DE69509000T2

DE69509000T2 - Thermisches Aufzeichnungsmedium mit konstanter Breite der Markierungsfolge und diesbezügliches Aufzeichnungsverfahren

Info

Publication number: DE69509000T2
Application number: DE69509000T
Authority: DE
Inventors: Tsutomu Shiratori; Hiroshi Yoshida
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1994-05-26
Filing date: 1995-05-25
Publication date: 1999-09-30
Anticipated expiration: 2015-05-26
Also published as: EP0684598A2; EP0684598B1; DE69509000D1; US5648134A; JP3226418B2; JPH07320321A; EP0684598A3

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein thermisches Aufzeichnungsmedium, in dem eine lokale Region einer Aufzeichnungsschicht auf eine vorbestimmte Temperatur erhitzt wird, um den Zustand der lokalen Region zu verändern (dieses Verfahren wird nachfolgend als Erhitzmodus bezeichnet), so daß Informationen aufgezeichnet oder gelöscht werden, und bezieht sich insbesondere auf ein optisches Aufzeichnungsmedium, das in der Lage ist, Informationen durch Bestrahlung mit einem Lichtstrahl aufzuzeichnen, und auf ein Verfahren zum Aufzeichnen von Informationen auf dem Aufzeichnungsmedium.
Verschiedene Medien bzw. Träger sind als thermisches Aufzeichnungsmedium bzw. -träger vorgeschlagen worden, das in der Lage ist, Informationen in dem Erhitzmodus aufzuzeichnen. Insbesondere ein optisches Aufzeichnungsmedium, das in der Lage ist, eine optische Erfassung zur Aufzeichnung von Informationen durch eine Änderung des optischen Zustands bei einer Laserstrahlbestrahlung und bei Erhitzung durchzuführen, kann Informationen mit einer hohen Dichte aufzeichnen. Dieses optische Aufzeichnungsmedium wird in der Form einer optischen Scheibe oder Karte in der Praxis verwendet.
Eine Veränderung des optischen Zustands auf einem optischen Aufzeichnungsmedium wird beispielsweise durch eine ausgesparte Vertiefung, An-/Abwesenheit oder Deformation eines reflektierenden Films, Änderung eines Brechungsindex, magnetische Umpolung und dergleichen erzeugt. Die magnetische Umpolung wird dabei durch eine Änderung eines Polarisationszustandes von reflektiertem Licht erfaßt. Alternativ dazu wird eine Änderung des optischen Zustands durch eine Änderung der Menge des reflektierten Lichts oder dergleichen erfaßt.
Beim Aufzeichnen von Informationen auf einem optischen Aufzeichnungsmedium und beim Wiedergeben der Informationen von dem Medium werden durch eine Änderung von optischen Zuständen ausgebildete Markierungen ausgebildet und als Markierungsfolge entsprechend der Informationen aufgezeichnet, und diese Markierungsfolge wird mittels eines vorbestimmten Vorgangs zeitlich aufeinanderfolgend gelesen, wodurch die Informationen abgerufen werden.
Bei dieser Aufzeichnung des Erhitzmodus wird die Größe und Form einer auszubildenden Markierung mittels einer Temperaturverteilung bestimmt, die beim lokalen Erhitzen auf einem Aufzeichnungsfilm erzeugt wird. Die auf dem Aufzeichnungsfilm erzeugte Temperaturverteilung wird von thermischer Diffusion in der planaren Richtung des Films beeinflußt. Selbst wenn eine Erhitzungsregion mit einer konstanten linearen Geschwindigkeit verschoben wird, während die Einfallenergie pro Zeiteinheit konstant gehalten wird, verändert sich deshalb auf komplizierte Weise die auszubildende Temperaturverteilung in Abhängigkeit von der Bewegungsdistanz (der Länge der Markierung) und von dem Abstand zu einer unmittelbar vorangehenden Region. Fig. 1 zeigt eine Darstellung, die die Beziehung zwischen dem Eingangssignal und der Markierung bei einem herkömmlichen Aufzeichnungsverfahren zeigt. Wenn eine Aufzeichnungsschicht einfach entsprechend Informationen mittels des herkömmlichen Aufzeichnungsverfahrens erhitzt wird, verändern sich die Breiten (vertikalen Dimensionen in Fig. 1, d> a> b> c) der ausgebildeten Markierungen in Abhängigkeit von dem Informationsmuster, wie es in Fig. 1 gezeigt ist. Wenn eine derartige Markierungsfolge durch Lichtstrahlabtastung zeitlich aufeinanderfolgen gelesen wird, schwanken die Markierungslesezeitabläufe in Abhängigkeit von dem Markierungsmuster. Folglich können die ursprünglichen Informationen nicht genau abgerufen werden.
Verschieden Aufzeichnungskompensationsschemata zur Anpassung der Einfallenergie pro Zeiteinheit, der Erhitzungszeit und dergleichen entsprechend dem Informationsmuster sind vorgeschlagen worden, um dieses Problem zu lösen. Diese Aufzeichnungskompensationsschemata komplizieren jedoch unerwünscht die Aufzeichnungseinrichtung.
Die EP-A-0339875 beschreibt ein Verfahren zur Initialisierung eines magneto-optischen Aufzeichnungsmediums, auf dem Spuren zur Aufzeichnung von Informationsregionen durch Zwischenregionen getrennt sind. Beim Initialisierungsvorgang werden sowohl die Spuren als auch die Zwischenregionen in einer vorbestimmten Richtung magnetisiert.
Die US-A-4985885 beschreibt eine optische Speichervorrichtung mit einer Anzahl von streifenförmigen optischen Aufzeichnungsschichten zwischen ersten und zweiten lichtdurchlässigen Substraten. Die US-A-4985885 lehrt, die optische Weglänge von der äußeren Oberfläche des ersten Substrats zu den Aufzeichnungsschichten mit der optischen Weglänge von der äußeren Oberfläche der zweiten Oberfläche zu der Aufzeichnungsschicht in etwa gleichzumachen.
Die vorliegende Erfindung ist in Anbetracht der vorstehend beschriebenen herkömmlichen Probleme ausgestaltet worden und ihre Aufgabe ist, ein thermisches Aufzeichnungsmedium und dessen Aufzeichnungsverfahren bereitzustellen, die in der Lage sind, die Breite einer Zielmarkierungsspur unabhängig von dem Informationsmuster konstant zu halten, um die Wiedergabedefektrate (hierauf folgend als Wiedergabefehlerrate bezeichnet) selbst dann zu verringern, wenn eine Aufzeichnung in einem Erhitzmodus gemäß einem einfachen Aufzeichnungsschema durchgeführt wird.
Um die vorstehende Aufgabe entsprechend einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung zu lösen, wird ein Verfahren zum Aufzeichnen von Informationen auf einem thermischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht bereitgestellt, die eine Zustandsänderung bei einem Erhitzen erfährt, mit den Schritten Erhitzen einer ersten Region der Aufzeichnungsschicht auf eine erste vorbestimmte Temperatur, um eine bandartige Region in einem ersten Zustand auszubilden, die von Grenzregionen in einem zweiten Zustand entlang der longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist, und Aufzeichnen von Informationen durch Erhitzen ausgewählter Bereiche der bandartigen Region auf eine zweite vorbestimmte Temperatur entsprechend einem Informationssignal, bei der die ausgewählten Bereiche eine Zustandsänderung erfahren, dadurch gekennzeichnet, daß der Schritt zum Aufzeichnen von Informationen ein Erhitzen einer zweiten, einen ausgewählten Bereich der bandartigen Region einschließenden Region der Aufzeichnungsschicht auf die zweite vorbestimmte Temperatur umfaßt, wobei die zweite Region in die Grenzregionen hinein reicht, so daß eine Informationsregion erzeugt wird, deren Größe in der Dimension quer zu den longitudinalen Kanten durch die longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist.
Um die vorstehende Aufgabe entsprechend einer weiteren Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung zu lösen, wird ein thermisches Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht bereitgestellt, die eine Zustandsänderung beim Erhitzen erfährt, und mit einer oder mehreren Aufzeichnungsspuren zum Aufzeichnen von Informationen, wobei die Aufzeichnungsschicht zumindest eine bandartige Region in einem ersten Zustand hat, die von Grenzregionen in einem zweiten Zustand entlang der longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist, dadurch gekennzeichnet, daß die bandartige Region innerhalb der Spur derart ausgebildet ist, daß die Breite der Spur in der Richtung quer zu den longitudinalen Kanten der bandartigen Region nicht überschritten wird.
Eine weitere Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung stellt ein System zur Aufzeichnung von Informationen auf einem thermischen Aufzeichnungsmedium bereit, mit einem thermischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht, die eine Zustandsänderung bei einem Erhitzen erfährt, einer Einrichtung zum Erhitzen einer ersten Region der Aufzeichnungsschicht auf eine erste vorbestimmte Temperatur, um eine bandartige Region in einem ersten Zustand auszubilden, die von Grenzregionen in einem zweiten Zustand entlang der longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist, einer Einrichtung zur Aufzeichnung von Informationen, indem entsprechend einem Informationssignal ausgewählte Bereiche der bandartigen Region auf eine zweite vorbestimmte Temperatur erhitzt werden, bei der die ausgewählten Bereiche eine Zustandsänderung erfahren, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Aufzeichnung von Informationen so angeordnet ist, daß sie eine zweite, einen ausgewählten Bereich der bandartigen Region einschließende Region der Aufzeichnungsschicht auf die zweite vorbestimmte Temperatur erhitzt, wobei die zweite Region in die Grenzregionen hinein reicht, um eine Informationsregion zu erzeugen, deren Größe in der Dimension quer zu den longitudinalen Kanten durch die longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist.
Die Erfindung wird nachstehen anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beiliegende Zeichnung näher beschrieben.
Es zeigen:
Fig. 1 eine Darstellung, die die Beziehung zwischen dem Eingangssignal und den Aufzeichnungsmarkierungen bei einem herkömmlichen Verfahren veranschaulicht,
Fig. 2A und 2B Darstellungen, die die Beziehungen zwischen dem Eingangssignal und den Aufzeichnungsmarkierungen gemäß einem Ausführungsbeispiel veranschaulichen,
Fig. 3 eine Schnittansicht, die die Struktur eines magneto-optischen Aufzeichnungsmediums gemäß dem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht,
Fig. 4 einen Graphen, der die Beziehung zwischen der Aufzeichnungsleistung und dem Träger-Rausch-Abstand bzw. dem C/N-Verhältnis bei jeder Löschleistung zeigt,
Fig. 5 eine Darstellung, die die Beziehung zwischen dem Eingangssignal, der Niedrigschreibdichte- Ansteuersignalform bzw. der LD-Ansteuersignalform und der Domänenform in einem thermischen Auf zeichnungsmedium gemäß Beispiel 1 veranschaulicht,
Fig. 6 eine Darstellung, die eine Domänenform veranschaulicht, die mittels eines Verfahrens eines Vergleichsbeispiels 1 aufgezeichnet wird,
Fig. 7 eine Darstellung, die eine Domänenform veranschaulicht, die mittels eines Verfahrens eines Vergleichsbeispiels 2 aufgezeichnet wird,
Fig. 8 eine Darstellung, die den Zustand eines Aufzeichnungsfilms, der mittels eines Verfahrens eines Beispiels 2 ausgebildet ist, und eine Domänenform veranschaulicht, die in einer bandförmigen, aufzeichnungsfähigen Region ausgebildet ist,
Fig. 9 einen Graphen, der die Beziehung zwischen der Mediumtemperatur und der magnetischen Energiedichte jeder Schicht zeigt, wenn ein nach unten gerichtetes externes Magnetfeld Hb von 300 Oe in Beispiel. 5 angelegt wird, und
Fig. 10 eine Darstellung, die einen Übergangsvorgang eines Magnetisierungszustands veranschaulicht, der einer Änderung der Temperatur eines thermischen Aufzeichnungsmediums des Beispiels 5 entspricht.
Fig. 2A und 2B sind Darstellungen, die die Beziehungen zwischen dem Eingangssignal und den Markierungen veranschaulichen, die auf einem thermischen Aufzeichnungsmedium gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ausgebildet werden. Fig. 2A ist eine Darstellung zur Beschreibung des Aufzeichnungsmediums der vorliegenden Erfindung, während Fig. 2B eine Darstellung zur Erklärung eines Aufzeichnungsverfahrens der vorliegenden Erfindung ist. Gemäß dem thermischen Aufzeichnungsmedium der vorliegenden Erfindung wird eine aufzeichnungsfähige Region durch eine bandförmige Region mit einer vorbestimmten Breite festgelegt. Wie es in Fig. 2A gezeigt ist, kann deshalb eine Markierungsfolge mit einer vorbestimmten vertikalen Dimension (Breite) unabhängig von dem Informationsmuster ausgebildet werden, selbst wenn eine Aufzeichnung durchgeführt wird, indem einfach entsprechend der Informationen erhitzt wird.
Gemäß einem Ausführungsbeispiel des Aufzeichnungsverfahrens, wird eine bandförmige Region mit einer vorbestimmten Breite durch einen Informationslöschvorgang ausgebildet, während die bandförmige Region gemäß Informationen in einem Informationsaufzeichnungsvorgang teilweise gelöscht wird. Daher sind beim Aufzeichnen ausgebildete Markierungen Restbereiche der bandförmigen Region, wie es in Fig. 2B gezeigt ist, wodurch die Breite der Markierungsfolge konstant gehalten wird.
Ein Verfahren zur Durchführung einer Laserausheilung oder dergleichen, um die zweiseitigen Bereiche der bandartigen Region in einen aufzeichnungsunfähigen Zustand zu ändern, oder ein Ätzverfahren bei der Strukturierung sind als Verfahren zur Ausbildung einer aufzeichnungsfähigen bandartigen Region mit einer vorbestimmten Breite verfügbar.
Als erstes wird ein magneto-optisches Aufzeichnungsmedium gemäß einem Ausführungsbeispiel nachstehend beschrieben.
Fig. 3 zeigt eine schematische Schnittansicht, die die Struktur eines erfindungsgemäßen, magneto-optischen Aufzeichnungsmediums gemäß zeigt. Eine Magnetschicht 3 wird auf einem transparenten Substrat 1, das aus Polykarbonat oder Glas besteht, zwischen einer dielektrischen Schicht 2 und einer dielektrischen Schicht 4 ausgebildet, die als Schutzfilm dient und auf der Magnetschicht 3 ausgebildet ist. Jede Schicht kann zum Beispiel durch kontinuierliche Abscheidung oder kontinuierliches Sputtern unter Verwendung eines Magnetronsputtergerätes ausgebildet werden.
Bei dem vorstehenden Medium bzw. Träger können verschiedene magnetischen Materialien zur Ausbildung der Magnetschicht verwendet werden. Die Magnetschicht kann zum Beispiel aus einer Gruppe von amorphen Seltenerde- Eisenlegierungen mit 10 bis 50 at % zumindest eines aus Pr, Nd, Sm, Gd, Tb, Dy und Ho ausgewählten Seltenerde- Elements bzw. Lanthanoids und mit 50 bis 90 at % zumindest eines aus Fe, Co und Ni ausgewählten Eisengruppenelements bestehen. Ein Element wie Cr, Mn, Cu, Ti, Al, Si, Pt oder In kann zu der vorstehenden Zusammensetzung in kleinen Mengen hinzugefügt werden, um die Korrosions beständigkeit zu verbessern.
Die Sättigungsmagnetisierung jeder Magnetschicht kann durch das Zusammensetzungsverhältnis des Seltenerde- Elements und des Eisengruppenelements gesteuert werden. Die Koerzitivkraft kann durch die Anpassung der Sättigungsmagnetisierung gesteuert werden. Es werden jedoch im Wesentlichen saubere Materialelemente ausgewählt, um die senkrechte Magnetisierungsanisotropie anzupassen, wodurch die Koerzitivkraft gesteuert wird. Auf Tb und Dy basierende Materialien haben im Allgemeinen eine hohe senkrechte Magnetisierungsanisotropie und eine große Koerzitivkraft, während auf Gd basierendes Material eine niedrige Anisotropie und eine kleine Koerzitivkraft hat. Die senkrechte Magnetisierungsanisotropie ist reduziert, wenn ein nicht magnetisches Element hinzugefügt wird.
Die Curie-Temperatur kann auch durch das Zusammensetzungsverhältnis gesteuert werden. Um die Curie-Temperatur unabhängig von der Sättigungsmagnetisierung zu steuern, wird ein Material verwendet, das durch teilweises Substituieren von Fe mit Co gewonnen wurde, und wird vorzugsweise ein Verfahren zur Steuerung dieser Substitutionsmenge verwendet. Genauer gesagt wird eine Zunahme der Curie-Temperatur um 6ºC erwartet, wenn ein at % Fe mit Co substituiert wird. Der Co-Gehalt wird unter Verwendung dieser Beziehung angepaßt, um eine erwünschte Curie- Temperatur zu erhalten. Ein nicht magnetisches Schichtelement wie Cr oder Ti kann in sehr kleinen Mengen hinzugefügt werden, um die Curie-Temperatur zu senken. Alternativ dazu können zwei oder mehrere Seltenerde-Elemente hinzugefügt werden, wobei deren Zusammensetzungsverhältnis angepaßt wird, wodurch die Curie-Temperatur gesteuert wird.
Die Dicke jeder Schicht wird gesteuert, indem die Filmausbildungszeit angepaßt wird.

(Beispiel 1)

B-dotiertes Si und Tb, Fe- und Co-Ziele werden in einem DC-Magnetronsputteringgerät bzw. Gleichstrom- Magnetronsputteringgerät angebracht ein scheibenförmiges Polykarbonatsubstrat mit einer Vielzahl von spiralförmigen oder konzentrischen Spuren, die aus Erhöhungen und Vertiefungen bestehen, wird auf einem Substrathalter fixiert, und das Gerät wird durch eine Kryopumpe auf ein Hochvakuum von 1 · 10&supmin;&sup5; Pa oder weniger evakuiert.
Ar-Gas wurde der Kammer zugeführt, die in dem Hochvakuumzustand gehalten wurde, bis der Druck 0.3 Pa betrug. Eine 70 nm dicke SiN-Schicht wurde als dLelektrische Schicht ausgebildet, während das Substrat rotiert wurde. Hierauf wurde eine 80 nm dicke TbFeCo-Schiclht als Magnetschicht ausgebildet, und schließlich wurde eine 50 nm dicke SiN- Schicht als Schutzschicht ausgebildet.
Die resultierende Scheibe wurde aus der Vakuumkammer entnommen, und die Filmoberfläche wurde mit einem UV-Harz beschichtet.
Das Zusammensetzungsverhältnis des Seltenerde-Elements zu dem Eisengruppenelement in der TbFeCo-Schicht, die als Magnetschicht dient, wurde so angepaßt, daß die Untergittermagnetisierung des Eisengruppenelements bei Raumtemperatur dominant war und die Koerzitivkraft etwa 10 kOe betrug. Der Co-Gehalt wurde angepaßt, die Curie- Temperatur auf etwa 150ºC zu setzen.
Bei der SiN-Schichtausbildung wurde N&sub2;-Gas zusätzlich zu Ar-Gas zugeführt, und die SiN-Schicht wurde durch gleichstromreaktives Sputtern ausgebildet. Die Magnetschicht wurde durch Anlegen einer Gleichspannung an jedes der Tb- Fe- und Co-Ziele ausgebildet, und ihre Zusammensetzung wurde durch Anpassen des Leistungsverhältnisses gesteuert.
Ein Magnetfeld von 15 kOe wurde nach unten gerichtet auf die Scheibe angelegt, um die Magnetschicht vollständig nach unten zu magnetisieren (zu initialisieren). Die Scheibe wurde in eine Steuereinheit gesetzt, die eine Laserwellenlänge von 780 nm und einen optischen Kopf mit einer Objektivlinse mit der numerischen Apertur (NA) von 0,55 hat. Die Scheibe wurde mit einer vorbestimmten Frequenz von 50 Hz rotiert, und die Aufzeichnungseigenschaften wurden an einer Position im Abstand von 30 mm in radialer Richtung gemessen. Das Vormagnetisierungsfeld Hb in dem Aufzeichnungs- und Löschmodus wurde auf 300 Oe gesetzt. Im Löschmodus bestrahlte ein DC-Laserstrahl die Scheibe, während ein nach oben gerichtetes Vormagnetisierungsfeld auf die Scheibe angelegt wurde. Im Aufzeichnungsmodus wurde ein Laser gemäß Informationen gesteuert, während ein nach unten gerichtetes Vormagnetisierungsfeld an die Scheibe angelegt wurde.
Teile von Informationen wurden jeweils bei Löschleistungen von 4 mW, 5 mW, 6 mW und 7 mW gelöscht und ein Laser wurde mit einer Frequenz von 6,25 MHz und einem Leistungsverhältnis von 25% zur Aufzeichnung von Informationen betrieben, wodurch die Aufzeichnungsleistungsabhängigkeit des C/N-Verhältnisses gemessen wurde, um zunächst angemessene Lösch- und Aufzeichnungsleistungen zu erhalten. Die gewonnen Resultate sind in Fig. 4 gezeigt.
Nachdem eine bandförmige Löschregion entlang Spuren ausgebildet wurde, die einer Aufzeichnung unterzogen wurden, was unter Verwendung eines kontinuierlichen oder diskontinuierlichen Laserstrahls mit einer Löschleistung von 6 mW und einem nach oben gerichteten Vormagnetisierungsfeld erreicht wurde, wurden (1-7) lauflängenbegrenzte Zufallsdaten bzw. (1-7) RLL-Zufallsdaten auf der Löschregion unter Verwendung eines Laserstrahls mit einer Aufzeichnungsleistung von 7,5 mW und eines nach unten gerichteten Vormagnetisierungsfeldes markierkantenaufgezeichnet bzw. mit Hilfe von Markierungskanten aufgezeichnet. Es sei angemerkt, daß die Breite der Region der Magnetschicht, die durch diese Aufzeichnungsleistung erhitzt wurde, in einer Richtung senkrecht zu der Spur größer als die Breite der Löschregion war. Die Lasersteuersignalform war so gegeben, daß ein Laserpuls ausgestrahlt wurde, der eine Breite von (n-1)T in Bezug auf ein Signal mit einer Breite von nT mit einer Anstiegsverzögerung von 1 T von dem Eingangssignal hat. Die Taktfrequenz wurde auf 25 MHz festgelegt, und die kürzeste Markierungslänge wurde auf 0,75 um festgelegt.
Diese Zufallsdaten wurden mit einer Wiedergabeleistung von 1.5 mW abgerufen, und die Signalform des resultierenden Analogsignals wurde aufgeteilt und auf der Gleichstromebene binarisiert. Das Intervall zwischen den Führungskanten des resultierenden Digitalsignals wurde gemessen. 105 Stichproben für alle Datenmuster wurden genommen, um eine relative Schwankungsverteilung zu erhalten. Die Schwankungsspanne betrug 40% der Erfassungsfensterbreite (40 nsec), und praktisch zufriedenstellende Wiedergabeeigenschaften wurden erhalten. Nun wurden die magnetische Domänen mit einem Polarisationsmikroskop beobachtet. Die Ergebnisse sind in Fig. 5 zusammen mit dem Eingangssignal und der Lasersteuersignalform gezeigt. Fig. 5 zeigt, daß Markierungen mit einer vorbestimmten vertikalen Breite ausgebildet werden.
In Beispiel 1 ist ein Aufzeichnungsverfahren beschrieben worden, das auf der Annahme basiert, daß eine Scheibe eine Magnetaufzeichnungsschicht ohne Kompensationstemperatur in einem Temperaturbereich der Raumtemperatur oder mehr und der Curie-Temperatur oder weniger hat. Wenn eine Scheibe mit einer Magnetaufzeichnungsschicht mit einer Kompensationstemperatur innerhalb des obenstehenden Bereichs verwendet wird, ist die Richtung des löschenden Vormagnetisierungsfeldes so festgelegt, daß sie mit der Richtung einer Anfangsmagnetisierung der gesamten Oberfläche der Scheibe übereinstimmt, und die Richtung des aufzeichnenden Richtmagnetisierungsfeldes ist entgegengesetzt dazu.

(Vergleichsbeispiel 1)

Ein Magnetfeld mit 15 kOe wurde auf eine zu der in Beispiel 1 identischen Scheibe nach oben gerichtet angelegt, um die Magnetschicht vollständig nach oben zu magnetisieren (zu initialisieren). Die Scheibe wurde in eine Steuereinheit mit einer Laserwellenlänge von 780 nm und einen optischen Kopf eingesetzt" der eine Objektivlinse mit einer numerischen Apertur (NA) von 0,55 hat. Die Scheibe wurde mit einer vorbestimmten Frequenz von 50 Hz rotiert, und die Aufzeichnungseigenschaften wurden an einer Position im Abstand von 30 mm in radialer Richtung gemessen. Das Vormagnetisierungsfeld Hb in den Aufzeichnungs- und Löschmoden wurde auf 300 Oe festgelegt. Im Löschmodus bestrahlte ein DC-Laserstrahl die Scheibe, während ein nach oben gerichtetes Vormagnetisierungsfeld an die Scheibe angelegt wurde. In dem Aufzeichnungsmodus wurde ein Laser in Übereinstimmung mit Informationen betrieben, während ein nach unten gerichtetes Vormagnetisierungsfeld an die Scheibe angelegt wurde.
Nach denselben Verfahren wie in Beispiel 1 wurde ein Laser mit einer Frequenz von 6,25 MHz und mit einem Leistungsverhältnis von 25% zu den Aufzeichnungsinformationen betrieben, und die optimale Aufzeichnungsleistung wurde bei 7,5 mW gefunden. (1-7)RLL-Zufallsdaten wurden mit dieser Leistung nach demselben Verfahren wie in Beispiel 1 markierkantenaufgezeichnet.
Als dieses Aufzeichnungsmuster nach denselben Verfahren wie in Beispiel 1 abgerufen wurde, betrug die Schwankungsspanne 10% der Erfassungsfensterbreite oder weniger (40 nsec). Die Fehlerrate war groß, und praktisch zufriedenstellende Wiedergabeeigenschaften konnten nicht erhalten werden.
Die magnetischen Domänen des Mediums wurden mit einem Polarisationsmikroskop beobachtet. Die Ergebnisse sind in Fig. 6 gezeigt. Fig. 6 zeigt, daß die Vertikaldimensionen der ausgebildeten Markierungen ungleichmäßig sind.

(Vergleichsbeispiel 2)

(1-7)RLL-Zufallsdaten wurden nach denselben Verfahren wie in Beispiel 1 markierkantenaufgezeichnet, nur daß die Löschleistung zu 12 mW geändert wurde.
Als dieses Aufzeichnungsmuster nach denselben Verfahren wie in Beispiel 1 wiedergegeben wurde, betrug die Schwankungsspanne 10% der Erfassungsfensterbreite (40 nsec) oder weniger. Die Fehlerrate war groß, und praktisch zufriedenstellende Wiedergabeeigenschaften konnten nicht erhalten werden.
Die magnetischen Domänen des Mediums wurden mit einem Polarisationsmikroskop beobachtet. Die Ergebnisse sind in Fig. 7 gezeigt. Fig. 7 zeigt, daß sich die Vertikaldimensionen der ausgebildeten Markierungen (Hohlbereiche in Fig. 7) verändern, weil die Breite einer durch die Löschleistung umgekehrten Region größer als die Breite einer durch die Aufzeichnungsleistung umgekehrten Region ist.

(Beispiel 2)

Ein DC-Laser mit einer Leistung von 12 mW bestrahlte mit einer linearen Geschwindigkeit von 1,0 m/sec die gesamte Oberfläche einer zu Beispiel 1 identischen Scheibe, während die Vertiefung der Scheibe servogesteuert wurde. Ein Aufzeichnungsfilm in der Nähe der Vertiefung wurde mittels dieses Verfahrens auf 400ºC oder mehr erhitzt, und der erhitze Bereich veränderte sich strukturell, so daß er aufzeichnungsunfähig war. Ein bandförmiger Bereich mit einer Breite von ungefähr 0,6 um zwischen den Vertiefungen blieb als aufzeichnungsfähige Region übrig.
Nachdem (1-7)RLL-Zufallsdaten auf dieser Scheibe mit einer Aufzeichnungsleistung von 7,5 mW nach denselben Verfahren wie in Beispiel 1 markierkantenaufgezeichnet wurden, wurden die Informationen nach denselben Verfahren wie in Beispiel 1 abgerufen. Die Schwankungsspanne betrug 35% der Erfassungsfensterbreite (40 nsec), und praktisch zufriedenstellende Wiedergabeeigenschaften wurden erhalten.
Die magnetischen Domänen des Mediums wurden mit einem Polarisationsmikroskop beobachtet. Die Ergebnisse sind in Fig. 8 gezeigt. Fig. 8 zeigt, daß eine aufzeichnungsunfähige Region um die bandförmige aufzeichnungsfähige Region ausgebildet wird und eine Breite von 0,6 um hat.
In diesem Ausführungsbeispiel wird der Aufzeichnungsfilm in der Nähe der Vertiefung aufzeichnungsunfähig gemacht. Umgekehrt kann ein Aufzeichnungsfilm in der Nähe eines Erhöhungsbereichs aufzeichnungsunfähig gemacht werden, während ein bandförmiger Bereich zwischen den Erhöhungsbereichen als aufzeichnungsfähige Region übrigbleiben kann.
Beispiele, in denen die vorliegende Erfindung auf ein Aufzeichnungsmedium vom Phasenänderunstyp und andere Aufzeichnungsmedien vom Einmal-Schreibtyp angewendet wird, sind nachstehend beschrieben.

(Beispiel 3)

Eine 150 nm dicke ZnS-SiO&sub2;-Misch-Schicht, eine 20 nm dicke GeSbTe-Schicht, eine 15 nm dicke ZnS-SiO&sub2;-Schicht und eine 50 nm dicke Au-Schicht werden nacheinander auf einem Substrat mittels eines Gleichstrommagnetronsputteringverfahrens ausgebildet. Die resultierende Scheibe wurde ausgeheilt, so daß die GeSbTe-Phasenänderungsaufzeichnugsschicht komplett in den kristallinen Zustand versetzt wurde.
Die Scheibe wurde in eine Steuereinheit mit einer Laserwellenlänge von 780 nm und einem optischen Kopf eingesetzt, der eine Objektivlinse mit einer numerischen Apertur (NA) von 0.55 hat. Die Scheibe wurde mit einer vorbestimmten Frequenz von 50 Hz rotiert, und die Aufzeichnungseigenschaften wurden an einer Position im Abstand von 30 mm in der radialen Richtung gemessen.
Wenn ein DC-Laser mit einer Leistung von 14 mW strahlte, bildete sich eine bandförmige amorphe Region mit einer Breite von ungefähr 0.8 um aus. Hierauf wurde ein Laser mit einer Leistung von 10 mW angesteuert, um die bandförmige Region mit dem Laserstrahl bei einer Frequenz von 6.25 MHz und einem Leistungsverhältnis von 25% zu bestrahlen. Der bestrahlte Bereich wurde wieder kristallin, so daß die bandförmige Region periodisch eingeteilt wurde.
(1-7)RLL-Zufallsdaten wurden mit einer Löschleistung von 14 mW und einer Aufzeichnungsleistung von 10 mW markierkantenaufgezeichnet. Die Lasersteuersignalform war so vorgesehen, daß ein Laserpuls mit einer Breite von (n-1)T in Bezug auf ein Signal mit einer Breite von nT mit einer Anstiegsverzögerung von 1 T von dem Eingangssignal ausgestrahlt wurde. Die Taktfrequenz war auf 25 MHz eingestellt, und die kürzeste Markierungslänge war auf 0.75 um eingestellt.
Diese Zufallsdaten wurden mit einer Wiedergabeleistung von 1,5 mW wiedergegeben, und die Signalform des resultierenden Analogsignals wurde aufgeteilt und auf der DC- Ebene binarisiert. Das Intervall zwischen den Führungskanten des resultierenden Digitalsignals wurde gemessen. 10&sup5; Stichproben für alle Datenmuster wurden genommen, um eine relative Schwankungsverteilung zu erhalten. Die Schwankungsspanne betrug 40% der Erfassungsfensterbreite (40nsec), und praktisch zufriedenstellende Wiedergabeeigenschaften wurden erhalten.

(Vergleichsbeispiel 3)

Ein Laser mit einer Leistung von 18 mW wurde angesteuert, um eine Region in dem kristallinen Zustand mit einem Laserstrahl zu bestrahlen, was wie in Beispiel 3 bei einer Frequenz von 6.25 MHz und einem Leistungsverhältnis von 25% durchgeführt wurde. Der bestrahlte Bereich wurde amorph, und periodische Markierungen wurden ausgebildet.
(1-7)RLL-Zufallsdaten wurden nach denselben Verfahren wie in Beispiel 3 mit dieser Aufzeichnungsleistung markierkantenaufgezeichnet. Wenn dieses Aufzeichnungsmuster nach denselben Verfahren wie in Beispiel 3 abgerufen wurde, betrug die Schwankungsspanne 40% der Erfassungfensterbreite oder weniger (40nsec). Die Fehlerrate war groß, und praktisch zufriedenstellende Wiedergabeeigenschaften konnten nicht erhalten werden.

(Beispiel 4)

Ein Aufzeichnungsfilm vom Einmal-Schreibtyp eines organischen Farbstoffsystems wurde auf ein Substrat mit Vertiefungen und Erhöhungen darstellenden Spuren schleuder beschichtet.
Ein Gleichstrom- bzw. DC-Laser bestrahlte diese Scheibe, während die Vertiefungen servogesteuert wurden, so daß ein Aufzeichnungsfilm in der Nähe der Vertiefung in einen Aufzeichnungszustand versetzt wurde, um dadurch für weiteres Beschreiben ungeeignet zu sein. Nur der Erhöhungsbereich blieb als aufzeichnungsfähige Region übrig.
Wenn eine Aufzeichnung so durchgeführt wird, daß eine Region mit einer Breite, die größer als die Breite der aufzeichnungsfähigen Region ist, auf eine Aufzeichnungstemperatur erhitzt wird, können Markierungen mit einer vorbestimmten Breite immer unabhängig von einem Aufzeichnungsmuster ausgebildet werden, wodurch ein gutes Wiedergabesignal erhalten wird.
In diesem Ausführungsbeispiel wurde im voraus der Aufzeichnungsfilm in der Nähe der Vertiefung in einen Aufzeichnungszustand versetzt. Ein zu diesem Ausführungsbeispiel umgekehrte Maßnahme kann derart angewendet werden, daß ein Aufzeichnungsfilm in der Nähe eines Erhöhungsbereichs im voraus in einen Aufzeichnungszustand versetzt wird, während nur ein Vertiefungsbereich als aufzeichnungsfähige Region übrigbleibt.

(Beispiel 5)

Das Aufzeichnungsverfahren der vorliegenden Erfindung ist auch auf ein magneto-optisches Aufzeichnungsmedium anwendbar, das in der Lage ist, eine Überschreiboperation mittels optischer Modulation durchzuführen.
Eine 80 nm dicke Siliziumnitridschicht wurde mittels eines Sputteringverfahrens auf einem scheibenförmigen Substrat mit einem Durchmesser von 130 nm, Spiralspuren, und einem Vorformat ausgebildet. In diesem Fall hatten die Spuren einen Abstand von 1.6 um, eine Erhöhungsbreite von 1.0 um und eine Vertiefungsbreite von 0.6 um. Fünf Arten von Magnetschichten, das heißt Magnetschicht 1 bis Magnetschicht 5 in Tabelle 1, wurden nacheinander auf die Siliziumnitridschicht in einem Vakuumzustand aufgeschichtet. Tabelle 1
h: Filmdicke
Tc: Curie-Temperatur
Ms: Sättigungsmagnetisierung
Hc: Koerzitivkraft
σW = Magnettrennwandenergiedichte
(Ms, Hc und σW sind Werte bei Raumtemperatur)
Eine 60 nm dicke Siliziumnitridschicht wurde ausgebildet, um eine magneto-optische Scheibe zu bereiten, die zu einer Überschreiboperation durch optische Modulation fähig ist. Ein Magnetfeld von ungefähr 15 kOe wurde an die gesamte Oberfläche der Scheibe angelegt, um die Richtung der Magnetisierung der Magnetschicht 5 in der Richtung nach oben senkrecht zu der Filmoberfläche festzulegen.
Ein Magnetisierungszustand, in dem eine Magnetzwischenwand vorhanden ist, und ein Magnetisierungszustand, in dem eine Magnetzwischenwand fehlt, kann entsprechend den Aufzeichnungsoperationen zur Erhitzung und Kühlung der Scheibe auf zwei verschiedene Temperaturzustände unter der Anwendung eines vorbestimmten externen Magnetfeldes willkürlich festgelegt werden. Zumindest eine der Vielzahl von Magnetschichten des magneto-optischen Aufzeichnungsmediums wird selbst bei den Aufzeichnungsoperationen immer in einem vorbestimmt ausgerichteten Zustand gehalten.
In der folgenden Beschreibung seien die Sättigungsmagnetisierung, die Koerzitivkraft und die Filmdicke einer i- ten Magnetschicht und die Magnetwandenergiedichte der Zwischenwand zwischen der iten Magnetschicht und der j- ten Magnetschicht jeweils als Msi, Hci, hi und σWij definiert. Es sei erwähnt, daß die Zeichen in den folgenden Ungleichungen dieselbe Ordnung haben. Fig. 9 zeigt die Temperaturabhängigkeit der magnetischen Energiedichte jeder Schicht dieser Scheibe, wenn das vorbestimmte, extern auf diese Scheibe angelegte Magnetfeld ein nach unten gerichtetes Magnetfeld Hb mit 300 Oe ist. Die nachfolgenden Fakten sind in Fig. 9 zu finden.
Genauer gesagt ist bei Raumtemperatur die Magnetschicht 3 nach oben magnetisiert (das heißt, die atomaren Spins des Eisengruppenelements sind nach oben gerichtet, da die Untergittermagnetisierung des Eisengruppenelements dominant ist), da 2Ms&sub3;Hc&sub3;h&sub3; > 2Ms&sub3;h&sub3;Hb ± σw13 - σw35 ist. Magnetschicht 1 ist in eine willkürliche Richtung unabhängig von der Richtung der Magnetisierung der Magnetschicht 3 magnetisiert, da 2Ms&sub1;h&sub1;h&sub1; > ± 2Ms&sub1;h&sub1;Hb ± σw13 ist.
Beim Temperaturanstiegsprozeß wird 2Ms&sub1;Hc&sub1;h&sub1; < -2Ms&sub1;h&sub1;Hb + σw13 erhalten, wenn die Mediumtemperatur bzw. Trägertemperatur eine Temperatur T&sub1; (bis zu 180ºC) in der Nähe der Curie- Temperatur der Magnetschicht 1 erreicht. Da 2Ms&sub3;Hc&sub3;h&sub3; > 2Ms&sub3;h&sub3;Hb ± σw13 - σw35 bestandhält, wird die Magnetschicht 1 in einen dem Magnetisierungszustand der Magnetschicht 3 folgenden Zustand magnetisiert, in dem eine Kopplung durch eine Austauschkraft stabil ist.
Beim Temperaturerhöhungsprozess wird 2Ms&sub3;Hc&sub3;h&sub3; < 2Ms&sub3;h&sub3;Hb- σw13 - σw35, wenn die Mediumtemperatur eine Temperatur T&sub2; (bis zu 250ºC) in der Nähe der Curie-Temperatur der Magnetschicht 3 erreicht. Die Richtung der Magnetisierung der Magnetschicht 3 wird nach unten umgekehrt.
Beim Kühlprozeß nach Erhitzen des Mediums auf eine höhere Temperatur als T&sub2;, wenn die Mediumtemperatur eine Temperatur T&sub0; (bis zu 100ºC) erreicht, die gleich groß oder kleiner als die Curie-Temperatur der Magnetschicht 4 ist, nimmt σw35 Zu, SO daß 2Ms&sub3;Hc&sub3;h&sub3; < -2MS&sub3;h&sub3;Hb - σw13 + σw35 wird, und 2Ms&sub5;Hc&sub5;h&sub5; > 2Ms&sub5;h&sub5;Hb + σw35 bei dem gesamten Temperaturprozeß gültig ist. Die Magnetschicht 3 wird wieder nach oben umgekehrt, während die Magnetschicht 5 den Anfangszustand beibehält. Nun wird 2Ms&sub1;Hc&sub1;h&sub1; > ±2Ms&sub1;h&sub1;Hb ± σw13, so daß die Magnetschicht 1 den unmittelbar vorangehenden Magnetisierungszustand unabhängig von Magnetschicht 3 beibehält.
Wenn das Medium gekühlt wird, ohne auf T2 erhitzt worden zu sein, wird 2Ms&sub3;Hc&sub3;h&sub3; > 2Ms&sub3;h&sub3;Hb ± σw13 - σw35. Deshalb ändert sich der Magnetisierungszustand der Magnetschicht 3 nicht, sondern bleibt nach oben ausgerichtet.
Folglich kann unabhängig von der An-/Abwesenheit einer Magnetwand in dem Anfangsmagnetisierungszustand ein Magnetisierungszustand, in dem es keine Magnetzwischenwände zwischen den jeweiligen Schichten gibt, entsprechend der Erhitzungs- und Kühlungsoperationen auf den ersten Temperaturzustand ausgebildet werden, in dem die Mediumtemperatur die Temperatur T&sub1; in der Nähe der Curie- Temperatur der Magnetschicht 1 erreicht. Ein Magnetisierungszustand, in dem eine Magnetzwischenwand zwischen den Magnetschichten 1 und 3 vorhanden ist, kann entsprechend der Erhitzungs- und Kühlungsoperatiorien auf den zweiten Temperaturzustand ausgebildet werden, in dem die Mediumtemperatur die Temperatur T&sub2; in der Nähe der Curie- Temperatur der Magnetschicht 3 erreicht. Die Magnetschicht 5 behält den Anfangsmagnetisierungszustand in allen Erhitzungs- und Kühlungsprozessen auf die zwei vorstehend beschriebenen Temperaturzustände immer bei.
In der vorstehenden Beschreibung werden die Koerzitivkraftenergien und die Zeemanenergien der Magnetschichten 2 und 4 vernachlässigt, weil sie geringen Einfluß auf das Magnetisierungsverhalten haben. Die Magnetblochwandenergien und diamagnetischen Energien werden auch wegen desselben vorstehend beschriebenen Grundes vernachlässigt. Der Übergangsprozeß der Magnetisierungszustände, die jeweils Änderungen in der Mediumtemperatur entsprechen, sind in Fig. 10 gezeigt. Es sei erwähnt, daß die Magnetschichten 2 und 4 Magnetzwischenschichten sind, um σw13 und σw35 so einzustellen, daß die in Fig. 9 gezeigten Größen und Temperaturabhängigkeiten gelten. Zu diesem Zweck wird vorzugsweise die Curie-Temperatur der Magnetschicht 2 auf ungefähr Tc1 oder mehr eingestellt (Tc1 ist die Curie-Temperatur der Magnetschicht 1), und ein Material, dessen Magnetwandenergie so niedrig wie möglich ist, wird für die Magnetschicht 2 ausgewählt. Die Curie- Temperatur der Magnetschicht 4 ist vorzugsweise ungefähr Tc1 oder weniger, und ein Material, dessen Magnetwandenergie so hoch wie möglich ist, wird für Magnetschicht 4 ausgewählt.
Die Scheibe wurde in eine Steuereinheit eingesetzt, die eine Laserwellenlänge von 780 nm und einen optischen Kopf mit einer Objektivlinse mit einer numerischen Apertur (NA) von 0.55 hat. Die Scheibe wurde mit einer vorbestimmten Periode von 50 Hz rotiert, und die Aufzeichnungseigenschaften wurden an einer Position im Abstand von 30 mm in radialer Richtung gemessen. Das Vormagnetisierungsfeld Hb in den Aufzeichnungs- und Löschmodi wurde auf 300 Oe eingestellt. Im Löschmodus wurde die Scheibe mit einem DC-Laserstrahl bestrahlt, während ein nach unten gerichtetes Vormagnetisierungsfeld an die Scheibe angelegt wurde. In dem Aufzeichnungsmodus wurde ein Laser entsprechend Informationen angesteuert, während ein nach oben gerichtetes Vormagnetisierungsfeld an die Scheibe angelegt wurde.
Vor dieser Messung wurde ein 10 mW Laserstrahl auf die gesamten Erhöhungs- und Vertiefungsbereiche gestrahlt, während ein Magnetfeld von 300 Oe nach oben gerichtet an die Scheibe angelegt wurde, wodurch die Richtung der atomaren Spins des Eisengruppenelemeruts jeder Magnetschicht nach der Richtung der Magnetschicht 5 nach oben ausgerichtet wurde.
Ein 8,5 mW DC-Laserstrahl wurde auf die Scheibe gestrahlt, während ein nach unten gerichtetes Vormagnetisierungsfeld auf die Scheibe angelegt blieb, wodurch eine Magnetwand in einer bandartigen Region mit einer Breite von ungefähr 0,75 um ausgebildet wurde. Ein 7 mW Laser wurde mit einer Frequenz von 6.25 MHz und mit einem Leistungsverhältnis von 25% betrieben, um einen Laserstrahl auf die bandförmige Region zu strahlen. In dem Bestrahlungsbereich wurde die Richtung der Magnetisierung einer aufzeichnungsfähigen Region umgekehrt, und die Magnetwand verschwand. Daher wurde die bandartige Region periodisch aufgeteilt.
(1-7)RLL-Zufallsdaten wurden mit einer Löschleistung von 8.5 mW und einer Aufzeichnungsleistung von 7 mW markierkantenaufgezeichnet. Die Lasersteuersignalform ist so gegeben, daß ein Laserpuls mit einer Breite von (n-1)T in Bezug auf ein Signal mit einer Breite von nT mit einer Anstiegsverzögerung von 1 T zu dem Eingangssignal ausgestrahlt wurde. Die Taktfrequenz wurde auf 25 MHz eingestellt und die kürzeste Markierungslänge wurde auf 0.75 um eingestellt.
Diese Zufallsdaten wurden mit einer Wiedergabeleistung von 1.5 mW abgerufen, und die Signalform des resultierenden Analogsignals wurde aufgeteilt und auf der DC-Ebene binarisiert. Das Intervall zwischen den Führungskanten des resultierenden Digitalsignals wurde gemessen. 10&sup5; Stichproben für alle Datenmuster wurden genommen, um eine relative Schwankungsverteilung zu erhalten. Die Schwankungsspanne betrug 40% der Erfassungsfensterbreite (40 nsec), und praktisch zufriedenstellende Wiedergabeeigenschaften wurden erhalten.
In diesem Beispiel ist ein Aufzeichnungsverfahren beschrieben worden, das auf der Annahme beruht, daß eine Scheibe Magnetschichten 3 und 5 ohne Kompensationstemperatur in einem Temperaturbereich der Raumtemperatur oder höher und der Curie-Temperatur oder tiefer hat. Wenn eine Scheibe mit einer Magnetaufzeichnungsschicht mit einer Kompensationstemperatur in dem vorstehenden Bereich verwendet wird, kann die Beziehung zwischen der Richtung des Vormagnetisierungsfeldes und der Richtung der Magnetisierung der Scheibe geeignet verändert werden.
Ein Medium kann verwendet werden, das eine Überschreiboperation mittels optischer Modulation durchführen kann, in dem Magnetschichten 4 und 5 nicht ausgebildet sind und die Magnetschicht 3 durch ein externes Magnetfeld initialisiert wird.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die veranschaulichten Medien bzw. Träger und Aufzeichnungsverfahren beschränkt. Die vorliegende Erfindung ist auf ein Medium anwendbar, das in dem Erhitzmodus aufzeichnungsfähig ist.
Wie vorstehend beschrieben wurde, können gemäß einem thermischen Aufzeichnungsmedium und einem Aufzeichnungsverfahren für dieses Medium der vorliegenden Erfindung Aufzeichnungsmarkierungen mit einer fast vorbestimmten vertikalen Dimension (Breite) ohne eine Aufzeichnungskompensation unter Verwendung einer Laseransteuerung ausgebildet werden, selbst wenn leichte Variationen in einer Temperaturverteilung vorhanden sind, die auf einer Aufzeichnungsschicht beim Erhitzen erzeugt wird. Daher kann ein gut reproduziertes Signal vorteilhaft erhalten werden. Insbesondere wenn eine Markierungskantenaufzeichnung durchgeführt wird, kann die Schwankung eines zu erfassenden Kantensignals unterdrückt werden, wodurch eine hochdichte Aufzeichnung vorteilhaft durchgeführt wird.
Da kein spezieller Kompensationsmechanismus erforderlich ist, können ein thermisches Aufzeichnungsmedium und ein Aufzeichnungsgerät kostengünstig bereitgestellt werden, die in der Lage sind, ein gut wiedergebbares Signal zu erhalten und eine hochdichte Aufzeichnung durchzuführen.

Claims

1. Verfahren zum Aufzeichnen von Informationen auf einem thermischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht, die eine Zustandsänderung bei einem Erhitzen erfährt, mit den Schritten

Erhitzen einer ersten Region der Aufzeichnungsschicht auf eine erste vorbestimmte Temperatur, um eine bandartige Region in einem ersten Zustand auszubilden, die von Grenzregionen in einem zweiten Zustand entlang der longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist, und

Aufzeichnen von Informationen durch Erhitzen ausgewählter Bereiche der bandartigen Region auf eine zweite vorbestimmte Temperatur entsprechend einem Informationssignal, bei der die ausgewählten Bereiche eine Zustandsänderung erfahren,

dadurch gekennzeichnet, daß

der Schritt zum Aufzeichnen von Informationen ein Erhitzen einer zweiten, einen ausgewählten Bereich der bandartigen Region einschließenden Region der Aufzeichnungsschicht auf die zweite vorbestimmte Temperatur umfaßt, wobei die zweite Region in die Grenzregionen hinein reicht, so daß eine Informationsregion erzeugt wird, deren Größe in der Dimension quer zu den longitudinalen Kanten durch die longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist.

2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Aufzeichnungsschicht eine magneto-optische Aufzeichnungsregion (3) aufweist und der Schritt zum Ausbilden der bandartigen Region umfaßt

Anlegen eines ersten Magnetfelds zur Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht in einer ersten Richtung bei Raumtemperatur und

Erhitzen der bandartigen Region der Aufzeichnungsschicht auf die erste vorbestimmte Temperatur, während ein zweites Magnetfeld angelegt ist, das ein Orientieren der Magnetisierung der bandartigen Region in einer zweiten Richtung nach einem Kühlen auf Raumtemperatur bewirkt, wobei die Grenzregionen in der ersten Richtung magnetisiert sind.

3. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das thermische Aufzeichnungsmedium eine oder mehrere Aufzeichnungsspuren hat und die bandartige Region innerhalb der Spur ausgebildet wird, so daß die Breite der Spur in der Richtung quer zu den longitudinalen Kanten der bandartigen Region nicht überschritten wird.

4. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Aufzeichnungsschicht ein Medium aufweist,

das eine Phasenänderung von einem kristallinen Zustand zu einem amorphen Zustand oder von einem amorphen Zustand zu einem kristallinen Zustand bei der ersten oder der zweiten vorbestimmten Temperatur zeigt und

das die andere Phasenänderung bei der anderen der ersten und zweiten vorbestimmten Temperatur zeigt.

5. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Aufzeichnungsschicht einen organischen Farbstoff aufweist, der eine Zustandsänderung bei der ersten und zweiten vorbestimmten Temperatur erfährt.

6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Schritt zum Erhitzen ein Bestrahlen des Aufzeichnungsfilms mit einem Laserstrahl umfaßt.

7. Thermisches Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht, die eine Zustandsänderung beim Erhitzen erfährt, und mit einer oder mehreren Aufzeichnungsspuren zum Aufzeichnen von Informationen, wobei die Aufzeichnungsschicht zumindest eine bandartige Region in einem ersten Zustand hat, die von Grenzregionen in einem zweiten Zustand entlang der longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist,

dadurch gekennzeichnet, daß

die bandartige Region innerhalb der Spur derart ausgebildet ist, daß die Breite der Spur in der Richtung quer zu den longitudinalen Kanten der bandartigen Region nicht überschritten wird.

8. Medium nach Anspruch 7, wobei die Aufzeichnungsschicht eine magneto-optische Aufzeichnungsregion aufweist, und die bandartige Region in einer ersten Richtung bei Raumtemperatur magnetisiert ist, wobei die Grenzregionen in einer zweiten Richtung bei Raumtemperatur magnetisiert sind.

9. Medium nach Anspruch 7, wobei das thermische Aufzeichnungsmedium in der bandartigen Region enthaltene Informationsregionen hat, die durch eine Zustandsänderung bestimmt sind, und wobei die Informationsregionen über die Breite der bandartigen Region reichen, so daß die Größe jeder Informationsregion in dar Dimension quer zu den longitudinalen Kanten durch die longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist.

10. Medium nach Anspruch 7, wobei die Aufzeichnungsschicht ein Medium umfaßt, das eine Phasenänderung zwischen kristallinen und amorphen Zuständen oder amorphen und kristallinen Zuständen beim Erhitzen zeigt.

11. Medium nach Anspruch 7, wobei die Aufzeichnungs schicht einen organischen Farbstoff aufweist, der eine Zustandsänderung beim Erhitzen erfährt.

12. System zur Aufzeichnung von Informationen auf einem thermischen Aufzeichnungsmedium, mit

einem thermischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht, die eine Zustandsänderung bei einem Erhitzen erfährt,

einer Einrichtung zum Erhitzen einer ersten Region der Aufzeichnungsschicht auf eine erste vorbestimmte Temperatur, um eine bandartige Region in einem ersten Zustand auszubilden, die von Grenzregionen in einem zweiten Zustand entlang der longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist,

einer Einrichtung zur Aufzeichnung von Informationen, indem entsprechend einem Informationssignal ausgewählte Bereiche der bandartigen Region auf eine zweite vorbestimmte Temperatur erhitzt werden, bei der die ausgewählten Bereiche eine Zustandsänderung erfahren,

dadurch gekennzeichnet, daß

die Einrichtung zur Aufzeichnung von Informationen so angeordnet ist, daß sie eine zweite, einen ausgewählten Bereich der bandartigen Region einschließende Region der Aufzeichnungsschicht auf die zweite vorbestimmte Temperatur erhitzt, wobei die zweite Region in die Grenzregionen hinein reicht, um eine Informationsregion zu erzeugen, deren Größe in der Dimension quer zu den longitudinalen Kanten durch die longitudinalen Kanten der bandartigen Region begrenzt ist.

13. System nach Anspruch 12, wobei die Aufzeichnungsschicht eine magneto-optische Aufzeichnungsregion aufweist, und die Einrichtung zur Ausbildung der bandartigen Region umfaßt

eine Einrichtung zum Anlegen eines ersten Magnetfeldes zur Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht in einer ersten Richtung bei Raumtemperatur und

eine Einrichtung zum Anlegen eines zweiten Magnetfelds, während die erste Region die erste vorbestimmte Temperatur hat, um die Magnetisierung der bandartigen Region nach dem Kühlen auf Raumtemperatur in einer zweiten Richtung zu orientieren, wobei die Grenzregionen in der ersten Richtung magnetisiert sind.

14. System nach Anspruch 12, wobei das thermische Aufzeichnungsmedium eine oder mehrere Aufzeichnungsspuren hat, und die bandartige Region innerhalb der Spur ausgebildet wird, so daß die Breite der; Spur in der Richtung quer zu den longitudinalen Kanten der bandartigen Region nicht überschritten wird.

15. System nach Anspruch 12, wobei die Aufzeichnungsschicht ein Medium aufweist, das eine Phasenänderung von einem kristallinen Zustand zu einem amorphen Zustand oder von einem amorphen Zustand zu einem kristallinen Zustand bei der ersten oder zweiten vorbestimmten Temperatur zeigt und das die andere Phasenänderung bei der anderen der ersten und zweiten vorbestimmten Temperatur zeigt.

16. System nach Anspruch 12, wobei die Aufzeichnungsschicht einen organischen Farbstoff aufweist, der Zustandsänderungen bei der ersten und zweiten vorbestimmten Temperatur erfährt.

17. System nach einem der Ansprüche 12 bis 16, wobei die Einrichtung zum Erhitzen eine Einrichtung zum Bestrahlen des Aufzeichnungsfilms mit einem Laserstrahl aufweist.