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DE69623588T2 - Kondensator mit metallisierter dielektrischer Folie mit variablem Widerstand - Google Patents

Kondensator mit metallisierter dielektrischer Folie mit variablem Widerstand

Info

Publication number
DE69623588T2
DE69623588T2 DE69623588T DE69623588T DE69623588T2 DE 69623588 T2 DE69623588 T2 DE 69623588T2 DE 69623588 T DE69623588 T DE 69623588T DE 69623588 T DE69623588 T DE 69623588T DE 69623588 T2 DE69623588 T2 DE 69623588T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
capacitor
film
metallized
conductive electrode
dielectric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Revoked
Application number
DE69623588T
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English (en)
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DE69623588D1 (de
Inventor
Francesco Folli
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ICAR SpA
Original Assignee
ICAR SpA
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Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=11373215&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE69623588(T2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by ICAR SpA filed Critical ICAR SpA
Application granted granted Critical
Publication of DE69623588D1 publication Critical patent/DE69623588D1/de
Publication of DE69623588T2 publication Critical patent/DE69623588T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Revoked legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/005Electrodes
    • H01G4/012Form of non-self-supporting electrodes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Electrolytic Production Of Metals (AREA)

Description

  • Diese Erfindung betrifft einen metallisierten dielektrischen Film, der zur Bildung elektrischer Leistungskondensatoren vom selbstheilenden Typ verwendet wird, und den daraus hergestellten Kondensator.
  • Dieser Typ von Kondensator wird zum Beispiel in einer Eisenbahnumgebung verwendet und wird im Allgemeinen aus metallisiertem Film vom traditionellen oder vom segmentierten Typ gebildet. Er muss niedriges Volumen und Gewicht besitzen, er wird mit Gleichstrom verwendet, und ist allgemein von hoher Kapazität für eine variable Spannung zwischen 500 und 5000 Volt.
  • Im Fall eines dielektrischen Durchschlags ist ein Kondensator, der aus einem dielektrischem Film mit metallisierten Oberflächen hergestellt ist, bekanntermaßen in der Lage, eine mögliche Fehlerstelle zu isolieren. In dieser Hinsicht entfernt die Energie des Lichtbogens, der als Folge einer Entladung entsteht, die Metallisierung in der Umgebung, um den Bereich des Kurzschlusses zu isolieren, und erlaubt so dem Kondensator, in Betrieb zu bleiben.
  • In bestimmten Fällen (hohe Spannung, hohe Kapazität) kann die Entladung so heftig sein, dass das Kondensator-Dielektrikum durch mehrere aufeinander folgende Schichten hindurch kompromittiert wird. In diesem Fall funktioniert der selbstheilende Mechanismus nicht mehr richtig, mit dem Ergebnis, dass ein großer Bereich mit geschmolzenem Material auftritt, was zu der Zerstörung des Kondensators führt.
  • Um die schädlichen Auswirkungen, die von einer Hochenergieentladung stammen, zu verringern, kann der Film in "Segmente" unterteilt werden, welche die Energie verringern, die durch einen elementaren Kondensator gespeichert wird.
  • Der Schutz wird durch Unterbrechung des Kontaktes zwischen dem segmentierten Sektor und den Endstücken erreicht. Um den Eingriffsmechanismus zuverlässiger zu machen, kann der Anschlussbereich wesentlich verringert werden, um Schmelzsicherungen auszubilden, die das Segment leichter isolieren.
  • Eine weitere alternative Lösung, bekannt als Mosaik, besteht darin, den Film in zahlreiche Bereiche zu unterteilen, die durch schmelzbare Elemente miteinander verbunden sind, wie in dem vorhergehenden Fall.
  • Das Aufteilen des Kondensators in eine Anzahl von elementaren Kondensatoren, die über Schmelzsicherungen miteinander verbunden sind, d. h. die Verwendung eines segmentierten oder Mosaikfilms, hat den Vorteil, dass die Zerstörung des Kondensators verhindert wird, der im Fall eines Fehlers dazu tendiert, seine Kapazität bis zur Isolation zu verringern, wobei nur wenig Gas erzeugt wird und der Film nicht schmilzt oder verbrennt, wodurch das Explosionsrisiko minimiert wird.
  • Im Gegensatz dazu tendieren die Verluste auf Grund des Jouleschen Effektes dazu, höher zu sein als in der traditionellen Lösung, weshalb der Kondensator im Allgemeinen nicht dazu in der Lage ist, hochintensive Ströme zu tolerieren.
  • Es ist bekannt, dass die Kapazität eines selbstheilenden Kondensators mit der Zeit auf Grund der Selbstheilungs-Entladungen abnimmt. Dieses Phänomen ist bei segmentierten oder Mosaikfilmen offensichtlicher, da die verschiedenen Sektoren selbst dazu tendieren, als ein Ergebnis von heftigeren Entladungen und/oder dielektrischer Verschlechterung isoliert zu werden. Darüber hinaus ergeben die entmetallisierten Bereiche, die gebildet sind, um die verschiedenen Sektoren zu isolieren, wobei diese letzteren nur durch die schmelzbaren Brücken verbunden sind, eine Verringerung in der zugewandten Oberfläche, wodurch eine Vergrößerung (um die selbe Kapazität zu erzielen) der Menge des zu verwendenden Films (mit vergrößertem Kondensatorvolumen und Gewicht) erforderlich wird.
  • Schließlich ist bekannt, dass beim Erhöhen des Widerstandes der metallisierten Schicht (leitfähige Schicht) die Selbstheilungs-Entladungsenergie abnimmt, mit der Möglichkeit, wieder mit höheren Spannungen zu arbeiten, aber mit dem Nachteil des Kapazitätsverlustes, der dazu tendiert, im Fall des Wechselstrombetriebes beträchtlich zuzunehmen.
  • Darüber hinaus erlaubt in Anwendungen mit hohem absorbierten Strom der Joulesche Effekt auf Grund des hohen Widerstandes dem Kondensator nicht, bei hohen Strömen verwendet zu werden.
  • Um den zuvor erwähnten Nachteilen zu begegnen, wurde ein metallisierter Film konstruiert, der mit hohen Spannungsgradienten, mit niedrigeren Kapazitätsschwankungen und mit geringeren Verlusten durch den Jouleschen Effekt als Lösungen des segmentierten oder des Mosaiktyps betrieben werden kann. Darüber hinaus kann in diesem Fall der Kondensator mit einer hochwertigen Wechselstromkomponente belastet werden.
  • Die JP-A-06 290 990 beschreibt einen metallisierten Polypropylenfilm für Kondensatoren mit zumindest einer Oberfläche, die durch eine Zn-, Al- oder ZnAl-Schicht bedeckt ist, worin der Rand der Seite der Leitungsabnahme dicker ist als ein normaler Teil, d. h. die Dicke der Schicht variiert in abnehmender Weise als eine Funktion einer linearen Dimension, beginnend an dem Kontaktbereich und zu einem Bereich in der Nähe eines der Ränder des Substrates. In der Figur ist eine Abstufung zwischen dem dicken Teil (4) und dem normalen Teil (3) ausgebildet.
  • Ein Ziel der vorliegenden Erfindung ist daher, einen metallisierten dielektrischen Film mit variablem Widerstand zu schaffen, der für Gleichstromkondensatoren verwendet werden kann, und der zugleich, vom Standpunkt der Verhinderung des Durchganges von pulsierendem Strom aus, zuverlässig ist, und welcher die Verluste auf Grund des Jouleschen Effektes im Vergleich mit traditionellen selbstheilenden Kondensatoren niedrig hält.
  • Ein weiteres Ziel der Erfindung ist es, einen Leistungskondensator zu schaffen, der im Fall von lokalen Schäden als Folge von Entladungen eine Verminderung der Kapazität erfährt, welche, für gleiche Bedingungen, geringer ist als die Kapazitätsverringerung, die bei selbstheilenden Kondensatoren des segmentierten oder des Mosaiktyps anzutreffen ist.
  • Ein weiteres Ziel besteht darin, die Bildung des metallisierten dielektrischen Films mit variablem Widerstand und die Herstellung des Kondensators einfach und ökonomisch zu machen, ohne die Notwendigkeit, komplizierte Technologie zu verwenden.
  • Diese Ziele werden durch einen Kondensator in Übereinstimmung mit Anspruch 1 erreicht.
  • Der bis zum gegenwärtigen Zeitpunkt verwendete dielektrische Film, im Allgemeinen Polypropylen, wird gegenwärtig mit Aluminium, Zink oder Aluminium-Zink-Legierungen metallisiert, mit Widerstandswerten, die, gemessen in Ohm/Quadrat (Ω/ ), zwischen 2 und 5 für Aluminium und zwischen 5 und 10 für Zink oder Zink-Aluminium-Legierung variieren. Die Ränder werden im Allgemeinen verstärkt, um einen besseren Kontakt mit den Endstücken zu erzielen.
  • Der Widerstand des Films wird an einer quadratischen Probe gemessen, wobei das erhaltene Ergebnis unabhängig von den Abmessungen des Quadrates ist. Es gilt die folgende Beziehung:
  • R (Ω/ ) = p (Ω.m/x (m), wobei p der spezifische Widerstand des leitenden Materials (oder der Legierung) ist, das auf dem Dielektrikum abgeschieden ist, und x die Dicke des Materials ist, das auf dem Dielektrikum abgeschieden ist.
  • Der metallisierte Film der Erfindung wird durch Metallisierung variabler Dicke erreicht, wobei der Widerstand, bewertet in Ohm/Quadrat (Ω/ ), zwischen einem minimalen Wert von 1 Ω/ in dem Kontaktbereich und einem maximalen Wert von 60 Ω/ an dem gegenüberliegenden Ende durch Reduktion der Metallisierungsdicke in geeigneter Weise variiert, mit einer kontinuierlichen Variation von zum Beispiel dem inversen quadratischen Typ, so dass der Wert des äquivalenten Reihenwiderstandes des Kondensators oder der durch den Jouleschen Effekt in dem metallisierten Bereich verbrauchten Leistung in der selben Größenordnung liegt wie der entsprechende Wert für einen Kondensator mit konstantem spezifischen Widerstand (vom Wert zwischen 2 Ω/ und 10 Ω/ ).
  • Die Eigenschaften des metallisierten dielektrischen Films mit variablem Widerstand und des damit zusammenhängenden Kondensators gemäß der vorliegenden Erfindung werden aus der Beschreibung einer Ausführungsform derselben, die hier im Folgenden anhand eines nicht einschränkenden Beispiels unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen gegeben wird, deutlich, in welchen:
  • Fig. 1 ein schematischer Querschnitt durch zwei metallisierte dielektrische Filme ist; die als die leitenden Elektroden in dem Aufbau eines selbstheilenden Leistungskondensators nach dem bekannten Stand der Technik verwendet werden;
  • Fig. 1A ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der Summe der in zwei nebeneinander liegenden leitenden Elektroden eines selbstheilenden Leistungskondensators nach dem bekannten Stand der Technik durch den Jouleschen Effekt verbrauchten Leistungen und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 2 ein schematischer Querschnitt durch einen ersten metallisierten dielektrischen Film von Fig. 1 nach dem bekannten Stand der Technik ist;
  • Fig. 2A ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen dem Widerstand einer ersten leitenden Elektrode von Fig. I nach dem bekannten Stand der Technik und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 2B ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der Intensität des durch die erste leitende Elektrode von Fig. I nach dem bekannten Stand der Technik absorbierten Stromes, und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 2C ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der durch den Jouleschen Effekt in der ersten leitenden Elektrode von Fig. 1 nach dem bekannten Stand der Technik verbrauchten Leistung und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 3 ein schematischer Querschnitt durch einen zweiten metallisierten dielektrischen Film von Fig. 1 nach dem bekannten Stand der Technik ist;
  • Fig. 3A ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen dem Widerstand der zweiten leitenden Elektrode von Fig. 1 nach dem bekannten Stand der Technik und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 3B ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der Intensität des durch die zweite leitende Elektrode von Fig. 1 nach dem bekannten Stand der Technik absorbierten Stromes und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 3C ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der durch den Jouleschen Effekt in der zweiten leitenden Elektrode von Fig. 1 nach dem bekannten Stand der Technik verbrauchten Leistung und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 4 ein schematischer Querschnitt durch zwei metallisierte dielektrische Filme ist, die als die leitenden Elektroden in dem Aufbau eines selbstheilenden Leistungskondensators in Übereinstimmung mit der Erfindung verwendet werden;
  • Fig. 4A ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der Summe der in zwei nebeneinander liegenden leitenden Elektroden eines selbstheilenden Leistungskondensators in Übereinstimmung mit der Erfindung durch den Jouleschen Effekt verbrauchten Leistungen und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 5 ein schematischer Querschnitt durch einen ersten metallisierten dielektrischen Film von Fig. 4 ist;
  • Fig. 5A ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen dem Widerstand einer ersten leitenden Elektrode von Fig. 4 und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 5B ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der Intensität des durch die erste leitende Elektrode von Fig. 4 absorbierten Stromes und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 5C ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der durch den Jouleschen Effekt in der ersten leitenden Elektrode von Fig. 4 verbrauchten Leistung und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 6 ein schematischer Querschnitt durch einen zweiten metallisierten dielektrischen Film von Fig. 4 in Übereinstimmung mit der Erfindung ist;
  • Fig. 6A ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen dem Widerstand der zweiten leitenden Elektrode von Fig. 4 und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 6B ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der Intensität des durch die zweite leitende Elektrode von Fig. 4 absorbierten Stromes und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 6C ein kartesischer Graph ist, der die Beziehung zwischen der durch den Jouleschen Effekt in der zweiten leitenden Elektrode von Fig. 4 verbrauchten Leistung und der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators zeigt;
  • Fig. 7 ein schematischer Querschnitt durch zwei metallisierte dielektrische Filme ist, die als die leitenden Elektroden in dem Aufbau eines elektrischen Schaltkreises entsprechend zwei in Reihe geschalteten selbstheilenden Leistungskondensatoren in Übereinstimmung mit der Erfindung verwendet werden;
  • Unter Bezugnahme auf die Fig. 1, 2, 3 und 4 sind die metallisierten dielektrischen Filme insgesamt durch 101, 102, 103, 104 angezeigt, und umfassen jeweils ein Substrat 30, 30', 70, 70' aus isolierendem Material und eine Schicht 20, 20', 60, 60' aus elektrisch leitendem Material, das auf der Isolierung 30, 30', 70, 70' durch bekannte Metallabscheidungsverfahren gezogen wurde. In der Umgebung der Kontaktelektroden 11, 11', 51, 51' des Kondensators ist die Metallisierung der leitfähigen Schichten 20, 20', 60, 60' gezogen (durch bekannte Sprühtechniken), bis sich ein gesamter verstärkter Rand 10, 10', 50, 50' aus stromleitendem Material gebildet hat.
  • Im Besonderen in den Fig. 1, 2 und 3, welche metallisierte dielektrische Filme betreffen, die nach dem bekannten Stand der Technik gebildet sind, bezeichnen 40 und 44' allgemein zwei Referenzbereiche, entsprechend den Kontaktoberflächen des ersten Films und des zweiten Films des Kondensators, jeweils durch 101 und 102 angezeigt, in welchen die Ränder 10, 10' mit Metallisierung verstärkt sind. Die Metallisierungsschicht 20, 20' besitzt eine konstante Dicke (und damit einen konstanten Widerstand der leitenden Elektrode mit einem Wert zwischen 3 und 10 Ohm/Quadrat, Ω/ ), in Abhängigkeit von der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators. Zwei weitere Referenzbereiche 41 und 43' entsprechen jeweils einem Bereich des ersten Films 101 und einem Bereich des zweiten Films 102, in welchen die Dicke der Metallisierungsschicht 20, 20' als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators relativ zu dem Film 101 abnimmt und als eine Funktion der Höhe X relativ zu dem Film 102 zunimmt. Weitere zwei Referenzbereiche 42 und 42' entsprechen zwei Bereichen, einem an dem ersten Film 101 und einem an dem zweiten Film 102, in welchen die Dicke der Metallisierungsschicht 20, 20' konstant ist (der Widerstand der leitenden Elektroden ist daher also ebenso konstant, bei einem Wert von zwischen 3 und 10 Ohm/Quadrat, Ω/ ).
  • Die Bezugszahlen 43 und 44 (oder 41' und 40') bezeichnen jeweils zwei aufeinander folgende Referenzbereiche entsprechend den Bereichen des ersten Films 101 (oder des zweiten Films 102), in welchen die Metallisierungsschicht 20 (oder 20') fehlt. Zuletzt wird das dielektrische Materialsubstrat des Films 101 (oder 102) durch 30 (oder 30') bezeichnet.
  • In Fig. 4 nimmt die Dicke der Metallisierungsschicht 60, 60' als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators im Fall von Film 103 (innerhalb der Bereiche 81 und 82) ab, nimmt aber, wieder als eine Funktion der Höhe X, im Fall des Films 104 (innerhalb der Bereiche 82' und 83') zu. Die anderen Referenzbereiche des Films 103, die jeweils durch 80, 83, 84 angezeigt sind, sind analog zu den Bereichen 40, 43, 44 des Films 101 von Fig. 1, während hingegen jene Bereiche des Films 104, die durch 80', 81', 84' bezeichnet sind, jeweils analog zu den Bereichen 40', 41', 44' des Films 102 von Fig. 1 sind.
  • Unter Bezugnahme auf die kartesischen Graphen der Fig. 1A und 4A stellt die vertikale Achse, angezeigt durch Pt, die gesamte Leistung (in Watt, W) dar, die durch den Jouleschen Effekt in den zwei nebeneinander liegenden leitenden Elektroden eines Kondensators, der mit den zwei metallisierten dielektrischen Filmen 101, 102 (oder 103, 104) konstruiert ist, verbraucht wird. Die horizontale Achse, angezeigt durch X, stellt die Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators relativ zu den Filmen 101, 102 (oder 103, 104) dar. An den selben Graphen stellen 40P, 41P, 42P, 43P, 44P (oder 80P, 81P, 82P, 83P, 84P) die Referenzbereiche entsprechend den Referenzbereichen 40, 41, 42, 43, 44 des Films 101 von Fig. 1 (oder den Referenzbereichen 80, 81, 82, 83, 84 des Films 103 von Fig. 4) und den Referenzbereichen 40', 41', 42', 43', 44' des Films 102 von Fig. 1 dar (oder den Referenzbereichen 80', 81', 82', 83', 84' des Films 104 von Fig. 4).
  • Unter Bezugnahme auf die kartesischen Graphen der Fig. 2A, 2B, 2C, 3A, 3B, 3C, 5A, 5B, 5C, 6A, 6B, 6C stellt diese vertikale Achse, die durch R angezeigt wird, den Widerstand (in Ohm/Quadrat, &Omega;/ ) der leitenden Elektroden des Kondensators dar, der mit den Filmen 101, 102 (oder 103, 104) konstruiert wurde, diejenige, die durch I angezeigt wird, stellt die Intensität des Stromes (in Ampere, A) dar, die durch die leitenden Elektroden absorbiert wird, und jene, die durch P angezeigt wird, stellt die in den leitenden Elektroden verbrauchte Leistung (in Watt, W) dar. Die horizontale Achse, durch X angezeigt; stellt die Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators relativ zu den Filmen 101 und 102 (oder 103, 104) dar. Die Referenzbereiche 40A, 41A, 42A, 43A, 44A (oder 80A, 81A, 82A, 83A, 84A) und mit diesen die jeweiligen Referenzbereiche 40B, 41B, 42B, 43B, 44B (oder 80B, 81B, 82B, 83B, 84B), und die Referenzbereiche 40C, 41C, 42C, 43C, 44C (oder 80C, 81C, 82C, 83C, 84C) entsprechen jeweils den Referenzbereichen 40, 41, 42, 43, 44 des Films 101 von Fig. 1 (oder 80, 81, 82, 83, 84 des Films 103 von Fig. 4). Die Referenzbereiche 40'A, 41'A, 42'A, '43'A, 44'A (oder 80'A, 81'A, 82'A, 83'A, 84'A) und mit diesen die jeweiligen Referenzbereiche 40'B, 41'B, 42'B, 43'B, 44'B (oder 80'B, 81'B, 82'B, 83'B, 84'B), und die Referenzbereiche 40ºC, 41ºC, 42ºC, 43ºC, 44ºC (oder 80ºC, 81ºC, 82ºC, 83ºC, 84ºC) entsprechen jeweils den Referenzbereichen 40', 41', 42< , 43', 44< des Films 102 von Fig. 1 (oder 80', 81', 82', 83', 84' des Films 104 von Fig. 4).
  • Unter besonderer Bezugnahme auf Fig. 7, bezeichnet 501 den Kontaktbereich der Kontaktelektroden des Kondensators, 601, 601' bezeichnen die Metallisierungsschichten, 701, 701' bezeichnen die dielektrische Materialsubstrate, 400, 404 stellen zwei Referenzbereiche dar, in welchen die Dicke der Kontaktmetallisierung 501 des verstärkten Randes 502 eines ersten Films 105 (zur Herstellung von Kondensatoren in Serie verwendet) konstant ist, 401, 402A bezeichnen zwei Referenzbereiche, in welchen die Dicke der Metallisierung 601 eines ersten Films 105 als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators abnimmt, 402B, 403 bezeichnen zwei Referenzbereiche, in welchen die Dicke der Metallisierung 601 des Films 105 als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators zunimmt, und 405 bezeichnet einen Referenzbereich, in welchem die Metallisierung 601 des Films 105 fehlt. Die Bezugszahl 701 bezeichnet das Substrat des Films 105, und 701' bezeichnet das Substrat des Films 106. Die Dicke der Metallisierung 601' des Films 106 ist in dem Bereich 405' konstant; nimmt als eine Funktion der Höhe X der leitende Elektrode des Kondensators in dem Referenzbereich 402'B ab, und nimmt als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators in dem Referenzbereich 402'A zu. Die Metallisierung 601' des Films 106 fehlt in den Referenzbereichen 400', 401', 403', 404'.
  • Das Verfahren zur Herstellung des Leistungskondensators der vorliegenden Erfindung besteht aus dem Übereinanderlegen der zwei metallisierten dielektrischen Filme 103, 104 derart, dass die Substrate 70, 70' und die Metallisierungsbereiche 60, 60' zueinander umgekehrt und geringfügig in vertikaler Richtung versetzt sind. Die auf diese Weise angeordneten Filme 103, 104 werden entlang der kürzeren Seite aufgewickelt. Man erhält so einen Zylinder, welcher das eigentliche kapazitive Element bildet.
  • Die metallisierten dielektrischen Filme 103, 104 können in vorteilhafter Weise auch dann verwendet werden, wenn zwei oder mehr in Reihe verbundene Kondensatoren verwendet werden müssen (wie in der in Fig. 7 dargestellten Anordnung, in welcher die betreffenden Filme durch 105, 106 angezeigt werden).
  • Das isolierende Substrat 70, 70', 701, 701' ist vorzugsweise ein Kunststoffmaterial oder Papier, wobei die Metallisierung 60, 60', 601, 601' der oberen Schicht und des verstärkten Randes 50, 50', 502 aus Aluminium, Zink oder einer Aluminium-Zink-Legierung besteht.
  • Aus den erhaltenen experimentellen Ergebnissen für alle geprüften Proben wurde herausgefunden, dass ein optimales Profil der Metallisierung 60, 60', 601, 601' vom kontinuierlichen Typ ist, welches von dem Kontaktbereich (51, 51', 501) abnimmt, wobei dieser davon ausgenommen wird, bis zu dem freien Rand des Films 103; 104, 105, 106 an der gegenüberliegenden Seite. Eine Metallisierung 60, 60', 601, 601' von diesem Typ besitzt einen Widerstand, der, gemessen an einer Probe von quadratischer Oberfläche, (so dass das Ergebnis unabhängig von den Abmessungen der Probe ist) als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators zunimmt.
  • Im Besonderen wurde festgestellt, dass im Fall einer Aluminium- Metallisierung 60, 60', 601, 601', der optimale Widerstandswert, gemessen in Ohm/Quadrat (&Omega;/ ), von einem Minimum von 1 &Omega;/ bis zu einem Maximum von 4 &Omega;/ , in der unmittelbaren Umgebung des Kontaktbereichs 51, 51', 501 variiert (in Übereinstimmung mit der strichlierten Linie, welche die Referenzbereiche 80A, 81A, oder 80'A, 81'A, oder 400, 401; 403, 404, in den Fig. 5A, 6A, 7 trennt). In den zentralen Bereichen 81A, 82A, 82'A, 83'A, 402A 402B, 402'A, 402'B, 401, 403 der Filme 103, 104, 105, 106 variiert der optimale Widerstandswert von einem Minimum von 5 &Omega;/ zu einem Maximum von 15 &Omega;/ , während er hingegen in dem Bereich mit einem freien Rand (in Übereinstimmung mit den strichlierten Linien, welche die Referenzbereiche 82A, 83A, oder 81'A, 82'A, oder 402A, 405, oder 402B, 405, oder 401', 402'A, oder 402'B, 403' trennen) von einem Minimum von 10 &Omega;/ zu einem Maximum von 20 &Omega;/ variiert.
  • Wenn das Kunststoff- oder Papiersubstrat 70, 70', 701, 701 mit Zink oder mit einer Aluminium-Zink-Legierung metallisiert ist, variieren die optimalen Widerstandswerte von einem Minimum von 2 &Omega;/ zu einem Maximum von 7 &Omega;/ in den Kontaktbereichen, von einem Minimum von 15 &Omega;/ zu einem Maximum von 50 &Omega;/ in den zentralen Bereichen der Filme 103, 104, 105, 106, und von einem Minimum von 20 &Omega;/ zu einem Maximum von 60 &Omega;/ in den Bereichen mit einem freien Rand.
  • Die Metallabscheidung an dem Substrat 70, 70', 701, 701' muss daher derart sein, dass die in Ohm/Quadrat (&Omega;/ ) gemessenen Widerstandswerte in den verschiedenen Referenzbereichen der Filme 103, 104, 105, 106 innerhalb der zuvor erwähnten Bereiche liegen. Im Besonderen sollte der maximale Widerstandswert von 1 &Omega;/ nicht überschritten werden, um zu ermöglichen, dass der Kondensator mit einer aufgedrückten Wechselstromkomponente mit einem ausreichend hohen Wert betrieben werden kann, während gleichzeitig Korrosionserscheinungen beschränkt werden.
  • Die Variation in der Dicke der Metallisierung 60, 60', 601, 601' ist vorzugsweise eine kontinuierliche Variation (zum Beispiel von dem umgekehrten quadratischen Typ als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode des Kondensators), so dass der äquivalente Reihenwiderstand des Kondensators (oder die durch den Jouleschen Effekt in den Metallisierungsbereichen 60, 60', 601, 601' verbrauchte Leistung) von der selben Größenordnung ist wie der Reihenwiderstand (oder die verbrauchte Leistung) eines Kondensators mit konstantem Widerstand nach dem bekannten Stand der Technik (wie aus den Graphen von den Fig. 4A, 5A, 5C, 6A, 6C jeweils im Vergleich mit den Graphen von den Fig. 1A, 2A, 2C, 3A, 3C ersichtlich ist). Im Besonderen nimmt gemäß einer bevorzugten, aber nicht einschränkenden Ausführungsform der Metallisierungswiderstand, gemessen über eine quadratische Probe, so dass das Ergebnis von den Abmessungen der Probe unabhängig ist, kontinuierlich als eine Funktion der Höhe X der leitenden Elektrode zu, so dass, wenn je zwei beliebige Punkte an der Kurve genommen werden, die Differenz zwischen den größeren und kleineren Widerstandswerten entsprechend den Punkten, geteilt durch den Abstand zwischen den zwei Punkten, bewertet entlang der Höhe der leitenden Elektrode des Kondensators als Achse X, in allen Fällen geringer ist als das Verhältnis zwischen der Zahl 100 und der gesamten Höhe des dielektrischen Substrates 70, 70', 701, 701'. In Symbolen muss die folgende Bedingung erfüllt werden:
  • &delta;(R)/&delta;(h) < 100/H
  • wobei &delta; das Symbol der partiellen Ableitung ist, R die Differenz zwischen den größeren und kleineren Widerstandswerten (gemessen in Ohm/Quadrat, &Omega;/ ), entsprechend den an der Kurve R (&Omega;/ ); X (mm) gewählten Punkten ist, h die Höhe der leitenden Elektrode zwischen den zwei Punkten (in mm, Millimeter) ist, und H die gesamte Höhe des dielektrischen Substrates 70, 70', 701, 701' (in mm) ist.
  • Auf diese Weise zeigen die erhaltenen experimentellen Resultate (an den Graphen von Fig. 4A; 5A, 5B, 5C, 6A, 6B, 6C gezeigt), dass der metallisierte Film 103, 104, 105, 106 mit variablem Widerstand gemäß der Erfindung bessere elektrische Eigenschaften besitzt als ein Film nach dem bekannten Stand der Technik, der zur Herstellung selbstheilender Gleichstromkondensatoren verwendet wird.
  • Im Besonderen sind die dielektrische Festigkeit und der Arbeitsgradient des Kondensators im Vergleich mit dem bekannten Stand der Technik größer, da die Energie im Zusammenhang mit Heilungsentladungen verringert wird. Die Summe der Metallisierungsdicken 60, 60', 601, 601' auf den zwei leitenden Elektroden ist relativ gering, weshalb der Widerstand im Vergleich mit dem bekannten Stand der Technik im Wesentlichen hoch ist.
  • Aus all diesen Gründen sind die Auswirkungen der Heilungsentladungen minimal, in dem Sinne, dass der Krater, der sich als Folge der Entladung bildet, kleine Abmessungen hat, und die Schichten neben dem Entladungsbereich in geringerem Ausmaß und nur nach einer längeren Zeitperiode involviert werden.
  • Die zuvor genannte elektrische Eigenschaft resultiert auch in einer Variation der Kapazität mit der Zeit, welche in Kondensatoren gemäß der Erfindung geringer ist als in anderen verwendeten Anordnungen (segmentierter oder Mosaikfilm), weshalb es vorteilhaft ist, einen metallisierten Film mit variablem Widerstand (gemäß der Erfindung) für Gleichstrom zu verwenden, sogar mit einer übergeordneten Wechselstromkomponente (Wellenstrom) von hohem Wert. Darüber hinaus besitzt der auf diese Weise erhaltene Film 103, 104, 105, 106 eine Wellenstromretention, die traditionellen Verfahren gleichkommt oder höher ist als diese, auf Grund der Tatsache, dass die Dicke der Metallisierung 60, 60', 601, 601' in dem Kontaktbereich 51, 51', 501 höher ist.
  • Die durch die leitenden Elektroden in einem Kondensator, der den Film der Erfindung umfasst, verbrauchte Leistung ist von der selben Größenordnung wie die, welche durch Verwendung eines Kondensators des traditionellen Typs erzielt wird, und ist daher geringer als die eines analogen selbstheilenden Kondensators des segmentierten oder Mosaiktyps (der Vergleich kann durch Betrachtung der Graphen von Fig. 1A und 4A erfolgen).
  • Aus Fig. 4A ist ebenfalls ersichtlich, dass eine durch eine leitende Elektrode verbrauchte Leistung von praktisch konstantem Wert an allen Punkten des dielektrischen Substrates erzielt werden kann, wodurch es unter gewissen Bedingungen möglich ist, vom thermischen Standpunkt aus eine bessere Situation als der bekannte Stand der Technik zu erreichen.
  • Schließlich ist das Verfahren zur Metallisierung eines Films mit variablem Widerstand vom technologischen Blickpunkt aus weniger komplex als ein analoges Verfahren, dass für einen segmentierten oder einen Mosaikfilm verwendet wird.
  • Die Eigenschaften des metallisierten dielektrischen Films mit variablem Widerstand, der in dem Kondensator gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet wird, sowie deren Vorteile gegenüber dem bekannten Stand der Technik sind aus der vorangegangenen Beschreibung offensichtlich.
  • Im Besonderen sind dies:
  • - erhöhte dielektrische Festigkeit und erhöhter Arbeitsgradient;
  • - Reduktion der Variation der Kapazität mit der Zeit;
  • - erhöhte Retention des Wellenstromes;
  • - Reduktion in verbrauchter Leistung an den leitenden Elektroden des Kondensators;
  • - konstant verbrauchte Leistung, unabhängig von dem isolierenden Substrat;
  • - einfachere Metallisierung;
  • - Möglichkeit des Betriebs mit einer ausreichend hohen Wechselstromkomponente, während gleichzeitig Korrosionserscheinungen beschränkt werden.
  • Abwandlungen in den hierin beschriebenen Ausführungsformen der Erfindung können vorgenommen werden, ohne die Prinzipien zu verlassen, auf denen der erfinderische Gedanke basiert, und in der praktischen Umsetzung der Erfindung können die Materialien und Abmessungen in Übereinstimmung mit den technischen Anforderungen gewählt werden.
  • Zum Beispiel könnten zwei metallisierte dielektrische Filme verwendet werden, die durch die wohl bekannte Anordnung des Reihentyps gekoppelt werden, um einen elektrischen Schaltkreis zu erhalten, der zu zwei in Serie geschalteten Kondensatoren äquivalent ist.

Claims (3)

1. Kondensator, der aus mindestens einem ersten und einem zweiten metallisierten dielektrischen Film (103, 104) besteht, wobei jeder der Filme (103; 104) ein Substrat (70, 70') aus dielektrischem Material mit einer auf einer Oberfläche (60, 60') abgeschiedenen Metallisierungsschicht umfasst, wobei der erste und der zweite metallisierte dielektrische Film (103, 104) sich in benachbarten Positionen befinden und um einen Abstand verschoben sind, der der Dicke von Kontaktbereichen (51, 51') entspricht, wobei der Kontaktbereich (51) des ersten Films (103) auf der dem Kontaktbereich (51') des zweiten Films (104) in einer Längsrichtung der Filme (103, 104) entgegengesetzten Seite angeordnet ist, wobei der erste Film (103) und der zweite Film (104) eine erste und eine zweite leitende Elektrode des Kondensators bilden, wobei sich die Dicke der auf der Oberfläche (60) des ersten Films (103) abgeschiedenen Metallisierungsschicht mit einer Längenabmessung X der leitenden Elektroden des Kondensators, in einer vorbestimmten Richtung genommen, kontinuierlich und abnehmend ändert und sich die Dicke der auf der Oberfläche (60') des zweiten Films (104) abgeschiedenen Metallisierungsschicht mit der Längenabmessung X der leitenden Elektroden des Kondensators in der gleichen vorbestimmten Richtung kontinuierlich und zunehmend ändert, wobei die beiden Dickenänderungen der gleichen mathematischen Beziehung folgen.
2. Kondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die metallisierten Oberflächen (60, 60') einen elektrischen Widerstand aufweisen, der sich kontinuierlich von 1 Ohm/ bis 60 Ohm/ ändert.
3. Kondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die dielektrischen Substrate (70, 70') aus Kunststoffmaterial oder Papier bestehen, und dass die metallisierten Oberflächen (60, 60') mit Al oder Zn oder mit einer Al-Zn-Legierung beschichtet sind.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004038863B3 (de) * 2004-08-10 2006-04-06 Westermann, Wolfgang Metallisierter Kunststoff-Folienkondensator und Verwendung eines metallisierten Kuststoff-Folienkondensators

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19806586C2 (de) * 1998-02-17 2001-08-16 Epcos Ag Metallisierung für selbstheilenden Folienkondensator
SE515643C2 (sv) 2000-01-14 2001-09-17 Abb Ab Kondensatorelement för en kraftkondensator, metod för dess framställning samt kraftkondensator innefattande dylikt kondensatorelement
EP1306863A1 (de) * 2001-10-23 2003-05-02 Abb Research Ltd. Folienkondensator und Folie für einen Folienkondensator
EP1376626A1 (de) * 2002-06-28 2004-01-02 Abb Research Ltd. Metallisierter Filmkondensator
CN101601108B (zh) * 2006-12-21 2011-12-07 Abb研究有限公司 卷绕式膜电容器
US7933111B2 (en) * 2007-05-08 2011-04-26 Nuinteck Co., Ltd Metallized plastic film and film capacitor
JP4390001B2 (ja) * 2008-01-17 2009-12-24 トヨタ自動車株式会社 コンデンサ
JP5370363B2 (ja) * 2008-07-08 2013-12-18 パナソニック株式会社 金属化フィルムコンデンサ
JP5660045B2 (ja) * 2009-11-04 2015-01-28 パナソニックIpマネジメント株式会社 金属化フィルムコンデンサ及びこれを用いたケースモールド型コンデンサ
CN102683010A (zh) * 2012-04-10 2012-09-19 安徽鑫阳电子有限公司 金属化电容器的t型膜
CN102796985B (zh) * 2012-09-04 2014-10-29 安徽赛福电子有限公司 金属化膜、镀膜机及蒸镀金属化膜工艺
CN103578755A (zh) * 2013-10-15 2014-02-12 铜陵其利电子材料有限公司 滤波电容器用高方阻金属化膜
CN105702455A (zh) * 2016-04-26 2016-06-22 铜陵市新洲电子科技有限责任公司 一种自愈性高方阻薄膜电容器
CN106128757A (zh) * 2016-07-28 2016-11-16 吴克明 一种具有横向空隙条隔离的高方阻安全膜
JP7193070B2 (ja) * 2018-02-05 2022-12-20 株式会社指月電機製作所 フィルムコンデンサ
CN111684554B (zh) * 2018-02-05 2022-01-25 株式会社指月电机制作所 薄膜电容器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1938319A1 (de) * 1969-07-28 1971-02-11 Siemens Ag Regenerierfaehiger elektrischer Kondensator
DE2619260C2 (de) * 1976-04-30 1983-05-05 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum Herstellen von Wickelkörpern selbstheilender Kondensatoren
DE3273861D1 (en) * 1982-03-06 1986-11-20 Steiner Kg Self restoring electric capacitor
US5019418A (en) * 1985-03-12 1991-05-28 Sprague Electric Company Metallized film capacitor process
JPH04311017A (ja) * 1991-04-09 1992-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 乾式高圧コンデンサ
US5610796A (en) * 1993-02-19 1997-03-11 Electronic Concepts, Inc. Metallized capacitor having increased dielectric breakdown voltage and method for making the same
JPH06290990A (ja) * 1993-04-05 1994-10-18 Toray Ind Inc コンデンサ用金属化ポリプロピレンフイルム
US5615078A (en) * 1994-12-16 1997-03-25 Aerovox Incorporated Metallized film for electrical capacitors having a semiconductive layer extending entirely across the unmetallized margin

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004038863B3 (de) * 2004-08-10 2006-04-06 Westermann, Wolfgang Metallisierter Kunststoff-Folienkondensator und Verwendung eines metallisierten Kuststoff-Folienkondensators

Also Published As

Publication number Publication date
EP0789371A1 (de) 1997-08-13
ITMI960248A1 (it) 1997-08-09
EP0789371B1 (de) 2002-09-11
ITMI960248A0 (de) 1996-02-09
US5757607A (en) 1998-05-26
DE69623588D1 (de) 2002-10-17
IT1282594B1 (it) 1998-03-31
ES2181842T3 (es) 2003-03-01

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