または6のい
ずれかに記載の半導体発光素子がケースに固定されてな
り、該発光素子における第1ボンディングパッド、第2
ボンディングパッドに、各々ワイヤが接続され、かつ、
各々のワイヤは、前記発光素子における発光部とは反対
側に引き出されて、該ケースに設けられた端子に接続さ
れてなることを特徴とする半導体発光装置。
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